超轻便携塞曼效应汞分析仪

塞曼效应（Zeeman effect），在原子、分子物理学和化学中的光谱分析里是指原子的光谱线在外磁场中出现分裂的现象。在外磁场中，总自旋为零的原子表现出正常塞曼效应，总自旋不为零的原子表现出反常塞曼效应。例如钠原子的589.6nm和589.0nm的谱线，在外磁场中的分裂就是反常塞曼效应。镉的643.847nm（1D2态向1P1态的跃迁）谱线在磁场不太强时就是表现出正常塞曼效应。只有当外磁场的强度比较弱，不足以破坏自旋-轨道耦合时才会出现反常塞曼效应，这时自旋角动量和轨道角动量分别围绕总角动量作快速进动，总角动量绕外磁场作慢速进动。当磁场很强时，自旋角动量和轨道角动量不再合成总角动量，而是分别围绕外磁场进动。这时反常塞曼效应被帕邢-巴克效应所取代，其效果是恢复到正常塞曼效应，即谱线分裂成3条，相互之间间隔一个洛伦兹单位。这里磁场的“强”与“弱”是相对的，例如3T的磁场对于钠589.6nm和589.0nm的双线是弱磁场，不会引起帕邢-巴克效应，但对于锂的670.785nm和670.800nm的双线是强磁场，足够观察到帕邢-巴克效应以上内容均为摘录。我的问题在于我关注的Pb\Cr\本身属于正常塞曼分裂还是反常塞曼分裂？如果是反常塞曼分裂，需要施加多大的磁场？

求教：关于塞曼效应扣背景听说有正常塞曼效应和反常塞曼效应两种方法，请问熟悉的专家高手这两种塞曼扣背景方式具体有什么区别？各有什么优缺点？另外目前市场上采用这两种扣背景方式的常见仪器又有哪些型号呢？

原子吸收里的塞曼效应看了书也不理解，好难啊

大家好，最近再摸索塞曼扣背景的原理，有几个问题想请教一下大家问题一：因为我们的仪器是PE AA 800的，应该是横向加热，交变磁场塞曼扣背景的（据说磁场强度是1.9T），由于磁场下的正常塞曼效应是列分为π和O正负（那个叫“诗歌吗”的符号不会打），根据塞曼原理，应该是元素原子在磁场中高能级态的谱线分裂成三条？？还是空心阴极灯发出的光在磁场中发生分裂？？？

一直以来认为国内并没有成功商品化交变磁场调制反塞曼效应背景校正（简称交流塞曼）技术，近日上网一搜，才发现自己严重Out了。早在2009年，上海光谱的SP-3880AA就已经把交流塞曼和直流塞曼（直流磁场激励反塞曼效应背景校正）共冶一炉，居然在一台机子上实现了！一个感觉——震撼。如果再看这型仪器的其他配置，更觉震撼：开关型直流化石墨炉电源、横向加热石墨炉、固体进样技术、etc。呵呵，我不相信横向加热石墨炉，因为这一项和仪器的其他部分不匹配。但其他几项，就算拿到国际上，也算先进了。不说其他，单论这交直流塞曼合体。我们知道，恒定磁场反塞曼效应背景校正（恒磁塞曼，以区别于直流塞曼）要使用塞曼分裂的p成分（即偏振方向平行于磁场的成分）作为总吸收信号的测量光束，而对于部分反常塞曼效应的原子吸收谱线，其p成分内部因为磁致分裂较大，导致分析谱线峰值下降，从而损失相对灵敏度。Cu、Au、Ag、Cr、As等元素的灵敏线不幸都落在这个部分中。因此，从相对灵敏度来说，恒磁塞曼不如交流塞曼，后者虽然也存在同样的问题，但一来相对灵敏度损失不太大（因为不使用p成分），二来还可以通过调节磁场强度来解决。恒磁塞曼使用永久磁铁，自然也就无法调节磁场。所以，用直流电磁铁来激励一个强度可调的直流磁场，就成为一种顺理成章的思路，这就是直流塞曼技术。直流塞曼的光路结构完全和恒磁塞曼相同，但磁场却与交流塞曼匹配。如果用交变信号激励磁场，在磁场最大时让s成分（偏振方向垂直于）输出，而在零磁场时让p成分输出，那么就实现另一种形式的交流塞曼，磁场调制和信号测量的同步方法实际上很简单，此处不叙。和经典的交流塞曼系统相比，只是在零磁场时用p成分代替s成分而已，而这二者是完全等价的。换句话说，交直流塞曼本来就可以合体的！为何过去没有人意识到这一点呢？我想应该是没有人认为有交流塞曼还需要直流塞曼吧。如果用两个光电检测器同时测定p成分和s成分，直流塞曼在处理高速背景方面无疑占有优势，这也就是二者合体的意义。不过，这需要有双检测器为前提。SP-3880AA并没有说明这一点，表明这型仪器没有使用双检测器，所以其交直流塞曼合体的意义并不太大。不过，这是一型真正的商品化交流塞曼原子吸收系统，仅就此而言，填补国内空白是可以自称的。顺便指出，双检测器并非增加一个PMT那么简单，要求两个PMT性能上严格匹配，并且对光路要求很严格，所以会增加成本。SP3880AA有如此的技术，但除了频频获奖外，并没有吸引多少眼球。我曾在本坛中从2008年搜到2011年，竟然没有一篇帖子谈论上海光谱的这型仪器。个中原因恐怕只有上海光谱自己知道了。其实据我所知，交流塞曼，甚至纵向交流塞曼在国内早有人研制出来了，但一到产品阶段就卡壳，无法进行下去。我国的仪器产业，固然在理论水平方面落后于国外，但更主要的原因是先进制造能力，当然还有市场能力的缺乏。但愿这种看法是错误的。

塞曼效应是指原子光谱在外加磁场下发生分裂。 电子的自旋运动会产生环电流，进而会产生磁场；在外磁场作用下，同一轨道中自旋不同的电子能量不同导致了原子光谱的分裂。我们可以通过考虑和不考虑外加磁场时的薛定谔方程表达式来解释塞曼效应： 不考虑外加磁场时薛定谔方程的表达式是：HΨ=EΨ， 在这个表达式中能量只与n、l和m有关，而与磁量子数无关，也就是说与电子的自旋无关，所以具有同样的n、l和m的电子[也就是同一轨道中自旋反平行的两个电子]具有相同的能量；测试原子光谱时只有一条谱线。 考虑外加磁场时薛定谔方程的表达式：(H+Hb)Ψ=(E+Eb)Ψ, 此时Hb表示的是外加磁场对体系哈密顿量的影响, (H+Hb)是有外加磁场时的哈密顿量；Eb则有外场时Hb所对应的能量值，(E+Eb)是有外磁场时体系的能量；由于在外加磁场下自旋不同的电子有不同的能量，Eb值不同,所以在外磁场存在时原子光谱发生了分裂。

求个高频塞曼效应汞分子仪RA-915M使用说明书

我想问一下各位，在线汞分析仪中的四种试剂，氧化剂，消解液，释放剂，还原剂分别都是起什么作用的，他们一般可以保存多久？ 大家的汞分析仪是采用什么原理进行分析的呢， 是不是也是汞蒸汽的分光光度法，？谢谢~！

请问有在线的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]汞分析仪吗？

请教各位大虾，我需要一台测定汞用的冷原子吸收汞分析仪，各位有什么好的建议没有？

1. 测汞仪表的基本原理：主要是冷原子吸收光谱法和冷原子荧光法两种，具体可查阅相关标准方法，我国和国际都主要采用这两种方法。测总汞则需要将样品处理，将其它价态的汞转化为单质汞检测。光源部分也有采用塞曼效应的。在测总汞部分，有汞转化模块，有的还采用的金汞齐富集。有了原理从理论上可以检测了，但真值是理论上存在，实际上无法准确测到。实际上，人们整理了一套基于数理统计置信度等原则的参数指标来描述检测可靠性。检测原理方法版友解析总结：紫外差分光谱法（UV-DOAS）：基于紫外吸收差分原理，仪器是开放长光程形式，这种情况适合检测空间汞分布。UV-DOAS测汞，主要是利用汞吸收的检测信号是快速或高频变化的特点，将特征波谱从谱图中选出。这种方法检测下限比较低，缺点是不能直接校准，雾雨雪霾等影响光线透过的天气将难以检测。测汞的方法除了冷原子吸收法和冷原子荧光法，还有双硫腙比色法；所谓塞曼法和微分法其基本原理也属冷原子吸收法。检测下限=4倍检出限，检出限不是越低越好，通常低于最严格的执行标准即可。光学方法不论液体还是蒸汽样品，仪器实际检测的是汞原子蒸汽，其它价态形式需要转化成汞原子形式才能被检测。因此总汞仪表都需要配备汞转化模块。水中汞检测还有利用阳极溶出法的，属于电化学方法，可以达到ppb级别。检测器主要有：光电倍增管，利用光电倍增效应将光信号转成电信号。光谱吸收法检测汞时，要求光电倍增管工作区间在254nm处，响应谱带越窄越好。荧光检测器，汞原子吸收紫外光，再辐射荧光，波长也是254nm附近。检测器的工作曲线响应最佳波长也应在此波长上。其它光学检测器，比如光子计数器，应当以上检测器效果。◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆2. 测总汞仪表指标线性度 可靠校准后，各浓度检测结果与标准曲线演算结果的最大差。l检测浓度范围l 在对应的校准下，对应的检测最小浓度和最大浓度规定的浓度区间。零点噪声l 可靠校准之后，在“零”气体通过光学检测室的情况下，按照要求的检测数据（一般多于20次）的标准偏差。仪表或系统的检测下限为此指标的2或3倍。在仪表监测结果为浓度的时候，这个指标才真正说明仪表的灵敏度。也依据这个判断仪表的适用性。对于测汞仪表来说，实际浓度很低，要求仪表有很低的检测限才能适用于检测。检测下限版友讨论总结： 检出限不是越低越好，通常低于最严格的执行标准即可。汞校准补充： 气态汞校准多数采用空白氮气“溶解”并携带汞蒸气的方式来产生汞标准气，后续可配置不同浓度。〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓3. 几款汞仪表主要参数列举几款测汞仪表 部分指标来看看（时间没花很多，调查未完整）TE 80i量程：0-50 μg/m3 （稀释前) 零点噪声：1 ng/m3 (60 second average)检测下限：1 ng/m3 (60 second average)零点漂移 (24 hour) ： 2 ng/m3响应时间：90 seconds (60 second average time)线性度： +/- 1% full scale〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓[color

应用塞曼效应进行背景校正时，仪器结构并不是固定或一致的，校正方式也可进一步细分为若干种，它们与磁场位置、磁场方向、以及磁场性质等方面的不同选择都是息息相关的：1.塞曼背景校正装置的安装位置不同分为光源调制与吸收线调制两种，前者是指光源在磁场中发射线的塞曼分裂，后者是指原子化器在磁场中吸收线的塞曼分裂。2.而由于磁场与光束间的方向不同又分为垂直（横向塞曼效应）与平行（纵向塞曼效应）两种。3.而根据磁场自身的工作方式又可分为两种：采用恒定磁场的偏振调制方式、采用交变磁场的磁场调制方式。上述这三条依次组合会有2*2*2＝8种形式的塞曼背景校正方式：光源调制横向恒磁场塞曼背景校正光源调制纵向恒磁场塞曼背景校正光源调制横向交变磁场塞曼背景校正光源调制纵向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制横向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制横向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向交变磁场塞曼背景校正但是：1.光源调制方式对于仪器光源结构有较大要求，使得元素灯不具有通用性，逐渐被市场所淘汰吧就算...因此，目前市场上的塞曼背景校正的仪器都是采用原子化器调制方式，没有使用光源调制的类型了。2.关于横向与纵向磁场的问题。横向磁场效应产生的是波长不变的π成分和波长变化的σ±成分，前者用于测量原子吸收信号，后者不产生原子吸收信号，是用于对背景校正。而纵向磁场仅能产生σ±成分，也就是说仅能产生背景信号。3.因此，横向磁场可以使用恒定磁场和交变磁场来实现原子吸收与背景吸收的测量。而纵向磁场只能采用交变磁场，通过磁场的有无来分别实现对原子吸收信号和背景信号的测量，纵向磁场若采用恒定磁场则只有背景信号，不能用于原子吸收仪器分析。纵上所述，所以目前市场上只有3种塞曼背景校正的仪器：吸收线调制恒定磁场横向塞曼型：WFX-810型（北京瑞利分析仪器公司）Z8000/Z5000/Z2000系列（日本Hitachi公司）吸收线调制交变磁场横向塞曼型：ZEEnit系列（德国analytik-jena公司）Z3030型（美国Perkin-Elmer公司）吸收线调制交变磁场纵向塞曼型：ZL4100/Z600/Z800 AnalytTM600/800型（美国Perkin-Elmer公司）继续，这就引起了一个问题，就是您所提到的问题了，采用交变磁场背景校正的，它必须要求有复杂、庞大的电路系统，而且磁间隙有限，现有的机械、电学、物理学等水平决定了它不能够生产出有火焰燃烧缝那么长（一般15cm左右）的磁场，仅仅应用于石墨炉分析的纵向交变磁场的正常消耗功率就已经达到了4kW！这已经对用于分析的实验室的电路造成了很大的负荷，而且还不包括石墨炉电源，仅仅是它的交变磁场就是4kW了。因此目前采用交变磁场背景校正的仪器，仅仅是石墨炉分析而已，仪器在火焰一侧的背景校正方式采用的必然是D2灯。而横向恒定磁场就没有这个问题了，可以实现火焰与石墨炉的塞曼背景校正，但是并不是说这就比交变磁场要好或是技术更先进，应该说是各有所长也各有所短，真正的评判依据在于用户，用户分析自己的样品适用的方式，就是对他来说好的方式。对本文中出现的错误或各位读者有什么意见建议，欢迎大家批评指正...加一句：原创帖是个人知识、智慧与汗水，应用或转载请注明出处...不关是我的帖子，所有原创帖大家都应支持与保护！谢谢！

对于扣背景我了解的也不多，我们买了一台原吸，后来在一些讨论中看到，石墨炉的一般用塞曼扣背景，但我们的只有氘灯和自吸，所以上来问问咋回事？塞曼扣背景好像是塞曼效应，和氘灯扣背景有什么区别吗？

[font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b][size=16px]拉曼光谱分析仪是什么设备，拉曼光谱分析仪是一款专门针对现场快速检测的便携式设备。它基于印度科学家C.V.拉曼（Raman）所发现的拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析，以得到分子振动、转动方面的信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。拉曼光谱分析仪主要工作原理包括使用高强度、单色的激光作为光源，通过散射装置使激光束聚焦并由待测样品散射，然后通过光谱仪分离频率差的散射光并测量其强度，最后通过探测器测量散射光的强度，并经过数据分析确定样品的分子结构、化学成分和其他物理特性。拉曼光谱分析仪在多个领域都有应用，包括食品安全快速检测、科研院所和高等院校的物理和化学实验室、生物及医学领域等光学方面的物质成分判定与确认，以及刑侦及珠宝行业进行毒品的检测和宝石的鉴定等。此外，它也是一种用于能源科学技术领域的分析仪器。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/05/202405161012000198_1664_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size][/color][/font]

¨正常塞曼效应或称之为简单塞曼效应发生时，谱线被分裂成两个σ分量和一个π分量， π分量留在原谱线位置，σ分量则对称地出现在原谱线两侧数皮克纳米处。该分量偏离 的程度取决于磁场强度的大小。 π分量与磁场方向平行， σ分量与磁场方向垂直。 有点不理解的是当采用交变纵向磁场的时候，，既然π的分量是与磁场是平行的为什么可以不用偏振镜滤除呢。当横向磁场的时候π分量不是刚好和磁场平行不是正好进不去光路 为什么还要偏振镜滤除呢。

问题描述：[font=宋体]样品总汞分析注意事项，如何避免前处理过程中汞的损失？[/font]解答：1[font=宋体]、汞极易挥发，因此样品消解通常在密闭体系中进行（推荐微波消解的方法）[/font]2[font=宋体]、无论采取何种方式分解样品，切勿将溶液蒸干[/font]3[font=宋体]、只在低温水浴（小于[/font]80[font=宋体]℃）赶走氮氧化合物气体，不再赶酸[/font]4[font=宋体]、在食品样品中，[/font]Hg[font=宋体]的含量通常很低，因此在样品分解过程中要严格控制防止污染[/font]5[font=宋体]、微量[/font]Hg[font=宋体]极易被器皿吸附，消解好的样品不能长时间放置[/font]6[font=宋体]、分析时仪器管路的记忆效应，高浓度样品注意清洗[/font][font=宋体]目前样品总汞分析有两种方法一种是湿法消解前处理和原子荧光、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]、[/font][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url][font=宋体]等结合的分析方法，一种是催化热解前处理和冷[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]结合的分析方法。湿法消解需要注意样品分解过程汞的损失、器皿的污染、消解溶液的保存、分析时汞记忆效应等的影响。因此汞的检测注意事项较多，也一直是样品总汞分析的难点痛点。现阶段，直接测汞仪得到广泛应用，该项测汞技术将前处理过程及分析过程有机结合为一个整体，利用汞本身的物理化学性质，采用加热分解的方式代替传统的湿法消解，产生的汞蒸气进入到检测池，利用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]原理进行测定。避免了样品中汞的损失，消除了汞的记忆效应，并且不需要使用大量的酸试剂，避免了废液的产生。已经广泛应用于土壤、食品等样品总汞的测定。[/font][font='Times New Roman','serif']HJ923-2017[/font][font=宋体]土壤和沉积物[/font][font=宋体]总汞的测定[/font][font=宋体]催化热解[/font][font='Times New Roman','serif']/[/font][font=宋体]冷[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度、[/font][font='Times New Roman','serif']GB5009.17-2021[/font][font=宋体]食品安全国家标准[/font][font=宋体]食品中总汞及有机汞的测定等已经将直接测汞法列为标准方法。[/font][font='Times New Roman','serif'] [/font]以上内容来自仪器信息网《样品前处理实战宝典》

PE900T塞曼扣背景还是氘灯扣背景是仪器自动选择的还是自己设置的，要是自己设置要在哪里设置呢？ 最近要新建石墨炉测钡的方法，500+的波长氘灯应该校正不到吧，但是要求有背景校正，查了下，钡的塞曼效应还是满大的。有没有大侠测过钡的呢？关于其升温程序和背景校正都是怎么处理的呢？

1. 测汞仪表的原理：主要是冷原子吸收光谱法和冷原子荧光法两种，具体可查阅相关标准方法，我国和国际都主要采用这两种方法。测总汞则需要将样品处理，将其它价态的汞转化为单质汞检测。光源部分也有采用塞曼效应的。在测总汞部分，有汞转化模块，有的还采用的金汞齐富集。有了原理从理论上可以检测了，但真值是理论上存在，实际上无法准确测到。实际上，人们整理了一套基于数理统计置信度等原则的参数指标来描述检测可靠性。◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆2. 测总汞仪表指标线性度 可靠校准后，各浓度检测结果与标准曲线演算结果的最大差。检测浓度范围 在对应的校准下，对应的检测最小浓度和最大浓度规定的浓度区间。零点噪声 可靠校准之后，在“零”气体通过光学检测室的情况下，按照要求的检测数据（一般多于20次）的标准偏差。仪表或系统的检测下限为此指标的2或3倍。在仪表监测结果为浓度的时候，这个指标才真正说明仪表的灵敏度。也依据这个判断仪表的适用性。对于测汞仪表来说，实际浓度很低，要求仪表有很低的检测限才能适用于检测。〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓3. 几款汞仪表主要参数列举几款测汞仪表 部分指标来看看（时间没花很多，调查未完整）TE 80i量程：0-50 μg/m3 （稀释前) 零点噪声：1 ng/m3 (60 second average)检测下限：1 ng/m3 (60 second average)零点漂移 (24 hour) ： 2 ng/m3响应时间：90 seconds (60 second average time)线性度： +/- 1% full scale〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓 RA 915检测下限：2ng/m3其它指标没有查到，有的板油可以来补充〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓 MERCEM 300Z检测范围：0~10ug/m3、0~45ug/m3、0~100ug/m3响应时间：200s没查到这款表其它重要指标，板油们补充〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓 SM4检测下限：0.0001ug/ M3检测范围：0.05ug ug/ M3 至 500ug/ M3响应时间：180s~360s其它指标板油们补充〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓PF6系列原子荧光光谱仪物理参数原子量：200.590电离能：10.40eV氢化物的解离能：0.0eV波长（nm）：253.65能及（eV）:0.000--4.880〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓请您来解析：1.测汞仪都有些什么检测器？各种检测器的基本原理是什么？2.测汞需要检测下限多少为宜？是越低越好吗？3.汞校准怎么做的？4.汞减排或者脱汞主要有哪些方法？5.什么是电离能？什么是原子量？欢迎您来解析，也希望您能提出更多和测汞仪相关的问题与大家一块探讨！

[align=left][b]【推荐讲座】《汞履约新助力-LUMEX塞曼测汞技术及应用》（2017年12月21日 14:00）[/b][/align][align=left][b][b]免费报名：[/b][/b][/align][align=left][color=black][url=http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3235.html][b][/b][/url][b][url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3164.html[/url][/b][/color][/align][align=left][b]会议内容：[/b][/align][align=left][color=black][b] [/b]当《关于汞的水俣公约》2017年8月16日对我国正式生效。我国将采取多种措施，为应对和妥善解决汞污染问题做出更多努力。环保部副部长赵英民介绍，汞(水银)及其化合物广泛应用于化工、仪器仪表、电池、照明、医疗器械等领域。但汞释放到环境后将长期存在，能够通过大气长距离传输，经生物累积可对人体健康和环境造成显著不利影响。为有效应对和妥善解决全球汞污染问题，2013年10月，国际社会就具有全球法律约束力的《汞公约》达成一致，中国成为首批签约国。2016年4月，第十二届全国人民代表大会常务委员会第二十次会议批准《汞公约》。2017年8月16日，公约在中国等缔约方正式生效。面对当前汞履约压力，我国陆续制定并出台相关法律法规及技术指导路线，LUMEX公司提供全面专业的汞分析仪器和解决方案，为汞履约提供新助力。Lumex（鲁美科思）分析仪器作为汞监测方案解决专家，一直以来致力于汞监测技术的研究和开发，积极参与解决全球汞污染问题。本次网络讲堂主要与大家分享塞曼测汞技术和各行业方案在水俣公约履约方面所能提供的助力。[/color][/align][align=left][color=black][b]主讲人介绍：[/b][/color][/align][align=left][color=black]刘一夫 LUMEX分析仪器应用工程师，负责中国区应用方法开发和技术支持。[/color][/align]

横向加热的石墨炉（带塞曼扣背景）绝对要比纵向加热的好吗？帮忙分析一下

求助：HJ 597-2011 《水质 总汞的测定 冷[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度法》标准中提到的冷[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]汞分析仪啥样？是否是普通的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度计？是需要配备额外的设备？还是另外一种独特的设备？

目前，国产的便携式水质分析仪都有哪些？与国外的仪器相比较，它们有什么样的优势或不足？如果国内研发便携式水质分析仪，周期能有多久？会有什么样的制约？

[align=left][b]【推荐讲座】《汞履约新助力-LUMEX塞曼测汞技术及应用》（2017年12月21日 14:00）[/b][/align][align=left][b][/b] [/align][align=left][b]免费报名：[/b][/align][align=left][color=black][url=http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3235.html][b][/b][/url][b][url=http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3164.html]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3164.html[/url][/b][/color][/align][align=left][b]会议内容：[/b][/align][align=left][color=black][b] [/b]当《关于汞的水俣公约》2017年8月16日对我国正式生效。我国将采取多种措施，为应对和妥善解决汞污染问题做出更多努力。环保部副部长赵英民介绍，汞(水银)及其化合物广泛应用于化工、仪器仪表、电池、照明、医疗器械等领域。但汞释放到环境后将长期存在，能够通过大气长距离传输，经生物累积可对人体健康和环境造成显著不利影响。为有效应对和妥善解决全球汞污染问题，2013年10月，国际社会就具有全球法律约束力的《汞公约》达成一致，中国成为首批签约国。2016年4月，第十二届全国人民代表大会常务委员会第二十次会议批准《汞公约》。2017年8月16日，公约在中国等缔约方正式生效。面对当前汞履约压力，我国陆续制定并出台相关法律法规及技术指导路线，LUMEX公司提供全面专业的汞分析仪器和解决方案，为汞履约提供新助力。Lumex（鲁美科思）分析仪器作为汞监测方案解决专家，一直以来致力于汞监测技术的研究和开发，积极参与解决全球汞污染问题。本次网络讲堂主要与大家分享塞曼测汞技术和各行业方案在水俣公约履约方面所能提供的助力。[/color][/align][align=left][color=black][b]主讲人介绍：[/b][/color][/align][align=left][color=black]刘一夫 LUMEX分析仪器应用工程师，负责中国区应用方法开发和技术支持。[/color][/align]

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

[多选]可能降低[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析的分析信号有?A选择共振线为分析线B降低检测器负高压C减小单色器入射狭缝宽度D应用塞曼效应扣除背景吸收

依据GB 17132 进行烷基汞分析，一段时间后低浓度不出峰是什么原因呢？

求一份HJ 542 环境空气 汞分析方法的编制说明，如果还有HJ 543的最好了

便携式气体分析仪哪家的比较好使用起来效果如何