真空紫外传输反射评价系统

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真空紫外传输反射评价系统相关的厂商

  • 以色列Ofil紫外成像仪是光学和数字紫外线检测和成像技术的世JIE领XIAN制造商。成立于1993年,总部在以色利。Ofil紫外成像仪开发和销售创新解决方案,这些解决方案正在全球范围内用于监测电气装置和环境危害。我们的数字检测系统对于电气故障的诊断、预防和预测是不可或缺的。我们的紫外线偏振系统有助于绘制海上溢油扩散图并控制其清洁效果。Ofil紫外成像仪利用其紫外线光学专有技术,不断开发紫外线增强成像解决方案,以应对全球电网不断变化的需求。多年来,Ofil以其创新、高质量和快速响应的方法赢得了全球的认可。DayCor?系列产品提供以下解决方案:电力设施的维修操作电动列车的预测性维修操作以色列Ofil紫外成像仪介绍石油化工电网部件制造商高压实验室和研究所用于国土安全的紫外线信号检测环境组织的漏油监测
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  • 400-860-5168转4759
    北京领宇天际科技有限责任公司成立于2014年, 是一家专门从事工业润滑油检测,设备润滑检测及故障分析,艺术品修复, 艺术品研究, 艺术品鉴定检测技术以及航天材料地面空间环境模拟试验及空间环境模拟技术的专业化公司。公司主营业务产品范围涉及工业润滑失效分析,工业润滑检测系统,油液检测系统,艺术品修复及鉴定仪器设备,及航空、航天材料分析,工业润滑失效分析,油液状态分析三大领域。北京领宇天际科技有限责任公司是加拿大SimulTek Research公司航天空间环境模拟在中国地区独家授权代理商;主要产品:低地球轨道环境模拟,原子氧模拟实验装置,月球综合环境模拟实验装置,月尘模拟装置,月表尘埃环境模拟,真空除气测试设备(热真空释气)ASTM E595,行星火星空间环境模拟装置,随机定位仪,微重力环境设备等,英国OPUS INSTRUMENTS红外成像设备公司在中国大陆及香港,澳门地区独家授权代理商和技术服务商;主要产品:红外反射成像系统,油画红外反射成像系统,唐卡红外反射成像,壁画红外反射成像系统,绢画红外检测,油画检测,壁画检测,唐卡检测;俄罗斯OKB-SPECTR光谱仪公司在中国地区独家授权代理商和技术服务商。主要产品:油料光谱仪,滑油光谱仪,油液监测平台,综合油液智能分析平台,油料原子发射光谱仪,原子发射油料光谱仪,润滑油光谱仪,金属多元素光谱仪,磨损金属元素光谱仪,便携红外光谱仪,油液状态检测仪器,水中油分析仪,HFRR耗材试验件,油料光谱仪耗材石墨盘电极,石墨棒电极等德国SPECTROLYTIC红外光谱分析仪器厂家在中国地区授权代理商。主要负责润滑油及在用润滑油油品品质状态分析,便携式油液状态分析仪,油液状态分析仪等产品Atik Cameras科学科研相机在中国大陆及香港,澳门地区独家授权代理商和技术服务商EXPLOR Space Technologies生命科学公司中国地区授权代理商和技术服务商依托国际领先的先进技术,我们成功为国内的专家学者及相关领域的客户提供专业领先的仪器设备及解决方案。 目前公司提供原子氧测试,除气测试唐卡、壁画、油画、底图(素描草稿),绢本,简牍笔迹等红外反射成像测试,产品型号:智能分析式铁谱仪,磨粒自动分类原子氧效应地面模拟装置符合QJ 20422 2-2016 航天器组件环境试验方法APOLLO红外反射成像仪原子氧源热真空实验舱综合空间环境模拟系统月球环境地面模拟设备月壤模拟装置(月尘模拟物采用JSC-1A或类似型号)行星环境模拟系统真空质损模拟装置-除气测试--符合ASTM E595和ASTM E1559惰性气体抽取分离装置热真空环境力热耦合实验舱(复合材料,轴承加速老化)火星环境地面模拟试验装置火星尘模拟装置NUV近紫外辐射系统VUV真空紫外辐射系统(FUV远紫外辐射系统)月表尘埃综合环境模拟设备月球环境模拟设备微重力地面环境模拟大气环境地面模拟设备真空磨损试验装置电离层环境地面模拟装置探气质谱仪大气层再入环境地面模拟装置油料光谱仪(多元素油料发射光谱仪)滑油光谱仪原子发射光谱仪多光谱红外反射成像系统红外反射成像系统磨损金属多元素光谱仪便携式手持式FTIR傅里叶红外光谱仪便携式油液状态分析仪FluidInspectIR红外油液状态分析仪水中含油分析仪水中油分析仪水/土壤中油分析仪FOG分析仪FAME分析仪土壤中油分析仪污水含油分析仪(海上平台)污水分析仪(海上平台)
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  • 华日激光坚持以市场需求引领新产品的研发,为客户提供纳秒、皮秒、飞秒等多种脉冲宽度,红外、绿光、紫外、深紫外等多种波长的激光器产品,所有产品均具备自主产权,同时产品通过欧盟CE质量安全认证,完全满足严苛条件下的工业加工要求,是超精细加工领域的理想光源。同时通过与全球高端激光设备制造商在电子电路、硬脆材料、半导体、新能源、生命科学等领域开展紧密合作,为用户提供全面的激光技术解决方案。
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真空紫外传输反射评价系统相关的仪器

  • UV-3600i Plus标配三检测器,满足紫外-可见-近红外区的高灵敏度测定,同时具有高分辨率、超低杂散光等特点。【高灵敏度—标配三检测器】配置了三个检测器,检测紫外及可见区域的PMT检测器,检测近红外区域的InGaAs和PbS检测器。InGaAs检测器弥补了PMT和PbS转换波长区域灵敏度低的特点,从而保证了在整个检测波长范围内的高灵敏度测定。在1500 nm波长处的噪声小于0.00003 Abs,实现超低的近红外区噪声水平。【丰富可选的附件】使用多功能大样品室和积分球附件可测定固体样品,使用保证测定精度的绝对反射测定装置可进行高精度的绝对反射测定。此外,可安装电子冷热式恒温池架和超微量池架等多种附件,适应广泛的应用测定。【智能化软件】 全新升级的LabSolutions UV-Vis软件包括光谱模块,光度模块,动力学及报告编辑模块等功能。软件具有自动光谱评价、自动Excel数据传输、自动样品测试等功能,可升级为DB或者CS版实现更强大的数据管理,确保数据完整性和法规要求。
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  • 加拿大Resonance有限公司的传输和反射评估系统设计是将真空紫外线(VUV)或者紫外线(UV)辐射到目标样品,测量目标的反射、传输。 该系统包括了一个从115纳米到400纳米的氘灯,一个200毫米的焦距的真空单色仪,带有PC控制的马达驱动器,一个可以从115到320纳米的光管(PMT),LabviewTM软件和控制器。系统组成氢光源该系统有一个resonance公司提供.,D2ArCM L氢光源,提供的辐射范围从115纳米到400纳米,光子流量大约为2 x 10E15个光子/秒/str。这盏灯是用一个SMA螺纹适配器安装的,它位于单色仪的入口狭缝处。 单色仪Resonance VM200 扫描单色仪 VM200单色仪(真空单色仪有200毫米焦距)包含一个凹的全息光栅,它有一个vuv/uv增强的氟化镁涂层,这个光栅有以下规格:No. of lines/mm: 1200 l/mmSize: 40 x 45 mmF #: 4.2Input focal distance: 200 mm Output focal distance: 187.9 mm Deviation angle: 64 degreesCoating: Al/MgF2 optimized for 100 to 300 nmSpectral range of best operation: 115 – 300Total spectral Range: 25 to 1000 (gold coating recommended below 100 nm) 光栅是用一个绝对编码的等级驱动器(AEGD)旋转的。它安装在一个桶里(光栅是用户可互换的),并且光谱仪有两个长臂,在末端安装了入口和出口长度可调节的缝。 PMT台
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  • 测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率/反射率曲线,并对材料的颜色特性进行分析,实现280nm-2500nm极宽的测量范围,满足GAT744-2013 标准要求。 核心光学设备为国家863(高技术研究发展计划)项目研究成果,获美国专利授权(专利号:US 7,978,324 B2),"国家首批自主创新产品","国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定,获"国际领先"评价。主要特点采用远方高精度光谱测量技术,精度高、测量速度快、稳定性好采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅,并采用带通色轮校正(BWCT)等多项杂散光修正专利技术,具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光高性能准直光源,保证宽波段范围的测量条件自带校正及标定功能,方便用户自行校零和定标独特的紫外-可见波段的双光路设计,可对光源进行监控和自动补偿,减少光源变化带来的误差极宽的光谱测量范围:280nm-2500nm? 主要技术指标测量功能可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。波长范围280nm-2500nm;波长准确度280-800nm波段:±0.3nm;800-1600波段:±0.5nm;1600-2550波段:±3nm;半峰带宽280-800nm波段:3nm;800-1600波段:9nm;1600-2500波段:15nm;照明/接收条件反射 5°/5°,透射:0/0反射率范围0-200%,分辨率0.001%照明孔径Φ20mm? 典型应用:
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真空紫外传输反射评价系统相关的资讯

  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 技术交流会预告——HORIBA Scientific真空紫外光学光谱技术
    如今,真空紫外光学光谱技术正被应用于紫外光致发光、透射/反射/吸收、激光高次谐波、可调谐单色光源等方面。自从HORIBA Scientific进入真空紫外系统设备制造领域,就与全球各地的同步辐射中心进行合作,积累了许多宝贵的经验。 HORIBA Scientific将于2013年5月21日举办相关技术交流会,届时,我们将邀请法国资深专家为大家介绍真空紫外、可见近红外光谱测量的新技术进展、产品和应用。 主讲人:Jean-luc DOMANCHIN 简介:在HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)工作25年以上,现担任真空紫外光学光谱系统资深经理,具备丰富的光学光谱研究及应用经验。 时间:2013年5月21日 下午14:00-17:30 地点: &bull 主会场:堀场(中国)贸易有限公司 北京办公室 &bull 分会场:堀场(中国)贸易有限公司 上海、广州办公室 (注:上海、广州分会场将启用视频会议室为您讲解) 主办:&bull 堀场 (中国) 贸易有限公司 &bull 法国HORIBA Jobin Yvon S.A.S. 协办: &bull 上海格奥光电技术有限公司 &bull 科瑞利通科技开发有限公司 &bull 广州贝拓仪器设备有限公司 &bull 脉动科技有限公司 会议安排 时间 内容 14:00-15:40 真空紫外、可见近红外光谱测量新技术进展及应用 16:00-17:30 光学光谱应用交流 有意者可以通过以下方式进行报名。为了帮助我们更好地安排和组织会议,请您于5月19日前报名。 报名方式 联系人:俞小姐 邮 箱:nasi.yu@horiba.com 电 话:010-85679966-212 地 址:北京市朝阳区建国门外大街甲6号SK大厦1801室
  • 如何精确测定LED灯反射板的反射率?
    前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点,在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛,如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成,光源装有反射板可以有效利用光源的能量,因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率,常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯,拆开发现反射板的四周是弧形表面,为获得准确的反射率,要对中间的平整表面进行测定,如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点,要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题,日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件,确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大,可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值,得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。 想获取更多信息,请拨打电话:400-630-5821。

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真空紫外传输反射评价系统相关的论坛

  • 【求助】关于原位紫外漫反射池

    我们实验室刚买了台紫外,Perkin Elmer公司的,型号是Lambda 650S可以做吸收和漫反射,测量时为双光路检测,沿着光路,仪器的中央放样品池和参比池,右边为固体漫反射装置,有两个白板(BaSO4片),做漫反射时将其中一个白板换成样品即可,另外样品池和参比池中不要加任何东西。测吸收时则利用仪器中间部分,样品池中加入样品即可,但要保证漫反射装置两个白板不变。不知道说清楚了没有,呵呵。话说正题,我们实验室做催化方面的研究,希望能做些原位的表征,例如利用原位紫外漫反射研究反应过程中样品的变化。这就要求装样品的装置中能通气,能加热,最好能抽真空。想问下大家有没这样的原位漫反射池,主要是积分球以及密闭体系的设计。先谢谢大家了。有好的文献或资料的话发邮件给我吧huanghua@pku.edu.cn

  • 紫外传感器uv-Arc在电弧光紫外探测中的应用

    紫外传感器uv-Arc在电弧光紫外探测中的应用

    高压输变电系统的绝缘子的性能下降时,会产生电晕放电,同时会发出紫外线,早期造成电能损耗和绝缘子性能的持续恶化,长期影响高压输变电系统的安全性,需要进行实时检测。电火花是电弧的一种形式,是电子元器件。撞击的火花不是电弧,是火星,是被撞击出来高温的物质的颗粒。两者本质不同。一定的电压,当他把电极之间的空气,真空或着是起他物质电离,以火花的形式势放出.石头与石头相互摩擦产生能量,释放出来就成了电火花.高电压 击穿绝缘材料发生放电高电压一般是靠电磁感应制照的可能是摩擦时产生能量差,多余的能量产生高温,以光和热的形式放出。[img=,493,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812250942286592_5538_3332482_3.jpg!w493x300.jpg[/img]随着电力系统电网规模的不断扩大、电力负荷要求的不断提高,电力系统中使用的各种类型的高压设备的损坏、故障也不断增加,相应对预防性维护的要求也不断提高。输供电线路和变电站配电等设备在大气环境下工作,在某些情况下随着绝缘性能的降低出现结构缺陷或表面局部放电现象,电晕和表面局部放电过程中,电晕和放电部位将大量辐射紫外线,这样便可以利用电晕和表面局部放电的产生和增强间接评估运行设备的绝缘状况和及时发现绝缘设备的缺陷。因为可用于诊断目的的放电过程的各种方法中,光学方法的灵敏度、分辨率和抗干扰能力最好。采用镓芯光电紫外传感器开发电弧紫外检测,即采用高灵敏度的紫外线传感器和辐射接受器,记录电晕和表面放电过程中辐射的紫外线,再加以处理、分析达到评价设备状况的目的。预防,减少设备发生故障造成的重大损失,具有很大的经济效益。目前针对输电线路上的电晕放电检测主要有:人工巡查检测、脉冲电流检测、红外检测、超声电晕检测和紫外检测等方法。由于电晕放电的目标小、信号弱,而且许多输电线路架设在自然条件比较差的户外时,人工巡查检测不但费时费力,而且检测效果也不好;脉冲电流检测不太适合超高电压检测,而且仪器体积较大;红外检测受日光影响大,误检率高且响应速度慢,红外能检出时,往往线路已发热,属于后期检测,不能适应现在输变电的要求;超声电晕检测在户外也很难达到理想的效果。高压电网电晕放电监测比较有效的是紫外线监测。[img=,500,500]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812250942523476_6765_3332482_3.jpg!w500x500.jpg[/img]现有的紫外检测设备主要是紫外光电管以及半导体式紫外线探测器,紫外光电的代表性产品是R2868,但是该产品在检测到UVC波段的紫外线时,光电管呈现的状态是开或者断,不能够实时的反映出电晕的强度大小。现阶段半导体式的紫外线探测器主要是工采网从德国Sglux公司进口的紫外线传感器、UV传感器 - UV-Arc。一般的紫外线传感器在探测微弱的紫外线时,产生的电流都会很低,故要求传感器必须采用的是基于SiC材质的低暗电流传感器,在经过高倍放大后,暗电流对输出值影响才会降到最低。同时由于放大倍数比加大,传感器材质一般不会完全对UVA和UVB波段的紫外线不敏感,太阳光中的A和B波段的紫外线相对于电晕中的C波段紫外线是不可忽视的。在高放大倍速的电路中,在太阳光下A和B波段造成的误差会完全覆盖C波段,故传感器在使用过程中必须添加滤光片。德国Sglux的UV-Arc探测器自带抑制太阳光中A和B波段的滤光镜,其金属外壳具有很高的电磁兼容性。传感器本体完全防水,主要是用于受电弓电弧监测中,高压电线电弧监测,监测距离需要根据电弧强度决定。

真空紫外传输反射评价系统相关的耗材

  • 紫外反射装置
    仪器主要指标及成套性:测量紫外反射光谱 用途:用于精密分析仪器附件
  • 高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球
    IS-RFLT8C-50反射积分球IS-RFLT8C-50是8°反射积分球(高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球),采用的是反射测量的8/d的标准,8°角照明,散射接收。在相对于8°角光源对阵的方位上,设置光陷阱或者标准反射片,从而实现漫反射和全反射的测量。IS-RFLT8C-50积分球的特点是紧凑的尺寸和耐用的设计,所有的IS-RFLT8C-50积分球有两个SMA-905接口,光输入端有一个用于在光纤接入积分球之前校正光纤的8°角接口,光输出端口与输入端口成90°角(用于连接光谱仪)。另配有一个圆柱形的吸收盖,内部涂有黑色的吸光材料(用于吸收镜面反色光)。这个嵌入件刚好放入一个与积分球顶部成-8°角的接入孔中。每一个积分球都可与光谱仪一起组合成一个系统,用于测量置于积分球的采样口区域内的平面样品的综合反射率。这些积分球可测量杂色的样品及不透明或者高指向性的样品。产品特点? 光纤光学积分球:测量表面总的整体反射率? 积分球采样口直径:9.6mm? PTFE制造,可见光反射率98%。? 直径可选:38mm、50mm。
  • FD石英光纤增强的深紫外性能
    特性○ 阶跃折射率○ 数值孔径: 0.22 ±0.02 全接受光锥:25.4度○ 运行波长低至190nm○ 超高紫外传输○ 超低紫外日晒○ 出色的抗辐射性能○ 可消毒&生物相容-USP6类○ 高激光破坏阈值○ 高-OH二氧化硅纤芯,掺杂二氧化硅包层○ 标准的聚酰亚胺缓冲层○ 聚酰亚胺同心度≤3μm○ 尺寸、缓冲层及组件可定制○ 验证测试可达100kpsi○ 运行温度– 65 oC 至+300 oC在深紫外区(190nm - 325nm)应用时,必须考虑高紫外辐射对二氧化硅纤芯光纤传输的影响。日晒变化 取决于使用的光纤类型以及紫外源的强度及光谱输出。变化的大小与波长有关。
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