离子迁移色谱的原理具体是什么离子迁移色谱质谱联用可以通过峰面积确定离子尺寸大小么,请教各位大侠
[url=http://www.f-lab.cn/solid-densimeters/ttdm.html][b]大尺寸材料体积密度计[/b][/url]TTDM专业为大尺寸样品材料的[b]体积密度测量[/b]和[b]体积比重测量[/b]而设计的[b]体积比重计[/b],[b]Bulk Densimeter[/b],非常适合粉末冶金行业,贵金属回收行业,铸件,铝铸造厂,橡胶,塑料,硬质合金等领域的材料[b]体积密度测量[/b]。[b][b]大尺寸材料体积密度计[/b]适用于:[/b]粉末冶金行业,贵金属回收行业,铸件,铝铸造厂,橡胶,塑料,硬质合金[b][b]大尺寸材料体积密度计[/b]原理:[/b]根据ASTM D297-93,D792-00,D618,D891,ISO2781,JISK6530,GB / T1033采用阿基米德原理的浮力法,采用沸水法,真空饱和法,可直接显示测量结果。[b][url=http://www.f-lab.cn/solid-densimeters/ttdm.html][b]大尺寸材料体积密度计[/b][/url]技术数据[/b]粉末冶金通过几个步骤形成。首先将合金,氧化物,碳化物和润滑剂等金属的混合粉末放入模具中并在高压下形成。成型后,将这些部件放入用于致密化的烧结炉中。然后产品可以经过一些更多的处理后制作。稀释金属粉末颗粒后,粉末冶金被制成复杂的形状成分。这种方法取代了传统的加工方法。因此,烧结材料密度的测量非常重要。材料的最大重量可达3100g。 [table][tr][td=2,1]型号[/td][td]TTDM 1200L[/td][td]TTDM 2000L[/td][td]TTDM 3000L[/td][/tr][tr][td=2,1]可测范围[/td][td]0.01 g〜 1200 g[/td][td]0.01 g〜 2000 g[/td][td]0.01 g〜 3000 g[/td][/tr][tr][td=2,1]密度分辨率[/td][td=3,1]0.001g / cm[sup] 3[/sup][/td][/tr][tr][td=2,1]水箱内部尺寸[/td][td=3,1]22x18x14(厘米)[/td][/tr][tr][td=2,1]密度范围[/td][td=3,1] 1,1都可以进行测试[/td][/tr][tr][td=2,1]设置[/td][td=3,1]设置水温和溶液补偿,防水油密度设定[/td][/tr][tr][td=1,3]功能[/td][td]程序1[/td][td=3,1]可直接显示粉末冶金产品的体积密度,有效孔隙率,湿密度和体积。[/td][/tr][tr][td]程序2[/td][td=3,1]可直接显示烧结含油轴承的含油量,有效孔隙率。[/td][/tr][tr][td]程序3[/td][td=3,1]可直接显示不渗透产品的密度和体积。[/td][/tr][tr][td=2,1]标准接口[/td][td=3,1]RS-232[/td][/tr][/table] [img=大尺寸材料体积密度计]http://www.f-lab.cn/Upload/solid-densimeters-ttdm.jpg[/img][b]更多密度计比重计:[url]http://www.f-lab.cn/densitometers.html[/url][/b]
众所周知,电子回路提供了控制电子输运和储存能力。但是,现在利用电路进行数字信息保真传送时,面临着相当大的限制,而光子学 (Photonics)给出了一个解决难题的有效途径,构筑基于光纤和光子回路的光通信系统,便是一个很好的方案。不幸的是,光子元件的尺寸是微米量级,而电子元件和回路尺寸要小的多(纳米量级),因此,不可能将它们二者集成一体于纳米尺度的芯片中。表面等离子体激元学(plasmonics)的诞生,使基于表面等离子体激元 (Surface Plasmon Polarifons,,SPPs)的元件和回路,具有纳米尺度,从而可能实现光子与电子元器件,在纳米尺度上完美的联姻。本文简单介绍表面等离子体激元学的原理,目前现状,各种应用,例如等离子体激元芯片,新新型光源,纳米尺度光刻蚀术,突破衍射极限的高分辨率成像等,以及面临的挑战和未来前景.
(1)大尺寸远红外高温烘箱(1800×1800×1200mm),最高使用温度500℃,工作温度400℃;(2)制冷机 (-30℃,容积30-50L)
目前,我国对废气处理的重视程度越来越高,越来越多的企业投资于等离子废气处理设备。 等离子废气处理设备工业尾气的放电等离子体处理因其自身的特点受到企业的青睐。 下面介绍了一种等离子体废气处理设备的放电等离子体处理方法。 等离子废气处理设备 等离子废气处理设备的放电等离子体处理方法是通过高压放电获得非热平衡等离子体; 产生大量的由电子产生的O、OH、N基活性粒子,破坏C-H、C-C等化学键,引起置换反应。 尾气分子中H、Cl、F等的作用,然后产生CO_2和H_2,即工业废气经排放处理以后不再对人的健康有害。 等离子废气处理设备是目前处理有害气体的有效方法之一。 世界对协同催化剂和反应器进行了大量的研究工作。 在等离子体中添加催化剂,可以提高污染物的去除效率,大大降低能耗和副产物。 世界上对这种协同催化剂的研究主要集中在金属氧化物和二氧化钛催化体系。 利用等离子体和催化反应的协同作用,提高有机废气的净化率,使能耗降低是成功的。
随着科学技术的不断进步,工业现代化不断朝着自动化、智能化、数字化方向发展,传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等,在尺寸轮廓测量时面临着诸多如“测量对象需要定位或原点定位费时、批量测量操作时间长、不同测量人员导致测量结果不同、数据统计管理繁杂等”一系列的弊端,已经难以满足现代工业生产过程中有关高精度、高效率、高可靠性的测量需求。为满足现代化工业测量需求,中图仪器[b][color=#333333]VX3000系列一键式测量仪[/color][/b]顺势而生![align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/5/201905091406645.png[/img][/align]一键式测量仪相对于传统测量仪器,具有以下显著优势:[b]快速[/b] 可自动跟踪识别产品位置和方向,自动捕捉点、线、圆、弧等元素,支持重新编辑测量程序,自动刷新测量结果。在大视野模式下,多个产品可同时检测,速度极快,能在2秒内完成最多512个尺寸测量及公差评价,一键式测量仪尤其适合产品批量检测。[b]准确[/b] 一键式测量仪配置亚像素工业级相机、双倍率双远心镜头以及高亮度照明系统,使得被测工件成像更清晰,同一产品重复测量精度高。专业测量软件具有影像特征自动判定、寻边,自动对焦、识别边缘部以及影像难点自动过滤等优势,有效消除了人为操作误差,测量结果更准确。[b]简单[/b] 凭借软件自动定位功能,工件可随意放置,一键按下即可完成视野范围内所有元素测量,即使初学者也能轻松上手。测量完成后自动输出尺寸数据及多种样式的评测报告,测量者可在现场实时分析误差值及趋势走向。一键式影像测量,一键闪测,实至名归。[b]多元[/b] 一键式测量仪的大视野镜头搭载可移动工作平台,可多元应用到手机外壳、手机玻璃、光学元器件、电路板、无线充电器模组、五金配件、金属机加件、精密模具、刀具、螺丝、弹簧、齿轮等中小型产品及零部件批量检测。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/11/201811140412801.jpg[/img][/align]
尺寸稳定性测试结果修约0.5%是不是有点大?
请教大牛:谢乐尺寸和透射电镜统计尺寸哪个大?为什么。我统计的电镜尺寸为6nm左右,但是谢乐尺寸为8.5nm左右,8nm左右的粒子,尺寸为11nm左右,请教大牛!!!
求助:GB/T 5330.1—2000 工业用金属筛网和金属丝编织网网孔尺寸与金属丝直径组合选择指南通则 GB/T 10611-2003 工业用网标记方法与网孔尺寸 我想知道国家标准规定的 不锈钢标准筛 各目数和筛孔径以及金属丝直径的关系,谢谢!
问下各位老师在做水洗尺寸稳定性碰到面料特别皱的通常是怎么处理的呢?委托的样整个就是皱的,调湿也不能达到平整的程度,碰到这样的样品是直接拒了还是在重新收样呢?如果就没有样了那碰到这样还给做吗?还是说用什么办法给压平了。另补充问个问题你们在做标记的时候通常用的什么笔啊,我们目前用的黄油笔非常难画,用的压板厚孔小黄油笔笔尖粗没法画你们有没有用到好点的笔啊,洗不掉?有推荐的吗?对于做水洗尺寸稳定性我有个疑问,尺寸难道和标准洗涤剂有关系,为什么标准要求加洗涤剂是因为常规操作如此所以加么?你们是否有做过不加和加的对比,我感觉好像不影响,不知道是不是不确定因素之一,就是好奇问一嘴,不知道有没有和我一样疑惑的人。
摘要:航天器用各种大尺寸构件都普遍要求超低膨胀系数以保证构件尺寸的稳定性,传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量,需要精确测量整个构件的超低热膨胀系数。本文对国内在大尺寸构件热膨胀系数整体测量方面的研究工作进行了综述,以了解国内目前的发展状况,给今后开展此方面工作提供参考和借鉴。1. 前言 在太空运行的各种航天器,由于没有大气层的保护,其环境温度变化很大,受阳面温度可高达上百摄氏度,而被阳面温度却在零下几十摄氏度。因此,航天器在空间环境中,由于材料的热膨胀,会引起航天器结构的尺寸变化。但是从航天器的某些部件和仪器的技术要求考虑,希望航天器的某些结构的稳定性要好,这一点对通讯卫星天线结构及敏感元件、太空望远镜的镜筒支架等的使用和安装尤为重要。尤其是卫星和望远镜桁架结构更要求其在一定的环境温度变化范围内不因热应力产生变形或者变形极小,即所谓零膨胀。传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量。为适应航天器制造的要求,特别是对于以m为长度单位的E-08/K量级材料热膨胀系数需要更加准确的测试。因此,研究航天器用复合材料工程构件的超低膨胀测试方法和相应的测试设备,具有重要的科学意义和实用价值。 本文将介绍国内在工程构件级热膨胀系数测试方法和测试设备方面所开展的工作。2. 光纤位移传感器测试方法(1) 针对卫星用低膨胀纤维增强复合材料杆件,上海复合材料科技有限公司与国防科技大学合作开展相应的热膨胀系数测试系统研究,具体的测试要求为: (1)测试件是碳纤维复合材料杆件,杆件形状为圆杆或矩形杆。长度尺寸1m,圆杆直径φ10~80mm,壁厚为2mm左右。矩形杆的截面不超过100mm×100mm,壁厚2mm左右。 (2)能测量在温度范围-70~+100℃的轴向伸缩量,并测量相应温度,从而得出工程试件的热膨胀曲线。测量误差不大于±3%。 (3)试验箱能按要求的程序升温,升温程序可调,并能实时控制。对设定点的温度控制精度优于±1℃,测量精度优于0.5℃。试件周边温度的均匀性优于±2℃。 上海复合材料科技有限公司研制的这套热膨胀测试系统主要由温度控制系统、机械系统、数据采集系统、计算机控制与分析系统四大部分构成。 (1)温度控制系统:采用高低温试验箱,满足温度范围和温度控制要求。 (2)机械系统:包括测试系统的基座、测试基准、试件支架。 (3)数据采集系统:包括光纤位移传感器。 (4)计算机控制与分析系统:主要用于控制整个测试过程,实现测试数据的自动采集、分析、存储与测试结果的显示。 位移采集采用MTI2000光纤位移传感器,其特点是非接触式,最大量程2mm,分辨率为0.25um。MTI2000光纤位移传感器包含一组发射光光纤和一组接收光光纤,如图 2 1所示,发射光光纤和接受光光纤以三种不同方式排列(不规则、半圆心及同心圆形状),卤钨灯提供光源,光传输到光纤中,光纤探头发出的光照射在被测物上,被测物反射回来的光进入接受光光纤并传入到MTI-2000中。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614789_3384_3.png图 2-1 光纤分布示意图 如图 2-2所示,当光纤与被测物接触时,没有光能传输给接收光光纤,输出信号为“零”。随着探头与被测物之间距离的增加,接收光纤接收的光也增加,并且增加的光和距离之间非常敏感,与信号输出也呈很好的线性。随着距离的继续增加,接收光光纤接收到的光达到峰值,如果探头和被测物之间的距离继续增加,接收到的光将会持续减少,结果是具有第二个很灵敏且具有大量程和标准距离的测量范围。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614790_3384_3.png图 2-2 MTI2000光纤位移传感器输出信号与位移的变化关系 整个测量系统的测量基准利用低膨胀系数材料殷钢制作,测量基准包括殷钢连杆、传感器微调台和殷钢传感器夹具。测量基准至于试验箱外,因醋不受试验箱内温度变化影响,而且整个测量基准能够控制在0.5um/m℃以下。 被测件通过试件支架安装在试验箱内,试件支架包括殷钢V形架、低导率材料升降杆和剪式升降台,被测件水平置于V形架内,由V形架自动定心,从而保证被测件轴心与两个传感器侧头平行。被测件支架通过剪式升降台固定在大理石基础件上,不与试验箱体接触。 剪式升降台能够调整被测件在试验箱内高度,从而保证能够测量不同直径的被测件的热膨胀系数。在温度快速变化的情况下保证箱体和支架对称变形,同时减小支架的质量,以减小其热容,防止测量时受到支架变形影响而产生的缓慢漂移。 文献中并未报道此测试系统的结构,但根据分析可以大概此测试系统为双端面测试结构,即将两路光纤位移传感器对准被测件的两个端面,同时测量两个端面的位移,最终得到整个测试件的热膨胀长度变化。整个测试系统的结构如图2-3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614791_3384_3.png图 2-3 低膨胀纤维增强复合材料杆件热膨胀系数测试系统结构示意图 从文献报道分析这套大尺寸构件热膨胀系数测试系统技术指标和测试结果,可以得出以下初步的结论: (1)位移传感器分辨率为0.25um,那么测量准确度基本也就在1um左右,这个测量准确度基本与千分表相同,所能测试的热膨胀系数最小也就在1E-06/K左右,还无法测试-7量级甚至-8量级的零膨胀系数材料。而目前的2m长构件热膨胀系数可以达到5E-08/K水平,由此可见采用这种测试方法无法满足目前零膨胀构件的测试需求。 (2)采用光纤式位移传感器所进行的位移测量,是一种相对测试方法,实际测量精度还需要采用更高级别仪器进行计量标定才能保证热膨胀系数测量准确性。 (3)采用已知热膨胀系数的铝材Ly12CZ(淬火状态)制成的测试件进行测量精度考核,测试件直径为φ20mm,常温下长度1m,壁厚为2.5的管型材。在-50?20℃测试温度范围内,测定的平均热膨胀系数为19.9E-6/K,20~100℃测试温度范围内,测定的平均热膨胀系数为21.4E-6/K。文中得出的结论是对于这种E-06/K量级的热膨胀系数测试偏差在7%以内。由此试验证明这套大尺寸只能测试E-06/K量级的热膨胀系数。 (4)文中报道了对直径?20mm、壁厚2mm、长度为1m的碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试结果,测试温度范围为10~30℃。测试结果显示热膨胀长度变化量为-17.47um,线膨胀系数为-0.87E-06/K。文中仅报道了两次重复性测量,两次重复行测量重复精度为1.3%。由此可见这种碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数很大,距离所需要的零膨胀系数差距很大。 (5)从文中报道可以看出,整个测试是以殷钢基座为基准,理论上这个测量基准能够控制在0.5um/m℃以下。但考虑到伸入试验箱内光纤长度的变化,以及并未采用同侧差分测量抵消光纤长度的技术手段,很大可能会出现碳纤维复合材料圆杆实际热膨胀系数很小,但此套装置并不能准确测试,测试结果反而是此装置的系统误差,即碳纤维复合材料圆杆很小的热膨胀以及完全淹没在测试系统误差内。 (6)尽管文中报道的碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试结果在-0.87E-06/K左右,这表现出碳纤维复合材料圆杆生产工艺还未能实现整体圆杆的零膨胀,更表现出测试方法自身精度完全无法达到零膨胀测试需要,但这是目前国内对大尺寸管件低膨胀测试的首次尝试,尽管不成功但意义非常重大。从对1m长的圆杆测试结果可以看出,在10?30℃温度范围内,圆杆收缩了17.47um。那么如果采用取样方式进行热膨胀测试,取样尺寸如果为100mm,那么100mm小试样的受热收缩也仅仅为1.7um左右。对于这种不到2um的热膨胀,采用目前常规的热膨胀仪器都无法进行测量。文中所报道的1m长碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试恰恰证明了低膨胀构件整体热膨胀系数测试的必要性,这点在超低热膨胀系数构件中显得更为突出。[color=#ff000
有人知道E1010离子溅射仪器上用的金靶的尺寸是多少吗?多谢了!
想知道工业用的键盘托架的尺寸是多少?我买了一个爱国者的小键盘,30*15.6*2cm的,不知道能不能放得下。
請教各位大哥,CCD連接計算機的圖像尺寸計算,放大倍數有沒有什麽公式啊?具體要怎麼計算尺寸呢?
之前的工程师跑了,刚从零接受衍射工作一年多,公司新买了一台布鲁克D8衍射仪,一台十几年前买的D8衍射仪也还能用,但我在用新衍射仪测钴酸锂的晶粒尺寸时,用jade5.0修峰得到的晶粒尺寸数值与用旧仪器测试得到的晶粒尺寸数值差别很大(用jade5.0得到的是晶粒尺寸平均值),并且新仪器测得的样品平行结果也很不稳定。有问题请教:我在使用jade5.0测锂离子正极材料时得到晶粒尺寸Xs,但其为各个峰的平均值,请问这个数值能准吗?都说晶粒尺寸Xs在100nm以上就误差很大了,但公司还一直沿用着测试这个数值,用旧的D8衍射仪每次得到的数值都有2000A,这值有什么可信度吗?
请问,LED芯片样品尺寸为350um*350um厚度为100um,电极面积50um*50um,像这样规格的芯片能否用SEM扫描?扫描前是否需要把电极去除?芯片还需要做些处理工作?有人做过类似的测试吗,请指点一下。非常感谢!
请帮助讨论直读光谱仪激发孔径的尺寸问题?
恒温恒湿试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温、湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验,是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备,特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、耐湿热循环试验。[align=center][img=瑞凯恒温恒湿试验箱,500,258]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708291107_01_3254213_3.jpg[/img][/align]选择一款合适的恒温恒湿试验箱规格尺寸,对于以后的试验来说,将起到事半功倍的效果。首先是恒温恒湿试验箱容积的选择,选购者可将被试产品(元器件、组件、部件或整机)置入气候环境箱进行试验时,为了保证被试产品周围气氛能满足试验规范所规定的环境条件,气候箱工作空间尺寸与被试产品外廓尺寸之间应遵循以下几点规定:1、 被试产品的体积(W×D×H)不得超过试验箱有效工作空间的(20-35)(推荐选用20)。对于在试验中发热的产品推荐选用不大于30;2、被试产品的迎风断面积与该断面上试验箱工作腔总面积之比不大于(35-50)(推荐选用35); 3、被试产品外廓表面距试验箱壁的距离至少应保持100-150mm,(推荐选用150mm)。 瑞凯仪器小编建议购买者购买实验箱时,请多咨询生产商。像瑞凯仪器这样的厂家会为您量身定做一个适合您的产品!我们有完善的售后服务保障!
[b]与[/b][color=red]微波等离子体[/color][b]相关的历史事件[/b] 2001年周健等开展了微波等离子体化学[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]沉积金刚石膜研究阁。 2000年,陈栋梁、李庆等人进行了甲烷和氮气在低压微波等离子体下的转化研究,其生成的主要产物是HCN和乙炔,以及少量的含氰化合物,更高级的烃类以及氨或胺类没有检测到[1996年,海光与吉林大学金钦汉教授联合申报“微波等离子体炬发射光谱仪”获得成功。从1983年以来,加茂睦和和瀚高信雄等人’-用微波等离子体 CVD法在更温和的条件下合成了几毫米厚的微晶金刚石薄膜。 1983年日本的加茂睦和等人采用氢气和甲烷气体,用微波等离子体在硅片和石英片上沉积出金刚石膜”留校一直参加微波及电子线路方面的教学和科研工作,1982年以后开始从事微波等离子体方面的研究和有关设备的研制工作,作为主要完成人的“微波等离子体源及沉积设备”于1988年获电子工业部科技进步一等奖,微波等离子体CVD设备”于1992年获国家科技进步三等奖,1992年开始参与太阳能利用方面的工作。从1979年起,科研方向转变到更广泛的领域,提出“广义微波”的概念,即波长与器件尺寸可以相比拟或略小于器件尺寸的波动现象,其理论基础都是微波理论的发展,从而确定了微波声学、导波光学、静磁波及微波等离子体微细加工等方面属于“广义微波”研究课题。1976年,Beenakker研制成功了一种可以得到常压氦微波等离子体的微波谐振腔,情况才开始有所改善。1975年Mosian等发明了一种表面波器件 1976年Beenakker提出了Tmoio谐振腔并获得了常压氦微波等离子体。因此有人于1965年提出了[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]和微波等离子体发射光谱联用的方法(以下简称色-光法)经过几年的发展于1973年已基本上仪器化。 自1965年Mccoroark提出微波等离子体应用与检测器达到阻抗匹配。金刚石具有高热导率、优异的耐磨性和低的摩擦因数、介电性好等优异的性能’自从1962年采用化学[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]沉积法(CVD)合成金刚石至今,已发展了许许多多合成金刚石膜的方法,如直流电弧等离子体喷射法、微波等离子体法。1960年代以后,微波等离子体也用于合成化学。[color=blue]来源:中国知网[/color]
一般而言,老粗布做的床品都会由于缩水较大呈现水洗尺寸不合格的现象,您怎么看?
给朋友买的红外上用的窗片快递过来发现把尺寸给弄错了,本来要30*5mm的,买成32*3mm了,一共10片,本来一两片就算了,可惜我的银子啊,老板那里也不好交差,不知道有没有人要?
用jade处理衍射数据,在看一个峰对应的晶粒尺寸的时候,凡是超过1000A的都打了问号,说明不能知道其具体数值。而理论书上又说谢乐公式在晶粒尺寸超过100纳米时就不准确了,那我究竟怎样才能知道一个峰对应的晶粒尺寸的大小?http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/emyc1010.gif
关于CY-2 C仪表尺寸问题CY-2C是氧化锆氧气含量分析仪仪表组成之一,采用壁挂式的二次仪表,尺寸有盘装的CY-2DA(160×80×250),但是CY-2C智能型氧化锆氧气含量分析仪的尺寸是壁挂式智能表(325×250×110),这是二次仪表的尺寸。CY-2C通常与传感器IS-G配套使用,通常情况下,加热到700度左右,CY-2C就能显示出氧气浓度,从而达到控制燃烧物的情况,这款产品深受工况企业的欢迎,属于节能环保产品。现在广大的锅炉行业纷纷的配套使用这款产品,来达到节能降耗的目的,同时也能为社会环保业做贡献。
每次都对这个问题很疑惑,望各位老师指点一下:通常所说颗粒尺寸与单晶尺寸的区别。谢谢。
服装尺寸稳定性测试和水洗尺寸变化率检测是不是一个概念?是一个项目吗?
请教,表面镀锌\镀铬\发黑(发蓝)对零件尺寸的影响?
激光粒度仪对样品窗的尺寸有什么要求吗?
摘要:航天器用各种大尺寸构件都普遍要求超低膨胀系数以保证构件尺寸的稳定性,传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量,需要精确测量整个构件的超低热膨胀系数。本文对国外在大尺寸构件热膨胀系数整体测量方面的研究工作进行了综述,以了解国外技术的发展状况,给今后开展此方面工作提供参考和借鉴。1. 前言 在太空运行的各种航天器,由于没有大气层的保护,其环境温度变化很大,受阳面温度可高达上百摄氏度,而被阳面温度却在零下几十摄氏度。因此,航天器在空间环境中,由于材料的热膨胀,会引起航天器结构的尺寸变化。但是从航天器的某些部件和仪器的技术要求考虑,希望航天器的某些结构的稳定性要好,这一点对通讯卫星天线结构及敏感元件、太空望远镜的镜筒支架等的使用和安装尤为重要。尤其是卫星和望远镜桁架结构更要求其在一定的环境温度变化范围内不因热应力产生变形或者变形极小,即所谓零膨胀。 传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量。为适应航天器制造的要求,特别是对于以m为长度单位的E-08/K量级材料热膨胀系数需要更加准确的测试。因此,研究航天器用复合材料工程构件的超低膨胀测试方法和相应的测试设备,具有重要的科学意义和实用价值。 本文将介绍国外在工程构件级热膨胀系数测试方法和测试设备方面所开展的工作。2. 波音公司激光扫描干涉仪在大尺寸桁架热变形测试中的应用 美国波音公司的Bond等人在1971年首次报道了多通道激光干涉仪监测大直径天线在空间模拟腔体内的热应变动态行为和大尺寸桁架热膨胀系数的测试,经过将近20年的研究并经历了三代技术的迭代,在1990年研发出扫描式激光干涉仪并在工程中得到应用。有关波音公司在多通道激光干涉仪技术上的发展进程参见文献,这里不再进行详细介绍,本文主要概述波音公司扫描式激光干涉仪在大尺寸构件热膨胀系数测试中的应用。 美国波音公司多通道激光干涉仪技术经历了三代技术发展,尽管可以实现多通道的测试,但每个通道都需要独立的光路和相应光学器件,特别在多通道同时测试时会存在众多光束和配置众多器件,这种光路和器件上的复杂性给实际工程实现带来很大困难。为此,Bond等人又开发了一种扫描式激光干涉仪并获得了专利。 扫描式激光干涉仪在理想情况下,扫描干涉仪应包含连续激光源、将激光分离为参考光和信号光的分光器以及由信号控制的信号光偏光器。所产生的控制信号致使大多数偏转信号光具有连续性,从而使得每一束偏转的信号光都指向相应的测量位置。在每个测量位置处将会对入射的偏转后的信号光进行反射从而形成反射信号光。每一束反射后的信号光与参考光重合产生干涉条纹,光电探测器读取干涉条纹形成相应的条纹信号,信号处理装置对每一束偏转信号光的条纹信号进行周期性测量,最终得出每个测量位置上位移。 一般情况下,每束反射光将会产生9条反射后的信号光束,其中包含了相应测量位置点的位置和取向信息。混合光则将每一束反射后信号光与参考光进行混合并产生一个干涉条纹图案,探测装置包含了9个光电探测器来测量相应干涉图案中相应点的辐照度并产生相应的条纹信号,信号处理器则会周期性的测量每个条纹信号的相移,从而得到测量位置处的位移变化量。如果进一步的发展,干涉仪可以设法在相应的第一和第二频率处对信号光和参考光进行调制,信号处理后所得到的参考信号的频率等于第一和第二频率之差。 这种扫描式激光干涉仪的光路俯视图如图 2-1所示,这种扫描式激光干涉仪的光路设计可以用来对放置在密闭环境12中试件10的热变形进行测量,特别是这种干涉仪测试光路设计还适合用于测量试件10上21-24位置处的相对位移,由此可见这种干涉仪可以很方便的扩展用于测量10个以上位置的相对位移。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610311050_615393_0_3.png图 2-1 波音公司激光扫描干涉仪光路结构示意图 激光器30发出一连续激光束32,激光束32穿过旋转偏振器34形成新的光束36,光束36穿过偏振光分光器38被分割为参考光束40和信号光束42。采用旋转偏振器34的目的是实现参考光和信号光相对光强的调整而不用对光学器件进行重新准直。参考光束40经过声光调制器(AOM)50形成调制后的参考光束52,参考光束52经过一系列反射镜54-56照射到声光偏转器(AOD)90。 同时,信号光束42经过声光调制器(AOM)60形成调制后的信号光束62,信号光束62穿过中继透镜照射到半波片66,半波片66改变信号光束62为水平偏振光以匹配参考光束的偏振方向。改变为水平偏振方向的信号光62经过中继反射镜68和70进入过滤/合成器80。过滤/合成器80包含一个作为空间过滤器或光束清洁器使得信号光空间连续性更好作用的椭圆微型反射镜。经过空间过滤后的信号光62经微型反射镜反射后通过透镜84和反射镜86照射到声光偏转器(AOD)90。 声光偏转器(AOD)90经信号控制将信号光62在水平面内偏转成四束信号光束91-94,同时声光偏转器(AOD)90还将参考光52偏转为四束参考光96-99。虽然偏转后的参考光束与偏转后的信号光都偏转了相同角度,但由于反射镜56略微处于反射镜86上方使得偏转后的信号光与参考光并未重叠,如图 2-2所示,因此偏转后的参考光束96-99全部照射在球面反射镜100上并全部按照原光路全部返回AOD 90中。AOD 90将这些反射回的参考光全部转换为一单数参考光72。球面镜100的取向确定需要使得反射回的参考光72位置略微高于经反射镜56反射的入射过来的参考光52。参考光72经过中继反射镜74和76的反射进入并透过透镜组78进入滤波/合成器80。在这种光路安排中,参考光两次通过AOD 90以便补偿信号光在AOD中的频率漂移。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610311050_615394_0_3.png图 2-2 声光偏转器光路示意图 偏转的信号光束91-94经过球面反射镜100上方照射到中继反射镜111-114上,通过这些中继反射镜,偏转后的信号光束91-94分别依次指向试件10上的21-24位置所对应的测量结构件121-124。偏转后的信号光束91经反射镜111、反射镜130、透镜组132、反射镜134和反射镜136照射到测量结构件121处。采用同样方式,偏转后的信号光束92经过反射镜112、反射镜138、透镜组140和反射镜142照射到测量结构件122处。偏转后的信号光束93经过反射镜113、透镜组144、反射镜146和反射镜148照射到测量结构件123处。最终,偏转后的信号光束94经过反射镜114、透镜组150、反射镜152和反射镜154照射到测试结构件124处。这样每个测量结构件中121-124处都会接收到一束偏转后的信号光,由此共产生9束偏转后的信号光,这9束信号光将按照原光路返回到AOD 90中。这9束由测量结构件121-124产生的偏转后的信号光分别被指定编号为101-104。AOD 90将产生9束偏转后信号光束经反射镜86反射后形成一组信号光116并通过透镜组84进入滤波/合成器80,并在滤波/合成器80中的微型反射镜上形成9束信号光束的衍射图案,此衍射图案要原大于微型反射镜,由此微型反射镜使得偏转信号光的光学损失较低。滤波/合成器80通过透镜组84接收了9束偏转后的信号光束,滤波/合成器80将每束偏转后的信号光与通过透镜组78接收到反射后的参考光束72进行汇合,每束汇合后的信号和参考光束入射到9只光电探测器阵列118中的一只光电探测器上。每束信号和参考光的汇合都会产生一个干涉图案,相应的光电探测器测量干涉图案中辐照度得到相应的条纹电子信号。如果参考光和信号光的光程发生变化,则会引起干涉图案位置偏移,从而产生随时间变化的条纹电子信号,由此可以检测试件10的位移变化。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610311050_615395_0_3.png图 2-3 测量结构件结构示意图 测量结构件如123的结构如图 2-3所示,主要包括准直器160、参考结构162和测试板164。准直器160和参考结构162
请问“全自动X射线衍射仪D/max2400(D/max 2400)”测试后的结果存为TXT文件后,还能转存为仪器自带软件能处理的文件格式吗?(测试部的老师说是一个特殊的格式文件) 比如我的文件是TXT格式的(在该仪器上转存的),Gauss算法和Cauchy算法求晶粒尺寸的程序,能处理这样的文件吗?或者怎样才能转化成能处理的文件形式阿?急急急!请不吝指教[em09]
初次接触xrd,扫描一批样品后获得多个图谱,并分别应用谢乐公式计算得到平均晶粒尺寸,如25±0.9、21±0.6等,对于这样的数据(平均数±标准差)大小进行阐述,看到文献里直接给出前者大于后者的结论……能否进行统计学分析,获得二者比较的t值或者p值?请问选择什么统计学方法?