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光密度扫描成像年轮分析系统

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光密度扫描成像年轮分析系统相关的仪器

  • GS-900校准型光密度仪具有自动校准功能,在透射或反射模式下均可提供出色的精确度、分辨率和图像质量。GS-800具有29 x 33 cm的成像面积、12位数据收集和可达36.3 um的分辨率,是蛋白和核酸定量的理想光密度仪。系统特点包括:? 自动的自我校准功能,用于精确定量? 扫描分辨率可调,以获得最佳图像? 12位(4,096灰度)数据采集,以获得更好的线性和灵敏度? 动态范围0-3.4 OD,0-2.7 RD? 400-750 nm光源扫描,以获得高灵敏度? 透射和反射图象采集,可进行多种样品成像? 功能强大、用户友好的Image Lab软件,用于图像采集和数据分析? 密封的成像平台,可用于湿样品成像? 改进的透明盖,可安全地成像不同厚度的样品
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  • 前言CoreScanner芯体密度X-光扫描成像与元素分析系统结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)、数字X-射线密度成像(digital x-ray micro radiography)和高分辨率数字光学成像技术,实现多种样芯的非接触式测量,用于土壤、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统可应用于土壤分析,环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。 原理土壤元素分析系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术,非破坏性测量,获得样品高分辨率的数码图像,然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。系统特点l 结合了XRF、数字X-射线密度成像、数字光学成像技术l X射线荧光分析,提供Al以上的多种元素的浓度数据(Al – U)l 数字X射线密度成像用于样品的高级分析l 可扫描分析土芯等样品l 实现多种元素同时检测l XRF灵敏度达PPM级l 检测效率高,10分钟即可完成1米样品的扫描分析l 稳定,可靠,重现性好l 灵敏度和精确度高l 非接触式分析,不破坏样品l 可超负荷工作,每年可工作几千小时系统组成u X-射线发生器u X-射线管u X-射线安全防护系统u X-光束准直仪u X-射线成像检测系统u XRF元素分析仪u 光学摄像头u 机动样品台及样芯固定装置u U-型样品槽u 2台工作站u 软件及驱动u X-光箔u UPS(不间断电源)u 设备冷却装置技术指标1. 测量原理:X-射线荧光分析、数字X-射线成像技术、高分辨率光学成像技术。2. 分辨率:X-射线:2 扁平光管光束0.2x20mm,其中0.2对应沉积物的长度方向。2 X-射线荧光光束:常规分辨率0.2mm,最高分辨率0.1mm(需定制)2 X-射线成像分析,最高分辨率20μm3. X-射线发生器功率:60 kV,55 mA,最大功率3.3 kW4. X-射线管:铬管或钼管,最大功率2.2 kW(铬管)和3.0 kW(钼管),质保寿命为2000h,期望寿命为3000~5000h。5. X-射线检测器:用于X-射线数字密度成像,含有1000个感应元件,每个感应元件拍摄20μm宽的样品图像,动态范围达数十倍,样品最大成像厚度60mm。6. SDD硅漂移检测器:电子冷却,用于XRF检测,可以记录Al – U的任何元素的标识辐射,5.9 keV时,能量分辨率大约140 eV。单次扫描即可完成所有元素的检测。7. 增强型光学成像单元:3x16bit数字RGB彩色CCD光学摄像头和光学图像信息采集软件,采用正交偏振滤光片技术和眩光降低技术,可以获得非常高的图像质量。摄像头光学分辨率为50μm,以两种模式扫描,快速模式(分辨率200μm)和高分辨率模式(分辨率50μm),扫描图像宽约100mm。8. X-射线防护装置:测量过程中,打开仪器时,X-射线自动关闭。9. 样品台:自动样品台长1800mm,最小步进20μm,温度稳定时重现性好。10. 样品槽:样品槽带手动调节装置,可在据样品横截面中心线的五个不同的固定位置调整。五个位置是:中心,距中心10mm (左和右),距中心20mm (左和右)。11. 样品大小和形状:2 有效测量长度最长1750mm , 宽度120mm2 劈开的、水平放置的沉积物样品,最大外径可达120mm2 厚板状沉积物样品,厚度1-60mm, 宽度120mm2 U形样品槽2 木材生长锥样品、平板样品或圆盘样品,厚度1-60mm, 宽度120mm2 洞穴堆积物(如钟乳石)样品,厚度1-50mm, 宽度120mm12. 工作站:负责扫描控制及数据处理软件。包括Core Scanner Navigator(扫描控制软件)、Qspec(XRF光谱分析和元素浓度计算软件)、ReDiCore(数据显示软件)及所有其他硬件驱动程序。13. 冷却装置:冷却水泵14. 电源:230v/50Hz/三相,建议配UPS(选配)15. 规格:4500×820×1570mm16. 重量:800kg 深海沉积物样芯,从上到下曲线代表元素的浓度变化:Fe, Ca, K, Si, Al 应用案例一英国海洋中心和南安普顿大学地球化学领域科研人员,将土壤元素分析系统应用于东部地中海沉积泥的研究分析。 应用案例二法国格勒诺布尔阿尔卑斯大学的Kévin Jacq等利用SPECIM高光谱成像技术与CoreScanner样芯元素扫描分析技术对法国布尔吉湖底沉积物样芯进行了分析研究,结果发表于2019年《Science of the Total Environment》(High-resolution prediction of organic matter concentration with hyperspectral imaging on a sediment core)。有机物(OM)含量常用于海洋湖泊沉积分析,以重建不同年代的碳通量等,550 °C 烧失量法(Loss on ignition,LOI)被广泛用于古气候相关研究,但LOI具有费时、费力、对样本有损坏、空间分辨率低(0.5-1cm)等缺点。为建立可靠、准确的模型,以进行高通量、快速、无损、高空间分辨率沉积物样芯成分分析,作者综合运用SPECIM高光谱成像技术、XRF CORESCANNER元素扫描分析技术,并以传统LOI550烧失量法作为参照,对54 cm长沉积样芯进行了分析研究。SWIR短波红外高光谱(1000-2500nm)可以在15分钟内完成样品扫描分析,空间分辨率200 μm。XRF CoreScanner分辨率为 200 μm,采用康普顿(非相干,incoherent)和瑞利(相干,coherent)散射数据的比值(inc/coh)作为有机物的表征量。结果表明,LOI550 参考值与XRF inc/coh 比值及高光谱值均具备显著的相关性,高光谱成像技术可以高通量、非损伤、高空间分辨率分析沉积样芯有机物含量分布。该方法还可转用于自然界的其它样芯分析,如钟乳石、土壤、冰芯、树芯,并可用于推断古环境,古气候,土壤健康和污染等。 产地瑞典选配技术方案l SisuCHEMA高光谱成像分析系统l SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统l SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统l SpectraScan高光谱成像扫描分析系统部分参考文献列表1) Croudace, I. W., Teasdale, P. A. & Cundy, A. B. 200-year industrial archaeological record preserved in an Isle of Man saltmarsh sediment sequence: Geochemical and radiochronological evidence. Quaternary International 514, 195–203 (2019).2) Ladlow, C., Woodruff, J. D., Cook, T. L., Baranes, H. & Kanamaru, K. A fluvially derived flood deposit dating to the Kamikaze typhoons near Nagasaki, Japan. Nat Hazards 99, 827–841 (2019).3) Gregory, B. R. B., Patterson, R. T., Reinhardt, E. G., Galloway, J. M. & Roe, H. M. An evaluation of methodologies for calibrating Itrax X-ray fluorescence counts with ICP-MS concentration data for discrete sediment samples. Chemical Geology 521, 12–27 (2019).4) López Pérez, A. E., Rey, D., Martins, V., Plaza-Morlote, M. & Rubio, B. Application of multivariate statistical analyses to Itrax core scanner data for the identification of deep-marine sedimentary facies: A case study in the Galician Continental Margin. Quaternary International 514, 152–160 (2019).5) Gopi, K. et al. Combined use of stable isotope analysis and elemental profiling to determine provenance of black tiger prawns (Penaeus monodon). Food Control 95, 242–248 (2019).6) Croudace, I. W., L?wemark, L., Tjallingii, R. & Zolitschka, B. Current perspectives on the capabilities of high resolution XRF core scanners. Quaternary International 514, 5–15 (2019).7) Croudace, I. W., L?wemark, L., Tjallingii, R. & Zolitschka, B. High resolution XRF core scanners: A key tool for the environmental and palaeoclimate sciences. Quaternary International 514, 1–4 (2019).8) Seki, A., Tada, R., Kurokawa, S. & Murayama, M. High-resolution Quaternary record of marine organic carbon content in the hemipelagic sediments of the Japan Sea from bromine counts measured by XRF core scanner. Prog Earth Planet Sci 6, 1 (2019).9) Li, T., Zuo, R. & Chen, G. Investigating fluid-rock interaction at the hand-specimen scale via ITRAX. Journal of Geochemical Exploration 204, 57–65 (2019).10) Gopi, K. et al. Isotopic and elemental profiling to trace the geographic origins of farmed and wild-caught Asian seabass (Lates calcarifer). Aquaculture 502, 56–62 (2019).11) Peti, L., Gadd, P. S., Hopkins, J. L. & Augustinus, P. C. Itrax μ‐XRF core scanning for rapid tephrostratigraphic analysis: a case study from the Auckland Volcanic Field maar lakes. J. Quaternary Sci. 35, 54–65 (2020).12) Jones, G., Adamopoulos, S., Liziniewicz, M. & Lindeberg, J. Nondestructive Wood Density Testing in Downy Birch and Silver Birch Genetics Field Trial, Southern Sweden. 9.13) Jones, A. F., Turner, J. N., Daly, J. S., Francus, P. & Edwards, R. J. Signal-to-noise ratios, instrument parameters and repeatability of Itrax XRF core scan measurements of floodplain sediments. Quaternary International 514, 44–54 (2019).14) Peti, L. & Augustinus, P. C. Stratigraphy and sedimentology of the Orakei maar lake sediment sequence (Auckland Volcanic Field, New Zealand). Sci. Dril. 25, 47–56 (2019).15) Gregory, B. R. B., Patterson, R. T., Reinhardt, E. G. & Galloway, J. M. The iBox-FC: A new containment vessel for Itrax X-ray fluorescence core-scanning of freeze cores. Quaternary International 514, 76–84 (2019).16) Peti, L., Augustinus, P. C., Gadd, P. S. & Davies, S. J. Towards characterising rhyolitic tephra layers from New Zealand with rapid, non-destructive μ-XRF core scanning. Quaternary International 514, 161–172 (2019).17) Profe, J. & Ohlendorf, C. X-ray fluorescence scanning of discrete samples – An economical perspective. Quaternary International 514, 68–75 (2019).
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  • DJ-3400树木年轮分析仪 400-860-5168转4470
    用途:DJ-3400树木年轮分析仪采用图像分析的模式,与扫描成像设备联用,专门对树盘或生长锥取的树芯材料进行树木年轮的分析测量。使用时采用高精度扫描设备对样品成像,软件自动测定年轮,对于不规则的样品,可采用人工辅助图像识别校准以及辅助增/删的方式保证结果的准确度。可同时显示年轮宽度、早材/晚材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度等。应用领域:Ø 树木年代学Ø 年轮气候学Ø 树木学Ø 森林调查研究测量参数:年轮计数、年轮环宽度、早材/晚材宽度,年轮环角度;年轮平均宽度、早材平均宽度、晚材平均宽度;树轮圆盘面积、周长,平均直径、形状因子孔隙面积; 技术参数:分析系统年轮基本参数年轮计数、年轮环宽度、早材/晚材宽度,年轮环角度年轮密度参数年轮平均宽度、早材平均宽度、晚材平均宽度树木圆盘参数树轮圆盘面积、周长,平均直径、形状因子孔隙面积图片类型彩色、黑白图片格式Tiff、JPEG、bmp等缩放显示是,最大32级放大采集系统图片获取方式高质量扫描仪,不变形线性扫描扫描仪分辨率4800DPI*9600DPI扫描速度 8s最小分辨率0.005mm最大扫描面积216*297mm,可选31*44cm光源LED双光源照明电源AC 220-240V,50/60Hz测量对象树轮圆盘,生长锥树芯数据存储存储于计算机中
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  • 一、年轮分析测量系统 植物年轮图像分析系统产品简介:年轮图像分析系统是一款多平台图象分析系统,与扫描仪匹配,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;特殊的树芯定位器用以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能;此外,可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加功能可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径以及总体截面积;树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。二、年轮分析测量系统 植物年轮图像分析系统应用领域广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。三、年轮分析测量系统 植物年轮图像分析系统技术参数:1、水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮(单节)、年轮宽度测量、自动年轮监测方式(强度不同)、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮(多节)、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量(最大值、最小值、平均值、方向)、存储最后部分年轮、可自定义一些参数(例如:名字、类型等)、图像编辑、批量分析。2、植物年轮测量分析:(1)可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮,亦可分析树木圆盘面积,周长,平均直径,形状因子,孔隙面积,年轮技术等。(2)可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。(3)具有年轮图线数据暂存、加载特性,以便日后不断地分析比对。(4)年轮分析测量系统 植物年轮图像分析系统具有精细分析的“软件体视镜”特性。有路径端点吸附定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。(5)图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可取消或删除。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。(6)可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3、系统自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量。图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。四、年轮分析测量系统 植物年轮图像分析系统由以下两部分组成:图像扑捉系统:标准年轮样本扫描设备,生长锥定位器等。A4幅面:扫描面积22×30cm,投影面积20×25cm,分辨率4800DPI,可分辨最小粒子0.005mmA3幅面:超大扫描面积31×44cm,投影面积31×42cm,分辨率2400DPI,可分辨最小粒子0.011mm年轮分析软件:标准版分析软件。
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  • 一、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪产品简介:年轮图像分析系统是一款多平台图象分析系统,与扫描仪匹配,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;特殊的树芯定位器用以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能;此外,可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加功能可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径以及总体截面积;树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。二、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪应用领域广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。三、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪技术参数:1、水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮(单节)、年轮宽度测量、自动年轮监测方式(强度不同)、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮(多节)、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量(最大值、最小值、平均值、方向)、存储最后部分年轮、可自定义一些参数(例如:名字、类型等)、图像编辑、批量分析。2、植物年轮测量分析:(1)可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮,亦可分析树木圆盘面积,周长,平均直径,形状因子,孔隙面积,年轮技术等。(2)可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。(3)具有年轮图线数据暂存、加载特性,以便日后不断地分析比对。(4)年轮分析系统 树木年轮分析测量仪具有精细分析的“软件体视镜”特性。有路径端点吸附定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。(5)图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可取消或删除。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。(6)可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3、系统自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量。图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。四、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪系统由以下两部分组成:图像扑捉系统:标准年轮样本扫描设备,生长锥定位器等。A4幅面:扫描面积22×30cm,投影面积20×25cm,分辨率4800DPI,可分辨最小粒子0.005mmA3幅面:超大扫描面积31×44cm,投影面积31×42cm,分辨率2400DPI,可分辨最小粒子0.011mm年轮分析软件:标准版分析软件。
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  • 树木年轮密度与元素分析仪简介前言树木年代学发展至今,已形成了一套比较完备的基本理论和分析方法。森林生态、森林火灾、历史时期气候、大气污染、考古、火山爆发、地震、洪水发生频率等十几个方面的研究也发展起来。为适应不同的研究目的,分析手段多样化,年轮的宽度测量,密度测量,元素分析等新技术和新方法可以从树木样品中提取更多有用的信息,使得相关领域研究内容更加丰富。年轮元素分析仪是一款高端的测量分析设备,在世界上首次同时采用了XRF和X-射线成像技术,可用于木材、湖海沉积物、堆积物、泥炭等样品的浓度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。原理系统采用X-射线成像和XRF(X-射线荧光)技术,获得样品高分辨率的数码图像。利用X-射线成像技术得到样品的密度图像,用于样品的密度分析;采用XRF技术得到样品多种元素分布图像。然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。上图左为仪器实物照片,右为厂家在现场进行培训应用方向古气候学林业研究环境取证生态学和人类历史研究木制品系统特点结合了X-射线成像与XRF元素分析可得高精度的样品密度图像和元素曲线利用XRF实现多种元素的分析可分析不同类型、形状、尺寸和厚度的样品,可以是树木生长锥取下的树木样品,也可是片状、块状样品或圆形沉积物样品等,样品准备和前处理简单自动进行多样品分析X-射线成像的信息以数字化方式储存,结果可即时显示。软件特点用户可选择分析区域、分辨率以及扫描时间批量操作功能支持无人值守下的批量测量可得多种元素的密度曲线(使用XRF功能)简化分析过程,通过参数设置控制整个分析过程上图左为软件操作界面,右为样品槽及待分析的年轮样芯系统组成年轮元素分析主机(选配XRF元素分析模块) X-射线发生器 X-射线检测器 标准LFF型X光管 PolyflatTM 扁平X光束光学系统 X光束调节器 样品槽 密度校准塑料楔 控制及操作台平板扫描仪冷却系统计算机UPS电源软件用户手册技术指标1) 测量原理:X-射线荧光分析和数字X-射线成像技术。2) X 射线发生器:60 kV,55 mA,最大功率3.3 kW。3) 射线管:一个标准的LFF型X光射线管(Cr)。最大功率工作寿命2000h,功率降低寿命延长。当使用铬管进行木材密度分析时,样品厚度范围为1~10mm,较厚的样品(最厚50 mm ),通常选择Mo管,这需要另一种类型的X-射线成像感应器。4) 光学系统:PolyflatTM 专利 技术,PolyflatTM 扁平X光束光学系统,用于局部区域的快速测量,测量点面积为50微米×20毫米, X-射线图像的分辨率达10x20微米,宽15~20mm(根据软件设置),通过软件组合片段图片可得到宽度大于20mm的图像。使用这种光束的XRF,水平方向的分辨率为50微米,垂直方向的分辨率为2mm。5) X光束调节器:X光束调节器可使X-射线图像在水平方向的分辨率达10微米。6) 控制台:一个300x200mm X/Y可移动电脑控制台,扫描点长2.5微米,重现性好。7) 样品槽:最多放9个长280mm,宽7~12mm的木条样品。样品槽可拿出。其他类型的样品槽根据需要可订购。8) X-射线检测器:线性排列感应元件,其测量所得图像的格式为16 bits。包含控制、操作及数据采集所需的硬件和软件。适于厚度不超过15mm木材类样品的测量。9) 密度校准塑料楔:用于密度校准,位于样品固定槽上方。10) 操作台:780×800×1600mm(长×宽×高),用于放置上面提到的所有原件。测量区用一块含铅透明板遮挡,用于防尘,防X-射线泄露。操作台内置安全控制系统,打开瞬间,X-射线会自动关闭。11) 扫描仪:一个平板扫描仪,用于测量前,条形样品槽内样品的扫描。12) 冷却装置:冷却水泵。13) 电源:建议配置UPS。14) 重量:250kg。应用案例一该图显示了过去1500年Fennoscandian北部夏季气温基于Multiscanner的数据的气候重建,与该时期的仪器温度数据的相关性为0.84,Dr. H Grudd, Dendrolab, Stockholm, Sweden应用案例二该图显示了树轮样品的放射线图像,覆盖在放射线图像上的为三个图表,显示该样品上的硫(黄色),磷(红色)和氯(蓝色)分布变化,这些数据被用作环境取证中与时间相关的污染记录,Dr C. Balouet, Environment International, Orrouy, France, and H. Grudd, Dendrolab, Stockholm, Sweden产地瑞典选配技术方案高光谱技术产品进行年轮密度及化学组分分析EMS气象站进行样点环境因子监测EcoDrone无人机遥感平台进行大尺度样地调查Vertex IV手持式树高测量仪Haglof树木生长锥IML系列树木针测仪部分参考文献1. Kaiser, K. et al. A submerged pine forest from the early Holocene in the Mecklenburg Lake District, northern Germany. Boreas 47, 910–925 (2018).2. Kaiser 等。 - 2018 - A submerged pine forest from the early Holocene in.pdf.3. Kaczka, R. J. et al. Different maximum latewood density and blue intensity measurements techniques reveal similar results. Dendrochronologia 49, 94–101 (2018).4. Kaczka 等。 - 2018 - Different maximum latewood density and blue intens.pdf.5. Moreno-Fernández, D., Hevia, A., Majada, J. & Ca?ellas, I. Do Common Silvicultural Treatments Affect Wood Density of Mediterranean Montane Pines? Forests 9, 80 (2018).6. Moreno-Fernández 等。 - 2018 - Do Common Silvicultural Treatments Affect Wood Den.pdf.7. Hallingb?ck, H. R. et al. Optimal timing of early genetic selection for sawn timber traits in Picea abies. European Journal of Forest Research 137, 553–564 (2018).8. Hallingb?ck 等。 - 2018 - Optimal timing of early genetic selection for sawn.pdf.9. Bloemsma 等。 - 2018 - Practical guidelines and recent advances in the It.pdf.10. Hevia, A. et al. Towards a better understanding of long-term wood-chemistry variations in old-growth forests: A case study on ancient Pinus uncinata trees from the Pyrenees. Science of The Total Environment 625, 220–232 (2018).
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  • 仪器简介:年轮分析主要是通过对于年轮密度,木质部导管直径,密度,排列次序的测量分类,结合近年的气候和植物生长数据,反推出历史的气候和植物生长情况。树木年轮以其定年准确、连续性好、分辨率高及重建精度好等优势,成为国际上在全球变化研究中,研究过去的环境和气候变化的重要方法之一.最新型LignoStation树木年轮密度测定仪,集全部的功能与一个系统,包括表面处理、树木年轮变化和木材密度的高精度的测定。系统运用高分辨率的数字化扫描设备对树木年轮密度直接、自动扫描。整个过程由电脑控制。 LignoTrim:高精度的木材表面切割器 LignoScan:高精度的电磁木材密度扫描仪 LignoScop:高精度的木材表面显微照相扫描仪 LignoVision:图象分析的软件 可根据使用的目的进行配置: 表面抛光:LignoStation + LignoTrim 密度分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScan 光学分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScop 光学与密度分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScan + LignoScop 技术参数:使用一个高频电子传感器进行密度测定(不使用x-射线放射原) 图像分辨率: = 20 微米 (=1/50 mm) 使用高精度的照相机进行光学扫描 测量对象: 树木生长锥样芯,以及树木年轮盘片 最大测量长度: 500 mm主要特点:高分辨率的扫描系统 无需加装胶片 自动化的系统 设计精巧结构紧凑 易于操作 安全:使用高频射线替代X光射线,不会有X-射线的放射危险
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  • PSC公司成立于2004年,2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世,并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖",RootViz FS刚一面世即获此大奖,足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统,可以全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS;GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度:平面图25株/h;立体图15株/h* 范围:最大根长0.6 m;最大高度2.1 m* 分辨率:2002× 2054像素
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  • 树木年轮分析仪 400-860-5168转4275
    主要功能 HM-NL树木年轮分析仪是一款多平台图象分析系统,与扫描仪匹配,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;特殊的树芯定位器用以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能;此外HM-NL可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加功能可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径以及总体截面积;树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。 测量参数 年轮基本测量参数:年轮计数,年轮环宽度,早材/晚材宽度,年轮环角度(弧度)等。 树木圆盘测量参数:圆盘面积,周长,平均直径,形状因子,孔隙面积,年轮技术等。 树木年轮分析仪应用领域 广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。 主要技术参数 水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮(单节)、年轮宽度测量、自动年轮监测方式(强度不同)、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮(多节)、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量(最大值、最小值、平均值、方向)、存储最后部分年轮、可自定义一些参数(例如:名字、类型等)、图像编辑、批量分析。 选购指南: 系统由以下两部分组成: 图像扑捉系统:经过厂家调试的标准年轮样本扫描设备,生长锥定位器等。 A4幅面:扫描面积22×30cm,投影面积20×25cm,分辨率4800DPI,可分辨最小粒子0.005mm A3幅面:超大扫描面积31×44cm,投影面积31×42cm,分辨率2400DPI,可分辨最小粒子0.011mm 年轮分析软件:标准版YP-NL分析软件。
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  • 一、树木年轮分析仪产品简介:年轮图像分析系统是一款多平台图象分析系统,与扫描仪匹配,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;特殊的树芯定位器用以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能;此外,可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加功能可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径以及总体截面积;树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。二、树木年轮分析仪应用领域广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。三、树木年轮分析仪技术参数:1、水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮(单节)、年轮宽度测量、自动年轮监测方式(强度不同)、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮(多节)、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量(最大值、最小值、平均值、方向)、存储最后部分年轮、可自定义一些参数(例如:名字、类型等)、图像编辑、批量分析。2、植物年轮测量分析:(1)可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮,亦可分析树木圆盘面积,周长,平均直径,形状因子,孔隙面积,年轮技术等。(2)可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。(3)具有年轮图线数据暂存、加载特性,以便日后不断地分析比对。(4)树木年轮分析仪具有精细分析的“软件体视镜”特性。有路径端点吸附定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。(5)图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可取消或删除。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。(6)可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3、系统自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量。图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。四、树木年轮分析仪系统由以下两部分组成:图像扑捉系统:标准年轮样本扫描设备,生长锥定位器等。A4幅面:扫描面积22×30cm,投影面积20×25cm,分辨率4800DPI,可分辨最小粒子0.005mmA3幅面:超大扫描面积31×44cm,投影面积31×42cm,分辨率2400DPI,可分辨最小粒子0.011mm年轮分析软件:标准版分析软件。
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  • WinDENDRO年轮分析系统 400-860-5168转1218
    WinDENDRO年轮分析系统 WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响,有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域,以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。 组成:* WinDENDRO年轮分析软件(基本版 / 标准版 / 专业版)For Win9x,WinMe,Win2000,WinXP* XLSTEM茎杆分析插件(For MS-EXCEL)可选件* 专业扫描仪* 电脑(最低配置:Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器)用户自备* 生长锥定位工具技术指标:特点WinDENDRO版本基本版标准版专业版水平、垂直方向测量年轮YesYesYes延直线方向测量年轮(单节)YesYesYes年轮宽度测量YesYesYes自动年轮监测方式(强度不同)YesYesYes通过扫描测量年轮YesYesYes判断无效的年轮YesYesYes图象对比度增强功能YesYesYes彩色和黑白可调YesYesYes测量年轮宽度时计算年轮角度YesYesYes当样品有缺陷时,估算丢失的年轮NoYesYes以各种方向测量年轮NoYesYes测量复杂形状样品的年轮(多节)NoYesYes年轮宽度、十字交叉图象及相关性NoYesYes幼苗宽度测量NoYesYes用户可调节智能幼苗清晰度NoYesYes每环的反射光测量(最小值、最大值、平均值、方向)NoYesYes基于象素的数据NoYesYes存储年轮宽度以"树心-边缘"/"边缘-树心"Yes/NoYes/YesYes/Yes存储最后部分年轮NoYesYes忽略缺口部分NoYesYes讲述& 演示年轮自动监测算法NoYesYes针对年轮增加注释或观察资料NoYesYes可自定义设置一些参数(例如:名字,类型等)NoYesYes可以测量其他设备采集到的图象(如:摄象机等)NoYesYes手工测量图象的边材宽度NoYesYes年轮密度测量(最小值,最大值,平均值,方向)NoNoYes产 地:Regent 加拿大
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  • 一、 用途:SpectraScan-R是一套专用于离体(ex-situ)根系VIS-NIR波段光谱扫描成像分析的仪器系统,完整植物根系取土后可直接进行可见光近红外高光谱扫描成像分析,还可以进一步经过洗根后扫描成像然后通过专业软件进行根系分析,可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等,还可以分析新生根系、根系水分分布、根系生化结构二维时空分布成像等,甚至可以通过高光谱技术二维成像分析根系土壤基质有机碳、水分含量等时空动态变化。功能强大,操作简单,软件可分析植物根系的形态,色彩、分级伸展分析及根系的整体结构分布等等。可广泛应用于植物根系动态、植物表型分析、植物胁迫、土壤生态修复、湿地监测等领域。 二、 原理:SpectraScan-R根系分析系统利用高质量RGB图形扫描仪及高光谱成像系统,获取高分辨率植物根系可见光图像及高分辨率光谱数据,然后通过专业分析软件对根系形态结构、光谱特征、生化组成等进行分析。扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统,并且在扫面板上预留了双光源校准区域。扫描时,扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品,这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响,有效地保证了获取的图像质量。 WinRHIZO软件可以读取TIFF,JPEG标准格式的图像。针对获取的图像,利用插入加密狗解密的软件,同时配合厂家针对扫描仪配置的Scanner.cal校准文件,对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数;利用软件的色彩等级分析功能、高光谱成像分析,还可以对根系RGB、近红外光谱进行分析,从而进行根系存活数量、水分、根系生长和营养状况、土壤基质等方面进行分析研究;利用软件的高级分析功能,还可以对完整的植物根系图像进行根系连接分析(研究根系分支角度、连通性等形态特征)、根系拓扑分析(研究根系连接数量、路径长度)和根系分级伸展分析(记录根系整体等级分布情况)。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。 三、 组成:1、 图像扑捉系统:经过厂家调试的标准根系扫描设备,匹配专门的光源、具有永久校正特点、根系固定装置等2、 高光谱成像分析单元,对根系及土壤基质进行高光谱成像3、 根系分析系统:基本版 /标准版 /专业版WinRHIZO分析软件4、 电脑(最低配置:Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器)用户自备 光谱扫描设备类型及区别见下表:STD4800LA2400**VIS-NIRNIR描述RGB高质量高速扫描仪RGB多功能、高速扫描面积大的扫描仪400-1000nm波段高光谱扫描成像900-1700nm近红外波段高光谱扫描成像可否在野外使用NNYY是否需要电脑操作YYY分辨率DPI(点/英寸)48002400512x512,或1024x,可选配更高分辨率640x扫描速度较快快330fps670fps最大扫描面积cm21.6x2830x43可局部或任意大小完整根系是否可对土壤基质扫描YY是否适合WinFoliaYY是否适合 WinRHIZOYY是否适合 WinSEEDLEYY是否适合 WinDENDROYY**WinRhizo Pro版本包括蓝色背景板 四、 基本技术指标:1、不同版本WinRhizo主要技术指标:整体参数基本版标准版专业版拟南芥版*总长YesYesYesYes平均直径YesYesYesYes总面积YesYesYesYes总体积YesYesYesYes根尖、分叉和交叠计数YesYesYesYes根直径等级分布参数长度NoYesYesYes面积NoYesYesYes体积NoYesYesYes根尖计数NoYesYesYes* 拟南芥版具有专业版所有功能,另外还可针对拟南芥类植物的细小、交叉根系进行测量 2、VIS-NIR光谱扫描成像分析:1) 高光谱扫描成像分析波段:400-1000nm(标配),可选配900-1700nm或1000-2500nm短波红外波段2) 智能一体式高光谱扫描成像技术(标配),内置自动推扫系统、取景器相机等,高度便携,集光谱成像数据采集、可视化数据处理、触摸屏与控制键等于一体,采用图形用户界面(GUI)3) 高光谱分析软件采用SAM算法及Savitzky-Golay滤波器技术,可创建类别或分级模型并建立App直接导入高光谱成像仪使用,建议同时选配ENVI软件4) 取景器相机分辨率5Mpix,高光谱成像空间分辨率512x512(标配),可选配1024x或其它分辨率高光谱成像分析5) 4.3”触摸屏、13操作键(标配)6) 光谱分辨率7nm(标配),波段数204(标配)7) 标配视野31度,成像距离15cm至无穷远,1m距离成像视野55x55cm8) 具备默认模式、自动筛选模式、客户定义APP模式及自动时间间隔记录模式9) 根系RGB颜色分析(专业版RGB扫描分析软件):根的长度、面积、体积、根尖计数、根系存活数量等研究(对根系或者根系附着菌种颜色进行分类,如健康根、浅程度受害根、重程度受害根等,软件可计算每种颜色根系的总长、总表面积、总体积、总根尖数量;每种颜色根系的平均长度、平均表面积、平均直径等)10) 根系连接(link)分析(专业版RGB扫描分析软件):用于根系分支角度、连通性等形态研究(与拓扑和发育分析最大的区别是,link分析可以针对非完整根系!软件给出的结果有分析对象的根系平均直径、平均长度、平均表面积、每个分叉角度的平均值;分叉的总数量;每个分叉的长度、表面积、平均直径、角度、级别等)11) 根系拓扑(Topology)分析(专业版RGB扫描分析软件):连接数量、路径长度等研究(需要根系完整)(必须是要完整的根系扫描图像。软件可计算主根的长度、所有次级根的总长度、平均长度、平均直径、平均表面积;每一级分叉的下级总分叉数量;每一级分叉的总数量等)12) 根系发育(Development)分析:记录根系整体等级分布情况(可通过专业版分析软件需要要完整的根系扫描图像。软件可计算每一个分级根系总长、总表面积,平均长度、平均直径、平均表面积等) 五、 产地:客户定制集成技术
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  • Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire NIR,搭载有685nm和784nm两个固态激光器作为近红外波段激发光源,仪器可选配PI模块用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像),也可选配CCD模块,用于传统化学发光成像。同时,仪器还可选配Q模块,加配520nm通道激光器,升级为Sapphire NIR-Q,用于总蛋白染色成像和绿色荧光通道成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时扫描,也可逐通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire NIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。通过选配CCD模块、PI模块和Q模块,仪器应用范围将拓展到化学发光成像、可见光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像)以及总蛋白染色成像等。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire RGB,搭载有488nm、520nm和658nm/685nm(选配)三个固态激光器作为RGB可见荧光波段激发光源,仪器可选配PI模块用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像),也可选配CCD模块,用于传统化学发光成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时扫描,也可逐通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGB激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块,用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块,仪器可用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像)。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 优云谱树木年轮分析仪YP-NL是一款多平台图象分析系统,与扫描仪匹配,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;特殊的树芯定位器用以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能;此外YP-NL可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加功能可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径以及总体截面积;树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。
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  • LignoStation年轮分析工作站名称:年轮分析工作站 型号:LignoStation 产地:德国用途:Ligonstation年轮工作站是目前年轮研究中功能最强大的仪器,它可以测量年轮密度,木质部导管直径,密度,排列次序等指标,而且有着20微米的超高分辨率。结合近年的气候和植物生长数据,可以完美的反推出历史的气候和植物生长情况。Ligonstation年轮工作站不仅包括测量设备,还包括表面抛光等预处理设备,确保树木年轮变化和木材密度的测量的高精度。系统运用高频射线取代X射线作为扫描探针,增加实验工作的安全性。应用:木材的密度分析;年轮生态学;年轮气候学;林业学;地理学。特点:所有的功能集成与一个系统,包括表面处理,对于树木年轮和密度的高精度的测定。年轮分析工作站系统提出了一个全新的概念,它运用高分辨率的数字化扫描,直接的,并且全自动的。整个系统由电脑控制,用户可以专心于研究工作,该系统可为您精确的完成枯燥的工作。高分辨率的扫描系统;无需加装胶片;自动化的系统;设计精巧结构紧凑;易于操作;安全:使用高频射线替代X光,没有放射危险。技术规格:密度测量传感器高频电子传感器图像分辨率≤20微米测量对象树木生长锥样芯,以及树木年轮盘片最大样品尺寸450×450毫米产地:德国点将科技-心系点滴,致力将来! : (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信,获取更多服务:
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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  • Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统,通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器搭载四个固态激光器作为激发光源,国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体,不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像(放射性同位素自显影成像),还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。 产品特点● 强大的多重荧光检测,可同时进行四通道扫描● 宽广的动态范围,动态范围≥6OD● 高分辨率,分辨率可达10微米● 化学发光成像,fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面,易于使用● 强大的分析软件,轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块,用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块,仪器可用于磷屏成像(放射性同位素自显影成像)。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems(中国)公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 万深LA-S年轮分析系统 400-860-5168转2434
    LA-S植物图像分析仪系统(年轮分析独立版)1、用途:用于植物年轮分析、树盘面积分析等2、系统组成:由A3幅面彩色扫描仪、分析软件和电脑组成(电脑需另配)。3、主要性能指标:1) 配光学分辨率3600 dpi×1800dpi、A3的中晶FileScan 1860XL plus高速扫描仪。最大分析测量面积431.8mm×301mm。2) 植物年轮测量分析:可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性,以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可【取消】或【删除】。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3) 自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量。图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。推荐选配电脑:品牌一体机(酷睿双核CPU /8G内存/1G独立显卡/1TB硬盘/ 19.5”彩显/无线网卡)应用万深分析仪器发表的部分学术论文名录319篇、最新产品资料、图像、实战操作视频可从万深检测官网下载。
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  • Sapphire FL 从分子检测到活体成像是专为应用灵活性研发的终极激光扫描成像系统。基于定制化、用户可自主更换的激光器和滤光片模块,Sapphire FL可轻松满足客户多样化、深入的科研需求。Sapphire FL具有定制化的、用户可自主更换的光学模块,5-1000μm的扫描分辨率,-1.0 至+6 mm的Z轴扫描功能,用于活体成像的5个麻醉输出端口以及化学发光检测模块等。 产品特点应用灵活,兼容多种样本类型:高分辨率成像、超大样品仓设计,支持从分子检测到活体成像样品类型。 定制化,可升级,颠覆传统设计理念:可根据需求选择合适的模块。可轻松替换激光器及滤光片,兼容更多种类的荧光染料。可升级化学发光模块配置。 超宽动态范围(EDR)模式分辨细微表达差异:可将动态范围扩展至24bit,在保证强信号不过饱和的前提下,极大提高同时获取强弱信号的能力。 高灵敏荧光检测:支持常规荧光染料的飞克级检测灵度。助力客户获取高质量的定量数据。 应用Sapphire FL激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析,如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片,活体成像等等。仪器支持近红外荧光,可见光,磷屏成像(放射性同位素自显影成像),同时可升级化学发光模块。
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  • 小动物低温荧光断层扫描成像系统适用于各种研究领域:药物传递、神经生物学、癌症生物学、免疫学、纳米医学等领域研究。可以对细胞簇、孤立器官甚至整个动物进行高分辨率可视化。整体动物连续切片且实时荧光成像也是全球首台,它基于带有现成荧光成像、重建和分析的连续切片,可从 2D 图像提供全面的 3D 荧光和 3D 解剖图像。其他常用的成像方式只能聚焦于亚细胞结构或生成全身或特定区域的低分辨率图像。除了生成 3D 图像外,还可以进行选择性地识别和转移高价值样本切片以进行额外的组织学和成像。弥补MRI和CT的分辨率不足,更好的确定肿瘤位置和大小。冷冻成像的过程中,成像的信噪比会大幅度降低,成像质量和分辨率会大大提升,对于荧光探针的示踪可以做一个很好的补充。特点:1. 整体动物连续切片2. 整体动物3D成像及体内器官成像3. 荧光探针体内定位及定量分析4. 肿瘤位置和大小定位
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  • 1. 产品用途年轮分析软件,可结合幅面扫描仪同时使用。分析盘状树木截面年轮数、高度、各年轮平均宽度等参数,操作简单,广泛运用于树木年轮形态和构造研究。通过测量年轮密度,木质部导管直径,排列次序等指标,结合微米级别分辨率,测量树木年轮早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积等参量,提高了分析结果的准确性,为科研工作者提供植物年轮环境、抗逆性、胁迫等研究资料。2.技术参数【参数简介】l 纹路参数:可测量复杂多纹路形状年轮、含虫道路径等;l 基本参数:可测量水平、垂直多方向年轮数、年轮宽度、年轮宽度、年轮周长、早材率、晚材率、圆形度、年轮环宽度,早材/晚材宽度,年轮环角度(弧度)、各年轮切向角度和面积等;l 密度参数:年轮平均密度、早材平均密度 、晚材平均密度、年轮环晚材最大密度 、年轮环早材最大密度、反向等;l 树盘参数:圆盘面积、周长、平均直径、形状因子、孔隙面积等;l 灰带参数:年轮灰带长度、面积、宽度、角度等;l 光度参数:可根据年轮不同反射光度,结合RHS 和UCL两种彩色模式,进行年轮环最大值、最小值、平均值等基本参数测量;l 更多参数:可忽略或自动识别补充缺口部分,即年轮样本有缺陷时可根据操作补充估算丢失年轮部分;【功能简介】l 丰富快捷键功能:丰富的快捷键功能进行多文档操作;粘贴复制功能使绘制轻松且迅速;多节点框选功能可整体拖拽平移;l 多样化图表功能:具有折线图、柱状图、散点图、面积图等丰富的数据图型样式选择功能;快捷Excel表格数据导出模式,可与Excel、MatLab、SPASS等软件结合使用;强大的数据图表命名、修改、编辑等属性设置功能,使得数据的可视化更加丰富直接;l 信息编辑功能:可对采集年轮图像的时间、地点、命名、事件记录、注释等信息进行编辑管理,便于不同时间采集的同类数据或同一时间采集的不同数据进行对比及记录;l 属性编辑功能:该功能能够对导入的图像进行旋转、分辨率(DPI)更改、图像尺寸修改、图像对比度调整、图像锐化处理等属性功能进行调整;l 辅助修正功能:该功能可实现鼠标框选特定区域、放大缩小局部观察、统计所选区域、辅助裁剪污染区域,根据图像尺寸等因素区别,自动进行杂质剔除,提高监视和校正对象的分析精度;l 可自动或手动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮,可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成分析年表;l 辅助标定功能:软件自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正对象长度参数,结合跟随放大镜功能,通过鼠标拖动进行精确测量,测量对象长度精度≤±1%,优质图像质量时面积1%,标准图像质量时面积≤3%;具有“精细”分析选项,可自动分析出≤0.1mm宽度的年轮,分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、早晚比、区域值等数据分析处理能力;l 颜色分析模式:软件具有RHS 和UCL两种彩色模式可选,能够对图像对象进行颜色信息分析,输出不同颜色标记叶片的长度、投影面积、表面积、体积等参数;同时可智能调节色彩及清晰度模式;l 多国语言模式:支持英文、简体中文及繁体中文;l 操作系统选择:支持WinXP至Win8的32位和64位操作系统;3.配置清单l 专业年轮分析软件1套l Ukey秘钥一套l 电子版材料一套
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  • Velmex树木年轮分析系统名称:树木年轮分析系统 型号:Velmex 产地:美国用途:Velmex树木年轮分析系统是北美树木研究会的标准系统,广泛应用于年轮分析、树木年代学、年轮气候学、森林研究和地形学等领域。采用线性编码技术,极大提高了年轮的测量精度。原理:在安放样品的工作台经过高精度加工,能够在长时间内保持高精度。样品安装滑动台上,滑动台在底座上做一维滑动。工作台置于显微镜下,研究人员通过显微镜对所测量的年轮进行定位,不同年轮环之间的间距由滑动台的相对滑动距离表示,这个距离由工作台上的传感器转换成电信号。传感器是线性编码器,尽可能地减小了其它螺旋编码器的机械误差,软件处理编码器获取的距离参数,生成年轮生长宽度的序列。技术规格:测量精度0.0015毫米(在50毫米内),0.003毫米(在250毫米内),0.005毫米(在1000毫米内)测量工作台宽10厘米×长61厘米载物台支架长15厘米译码器分辨率0.001毫米电子读数器单轴读数遥控器双键通讯端口RS232分析软件Windows版工作环境温度:0~+40℃,相对湿度:25%~95%非冷凝环境产地:美国点将科技-心系点滴,致力将来! : (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信,获取更多服务:
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  • 微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品,准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室行业应用:1.地球科学(岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。)2.司法鉴定、法医及痕量分析(弹孔射击残留物GSR分析等)3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析,修复文物)4.生命科学(植入材料扩散材料分析,生物体内的生物矿化,水凝胶质检,树木横断面/叶子/树根年轮)5.材料科学(三元梯度薄膜分析,锂电池正极材料异物分析,水泥钢材腐蚀检验)6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)7.质量控制与故障分析仪(电子和电子部件元素分析,ROHS分析)
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  • 树木年轮分析仪 400-860-5168转4584
    树木年轮分析仪产品介绍:树木年轮分析仪可以对树木盘片、树芯等样品进行准确的年轮分析,广泛应用于树木年代学和生态学的研究。使用简单,数字化图形分析,是经济实用的年轮分析工具。结合高分辨率立体扫描仪,可以达到1/1000mm的精度。分析软件功能强大,从测量到统计分析都可完成。数据库管理功能用于管理和分析年轮数据。树木年轮分析仪可以对树木盘片、树芯等样品进行准确的年轮分析,广泛应用于树木年代学和生态学的研究。使用简单,数字化图形分析,是经济实用的年轮分析工具。结合高分辨率立体扫描仪,可以达到1/1000mm的精度。分析软件功能强大,从测量到统计分析都可完成。数据库管理功能用于管理和分析年轮数据。树木年轮分析仪技术指标:1、配光学分辨率3600 dpi×1800dpi、A3的中晶FileScan 1860XL plus高速扫描仪。分析测量面积大至431.8mm×301mm。2、植物年轮测量分析:(1)可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮,(2)可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。(3)具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性,以便日后不断地分析比对。(4)具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。(5)图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可【取消】或【删除】。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。(6)可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3、系统自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精准测量。图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。树木年轮分析仪标准配置1、NL-A年轮分析仪系统软件U盘及软件锁1套2、中晶FileScan 1860XL plus高速扫描仪1台其他本产品需使用电脑,推荐选配:品牌电脑(酷睿i5九代以上CPU / 16G内存/ 21.5”彩显/无线网卡,4个以上USB2.0口,运行环境Windows 10完整**版或旗舰版)。
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  • LINTAB6 高精度版树木年轮分析系统名称:树木年轮分析系统 型号:LINTAB 6 产地:德国 用途:LINTAB6 高精度版树木年轮分析系统可以对树木盘片、生长锥钻取的样品、木制样品等进行非常精确、稳定的年轮分析,广泛应用于树木年代学、生态学和城市树木存活质量研究。该系统防水设计、操作简单、全数字化电脑图形分析,是一套经济实用的年轮分析工具。配备的TSAP-Win分析软件是一款功能强大的年轮研究平台,所有步骤从测量到统计分析均有TSAP软件完成。各种图形特征以及大量的数据库管理功能帮助你管理年轮数据。 特点: 主轴驱动 设备防溅水、防尘 标准测量长度:560mm,其他长度可定制 分辨率1/100mm至1/1000mm 转轮每旋转1圈样品前进2.5mm、5mm或10mm 可选90度等径伞齿轮,操作便捷 USB或串口(可选)连接电脑(Windows操作系统) 高质量徕卡立体显微镜,配有可变焦镜头(高达60X放大倍率) 可选扩展:图像或视频适配器 Leica立体显微镜 可选90度等径伞齿轮 原理:通过精确的转轮控制配合高分辨率显微镜定位技术,使得年轮分析精确、简单、稳定, 操作分析结果交由专业软件统计、分析,结果稳定,全球统一标准。 优势:符合人体工程学原理 手摇柄设置于右侧或者进样前端位置(可选) 高精度线性编码器,可实现无间隙测量便捷地操作 防溅水、防尘设计,包裹式主轴防止潮湿、腐朽样品的泥土污染良好的兼容性 与电脑通过USB或标准串口线(可选)通讯 使用TSAP-Win分析软件处理数据,可导出的多种格式的数据便携性 通过USB供电,不需要外接电源,可在野外使用较准性 分辨率从1/100mm(标准)至1/1000mm(可选)灵活性 样品重量可达50kg 可从左到右或从右到左测量,或者从髓心向外测量,反之亦可(可设置) 设备构成: 工业级直线进给装置,最大承重50kg 测量长度可按客户需求定做 样品操作台规格50×50cm,可承载大型样品 手摇柄设置于右侧或者进样前端位置(伞齿轮处) 测量控制装置为有线鼠标,或脚踏控制板(可选)、或者电脑鼠标 立体显微镜通过固定支架直接连接到操作台上,LED光源可提供较佳照明,客户亦可选择其他光源 数据通过USB或串口输入电脑,所有步骤从测量到统计分析均有TSAP-Win软件完成 各版本功能: 控制软件:TSAP-Win分析软件 基本版功能:测量、图形编辑 专业版功能:测量、图片编辑、交叉年代分析、年代学模型建立 附加模块:数学库、图形库、数据格式筛选器 高分辨率版功能:包括所有功能 测量与编辑(所有版本软件均有此功能) 图形操作 图形编辑数据 内置记事本:保存你的标记和文本信息在时间序列上 支持LINTAB和Velmex测量工作台 数据分析(专业版软件具有) 对照计年:各种数学方程可用(t-value, Gleichlaeufigkeit, cross-date index etc.) 对照计年图形控制 建筑物年代 方便年代计算和分析 可添加模块(科学版软件包含以下所有模块):图形库 单联和多联序列图形 线图 栅格形式 核心形式 可选择图形标题 可调刻度:线性和对数轴刻度 数学库 多种数学方程 趋势和回归程序 容易操作,运算,转换,起源等等 格式库 数据交换容易:TSAP支持不同的数据格式(e.g. Tucson, CATRAS) 表模块 不同的年轮表格(Aniol, Kutschenreuther, NE 202 and others) 数据库 多种标题字段可供选择储存系列数据 可方便的进行数据编辑 技术规格:测量长度560mm灵敏度2.5mm/圈分辨率1微米脚踏开关有等径伞齿轮有显微镜徕卡S8APO(10x-80x)聚焦臂S型可倾式显微镜光源LED3000环形光源摆臂台350毫米相机RINNTECH相机,5MP,附带软件分析软件TSAP-Win专业版(10用户) 产地:德国点将科技-心系点滴,致力将来! : (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信,获取更多服务:
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  • MT年轮测量分析系统 400-860-5168转1895
    仪器简介:MT年轮测量分析系统通过精确微细操作台和电子单元设置,在显微镜下测量树木年轮,然后通过软件即时分析显示树木年轮状况。仪器方便实用,可快速掌握操作,精确的转轮控制配合高分辨率显微镜定位技术,使得年轮分析精确、简单,测量年轮数据可方便地输出为通用的ASCII格式。 精密测量树芯或圆盘样品的年轮,配合公司提供的专业生长锥,可现场测量分析树木生长状况; 可精确测量极小的生长量,用于树木年轮学研究; 可检测并即时显示树干的变形及生长状况等; 广泛运用于树木年代学、年轮生态学、年轮气候学、考古学和林木健康状况诊断等研究。技术参数:分辨率 5 &mu m 最大测量样品量 1000 每个样品测量可记录样品点 500 数据存储 256kB/512kB/1MB 供电 DC 6-9V 年轮最大宽度 100 mm 操作温度 0° C to 50° C 软件 T-TOOLS LIGHT / T-TOOLS PRO 软件 标准版T-LIGHT,用于下载电子单元中的存储的数据到PC机。提供多种显示测量数据的方式。可评估和打印数据。 专业版T-PRO,含帮助工具包,可标记年轮并直接显示在测量图上。数据输出格式为ASCII或MST。ASCII格式可用其它软件打开并编辑。MST格式可用软件T-TOOLS / T-TOOLS PRO编辑。主要特点:精准操作台:用于精确移动树芯样 树芯固定槽:用于放置固定测量样本 电子单元:用于即时操作设置、显示、记录储存数据测量,如显示测量长度、年龄、年轮最大最小宽度及平均宽度等等 连接缆线(操作台-电子单元) 数据线:用于连接电子单元和计算机 电源 分析软件T-Tools Light 或T-Tools Pro 显微镜和电脑用户可选配或自备
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  • 小动物冷冻荧光断层扫描成像系统,简称CFT(Cryo-Fluorescence Tomography)。它通过捕获连续切片的二维荧光和白光图像,并且编译成三维图像,它可以对小动物整体,动物组织,人体组织等生成三维各向同性数据集 最大分辨率为20um。相比PE, MRI ,CT等成像模式,CFT系统信号识别灵敏度较好,能够获得较细致准确的荧光信号,且分辨率可以达到20um.与传统的体外成像相比,传统体外成像只关注小样本量,做大样本量的3D成像要求比较高,也足够复杂,也没有标准化的流程,同时满足高分辨率和高灵敏度对设备本身的要求也是比较高。CFT成像作为体内和体外成像的最好的桥梁,既弥补了体内成像因为体内环境复杂,导致灵敏度较低,无法完全显示所有荧光信号,充分的为组织学深入研究提供多维度数据。又为下游显微镜成像做了精准的定位和补充。以下在药物发现、肿瘤学、纳米技术和神经科学领域的研究应用1、 药物发现因为它可以帮助识别和表征在器官、组织、细胞和分子水平上的基本过程。CFT有助于疾病过程的知识和在临床前或临床研究设计中评估药物效应。此外,通过允许分子事件的可视化和量化,CFT是发展诊断和治疗应用的一个有价值的工具。使用CFT,候选药物的三维生物分布和定位,如小分子、抗体药物偶联物、诊断抗体、基于肽的治疗,可以在整个样本或特定器官中可视化。CFT还可以阐明一种潜在的药物药效学数据,包括其对其靶点的亲和力和选择性,以及在动物模型中的稳定性。2、 肿瘤学CFT可用于研究肿瘤模型,包括微环境、肿瘤异质性、转移扩散和特异性生物标志物的表达。对于转移性肿瘤进展,CFT可以检测转移性疾病,并提供肿瘤负荷的高分辨率和扩散的3D分子数据,在可比的图像模式中通常无法可视化。并可用于评估肿瘤代谢对遗传操作、药物和癌症化疗药物的反应。一些例子包括动物模型的3D渲染,阐明了作用基因及其对行为和疾病表型的表达,如癌症。3、 纳米科技并通过CFT等成像方式对组织进行详细成像。例如具有免疫调节特性的纳米佐剂;纳米刀,一种几乎非侵入性的高压电抗癌方法;还有碳纳米管,一种修复受损组织的流行方法。纳米材料与荧光报告组相结合,允许用CFT可视化这些过程与对照组肝脏归一化后,LNP-2组的tdTomato信号比LNP-1组高2倍,说明LNP-2可能比LNP-1具有更好的mRNA传递效率4、 神经科学CFT也可以用于研究大脑的生理学、解剖学和分子生物学。神经退行性疾病和其他病理学影响大脑的不同区域,以及负责疾病病因学的特定神经通路。这些神经通路可以用CFT来绘制。使用荧光报告基因,这些组的3D CFT图可以帮助可视化细胞跟踪、药物传递和大脑中药物的药效学。CFT可视化是不可或缺的,可以提供深入了解器官特异性的退行性疾病,以及突出几种疾病过程的有希望的动物模型,和有希望的治疗途径.CFT数据集显示,iRFP的表达发生在椎体外。从同一样本中收集的切片在组织水平上进行成像。结果显示,iRFP在椎体外的肌肉组织中表达5、 临床应用前景CFT是一种定量和敏感的临床成像方法,需要研究病变组织的细胞和分子功能。CFT的浆片切片特征允许检测在不同组织深度产生的光信号。光信号可以是内源性对比,可以捕获不同组织的异质性和生物学状态,包括肿瘤,或外部显像剂或选择性地在组织或肿瘤中积累的药物。在临床研究中,CFT提供了一个高度控制的切片环境,微米级的切片和精确的重建,使MR图像和Brock组研究的组织学之间的准确配准。组织学识别的组织MR信号的有统计学意义的差异被作为MRI和组织学体积之间相关性特异性的指标。CFT提供了精细切片和组织病理学处理的结合,可以支持其工作所需的冷冻膜带转移,这将通过重建高分辨率的三维组织学体积.CFT作为补充成像模式,把体内成像和组织成像密切连接,数据的可视化,结构化,3D三维成像,能够很好的还原细胞和分子的功能。
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  • LIGNOSTATION年轮工作站 400-860-5168转1432
    仪器简介:LIGONSTATION年轮工作站是目前年轮研究中功能最强大的仪器,它可以测量年轮密度,木质部导管直径,密度,排列次序等指标,而且有着20µ m的超高分辨率。结合近年的气候和植物生长数据,可以完美的反推出历史的气候和植物生长情况。 最新型LIGNOSTATION树木年轮工作站,不仅包括测量设备,还包括表面抛光等预处理设备,确保树木年轮变化和木材密度的测量的高精度。系统运用高频射线取代X射线作为扫描探针,增加实验工作的安全性。工作原理:系统运用高分辨率的数字化高频射线探针扫描,并结合显微照相探头,对树木生长锥样芯或年轮盘片进行树木年轮与密度的测定。 订货信息: LignoTrim:高精度的木材表面切割器 LignoScan:高精度的电磁木材密度扫描仪 LignoScop:高精度的木材表面显微照相扫描仪 LignoVision:图象分析的软件 可根据使用目的进行配置: 表面抛光:LignoStation + LignoTrim 密度分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScan 光学分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScop 光学与密度分析:LignoStation + LignoTrim + LignoScan + LignoScop技术参数:技术指标: 1. 使用一个高频电子传感器进行密度测定(不使用x-射线放射原) 2. 图像分辨率:= 20µ m (=1/50mm) 3. 使用高精度的照相机进行光学扫描 4. 测量对象:树木生长锥样芯,以及树木年轮盘片 5. 最大测量长度:500mm主要特点:主要特点: 高分辨率的扫描系统 无需加装胶片 自动化的系统 设计精巧,结构紧凑 易于操作 安全:使用高频射线替代X光射线,不会有X射线的放射危险
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  • 仪器简介:外延片PL谱扫描成像仪用于快速在线检测发光二极管外延片的质量,主要用于发光二极管外延片和芯片生产线.生成高分辨率的图谱和测定薄膜厚度等。本仪器为外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈.为高效高质量生产提供可靠保证。本成像仪现已成功应用于多条LED外延片生产线上。逐点扫描检测计算机分析计算外延片的积分光强,主波长,峰值波长,光谱半宽等参数以绘图形式显示分布和数据截面分布囤,显示单点光谱显示各个参数的统计结果显示选择范围的各项统计参数可进行局部扫描,并对扫描结果进行去孤立点和去边处理采用白光反射谱测量薄膜厚度并以绘图形式显示分布和数据配备离线数据处理软件本成像仪可靠。结构紧凑。全部检测和数据处理由计算机自动完成。采用用户友好的窗口界面,操作简便。用户仅需最小的培训就可使用。另外可根据不同外延片,选配不同的激光器。技术参数:1 、光致发光样品腔 10x M-Plan镜头颜色修正,波长范围:350-1800nm 工作距离:30.5mm, 20mm FL, z轴可调 系统空间分辨率:10微米(1微米选配) 镜子带孔洞作为激光束及PL信号的通道 Iris光圈用于激光束的调整 可变ND过滤器用于激光能量的控制(99% to 2%) 10毫米孔洞PL信号校准镜头 马达控制的XY台,最大速度30毫米/秒,1微米扫描分辨率 2 & 4外延晶片样品盘 包括高分辨控制器和电缆 2、IG512近红外光谱仪,900-1700nm, 512像素, InGaAs阵列 25um x 500um像素尺寸,14bits, 2.5MHz数字转换器, f/4, 40mm FL 探测范围:900nm全谱,300gr/mm, 1um blaze grating 包括SMA905, 400um多模光纤,1米长 3、EPP2000-VIS(350-1150nm)用于紫外-可见光,衍射光栅光谱仪 f/4, symX-Czerny-turner类型 分辨率:1.6nm (50um狭缝,@600gr/mm grating) 包括2048像素CCD探测器,12bit数字转换器 600gr/mm grating 接口:USB-2&平行 SMA905光纤光学输入,0.22NA,400um多模光纤,1米长主要特点:仪器特点 高品质及中等价位的PL扫描系统(高性价比); 波长范围宽广(UV-VIS-NIR, 350nm to 2.2um); 噪声低,高PL信号探测; 设计紧凑,易于调谐; 各种激发激光源可选; 易于发现峰及FWHM;
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