集成电路卡温度冲击测试机

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 : 上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：021-5046-3511inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

PCB 板、电子芯片高低温测试上海伯东代理美国 inTEST 高低温循环测试机 ATS-545-M 应用于 PCB 板、电子芯片高低温测试。PCB板、电子芯片在出厂前需要进行环境测试，模拟PCB板在气候环境下操作及储存的适应性，已确保其在极端环境下也可正常工作。上海伯东代理的 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可以精准快速的实现 PCB 板和电子芯片等电子元件的高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击试验 Thermal stock 、老化试验、可靠性试验等。Temptronic ThermoStream ATS-545 M 高低温测试机，温度测试范围：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升温/降温 18°C，与传统高低温试验箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃；3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东版权所有，翻拷必究！

电源管理芯片充电ic集成电路芯片电源适配器IC在所有的电子设备和产品中，都不乏电源IC的“身影”。随着数字高速IC技术和芯片制造工艺技术的共同高速发展，高性能电源IC“助阵”的作用显得愈加重要。而日新月异的电子产品应用、环保绿色节能需求的兴起也对电源IC提出了更高的要求，催生新一代高集成度、高性能和高能效电源管理IC的需求，亦成为电源管理IC厂商永恒的使命。电源管理半导体从所包含的器件来说，明确强调电源管理集成电路(电源管理IC，简称电源管理芯片)的位置和作用。电源管理半导体包括两部分，即电源管理集成电路和电源管理分立式半导体器件。电源管理集成电路包括很多种类别，大致又分成电压调整和接口电路两方面。电压凋整器包含线性低压降稳压器(即LOD)，以及正、负输出系列电路，此外 不有脉宽调制(PWM)型的开关型电路等。因技术进步，集成电路芯片内数字电路的物理尺寸越来越小，因而工作电源向低电压发展，一系列新型电压调整器应运 而生。电源管理用接口电路主要有接口驱动器、马达驱动器、功率场效应晶体管(MOSFET)驱动器以及高电压/大电流的显示驱动器等等。电源管理分立式半导体器件则包括一些传统的功率半导体器件，可将它分为两大类，一类包含整流器和晶闸管；另一类是三极管型，包含功率双极性晶体管，含有MOS结构的功率场效应晶体管(MOSFET)和绝缘栅双极型晶体管(IGBT)等。在某种程度上来说，正是因为电源管理IC的大量发展，功率半导体才改称为电源管理半导体。也正是因为这么多的集成电路(IC)进入电源领域，人们才更多地以电源管理来称呼现阶段的电源技术。深圳市骊微电子科技有限公司从事家电电源，充电器，电源适配器，LED电源等电源产品芯片IC设计，测试，销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品，公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。

军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000产品名称：军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000耐高温低放气应用点: 芯片粘接要求：耐高温、调低温冲击、可靠性稳定 、低放气应用点图片：技术参数：产品图片：军工集成电路芯片粘接用导电银胶JM7000

型号TSL-80TSL-150TSL-225TSL-408TSU-80TSU-150TSU-225TSU-408TSS-80TSS-150TSS-225TSS-408内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围﹢60℃ ～ ﹢200℃升温速率﹢60 至 ＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围﹣78－0℃降温速率﹢20 至 －75℃≤60分钟试验室温度偏差≤2℃温度范围TSL：（+60～+150）℃～（-40～-10）℃TSU：（+60～+150）℃～（-55～-10）℃TSS：（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间5分钟以内试样搁架承载能力（kg）30试样重量（kg）7.57.51010注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升温速率和降温速率（温度上升和温度下降均为试验箱单独运转时的性能）；温度恢复条件（室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路）详细规格以相应规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。冷热冲击测试机实拍：

inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710E 实现高低温冲击测试上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-710E-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ATS-710E 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710E-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特点自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板: Windows® 系统温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持数据存储配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710 实现电源管理芯片高低温冲击测试若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

高低温冲击测试机 inTEST ThermoStream ATS-750E上海伯东美国 inTEST ATS-750E 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ThermoStream ATS-750E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-750-85至+300 50Hz-90至+300 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232温度显示精度：±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作LabView&trade 驱动CE相容 不含CFC加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分低温时热模式自动减少电力待机时自动节省电力提供 inTEST ATS-750E-M 机械手臂版本ATS-750E-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.有意向者欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

价格货期电议ECO-560 热流仪, 高低温冲击测试机 上海伯东美国 inTEST ECO-560 经济型高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -60 °C 至 +150 °C, 适用于对各类元件,零件, 混合件, 模块,子组件和 PCB 电路板进行快速和精确的温度冲击. 无需使用液氮 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 即可实现超低温.ThermoStream ECO-560 热流仪技术参数：高低温冲击范围-60 至+ 200°C, 50/60Hz变温速率-40 至+ 150°C 15秒+125 至-40°C 35秒系统气流输出*4 至 18scfm (1.9 至 8.5 l/s)温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C (根据美国 NIST 标准校准)DUT 温度控制专有的控制算法可直接控制 DUT 温度DUT 传感器端口热电偶: T＆K型电源200 - 250 VAC (230V nominal) 50/60Hz 30 amp, 1phase (21A Act.) 60Hz 20 amp, 1phase (18A Act.)工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸宽 46.4 厘米 x 深 66.7 厘米x 高 142.2 厘米重量主机: 181 千克 含包装: 227 千克噪音57 dBA inTEST ThermoStream ECO-560 功能特点:自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟氯氢和氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却 预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量 0.5至 3scfm, 0.25 to 1.5 l/s） 支持可定制和存储的测试设置 操作员可根据实际需要设置高低温限制点.支持本地和远程控制: 远程控制通讯端口: Ethernet, IEEE-488, RS232 LabViewTM & LabWindows® 驱动与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:1. 变温速率更快2. 温控精度: ±1℃ 3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台 load board 上的 IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度 若您需要进一步的了解 inTEST 高低温测试机详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。其中的光收发一体模块 Transceiver，是光纤通信系统中重要的器件。光收发模块在电工作时本身就会产生高热，加上其安装的环境通常在户外，故温度过高或过低时，光模块是否可正常运作，是生产企业必须解决的问题！光模块高低温测试客户案例：上海伯东客户浙江某光收发模块制造商，生产 40G Transceiver 光模组，此次采购高低温测试机用于服务器内部光模组的高温冲击测试。因为光收发模块在电工作时本身就会产生高热，所以对高温的冲击测试要求很高，经过我司技术推荐采购 inTEST ThermoStream ATS-545-M 高低温测试机，可提供测试温度 -80°C 至 +225°C。inTEST 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个光模块，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光模块高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将待测光模块放置在测试腔中，根据操作员设定喷出和设定温度相差±1℃的冷热交替循环气流，从而进行光模块高低温测试。鉴于信息保密，更详细的光模块高低温测试方法欢迎拨打电话：021-5046-3511上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

PN8235 ic集成电路SOP7led电源ic厂家15.5W充电器应用方案 PN8235产品概述： PN8235集成超低待机功耗原边控制器及800V智能高压启动模块，外驱功率DMOS，外部Rg可调。PN8235用于高性能、外围元器件精简的充电器、适配器和内置电源。PN8235为原边反馈工作模式，可省略光耦和TL431。内置高压启动电路，可实现芯片空载损耗（230VAC）小于50mW。在恒压模式，采用多模式技术提高效率并消除音频噪声，使得系统满足6级能效标准，可调输出线补偿功能能使系统获得较好的负载调整率；在恒流模式，输出电流和功率可通过CS脚的电阻进行调节。该芯片提供了极为全面的智能保护功能，包含逐周期过流保护、过压保护、开环保护、过温保护、输出短路保护和CS开路保护等。PN823产品特点： 内置高压启动电路，小于50mW空载损耗（230VAC）采用多模式技术提高效率，满足6级能效标准外驱DMOS，外部Rg可调全电压输入范围±5%的CC/CV精度原边反馈可省光耦和TL431恒压、恒流、输出线补偿外部可调无需额外补偿电容无音频噪声智能保护功能过温保护 (OTP)VDD欠压&过压保护 (UVLO&OVP)逐周期过流保护 (OCP)CS开/短路保护 (CS O/SP）开环保护 (OLP) PN8235广泛应用于：电池充电器多口USB插排LED驱动器 全新原装现货库存。价格有优势。质量有保证。深圳骊微电子科技有限公司是一家专注于研发、生产、销售数码产品的高科技企业。公司实力雄厚，技术领先，集研发、生产、销售于一体，并致力于周边产品的技术研发和市场开拓。公司一贯秉承“科技领先，诚信第一，品质超群”的经营理念，“服务第一、用户至上、高效优质，精益求精”是我们追求的目标。

上海伯东 inTEST -Temptronic ATS-710 超高速高低温循环测试机温度范围：-80°C 至 +225°C不需要液态氮气（N2）或液态二氧化碳（CO2）冷却触摸屏式控制面板inTEST -Temptronic ATS-710 超高速高低温循环测试机特点：变温速率：-55°C 至 +125°C, 10 秒 +125°C 至 -55°C, 10 秒连续排气量：4 至 18 scfm ( 1.8 至 8.5 l/s)温度显示分辨率：±1°C温度显示精度：±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作LabView™ 驱动CE相容 不含 CFC加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分低温时热模式自动减少电力待机时自动节省电力可提供机械臂或测试腔配置机械臂（可选）可扩展高度达到检测高度提供 inTEST ATS-710-M 机械手臂版本和加长机械手臂版本 ATS-710-H 以及 ATS-710-T 测试腔版本供您选择! inTest-Temptronic 高低温测试机应用：电子元件高低温测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件高低温测试等等任何您需要测试的地方！美国 inTEST-Temptronic thermostream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供高低温循环温度控制设备，其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的温度测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于真空行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区唯一总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！

TS冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冷热冲击试验机,温度冲击试验槽的详细资料：冷热冲击试验机/温度冲击试验槽TS系列冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱/高低温冲击试验箱*设备特点规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到*小；表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能*温度控制可实现温度定值控制和程序控制；全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；制冷及电控关键配件均采用知名品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；*设备满足以下标准GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验型 号 TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W标称内容积（升）80150200300试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围＋60～＋200℃升温速率※1＋60→＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围－78－0℃降温速率※1＋20→－75℃≤80分钟试验室温度偏差±2℃温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间※25分钟以内 试样搁架承载能力30kg试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）※4W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）型 号 TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W标称内容积（升）80150200300试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围＋60～＋200℃升温速率※1＋60→＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围－78－0℃降温速率※1＋20→－75℃≤80分钟试验室温度偏差±2℃温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间※25分钟以内试样搁架承载能力30kg试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）※4W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）

PN8160集成电路IC_AC-DC小家电电源ic方案PN8160产品描述: PN8160 内部集成了脉宽调制控制器和功率MOSFET，用于高性能、外围元器件精简的交直流转换开关电源，该芯片提供了极为全面和性能优优异的智能化保护功能，包括周期式过流保护，过载保护，软启动功能。通知QR+CCMECO-modeBurst-mode的三种模式混合调制技术和特殊器件低功耗结构技术实现了超低的待机功耗，全电压范围下的最佳效率。频率调制技术和SoftDriver技术充分保证良好的ＥＭＩ表现。 PN8160产品特点：专利高压启动，无需启动电阻，待机功耗小于50mW；QR-PWM + QR-PFM + Burst Mode提高平均效率，精准谷底开通算法，轻松满足六级能效；自适应PWM工作频率(85/65kHz)，减小变压器体积，校正高低压过流点一致性；内置电流采样管，无需CS电阻，节省成本、提高效率、简化布板；叠层封装技术，热阻更小，24W无需散热片；高低压脚位两侧排列，更高安全性；超宽VDD电压8-40V，适合快充应用；全面保护功能：输出过压保护、VDD欠过压保护、过温保护、过载保护、输出二极管短路等保护；超高可靠性：40V BCD平台 + 690V Smart MOSFET；HBM ESD大于4kV；Latchup电流大于200mA。PN8160广泛应用于：开关电源适配器和电池充电器家电、个人电脑、音响等辅助电源LCD /PDP电视机辅助电源深圳市骊微电子科技有限公司主要从事家电电源，充电器，电源适配器，LED电源等电源产品芯片IC设计，测试，销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品，公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。公司地址：深圳市宝安区西乡鹤洲恒丰工业城B11栋5楼东

inTEST ATS-515 高低温冲击测试机上海伯东代理美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机, 先进的温度源, 用于对零件, 混合动力, 模块,子装配和印刷电路板进行快速, 精确的热调节. 无需使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）即可实现超低温. inTEST 高低温冲击测试机 (热流仪) ATS-515 可选配小推车方便移动操作. 温度冲击范围: -45°C 至 +225°C, 旋钮式控制面板, inTEST ATS-515 是旧款高低温冲击测试机 Temptronic TP04500 和 Thermonics T-2600BV 全新升级款！ThermoStream ATS-515 高低温冲击测试机技术规格温度冲击范围-45°C 至 +225°C变温速率-40至+ 125°C 12秒+125至-40°C 40秒温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据NIST标准校准时）DUT 传感器端口热电偶: T＆K型电源 200±10％VAC 50Hz, 16安培工作温度+ 20°至+ 28°C +23°C 标称值湿度0至60％ 额定值的45％尺寸 cm控制器 (宽高深) 26.7 x 20.7 x 9.8冷冻机 (宽高深) 51.3x41.4x74.9热流罩直径 13.97重量 kg整机: 112冷冻机 74.5冷冻机+移动推车 100.8ThermoStream 高低温冲击测试机特性► 无霜功能: 接口干燥空气吹扫, 防止水汽冷凝: 0.5 至 3scfm（0.25至1.5 l / s）► 环保功能: 不使用低温时减少功率消耗► 完全可调的热头► 本地和远程操作► LabView&trade 驱动程序► IEEE-488，RS232 端口► 可自定义和实用的测试设置► 程序和数据存储► 用户定义的温度极限► 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (温度传感器：T型或K型热电偶)► CE相容 不含CFC: 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境► ThermoStream ATS-515 可自动错误诊断, 易维护Temptronic ThermoStream 高低温冲击测试机应用：集成电路 IC 卡高低温测试, 电子元件高低温测试, 半导体芯片高低温测试, PCB 电路板高低温测试, 光通讯器件(闪存,eMMC)高低温测试等等任何您需要测试的地方！与传统高低温测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机主要优势:1. 变温速率更快2. 温控精度: ±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件5. 对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

SD8585S集成电路IC芯片led 线性ic电源适配器充电器IC SD8585S产品描述：SD8585S是内置高压MOS管功率开关的原边控制开关电源PSR，采用PFM调制技术，提供精确的恒压/恒流(VC/CC)控制环路，具有非常高的稳定性和平均效率采用SD8585S设计系统，无需光耦，可省去次级反馈控制、环路补偿，精简电路，降低系统成本。SD8585S适用10-12W输出功率，内置线损补尝功能和峰值电流补偿功能。 SD8585S产品特点：内置高压MOS管功率开关原边控制模式低启动电流前沿消隐逐周期限流PFM调制降峰值模式过压保护欠压锁定环路开路保护最大导通时间保护过温保护线损电压补偿峰值电流补偿SD8585S广泛应用于：充电器适配器待机电源深圳市骊微电子科技有限公司十大优势: 1、代理分销优势：专业代理、分销各类电子元器件，专注于音频,视频,电源类IC。 2、产品应用优势：所供应的产品广泛应用于通信、消费电子、能源、医疗保健、仪表仪器和测量、电机控制、安防和监控等领域。 3、经营产品优势：高数运算放大器和线性产品，音频DAC和视频编，数字电源管理和散热管理，宽带产品，处理器和DSP，时钟和定时IC，光纤和光通信产品，AD-DA数模转换器、模拟开关和多路复用器、接口、惯性传感器等。　　 4、 主打品牌优势：骊微电子代理了士兰微，芯朋微，华润华晶，泉芯，赛威，芯龙等一系列产品，具有一级代理商资质证书！　 5、市场优势：公司拥有稳定优势的进货渠道和完备的现货库存，客户群体面向国内外贸易及终端工厂用户市场，现已成为众多同行及厂家的合作伙伴。 6、公司文化优势：公司贯彻“质量第一，服务至上”的宗旨，坚持“只做原装正品”的原则，秉承“诚信经营，贴心服务，提升价值，最大化客户的利益”为理念，向广大客户承诺所供产品均为原装正品，假一赔十！ 7、技术配备优势：为了更好的替客户解决问题，我司拥有一批专业的工程技术人员，准确及时耐心的为客户提供解决方案和技术支持。另外，我司还附带提供：产品开发、芯片、应用咨询、方案设计等技术服务，欢迎各位厂家的咨询洽谈与合作。　优势的价格，原装的正品，稳定的货源，我相信这是您独一无二的选择！真诚的希望我们能成为您硬件开发和生产队伍中的一员，团结合作，共创双赢！ 8、本公司只做原装正品，欢迎来电咨询！

系统概述骇思HyperPureX ICM-E系列集成电路电子级超纯水系统以严谨的合规性指导系统的设计、制造、安装和验证的全过程，以模块化的设计集成了多介质过滤、活性炭吸附、软化、二级RO2nd、脱气、EDI、超滤、紫外杀菌和TOC降解、树脂超纯化、以及终端微滤各纯化单元，广泛应用于半导体晶圆及液晶屏清洗、芯片等各种精密电子元器件的加工和制造。 水质标准GB/T 11446.1-2013、GB/T 33087-2016、ASTM D1193-06等规定的水质标准 工艺路径1. 预处理系统+二级反渗透RO2nd系统+脱气系统+EDI系统+超纯化系统+储存分配系统 性能特点10“彩色触控屏及 PLC控制模块且具有物联网（IOT）和云平台功能的全自动控制系统；模块化设计理念，结构紧凑，便于操作及后期维护； 整套设备可以完全排空设计；可根据客户原水水质优化调整工艺路线； 系统内部部分浓水可回收，可提高系统回收率至80%以上；确保过程检验、质量监控、验证文件符合用户需求； 应用范围液晶面板制作、半导体晶圆、芯片等各种精密电子元器件行业的加工和制造

inTEST Temptronic ATS-545-M 高低温冲击测试机上海伯东 inTEST 美国进口高低温冲击测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 热销款高低温冲击测试机。温度冲击范围：-80°C 至 +225°C；旋钮式控制面板，支持测试数据存储。inTEST ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！~高低温冲击测试机应用： 协助企业完成电子元件电性能测试、可靠性测试、高低温循环测试和高低温冲击测试，例如集成电路 IC 卡温度测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件高低温测试 (Flash、EMMC、transciever) 等等任何您需要测试的地方！ 高低温冲击测试机 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数： 型号 温度范围 °C 输出 气流量 变温速率 温度 精度 温度显示分辨率 温度 传感器 远程 控制 ATS-545-M -80 至 +225 4 至 18 scfm 1.8至 8.5 l/s -55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s ±1℃ ±0.1℃ T型或 K型 热电偶 IEEE 488 RS232 inTEST 高低温冲击测试机功能特点：自动升降温：冷冻机 (Chiller) 特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；不需要液态氮气 (LN2) 或液态二氧化碳 (LCO2) 冷却旋钮式控制面板温度显示精度：±1℃ (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，热流罩提供局限性的温度测试环境，特别适合温度冲击测试；专利设计防止水气在DUT上凝结 与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。温度冲击测试方法：inTEST-Temptronic 高低温冲击测试机提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545-M 基本参数 尺寸 cm 款x深x高 61 X 72.4 X 108 重量kg 236 最高 cm 160 最高操作高度 cm 130.3（可选的扩展高度 188） 最低操作高度 cm69.1（可选的扩展高度 81.3） 噪音 65 dBA 提供 inTEST -Temptronic ATS-545-M 机械手臂版本和 ATS-545-T 测试腔版本供您选择! 上海伯东客户 inTEST 高低温测试机光通信收发器(transciever)温度测试案例：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！

型号TSL-80TSL-150TSL-225TSL-408TSU-80TSU-150TSU-225TSU-408TSS-80TSS-150TSS-225TSS-408内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围﹢60℃ ～ ﹢200℃升温速率﹢60 至 ＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围﹣78－0℃降温速率﹢20 至 －75℃≤60分钟试验室温度偏差≤2℃温度范围TSL：（+60～+150）℃～（-40～-10）℃TSU：（+60～+150）℃～（-55～-10）℃TSS：（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间5分钟以内试样搁架承载能力（kg）30试样重量（kg）7.57.51010注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升温速率和降温速率（温度上升和温度下降均为试验箱单独运转时的性能）；温度恢复条件（室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路）详细规格以相应规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。温度冲击试验机实拍：

LED 液晶显示屏环境温度测试上海伯东美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。LED 液晶显示屏环境温度测试原因： 一般液晶显示器的工作温度是 20-50 度，液晶显示器内部有很多发热电子元件，为保障电子元件在低温和高温极端环境下正常运行，厂家在出厂前都需要进行 LED 环境测试，主要测试项目包含冷热循环 Thermal cycle 与冷热冲击 Thermal stock。 LED 液晶显示屏客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的显示屏生产企业，结合实际生产需要，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于显示屏高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，测试温度范围：80°C 至 +225°C，操作直观。LED 液晶显示屏温度测试方法：客户采用美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。采用 ThermoStream ATS-545-M Air Mode 模式测试：1、通过管路将高低温测试机 ATS-545-M 与 DMS 803 直接相连2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温4、高低温测试机 ATS-545-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度，而且自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

Temptronic ThermoStream ATS-505 高低温测试机 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机中国总代理:Temptronic ThermoStream ATS-505 台式高低温冲击测试机，温度冲击范围：-20°C 至 +225°C，设计小巧，特别适合实验室研发。 inTEST ThermoStream ATS-505 高低温冲击测试机是旧款 TemptronicTP04100 和 Thermonics T-2610BV 全新升级款！~Temptronic ThermoStream ATS-505 高低温测试机技术参数：型号温度范围°C输出 气流量变温速率温度 精度温度显示分辨率温度 传感器远程 控制ATS-505-20 至 +2254 to 10 scfm 1.9 to 4.7 l/s0 至 +125°C 3 min +125 至 0°C 4 min±1℃±0.1℃T型或K型 热电偶IEEE 488 RS232inTEST 温度冲击测试机功能特点： 旋钮式控制面板 自动升降温，冷冻机(Chiller)特殊设计，不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却 温度精度 ±1℃ 通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准 过热温度保护：出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点 大气流量输出，变温速率快，节省操作时间，特别适合温度冲击测试热流罩提供局限性的温度测试环境， 制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境inTEST 高低温冲击测试机可自动错误诊断、易维护(可现场更换模块)与传统高低温测试箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃ 3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。Temptronic ThermoStream 高低温测试机应用案例：半导体芯片高低温测试inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式： 上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机,英国 NanoMagnetics 原子力显微镜等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作！ 有意向者可联络上海伯东罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

高低温温度冲击试验箱广皓天TSD-252P-2P一、设备基本信息高低温温度冲击试验箱是一种用于模拟产品在不同温度环境下所受冲击和循环变化的测试设备。本设备采用先进的技术和材料，确保测试结果的准确性和可靠性，广泛应用于电子、汽车、航空、航天等领域的产品质量控制。 二、工作原理高低温温度冲击试验箱通过制冷系统和加热系统，实现对试验箱内部温度的精确控制。同时，通过特定的程序设定，可以模拟产品在短时间内经历大幅温度变化的环境，从而评估产品的性能和可靠性。三、温度范围本设备的温度范围通常为-45℃至+150℃，可根据用户需求进行定制。设备能在短时间内实现温度的快速升降，满足冲击测试的要求。 四、冲击测试功能高低温温度冲击试验箱具备强大的冲击测试功能，可模拟产品在运输、使用过程中可能遇到的冲击和振动。通过设定不同的冲击波形和冲击次数，测试产品在不同冲击条件下的性能表现。五、循环测试模式设备支持多种循环测试模式，如温度循环、冲击循环等。用户可根据需要设定循环次数、温度升降速率等参数，模拟产品在复杂多变环境下的使用情况。 六、控制系统高低温温度冲击试验箱采用先进的控制系统，具备温度、湿度、冲击等多种参数的实时监控和记录功能。通过触摸屏或电脑软件，用户可轻松设定测试程序，实现自动化控制。七、安全保护措施本设备具备完善的安全保护措施，包括过热保护、过载保护、漏电保护等。在设备运行过程中，如出现异常情况，系统会立即停止运行并发出报警，确保操作人员和设备的安全。 八、应用领域高低温温度冲击试验箱广泛应用于以下领域：1. 电子行业：测试电子元器件、集成电路、电路板等在不同温度环境下的性能稳定性。2. 汽车行业：评估汽车零部件在极端温度条件下的耐久性，如发动机、电池、刹车系统等。3. 航空航天：模拟飞行器、卫星等在高空、高温、低温等复杂环境下的适应性。4. 塑料橡胶行业：测试塑料、橡胶等材料的耐候性能，如汽车密封条、管道连接件等。 通过以上介绍，相信您对高低温温度冲击试验箱有了更全面的了解。如需更多信息，请随时与我们联系。我们将竭诚为您服务！

型号TSL-80TSL-150TSL-225TSL-408TSU-80TSU-150TSU-225TSU-408TSS-80TSS-150TSS-225TSS-408内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围﹢60℃ ～ ﹢200℃升温速率﹢60 至 ＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围﹣78－0℃降温速率﹢20 至 －75℃≤60分钟试验室温度偏差≤2℃温度范围TSL：（+60～+150）℃～（-40～-10）℃TSU：（+60～+150）℃～（-55～-10）℃TSS：（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间5分钟以内试样搁架承载能力（kg）30试样重量（kg）7.57.51010注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升温速率和降温速率（温度上升和温度下降均为试验箱单独运转时的性能）；温度恢复条件（室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路）详细规格以相应规格书为准 注：外尺寸不包括外突部分。冷热冲击测试箱实拍：

价格电议！inTEST ATS-545-M ThermoStream 恒温恒湿箱 高低温冲击试验箱上海伯东 美国 inTEST 恒温恒湿箱 高低温冲击试验箱 中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 温度范围 -75°C 至 +225°C；专利 ESD 防静电保护设计，不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却。ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！inTEST Temptronic 超高速高低温测试机适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试。Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数：型号温度范围 °C* 变温速率输出气流量温度 精度温度显示 分辨率温度 传感器ATS-545-M-75 至 + 225(50 HZ)-80 至 + 225(60 HZ)不需要LN2或LCO2冷却-55至 +125°C 10 s +125至 -55°C 10 s4 至 18 scfm 1.9至 8.5 l/s±1℃通过美国NIST 校准±0.1℃T或K型 热电偶* 一般测试环境下；变温速率可调节inTEST Temptronic 恒温恒湿箱 高低温冲击试验箱 功能特点： 与友厂对比，inTEST ThermoStream 独有的专利自动复叠式制冷系统(auto cascade refrigeration)保证低温，内置 AC 交流压缩机，冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；专利 ESD 防静电保护设计 旋钮式控制面板，支持实验数据存储。 过热温度保护：出厂设置温度 +230°C加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗 干燥气流持续吹扫测试表面，防止水气凝结与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTEST ThermoStream 恒温恒湿箱 高低温冲击试验箱 主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃ 3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 恒温恒湿箱 高低温冲击试验箱 ATS-545-M 尺寸 宽61x深72.4 x高 108 cm重量 365 kg手臂延展最大 160 cm标准最高操作高度 130.3 cm (可选188 cm)标准最低操作高度 69.1 cm (可选81.3 cm)噪音 65 dBA* 若您需要了解更详细的信息, 欢迎拨打客服热线：, 上海伯东主营真空品牌: 德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic) 高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。 上海伯东: 朱女士 台湾伯东: 王女士T: +86-21-6381-1212 ext 219 T: F: F: M: M: 上海伯东版权所有, 翻拷必究！

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准上海伯东美国 inTEST 高低温测试机中国总代理: ThermoStream ATS-545 温度范围 -75°C 至 +225°C 专利 ESD 防静电保护设计, 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却. ATS-545 是旧款热流仪 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数：型号温度范围 °C* 变温速率输出气流量温度精度温度显示分辨率温度传感器ATS-545-75 至 + 225(50 HZ)-80 至 + 225(60 HZ)不需要LN2或LCO2冷却-55至 +125°C约 10 S 或更少+125至 -55°C约 10 S 或更少4 至 18 scfm1.9至 8.5 l/s±1℃通过美国NIST 校准±0.1℃T或K型热电偶* 一般测试环境下 变温速率可调节inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机功能特点：与友厂对比, inTEST ThermoStream 自动复叠式制冷系统 (auto cascade refrigeration) 保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 保护环境 专利 ESD 防静电保护设计旋钮式控制面板, 测试数据存储过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545-M 尺寸宽61x深72.4 x高 108 cm重量 365 kg手臂延展最大 160 cm标准最高操作高度 130.3 cm (可选188 cm)标准最低操作高度 69.1 cm (可选81.3 cm)噪音 65 dBA与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度ATS-545 广泛应用于光纤收发器 Transceiver 高低温测试, SFP 光模块高低温测试inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.上海伯东版权所有, 翻拷必究！有意向者欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制（ZL201721929886.3）是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制优势规格系列齐全，两箱式（上下提篮、左右水平）、三箱式三种温度冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计， 确保了设备的高可靠性；工作室材料为SUS304不锈钢，抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；高密度聚氨酯发泡绝热材料，确保将热量散失减到*小；表面喷塑处理，保证设备的持久防腐功能和外观寿命；高强度耐温硅橡胶密封条，确保了设备大门的高密封性；多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；大面积电热防霜观察窗、内藏式照明，可以提供良好的观察效果；环保型制冷剂，确保设备更加符合您的环境保护要求。 宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制满足以下标准GB/T 10592 -2008 干燥箱技术条件GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则GJB 150.3A-2009 JUN用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验GJB 150.4A-2009 JUN用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验GJB 150.5A-2009 JUN用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验 宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制主要技术指标（两箱式、三箱式） 两箱式高宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制型号CTS-50CTS-120CTS-180HxWxD(mm)内300x460x350500x610x400600x660x450外2250x1200x19502720x1050x19502920x1100x2150性能参数高温室温度暴露范围﹢60℃ ～ ﹢200℃预热温度上限200℃升温时间R.T→﹢200℃约40min低温室温度暴露范围0 ～ ﹣75℃预热温度下限﹣75℃降温时间R.T→﹣70℃约60min提篮温度范围﹣65 ～ 150℃温度波动度≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）温度偏差≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）转换时间≤5S温度回复时间≤5min结构外箱材质冷轧钢板表面喷塑（象牙白）内箱材质#304镜面不锈钢（1.2mm）隔热材料非危废类环保型玻璃纤维保温层制冷制冷方式风冷或水冷制冷机进口压缩机温度传感器铠装铂电阻控制器西门子PLC模块（含宏展环境试验设备嵌入式PLC控制软件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶触摸控制屏（含宏展环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件PlatinumV1.0）。数据存储于功能接口USB数据接口：设备带有USB存储接口，存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数，存储格式为.csv格式，此文件可由宏展公司上位机通讯软件直接生产曲线，该USB接口不支持热插拔及下载功能，如要用U盘存储试验数据，需一直让U盘处于正常联接状态。 TCP/IP通讯接口：试验箱带有RJ45数据接口，后期如购买上位机通讯功能后（含宏展环境试验设备嵌入式计算机监控软件PlatinumV1.0），即可联接此接口以实现计算机管理功能，单台试验箱支持5台计算机同时访问、上位机软件最大可管理32台试验箱。装机功率（KVA）19.73236电源AC380V 50Hz三相四线制+接地线标配配置产品使用说明书、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、隔板2层、带脚轮满足标准GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2详细参数以对应产品规格书为准 三箱式冷宏展LabCompanion冷热冲击试验箱温度控制型号TSL-80ATSL-150ATSL-225ATSL-408ATSU-80WTSU-150WTSU-225WTSU-408WTSS-80WTSS-150WTSS-225WTSS-408W内部尺寸（mm）W500600750850H400500500600D400500600800外形尺寸（mm）W1460156017101880H1840194019402040D1500160017001900试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围﹢60℃ ～ ﹢200℃升温速率﹢60→＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围﹣78－0℃降温速率﹢20→－75℃≤80分钟试验室温度偏差±2℃温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃ TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃ TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间5分钟以内试样搁架承载能力（kg）30试样重量（kg）7.57.51010注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升温速率和降温速率（温度上升和温度下降均为试验箱单独运转时的性能）；温度恢复条件（室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路）详细参数以对应产品规格书为准 Lab Companion（宏展科技）拥有强大的售后服务队伍并在北京、上海、重庆、成都、武汉、西安、香港设有销售售后服务中心，全力保证了售后服务的速度与效率，做到售后服务及时高效。

inTEST DCP-102 台式温度冲击测试机上海伯东代理美国 inTEST 高低温测试机推出新型号 Temptronic® ThermoSpot® 台式机型温度冲击测试机 DCP-102，高灵敏度，适用于集成电路 IC 特性分析、高低温测试、失效分析，提供可选的 interface 已满足不同尺寸 IC。Temptronic DCP-102 台式温度冲击测试机特性：温度范围：-65 to 175°C冷却功率: 55W at -55°C 125W at -40°C变温速率：25 to -40°C 35 S台式独立静音设计通讯接口：以太网、USB、IEEE RS232不含制冷机Temptronic DCP-102 台式温度冲击测试机技术规格： 型号 ThermoSpot DCP-102 温度性能 温度范围：-65 to 175°C 精度：±1.0°C 稳定性：±0.3°C 冷却功率 55W @ -55°C 125W @ -40°C 250W @ 0°C 变温速率 25 to -40°C 35 sec, 25 to +125°C 1.5 min. 温度传感器 RTD, DUT: K 型热电偶, Diode, 100Ω RTD, Analog 温度校准 软件校准 通讯接口 Ethernet (TCP/IP) 可选 USB, IEEE488, RS232 DUT Pressure Force 2 to 100 Kg/Force (depending on interface) DUT 尺寸 从 2x2mm 至 100x100mm 热流罩 直径 89mm 清洁干燥的空气要求 -70°C 空气或氮气, 0.1cfm at 0.2 BAR 重量 66 kg inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！

一、设备概述：走步机动态冲击耐久试验机用于模拟各种走步机在运行过程中，受一定频率的踏行冲击后，检查走步机整体发生损坏的情况。适用测试机型：电动可折叠型走步机冲击耐久性测试；电动非折叠型走步机冲击耐久性测试、疲劳测试。 二、满足标准：中国文教体育用品协会团体标准T/CSSGA 1023—2019 《走步机》中第5.8.1章节 “冲击”及图5所示规格试验要求。 三、走步机动态冲击耐久试验机主要技术参数：1、测试机底板尺寸约：1500 mm×1000 mm；2、测试专用轮胎规格：155/R13（155—轮胎断面宽度，单位为毫米mm；R13— 轮辋直径规格，单位为英寸inch，R13即330mm），轮胎气压为0.15MPa；3、通过气缸的调整可以自由设定自由落体冲击高度：5～100mm可调；4、通过时间控制器、传感器的调整改变装置冲击频率：1～40次/min可调；5、自由落体重物的质量：75Kg；6、冲击位置：的走步表面前端记起1/3处；7、跑步机行驶速度：6Km/h及以下；8、机台zui大有效净宽度：100cm；9、走步机固定夹具：四维可调（上下+左右）；10、冲击次数可0～9999999次可自由设定并可断电保持记录，达到设定次数后自动停机；测试过程中如果被测试物发生较明显的损坏，传感器会自动通知机台立即停止测试；11、动力源：电机、压缩空气；12、控制方式：采用PLC+彩色触摸屏控制；可程序设计控制器作为电气控制系统。基于集成电路和电子技术相结合的控制装置，采用程序化进行电气控制；13、显示：7英寸TFT真彩屏触摸显示；14、轮胎冲击及转动控制分别设定；15、配马达驱附助装置；16、电子式温度控制器一组；17、温度采集模块一组；18、温度记录器一组；19、安全保护装置：紧急停机开关、过负载保护装置。20、电源：AC220V 50HZ.

PCB板虚焊测试震动试验台 技术参数： PCB板虚焊测试震动试验台 产品特点： 1、同一台面实现X、Y、Z（六度空间一体机）三轴同时振动，程序控制，频率精准、平衡，长期运转不漂移；2、PCB板虚焊测试震动试验台具有单点、段、多段的时间定时；3、增加抗干扰电路，解决因强电磁场对控制电路干扰；4、无级调整振幅，具有定频、扫频、对数及1oct/倍频、随机PSD、正弦宽带、可程式等功能，适应不同行业的测试要求；5、采用复合型工业材料制造，精密加工，台体美观大方，人性化操作及控制，采用专用测控变频器，使设备工作更稳定。 PCB板虚焊测试震动试验台 软件功能：Longdate振动台软件系统采用自主开发的CIMS+FCS，可拓展配置振动测量仪，PCB板虚焊测试震动试验台引用国际最新振动测试标准，实现定频、扫频、倍频、程式、对数、随机多种振动模式选择。 PCB板虚焊测试震动试验台 引用标准：ISO 2247包装.满装的运输包装和单元货物.固定低频率振动试验ISO 13355包装-全部，填充运输包装和单位承载-垂直任意振动试验IEC 60068基本环境试验规程ASTM D999船运集装箱振动测试的试验方法ASTM D4728运输集装箱随机震动试验方法ASTM D3580产品振动试验(垂直线性运动)的标准GB/T 4857包装 运输包装件基本试验GB/T 2423电工电子产品环境试验 若有疑问，请来电咨询；

高低温气流循环冲击机TS780ThermoTST TS-780精密温度冲击系统的性能达到了更高的标准。TS-780以速度、精度和可靠性作为基本设计标准，提供了非常先进的温度测试能力。系统温度从+125℃到-55℃之间转换仅需10秒，并有更广泛的温度范围-80℃到+225℃ 经长期的多工况验证，满足更多生产环境和工程环境的要求。TS-780是纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。高低温气流循环冲击机TS780 特点温度变化速率快，-55℃至+125℃之间转换约10秒YOU效温度范围，-80℃至+225℃结构紧凑，移动式设计触摸屏操作，人机交互界面快速DUT温度稳定时间温控精度±1℃，显示精度±0.1℃气流量可高达18SCFM除霜设计，快速清除内部的水汽积聚 高低温气流循环冲击机TS780 应用产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：芯片、微电子器件、集成电路（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）闪存Flash、UFS、eMMCPCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯（如：收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究（显示价格供参考，实际价格以报价为准）