扫描热探针塞导热系数仪

大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上，真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移，从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统，具有极为紧凑结构，可安放到各种环境箱或防尘罩中，探针头与振荡薄膜一起使用，预放大器集成到探针头中，方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺，底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径：40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP； 2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP 2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NEXT-TIP SL公司成立于2012年，是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针，基于纳米粒子沉积技术，形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层，具有超高的横向分辨率，大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发，具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制：&bull 高可靠性，使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度，可获得完全清晰/稳定的光谱，质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20，银TERS探针保证对比度高于40，使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护，以避免氧化和污染，保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度，大大提高了探针的耐用性。此外，纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外，这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒，实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm，TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密，不规则和锐的纳米颗粒涂层，可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层，用优化的涂层产生超强的拉曼信号，获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率（kHz）703008533585335力常数（N/m）2262.8452.845悬臂长度（μm）240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide 单层过渡金属二硫化物（TMDC）拉曼激发模式高精度表征参考文献：Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿，激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍（约5倍）。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比，使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰，从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335 NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率（kHz）8533575330力常数（N/m）2.8452.842悬臂长度（μm）240160225125

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造优势：*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

坚固耐用且用途广泛的拉曼光纤探针和附件近红外光纤探针适用于Raman IdentiCheck、RamanStation400F、RamanFlex 400 和RamanMicro 200F珀金埃尔默的光纤探针可将光谱仪移到样品近处，从而使结果更容易收集。只需点击几次，您就能对一系列样品类型进行分析——甚至在环境不受控或空间有限的情况下也不例外。这种简单易用的附件可提供诸如原位分析和反应监测等相当多的附加功能，从而将使您的实验室从中受益。近红外光纤探针产品描述部件编号拉曼探针 不锈钢探针、7.5 mm工作距离、5米电缆；光谱范围是230-3500 cm-1L1320002浸液套筒 它是拉曼探针的一个选配附件，由带有蓝宝石窗片的不锈钢壳体组成。该套筒允许拉曼探针在温度高达200°C时浸入液体内。L1320030触发式光纤拉曼探针，5 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、5 m电缆；也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头；光谱范围是230-3500 cm-1L1320030触发式光纤拉曼探针，20 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、20 m电缆；也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头；光谱范围是230-3500 cm-1L1320031用于触发式光纤探针的浅（10 cm）浸液套筒；这是光纤探针的一种可选不锈钢浸液套筒L1320070拉曼探针：长不锈钢探针，350 mm长，适用于非接触式浸液，可在不超过200°C / 1500psi的较高温度和压力下使用，5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320011拉曼探针：最长不锈钢探针，适用于非接触式浸液，可在不超过500°C / 3000 psi的较高温度和压力下使用，5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320012用于拉曼探针的吹扫护套：最大规格，当最大号探针在200°-500°C的温度下运行时必须配备此部件L1320013活动触头 7.5 mm工作距离、替换部件；可通过直接接触样品而对光纤探针的工作距离进行优化并降低Spectrum外源光线受污染的风险L1320324用于光纤探针和触发式光纤探针的工作距离超长型透镜：这种附件可将工作距离从7.5mm提高到25 mmL1320071

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10到几十nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。型号种类备注HQ:XSC11/AlBS轻敲四悬臂、多功能硅探针，基片背面镀铝的反射层HQ:DEP-XSC11轻敲导电低噪音导电硅探针，四悬臂，多功能，镀铂HQ:NSC18/Co-Cr/AlBS磁性一个悬臂梁针尖，针尖镀钴铬，磁性探针，基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层HQ:CSC37/tipless/Cr-Au接触三悬臂无针尖探针，镀铬金HQ:CSC17/Pt接触导电单悬臂，镀铂HQ:NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC11/AlBS轻敲两个三角型悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC15/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC18/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC19/AlBS轻敲单个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC35/AlBS轻敲三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层CSC11/AlBS接触两个三角型悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层 CSC37/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层CSC38/AlBS接触三个悬臂梁针尖，基片背面镀铝的反射层NSC18/Co-Cr轻敲一个悬臂梁针尖，针尖镀钴铬，磁性探针CSC38/Cr-Au接触三个悬臂梁针尖，针尖镀铬金，导电探针NP-S 接触接触模式氮化硅探针，液体中轻敲成像和力测量。四悬臂0.06-0.58N/m 反射面镀金PPP-NCHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率PPP-SEIHR-20轻敲PPP硅探针用于增强SPM图片分辨率AN-NSC10轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式；长：125μm；弹性系数：40N/m；共振频率：300kHz。AN-NSC01轻敲适用于非接触模式、轻敲模式、间断模式和近距离接触模式；长：225μm；弹性系数：1.6N/m；共振频率：61kHz。ACCESS-50轻敲超稳定、超细前倾针尖，可直接观察针尖在样品上的工作情况HYDRA6R-200N-20轻敲 具有长且尖、低弹性系数的矩形悬臂，高分辨率； 主要应用于接触模式，但同时也可用于轻敲和非接触模式；HA--_NC（新）轻敲新型高精度探针，50根/盒。每个基片有两根长方形的多晶硅悬臂和尖锐硅针尖（典型值10nm）。共振频率120/200 KHz, 弹性常数3.4/5.8N/mNSG01轻敲NSG01系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG03轻敲NSG03系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG10轻敲NSG10系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG20轻敲NSG20系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG01S轻敲NSG01S系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/m，仅一个悬臂和针尖NSG10S轻敲NSG10S系列轻敲模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/m，仅一个悬臂和针尖NSG20S轻敲NSG20S系列，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/m，仅有一个悬臂和针尖NSG10 DLC/10/50超细超细类金刚石碳（DLC）探针，10根/盒，典型曲率半径1nm，生长在NSG10和NSG01系列探针上NSC0510/20°/5超细NSC05 10°/20°轻敲模式，5根/盒，有10度和20度倾角的须状物针尖NSG01/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG01系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/mNSG10/Au/Pt/TiN/WuC/50导电 NSG10系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率190-325KHz，弹性系数5.5-22.5N/mNSG20/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG20系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/mNSG03/Au/Pt/TiN/WuC/50导电NSG03系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛、镀碳化钨导电层），50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/mNSG01/Co/50磁性NSG01系列轻敲模式SPM探针（镀钴铬磁性层），50根/盒，共振频率115-190KHz，弹性系数2.5-10N/mNSG03/Co/50磁性NSG03系列轻敲模式SPM探针（镀钴铬磁性层），50根/盒，共振频率90-116KHz，弹性系数0.5-2.2N/mNSG11/tipless/50无针尖无针尖NSG11系列，每头两个悬臂，50根/盒，共振频率115-190KHz，190-325KHz，弹性系数2.5-10 N/m,5.5-22.5N/mNSG20/tipless/50无针尖无针尖NSG20系列，50根/盒，一个三角形悬臂，共振频率260-630KHz，弹性系数28-91N/mMF001/002/003/004 SNOM一套10根/盒SNOM探针（波长400-550nm）（波长450-600nm）（波长600-680nm），（波长780-970nm），没有音叉DCP11/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP11系列，50根/盒，每根探针有两个悬臂，共振频率190-325KHz，115-190KHz；弹性系数5.5-22.5N/m，2.5-10N/m。稳定的、非破坏性的金刚石镀层可供长期使用。DCP20/50金刚石镀层轻敲模式镀金刚石导电探针DCP20系列，50根/盒，每根探针有一个悬臂，共振频率260-630KHz；弹性系数28-91N/m，AFM氧化刻蚀的理想探针。CSG01接触CSG01系列接触模式SPM探针，50根/盒，共振频率7-14KHz，弹性系数0.01-0.08N/m，仅有一个悬臂和针尖CSG10接触CSG10系列接触模式SPM探针，50根/盒，共振频率14-28KHz，弹性系数0.03-0.2N/m，仅有一个悬臂和针尖CSG01S接触CSG01系列接触模式SPM探针，50根/盒，每根针尖附有SEM校准照片，共振频率7-14KHz，弹性系数0.01-0.08N/m，仅有一个悬臂和针尖CSC0510/20°/5超细接触模式须型SPM探针，5根/盒，有10度和20度倾角的须状物针尖CSG10/Pt/TiN/50导电CSG11系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层），50根/盒，共振频率14-28KHz，弹性系数0.03-0.2N/m0.03-0.2N/mCSG01/Au/Pt/TiN/50导电CSG01系列轻敲模式SPM探针（分别镀金、镀铂、镀氮化钛导电层），共振频率7-14KHz，弹

Omniprobe公司提供扫描电子和离子束显微镜纳米实验设备，处于行业领先水平。钨探针针尖由Omniprobe公司生产，包括 AutoProbe? 200, AutoProbe? AutoProbe? 250, 300, Short-Cut?, OmniGIS? 和 SST? 400-1 。 l 钨/镍探针针尖Tungsten /Nickel Probe Tips 常规设计，镍管柄、钨尖，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-01钨/镍探针针尖Tungsten/Nickel Probe Tip10/bx l 钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-02钨探针针尖All Tungsten Probe Tip10/bx l 原位探针针尖In-Situ Probe Tips常规的钨针尖，不锈钢柄，适合AutoProbe? 300、原位探针针尖更换系统和Short-Cut? 。钨尖尺寸：半径0.5um，8-10o锥角。 货号产品名称规格75960-03原位探针针尖In-Situ Probe Tip10/bx l Xtreme Access ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tips 常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，13o锥角。使用寿命长。货号产品名称规格75960-04XA ?” 钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bx l Autoprobe 250钨探针针尖Tungsten Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-05AP250钨探针针尖 Tungsten Probe Tip10/bx l Xtreme Access Short-Cut? Probe Tips常规设计，钨尖尺寸：半径小于0.5um，6o锥角。使用寿命长。（兼容Short-Cut?）货号产品名称规格75960-06XA Short Cut Tungsten Probe Tip10/bx l XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder适合 ?”钨探针针尖，, #75960-04 和 #75960-06. 货号产品名称规格75961-10 XA探针针尖夹持器 Probe Point Holder个 l AP250 探针针尖夹持器Probe Tip HolderAutoProbe? 250探针针尖夹持器适合的钨针尖是75960-05.兼容 Short-Cut?。货号产品名称规格75961-105AP250 探针针尖夹持器Probe Tip Holder个

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读： 关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室 *先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖 探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。 1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍 1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。 6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

Strep 标签作为目前最广泛使用的亲和纯化系统标签之一的 Strep 标签，它有多种突出优点：纯化过程温和，目的蛋白纯度高（＞95%），特异性强，能兼容多种表达系统：包括原核、酵母、昆虫、哺乳动物细胞或是植物细胞等。因此 Strep 标签可以简单迅速的实现重组蛋白的克隆，表达，纯化，和检测分析。 Strep 标签与配基不断升级 基于链霉亲和素 ( Streptavidin）和生物素（ Biotin ）之间强烈的相互作用，科学家运用一系列蛋白质工程手段，从短肽文库中筛选获取链霉亲和素可逆性结合的短肽亲和标签，同时也对链霉亲和素的蛋白序列进行改进，双管齐下并且经过不断优化改造，得到了非常稳定的 Strep-Tactin® XT ( Extreme Tight )，能高效且可逆的结合短肽标签 Strep-tag® 。Strep-Tactin® XT 与 Twin-Strep-tag 不仅亲和力非常强，而且结合仍保持可逆，因此可以广泛应用于纯化检测系统。 小鳄生物此次针对 Strep 标签，推出了两款探针：与 Twin-Strep-tag 蛋白亲和力非常强的 Strep-Tactin XT 探针和与 Strep-tag II 蛋白结合的 Strep-tag II 探针。 两款探针均可从复杂样品中特异性捕获蛋白，从而获得可靠的数据；还可多次再生，节约检测成本。扫描下方二维码获取更多产品资料

为Faro Arm便携式坐标测量机提供了完整的替换探头，测针和附件产品系列，适合所有FARO臂和Faro Gage臂的球探针和测针。有2毫米，3毫米，4毫米，6毫米，9毫米规格，请致电我们咨询最适合您的产品 17806282711 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

Eachwave推出的低温砷化镓光电导太赫兹近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针，利用此太赫兹近场探针，样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量，信号质量好，噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的THz-TDS系统配合使用。THz近场探针提供了一个低成本的解决方案，可将您的THz-TDS升级为高分辨率的近场扫描成像系统。产品特点：— 市场上最小的太赫兹近场探针— 专利设计— 空间分辨率可达3um— 探测频率范围：0-4THz— 适用于所有基于激光的THz系统 — 安装可兼容标准的光机械组建— 集成过载保护电路横向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-X-HRHRS最小空间分辨率3um20umPC gap size1.5um2um暗电流 @1V 偏置电压0.5nA0.5nA光电流1uA0.6uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP纵向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-A-500GN最大空间分辨率8 um8 umPC gap size5 um2 um暗电流 @1V 偏置电压0.4 nA0.4 nA光电流0.5 uA0.1 uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP反射式太赫兹近场探针 反射式太赫兹近场探针是一款收发一体化的太赫兹近场探针产品。探针具有双天线结构，此结构极大的缩短了太赫兹的传输路径，可有效的应用于太赫兹近场时域谱测试以及成像测试系统中。规格参数 型号暗电流@1V偏压光电流激发波长平均激发功率链接头TeraSpike TD-800-TR.5 1.5nA 0.5uA700-860nm0.1-4mW2×SMP适用于1550nm波长的太赫兹近场探针规格参数型号脉冲上升时间带宽激发波长激发功率悬臂材料TeraSpike TD-1550-Y-BF1ps0.01-2.5THz700-1600nm 0.1-4mWInGaAs(n-type)

DY50559900筛板，10 μm，用于土壤探针Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY50559900筛板，10 μm，用于土壤探针Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY50573990水探针，拧在底座上，用于 S/N 大于 995Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101 用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N 大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY50546390，下层土壤探针更换工具包Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N 大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY50574390 土壤探针更换工具包Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N 大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY50559800筛网，75 μm，用于水探针Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N 大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

DY70007691土壤探针更换工具包，用于 SV S/N 大于 13160Archon 吹扫捕集备件说明部件号样品瓶工具包, 40 mL, 预清洗样品瓶, 瓶盖和隔垫，72/包5183-4741无盖储液瓶，80 oz DY5039060022 mm 隔垫, PTFE/硅胶，72/包5190-397822 mm 隔垫, EPA 低流失，60/包5190-3976注射器支架O 形圈DY50549500水探针更换工具包，用于S/N 大于995，拧在底座上DY50573990鼓泡管更换工具包，用于S/N 大于13160，方形基座DY70007791鼓泡管更换工具包，用于S/N 995-13160，六角形基座DY50574190鼓泡管更换工具包，用于S/N 小于995，六角形基座DY50549290标准储液瓶DY50548400输水管DY50551400内标取样/废液管DY70001990土壤传输管DY5057450075 μm 筛网，用于水探头DY50559800预清洗水探头，用于S/N 695-995，拧在底座上DY50549100预清洗鼓泡管，用于S/N 大于13160 DY7000770110 μm 土壤样品探针滤芯DY50559900Valco 转子定量管，1 μL DY50572600无法兰螺帽和密封垫圈，8/包DY70008101用于40 mL 样品瓶的PTFE 搅拌棒DY50295500用于土壤样品瓶的磁力搅拌棒DY50402400磁体DY50546100Valco 阀和致动器DY50540700带刻度的玻璃针筒，26 mL DY50296800工具包，冷却器选项，附件DY70008590土壤探针更换工具包，用于SV S/N 大于13160 DY70007691下层土壤探针更换工具包，用于SV 单元DY50546390土壤探针更换工具包，用于SV S/N 995-13160 DY50574390

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

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微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片，蛋白质芯片等微阵列芯片而设计，是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片，如DNA芯片，蛋白质芯片和细胞和组织，并适用于各类型的应用研究，如基因表达，基因分型，aCGH，芯片分析片内，微RNA检测的SNP，蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统，兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm（玻璃基板，塑料，透明和不透明），可以扫描生物芯片，有3 1.mu.m/像素的分辨率，同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟（10.mu.m/像素，最大扫描区域），InnoScan900是市场上最快的扫描器，扫描速率可调节，达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管（PMT），非常敏感，整个工作范围（0至100％）线性完美，允许用户简单地改变PMT，调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统，提供的是不敏感的基板的变形，整个扫描表面上完美，均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能，特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序，四扫描器（710，710 U，900 U和900）。该Innoscan® 900和900AL系列（磁带自动加载机）是专为现在和未来的高密度微阵列发展。

IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品，以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列，有一款附件可以安装在设备的右侧，这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧，集成化，零校准，零设置。一旦连接好了样品仓，该附件就成为了整个系统的一部分，能随时使用 Ø 可重复性更强，操作简单 Ø 水平样品台，方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸，保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供，套件中包括样品定位器，标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计，工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器，让用户能够持续地进行远程操作，从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁，而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针，便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大，改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm)，改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套，背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化，可拓展，智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单，完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片，坚固耐用，易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032

IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品，以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列，有一款附件可以安装在设备的右侧，这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧，集成化，零校准，零设置。一旦连接好了样品仓，该附件就成为了整个系统的一部分，能随时使用 Ø 可重复性更强，操作简单 Ø 水平样品台，方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸，保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供，套件中包括样品定位器，标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计，工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器，让用户能够持续地进行远程操作，从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁，而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针，便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大，改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm)，改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套，背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化，可拓展，智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单，完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片，坚固耐用，易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032