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测试测试用探针台样品台

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测试测试用探针台样品台相关的论坛

  • 电子探针测试碳纤维的氧元素分布问题

    各位专家各位朋友大家好！请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题（纤维直径20um左右，由于不是成品导电性不好）我的测试方法，是将纤维（直径20um左右）埋在树脂里制成金相，打磨抛光后，露出纤维截面，喷碳后，用导电胶粘在电子探针样品台上，在显微镜里观察纤维，但纤维总是飘动，且看不清，原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上，没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢？这个问题也困扰了我很久，期待大家的回复。

  • 【原创】半导体探针台

    半导体测试手动探针台是专门为教学及科研机构量身定制的，具有良好的性能价格比，可测量pA级微小电流，配合测量仪器可完成标准MOS准静态C-V和高频（1MHz）C-V等测量要求。操作简便，性能稳定可靠，屏蔽效果好。客户名录：复旦大学、北京大学、清华大学、北京师范大学、北京化工大学、中科院化学所、大连理工大学、 济南大学、哈尔滨工业大学、南京大学、浙江大学、中科院长春光机所、天津理工大学、北京宇极芯片、四川大学、中科院苏州纳米所等。电话：62146659 13801327034刘熠

  • 急！！关于电子探针的样品台移动问题，想请教大家

    电子探针的样品台突然出现问题（前天还正常操作的，过了一个晚上就突然移到别的地方了），偏离了正常位置较远，现在点击初始化也没用，恢复不了，也无法移到样品交换的位置，打开样品室的灯后发现样品台偏离较远，操作杆够不着。大家平时有没有遇到过类似的问题，求帮助！！！感激不尽

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

  • 超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗

    超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗

    超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗？解决方案揭秘在超低温实验室中，液氮罐被广泛应用于维持低温环境，以确保实验的准确性和稳定性。然而，一些超低温实验室探针台由于空间限制或其他原因可能无法使用液氮罐。这种情况下，是否存在其他替代方案来维持超低温条件呢？本文将为您揭示超低温实验室探针台不适用液氮罐时的解决方案。[b]挑战：无法使用传统[url=http://www.yedanguan365.com/]液氮罐[/url][/b]超低温实验要求超低温实验通常需要在接近绝对零度的温度下进行，以研究材料的特殊性质。探针台作为实验平台之一，在如此低的温度下需要保持极高的稳定性和精确度。传统的液氮罐可以提供所需的超低温环境，但是由于探针台尺寸较小或者其他空间限制，使用液氮罐可能并不可行。[b]安全和便利性考量[/b]另外，液氮的存储和操作也带来了一些安全和便利性方面的考量。液氮具有极低的沸点和对人体组织的潜在危险，需要专门的设备和操作人员进行管理，这增加了实验室管理的复杂性和成本。[img=液氮罐,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312180934451229_7868_3312634_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=液氮罐,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312180934451229_7868_3312634_3.jpg!w690x517.jpg[/img]解决方案：新型超低温技术的应用[b]利用制冷技术[/b]针对无法使用液氮罐的情况，新型的超低温技术成为了解决方案之一。利用制冷技术，比如制冷剂循环系统或Peltier效应等，可以在较小的空间内提供所需的超低温环境。[b]纳米材料的应用[/b]另一个解决方案是利用纳米材料的特性来实现超低温环境。一些纳米材料在室温下就能够显示出类似于超导体的特性，可以在极低温度下保持其特殊性质。通过设计和应用这些纳米材料，可以在不使用液氮的情况下实现超低温实验的要求。[url=http://www.mvecryoge.com/]液氮容器[/url][b]热交换技术[/b]此外，热交换技术也可以被应用于超低温实验中。通过合理设计的热交换系统，可以将周围环境的热量排除并保持探针台的超低温状态。这种技术可以在不需要大型液氮罐的情况下，提供足够的制冷效果。[url=http://www.mvecryoge.com/]金凤液氮罐[/url]总的来说，即使探针台无法使用传统的[url=http://www.yedanguan1688.com/]液氮罐[/url]，在超低温实验领域仍然有多种替代方案可供选择。新型超低温技术的应用，纳米材料的特性以及热交换技术的应用为解决这一挑战提供了多种可能性。随着科学技术的不断发展，相信会有更多创新的解决方案出现，为超低温实验提供更多可能性。

  • 【求购】手动探针台

    求购 wentworth laboratories mp1008 型号手动探针台上的探针，有的麻烦联系一下。我的邮箱是ft540620@163.com

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试，探针是电测试的接触媒介，是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金；二是弹簧，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金；三是针头，主要是工具钢（SK）镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素： 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的，也就是说若是探针的质量是存在问题的，那么不仅会造成测试结果存在问题，还会造成其他的问题出现，因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作，要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况，不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同，我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍，希望可以帮到大家，本文出自：http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪（TR-518FE、TR-518FR、TR518FV）、ICT测试治具，功能（FCT）测试治具、DIP/SMT过炉治具（载具）、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具，提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • TMA的探针平台是石英的吗？

    TMA的探针平台是石英的吗？刚在论坛里看到这个帖子 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111008/3573189/index.shtml，想到这个问题。TMA平台探针污染后会用酒精灯灼烧清洁，被加热部分很容易就被烧发红了

  • TMA探针与平台粘到一起了

    同事用TMA做玻纤样品，最高温度升至700℃，结束后发现探针平台粘到一起了。这种情况应怎么处理？请各位老师各位同学支招！

  • 求购二手探针台

    要求：进口的， 12寸，二手的手动探针台，带显微镜。如有此仪器的请联系我，具体的配置可再详谈。邮箱：2401493191@qq.com

  • 【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    前言：扫描探针显微镜它包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描近场光学显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等20多个品种的庞大显微镜家族。这类显微镜的问世不仅仅是显微技术的长足发展，而且标志着一个科技新纪元——纳米科技时代的开始。这类显微镜自问世以来，在物理学、化学、医学、生物学、微电子学与材料科学等领域获得了极为广泛的应用，并一直是国内外科技人员研究的热点。作为仪器使用技术人员，虽不能开发出更出色的仪器，但是如何充分利用它，如何让它发挥到极至得到理想的结果，是我们仪器使用者应该探索的。实验室不容忽视的温湿度变化，对扫描探针显微镜测试结果影响有多大呢？本文研究了扫描探针显微镜，在四种不同湿度环境下（实验室温度调节受限这里不做研究）测试三种不同材料表面形貌，并对测试结果进行对比，得出仪器最佳使用湿度环境。 一、仪器介绍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669577_2224533_3.jpg 图A图A为布鲁克公司型号为Nano man VS 扫描探针显微镜http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509141228_01_2224533_3.jpg 图B图B为海瑞弗公司的精密空调机（有快速除湿功能） 二、测试过程及分析选择一个阴雨天气，首先关闭精密空调机除湿功能，等待室内湿度加大，湿度显示90%时，对实验材料表面扫描成像（不需要抬起探针保持扫描状态）开启除湿机，湿度显示80%时保存一张形貌图，等湿度降到70%、60%分别保存一张形貌图。如此，重复以上操作步骤，分别对普通载玻片、普通硅片、非晶材料三种不同材料表面测试，得到如下图结果。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509174389_01_2224533_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509175648_01_2224533_3.jpg 上图随机选取普通载玻片某个区域，在湿度90%时，图1.1a、b区域，出现非常明显的干扰条纹，这种条纹的出现，一般是由于测试表面比较湿或者样品在微动引起的。这里很明显是因为空气湿度过大，在载玻片表面已经形成了水珠，对扫描过程干扰过强导致扫描失败。再看图1.2，这时候湿度降到80%，强烈的干扰条纹基本消失，但是图片上颗粒状不明显，棱角模糊，这是因为样品表面还残留着一层水膜，有的区域探针无法穿透水膜扫描到真实的样品表面，所以扫描出来的图像在感官上有一种朦胧的感觉。再看图1.3湿度降到70%，图像上的颗粒明显，棱角清晰，这说明残留水膜基本消失。图1.4湿度降至60%的时候已经达到理想效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509192148_01_0_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509193007_01_2224533_3.jpg上图非晶材料做完纳米压痕实验后残留的一个压痕印迹，图2.1湿度90%时虽然没有出现强烈干扰条纹，但是a、b区域有着很厚的水膜，显然扫不出清晰的图片。图2.2湿度80%，可见上半部小部分处于模糊状态，水膜未彻底消失，当湿度降至70%[color=windowtex

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 寻电子探针测试常用标准

    我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

  • 关于电子探针和EDS检测对制样的要求.

    本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.[quote]原文由 SeanWen 发表:引用：--------------------------------------------------------------------------------原文由 myhuar 发表:本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.--------------------------------------------------------------------------------觉得首先需要确定您要求的结果，是要测试成分呢，还是看分布等等，然后需要采用不用的方法来测试了。还有您说的脆性物质具体是什么呢？有机，无机，导电性等等……[/quote]主要的目的是看分布,就是样品中某种元素的分布情况,所谓的脆性是说如果用手稍微折样品的话,样品就会裂开,不知会不会影响测试.

  • 美国微型拉伸，压缩，弯曲，蠕变，疲劳测试平台，问我要资料哦

    微型拉伸压缩试验台专门应用于扫描电子显微镜，扫描探针显微镜和光学显微镜。在放大镜下进行试验，这种微型设备的表现非常理想，它能提供更深入的了解材料失效的早期阶段和整体了解材料的具体表现。此外，可实时观察晶粒位错和裂纹扩展。揭示了更多的形变信息，而传统的方式是后故障分析。这些参数存储文件可以方便将来测试时调取。测试进行中，测试结果可实时显示，亦可生成应力-应变曲线。关键参数都可以保存到报告中，如峰值负载/应力，屈服点，弹性模量和其它测试数据，原始测试数据和结果可以导出标准格式。易于和其它数据集成分析和实验室管理系统。测量平台直接在传动轴上运动，消除丝杠和齿轮传动误差；设备采用先进的编码系统，不需用其它设备对其现场校准；线性刻度分辨率可编程范围1.22NM-5NM一系列的夹具几乎适应于所有规格样品

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用

    【原创大赛】扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用

    [b] [/b][color=windowtext][b] 扫描探针显微镜在纳米力学测试中的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]一、什么是扫描探针显微镜[/b][/color][b] [color=windowtext] 扫描探针显微镜（[/color][color=windowtext]Scanning Probe Microscope, SPM[/color][color=windowtext]）是在扫描隧道显微镜基础上发展起来的各种新型探针显微镜的统称。是国际上近年发展起来的表面分析仪器，其分辨率高、实时、实空间、原为成像，对样品无特殊要求，可在大气、常温环境甚至溶液中成像，同时具备纳米操纵及加工功能等。广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域，并取得许多重要成果。[/color][color=windowtext] [/color][color=windowtext]二、扫描探针显微镜特点[/color]1、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]具有极高的分辨率[/color]2、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨三维图像。[/color]3、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]可以观察单个原子层的局部表面结构。而不是体相或整个表面的平均性质。[/color]4、 [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]使用环境宽松，可在大气、低温、常温、高温下工作。[/color] [/b][color=windowtext][b]三、扫描探针显微镜在纳米力学测试中原位成像的应用[/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b]下面以某系非晶材料为例，说一说扫描探针显微镜的具体应用[/b][/color][b] 1、 [color=windowtext]采用某公司超纳米压痕仪对非晶样品表面纳米压入[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数：[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷（[/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]1[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加卸载曲线[/color][color=windowtext]图[/color][color=windowtext]([/color][color=windowtext]一[/color][color=windowtext])[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,563]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b][color=windowtext]通过[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图（二、三）[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,401,470]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_02_2224533_3.jpg[/img][img=,690,442]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300951_03_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext] SPM[/color][color=windowtext]原位成像压痕图明显看到三角形边出现似有规律性台阶堆积现象，然而加载曲线比较光滑，丝毫没有异像。于是通过改变在加载速率[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b]压入参数：[/b][/color][b] [/b][table][tr][td][b] [/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]加载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]保载时间[/color][color=windowtext](S)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]卸载速率[/color][color=windowtext](mN/min)[/color] [/b][/td][td][b] [color=windowtext]最大载荷（[/color][color=windowtext]mN)[/color] [/b][/td][/tr][tr][td][b] [color=windowtext]点[/color][color=windowtext]2[/color] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]3[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]10[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]60[/b][/color][b] [/b][/td][td][b] [/b][color=windowtext][b]30[/b][/color][b] [/b][/td][/tr][/table][b] [color=windowtext]加载曲线[/color][color=windowtext]图（四）[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][img=,690,567]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300952_01_2224533_3.jpg[/img][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][b] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像[/color][color=windowtext]图（五、六）[/color][img=,401,469]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_01_2224533_3.jpg[/img][img=,690,437]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709300953_02_2224533_3.jpg[/img][/b][color=windowtext][b] [/b][/color][b] [color=windowtext]四、结论[/color][color=windowtext] 图（五、六）图（二、三）现象基本一致，然而采用低速率的加载曲线，出现了明显小平台，在排除外界震动等因素的情况下，我认为在采用仪器压入法研究材料的纳米力学性能时，常规加载速率很可能由于仪器的灵敏度导致无法捕捉到更多的微观信息，如果没有借助[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]成像（为什么没有推荐扫描电镜的原因，因为扫描电镜属于二次电子成像，无法得到样品表面凹凸高度信息）很可能就发现不了非晶材料的这种滑移等微观信息，不能更深入的研究材料的纳米力学性能。这就是为什么在仪器压入法进行纳米力学性能测试的时候引入[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]原位成像技术。[/color] [color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]在纳米尺度上是人类观察、改造世界的一种新工具，目前被广发应用于教学、科研及工业领域，特别是半导体集成电路、光盘工业、胶体化学、医疗检测、存储磁盘、电池工业、光学晶体等领域；随着[/color][color=windowtext]SPM[/color][color=windowtext]的不断发展，它正在进入食品、石油、地质、矿产及计量领域。[/color][/b][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][b][/b][/color][color=windowtext][/color]

  • 纺织品液态水份管理测试的原理解读

    液态水分管理测试仪(MMT)主要测试汗液在布料中的吸收扩散性能，面料对汗液的吸收和扩散直接影响到服装穿着的舒适性能，为提高服装的舒适度(尤其是运动服面料)，测试面料的液态水分管理能力至关重要，有助于纺织品的吸湿速干性能的评估和对材料性能的改善。液态水分管理测试仪使用于测量液体在针织及梭织面料中的整体动态表现，通过测试吸收速度(织物正面与背面的水分吸收时间)、单向传递能力(液体在织物两个面吸收扩散的差异性)、扩散/干燥速度(液体在织物两个面的扩散速度)。液态水分管理测试仪包括带有多个探针的上下同心液体感应器，上感应器中的输液管将模拟人体汗液的固定浓度盐水均匀滴到布料上面，感应器探针测试不同环之间的电阻，以电阻的变化反映液体在布料的吸收和扩散情况，从而得到面料对汗液吸收扩散的能力。　　　　液态水分管理测试仪的应用范围：　　世界各地的实验室已广泛采用了液态水分管理测试仪。大多数用户来自运动用品行业，他们是织物制造商或零售商。在向最终用户展示他们织物的性能时，他们发现了液态水分管理测试仪的重大效用。来自医用袜类、纸巾、妇女用巾及床垫布行业的人员对液态水分管理测试仪也产生了浓厚的兴趣。虽然他们并非来自衣物制造行业，但他们发现液态水分管理测试仪所提供的数据对他们的成功也起着重要的作用。　　各行业标准组织也对液态水分管理测试仪怀有兴趣。美国纺织化学师与染色师协会（AATCC）及美国试验与材料协会（ASTM）在它们最近出版的《液态水分管理技术补充》一书中，描述了液态水分管理测试仪的应用。　　　　织物液态水分管理测试仪工作原理　　织物的液态水分管理特性取决于它们的阻水性、拒水性、水吸收能力、纤维与纱的毛细作用及纤维与纱的几何形状与内部构造。液态水分管理测试仪可以测量织物的吸水性、穿透性与渗透时间，能客观地评估织物的三维湿度扩散及转移特性。　　仪器由两个上下同心的感应器组成。首先用固定的压力将试样水平固定在感应器之间，然后将标准测试溶液输送到试样表面进行测试。电脑可以动态记录上下感应器的电阻变化。　　　　液态水分管理测试原理为：　　织物试样水平放置，液态水与其浸水面接触后，会发生液态水沿织物的浸水面扩散，并从织物的浸水面向渗透面传递，同时在织物的参透面扩散，含水量的变化过程是时间的函数。当试样浸水面滴入测试液后，利用与试样紧密接触的传感器，测定液态水动态传递状况，计算得出一系列的性能指标，以此来评估纺织品的吸湿速干、排汗等性能。　　　　工作原理：　　液态水分管理测试仪的使用快速而简单。将试样放入仪器中，接触皮肤的一面向上，将一定量的生理盐水倒在织物接触皮肤一侧的中心位置，模拟人体排出汗液的过程。试样两面的传感器分别测量它们在各个环形内（直径分别为5mm, 10mm, 15mm, 20mm, 25mm及 30mm）的导水性能。在测试进行 2 分钟的循环后，织物的湿润度及导水性增加。通过一系列的计算，测试者可以得到接触皮肤侧织物的润湿时间、吸水速率、浸湿半径及扩散速度等的精确读数，以及累积单向传递能力与织物的整体液态水分管理能力（OMMC）。　　　　液态水分管理：　　传输指数及整体液态水分管理能力吸引了众多技术织物制造商的关注。研究表明，使用这些数字及由液态水分管理测试仪提供的“指纹”，用户可以将织物分为 7 个级别：防水、拒水、慢速吸收/慢速干燥、快速吸收/慢速干燥、快速吸收/快速干燥、水分穿透及液态水分管理。根据织物的最终应用将织物进行分类后，用户可以通过由液态水分管理测试仪测得的指数对不同的织物进行比较。此时，人们就知道了哪种织物是最终使用环境要求的最佳织物，而不必进行繁琐的生理测试了。 更多关于：[url=http://www.njsycsy.com/ytsfgl/ytsfgl-112.html][b]MMT液态水分管理测试仪[/b][/url]

  • 【分享】荧光探针标记样品的过程及注意事项

    [b]对细胞进行荧光标记后，有时会出现影响定量实验的三种情况。[/b]一是所有细胞都能标记上荧光，但样品荧光强度过高，甚至饱和。克服方法是降低标记细胞时胞外荧光探针的浓度；或改变标记样品的条件，例如减少标记探针与样品的反应时间。二是出现“环岛效应”或“边缘效应”，表现为即连成片的细胞最外环的边缘的细胞荧光强度明显高于被包围在中间的细胞的荧光强度。克服办法是①在不影响实验的情况下，尽量减低细胞种植密度；②由于染料浓度过高时，更容易产生边缘效应；③适当延长标记时间，以使染料在细胞间达到充分的平衡时间；④染色后，上机前要进行充分洗涤附着探针(不需要洗涤的探针除外

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

  • 【求购】近期欲购置电化学工作站两台，要求国产，价格5w以内，四探针仪一台，2.5w以内

    如题现在国产型号太多，选择起来实在眼花，原来用过CHI660B和660C，感觉C不如B好用，现在都是改进的D版，没用过，不知道是否好用另外其他品牌单纯看介绍似乎都不错，现在很踟蹰因此发个求购帖，希望有供应商提供详资料和价格，最好能介绍自己产品相对其他品牌的优势，最好具体一点可以发到我邮箱：[email]swimvc@yahoo.com.cn[/email]--------另外求购一台四探针仪，供应商麻烦把详细资料发到我邮箱吧，这个价格低优先谢谢大家百忙之中看我的帖子

  • 关于两台仪器样品测试结果的差异问题

    最近遇到一个麻烦的问题，公司新进了一台分析仪B（计算峰高）测试KCl浸提液中的氨氮，结果与原有的仪器A（计算峰面积）做比对，两套分析仪器的标准曲线线性、QC质控、样品平行度测试、SK加标都没有问题，可就是样品的结果差异太大！会是神马问题呢？可以通过什么方法进行问题诊断吗？谢谢各位大侠！

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