小光源近场光线分布测量系统

SIG 系列分布式光度计，可以直接得到LED 等光源的近场光线数据Ray DATA，从而通过权重法超高精度模拟不同距离下的远场数据，测试数据可以直接导入Zemax、LightTool、TracePro 等光学设计软件；可以了解你芯片的发光特点，改进封装设计工艺，提高出光效率；对于LED 应用，无需再为LED 光学模型重建而苦恼；让你轻松实现业界领先的光学设计； SIG400光源近场分布测试系统

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

SIG系列小光源近场光线分布测量系统特点 :? 支持垂直光源及水平光源设置测量? 提供亮度及颜色的近场测量模型? 视觉范围及分析的多光学结构配置? 用集成影像数据来产生RSM的模型? 稳定性极高的LED光源及弧光光源精准测量模式应用 :? 测量待测光源所有角度近场光强度分布与色度? 提供精确的射线组合提供光学设计套件软件使用? 提供光学设计与原型测试的近场模型SIG-300 光源效率的精准模拟是需要经过研制计算的，光学设计、装置的设计选项、装置的筛选和质量控管以及亮度的设置，这些都需要经过直接且精确的测量实际上的光源效率。SIG-300 是光源影像式角度机，其可采集并汇集光源周围多角度面向的亮度及颜色测量，这些光信号会汇整至Radiant Source Model(RSM) 进一步分析出光源的效率，这些分析数据可用来提供光学设计上使用。 SIG-300 透过坚固的机械设计、精准的光学配置及软件控制来达到工业等级般的精准测量。SIG-300 可适用于一般大多数的光源，从LED 光源到中尺寸的光源测量，垂直方向或是水平方向的光源测量皆适用，并且有微小影像分析、标准影像分析及微小视觉范围可做选配。 RSM 是光源近场效率刻划显示的工业标准模型，它有着丰富的信息，可提供亮度值及色坐标数值，还可保存所有测量的影像，并且能够使用ProSource® 的功能使其更精准，产生更完整的射线组合用来提供光学设计用的原型，减少光学设计时不必要的时间。 Radiant Imaging 提供完整全系列的光源影像式角度机，适用来量测LED 光源用的SIG-400 系列到大面积光源的SIG-310 系列机型。SIG系列小光源近场光线分布测量系统? 大面积光源优化测量? 支援垂直光源及水平光源设置的测量? 提供亮度及色度的近场模型? 多样光学结构配置强化视野范围及分辨率? 采用集成影像数据产生RSM模型应用 :? 测量大面积待测光源所有角度近场光强度分布? 测量大面积光源近场色度分布等特性? 提供精确的射线组合提供光学设计套件软件使用SIG-310 光源近场亮度的精准测量和大面积光源的颜色分布需要精准的光学、机械和软件设计的组合，架构于Radiant Imaging 工业等级的SIG-300 及SIG-400 系统的设计上，SIG-310 系列实现高阶的色度计，坚固的机械结构配置让此系统能够更精确更稳定的量测，搭配容易使用的控制软件，SIG-310 可以广泛的适用于各种测量应用，不论是垂直光源的配置或是水平光源的配置皆可适用。 SIG-310 利用多视角来采集大面积光源亮度及色度的影像空间结构来产生高准确的近场模型。 记录在工业标准的Radiant Source Model(RSM) 格式内，这些数据使用ProSource® 软件功能，可提供详细的数据分析及数据输出给大多数主要的光学设计套件，更精确的近场模型量测能产生更精准的射线配置而得到更好的光源系统设计。SIG-310适用于一般光源的测量，可用于研发或产品特性的测量。SIG-400 因应LED 组件及光源应用的迅速成长，对于LED 组件及光源的发展研制、估算及光学设计来说，准确的LED 模型效能是必须的，这可透过低成本的方式来选择组件设计、质量控制以及发光效率的设计等应用。 SIG-400 是光源影像式角度机，可采集和整理LED 光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值，精准的刻划出实际的光效率。汇总入Radiant Source Model(RSM) 的数据数据可进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。 SIG-400 是对LED 光源的优化测量系统，可减少系统的体积及降低成本，并简化测量的工序；此外，也提供了多样化的选配，如像素的分辨率、微观视野、标准视野、巨观视野的范围选择。 SIG-400 透过坚固的机械结构设计、精准的光学配置以及软件控制，使其成为业界领导等级的准确量测系统，SIG-400 在测量整个待测件的时后能够精准的定位到待测件的中心点，经测试后不超过15 微米，当量测LED 裸片时可让测量错误降到最小。特点 :? LED芯片、颗粒及组件的优化测量系统? 多样光学结构配置强化视野范围及分辨率? 提供亮度及色度的近场模型? 用集成影像数据来产生RSM模型应用 :? 测量LED或是小面积光源所有角度近场光强度分布? 测量LED或是小面积光源近场色度分布? 提供光学设计与原型测试的近场模型

光源近场测量系统Gonio-2Pi主要功能该设备可以实现光源的远场测试，另外通过可选附件，可以拓展测试光源的近场，多光谱Raydata，BSDF等测试，实现一站式完全光源的全数据表征；光源近场测量系统Gonio-2Pi主要应用对于LED车灯照明，医院照明灯，通常通过封装多种波长的芯片和荧光粉来提升光色参数品质，通过灯具混光设计，来得到优质的照明品质；Gonio-2Pi提供多波长的近场/远场的Raydata测试，可以提供各波长的光线集模型，从而为高品质的照明灯具设计提供光线模型； 多芯片封装LED芯片近场测试左上:488nm芯片辐射图像；中上：488nm芯片光线集；右上：83.5°C面的光强角度分布；左下:630nm芯片辐射图像；中上：630nm芯片光线集；右上：83.5°C面的光强角度分布；技术规格Gonio-2PiSi 版本BSDF版本尺寸（臂长）1500mm x 875mm x 2070mm占地尺寸2215 mm x 875 mm电气柜尺寸600mm x 550mm x 1300mm重量350kg(主机)+100kg(电气柜)工作距离700mm可调850mm 可调XL 版本角分辨率10-4°内部，10-2°外部探测器Luca成像亮度计滨松PMT动态范围12Bits/18Bits可选探头Spec’3-光谱仪Spr’3-光谱辐射度计frc’3-辐射度计/光度计光谱高质量V(λ)RGB或者多色Ray Data光源白光光源/半导体激光器空间分辨率0.03mm输出格式通用orf格式，支持主流的光学模拟软件

适用于封装LED、光学透镜、镜头等近场光度测量，及需要近场分析的光源的测量，测试参数包括近场光分布和亮度分布，通过算法亦可得到光源的光线数据，并可以推算出光源的总光通量和空间任意位置的光强分布。系统输出的光线模型能与Tracepro等光学软件相配合，更方便，准确地进行照明产品的二次光学设计和研发。

分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述：分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计，专为R＆D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计，可调节远场光度和色度测量系统，在H，V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试，分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车，铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量，还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括：发光强度分布，极坐标图，圆锥图，光通量，中心光束强度，相关色温，显色指数，麦克亚当椭圆，角度颜色均匀性，还可选测发光效率，功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理：测角仪是一种带有旋转轴的仪器，用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度（远场）或照度（近场）测量获得。利用足够的角度步长和范围，可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布，可以推断出照明应用的属性，例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组，2组和3组，也称为A类，B类和C类，它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（旋转vs高度）来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（高度vs旋转）来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型，具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同，只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点： l A类测角仪，配备3个机械化H，V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件，有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好，操作简单l 机电一体化组件，自动化程度高l 可控制和可编程功能，坚固耐用 l 符合相关标准，测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围： l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项：l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数：CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动：角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率：0.002° H轴再现性：0.05° * (*额定负载时) V轴运动：角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率：0.002° V轴再现性：0.05° * (*额定负载时)Z轴运动：线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性：70 μmX,Y轴运动：线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性：70 μmDUT安装板：方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸：≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D)：810 x 2020 x 1990 mm光轴高度：1350 mm最小房间高度：2600 mm最小房间宽度：4000 mm最大负载：50 kg产品重量：450 kg电源：AC 110-230V, 3000 W控制器：用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性：设备两侧设有紧急停止按钮，可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项：GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0

RiGO 801-LED 是德国TechnoTeam公司针对LED及其模组推出的近场分布式光度计，可快速测试LED的近场数据（Ray Data；Ray Set；Ray File），省去工程师进行光源建模的麻烦，从而加速产品开发周期，并极大的节省模具的开发和修改成本。德国的TechnoTeam 生产制造近场分布式光度计的经验超过20多年（1991年推出全球首套商用近场分布式光度计），是近场分布式光度计标准的制定者。RiGO 801-LED 除可实现近场测试外，还具备如下测试功能：光通量；光效；配光曲线；空间色度均匀性（可选）表面亮度、色度分布（可选）光谱分布（可选）满足Zhaga 测试标准主要参数：测试对象:0.2mm - 200mm 的各种LED光源、模组、小型光源近场数据位置精度 0.01mm

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

无锡布里渊光纤传感事业部DAS分布式光纤振动监测系统简介： BLY-DAS-V5S光纤多点定位型振动光缆报警系统是由我司独立研发而成，具有精确定位功能，系统采用光纤传感技术，在不需供电的情况下能够提供长达60公里距离的安全预警监控，特别适用于输油管道、仓库油库等长距离、大范围的安全预警，报警敏感度高，定位精确。 无锡布里渊光纤传感事业部DAS测量原理：　　分布式声音传感器DAS是基于相干瑞利散射的分布式光纤传感器。它利用光纤对声音(振动)敏感的特性，当外界振动作用于传感光纤上时，由于弹光效应，光纤的折射率、长度将产生微小变化，从而导致光纤内传输信号的相位变化，使得光强发生变化。　　声波导致的相位变化很小，因此DAS系统通常采用高相干的脉冲光源，脉冲宽度区域内瑞利散射信号之间会发生干涉，当外界振动导致相位发生变化时会使得该点的相干瑞利散射信号强度发生变化，通过检测振动前后的瑞利散射光信号的强度变化(差分信号)，即可实现振动事件的探测，并具备多振动事件同时精确定位。 无锡布里渊光纤传感事业部DAS技术优势：※温度与振动连续分布式测量，无测量盲区※多事件同时探测与准确定位※光纤即为传感器，兼具传输与传感于一体※60公里超长测量距离，测量信息丰富※响应速度快，1秒以内报警※光信号传输，完全电绝缘，抗电磁干扰※本质安全，适用于易燃易爆环境下长期工作※测量稳定可靠，误报率低※光纤寿命长，可达30年免维护 无锡布里渊光纤传感事业部DAS性能特点：※温度距离长：60km※ 响应时间快：典型1s※定位精度高：2~50m※灵敏度高：可感知光缆周围40m内的振动※振动与温度同时监测※光纤故障在线监测功能※友好的用户软件，提供可视化的界面

分布式光纤测温系统DTS-BLY-5S 一：系统简介可恢复式线型光纤差定温火灾探测器DTS-BLY-5S是一款连续分布式光纤温度传感系统（Distributed Temperature Sensing System，DTS），它采用先进的OTDR技术和Raman散射光对温度敏感的特性，探测出沿着光纤不同位置的温度变化，实现真正分布式的测量。线型光纤差定温火灾探测器除了及时预警火灾隐患外，还能准确定位火灾发生位置。作为一种成熟的分布式测温手段，线型光纤差定温火灾探测器具有测量距离远、测量精度高、响应速度快、抗电磁干扰、适于易燃易爆等危险场所等优点，可广泛应用于高压电缆在线监测、电力载流量分析、交通隧道火情监测、油气储罐火情监测、输煤皮带火情监测、大坝渗漏监测等领域。二：测量原理DTS的温度测量基于自发拉曼Raman散射效应。大功率窄脉宽激光脉冲LD入射到传感光纤后，激光与光纤分子相互作用，产生极其微弱的背向散射光，散射光有三个波长，分别是Rayleigh（瑞利）、anti-stokes（反斯托克斯）和stokes（斯托克斯）光；其中anti-stokes温度敏感，为信号光；stokes温度不敏感，为参考光。从传感光纤背向散射的信号光经再次经过分光模块WF，隔离Rayleigh散射光，透过温度敏感的anti-stokes信号光和温度不敏感的stokes参考光，并且由同一探测器（APD）接收，根据两者的光强比值可计算出温度。而位置的确定是基于光时域反射OTDR技术，利用高速数据采集测量散射信号的回波时间即可确定散射信号所对应的光纤位置。三:系统特点及功能DTS-BLY-5S分布式光纤测温系统具有如下技术优势：1：快速性系统测温、定位速度非常高。为了提高测量时间，采用了高速微弱信号处理技术优势，单次测量时间 短为3s，响应速度快。2：分布特性分布式光纤测温系统可提供连续动态监测长达十几公里范围内每隔0.5米各点的温度变化信号，可任意设置各级温度报警值。3：先进性该系统是目前性能指标 高、功能性 强、可靠性 高、技术 先进的分布式测温产品。关键器件优选国外进口高性能器件，核心算法经过严格测试。4：准确性该系统的典型温度分辨率达到0.5℃，温度精度1℃，空间分辨率 高达0.5m。5：灵活性系统为实时在线监测方式；监测范围内任何一点的报警信号上传至火灾报警控制器的时间不大于30秒；监测系统提供的是一个连续的动态监测信号，系统可设置多级温度点报警即系统支持多级报警，如30℃初报警，40℃预报警，50℃采取措施等，并且可以根据环境不同进行报警点温度参数设定；具有差定温多种报警方式，并且报警参数可按客户需求进行分区设置，报警方式灵活。6：兼容性系统主机为开放通信协议，提供与工作站联接的通信接口，在中央控制室防灾报警工作站以汉化的图文方式显示温度曲线、报警位置、报警温度等全部信息；系统可以通过RS232、RS485、内置继电器、RJ45或其它工业协议等输出形式与PC、消防报警系统等其它控制设备进行联动，进行声光报警，信号输出准确、完整。7：安全性光缆分布式温度监测系统具备安全记录功能，可储存一年以内的历史数据，并可进行有效审核。单端操作，远程诊断，可通过局域网由专门工程师提供 低限度的系统远程诊断；如果光纤受损，DTS系统可以即时定位受损点，并通过光纤熔接机对其进行熔接，无需停止测量，这对于有效的实施在线监测是非常重要的；探测光缆本征安全，采用光信号,不会与动力电缆之间产生相互电磁干扰。

ODISI6100光纤分布式传感解调仪应用机翼变形在线监测汽车结构变形在线监测航空发动机结构变形在线监测特点客户定制任意通道标准2U 尺寸，可以上机柜长期在线监测采集间隔指标非常高、精度可达到0.04度优秀的热稳定性及长期稳定性以太网、USB两种接口可以实现双端测量描述 ODISI6100光纤分布式解调主机利用于温度、应变测量的高分辨率光纤传感技术（HD-FOS），是计算流体动力学（CFD）建模的完美配套工具，可验证温度与应变的分布预测。 光纤作为测量介质，抗电磁干扰因此可以放置在最具挑战性的测试环境中。他们的技术已经广泛应用于航空航天、汽车、军事等高端领域。ODiSI分布式光纤传感系统，具有毫米级空间分辨率，每米光纤上具有上千测试点，高空间分辨率能够帮助绘制应变/温度云图，在测试过程中实时显示.光纤传感器柔韧性好，体积小，不需要电源激励，能够粘贴固定在结构表面，尤其是大曲率结构表面；能够嵌入在结构内部，或者直接安装在电气结构的内部。 汽车白车身上布置了光纤传感器并进行了加载测试，应变数据和三维模型结合，以云图显示应变分布特性，图中可以看到明显的应力集中。性能指标 技术参数指标单位距离分辨率10.65 mm1.3 mm2.6 mm通道数1, 2, 4 or 8 通道 单通道传感长度标准长度10m扩展长度50 (支持 4 通道扩展长度)m每米测试点数1,538768384gages/m最大测试数量标准长度15,3847,6923,846gages/ch扩展长度-38,46119,230gages/chStandoff cable 长度 10，50 or 100m测试频率 (光开关切换实现多通道测试)标准长度 测试频率 2.5 m 模式62.5125250Hz5 m 模式4080160Hz10 m 模式2550100Hz扩展长度 测试频率 20 m 模式12.52550Hz50 m 模式-1020Hz高空间分辨率应变测试应变量程±12,000με分辨率1με仪器准确度±1με系统 (仪器和传感器) 准确度2±25±30±30με系统零应变重复性3标准长度 ±10 ±6±4με扩展长度 ±14±7±4με系统满量程测试不确定度4±22±16±6με高空间分辨率温度测试温度量程 (标准温度传感器)-40 to 200°C分辨率0.1°C测试不确定度±2.2±1.6±0.6°C工作条件和物理特性 技术指标ODiSI 6000 系列控制器单位Class 1 激光器10n/amW工作温度范围5 - 400 - 40°C存储温度范围0 - 40-40 - 70°C工作湿度 (无冷凝水)10 - 9010 - 90% RH存储湿度 (无冷凝水)10 - 9010 - 95% RH工作高度范围-15 to 3,000-15 to 3,000m尺寸 W x D x H34 x 35 x 1136 x 24 x 17cm重量7.81.8kg功耗30130W注释1. Gage pitch is the distance between centerpoints of consecutive gages.2. Total length of the patch cord plus the active sensor fiber must not exceed 10 m for Standard length configuration or 50 m for Extended Range configuration.3. Accuracy reflects ODiSI measurements compared to NIST-traceable extensometer measurements. Data based on average of 150 measurements at each of seven increments of strain, from 0 to maximum strain. System accuracy includes errors from ODiSI instrument and Luna strain sensors.4. Measurement uncertainty is equal to twice the standard deviation calculated from a set of 1000 measurements. Measurement uncertainty includes the effects of the instrument and Luna sensors.5. Environmental and physical specifications listed are for an ODiSI system with a laptop controller.

DiTeSt是一套独特的仪器，用于测定几十公里范围内分布的应变和/或温度。 它是一套功能强大的诊断仪器，用来识别和定位潜在问题。接上一根光纤，测量一次，它就能监测数千个位置的局部应变和温度。其固有的高稳定性和自参考工作原理使其适合在线或离线方式长期监测大型结构。DiTeSt 是一套基于激光的测量系统，采用了传感光纤内的光学散射测量原理：受激布里渊散射。它可以使用专用光纤和光缆作为传感元件进行测量。受激布里渊散射是光纤材料的一种固有物理特性，它提供了有关传感光纤实际经历的应变和温度分布的信息。DiTeST在BOTDA模式下有4个通道，可快速准确地测量长达60公里的应变和温度。多根光纤可以通过集成的光缆转接器自动连接到仪器。该系统包括一台工业计算机和内置硬盘，在连接方面具有极大的通用性。集成软件用户友好，可通过使用自配置向导轻松设置参数。该系统可以在交互或自动模式运行，根据预定程序来采集数据。与SMARTEC DiView软件兼容，实现自动数据管理和可视化。 主要特点 • 精细的空间分辨率：1米 • 可延长的距离，最远可达60公里 • 长期稳定性 • 自动监测 • 便携式 • 容易设置 • 远程控制 • 自我诊断 应用 • 高精度的分布式温度和应变测量 • 完整性监测 • 边坡稳定性监测 • 大坝/堤坝变形监测 • 沉降/ 落水洞定位 • 隧道监测 • 裂缝探测 • 压力管道监测

产品简介有机发光二极管或其他光源的发射随视场角变化很大。为了对这些样品进行正确的表征，需要测量不同探测角下的亮度、色度和发射光谱。滨松量子效率测试光分布测量系统 C9920-11配光曲线测量通过采用旋转台样品架和高灵敏度探测器满足了这些需要。该装置安装在旋转台上，放置在黑暗的样品室内，受到恒定电流或电压的激励。电致发光由聚光透镜收集到光导中，并连接至能瞬间测量整个发射光谱的高灵敏度CCD光谱仪。 软件测量了每个角度的发射光谱，并显示各光谱亮度、角度依赖性，I-V-L特性和色度。 此外，朗伯假设下的外部量子效率被计算，但它可以使用发射角分布特性进行修正。产品参数型号C9920-11旋转台Minimum angle setting 1°角度设定范围0 ° to +80 °, -80 ° to +80 °最小步距设置1 °分辨率0.1 ° or less探测器BT (back thinned) cooled CCD制冷温度（CCD）-15 ℃光敏器件通道数1024 ch波长测量范围380 nm to 780 nm (detector: 200 nm to 950 nm)光纤探头1.5 m测量光斑尺寸200 μm亮度测量范围10 cd/m2 to 10 000 cd/m2

产品特性 • 宽温范围 • 温度和空间分辨率高 • 测量时间短 • 长期稳定性强 • 方便、快速安装 • 节省成本 产品描述测量原理基于拉曼效应和光时域反射原理（OTDR）。激光脉冲耦合进光纤，光子与光纤材料的分子发生相互作用。一些光子散射回来并携带它们所散射的分子的热运动信息。因此，背散射光的光谱就携带了光纤的温度信息。从而可以测量沿着光纤的温度分布。当光纤中的光速已知时，光谱分析与测量脉冲光沿着光纤的传播时间结合起来，以很短的间隔(如1m)扫描光纤的整个长度，就能判断沿光纤的温度分布。值得一提的是每个扫描间隔测量到的温度都是每个独立的光纤段的平均温度。由于光速非常快，几公里的光纤长度在几分之一秒就可以扫描完。系统包括读数仪，传感光缆和附件（连接盒，延伸光缆，接头保护器等）。集成在坚固缆线中的光纤都是温度敏感元件，可以在任意时间，以很高的空间分辨率连续地整个光缆的温度分布。这是勘测热处理所必需的。此系统可广泛用于需要分布式温度传感的各种应用中，如大型结构中的混凝土温度监测，废物处理场， 油气工业中的沿岸或离岸现场，水库和出油管的热点、冷点和渗漏检测，房屋的安装设计等等。这种测量技术的主要优点是温度测量光缆易于安装，沿着光缆没有敏感电路，长期可靠性，不受电磁场影响，不受湿度和腐蚀影响。

分布式光纤测温系统(DTS)安装与使用说明 1.1 DTS光纤测温主机简介DTS光纤测温主机可以实现温度测量和火灾判断。主机采用模块化设计，可靠性高；同时凭借高速微弱信号处理技术优势，可实现1米标准报警长度，技术指标达到国内先例水平。主机为工业小型金属机箱，尺寸（200mm*250mm*100mm）。 DTS主机的前面板包括1个电源开关与指示灯二合一按钮。电源开关按下，电源按钮LED灯亮，显示为蓝光，此时电源打开，设备启动，5秒后设备正常运行。电源按钮弹起，电源按钮LED灯灭，DTS主机设备关闭。DTS设备带有标准对外接口，用以实现供电、通信、数据传输、光缆连接等功能。性能指标优势：1.模块化尺寸，行业内小（200mm*250mm*100mm）2.重量轻（3kg），便于携带，便于组装3.功耗低（平均功率8W以下），24V15AH电池组可持续工作48小时4.组网简单，通过TCP与路由或者交换机，自由组网5.可与报警器联动，可通过消防3C型式检验，可OEM贴牌，可自由组装6.性价比出众，内部自带温度解调算法与火灾报警算法，性能达到行业前列，价格为行情价的50%，且量大优惠，专做批发机箱背面接口功能如下：（1）24V电源接口，外部电源24V的正极和负极分别连接到电源连接端子的“+”和“-”，采用航空插头，可直接插入，螺丝拧紧即可。 （2）RJ45网络接口。通过网线连接DTS设备与计算机，可以把DTS的测温数据通过网络传给计算机。（3）DB9串口。通过标准9针串口直连线连接DTS设备与计算机，此功能为厂家测试接口，可不使用。（4）485接口。设备带有一个4针绿色带耳连接器，用于输出485信号，信号定义从左到右依次为：IO、GND、485+、485-。该485接口用于连接外部485设备，如外置485继电器、报警控制器等。（5）光纤法兰接口。可以把光纤的插芯插入法兰接口并拧紧，实现光纤至DTS设备的连接，从而达到温度测量的目的。1.2 系统安装把AC转24V适配器的航空插头，插入机箱尾端的24V航空插座，然后拧紧螺丝即可。光纤插入设备后面板的法兰盘中，光纤的插头凸口对准法兰盘的凹口，插入后拧紧光纤法兰，确保不松动。连接网线至DTS设备和计算机的RJ45网口。1.3 光纤连接注意事项连接光纤时，请注意以下事项：光纤和DTS主机的法兰盘连接时，注意保持光纤接头清洁，不能用手或者其他物体触碰光纤陶瓷插芯。光纤的拉力不超过100N。避免光纤扭曲和光纤弯折，弯折弧度半径不小于20厘米。 1.4 火灾探测与测量火灾探测任务操作的基本流程如下图1-4所示。 1.5 火警处理当DTS主机出现火警时，用户可以对火警信息作如下处理：火灾火警复位清除火警1.6 故障处理当DTS主机出现断纤故障时，用户可以对故障信息作如下处理：清除故障

NFMS两轴光度色度分布测量系统 对于显示器和灯具来说，亮度和颜色的角度空间分布是非常重要的。针对这种测量视角的应用，Radiant Zemax 提供了非常划算的解决方案。根据待测样片，分为NFMS 和FPMS 两种系统，他们都是全自动的。 NFMS 用于测量灯具的近场光型分布。它从多个角度采集灯具近场亮度和色度的影像资料并记录下来，因为数据量十分丰富，因此可以将近场分布转换为远场分布并且输出为IES 文件。NFMS 系统有一系列的影像式色度/ 辉度计可供挑选。您可依对不同的量测动态范围、分辨率、可视范围来作选择。而测试机构亦有各种规格，可依待测件的尺寸大小作最合适的搭配。

MTS-8000光纤分布式应变监测系统分布式应变监测应用桥梁变形在线监测隧道变形在线监测管道变形在线监测海缆变形在线监测特点超长距离监测空间分辨率高描述 MTS-8000分布式应变监测系统是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。每一台线型电力型DTS均经过单独的指标测试，并且满足所有的技术指标。我们所做的测试和技术指标确定的过程遵循严格的准则，是由我们的计量实验室控制。详尽的数据数据为严格的质量控制提供了良好的保障，同时保证了在我们产品长时间的使用寿命里拥有最好的性能和应用。主要参数：产品型号MTS-8000性能指标通道8CH测量距离200Km最小采样间隔8cm空间分辨率1m应变重复性20με温度重复性1℃测量时间1min到几小时温度范围、应变范围-200~700℃；-30000~40000με光纤接口SC/APC单模光纤通信接口Ethernet工作温度5~45℃供电电源及功耗48VDC，50W尺寸和重量483mm x 260 mm x 89 mm 15.0kg

快速多视角 Imaging Sphere：对光源、显示器和散射材料的完整角度性能信息进行经济高效而又快速的单次采集测量我们的 Imaging Spheres 产品基于新颖的光学结构，可一次性从半球的所有角度对目标器件或材料进行同时成像测量。对比通过传统测角仪或锥光偏振仪测量解决方案，该系统能获得更快、更完整且更准确的测量结果。 ProMetric成像色度计（或光度计）用于采集图像数据，确保高精度测量。Imaging Sphere 可配置用于测量 LED 和其它小型光源的远场光强分布、测量显示器视角性能或测量表面散射光线的角分布（BRDF 和 BTDF）。对于 LED、FPD、显示器配件和材料表面分析等研发及生产应用，Imaging Sphere 是理想的选择。 典型应用：显示元件和光学薄膜的散射测量油漆、粉末和抛光剂等表面处理剂的散射测量LED 发光强度分布测量小型光源发光强度分布测量平板显示器的视角性能测量计算机模拟和渲染的散射特性Imaging Sphere 有三种基本模型可供选择，包含两种甚至三种所用的测量类型配置系统的选项： IS-LI & IS-LI-TE光强分布高速测量系统可针对 LED 和其它小型光源，提供远场发光强度、辐射强度、CIE 色坐标和相关色温 (CCT) 等关于角度分布的全面测量。IS-LI 可提供测试仪无法提供的重要方向性信息。IS-VA视角性能系统可高速、全面地测量平板显示器和显示器配件的色度、亮度和对比度等项目随视角的分布。IS-VA 在测量速度和系统成本方面可与锥光偏振仪和测角系统相媲美。IS-SA散射和外观测量系统集成了一个聚焦光源，可直接照射到材料样本上，以测量散射光。IS-SA 可准确、快速地描述各种反射表面和透光薄膜的表面粗糙度、缺陷和漫反射特性。比起测角仪系统，IS-SA 有更细小的角度分辨率和更快的测量速度，能生成详细的 BRDF 和 BTDF，而且它在配置测量方面具有更大的灵活性。Imaging Sphere 软件Imaging Sphere 配备强大易用的，基于 Imaging Sphere 软件引擎的 IS 1.x 仪器控制和分析软件。IS 1.x 软件可简化测量设置和控制，并可轻松访问各种图像分析功能，包括 2D 和 3D 图、直方图和图像差分。软件功能可以靠外部控件 ISEngine.Net (Framework 2.0) 来控制，因此用户可以使用 Visual Studio 2005 或其它兼容 .Net 的编程语言构建自定义测试和分析序列。

产品介绍OSD-1分布式光纤传感器利用了光纤中布里渊频移与温度和应变的函数关系。在标准低损耗单模光纤的两端分别发射脉冲泵浦光和反向传播探测光，一次测量就可以提取沿整个光纤长度的温度和应变信息，进而识别和定位土木工程中异常现象。“分布式”测量概念是指把光纤用作一个线形的不间断传感器，在整条光纤长度范围内提供多个连续分布的测量点。分布式传感固有的优势有几点：自光纤传感器安装以后以及结构的使用寿命期间，可以空间连续地监测结构的完整性；在整个监测区域内检测结构缺陷 可以在早期发现潜在的结构问题；可以更妥当地规划维修活动。OSD-1分布式光纤温度和应变监测系统不仅具备了沿一根光纤在数千个点测量温度和/或应变的能力，而且还能够以高达200 Hz的采集频率完成分布式动态测量。这一特性使其在不损失相对于标准采集模式的空间分辨率基础上，做振动检测和模态分析，从而获得被测结构状态更多的信息。产品特点1.测量精度高： 应变 2με，温度 0.1 ℃；2.空间分辨率：0.2m；3.采集频率高达200Hz；4.重量轻，功耗低，现场使用便利；产品应用1.大型土木工程结构，如隧道、桥梁、大坝、反应堆安全壳等的监测； 2.铁路线路和基础设施的监测；3.陆地和海上管道的监测，用于结构健康监测、第三方入侵和泄漏探测 4.船舶和石油平台的结构健康监测；5.地热应用的温度梯度监测；技术规格

完全符合 LM-79 测试标准要求的 C 型分布式光度计，灯具在测试过程中完全静止不动，非常适合LED灯具产品的测量近场分布式光度是最新一代的分布式光度计，采用全新的概念，可以实现光源的近场、包含光谱信息的近场、远场光强分布、空间色度均匀性、光通量、光效等测试。测试的结果是目前对光源特性最完整的表征，因此成为分布式光度计更新换代的首选。产品特点符合LM 79的C型分布式光度计要求灯具在测试过程中完全不动，保持实际使用的姿态采用相机直接进行灯具位置的精密调整，相对于使用激光定位装置的传统光度计，使用方便，操作简单不受远场测试条件之距离限制，最大可能节省空间测试速度快（连续测量的飞行测量模式），典型测试时间为15分钟@2.5°；1小时@0.5°基于近场数据Ray Data，最完整的表征光源的特性照度积分法测试光通量(符合 CIE87 及 EN 13032-1测试标准)对于小型光源，可直接采用远场模式进行光强空间分布（配光特性）测试测试灯具表面亮度分布，满足Zhaga 测试规范紧凑的轻量化产品设计免费的Ray Data输出及格式转化软测试结果配光特性之光强空间分布，可输出各种通用格式 (IES, EULUMDAT, TM14, Calculux, ...)光通量（luminous flux）,光效（ light output ratio）空间色度分布CRI, CCT,色度分布，以及平均色度值 （符合 LM79 以及 EN 13032-4测试标准）老化稳定曲线、功率消耗、温度特性配光数据报告分析(LumCAT软件)近场数据 (e.g. ASAP, Optis, LucidShape, LightTools, Zemax, TracePro, SimuLux, Photopia)灯具表面亮度及颜色分布

BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析，其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中，用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合，可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试；l 绝对法测试，不受样品的形态、光学性质的约束；l 测试光路及计算方法，完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中，用于辅助光学材料或系统的模拟、设计；l 高精度，高稳定度 ；2 接收光路长，接收立体角小，测量不确定度小2 激光光源，能量高、单色性好、准直度高；2 配备监视探测器，消除光源波动对测量的影响；2 探测器动态范围大，测试准确度高；2 机械转轴转动精度高，角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换，波长覆盖紫外-可见-近红外范围，实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试，适用于有光谱选择性的样品； l 上位机多功能分析软件，提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图，并配有专用于BSDF分布数据查看软件，提供专业的BSDF数据分析；? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光，覆盖可见-近红外范围（特殊可定制）光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用：

SuperHawk9000光纤分布式测温主机应用电缆温度在线监测管道泄漏在线监测特点客户定制任意通道标准3U 尺寸，可以上机柜长期在线监测优秀的热稳定性及长期稳定性以太网接口描述 SuperHawk9000光纤分布式测温主机是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。主要参数：产品型号SuperHawk 9000光纤分布式测温主机性能指标通道1~16采集最小间隔40cm空间分辨率1m温度精度+1℃温度重复性0.5℃温度分辨率0.1℃光纤类型50/125μm功耗25W光纤接口E2000/APC通信接口Ethernet工作温度0℃~50℃供电电源直流24V或 交流100~240V/50-60Hz尺寸和重量428 mm x 456 mm x 132 mm 15.0kg

Radiant 光源模型 (RSM)光学器件和照明设计的光源近场输出的完整特性 光学和照明设计软件使用 Radiant 光源模型 (RSM) 提供真实光源近场输出建模的最精确方法。它们用于光源分析，以研究光源设计与开发，以及光学和照明设计的精细性能，从而创建精确的性能模拟。RSM 可供光学和照明设计工程师用来模拟几乎任何类型的光源，包括 LED、荧光灯、弧光灯、卤钨灯和 HID 灯。Radiant Zemax 提供的 RSM 数据文件，可以从我们丰富的光源测量数据库中下载，也可以通过我们的 RSM 测量服务获得新光源模型。RSM 生成的光线集文件可以兼容领先的光学和照明设计软件（如 ASAP、FRED、LightTools、SimuLux、SPEOS、TracePro 和 Zemax）。光源性能评估的完整信息对于工程师而言，通过传统方法（如结合光学设计软件中的各种形状并运用预估亮度值到每个构件），通常难以或者无法获得对光源进行准确建模所需的所有数据。RSM 通过提供典型光源的完整亮度场（角度和空间分布）解决了这个问题。这些测量结果通过 Radiant Zemax 的 SIG 和 PM-NFMS 测量系统获得。所获得的 RSM 包括光源在数千个视角下的亮度图像、色度图像（如果已进行色度测量）和光谱数据（如果已和图像一起采集了光谱数据）。该光源数据可使光源设计人员或开发人员在研究光源性能时获得极大的灵活性：通过使用 Radiant Zemax ProSource 软件查看相关测量图像，可以直接发现异常及不连续的性能。可生成光度、色度甚至光谱光线集，以用于主流光学设计软件包。使用权重采样方法高效、灵活地生成光线集，可改进光学设计使用 ProSource，RSM 可用于生成光线集，以导出到光学设计软件，并对生成的光线数量（从用于初步设计的数百万条光线到用于最终详细设计的数千万条光线）、光线角度范围、光线集的总光通量和光线来源具有完全控制。ProSource 使用“权重采样”方法生成高效的光线集，其效果优于采用传统的蒙特卡罗方法生成光线集。通过分析完整的近场数据，权重采样可将光线与有意义的光源特征联系起来，因此仅使用蒙特卡罗方法所需的五分之一光线数量，就能获得同样精度。和使用 RSM 一样，重要性采样只能在提供完整近场数据的情况下完成。将必须进行分析的光线数量减少，这种方法可在光学设计软件中实现更快的处理速度，从而节省时间并能够在不牺牲精度的情况下评估更多项目。

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

OSI-S产品是一款超高精度分布式光纤传感设备。其原理基于光频域反射（OFDR）技术，实现50m传感范围内空间分辨率可达1mm，100m传感范围内空间分辨率可达1cm。传感精度为±0.1℃/1.0με。本产品可在一根光纤上同时测量成千上万个传感点，广泛应用于长距离、高分辨率、高精度传感领域。特点分布式温度、应变测量测量范围20m、50m、100m传感空间分辨率为1mm传感精度±0.1℃\1.0με分布式温度、应变测量测量范围20m、50m、100m传感空间分辨率为1mm传感精度±0.1℃\1.0με产品应用复合材料抗疲劳检测电力系统：变压器温度监测土木建筑：结构健康监测产品参数类别指标单位传感长度12050100m空间分辨率2110mm采样率34Hz应变传感精度4±1.0με测量范围±15000με温度温度传感精度4±0.1°C测量范围5-200~1200°C硬件输入电压AC 220/110V DC 12V-通讯接口USB-光纤接口FC/APC-尺寸390x340x158mm重量7.5KG备注： 如需更长的传感长度，请与我们联系。在所有的传感长度上都可以实现1mm的空间分辨率，如空间分辨率设置为1mm，则温度及应变测量范围会缩减。因此，厘米级是较为合适的空间分辨率。0.5m测量长度，1cm空间分辨率下实现。50m测量长度，1cm空间分辨率下实现。与传感光纤的性质有关。丙烯酸酯涂层光纤用于0~100℃，聚酰亚胺涂层光纤用于-50~300℃，镀金光纤用于-200~700℃。

分布式声波传感系统DAS产品介绍1、分布式声传感（Distributed?Acoustic?Sensing,?DAS）技术： 利用相干瑞利散射光的相位而非光强来探测音频范围内的声音或振动等信号,?不仅可以利用相位幅值大小来提供声音或振动事件强度信息，还利用线性定量测量值来实现对声音或振动事件相位和频率信息的获取。 DAS可以认为是一个移动干涉式声波传感器在传感光纤探测外界信号，当声音或振动引起该位置干涉光相位的线性变化，通过提取该位置不同时刻的干涉信号并解调，就可实现外界物理量的定量测量。2、DAS测量原理DAS 测量过程： 激光器沿着光纤发出光脉冲，一些光以反向散射的形式与入射光在脉冲内发生干涉，干涉光反射回来以后，反向散射的干涉光回到信号处理装置，同时将光纤沿线振动声波信号带来信号处理装置。由于光速保持不变，因此可得到每米光纤的声波振动的测量结果。3、分布式光纤声波传感系统(DAS)基本原理4、DAS系统示范演示5、DAS技术简介 大可探测40kHZ声波信号 可探测任何位置光纤周边的实时声波信号（高40kHZ） 耐高温高压等恶劣环境、且抗电磁干扰 尺寸小，组网能力强6、DAS基本性能指标分布式光纤声波传感系统(DAS)性能指标7、DAS应用领域简介石油与页岩气压裂声波振动过程监测注：石油井下套管可能会泄露，同时井下有油水分层及其它地质结构变化，通过在油井顺着套管一起，因井下常态下，极其安静，能实时监听井下任何位置的声波振动。管道泄露监测及周边安防 注：无论石油或者天燃气管道，泄露的时候，不仅仅伴随温度变化还有振动变化，同时可以管理管道周边的安全防护与预警。 基于探测地震波的石油/矿藏勘探 注：通过声传感技术，可以分布式的监测到地震波，通过地震波的位置与地壳运动声波来感知和预测石油分层或者其它矿藏情况。高铁、舰船以及机场监测 注：高铁沿线布置的光纤，可探测高铁运行状态，通过分布式的声波传感，了解轨道及列车运行状态；通过光缆围猎领土范围内的海岛及分布线或者航运线，可实时监测舰船航道情况 机场监测，以实时检测机场飞机起落及机场周边安防。基于振动的周界安全监测和战场侦察 注：布置光纤于国境线，可预知对方在国境线周围的活动情况。在战场上，可以预知敌人数量，监听敌方情报。

分布式声波传感系统DAS产品介绍1、分布式声传感（Distributed?Acoustic?Sensing,?DAS）技术： 利用相干瑞利散射光的相位而非光强来探测音频范围内的声音或振动等信号,?不仅可以利用相位幅值大小来提供声音或振动事件强度信息，还利用线性定量测量值来实现对声音或振动事件相位和频率信息的获取。 DAS可以认为是一个移动干涉式声波传感器在传感光纤探测外界信号，当声音或振动引起该位置干涉光相位的线性变化，通过提取该位置不同时刻的干涉信号并解调，就可实现外界物理量的定量测量。2、DAS测量原理DAS 测量过程： 激光器沿着光纤发出光脉冲，一些光以反向散射的形式与入射光在脉冲内发生干涉，干涉光反射回来以后，反向散射的干涉光回到信号处理装置，同时将光纤沿线振动声波信号带来信号处理装置。由于光速保持不变，因此可得到每米光纤的声波振动的测量结果。3、分布式光纤声波传感系统(DAS)基本原理4、DAS系统示范演示5、DAS技术简介 蕞大可探测40kHZ声波信号 可探测任何位置光纤周边的实时声波信号（蕞高40kHZ） 耐高温高压等恶劣环境、且抗电磁干扰 尺寸小，组网能力强6、DAS基本性能指标传感距离 0-50km空间采样分辨率 1m频率响应范围 40kHz噪声水平 10-3rad/√Hz实时数据量 100MB/秒响应时间快 典型1秒光纤类型 普通单模光纤测量通道 1，2，4通道（实时性受影响数据存储容量 16TB固态硬盘阵列

N4387B光纤分布式测温主机应用电缆温度在线监测热力管道泄漏在线监测石化温度在线监测石油管道温度、泄漏在线监测石化罐区温度在线监测工业消防火灾自动报警特点客户定制任意通道标准2U 尺寸，可以上机柜长期在线监测采集间隔指标非常高、精度可达到0.04度优秀的热稳定性及长期稳定性以太网、USB两种接口可以实现双端测量描述 N4387B系列是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。每一台线型电力型DTS均经过单独的指标测试，并且满足所有的技术指标。我们所做的测试和技术指标确定的过程遵循严格的准则，是由我们的计量实验室控制。详尽的数据数据为严格的质量控制提供了良好的保障，同时保证了在我们产品长时间的使用寿命里拥有最好的性能和应用。主要参数：产品型号N4387B性能指标通道1CH、2CH、4CH测量距离1Km、2Km、4Km、6Km、8Km、10Km最小采样间隔25cm空间分辨率0.5m温度分辨率0.04℃温度重复性+0.6℃测量时间10s到30s测量模式单端和双端测量光纤接口E2000；8o角，50/125μm多模光纤通信接口Ethernet、USB工作温度-40℃~50℃供电电源及功耗10~30VDC，17W尺寸和重量500 mm x 400 mm x 150 mm 17.0kg

N4386B光纤分布式测温主机应用电缆温度在线监测热力管道泄漏在线监测石化温度在线监测石油管道温度、泄漏在线监测石化罐区温度在线监测工业消防火灾自动报警特点客户定制任意通道标准2U 尺寸，可以上机柜长期在线监测采集间隔指标非常高、精度可达到0.04度优秀的热稳定性及长期稳定性以太网、USB两种接口可以实现双端测量描述 N4386B系列是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。每一台线型电力型DTS均经过单独的指标测试，并且满足所有的技术指标。我们所做的测试和技术指标确定的过程遵循严格的准则，是由我们的计量实验室控制。详尽的数据数据为严格的质量控制提供了良好的保障，同时保证了在我们产品长时间的使用寿命里拥有最好的性能和应用。N4386B主要应用于地热、水文、地质学方面的研究。主要参数：产品型号N4386B性能指标通道1CH、2CH、4CH、6CH、8CH、12CH、24CH测量距离2Km、4Km、8Km、12Km最小采样间隔15cm空间分辨率0.7m温度分辨率0.05℃温度重复性+0.16℃测量时间10s到24h测量模式单端和双端测量光纤接口E2000；8o角，50/125μm多模光纤通信接口Ethernet、USB工作温度-40℃~50℃供电电源及功耗10~30VDC，21W尺寸和重量500 mm x 400 mm x 150 mm 17.0kg

N4425A光纤分布式测温主机应用电缆温度在线监测热力管道泄漏在线监测石化温度在线监测石油管道温度、泄漏在线监测石化罐区温度在线监测工业消防火灾自动报警特点客户定制任意通道标准2U 尺寸，可以上机柜长期在线监测采集间隔指标非常高、精度可达到0.04度优秀的热稳定性及长期稳定性以太网、USB两种接口可以实现双端测量描述 N4425A系列是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。每一台线型电力型DTS均经过单独的指标测试，并且满足所有的技术指标。我们所做的测试和技术指标确定的过程遵循严格的准则，是由我们的计量实验室控制。详尽的数据数据为严格的质量控制提供了良好的保障，同时保证了在我们产品长时间的使用寿命里拥有最好的性能和应用。主要参数：产品型号N4425A性能指标通道1CH、2CH、4CH、6CH、8CH、12CH、16CH、24CH测量距离4Km、8Km、12Km、20Km、30Km、40Km、50Km最小采样间隔25cm空间分辨率1m温度分辨率0.05℃温度重复性0.3℃测量时间30s到24h测量模式单端和双端测量光纤接口E2000；8o角，单模光纤通信接口Ethernet、USB工作温度-40℃~50℃供电电源及功耗10~30VDC，21W尺寸和重量500 mm x 400 mm x 150 mm 17.0kg