大概有十多层,薄的有几十纳米,厚的几百纳米,半导体量子井结构,薄膜之间因掺杂或载流子密度有所不同,载流子振荡可能会产生等离子激元与晶格震动的耦合,这样有没有可能分别测出每一层的拉曼光谱,或在拉曼光谱中找出每一层的特征峰?以前没做过拉曼测量,刚要接触,很多都不懂,谢谢回答!
公司想要仪器用来测试多层软管的厚度,但一般的光学仪器测试的不是特别准。在网上搜索到目前可以非光学系统测试多层薄膜、软管的[color=black][font=宋体]厚度测量仪有:[/font][/color][color=black][font=Arial] X-[/font][/color][color=black][font=宋体]射线测厚仪、[/font][/color][color=black][font=Arial]β-[/font][/color][color=black][font=宋体]射线测厚仪、近红外线测厚仪。想请教下大家哪位熟悉近红外线测厚仪?能否介绍下,最好有相关资料。要求能够[/font][/color][color=black][font=宋体]可测量多层材料每一层的厚度(一般为5层)。若有其他的仪器能够满足要求也可介绍下 谢谢!!如“超声波EVOH阻隔层测量系统”最后谢谢各位!![/font][/color]
有人测界面上单分子层或多层分子薄膜的红外光谱图吗?都怎么测的,信号怎么样?
本人打算从事多层聚合物复合薄膜的研究,想求教一下,在研究聚合物表面基团种类和分布、不同聚合物薄膜界面间的键合作用方式(界面间是那些基团相互作用)等等这些表面与界面基团作用时是用那些仪器进行分析表征???谢谢!
RT,多谢.最好是无机层状材料/聚合物层层组装的薄膜,或是阴离子聚合物/阳离子聚合物层层组装的薄膜。影响因子稍微高一点的期刊
请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么?
各位大侠! 本人需要测试玻璃基板上CuInGa合金表面的氧化情况,(具体需要知道氧化层的厚度,分布和成分),用什么测试方法。高手指教谢谢!CuInGa的合金薄膜制备方法是磁控溅射,厚度大概几个微米。XRD小角可以看表面的氧化层吗?XPS能分析出氧化物吗?因为氧化膜很薄(估计几个纳米),所以不清楚这些仪器的能力是否可以达到。
GB/T 29336-2012 化妆品用共挤出多层复合软管.pdf
[color=#cc0000]摘要:针对质子交换膜燃料电池中气体扩散层材料厚度方向导热系数测试,介绍了气体扩散层在压缩等条件下进行测试的几种有效测试方法,并分析了稳态法和瞬态法的特点、局限性和应用中存在的问题。并针对瞬态法开展了深入研究,提出了一种更实用的新型测试模型结构。[/color][color=#cc0000]关键词:燃料电池,气体扩散层,导热系数,温度波法,激光闪光法[/color][align=center][color=#cc0000][img=气体扩散层导热系数测试,690,454]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152122447766_8811_3384_3.jpg!w690x454.jpg[/img][/color][/align][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][b][color=#cc0000]1. 概述[/color][/b] 质子交换膜燃料电池中的气体扩散层(GDL)材料呈现明显的各向异性特点,而且厚度很薄,也就是气体扩散层材料是微米量级的物理尺度。在如此小的物理尺度下对薄膜材料性能进行准确测量评价,势必面临着严峻的技术挑战,这种技术挑战完全是薄膜材料面内方向热物理性能测试无法比拟的,毕竟物理尺度不在一个量级上。因此,上海依阳实业有限公司针对薄膜材料,特别是质子交换膜燃料电池中的气体扩散层薄膜材料,对厚度方向导热系数测试技术进行研究,以在实际工程应用中建立起测量准确性高、且操作简便的测试方法和测试仪器。[b][color=#cc0000]2. 气体扩散层厚度方向导热系数测试要求[/color][/b] 根据目前质子交换膜燃料电池中的气体扩散层(GDL)材料的现状,GDL薄膜材料在厚度方向上的导热系数测试,要考虑以下几方面的特性: (1)各向异性条件:如文献报道,各种GDL材料的面内方向和厚度方向导热系数分别为3.5~15W/mK和0.2~2W/mK。这基本就确定了GDL薄膜厚度方向导热系数变化范围大致为0.05~5W/mK,这个范围基本就是非金属薄膜材料的导热系数范围。 (2)厚度范围:各种GDL材料的厚度基本都在100~500范围内。 (3)压缩力条件:在燃料电池装配过程中会对GDL产生一定的压缩力来改变电池性能,加载到GDL上的压力范围一般为1MPa以下,最大不超过6MPa。 [b][color=#cc0000]3. 测试方法及其特点分析[/color][/b] 薄膜材料的导热系数测试方法众多,但由于GDL被测样品要在上述加载压力下进行测试,有些方法并不适合。合适的测试方法基本上分为稳态法和瞬态法两类。[color=#cc0000]3.1. 稳态法3.1.1. 稳态热流计法[/color] 对于薄膜和薄层材料厚度方向导热系数的测试,最常用的方法是A-S-T-M D5470。由于这种方法基于稳态热流测量,所以通常称之为保护热流计法或恒定热流法。另外,由于这种方法可以对被测样品加载可控的压缩力和对接触热阻进行测量,使得这种方法在大多数GDL厚度方向导热系数测量中得到应用。[align=center][img=,690,547]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152116413556_4706_3384_3.jpg!w690x547.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图3-1 气体扩散层(GDL)厚度方向导热系数测量装置示意图[/color][/align] 如图3-1所示,在稳态热流计法中,GDL样品夹在上下两个热流计棒之间。上热流计顶部与热板接触,下热流计棒底部与冷板接触,因此通过柱形棒轴线方向从顶部到底部存在连续的热流,实验装置也设计成热量仅允许沿轴向传递。通过温度传感器测量棒上的温度分布梯度(如图3-1所示,并排放置,在顶部和底部棒上具有相同间隔),施加到GDL样品上的压缩载荷也通过负载装置控制。在达到稳态条件下,分别测量流经样品的热流、样品厚度方向上的温差和样品厚度,就可根据稳态傅立叶传热定律计算得到GDL样品厚度方向上的导热系数。[color=#cc0000]3.1.2. 准稳态法[/color] 准稳态法是一种介于稳态和瞬态方法之间的一种导热系数测试方法,在板状被测样品的一面线性升温和降温过程中,在一维热流边界条件下,样品的冷热面温差会逐渐趋于一种相等状态,这个动态过程中的稳态阶段,就称之为准稳态。通过准稳态下的测量可确定被测样品导热系数随温度的实时变化曲线,准稳态法导热系数测试所对应的标准测试方法为A-S-T-M E2584。 准稳态法的测量原理如图3-2所示,Zamel等人采用准稳态法对用作GDL的碳纸在厚度方向的导热系数进行了测量,并测量了温度、压缩和PTFE加载对碳纸厚度方向导热系数的综合影响。在测试中所用的样品材料为日本东丽TPGH-120型号的碳纸,单张碳纸的厚度为370μm,被测样品由6层碳纸组成,总厚度为2.22 mm。测试温度范围为-50~120℃,压缩力大小最大为1.6 MPa。如所推测的那样,在碳纸未经处理和经PTFE处理过的不同情况下,随着压缩增加,导热系数增加。此外,他们还观察到温度的升高导致厚度方向导热系数提高。这种行为与面内导热系数研究的测量结果形成对比,表明碳纤维的热膨胀具有方向依赖性。[align=center][img=,690,561]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152117126996_6136_3384_3.jpg!w690x561.jpg[/img][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-2 准稳态法GDL厚度方向导热系数测量原理图[/color][/align][color=#cc0000]3.1.3. 稳态法应用中存在的问题和局限性[/color] 目前GDL厚度方向导热系数测量的大多数都是采用稳态测量方法,从文献报道上来看基本都是采用自行搭建的测试仪器。稳态法的最大特点是原理模型简单,这往往误导了很多此方法的使用者。因为稳态法原理模型所要求的边界条件非常苛刻且实现难度大,要做到对薄膜类材料导热系数准确测量需要非常精密的加工制造和复杂的校准过程,所以很多国外商品化稳态法测试仪器往往很昂贵,而这些往往是自行搭建仪器最容易忽略的关键内容,由此带来的结果就是测试数据波动性大和误差大,不同文献往往会得出相反的结论。 迄今为止,已经尝试了实验性努力以使用稳态法了解压缩对厚度方向导热系数的影响。用稳态法Khandelwal和Mench测量了温度在+26~+73℃范围内对TORAY碳纸导热系数的影响,他们报告了导热系数随温度升高而降低。他们的测量是在2MPa的压缩力下进行,该压缩力大小代表着接触热阻最小化的压力。在同一项研究中,他们还测量了Teflon对SIGRACET碳纸处理的影响,并表明在碳纸上添加PTFE会大大降低其导热系数。 在文献中还研究了压缩和添加PTFE对多个制造商碳纸的总导热系数的影响,观察到的一般趋势是厚度方向导热系数随着压缩压力的增加而增加,这主要归因于碳纤维之间总接触热阻的降低。在Burheim等人的研究中,他们研究了压缩、厚度、PTFE和液态水对碳纸的厚度方向导热系数的影响,他们报告说,添加PTFE会导致整体导热系数降低,而压缩和液态水会导致这种性能提高。此外,他们的主要观察之一是具有不同厚度的TORAY纸显示出不同的导热性,他们将这一发现主要归功于这种碳纸的制造过程,而且他们假设较厚的样品是通过将较薄的样品堆叠在一起而制成的。 在Nitta等人的研究中报道了,尽管施加的压力高达5.5MPa,但发现TORAY碳纸的导热系数与压缩压力无关,他们认为这种趋势主要是由于通过空气的热传递引起的,尽管其导热系数低于固体碳纤维的导热系数。值得注意的是,根据TORAY材料的规格参数,不考虑纸张厚度时,TORAY碳纸厚度方向导热系数在室温下为1.7 W/mK。没有关于TORAY所使用的测量方法的公开信息,此外,在已发表的文献中关于获得该值所需的压缩压力存在很大差异。例如,根据Khandelwal和Mench和Burheim等人的研究,压缩压力对整体导热系数有显著影响,而在参考文献中可以看出这种情况并非如此。 通过对大量文献进行分析,发现在气体扩散层(GDL)厚度方向热导率测试中很多研究机构选择稳态法测量导热系数,主要出于以下几方面的考虑: (1)同时兼顾气体扩散层样品面内方向导热系数的测试。 (2)同时兼顾气体扩散层样品厚度方向电导率的测试。 (3)可进行仪器结构扩展以兼顾薄膜样品面内方向电导率和导热系数的测试。 由于在稳态法测试仪器研制过程中,缺乏对测试模型和边界条件的深刻理解,缺乏仪器设计和高精度制造的能力,缺乏校准和考核仪器的技术手段,以及稳态法自身存在的局限性,这些都会造成稳态法测试仪器对薄膜导热系数测量产生较大误差,使得薄膜热物理性能变化规律很容易淹没在仪器的系统误差内。 纵观各种稳态法测试仪器,在薄膜材料厚度方向导热系数测试应用中普遍存在的问题以及测试方法固有的局限性主要表现在以下几个方面。 (1)温度传感器的选择:温度测量的准确性差是目前稳态法薄膜导热系数测量的最严重问题。温度测量涉及到流经薄膜样品厚度方向热流测量和薄膜样品厚度方向上两个表面上的温度差,因此温度测量对导热系数和热阻测量精度有着直接影响。尽管在稳态法中温度测量可以是相对形式(温差值),但对温度传感器的灵敏度、稳定性和一致性要求非常高。绝大多数自制稳态法仪器普遍采用细径铠装热电偶进行测温,采用细径主要是为了减少铠装热电偶金属套管带来的侧向散热损失。而热电偶是一种测温精度较差的温度传感器,在常温附近更容易引起较大误差,所以热电偶的测温精度根本无法满足要求。但如果选择精度合适的电阻温度传感器,则会增大传感器尺寸,带来更大的定位误差,同时会增加传感器自身导热带来的散热损失。 (2)温度传感器的校准和配套措施:温度传感器除了在安装前需要进行自身校准之外,因为温度传感器还涉及到热流测量和样品表面温度的推算,安装后的温度传感器还需要进行一系列的在线校准来对传感器和装置做出准确的评估和合理的修正。另外,为了防止温度传感器引线带了的侧向热损,需要配套专门用于热电偶引线的热防护装置,这势必使得整个测量装置非常复杂。A-S-T-M D5470只是给出了原则性的规定,并没有详细的描述,这方面内容在A-S-T-M C177中有着详细描述以及试验考核验证过程。 (3)对于薄膜厚度方向导热系数测试,薄膜样品厚度,特别是在线受压时的厚度要求均匀性要好,这就对测量装置的机械移动机构和在线厚度测量机构提出非常高的要求,位移、平行度和位移测量至少要达到微米量级精度,否则很容易在加载压力过程中使得薄膜样品产生倾斜而带来很大的热阻和导热系数测量误差。同时,还需要测试仪器在整个生命周期内始终保持这个高精度。 (4)综上所述,可以将稳态法导热系数和热阻测量装置等效看作是一个精度更高的大号螺旋千分卡尺,位移及其厚度测量精度至少优于10微米,而且还要保证平行度,同时还要布置上多只温度传感器及其主动和被动热防护装置。所有这些都会使得相应的稳态法测试仪器较为复杂,在选材、设计和加工制作中要十分谨慎,并经过一系列复杂的校准和考核试验后,仪器才能正常使用。目前我们看到的国内外大多数自制的稳态法测试仪器,包括国内一些仪器厂商生产的一些低价的稳态法测试仪器,只能属于教学类仪器,根本经不起规范的考核验证的检验,无法真正在科研生产中进行准确测量,使得很多材料特征及其变化规律往往淹没在巨大的测试误差范围内。[color=#cc0000]3.2. 瞬态法[/color] 瞬态法不同于稳态法需要人为加载一个较大的温度梯度,瞬态法测量时只是在稳态样品上施加一个1℃左右的微小温度扰动,测量由于温度扰动所引起的温度幅度或相位变化,测试过程更快捷,测试边界条件更接近于薄膜材料的真实使用环境,直接得到的测量结果往往是热扩散系数。尽管瞬态法理论模型和数据处理十分复杂,但测量装置十分简单,可以直接放置在各种实际应用环境中进行测试,特别适用于老化过程中薄膜材料性能的实时衰减考核。 在ISO 22007标准测试方法中,比较全面的对各种瞬态法做出了规定。但针对气体扩散层(GDL)厚度方向导热系数在压力加载过程中的测试,比较合适的瞬态法是温度波法和激光闪光法。由于瞬态热线法和平面热源法测量的是体积导热系数,无法明确测量厚度方向导热系数,并不适合各向异性GDL厚度方向导热系数测试。[color=#cc0000]3.2.1. 温度波法[/color] ISO 22007-3规定了一种温度波分析方法,用于确定薄膜和塑料板在整个厚度方向上的热扩散系数。温度波法是一种通过测量样品前后表面之间温度波的相移来测量薄而扁平样品厚度方向热扩散系数的方法。使用在样品两个表面上溅射或接触的电阻器,一个作为加热器,通过交流焦耳加热产生温度波,另一个作为温度计来检测温度波。 ISO 22007-3中给出了温度波法测量装置示意图,如图3-3所示,同时还给出了直接溅射到薄膜样品前后表面上的加热器和传感器元件的示例,如图3-4所示。[align=center][img=3-3 温度波法热扩散系数测量装置示意图,690,473]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151925076294_8710_3384_3.jpg!w690x473.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图3-3 温度波法热扩散系数测量装置示意图[/color][/align][align=center][color=#cc0000][img=3-4 加热器和传感器单元示例,690,381]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151925274567_6425_3384_3.jpg!w690x381.jpg[/img][/color][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-4 加热器和传感器单元示例[/color][/align] 从上述描述中可以看出,温度波法测量装置包括彼此面对的微加热器和温度传感器,样品安装在它们之间。向加热器提供弱的正弦电功率信号,在样品表面上产生温度波。温度传感器是一种高灵敏度电阻传感器,它使用前置放大器在将弱信号进入锁相放大器之前对其进行放大。观察到的温度信号是激发温度波和背景温度信号的混合,例如环境的温度。在交流测量中,锁定放大的一个优点是能够提取和分析信号中仅一个指定频率分量的变化,抵消室温变化的影响(误差的主要来源)以及噪声成分实现高灵敏度测量。通过将实际施加的温度波幅度限制在1℃以内或更低,可以有效地抑制对流和辐射,并确保几乎不损坏样品。此外,如果采用极小的传感器尺寸则可识别更小样品区域内的热扩散系数。 由此可以看出,在样品的夹持、厚度控制和测量方面,温度波法与稳态法基本相同,温度波法也可以在测量过程中对样品加载一定的压力,但温度波法则规避了稳态法温度和热流测量方面的复杂问题,并采用交流加热和锁相放大技术可以有效的提取测量信号和减少误差,可以对薄膜材料进行高灵敏测量。 温度波法对薄膜热性能测试有着明显优势,Morikawa和Hashimoto采用此方法对芳香族族聚酰亚胺薄膜厚度方向热扩散系数进行了测量,获得了10~570K温度范围内厚度范围为0.1~300μm的薄膜热扩散系数。 但从图3-4所示的样品制备中可以看出,需要在薄膜样品的两个表面上进行繁琐的溅射工艺处理,这明显制约了温度波法的广泛应用,这也是ISO 22007-3温度波法标准颁布这么多年来一致没有推广使用的主要原因。[color=#cc0000]3.2.2. 激光闪光法[/color] 在ISO 22007-4对激光闪光法也做出的规定。激光闪光法的原理是使用短能量脉冲(通常由激光提供)照射样品的正面,并使用红外探测器记录样品背面的后续温度升高。从样品背面的温度-时间曲线的形状和样品厚度,可以确定样品的热扩散率。对于具有多孔或透明性质的薄膜材料,它们必须在测试前进行涂覆以确保分别在前后面进行吸收和发射。激光闪光法测量原理和样品表面处理如图3-5所示。[align=center][img=,690,236]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901152117530286_1398_3384_3.jpg!w690x236.jpg[/img][/align][color=#cc0000][/color][align=center][color=#cc0000]图3-5 激光闪光法测量原理和样品表面处理示意图[/color][/align] 激光闪光法最大的特点是非接触测量,很容易进行各种温度下的测试,因此激光闪光法在薄膜热物理性能测试中应用十分广泛。但对于气体扩散层(GDL)这种特殊薄膜材料的测试,采用激光闪光法则存在以下问题: (1)气体扩散层(GDL)是一种多孔材料,相对于激光而言属于透光材料,在采用激光闪光法测试是需要对GDL样品进行表面处理,需要镀金和喷涂石墨来进行遮光处理,但这样的样品表面处理会使涂层材料通过孔隙进入GDL样品而对测量结果带来严重影响。 (2)GDL薄膜材料需要在可控压力加载情况下进行测试,而普通的激光闪光法测量装置并不具备压力加载和控制能力,由此使得激光闪光法很少用于GDL导热系数的测试。[color=#cc0000]3.2.3. 瞬态法特点和应用中存在的问题[/color] 在薄膜材料热性能测试方面,稳态法与瞬态法有着明显区别和各自的显著特点。 稳态法是基于温度和热流处于不随时间变化的稳定状态下进行测试的一种方法,测量薄膜材料热性能基本是基于较厚块体样品的测试软硬件体系。而在薄膜材料稳态法测试过程中,由于样品厚度的减小,相应的被测信号(如温度和热流)相应的也会变小,这使得在块体样品测试中一些并不明显的问题得到了放大和凸出,如温度传感器精度、热损影响和测量表面精度等。为了解决因样品变薄所带来的一系列问题,就需要增加相应的辅助措施来保证测试满足边界条件,从而造成测试设备整体十分复杂,并需要进行一系列的校准验证考核试验,但效果并不十分明显。从另一个方面来看,稳态法是在块体材料热性能基础上发展起来的测试方法,对于较大尺寸的块体样品测试技术非常成熟和稳定。为了进行薄膜材料测试,在稳态法上做的任何工作都是在挖掘稳态法的潜力,是对稳态法测试能力区间的下限进行进一步的拓展,但毕竟是测试能力下限,受到了稳态法自身的制约,这种扩展空间十分有限且效果很难保证。这也是市场上没有可用于薄膜材料热性能测试仪器的主要原因。 瞬态法与稳态法恰恰相反,瞬态法是基于样品材料对热激励动态响应的一种测试方法,被测样品越薄,对热激励的响应越快,所以瞬态法的核心是检测物理量随时间变化快慢的问题。同时,在被测样品对热激励的快速响应过程中,周围环境和其他边界条件的影响反而变得很小,这就是瞬态法测试设备往往比较简单的主要原因。最主要的是,随着技术的发展,块体样品(特别是薄膜材料)对热激励的动态响应时间,在当前的电子检测技术面前都不属于快速测量范畴,采用目前的各种电子技术手段很容易对热激励响应进行快速和准确测量。从另一方面理解,就是针对材料的热性能测试,瞬态法可以针对不同被测样品厚度范围(响应时间)采用相应响应频率范围的电子仪器和设备来实现准确测量,而目前电子仪器设备的测试能力要远远超过薄膜材料热性能测试的需求。这就是瞬态法自身的最大优势,同时也是目前市场上薄膜材料热性能测试仪器大多采用瞬态法的主要原因。 瞬态法与稳态法一样,在实际应用中都存在以下几方面的共性问题: (1)在线厚度的均匀性和准确测量问题:样品尺寸越大,样品厚度越小,厚度均匀性越难保证。稳态法由于要布置多只温度传感器而使得样品面积尺寸没有多少减少余地,所以在厚度均匀性保证上有一个极限值。但瞬态法在样品尺寸变化上则有很大空间,瞬态法可以根据激励源和探测器的尺寸来改变样品尺寸大小,样品可以做到很小尺寸,如激光闪光法样品尺寸可以做到直径5~12mm,温度波法样品尺寸还可以更小,由此使得瞬态法更容易保证样品厚度的均匀性以及在线准确测量。 (2)接触热阻问题:无论是稳态法还是瞬态法,测量中都会面临接触热阻问题,在薄膜材料测试中会更为明显。稳态法解决接触热阻问题是通过测量一系列相同材质和表面状态但厚度不同的样品,通过测试结果推算出接触热阻。但对于薄膜材料而言,一系列不同厚度薄膜样品很难加工制作,另外薄膜厚度均匀性问题也会造成接触热阻测量误差很大。因此无论是稳态法还是瞬态法,采用变厚度测量方法测试接触热阻只能算是一种无奈之举。在瞬态法测试过程中,可以将接触热阻看作是另一种材质的样品薄膜,整个测试模型就可以看作是一个多层薄膜结构的测试问题。只要采用瞬态法测量结果推算出各分层样品的热性能参数,就可以消除接触热阻的影响。随着瞬态法理论模型的发展,目前已经找到多层结构求解的技术途径,还需要进一步的模拟计算和试验考核以验证此方法的准确性和可靠性。 (3)多层膜问题:大多数薄膜材料在实际应用中都是沉积在基材上,或是与其他薄膜材料进行复合后使用,呈现单层结构并能用于测量的薄膜材料很少,因此更有应用价值的是多层膜的测试问题,特别是对于多层膜样品要能够测试出各个单层薄膜的热物性参数,同时还要考虑压缩力等外部环境条件。多层膜问题与接触热阻问题类似,核心都是一个根据瞬态法测量结果求解单层膜信息的科学问题。[b][color=#cc0000]4. 瞬态法测试技术的深入研究[/color][/b] 从上述瞬态法特点和存在问题中可以看出,对于薄膜材料,特别是对于质子交换膜燃料电池气体扩散层薄膜材料,瞬态法测试中很大的问题是要对每个被测气体扩散层样品进行表面加工和处理,这显然会增大测试的难度和工作量。如果样品材料的刚度不够而发生皱着和弯曲,则会很难制造合适的被测薄膜样品,因此薄膜测试中被测样品的制作和提取一直是个比较棘手的问题。 我们通过分析,对瞬态法测试技术进行了更深入的研究,特别是在被测样品环节提出了一种新的试验方法。这种新方法就是不在被测样品上进行任何处理,将原来对样品表面的处理转移到两片基材上,通过两片基材把被测样品夹持在中心位置来达到样品表面处理的相同效果。新方法的原理如图4-1所示。[align=center][img=4-1 新型瞬态法测试模型原理示意图,690,396]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901151926256162_9109_3384_3.png!w690x396.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图4-1 瞬态法新型模型原理示意图[/color][/align] 针对不同的瞬态测试方法,这种改进后的瞬态法模型可以有不同结构形式,并具有以下几方面的功能和特点: (1)对于温度波法而言,基体就相当于图3-4中的背板,可以将加热器、探测器和电极引线直接溅射在背板上,然后将被测薄膜样品加持在两块背板之间。这样避免了对被测样品的表面处理,通过已经制作成型的背板对各种样品进行测试。 (2)不对样品进行表面处理,可以避免直接在样品表面进行沉积涂层过程中涂层材料进入多孔薄膜对测量结果的影响,这对于气体扩散层这种多孔材料的导热系数测试尤为重要。 (3)对于激光闪光法而言,基体材料为刚性透明材料,激励层和探测层为沉积在基体材料表面的金属材料,然后表面在喷涂石墨层。这相当于将以往对透明样品的表面处理形式挪用到对基体材料的表面惊醒处理。作为激励源的激光脉冲经过透明的基体材料照射到激励层使得激励层温度快速升高,同时热量穿过被测样品到达探测层。探测层的温度变化透过透明基体被探测器检测,这个测试过程与普通激光闪光法完全相同,不同的是要考虑热量在多层结构中的传递,而不是以往那样仅有被测样品一层。在实际薄膜激光闪光法测试过程中,经过表面处理后的样品,也应该按照多层结构进行数据处理才能真正得到薄膜样品的测量结果。 (4)采用新型结构形式的激光脉冲法,同样规避了每次测试薄膜样品都需要进行表面处理的繁琐程序,做多每次需要再在基体表面喷涂石墨以增加发射率。 (5)从理论上来说,激光闪光法也可以看作是温度波法的一种特殊形式,普通温度波法是周期性热激励和周期信号检测,而激光闪光法则是单脉冲式的热激励和单个温升信号检测。因此,如果将激光单脉冲激励源更换为连续激光加周期性调制,使得经过激光束按照一定周期对激励层进行加热,这就相当于温度波法,但可以实现非接触测量。 总之,采用瞬态温度波法可以很好的进行压缩环境下薄膜材料的热物性测试。如果能解决多层模型的单层热性能参数的提取问题,解决接触热阻的影响,温度波法将更为准确和实用,同时也为激光闪光法开辟了更广泛的应用领域。[b][color=#cc0000]5. 参考文献[/color][/b] (1) Zamel N, Litovsky E, Shakhshir S, et al. Measurement of in-plane thermal conductivity of carbon paper diffusion media in the temperature range of?20℃ to+120℃. Applied energy, 2011, 88(9): 3042-3050. (2) American Society for Testing Material Committee, A-S-T-M D5470-17 Standard Test Method for Thermal Transmission Properties of ThermallyConductive Electrical Insulation Materials, A-S-T-M International, West Conshohocken,PA, 2011. (3)Khandelwal M, Mench M M. Direct measurement of through-plane thermal conductivity and contact resistance in fuel cell materials. Journal of Power Sources, 2006, 161(2): 1106-1115. (4) Nitta I, Himanen O, Mikkola M. Thermal conductivity and contact resistance of compressed gas diffusion layer of PEM fuel cell. Fuel Cells, 2008, 8(2): 111-119. (5) Karimi G, Li X, Teertstra P. Measurement of through-plane effective thermal conductivity and contact resistance in PEM fuel cell diffusion media. Electrochimica Acta, 2010, 55(5): 1619-1625. (6) American Society for Testing Material Committee, A-S-T-M E2584-14 StandardPractice for Thermal Conductivity of Materials Using a Thermal Capacitance(Slug) Calorimeter , A-S-T-M International, West Conshohocken,PA, 2007. (7) Zamel N, Litovsky E, Li X, et al. Measurement of the through-plane thermal conductivity of carbon paper diffusion media for the temperature range from?50 to+120° C. international journal of hydrogen energy, 2011, 36(19): 12618-12625. (8) Zamel N, Litovsky E, Shakhshir S, et al. Measurement of in-plane thermal conductivity of carbon paper diffusion media in the temperature range of?20° C to+120° C. Applied energy, 2011, 88(9): 3042-3050. (9) Ramousse J, Didierjean S, Lottin O, Maillet D. Estimation of the effective thermal conductivity of carbon felts used as PEMFC gas diffusion layers. Int J Therm Sci 2008 47:1e6. (10) Burheim O, Vie PJS, Pharoah JG, Kjelstrup S. Ex situ measurements of through-plane thermal conductivities in a polymer electrolyte fuel cell. 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多层薄膜材料复合的产品能否用SEM+EDS测试分析膜材层间的缺陷与异物,及异物的具体成分?复合品的厚度大概50μm-200μm,SEM+EDS比较好的品牌有哪些?
各位大侠! 本人需要测试玻璃基板上CuInGa合金表面的氧化情况,(具体需要知道氧化层的厚度,分布和成分),用什么测试方法。高手指教 谢谢!CuInGa的合金薄膜制备方法是磁控溅射,厚度大概几个微米。XRD小角可以看表面的氧化层吗?XPS能分析出氧化物吗?因为氧化膜很薄(估计几个纳米),所以不清楚这些仪器的能力是否可以达到。
X 射线散射和衍射对于厚度为几个原子层到几十微米的薄膜材料是灵敏的。一般而言,X 射线方法是非破坏性的,其中不要求样品制备,它们提供恰如其分的技术路线,以获得薄膜材料的结构等信息 分析能对从完整单晶膜和多晶膜到非晶膜的所有材料进行。本文评述了用X 射线方法表征和研究这类薄膜材料的新进展。全文包括引论、常用的X射线方法、原子尺度薄膜的研究、工程薄膜和多层膜的研究、一维超点阵结构研究、超点阵界面粗糙度的X 射线散射理论、不完整性和应变的衍射空间图或倒易空间图研究七个部分。 [~82518~][~82519~]
大家好!又有问题需要请教大家: 有没有人做过 双层薄膜的XRD 图谱,我有一批 Mo/Cu(InGa)Se2 双层 薄膜,想测下 这个双层的 XRD图谱,但是 结果 显示 上层薄膜 Cu(InGa)Se2 的特征峰 都能出来 ,而 下层 金属Mo 层的 特征峰 却不能出来,我的XRD 型号是X’PertPRO’s PANalytical X-ray diffraction (XRD) using CuKa radiation (l = 1.542Å),测试过程中 θ值 固定为 0.5。是不是 还需要修改 什么参数呀,请大家赐教,谢谢!
PCB抄板也叫克隆或是仿制,是指在原有电路板基础上进行逆向分析,将原有数据进行1:1还原,然后在利用这些文件,从而完成原电路板的复制。对于需要许多从事PCB抄板工作的人来说,对于单、双面板的抄板并不会感到陌生,但是对于多层的PCB 板许多人就会感到棘手。那么多层PCB抄板怎样进行呢? 元坤智造的工程师介绍说PCB多层板抄板设计技术,可以说多层板抄板和双层板抄板设计差不多,甚至布线更容易。 你有双层板抄板的设计经验的话,设计多层就不难了。 首先,你要划分层叠结构,为了方便设计,最好以基板为中心,向两侧对称分布,相临信号层之间用电地层隔离。 层叠结构(4层、6层、8层、16层): 对于传输线,顶底层采用微带线模型分析,内部信号层用带状线模型。6层/10层/14层/18层基板两侧的信号层最好用软件仿真,比较麻烦。 6层/10层/14层/18层等基板两侧是信号层,没有电地隔离,需要注意相临层垂直走线和避免交流环路。 如果还有其他电源,优先在信号层走粗线,尽量不要分割电地层。 其次,向厂家询问参数(介电常数、线宽、铜厚、板厚),以便进行阻抗匹配。这些参数不必自己计算(算了也没用,厂家不一定能做到),应由厂家提供。有了这些参数,就可以计算线宽、线间距(3W)、线长,这时就可以开始画板子了。 多层板有盲孔、埋孔、过孔三种,可以方便布线,但价格贵。有时需要减小板厚,以便插入PCI槽,而绝缘介质材料不满足要求(除非走私进口),此时可以变通地采用非均匀板,例如:中间14层,边缘2层来解决。 高速线最好走内层,顶底层容易受到外界温度、湿度、空气的影响,不易稳定。如果需要测试,可以打测试过孔引出。不要再存有飞线、割线的幻想,多层板已经不需要“动手能力”了,因为线在内部而且高频,不能飞,线很密也不能钻孔。养成纸上作业的习惯,确保制板一次成功,否则,就地销毁吧,眼不见心不烦。 对于多层PCB抄板的方法就为大家介绍到这里,不管是单、双层PCB抄板,还是多层抄板,在平时的工作中一定要细心加耐心,别外还有一个就是胆大,要积极尝试、多动手,这样才能完美的完成手中的工作。
请教各位,我想测量一个不透光薄膜的光吸收,但薄膜很难与基底分离。我是利用积分球,扫描完光吸收曲线后,再扫一遍薄膜生长的基底的吸收曲线,然后将其做为背底直接扣掉,这样得到的薄膜光吸收曲线数据可以用么?不对的话,应该怎么做?或者一般大家是怎么处理类似的数据的。谢谢了
听说可以用XRF来测量薄膜厚度,并且可以测多层膜的厚度,但是不知道原理是什么。请版上的各位老师介绍一下技术原理与操作时注意要点。 万分感谢!
不知道有没有用XRD测量过薄膜残余应力朋友,求指点一下,我的薄膜是TiAlN/CrN多层膜,厚度只有1um,本人采用sin2(fai)法的方法测过,但是过程由于薄膜太薄,没有薄膜的峰信息,只有基底峰,不知有没有人遇到过类似情况,求指导!!或者能告诉我北京哪里可以做这方面的测试?谢谢!!
[font=&][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动,特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货,全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外,活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][/font][b][color=#006600]点击报名 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][font=&][color=#000000][b]背景介绍:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]薄膜,通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域,譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键,最终影响薄膜的物性;对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据,改善薄膜材料性能。[/color][/font][font=&][color=#000000][/color][/font][font=&][color=#000000][b]活动日程:[/b][/color][/font][table][tr][td=1,1,99]时间[/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词,公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]朱京涛,[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]多晶薄膜应力和织构分析[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]王林,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]钟明光,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]熊佳星,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091517508512_6104_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][b][/b][font=&][color=#000000][b]重要内容抢先看:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]【同济大学,朱景涛教授】将分享[b]X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b],主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息;[/color][/font][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区,XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量[b]多晶薄膜的残余应力和织构分析方法[/b];【马尔文帕纳科亚太区,半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在[b]半导体薄膜领域[/b]的专业分析解决方案;【马尔文帕纳科中国区,XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在[b]涂层镀层无损分析[/b]中的应用。[b][color=#336666]专题页面:[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]
我最近在铜基体上采用电化学方法制备了调制波长为100nm的NiFe/Cu多层膜,想利用SEM观察其多层膜结构,不知该如何制样,希望获得大家的帮助,先谢过大家了!
http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪讲座时间:2014年09月16日 10:00 主讲人:武艳红、王锋武艳红,HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。王锋,HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析,它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况,可以分析几纳米~100多微米的深度,深度分辨率1nm。后者是一种无损的分析技术,可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜,并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层,甚至可以获取折射率、消光系数等。 本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料,并对主要应用领域及案例进行深度分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年09月16日 9:304、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg
对TEM不是很了解,我做的是两种组分在一起组装的多层超薄膜,一种无机组分一种高聚物组分。每层的厚度都在零点几个纳米,想知道能不能做断面的高分辨TEM,得到一层一层组装的信息,请教一下各位能看到不?能的话该怎么制样?
请大家帮我分析一下,我想在玻璃或者硅上生长一层或多层金属氧化物薄膜,这些薄膜多数是半透明的,厚度在0.5-2微米之间,我希望能依靠一种光学显微镜对厚度有个大致的测量,然后根据结果改进我的实验参数,这就需要放大倍数在500倍以上,最好能达到1000倍甚至更高,但必须不能使用油镜。我看了江南永新和上海长方的显微镜资料,发现金相显微镜和偏光显微镜似乎对我有用,我对这两种显微镜的用途不甚了解,不知道该买哪一款。请热心的网友们帮我参谋参谋,谢谢了。
基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗
在塑料包装材料中,各种塑料薄膜、复合塑料薄膜具有不同的物理、机械、耐热以及卫生性能。人们根据包装的不同需要,选择合适的材料来使用。如何评价包装材料的性能呢?国内外测试方法有很多。我们应优先选择那些科学、简便、测量误差小的方法。优先选择ISO国际标准、国际先进组织标准,如ASTM、TAPPI等和我国国家标准、行业标准,如BB/T标准、QB/T标准、HB/T标准等等。 笔者在从事检验工作中,使用过一些检测方法,下面向大家简单介绍一下。 GBT 2918-1998 塑料试样状态调节和试验的标准环境规格、外观 塑料薄膜作为包装材料,它的尺寸规格要满足内装物的需要。有些薄膜的外观与货架效果紧密相连,外观有问题直接影响商品销售。而厚度又是影响机械性能、阻隔性的因素之一,需要在质量和成本上找到最优化的指标。因此这些指标就会在每个产品标准的要求中作出规定,相应的要求检测方法一般有: 1.厚度测定 GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》该非等效采用ISO4593:1993《塑料-薄膜和薄片-厚度测定-机械测量法》。适用于薄膜和薄片的厚度的测定,是采用机械法测量即接触法,测量结果是指材料在两个测量平面间测得的结果。测量面对试样施加的负荷应在0.5N~1.0N之间。该方法不适用于压花材料的测试。 2.长度、宽度 GB/T 6673-2001《塑料 薄膜与片材长度和宽度的测定》非等效采用国际标准ISO 4592:1992《塑料-薄膜和薄片-长度和宽度的测定》。该标准规定了卷材和片材的长度和宽度的基准测量方法。 塑料材料的尺寸受环境温度的影响较大,解卷时的操作拉力也会造成材料的尺寸变化。测量器具的精度不同,也会造成测量结果的差异。因此在测量中必须注意每个细节,以求测量的结果接近真值。 标准中规定了卷材在测量前应先将卷材以最小的拉力打开,以不超过5m的长度层层相叠不超过20层作为被测试样,并在这种状态下保持一定的时间,待尺寸稳定后在进行测量。 3.外观 塑料薄膜的外观检验一般采取在自然光下目测。外观缺陷在GB/T 2035 《塑料术语及其定义》中有所规定。缺陷的大小一般需用通用的量具,如钢板尺、游标卡尺等等进行测量。 物理机械性能 1.塑料力学性能——拉伸性能 塑料的拉伸性能试验包括拉伸强度、拉伸断裂应力、拉伸屈服应力、断裂伸长率等试验。 塑料拉伸性能试验的方法国家标准有几个,适用于不同的塑料拉伸性能试验。 GB/T 1040-1992 《塑料拉伸性能试验方法》一般适用于热塑性、热固性材料,这些材料包括填充和纤维增强的塑料材料以及塑料制品。适用于厚度大于1mm的材料。 GB/T13022-1991《塑料 薄膜拉伸性能试验方法》是等效采用国际标准ISO1184-1983《塑料 薄膜拉伸性能的测定》。适用于塑料薄膜和厚度小于1mm的片材,该方法不适用于增强薄膜、微孔片材、微孔膜的拉伸性能测试。 以上两个标准中分别规定了几种不同形状的试样,和拉伸速度,可根据不同产品情况进行选择。如伸长率较大的材料,不宜采用太宽的试样;硬质材料和半硬质材料可选择较低的速度进行拉伸试验,软质材料选用较高的速度进行拉伸试验等等。 2.撕裂性能 撕裂性能一般用来考核塑料薄膜和薄片及其它类似塑料材料抗撕裂的性能。 GB/T 16578-1996《塑料薄膜和薄片耐撕裂性能试验方法 裤形撕裂法》是等效采用国际标准ISO 6383-1:1983《塑料-薄膜和薄片-耐撕裂性能的测定 第1部分;裤形撕裂法》适用于厚度在1mm以下软质薄膜或片材。试验方法是将长方形试样在中间预先切开一定长度的切口,像一条裤子。故名裤形撕裂法。然后在恒定的撕裂速度下,使裂纹沿切口撕裂下去所需的力。使用仪器同拉伸试验仪中的非摆锤式的试验机。 QB/T1130-1991《塑料直角撕裂性能试验方法》适用于薄膜、薄片及其它类似的塑料材料。试验方法是将试样裁成带有900直角口的试样,将试样夹在拉伸试验机的夹具上,试样的受力方法与试样方向垂直。用一定速度进行拉伸,试验结果以撕裂过程中的最大力值作为直角撕裂负荷。试样如果太薄,可采用多片试样叠合起来进行试验。但是,单片和叠合试样的结果不可比较。叠合试样不适用于泡沫塑料片。 GB/T11999-1989《塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法 埃莱门多夫法》是等效采用国际标准ISO 6383/2-1983《塑料薄膜和薄片耐撕裂性的测定――第二部分:埃莱门多夫法》适用于软塑料薄膜、复合薄膜、薄片,不适用于聚氯乙烯、尼龙等较硬的材料。原理是使具有规定切口的试样承受规定大小摆锤贮存的能量所产生的撕裂力,以撕裂试样所消耗的能量计算试样的耐撕裂性。 3.摩擦系数 静摩擦系数是指两接触表面在相对移动开始时的最大阻力与垂直施加于两个接触表面的法向力之比。 动摩擦系数是指两接触表面以一定速度相对移动时的阻力与垂直施加于两个接触表面的法向力之比。 试验是由水平试验台、滑块、测力系统和使水平试验台上两试验表面相对移动的驱动机构等组成。 试验通过是将两试验表面平放在一起,在一定的接触压力下,使两表面相对移动,测得试样开始相对移动时的力和匀速移动时的力。通过计算得出试样的摩擦系数。 静(动)摩擦系数=目前常用的方法标准为GB/T10006-1988《塑料薄膜和薄片摩擦系数测定法》它非等效采用国际标准ISO 8295-1986《塑料-薄膜和薄片-摩擦系数的测定》。 4.热合强度 塑料薄膜作为包装材料,常常用热合的方法将被包装物封装在内,是否达到良好的密封,热合的质量很重要,目前试验室常用的仪器设备是“热梯度仪”是一台可设定不同温度、压力、时间的热合试验设备,它可用于试验某种材料在某种条件下封合的最佳效果,封合质量可用QB/T 2358-1998 《塑料薄膜包装袋热合强度试验方法》是常用的方法标准。本标准适用于各种塑料薄膜包装袋的热合强度测定。 试验是将条形试样的两端夹在拉力试验的两个夹具上,进行拉伸,破坏试样封合部位的最大力值,就是热合的力值,结果一定以单位长度的试样所用的力值来表示,即热合强度。所用的力用N/m来表示。 *]:bP&{i9 5.剥离力 复合薄膜是用干复式或共挤式将不同单膜复合在一起,复合的好环直接影响着复合膜的强度,阻隔性及今后的使用寿命。所以在选用包装材料前测试复合层的剥离力很重要。 GB/T8808-1988《软质复合塑料材料剥离试验方法》是将预先剥开起头的被测膜的预分离层的两端夹在拉力试验机上,测试剥开材料层间时所需的力。 6.抗冲击性能 GB/T8809-1988《塑料薄膜抗摆锤冲击试验方法》适用于各种塑料薄膜抗摆锤冲击试验。试验是测量半圆形摆锤冲击在一定速度下冲击穿过塑料膜所消耗的能量。 GB/T9639-1988《塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法 自由落标法》适用于塑料薄膜和厚度小于1mm的薄片。试验是在给定的自由落标冲击下,测定50%塑料薄膜和薄片试样破损时的能量。以冲击破损质量表示。
医药品的外包装膜,多层冲压在仪器红外分析,一般只能分析其两个表面,请问,中间的几层如何分析呢?使用仪器:FTIR-8400S(日本岛津)谢谢!
摘要:本文简要介绍了流延聚丙烯薄膜(CPP)在生产工艺、生产设备、原料等几个方面的技术进展,对一些新产品进行初步探讨,根据市场状况提出一些看法。关键词:聚丙烯 流延 薄膜 技术进展 市场前言 我国CPP薄膜起步于20世纪80年代,刚开始由国外引进单层流延设备,宽只有1~1.5m,年生产能力约1000~1500吨/台,进入90年代,从奥地利兰精公司、日本三菱重工、德国Reifenhauser 、 W&H 、 意大利Colines、 Dolci、 美国Battenfeld等引进了多层共挤流延膜生产线,宽2~2.5 m,年生产能力3000~4000吨/台,2000年以来更是突飞猛进,引进了更为先进的生产线,宽4~4.5 m,年生产能力5000~6000吨/台的多层共挤流延膜生产线。同时,国产设备也得到快速度发展。原料从刚开始完全依赖进口到现在均聚、二元共聚料国产料已基本可以替代进口;产品从刚开始单一的复合级发展到现在有镀铝级、蒸煮级、印刷级及其他功能性薄膜;CPP薄膜已发展成为最主要的包装薄膜之一,当然市场供求关系亦从原来的供不应求发展到现在生产能力过剩的状态。
1月10日报道,芬兰国家技术研究中心日前发布的公报说,该中心研发出独特的燃料电池系统,能够以天然气为燃料并网发电。其独特性在于利用10千瓦级的单个平板式固体氧化物燃料电池堆来生产电能。 单个燃料电池功率有限,为增强其实用性,研究人员将若干燃料电池以串联、并联等方式组装成燃料电池堆,平板式固体氧化物燃料电池堆是一种形似“多层夹心饼干”的组装结构。 芬兰国家技术研究中心的专家介绍说,他们在两个月前首次将10千瓦级的单个平板式固体氧化物燃料电池堆组装成系统,并在实际运行条件下进行测试。 该中心指出,提高单个燃料电池堆的功率,可为将来建造大规模固体氧化物电池发电厂创造条件。目前市场上单个平板式燃料电池堆的功率多为0.5千瓦到数千瓦,如果要用燃料电池技术建造一座发电厂,就需要很多燃料电池堆,加上组装、维护和管理,成本很高。提高单个平板式燃料电池堆的功率可减少这种新型发电厂的建设和维护成本。
我在跑淡竹叶薄层是用聚酰胺薄膜板,展开剂没滴加甲酸前,拖尾很严重,滴加了几滴甲酸后稍微好一点,以前没跑过这种板,想请教下,要注意些什么?
DATE 2008/02/20 【日经BP社报道】东电电子公布了与夏普共同成立的太阳能电池制造装置开发公司的详细情况。公司名称为东电电子PV,只从事薄膜硅太阳能电池用等离子CVD装置的开发。开发的装置由东电电子制造和销售。计划2009年供货首款机型。 东电电子PV的注册资本为5000万日元,出资比例东电电子为51%、夏普为49%。两公司从2007年夏季便开始就设立合资公司进行了协商。 夏普决定在大阪堺市建设年产能为1GW的大型薄膜硅太阳能电池新工厂,计划2010年3月之前开工投产。合资公司开发的制造装置将用于制造该工厂的主力商品——模块转换效率高达10%以上的三层型薄膜硅太阳能电池。 层叠多枚薄膜的三层型薄膜硅太阳能电池的制造,高效率等离子CVD装置的开发是关键。夏普在宣布建设新工厂时表示:“可高效量产三层型的制造装置已经实现”(参阅本站报道)。另外,此次夏普与东电电子合作的目的是,通过在夏普拥有的技术的基础上结合东电电子的技术,进一步提高三层型的生产效率,尽早完成制造装置,“以在全球竞争中取胜”(夏普宣传负责人)。 目前,不仅日本和欧洲,来自中国大陆、台湾乃至印度等地的新厂商也在纷纷涉足太阳能电池制造业务。这类企业与一揽子供应制造装置厂商合作,以期降低制造成本。印度方面,还出现了以此前一半的价格一揽子供应制造装置的装置厂商。此次的合资公司的设立,“是日本厂商对抗统包解决方案(Turnkey Solution)战略的一环”(太阳能电池技术人员),今后成功与否将备受关注。 东电电子此前一直向所有太阳能电池学会派遣了信息收集人员,一边从事太阳能电池的基础研究,一边寻找涉足太阳能电池业务的机会。太阳能电池业内人士就此次合资公司的设立评论说:“在一步走错便步步难追的局面下,东电电子的此举却获得了最好的客户”。这是因为,该公司除可向夏普年产能达1GW的大型新工厂供应制造装置外,还能够学习其先进技术。东电电子表示,“详细事宜尚未确定,不过将来还计划向其它公司销售制造装置”(宣传负责人)。 《日经微器件》预定在2008年3月刊中以“印度的制造力~继中国大陆台湾韩国之后的新威胁(暂定)”为题,以太阳能电池为中心介绍印度的电子元件制造情况。(记者:河合 基伸)
聚酰胺薄膜做薄层要注意哪些方面?小弟新手,多指教!!!!!