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束斑大小和分辨率之间有直接的因果关系。诸如冷场或热场发射、提高电子枪的亮度、降低电子枪的能量发散度、大幅提高电子枪的真空度等等都是为减小束斑服务的。钨灯丝由于其曲率半径太大、发射电流又小,可以说电镜研发单位无法使它得到有用的足够小的束斑。冷场电镜比热场电镜的束斑小,更比钨灯丝的小,所以在观察图像时钨灯丝电镜更需要注意spot size的调整。我们用人眼的分辨率0.3mm计算一下SS的调整。1000倍下SS要小于0.3mm÷1000=300nm ,同理10000倍下要小于30nm ,100000倍下要小于3nm 。显示器的分辨率也会影响图像清晰度,有资料表明当有两个以上像素重叠时图像会显得模糊。我们可以在图像采集时设置一个图像分辨率,该设置必须高于由束斑直径确定的二次电子图像分辨率。
图像分析仪在金相分析中的应用近年来,随着计算机技术和体视学的发展,图像分析仪被广泛地应用于金相分析中,使传统的金相分析技术从定性或半定量的工作状态逐步向定量金相分析方向发展。 金相工作者多年来一直从金相试样抛光表面上通过显微镜观察来定性地描述金属材料的显微组织特征或采用与各种标准图片比较的方法评定显微组织、晶粒度、非金属夹杂物及第二相质点等,这种方法精确性不高,评定时带有很大的主观性,其结果的重现性也不能令人满意,而且均是在金相试样抛光表面的二维平面上测定,其测量的结果与三维空间真实组织形貌相比有一定差距。现代体视学的出现为人们提供了一种由二维图像外推到三维空间的科学,即将二维平面上所测定的数据与金属材料的三维空间的实际显微组织形状、大小、数量及分布联系起来的一门科学,并可使材料的三维空间组织形状、大小、数量及分布与其机械性能建立内在联系,为科学地评价材料提供了可靠的分析数据。 由于金属材料中的显徽组织和非金属夹杂物等并非均匀分布,因此任何一个参数的测定都不能只靠人眼在显微镜下测定一个或几个视场来确定,需用统计的方法对足够多的视场进行大量的统计工作,才能保证测量结果的可靠性。如果仅靠人的眼睛在显微镜上进行目视评定,其准确性、一致性和重现性都很差,而且测定速度很慢,有些甚至因工作量过大而无法进行。图像分析仪以先进的电子光学和电子计算机技术代替人眼观察及统计计算,可以迅速而准确地进行有统计意义的测定及数据处理,同时具有精度高、重现性好,避免了人为因素对金相评定结果的影响等特点,而且操作简便,可直接打印测量报告,目前已成为定量金相分析中不可缺少的手段。 图像分析仪是对材料进行定量金相研究的强有力工具,也是日常金相检验的好帮手,可以避免人工评定带来的主观误差,从而也避免了扯皮现象。虽然在日常金相检验中,不可能也不必每次都使用图像分析仪,但当产品质量出现异常或金相组织级别处于合格与不合格之间而无法判别时,则可以借助图像分析仪对其进行定量分析,得出准确结果,确保产品质量。图像分析仪在金相分析中的应用,拓展了金相检验的检测项目,促进了检测水平的提高,对于提高检测人员的素质也是十分有益的。 图像分析仪的系统由金相显徽镜和宏观摄像台组成的光学成像系统,其用途是使金相试样或照片形成图像。金相显微镜可直接对金相试样进行定量金相分析;宏观摄像台适用于分析金相照片、底片及实物等。 为了能用计算机存贮、处理和分析图像,首先需将图像数字化。一帧图像是由不同灰度的一种分布所组成,用数学符号表示为j=j(x,y),x、y为图像上像素点的坐标,j则表示其灰度值。所以,一帧图像可以用一个m×n阶矩表示,矩中每个元素对应于图像中一像素点,aij的值即表示图像中属于第i行第j列的像素点的灰度值。CCD摄像机(电荷耦合器件摄像机)就是一种图像数字化设备。金相试样上的显微特征经过光学系统后在CCD上成像并由CCD实现光电转换和扫描,然后作为图像信号取出,由放大器进行放大,并量化成灰度级以后贮存起来,从而得到数字图像。 计算机根据数字图像中需测量特征的灰度值范围,设定灰度值阈值T。对于数字图像中任何一个像素点,若其灰度大于或等于T,则用白色(灰度值255)来代替它原来的灰度;若小于T则用黑色(灰度值0)来代替原来的灰度,可以把灰度图像转化为只有黑、白两种灰度的二值图像,然后再对图像进行必要的处理,使计算机能方便对二值图像进行粒子计数、面积、周长测量等图像分析工作。若采用伪彩色处理,则可把256个灰度级转换成对应的彩色,使灰度很接近的细节和其周围环境或其他细节易于识别,从而改善图像,更利于计算机处理多特征物图像。 图像分析仪通常都具有下列基本图像处理、分析功能:图像采集。 图像增强和处理:包括阴影校正,伪彩色处理,灰度变换,平滑、锐化;图像编辑等。 图像分割。 二值图像处理:包括形态学处理(腐蚀、膨胀、骨胳化等),二值图像的算术运算、联接、自动修补等。 测量:包括特征物统计,对其周长、面积、X/Y投影、轴长、取向角等参数进行统计测量。 数据输出。
http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif3D颗粒图像分析技术及应用案例(最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者主讲)讲座时间:2014年11月06日 10:00主讲人:Dr. Terje JorgensenDr. Terje Jorgensen 专业从事动态颗粒图像研究超过30年,最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者 全英文讲解,中文同声翻译http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】2014年麦奇克全新推出拥有专利技术的3D颗粒图像分析仪,实现动态颗粒图像实时分析,提供多于30种不同的形态参数,本次网络讲堂邀请到3D颗粒图像技术主研发者Dr. Terje Jorgensen 亲自讲解3D图像分析技术及应用案例。颗粒的大小形状与颗粒材料的结构和产生颗粒时的工艺工程有关,复杂的颗粒形状对粒径测量方法会产生很大的影响。目前,基于激光散射原理的颗粒测量仪器被广泛应用,适合不同类型的干法/湿法样品分析。但是,由于该方法是典型的统计分析方法,颗粒的散射信号由多元光电探测器接收,经过数学模型处理后得到相应的粒度分布结果,而不能得到颗粒的实际形状信息,而且,其粒度直径D定义为等效球形的光学当量体积直径。但实际上我们所测的颗粒形状千差万别,在很多对颗粒形状有要求的应用领域,例如,在磨料涂料,建筑材料,食品工业,矿物加工,制药原料,石油石化等领域会产生较大的影响。通常,一般采用显微镜法来观察颗粒的形貌和测量颗粒的大小,所谓“眼见为实”,但是所能测量的样品量极少(约0.01g),而且必须经过一定的样品制备程序,所以美国Microtrac推出了最新的动态颗粒图像分析方法,配合先进的3D图像分析技术,实时统计并显示颗粒图像及粒度分布信息,提供描述每个颗粒30多种的大小和形状的参数(直径,周长,面积,体积,圆度,球度,凹凸度,延伸度以及长宽比等),为颗粒的分析提供了最全面的参数分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年11月06日 9:304、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/12225、报名及参会咨询:QQ群—231246773