红外成像系统光电成像测试仪

研究微塑料等新兴污染物需要创新的分析技术。Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统采用量子级联激光器光谱技术，具有出众的分析速度和易用性以应对此类分析挑战。8700 LDIR 系统的全自动化微塑料工作流程非常适合分析环境样品、食品等样品中的微塑料颗粒。8700 LDIR 处理样品仅需几分钟或几小时（而非几天），能够在极少的操作人员干预下实现更高的样品通量。这一优势可降低成本并避免潜在错误，为您快速提供所需的结果。Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统——清晰的化学成像和理想的分析速度如果您既可以节省时间又能获得更出色的结果，那将会怎样？Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统为您提供全新的尖端化学成像和光谱分析能力。针对专家和非专家使用而设计的 8700 LDIR 提供了一种简单的高度自动化方法，能够使表面成分获得可靠的高清化学图像。Agilent 8700 LDIR 采用最新量子级联激光器 (QCL) 技术，结合快速扫描光学元件，可提供快速、清晰的高质量图像和光谱数据。这项技术与直观的 Agilent Clarity 软件相结合，可通过“放置样品-自动运行”的简单方法，以最少的仪器交互实现大样品区域快速、详细的成像。使用 8700 LDIR，您可以在更短的时间内更详细地分析更多样品，这种强大的解决方案为您提供了比以往更多的统计数据，有助于完成片剂、多层薄膜材料、生物组织、聚合物和纤维的组成分析。借助更有意义的信息，您可以在产品开发过程中制定更明智、更快速的决策，从而降低成本、缩短分析时间。（从左到右）安捷伦样品切片机、Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统和 Agilent Clarity 软件分析窗口主要优势– 主要应用领域：微塑料测试、制药、科研– 自动完成样品分析– 无需更换任何光学元件，即可分析大样品区域，然后更详细地分析较小的目标区域– 全面软件控制支持自动调节微米级到厘米级的视野范围，或 1 μm 到 40 μm 的像素分辨率– 通过采集像素分辨率小至 0.1 μm 的 ATR 成像数据，可获得无与伦比的图像细节和光谱质量– 借助 ATR 功能，可使用商业或自定义谱库快速鉴定未知物– 无需进行复杂的方法开发，即可获得样品成分的相对定量信息– 无需使用液氮，可降低运行成本并简化维护操作特性：高度自动化的工作流程使您能够从一系列样品基质中定位、描述和鉴定微塑料颗粒无需更换任何光学元件，即可分析大样品区域并成像，然后更详细地分析较小的目标区域。使用 Agilent Clarity 软件实现全面控制，“ 放置样品-自动运行” 方法仅需极少的仪器操作，小巧体积节省了实验台空间用于实时谱图匹配的内置文库。结果随谱图采集持续更新。量子级联激光器 (QCL) 和电冷却检测器无需液氮，降低了运行成本并简化了维护过程。机载 ATR 允许进一步分析未知颗粒，而无需移除样品。谱图可以导出到外部文库用于确认鉴定结果。使专业光谱工作者和受过培训的一般技术人员都能够快速准确地分析和表征样品。工作原理：8700 LDIR — 量子级联激光器光谱分析在对极小的对象（例如微塑料）进行分析时，保持高水平的精度至关重要。8700 LDIR 使用基于半导体的量子级联激光器 (QCL) 光源替代了传统红外光源。QCL 能够以单波长发射红外光，或是在不到一秒的时间内完成完整光谱的扫描。双线工作模式与大功率信号及精密的波长准确度相结合，实现了超越以往仪器的分析选择和分析性能。应用：表征环境样品中的微塑料LDIR 配备的 Agilent Clarity 软件提供了出色的工作流程自动化和灵活的进样选项。了解使用 Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统进行微塑料分析的强大工作流程。对滤膜上源自塑料瓶的微塑料进行快速的大面积直接分析由于废弃物管理不当和塑料污染，现在已知微塑料广泛存在于环境中。但是，微塑料的膳食暴露途径目前尚不明确。了解 8700 LDIR 如何准确鉴定和定量瓶装饮用水中存在的微塑料。同行评审的 8700 LDIR 出版物LDIR 正在迅速成为分析各种样品类型中微塑料的首选技术。在科学文献和可公开访问的数据库（包括谷歌学术）中，可以找到种类繁多的 8700 LDIR 出版物。

产品概述ZR-1241型红外热成像口罩密合度测试仪是针对佩戴N95、普通医用外科口罩等进行实时检测口罩的密合度，并同时可以标注出具体泄露区域的高新技术产品。基于细粒度SRA-CNN图像分类算法为原理，并采用红外热成像数据，设计了一种数据驱动的深度学习图像识别模型。执行标准：GB 19083-2010 医用防护口罩技术要求—密合性要求和试验方法章节。适用场所：ZR-1241是众瑞向着高精尖设备制造迈进的里程碑之作，解决了传统检测方式的不足。智能化的产品不仅适用于口罩生产厂商的质量自控以及其他单位的质量监督，也适用于医院洁净病房、P3/P4级生物实验室以及GMP制剂车间等医疗场所和人流量、车流量大的公共场所（如车站、地铁站、机场、高速检查站、机关单位、学校、商场以及电影院）进行口罩密合度筛查。真正实现了一机打通生产到使用的全部通道，具有极高的普适性。

仪器简介：PerkinElmer Spotlight 400/400N 傅立叶变换红外/近红外成像系统 提升您实验室的能力水平到艺术的境界 不是每一天都会有杰作产生，但 Spotlight的确是一个杰作，否则我们还怎么去描述一台实验室仪器能够如此大幅度地，跨越多个应用领域，来增加工业界对材料的了解呢？由于有了Spotlight 400，红外成像比以前变得更快、更有效并且更灵活了。Spotlight 400实在是这个世界上方便好用、有效的实验室傅里叶变换红外成像系统。 红外成像系统性能和速度的新纪元 Spotlight 400能够以每秒170张的高速采集高品质的红外光谱数据，让你以前所未有的速度获得红外图像。在研究领域，你能通过红外图像得到更深层次的启迪；对于分析实验室，你能提高判断和解决问题的能力，归根结底，通过红外图像你将比以前更加了解材料、组织成分和你的产品。 Spotlight 400无与伦比的性能和可靠源于一系列专利的革新技术，包括第一个用于红外成像的线阵列检测器以及数据采集和控制电子线路技术，这些突破带来的就是PerkinElmer高速和高品质的红外图像仪。Spotlight 400同样在灵活性方面开辟了新天地，除了6.25&mu 和25&mu 像素分辨率之外，PerkinElmer现在可以用50&mu 像素分辨率进行更快的探查性成象。这种灵活性对于那些不需要高空间分辨率的应用将特别有价值。现在可以比以前快四倍来做一次粗扫描，为所有的难题分析或常规质量保障提供一个理想的初筛工具。通过使用图像ATR(衰减全反射)附件，Spotlight 400进一步提高了应用能力，能够适应各种各样的样品类型，包括测试那些困难的或无反射的样品。同时空间分辨率突破常规红外图象的物理限制达到1.56&mu 。另外，Spotlight 400还赋予你通过单次操作测试多重成象区域的能力；该系统的无人值守方式允许通宵实验，可以充分利用资源；可选的大样品台增加了可用的采样区域，允许一次测试多个样品或测试面积非常大的样品，提供有关样品的更多信息和获得高效率。 技术参数：Spotlight 400线阵列检测器 &mdash &mdash 美在于细节 Spotlight 400的心脏是它独特的线阵列检测器，提供高的信息质量，并且比任何其它红外光谱成像系统更快。 线阵列检测器技术提供的性能、可靠性和样品处理能力远胜过那些焦平面阵列（FPA）检测器，对于任何大小样品区域和相应的分析时间，线阵列检测器能提供高得多的灵敏度和宽得多的光谱范围。Spotlight 400把16个带有镀金信号线的独立优质MCT红外检测器元件合并成为线阵列检测器，检测器以精确的线性模式扫过样品，专利的载物台移动与干涉仪同步获得大的数据采集速度，所有的16个检测器单元以100%曝光系数记录数据，确保图像质量，Spotlight不需要在速度和灵敏度上折衷的设计，带来的是好的数据质量，所以经常单次扫描就能获得高质量、宽范围的光谱。采样灵活性之高与采样时间之短远超过任何其它仪器。 与此相反，传统的焦平面阵列检测器需要多次循环重复采样才能获得可比较的数据质量，而且光谱范围也缩小了。Spotlight 400检测器提供测量到超过720cm的能力，可以更好地检测材料的特性，这对许多竞争对手的傅里叶变换红外成像系统来说是不可能的。 Spotlight获得专利的检测器在同一个杜瓦瓶的单一衬底上将一排窄带的MCT阵列检测器和一个中带的MCT检测器组合起来，PerkinElmer的Spotlight不需要定位调整您也不会像使用焦平面阵列检测器那样遭遇像素坏点。中带单点检测器对于希望扩展光谱范围非常有用并且能提供好的灵敏度，很容易地在性能上超越目前行业中常用的红外显微镜系统。随着鼠标的轻轻一击，检测器的模式就能改变。除此之外没有任何其他移动部件， 保证了仪器有非常好的可靠性。 Spotlight可以相当快地获取图像并且它能够快速移动样品台以测量用户指定的图像尺寸，样品台与光谱仪的干涉仪直接相连并且在干涉仪改变方向的瞬间随之同步移动，最多每秒可改变五次方向，样品台位置的重现性可达到0.001%。

GaiaField Pro-N17E lite便携式成像光谱系统技术参数l 集成高性能数据采集与分析处理系统，无需外接计算机l 高清辅助取景摄像头实现对拍摄区域的监控与图像采集l 内建精准农业、军事等应用模型，实现实时模型分析功能（NDVI、伪装识别等）l 支持用户自定义分析模型l 目标光谱实时匹配搜索功能l 内置电池l 数据预览及校正功能：辐射度校正、反射率校正、区域校正、镜头校准、均匀性校准l 镜头可更换l 支持Android智能手机、Ipad、Iphone无线遥控（Wifi模式）l 选配支持远距无线图像传输与遥控操作（串口模式）l 数据格式完美兼容Evince、Envi、SpecSight等数据分析软件l 兼容一代Gaiafield系列所有功能（无自动调焦） 型号GaiaField Pro - N17E lite扫描方式内置推扫光谱范围960-1640nm光谱分辨率5nm数值孔径F/2.0狭缝尺寸30um*14.2mm探测器InGaAs像素数（空间维*光谱维）256*320光谱通道数320,160(2X)动态范围12 bits连接方式Wifi视场角FOV12.2°（@30mm镜头）图像空间分辨率（像素）256*400扫描速度4s/cube重量7.5kg内置电池120Wh（工作时间2小时） GaiaField lite 便携式高光谱系统是双利合谱研制的一款超便携式高光谱成像仪器。使用此系统进行图像采集扫描，在获得目标影像信息的基础上，还可以获得数百甚至上千波段的光谱信息。GaiaField lite 系统有着轻便灵活，续航能力出色、智能化、数据分析处理功能齐全、能够实时监控等特点。广泛适用于户外和实验室内的应用需求，例如：目标探测与识别、伪装与反伪装等军事领域，地面物体与水体遥测、现代精细农业等生态环境监测领域，以及刑侦、文物保护、生物医学、工业分选等领域。 覆盖可见光与近红外l 全波段可提供超过700个光谱通道，可自由选择GaiaField便携式高光谱系统采用了高分辨率的成像光谱仪。在可见光波段，光谱分辨率高达3nm，即使在短波红外波段也能达到10nm。因而全波段（400-1000nm）内可以获得超过700个的光谱通道，更多的光谱通道意味着更多的信息，有助于研究人员通过对连续光谱的分析、反演，获得更多的高价值数据细节。 独有的软硬件功能 l 自动扫描速度匹配、自动曝光? 自动曝光：根据当前光照环境，进行曝光测试，获得精准的曝光时间。在得到最佳信噪比的同时，又可避免过度曝光造成数据作废。同时软件具有实时过度曝光监视功能。? 自动扫描速度匹配：根据当前的曝光时间等参数，进行测试拍摄，得到实时帧速，进而计算出合适的扫描速度。从而避免了扫描图像的变形（拉伸或压缩）

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱（nanoIR）技术和扫描探针显微镜（SPM）技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果，可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率，在保留DimensionIcon最佳的AFM测量能力的同时，还提供了极大的样品尺寸灵活性。Dimension IconIR利用Bruker独有的PeakForce Tapping纳米级物性表征技术和专利的纳米红外光谱技术，使得它能够在纳米尺度下对样品进行纳米化学、纳米电学和纳米力学的关联性表征。只有Dimension IconIR具备：与FTIR完全吻合的红外光谱，优于10 nm的空间分辨率和单分子层灵敏度的高性能纳米红外光谱化学成像可与Peakforce Tapping纳米力学和纳米电学属性表征相关联高性能的AFM成像功能和极大的样品尺寸灵活性广泛适用的应用配件和AFM功能模式专利技术保证真实的红外吸收光谱AFM-IR通过采集样品的热膨胀信号（PTIR）还原样品的红外吸收光谱。由于检测区域的热膨胀只与样品在该波长下的吸收强度有关，而常规的傅里叶红外光谱（FTIR）检测的也是样品在该波长下的吸收强度，因此AFM-IR获得的红外吸收光谱与传统的红外吸收光谱高度吻合。红外吸收成像除采集指定区域的红外吸收光谱外，Dimension IconIR同时提供了固定红外脉冲波长，检测样品表面某一区域在该波长下吸收强度的功能。在该工作模式下，Dimension IconIR会将红外脉冲激光固定在研究者所选的波长，用AFM探针扫描需要检测的表面，记录探针针尖在每个位置检测到的红外吸收强度，并同时给出AFM形貌和该波长下的红外吸收成像。专利保护的接触共振技术专利保护的共振增强技术将测量灵敏度提高到单分子层级别，达到最高的光谱检测灵敏度。因为基于原子力系统的红外技术是以探针来检测样品表面在红外激光作用下的机械振动，随着厚度的减小，这种位移量变得极其微小，超出了原子力显微镜的噪音极限。我们利用专利保护的可调频激光优化脉冲信号频率，使之与探针和样品的接触共振频率吻合，那么这种单谐振子共振模式就能把微弱信号放大两个数量级。。智能光路优化调整，保证实验效率红外激光和AFM联用系统的最大挑战在于光路的优化，为了得到最佳的信号，在实验过程中光斑中心应该始终跟随探针针尖位置并保持良好的聚焦。但是在调频过程中，激光光束的发射角度会随着波长的变化而改变，进而改变光斑位置，聚焦状态也会变化。布鲁克采用全自动软件控制automatic beam steering和自动聚焦系统来修正光斑位置的偏移和聚焦，大大改善了传统联用系统需要手动调节的不便和低效率。同时全自动动态激光能量调整保证信号的稳定性，避免红外信号受激光不均匀功率的影响。

高分辨率热成像模块H200光伏热成像无人机测试仪设备采用德国原装（红外/可视）双通道热成像模块，其高达640X480像素的全辐射红外检测模块可实现32HZ/125HZ的高清热辐射红外图像与同步数据记录。热成像模块配备有红外与可见光双图传存储功能，搭配功能强大的热成像分析软件可有效帮助后期缺陷分析与定位分析。整套热成像系统具备GPS定位无人机巡航检测功能，可在无人情况下完成一整个方阵的检测与记录功能。可满足包括光伏电站检测在内的所有热辐射检测功能需求 EL检测相机功能说明产品指标针对光伏检测优化设备组件类型硅晶组件/薄膜组件 CIGS探测器像素4500像素分辨率7850*5360检测模式手持扫描性检测/无人机挂载检测/方阵多组件高清检测EL续航3HEL工作距离1~30m对焦自动对焦或手动空间精度0.1 mm/pixel空间分辨率1.3 mRad清晰度4K清晰度扫描效率3h / 1MW拍照效率1min / 1组串(25块组件)检测范围单组件扫描/12组件成像视场角45°× 45°精度1mm显示器123万像素TFT显示屏无线模块长频5G无线模块上电方式多组件供电/组串供电/汇流箱供电电源搭载1）组串式15kw电源2）电流 0~1500V 精度±1‰3）电压 0~10A 精度±1%4) 电流电压面板设定5）电流电压恒定设置，一键上电 无需调节6）重量＜15.5kg具备程控，恒流，分压，缓冲，抗逆电流，防静电，防短路，防过载，防漏电红外测控技术用户可直接通过实时画面，扫描组件整体或局部内部缺陷红外成像技术可手持操作或通过莱科斯软件实现跟多拓展检测功能流视频输出USB至PC，HDMI至兼容HDMI显示器，6000分辨率视频格式输出MOV图片格式输出JPEG 手柄3轴防抖电动手柄操作界面中文/（可选英文）夜视仪功能有搭载设备手机/平板/电脑WIFI连接可实现手机/平板无线APP操作数据线连接可实现PC操作拓展更多功能锂电池2块高性能离锂电池，可持续工作3小时使用环境太阳光（＜300辐照度）/夜晚尺寸重量13*15*11（cm） ； 1kg质保2年，可延长质保与第三方保险购置

Agilent 8700 LDIR 激光红外 (LDIR) 成像系统为您提供全新的前沿化学成像和红外光谱分析能力。8700 LDIR 采用量子级联激光器 (QCL) 技术，针对专家和非专家使用而设计，可提供简单、高度自动化的操作。8700 LDIR 非常适合分析环境样品（例如水）中的微塑料颗粒，可以在数分钟内更详细地分析更多样品，无需数小时。自动化工作流程可降低成本与避免潜在错误，简化微塑料分析过程，为您快速提供所需的结果。特性1、高度自动化的工作流程使您能够从一系列样品基质中定位、描述和鉴定微塑料颗粒。2、无需更换任何光学元件，即可分析大样品区域并成像，然后更详细地分析较小的目标区域。3、使用 Agilent Clarity 软件实现全面控制，“ 放置样品-自动运行” 方法仅需极少的仪器操作，小巧体积节省了实验台空间。4、用于实时谱图匹配的内置文库。结果随谱图采集持续更新。5、量子级联激光器 (QCL) 和电冷却检测器无需液氮，降低了运行成本并简化了维护过程。6、机载 ATR 允许进一步分析未知颗粒，而无需移除样品。谱图可以导出到外部文库用于确认鉴定结果。7、使专业光谱工作者和受过培训的一般技术人员都能够快速准确地分析和表征样品。工作原理突破性的红外光谱技术安捷伦的创新设计采用量子级联激光（QCL），高空间分辨成像和直观的Agilent Clarity软件来创建详细的化学图像。与使用2D焦平面阵列（FPA）检测器的其他QCL成像系统不同，8700 LDIR采用单元件电冷却检测器来消除图像和光谱中的激光相干伪影。这样可以生成最清晰的图像和最可靠的光谱数据。分析模式8700 LDIR 可工作于反射或衰减全反射（ATR）模式，通过将入射光导向适当的物镜，在这两种模式之间自动切换。样品相对于光束的移动是完全自动化的，该过程可在非常短的时间内产生高质量的二维分子图像。8700 LDIR有两个可见光通道：一个用于大视场摄像头获取样品的全局视图，另一个用于显微镜级物镜捕获高放大倍率的细节。

失效分析检测公司推荐的设备，功能多多，科研利器！显微红外热分布测试系统金鉴显微红外热分布测试系统（GMATG-G5）由金鉴实验室和英国GMATG公司联合推出，采用法国的非晶硅红外ULIS探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出一套高精智能化的显微红外热分布测试体系。这套测试体系专为微观热成像设计，价格远低于国外同类产品，除传统红外热成像的优势外，还具有更高精度的成像系统、更高的温度灵敏度，更便捷的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。金鉴显微红外热分布测试系统已演化到第五代：配备20um的微距镜，可用于观察微米级别芯片的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5μm，能看清芯片金道；高低温数显精密控温体系，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，根据被测物上的不同材质，设置不同发射率，才能得到最真实的温度值；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉，性能卓著，值得信赖。与传统红外热像仪相比，金鉴显微红外热分布测试系统优点显著：应用领域：适用于LED、半导体器件、电子器件、激光器件、功率器件、MEMS、传感器等样品的研发设计、来料检验、失效分析、热分布测量、升温热分布动态采集。金鉴显微热分布与传统设备大PK：金鉴显微热分布测试系统特点：1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。 LED芯片热分布图 2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效。电子元器件性能受温度的影响较大，金鉴显微热分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题 3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测。金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，可全面的观测分析温度与时间的关系、温度与空间的关系，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。灯具温升变化图 灯珠芯片温升变化图4. 热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小温差和更小目标，提供更清晰的热像。 专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。5. 定制化的热像分析软件，为科研和分析提供专业化的数据支持。金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR，针对不同测试样品开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，纠正多种错误测温方式，具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。（1） PC和手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。 手机软件主界面 PC软件主界面（2）支持高低温自动捕捉，多个点、线、面的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。 （3）多达15种调色板，适用于不用的测试样品和场景需求，显示颜色的变化不影响温度的测试。（4） 微小器件由不同材质组成，不同材质、不同粗糙度等都影响发射率，图像上大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起的，因此发射率校正显得尤为重要。金鉴显微热分布测试系统可灵活设置不同区域的发射率，实现不同材质单独测量，温度测试更加准确。 （5）视频录制触发与自由定义帧频，最快25帧/秒，可精准捕捉有效的温度数据和视频图像。 （6）切换图像模式，可实现热像图和可见光图融合，可查看画面中高温区域或温度变化较大区域。 图像模式热成像-可见光融合图（7）导出热像图全部像素点温度数据值，为专业仿真软件建立温度云图等分析提供原始建模数据。 （8）温差模式，可直观获取任意两张热像图的温度差异，分析更快速精准。测试案例:案例一：不同环境温度下热分布测试金鉴显微热分布测试系统配备高精度控温体系，可实现器件在不同温度下的热分布测试。本案例模拟灯具芯片在不同环境温度下的结温及热分布状态，测试结果表明，控制环境温度达到80℃时，芯片结温122℃，继续升高环境温度可能导致芯片发光效率低下甚至芯片受损。案例二：不同厂家芯片光热分布差异以下案例中A款芯片发光最强，发热量最小，光热分布最均匀，量子效率最高。强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据！做好光热分布来料检验，可以使LED最亮，温度最低，而成本最低，质量更可靠。 案例三：多芯片封装，电流密度均匀性需把控某款灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 案例四：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，金鉴显微热分布测试分析显示，芯片负极焊盘区域温度比正极焊盘区域温度高约15℃。因此，推断该芯片电流密度均匀性较差，导致正负极焊盘位置光热分布差异较大，局部热膨胀差异过大从而引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例五：显示屏模组热分布监测PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！ 案例六：IC器件热分布测试未开封的IC器件也可观察到表面热分布图。无需化学或激光开封，金鉴的红外热分布测试系统使用更高灵敏度的探头以及更先进的图像优化技术，即可了解器件内部热分布高点和低点的区域，真正实现无损检测。案例七：LED灯具热分布测试日常使用的灯具过热容易引起电子器件故障，缩短产品使用寿命，严重甚至造成安全隐患，检测LED灯具发热均匀情况能帮助设计产品，合理布置发热部件，有效防止过热。LED灯具热分布 案例八：定位电源失效区域电源失效案例中，金鉴使用红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。 电源热分布图及热点定位 案例九：OLED热分布测试OLED发光材料像素在不同温度下表现出不同的发光特性，温度的分布不均会使得OLED显示面板中各处的薄膜晶体管的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进而导致整个显示面板出现发光亮度不均。 案例十：集成电路芯片温度测试通过金鉴显微红外热分布测试系统可测试封装后集成电路芯片工作时的温度及温度场分布，也可以直接测试芯片微米大小区域的温度数据，观察芯片的温度场分布，轻松发现温度聚集点，并且能够测试芯片开启后的温升曲线，判断芯片达到热稳定的时间。 集成电路芯片工作时的热分布及局部放大热分布图 集成电路芯片通电开启后的温升曲线 集成电路芯片通电开启热分布瞬态图案例十一：热分布测试应用于PCB领域红外热分布测试用于PCB板的检测，可直观显示电路板各区域和元件的温度分布，设计阶段可用于分析电路板布局设计是否合理，最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。生产阶段也可及时发现可靠性隐患，因为异常组件的升温速度通常比正常的要快，通过热分布测试，许多缺陷在出厂前就能被发现。案例十二：热分布系统全辐射视频录像功能应用于GaN器件领域 电子元器件器件实际应用过程中，进行单一热像图的分析往往是不够的，例如某GaN器件，其工作时的各项性能参数受温度影响较大，因此需要监控器件开始工作瞬间直至稳定的整个温度变化过程，这就涉及到金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像功能。金鉴显微红外热分布测试系统全辐射视频录像功能采样速率可达到25帧/秒，可实现1TB单个视频录制，轻松捕捉器件通电瞬间温升变化。通过逐帧分析器件的升温过程全辐射视频录像可以看出，器件通电瞬间开始升温，这个瞬间时长仅有几十个毫秒左右，并在开始通电后2分钟左右达到温度稳定，同时各项电性参数也达到稳定。GaN器件工作过程温升变化曲线 GaN器件工作过程电流变化曲线案例十三：电器开关柜红外热分布测试电气设备在生产中已广泛采用，而电气故障是不可避免的，如何排查电气故障是面临的一大问题。电气设备的初期异常通常伴随温度的变化迹象，采用红外热分布测试可在不断电状态下进行检测工作，及时发现和诊断问题。

随着国家绿色能源的大力投入，光伏产业有着广泛的发展应用。对于现场维运的重视也不断的提高。光伏组件的好坏对于发电量有着直接的影响，而“热斑效应”是指在一定光照条件下，串联支路中北这笔的太远电池组件，将被当作负载消耗其它有光照的太阳能电池组件所产生的能量。被遮蔽的太阳电池组件此时会发热，这就是“热斑效应”。这种效应能严重破坏太阳能电池板。因此，我们检查光伏组件“热斑效应”时可借助光伏手持式热成像测试仪帮助维运工作人员对光伏电站组件的性能进行准确快速的判断。专家级本机分析功能全屏温升显?和相间温差计算本机可以设置环境温度为基准温度，屏蔽环境温度?扰，? 动计算设备的温升，同时可以?动计算电?设备的相间温 差，实现更科学的诊断分析。 便于筛选的收藏标注通过收藏标注功能，??可以在热像仪上快速标记有异常的 热像图?，并且可以在热像仪的图库内快速筛选和查找到标 注过的热像图?。 本机全辐射热像视频录制LX-F300?持本机录制全辐射热像视频，可?定义录制的帧 频或间隔。 本机即时分析热像图和分区设置发射率LX-F300具备专业的本机分析功能，在检测现场即可对拍摄的 热像图?进?专业分析，避免重复拍摄，?幅提?现场诊断效 率。同时可以对不同?标区域单独设置发射率，实现不同材质 的准确测温。 丰富的数据传输接? LX-F300红外热像仪提供丰富的数据传输接?，包含WiFi-FTP数据快传，蓝Type-C USB3.0有线传输，?速SD卡传输以及HDMI和?接?。 WiFi-FTP数据快传PC或者智能?机都可以通过WiFi-FTP直连LAILX 320C系列热像仪，?线快速传输热像仪的图??PC或者智能?机，?便快捷的实现数据快传。 型 号LX-F300主要特性探测器像素320*240热灵敏度（NETD)＜0.05℃@30℃视场?（FOV）44°×33°空间分辨率（IFOV）2.4mrad最?成像距离0.1m快捷的?动对焦逆时针转动近焦，顺时针转动远焦 MagicThermal 细节增强成像技术 开启MagicThermal多?动态成像功能，能够在实时热像画?中，通过触控的?式呈现?标区域的彩?热 成像，其他区域则以??热成像显?WiFi-FTP数据快传?持?线连接?PC或智能?机，采??FTP协议远程传输热像数据全制式定位系统?持北?/GPS/GLONASS卫星定位，位置信息可以保存?每张静态热像图中全?位?动定向?持全?位?动定向，记录被测?标所处的安装位置；?向信息可保存?每张静态热像图中AI可编程按键?持在热像仪的任意界?快速启?所需要的功能?动命名热像图?持扫描?维码扫码命名；?持键盘输?命名收藏标注对于感兴趣的热像图可以添加收藏标注，并且在热像仪的图库内快速查找到标注过的图? 适?于单?使?的舒 适耐?设计 有测温分析测温范围-20℃~120℃；0℃~650℃；智能切换温度量程温度测量精度± 2°C 或 ± 2 %（在标称温度10℃-35℃时，取读数较?值）全屏温升测试?动计算出整个热像画?的温升数值，屏蔽环温?扰相间温差测试?动计算出电?设备的相间温差数值中?点测温有中?框测温有可移动点测温?持4个点可移动区域测温?持4个区域（圆形或矩形）可移动线测温?持1条线?低温点定位?持全屏?低温点定位和区域内?低温点定位全屏发射率校正?持?定义设置和调?内置材料发射率表分区发射率校正针对测量区域单独设置发射率，并且不影响全屏发射率反射温度补偿有环境温度补偿有环境湿度补偿有 型 号LX-F300测温分析测量距离补偿有外部光学透过率补偿有图像显?Gorilla Glass防爆触摸屏显?像素：1280*720，显?尺?：5英?，采??猩猩防爆盖板玻璃的IPS LCD触摸显?屏图像叠加信息设置?持灵活设置热像图上的显?信息测温标识显?设置?持对每个测温标识进?单独设置内置数码照相机（可?光）1300万像素，?业级数码照相机LED照明灯?持?电筒照明和闪光灯模式画中画（PIP)红外图像的显?尺?可以任意调节和移动位置 MagicThermal 专?调?板 2个MagicThermal专?调?板（铁红/?对?度）标准调?板15个标准调?板反转调?板15个反转调?板?动温宽模式?动调整热像图的?平和跨度?动温宽模式?动调整热像图的?平和跨度，?持滚轮快速调节/热像图最?温度和最?温度调节/热像图温宽跨度调节触控温宽模式根据?指触控快速调节热像图的?平和跨度，?持触控选择热像图温宽的最?值和最?值最?温宽范围（?动模式）2℃最?温宽范围（?动模式）3℃颜?报警?持温度之上/之下/之间数据存储存储介质标配32GB的内存卡，?持热插拔本机全辐射图像分析（在热像仪上） 可以在热像仪上编辑和分析已经保存的全辐射热像图本机全辐射视频分析（在热像仪上） 可以在热像仪上编辑和分析已经保存的全辐射热像视频图像捕捉/查看/保存机制可以单?冻结/保存/查看图像 图像?件格式 带有温度数据的JPEG热像图；不带温度数据的JPEG图?；MPEG4/AVI格式的?辐射视频；IRS格式的全辐射 热像视频（带有温度数据的视频）图像查看缩略图预览，连拍图?预览，全屏编辑分析图像预览格式全辐射热像图?、可?光图?、画中画图?、连拍热像图?、全辐射热像视频、?辐射热像视频分析软件AnalyzIR专业热像分析软件软件导出?件格式JPEG/BMP/AVI/MPG4/IRS 型 号LX-F300数据存储语?注释每幅图像可以备注200s语?注释；可在热像仪上回放查看；?持蓝??机语?输?和热像仪?克?的语?输??本注释?持键盘输?视频录制?持热像仪本机录制全辐射热像视频?持热像仪本机录制?辐射视频?持热像仪与PC连接录制全辐射热像视频流远程显?查看通过Type-C3.0接?连接PC实时查看全辐射热像视频流；通过 HDMI?清接?连接到显?屏或投影仪远程控制操作通过连接热成像 AnalyzIR专业分析软件进?远程操作控制?动捕捉录制间隔?持1-12Hz可调；快拍间隔?持2s-60m59s可调电源系统电池（可现场更换/可充电）2块可充电锂离?电池；电压：7.4V；容量：3500mAh电池使?时间单块连续使?时间＞4?时电池充电时间2.5?时充?90% 电量电池充电系统双电池座充，带有LED状态指?灯；DC 12V，3A输出交流电?作可外接电源充电，AC100-240V，50/60Hz输?节能模式??可选的息屏、睡眠、关机模式通?指标探测器响应波段7μm~14μm探测器类型?制冷型红外焦平?探测器探测器像元间距17μm图像帧频60Hz图像模式红外光图像、可?光图像、画中画、全辐射热像视频、?辐射热像视频、MagicThermal细节增强模式数字变焦1- 4倍，?持滚轮连续可调声?报警可以分区单独设置报警阀值，?持?温报警和低温报警设备接??持USB Type-C 3.0接?、Micro HDMI?清视频接?、SD卡接?WiFi连接?持2.4GHz 与5GHz 频段，?持802.11a/b/g/n/acBluetooth连接?持BT4.2 LE，连接?蓝??机 USB接?USB Type-C类型；符合USB 3.0/2.0规范，?持USB OTG；USB 3.0最?速率达5Gbps；USB 2.0最??持 480Mbps，且向下兼容全速（12Mbps）模式HDMI接?Micro HDMI类型,符合HDMI 1.4规范,?持以60Hz帧频传输1080p的图像视频 SD存储卡接??持SD 3.0，最?速率达104MB/s，?持热插拔；可以同时?持SD，SDHC，SDXC卡，WiFi SD卡，最?扩展?持2TB；带读写指?灯激光指针专有按键激活；激光等级：2级；波?：635nm；功率：1mW?作温度- 20℃~50℃存放温度- 40℃~70℃ 型 号LX-F300通?指标相对湿度＜95%RH EMC电磁兼容性 静电放电：接触放电4kV,空?放电8kV，满?(GB/T 17626.2-2018/IEC61000-4-2:2008，符合GB/T 18268.1-2010表A.1) 射频电磁场辐射：3V/m(80MHz~1GHz)，3V/m(1.4GHz~2GHz)，1V/m(2.0GHz~2.7GHz)，满?(GB/T 17626.3-2016/IEC61000-4-3:2010，符合GB/T 18268.1-2010表A.1) ?频磁场：100A/m，满?(GB/T 17626.8-2006/IEC61000-4-8:2001)安全性IEC 61010-1：过电压类别 II，污染等级 2抗振动2g (GB/T 2423.10-2008/IEC 60068-2-6:1995)抗冲击25g(GB/T 2423.5-2019/IEC60068-2-27:2008)抗碰撞带包装箱10g(GB/T 2423.6-1995/IEC60068-2-29:1987)抗跌落设计为2m抗跌落防护等级IP54，防尘封?保护，全?位防?；满?(GB/T 4208-2017/IEC60529:2013)尺?（?×宽×?）312.8mm×123.3mm×139.2mm三脚架安装底座UNC ?"-20接?可直接连接三脚架重量（含电池）＜1kg（不含镜头）外壳材质硬胶：PC+ABS，软胶：TPE，镁合?，阻燃等级：UL94 HB保修期整机2年（可选配延?保修期），核?探测器10年建议的校准周期2年（假定正常操作和?化）?持的语?中?、英?产品标配红外热像仪主机、镜头、镜头盖、可充电锂电池2块、座充、电源适配器、USB Type-C ? USB接?线缆、SD卡、SD卡读卡器、附件袋（?腕带、2个?腕带固定架、2个M4*8螺钉、挂绳、内六?扳?、取卡针）、资料袋（装箱单、校准证书、说明书、合格证、保修卡、光盘）、便携软包、硬质便携箱 LX-F300系列可选配件 配件名称配件说明F901座充(双充)F902可充电锂电池F903电源适配器（国内版）F905USB接??Micro USB Type-C 接?线缆F906Micro HDMI接??HDMI接?线缆 F907附件袋，包括?腕带、2个?腕带固定架、2个M4*8螺钉、挂绳、内六?扳?、取卡针F90964GB SD卡F910SD卡读卡器F911便携软包

MULTIC宽带多光谱成像仪测试系统是为测试远距离宽带多光谱成像仪而开发的专业测试系统。它可看作是经过校正的投影系统，可在可见光至远红外波段投射出不同形状/大小/光强的标准图像。MULTIC测试系统由以下模块组成：CDT离轴反射平行光管(典型有效径为400mm或500mm)，VASIP14D宽带多光谱光源 ，TCB4D黑体，一套两个MRW-6L旋转靶轮，WEB模块切换转轮，一组靶标，计算机，一组图像采集卡，控制软件，测试软件，一组平台，BOREX平台。 MULTIC是专业的测试系统，用于测试远程宽带多光谱成像系统。它是校准的图像投影仪，能够在从可见光到远红外范围的不同光谱投影不同形状/尺寸/光强度的参考图像。 MULTIC被构建为具有固定，紧凑结构的离轴牛顿型平行光管，其具有位于平行光管焦平面处的一组可交换标准靶标，主要由单个宽带多光谱辐射源照射，这种编码为VASIP的特殊辐射源是该测试系统的核心，额外的TCB黑体用于热像仪测试。这种新设计可实现广泛的测试功能，同时保持超高系统精度和可靠性。产品参数根据所选配置MULTIC能够对光学孔径不超过400/500mm的大型宽带多光谱成像仪进行测试。详细测试功能如下表所示。 表1. VASIP光源作为辐射源时的测试功能热像仪可见光-近红外相机短波红外相机可见光-近红外高光谱仪FOV畸变MTFFOV畸变MTFNEI (噪声等效照度),空间噪声 (FPN, 非均匀性)MRC (**小可分辨对比度)响应函数 (线性度，动态范围)相对光谱灵敏度颜色**度 (选配)FOV畸变MTFNER (噪声等效反射率)空间噪声 (FPN, 非均匀性)MRC (**小可分辨对比度)响应函数 (线性度，动态范围)相对光谱灵敏度(步进测量)D* 比探测率FOV桶形畸变枕形畸变MTFNER (噪声等效反射率)空间噪声 (FPN, 非均匀性)响应函数 (线性度，动态范围)MRC (**小可分辨对比度)D* 比探测率校轴误差：1. 高光谱仪在不同谱段时的光轴偏差2. 高光谱仪光轴相对于热像仪(或VIS NIR相机/SWIR相机)的光轴偏差的测量3. 测量高光谱仪图像相对于热像仪图像和VIS NIR /SWIR相机图像之间的旋转角4. 同一成像仪/相机不同视场时光轴偏差的测量5. 可见光-近红外相机(或短波红外相机，高光谱仪，热像仪)到BOREX平台的参考机械平面(机械轴)的光轴偏差的测量表 2. TCB-4D黑体作为辐射源时的测试功能热像仪VIS-NIR 可见光-近红外相机VIS-SWIR 高光谱仪MTF噪声等效温差NETD**小可分辨温差MRTD**小可探测温差MDTD空间噪声 (固定图形噪声FPN,非均匀性)比探测率D*(可选配)------------

产品概述ZR-1241型红外热成像口罩密合度测试仪是针对佩戴N95、普通医用外科口罩等进行实时检测口罩的密合度，并同时可以标注出具体泄露区域的高新技术产品。基于细粒度SRA-CNN图像分类算法为原理，并采用红外热成像数据，设计了一种数据驱动的深度学习图像识别模型。执行标准：GB 19083-2010 医用防护口罩技术要求—密合性要求和试验方法章节。适用场所：ZR-1241是众瑞向着高精尖设备制造迈进的里程碑之作，解决了传统检测方式的不足。智能化的产品不仅适用于口罩生产厂商的质量自控以及其他单位的质量监督，也适用于医院洁净病房、P3/P4级生物实验室以及GMP制剂车间等医疗场所和人流量、车流量大的公共场所（如车站、地铁站、机场、高速检查站、机关单位、学校、商场以及电影院）进行口罩密合度筛查。真正实现了一机打通生产到使用的全部通道，具有极高的普适性。

独立外置激光器LOIS-3D 采用的是独立外置 Nd:YAG 高能 量可协调 OPO 脉冲光器，具有高能量激发，高通量波长输出，快速波长协调，可移动性等优势，为活体或组织研究提供高质量的成像数据。&bull 标配 180 mJ 高能量输出，高配可达 250 mJ 的高能量输出集泵浦激光，OPO 和 PSU 一体化；&bull 波长调谐范围 660-1064 nm，高配可达 660-2300 nm，涵盖近红外一区及近红外二区；&bull 4 束激光（2 个正交，2个斜交）同时进行激发，确保组织接收激发能量均一性。专用成像设备成像系统采用精密旋转马达控制活体完成 360° 旋转，具有电磁屏蔽和光冲击保护涂层的超宽屏带弧形阵列探测器（中心频率0.1~8 MHz） 360° 全视野采集超声信号，获得高分辨率、高对比度，高灵敏度的三维光声层析成像。&bull 3D 空间 x-y-z 等向性分辨率 150 μm &bull 光吸收对比度 0.03 [1/cm] (~1 pmole of ICG) &bull 全视野获取小鼠身体及脑部成像（40 mm x 40 mm x 40 mm）&bull 成像深度 ≥ 4.5cm@mouse应用方向LOIS-3D小动物全身光声成像系统具有高安全性、高分辨率以及实时成像等优点，能够提供生物组织结构、功能、代谢等方面的重要信息。在分子探针、生物纳米材料、心血管疾病（血管生成、心肌炎、血栓、心梗等）、血红蛋白监测、肿瘤的早期监测、前哨淋巴结监测、脑成像及脑功能监测等领域得到了广泛的研究。应用案列TomoWave 自推出 LOIS-3D 临床前小动物光声成像系统以来，获得了用户的高度认可。迄今为止，在世界顶级癌症医疗机构美国MD安德森癌症研究中心、华盛顿大学圣路易斯分校、休斯顿大学、青岛大学、广西大学等都有装机，与中国科学院深圳先进技术研究院、中山大学、中山大学附属第三医院、华中科技大学、苏州大学、华南师范大学、华中农业大学、南京工业大学、南京邮电大学等多个科研团队开展合作，研究中的活体光声成像表征均在 LOIS-3D 近红外一区&近红外二区小动物全身 3D 光声成像系统上完成测试。

GaiaField Pro-N17E lite便携式成像光谱系统技术参数l 集成高性能数据采集与分析处理系统，无需外接计算机l 高清辅助取景摄像头实现对拍摄区域的监控与图像采集l 内建精准农业、军事等应用模型，实现实时模型分析功能（NDVI、伪装识别等）l 支持用户自定义分析模型l 目标光谱实时匹配搜索功能l 内置电池l 数据预览及校正功能：辐射度校正、反射率校正、区域校正、镜头校准、均匀性校准l 镜头可更换l 支持Android智能手机、Ipad、Iphone无线遥控（Wifi模式）l 选配支持远距无线图像传输与遥控操作（串口模式）l 数据格式完美兼容Evince、Envi、SpecSight等数据分析软件l 兼容一代Gaiafield系列所有功能（无自动调焦） 型号GaiaField Pro - N17E lite扫描方式内置推扫光谱范围960-1640nm光谱分辨率5nm数值孔径F/2.0狭缝尺寸30um*14.2mm探测器InGaAs像素数（空间维*光谱维）256*320光谱通道数320,160(2X)动态范围12 bits连接方式Wifi视场角FOV12.2°（@30mm镜头）图像空间分辨率（像素）256*400扫描速度4s/cube重量7.5kg内置电池120Wh（工作时间2小时） GaiaField lite 便携式高光谱系统是双利合谱研制的一款超便携式高光谱成像仪器。使用此系统进行图像采集扫描，在获得目标影像信息的基础上，还可以获得数百甚至上千波段的光谱信息。GaiaField lite 系统有着轻便灵活，续航能力出色、智能化、数据分析处理功能齐全、能够实时监控等特点。广泛适用于户外和实验室内的应用需求，例如：目标探测与识别、伪装与反伪装等军事领域，地面物体与水体遥测、现代精细农业等生态环境监测领域，以及刑侦、文物保护、生物医学、工业分选等领域。 覆盖可见光与近红外l 全波段可提供超过700个光谱通道，可自由选择GaiaField便携式高光谱系统采用了高分辨率的成像光谱仪。在可见光波段，光谱分辨率高达3nm，即使在短波红外波段也能达到10nm。因而全波段（400-1000nm）内可以获得超过700个的光谱通道，更多的光谱通道意味着更多的信息，有助于研究人员通过对连续光谱的分析、反演，获得更多的高价值数据细节。 独有的软硬件功能 l 自动扫描速度匹配、自动曝光? 自动曝光：根据当前光照环境，进行曝光测试，获得精准的曝光时间。在得到最佳信噪比的同时，又可避免过度曝光造成数据作废。同时软件具有实时过度曝光监视功能。? 自动扫描速度匹配：根据当前的曝光时间等参数，进行测试拍摄，得到实时帧速，进而计算出合适的扫描速度。从而避免了扫描图像的变形（拉伸或压缩）

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

近红外光谱脑功能成像系统 NirScan-6000A 近红外光谱是新一代的脑功能成像技术。该技术通过强穿透力的近红外光探测脑皮层血氧活动信息，包括含氧血红蛋白浓度HbO、脱氧血红蛋白浓度HbR和总血红蛋白浓度HbT。它具有时空分辨率高、床旁便携、探头佩戴方便，可以一边 说话一边检测、一边运动一边检测、 一边治疗一边检测的优势，为精神疾病检查、脑卒中评价、脑功能疾病疗效评估等提供了创新有效的定量检查方案。 近红外光谱脑功能成像系统的介绍：近红外脑功能成像是新一代的脑功能技术，它具有空间定位能力强、使用快捷、无创、生态效度高、对运动伪影/电磁干扰不敏感等诸多优势。近红外光（650-900nm）信号可穿透人体组织与颅骨，到达大脑皮质层（头皮下2-3cm深度），准确探测脑皮层中氧合血红蛋白与脱氧血红蛋白的浓度变化情况。血液中对光吸收敏感的主要成分是水、氧合血红蛋白和脱氧血红蛋白，这些成分在近红外光波段（650~900nm）的光吸收系数显著降低。因此，该波段是一个良好的光学透明窗口，使得近红外光可以到达颅内深部。该系统由北航科研成果转化、是国内通道数超100的医疗器械，相对而言，普通设备只有50多个通道。公司有实力提供全产业链品质保障，满足临床各种复杂应用场景。在解决方案提供上，慧创近红外，探头排布更灵活，通道数更多，软件功能丰富。 近红外光谱脑功能成像系统的产品特点:1、适合自然状态，抗干扰一说话一边测：一边运动一边测；一边治疗一边测；2、应用领域广泛谨慎类和脑功能疾病检查：抑郁症、精神分裂症、多动症、认知障碍等脑功能治疗评估：中风、脑瘫、运动障碍、儿童多动症、抑郁症等疾病的治疗评估适用人群广泛：婴幼儿、成人、老人3、空间分辨率高不同于脑电，近红外技术可以定位病灶空间位置，为疾病诊断提供更多的信息4、提供新的解决方案fNIRS为脑的研究、诊断、训练和诊断提供了全新的定量手段，为更多脑功能技术难题提供新的定量解决方案。5、一站式生成检查报告 近红外光谱脑功能成像系统的技术参数：产品型号： 6000A/B/C主要用途： 医疗+科研通道数： 102/82/53光源： 三波长典型的波长： 730/808/850探测器： 雪崩二极管（APD）时间分辨率： 超过11Hz软件配置： 医疗专用软件×1套+科研专用分析软件×1套选配件： 3D空间定位系统 近红外光谱脑功能成像系统的应用领域：精神类疾病检查诊断：精神分裂、抑郁症、双相障碍神经内科：阿尔茨海默症（老年痴呆）、帕金森康复科：脑功能障碍评测、康复效果评价、指导治疗方案、药物疗效评估、物理干预效果评估妇幼儿科：儿童大脑发育、儿童脑功能评价、药物疗效评估、物理干预疗效评估 脑卒中自闭症儿童多动症（ADHD）婴幼儿脑氧检测脑功能疾病检查脑功能疗效评估精神疾病的辅助诊断药物疗效评估物理干预疗效评估脑功能障碍评价康复效果评价治疗方案评估儿童脑发育评估儿童脑功能疾病评估与辅助诊断脑疾病治疗过程实时监控近红外光谱脑功能成像系统的产品优势1、技术优势十余年的fNIRS研究积淀，能全方位解决fNIRS的研发难题；获得超过100通道的fNIRS注册证，产品技术非常先进；国家重点研发计划、国家重大科学仪器研制项目牵引，与权威临床机构建立了紧密的合作关系，已形成多个领域的解决方案；在宣武医院、华山医院等60余家单位示范应用；2、产品设计优势型号覆盖广泛；功能模块化设计，满足客户升级需求；便利，操作简单易上手；3、符合用户需求高通道，支撑全脑检查；多领域拓展，从精神疾病拓展到儿童、老年、卒中等更多应用领域；定量准确，提供定量化的评价指标，方便开展临床评价；便携化，便于转运，适用穿戴检测等场景。4、全面及时的配套服务

红外辐射显微成像系统（微观温度分布成像）IRLabs的IREM-IV红外显微镜系统使您能够更快、更准确、更可靠地进行半导体故障分析和调试。IREM-IV相机提供超低噪声扩展波长PEM成像，在工作电压为400 mV的10 nm设备上具有经验证的发射成像灵敏度。自行设计和制造的相机，用于低维护操作，具有卓越的功能，包括6位透镜转盘和超过20小时的LN2持续制冷时间。光学扩展端口为外部激光扫描OBIRCH、LADA、TIVA和其他成像模式提供了升级路径。3.3NA SIL物镜是定制设计的透镜家族中的新产品，经过优化，可在整个视场上提供卓越的衍射限制成像。自对准SIL尖端可自动调平，以符合被测设备的局部轮廓。独特的尖端弯曲设计提供了低的接触力，因此适用于成像安装器件或裸晶圆。集成轮廓传感器，测量器件表面轮廓，高度分辨率优于10 um。使用与精密x-y-z平台集成的尖端倾斜台，可以直接测量和补偿从翻转边缘或器件弯曲产生的局部表面倾斜。跟自对准SIL尖端相结合，以实现安全可靠的SIL成像。扩展波长PEM成像通常是热背景噪声受限的。IREM-IV提供两个内部冷却的滤光轮，因此光谱滤光器或背景限制孔径适用于任何测量场景。红外辐射显微成像系统（微观温度分布成像）指标参数：相机 运动系统● 1016×1016 液氮制冷MCT阵列 ● 25nm分辨率● 像元尺寸 18um ● 100mm运动范围 （X-Y-Z）● 400-2500nm 光谱响应范围 ● 阻尼振动隔离● 6个位置自动物镜转盘 ● 电动样品尖端倾斜选项● 6个位置制冷滤光片/孔径转轮● 大于20小时液氮维持时间系统尺寸● 显微镜 810mm x 876mm x 813mm， 160kg● 控制系统 610mm x 1283mm x 762mm，90kg物镜选项：参考图例**详细技术参数可参考Datasheet或咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

红外热成像显微镜 随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 应用检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻装激光二极管性能和失效分析 产品特点20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 热及缺陷infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度， 表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。 自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。 红外热成像配套软件红外热成像显微镜软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，高温度区域内围交界处测量。

双利合谱短波红外便携式成像光谱系统技术参数 集成高性能数据采集与分析处理系统，无需外接计算机 内建精准农业、军事等应用模型，实现实时模型分析功能（NDVI、伪装识别等） 支持用户自定义分析模型 目标光谱实时匹配搜索功能 内置电池 数据预览及校正功能：辐射度校正、反射率校正、区域校正、镜头校准、均匀性校准 镜头可更换 支持Android智能手机、Ipad、Iphone无线遥控（Wifi模式） 选配支持远距无线图像传输与遥控操作（串口模式） 数据格式完美兼容Evince、Envi、SpecSight等数据分析软件 兼容一代Gaiafield系列所有功能（无自动调焦） GaiaField Pro-N17E lite双利合谱短波红外便携式成像光谱系统规格参数表型号GaiaField Pro - N17E lite扫描方式内置推扫光谱范围960-1640nm光谱分辨率5nm数值孔径F/2.0狭缝尺寸30um*14.2mm探测器InGaAs像素数（空间维*光谱维）256*320光谱通道数320,160(2X)动态范围12 bits连接方式Wifi视场角FOV12.2°（@30mm镜头）图像空间分辨率（像素）256*400扫描速度4s/cube重量7.5kg内置电池120Wh（工作时间2小时）

ITC 8100VOCs气体检漏红外热像仪1 设备概述 ITC 8100 VOCs气体检漏红外热像仪是针对挥发性有机物（VOCs）泄漏检测的一款非接触式气体检测仪，可以快速识别上百种挥发性有机物气体的泄漏及违规排放。设备采用光学气体成像红外技术，将肉眼不可见的VOCs气体泄漏通过热图像方式直观地显示出来，定位VOCs气体泄漏点并精确测温，可实现VOCs泄露的远距离快速检测。产品符合《挥发性有机物无组织排放控制标准》、《泄漏和敞开液面排放的挥发性有机物检测技术导则》、《储油库大气污染物排放标准》、《加油站大气污染物排放标准》等相关标准，已通过权威部门的防爆性能检验，可在防爆区使用。2 检测原理红外热像仪是把物体发出的不可见红外能量转变为可见热图像的仪器，它利用的是红外探测器以及光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上，由探测器将红外辐射能转换成电信号，成像装置的输出信号就可以完全一一对应地模拟扫描物体表面温度的空间分布，经放大处理、转换或标准视频信号传至显示屏上，得到与物体表面热分布相应的热像图。热像图与物体表面的热分布场相对应，热图像的上面的不同颜色代表被测物体的不同温度。3 功能特点 1) 高灵敏度采用制冷型二类超晶格高灵敏度探测器, 温度灵敏度≤10mK2) 安全可靠满足防爆区的使用，已取得防爆合格证，防爆等级Ex ic nc op is IIC T4 Gc3) 使用灵活可以VOCs气体成像检漏, 又可以红外测温；体积小、重量不超过2.8kg4) 多种模式具有可见光、红外、画中画、高灵敏红外多种检测模式，不同模式可快速切换。5) 性能优越500万像素CMOS，8倍数字变焦，12种调色可选6) 应用广泛特别适用于石油化工、焦化、煤化工、加油站、储油库等典型VOCs泄漏环境。4 技术参数应用范围应用对象和行业应用对象：生态环境局执法队、LDAR检测服务公司等应用行业：石油化工、煤化工、焦化、电力、加油站、储罐、天然气场站、输送管道、危化品处理等探测器性能类型制冷型高灵敏度探测器像素320X256波长范围3.1~3.5μm热灵敏度10mK可监测气体甲烷、乙烷、丙烷、丁烷、戊烷、己烷、辛烷、庚烷、环氧乙烷、环氧丙烷、溴甲烷、溴乙烷、氯甲烷、1-己烷、乙烯、丙烯、1-丁烯、戊烯、异戊二烯、异丁烯、1,3-丁二烯、苯、甲苯、二甲苯、三甲苯、对二甲苯、乙苯、苯乙烯、1,2-二甲苯、溴苯、庚苯、甲醇、乙醇、异丙醇等多种常见的挥发性有机气体。镜头视场角/焦距14°X11.2°/39mm最小成像距离0.5m可选镜头24°X19.2°/23mm (可选)成像性能液晶显示屏高清晰5.0"，1280X720，可旋转触摸屏内置可见光相机500万像素CMOS，自动对焦，1个LED补光灯放大倍数1~8X电子变焦测量测温范围-20℃~+350℃测量模式实时10个可移动点，5个可移动区域测温精度0~100℃：±1℃，-20℃~0℃或＞+100℃：±2%图像存储存储卡128G单帧红外图像格式JPEG格式，带14位测量数据图像单帧可见光图像格式单帧，JPEG格式视频存储方式高清影像以MPEG4/H.264存储在记忆卡里，每段最高可达1h视频输出HDMI通讯接口WIFI，蓝牙，USB电源系统电池类型锂电池，可充电工作时间3h连续（常温）外接电源DC:14V充电类型智能充电座充电或DC14V 3A 电源适配器充电环境参数工作温度-20℃~+50℃存储温度-30℃~+60℃防护等级IP54(IEC60529)防爆Ex ic nC op is IIC T4 Gc配置标准配置红外热像仪，2节可充电锂电池，电池充电器，适配器、车载电源转换器、SD卡、SD卡读卡器、软件光盘、保修卡、合格证、耳机、携带箱、视频线、说明书

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

主要特性通用的设备，可在实验室或者一般的现场使用。对被测热像仪的光学口径没有限制。SAFT设备和被测热像仪的距离须大于所测热像仪的最小聚焦距离。简要介绍SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体，一组分辨率片，ARC-500屏蔽装置，PC，抓帧器，TAM软件，还有一些可选模块组成。 SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上，根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能，另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。版本：SAFT所测热像仪一般要满足以下条件:1. 所测热像仪的温度范围是 0 °C到100°C2. 被测成像仪具有模拟视频输出3. 主要测量被测热像仪的这些参数: accuracy, NETD, SRF and MRTD 这样的SAFT设备一般由以下的模块组成: TCB-2D黑体, ARC 500屏蔽装置, 一组6个4-Bar分辨率片,一个正方形分辨率片, 一组6个slit分辨率片, PC, 抓帧器,TCB控制软件,TAM软件, DC 12V电源。以下可选模块（拓展SAFT设备检测能力）: 1、TCB-2D黑体升级到HT黑体，可让所测热像仪的温度范围扩大到0°C到180°C。2、可选MTB-2D黑体(0°C到550°C)，可让所测热像仪的温度范围扩大到0°C到550°C。3、可选Camera Link (or GigE)抓帧器和其对应的软件，使得SAFT可测具有Camera Link (or GigE)输出的热像仪。4、可选CDT660HR光管，增加设备的长距离模拟功能另外使SAFT可检测中距离，口径5、60mm的热像仪。(还有更大的光管可供选择)。可选Edge分辨率片, FOV分辨率片和TAS-T10软件，使得设备可以检测热像仪的MTF和FOV。

近红外二区小动物活体成像系统 MARS 拥有完整的小动物活体光学成像系统，并可个性化定制，满足不同需求。 MARS的近红外二区相机采用Teledyne Princeton Instruments 的NIRvana系列，其出色的量子效率与先进的噪声抑制技术为高品质成像提供保证。 FAST与Pathfinder两套定制的光学方案能实现不同场景的实验需求，从大视场下对小鼠的整体拍摄，到局部的微观分析，我们独特的光学解决方案在保证空间分辨率的前提下，为您提供优异的光通量与信号强度。 MARS系统采用别具匠心的整体设计，开放的用户界面带来独特的便捷性与灵活性。模块化的设计可以方便用户扩展功能，并可整合超声，光声，CT断层扫描，荧光寿命，PET-CT，MRI等成像系统，提供无缝多模态成像解决方案。 小鼠血管荧光成像， 使用水溶性D-A-D小分子染料（QY≈1.2%）

OctaMon+便携式无线近红外脑成像系统是荷兰Artinis公司的一款便携式近红外成像设备，采用LED光源，非常轻便、便携。Artinis使用柔软的软氯丁橡胶的测试光极帽以及光极探头，与OctaMon扁平的光极探头不同，OctaMon+普通光极探头可以测试有头发的脑区，Artinis为老人、儿童和心血管易损病人的大脑氧合状态监测提供更加安全简单的操作，帮助您的fNIRS研究达到更高层面。技术规格技术原理：使用改良朗伯比尔定律的连续波近红外光谱；检测目标：含氧血红蛋白、脱氧血红蛋白以及总血红蛋白；数据分析软件： OxySoft测试脑区：OctaMon+全脑/有发脑区光源 :2×8；测试通道: 8通道；自定义通道和短通道都可实现；光源波长: 760nm和850nm，其它波长可定制；光极间距 :30mm电源: 快速充电电池，一次充电可用6小时，可用移动电源充电；主机总重量:OctaMon, 230克(包括电池在内) OctaMon+, 260克(包括电池在内) 主机尺寸：85×54×20mm光极测试帽：OctaMon采用头带；OctaMon采用全脑光极帽，有不同型号，儿童版(3个月~6岁)、成人版(XS~XL)；电磁兼容性:不受脑电图（EEG）、心电图（ECG）、肌电图（EMG）；离线数据存储 :100+小时采样率:50Hz惯性传感器:9轴加速器

OxyMon近红外脑成像是一款功能强大的台式近红外成像系统，每个主机光源发射端2，检测通道4，可以一个或者多个主机组合，组成112测试通道的系统，购买多个主机时，既可以组成一个系统使用，也可以分拆成几个系统（降低通道数）同时使用。Artinis使用柔软的软氯丁橡胶的测试光极帽以及光极探头，扁平的光极探头，适合检测前额或者无发的头皮表面，普通光极探头可以测试有头发的脑区，Artinis为老人、儿童和心血管易损病人的大脑氧合状态监测提供更加安全简单的操作，帮助fNIRS研究达到更高层面。技术规格●技术原理：使用改良朗伯比尔定律的连续波近红外光谱；●检测目标：含氧血红蛋白、脱氧血红蛋白以及总血红蛋白；●光源：温度稳定的脉冲激光光源（(class I according to iec-60825-1, safety of lasers）；●数据分析软件： OxySoft；●测试脑区：全脑/有发脑区；●光源通道 :4~32；●测试通道: 1~112通道；●光源波长: 765nm和855nm，其它波长可定制；●探测器:2~16通道在，可定制；●光极间距 :30mm；●光极测试帽：头带和头帽有不同型号，儿童版(3个月~6岁)、成人版(XS~XL)；●电磁兼容性:不受脑电图（EEG）、心电图（ECG）、肌电图（EMG）；●采样率:50Hz，250Hz。

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

产品介绍AniView Phoenix全光谱动物活体成像系统是一款高灵敏度、全光谱动物活体成像系统。系统采用科学级制冷CCD相机和低温InGaAs相机，分别用于可见光波长的成像与近红外二区波长的成像，实现 400-1700nm 波长范围内的全光谱成像。且配备制冷循环系统，通过对相机进行低温制冷，进一步提升在可见光区域和近红外二区的检测灵敏度。系统最多可同时配备LED光源、激光光源和X光光源，分别用于可见光荧光、近红外一区荧光和近红外二区荧光的激发。高强度LED光源具有更长的使用寿命以及更强的稳定性，激光光源则更适合对于近红外二区等深层次样品的激发。 产品特点● 全光谱成像AniView Phoenix 全光谱动物活体成像系统采用双相机设计，科学级制冷CCD相机用于可见光波长的成像，而低温InGaAs相机可用于近红外二区波长的成像，因此可实现400-1700nm波长范围内的全光谱成像。● 极高的检测灵敏度AniView Phoenix 全光谱动物活体成像系统配备制冷循环系统，可对CCD相机和InGaAs相机进行低温制冷，极大地减少了暗电流的产生，同时其均具有超高的量子效率，进一步提升在可见光区域和近红外二区的检测灵敏度。● 多种激发光源AniView Phoenix 全光谱动物活体成像系统最多可同时配备LED光源、激光光源和X光光源，分别用于可见光荧光、近红外一区荧光和近红外二区荧光的激发。 高强度LED光源具有更长的使用寿命以及更强的稳定性，激光光源则更适合对于近红外二区等深层次样品的激发。● 出色的成像视野AniView Phoenix 全光谱动物活体成像系统配备水平、垂直双向移动载物台，可见光成像可满足 5 只小鼠同时成像，近红外二区成像可满足 3 只小鼠同时成像。 智能软件1、支持单张拍摄/多张拍摄/序列拍摄模式，清晰地显示叠加影像、明场图像、发光图像、荧光图像或X-ray图像，自动将X-ray图像与发光或荧光图像进行叠加；2、支持单次拍摄、延时拍摄以及视频拍摄，所有拍摄方式均可自主调节帧率，对于视频文件还可显示帧列表，方便拖动到指定位置；3、软件自动存储以拍摄时间加自定义命名内容为后缀的原始数据，即拍即存，无需繁琐的存储操作及担心数据丢失；4、量化分析功能，以动物体表每秒离开一平方厘米组织并辐射成一个立体角的光子数(p/s/cm2/sr)或发射光子(p/s/cm2/sr)/激发强度(uw/cm2)进行定量，可自动或手动获取荧光及发光信号强度；5、丰富的像素合并功能，≥8种像素合并功能，适合于低信号的检测实验，能有效地提高检测灵敏度；6、强大的多图分析功能，可对多张图片一键同时处理分析及组合导出，实现纵向实验结果快速处理，确保成像结果分析条件一致。 应用举例AniView Phoenix 可用于干细胞研究、基因药物开发、肿瘤学研究、核酸疫苗开发、新药筛选评价、基因体功能分析、基因表达调控研究、疾病模型研究、中草药筛选、菌种抗药性测试、病毒感染模式、荧光标记分子载体追踪、可视化微脉管系统、监测血流和代谢成像、识别肿瘤组织，指导实时手术、无接触监测心率和呼吸频率、监测细胞环境(脂质，pH和mRNA)、干细胞示踪及其再生医学研究等。 ▶ 应用案例

Sherlock VOC气体红外成像光谱仪 　　美国GIT公司的Sherlock VOC红外成像光谱仪是一款用于气体泄漏视频记录的红外光学成像仪，它具备很好的便携性，并使用电池供电。在可以对气体泄漏进行成像的基础上，该产品也可以对气体的浓度进行测量。 　　气体红外成像仪的技术建立在IMSS(专利号U. S. Patent numbers: 5,479,258 5,867,264 6,680,778)光谱成像技术的基础上，IMSS已经被美国国防部认证并应用于各项研究中；现在将其引入了商用及民用领域，用于气体成像、分析以及量化等方面的研究。此成像仪已被大量的应用在世界各地电力、石化、精炼、加工厂的测量中，有着丰富的实际应用案例，测漏灵敏度低至1克/小时。 　　此仪器通过EPA认证，可以被应用在石油，天然气，化工，发电厂，采矿，造纸及纸浆厂等等与气体检测相关的工业上，为这些行业在强制标准及风险控制上的需求提供解决方案。 　　GIT Sherlock VOC红外成像光谱仪拥有一个f/2.5，75mm聚焦长度的单镜头，无需改变镜头即可应用于各类现场；同时视场在水平上角度分布有7度。它的EasyRig设计轻量化设计与LCD显示、现场指示及扫描同时作用，该设计帮助操作者可以轻易观察到复杂现场中潜在的安全隐患，使得操作人员即使携带仪器在现场长时间操作也不会感到疲劳。 　　它拥有一个带保护盖的LCD用于显示红外图像，并可以储存14bit数字视频在内置的帧抓取器中或输出的外部的8bit录像装置中。内置录像模式的14bit数据的高分辨率效果好且免去了携带其他装置的麻烦，因此我们建议您使用内置的录像装置。 　　GIT的气体红外成像产品广泛用于世界各地的石油、气体、化学、制造和能源工业的气体成像、分析定量，GIT是Pacific Advanced Technology (PAT)的子公司， PAT成立于1988年，专业致力于为国防和国土安全研究和开发高光谱红外图像传感系统，最近PAT研究和开发临时爆炸装置包括汽车炸弹、路边炸弹和自杀性炸弹的检测设备，此外，PAT还研究和开发化学、生化武器检测设备。 应用领域： 　　&diams 　有机化合物的排放：焚化炉、电厂化石燃料燃烧、火焰、石化、精炼厂、水果、造纸 　　&diams 　点源、面源排放：油罐、管道、阀门、孔、法兰及其他的连接器，泵和空气压缩机、减压设备、工序管道、开口的阀门。 　　&diams 　密封性检测：泵和空气压缩机密封系统接口，蓄电池口，门的密封性、搅拌机 Sherlock VOC仪器参数 　　&diams 　重量：不含电池15磅(6.8kg)，含电池19磅(8.6kg) 　　&diams 　尺寸：30.5cm（长）*17.8cm（宽）*20.3cm（高） 　　&diams 　电源：12V电池或AC Sherlock VOC光学特性 　　&diams 　光谱范围：预调校至碳氢气体波段 　　&diams 　光圈：3um处f/2.5 　　&diams 　焦距长度：3um处75mm 　　&diams 　即时视野：0.4mrad 　　&diams 　视野：7.3° × 5.5° 　　&diams 　空间分辨率：320× 240像素 　　&diams 　最小泄漏率：1mL/min 仪器配置 　　1. 内置式软件 　　2. 通讯接口：以太网, RS232, NTSC, S-Video, USB 　　3. 操作界面：允许单手操作按钮 　　4. LCD视频显示(640 x 480像素) 　　5. 遮阳板 　　6. 内置数字视频剪辑记录器 　　7. 标准12V 电池 　　8. 电池充电器/AC 电源 　　9. 运输箱 　　10. 相关电缆 　　11. 用于图像及气体量化处理的HyPAT 软件 　　12. 现场应用培训 可选配件 　　&diams 　三角架1/4-20螺纹接口 　　&diams 　EasyRig充气被背带（减轻背负负担以便于长时间现场应用） 　　&diams 　备用电池 　　&diams 　双电池充电器 　　&diams 　小型便携式VCR 可检测的气体种类 1,3 Butadiene 1,3-Benzenediamine 2- Dichloropropene 2-Butanone 2-Propenenitrile 4- methyl Accetylehyde Acetic acid Acetone Ammonia Aniline Benzene Butane Captan Carbon Carbon Tetrachloride Chlorobenzene Dichloride Dichlorobenzene Diethylamine Dimethyl Dimethyl Sulfide Dimethyl Sulphate Disulfide Epichlorhydrin Ethane ethenyl Ethyl-benzene Ethylamine Ethylbenzene Ethylene Ethylene Oxide Formaldehyde Formamide Hexachlorocyclopentadiene Hexane Heptane Hydrogen Chloride Hydrogen Sulfide Isoprene 1 Isopropylalcohol MEK MeOH Methane Methanol Methyl isobutyl ketone Methyl-chloride MethylamineMethylaniline Methylene chloride Mono Chlorobenzene n-butanol n-heptane N,N-dimethyl Octane Pentene Phosgene Propane Propylene Propylene Oxide Styrene Thionyl Chloride Toluene Vinylchloride Xylene GIT公司及IMSS技术简介 　　美国太平洋高技术公司(Pacific Advanced Technology，PAT)是一家致力于红外光电技术研究的高科技公司，公司创建者是Michele Hinnrichs女士，她在美国空军的小型企业创新研究(SBIR，Small Business Innovative Research)资金支持下，开发了多光谱成像检测(IMSS,Image Multi-Spectral Sensing)技术，并在US Navy、US Army、BMDO和Department of Energy (DoE)等研究合同支持下，将该技术用于导弹预警、红外搜索和跟踪、环境监测等领域。PAT授权其子公司Gas Imaging Technology (GIT)将该技术在环境气体监测领域商业化。 　　Image Multi-Spectral Sensing ( IMSS）多光谱成像技术是美国PAT公司专利的的技术，专利号U. S. Patent numbers: 5,479,258 5,867,264 6,680,778) ，IMSS已经被美国国防部认证并应用于各项研究中；该技术光谱测量范围覆盖可见光(visible)、近红外(NIR)、中红外(MWIR)和远红外(LWIR)，目前该技术光谱分辨率大为提高，从多光谱发展到高光谱和超光谱。

艾睿天璇M620手持红外热像仪零售批发，投标，项目可做。如需要采购请直接联系客服获取优惠价！ 我司产品均含税运（13个点专票+顺丰包邮）艾睿光电天璇M620手持热成像测温仪是天璇M家族的又一款升级力作！搭载自研有保障的 @ 12μm先进工艺制造的探测器，带来了640高分辨率红外热图与 35mK的高灵敏度，轻松捕捉细小热点；23°窄视角，相当于56° 广视角的约2.4x光学变焦，更利于中远距离测量。新增的等温线分析，线测温实时曲线，智能拍摄等功能，可助您在关键时刻高效完成巡检任务。IFOV低至0.63mrad640×512红外分辨率35mK温度分辨力-20℃~+650℃超宽测温范围