薄膜太阳能电池响应测量系统

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太阳能电池硅片清洗花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是用途：清洗别名：花篮、承载篮用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PTFE，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.特点：1.外观纯白色。2.耐高低温：可使用温度-200℃～＋250℃。3.耐腐蚀：耐强酸、强碱、王水和有机溶剂，且无溶出、吸附和析出现象。 4.防污染：金属元素空白值低。5.绝缘性：不受环境及频率的影响，介质损耗小，击穿电压高。6.耐大气老化，耐辐照和较低的渗透性。7.自润滑性：具有塑料中小的摩擦系数。8.表面不粘性：是一种表面能小的固体材料。9.机械性质较软，具有非常低的表面能。聚四氟乙烯（PTFE）系列产品：培养皿、坩埚、试剂瓶、试管、镊子、药匙、烧瓶、烧杯、漏斗、容量瓶、蒸发皿、表面皿、阀门、接头、离心管等。

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太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

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PFA花篮花篮适用于半导体、多晶硅、新能源、新材料、太阳能等行业；一般用于太阳能硅片摆放，清洗，泡酸拿上来等。英特格6英寸晶圆盒晶圆运输盒（ entegris PFA carrier）6英寸PFA cassette 高帮进口PFA材质6英寸清洗花篮为最大晶圆片提供支撑和保护作用，A194-60MB 晶圆运输盒对晶圆加工中的常用化学品都是耐受的。包括酸（盐酸，硫酸，氢氟酸和硝酸），碱（氢氧化钠，氢氧化钾，氢氧化铵，过氧化氢），醇，酮，氯化溶剂和氟利昂。温度限制：高温晶圆高温硅片输入极限温度为290℃。连续使用极限温度120℃。晶圆容量：25片型号:A194-60MB

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪： 1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用； 2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点： × 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径； * 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池； × 同时测量多个晶圆或太阳能电池； × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力； * 对晶圆表面进行图像分析； * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆； * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数： × 翘曲度测量范围：1-20微米； * 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间； * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）； * 光源：根据用户的应用而配备不同光源； * 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

超级多功能量子效率测量系统配件成功问世，一套量子效率测试系统可以测量：薄膜厚度, 折射率，透过率，光学常数, 光谱响应，外量子效率和 内量子效率。 多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池（器件）的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的 光谱响应（Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE,%） 多功能量子效率测量系统配件特色 ×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统（Free-Space Optics)， 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路，也不需要日常频繁地移动光学器件或维护，×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。 ×快速测量EQE/IQE测量（5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性）； ×真正全部匹配各种光伏技术（C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等）； ×根据用户的需求提供订制化服务； ×集成其它光学测量功能，如”薄膜厚度测量“功能。 内量子效率测量系统测量方法 多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流（Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源（LED), 使用高性能光电二极管作为参考，可对串联电池进行偏置测量（Biasing Measurement)。 多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率（IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率，标定（校准）单色仪的输出光谱带宽。 对于我们还有重要的配件供用户选择：安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。 多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建，不仅可以控制系统工作，处理电子和光谱测量，还具有极其广泛的拓展性。 软件采用”指导提示性”界面设计，指导用户一步步完成实验操作，从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。 量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块： 1) EQE－模块用于测量外部量子效率，控制所有二级模块如温度和偏置测量等》 2) IQE－模块用于反射率和透过率，计算内量子效率，定义单色仪的输出带宽，不要激光和特殊校准配件和程序。

这是一个量身定做的石墨烯产品。将您的基板发送到我们的实验室（包括您的订购ID和您的电子邮件地址作为参考），我们使用我们创新的方法把单层石墨烯转移在它的上面并发送到您指定的地址。我们已经成功地转移石墨烯到以下物质：设备、太阳能电池、发光二极管、黄金。氧化铝、眼镜和蓝宝石。石墨烯薄膜：增长方法：CVD合成、转移方法：清洁转印方法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度97%,外观：膜。覆盖范围95%、石墨烯层数量1，厚度0.345nm，场效应管电子流动率AI2O3 2,800cm2/VS，对二氧化硅来说流动率为3,500cm2/VS，表面电阻：170 Ohms/sq,尺寸10μm。

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，石英片厚度：500μm，平整度：弓：20μm，弯：30μm，粗糙度：6埃（在圆滑边），圆滑：双面，应用：太阳能电池、触摸显示器。光电探测器、聚光设备。

增长方法：CVD合成、转移方法：清洁迁移取样法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和投射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、有机发光二极管、正电子发射断层显像板、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

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TUBALL?INK透明导电膜改质剂 透明导电薄膜(TCFs) 被用作触摸屏、液晶显示器、太阳能电池和有机发光二极管的透明电极制造。OCSiAl的透明导电膜技术达到表面电阻110 奥姆/平方，透明度90%。我们的透明导电膜的优势是高产能的技术，低成本和导电纳米碳管薄膜的耐机械性能。TUBALL?透明导电薄膜具有以下关键的优势：? 适合于大批量生产。生产在室温下，不用真空沉积? 导电涂层优异附着性适合大部分种类的基材? 每平方公尺添加6mg的TUBALL，使透明导电膜的透明度可以达到89%，电阻达到110 OHM/SQ。TCF with TUBALL. SEM image. OCSiAl, 2014. OCSiAl在展会上展示了配备TUBALL?的透明加热器包装规格:250ml

高功率皮秒激光器---新产品!——High power picosecond laser新产品! EdgeWave的最新产品是PX-系列和QX-系列超短脉冲INNOSLAB激光器，其平均功率分别为100瓦和400瓦，脉宽为10皮秒，它们的结构十分紧凑，尤其适合微加工应用。您可以在2011年慕尼黑国际应用激光、光电技术贸易博览会(LASER World of PHOTONICS 2011) EdgeWave的展台(Booth C 1.230)上看到这些产品。PX-系列高功率皮秒激光器 ——PX -Series High power picosecond laserPX-系列是基于INNOSLAB激光技术的皮秒振荡放大系统：- 光束质量： M2 1.5- 脉冲能量达 1000μJ- 脉宽 10ps- 峰值功率达 100MW- 脉冲重复频率达 20MHz- 平均功率达 400W- 波长 1064、 532、 355、266nm主要应用：- 光伏产业，如:硅晶园的划片、打孔和切割；薄膜太阳能电池和晶硅太阳能电池导电层和绝缘层的烧蚀- 印刷工业，如: 印刷轮雕版- 显示领域，如: 构造导电层，横向连续硅结晶- 电子行业，如: 印刷电路板的钻孔和切割- 汽车行业，如: 燃油喷射阀门的制造- 工具制造和机械工程，如: 三维快速成型综述:

德国SARAD-EQF3200-EQF-3200便携式氡/钍&子体测量仪，技术参数，售后服务，办事处：1.测氡模组探头4 x 200mm2半导体离子注入式Si探头内置腔室大小整个气体回路空间250ml测量范围0 … 10 MBq/m3灵敏度快速氡3 cpm/(kBq/m3)，慢速氡7 cpm/(kBq/m3)响应时间快速氡12分钟，慢速氡120分钟测量/分析快速氡(不含Po-214)以及慢速氡(包含Po-214)钍浓度所有单个周期能谱以及浓度时间曲线子体探头探头400mm2离子注入式半导体探头, Alpha能谱范围 0-10MeV滤膜网状加强型滤膜, d=27mm, 1μm 孔径滤膜击穿，污染预警徒手更换滤膜，无需工具泵薄膜泵流量预设1.65l/min,最大3l/min, 流量精确可控测量范围0 … 1 MBq/m3 (EEC)灵敏度约 600 cpm/(kBq/m3) (EEC)响应时间 120 min测量/分析分别确定氡与钍的EEC与PAEC完全存储每个周期的能谱以及测量值钍的测量值，通过计算Po-212其时间曲线的积分获 得，从而在时间分辨率上表现更为优异Gamma-探测器(可选)探头一体化设计碘化钠探测器，内置光电倍增管与偏压闪烁晶体2“ x 2“能量范围 10keV – 2MeV分辨率 9% (Cs-137)测量/分析测量剂量率，2种确定核素的净放射性，完全存储每笔数据的能谱以及时间曲线探测器尺寸直径60mm，长度260mm5米长连线(可选102.附加探测器标准配件相对湿度 0 …100%, 精确度 ± 2%温度 -20 … 40°C, 精确度 ± 0.5°C大气压 800 … 1200mbar, 精确度 0,5% MW流量计0 … 4 l/min,精确度 ± 5%气体分析 (可选)CO, CO2, CH4, 可燃性气体, 不同测量范围水质分析 (可选)pH值, 氧化还原电位, 导电性等过程监测 (可选)压力，压差，流量，流速等气象学相关 (可选)风向, 风速, 等常规测量 可同时驱动所有探头，按照各自预设的测量方案进行测量测量时间方案存储16个预设测量时间方案，每个方案最多细分64 个步骤(自定义循环次数，或者自动无限循环)单个测量区间可选范围1秒至数周数据存储2 GByte闪存卡控制/显示 240x128点阵触摸屏数据接口USB, RS232供电部分内置12V 充电电池, 直流稳压电源可选外接12V汽车电源或者太阳能供电系统尺寸/重量235 x 140 x 255 mm / 6kg软件平台dVISION：仪器控制与数据传输,图形化管理，数据整理d CONFIG：对系统进行设置，新建/修改测量程序 方案(亦可通过GPRS，GSM,ZigBee-WLAN)扩展功能内置快速接线柱:预留8组模拟量输入，3组计数器输入，2个状态量 输入，6组开关量输出，定时器，PID自控单元/模拟量输出

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太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

激光晶圆划片机配件是专业为太阳能电池激光加工开发的小型太阳能电池激光划片机和晶圆切割机，它具有较小的尺寸，安装操作非常简单，比较适合小型的太阳能光伏产业用户和科研用户实验室使用。激光晶圆划片机配件使用了高精度的扫描振镜，可以加工5' ' 和6' ' 的晶圆硅片，太阳能电池激光划片机机配备的软件能够精确探测晶圆边缘,控制XYZ三维的光束定位，并监控激光功率等参数，为大学或科研院所提供了一种多功能,高精度的太阳能电池晶圆的加工设备,可以广泛用于晶圆激光打标,晶圆边缘隔离，晶圆背向接触烧结（Back contact laser fireing,BCLC)已经晶圆切割。激光晶圆划片机配件原理在制造晶体硅太阳能电池过程中通常使用p型晶圆，通过磷扩散形成n型层。这种n型层形成于太阳能电池表面，被称作发射极，当然此时也形成了p-n结。在对边缘未隔离之前，边缘电流会减少太阳能电池的效率。 现在通常使用激光晶圆划片机超快激光进行边缘隔离, 使用激光对距离上表面150-300微米的区域进行激光切割。太阳能电池激光划片机,这种切割深度不得小于发射极的深度(2-10微米）。我们在这套激光晶圆划片机配件中使用高精度的扫描振镜控制激光光束进行切割，并配备了一流的机械视图功能，可以实时探测到晶圆位置以及边缘隔离的精度, 配备的软件可以让用户在“科学研究“和”工业应用“两种模式下选择使用。

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