单轴压电扫描台纳米平移台

纳米位移平台,真空纳米位移台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的纳米位移平台,真空纳米位移台,纳米位移台.这款纳米位移平台是美国进口的高速高精度真空纳米位移台,它采用先进技术设计, 具有单轴或精密的双轴配置两种选择, 适合高真空环境和非磁性定位应用.美国进口高精度低价格系列纳米定位台，采用了陶瓷伺服电机驱动，非常适合要求精度达到纳米或压纳米的高精度和高重复精度的应用，例如：精密生命科学仪器、显微成像、纳米准直、微纳加工、光学精确定位等。X-TRIM 系列纳米位移台特色 10nm分辨率非接触线性编码系统双驱动任选:线性伺服或压电驱动高密度滚珠传导增加稳定性超紧凑的单轴或双轴纳米位移台紧凑型封装可真空使用超强工作能力，大吞吐量采用无铁芯直接驱动直线电机,驱动轴位于纳米位移台的中心线, 这种设计消除了非中心驱动导致的偏航,空回等问题.纳米位移台集成了一个高分辨率(12.5nm)非接触式线性编码器,它为闭环的伺服系统工作操作提供了精密反馈, 它的标准配置就可以提供纳米精度的定位.纳米位移平台使用能够了精密的滚珠导向系统确保了位移平台高精度性能和严格的轨迹控制。纳米位移平台也适合OEM使用,它具有较低抛面和较小尺寸，采用模块化设计，用户可堆叠使用创建多轴多部件系统。这款纳米位移平台使用了非接触式直接驱动技术，提供坚固，精确，高速的定位，满足高频率大工作量的需要。纳米定位平台使用了先进的无铁直线电机直接确定技术，确保最优异的纳米级定位性能。这款纳米定位台提供了高速度，高精度，高分辨率，高性能的卓越表现。它与传统的丝杠驱动或压电驱动相比，具有更大的工作效率和吞吐量。参数行程(mm): 25和50mm(单轴或双轴)驱动系统: 无铁芯直线电机或陶瓷伺服电机最大加速度: 由负载决定最大速度: 200mm/s (无负载时)最大推力: 24N最大负载: 2Kg精度: +/-1um/25mmTTL分辨率: 1-100nm/脉冲构造材料: 铝合金主体, 灰色氧化镀膜重复精度: 5倍精度 XT 25 XT 50 XT 2525 XT 5050 Travel Length (mm) 25 mm 50 mm 25 x 25 mm 50x 50 mm Trajectory Control Accuracy Linear Encoder ± 1.0 &mu m ± 2.0 &mu m ± 2.0 &mu m ± 4.0 &mu m Straightness/Flatness ± 1.0 &mu m ± 1.0 &mu m ± 2.0 &mu m ± 2.0 &mu m Yaw/Pitch/Roll 5 arc-sec 5 arc-sec 10 arc-sec 10 arc-sec 2 axis system Orthogonality Standard Grade NA NA 5 arc-sec 5 arc-sec High Precision NA NA 2 arc-sec 2 arc-sec Extra High Precision NA NA 1 arc-sec 1 arc-sec

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点：具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点：具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

纳米升降台,纳米升降平台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学，服务科学，先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的纳米升降台,纳米升降平台,精密升降台。这款纳米升降台是美国进口的短行程的精密升降台,Elevator Stage,纳米升降平台特别适合竖直的Z轴应用，它具有极佳的上下定位功能，超高分辨率，超高重复精度和机械稳定性。产品特色：这款纳米升降台采用高密度交叉滚珠导向系统用于竖直导向，确保最大的稳定性。单立柱式的X滚珠导向系统提供了适度的高刚性，使得这款纳米定位台具有极小的滞后和相当大的承载能力。纳米升降台应用：这款纳米定位台比较适合对Z轴垂直升降精度较高要求的应用。比如，光学成像系统中焦平面的准直，半导体测试，视频测量等。纳米升降台参数行程：4mm驱动系统：无刷伺服-丝杆驱动最大速度：20mm/s最大负载；10kgTTL分辨率：100nm, 50nm, 25nm, 12.5nm, 10nm, 1nm重复精度：5x分辨率

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

Kleindiek纳米操纵仪配件是为外部电子显微学制备样品而设计的超精密样品拾取装卸系统，它在纳米尺度灵活微操纵样品。Kleindiek纳米操纵仪配件安装安装有一根微夹钳，一个四轴辅台，在表面有一个允许快速接近的小型CCD摄像头。Kleindiek纳米操纵仪是由安装在一个超小型平台上的一个四轴辅台构成。在辅台上安装了一个微夹钳，促进提取。操作该辅台将预切样品放置在微夹钳下。在这之后，微夹钳夹住样品并轻轻地固定住样品，固定要足够牢固，只要使辅台向旁边下落，就可以将样品从大量材料提取出。一旦分离，在TEM网格上，将样品与SEM兼容胶水接触，并且用离子束固化。Kleindiek纳米操纵仪配件规格：取样室兼容平台上的辅台最大样品尺寸：30mm行程：X和Y =10mm行程：Z轴为3mm行程：R =360°（无限）速度：可达1mm/秒分辨率：0.5nm笛卡尔运动没有反弹或翻转是大多数SEM和FIB工具的简单取样室装置几乎不受震动影响微夹钳运输和组装微型物体的高分辨率夹持器抓握区域：（5至10 μm）分辨率：20nm夹持力：5至5000μN（变量）最大跨度范围：20?40 μmSemCam样品表层的小相机允许快速接近包括显示器和LED照明

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

超精密压电显微操作器系统配件使用方便，精确度超级高，是膜片钳实验，体外受精（IVF/ ICSI），转基因工程，胚胎操作，染色体解剖，以及任何需要超精密运动控制的工作的有效用仪器。超精密压电显微操作器系统配件具有非常迅速地移动到预定位置，同时保持精确度不到一纳米的功能！跟我们公司提供的任何NARISHIGE显微操作器相比，精确度的提高超过20倍。与EppendorfTransferMan® NK2，InjectMan® NI2和PatchMan® 系统相比，精确度的提高超过40倍。如果您想要极好的精确度和稳定性，而又不牺牲工作范围和工作速度！超精密压电显微操作器系统配件用操纵杆控制，在所有轴上都可以很容易地操纵MM3A。Kleindiek Nanotechnik MM3A符合人体工程学的直观的用户界面结合了大范围的运动速度，使其成为了显微注射和显微解剖的理想仪器。在神经生物学实验室中，非常适用于膜片钳实验。很容易迅速地安装到位，精细调节以接触神经元的细胞膜时提供纳米级精确度，由于几乎没有漂移（不同于精液压显微操作器，会因为细微的温度变化产生漂移）在整个实验中产生一个稳定的信号，简直是用于电气生理学的最好显微操作器。超精密压电显微操作器系统配件功能：设置简单：无需摆弄繁琐的支架 只需将坚固的磁性显微操作器安装到显微镜平台上，并开始注入！该纳米控制盒和手柄/操纵杆/立方体安装在显微镜旁，接触方便和符合人体工程学。几乎不受振动漂移非常短（1纳米/分钟）（没错，就是1纳米！）亚纳米级分辨率（0.25nm）宽广的工作范围（100cm3）粗调，精细运动集成在一个单元操作速度高（达10mm/秒！）点击显示图表，图表显示了MM3A与Eppendorf TransferMan® NK 2, InjectMan® NI 2 and PatchMan® 系统相比，如何更精确，更紧凑，更快，更轻以及与我们的各种NARISHIGE仪器选项相比，又是如何的。超精密压电显微操作器系统配件控制：下面是MM3A的控制图解。MM3A包含了纳米控制器（NanoController）和手柄（图中所示的最上面两个设备）。根据工厂的标准设置，手柄上的按钮用于粗调模式下移动。这两个操纵杆都可以是精细和粗调模式，取决选择的速度。此外，还可以设置一个原始/停放位置，那么当多次注射时显微操作器可以快速来回移动。为了更简单的高精度控制（如放置一膜片电极），我们推荐立方体，它是有三个高分辨率游标刻度盘的手动控制装置（图中显示的底部设备）。立方体提供了高响应，直观，直线运动控制。除了用户选择操纵杆外，立方体直接连接到纳米控制（NanoControl）控制电子。 过程移动范围是几厘米，一旦接近目标，超精密压电显微操作器系统的标准精细工作范围为20μm。如果用户想要一个更大的精细模式工作范围，增加助推器设置。NanoControl控制电子的助推器组件将精细模式工作范围扩大了一部。超精密压电显微操作器系统配件规格：尺寸57.1mm x 20.4mm x 25.4mm重量45g移动范围线性轴上的行程范围- 12mm 旋转轴线上的行程范围- 240°操作速度最大可达 10mm/秒精确度0.25nm 分辨率配件 1mm 或2mm移液管的移液管夹持器 pipettes磁性固定板显微镜平台转接板移液管增压和探头连接器纳米控制 用手柄控制电子和Windows98 / NT/ ME /2K / XP软件。详细信息的请查看以下链接，并在Kleindiek网站观看MM3A-LS的视频

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

样品大小要适合仪器专用样品台的尺寸，不能过大，样本座（样本台）尺寸各仪器均不相同，一般小的样品座为Φ3～5mm，大的样品座为Φ30～50mm，以分别用来放置不同大小的样本，样本的高度也有一定的限制，一般在5～10mm左右。 扫描电镜的块状样品制备较简单，对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需进行什么制备，用导电胶把样品粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免电荷积累，影响图象质量，并可防止样品的热损伤。粉末样本的制备：先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上，再均匀地把粉末样撒在上面，用洗耳球吹去未粘住的粉末，再镀上一层导电膜，即可上电镜观察。 现在为了节约你寻找样本台的时间，我们提供全系列的样品座（样本台）产品供大家选择！客户购买样本台，首先要知道所用仪器的生产厂家，仪器型号，样本台上下面的直径、材质等。我公司经销的样品台可以匹配的仪器生厂家或者仪器型号有：AMRAY 1000/1200AMRAY 1000/1200/1400Cambridge S-4, Mark II, S-410...Cambridge, Phillips, Camscan, B&L, Etec, Zeiss, etc.Leo MicroscopeCoates & WelterHitachi S-450HitachiHitachi S-500JeolJeol, ISIJeol JSM 840Zeiss 样品台的材质：铝质样品座、光谱纯碳样品座（用于EDS,探测器探测不到它们）.样品台的别名：样品座，大头钉，样品支架，基板等等。

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位701-1Pelcotec CDMS-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个699-1Pelcotec CDMS-1T，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位711-1Pelcotec CDMS-1C ISO，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个703-1Pelcotec CDMS-1C，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个700-01Pelcotec CDMS-0.1T，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个704-01Pelcotec CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um（适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO）。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525um ±10um，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm是是仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是

1.通用型储存盒：盒子带有内衬和盖子，可装12个样品台（台面直径是10mm或者15mm的圆柱体；或者销钉的直径是3.1mm的样品台）。 订购信息：货号产品描述规格76500Universal Mount Holder，扫描电镜SEM样品台储存盒1个76510Universal Mount Holder扫描电镜SEM样品台储存盒10个/盒 2.台面直径12.7，销钉直径3.1mm的样品台盒子，可以装4个样品台。 订购信息：个/盒 3.日立样品台盒：Hitachi SEM Mount Storage Box。可以装日立的底部带有内销的圆柱样品台。每个台位均有编码（1-10）。15mm的样品台可以装10个；或25mm的样品台可以装8个；或32mm的样品台可以装2个。 订购信息：货号产品描述规格76503 货号产品描述规格76610Mount Holder box，Pin Type样品台储存盒10 日立样品台盒1个76504日立样品台盒10个/盒 4.通用型销钉型样品台盒:Pin mount storage box.。销钉直径为3.1mm的样品台均可以放置。里面有18个台位（编码1-18）。可以装18个台面直径12.7mm的；或8个台面直径25mm；或2个32mm；或2个38mm；或2个50mm。 订购信息：货号产品描述规格76506通用型销钉型样品台盒1个

磁性样品扫描电镜（SEM）观察不可或缺的工具！通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染，实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理 超薄窗采用半导体工艺制造，表面经处理后，可具亲水性、疏水性或双性兼具，以满足不同的应用需求；分析时，所观察的样品自动紧贴超薄窗，从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计，液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化，获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计，提高使用效率，1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。

这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源，非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能，允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”（x射线）。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦（35千伏和0.1毫安，取决于阳极材料）。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作，包括在同一样品上使用电子束，同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别，量化，甚至生成痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。 应用： 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag，Mo＆W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm，500μm，1000μm（其他可选） 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却，不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示。 连接到SEM，键控上电开关，集成高压电源，HV-On灯，警示灯

碳具有 的特性： 按照质量，碳是宇宙中第4丰富的元素，也是 化学活性的元素之一。碳不仅能与其他元素结合，而且可与自身结合，形成最坚硬的金刚石和最软的石墨。碳还是有机化学和所有已知生命的根基。碳有几乎无限的应用。近年来，包括石墨烯（碳的二维形式）和单壁碳纳米管（主要为柱状石墨烯）在内的形态表现出非凡的属性，鼓舞着世界各地的科学家寻找各种用途。与石墨烯一样，单壁碳纳米管的属性充满前途，甚至有可能改变全球产业的面貌。与石墨烯不同的是，2014 年开始就有大量单壁碳纳米管在全球范围内供货。TUBALL由单壁碳纳米管构成，“成品”杂质含量极低（SWCNT含量≥75％），且在大多数应用中无需进一步的纯化。TUBALL具有独特的物理属性，可提高大多数材料的强度、导电性和/或导热性，包括聚合物复合材料、橡胶、金属和许多其他材料。与多壁碳纳米管、碳纤维和大多数类型的碳黑不同，TUBALL在添加 0.001％-0.1％ 的重量后即可显著改善材料属性。产品特点：填料重量含量达到 0.001％ 时开始展现功效同时提高材料属性（机械强度、导电性和导热性）各种潜在应用： 聚合物复合材料、橡胶、金属和许多其他材料高质量的SWCNT含量（数量 ≥ 75％，G/D大于50）无定形碳含量小（低于 1％）铁 (Fe) 催化剂颗粒包封在碳外壳中在大多数应用中，无需对生产过程做任何额外更改市场价格比具有同类质量和属性的所有其他产品低50倍技术参数规格计量单位数值评价方法碳含量wt.%85TGA, EDXCNTwt.%≥75TEM, TGA碳纳米管的层数单位1-2TEM碳纳米管的平均外径nm1.8±0.4拉曼光谱, TEMCNT长度um5AFM金属杂质wt.%15EDX, TGA根据特定客户的要求，可对任何所需数量的TUBALL进一步纯化与功能化，从而达到以下规格：

产品特点：金纳米螺旋标尺（L，R）是手性的纳米标记物，尤其适合于3D断层扫描，电子显微镜（EM）或冷冻电镜。我们的手性标记物显示纯手性（L或R），由于高对比度和金纳米颗粒的精准排列，可以很容易地被电镜检测到。金纳米螺旋标尺（L，R）是用DNA折纸技术制备，金纳米颗粒（10nm）被排列成纳米螺旋（螺距57nm 长110nm 直径34nm）。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：在透射电镜载网中：样品放在干燥的透射电镜载网上使用，以提高由银增强放大了的螺旋效果。样本存储在石蜡膜覆盖的塑料孔中进行运输。保质期是6个月。在缓冲液中:该纳米螺旋储存在缓冲液（1X TE，11mM MgCl2）中运输。样本量约为30μL，这个量足以用于10个以上的TEM。样品保存于低温的保温盒中进行运输。适当的储存条件下（避光，4℃），保质期为3个月。

扫描电镜、FIB和STEM样本固定台（Specially Designed Specimen Holders For SEM）专为SEM扫描电镜的样本固定而设计。 这些样本固定器能够显著提高你的工作效率，因为你可以同时观察多个样本，这就减少了频繁抽真空所消耗的时间；同时工作腔室更加洁净。固定器的材质为硬铝材料，配备弹簧或固定螺丝以确保样本的稳定性。固定器可通过变换端口实现各种标样的适配，有一个中央螺纹连接适配销，首先应根据所用电镜选择合适的适配销。Adapter A：总体尺寸：28mm长x 3.1mm直径（加长套尺寸：6.25mm长*4.8mm直径）Adapter B： 总体尺寸： 28 mm 长x 6 mm 直径Adapter C：总体尺寸： 34.5 mm 长x 16 mm 直径所有适配器都有一个5 mm长的螺纹 通用SEM扫描电镜样本台（Universal SEM Sample Holder）这种固定器可以用来固定形状不规则的样本，直径范围在3mm-29mm之间，样本安装拆卸简单，铝质材料，四个样本夹持柱可移动，可以轻松固定较小的样本。固定器尺寸：48mm*42mm*12mm厚 订购信息：货号产品名称规格75910Universal SEM Holder Amray Baseeach75910-01Universal SEM Holder Amray Base with Pin Aeach75910-02Universal SEM Holder Amray Base with Pin Beach75910-03Universal SEM Holder Amray Base with Pin Ceach 垂直样本固定器（样本台）Vertical Mount for Thin Samples Flat Base这种固定器是用来固定各种垂直的薄的样本，它的直径为25mm，厚度为10mm。虎口能够夹持最薄3mm厚的样本。弹簧保证样本垂直，以便对他的横截面积进行研究。这种固定器对研究硅片横截面非常有帮助。通过适配销和你的仪器连接。订购信息：货号产品名称规格75915Thin Sample/Vertical Mount Holder, Flat Baseeach75915-01 Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Aeach75915-02Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Beach75915-03Thin Sample/Vertical Mount Holder, Adapter Pin Ceach 复合样本台（Multi Pin Holder）这种样本台的主要优点在于节省时间。它可以同时容纳3-5个直径12.5mm、1/8”销的独立小样本台。销售信息：货号产品名称规格759203-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75920-013-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75920-023-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75920-033-Pin Holder, 25 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach759215-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Flat Baseeach75921-015-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Aeach75921-025-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Beach75921-035-Pin Holder, 32 mm Dia x 10 mm H, Adapter Pin Ceach ISI DS 130 and 150 First Stage样本台直径10mm，高5mm，铜制，适合ISI DS 130 and 150 SEM’s。内圆筒高度可调，因此可以调整样本到合适的各种距离。销售信息：货号产品名称规格75925SI First Stage Holdereach 圆柱适配器（Pin Mount Stub Adapter）铝质，适用于3.1mm的销；有10、15、16mm直径可选。销售信息：货号产品名称大小规格75940-07Pin Mount Adapter16 mm x 55 mm (H)each75940-08Pin Mount Adapter16 mm x 25 mm (H)each75940-09Pin Mount Adapter15 mm x 15 mm (H)each75940-10Pin Stub Adapter10 mm x 10 mm (H) each75940-11Pin Stub Adapter15 mm x 10 mm (H)each75940-15Pin Stub Adapter38 mm x 15 mm (H)each75940-16Pin Stub Adapter38 mm x 16 mm (H) each 横截面固定器（Cross Sectional Holder）由无磁不锈钢制造，3.1mm直径的销；螺纹角度可调，可直接用于横截面样本的观察。货号产品名称 规格75942-01Cross Sectional Holdereach 5孔样本架（Five 10mm Stub Holder）5个10mm的孔用于固定圆柱式样本台，销的直径为3.1mm。销售信息：货号产品名称规格75945-05Five 10 mm Stub Holdereach 薄样本台（Thin Sample Holder） 用于横截面样本的检查，如晶片、多层电容、塑料等。直径12.7mm的表面，销为3.1mm。销的高度有8mm和15mm两种。对于ISI, JEOL, TOPCON，双重螺纹确保了样本的稳固。15mm直径×10mm高，6.4mm豁口。销售信息：货号产品名称规格75948-08Thin Film Holder, 8 mm (L) Pineach75948-15Thin Film Holder, 15 mm (L) Pineach75948-10Thin Film Holder, 15x10 mm Stubeach 冶金样本台（Metallurgical Mount） 直径31.8mm，3.1mm的销，深8mm。销售信息：货号产品名称规格75952-01Metallurgical Mounteach STEM样本台（STEM Holder） 可以使用它来完成3.05mm载网上的TEM样本的SEM观察。样本台能够旋转，保持反射镜和光电管的配合。铝质材料制造，选购时首先要确认已经具备的电镜型号。销售信息：货号产品名称规格75954-01Mini SEM Clamp 12.7 mm, Pineach75954-02Small SEM Clamp 15 x 10 mm, 3.2 mm (?") Pineach75954-03Medium SEM Clamp 25 x 15 mm, 3.2 mm (?") Pineach 微型通用夹具（样本台）（Universal Vise）虎口尺寸：25mm长、11mm宽、8mm高，底座连接销直径为3.1mm 销售信息：货号产品名称规格75950-01微型通用夹具（样本台）Universal Viseeach FIB样本台(FIB Sample Holder) Fortress™ FIB样本台可以重复使用，样本不需要粘胶、胶垫或导电油漆等物质就能被固定在指定位置；Fortress™ FIB样本台可以固定一个薄的、整个或部分TEM载网在指定位置；对于已安装样本，Fortress™ FIB样本台采用专利的CastleGuard™ 保护设计。一个SS200样本台盒可以最多储存30个Fortress™ FIB样本台。 特征：1. 特别的箝位机构保证样本安全，不需要顶部紧固 2. 3.1mm的连接销适合大多数FIBs and SEMs.3. 外部支撑结构能够在样本操作转移过程中起到有效的保护作用4. 经济型设计可以满足使用者在同一个样本台上制备和储存样本5 配备Sver™ 储存盒，便于储存和移动 Fortress™ FIB样本台– Low Profile Low Profile Fortress™ FIB Holder:既可以用于载网上的FIB lift out样本，也可以用于H-Bar切割样本。 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台，使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。销售信息：货号产品名称规格75956-01FIB Sample Holder – Low Profileeach75956-50Fortress™ Sample Loader for Low Profileeach Fortress™ FIB样本台– High Profile High Profile Fortress™ FIB样本台：仅用于载网上的FIB lift out样本 Fortress™ Sample Loader:用来固定Fortress™ FIB样本台，使之能够从2个角度观察样本而不需要变换焦距。 销售信息：货号产品名称规格75957-01FIB Sample Holder – High Profileeach75957-50Fortress™ Sample Loader for High Profileeach

Hitachi日立扫描电镜样品台型号很多，请注意核对您已有的样品台形状、参数。欢迎登陆海德公司网站或来电获取详细信息。 1、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：26mm，高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75621Hitachi日立M4样品台（标准型），26mm10个/包75621-DHitachi日立M4样品台(表面9个分区)，26mm10个/包2、柱状（带帽）直径：15mm，高度：13mm材料：铝货号产品名称规格75630Hitachi日立柱状样品台（带帽），15mm10个/包3、柱状直径：14mm，高度：10mm材料：铝货号产品名称规格75650Hitachi日立柱状样品台，14mm10个/包4、Hitachi日立S-450锥孔，内螺纹直径：15mm，高度：6mm,有3分区型式材料：铝(特别提供，碳-光谱纯)货号产品名称规格75600-DHitachi日立S-450样品台(表面分区)10个/包75600Hitachi日立S-450样品台（标准型）10个/包76470Hitachi日立S-450样品台（碳）10个/包5、Hitachi日立S-500锥孔，内螺纹直径：25mm，螺钉高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75640Hitachi日立S-500样品台10个/包6、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：32mm，高度：6mm,材料：铝货号产品名称规格75635-70Hitachi日立M4样品台（标准型），32mm10个/包7、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：25mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-40Hitachi日立M4样品台，25mm10个/包8、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：15mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-10Hitachi日立M4样品台，15mm10个/包9、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：32mm，高度：10mm,材料：铝货号产品名称规格75635-75Hitachi日立M4样品台，32mm10个/包10、Hitachi日立M4 锥孔，内螺纹直径：50mm，高度：6.0mm,材料：铝货号产品名称规格75635-77Hitachi日立M4样品台，50mm10个/包

这款主动隔振台是全球领先的主动式隔振台，用于消除各种震动，非常适合扫描电镜隔震减振应用，是理想的扫描电镜和各种显微镜消除振动的配件。这款主动隔振台可以有效隔离0.7Hz~10Hz的振动，对低频振动的隔离表现远远高于被动式隔振台。这款主动隔振台具有极短的沉寂稳定时间，快速稳定，方便使用。主动隔振台应用：激光共聚焦显微镜等各种显微镜，电镜，纳米仪器，高精密天平等各种高端仪器主动隔振台技术参数隔离振动：0.7Hz~200Hz,振动透过率：0.01(-40dB)@10Hz最大负载：140kg尺寸：500x600x80mm自身重量：23kg 功耗：最大20W安全等级：1级安全电源要求：200-240VAC保护等级：IP20温度范围：5～40摄氏度相对湿度：10-90%最高海拔：2000m进口隔震台和欧洲进口的显微镜隔震台,小巧便携，可以放置到任何桌面或工作台面上，把仪器直接放置到隔震工作台上，能够有效阻断来自工作台或桌面上的震动，具有免维护的独特势，不再需要笨重的防震桌，大大节省空间.

二氧化钛纳米捕获柱使用 Thermo Scientific™ 二氧化钛纳米捕获柱有助于对磷肽进行富集。订货信息：Nano-Trap ColumnsNano Trap Column, 100 μm i.d. x 1 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164205Nano Trap Column, 100 μm i.d. x 1 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164205Nano Trap Column, 200 μm i.d. x 1 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164215Nano Trap Column, 200 μm i.d. x 2 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164206Nano Trap Column, 100 μm i.d. x 1 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164205Nano Trap Column, 200 μm i.d. x 2 cm, TiO2, 5 μm, Set of 2164206Acclaim PepMap100 Nano Trap Column, C18, 5 μm, 100 A, 100 μm i.d. x 1 cm, Set of 2164197Acclaim PepMap100 Nano Trap Column, C18, 5 μm, 100 A, 100 μm i.d. x 2 cm, Set of 2164199Acclaim PepMap100 Nano Trap Column, C18, 5 μm, 100 A, 200 μm i.d. x 1 cm, Set of 2164212Acclaim PepMap100 Nano Trap Column, C18, 5 μm, 100 A, 200 μm i.d. x 2 cm, Set of 2164213The Titanium-Dioxide Nano-Trap columns support the enrichment of phosphopeptides. They are available in 100 μm and 200 μm i.d. format, and are packed with 5 μm particle size. In addition, a combination of Titanium-Dioxide and Acclaim® PepMap100 C18 is also available. TIO2 Nano Precolumns SpecificationsI.D.100-μm200-μmStationary PhaseTIO2 5-μmTIO2 5-μmTIO2 5-μmTIO2 5-μmBed Length1 cm1 cm2 cm2 cm1 cm / 1 cm1 cm / 1 cmColumnFused-silicaFused-silica

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check

参数：Ti02NW-A直径（纳米）：10长度（微米）： 10Ti02NW-B直径（纳米）：100长度（微米）：10-30Parameter:Ti02NW-ADiameter(nm)：~10Length(um)：10Ti02NW-BDiameter(nm)：~100Length(um)：10-30

【产品详情】 SEM扫描电镜样品台存储盒有3个规格可选，可存储14枚直径为12.5mm的钉形样品台（ZEISS/FEI/TESCAN），也可存储12枚直径为10mm和15mm的圆柱形样品台（JEOL），还可存储14枚直径为15mm的Hitachi日立M4样品台。 样品盒尺寸为121×77×34mm。【规格详情】样品台储存盒样品台个数钉形样品台（ZEISS/FEI/TESCAN）14枚φ12.5mm样品台圆柱形样品台（JEOL）12枚φ10mm和15mm样品台Hitachi日立样品台14枚φ15mm样品台产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关，采用纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术，通过激光散射装置（纳米观测）与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合，生成纳米颗粒图像，是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理 纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块，可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此，在超显微图像中，较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。 纳米观测模块 纳米观测模块的设计，可以使其安装在超显微镜，顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。 顶眼超显微镜 顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪，模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。 NTA 软件 上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点，要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法，得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量，当我们知道相关的量后，我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如，可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器，可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是，用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。 MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包，被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序，可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。 MiNan是自带Morphious纳米系统的软件，研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状（形态）和浓度的测量。每个粒子是一个个体，但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果，即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高，同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时，粒子尺寸和浓度，蛋白质聚集和粘度都可以被分析。 纳米颗粒分析仪配件应用 ? 在制药或复合产业研发药物 ? 用于病毒筛查 ? 用于开发纳米生物标记物或毒物筛查 ? 用于蛋白质聚集的动力学模型研究 ? 用于通过膜泡的表征研究疾病 ? 用于促进纳米复合材料的发展 纳米颗粒分析仪配件特色 ? 在同一时间多粒子高通量表征 ? 实时视觉展示粒子，允许用户评估试验，无需额外复杂性 ? 方便和易于使用的软件，允许用户通过宏设置任何实验 ? 添加像高通量自动采样器，泵或加热和制冷配件 ? 自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序，操作轻松舒适 ? 超级高效和购买成本低 ? 该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵 ? 激光波长可选择 ? 通过给过滤器添加电动轮，得到自适应荧光分析 纳米颗粒分析仪配件参数 ? 尺寸 10 nm - 2000 nm* ? 浓度 106 - 109 粒子/ mL ? 荧光检测 纳米颗粒分析仪配件规格 温度范围 15-40 °C 电源 230V AC/115V AC, 50/60 Hz 摄像机 USB3 CMOS分辨率：1936x1216 161帧/秒，像素尺寸5.86μm：颜色校准模块 功耗 18W 激光波长 405nm（紫色），488nm（蓝），532nm（绿），642nm（红色） 尺寸范围 从10 nm到2000 nm (取决于材料) 焦点 电脑控制电动调焦 个人计算机 SDD亿康 II SDSSDHII-120G-G25HDD 西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节 GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM 处理器 英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz 显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB 电源 酷冷至尊 G750M 750w 机箱 酷冷至尊黑 软件 Windows® ＆（或更高）.由Mishell® 供电 Mishell是Microptik BV公司的注册商标。 Windows是微软公司的注册商标。 MiNan尖端程序在Mishell下运行，以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子 尺寸（长×宽×高） 20 x 18 x 30 cm 重量 10.5 kg

工业级飞秒激光微纳加工系统配件专业为工业微加工研究和生产而研发的成熟的技术，可用于飞秒激光打孔,飞秒激光蚀刻,飞秒激光多光子聚合等微纳加工应用。飞秒激光微纳加工系统配件具有非常绝佳的可靠性和超高的加工速度，飞秒激光器由于激光脉冲超短，提供了常见激光无以伦比的激光功率密度，其加工效果远远超过纳秒和皮秒激光。光束所到之处能够瞬间将材料汽化，由于激光脉冲超短，激光能量无法在如此短的时间内扩散到周围材料中，所以对加工区域周围影响微乎其微,是一种冷加工技术,加工效果堪称一流。飞秒激光微纳加工系统配件采用高达10W的Yb:KGW(1030nm)飞秒激光器作为激光光源,重复频率在1--1000KHz范围内可调，结合一流的精密扫描振镜,提供超高的微加工速度。系统配备Arotech公司高分辨率的定位平台，并同步激光光束扫描振镜和脉冲选择器, 在空间，时间和能量上提供全方位高精度控制。从而提供超高难度的加工能力，并达到亚微米精度的分辨率和重复性。配备机械视图系统,使用高分辨率的相机监控加工过程。飞秒激光微纳加工系统配件使用了贴别为微加工而设计的飞秒激光器，它比市场上出售的商业飞秒激光器具有更多优势，具有更高的稳定性和可靠性，达到工业使用的标准，飞秒激光放大器具有更短的脉冲(振动器80fs， 放大器280fs)，飞秒激光器具有更高的平均功率（振荡器高达2W, 放大器为6W），而且激光重复频率可调，计算机监控并控制激光。飞秒激光微纳加工系统配件规格 激光放大器参数 波长 1030nm 平均功率 6W 重复频率 1-1000KHz可调 脉宽 280fs-10ps计算机控制 最大脉冲能量 1mJ 输出稳定性1% 光束质量M2 2 脉冲选择器 多种频率选择 SH, TH,FH可选 激光振荡器参数 功率 1W 脉宽 80fs 重复频率 76MHz飞秒激光微纳加工系统配件特色 超高加工速度：高达350000像素 飞秒微细加工模式下具有最小的热影响区 工作面积高达：150x150mm 使用高性能振镜控制精密激光光束 激光脉冲数可控（1-350KHz)飞 飞秒激光微纳加工系统涉及技术 飞秒激光钻孔，飞秒激光切割，飞秒激光打孔 飞秒激光烧蚀,飞秒激光蚀刻,飞秒激光雕刻 2.5D铣，自定义模型划线, 表面微纳结构价格 改变材料的折射率,飞秒激光材料改性 飞秒激光三维多光子聚合 光学微操作…… MEMS制造掩膜制造和修理微片修复 燃料电池材料制造LIBWE,医疗应用激 光诱导扩散微光学、光子晶体、衍射光学元件制造波导和微透镜的制备

用途：扫描电镜光阑尺寸：如图所示后期处理： ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点： ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化，加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工，而且加工的质量稳定，品控体系严格交货期：根据产品规格另作商量，一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商，从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外，我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和Ｘ射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001ｍｍ。欢迎您的咨询，期待为您服务！

科研级飞秒激光微加工平台FemtoLAB 科研级飞秒激光微加工平台FemtoLAB是科学实验精密微加工的优秀解决方案。FemtoLAB配备高精度线性位移平台、高性能电流扫描仪和多功能微加工软件SCA等，是理想的飞秒激光微加工实验室。典型应用：- 表面微米和纳米结构- 雕刻- 钻孔- 激光照相和多光子聚合- 材料内折射率改性- 选择性薄层去除- 切削脆性材料- 波导结构加工- 可根据要求提供进一步开发 科研级飞秒激光微加工平台FemtoLAB是科学实验室的理想选择，可胜任各种定制任务和解决方案。我们的技术能力和应用经验可以优化FemtoLAB工作站，为用户节省宝贵的实验时间，并对用户进行全面培训。 科研级飞秒激光微加工平台FemtoLAB完整设备，含飞秒飞秒激光器激光微加工工作站FemtoLAB功能特性： - 高速精密微加工- 高端工业级飞秒激光器- 用亚微米分辨率制造难处理材料- 飞秒微机械加工模式下热影响区最小- 纳米定位精度- 可选扫描振镜，精确激光束引导- 灵活调节激光参数- 控制所有集成硬件设备的原始软件界面 WOP科研级实验室飞秒激光微加工平台FemtoLAB配置灵活性，系统允许在出现新要求时进一步扩展和升级。飞秒激光微加工系统FemtoLAB的技术指标依赖于最终用户的要求和任务。典型配置如下：参数 值 脉冲宽度200 fs - 10 ps重复频率1 kHz - 1 MHz平均功率高达20W脉冲能量最高2 mJ波长1030nm，515nm，343nm，258nm，206nm定位精度±250nm行程范围从25×25 mm到300×300 mm（根据要求可提供更大）主要组成部分：- 飞秒激光光源- 样品定位系统- 光束传输和扫描单元- 激光功率和偏振控制- 用于系统控制的软件（可选：根据要求自动对焦和视觉）- 样品架和特殊机械（可选：根据要求提供样品处理自动化）- 光学平台（可选）- 外壳（全部或部分）- 除尘装置如果用户已经拥有高能量高功率飞秒激光器，我们可以提供不含飞秒激光光源的微加工平台FEMTOLAB-KIT： 科研级实验室飞秒激光微加工平台FemtoLAB加工效果：玻璃基板烧蚀光纤钻孔 陶瓷激光划线激光切割 激光打标