飞纳地质领域扫描显微镜

国仪量子高速扫描电子显微镜HEM6000HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术，实现了高速图像采集和成像，同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计，使得大面积的高分辨率图像采集工作更高效、更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。 产品优势 高速自动化 全自动上下样流程和采图作业，综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的5倍大场低畸变跟随扫描场动态变化的光轴，实现了更低的场边缘畸变低压高分辨 样品台减速技术，实现低落点电压，同时保证高分辨率应用领域应用案例大规模成像规格书 关键参数 分辨率 1.3nm @ 3 kV，SE；2.2 nm @ 1 kV，SE； 1.9nm @ 3 kV，BSE；3.3 nm @ 1 kV，BSE；加速电压 100 V~6 kV(减速模式) 6 kV~30 kV(非减速模式) 放大倍率 66~1,000,000x 电子枪类型 高亮度肖特基场发射电子枪 物镜类型 浸没式电磁复合物镜 样品装载系统 真空系统 全自动控制，无油真空系统 样品监控 样品仓监控水平摄像头 ； 换样仓监控垂直摄像头样品最大尺寸 直径4英寸 样品台 类型 电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台） 行程 X、Y轴：110mm；Z轴：28mm；重复定位精度 X轴：±0.6 um；Y轴：±0.3 um 换样方式 全自动控制 换样时间 ＜15 min 换样仓清洗 全自动控制等离子清洗系统 图像采集与处理 驻点时间 10 ns/pixel 图像采集速度 2*100 M pixel/s 图像大小 8K*8K 探测器和扩展 标配 镜筒内混合电子探测器 选配低角度背散射电子探测器 镜筒内高角度背散射电子探测器 压电驱动样品台 高分辨大场模式样品仓等离子清洗系统 6英寸样品装载系统主动减震台 AI降噪；大图拼接；三维重构 软件 语言 中文 操作系统 Windows 导航 光学导航、手势快捷导航 自动功能 自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散服务扫描电子显微镜实验室 我们在合肥、无锡、广州和上海设有扫描电子显微镜实验室，实验室配备多名电镜技术专家和高级电镜应用工程师，提供包含电 镜应用技术开发、样品拍摄在内的多种服务。主要应用领域有锂电池、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物医药等。 实验室依托国仪量子电镜产品，在电镜应用领域开展具有自主知识产权的科研项目，致力于实现科学研究和人才培养的目标。与此同时，实验室也为有电镜应用需求的科研院所、大专院校、企事业单位提供优质的服务。

[ 产品简介 ]蔡司新一代场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。领先的EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手”。[ 产品特点 ]&bull 独特的Gemini镜筒设计，低电压高分辨，无漏磁&bull 广泛全面的应用场景&bull 丰富灵活的探测手段&bull 智能高效的工作流程&bull 先进可靠的分析系统&bull 强大完善的扩展平台[ 应用领域 ]&bull 材料科学，如纳米材料高分辨成像，高分子聚合物等不导电样品成像，电池材料成分衬度成像，二维材料分析&bull 生命科学，如生物样品超微结构成像，冷冻样品高分辨成像&bull 地质矿物学，如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析&bull 工业应用，如组件失效分析，工艺诊断&bull 电子半导体行业，如质量控制与分析，6英寸Wafer快速换样，电子束曝光技术（EBL）&bull 钢铁行业，如夹杂物分析，金属材料自动原位成像分析&bull 刑侦、法医学&bull 考古学、文物保护与修复NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像氧化铝颗粒高分辨二次电子成像ETSE探测器氧化锌枝晶成像InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像Sense BSD探测器刺毛苔藓虫超微结构成像aBSD探测器超导合金成像

Phenom Pro_4飞纳地质领域扫描电子显微镜地质学是研究地球物质成分、内部构造、岩石圈层、古生物发展演化和矿产资源的学科，对了解地球，研究生物演化史、防治地质灾害都有重要意义。扫描电镜在矿物、化石的微观形貌研究、微观成分检测上有重要的应用，可以提供高清的矿物形貌、晶型照片以及定性半定量的微区成分。在矿物研究、古生物研究中，复纳科技可以在以下方面提供以下全面的行业解决方案：矿物粒度和富存状态分析页岩矿物形貌分析古生物化石微观分析矿产资源性能研究

Phenom ProX_2 飞纳电池领域扫描电子显微镜随着新能源汽车规模效益、单车带电量的提升，以及在政策的推动下，目前动力电池产能明显过剩，面临着高端产能不足，低端产能利用率过低的问题。因此，锂电材料的未来发展趋势将会再次变化，具有高能量密度优势的高镍三元系锂电池是主流，磷酸铁锂电池强势回归；人造石墨仍是主流技术，但是上升空间有限，硅碳材料将成为新的发展方向。电解质将减少有机溶剂的使用，并逐渐向全面固态方向发展。从原材料到生产过程，复纳科技可以提供以下全面的锂电行业解决方案：表面形貌观察成分分析内部结构观察安全把控原材料改性产品性能第六代 Phenom ProX 台式扫描电镜引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升级，易于操作，元素分析更快速。在满足材料表面形貌和元素分析的基础上，还可以通过软件控制硬件，实现材料分析自动化。此外，用户可以通过特定的软件从 SEM 图像中快速提取样品特征信息，测量数据、统计图表可以根据选择的格式输出在报告里。产品参数放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器、能谱探测器

公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。全自动薄片扫描显微镜、地质薄片显微镜、矿物分析显微镜、荧光显微镜、包裹体显微镜、生物显微镜、电动显微镜、超景深显微镜、体视显微镜、视频显微镜Mineral flakeScanning systemSD3000A矿物光薄片扫描系统公司情况简介北京麦特微科技科技有限公司是一家专门从事生命科学、生物检测、生物工程、药物研发、临床检验、环境监测、食品检测等领域提供先进的实验室仪器设备及多元化服务的高科技公司。公司拥有一支由专业技术人员、营销人员和维修人员组成的强大队伍，竭诚为广大用户提供包括技术咨询、产品选配、安装调试、应用指导、维护保养在内的整套细致入微的服务。本着“推荐优秀产品，提供卓越服务”的精神，北京麦特微科技科技有限公司必将成为您最信赖的伙伴！。基于创立品牌和可持续发展的战略，麦特微愿与业内同行和广大用户一起成长，依托我们在产品资源和技术服务方面的突出优势，服务众多的客户在新技术、新方法、新仪器的应用中受益。品质优先：“质量产生效益，质量赢得市场”。产品质量在我们每一名麦特微人的心中。以质量诚信为荣，树立质量法制观念。“品质第一，客户至上”是我们的理念，让我们携手并进，共创繁荣。服务至上：真诚赢得信任，耐心获取理解；细节决定成败，服务创造价值。不只诚信服务，更是优良服务，不只优良服务，更要惊喜服务，不只惊喜服务，更要完美服务。科学技术：让科技行业带来我们的新生，让我们在科技中提升技术。依托科技与技术让技术更好的服务科技。让科技给技术提供原动力。主要优点1.扫描速度快，每秒3到4张照片的速度进行扫描。2.有全景预览相机，可以快速定位扫描区域，并可以多区域分割扫描。3.高精度Z轴，具备自动对焦功能，快速对焦，光栅闭环回馈，确保全片扫描无虚焦。4.进口核心偏光附件，确保偏光效果，效果不输于进口4大品牌。5.复消色差高分率物镜，确保颜色无偏差，显示更多细节。6.LED冷光源，使用寿命长，可在高亮度下持续工作。7.绿版扫描软件，可随意拷贝，不受限制。产品特点高质量的照明系统：极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、偏振光4500°K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低，因此节省能源的潜能极大。薄片（光片）数字化：将传统地质类薄片（光片）数字化，进行储存管理与分析，最终数据便于宏观与微观观察，脱离时间、空间限制。全自动高速成像：一键操作，自动扫描，搭载高速扫描台，高精度、高重复的Z轴对焦，内置光栅编码器，确保每个视场的对焦精度，图像质量优异。部件介绍本产品由扫描仪主机、控制箱、计算机、扫描及浏览软件组成。其中扫描仪主机的配置包括：显微镜 （含机架、物镜、目镜、光源等） 、电动 XY 平台、电动 Z 轴、相机、 物镜转换器、全局预览模块。 技术参数此段文字只用作占位符，您可以根据您的实际情况，添加、修改、替换此段文字的文本内容，语言描述尽量简洁精炼。文档由稻壳儿耗崽原创设计。主机 高钢性的T形镜体结构，极高的稳定性及系统灵活性。光学系统 光学系统无限远色差校正光学系统。三目镜筒 三档分光（100:0/50%-50%/0:100）,高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调。机架 低手位粗微同轴调焦机构。最大行程30mm 微调精度1微米。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-220V 宽电压系统, 双路电源输出，采用数字调光，具有光强强度显示、透射光切换开关, 内置透射光滤色镜。载物台 步进电机XY平台，行程：80 mm （X轴）x 60 mm （Y轴），最小细分：0,05 μm，单向重复定位精度：≤ 1um（测试标准ISO230-2）电动Z轴 分辨率： 0.02 um，内置光栅编码器，光电限位开关，单向重复精度≤ 0.1 μm聚光镜 阿贝聚光镜NA0.9 上下可升降 可调孔径光阑物镜 复消色差高分辨率APO物镜：10X/0.42 20X/0.75灯室 科勒式高亮度LED照明，透、反射通用，预定中心相机 快门模式：全局快门；Sony芯片，35.7fps@2448 × 2048；动态范围75dB； USB3.0（USB3.1 GEN1）数据传输图像处理器处理器：i7；内存：32G 硬盘：256SDD+2T；显卡：独立 4G；显示器： 27寸产品衍生业务本产品可以衍生的显微镜应用，显微清洁度，显微阴极发光，显微热台 该系统能自动识别、并判定杂质的三种类型：金属颗粒、非金属颗粒、纤维。 能自动计算金属颗粒、非金属颗粒的数量并按长度等级依据ISO16232进行归类和判定等级，和计算滤膜上纤维的总长度。 该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的长度、宽度等尺寸。 具备能够通过自动调整偏振光的硬件支持功能准确区分金属和非金属颗粒，能够将金属和非金属颗粒区分正确以便有标准的数据依据进行判定阴极发光是由电子束轰击样品时产生的可见光，不同矿物由于含有不同的激活剂元素而产生不同的阴极发光，用来激发并产生阴极发光的装置叫做阴极发光装置，把这种阴极发光装置装在显微镜上则成为阴极发光显微镜。阴极发光显微镜可以广泛地应用于岩石、矿物的鉴定以及成岩作用的研究。 业务三 简称热台。根据不同用途，热台有多种型号。有可安装在偏光显微镜 ，金相显微镜的载物台 上的，有直接取代载物台的，一般用电阻丝作为加热元件，用热电偶 测量样品加热温度。温度范围由室温至750℃，高者达2000℃左右，低者达-55℃，可用于测定矿物中各种包裹体 的均匀化温度，以确定矿物 或矿床 形成时的温度和压力。用于双变油浸法 中测定矿物的折射率；也可测定矿物脱水时的温度；测定矿物多形结构的转变温度；观察加热时矿物光性的变化等产品拍摄样片

Phenom ProX_1金属金相领域扫描电子显微镜属材料应用于各个领域，金属组织的观测和失效分析是进行金属材料研究的基础。金属及其合金性能是由化学成分、晶体结构及微观组织来决定的，扫描电镜在这些方面的研究上大有可为。飞纳电镜在对金属端口研究、合金及相成分研究、粉末冶金以及夹杂物分析等方面，不仅能观察金属材料表面和内部的微观形貌，并结合元素定性定量分析，使表面形貌与元素分析一一对应起来。复纳科技在金属材料的研究中，可以提供以下全面的解决方案：离子研磨仪对金属材料进行表面抛光或者截面切削处理飞纳电镜进行微观形貌及成分的分析飞纳 ParticleX 对金属夹杂物进行一键分析和归类原子层沉积包覆技术对金属粉末进行包覆改性铁镀层腐蚀后的高温合金

Phenom Pro_3 高分子膜领域扫描电子显微镜高分子材料比较常见的有塑料、树脂和橡胶等，可广泛应用到生物医用、航天航空、电子电器等领域。我国高分子材料行业发展迅速，随着材料科学研究的不断深入，材料表征方法的不断进步，高分子材料正朝着高性能化，多功能化、绿色化以及智能化方向发展。制样设备离子研磨仪，结合飞纳电镜在研究高分子材料表面和内部形貌结构，成分等成为不可缺少的环节，从而在研究其强度，耐磨性，化学稳定性，耐腐蚀性，可降解、生物相容性等方面都有重要的指导作用。Phenom Pro 台式扫描电镜快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）水凝胶（可动态观察）

飞纳台式扫描电子显微镜标准版 Pure 智能、高效、经济 放大倍数：175,000 分辨率：优于10nm电子枪：1500小时CeB6灯丝抽真空时间：10秒样品移动方式：自动马达样品台样品定位方式：光学和低倍电子双重导航样品导电性要求：无需喷金，直接观测绝缘体环境扫描选件（ESEM）：温控样品台，可直接观测液体可升级为Phenom Pro 专业版Phenom(飞纳) Pure（飞纳台式扫描电镜 标准版） 一款性能和价格介于光学显微镜和传统大电镜之间的经济型台式扫描电镜，可用于测量亚微米尺寸的样品。Phenom Pure 适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。表面细节丰富的高分辨率照片Phenom(飞纳) Pure 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像：分辨率优于 10 nm，大景深；传统电镜往往通过提高加速电压来产生更高的信号，同时由于穿透深度较深，导致表面细节缺失。低加速电压 电子穿透深度浅，避免样品被破坏，展现更多表面细节；探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息；5kV 低加速电压下，电子反应区位于样品表面，配合高亮 CeB6 灯丝，既保证了分辨率，又得到样品表面的信息 CeB6 灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的 10 倍，适合于低加速电压观测 表面形貌和成分信息同时展现背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用 4 分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式，模式之间可迅速切换；成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 形貌模式：去除成份信息，样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰，适用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠加形貌模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵消成份模式图像包含样品成份与形貌信息形貌模式图像仅突出样品表面形貌特征专利样品杯，30秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后30秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右。 直接观看绝缘体，无需喷金Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右，而且不会影响灯丝寿命，下图头发示例： 操作简便，全程导航 &bull 自动/手动聚焦Phenom（飞纳）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。&bull 自动/手动亮度&bull 自动/手动对比度&bull 自动灯丝居中调节&bull 自动马达样品台&bull 光学/电子样品导航 光学导航，所有带观测样品尽在视野之中，高倍下准确切换样品，只需点击感兴趣样品，即可自动移动到屏幕中央低倍SEM照片导航，导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域，点击感兴趣的区域，自动移动到样品中央 环境适应性高，完全防震Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使Phenom成像不受震动影响，可放置在较高楼层。 互联网远程检测Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的Phenom随时处于最佳工作状态。 适用于不同领域的样品杯选件

Phenom Pro_2生物领域扫描电子显微镜生命科学是研究生命现象、生命活动的本质、特征和发生、发展规律，以及各种生物之间和生物与环境之间相互关系的科学。由于该领域的多样化，其研究所用到的设备也是相当广泛。扫描电镜（SEM）作为这些类型的设备之一，通过观察组织或器官结构，可以了解到可能的改变和疾病。Phenom Pro 台式扫描电镜快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。珊瑚内孔表面杆菌

第一、仪器名称及型号：RISE型共聚焦拉曼显微镜与SEM联用系统第二、品牌：德国WITEC公司第三、产品简介：RISE是世界首款完全集成的共聚焦拉曼成像系统与扫描电子显微镜的综合测试系统，它将SEM和共聚焦拉曼成像结合在一起。通过RISE显微镜，可以将超微结构表面特性与分子化合物信息关联起来。RISE显微镜将SEM和alpha300共聚焦拉曼成像显微镜的所有功能都融于一台仪器中:? 在拉曼和 SEM 测量之间快速、简便切换? 自动将样品从一个测量位置移动另一个位置? 集成化软件界面，方便用户进行测量控制? 测量结果关联与图像叠加? 独立的SEM 和拉曼成像性能产品主要特性：拉曼性能请参考Alpha300R型共聚焦拉曼显微镜的介绍，SEM部分，我司合作伙伴是Zeiss 电镜与Tescan电镜两个厂家。第四、联用技术简介：利用 RISE 显微镜，先测量SEM的测量时只需将样品在 SEM 真空室内从一个测量位置自动转移到另一个位置，从而简化了工作流程，大大提高了仪器的易用性。第五、产品特色? 在拉曼光谱和扫描电镜之间快速方便的转换? 拉曼光谱成像：每个样品点都能获取完整的拉曼光谱? 2D和3D成像模式：平面（x-y方向）和深度扫描（z方向）? 极好的衍射极限横向分辨率：200-300nm? SEM 和拉曼成像互不影响共聚焦拉曼成像? 更高的共焦拉曼成像速度、灵敏度和分辨率? 优异的深度分辨率适合三维图像生成和深度分析? 最高灵敏度和最佳分辨率的光谱系统? 超快拉曼成像选项，每张光谱0.76毫秒的采集时间? 非破坏性成像技术，无需对样品进行染色 第六、应用实例 仓鼠脑组织切片的拉曼-SEM叠加图像。彩色编码的拉曼图像：绿色：脑白质；红色：脑灰质；扫描范围:100 x 100 μm，300 x 300 像素 = 90,000光谱，每光谱测量时间50 ms。 砷化镓 (GaAs) 样品的拉曼-SEM叠加图像。彩色编码的拉曼图像：黄色：金基底；红色：GaAs；蓝色：生产残留物；扫描范围:50 x 50μm，300 x 300像素= 90,000光谱，每光谱测量时间34ms。 PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM叠加图像。 彩色编码的拉曼图像：绿色：聚苯乙烯；红色：聚甲基丙烯酸甲酯。RISE 显微镜与地质样品的 EDX 同区域对应分析。左：叠加的 SEM-EDX 图像：可以区分三种不同元素组（橙色：Si、O；紫色：Si、Al、Fe、Ca；绿色：Na）。中间：同一样品区的拉曼-SEM叠加图像，呈现分子化合物的空间分布。右：相应的拉曼光谱。红色：绿帘石；绿色：石英；棕色：斜长石（钠长石）；额外其他分子化合物。第六、应用领域该仪器广泛用于材料科学、 薄膜与聚合物研究、生命科学、半导体研究、 晶体研究、制药科学，化学，地质学，物理学。

飞纳台式扫描电镜1997年FEI和飞利浦电子光学宣布合并其全球业务2008年台式扫描电子显微镜飞纳(Phenom)进入中国市场2012年飞纳(Phenom）台式扫描电镜全球销最突破2000台2013年飞纳（Phenom)发布第三代台式扫描电镜，放大倍数10万倍，分辨率优于8nm 飞纳(Phenom)主要特点一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝一表面细节丰富的高质量图片一内置彩色光学显微镜一自动马达样品台一30秒快速成像，操作简单一光学与低倍电子双重导航一防震设计，对放置环境无牛条殊要求一样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，}c需喷金一四分割高灵敏度背散射电子探头，兼得样品表面 形貌与成份信息

飞纳台式扫描电子显微镜专业版Pro快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）

对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是最经济、最高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。 为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。 为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成 优点在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。 利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。 快速轻松表征导电和非导电样品 在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析支持可选的分析功能。利用独有的多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导电样品和不导电样品的精确EDS分析成为可能。 Q45 SEM: 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。分辨率加速电压探针电流 样品台放大率试件室尺寸Q25 SEMHigh vacuum 3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted13 to 1000000x284 mm size left to rightQ45 SEMHigh vacuum 3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)Extended vacuum mode (ESEM)3.0 nm at 30 kV (SE) *optional200 V - 30 kV 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

Phenom Pro_6石油煤炭领域扫描电子显微镜石油化工产业是国家的重要支柱产业，从石化原料的开采、炼制到石化产品的生成加工，每一步都与国防、国民经济和人民生活息息相关。随着石油资源的消耗，油气开采重点也转移到了页岩油方向，高质量的压裂支撑剂可以提供更好的油气渗透率，实现油气增产。绿色低碳的发展理念也促使相关企业展开高效环保的石化催化剂、高附加值、高性能石化产品的研制。在石化产品的开采、炼制、生成过程中，复纳科技可以提供以下全面的石油石化行业解决方案：石化产品形貌分析石化产品成分分析压裂支撑剂显微分析岩芯微孔分析石化催化剂分析页岩

InspectTM系列满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准确、快速的数据收集：将表面形貌和成分图像与快速元素分析结合，确定材料特性及其化学元素组成。在众多领域，高分辨率和高电流 FEG 扫描电镜的价值在于有助应对生成高品质图像和实施快速分析的挑战。Inspect系列是这些基础研究应用领域主流而灵活的解决方案。用户界面简单、易学且灵活，足以应对复杂环境内不同项目个别研究需求不同的挑战。例如，标准导航功能包括样品台移动双击控制和拖放变焦。SmartSCANTM技术采用针对困难样品的智能扫描策略，可减少噪声，提供zui优质的数据。该仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正超越仅有“易用性”的产品。许多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可实现特定的表征。诸如射束减速等新功能可将传统 FEG 扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。Nav-Cam&trade 彩色图像导航和新探测器令 InspectTM系列 具备更大的灵活性。更优质的数据、更大的灵活性、更高的效率，InspectTM 可实现快速简单的操作，迅速获知答案，实现投资价值。

显微镜物镜扫描仪高精度亚纳米物镜扫描台/定位台！上海昊量推出的物镜扫描台采用压电陶瓷直推，以柔性铰链为导向使物镜扫描台具有结构紧凑、体积小、无机械摩擦、定位分辨率高等优点，采用硅位移传感器，物镜扫描台相比于传统的电容式位移传感器，物镜扫描台硅传感器使平移台拥有更高的精度和线性度以及较低的底噪。物镜扫描台的精度可以达到亚纳米，底噪低至10pm。上海昊量光电设备有限公司推出的压电平移台旨在满足超精密定位应用的需求。该平移台采用压电陶瓷驱动，以柔性铰链为导向使其结构紧凑、拥有小的体积、无摩擦、无间隙、定位分辨率高等优点。采用硅高精度位移传感器，与电容位移传感器相比拥有更高的精度、线性度和低底噪。由于其具有较高的精度、线性度和较低的底噪等优点，被广泛的应用于超分辨率显微镜，光学捕获和原子力显微镜等领域。AU-FOCHS采用管状设计，专门用于显微镜物镜快速高精度定位。该物镜扫描台可提供行程可达到100μm，精度可达到0.1 nm，谐振频率可达到1175Hz。它由铝、钢和黄铜构成，配备硅传感器，可提供皮米级的稳定性。以上优点使其拥有广泛的应用，例如，激光加工、显微成像、体容积成像，等还可以与相机系统结合使用实现自动对焦。AU-FOC是一款专门用于显微镜物镜准确定位的设备。该物镜扫描台可提供100/200/300/500μm不同行程。该物镜扫描台由铝和黄铜构成，结合硅传感器可提供皮米量级的稳定性。以上两款物镜扫描台的黄铜安装环可以轻松更换，因此几乎所有的物镜都可以与这两款物镜扫描台结合使用。可用的物镜大小有RMS, M25, M26, M27 和 M32.显微镜物镜扫描台产品特点：l 高分辨率（0.01nm）l 高速度，谐振频率可达1175Hzl 采用硅传感技术l 超低底噪l 柔性铰链导向显微镜物镜扫描台主要应用：l 自动聚焦系统l 共焦显微镜l 3D成像l 超分辨显微镜l 半导体计量学 显微镜物镜扫描台产品参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

【实验箱配件列表】 1. 教学型扫描隧道显微镜，包括：(1)STM扫描头；(2)具有10倍放大镜的屏蔽罩；(3)大理石隔震台；(4)电子控制器；(5)USB线和电源线。 2. 工具盒：扁嘴钳子、剪刀、尖口镊子、样品支架、铂铱丝（Pt-Ir）金属探针等。 3. 软件安装盘。【特点】 ● 一体化精致设计，安装简单，携带方便 ● 操作步骤简单，适于中学或大学教学 ● 在普通实验环境下便可快速获得原子图像 ● 低电压操作，确保实验安全 ● 功能强大的图像处理、数据 分析软件，可观测三维原子图像【应用】 ● 多学科教学：物理、化学、纳米科技等 ● 观测原子、分子等微观粒子，认识纳米尺度下的微观图像 ● 可分区导体和非导体 ● 可拓展：实现纳米操纵和刻蚀，操纵微观粒子【主要技术指标】

同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）具有很高的分辨率，实用性强，从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置，仪器成本合理，适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统，测量准确性，而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时，从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品，都可进行实验操作，且获得原子级分辨率，测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件；替换探针或样品等操作简便易行；集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统，可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计，包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台，超低噪音电子器件，都做了优化，具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置，对样品均可准确测量，高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面，包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件，都做了优化，得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，达到对尺寸均可准确测量，而不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像，并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外，闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描，而不用更换扫描器，且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转，图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用：您的应用是什么—Innova都已准备好：• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征

高通量(场发射）扫描电子显微镜 NavigatorSEM-100NavigatorSEM-100高通量场发射扫描电子显微镜，专为跨尺度大规模样品SEM表征分析而设计，广泛应用于科研及工业等领域。其自动化超高速的纳米成像技术，为您提供超凡的成像体验。-产品介绍聚束科技独立研发并拥有自主知识产权的NavigatorSEM-100高通量（场发射）扫描电子显微镜，通过对成像技术、运动平台、电路控制及智能算法的系统化创新设计，实现了全球最高通量成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。其全部采用直接电子探测器的技术方案，成功克服了传统SEM技术在速度、精度和样品损伤等方面的局限性，颠覆性地将扫描电镜从传统意义上的纳米“照相机”提升为纳米“摄像机”。同时操作简单，全自动一键换样，7*24小时无人值守运行，全面提升科研效率。我们将成熟的工业化高通量电镜检测技术应用在生命科学、材料研究、半导体工业、地质资源等领域。尤其在神经生物学3D重构、材料大面积表征分析、半导体反向工程、纳米技术分析等应用领域有显著优势。-产品优势&bull 综合成像速度＞10倍传统电镜&bull 全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像 &bull 海量SEM图像快速生成数据分析报告&bull 从百毫米到纳米级的跨尺度材料表征-产品特点极速成像通过自主研发的硬件和软件设计，实现全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像：视频级高分辨成像。高清视频级摄像帧率，使其具有实时观测样品动态变化的能力。高成像质量独特的浸没式电磁复合物镜系统，有效地减小低落点能量下物镜的象差，达到极高分辨能力。与物镜场复合的静电式扫描偏转系统，相比于传统电镜的磁偏转系统，极大地减小图像边沿畸变，可获得兼具高分辨率和大视野的完美图像In-Lens SE与BSE半导体直接电子探测器，双通道同时高速成像，兼具高灵敏度和高信号电子收集效率，即使在nA级别的大束流条件仍可获得极佳的图像衬度和信噪比。配备主动补偿系统（激光干涉振动补偿、电磁干扰主动补偿），消除环境因素干扰，保证成像高分辨率高质量。跨尺度大规模成像超高速扫描成像能力，结合全自动聚焦跟踪系统和A.I.图像处理算法，实现对超大区域样品进行高分辨率全自动不间断矩阵式扫描，并自动拼接获得大尺寸纳米级分辨率的全景地图式成像，使之具备了跨尺度信息融合能力，可实现从纳米级到毫米级的跨尺度材料表征。智能分析大数据智能分析 ，海量SEM图像快速生成数据分析报告；智能图像处理，定制化图像测量、统计、分析。操作简单全自动样品载入与导航，一键完成样品更换，操作便捷，节省工时。大场光学成像导航与SEM成像无缝衔接，对指定区域快速准确实现定位和观测。7*24小时全自动化无人值守运行能力。

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

钨灯丝扫描电子显微镜SEM3200是一款先进的分析仪器，它利用钨灯丝作为电子源，通过聚焦电子束扫描样品表面，从而获得样品表面的高分辨率图像。该设备适用于各种材料科学、生物学、地质学等领域的研究工作。SEM3200的特点包括：1. 高分辨率成像：钨灯丝的使用使得SEM3200能够提供高清晰度的图像，分辨率可达纳米级别。2. 灵活的样品室：拥有宽敞的样品室，可以容纳各种大小的样品，并且易于操作。3. 多种检测模式：提供多种检测模式，包括二次电子成像、背散射电子成像等，以适应不同的样品分析需求。4. 稳定的性能：采用先进的电子光学系统和稳定的扫描技术，确保长时间运行的可靠性。5. 用户友好的操作界面：配备直观的操作软件，使得用户可以轻松进行样品定位、图像获取和分析。6. 高效的数据处理：内置强大的数据处理系统，可以快速处理和分析图像数据，提高工作效率。SEM3200扫描电子显微镜是科研和工业领域中不可或缺的分析工具，能够帮助用户深入研究材料的微观结构和成分分布。当然，以下是继续扩展的SEM3200产品介绍：除了上述特点，SEM3200还具备以下显著优势：7. **广泛的应用范围**：无论是金属、陶瓷、聚合物、生物样品还是半导体材料，SEM3200都能提供详尽的表面形貌和微观结构信息，为材料科学、生物医学、半导体制造等领域的研究提供有力支持。8. **先进的自动化功能**：支持自动聚焦、自动曝光和自动图像拼接等功能，不仅提高了操作的便捷性，还确保了实验结果的准确性和可重复性。9. **高效的样品制备兼容性**：能够适应不同种类的样品制备技术，包括喷金、喷碳等导电处理，以及冷冻断裂、离子减薄等特殊样品制备方法，从而满足多样化的实验需求。10. **环保节能设计**：在保证高性能的同时，SEM3200还注重环保和节能，采用低能耗设计，减少对环境的影响。11. **强大的技术支持和服务**：作为金山办公与合作伙伴共同开发的AI工作助理，WPSAI不仅提供产品介绍，还能为用户提供全面的技术支持和售后服务。我们的专业团队将随时解答您的疑问，确保您在使用过程中得到最佳体验。总之，SEM3200钨灯丝扫描电子显微镜是一款集高分辨率、灵活性、多样性和高效性于一身的先进分析仪器。它不仅能够满足科研和工业领域的多样化需求，还能通过智能化的操作界面和强大的数据处理系统，为用户带来更加便捷、高效和准确的实验结果。

Park NX12 SECCM可提供多功能原子力显微镜平台满足纳米级测量的需求- 原子力显微镜（AFM)有纳米级分辨率成像以及电，磁，热和机器性能测量的能力。- 纳米管扫描系统可用于高分辨率扫描电化学池显微镜和扫描离子电导电显微镜。- 倒置光学显微镜（IOM）便于透明材料研究和荧光显微镜一体化。通过验证的NX10性能通过倒置光学显微镜样品平台，Park NX12将Park原子力显微镜的多功能性和准确性相结合。这使得使用者更容易的使用纳米管技术去研究透明，不透明，或软或硬的样品。电化学测试的绝佳平台电池，燃料电池，传感器和腐蚀等电化学研究是个快速增长的领域，然后许多原子力显微镜不能直接满足其特殊的需求。Park NX12的人性化设计，为快速操作提供便利，从而达到化学研究人员要求的功能性和灵活性。这主要包括：多功能易用电化学池惰性气体和湿度的环境控制选项双恒电位仪的兼容性研究人员可利用NX12平台实现各种电化学应用：扫描电化学显微镜(SECM)扫描电化学池显微镜(SECCM)电化学原子力显微镜（EC-AFM）和电化学扫描隧道显微镜( EC-STM)多用户设备Park NX12完全重新构建，以适应多用户设备需求。其他原子力显微镜解决方案缺乏必要的多功能性，难以满足该设备中用户的多重需求，很难合理控制设备成本。然而，Park NX12旨在能够容纳标准环境原子力显微镜成像，液体扫描探针显微镜，光学和纳米光学成像，使其成为最灵活的原子力显微镜之一。多功能应用Park NX12功能广泛，包括液体中的PinPoint &trade 和纳米力学，倒置光学显微镜定位透明样品，离子电导显微镜超软样品成像，以及改善透明样品光学性能的可视性。综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整解决方案，使其成为广泛应用中的理想选择。模块化NX12模块化设计不仅安装简单且兼容性强，可以满足研究人员的各种实验需求。Park NX12可用于任何一个项目NX系列的众多扫描模式和模块化设计使它可轻松地适应任何一个扫描探针显微镜的需求。- 标准成像非接触模式成像接触模式成像侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲模式成像-化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜扫描离子电导显微镜（SICM）-热性能扫描热感显微镜(SThM)

高通量(场发射）扫描电子显微镜 NavigatorSEM-100B PLUSNavigatorSEM-100B PLUS高通量场发射扫描电子显微镜，专为跨尺度大规模样品SEM表征分析而设计，广泛应用于科研及工业等领域。其自动化超高速的纳米成像技术，为您提供超凡的成像体验。-产品介绍聚束科技独立研发并拥有自主知识产权的NavigatorSEM-100B PLUS高通量（场发射）扫描电子显微镜，通过对成像技术、运动平台、电路控制及智能算法的系统化创新设计，实现了全球最高通量成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。其全部采用直接电子探测器的技术方案，成功克服了传统SEM技术在速度、精度和样品损伤等方面的局限性，颠覆性地将扫描电镜从传统意义上的纳米“照相机”提升为纳米“摄像机”。同时操作简单，全自动一键换样，7*24小时无人值守运行，全面提升科研效率。新机型在硬件部分模组提升较大，配备新型电子枪，电子束落点能量范围可达30keV，涵盖绝大多数扫描电镜落点能量需求范围。分辨率可达1.0nm (15keV下), 且在1-3kV低加速电压下即可获得1.5nm高分辨率的同时，仍能保持1‰以下的低图像畸变。我们将成熟的工业化高通量电镜检测技术应用在生命科学、材料研究、半导体工业、地质资源等领域。尤其在神经生物学3D重构、材料大面积表征分析、半导体反向工程、纳米技术分析等应用领域有显著优势。-产品优势&bull 综合成像速度＞10倍传统电镜&bull 该系统实现二次电子和背散射电子的双通道同步100M/s级超高速成像&bull 海量SEM图像快速生成数据分析报告&bull 从百毫米到纳米级的跨尺度材料表征-产品特点极速成像通过自主研发的硬件和软件设计，实现全球最快二次电子与背散射电子双通道同步成像：视频级高分辨成像。高清视频级摄像帧率，使其具有实时观测样品动态变化的能力。高成像质量独特的浸没式电磁复合物镜系统，有效地减小低落点能量下物镜的象差，达到极高分辨能力。与物镜场复合的静电式扫描偏转系统，相比于传统电镜的磁偏转系统，极大地减小图像边沿畸变，可获得兼具高分辨率和大视野的完美图像In-Lens SE与BSE半导体直接电子探测器，双通道同时高速成像，兼具高灵敏度和高信号电子收集效率，即使在nA级别的大束流条件仍可获得极佳的图像衬度和信噪比。配备主动补偿系统（激光干涉振动补偿、电磁干扰主动补偿），消除环境因素干扰，保证成像高分辨率高质量。跨尺度大规模成像超高速扫描成像能力，结合全自动聚焦跟踪系统和A.I.图像处理算法，实现对超大区域样品进行高分辨率全自动不间断矩阵式扫描，并自动拼接获得大尺寸纳米级分辨率的全景地图式成像，使之具备了跨尺度信息融合能力，可实现从纳米级到毫米级的跨尺度材料表征。智能分析大数据智能分析 ，海量SEM图像快速生成数据分析报告；智能图像处理，定制化图像测量、统计、分析。操作简单全自动样品载入与导航，一键完成样品更换，操作便捷，节省工时。大场光学成像导航与SEM成像无缝衔接，对指定区域快速准确实现定位和观测。7*24小时全自动化无人值守运行能力。

仪器简介：在以下方面，easyScan 2扫描隧道显微镜是最理想的工具 在石墨上用易完成的原子分辨率进行非常高分辨率测量 轻松进入纳米世界 大气环境中日常的实验室工作 瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：1. 扫描隧道显微镜扫描头 最大扫描范围： X和Y方向0.5um x 0.5um（可以选择1um x 1um） xy轴分辨率： 0.015nm 最大扫描范围： Z方向200nm z轴分辨率： 0.003nm 扫描速度： 每128个数据点，60ms/line 槽压： 5 mV 阶段时，± 10 V 设定点电流： 25 pA阶段时，± 100 nA 反馈回路宽带： 3kHz 自动接近样品 没有使用危险的高电压 包括高效减幅阶段 用0.25 mm的 Pt/Ir 金属丝作为扫描尖端 2. 扫描隧道显微镜电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 附加的独立的12位的ADC输入选件 外部电源 可以升级运行AFM扫描仪3. 扫描隧道显微镜软件 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，3维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 多用光谱功能 I-V和I-z曲线测量4. 扫描隧道显微镜可利用的附件和消耗品 覆盖10倍放大高质量光学镜的透明层 全部的STM工具（刀具，钳子，镊子） 提供STM原理信息手册 样品：HOPG，Gold 薄膜，MoS2 云母片上的取向薄膜Gold (111) 接触样品的银粉漆 Pt/Ir STM金属丝(直径为0.25mm)主要特点：可以在大气下进行任何STM实验设计小巧、紧凑；使用简便、舒适扫描仪配置了易接近和可视扫描端自动接近样品所有的功能可以在一台计算机上进行与标准计算机串行端口连接（不需要接界面卡）特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度

一、产品概述：扫描隧道显微镜（STM）是一种高分辨率的表面分析工具，能够以原子级别观察和操纵材料表面的结构和电子特性。该仪器利用量子隧穿效应，通过探针与样品表面之间的电流变化实现高精度成像，广泛应用于纳米技术、材料科学和表面物理等领域。二、设备用途/原理：设备用途扫描隧道显微镜主要用于研究材料表面形貌、电子性质和原子结构。工程师和科学家可以利用该仪器进行纳米级别的表面分析、缺陷检测和材料特性评估，以推动新材料的开发和应用。工作原理扫描隧道显微镜通过将一个极细的探针靠近样品表面，利用量子隧穿效应来测量探针与样品之间的电流。探针在样品表面上进行扫描时，仪器实时记录电流的变化，从而生成表面的三维图像。通过调节探针与样品之间的距离，STM能够获得高分辨率的表面结构信息，甚至可以操控单个原子，实现精细的纳米操作和研究。三、主要技术指标：1. 自 1996 年推出以来，我们的低温 STM 已经为 LHE4 浴室冷冻器 STM 的稳定性、性能和生产率设定了标准。 在推出 LT STM 超过 20 年之后，低温 SPM 技术在广泛的活跃科学域的重要性仍然没有突破。2. 分子光谱学、原子操纵、碳、超导体、半导体、金属上的气体和磁性学，只是研究充分利用低温 SPM 的几个例子。 在所有这些域，我们的 LT STM 出版物比所有其他商业低温 SPM 的合并要多。3. 近年来，这些出版物突出了 LT STM 提供的行业先 QPlus® AFM 性能。 随着我们继续推出新的 STM 平台表格，Scienta Omicron 也很高兴地宣布推出新的第三代仪器，进一步提高了 LT STM 的性能和生产力。4. 第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。 这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。 新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 LT STM 始终提供的稳定性。

场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是一款先进的分析仪器，它结合了场发射电子源的高亮度和高分辨率特性，为用户提供卓越的表面成像和微区分析能力。该设备适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域的研究和质量控制。SEM4000Pro采用了最新的电子光学系统设计，能够达到亚纳米级别的分辨率，即使在高放大倍数下也能提供清晰、细腻的图像。其独特的场发射电子枪技术，确保了稳定的高亮度电子束输出，从而获得高质量的图像和分析数据。此外，SEM4000Pro配备了先进的电子探测器系统，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够满足不同样品的成像需求。用户可以通过这些探测器获取样品表面的形貌、成分和晶体结构等信息。该显微镜还具备强大的样品处理能力，支持多种样品的加载，包括固体、粉末、薄膜等，并且具有高真空和低真空模式，以适应不同样品的测试环境。用户界面友好，操作简便，配合智能软件系统，可以轻松完成样品的定位、成像和分析。总之，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是科研和工业领域中不可或缺的精密分析工具，它以卓越的性能和广泛的适用性，为用户提供了深入研究材料特性的强大支持。当然，以下是关于场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro产品介绍的续写：除了上述的卓越性能外，SEM4000Pro还具备一系列高级功能，进一步提升了其在科研和工业应用中的价值。首先，该显微镜支持三维成像技术，通过收集不同角度的二次电子信号，可以重建出样品表面的三维形貌。这一功能对于研究复杂结构材料的表面形态、孔隙分布等具有重要意义，为科研人员提供了更加直观、全面的样品信息。其次，SEM4000Pro还配备了能量色散X射线光谱仪（EDS）等附件，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分分析。通过EDS分析，用户可以快速获取样品表面的元素种类、含量及分布信息，为材料表征和性能研究提供有力支持。此外，该显微镜还具备自动化控制和远程操作功能。用户可以通过计算机远程控制显微镜的各项参数，实现样品的自动扫描、成像和分析。这一功能不仅提高了工作效率，还降低了操作难度，使得更多科研人员能够轻松上手使用。在维护和保养方面，SEM4000Pro也表现出色。其设计充分考虑了易维护性和耐用性，使得设备的日常维护和保养变得简单快捷。同时，金山办公及其合作伙伴还提供专业的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中遇到任何问题都能得到及时解决。综上所述，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro凭借其卓越的性能、丰富的功能、便捷的操作以及专业的售后服务，成为了科研和工业领域中备受推崇的精密分析工具。无论是材料科学家、生物学家还是地质学家，都能在这款设备的帮助下，深入探索未知领域，推动科学研究的进步和发展。

如有需要请通过伯英科技联系我们。多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）型号：NT-206，是集多功能于一身的原子力显微镜，带有复杂的硬件与软件分析系统，可分析形貌与力学性能，分辨率为纳米级别。可添加：纳米压痕、划痕、磨损，附着力、摩擦力测试，纳米光刻等功能。A probe is positioned above journal neck of watch gearEmbedded videosystem in combination with motorized XY micropositioning stage provide convenient tuning of the instrument and its fine targeting onto the features on the sample surface. All that dramatically enhances the instrument' s functionality when researching micro- and nanosize objects.To meet requirements of specific research tasks, AFM NT-206 can include specialized changeable probe holders for microtribometry and adhesiometry or for nanoindentation.NT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software 多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）技术指标：Measurement modes:测量模式： Motion patterns at the measurements: - area (matrix) - line - single point.Contact static AFM 接触静态Lateral force microscopy /with contact static AFM/ 横向力显微镜/用静态接触AFMNon-contact dynamic AFM 非接触式动态AFMIntermittent contact AFM (similar to Tapping Mode) 间隙接触（敲击）Phase contrast imaging /with intermittent contact AFM/ 相衬成像/用间隙接触AFMTwo-pass mode (for static and dynamic AFM) 6. 两回合模式（适合静态与动态AFM）Two-pass mode with varying separation (for static and dynamic AFM) /Original technique!/两回合模式，伴随变化的间距，Multicycle scanning (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描（适合静态与动态AFM）Multilayer scanning with varying load (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描，伴随变化的载荷（适合静态与动态AFM）Electrostatic force microscopy (two-pass technique) *, **静电力显微镜（双回合技术）Current mode *, **电流模式Magnetic force microscopy (two-pass technique) *, **磁力显微镜（双回合技术）Static force spectroscopy (with calculation of quantitative parameters, surface energy and elastic modulus in the measurement point)静态力谱（在测量点，计算定量参数、表面能与弹性模量）Dynamic force spectroscopy动态力谱Dynamic frequency force spectroscopy /Original technique!/动态频率力谱Nanoindentation *纳米压痕Nanoscratching *纳米划痕Linear nanowear *线性纳米磨损Nanolithography (with control of i load, ii depth and iii bias voltage) *纳米光刻（控制力，深度，偏压）Microtribometry * /Original technique!/微观摩擦力计量Microadhesiometry * /Original technique!/微观附着力计量Shear-force microtribometry * /Original technique!/剪切力微观摩擦力计量Temperature-dependent measurements (under all above modes) *基于温度的测量（适用于所以以上模块）Note. * - Specialized accessories or rig required*需要特殊的附件或工具 ** - Specialized probes required **需要特殊的探针Scan field area:扫描面积from 5x5 micron up to 50x40 micronsMaximum range of measured heights:最大高度范围from 2 to 4 micronLateral resolution (plane XY):侧面分辨率1–5 nm (depending on sample hardness)Vertical resolution (direction Z):竖直分辨率0.1–0.5 nm (depending on sample hardness)Scanning matrix:扫描矩阵Up to 1024x1024 pointsScan rate:扫描速度40–250 points per second in X-Y planeNonlinearity correction :非线性校正A software nonlinearity correction providedMinimum scanning step:最小扫描步阶0.3 nmScanning scheme:扫描步骤The sample is moved in X-Y plane (horizontal) and in Z-direction (vertical) under stationary probe.Scanner type:扫描器类型A piezoceramic tube.Cantilevers (probes):悬臂（探针）Commercial AFM cantilevers of 3.4x1.6x0.4 mm. Recommended are probes from Mikromasch or NT-MDT. Checked for operation with probes by BudgetSensor and NanosensorsCantilever deflection detection system:悬臂倾斜探测系统Laser beam scheme with four-quadrant position-sensitive photodetectorSample size:样品尺寸Up to 30x30x8 mm (w–d–h) extending block insert allows measurement of samples with height up to 35 mmHigh voltage amplifier output: 高压放大器输出+190 VADC:16 bitOperation environment:操作环境Open air, 760+40 mm Hg col., T = 22+4°С, relative humidity 70%Range of automated movement of measuring head:测量头自动移动范围10x10 mm in XY plane for micropositioning of probe relative measured sample at step 2.5 micron with optical visual monitoringOverall dimensions:总尺寸Scanning unit: 185x185x290 mm Control electronic unit: 195x470x210 mmField of view of embedded videosystem:植入视频系统的视场1x0.75 mm, visualization window 640x480 pixel, frame rate up to 30 fps.Vibration isolation:防震隔离Additional antivibration table is recommendedHost computer:控制计算机Not less than: Celeron 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 17" 1024x768x32 bit, Windows XP SP1, 2 USB port. Recommended: Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows XP SP2 or higher, 2 free USB port.Software:软件Special control software SurfaceScan and the AFM image processing package SurfaceView / SurfaceXplorer are included. * Before measurements, the probe can be positioned to necessary place over the sample with help of automated motorized stage. To provide monitoring for the scan area and objects below the probe, the instrument embeds a videosystem allowing to watch the probe motion over the sample surface. Videosystem and the motorized stage for the probe positioning over sample are included in base set by default. A combination of these two options allows rather flexible selection of objects to be measured on the sample surface at direct visual monitoring by the opeartor.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）组成模块： DELIVERY SETNT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software ::: BASIC SETScanning unit (atomic force microscope)Includes a base platform with embedded XY positioning stage and a detachable measuring head with integrated video systemControl electronic unit with the connetcion cables in the set (the case variants)Software package including:The software runs under Win32. Supplied on CD. Updates available at this site in section ARCHIVE SOFTWAREAFM control software SurfaceScan for driving complex and data acqusition and visualization .SurfaceView and SurfaceXplorersoftware package for the measured data processing, visualization and analysis.The software can include plug-ins for processing AFM-data obtained with other microscopes.A set of drivers for connection of control electronic unit with host PC and running videosystem.Note:1 Base set includes also the control software (for Win32) and user manual.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）可选配件 ::: ADDITIONAL ACCESSORIES (optional)A specialized antivibration rackA changeable probe holderChangeable scaners for ranges: 5x5x2 um10x10x3 um20x20x3.5 um40x40x3.5 um50x50x3.5 um90x90x3.5 umSet for scanning the sample emmersed in liquid mediumThermocell: a changeable sample platform for measured sample heating up to 150 °С with stand-allone controllerA changeable holder for conducting probesExtending block insert allowing measurement of thick samples with height up to 35 mmA changeable microtribometer-adhesiometer unitOption: a set of AFM probes(Prod. by Mikromasch)A changeable shear-force microtribometer unitOption: a set of calibration test gratings(Prod. by Mikromasch)A changeable nanoindentor unit多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）软件 SOFTWARENT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: SoftwareControl software for AFM NT-206 SurfaceScan is a 32-bit Windows application. It runs under Windows XPsp2/Vista/7 operating systems.The control software provides all preliminary tunings and settings necessary for the AFM operation: visual control over the laser-beam detection system adjustment, tuning of the cantilever oscillations (in dynamic modes), feed-back system adjusting, sample positioning under the probe and sample approach to the probe before measurements and removal after the measurements. A full-field or any reduced area within the full field of the scanner can be selected for measurements.Operator can watch any combination of acquired AFM/LFM images in data visualization window or switch to look at them in one window. Additionally, profile of currenly acquired line can be monitored as well.Acquired data are saved in files of special format that can be then processed, visualised (in 2-D and 3-D presentation) and analysed with a specialized software package SurfaceView or SurfaceXplorer.

LSI XL系列光片扫描显微镜旨在以高分辨率高速对大型样品进行三维成像。该系统利用线性贝塞尔光片技术，配合LSI独有的四面照明技术，可提供市场上最均匀的样品照明。LSI XL系列光片扫描显微镜配备了折射率（RI）校正光学器件，可在1.33至1.56之间调节，以确保在各种浸没介质中的最佳成像质量。可更换的样品室可容纳2cmx2cm的样品。LSI XL系列光片扫描显微镜的应用包括对通过日前广泛应用的以水基或溶剂基方法处理的大型透明组织或器官样品进行成像，以及通过内置的一键化多位点成像功能对大量活体透明样品（如斑马鱼或果蝇胚胎）的拍摄。 主要特点*线性贝塞尔光片和RI矫正光学模组提供了最佳的成像效果，分辨率可达500nm。*独特的四侧照明技术可显着增加照明深度和均匀度，尤其适合对在大型透明化样品成像。*适用于活体胚胎的长时间成像，专为大型透明化样品设计的光片成像平台，同时也可完美得适用于活体斑马鱼或果蝇胚胎的成像，其通量比传统的光片显微镜高得多。*智能化易用的软件系统配有快速数据处理功能，同时内置了3D渲染，多位置采集及自动拼接和反卷积等图像分析功能。*一体化台面紧凑设计配有内置隔振系统，无需外置隔振台。 线性贝塞尔光片（LSI）技术LSI技术通过物理和光学调制获取的光片，远比传统的高斯光片薄，有效长度也更长。因此LSI显微镜不仅具有极低的光毒率和超快的成像速度的特点，而且其出色的三维分辨率和高信噪比令其具有机器出色的层切能力 应用领域神经示踪三维成像 全脑神经胞体三维成像 全脑血管三维成像 动物胚胎成像同时可进行亚细胞分辨率的完整哺乳动物大脑中枢和外周神经系统的发育及微循环三维介观形态学图谱等研究。 微循环血管三维成像 三维肿瘤病理成像 三维肿瘤病理应用实例

Park NX10-SICM 扫描离子电导显微镜简介：NX10-SICM 扫描离子电导显微镜是目前PARK原子力显微镜中重要的一员，该仪器真正意义上实现了液下活细胞的三维非接触式测量，除活细胞成像外，可与电化学工作站与膜片钳联用，广泛用于活细胞成像，原位扫描电化学，神经科学，是生物科研工作者的分析检测工具。Park扫描离子电导显微显微镜原理介绍：Park公司研发的扫描电子显微镜技术(Park SICM)将装有电解质的纳米玻璃移液管作为离子传感器，向系统反馈其与*浸没在液体中的样品之间的相对位置。移液管通过保持离子电流恒定来与样品保持距离。相比之下，原子力显微术十分依赖探针与样品之间的作用力。纳米移液管内径约50-100纳米，材质为玻璃。与常温常压下的扫描隧道显微镜技术(STM)类似，Park SICM在成像时无需与液体中的样品接触。样品和移液管两端的电极会在周围的溶液中产生离子电流。电流会随着移液管与样品之间距离的缩小而降低，传感器被用来测量电流并可监测移液管与样品之间的距离，以获得表面形貌像。纳米尺度下稳定的移液管探针与样品距离控制通过自动刷新接近每个像素前的参考值，移液管接近样品表面的停止高度不受设定点移动影响。电流-距离(I-D)分光镜检查通过移液管接近（垂直方向移动）样品表面获取扫描离子电导显微镜电流-距离曲线，有助于阐释水性环境中不同的生物与化学现象。这项有利应用可运用到某种有趣的样品物体中，借助扫描离子电导显微镜非侵入性形貌进行识别。此外，利用“电流-距离曲线映射”功能可以让研究人员在多个位置检验并获得电流-距离曲线，从而对生物与化学反应研究的理解更上一层。 用于扫描离子电导显微镜稳定操作的法拉第笼专为Park NX10扫描离子电导显微镜平台设计，法拉第笼有效保护移液管、头部与XY轴扫描仪不受干扰，提供更稳定的扫描环境。透明导电网阻挡了电场，并屏蔽外部静电或非静电50/60 Hz的电磁场，同时仍然提供给研究人员移液管与样品清晰的视野。NX10-SICM型扫描离子电导显微镜功能：1）细胞生物学：生物活细胞非接触式成像2）分析化学： 原位微区扫描电化学3） 电生理学与神经科学：与膜片钳联用，定量测量离子通道电流，用于神经学和新药物研发。