显微大相位差双折射应力仪

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显微大相位差双折射应力仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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  • 400-860-5168转3086
    欧屹科技,是一家以光电产品为核心业务的专业代理商和服务商,以我们多年的行业经验,为客户引进国外先进的光电器件,光电仪器,光电系统等优良设备,并提供专业的技术支持和售后服务!例如:光学检测设备有日本Photonic lattice的应力双折射仪、椭偏仪、偏振相机等;日本Lasertec的激光加白光的双光共聚焦显微镜;日本ARMS的无掩膜光机。半导体相关设备有NDS6寸和12寸自动划片机、冈本研磨机等等。业务范围涵盖国内各著名高校、中国科学院、信息产业部、航空工业总公司所属各研究单位及相关领域内的大型公司。我们具有丰富国际贸易经验;我们努力协调各方面的行动,力争让用户在最短的时间内收到仪器;我们以全体用户的利益为重,尽最大努力把欧屹科技建设成为值得您信赖的公司。
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  • 北京飞凯曼科技有限公司为多家国内外高科技仪器厂家在中国地区代理商。飞凯曼科技公司一贯秉承『诚信』、『品质』、『服务』、『创新』的企业文化,为广大中国用户提供最先进的仪器、设备,最周到的技术、服务和完美的整体解决方案。在科技日新月异、国力飞速发展的中国,光电技术、材料科学、光电子科学与技术、半导体等等领域,都需要与欧美发达国家完全接轨的仪器设备平台来实现。飞凯曼科技公司有幸成长在这个科技创造未来的年代,我们愿意化为一座桥梁,见证中国科技水平的提升,与中国科技共同飞速成长。主要产品: 1.飞秒激光元件飞秒激光反射镜、飞秒激光透视镜、飞秒激光棱镜、飞秒偏振光学器件、飞秒非线性激光晶体2.非线性光学和激光晶体BBO晶体, LBO晶体, KTP晶体, KDP晶体, DKDP晶体, LiIO3晶体, LiNbO3晶体, MgO:LiNbO3晶体, AGS晶体 (AgGaS2晶体), AGSe晶体 (AgGaSe2晶体), ZGP (ZnGeP2) 晶体, GaSe晶体, CdSe晶体等。Nd:YAG晶体, Nd:YVO4晶体, Nd:KGW晶体, Nd:YLF晶体, Yb:KGW晶体, Yb:KYW晶体, Yb:YAG晶体, Ti:Sapphire晶体, Dy3+:PbGa2S4晶体等晶体恒温炉、晶体温控炉等3.普克尔斯盒及驱动KTP普克尔斯盒、DKDP普克尔斯盒、BBO普克尔斯盒、高重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、低重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、普克尔斯盒支架等4. Nd:YAG激光器元件Nd:YAG激光反射镜、Nd:YAG激光棱镜、Nd:YAG激光窗口、Nd:YAG激光偏振片、Nd:YAG激光晶体等5.激光器和激光器模块连续半导体激光器、连续DPSS激光器、调Q DPSS激光器、超快光纤激光器等6.光学元器件光学材料、光学镀膜、介质镜、金属镜、激光器窗口、棱镜、光学滤光片、光学柱面镜、偏振镜、紫外和红外光学元件7.光学整形系统高斯光转平顶光光束整形系统、扩束镜、F-Theta镜(聚焦镜)、望远镜、可调激光衰减器、可变光圈、精密空间滤光片、束流捕捉器8.光学精密位移机构防震桌、光学支架、光学导轨、固定座、光学固定、光学定位、传输和定位台、自动定位和控制器等9.半导体激光器高功率半导体激光器、波长稳定的半导体激光器、单频半导体激光器、光纤耦合半导体激光器、光纤激光器、波长可调谐单频激光器10.铒玻璃掺铒磷酸盐激光玻璃、铒玻璃、铒镱共掺激光玻璃、1550nm激光器、人眼安全激光器11. DPSSL激光谐振腔设计软件和数据库12. F-P扫描干涉仪13.应力测试仪日本UNIOPT公司应力双折射测量系统、光弹性模量测试系统、应力测试系统、磁光克尔效应(MOKE)测试仪、薄膜残余应力测试仪。应力双折射测试仪、应力测试仪、应力分析仪、偏振相机14.精密划片机日本APCO公司手动精密划片机、自动精密划片机。日本NDS公司半自动自动划片机、贴膜机、UV解胶机、清洗机、晶圆划片(切割)刀、电畴划片刀、陶瓷划片刀、金属烧结划片刀、树脂划片刀等15.材料表征仪器霍尔效应测试仪、变温霍尔效应测试仪、低温霍尔效应测试仪、塞贝克效应测试仪、低温探针台、变温探针台、椭偏仪联系电话:010-57034898,15313084898 邮箱地址:info@pcm-bj.com
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显微大相位差双折射应力仪相关的仪器

  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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  • PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介:应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro:型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜:1.1x0.8mm 10倍物镜:0.5x0.4mm;20倍物镜:270x200um 50倍物镜:110x80um 100倍物镜:55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网(摄像机信号)电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View(for Micro)
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  • 双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述:日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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显微大相位差双折射应力仪相关的资讯

  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射仪 PA-300-MT新品
    主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域:小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数: 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm(标准)7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射仪 PA-300-MT
  • Photonic Lattice发布PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage 新品
    KAMAKIRI -X stage 主要特点:STS的低配版,可升级STS 。 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。应用领域:相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)树脂成型玻璃 技术参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】2测量波长543nm(支持客制化)3双折射测量范围0-260nm(支持客制化)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm(西格玛)6测量尺寸A4(标准)7定制选项可定制大载台创新点:欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage

显微大相位差双折射应力仪相关的方案

显微大相位差双折射应力仪相关的资料

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  • 相位差显微镜

    相位差显微镜  相位差显微镜的结构: 相位差显微镜,是应用相位差法的显微镜。因此,比通常的显微镜要增加下列附件:   (1) 装有相位板(相位环形板)的物镜,相位差物镜。   (2) 附有相位环(环形缝板)的聚光镜,相位差聚光镜。   (3) 单色滤光镜-(绿)。   各种元件的性能说明   (1) 相位板使直接光的相位移动 90°,并且吸收减弱光的强度,在物镜后焦平面的适当位置装置相位板,相位板必须确保亮度,为使衍射光的影响少一些,相位板做成环形状。   (2) 相位环(环状光圈)是根据每种物镜的倍率,而有大小不同,可用转盘器更换。   (3) 单色滤光镜系用中心波长546nm(毫微米)的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。相位板用特定的波长,移动90°看直接光的相位。当需要特定波长时,必须选择适当的滤光镜,滤光镜插入后对比度就提高。此外,相位环形缝的中心,必须调整到正确方位后方能操作,对中望远镜就是起这个作用部件。

显微大相位差双折射应力仪相关的耗材

  • 半波片
    半波片和二分之一波片是进口的石英波片,我们提供的种类齐全的石英波片和零级波片,涵盖了紫外,可见,近红外和红外(240-9000nm)的波长范围。半波片是由具有双折射效应的材料制成。E光和o光穿过双折射材料时,其速度与材料对其的折射率大小成反比。这种速度的差别就导致相位差别的产生。因此,这种石英波片被称为相位延迟片,相位差别由波片的厚度决定.我们提供半波片和二分之一波片。半波片是大家的首选,因为它受波长、温度和入射角的变化影响不大。根据不同的应用,我们提供中间空气间隔的波片,这种半波片或四分之一波片的抗损伤阈值达500MW/cm2, 比较适合高功率激光应用。● 半波片采用优质激光级石英晶体材料制造● 零级波片可以设计空气间隔的零级波片● 二分之一波片可以选择双波长波片所有半波片都增透镀膜并配有外壳二分之一波片标准参数:半波片材料:晶体石英二分之一波片镀膜:R 半波片表面质量: 20/10 scr/dig二分之一波片延迟公差:L/500@ 20 deg C半波片低阶波片延迟误差:L/300@ 20 deg C二分之一波片波前畸变:L/10, wedge 3 arcsec半波片激光损伤阈值: 500 MW/cm2, or 5 J/cm2
  • 低双折射旋转光纤
    低双折射旋转光纤LB650 | LB1060 | LB1300 | LB1300RC | PME1300-10Spun fiber:Rotating glass preform during fiber drawing process produces a waveguide with unique properties: all fiber non-uniformities are averaged along all possible directions, effectively cancelling out total fiber birefringence. With total (but not local) birefringence close to zero, we obtain a fiber that will hold circular polarization (even when bent or twisted). Unlike conventional PM fibers that can hold only linearly polarized light, or annealed fiber that requires special handling, this low-birefringence fiber preserves both linear and circular polarization and can relay it with minimum error over large distances. Highly-birefringent preforms with incorporated stress produce spun fibers that can withstand significant bending and twisting and hold polarization over large number of coils with reasonable accuracy (without costly annealing process). Polarization accuracy in this case depends on local (instant) birefringence that introduces a small constant error, independent of fiber length. Elliptical core fiber Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Elliptical core fiber:Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Features:- High extinction ratio- Reduced coupling loss- Low temperature dependenceApplications- Fiber-optic gyros- Optical current sensors- Fiber amplifiers需要咨询更多的服务请与我们的市场人员联系。
  • Altechna 低阶双波长波片
    低阶双波长波片材质Crystalline Quartz通光孔径 18 mm直径公差+0/-0.2 mm厚度公差±0.2 mm表面质量20/10 S/D透射波前畸变(TWD)延迟公差λ/300 @ 20 °C平行度误差涂层AR(R波片由具有双折射的材料制成。通过双折射材料的异常和普通光线的速度与其折射率成反比。当两个光束重新组合时,速度的差异会引起相位差。在任何特定波长处,相位差由缓速器 - 波片的厚度决定。双波长低阶波片由高质量的晶体石英制成,可提供四分之一波,半波和全波延迟。其中一个可能的例子是波长板,它被设计用于800 nm和400 nm的双波长设置。它在800nm处作为λ/ 2板,在400nm处作为λ板。这意味着波片旋转45°,在800nm处引起90°的电矢量旋转,并且在400nm处不改变极化状态。另一种可能的配置是在800nm的λ/ 2板和在400nm的λ/ 4板。在这种情况下,波片将800纳米处的电矢量旋转90°,并在400纳米处提供圆偏振。这些只是两种可能的配置之一。所有波片都安装在?25.4毫米黑色阳极氧化铝环中,并具有18毫米的通光孔径。1)控制双波长光源的偏振Altechna在标准,定制或客户提供的光学器件上提供各种高性能光学镀膜。我们的涂料覆盖从深紫外(193纳米)到远红外(25微米)的波长范围,涂层的zui大部分是在波长范围内zui常见的266纳米到2微米的激光和照明光源。我们根据个人要求提供一套标准和定制涂料:?防反射涂层?高反射涂层?分束器涂层?部分反射涂层?偏光片涂层?过滤涂料?超快GDD补偿涂层?Gires-Tournois干涉镜(GTI)?可变反射镜?金属涂层在Altechna,我们的目标是以zui高的标准为不断增长的光子市场提供高损伤阈值,高质量涂层。每个涂层都是特殊的,多年来在光电领域,我们了解到灵活性是满足客户高要求的关键,因此我们的涂层采用不同的技术,分别选择不同的涂层。这里是我们在Altechna提供的涂层技术列表:?电子束蒸发?离子辅助沉积?离子束溅射?磁控溅射每种技术都是不同的,并根据光谱灵敏度,损伤阈值,硬度,表面质量等的要求使用。电子束蒸发离子辅助沉积离子束溅射磁控管溅射沉积速率10 ?/sec~10 ?/sec~3 ?/sec1-6 ?/sec每次涂布面积3000 cm23000 cm2500 cm22000 cm2导热系数LowMediumHighHigh涂层温度范围200 - 300°C20 - 100°C20 - 150°C20-100°C层数1-50~50200Up to 200密度和孔隙度PorousDenseNear bulkNear bulk粘连/耐久性LowGoodExcellentExcellent湿度敏感性YesYes, smallNoNo老化影响YesYes, smallNoNo内在应力~ 100MPaFew 100MPaFew 100 MPa通光孔径, mm延迟和波长产品编号 18λ/4 @ 1030 nm + λ/2 @ 515 nm2-LODW-L4-1030-L2-515 18λ @ 1064 nm + λ/2 @ 532 nm2-LODW-L-1064-L2-532 18λ/2 @ 1064 nm + λ @ 532 nm2-LODW-L2-1064-L-532 18λ/2 @ 1064 nm + λ/4 @ 532 nm2-LODW-L2-1064-L4-532 18λ/4 @ 1064 nm + λ/2 @532 nm2-LODW-L4-1064-L2-532 18λ @ 355 nm + λ/2 @ 1064 nm2-LODW-L-355-L2-1064 18λ/2 @ 355 nm + λ @ 1064 nm2-LODW-L2-355-L-1064 18λ/2 @ 355 nm + λ/4 @ 1064 nm2-LODW-L2-355-L4-1064 18λ/4 @ 355 nm + λ/2 @ 1064 nm2-LODW-L4-355-L2-1064 18λ/2 @ 1030 nm + λ/2 @ 515 nm2-LODW-L2-1030-L2-515 18λ/2 @ 800 nm + λ @ 400 nm2-LODW-L2-800-L-400 18λ @ 1030 nm + λ/2 @ 515 nm2-LODW-L-1030-L2-515 18λ @ 800 nm + λ/2 @ 400 nm2-LODW-L-800-L2-400 18λ @ 355 nm + λ/2 @ 532 nm2-LODW-L-355-L/2-532 18λ/2 @ 800 nm + λ/4 @ 400 nm2-LODW-L2-800-L4-400 18λ/4 @ 800 nm + λ/2 @ 400 nm2-LODW-L4-800-L2-400 18λ/2 @ 1030 nm + λ @ 515 nm2-LODW-L2-1030-L-515 18λ/2 @ 1030 nm + λ/4 @ 515 nm2-LODW-L2-1030-L4-515定制你可以根据您的需求定制这个产品。如果您没有找到适合您的应用,请与我们联系,以便定制解决方案。
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