原位冷冻电学样品杆系统

[ 产品简介 ]蔡司冷冻关联工作流程联接宽场显微镜、激光共聚焦显微镜和双束电镜，以实现体积成像和TEM薄片的高效制备。该解决方案提供了针对冷冻关联工作流程需求而优化的硬件和软件，从荧光大分子的定位到高衬度体积成像和用于冷冻电子断层成像的薄片减薄。[ 产品特点 ]&bull 无缝衔接冷冻关联工作流程中的多种成像模式&bull 优秀的样品保护，防止样品去玻璃化和冰污染&bull 高分辨率荧光成像&bull 高衬度体积成像，3D重构&bull 精准定位，获取Cryo TEM薄片&bull 多用途，室温冷冻均可[ 应用领域 ]&bull 细胞生物学，如单细胞生物的细胞器研究&bull 肿瘤研究，如肿瘤细胞的独特现象研究&bull 植物学，如冷冻固定样品细胞器原位研究&bull 发育生物学，如细胞特定分裂时期研究 冷冻配件包 蔡司冷冻关联工作流程概览 酵母细胞纺锤体极体实验流

新一代200kV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA)正式发售2022/02/18日本电子株式会社（JEOL Ltd.）2022年2月18日正式公布新一代200KV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA), 主要用于蛋白质的单颗粒分析，该电镜已于2022年1月陆续发货。研发背景不同的研究目的对电镜配置要求各异，在结构生物学中亦是如此。Tomography研究与单颗粒分析对电镜的要求也有区别，由于近年对我公司单颗粒分析电镜的需求猛增，我们专门设计了一款极具针对性的产品。 CRYO ARM&trade 200 II (JEM-Z200CA)不但配置了冷场发射电子枪，镜筒内的欧米伽能量过滤器等日本电子的独门绝技，还专门研制了一款高分辨极靴。主要特点1. 为单颗粒分析研究优化的电子光学系统 全新的高分辨极靴色差系数(Cc) 1.8 mm， 球差系数(Cs) 1.5mm，可获得高分辨兼顾高衬度的数据。配合冷场发射电子枪和欧米伽能量过滤器，CRYO ARM&trade 200 II可获得更好高分辨数据。2. 更好的可操作性 CRYO ARM&trade 200 II增加了欧米伽过滤器的自动校正系统和菲涅尔光环消减系统提高了可操作性。3. 更高的稳定性 CRYO ARM&trade 200 II的真空系统和冷冻系统进行了进一步优化,提高了整体的稳定性。主要技术指标电子枪冷场发射电子枪(Cold FEG)最高加速电压200 kV能量过滤器内置式欧米噶能量过滤器(New Omega Filter)样品冷却温度≤100K样品储存最多可储存12个样品.选购件JEOL 单颗粒自动采集软件(JADAS)等详情请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其分支机构

设备主要应用于生物样品、食品、化学及其它材料样品的微观观测与分析，是冷场发射扫描电镜配上冷冻传输系统组合而成的冷冻场发射扫描电镜。目前常规扫描电镜要求所观察的样品无水，而一些样品在干燥过程中会发生结构变化，致使无法观察其真实结构。用于扫描电镜的超低温冷冻制样及传输技术(Cryo-SEM)可实现直接观察液体、半液体及对电子束敏感的样品，如生物、高分子材料等。样品经过超低温冷冻、断裂、镀膜制样等处理后，通过冷冻传输系统放入电镜内的冷台（温度可至-185℃）即可进行观察。其中，快速冷冻技术可使水在低温状态下呈玻璃态，减少冰晶的产生，从而不影响样品本身结构，冷冻传输系统保证在低温状态下对样品进行电镜观察。这也是当前国内外最为前言的生物及材料学样品的观察分析解决方案。

第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射电镜断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。专为冷冻电镜设计 Thermo Scientific™ Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜让用户可以控制样品厚度，将生长在电镜载网上的细胞样品进行原位（in situ）的冷冻减薄制备成冷冻超薄切片（cryo-lamellas）。Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜集成了一个可完全旋转的冷冻载物台以及保护冷冻水合样品免受冰污染的相关硬件设施，从而确保脆弱的生命科学冷冻样品始终保持在玻璃化的温度下。核心优势为使用 Autoloader 的透射电镜制备冷冻断层扫描专用的冷冻超薄切片。仓室内专用的硬件可确保最低程度的样品冰污染，损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品，以进行透射电镜断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生，而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中会形成机械压缩，因而不可避免地会产生伪影。提高样品制备的精度。具有向导式用户软件和 Maps 软件，即使毫无经验的用户也能轻松地操作 Aquilos 2 冷冻聚焦离子束显微镜。将光学显微镜数据导入到 Maps 软件中，可以识别感兴趣区域的特征、瞄准目标并在不同成像方式之间进行关联。自动减薄和冷冻提取系统。具备最先进的自动化冷冻减薄软件，与冷冻提拉系统相配合可处理具有挑战性大块冷冻样品。通宵运行。更长的冷冻工作时间使系统能够通宵运行，以进一步实现冷冻超薄切片制备过程的自动化。

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术，致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计，将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合，实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动，实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转，以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦，大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台，配合增强的纳米操纵性能，结合动态原位实验可在线进行三维重构，实现透射电镜样品四维表征（4DTEM）。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务：JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下：XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域，并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务，我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至，洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务，与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流，部分产品支持定制。

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泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位加热/电学样品杆技术指标 电学测量加热控温1.包含一个电流电压测试单元；1.温度范围：室温至1200℃；2.电压输出：Max ±200V， Min ±5 uV；2.加热功率：Max 30W；3.电流测量：Max ±1.5 A， Min ±100fA；3.控温稳定性：优于±0.1℃；4.恒压或恒流模式4.PID/Pulse/Manual三种控温方式；5.软件控制，数据自动保存。5.软件控制，数据自动保存。 原位加热/电学样品杆产品选型 原位加热/电学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。 原位电学测量样品杆国内部分用户 原位加热/电学样品杆典型案例1、透射电镜内的原位加热实验；2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）； 3、透射电镜内的原位热电耦合实验；4、透射电镜内的低温电学实验；安徽泽攸科技有限公司是原位加热/电学样品杆生产厂家，关于原位加热/电学样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

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Lightning Arctic 原位冷冻热电样品杆 是 Lightning TEM 原位热电方案拓展的新成员。通过 Lightning Arctic 样品杆，可以在冷却或加热样品的同时，对其施加可控的电学刺激，并以原子级分辨率在透射电镜下 观察样品的实时动态过程。 Lightning Arctic 系统有两种工作模式： 1）冷冻&加电；2）加热&加电。它大大拓宽了 TEM 的应用领域范 围，进而为研究低温物理，以及探究材料、器件的工艺条件与其结构、性质和性能的关系提供了独特的可 能性。 DENSsolutions 先进的 MEMS 纳米芯片采用四探针法加热，可精准控制加电和加热，并输出准确的数据。 其独特的芯片设计可单独或同时达到最高的电场环境和加热温度。为什么要选择 Lightning Arctic 原位冷冻热电方案? 1) 直接进行原位低温冷冻和加热实验Lightning Arctic 样品杆内的冷却棒可将"冷"传递到样品杆前端的芯片。一旦冷却棒连接到浸入在液氮罐的 金属冷须上，样品就能在 TEM 内冷却到液氮温度。除冷却外，Lightning Arctic 样品杆还能进行原位加热 实验，最高可达到 800℃、甚至 1300 ℃（使用特殊芯片）。2) 原子成像高稳定性与高质量 基于 Lightning Arctic 原位样品杆的独特设计，额外配置了数个温度控制器，以稳定冷却过程中的样品漂 移。其中一个控制器确保与 TEM 的温度平衡，其余的控制器用于稳定控制样品的冷却流量。同时，使用外 部液氮罐有助于最大限度地减少液氮气泡，从而实现低样品漂移的高质量原子成像。3) 持续精准的温度控制 我们最先进的加热&加电芯片可以在不干扰样品杆冷却过程的情况下，对样品进行精细的微区温控。这意味着可以快速设定用户想要的温度，并且把改变温度时所带来的图像漂移和离焦偏移降到最小，同时确保原子级的高分辨成像。4) 轻松实现样品所需的晶向 Lightning Arctic 双倾样品杆可在 α 和 β 两个方向上倾转样品（视极靴类型，10° - 25°），以对准到所需晶带轴。 5) 在冷却/加热过程中进行原位加电实验 与 Lightning Arctic 样品杆兼容的加热&加电纳米芯片包含加电电极，可用于在冷却或加热过程中施加和测 量电信号。同时，在纳米芯片上制备可用于电学实验的 FIB 样品薄片也是非常重要的。DENSsolutions 为 Lightning 系统开发的成熟化工具（如 FIB 样品台），也可用于在 Lightning Arctic 系统的加热&加电芯片 上制备高质量、无短路的 FIB 样品薄片。

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜冷冻样品杆，基于杆末端液氮杜瓦制冷技术，帮助研究人员开展冷冻电镜实验。PicoFemto 系列透射电子显微镜 冷冻样品杆 基于液氮制冷技术，用于生物、高分子、锂离子电池、钙钛矿电池等电子束敏感材料的TEM表征。 冷冻样品杆-技术指标低温指标1.降温时间：＜35min；2.降温后维持时间：＞5小时；3.温度范围：100K--380K；4.稳定状态漂移速率：1.5nm/min；5.软件智能控温。 冷冻样品杆-产品选型冷冻样品杆 具有单倾冷冻传输、双倾两个版本；同时可拓展液氮低温电学样品杆。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号冷冻样品杆。双倾控制系统便于寻找晶体带轴，帮助研究人员利用透射电镜研究材料在低温状态下的相变、磁学等物理特性。 原位力学样品杆-国内部分用户安徽泽攸科技有限公司是透射电镜冷冻样品杆生产厂家，关于透射电镜冷冻样品杆价格请咨询(微信同号)原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位力学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，集成力测量功能，对样品进行压缩/拉伸过程可实时输出力-位移曲线，支持力-电同时测量。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位力学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵，同时集成了AFM定量力学传感器，在电学及力学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 原位力学样品杆-技术指标电学测量力学操纵及定量1.包含一个电流电压测试单元；1.扫描探针三维操纵，全软件操控；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.AFM悬臂梁弹性范围：1N/m~100N/m；3.电流分辨率：100fA；3.力载荷分辨率：5nN（使用1N/m悬臂梁时）；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.自动测量力-位移曲线；5.软件自动测量：I-V、I-t5.支持力-电同时测量力-位移曲线（软件自动测量、实时输出、自动保存）原位力学样品杆-产品选型泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号力学样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。原位力学样品杆-国内部分用户 原位力学样品杆-典型案例 1、透射电镜内的原位力学加载及力学定量实验；2、透射电镜内的原位力学-电学耦合实验。安徽泽攸科技有限公司是原位力学样品杆生产厂家，关于原位力学样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

一、英国Quorum公司介绍Quorum Technologies制造市场领先的科学仪器，用于电子显微镜（EM）样品制备。严格的EM样品制备是为客户提供清晰图像进行分析的唯一方法。Quorum Technologies 提供全系列高质量仪器在冷冻 SEM、溅射镀膜机、临界点干燥仪和辉光放电等样品制备技术。Quorum Technologies成立于2001年，但其产品品牌的历史可以追溯到更远的地方。最初的 Polaron Ltd 公司处于电子显微镜 （EM） 样品制备的最前沿，率先推出了扫描电子显微镜 （SEM） 溅射镀膜，并在 1970 年代初推出了第一台 SEM 临界点干燥机。 如今，Quorum Technologies 延续了这一优良传统，仍然是电子显微镜溅射镀膜、临界点干燥仪和冷冻 SEM 等样品制备技术的市场领导者。二、Quorum主要产品 1、 冷冻电镜样品制备系统（Cryo-SEM 样品制备）PP3010冷冻电镜（Cryo-SEM）样品制备系统是最新的冷冻扫描电镜技术，将高质量的结果与无与伦比的易用性相结合。PP3010 是一款高度自动化、柱式、气冷式冷冻 电镜样品制备和冷冻转移系统，适用于大多数品牌和型号的 W-SEM、FE-SEM 和 FIB/SEM。冷冻电镜 和 FIB/SEM 的冷冻样品制备技术对于观察生物样品、液体湿样品或光束敏感样本至关重要。使用冷冻电子显微镜消不需要采用化学法固定和临界点干等燥传统样品制备方法，能够观察天然水合状态的样本。Quorum还提供PP3005 SEM Cool和PP3006 CoolLok - 用于低温应用的部分低温样品制备系统，在这些应用中不需要PP3010的全套样品处理能力。1-1. PP3010—冷冻电镜（Cryo-SEM）和束扫描电子显微镜FIB-SEM的样品制备系统PP3010 是一款高度自动化、易于使用、柱式气体冷冻制备系统，适用于大多数品牌和型号的 SEM、FE-SEM 和 FIB/SEM。。PP3010具有快速冷冻、样品处理和转移所需的全部设施。低温样品制备室是采用涡轮分子泵，包含用于冷压裂、可控的自动升华和溅射镀膜的工具。样品处理后，将样品从冷冻制备室转移到高度稳定的SEM冷台上进行观察。用于冷冻制备室和 SEM 室中的冷阱确保整个样品制备过程无霜。PP3010冷冻电镜样品制备系统的主要特点w SEM, FE-SEM and FIB/SEMs的高分辨率性能w 完全气体冷却，包括冷冻制备室 - SEM 上无沸氮w 高效冷却（最低 -190º C）w 一次填充 LN24 的运行时间24小时以- 允许无人值守的夜间运行（在典型工作温度下）w 大驱动的触摸屏界面w 自动升华、涂覆和系统启动w 极佳的标本可视性w 完全兼容高达 5kV 的 SEM 光束减速/级偏置模式w 柱外冷却和泵送系统 – SEM 上的最小质量w 屏幕数据记录和诊断w 低温传输装置的抽水储存w Prepdek 工作站 – 独立的工作区，无需额外的工作台空间w 冷冻工作流程选项1-2. PP3006 coollock 用于SEM 和FIB/SEM 的冷冻转移系统PP3006 CoolLok 可对 SEM、FIB/SEM、光束线或其他真空系统的试样进行快速转移和低温温度观察。应用包括光束敏感试样的热保护和塑料、聚合物低介电介质和软硬混合物等材料的低温观察。该系统还可用于从手套箱中输送环境温度试样的惰性气体。1-3 PP3005 SEMCool 用于 SEM and FIB/SEM的非气闸冷却系统SEMCool基于PP3006 CoolLok，但没有PP3004 QuickLok组件。它专为不需要将样品气闸交换到显微镜中的低温应用而设计。PP3005 仅推荐用于预计不频繁更换试样的应用。为了获得更大的试样通量，将气闸插入 SEM 或 FIB/SEM 是必不可少的1-4 Coolstage – Peltier冷却的SEM 工作台冷却台是帕尔贴驱动的冷却台，用于扫描电子显微镜 （SEM）、低真空 （LV） 或变压 （VP） 应用。有三种型号可供选择，以满足不同的用户要求。

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位光学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，样品杆内集成光纤，杆末端可外接光源或光谱仪，实现透射电镜内的光电测量或光谱学表征研究。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位光学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，同时集成光纤单元，可外接光源或光谱仪，开展光电测量及光谱学分析，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 原位光学样品杆-技术指标 电学测量光纤指标1.包含一个电流电压测试单元；1.芯径可选，外径250um；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.光纤探针、平头光纤、光纤透镜多种方案可选；3.电流分辨率：100fA；3.光纤快拆接口：SMA、FC等；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.光源可选：4波段半导体激光器、波长连续可调氙灯光源；5.软件自动测量：I-V、I-t5.光谱仪：根据用户具体需求匹配 Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopydoi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679原位光学样品杆-产品选型 原位光学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实际实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号光学样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。原位光学样品杆-同内部分用户 原位光学样品杆-典型案例 1、透射电镜内的原位光电测量实验；2、透射电镜内的阴极发光（CL）实验；3、透射电镜内的原位电致发光谱实验。安徽泽攸科技有限公司是原位光学样品杆生产厂家，关于原位光学样品杆价格请咨询(微信同号) 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

condenZero公司专门为低温透射电子显微镜（cryo-TEM）研究构建原位电学液氦样品杆，使用液氦作为冷冻剂，实现超低温和良好的热稳定性。此外，我们的团队在低温TEM样品杆技术方面取得了重大进展，包括开发了快速温度循环能力。因此，我们的低温设计可以在1分钟的时间内快速达到5开尔文的基本温度，从而可以更有效地进行实验。我们的液氦电学样品杆还可以长时间保持出色的液氦温度，确保低温条件保持24小时以上。此外，我们的闭循环液氦样品杆还可以集成原位电学功能，使研究人员能够在样品保持在超低温下的情况下进行实时电学测量。这一特性为研究人员提供了研究材料电子性质、相变和动态行为的可能。产品结构示意图主要技术参数：最低温度：5K温度稳定度：≤±2.4mK降温时间：＜1min持续制冷时间：＞24Hr漂移速率：＜1.5nm/min分辨率：＜1nm温度范围：5K ~ 300K连续可调电学测量：6电极液氦消耗速率：≤3L/Hr使用材料：UHV专用液氦降温曲线，1min即可实现温度稳定原位液氦电学测量MEMS芯片tip头设计应用实例：图例：FeGe中斯格明子的定量磁成像。磁相移图像（灰色刻度，顶部）和平面内磁感应图（彩色刻度，底部）。在5.6K的零场（左）和200mT的施加（右）下进行的实验。德国尤利希FEI Titan Holo实机图扩展性：液氦+TEM-CL联用

内置高速摄像机可在样品速冻过程中进行快速成像通过对载网速冻过程中的快速成像，帮助研究者更好地选择高质量的载网，减少了对昂贵冷冻电镜筛选的需求，并节省了宝贵的研究时间。超快的样品速冻chameleon的超快速冻能够尽可能减少气液界面效应导致的蛋白降解和变性，使得我们能够更好地处理更具挑战的样品，从而获得更高的数据质量。无需滤纸blot技术无需滤纸blot技术基于变色龙使用的一种自渗透载网，它能够较大程度减少差异，并使研究员能够实现对样品冰层厚度的特定控制。精确的自动化载网处理由于几乎不需要技术员人工操作， chameleon消除了常见的载网损失，从而提高工作流程效率并减少浪费。软件引导式的工作流程使设置、使用和仪器清洁更加简单Chameleon软件界面友好，新手也很容易上手，较大限度地减少了培训时间并简化了设置过程。内置的辉光放电内置辉光放电仪，可实时调整参数从而实现更完美的冰层厚度。自动化控制冷冻剂的液位高度和温度确保在仪器内更安全地储存和控制液氮和液态乙烷，以维持其稳定性和质量，并确保研究数据的完整性。拍摄所有载网相关参数的图像改进的数据收集和记录保存功能有利于今后的数据可重复性及数据挖掘，为新的研究提供信息。

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位电学测量样品杆技术指标 电学测量力学操纵1.包含一个电流电压测试单元；1.探针粗细调方式：全软件操控；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；3.电流分辨率：100fA；3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；5.软件自动测量：I-V、I-t 原位电学测量样品杆产品选型 原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。 原位电学测量样品杆国内部分用户典型案例 1、透射电镜内的原位电学实验；2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。安徽泽攸科技有限公司是原位电学测量样品杆生产厂家，关于原位电学测量样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

Quantifoil率先将用于电子显微镜的支持膜商业化，这种膜具有预定义的孔尺寸、形状和排列，使用非常方便。由于TEM载网的材料和设计多种多样，支持膜需要兼容高性功能和灵活性，以满足不同冷冻电镜的研究需求。此外，我们的产品组合在不断增加，新用于金属载网的UltrAuFoil® 多孔金属膜就是其中之一，这种支持膜可减少电子束引起的运动，以便研究员获得更高质量和更有挑战性的蛋白结构。

日本JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。 主要技术参数 主机 电子枪 冷场发射电子枪 加速电压 200kV 能量过滤器 柱体内Ω能量过滤器 最大样品倾斜角 ±70o ※ 热场发射电子枪也可以配置样品台/自动样品更换系统样品台 制冷方式 液氮、液氮自动供给系统 样品冷却温度 100k以下 温度测定位置 样品，cryoshield, LN2tank样品移动 X, Y, Z方向 X:Motor驱动（移动范围±1mm) Y:Piezo元件（移动范围±0.5um) Z:Motor驱动（移动范围±0.2mm) 倾斜 Motor驱动（倾斜范围±70o) 样品旋转 0o或者90o 换样装置 气锁方式， 自动控制冷冻传输系统 样品冷却温度（换样室） 105k以下 换样量 一次最多换4个样 样品台载样量 最多载样12个产品特点：场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。主要特点◇ 自动样品更换系统该系统由一个液氮冷冻样品台和冷冻传输系统构成， 该冷冻传输系统能够自动地将冷冻样品传送到冷台，液氮也是按照 需要自动地供应给液氮箱。在样品更换系统内可以保管12个被冷冻的样品，在取出和更换一个或几个样品的同时，其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。 ◇ 冷场发射电子枪冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的电子束，CRYO ARMTM 200能够获得高分辨、高衬度图像 ◇ 柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）CRYO ARMTM 200配备柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器），能够获取能量过滤像和能量损失谱图，而且零损失像的衬度高色差低。 ◇ 单粒子分析用自动图像获取软件CRYO ARMTM 200配备单粒子分析用自动图像获取软件。能够自动地检出样品栅格小孔，有效采集单粒子图像。 ◇ 无孔位相板（选配件）该无孔位相板有效用于衬度低的生体样品，可以获得较高的衬度。 ◇ 自动调整功能（使用底插CCD情况下）可以使用自动聚焦、自动无像差校准、自动平行光等自动功能，在优化条件下获取图像。 场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。 主要技术参数 主机 电子枪 冷场发射电子枪 加速电压 200kV 能量过滤器 柱体内Ω能量过滤器 最大样品倾斜角 ±70o ※ 热场发射电子枪也可以配置样品台/自动样品更换系统样品台 制冷方式 液氮、液氮自动供给系统 样品冷却温度 100k以下 温度测定位置 样品，cryoshield, LN2tank样品移动 X, Y, Z方向 X:Motor驱动（移动范围±1mm) Y:Piezo元件（移动范围±0.5um) Z:Motor驱动（移动范围±0.2mm) 倾斜 Motor驱动（倾斜范围±70o) 样品旋转 0o或者90o 换样装置 气锁方式， 自动控制冷冻传输系统 样品冷却温度（换样室） 105k以下 换样量 一次最多换4个样 样品台载样量 最多载样12个产品特点：场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。主要特点◇ 自动样品更换系统该系统由一个液氮冷冻样品台和冷冻传输系统构成， 该冷冻传输系统能够自动地将冷冻样品传送到冷台，液氮也是按照 需要自动地供应给液氮箱。在样品更换系统内可以保管12个被冷冻的样品，在取出和更换一个或几个样品的同时，其他的冷冻样品仍然保存在自动样品更换系统内。 ◇ 冷场发射电子枪冷场发射电子枪能够产生高亮度低能量散射的电子束，CRYO ARMTM 200能够获得高分辨、高衬度图像 ◇ 柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）CRYO ARMTM 200配备柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器），能够获取能量过滤像和能量损失谱图，而且零损失像的衬度高色差低。 ◇ 单粒子分析用自动图像获取软件CRYO ARMTM 200配备单粒子分析用自动图像获取软件。能够自动地检出样品栅格小孔，有效采集单粒子图像。 ◇ 无孔位相板（选配件）该无孔位相板有效用于衬度低的生体样品，可以获得较高的衬度。 ◇ 自动调整功能（使用底插CCD情况下）可以使用自动聚焦、自动无像差校准、自动平行光等自动功能，在优化条件下获取图像。

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快 ・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布 ・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

实验室冷冻干燥机,原位冻干机 实验室冷冻干燥机,原位冻干机顾名思义是一种实验室用、具有原位冻干功能的小型冷冻干燥机设备。其外形美观，体积小，重量轻，可直接放置于桌上使用；操作简便，进口配置，稳定可靠。实验室冷冻干燥机广泛应用于食品、生物制品、化工、中药材、保健品等领域。 产品特点：2. 美观时尚，尺寸小巧；3. 触摸屏操作,原位冻干，冻干过程自动控制，轻松方便；4. 可自主设定和实时调整冻干工艺，可显示冻干数据和冻干曲线；4. 关键零部件进口品牌，小噪音、大能力，高质量保证高性能；5. 系统先进，运行电流小，能耗低；6. SUS304不锈钢物料盘和内胆，安全有保障；7. 透明有机玻璃门，直接观察物料冻干过程；8. 快速除霜技术，超温自动保护。技术参数：1.1 型 号 TF-HFD-41.2 冷凝温度 ≤-40℃1.3 极限真空度 10Pa（空载）1.4 冻干面积 0.35㎡1.5 捕水能力 5kg/24h1.6 样 品 盘 195×445×20mm1.7 电源要求 220V 50Hz1.8 功 率 1700w1.9 主机尺寸 550mm×885mm×865mm （不含门板和把手）1.10 电控系统 实时显示隔板冻干曲线，温度曲线。智能控温。1.11除 霜 一键式除霜功能