原位加热与电学芯片系统

仪器简介：MultiNA—是通过将岛津公司先进的微芯片技术和自动化分析技术完美结合，缔造出的全新的DNA/RNA快速分析系统，与传统的琼脂糖电泳技术相比，费用更低、速度更快、灵敏度更高！简单易用的MultiNA，提供更加卓越的分析精度，使电泳分析进入新境界。MultiNA！为生命科学实验室带来突破性变革的新一代微芯片电泳系统。主要特点： 分析成本极低采用精湛工艺制作的可重复利用的微芯片使消耗品费用在为减少,与琼脂糖凝胶电泳相比,运行成本更低。 分析速度快高速自动化分析，分析顺序表中一次最多可设定120个分析循环，可承载4枚微芯片平行样品前处理，顺序电泳分析，最快分析循环仅75秒。 高灵敏度检测采用LED激发的荧光检测器，达到比溴化乙锭染色法高出10倍以上的分析灵敏度。 分辨率高，重现性好根据样品的类型选择相应的分离缓冲液，样品与内标一起电泳，实现和保证了分析结果的可靠性和重现性。 使用简单方便控制和数据处理软件提供直观的图形界面，操作和掌控极为简单。三步操作即可完成从设置到启动的全过程。

PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 本系统硬件包括两部分，分别是加热/电学测量控制器、原位MEMS芯片样品杆。软件包括自动控温软件和自动电学测量软件。性能指标透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）； ● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出Z大±200 V，Z小±100 nV；● 电流测量Z大±1.5 A，Z小100 fA； ● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 加热与温控指标：● 温度控制范围：室温到1200 ℃；● 加热功率：Z大30 W；● 控温稳定性：优于±0.1 ℃；● Z大升温速率：1000 ℃/ms。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统的介绍，关于整套系统价格价格请咨询(微信同号) 原文 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

一、产品简介Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包，包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。主要提供两种基于MEMS技术的原位系统，使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。NHB-SNL具有以下优点：NHB-SNL是Norcada推出的高性能原位解决系统，可以使用同一个样品台，实现不同的原位应用，比如电学、加热、电化学等不同应用。l 针对纳米材料的原位偏压测试系统—使用偏压芯片（装有4根引线）作为样品的观察装置，具有 AC和DC双模式—标准控制器可以提供毫安/毫伏测量范围，通过配置不同控制器可以实现皮安/纳安级电流的测量，电压可达40Vl 原位加热可达1100℃ —原位加热芯片实现原位加热测试及相关研究应用。—加热芯片可以对大样品进行原位加热观察，样品尺寸可达1mm，温度可达 1100℃—加热装置可以持续数小时工作，在1000℃范围内加热/冷却速度只需 1秒—无须外接水冷系统。—出色的密封设计可以使得液体、气体在真空环境下安全、良好地工作。二、主要应用l 主要领域X-RAY、电子显微镜、同步辐射的原位系统电化学、液体芯片原位加热（纳米器件的微结构、集成光学器件、半导体、材料等） l 应用图片 1. SEM原位加热应用（固体样品、液体样品）2. TEM原位液体池3. FIB半导体样品加热4.原位电化学观测（SEM/TEM/XRAY/XRD）

一、产品简介Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包，包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。主要提供两种基于MEMS技术的原位系统，使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。NHB-SNL具有以下优点：NHB-SNL是Norcada推出的高性能原位解决系统，可以使用同一个样品台，实现不同的原位应用，比如电学、加热、电化学等不同应用。l 针对纳米材料的原位偏压测试系统—使用偏压芯片（装有4根引线）作为样品的观察装置，具有 AC和DC双模式—标准控制器可以提供毫安/毫伏测量范围，通过配置不同控制器可以实现皮安/纳安级电流的测量，电压可达40Vl 原位加热可达1100℃ —原位加热芯片实现原位加热测试及相关研究应用。—加热芯片可以对大样品进行原位加热观察，样品尺寸可达1mm，温度可达 1100℃—加热装置可以持续数小时工作，在1000℃范围内加热/冷却速度只需 1秒—无须外接水冷系统。—出色的密封设计可以使得液体、气体在真空环境下安全、良好地工作。二、主要应用l 主要领域X-RAY、电子显微镜、同步辐射的原位系统电化学、液体芯片原位加热（纳米器件的微结构、集成光学器件、半导体、材料等） l 应用图片 1. SEM原位加热应用（固体样品、液体样品）2. TEM原位液体池3. FIB半导体样品加热4.原位电化学观测（SEM/TEM/XRAY/XRD）

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位加热/电学样品杆技术指标 电学测量加热控温1.包含一个电流电压测试单元；1.温度范围：室温至1200℃；2.电压输出：Max ±200V， Min ±5 uV；2.加热功率：Max 30W；3.电流测量：Max ±1.5 A， Min ±100fA；3.控温稳定性：优于±0.1℃；4.恒压或恒流模式4.PID/Pulse/Manual三种控温方式；5.软件控制，数据自动保存。5.软件控制，数据自动保存。 原位加热/电学样品杆产品选型 原位加热/电学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。 原位电学测量样品杆国内部分用户 原位加热/电学样品杆典型案例1、透射电镜内的原位加热实验；2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）； 3、透射电镜内的原位热电耦合实验；4、透射电镜内的低温电学实验；安徽泽攸科技有限公司是原位加热/电学样品杆生产厂家，关于原位加热/电学样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标 透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴； ● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出最大±200 V，最小±100 nV；● 电流测量最大±1.5 A，最小100 fA；● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 低温指标：● 兼容MEMS加热及电学芯片； ● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；● 控温稳定性：优于±0.1 K；● 温度连续可控。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

Fusion Ax是针对材料科学、纳米电子学和半导体器件原位热学和电学TEM分析的突破性解决方案，能够支持和推动更可靠、更具成本效益和效率的材料开发。 Fusion AX能够让用户自由进行不同条件下原位电学及热学实验，该原位系统由AXON基于机器学习科技实现智能控制，使用各种基于MEMS的电子芯片和配件，以最满足您的研究需求，并且所有这些系统都得到了主要显微镜制造商的全面支持和授权，能够满足该原位系统在安全、兼容性和可靠性方面都严格满足电镜要求标准。独特样品杆Tip设计，兼容原位EDS分析，提供原位成分变化信息无摩擦双倾设计，可以保证转带轴倾转时依旧保证绝佳的电学灵敏度 产品应用 燃料电池研究 左图是利用Fusion Ax原位热学解决方案对碳包覆的纳米Pt颗粒原位退火过程进行结构变化及定量动力学分析，该Pt纳米颗粒主要用于低温燃料电池。数据来源：HODNIK, N. ET AL. (2020) ACS APP. NANO MATER., 3, 9880–9888固态电池 研究 锂基固态电池由于其高能量密度、长循环寿命和高工作电压的特点，而成为最具潜力的下一代储能电池。左图为利用Fusion AX原位电学系统研究不同容量的固态电池锂化和脱锂过程研究。数据来源：HOU, A. ET AL. (2023), ADV. SCIENCE, 10, 2205012二维材料研究原子层级的二维材料由于其独特的半导体、金属和超导体等不同电学特性，目前越来越多的科学家正在开发基于二维材料的多种应用。利用Fusion AX原位热学系统可以研究这种材料原位形成和重组过程中结构变化情况，左图为对石墨烯涂覆的芯片上原位将单层二维MoS2进行加热将其转化为3D纳米晶体结构的原位变化过程。 数据来源：INANI, H. ET AL. (2021), ADV. FUNCT. MATER., 2008395, 1–9基础材料科学研究Fusion AX原位加热系统可用于对各种纳米颗粒合成、合金化、形态变化和其它基础问题研究。左图为原位加热二元金属纳米晶体以观察Au和Ag之间的升华行为。 数据来源：HE, L.-B. ET AL. (2023), NANOSCALE ADV., 5, 685– 692 气体传感器研究Fusion AX原位加热系统可以在环境透射环境中使用，测试用于气体传感应用的材料。并且针对环境透射电镜应用专门开发了原位加热芯片。 数据来源：STEINHAUER, S. ET AL. (2017), NANOSCALE, 9, 7380–7384半导体研究为了开发更好的半导体芯片，所使用的材料需要具有低电阻率和低的形成温度，诸如金属硅化物材料就具备这些性质，因此该材料被广泛研究。左图为利用Fusion Ax原位加热系统对NiSi2材料进行原位退火下的动态行为研究。 数据来源：HOU, A.-Y. ET AL. (2021), APPL. SURF. SCIENCE, 538, 148129太阳能电池研究太阳能电池是有助于清洁能源发电以取代化石燃料的技术方案之一。有机-无机杂化钙钛矿太阳能电池因其高能量转换效率而受到关注。左图为利用Fusion Ax原位电学系统在透射电镜中进行原位连续偏压下研究太阳能电池材料的非晶化过程。 数据来源：KIM, M. ET AL. (2021), ACS ENERGY LETT., 6, 3530–3537

泽攸科技 PicoFemto系列扫描电子显微镜原位加热台基于MEMS加热芯片技术，温度范围：室温至1200摄氏度。PicoFemto 系列扫描电子显微镜原位加热台 基于MEMS芯片加热技术，无惧高温对电镜造成损失，通过更换不同芯片种类，实现扫描电镜内的原位加热/电学实验。原位加热台-技术指标加热控温1. 四电极芯片加热，带温度反馈；2. 温度范围：室温至1200℃；3. 控温精度：±0.1℃；4. 升温速度：100℃/s；5. 软件功能：PID/Puls/Manual三种控温方式原位加热台-产品选型泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等主流品牌扫描电子显微镜的加热台。适配四电极加热芯片、四电极电学芯片、封闭式液体/气体芯片，通过更换芯片实现多种原位功能，大大拓展了扫描电镜的应用领域。 安徽泽攸科技有限公司是原位加热台生产厂家，关于扫描电镜原位样品台价格请咨询(微信同号)原文：

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快 ・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布 ・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，请咨询(微信同号)PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。 性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）； 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 多模光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤；● 配备快速SMA接头、FC接头； 加热指标：● 温度范围：室温到1000 ℃；● 温度准确度优于 5% ；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。产品特色 可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加至多四种激励，实现多种复杂的测试功能，完成以往无法实现的研究。（1）高温拉伸/压缩（加热芯片+电学STM探针）；（2）热电子发射/场发射（加热芯片+电学STM探针）；（3）三端器件测量（电学芯片+电学STM探针）；（4）电致发光现象研究（电学芯片+光学STM探针）；（5）光电现象研究（电学芯片+光学STM探针）。 以上就是泽攸科技对PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号) 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

系统功能描述芯片制造与应用教学训练成套系统用于集成电路学科的芯片制造工程实训、芯片功能教学演示、以及简单电子器件的微纳加工。基于本系统,能够让学生从材料生长、检测、光刻、刻蚀、键合、封测和应用各环节直观了解芯片制造工艺,并实际上手操作,亲身体验,接受成套训练,并将自己制造的芯片进行应用演示。可支撑《集成电路工艺原理》《微纳加工技术》等课程实验环节的开展，也可以用于学生的工程实训,实现从“工程实训做锤子”到“每个学生做一块芯片”的转变。芯片制造与应用教学训练成套系统同时包含设备使用培训、教学案例等。包括材料生长系统、光刻系统、量检测系统、刻蚀系统、封测系统、芯片演示系统。

? 该产品是原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。 性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）； 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 多模光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤；● 配备快速SMA接头、FC接头； 加热指标：● 温度范围：室温到1000 ℃；● 温度准确度优于 5% ；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。产品特色 可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加最多四种激励，实现多种复杂的测试功能，完成以往无法实现的研究。（1）高温拉伸/压缩（加热芯片+电学STM探针）；（2）热电子发射/场发射（加热芯片+电学STM探针）；（3）三端器件测量（电学芯片+电学STM探针）；（4）电致发光现象研究（电学芯片+光学STM探针）；（5）光电现象研究（电学芯片+光学STM探针）。

同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片，也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器，满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 部分型号电镜可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）； 力学传感器指标：● 最大载荷100 mN（可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN）；● 力测量实测噪声优于5nN（0.1 mN最大载荷时）；● 力测量实测分辨率优于5 nN（0.1 mN最大载荷时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 加热指标：● 温度控制范围：室温至1000 ℃；● 温度准确度：优于5%；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标：● 粗调范围：X方向 1.5 mm，YZ 方向2 mm；● 细调范围：XY 方向20 um，Z 方向 10 um；● 细调分辨率：XY 方向 0.4 nm，Z 方向 0.2 nm。 产品特色 （1）超大力学测量及温度控制范围；（2）多场下的力学研究。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，详细咨询：

产品简介采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过MEMS芯片加热，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在液氛环境中随温度变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、元素价态、化学变化、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 业界最高分辨率1．MEMS加工工艺，芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10 nm。2．芯片封装采用键合内封以及环氧树脂外封双保险方式，使芯片间的夹层最薄仅约100~200 nm，超薄夹层大幅减少对电子束的干扰，可清晰观察样品的原子排列情况，液相环境可实现原子级分辨。3．经过特殊设计的芯片视窗形状，可避免氮化硅膜鼓起导致液层增厚而影响分辨率。高安全性1．市面常见的其他品牌液体样品杆，由于受自身液体池芯片设计方案制约，只能通过液体泵产生的巨大压力推动大流量液体流经样品台及芯片外围区域，有液体大量泄露的安全隐患。其液体主要靠扩散效应进入芯片中间的纳米孔道，芯片观察窗里并无真实流量流速控制。2．采用纳流控技术，通过压电微控系统进行流体微分控制，实现纳升级微量流体输送，原位纳流控系统及样品杆中冗余的液体量仅有微升级别，有效保证电镜安全。3．采用高分子膜面接触密封技术，相比于o圈密封，增大了密封接触面积，有效减小渗漏风险。4．采用超高温镀膜技术，芯片视窗区域的氮化硅膜具有耐高温低应力耐压耐腐蚀耐辐照等优点。多场耦合技术可在液相环境中实现光、电、热、流体多场耦合。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。智能化软件和自动化设备1．人机分离，软件远程控制实验条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证加热实验的重现性及可靠性。4．全流程配备精密自动化设备，协助人工操作，提高实验效率。团队优势1．团队带头人在原位液相TEM发展初期即参与研发并完善该方法。2．独立设计原位芯片，掌握芯片核心工艺，拥有多项芯片patent。3．团队20余人从事原位液相TEM研究，可提供多个研究方向的原位实验技术支持。 技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金视窗膜厚标配20nm（可升级10nm）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP倾转角α=±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS支持液层厚度100~200 nm（自行组装确定厚度)

产品简介 采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过MEMS芯片对薄层或纳米电池系统施加热场和电信号等，结合使用EDS等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测电极、电解液及其界面在液氛环境中随温度、电信号变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、化学变化、表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 高分辨率独创的MEMS微加工工艺，使电化学芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达20nm，极大减少了对电子束的干扰，液相环境可达到纳米级分辨率。高安全性1．市面常见的其他品牌液体样品台，由于受自身液体池芯片设计方案制约，只能通过液体泵产生的巨大压力推动大流量液体流经样品台及芯片外围区域，有液体大量泄露的安全隐患。其液体主要靠扩散效应进入芯片中间的纳米孔道，芯片观察窗里并无真实流量流速控制。2．采用纳流控专利技术，通过压电微控系统进行流体微分控制，实现纳升级微量流体输送，原位纳流控系统及样品台中冗余的液体量仅有微升级别，有效保证电镜安全。3．采用高分子膜面接触密封技术，相比于o圈密封，增大了密封接触面积，有效减小渗漏风险。4．采用超高温镀膜技术，芯片视窗区域的氮化硅膜具有耐高温低应力耐压耐腐蚀耐辐照等优点。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．独特多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。智能化软件和自动化设备1．人机分离，软件远程控制实验条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证加热实验的重现性及可靠性。4．全流程配备精密自动化设备，协助人工操作，提高实验效率。 团队优势1．团队带头人在原位液相发展初期即参与研发并完善该方法。2．独立设计原位芯片，掌握芯片核心工艺，拥有多项芯片专利。3．团队20余人从事原位液相研究，可提供多个研究方向的原位实验技术支持。 技术参数类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金液层厚度纳米至微米（可定制）氮化硅膜10nm,20nm,50nm(可定制）液体体积纳升至皮升级应用案例Electrochemical dissolution EHT=10KV speed 2x恒流充电 电流密度 0.01mA/cm3

产品简介通过MEMS芯片对样品施加热场控制，在原位样品台内构建热场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 高分辨率独创的MEMS微加工工艺，加热芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10 nm，可达到扫描电镜极限分辨率。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。6．加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。智能化软件1．人机分离，软件远程控制气体条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金分辨率扫描电镜极限分辨率适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜EDS/EBSD支持 应用案例Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GCSEM imagesZIF-67 after heated

产品简介通过MEMS芯片在原位样品台内构建热、电复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 优异的电学性能1．采用模拟校验unique设计的芯片电极，电场分布均匀、电位稳定，芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。2．MEMS微加工特殊设计，在加热过程中可同时进行电学试验和表征，不影响温度稳定性。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．四电极的超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。6．加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。智能化软件和自动化设备1．人机分离，软件远程控制实验条件，程序自动化控制倾转角度。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片的每次控温都能根据电阻阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。4．全流程配备精密自动化设备，协助人工操作，提高实验效率。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金电极数4视窗膜厚无膜或20nm漂移率＜0.5 nm/min（稳定状态）倾转角α ≥ ±25°，β ≥ ±25°（实际范围取决于极靴型号）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持升温过程及高温检测应用案例Ag2Te基热电材料随电压变化情况0.4v电压Ag2Te基热电材料高分辨Ag2Te 基热电材料由于能够通过内部载流子的运动实现电能和热能之间的相互转换 因此，在进行施加电压实验过程中会出现随着电压的增大，样品自身温度升高的现象 研究得知随着电压持续升高，样品表面结构变化明显，纹路由不规则块状演变成条状或消失。而且，通过降低电压的过程，我们发现该材料升高或降低电压时，表面结构发生变化的过程是可逆的，表明该材料具有优异的热电性能和重复使用性能。

PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，关于价格请咨询(微信同号)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片，也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器，满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 部分型号电镜可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25° （同时受限于极靴间距）； 力学传感器指标： ● 最大载荷100 mN（可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN）；● 力测量实测噪声优于5nN（0.1 mN最大载荷时）；● 力测量实测分辨率优于5 nN（0.1 mN最大载荷时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 加热指标：● 温度控制范围：室温至1000 ℃；● 温度准确度：优于5%；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标：● 粗调范围：X方向 1.5 mm，YZ 方向2 mm；● 细调范围：XY 方向20 um，Z 方向 10 um；● 细调分辨率：XY 方向 0.4 nm，Z 方向 0.2 nm。 产品特色 （1）超大力学测量及温度控制范围；（2）多场下的力学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号) 原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标： ● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 低温参数指标：● 兼容指定型号透射电镜及极靴； ● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高；（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

产品简介通过MEMS芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建光、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在气氛环境下随光场、热场变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、元素价态、化学变化、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势气氛环境高分辨率1．MEMS加工工艺，芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10nm。2．芯片封装采用键合内封以及环氧树脂外封双保险方式，使芯片间的夹层最薄仅约100~200nm，超薄夹层大幅减少对电子束的干扰，可清晰观察样品的原子排列情况，气相环境可达到皮米级分辨率。 高安全性1．采用纳流控专利技术，通过压电微控系统进行流体微分控制，实现纳升级微量流体输送，控制精度为5nL/s，每次气体推送过程中，原位纳流控系统及样品杆中冗余的气体量仅有微升级别，有效保证电镜安全。2．采用高分子膜面接触密封技术，相比于o圈密封，增大了密封接触面积，有效减小渗漏风险。3．采用超高温镀膜技术，芯片视窗区域的氮化硅膜具有耐高温低应力耐压耐腐蚀耐辐照等优点。 优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的正相关关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。独特多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。 优异的光学性能 1．一体式激光光源，集成紫外-可见-红外不同波段并输出特定波长激光，光信号强（最大强度不低于150 mW），可快速连续调节光源强度，响应时间短（毫秒级）。2．特殊结构设计，超低光损耗，能量稳定均匀。智能化软件和自动化设备1．人机分离，远程控制气体条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。4．全流程配备精密自动化设备，协助人工操作，提高实验效率。 技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金电极数2视窗膜厚20nm,可升级10nm气体夹层100~2000nm（可自行组装调整厚度）分辨率原子晶格分辨适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP，FHP,WGP(HR)TEM/STEM支持

UNITMA公司背景UNITMA是一家在临床、病理分析和研究实验室以改进产品和服务，提高生产力为主导的服务商 UNITMA公司研发的专利技术产品–组织芯片仪是一个强大的工具，可一次性的制备高通量的组织芯片应用于大多数组织免疫组织化学杂交、PCR 原位杂交技术、FISH，原位-PCR等技术研究。组织芯片仪可以大批量的制作组织芯片用于研究基因功能和表达，特定基因及其所表达的蛋白质与疾病之间的相关关系 ，疾病的分子诊断，预后指标 ，治疗靶点的定位，以及对抗体和药物的筛选疾病发生机理研究、诊断、观察药物作用效果等领域 ，组织芯片开启了一个大规模病理研究的新视野。全自动组织芯片制备仪 UATM-272AUATM-272A全自动组织芯片制备仪UATM-272A全自动组织芯片仪是电脑内嵌的全自动组织芯片仪，软件运行通过Windows10系统，使用者可方便使用LCD手动显示屏面进行操作，同时系统可外接显示屏，USB键盘，USB鼠标等等，方便资料的分析与存储。UATM-272A具有的快速帮助功能键可适用于不同TIPS切换，包括通过USB内存卡和外接的PC来保存图像文档和打印recipient blocks的报告信息。UATM-272A全自动组织芯片仪可帮助研究者大幅减少在实验室工作时间，使用UNITMA公司提供的独家预铸蜡块可节省制作BLOCK的时间；可旋转的tip module模式包含3组不同尺寸的tips：1mm，2mm，3mm，可随时通过软件控制不同钻头的切换。仪器规格产品名称：Quick Ray Master UATM-272A设备类型：全自动组织芯片仪打孔类型：旋转打孔（1,2,3,5mm）电源供应：110V/220V,50-60HZ,660W尺寸：890X650X500mm(WxDxH)重量：148kg承载器容量：10donor blocks，2recipient blocks打点速度：1圈时间 : 15秒(取组织-填组织)显示屏：LCD monitor 12.1"(1024x768) 触控屏像素：相机 1 : 1280 x 1024, 相机 2 : 2,592 x 1,944 (pixels）操作系统：WINDONW 10Recipient block: 预制蜡块（UNITMA独家提供）认证：UL,CE,FCC,ISO预制受体蜡块 ü标准产品，品质稳定 ü高熔点-长时间融合有效降低掉点 ü 保证组织完美排列-利于后期观察ü无需反复修片-大幅提升收片质量与数量完美的组织芯片方便显微镜观察和比较，在扫描切片时，大大节约了时间。切片效果，连续切片，完整，不漏点。

产品简介通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 力学性能1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。2．实现1200℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3．业界nN级力学测量噪音。4．具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5．具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能，适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。智能化软件1．人机分离，软件远程控制纳米探针运动和样品载台倾转，自动测量载荷-位移数据。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数 类别项目参数基本参数台体材质高强度航空铝合金控制方式高精度压电陶瓷样品载台倾转角360°旋转和±90°倾斜 适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜EBSD/EDS支持

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标： ● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

产品简介磁性芯片测试机MCT 500是致真精密仪器自主研发的磁性芯片(磁存储芯片、磁传感芯片)测试机，包括磁场发生装置、工频磁场模块、多轴样品测试平台和测试仪表等组件。可对芯片的磁性能、电学性能进行批量无损的快速检测。适配无磁测试座,可对芯片实现面内平面与法向平面内的磁场扫描，用于磁性芯片抗磁性能评估。磁性芯片测试机MCT 500测试功能磁阻特性(霍尔、GMR、TMR)工作电压芯片功耗输出高/低电平推挽输出拉灌电流开漏输出关断电阻、导通电阻开关频率上电响应时间

产品简介通过MEMS芯片对样品施加热场控制，在原位样品台内构建热场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势高分辨率和可靠性1．MEMS微加工工艺，加热芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10 nm，可达到扫描电镜极限分辨率。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动±1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±1 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。6．加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。技术参数 类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金分辨率扫描电镜极限分辨率适用电镜ZEISSEDS/EBSD支持应用案例Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GCSEM imagesZIF-67 after heated

产品简介通过MEMS芯片对样品施加力学、电场、热场控制，在原位样品台内构建力、电、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。我们的优势力学性能1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。2．实现1000℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3．nN级力学测量噪音。4．具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5．具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能，适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。优异的电学性能1．芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。2．MEMS微加工特殊设计，同时加载电场、热场、力学，相互独立控制。智能化软件1．人机分离，软件远程控制纳米探针运动，自动测量载荷-位移数据。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°，倾转分辨率＜0.1°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例600°C高温下铜纳米柱力学压缩实验以形状尺寸微小或操作尺度极小为特征的微机电系统 (MEMS)越来越受到人们的高度重视 , 对于尺度在 100μm 量级以下的样品 , 会给常规的拉伸和压缩试验带来一系列的困难。纳米压缩实验 , 由于在材料表面局部体积内只产生很小的压力 , 正逐渐成为微 / 纳米尺度力学特性测量的主要工作方式。因此 , 开展微纳米尺度下材料变形行为的实验研究十分必要。为了研究单晶面心立方材料的微纳米尺度下变形行为 , 以纳米压缩实验为主要手段 , 分析了铜纳米柱初始塑性变形行为和晶体缺陷对单晶铜初始塑性变形的影响。结果表明铜柱在纳米压缩过程中表现出更大程度的弹性变形。同时对压缩周围材料发生凸起的原因和产生的影响进行了分析 , 认为铜纳米柱压缩时周围材料的凸起将导致纳米硬度和测量的弹性模量值偏大。为了研究表面形貌的不均匀性对铜纳米柱初始塑性变形行为的影响 , 通过加热的方法 , 在铜纳米柱表面制备得到纳米级的表面缺陷 , 并对表面缺陷的纳米压缩实验数据进行对比分析 , 结果表明表面缺陷的存在会极大影响铜纳米柱初始塑性变形。通过透射电子显微镜 ,铜纳米柱压缩点周围的位错形态进行了观察 , 除了观察到纳米压缩周围生成的位错 , 还发现有层错、不全位错及位错环的共存。表明铜纳米柱的初始塑性变形与位错的发生有密切的联系。

? PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 低温参数指标：● 兼容指定型号透射电镜及极靴；● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高；（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，详细咨询：

国产手动式组织芯片仪GYXW-TMA推入市场！组织微阵列芯片可以高通量、快速分析多样本组织微阵列芯片具有的并行化—样本的可比性强、准确性高；同时实验条件保持一致，便于设置各种实验对照，实验误差小；大量缩减研究费用。可以节省时间，节省染色试剂消耗，更可以减少实验操作上所造成的误差 (因所有检体在同一玻片上) ，以及更有效率的使用得来不易的检体。而要制作一块好的组织微数组蜡块，一组操作简易，容易上手的制作工具一定是不可或缺的。高品质材料耐腐蚀、 钻头丰富市面全，组织取样金标准。专业的服务！优良的品质！ 长质保！技术参数：1．芯片仪可以满足组织芯片实验，也可以满足提取一般石蜡组织肉柱进行质控取样；2. 芯片仪采用一体式设计，长度为16厘米，重量仅150克，不限空间进行组织芯片使用；3．组织工具钻头更换简易，快捷；4．设备可供选择的钻头有1毫米/1.5毫米/2毫米/3毫米/5毫米，满足各种组织芯片制作尺寸的需要；5．搭配销售预制受体蜡块使用，组织可以直接提取后注入；6. 可以使用预制受体蜡块规格为5毫米，3毫米，2毫米，1.5毫米及1毫米，也可以使用可选择模具制作；7．操作组织芯片的取样高度可自行调节；8. 设备内的取样钻头在非人为损坏的情况下，出现损耗，免费给予更换。TMA 相关应用领域肿瘤基因、转录和表达产物研究肿瘤疾病不同发展阶段各基因与基因表达的动态变化肿瘤疾病相关基因的验证 ,肿瘤分子诊断肿瘤治疗靶点的定位抗体和新药物的开发与筛选肿瘤治疗过程的追踪和预后检查应用 TMA 的研究方法, 包括HE 染色免疫组织化学（IHC）染色原位杂交（ISH）/ 荧光原位杂交（FISH）原位( in-situ ) PCR, RT-PCR寡核苷酸启动的原位 DNA 合成（PRINS)

关于INSTEMS系统原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外场如力、热、电等激励信号的动态响应过程的方法，是当前物质结构表征科学中最新颖和最具发展空间的研究领域之一。受限于透射电镜样品室狭小的空间及特殊的结构，目前商业化的透射电镜原位力学样品杆多采用探针式力场加载，无法实现双轴倾转，大大限制了研究者从原子尺度下原位研究材料的力学行为及变形机制。针对这一世界性技术难题，百实创公司专项开发的INSTEMS系列透射电镜用原位原子尺度双轴倾转力、热、电一体化综合测试系统拥有独特创新设计的MEMS芯片以及与之相匹配的微驱动系统，保证了样品在透射电镜毫米尺度空间内实现力场与热场或电场耦合加载条件下，同时具备大角度正交双轴倾转功能，进而实现在多场耦合加载下材料原子尺度显微结构及其性能演化的原位观察与记录。该系统可实现1200℃高温下力热耦合加载，最大驱动力大于100mN，驱动行程大于4μm，最小驱动步长低于0.5nm，达到国际领先水平，极大的扩展了透射电子显微镜在材料科学原位研究领域的应用。本系统与各大品牌电镜有优异的机械及电磁兼容性，稳定性高，保证电镜原有的分辨能力。整合了独特创新设计的MEMS芯片与微型驱动器的高集成Mini-lab原位样品搭载平台，保证了不同形状、性质的样品在TEM中有稳定的力、热、电加载实验环境，并能精确控制参数变量；通过更换不同Mini-lab实验台，可以灵活的实现力、热、电单场或任意两场耦合加载，并能做到互不干扰。精密的结构设计保证样品能在场加载条件下实现大角度双倾，结合皮米级超高精度控制系统，确保显示的原子像无抖动、分辨率高。功能强大，操作便捷的控制软件提供了丰富的加载模式，并实时收集与处理数据，满足用户不同条件下的实验与测试设计要求。可实现多场耦合加载：ISTEMS系列产品具有高度集成的可定制化微型实验系统。通过更换不同功能的微型实验台（Mini-lab），该系列可灵活施加力、热、电等多种外场组合。Mini-lab独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略解决了小区域多场耦合加载兼容性难题。可独立控制多场加载，避免相互干扰。 原子尺度分辨率：INSTEMS系列结构紧凑的微型实验台和特殊设计的β轴倾转机构完美融合了多场耦合施加和双轴倾转功能，可轻松实现原子尺度分辨的动态观察。 高精度控制与测量：超灵敏微型驱动器稳定的四电极MEMS芯片 可靠的电学连接无干扰的电路布局 强大的高精度多通道源表确保INSTEMS系列产品可同时实现高精度加热、pm级驱动控制和pA级电信号测量。 适用范围极宽、功能易于扩展：INSTEMS系列适用于多种形态尺寸的材料（适用于块体以及一维、二维纳米材料）；可实现多种类型的多场耦合施加（热-力-电耦合）；加载灵活，可对样品进行拉伸加载、压缩加载、弯曲加载，也可进行纳米压痕实验；同时可根据用户需求进行功能扩展。适用于大部分固体无磁材料的研究。 关键技术指标与参数：热场指标温度范围室温~1200℃*加热速率＞10000℃/s温度精度≥98%测温方式四电极法EDS兼容性√力场指标驱动精度＜500pm最大驱动力＞100mN最大位移4μm电场指标最大输出电压±50V电流测量范围1pA-1A*电压测量范围100nV-50V双倾指标α角倾转范围±25°β角倾转范围±25°*驱动精度＜0.1°分辨率极限稳定性＜50pm/s*空间分辨率≤0.1nm* * 列出参数取决于Mini-lab型号与电镜状态。 硬件说明：样品杆部分包含双轴倾转样品杆与配套的Mini-lab实验台，MET型号样品杆可兼容所有类型的Mini-lab实验台。软件控制：力、热、电三场都具有丰富的加载模式可供选择：力场可选择单向拉/压加载或循环加载；电场拥有7种可供选择的波形加载；热场可自由设置温控程序。 应用范围1. 高温环境下的力学行为在力场与热场条件下原位实时观察材料原子像，并能获取成分信息。可应用于加速蠕变、高温相变、元素扩散、高温塑性变形、再结晶、析出相与位错的关系等方面的研究。原位原子尺度研究高温合金相在高温下（1150℃）的形变机理原位观察超级合金在400℃与750℃下塑性变形过程2. 高温环境下的电学行为 在热场与电场条件下原位实时观察材料原子像，并获取电场数据。可应用于热电材料、半导体、相变存储、电场可靠性分析、介电材料等领域的研究。 热电耦合条件下SnSe原位原子尺度失效分析3. 力与电场的交互行为在力场与电场条件下原位实时观察材料原子像，测量和控制样品电信号。可应用于压电材料、铁电材料、锂离子电池、柔性电子器件等领域的研究。 4. 力场、热场、电场单场条件下的材料组织变化可定量的控制单力场、热场、电场施加于样品，并实时原位的观察样品原子像及成分信息。高熵合金900℃条件下观察元素扩散

透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。以上就是PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，详细咨询：