反射仪

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢

紫外分光光度计中的附件有个5°C入射角镜面反射附件，这里面的反射用的基准是镜子之类的，这里的反射应该是相对反射；那绝对反射附件里面的基准是什么啊？好像没有这么理想的镜子啊，没有的话，那绝对反射附件的工作原理又是什么？

了解红外也有一段时间了,红外的各种附件也都有了大体的了解,现在我想和大家探讨下红外漫反射.我用过加近红外积分球的那种漫反射,但是还有普通的漫反射没用过,不知道用漫反射做出来的谱图和透射图一样不?什么情况下用漫反射.漫反射附件价格如何大约多少美金?欢迎大家讨论.

ICP工作时反射功率，您注意过吗？一般像我们选择ICP功率在1200W,那么此时仪器存在反射功率，那么反射功率多大了，大了小了影响怎么样？为什么有存在反射功率说法？

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

我只稍微了解“衰减全反射红外ATR－IR”的原理；而对于“反射红外”的理解是，做液体样品时，将液体滴到金属片（如金片）上，利用金属片为反射面，测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同，特别是做水溶液样品，哪种效果会好些。还有，将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢？谢谢啦另外，什么叫“结帖”，怎么结帖啊，呵呵

请教高手，漫反射谱和镜反射谱有什么区别？都能得到什么信息？谢谢！

我前一段时间做了ATR反射红外光谱，纵坐标是反射度，能不能定量分析？如果可以要怎么才能定量？ 还有，在红外软件中透过、反射、吸光度都可以转化，转化后误差有多大？是不是效果都是一样的呢？

1、光学薄膜测试反射率，比较好的仪器设备有哪些？2、有没有集透过率、反射率、折射率测试的仪器设备，推荐一下3、全积分球法测试反射率是不是比半积分球测试比较准确？谢谢！

反射率仪的测试波长是多少？ c84-III型反射率测试仪，天津世博伟业化玻仪器有限公司，射出的是绿光。谁知道测试波长是多少？请给出答案的出处，例：XX国家标准。谢谢！

经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图：红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R，1=R+T+A。理论计算R=（1-n）^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗？是反射角为多少的时候测量的？垂直入射的时候吗？看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题，反射光谱是怎么测量的，测得的数据就是反射率吗？补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

弱弱的问一下：红外透射、反射（漫反射？）、红外衰减全反射各自适用于什么情况呢？

请教大家一个问题，比如一个光学玻璃元件镀了增透膜或减反膜，设计反射率＜0.1%，那么这种极低反射率如何测量呢？

[color=#333333]光谱反射率与光反射率的区别[/color]

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

做薄膜样品的漫反射，为什么测出的吸光度值是负值？反射率超过100？另外漫反射光谱标准图中纵坐标应为吸光度还是反射率？谢谢！

我是新手，我做出的薄膜的反射谱为什么跟透射谱是一样的？连纵坐标的数值都是一样的，请问是什么原因？是设置的问题还是其它？麻烦哪位大虾告诉我一下，十分感谢。我的薄膜是在玻璃基片上，与玻璃基片一起测量。仪器型号是cintra 10e。是不是固体的反射必须用积分球才能测啊？

最近要买红外光谱仪，厂家介绍说单反的ATR比多次反射的好，讲一大堆理由，不知道真假，想请版里的专家指点，谢谢！

请问下 用紫外可见光谱仪测试的时候，为什么加个积分球就可以用来测反射率？测量固体或胶体样品的时候，样品池里面是不是自带的那个就是积分球？可以给我说一下测量反射率的原理吗？ 非常感谢

那位老师能给我提供一个反射附件的光路图啊。万分感激

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

压片法适用或不适用的样品都可以用粉末反射法测定其红外光谱，也用于微小样品、色谱馏分的红外光谱定性、吸着在粉末表面样品的红外光谱分析。该法的原理是，照射到粉末样品上的光首先在其表面反射，一部分直接进入检测器，另一部分进入样品内部多次透过、散射后再从表面射出，后者称为扩散反射光。粉末反射法就是利用扩散散射光获取红外光谱的方法。与压片法相比，该法由于测定的是多次经过样品的光，因此两者的光谱强度比不同，压片法中的弱峰有时会增强

今天发现用光纤透反射模式下采集油的近红外光谱，所有样品的谱图（横坐标波数，纵坐标反射率），透反射率都出现了大于1的波段，各位遇到过没，不晓得怎么回事啊

普析1901的仪器，用积分球测定薄膜反射率，以前基本都是20%左右，现在到70-80%几，透过率反射率，RS交换都设置正常，求助可能哪方面出问题了