全新超小型车床工件检测测头

日本广岛大学的研究小组日前开发出纳米级超小型天线，它能够收发某个特定波段的电磁波。这种天线是广岛大学博士生小迫照和与教授鱼屋丰等共同开发的。天线宽75至125纳米、长500纳米，相当于把普通电视天线缩小到百万分之一。构成天线的５根“枝杈”是用金制作的，固定在透明的氧化硅板中。这种纳米级天线与普通天线工作原理相同。目前制成的这种天线能够收发波长400至800纳米的电磁波。如果改变天线“枝杈”的长度和配置，就可以收发不同波段的信号。鱼屋教授希望这项发明能够帮助开发新一代数据存取设备。此项成果已刊登在近日出版的《自然—光子学》杂志上。资料来源：[url]http://paper.sciencenet.cn//htmlpaper/20104261028215628913.shtm[/url]

表面热处理分为两大类，一类是表面淬火回火热处理，另一类是化学热处理，其硬度检验方法如下：1、表面淬火回火热处理表面淬火,回火热处理通常用感应加热或火焰加热的方式进行。主要技术参数是表面硬度、局部硬度和有效硬化层深度。硬度检测可采用维氏硬度计，也可采用洛氏或表面洛氏硬度计。试验力（标尺）的选择与有效硬化层深度和工件表面硬度有关。这里涉及到三种硬度计。维氏硬度计是测试热处理工件表面硬度的重要手段，它可选用0.5～100kg的试验力，测试薄至0.05mm厚的表面硬化层，它的精度是最高的，可分辨出热处理工件表面硬度的微小差别。另外，有效硬化层深度也要由维氏硬度计来检测，所以，对于进行表面热处理加工或大量使用表面热处理工件的单位，配备一台维氏硬度计是有必要的。表面洛氏硬度计也是十分适于测试表面淬火工件硬度的，表面洛氏硬度计有三种标尺可以选择。可以测试有效硬化深度超过0.1mm的各种表面硬化工件。尽管表面洛氏硬度计的精度没有维氏硬度计高，但是作为热处理工厂质量管理和合格检查的检测手段，已经能够满足要求。况且它还具有操作简单、使用方便、价格较低，测量迅速、可直接读取硬度值等特点，利用表面洛氏硬度计可对成批的表面热处理工件进行快速无损的逐件检测。这一点对于金属加工和机械制造工厂具有重要意义。当表面热处理硬化层较厚时，也可采用洛氏硬度计。当热处理硬化层厚度在0.4～0.8mm时，可采用HRA标尺，当硬化层厚度超过0.8mm时，可采用HRC标尺。维氏、洛氏和表面洛氏三种硬度值可以方便地进行相互换算，转换成标准、图纸或用户需要的硬度值。相应的换算表在国际标准ISO、美国标准ASTM和中国标准GB/T中都已给出。在沈阳天星网站的技术资料栏目中这三种换算表都可以找到。2、化学热处理化学热处理是使工件表面渗入一种或几种化学元素的原子，从而改变工件表面的化学成分、组织和性能。经淬火和低温回火后，工件表面具有高的硬度、耐磨性和接触疲劳强度，而工件的芯部又具有高的强韧性。化学热处理工件的主要技术参数是硬化层深度和表面硬度。硬化层深度还是要用维氏硬度计来检测。检测从工件表面到硬度降到50HRC那一点的距离。这就是有效硬化深度。化学热处理工件的表面硬度检测与表面淬火热处理工件的硬度检测相近，都可以用维氏硬度计、表面洛氏硬度计或洛氏硬度计来检测，只是渗氮厚的厚度较薄，一般不大于0.7mm，这时就不能再采用洛氏硬度计了。3、局部热处理零件如果局部硬度要求较高，可用感应加热等方式进行局部淬火热处理，这样的零件通常要在图纸上标出局部淬火热处理的位置和局部硬度值。零件的硬度检测要在指定区域内进行。硬度检测仪器可采用洛氏硬度计，测试HRC硬度值，如热处理硬化层较浅，可采用表面洛氏硬度计，测试HRN硬度值。

有些工件较大，又不太好制样，对于这种过大的工件样品，你们是如何检测的？

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据美国物理学家组织网4月19日(北京时间)报道，由美国匹兹堡大学领导的一个研究小组日前宣布，他们制造出了一种核心组件直径只有1.5纳米的超小型单电子晶体管。该装置是制造下一代低功耗、高密度超大规模集成电路理想的基本器件，具有极为广泛的应用价值。相关论文发表在最新一期《自然·纳米技术》杂志上。　　单电子晶体管是用一个或几个电子就能记录信号的晶体管，其尺度都处于纳米级别。随着集成电路技术的发展，电子元件的尺寸越来越小，由单电子晶体管组成的电路日益受到研究人员的青睐，其高灵敏度的特性和独特的电气性能使其成为未来随机存储器和高速处理器制造材料的有力竞争者。　　据研究人员介绍，这种新型单电子晶体管的核心组件是一个直径只有1.5纳米的库伦岛，另外还有一两个电子负责对信号进行记录。负责该项研究的匹兹堡大学文理学院物理学和天文学教授杰里米·利维称，该晶体管未来可用于研制具有超密存储功能的量子处理器。这种处理器将能轻松应对那些让目前全世界所有的计算机同时工作数年也计算不完的复杂问题。同时因其中央的库伦岛可以被当作人工原子，该晶体管还可用来制造自然界原本并不存在的新型超导材料。　　利维和其同事将这种超小型单电子晶体管命名为“SketchSET”。原因在于这项技术受到了一种名为蚀刻素描画板(Etch A Sketch)的启发，这种晶体管的制造原理也与其类似。在实验中，通过原子力显微镜，研究人员用一种极为尖锐的电导探针就能在钛酸锶晶体界面上用1.2纳米厚的一层铝酸镧“蚀刻”出所需的晶体管。　　据介绍，SketchSET是第一个完全由氧化物制成的单电子晶体管，并且其库伦岛内能容纳两个电子。经过库伦岛的电子数量可以是0、1或2，而不同数量的电子将决定其具有怎样的导电性能。　　利维表示，这种单电子晶体管对电荷极为敏感，且所使用的氧化物材料具有铁电效应，该晶体管还可制成固态存储器，即便没有外部电源，该晶体管存储器也不会丢失此前存储的信息。此外，这种晶体管对压力变化也极为敏感，根据这一特性可用其来制成纳米尺度的高灵敏度压力传感设备。　　1959年一个芯片上只能放一个晶体管，今天家用计算机微处理器上的晶体管数量已达11.7亿，是半导体材料支撑起了电子计算机时代。下一代计算机如何发展？无论是基于单电子晶体管的量子计算机，还是基于蛋白质技术的生物计算机，我们还是要从新材料上找答案。当前已经有多种单电子晶体管研制出来，也许这些方案将来都派不上用场，然而每次实验都会向成功迈进一步，最后开启计算机新时代的新材料一定会在这些实验中脱颖而出。

[b][color=#4f6ef7]来信：[/color][/b]1.我们第三方监测单位，在监测企业的厂界噪声时，企业的声源噪声很稳定，也仅仅是风机转动而产生的声源，但是其最大值-最小值3dB，最大值与最小值相差5dB，我们监测厂界噪声的时候，如何确定监测时间呢？要监测整个工作时段的厂界噪声么？2.在监测交通噪声时，需要提供车流量的数据。在出具报告时，其中在计算总车流量时，这个数值是小型车+中型车+大型车么？还是要把大型车折算成 2.5 中型车，和中型车折算成,1.5 小型车来相加呢？因为 GB3096 里面是没有提到的。[b][color=#4f6ef7]回复：[/color][/b]一、关于监测厂界噪声时如何确定监测时间的问题。按照《工业企业厂界环境噪声排放标准》(GB12348-2008) 的规定,稳态噪声指在测量时间内,被测声源的声级起伏不大于3dB(A)的噪声。被测声源的声级起伏大于 3dB(A)的噪声为非稳态噪声。按该标准要求,被测声源是非稳态噪声的,需要测量被测声源有代表性 时段的等效声级,必要时测量被测声源整个正常工作时段的等效声级。因此,可根 据被测声源代表性时段或正常工作时段选择合适的监测时间。二、关于监测交通噪声总车流量计算问题。《声环境质量标准》(GB3096-2008)未规定交通噪声监测时车流量的统计方法。来信提及的计算总车流量时是各车型直接相加还是折算成小型车数量,应根据项目需要或委托方要求确定。

表面热处理分为两大类，一类是表面淬火回火热处理，另一类是化学热处理，其硬度检验方法如下：1、表面淬火回火热处理表面淬火回火热处理通常用感应加热或火焰加热的方式进行。主要技术参数是表面硬度、局部硬度和有效硬化层深度。硬度检测可采用维氏硬度计，也可采用洛氏或表面洛氏硬度计。试验力（标尺）的选择与有效硬化层深度和工件表面硬度有关。这里涉及到三种硬度计。维氏硬度计是测试热处理工件表面硬度的重要手段，它可选用0.5～100kg的试验力，测试薄至0.05mm厚的表面硬化层，它的精度是最高的，可分辨出热处理工件表面硬度的微小差别。另外，有效硬化层深度也要由维氏硬度计来检测，所以，对于进行表面热处理加工或大量使用表面热处理工件的单位，配备一台维氏硬度计是有必要的。表面洛氏硬度计也是十分适于测试表面淬火工件硬度的，表面洛氏硬度计有三种标尺可以选择。可以测试有效硬化深度超过0.1mm的各种表面硬化工件。尽管表面洛氏硬度计的精度没有维氏硬度计高，但是作为热处理工厂质量管理和合格检查的检测手段，已经能够满足要求。况且它还具有操作简单、使用方便、价格较低，测量迅速、可直接读取硬度值等特点，利用表面洛氏硬度计可对成批的表面热处理工件进行快速无损的逐件检测。这一点对于金属加工和机械制造工厂具有重要意义。

一般打小型工件时我们都选用洛氏硬度计或小负荷硬度计，但在某些情况下里氏硬度计也可以测量的很精确，以下为对里氏硬度计打小型工件的一点见解： 里氏硬度计原理是反弹速度与冲击速度的比值通过电磁感应线圈转换成数字信号方式来反映布洛维肖硬度，当冲击工件时，由于工件小，弹性模量发生变化，有时候用户会听到冲击装置发闷声，造成硬度计的硬度无法显示或者硬度值偏低，就证明了弹性已经损耗，反弹的力被工件吸收一部分。主要发生在测量镂空件、薄板及较软金属材料上，如何解决以上问题有以下几点仅供参考： 1． 对于镂空材料如管材，尽量不打横面，冲击端面，或者在管壁内加入支承难度大但很有效。测量曲面直径20mm－100mm需要选配曲面支撑环。 2． 对于薄板厚度应该在5mm以上，测量时应在测量背面均匀涂抹黄油在与平台密实耦合把中间空气压出，不可移动。黄油不要涂抹太多。 3． 保证金属材料光洁度，应该在RA小于7um,粗糙度越好精度保证越高。 4． 实芯圆柱体不大于100mm应加V型台，保证工件不产生位移。 5． 测量布氏硬度时，应努力提高工件表面粗糙度、重量、耦合程度。

[color=#00008B]最近打现场硬度发现里氏硬度计打小型工件误差比较大,有时候居然没有数值,现请教大家:如何解决里氏硬度计打小型工件误差比较大的问题???[/color]

[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/04/202404010937019831_6894_5604214_3.jpg!w690x690.jpg[/img]　　全新升级的食品安全检测仪在科技和设计的双重加持下，带来了诸多引人注目的优势，为食品安全保驾护航。　　首先，全新升级的食品安全检测仪采用了更先进的检测技术，如光谱分析、生物传感器等，大大提高了检测精度和效率。这些技术能够更快速地识别出食品中的有害物质，如农药残留、重金属、添加剂等，从而确保食品的安全性。　　其次，全新升级的食品安全检测仪在智能化方面也有显著提升。通过与云计算、大数据等技术的结合，检测仪能够实现远程监控、数据分析等功能，为用户提供更为便捷的服务。同时，智能化的设计也使得操作更加简单，降低了使用门槛。　　此外，全新升级的食品安全检测仪还具有更高的可靠性和稳定性。通过优化机械结构和电路设计，检测仪在恶劣环境下也能保持稳定的工作状态，从而确保检测结果的准确性。　　最后，全新升级的食品安全检测仪还注重环保和节能。采用低功耗设计，减少了对电能的消耗，同时也减少了废弃物的产生，符合现代社会的绿色、低碳发展理念。　　综上所述，全新升级的食品安全检测仪在检测精度、智能化、可靠性、环保等方面都展现出了显著的优势，为食品安全监管提供了有力支持。随着科技的不断进步，相信食品安全检测仪将会在未来发挥更加重要的作用。

有时候，一些小型而且价格不高的检测设备；如玻璃密度瓶，磁力搅拌器，电加热套，阿贝折光仪等能否算成耗材来用呢？当成设备要有每年的折旧，做成耗材就没有这样的事情了

CID-电荷注入式固体检测器； SCD-分段式电荷耦合固体检测器； CCD-电荷耦合固体检测器； HDD-高动态范围(光电倍增管)检测器。 新型台式、便携式全谱直读光谱仪器 随着微电子技术的发展，固体检测元件的使用和高配置计算机的引入，发射光谱直读仪器的全谱技术进入全新的发展阶段。国外已有很多厂家推出新型的全谱直读光谱仪，除了已经开发的采用中阶梯光栅分光系统与面阵式固体检测器的全谱光谱仪外，采用特制全息光栅与线阵式固体检测器相结合，也可达到全谱直读的目的，而且使光谱仪器从结构上和体积上发生了很大变化，出现了新型的全谱直读光谱仪、小型台式或便携式的全谱直读仪器，可用于现场分析的光谱仪。给发射光谱仪器的研制开拓了一个崭新的发展前景。 传统的直读光谱仪器，一直采用光电倍增管（PMT）作为检测器，它是单一的检测元件，检测一条谱线需要一个PMT检测器，设置为一个独立通道。由于其光电性能和体积上的局限性，限制了发射光谱仪器向全谱直读和小型高效化的发展。CCD、CID等固体检测器，作为光电元件具有暗电流小，灵敏度高，有较高的信噪比，很高的量子效率，接近理想器件的理论极限值。且是个超小型和大规模集成的元件，可以制成线阵式或面阵式的检测器，能同时记录成千上万条谱线，并大大缩短了分光系统的焦距，使直读光谱仪的多元素同时测定功能大为提高，而仪器体积又可大为缩小，正在成为PMT器件的换代产品。 由中阶梯光栅与棱镜色散系统产生的二维光谱，在焦平面上形成点状光谱，适合于采用CCD、CID一类面阵式检测器，兼具光电法与摄谱法的优点，从而能最大限度地获取光谱信息，便于进行光谱干扰和谱线强度空间分布同时测量，有利于多谱图校正技术的采用，有效的消除光谱干扰，提高选择性和灵敏度。而且仪器的体积结构更为紧凑。因此，采用新型检测器研制新一代光谱仪器已成为各大光谱仪器厂家的发展方向。 传统的直读光谱仪器是采用衍射光栅，将不同波长的光色散并成像在各个出射狭缝上，光电检测器则安装于出射狭缝后面。为了使光谱仪能装上尽可能多的检测器，仪器的分光系统必须将谱线尽量分开，也就是说单色器的焦距要足够长。即使采用高刻线光栅的情况下，也需0.5m至1.0m长的焦距，才有满意的分辨率和装上足够多的检测器。所有这些光学器件均需精确定位，误差不得超过几个微米；并且要求整个系统有很高的机械稳定性和热稳定性。由于振动和温度湿度等环境因素的变化，导致光学元件的微小形变，将使光路偏离定位，造成测量结果的波动。为减少这类影响，通常将光学系统安置在一块长度至少0.5m以上的刚性合金基座上，且整个单色系统必须恒温恒湿。这就是传统光谱仪器庞大而笨重，使用条件要求高的原因。而且，由于传统的光谱仪是使用多个独立的光电倍增管和电路对被分析样品中的元素进行测定，分析一 个元素至少要预先设置一个通道。如果增加分析元素或改变分析材料类型就需要另外安装更多的硬件，而光室中机构及部件又影响了谱线的精确定位，就需要重新调整狭缝和反射镜。既增加投资又花费时间，很受限制。 采用CCD等固体检测器作为光谱仪的检测器，则光的接收方式不同，仪器的结构发生了重大变化：当分光系统仍采用传统的全息衍射光栅分光，检测器采用线阵式CCD固体检 测元件，光线经光栅色散后聚焦在探测单元的硅片表面，检测器将光信号转换成电信号，便可经计算机进行快速高效处理得出分析结果。此时检测器是由上万个像素构成的线阵式CCD元件，每个像素仅为几个微米宽、面积只有十几个平方微米的检测单元，对应于每个元素分析谱线的检测单元象素可以做得很小，检测单元相隔也可以做得很近，组成的CCD板也很小，因此分光系统的焦距也就可以大为缩短，要达到通常的分辨率，单色器的焦距只要15-30cm即可。这样分光室便大大缩小。而且从根本上改变了传统光谱仪的机械定位方式。谱线与探测像素之间的定位是通过软件实现，外界因素引起的谱线漂移，可通过软件的峰值和寻找功能自动进行校正，并获得精确的测量结果。 由于一个CCD板可同时记录几千条谱线，在测定多种基体、多个元素时，不用增加任何硬件，仅用电路补偿，在扫描图中找到新增加的元素，就可进行分析。由于光室很 小，所以无需真空泵，用充氩或氮气就可以满足如碳、磷、硫等紫外波长区元素的分析。使用CCD可以做全谱接收，而不会出现传统光谱仪常遇到的位阻问题，离得很近的 谱线也能同时使用，也无需选择二级或更高谱级的谱线进行测量。这就极大地减小了仪器的体积和重量，使光谱仪器可以向全谱和小型轻便化发展。 国际上已有几个厂家采用这种新技术（例如德国斯派克等公司），推出了新型台式以及便携式手提直读光谱仪，具有全谱直读功能，轻便实用，可以满足生产现场分析的需要。 这些新型台式及便携式直读光谱仪均采用光栅分光－CCD检测器系统，光谱焦距仅在15 ～17cm，小型、轻便，具有全谱直读的分析功能，其性能不亚于传统的实验室直读光谱仪器。这些仪器均具有：使用简单，操作容易，无需设置调整，无需用户校准，样品不需处理，稳定可靠，使用成本低便于携带等特点。具有可直接显示分析结果和金属类型、对／错鉴别，快速分类、黑色以及有色金属近似定量分析和等级鉴别，利用预置的通用或特别工作曲线，可作单基体或多基体分析，可以按照具体样品和用户的要求进一步制作工作曲线，以满足特殊工艺或材质的要求等功能。作为料场合金牌号鉴别、废旧金属分类、冶金生产过程中质量控制和金属材料等级鉴别的一种有效工具。可以携带到需要做可靠的金属鉴别或金属分类的任何地方，适合于现场金属分析 。是一种全新概念的金属分析仪。利用 CCD 光学技术和现代微电子元 件推出的小型化全谱直读仪器，或便携式的现场光谱分析仪，提供性能价格比最好的金属光谱分析仪器，将是解决冶金、机械等行业中金属材料现场分析的理想工具。也 是发射光谱分析仪器向多功能、高实用化的发展前景

实验室主要做膜科学与技术研究方向，目前实验室用很多小装置都是自制或求人加工的，目前大多用有机玻璃材料，做起来很麻烦，而且容易坏，也不美观。请问有没有哪个厂家专门做这些小装置？特别是离子交换膜的小型制备和检测设备。

本人有一个全新ICP-715 CCD（检测器）出售，此检测器全新没有使用，由于采购失误所以现在出售，有需要的请站内 谢谢

[url=https://www.ldteq.com/brand/102.html]TDK[/url][size=14px]推出的μPOL? DC-DC转换器，是业内最小巧、功率密度最高的负载点解决方案，适用于大数据、机器学习、人工智能(AI)、5G蜂窝、物联网和计算企业等应用场景。[/size][size=14px]FS系列不是把分立的集成电路(IC)和电感器(L)并排使用，而是将它们集成在一个紧凑的配置中。这为那些有空间限制，需要薄型电源的应用提供了高密度的解决方案。[/size][size=14px]它们的尺寸是3.3 x 3.3 x 1.5 mm，尽量减少了需要外部组件，保持高性能的同时，提供了易于集成的简化设计。这一系列产品每 mm3 提供了高密度的1瓦解决方案，而且比同类产品尺寸小了50%。因此，它极大地降低了系统解决方案成本，减小了电路板尺寸和组装成本，还有BOM和PCB成本。该器件可在-40°C至125°C的广泛结温范围内工作。FS1406有望于2019年第三季度开始量产。[/size][size=14px]多年来，TDK一直致力于开发与这些创新有关的专利（美国9,729,059号和美国10,193,442号）。μPOL?是由TDK的子公司Faraday Semi开发的。这些全新的解决方案将高性能半导体与先进的封装技术相结合，如嵌入式基板半导体（SESUB）和先进电子元件，通过3D集成实现更小的尺寸和更低的外形，从而实现独特的系统集成。这种集成使TDK能够以更低的系统总成本提供更高的效率和易用性。[/size][size=14px]μPOL?技术涵盖了一个DC-DC转换器，该转换器安置在ASIC、FPGA等复杂芯片组的附近。通过减小转换器与芯片组之间的距离，将电阻和电感分量减至最低，以实现对动态负载电流的快速响应和精准调节。[/size][size=14px]这一系列产品适用于工业应用，不含铅且符合 ROHS 标准。[/size][align=center][size=14px][img=TDK超小型负载点μPOL DC-DC转换器,301,200]https://www.ldteq.com/public/ueditor/upload/image/20240123/1705980888428265.png[/img][/size][/align][b][size=14px]主要应用：[/size][/b][size=14px]网络存储：企业级固态硬盘/存储区域网络[/size][size=14px]服务器：主流服务器、机架式和刀片式服务器、微型服务器[/size][size=14px]网络通信和电信：以太网交换机和路由器以及 5G 小基站和 5G 基站[/size][size=14px]汽车(未来)[/size][b][size=14px]主要特点和优势：[/size][/b][size=14px]尺寸：3.3 x 3.3 x 1.5 mm[/size][size=14px]输出功率为每mm3 1瓦，所需电容比现有产品减少50%[/size][size=14px]适用于-40°C至125°C的结温范围[/size][size=14px][b]选型：[/b][/size][table=980][tr][td][b]类型[/b][/td][td][b]尺寸 [mm][/b][/td][td][b]额定电流 [A][/b][/td][/tr][tr][td][url=https://www.ldteq.com/product/1933.html]FS1406型[/url][/td][td]约3.3 x 3.3 x 1.5[/td][td]6[/td][/tr][tr][td][url=https://www.ldteq.com/product/1934.html]FS1404型[/url][/td][td]约3.3 x 3.3 x 1.5[/td][td]4[/td][/tr][tr][td][url=https://www.ldteq.com/product/1935.html]FS1403型[/url][/td][td]约3.3 x 3.3 x 1.5[/td][td]3[/td][/tr][/table][size=15px][color=#ff0000][b]注：[/b][/color][/size][url=https://www.ldteq.com/brand/102.html]TDK[/url][size=15px][color=#333333] μPOL?嵌入式DC-DC电源模块型号产品可用[/color][/size][url=https://www.ldteq.com/article/3154.html]Cyntec电源模块[/url][size=15px][color=#333333]进行替代，具体替代方案可咨询[/color][/size][url=https://www.ldteq.com/]立维创展[/url][size=15px][color=#333333]。[/color][/size]

利用毛细现象检查材料表面缺陷的一种无损检验方法。20世纪初，最早利用具有渗透能力的煤油检查机车零件的裂缝。到40年代初期美国斯威策 (R.C.Switzer)发明了荧光渗透液。这种渗透液在第二次世界大战期间，大量用于检查 飞机轻合金零件，渗透探伤便成为主要的无损检测手段之一，获得广泛应用。 　　渗透探伤包括荧光法和着色法。荧光法是将含有荧光物质的渗透液涂敷在被探伤件表面，通过毛细作用渗入表面缺陷中，然后清洗去表面的渗透液，将缺陷中的渗透液保留下来，进行显象。典型的显象方法是将均匀的白色粉末撒在被探伤件表面，将渗透液从缺陷处吸出并扩展到表面。这时，在暗处用紫外线灯照射表面，缺陷处发出明亮的荧光。 着色法与荧光法相似，只是渗透液内不含荧光物质，而含着色染料，使渗透液鲜明可见，可在白光或日光下检查。一般情况下，荧光法的灵敏度高于着色法。这两种方法都包括渗透、清洗、显象和检查四个基本步骤。 　　根据从被探伤件上清洗渗透液的方法，渗透探伤的荧光法和着色法又可分别分为水洗型、后乳化型和溶剂去除型三种。 渗透探伤 　　渗透探伤操作简单,不需要复杂设备,费用低廉，缺陷显示直观，具有相当高的灵敏度,能发现宽度1微米以下的缺陷。这种方法由于检验对象不受材料组织结构和化学成分的限制，因而广泛应用于黑色和有色金属锻件、铸件、焊接件、机加工件以及陶瓷、玻璃、塑料等表面缺陷的检查。它能检查出裂纹、冷隔、夹杂、疏松、折叠、气孔等缺陷；但对于结构疏松的粉末冶金零件及其他多孔性材料不适用。图1为用着色法发现的壳体上的热应力裂纹;图2为用荧光法发现的焊缝裂纹。 着色渗透探伤是无损检测技术中最简便而又有效的一种常用检测用段，它对危及金属、非金属材料制件寿命和压力容器安全的危险缺陷——如焊接裂缝、疲劳裂缝、应力腐蚀裂缝、磨削裂缝、淬火裂缝等表面开口性缺陷的检测具有显示灵敏、结论迅速、重复性和直观性好的独特优点。这些优点使得着色渗透探伤在机械、冶金、石油、化工、铁路、交通、造船、矿山、建筑、航空、航天、发电、受压容器以及国防工业部门质量保证体系中发挥越来越大的作用。　　着色渗透探伤剂可完全用水去除，因而检测成本低，特别适用于原材料及大型构件较粗糙表面的探伤。其探伤灵敏度最低可达到2级(中级)，考虑到用户对被检测表面在预洗的需要，型产品，仍可允许在无水源环境下使用，用本型清洗剂作去除剂用。本产品适用于化工、造船、铁路、石油、重型机械、冶金、军工、压力容器等部门对表面较粗糙、探伤灵敏度要求为2级的铸锻、板、棒等金属原材料、大型零件及结构的渗透探伤。 使用方法： 1、清洗：用清洗剂将被检工件表面的污物(氧化皮、铁锈、油脂等)完全清洗干净； 2、渗透：放置5-10分钟待工件和试块表面干燥后,施加渗透剂,喷嘴应距工件和试块表面 20-30mm,渗 透时间应根据使用说明,一般为5-15分钟,这期间应保持探伤面被渗透剂充分湿润.； 3、清洗：用清洗剂或水(水压≤1.5kg/cm2)将工件表面的渗透剂擦洗干净; 4、显像：将显像剂充分摇匀后，对被检工件保持距离300mm处均匀喷涂，喷涂显像剂后，片刻即　　可观察缺陷；； 5、检查完毕，用清洗剂或水擦洗去除显像剂； 6、按工艺要求将工件处理保存。

在这里给大家介绍一款全新的通用型检测器—Corona Charged Aerosol Detection（电喷雾检测器简称CAD）电喷雾检测器是一款全新的通用型检测器，因其创新的工作原理、独具的检测特点、广泛的应用领域而逐渐成为继紫外检测器之后通用型检测器的又一主力。电喷雾检测器（Corona Charged Aerosol Detection简称CAD）是在2005年由美国的ESA公司作为一款专利技术研发而成，推出的当年即获得了匹斯堡最佳新产品银奖和美国科技杂志R&D的科学技术创新奖。其主要的特点有：1出众的灵敏度—检测限可到pg级；2一致的响应性—响应与化合物的结构无关，只要进样质量相同响应值相似；3宽动态范围—检测从pg~ug跨越4个数量级；4广泛的适用性—所有半挥发性、非挥发性化合物都可以通过该检测器进行测定；5良好的重现性—即使在低含量下，RSD也能达到2%以下；6使用方便—安装方便、操作简单，维护费用低，尤其适用于工业生产。结构和原理电喷雾检测器的具体工作原理如图1所示：图1 CAD工作流程图①HPLC洗脱液入口②氮气入口③雾化室④废液管⑤干燥管⑥Corona电极⑦碰撞室⑧离子阱⑨采集器⑩静电计HPLC洗脱液进入电喷雾检测器后先受氮气作用在雾化室中雾化，再以较高流速撞击到碰撞挡板上，撞击后形成大小不同的外面包裹着流动相的分析物颗粒的液滴，较大的液滴在重力影响下由废液管排出，较小的液滴则随氮气流入干燥管，挥发掉表面溶剂。同时，入口氮气的另一流路则经过电晕装置（含高压铂金电极）形成带正电荷的氮气粒子，与干燥后的溶质颗粒在碰撞室中发生碰撞，碰撞过程中正电荷被转移到颗粒的外表面上，颗粒表面积越大，携带的电荷数越多。另外，为了消除由带有过多正电荷的氮气引起的背景噪音，在带电分析物颗粒气流流入采集器之前，会通过一种称之为离子阱的装置（带有低负电压）定向中和掉迁移率较大的颗粒（即体积小的氮气粒子）上的电荷，而迁移率较小的带电颗粒（分析物颗粒）则把它们的电荷转移给采集器里的捕集网，而后由一个高灵敏度的静电检测计测量出总的电信号。也就是说，图谱里的响应值与测得的电信号成正比，电信号与被测物的表面积成正比，被测物的表面积与被测物的大小成正比，而被测物的大小又与被测物进样的质量成正比，即电喷雾检测器是一个质量敏感型检测器，其检测的响应值由进样的绝对质量决定，进样质量越大，打碎成的颗粒越大，带电荷越多，响应值越高。因此，无论何种化合物，只要进样质量相同，得到的响应值都趋于一致，这也是其具有一致的响应性的原因。又由于被测物在打碎时无论是离子还是分子都会形成中性的颗粒，且电荷只加在颗粒外表面，所以在一个实验中可以同时检测中性及阴阳离子，而在此之前没有检测器可以实现，因此成为电喷雾检测器的又一亮点。另外，电喷雾检测器的参数大都已在出厂时设定好，每次分析的条件固定，因此重现性良好，RSD2%。具体应用电喷雾检测器的应用范围广泛，可以用于正相、反相、超临界流体、体积排阻、HILIC等多种模式，检测小分子、大分子、极性化合物、非极性化合物、阴离子、阳离子、两性离子等多种物质。1 可以作为紫外检测器的补充，检测无紫外吸收或弱紫外吸收的化合物； 2 可以作为质谱的补充，检测无法电离的化合物； 3 可以对找不到标准物质进行定量的代谢物或降解物进行相对定量； 4 可以同时测定阴阳离子和中性物质； 5 可以走梯度，可以满足大部分检测灵敏度的要求。

利用声学特性的无损检测技术___超声波检测技术无损检测导论（2005年元月电子修订版）夏纪真 编著 第二章无损检测技术及其应用 无损检测技术的基础是物质的各种物理性质或它们的组合以及与物质相互作用的物理现象。迄今为止，包括在工业领域已获得实际应用的和已在实验室阶段获得成功的无损检测方法已达五、六十种甚至更多，随着工业生产与科学技术的发展，还将会出现更多的无损检测方法与种类。本书仅能就几个主要方面作简单扼要的介绍。除了对于工业上已经广泛应用的五大常规无损检测技术（超声波检测、磁粉检测、涡流检测、渗透检测和射线照相检测）给予一定的工艺介绍外，对其他方法仅作概念性介绍。若需对其中某项方法作深入了解时，应查阅相应方法的专业技术介绍资料。§2.1 利用声学特性的无损检测技术§2.1.1 超声波检测技术什么是超声波？超声波有什么特性？声波是指人耳能感受到的一种纵波，其频率范围为16Hz~2KHz。当声波的频率低于16Hz时就叫做次声波，高于2KHz则称为超声波。一般把频率在2KHz到25MHz范围的声波叫做超声波。它是由机械振动源在弹性介质中激发的一种机械振动波，其实质是以应力波的形式传递振动能量，其必要条件是要有振动源和能传递机械振动的弹性介质（实际上包括了几乎所有的气体、液体和固体），它能透入物体内部并可以在物体中传播。利用超声波在物体中的多种传播特性，例如反射与折射、衍射与散射、衰减、谐振以及声速等的变化，可以测知许多物体的尺寸、表面与内部缺陷、组织变化等等，因此是应用最广泛的一种重要的无损检测技术--超声检测技术。例如用于医疗上的超声诊断（如B超）、海洋学中的声纳、鱼群探测、海底形貌探测、海洋测深、地质构造探测、工业材料及制品上的缺陷探测、硬度测量、测厚、显微组织评价、混凝土构件检测、陶瓷土坯的湿度测定、气体介质特性分析、密度测定……等等。超声波具有如下特性：1）超声波可在气体、液体、固体、固熔体等介质中有效传播。2）超声波可传递很强的能量。3）超声波会产生反射、干涉、叠加和共振现象。4）超声波在液体介质中传播时，达到一定程度的声功率就可在液体中的物体界面上产生强烈的冲击（基于“空化现象”）--从而引出了“功率超声应用“技术--例如“超声波清洗”、“超声波钻孔”、“超声波去毛刺”（统称“超声波加工”）等。5）利用强功率超声波的振动作用，还可用于例如塑料等材料的“超声波焊接”。工业无损检测技术中应用的超声波检测（UltrasonicTesting，简称UT）是无损检测技术中发展最快、应用最广泛的无损检测技术，占有非常重要的地位。在超声波检测技术中用以产生和接收超声波的方法最主要利用的是某些晶体的压电效应，即压电晶体（例如石英晶体、钛酸钡及锆钛酸铅等压电陶瓷）在外力作用下发生变形时，将有电极化现象产生，即其电荷分布将发生变化（正压电效应），反之，当向压电晶体施加电荷时，压电晶体将会发生应变，亦即弹性变形（逆压电效应）。因此，利用压电晶体制成超声波换能器（探头），对其输入高频电脉冲，则探头将以相同频率产生超声波发射到被检物体中去，在接收超声波时，探头则产生相同频率的高频电信号用于检测显示。除了利用压电效应以外，在某些情况下也利用磁致伸缩效应（强磁材料在磁化时会发生变形的现象，可用作振源或用于应变测量），也有利用电动力学方法（例如本章后面叙述的电磁-声或涡流-声方法）。（3）耦合方法的确定-超声探头与被检工件之间存在空气时，超声波将被反射而无法进入被检工件，因此在它们之间需要使用耦合介质（耦合剂），视耦合方式的不同，可以分为：接触法-超声探头与工件检测面直接接触，其间以机油、变压器油、润滑脂、甘油、水玻璃（硅酸钠Na2SiO3）或者工业胶水、化学浆糊等作为耦合剂，或者是商品化的超声检测专用耦合剂。水浸法-超声探头与工件检测面之间有一定厚度的水层，水层厚度视工件厚度、材料声速以及检测要求而异，但是水质必须清洁、无气泡和杂质，对工件有润湿能力，其温度应与被检工件相同，否则会对超声检测造成较大干扰。接触法和水浸法是超声检测中最主要应用的两种耦合方式，此外还有水间隙法、喷水柱法、溢水法、地毯法、滚轮法等多种特殊的耦合方式。（4）检测条件的准备-选择适当的超声探伤仪、超声探头、参考标准试块（或者采用计算法时的计算程序或距离-波幅曲线、AVG或DGS曲线等），以及在检测前对仪器的校准（时基线校正、起始灵敏度设定等）。[/si

1、工件尺寸准确，表面光洁度差 　　 　　故障原因：刀具刀尖受损，不锋利；机床产生共振，放置不平稳；机床有爬行现象；加工工艺不好。 　　 　　解决方案：刀具磨损或受损后不锋利，则重新磨刀或选择更好的刀具重新对刀;机床产生共振或放置不平稳，调整水平，打下基础，固定平稳;机械产生爬行的原因为拖板导轨磨损厉害，丝杠滚珠磨损或松动，机床应注意保养，上下班之后应清扫铁丝，并及时加润滑油，以减少摩擦;选择适合工件加工的冷却液，在能达到其他工序加工要求的情况下，尽量选用较高的主轴转速。 　　 　　2、工件产生锥度大小头现象 　　 　　故障原因：机床放置的水平没调整好，一高一低，产生放置不平稳;车削长轴时，贡献材料比较硬，刀具吃刀比较深，造成让刀现象;尾座顶针与主轴不同心。 　　 　　解决方案：使用水平仪调整机床的水平度，打下扎实的地基，把机床固定好提高其韧性;选择合理的工艺和适当的切削进给量避免刀具受力让刀;调整尾座。 　　 　　3、驱动器相位灯正常，而加工出来的工件尺寸时大时小 　　 　　故障原因：机床拖板长期高速运行，导致丝杆和轴承磨损;刀架的重复定位精度在长期使用中产生偏差;拖板每次都能准确回到加工起点，但加工工件尺寸仍然变化。此种现象一般由主轴引起，主轴的高速转动使轴承磨损严重，导致加工尺寸变化。金属加工微信，内容不错，值得关注。 　　 　　解决方案：用百分表靠在刀架底部，同时通过系统编辑一个固定循环程序，检查拖板的重复定位精度，调整丝杆间隙，更换轴承;用百分表检查刀架的重复定位精度，调整机械或更换刀架;用百分表检测加工工件后是否准确回到程序起点，若可以，则检修主轴，更换轴承。　　只要确认了哪部分高速切削数控车床出现故障、损坏程度，我们就可以进行下一步方案解决问题。经过这些步骤基本上能够找出问题的所在。

小型设备是一波一波又一波呀，空气监测是热点，噪声监测也不弱，有人就干脆二合一，实现双重功能啦！日前一款智能监控设备问世，这款设备能够监控使用者周围的污染气体、污染物指数、空气质量甚至是噪音和湿度指数。可以这么说吧，有了这套设备，自己在家就能随时掌控各种空气健康指数。

CID-电荷注入式固体检测器； SCD-分段式电荷耦合固体检测器； CCD-电荷耦合固体检测器； HDD-高动态范围(光电倍增管)检测器。 新型台式、便携式全谱直读光谱仪器 随着微电子技术的发展，固体检测元件的使用和高配置计算机的引入，发射光谱直读仪器的全谱技术进入全新的发展阶段。国外已有很多厂家推出新型的全谱直读光谱仪，除了已经开发的采用中阶梯光栅分光系统与面阵式固体检测器的全谱光谱仪外，采用特制全息光栅与线阵式固体检测器相结合，也可达到全谱直读的目的，而且使光谱仪器从结构上和体积上发生了很大变化，出现了新型的全谱直读光谱仪、小型台式或便携式的全谱直读仪器，可用于现场分析的光谱仪。给发射光谱仪器的研制开拓了一个崭新的发展前景。 传统的直读光谱仪器，一直采用光电倍增管（PMT）作为检测器，它是单一的检测元件，检测一条谱线需要一个PMT检测器，设置为一个独立通道。由于其光电性能和体积上的局限性，限制了发射光谱仪器向全谱直读和小型高效化的发展。CCD、CID等固体检测器，作为光电元件具有暗电流小，灵敏度高，有较高的信噪比，很高的量子效率，接近理想器件的理论极限值。且是个超小型和大规模集成的元件，可以制成线阵式或面阵式的检测器，能同时记录成千上万条谱线，并大大缩短了分光系统的焦距，使直读光谱仪的多元素同时测定功能大为提高，而仪器体积又可大为缩小，正在成为PMT器件的换代产品。 由中阶梯光栅与棱镜色散系统产生的二维光谱，在焦平面上形成点状光谱，适合于采用CCD、CID一类面阵式检测器，兼具光电法与摄谱法的优点，从而能最大限度地获取光谱信息，便于进行光谱干扰和谱线强度空间分布同时测量，有利于多谱图校正技术的采用，有效的消除光谱干扰，提高选择性和灵敏度。而且仪器的体积结构更为紧凑。因此，采用新型检测器研制新一代光谱仪器已成为各大光谱仪器厂家的发展方向。 传统的直读光谱仪器是采用衍射光栅，将不同波长的光色散并成像在各个出射狭缝上，光电检测器则安装于出射狭缝后面。为了使光谱仪能装上尽可能多的检测器，仪器的分光系统必须将谱线尽量分开，也就是说单色器的焦距要足够长。即使采用高刻线光栅的情况下，也需0.5m至1.0m长的焦距，才有满意的分辨率和装上足够多的检测器。所有这些光学器件均需精确定位，误差不得超过几个微米；并且要求整个系统有很高的机械稳定性和热稳定性。由于振动和温度湿度等环境因素的变化，导致光学元件的微小形变，将使光路偏离定位，造成测量结果的波动。为减少这类影响，通常将光学系统安置在一块长度至少0.5m以上的刚性合金基座上，且整个单色系统必须恒温恒湿。这就是传统光谱仪器庞大而笨重，使用条件要求高的原因。而且，由于传统的光谱仪是使用多个独立的光电倍增管和电路对被分析样品中的元素进行测定，分析一 个元素至少要预先设置一个通道。如果增加分析元素或改变分析材料类型就需要另外安装更多的硬件，而光室中机构及部件又影响了谱线的精确定位，就需要重新调整狭缝和反射镜。既增加投资又花费时间，很受限制。 采用CCD等固体检测器作为光谱仪的检测器，则光的接收方式不同，仪器的结构发生了重大变化：当分光系统仍采用传统的全息衍射光栅分光，检测器采用线阵式CCD固体检 测元件，光线经光栅色散后聚焦在探测单元的硅片表面，检测器将光信号转换成电信号，便可经计算机进行快速高效处理得出分析结果。此时检测器是由上万个像素构成的线阵式CCD元件，每个像素仅为几个微米宽、面积只有十几个平方微米的检测单元，对应于每个元素分析谱线的检测单元象素可以做得很小，检测单元相隔也可以做得很近，组成的CCD板也很小，因此分光系统的焦距也就可以大为缩短，要达到通常的分辨率，单色器的焦距只要15-30cm即可。这样分光室便大大缩小。而且从根本上改变了传统光谱仪的机械定位方式。谱线与探测像素之间的定位是通过软件实现，外界因素引起的谱线漂移，可通过软件的峰值和寻找功能自动进行校正，并获得精确的测量结果。 由于一个CCD板可同时记录几千条谱线，在测定多种基体、多个元素时，不用增加任何硬件，仅用电路补偿，在扫描图中找到新增加的元素，就可进行分析。由于光室很 小，所以无需真空泵，用充氩或氮气就可以满足如碳、磷、硫等紫外波长区元素的分析。使用CCD可以做全谱接收，而不会出现传统光谱仪常遇到的位阻问题，离得很近的 谱线也能同时使用，也无需选择二级或更高谱级的谱线进行测量。这就极大地减小了仪器的体积和重量，使光谱仪器可以向全谱和小型轻便化发展。 国际上已有几个厂家采用这种新技术（例如德国斯派克等公司），推出了新型台式以及便携式手提直读光谱仪，具有全谱直读功能，轻便实用，可以满足生产现场分析的需要。 这些新型台式及便携式直读光谱仪均采用光栅分光－CCD检测器系统，光谱焦距仅在15 ～17cm，小型、轻便，具有全谱直读的分析功能，其性能不亚于传统的实验室直读光谱仪器。这些仪器均具有：使用简单，操作容易，无需设置调整，无需用户校准，样品不需处理，稳定可靠，使用成本低便于携带等特点。具有可直接显示分析结果和金属类型、对／错鉴别，快速分类、黑色以及有色金属近似定量分析和等级鉴别，利用预置的通用或特别工作曲线，可作单基体或多基体分析，可以按照具体样品和用户的要求进一步制作工作曲线，以满足特殊工艺或材质的要求等功能。作为料场合金牌号鉴别、废旧金属分类、冶金生产过程中质量控制和金属材料等级鉴别的一种有效工具。可以携带到需要做可靠的金属鉴别或金属分类的任何地方，适合于现场金属分析 。是一种全新概念的金属分析仪。利用 CCD 光学技术和现代微电子元 件推出的小型化全谱直读仪器，或便携式的现场光谱分析仪，提供性能价格比最好的金属光谱分析仪器，将是解决冶金、机械等行业中金属材料现场分析的理想工具。也 是发射光谱分析仪器向多功能、高实用化的发展前景

有网友问，[color=#444444]食堂想建一个小型的农残检测室，能不能给一些建设的材料说明。[/color]