厚度仪

仪器信息网厚度仪专题为您提供2024年最新厚度仪价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括厚度仪参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的厚度仪您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合厚度仪相关的耗材配件、试剂标物，还有厚度仪相关的最新资讯、资料，以及厚度仪相关的解决方案。
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厚度仪相关的厂商

  • 南京厚方贸易有限公司
    公司位于长江大桥入口，建宁路98金海市场，交通方便。经营的产品：工程检测及试验仪器（非金属超声波检测仪，数显回弹仪，楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪，基桩检测仪，低应变检测仪，裂缝测宽仪，裂缝测深仪，钢筋锈蚀仪，工程检测工具）测绘仪器（全站仪，经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪）；建筑装璜仪器（激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺，投点仪）；；勘测仪器（地下管线仪、测深仪）；通讯设备（对讲机，手持GPS,RTK GNSS）；工业检测仪（接地电阻，漏电开关，红外测温仪，风速计，噪音计，照度计，拉拔仪，金属探测仪）
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  • 厚礼博精密仪器（北京）有限公司 银牌9年
    400-860-5168转3789
    厚礼博精密仪器（北京）有限公司是全球顶级热式质量流量控制器（MFC）制造商HORIBA STEC的全资子公司，以研发、生产、销售热式质量流量控制器为主业的高新技术企业。公司采用HORIBA STEC的国际先进技术，以日本品质、中国制造为宗旨，研发、生产、销售具有国际标准并符合国内市场的质量流量控制器。产品广泛应用于太阳能光伏、分析仪器、光纤、真空镀膜等领域，同时在石油化工、热处理、冶金、食品制药等领域也有充分的运用。
    主营产品： 气体流量计   光泽度仪   空气净化系统   其它物性测试  
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  • 深圳善时仪器
    公 司 简 介深圳市善时仪器有限公司是一家研发、制造、销售金属成份分析、环保、镀层厚度分析等领域光谱仪器的民营高科技公司，公司以技术、品牌、质量、服务为核心，为国内外客户提供高质量、高性能和平价的金属成分与环保分析检测仪器产品及解决方案，产品居国内同类产品领先地位。产 品： 公司研制的金属分析光谱仪，集金属成份分析、RoHS检测、镀层厚度检测于一体，具备极高的性价比。产品广泛应用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业，对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济实用价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证，本公司所生产的金属分析光谱仪的精确度及性能居国内同行业领先地位，测试范围由RoHS的六种物质扩大到六十几种元素，而且还可以按照自身要求任意添加，该系列仪器在满足普通RoHS环保检测的基础上，还可对金属材料成份进行精确的定性定量分析，填补了中国金属分析领域在此方面的空白，可与国外发达国家的同类设备相媲美。 公司立足高端、面向未来，致力于研发制造技术更高端、功能更全面、布局更完善的光电检测分析仪器，形成用于金属、非金属成分分析检测的ICP离子、激光、荧光、火花直读等品类系列及用于环境、食品、有机物成分检测分析的仪器的完整系列产品，让公司步入世界一流同类企业行列。科 研： 公司研发队伍强劲，并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授、韩国ISP公司携手合作，以欧美现有技术为基础，在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时，还拥有多项独有的**技术和差异化产品，多项核心技术处于国际领先水平。质 量：公司视产品质量为企业之基，依据ISO9001质量控制体系和ISO14001环境管理体系，对已定型产品在其来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关，确保产品的性能和质量精优，多个产品系列已获得欧盟CE认证、UL认证证书。服 务：公司专门成立营销管理中心，销售、服务网络覆盖全国。同时在海外选设代理商。公司视客户为朋友，随时为用户提供耐心周到的售前、售中、售后支持和服务。欢迎广大客户前来垂询、参观、体验及购买。公司主要产品：金属成分分析系列：EDX-850A, EDX-1000，EDX-1050，EDX-1200，EDX-6800等广泛用于冶炼、矿山、机械加工、贵金属、电子电器等行业金属成分分析，分为非真空、真空两种类型，部分型号兼有功能升级空间。镀层厚度分析系列：iEDX-150(A)T，iEDX-150WT广泛用于PCB镀层分析、电子元器件等金属镀层分析领域，可同时增加RoHS功能。环保RoHS检测系列：iEDX-100A，iEDX-200AT广泛用于玩具、电子、塑胶、五金、皮革等行业有害重金属及卤族元素分析。液体、粉末类产品专用系列：WD-100S，WD-100SA广泛用于石油、石化、饲料、药品、食品等领域，专业检测各类液体、粉末样品，可同时分析多种元素，精度高，检测快，操作方便，简单易学。电阻式系列： iTG-B10 主要用于检测各类线路板覆铜厚度检测及特殊单层金属薄膜分析，无线手持式检测仪，方便、快捷，可随时随地检测产品。 近红外分析仪系列： SS601M，SS311M 主要应用在土壤，汽柴油，粮食，饲料、农药、医药等领域。
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厚度仪相关的仪器

  • 标线厚度仪 标线厚度 400-860-5168转0199
    ZMM5000标线测厚仪用途：在zui近几年，由于成本和质量等原因，涂层干的和湿的厚度变得越来越重要。ZMM5000是特别为测量路标干膜厚度而设计的。 ZMM5000路面标线测厚仪适用的范围：ZMM5000路面标线测厚仪 可快速测量路标的涂层厚度和类似涂层的高精度测量仪。适用包括或不包括反射线脚所有类型的路标。可直接在公路现场测量也可在实验室对样品测量。数字化显示，清晰易读。用于国家交通部门、公路实验室、路标制造单位。 特点：每分钟数显高精度测量结构。相对基础或路标本身的测量 技术指标：本体材质：电镀铝质测量范围：-12.5mm-+12.5mm解析度：0.01mm尺寸：180×70×76重量：880g选配：测量桥、打印机、单位转化数显器符合标准：EN13197 EN13212
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    厂商： 普利赛斯国际贸易（上海）有限公司
    品牌： ZEHNTNER
    型号： ZMM5000路标测厚仪
    价格： 5000元
  • 电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640 400-860-5168转1887
    电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg
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    厂商： 济南兰光机电技术有限公司
    品牌： 兰光/Labthink
    型号： Labthink C640H
    价格： 2万 - 5万元
  • 薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪 400-860-5168转3730
    薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围：0 ～ 2 mm（常规）、0 ～ 6 mm、10 mm（可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0 ～ 1000 mm进样速度：0.1 ～ 99.9 mm/s电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重：32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。
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    厂商： 济南赛成电子科技有限公司
    品牌： 赛成/saicheng
    型号： CHY - CA
    价格： 1000元
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厚度仪相关的资讯

  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 2em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "幕墙玻璃厚度检测仪/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "中国建材检验认证集团股份有限公司/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 2em "艾福强/p/tdtd width="161"p style="line-height: 2em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 2em "afq@ctc.ac.cn/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "□技术转让□技术入股□合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 2em "strong成果简介： /strongbr//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title="厚度检测仪.jpg" width="350" height="224" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 350px height: 224px "//pp style="line-height: 2em " /pp style="line-height: 2em "span style="line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术，通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度，厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度，还可以测量中空玻璃三层厚度（包括：玻璃厚度、空气层厚度），采用数字化技术，将所测结果直观的显示在液晶显示屏上，可以快速、直观的获得所需结果，并设有内部存储功能可以存储9次测量结果，方便用户使用，该仪器操作简单，携带方便，测试结果快速、准确特别适合于现场检测。 /span/pp style="line-height: 2em " 主要特点 br/ 操作简单：只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ 测量精度高：该仪器测量精度达到微米级。 br/ 测试速度快：测试时间1-2秒。 br/ 便于携带：该仪器尺寸合适重量轻。 br/ 稳定性好：多次测量结果无偏差。 br/ 具有存储功能：可以存储9次的测量结果并查看。 br/ 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ 技术参数： br/ 测量精度：微米级 br/ 物理尺寸：130*70*30br/ 开关频率：1-2秒 br/ 采样频率：10Hzbr/ 供电电压：9vbr/ 重量：200gbr/ 使用温度：-20℃- 40℃ br/ 机体重量：约1Kg/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 2em "strong应用前景： /strongbr/ 该仪器操作简单，携带方便，测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测，同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p
    时间： 2016-03-02
    作者： 产研-星羽
  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》发布实施
    近日，在广东省市场监管局指导下，由广东省计量院主持起草的JJF1965-2022《锡膏厚度测量仪校准规范》获国家市场监督管理总局批准发布实施。本规范的颁布实施，有效解决了锡膏厚度测量仪的量值一直无法获得有效溯源，不同仪器上测量结果差异较大的技术难题，进一步完善了精密几何量领域国家计量技术规范体系，促进了行业技术标准的统一，有利于集成电路产业、企业相关技术能力的提升。　　据了解，锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测集成电路板上锡膏印刷质量的仪器，它采用非接触式的光学测量原理，能快速、无损地测量锡膏的厚度、面积、体积等参数,其中，厚度是判断锡膏印刷质量的关键核心指标。以往由于缺乏相关的计量技术规范，各生产厂家在校正仪器时采用的方法和计量标准存在差异，导致测量结果的复现性较差，不利于产品质量的控制和不同企业间的产品验收。　　针对上述问题，在广东省市场监管局的指导下，广东省计量院和国家计量院、山东院、苏州院等单位专家组成规范起草组，对目前市场上锡膏厚度测量仪的生产厂家和用户开展广泛调研，深入了解仪器技术原理、客户需求和实际使用情况，经过反复论证和实验，确定了仪器校准的主要技术指标、操作方法和计量标准器要求等，并最终由广东省计量院主持完成校准规范的起草和报批。目前，该院联合研发了配套的多种规格计量标准器，并已为香港生产力促进局等多家粤港澳大湾区的客户提供了校准服务。
    时间： 2022-06-02
    作者： 牛亚伟
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时，我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说，如果你想要更多的保护，你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是，如果你将材料的厚度增加一倍，阻隔水平也会增加一倍，相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大？很少有人去了解的是，较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是，厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下，每次材料厚度增加一倍，渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中，1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day）。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day)，需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到，对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时，最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时，整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍，测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加，需要更多的时间（超过5倍）来测试样品以达到平衡。如图所示，渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件（例如WVTR和CO2TR的流速）和测试持续时间以确保平衡值时，需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
    时间： 2024-02-26
    作者： 膜康
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  • 多层涂镀层厚度测量用什么仪器

    基体是陶瓷，陶瓷上有层钼和锰的氧化物层，厚度10UM--50多UM，外层是镍层，厚度是1-10UM，请问用什么仪器可以测两层或多层厚度，暂时我了解了X荧光测厚仪，换有别的仪器可以测量吗

  • 绝缘厚度测量问题

    [font=&]请教各位老师，电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行？投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后，跟第一次测哪个点的顺序有关吗？GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分？8.2.4条款里面，护套的厚度测试要求就是“在任何情况下，应有一次测量在护套最薄处进行”，8.1.4条款里面，绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下，第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢！PS：在其它板块发了没有老师回复，所以在这里也求助一下，如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点，谢谢！[/font]

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厚度仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
    供应商： 上海螣芯电子科技有限公司
    品牌： 螣芯电子
    价格： ¥120000
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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