射线衍射差值扫描热量同时测试装置

工作功率为10KW的X射线衍射仪的扫描深度是多少？

最近刚接触高分辨透射电镜，电子衍射和x射线衍射，找到一些资料和大家一起学习一下，http://wenku.115.com/preview/?pickcode=a4axwm9rtz762hffg附件有点大，上传一直失败，就传到网盘拉，不好意思，

[font=&][size=16px][color=#333333]X射线衍射仪（XRD）扫[/color][/size][/font][b][/b][font=&][size=16px][color=#333333]描范围是指样品中晶体结构的扫描范围，也就是[/color][/size][/font][b][/b][font=&][size=16px][color=#333333]XRD仪器能够测量的角度范围[/color][/size][/font][b][/b][font=&][size=16px][color=#333333]。这个范围通常是根据仪器[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]的几何和探测器的尺寸来决定的。[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]XRD仪器通过照射样品并测量样品散射的X射线来分析材料的晶体结构和组成。在XRD扫描过程中，样品通过旋转台[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]旋转，X射线通过样品，同时探[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]测器测量经过样品的散射X射线的强度和角度。这些数据[/color][/size][/font][font=&][color=#cc0000][/color][/font][font=&][size=16px][color=#333333]可以用于确定材料中晶体的结构和组成。[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]因此，XR[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333][/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]D仪器的扫描范围非常重要。如果扫描范围太小，可能会错过样品中一些重要的结构信息，从而影响分析结果的准确性。相反，如果扫描范围[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]太大，可能会导致数据过多[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]，分析和处理数据的时间和难度都会增加。因此，选择适当的扫描范围对[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333][/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]于正确分析样品中的晶体结构和[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]组成非常重要。[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]除了对于样品中晶体结构的分析，XRD仪器的扫描范围还可以用于确定材料的晶体结构的类型，例如是立方晶体、六方晶体、[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]四方晶体等等。此外，不同的样品[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]可能需要不同的扫描范围。例如，粉末样品需要较[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]大的扫描范围以便涵盖更多的晶[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]体结构信息，而单晶样品则需[/color][/size][/font][b][/b][font=&][size=16px][color=#333333]要较小的扫描范围以[/color][/size][/font][b][/b][font=&][size=16px][color=#333333]避免可能的背景杂散信号的影响。[/color][/size][/font][font=&][size=16px][color=#333333]在使用XRD[/color][/size][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][font=&][size=16px][color=#333333]仪器进行分析时，选择合适的扫描范围是非常重要的。通常，使[/color][/size][/font][font=&][color=#cc0000][/color][/font][font=&][size=16px][color=#333333]用XRD仪器进行分析需要对样品和所需分析结果有足够的了解和计划，才能选择合适的扫描范围，从而获得准确的结果。[/color][/size][/font]

我想测X射线衍射，对纤维进行测试，问一下大家，哪的测的比较好啊？麻烦了，多谢多谢了还有小角X射线散射，不知道哪有，听说北京的已经暂时停用了

我的样品做了2θ扫描,但有人建议我再做下ω扫描和φ扫描,来证实结晶性较好,请教各位大侠,其原理是什么,我怎么在x射线衍射书中找不到呢?

Ｘ射线粉末衍射仪等招标公告 （权限申请中）1 自动X射线粉末衍射仪 Ｘ射线粉末衍射仪主要用于研究物质晶体结构、物相分析、测定点阵参数等。主要技术规格1.高稳定X射线发生器1.1 额定功率：3KW, 最大管电压：60KV, 最大管电流：50mA1.2 稳定度：≤±0.01%（电源电压浮动10%）1.3 管电压和电流升降由计算机自动控制1.4 高压电缆：100KV介电强度，长度2米1.5 保护及报警装置KV过高，KV过低保护 整机过电流保护：20AX射线管功率超限保护 冷却水断水保护整机机柜全部安全防辐射保护，带窗口连锁，在防辐射外罩外射线剂量低于2.5μSv/小时2.Ｘ射线管2.1Cu 靶（国产），2.0KW，1×10mm焦点3.测角仪测角仪方式：卧式，水平扫描扫描半径：180mm准确度：±0.01° 狭缝：发散狭缝，接收狭缝，防散射狭缝 滤片：Ni、Fe4.Ｘ射线强度测量系统检测器：闪烁计数器 计算机自动控制 线性脉冲放大幅度分析器高压稳压电源5操作控制系统5.1 微型计算机：品牌PC机，17’彩显。5.2 打印机： A4 HP激光打印机5.3 前级控制机,计算机串行接口，RS485通讯6.操作分析系统及应用分析软件（Windows版本）BD2000衍射仪操作系统 BD2000衍射图谱分析系统图谱分析 数据查询6.1 粉末衍射分析应用软件定性物相分析及PDF卡片库（1—89集） 定量物相分析未知衍射图指标化 晶胞参数精密修正6.1.1 多重峰分离（峰形分析）衍射峰Kα2扣除7.冷却水循环系统分体式结构：压缩机壁挂室外 制冷量每小时3200W 1 台 2 光斑分析仪 1. M2因子测量系统光谱范围：250-2400nm • 分析激光束的传输特性，预测激光束的聚焦能力• 可测量脉冲或连续激光• 高精确度、高稳定性、全自动快速测量• 可直观地目视检测不同位置光束外形变化• 直接得到M2因子、光束发散角、束腰半径和位置、光斑分布、对称性等参数• M2-200-ACC-BB2. LBA-710PC-D 光束分析系统• 含图像采集板卡和测试分析软件，齐全的软件功能和强大的数据处理能力• 可测量连续和脉冲激光• 二维/三维显示光束横模（光束轮廓和能量分布）• 峰值功率及峰值位置 光斑大小及光斑椭圆度• 光束发射稳定性和均匀性 与高斯光束匹配情况分析• 光束发散角测量• LBA-710PC-D 附件：1）数字硅CCD-6612摄像仪及数据线光谱范围：190-1100nm 像素数：650×494 像素大小：9.9×9.9μm2）光束采样/分析系统 10位数字采集卡及光束质量分析测试软件3）光采集与可调光束衰减器 石英分束衰减器及不同衰减程度的中性密度滤波片组 工作波长：400-2400nm 1 台 3 单光子计数实验系统 主要技术指标 光谱采集范围： 360-650 nm积分时间：0-30 min(1ms/档,可调) 最大计数：≥107域值电压：0-2.56 V(10mV/档，可调)暗 计 数：≤30CPS/S (探测器CR125 -20℃) 2 套顺祝 商棋刘飞------------------------------------------------------------北京智诚风信网络科技有限公司地址:北京海淀区五道口华清商务会馆1606室邮编:100084电话:86-010-82863476-25 13521383769传真:86-010-82863479Email: liufei@bidchance.com网址: http://www.bidchance.com

特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20～0.06┱)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。如铜靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格方程： 2d sinθ=nλ式中λ为X射线的波长，n为任何正整数。 　　当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时(图1),在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型 根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法(图2a)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中（图2b）所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。 　X射线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构，β-Fe并不是一种新相 而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了β-Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面： 　　物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。 　　精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 　　取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（见择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。 　　晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。 　　宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化，可计算出残留应力的大小和方向。 　　对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷）。 　　合金相变 包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系，等等。 　　结构分析 对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。 　　液态金属和非晶态金属 研究非晶态金属和液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。 　　特殊状态下的分析 在高温、低温和瞬时的动态分析。 　　此外，小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。 　　X射线分析的新发展 金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度X射线源（包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源）和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。 爱心捐助

本书是介绍X射线衍射与电子显微分析这两种重要的材料物理测试方法的基础教材,全书依上述内容分为两篇。第一篇包括X射线衍射的基本理论、方法及应用；第二篇包括透射电子显微镜、扫描电镜和电子探针的工作原理、构造和分析方法。全书共12章，附录中列出了常用的数据表，供计算分析时查阅。本书对基本原理的阐述力求深入浅出，方法介绍亦较为详尽，对从事该工作的科技人员很有参考价值！为此上传[color=blue]PDF格式的电子档供大家下载学习，也可丰富本版块的资源！[/color]全书已经上传完毕，有需要的科技人员可到资料中心下载！[url=http://www.instrument.com.cn/show/search.asp?sel=admin_name&keywords=lfsming]进入资料下载页面[/url]你的支持就是我的动力!

[font=黑体, SimHei][size=16px]点击链接查看更多：[url]https://www.woyaoce.cn/service/info-14048.html[/url]射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]测试内容[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]1. D8 Advance X射线衍射谱中的衍射峰与晶体中的不同晶面为一一对应关系，可以标定出各个衍射峰对应的晶面指数。根据衍射峰的位置、衍射峰的强度和形状，通过索引已建立的XRD标准卡片库，可检索出样品中存在何种物相。 [/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]2. 物相定性分析 结晶度及非晶相含量分析 结构精修及解析 物相定量分析 点阵参数精确测量 无标样定量分析 微观应变分析 晶粒尺寸分析 原位分析 残余应力 低角度介孔材料测量 织构及ODF分析 薄膜掠入射 薄膜反射率测量 小角散射[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]可检测范围[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]1.常用于无机物。[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]2.有机晶体单晶不合适。[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]3.角度5-80度，快扫，慢扫。[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px]4.物相是定量分析，相对定量。[/size][/font][font=黑体, SimHei][size=16px][/size][/font]

X射线衍射仪在材料表征方面有着非常重要的作用，也是科研常用的设备之一，只有正确进行样品制备以及条件设定才能得到正确的结果。本视频主要介绍了X射线衍射仪的主要应用以及可测试的样品种类，讲解了不同类型样品应

网上看到这些东东，《放射性同位素与射线装置安全和防护条例》（国务院令第449号）和《放射性同位素与射线装置安全许可管理办法对购置X-射线衍射仪有没有限制或约束、管理的规定呀?

有个xrd x射线衍射仪 数据处理中的寻峰算法问题，如何通过编程实现一个衍射仪扫描图谱中，衍射峰位的确定并且编程标识出整个图谱中的所有峰？

X射线衍射原理及应用介绍特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20～0.06┱)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10-8cm)相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布喇格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布喇格定律： 2d sinθ=nλ式中λ为X射线的波长，n为任何正整数。 当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时(图1),在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布喇格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布喇格条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型 根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法(图2a)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中（图2b）所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布喇格条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。 　 X射线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是体心立方结构，β-Fe并不是一种新相 而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了β-Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面： 　　物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。 　　精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 　　取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（见择优取向）。测定硅钢片的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。 　　晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。 　　宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化，可计算出残留应力的大小和方向。 　　对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见晶体缺陷）。 　　合金相变 包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系，等等。 　　结构分析 对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。 　　液态金属和非晶态金属 研究非晶态金属和液态金属结构，如测定近程序参量、配位数等。 　　特殊状态下的分析 在高温、低温和瞬时的动态分析。 　　此外，小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。 X射线分析的新发展 金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度X射线源（包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源）和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。[color=#DC143C][size=4]希望对大家有用。[/size][/color]

[url=http://baike.baidu.com/image/8b527d278fe8dd10918f9de9][img]http://imgsrc.baidu.com/baike/abpic/item/8b527d278fe8dd10918f9de9.jpg[/img][/url]X射线衍射仪是利用[url=/view/59839.htm]衍射[/url]原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.　　X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。　　基本构造　X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。　　（1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。　　（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。　　（3） 射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。　　（4） 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

[size=4][font=楷体_GB2312]X射线衍射法因晶体的是单晶还是多晶分为x射线单晶衍射法和X射线多晶衍射法。　　[b]单晶X射线衍射分析的基本方法[/b]为劳埃法、周转晶体法和四圆单晶衍射仪法。书上还会有别的方法，因不太常用在此不再啰述。现在最常用的是四圆单晶衍射仪测单晶。　　[b]劳埃法[/b]改变波长、以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。根据底片位置的不同，劳埃法可以分为透射劳埃法和背射劳埃法。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。劳埃法的衍射花样由若干劳埃斑组成，每一个劳埃斑相应于晶面的1～n级反射，各劳埃斑的分布构成一条晶带曲线。　　[b]周转晶体法[/b]：周转晶体法以单色X射线照射转动的单晶样品，用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线，在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度，适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体(如正交、单斜、三斜等晶系晶体)。　　[b]四圆单晶衍射仪法[/b]是转动晶体。以四个圆的转动变量φ、χ、ω和2θ进行晶体和计数器的转动，以实现倒格点与埃瓦尔德(Ewald)衍射球球面相遇产生衍射的必要条件。φ圆对应于安置晶体的测角头的自转转动，χ圆对应于测角头在其所坐落的仪器金属χ环内侧圆上的转动，ω圆对应于金属χ环绕中垂线(Z轴)进行的转动，2θ圆则对应于为保持衍射方向相对于入射X射线为2θ的角度所需进行计数器的转动。是常用的测量单晶衍射的方法[/font][/size]

一．准备与开机 1.合上仪器的总电源开关，然后启动循环冷却水系统。 2.开启仪器的电源开关，待TMP DRIVE UNIT 面板 的POWER和READY 灯亮后，将真空操作开关转向 OPERATE 位置，真空系统自动运转。 3.待真空度指示灯中10-5灯亮后，即可开动XG CONTROLLER 面板 的T-REV(转 靶)开关，READY 灯亮后，开动X-RAY ON 开关，X-RAY 指示灯亮，X-射线正常启动，然后将电压加到40 KV，再将电流加到80MA即可。 二．样品制备与数据采集 1.块状样品须选一平整表面作为衍射平面，然后将待测样铝放入样品架的方框内，用橡皮泥固定好即可。 2.粉末样品则选用玻璃样品架，将样品放入样品架的凹槽内，用毛玻璃将样品压平即可。 3.制备好试样后，将试样插入样品台，关好防护门，即可开始实验测试。 4.在XRD 界面上选择“数据采集”，然后选择“叠扫”，再根据提示输入从样品名到扫描范围的相应内容，最后选择“执行”，衍射仪开始扫描，待扫描完成后，根据提示保存数据即可。

立体化合物结构确证时，经常会用到X射线衍射，但看到有的地方说单晶X射线衍射法，有的又说粉末X射线衍射法，这两者有区别吗？分别用于什么情况呢？

用于理学大功率X射线衍射仪冷却水装置的净水阴阳离子树脂， 型号是什么呀。是不是只要是阴阳离子树脂就可以？水冷机是众合BLK-25FF型水冷机组

我的样品是一种溶液，成分为二甲亚砜+水+盐类，它的玻璃化温度为-130度左右，当二甲亚砜的浓度不同时，需要不同的冷却速率来实现玻璃化，大概从1度/min到20度/min，现在我需要验证我的样品有没有实现玻璃化，请问X射线衍射仪能测吗？我知道X射线衍射仪能测定物质是玻璃态还是晶态，但是不知道有没有低温型的X射线衍射仪，并且能提供我需要的降温速率。达人指教！

请教各位大侠，粉末X射线衍射仪，单晶X射线衍射仪和多晶X射线衍射仪在结构和应用性能有什么区别啊？

[color=#333333][size=16px]有个[/size][size=18px][font=&]xrd x射线衍射仪 数据处理中[/font][font=&][/font][font=&]的寻峰算法问题，[/font][/size][size=16px]如何通过编程实现一个衍射仪扫描图谱中，衍射峰位的确定并且编程标识出整个图谱中的所有峰？[/size][/color]

小型台式X射线衍射仪与传统台式X射线衍射仪比较，有什么优点吗

向高手请教个问题,我的钢种组织是铁素体和马氏体,马氏体含量10%,我想通过X射线衍射打出马氏体峰,求出马氏体的晶格常数,可是我做了X射线衍射,没能打出马氏体的峰,只打出了铁素体,请教高手,还有没有其他的办法?是应该换台更精密的仪器重新测还是换种方法来求马氏体的晶格常数?

PW1830 X射线衍射仪 这个是什么牌子的X射线衍射仪 ？

Proto X射线衍射残余应力分析系统依据的原理是晶体物质晶面间距与入射波长和波峰角衍射之间存在着以下定量关系，即布拉格定律： 2d sinθ = λ。 其中 d 为晶体的晶面间距，λ为入射X射线波长，θ为最大波峰衍射角。当晶体的晶面间距在受应力σ发生变化时，由测角仪测量θ的变化，就可以得到晶面间距变化或应变Δd，继而由物质模量得到物体所受应力。Proto iXRD——便携式残余应力分析系统是世界上最小、最轻和最快的x射线衍射应力分析系统。作为测试残余应力特性领域的先锋，Proto开发了作为该领域内经典的iXRD。 iXRD有着模块化的软件，界面友好、简单，容易操作。内置应用程序，能被连接和同步运行，允许连接四个iXRD同时运行。另外iXRD-COMBO 实验室/便携式综合应力分析系统。既可作为实验室用又可在野外用，使iXRD更具灵活性。iXRD-COMBO联合了实验室系统的便利、安全和iXRD的多种功能。世界上没有其他象iXRD-COMBO的系统。X射线衍射残余应力分析系统可用于测量残余应力、外加应力、静载应力、总应力、残余奥氏体。

我们最近做的薄膜样品光用X射线θ-2θ扫描不能精确的描述样品的织构，看有些文献可以用ω扫描和ψ扫描来测定，可是我查阅许多测试分析的文章和书籍都没有详细介绍这两种测试的原理的。请教楼上各位，有没有谁有这方面文献资料的。

想做材料中石棉检测,同时还想做为涂料中重金属检测的筛选? 请问这两种检测可以同时实现吗? 能定量到什么程度?那种X射线衍射仪好? 资料只说是X射线衍射仪,以前没接触过,这个领域什么X射线衍射仪好,那个牌子和型号,价格大约多少, 用起来复杂不? 需要什么专业的人员操作? 了解的指点一下, 谢谢.另外再弱弱问一下,X射线衍射仪和X射线荧光光谱仪 有啥区别,都用在那里?