通用多功能原子力显微镜

问题：当原子力显微镜做样品成像时，很难知道表面是否准确的表征？也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异，如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示，必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测，这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案：BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上，也使之间的差异变得明显。因此，tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好，是否已经磨损或破损，从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外，该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层，沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状，尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较，扫描尺寸为1*1um，高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块？原子力显微镜已经成为一个有价值的工具，不仅用于可视化，而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量，原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应，能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm（HS-20MG）100nm（HS-100MG）和500nm（HS-500MG）每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准，这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围（40~100um以内），而且，校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何结构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG：~20nmHS-100MG：~100nmHS-500MG：~500nm注：每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准？为了使原子力显微镜更精准的测量，必须进行正确校准。因此，更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面，校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案：CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准，使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之，又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内，每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何机构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度：20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值

AFM原子力显微镜操作台 铝制；可转动；磁力大小可调，能够稳定固定原子力显微镜载物片；周边凹槽可以用于收集碎屑，也可用于放置载物片。也可用于云母分层时固定云母之用。订购信息货号产品描述规格P15010AFM原子力显微镜操作台个P16220AFM 载物片夹取工具个

产品特点：GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构，可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要，不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性，还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺，现在，有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后，就有了足够的测试样品，这些样本用DNA做成，呈现70nm*90nm*2nm（高）的长方体形状。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

1、不锈钢基片 原子力显微镜AFM基片用于原子力显微镜承载样本之用，边缘光滑，表面平整，不锈钢材料，适合各种品牌的原子力显微镜。 货号产品名称规格75010-1212 mm Specimen Metal Discs for AFM50/pk75010-1515 mm Specimen Metal Discs for AFM50/pk 2、镀金基片镀金样本台具有抗电迁徙、高导电性、高导热性等优秀性能，所以可以作为AFM/STM(原子力显微镜/扫描隧道显微镜)等电镜样本支撑的首选。黄金是最惰性的金属，它和聚合物的粘合是很困难的，除非使用UV光和等离子辉光处理。 金膜厚度0.25微米，全包被。4种直径大小可选。不锈钢本体厚度大约0.76mm。订购信息：货号产品描述规格TP16207镀金样本基片（镀金样本台），10mm20个TP16208镀金样本基片（镀金样本台），12mm20个TP16218镀金样本基片（镀金样本台），15mm16个TP16219镀金样本基片（镀金样本台），20mm4个其它基片简介： 1）镀金硅片可用作纳米领域的基片、扫描电镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）及其它扫描探针显微镜的测距，以及细胞培养，蛋白质DNA 微阵列和反射计等方面。尽管很多实验室拥有镀金能力，但由于很多用户共同使用的原因，设备难免受到不同程度的污染。有资料表明即使轻微污染，也会对细胞成长表层特性造成影响。直径100mm，金镀层10nm，基片厚度525un。 2）镀金云母片 通过将金蒸镀到刚剥离的云母基片制成。建议使用前先进行退火处理。基片的原子表层一经生产便会有玷污发生，退火的金基片也不例外。建议在收到产品后立即使用，可能基片还未被玷污，处于待用状态。但在到货三至四个月后，基片会发生玷污，即使我们将其封装在一个惰性无尘的环境中。通常原子能平台约为300nm宽。经氢焰退火后，尺寸略有增大。原材料为厚度100μm至150μm的云母条。它接下来会被剥离成两片，形成两片厚度大约在50μm至75μm的薄条。

多功能显微镜配件是生命科学和医学领域的最佳性价比万能显微镜，提供40X-1000X的放大倍率，特别适合实验室科研等高级应用。 多功能显微镜配件特点： 欧洲生产制造，秉承欧洲百年精密光学优势，具有突出的优势和性价比 可升级到偏光显微镜，暗场显微镜，相衬显微镜，也可添加相机组成显微成像系统。 具有6V 20W的卤素灯照明，适合220V/50Hz的中国电力标准。 并且具有LED配置供用户选择 多功能显微镜配件特色： * 观察筒：30度倾角圆弧形管，360度可旋转，缓解颈部肌肉，长时间观察也不疲劳。可以屈光度补偿地调节瞳距，调节范围48-75mm. * 目镜非常适合佩戴眼镜的人员观察。 * 四位物镜转换器方便使用不同放大倍数的物镜观测。 * 低位同轴粗调聚焦和标定级的微调聚焦控制。 * 聚焦自动终止安全防护功能。 * 双层样品台配带可更换的超硬玻璃板，防止样品台划伤，污染等. * 高级暗场显微镜克勒照明系统 20W卤素灯。 * 可升级为2人共用显微镜 可选配件： 各种高级相衬显微镜目镜, 相衬(phase contrast), 偏光，暗场，数字相机等。 多人共览配置---可配置成侧面或后面观察型，两人同时观测。 多功能显微镜配件参数 放大率：40x-1000x 显微镜镜体:坚固耐用，300mm×270mm，橡胶支点 物镜转换器:滚珠轴承四孔转换器 目镜筒:双目圆弧形观察筒,防霉设计，30度倾斜，360度可旋转，瞳距调节：48-75mm 样品载物台: 双层155x135mm载物台， X，Y位移行程范围76x30mm,超硬玻璃覆盖，防止划伤或污染。 聚焦：低位粗调和细调（步进2微米），总对焦范围20mm。具有自动聚焦停止的安全功能。 集光器: Abbe 明视野集光器， 数值孔径（n.A） 1.25，集成虹膜光阑 目镜：EW10X/20宽视场目镜 物镜：ICO Plan 4x/0.10 ICO Plan 10x/0.25 ICO Plan 40x/0.65 弹簧加载 ICO Plan 100X/1.25 浸油，弹簧加载 照明光源：内置电源20W卤素灯，电源电压110V/220V，频率50/60HZ。 标准附件：防尘罩，蓝光虑光片，浸油，用户手册，2根保险丝， 20W飞利浦卤素灯 可选附件：铝制工具箱，多型号目镜，目镜锁定工具，暗视野滤光片（中心光阑） 加热台：可选加热台，提供恒定温度，观察活细胞样品。孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于多功能显微镜报价等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

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布鲁克AFM原子力显微镜探针 - MESP-V2布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMount DescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - DNP-10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 NP-O10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 DNISP布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

【rtespa-150】bruker原子力显微镜探针几何■矩形齿顶圆角半径nm尺寸:8最大:12频率赫兹尺寸:150最小:90最大:210长度um尺寸:125最小:15最大:135弹簧常量Nm尺寸:5最小:1.5最大:10宽度Nm尺寸:35最小:33最大:37

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - SCM-PIT-V2 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI,PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCM-PIT-V2布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - MLCT布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCANASYST-AIR布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-525 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - SCANASYST-FLUID布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - DNISP-HS 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - OLTESPA-R4布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - PFQNE-AL布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2,MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCANASYST-FLUID+布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 RTESPA-300 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-150布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 RFESPA-75布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 OTESPA-R4布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SNL-10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

OTESPA-R3】bruker原子力显微镜探针几何■矩形齿顶圆角半径（nm）尺寸:7最大:10频率（赫兹）尺寸:300最小:200最大:400长度（um）尺寸:160最小:145最大:175弹簧常量（Nm）尺寸:26最小:8.4最大:57宽度（m）尺寸:40最大:42最小:38背面涂层:反光铝