板芯片温度冲击专用测试机

标记试剂盒-DNA芯片AminoAllyl Labeling kit已经优化，可使用1至2微克的mRNA作为起始材料，可以生成200至500毫微克的染料标记的cDNA。标记试剂盒支持所有基质和芯片表面化学作用，并提供染料大量有效地掺入。协议简单，AminoAllyl Labeling kit试剂盒是现成使用的，不需要任何缓冲液或柱制备。染料去除减少了芯片杂交的背景。 标记试剂盒AminoAllyl Labeling kit可与总RNA提取试剂盒盒MiniAmp 扩增试剂盒一起使用。 标记试剂盒规格 编号 名称 AFK 间接氨基烯丙基荧光标记试剂盒（20标记反应）

冲击试验箱,热冲击试验箱,冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冲击试验箱,热冲击试验箱,吊篮移动式温度冲击试验箱,高低温冲击箱 产品用途 温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。 产品特点 热冲击试验箱有两个或者三个独立的，并可单独控制的试验箱，产品在这些箱体之间自动移动，从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。 温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。 立式两箱式试验箱有独立可控制的冷箱和热箱。一个装载试验产品的吊篮，可以在两个箱体之间移动，使产品感受温度变化。 卧式三箱式试验箱有三个温度控制区域，分别是热箱、室温箱、冷箱。这种类型试验箱吊篮的的移动方式为从室温箱移动到热箱或冷箱的任意一个箱内。这样，产品可在室温箱内停留一段时间，经受较少的热冲击。 双工位系统有三个试验箱，中间是冷箱，两边是热箱。两厢式产品吊篮内的产品由冷箱移动到热箱的同时，使另一个吊篮内的产品由热箱移动到冷箱，这种结构提高了制冷系统的效率，可以在同一台设备内，相同时间内作进行更多的试验。 以上所有三种类型热冲击试验箱都由HONGZHAN的Q8-700 编程控制器自动控制，它是针对热冲击试验设计的。 ATS-195-V 两箱式热冲击箱 ATS-320-V 两箱式热冲击箱 ATS-320-DD 双工位热冲击箱 控制系统 * OYO Q8-700 温度控制器（日本原装进口） 高分辨率 彩色触摸屏接口 交互式参数输入方式 支持英文，中文 提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本 高精確、高信任度 基于PC的方便监控 方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式 支持利用USB存储器-可代替记录器 内置基于先进的PID算法的自动调谐功能 提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构 卓越的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程 標準RS-232C、 RS-485通訊介面 立式 型号 产品吊篮尺寸 最大 产品负载 ATS-100-V 12"宽 x 12"深 x 12"高 (30cmx30cmx30cm) 40 磅 ATS-195-V 15"宽 x 15"深 x 15"高 (38cmx38cmx38cm) 80 磅 ATS-320-V 25"宽 x 15"深 x 15"高 (64cmx38cmx38cm) 80 磅 ATS-900-V 25"宽 x 25"深 x 25"高 (64cmx64cmx64cm) 120 磅 卧式 型号 产品吊篮尺寸 最大 产品负载 ATS-320-H 15"宽 x 25"深 x 15"高 (38cmx64cmx38cm) 80 磅 ATS-900-H 25"宽 x 25"深 x 25"高 (64cmx64cmx64cm) 120 磅 立式双工位 型号 产品吊篮尺寸 最大 产品负载 ATS-320-DD 25"宽 x 15"深 x 15"高 (64cmx38cmx38cm) 120 磅 ATS-1040-DD 30"宽 x 25"深 x 24"高 (76cmx64cmx61cm) 240 磅

美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA产品名称：美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA应用点: 芯片或者元器件粘接产品特点：ME8456-DA 是一种柔性、纯银填充、导电导热的环氧糊状粘合剂，适用于芯片粘接应用。它在粘接 CTE 值高度不匹配的材料（如氧化铝与铝、硅与铜）时具有出色的柔韧性。它已被证明能很好地用于陶瓷、铜或铝基板上的超大面积芯片。铝基板上的大批量芯片粘接已被证明能承受热循环和冲击超过 1000 次。即使在最恶劣的测试条件下，湿度敏感性也得到了提高。 应用点图片：规格参数：产品图片：美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA

TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱 高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。 高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 高低温冲击试验箱技术规格 型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃ 温度冲击范围:-55~+150 ℃ LTS-50 LTS-80 LTS-150 LTS-252 STS-50 STS-80 STS-150 STS-252 ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃： 30 分钟 － 40 ℃： 30 分钟 150 ℃： 30 分钟 － 55 ℃： 30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 ■ 主要部分、结构 材 料 外壳 纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑 内体 不锈钢板 (SUS304) 绝热 聚氨酯泡沫和玻璃纤维 构 成 高温室 加热器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 风机 高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机 低温室 加热器、冷却器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器 风机离心风机 驱动装置 气动气缸 高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用 空气压缩机 提供驱动气动风门的压缩空气（选件） 制冷机组 制冷方式 机械压缩二元复迭制冷 压缩机 欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机 制冷剂 环保冷媒 R-507/R-23 冷凝器 不锈钢钎焊板式换热器 ■ 温度控制器 操作界面 7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示 程序记忆容量 96 个用户程序（可自行编制、修改） 设定指示范围 时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环 分辨率 ± 0.1℃ 输入 PT100 铂电阻 控制方法 PID 控制 附属功能 定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示 ■ 规格 内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cm) D 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125 135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 （升） 50 80 150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16kw 25kw 30kw 40kw 22kw 30kw 35kw 47kw 试样重量 2.5kg 5kg 10kg 15kg 2.5kg 5kg 10kg 15kg ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 ■ 选配 温度记录仪

TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱 高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。 高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 高低温冲击试验箱技术规格 型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃ 温度冲击范围:-55~+150 ℃ LTS-50 LTS-80 LTS-150 LTS-252 STS-50 STS-80 STS-150 STS-252 ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃： 30 分钟 － 40 ℃： 30 分钟 150 ℃： 30 分钟 － 55 ℃： 30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 ■ 主要部分、结构 材 料 外壳 纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑 内体 不锈钢板 (SUS304) 绝热 聚氨酯泡沫和玻璃纤维 构 成 高温室 加热器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 风机 高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机 低温室 加热器、冷却器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器 风机离心风机 驱动装置 气动气缸 高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用 空气压缩机 提供驱动气动风门的压缩空气（选件） 制冷机组 制冷方式 机械压缩二元复迭制冷 压缩机 欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机 制冷剂 环保冷媒 R-507/R-23 冷凝器 不锈钢钎焊板式换热器 ■ 温度控制器 操作界面 7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示 程序记忆容量 96 个用户程序（可自行编制、修改） 设定指示范围 时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环 分辨率 ± 0.1℃ 输入 PT100 铂电阻 控制方法 PID 控制 附属功能 定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示 ■ 规格 内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cm) D 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125 135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 （升） 50 80 150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16kw 25kw 30kw 40kw 22kw 30kw 35kw 47kw 试样重量 2.5kg 5kg 10kg 15kg 2.5kg 5kg 10kg 15kg ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 ■ 选配 温度记录仪

三槽式冷热冲击试验机 用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。 三槽式冷熱沖擊試驗机 蓄熱式冷熱沖击不需要使用液態气体(LN2,LCO2)辅助降温，待測物完全靜止测试方式是当前电子部品測試用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材測試費用。操作快捷、高信賴，是本公司经多年潜心、傾力研究，幵发高性能試驗机，提供您长期可靠的測試工具。 ■ TS系列特點介紹 · 试料槽完全靜止，可由測試孔外加负載配线。 · 蓄熱方式可避免使用者职业伤害。(注：液态气体所产生废氣，吸入肺部致使肺部氣量減少，而产生工作倦怠，集中力降低)。 · 采用触控式彩色液晶显示人机介面控制器，操作简单、学习容易。 · 溫度制禦精度高，全部採用PID自动演算制禦。 · 可选择始动位置，高溫或低溫开始循环。 · 具有預約起动功能。 · 可设定循环次數及自动除霜。 · 可选择二槽或三槽循环。 · 运转状态显示。 · 有异常或故障显示及排除方法說明。 触控式彩色液晶显示示控制器特点介紹 ■ 人机介面操作简单　容易学习 · 可选择中文TFT 10.4寸彩色液晶显示,萤幕触控式画面,操作简单,程式编辑容易。 ■ 创新的图控式螢幕显示功能 · 可显示完整的系統操作狀況、执行及设定程式曲线。 · 运转中发生异常狀況，螢幕上即刻自动显示故障原因及提供图形显示排除方法。 ■ETAC830 控制器規格 ◇型号规格及主要技术参数 温度控制系統 日本原装进口ETAC830触控式10.4&rdquo TFT彩色液晶显示控制器 记忆容量 1000组程序2500段，全部循环999次 分辨率 温度：± 0.1 ℃ 传感器 PT100热电阻 控制方式 PID控制 通讯功能 LAN网络接口选购件 附属功能 报警显示功能，停电保护功能，上限温度报警功能，定时功能(自动启动及自动停止)，自诊断功能，曲线记录显示功能 设定范围 高溫槽:60~200℃ 低溫槽:-65~-10℃ 時間设定: 0~99小時59 分 溫度设定功能 測試槽: 恒温曝露溫度设定 高溫槽: 預熱温度設定 低溫槽: 預冷溫度設定/除霜溫定设定 输入信号 T type热电偶传感器 控制方式 P.I.D. 控制 其他功能 待机及循环功能 上下限温度警報 資料鎖定功能 热开机功能 溫度自动补偿调整 自动除霜裝置程式记忆 ■三槽式冷热冲击试验机 規格 型号　MODEL LTS-56-3P LTS-80-3P LTS-150-3P LTS-252-3P 系统 平衡調溫調湿控制系統 温度范围 高溫槽 +60℃~200℃ 低溫槽 -55℃~-10℃ 0℃ ~200℃約需25分钟 降温时间 0℃~-65℃約需70分钟 复归時間 -40℃~+150℃約需5分钟 內箱尺寸cm 45x35x40 50x40x40 60x50x50 70x60x50 外箱尺寸cm 151x173x166 161x178x166 183x178x188 192x205x200 溫度稳定度 ± 2℃ 內箱材質 不锈钢一級鏡面光板(SUS 304) 外箱材質 不锈钢雾面线条处理(SUS 304) 保温材質 玻璃棉 冷冻系統 全密闭式或半密闭式压缩机 控制器 TFT 液晶显示器,触控式面板输入 保护装置 无熔丝开关，压缩机过載保护开关，冷媒高压保护开关，陶瓷保险丝，电磁开关，故障警告系統，警报器 配件 上下可调隔层板兩片，測試孔&Phi 50mm 重量(kg) 1000 1550 1680 1900 1200 電源 AC 3&psi 380V/415V± 10% 50/60Hz

用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。 三槽式冷熱沖擊試驗机 蓄熱式冷熱沖击不需要使用液態气体(LN2,LCO2)辅助降温，待測物完全靜止测试方式是当前电子部品測試用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材測試費用。操作快捷、高信賴，是本公司经多年潜心、傾力研究，幵发高性能試驗机，提供您长期可靠的測試工具。 ■ TS系列特點介紹 · 试料槽完全靜止，可由測試孔外加负載配线。 · 蓄熱方式可避免使用者职业伤害。(注：液态气体所产生废氣，吸入肺部致使肺部氣量減少，而产生工作倦怠，集中力降低)。 · 采用触控式彩色液晶显示人机介面控制器，操作简单、学习容易。 · 溫度制禦精度高，全部採用PID自动演算制禦。 · 可选择始动位置，高溫或低溫开始循环。 · 具有預約起动功能。 · 可设定循环次數及自动除霜。 · 可选择二槽或三槽循环。 · 运转状态显示。 · 有异常或故障显示及排除方法說明。 触控式彩色液晶显示示控制器特点介紹 ■ 人机介面操作简单　容易学习 · 可选择中文TFT 10.4寸彩色液晶显示,萤幕触控式画面,操作简单,程式编辑容易。 ■ 创新的图控式螢幕显示功能 · 可显示完整的系統操作狀況、执行及设定程式曲线。 · 运转中发生异常狀況，螢幕上即刻自动显示故障原因及提供图形显示排除方法。 ■ETAC830 控制器規格 ◇型号规格及主要技术参数 温度控制系統 日本原装进口ETAC830触控式10.4&rdquo TFT彩色液晶显示控制器 记忆容量 1000组程序2500段，全部循环999次 分辨率 温度：± 0.1 ℃ 传感器 PT100热电阻 控制方式 PID控制 通讯功能 LAN网络接口选购件 附属功能 报警显示功能，停电保护功能，上限温度报警功能，定时功能(自动启动及自动停止)，自诊断功能，曲线记录显示功能 设定范围 高溫槽:60~200℃ 低溫槽:-65~-10℃ 時間设定: 0~99小時59 分 溫度设定功能 測試槽: 恒温曝露溫度设定 高溫槽: 預熱温度設定 低溫槽: 預冷溫度設定/除霜溫定设定 输入信号 T type热电偶传感器 控制方式 P.I.D. 控制 其他功能 待机及循环功能 上下限温度警報資料鎖定功能 热开机功能 溫度自动补偿调整 自动除霜裝置程式记忆 ■三槽式冷热冲击试验机 規格 型号　MODEL LTS-56-3P LTS-80-3P LTS-150-3P LTS-252-3P 系统 平衡調溫調湿控制系統 温度范围 高溫槽 +60℃~200℃ 低溫槽 -55℃~-10℃ 0℃ ~200℃約需25分钟 降温时间 0℃~-65℃約需70分钟 复归時間 -40℃~+150℃約需5分钟 內箱尺寸cm 45x35x40 50x40x40 60x50x50 70x60x50 外箱尺寸cm 151x173x166 161x178x166 183x178x188 192x205x200 溫度稳定度 ± 2℃ 內箱材質 不锈钢一級鏡面光板(SUS 304) 外箱材質 不锈钢雾面线条处理(SUS 304) 保温材質 玻璃棉 冷冻系統 全密闭式或半密闭式压缩机 控制器 TFT 液晶显示器,触控式面板输入 保护装置 无熔丝开关，压缩机过載保护开关，冷媒高压保护开关，陶瓷保险丝，电磁开关，故障警告系統，警报器 配件 上下可调隔层板兩片，測試孔&Phi 50mm 重量(kg) 1000 1550 1680 1900 1200 電源 AC 3&psi 380V/415V± 10% 50/60Hz

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。 所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

微纳立方为您提供了各种应用场合的微流控芯片，及相关附件，如下：微流控 PDMS芯片微流控 玻璃芯片塑料芯片细胞培养芯片微纳立方为客户提供用途各异的细胞培养芯片，示例如下：MicronitCellixVena8 Fluoro+TM Biochips 微流体芯片； Vena8 Endothelial+TM Biochips 微流体芯片 ；VenaT4TM Biochips 微流体芯片 ； Vena8 Glass Coverslip Biochips 微流体芯片； VenaDeltaY1TM Biochips 微流体芯片 ； VenaDeltaY2TM Biochips 微流体芯片 ；电阻抗测试芯片 Electrical Impedance Spectroscopy 微流控芯片夹具类微流控芯片及附件毛细管，接头，插头等配件————————————————微流控产品：MFCS-EZ 微流体进样系统FRP流速监测系统恒流控制功能M-Swich通道切换解决方案微流控系统专用显微镜微流控分析系统… … 如上为微纳立方为微流控芯片系统提供的各种用途应用产品及附件，如有相关问题，欢迎关注微纳立方

TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱 高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。 高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 高低温冲击试验箱技术规格 型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃ 温度冲击范围:-55~+150 ℃ LTS-50 LTS-80 LTS-150 LTS-252 STS-50 STS-80 STS-150 STS-252 ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃： 30 分钟 － 40 ℃： 30 分钟 150 ℃： 30 分钟 － 55 ℃： 30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 ■ 主要部分、结构 材 料 外壳 纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑 内体 不锈钢板 (SUS304) 绝热 聚氨酯泡沫和玻璃纤维 构 成 高温室 加热器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 风机 高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机 低温室 加热器、冷却器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器 风机离心风机 驱动装置 气动气缸 高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用 空气压缩机 提供驱动气动风门的压缩空气（选件） 制冷机组 制冷方式 机械压缩二元复迭制冷 压缩机 欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机 制冷剂 环保冷媒 R-507/R-23 冷凝器 不锈钢钎焊板式换热器 ■ 温度控制器 操作界面 7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示 程序记忆容量 96 个用户程序（可自行编制、修改） 设定指示范围 时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环 分辨率 ± 0.1℃ 输入 PT100 铂电阻 控制方法 PID 控制 附属功能 定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示 ■ 规格 内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cm) D 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125 135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 （升） 50 80 150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16kw 25kw 30kw 40kw 22kw 30kw 35kw 47kw 试样重量 2.5kg 5kg 10kg 15kg 2.5kg 5kg 10kg 15kg ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 ■ 选配 温度记录仪

?小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用途 Application小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所能承受的程度，借以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子。。。等材料，可作为其产品改进的依据或参考。◆小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱特点 Features一、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。二、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。◆执行与满足标准 Standards implemented and met.GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture testGB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature testGB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantgeGJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shockGJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shockGJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shockQC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等◆多种欧美名牌企业进口压缩机（Compressor）为达到顾客对产品做极低的温度测试，爱佩科技为设备配备了复叠式制冷系统。并采用低温级为R23或R508B，高温级为R404或R507的“绿色环保”制冷剂，根据美国环保部门标准，该类制冷剂禁用日期还未确定；为使该制冷系统获取更佳的制冷效果，爱佩科技为机械配备了世界著名企业法国泰康（TECUMSEH）公司生产的全封闭式压缩机，对于设备制冷有更高要求的则采用德国比泽比（Bitzer）或德国谷轮公司（DWM COPELAND）生产的半封闭式压缩机，顾客可以很方便的从制冷行业中购买到其配件乃整机，不用担心售后麻烦及维修成本。 2、温度范围及升降温恢复时间可安客户要求非标订制 ※ 注：1、另可供客户尺寸大小非标订制 3、温度分布均匀测试方法，依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。安全装置漏电断路器（200.220.380V AC）配线用断路器（400/41 5V AC）高温试验箱温度过升防止用温度开关低温试验箱温度过升防止用温度开关试验区温度过升过冷防止器（控制器）试验区温度过冷过冷防止器（另外装备）高温试验箱温度过升防止器（控制器） 低温试验箱温度过升防止器（控制器）

Inter-Bio SPR芯片为自主研发的一体化棱镜芯片， 相比分体式结构，避免了芯片与棱镜多次结合与分离引起的定位误差，最大程度地减少光能损失，提高了检测灵敏度与动态范围。 根据各种用途的需要，英柏对芯片表面进行了改性，能满足多种实验和检测需求；同时，根据用户的使用需要，可以定制、加工各种芯片。

TEM用液体原位芯片由于电镜需要真空环境的特点，正常情况样品只能做真空环境下静态电镜分析。运用新技术生产的液体芯片可将待测液体样品封闭起来，并通过氮化硅薄膜窗口做动态观测。基于氮化硅薄膜的液体原位芯片。它可以用作液体原位TEM观测。L-300液体芯片由上芯片和下芯片组合而成，芯片中间有10×50μm氮化硅薄膜观察窗口，下芯片左右两侧各有一个液体滴加口。上下两枚芯片由密封胶粘合在一起，中间有一个微型液体腔室。原位实验时首先在液体滴加口滴入待测液体，等待待测液体在浸润通过微型液体腔室并从另外一个液体滴加口渗出。再使用环氧树脂密封两个液体滴加窗口，待胶固化后即可进行原位液体观测。 ZB-NS0300 液体芯片使用说明 ZB-NS0300 液体芯片是用环氧树脂胶将上芯片和下芯片粘合在一起组合而成，中间形成微型液体腔室。芯片中间有 10um x 10um x 30nm 的氮化硅薄膜观察窗口，背面左右两侧各有一个液体滴加口。准备工作：待测液体、微量进样器、镊子、双面胶（固定芯片）、吸气装置（注射器针头带有橡胶圈）、胶（环氧树脂胶或指甲油）。待测液体封装流程： （示意图如第二页所示）1. 取出芯片，翻转芯片，使用双面胶将芯片固定在实验台上；2. 使用微量进样器向液体滴加口滴加待测液体；3. 将抽真空注射器插入另一液体滴加口；4. 向下按压橡胶使其尽量与芯片紧密贴合；5. 缓慢吸拉注射器， 观察左侧滴加口的液体是否减少，若没有减少，按住橡胶，继续缓慢吸拉注射器；6. 使用胶密封液体滴加口，胶干燥后即可进行原位液体观测。 ZB-NS0300原位TEM液体芯片剖面图 ZB-NS0300原位SEM液体芯片剖面图

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。 所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

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内容总览P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器 1064.2 nm 150-300ps,P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器 1064.2 nm 150-300ps产品特点 100ps-300ps 脉冲持续时间， 10 - 100 kHz 重复率 Max. 平均功率超过 600 mW 单横向和纵向模式 光纤耦合或自由空间输出 通用参数参数可定制参数、单位HP64波长1064.2 nm (+/- 0.3 nm )触发输出光学/电气光谱宽度（FWHM）≤ 0.08 nm (+/- 0.02 nm)谱形高斯分布脉冲持续时间 (FWHM)，工厂固定150 – 300 psMax. 平均功率 600 mW脉冲重复率，可调10– 100 kHz光束形状圆形M2≤ 1.4偏振线性寿命≥ 2000 h预热时间≤ 10 min平均功率变化，12 小时（标准差）≤ 5 %脉冲幅度变化+/- 5 %脉冲能量变化+/- 5 %时序抖动 500 ns光输出空间光/光纤耦合尺寸140 x 95 x 75 mm 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。

微流控芯片光刻机系统配件专业为微流控芯片制作而设计，用于刻画制作微结构表面。微流控芯片光刻机采用多功能一体化设计理念，一台光刻机具有六个传统单一的表面刻划机器的功能，而且不需要无尘环境，用户安装使用不再需要单独建设超净间，从而大大提高用户的使用经济性和方便性。 微流控芯片光刻机全自动化和可编程操作，适合几乎所有常用材料，可以根据用户的芯片衬底基片尺寸，形状和厚度进行调节。微流控芯片光刻机是一种无掩模光刻系统，具有两个易操作的软件，用户可以创建个人微结构图案，从单个微通道到复杂的微观结构都可以创建。微流控芯片光刻机具有技术突破性设计和灵活性优势，非常适合加工微纳结构用于MEMS，BioMEMS，微流控系统，传感器，光学元件，MicroPatterning微图案化，实验室单芯片，CMOS传感器和所有其他需要微结构的应用。这款无掩模光刻系统可以快速而轻松地做出许多种微图案结构，从最简单到非常复杂的都可以。它的写入磁头装备有一个激光二极管（波长405纳米- 50毫瓦），光学扫描器和F-θ透镜（405纳米）。激光束根据设定微结构图案而运动。为了方便使用，较好的再现性和较高的质量，焦距是可以根据基片厚度进行调节的。图像采集期间可以使用控制面板调节焦距。几个基片厚度都可以使用。编程参数被保存以供以后使用，修改或其他用户使用。 编号 名称 MSUP 基于无掩模光刻系统和湿法刻蚀技术的微结构化表面的单位生产。

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。 所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

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HI763100汉钠内置放大芯片温度传感器四环铂金EC-TDS电极 型号HI763100检测范围0.00 to 29.99 µ S/cm 30.0 to 299.9 µ S/cm 300 to 2999 µ S/cm 3.00 to 29.99 mS/cm 30.0 to 200.0 mS/cm up to 500.0 mS/cm (actual EC)**操作温度-5 to 100°C (23 to 212°F)Tip / Shape四环电极电极长度120 mm温度传感器yes放大器no电极材质PEI线长1 m (3.3')推荐使用 edge 多参数接头3.5 mm connector说明**禁用温度补偿功能适用于HI2003、HI2030 平板电导率-总固体溶解度-盐度测定仪HI 763100是一款带有内置放大芯片和温度传感器的数字电导率电极；采用铂传感器的四环探头，只需一支电极即可完成多量程测量。内置微芯片存储传感器类型，序列号和校准信息，包括日期，时间，偏移，斜率，电极状态条件；插入电极，仪器就会自动检索此信息。四环电位测量系统可以测量多种样品，同时*限度地减少极化效应；两个外环施加交流电压并在溶液中感应出电流回路，而两个内环测量电流回路引起的电压降。这允许在不改变电极的情况下从非常高到非常低的读数范围。HI 763100使用耐化学腐蚀的塑料套管，以保持控制样品的外部干扰。由于温度是测量电导率的重要因素，内置温度传感器非常有用；无需外部温度探头，因此可以轻松进行测量。

Intuvo 流路芯片Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。特性— 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接— 几分钟内即可轻松安装— 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置— 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流性能指标流路芯片说明目的部件号流路芯片，Intuvo，进样口将芯片式保护柱连接到色谱柱G4581-60031流路芯片，Intuvo，进样口分流器芯片从芯片式保护柱向两根色谱柱分流G4588-60601流路芯片，Intuvo，D1将色谱柱连接到检测器 1G4581-60032流路芯片，Intuvo，D2将色谱柱连接到检测器 2G4583-60621流路芯片，Intuvo，D2-MS将色谱柱连接到质谱仪G4581-60033流路芯片，Intuvo，柱中反吹至 D1将色谱柱连接到检测器 1，柱中反吹功能G4588-60701流路芯片，Intuvo，柱中反吹至 D2将色谱柱连接到检测器 2，柱中反吹功能G4588-60721流路芯片，Intuvo，D1 柱后反吹将色谱柱连接到检测器 1，柱后反吹功能G4588-60302流路芯片，Intuvo，D2-MS 柱后反吹将色谱柱连接到质谱检测器，柱后反吹功能G4588-60322流路芯片，Intuvo，D1-D2 分流器芯片，1:1在两个气相色谱检测器之间将色谱柱洗脱物平均分流G4588-60402流路芯片，Intuvo，D1-MS 分流器芯片，1:1在气相色谱检测器和质谱仪之间将色谱柱洗脱物平均分流G4588-60502流路芯片，Intuvo，D1-MS 分流器芯片，7:1在气相色谱检测器和质谱仪之间按 7:1 的比例将色谱柱洗脱物分流G4588-60522检测器尾部流路芯片，Intuvo，已装配的 HES 质谱仪尾部G4590-60109流路芯片，Intuvo，FID-TCD 尾部G4583-60331流路芯片，Intuvo，ECD 尾部G4583-60333流路芯片，Intuvo，NPD 尾部G4583-60334流路芯片，Intuvo，FPD 尾部G4583-60335流路芯片，Intuvo，XCD 尾部G4583-60336

耗材名称：石英冲击片用于仪器：1130采样箱详细说明：用于1130采样箱的样气过滤，可防止空气中的大颗粒物进入仪器影响测量及污染。更换周期：7-14天图片

1100/1200 系列芯片液相色谱的备件订货信息：1100/1200 系列芯片液相色谱的备件说明部件号转子，内部阀，3 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-23705转子，外部阀，5 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-25206PEEK 接头，芯片液相色谱仪专用G4240-43200熔融石英/PEEK 毛细管，15 μm，90 cmG4240-87300纳流泵到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，25 μm，105 cmG4240-87301微量多孔板进样器到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，100 μm，100 cmG4240-87302Chip cube 到废液瓶熔融石英/PEEK 毛细管，75 μm，100 cmG4240-87303注射泵到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，50 μm，50 cmG4240-87304在线微量过滤器工具包，0.5 μm，PEEK5067-1582用于 Chip Cube 液相色谱系统接头，带 0.5 μm PEEK 滤芯，10/包5067-1584PEEK 接头，适用于外径 1/32 英寸的毛细管，10/包5067-1585PEEK 样品转移毛细管，25 μm，100 cmG4240-87309微型在线过滤器至 chip cube（磷酸化芯片应用）PEEK 毛细管，25 m，10 cmG4240-87310微量多孔板进样器至微型在线过滤器（磷酸化芯片应用）

臻准数字PCR芯片制备方式采用的是“固相分割”路线，利用MEMS工艺刻蚀加工晶圆，形成微米级腔室，微体系反应液在固相微腔中完成PCR过程，避免了交叉干扰和剧烈热反应造成的稳定性破坏。在此基础上，微体系组分的变化并不影响物理结构，从而为平台带来了更强的开放性。芯片式除了均一稳定的优势之外，还有一些其他的特点，每个微单元可以独立观测、芯片可以反复阅读、图像可以溯源等等，非常利于研发人员进行分析和溯源。 臻准微腔式芯片优势特点:工艺硅基芯片，腔室稳定均一；单孔可独立观测；芯片可反复观测；数据图像可追溯；芯片封闭无污染；

产品信息： 订购信息： 1100/1200 系列芯片液相色谱的备件说明部件号转子，内部阀，3 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-23705转子，外部阀，5 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-25206PEEK 接头，芯片液相色谱仪专用G4240-43200熔融石英/PEEK 毛细管，15 μm，90 cm纳流泵到 chip cubeG4240-87300熔融石英/PEEK 毛细管，25 μm，105 cm微量多孔板进样器到 chip cubeG4240-87301熔融石英/PEEK 毛细管，100 μm，100 cmChip cube 到废液瓶G4240-87302熔融石英/PEEK 毛细管，75 μm，100 cm注射泵到 chip cubeG4240-87303熔融石英/PEEK 毛细管，50 μm，50 cmG4240-87304在线微量过滤器工具包，0.5 μm，PEEK用于 Chip Cube 液相色谱系统5067-1582接头，带 0.5 μm PEEK 滤芯，10/包5067-1584PEEK 接头，适用于外径 1/32 英寸的毛细管，10/包5067-1585PEEK 样品转移毛细管，25 μm，100 cm微型在线过滤器至 chip cube（磷酸化芯片应用）G4240-87309PEEK 毛细管，25 μm，10 cm微量多孔板进样器至微型在线过滤器（磷酸化芯片应用）G4240-87310

内容总览Picophotonics的S1064-PS11是一种波长为1064 nm、脉冲宽度为100至150 ps、可调谐重复频率为50–150 kHz的种子激光器。紧凑高重复率微芯片种子激光器 1064.2nm 20mW 100ps,紧凑高重复率微芯片种子激光器 1064.2nm 20mW 100ps产品特点100 ps 脉冲持续时间可调谐 50–150 kHz 重复率平均功率超过20 mW单横向和纵向模式光纤耦合或自由空间输出通用参数参数可定制参数、单位PS11波长1064.2 nm (+/- 0.3 nm )触发输出光学/电气Max. 光谱半高宽（FWHM）≤ 0.08 nm (+/- 0.02 nm)光谱形状高斯分布M2 1.5典型脉冲持续时间，工厂固定100– 150 ps平均功率 20 mW脉冲重复率100 kHz光束形状圆形M2≤ 1.5极化线性寿命≥ 2000 h预热时间≤ 5 min平均功率变化，1 小时（标准差）≤ 5 %脉冲幅度变化+/- 5 %脉冲能量变化+/- 5 %时序抖动 500 ns光输出空间光/光纤耦合公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。

HI1285-5哈纳内置放大器芯片温度传感器酸度pH-EC-TDS电极型号HI1285-5名称PH电极参照single, Ag/AgClJunction / Flow Ratecloth电解质gelMax压力0.1 bar范围pH: 0 to 13 / EC T: 0 to 50°C (32 to 122°F) - LTTip / Shapespheric (dia: 8.0 mm)温度传感器Yes电极材质polypropylene线长7-pole 1 m (3.3’)推荐使用温室、水培、环境监测、水处理、锅炉、冷却塔接头DIN说明*与HI9811、HI9812和HI9813系列一起使用测量类型：pH、EC；测量范围：0 to 13 pH样品温度：0 to 50°C（32 to 122°F）；传感器类型：酸度pH玻璃传感器；电极特性：单参比，布透析膜；适用于HI9813-5、HI9812-5和HI9811-5便携式pH-EC-TDS-温度测定仪。PEI（聚醚酰亚胺）高品质塑料电极主体，耐许多腐蚀性、刺激性化学品，球球传感器具有保护，避免电极意外碰撞或掉落而造成破损。双环电流型传感器，EC和TDS测量提供读数。内置温度传感器即使在温度突然波动时也能确保快速，准确地进行温度补偿，确保准确读数。使用新电极时，应先摘掉顶部的保护盖，并检查整支电极。若发现因电极内部电解液通过透析膜蒸发而在电极头及保护盖内形成盐晶，这不影响电极正常使用，表明电极透析膜正常，用清水冲掉即可。在运输途中，电极头玻璃球内可能会产生气泡，这时可以像甩常见的水银温度计那样轻轻甩动电极，即可去除气泡。如果电极玻璃感应膜或透析膜头比较干燥，可将电极浸泡在HI70300 电极保存液中至少1个小时，从而使干燥的玻璃感应膜和透析膜处保持湿润；经常浸泡，对电极是有好处的。温馨提示：请勿使用蒸馏水或去离子水保存或浸泡电极，这将造成电极传感器失效

基因发现芯片Discover Chip™ 可帮助用户研究380个基因，包括几种常用重要基因：拟南芥基因，人类基因，小鼠基因，大白鼠基因。这些基因发现芯片是寡核苷酸微阵列芯片,包含选自最重要的细胞功能中380个基因，可以获得转录和生理信息。70-mer的寡核苷酸在芯片（第100级微阵列洁净室）上双份合成，净化和打印。基因发现芯片芯片上有4种被动控制。寡核苷酸被认为是独一无二的，通过BLAST的被计算分析，以公共数据库序列为目标，避免“交叉杂交”。允许Cy3和Cy5信号正常化以及微阵列实验的控制和正常化。 编号 名称 DCA 发现芯片™ -拟南芥 DCH 发现芯片™ -人类 DCM -发现芯片™ - -小鼠 DCR -发现芯片™ --大白鼠