当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜

仪器信息网低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜专题为您提供2024年最新低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜相关的最新资讯、资料,以及低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜相关的解决方案。

低温强磁场原子力磁力扫描霍尔显微镜相关的论坛

  • Science: 低温强磁场磁力显微镜—调控拓扑绝缘体磁畴壁手性边界态

    Science: 低温强磁场磁力显微镜—调控拓扑绝缘体磁畴壁手性边界态

    拓扑绝缘体,顾名思义是绝缘的,有趣的是在它的边界或表面总是存在导电的边缘态,这是拓扑绝缘体的独特性质。近期,理论预测存在的拓扑绝缘体在实验上被证实存在于二维与三维材料中,引起了科研界的大量关注。通常二维电子气体系中存在着量子霍尔效应,实验中观测到了手性边界态存在于材料的边界。在三维体材料的拓扑绝缘体中实验上可观测到反常量子霍尔效应。 K. Yasuda, Y. Tokura等人利用德国attocube公司的低温强磁场磁力显微镜attoMFM在0.5K温度与0.015T磁场环境下,证实了拓扑绝缘体磁畴壁的手性边界态的可调控性能,不同于之前实验上观测到的拓扑绝缘体中自然形成随机分布的磁畴中的手性边界态。Y. Tokura等人基于Cr-掺杂 (Bi1-ySby)2Te3制备了拓扑绝缘体薄膜,基底是InP(如图1C)。图1D为在0.5K极低温下使用MFM测量的材料中的磁畴分布,可以清晰看到自然形成的随机分布的大小与形貌不一的磁畴。通过使用MFM磁性探针的针尖在0.015T的磁场环境下扫描样品区域成功实现了对材料磁畴的调控。图1F为调控后样品的磁畴情况,被探针扫描过的区域,磁畴方向保持一致。[align=center][img=,500,273]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311331396935_7457_981_3.jpg!w690x378.jpg[/img][/align][align=center]图1: A&B 拓扑绝缘体磁畴调控示意图;C 拓扑绝缘体材料结构;D attoMFM实验观测自然形成多个磁畴; E&F MFM探针调控磁畴[/align][align=center][/align][align=center] 该拓扑绝缘体磁畴反转的性能随磁场大小变化的结果也被仔细研究。通过缓慢改变磁场,不同磁场下拓扑绝缘体样品的磁畴方向可清楚地被证实发生了反转(见图2)。通过观察,随机分布气泡状磁畴(0.06T磁场附近)一般的大小在200纳米左右。[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,206]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311339098931_5066_981_3.jpg!w690x285.jpg[/img][/align][align=center]图2: A 霍尔器件电测量结果;B attoMFM观测不同磁场下拓扑绝缘体的磁畴情况[/align][align=center][/align][align=center] 不仅通过attoMFM直观观测分析磁畴手性边界态调控,电学输运结果也证实手性边界态的调控。图3为在温度0.5K的时候,拓扑绝缘体电学器件以及相应的电学测量数据。数据表明,霍尔电阻可被调控为是正负h/e2的数值,证实了不同磁畴的手性边界态的调控被实现。作者预见,该实验结果对于低消耗功率自旋电子器件的研究提供了一种可能的途径。[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,565]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311333567372_456_981_3.jpg!w690x780.jpg[/img][/align][align=center]图3:拓扑绝缘体制备器件反常量子霍尔效应结果证实磁畴手性边界态调控[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,303]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311334450730_967_981_3.jpg!w690x419.jpg[/img][/align][align=center]图4:拓扑绝缘体磁畴手性边界态调控相关设备—低温强磁场原子力磁力显微镜[/align][align=center][/align][align=center][/align]低温强磁场原子力磁力显微镜attoAFM/MFM主要技术特点:-温度范围:mK...300 K-磁场范围:0...12T (取决于磁体)-样品定位范围:5×5×5 mm3-扫描范围: 50×50 μ㎡@300 K, 30×30μ㎡@4 K-商业化探针-可升级PFM, ct-AFM, SHPM, CFM等功能参考文献:“Quantized chiral edge conduction on domain walls of a magnetic topological insulator” K. Yasuda, Y. Tokura et al, Science 358, 1311-1314 (2017)

  • 2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30原创:李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师,北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐:陆俊 工程师,中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由:国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形,但又无处不在,无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活,比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道,然而对于磁场如何衡量,如何产生如何测量恐怕较少有人去关注,简单概括几点:一是磁场的单位,常用的单位是奥斯特,国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m),注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位,因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同,尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换,即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生,首先地球是跟我们关系最密切的磁场源,地表磁场大约为0.5奥斯特,随纬度升高有缓慢增强趋势;其次是为了产生变化磁场,可以通过永磁体机械组装的方式,也可以使用线圈中通过电流的方式,根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源,比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场,高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场;还有一种和磁场产生相反,要尽可能减少磁场,以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响,破坏极端条件探索、精密标定测量等任务,这时要用到消磁措施,可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法,综合利用消磁技术,我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量,相比产生技术方法,磁场测量要复杂得多,其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理,其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1,在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器,虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度,但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势,因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器,本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计,在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件,后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟,最终落地北京翠海公司,形成CH-1800,CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求,为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案,翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成,开发出F-30磁场测量扫描成像仪,照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机(装有控制软件)、高精度高斯计(一维或者三维)、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成,如图3所示。简单来说可以分为两个部分,一部分只是用来采集数据,另一部分只是位移,两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成,通过操作上位机软件给控制器下命令,控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动,这个电控位移台的参数(台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度)用户可定制,即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成,电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置,采集数据时将探头放在夹持位置上,探头测量的数据实时上传到高斯计上,而高斯计与上位机软件通信连接,上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计,可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联,一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值,三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度(根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能)及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角,扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中,根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图:二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状(空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等)的扫描进行了集成化,只需设置几个参数便可以自动进行扫描,自由度高,精准度高,无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制,磁场测量部件的主要技术指标如表1,传感器照片如图4,其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间,(1)常规扫描:每点扫描时间可设置,一般为保证数据的稳定性,在每点的停留时间为1~2s,总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定;(2)快速扫描模式:在位移台运动过程中不做停留,通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1: F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度,大致示意图如图5,典型测试场景及系统软件照片如图6所示,运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images

  • 记一次脉冲强磁场设备维修

    记一次脉冲强磁场设备维修

    记一次脉冲强磁场设备维修原创:大陆2015-11-13一、前言磁场设备是磁学研究中产生磁场的设备,根据可产生最高磁场强弱可以分为亥姆赫兹线圈、永磁场发生器、电磁铁、超导磁体与强脉冲磁场发生器几种,其中使用脉冲磁场发生器原理是短时间通大电流产生强磁场,在相同的散热及供电功率等配套条件下可以产生比稳恒磁体强一个数量级以上的磁场,因而可以在物理、化学与生物研究中需要强场的场合应用。目前脉冲强磁场能产生的最高磁场的世界纪录超过2千特斯拉,不过这些极端磁场的产生过程伴随爆炸冲击波作用,只是一次性的产生,线圈无法再次使用,而且需要防爆实验环境;能够重复使用同一个线圈可控产生的脉冲强磁场最高约1百特斯拉,这需要配套专门的实验室与供电通道;在普通实验室条件下对脉冲磁场发生装置的需求一是不需要专门的电力改造,且整个装置方便移动,不过产生的磁场最高超过10特斯拉,我们实验室(磁学国家重点实验室)就有一套这样的样机设备,是实验室几位老前辈在1990年前后自己做的,设备整体照片如图1,它的主体分为充放电控制模块、线圈负载与电容柜(如图02中肚子里主要装的是1kV,0.1mF的电容阵列,合计98个,总容量9.8毫法拉) 、。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573466_1611921_3.png图01 脉冲强磁场装置照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573467_1611921_3.jpeg图02 脉冲强磁场装置中的电容二、故障及诊断维修前段时间有使用者在使用过程中发现设备电容无法充到设定电压,从而无法放电产生磁场。首先通过沟通,获知设备是在用户更换自己的负载线圈之后引起,用户自己的负载线圈电感约10纳亨,而设备标配的负载线圈是280微亨,相差4个数量级;然后结合图03所示的脉冲强磁场的电路分析故障在充电模块;最后打开机柜,通过肉眼观察线路板与元器件,如图04所示,可以看到大功率晶闸管的散热固定木柱有裂纹,从而将故障诊断在晶闸管上。值得一提的是,必须赞一下实验室前辈们:在设备制造过程中保留着晶闸管的铭牌,这样尽管他们退休好多年了,设备出现问题,后人还可以找到配件的线索。将晶闸管拆下来后发现正反向都是导通状态,显然控制端无法控制其单向积累电荷给电容充电,因而根据铭牌上的最大电流500A、耐压1800V、控制电压1.5V指标购买替换晶闸管,幸运的是市场上还能找到同样规格的KP-500A晶闸管,买回来替换上后测试发现仪器可以正常充放电,至此维修工作完成。简单分析其原因是使用者将负载换成特别轻的电感,这样在最高800V充电后,电感几乎不能增加阻抗,此时放电回路电路中的阻抗幅值约0.5欧姆,导致放电回路中的电流瞬间超过1600安培,而晶闸管的最高承受电流只有500安培,所以损坏导致故障。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573468_1611921_3.gif图03 脉冲强磁场装置充放电原理电路图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573469_1611921_3.png图04 脉冲强磁场装置充放电电路照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573470_1611921_3.jpeg图05 更换的晶闸管照片三、测试验证我们知道,设备维修让设备能工作与是否适合科学研究是两码事,为了让使用者更好的在该设备上开展研究,需要在正常工作的基础上对其性能做一次测试验证,测量不同充电电压对应在标准负载线圈中的放电脉冲磁场。测试用到的工具是带轴向(霍尔传感器)磁场探头的特斯拉计(高斯计),与一台示波器,如图06所示,由于仪器尾部自带有BNC模拟接口,将其连在示波器上,但初步测试发现仪器标配的模拟信号在较高磁场下有饱和截断平台,如图07所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573471_1611921_3.png图06 测试验证需要的仪器http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573472_1611921_3.png图07 直接使用模拟信号观测脉冲场波形经过与特斯拉计的工程师交流,得知其模拟输出的是原始霍尔电压信号放大10倍并做滤波限幅保护等电路处理之后输出的结果,而设备限幅4V,对应典型传感器最高只能测量4T的磁场。我们目前的应用明显要测量超过4T的磁场,那么要想获得高于4T的模拟脉冲信号,怎么办呢?使用原始(未经放大、调理、限幅处理的)霍尔电压信号!于是打开特斯拉计机箱,如图08所示,http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573473_1611921_3.png图08 特斯拉计内部电路结构http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573474_1611921_3.png图09 改变模拟BNC输入线的接入位置做好以上的准备工作后,开始进行测量系统标定,为了简便,这里使用一块永磁体产生磁场做动态模拟电压-磁场标定,放在探头边上,通过调节距离改变特斯拉计的输入磁场,记录特斯拉计与示波器上直流信号的平均值,绘制成曲线并拟合如图10所示。然后将磁场探头放入负载线圈的中心位置,测量不同放电电压下产生的脉冲磁场波形,并根据指数衰减放电函数拟合出峰值与脉宽,如图11所示。最后将所有的初始放电电压获得的脉冲磁场信号曲线的拟合结果汇总可得脉宽不随放电电压变化,恒定约1毫秒,峰值磁场与初始放电电压关系经拟合满足为B(特斯拉)=20V(千伏)关系,该设备在最高800V电压充电时产生峰值磁场约16T,使用相对简单的原理与低成本[c

  • 【讨论】原子力显微镜

    【讨论】原子力显微镜

    原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德?宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子穿隧效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或喀希米尔效应等来呈现样品的表面特性。1. 工作原理原子力显微镜的原理示意图: Detector and Feedback Electronics 侦检器及回馈电路; Photodiode 感光二极管; Laser 激光器; Sample Surface 样品表面; Cantilever & Tip 微悬臂及探针; PZT Scanner 压电扫描器 AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在数十至数百微米,通常由硅或者氮化硅构成,其上载有探针,探针之尖端的曲率半径则在纳米量级。当探针被放置到样品表面附近的地方时,悬臂会因为受到探针头和表面的引力而遵从胡克定律弯曲偏移。在不同的情况下,这种被AFM测量到的力可能是机械接触力、范德华力、毛吸力、化学键、静电力、磁力(见磁力显微镜)喀希米尔效应力、溶剂力等等。通常,偏移会由射在微悬臂上的激光束反射至光敏二极管阵列而测量到,较薄之悬臂表面常镀上反光材质( 如铝)以增强其反射。其他方法还包括光学干涉法、电容法和压电效应法。这些探头通常由采用压电效应的变形测量器而制得。通过惠斯登电桥,探头的形变何以被测得,不过这种方法没有激光反射法或干涉法灵敏。 当在恒定高度扫描时,探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持探头与样品片表面的高度恒定。传统上,样品被放在压电管上并可以在z方向上移动以保持与探头之间的恒定距离,在x、y方向上移动来实现扫描。或者采用一种“三脚架”技术,在三个方向上实现扫描。扫描的结果S(x,y)就是样品的表面图。AFM可以在不同模式下运行。这些模式可以被分为接触模式(Contact Mode)、非接触(Non-Contact Mode)、轻敲模式(Tapping Mode)、侧向力(Lateral Force Mode)模式。2. 优点与缺点 相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812311440_127077_1664664_3.jpg[/img]

  • 扫描探针显微镜一套

    山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

  • 我科学家首次发现量子反常霍尔效应

    美妙之处或可加速推进信息技术进步的进程 新华社北京3月15日电 (记者李江涛)由清华大学薛其坤院士领衔,清华大学、中科院物理所和斯坦福大学研究人员联合组成的团队在量子反常霍尔效应研究中取得重大突破,他们从实验中首次观测到量子反常霍尔效应,这是我国科学家从实验中独立观测到的一个重要物理现象,也是物理学领域基础研究的一项重要科学发现。 该成果于北京时间3月15日凌晨在美国《科学》杂志在线发表。 据介绍,美国科学家霍尔分别于1879年和1880年发现霍尔效应和反常霍尔效应。在一个通有电流的导体中,如果施加一个垂直于电流方向的磁场,由于洛伦兹力的作用,电子的运动轨迹将产生偏转,从而在垂直于电流和磁场方向的导体两端产生电压,这个电磁输运现象就是著名的霍尔效应。而在磁性材料中不加外磁场也可以观测到霍尔效应,这种零磁场中的霍尔效应就是反常霍尔效应。反常霍尔电导是由于材料本身的自发磁化而产生的,因此是一类新的重要物理效应。 量子霍尔效应之所以如此重要,一方面是由于它们体现了二维电子系统在低温强磁场的极端条件下的奇妙量子行为,另一方面这些效应可能在未来电子器件中发挥特殊的作用,可用于制备低能耗的高速电子器件。 例如,如果把量子霍尔效应引入计算机芯片,将会克服电脑的发热和能量耗散问题。然而由于量子霍尔效应的产生需要非常强的磁场,因此至今为止它还没有特别大的实用价值,因为要产生所需的磁场不但价格昂贵,而且其体积庞大(衣柜大小),也不适合于个人电脑和便携式计算机。 据了解,量子反常霍尔效应的美妙之处是不需要任何外加磁场,因此,这项研究成果将会推动新一代的低能耗晶体管和电子学器件的发展,可能加速推进信息技术进步的进程。

  • 【求助】请教原子力显微镜分辨率与扫描器的关系?

    [color=#0162f4][size=4]新进了一台原子力显微镜,配的扫描器是20μm的,不知道分辨率是多少?我也检索了关于原子力显微镜的分辨率的一些问题,但不知道原子力的分辨率是不是与扫描器有关,不同扫描器除了扫描范围不一样,得到的扫描图像的精度也不一样,是不是就是说分辨率不一样呢?关于分辨率的问题常常都在困扰这我,这个问题说简单很简单,说复杂也觉得挺复杂的,请教各位,原子力显微镜分辨率与扫描器的关系如何?如果我希望能看到更高精度的图像,是不是需要升级我现在的20μm的扫描器?衷心感谢各位的解答![/size][/color]

  • 【求助】请问软磁材料可以用磁力显微镜看磁畴吗?

    由于软磁材料具有较低的矫顽力,那软磁材料有没有磁畴啊?请问可以用磁力显微镜看磁畴吗?我看有的书上说好像很难的? 我有个软磁材料,矫顽力很小,也就100 Oe左右,但饱和磁化强度很高。请问可以用MFM探测吗?各位大侠指点迷津! 谢谢~!

  • 【原创】显微镜的发展史

    一、显微镜的发展史 人的眼睛不能直接观察到比0.1mm更小的物体或物质的结构细节。人要想看得到更小的物 质结构,就必须利用工具,这种工具就是显微镜。 第一代显微镜:光学显微镜,极限分辨率是200纳米。由于光的衍射效应,分辨率受制于半波长,可见光的最短波长为0.4微米。 第二代显微镜:电子显微镜。1924年,德布罗意提出了微观粒子具有波粒二象性的假设,后来这种假设得到了实验证实。此后物理学家们利用电子在磁场中的运动与光线在介质中的传播相似的性质,研制成功了电子透镜,在此基础上于1933年发明了电子显微镜。TEM的点分辨率为0.2~0.5nm,晶格分辨率为0.1~0.2nm,扫描电镜的分辨率为6~10nm。它们的工作环境都要求高真空,并且使用成本很高,在一定程度上限制了电子显微镜的发展。 第三代显微镜:扫描探针显微镜。80年代初期,IBM公司苏黎世实验室的G.Binning 和H.Rohrer发明了扫描隧道显微镜,它的分辨率达到0.01纳米。STM的诞生,使人类第一次在实 间观测到了原子,并能够在超高真空超低温的状态下操纵原子。因为这两项重大的意义,这两位 科学家荣获了1986年的诺贝尔物理奖。在STM的基础上,又发明了原子力显微镜、磁力显微镜、近场光学显微镜等等,这些显微镜都统称扫描探针显微镜。因为它们都是靠一根原子线度的极细针尖在被研究物质的表面上方扫描,检测采集针尖和样品间的不同物理量,以此得到样品表面的形貌图像和一些有关的电化学特性。如:扫描隧道显微镜检测的是隧道电流,原子力显微镜镜测试的是原子间相互作用力等等。光学显微镜和电子显微镜都称之为远场显微镜,因为相对来说样品离成像系统有比较远的距离。成像的图像好坏基本取决于仪器的质量。而扫描探针显微镜的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,探针和样品之间只有2-3埃的距离,会产生相互的作用,是一种相互影响的耦合体系。我们称它为近场显微镜。它的成像质量不单单取决于显微镜本身,很大程度上受样品本身和针尖状态的影响。所以,我们在使用这一类的仪器时,要想得到好的图像,关键是要学会分析判断各种图像及现象的产生原因,然后通过调整参数,得到相对好的图像。 二、扫描探针显微镜(SPM)原理及设计思路 1、STM的产生 STM的工作原理是基于量子力学中的隧道效应。对于经典物理学来说,当一个粒子的动能低于前方势垒的高度 时,他不可能越过此势垒,即透射系数等于零,粒子将完全被弹回。而按照量子力学的计算,在一般情况下,其透射系数不等于零,也就是 说,粒子可以穿过比它能量更高的势垒,这个现象称为隧道效应。隧道效应是由于粒子的波动性而引起的,只有在一定的条件下,隧道效应才会显著。 扫描隧道显微镜是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近 (通常小于1nm)时,在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。由于隧道电流(纳安级)随距离而剧烈变化,让针尖在同一高度扫描材料表面,表面那些“凸凹不平”的原子所造成的电流变化,通过计算机处理,便能在显示屏上看到材料表面三维的原子结构图。STM具有空前的高分辨率(横向可达0.1nm,纵向可达0.01nm),它能直接观察到物质表面的原子结构图,从而把人们带到了纳观世界。 STM中针尖对样品作两维扫描 隧道电流与针尖样品表面距离呈负指数关系 2、STM恒高模式的产生和局限性 2.1 恒高模式 针尖以一个恒定的高度在样品表面快速地扫描,检测的是隧道电流的变化。当针尖扫描样品表面时,记录每点的隧道电流值,经过处理后得到图像。[/f

  • 第二届原子力显微镜网络研讨会来啦!9位专家报告邀您参会!

    [b][img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09505.gif[/img][b][img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09505.gif[/img][img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09505.gif[/img][/b]仪器信息网[/b]将在[b]2020年9月24日[/b]举办“[b]第二届原子力显微镜主题网络研讨会[/b]”,邀请原子力显微镜/扫描探针显微镜研究应用专家、相关检测技术专家,以及实验室相关工作人员等,以网络在线报告、在线网友互动交流的形式,针对当下原子力显微镜/扫描探针显微镜研究热点、新技术及难点、相关市场展望等进行探讨,为同行搭建学习互动平台,增进学术交流。[align=center][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/AFM2020/][color=#ff0000][b](点击此处,报名参会)[/b][/color][/url][/align][align=center][img=103534520200901.jpg]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/bf9a2b91-150a-4d0a-bae7-1dce55a15eb3.jpg[/img][/align][align=center][b][size=20px][color=#0070c0]会议日程[/color][/size][/b][/align][table][tr][td=1,1,47][align=center][color=#333333][b][/b][/color][/align][color=#333333][/color][align=center][b]时间[/b][/align][align=center][b][/b][/align][/td][td=1,1,284][align=center][color=#333333][b][/b][/color][/align][color=#333333][/color][align=center][b][/b][/align][align=center][b]报告题目[/b][/align][align=center][b][/b][/align][/td][td=1,1,229][align=center][color=#333333][b][/b][/color][/align][color=#333333][/color][align=center][b][/b][/align][b][/b][align=center][b]报告人[/b][/align][align=center][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,54]09:00--09:30[/td][td=1,1,284]原子力显微镜双模态理论及分子模拟方法[/td][td=1,1,229]钱建强(北京航空航天大学 教授)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]09:30--10:00[/td][td=1,1,275]导电原子力显微镜在电子器件纳米级电学测试中的应用[/td][td=1,1,224]惠飞以色列理工学院(博士后研究员)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]10:00--10:30[/td][td=1,1,284]四探针扫描隧道显微镜的发展与应用[/td][td=1,1,229]马瑞松(中国科学院物理研究所 副研究员)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]10:30--11:00[/td][td=1,1,284]基于多探针原子力显微镜的三维微纳加工及原位测量系统研制[/td][td=1,1,229]李鹏(北京工业大学 讲师)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]11:00--11:30[/td][td=1,1,284]薄膜光电器件中的界面能带结构[/td][td=1,1,229]陈琪(中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 副研究员)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]12:00--14:00[/td][td=2,1,533][align=center]午休[/align][/td][/tr][tr][td=1,1,47]14:00--14:30[/td][td=1,1,284]二维材料界面结构与性质的先进原子力探针显微学研究[/td][td=1,1,229]程志海(中国人民大学 教授)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]14:30--15:00[/td][td=1,1,284]原子力显微镜与电子显微镜联用的应用[/td][td=1,1,229]刘金荣(日立高新技术公司 高级工程师)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]15:00--15:30[/td][td=1,1,284]基于原子力显微镜的原子尺度固体表面/界面物理特性研究[/td][td=1,1,229]温焕飞(中北大学 副教授)[/td][/tr][tr][td=1,1,47]15:30--16:00[/td][td=1,1,284]极端条件扫描探针显微开发[/td][td=1,1,229]毛寒青(中科院物理研究所 副主任工程师)[/td][/tr][/table][align=center][b][size=20px][color=#0070c0][/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=20px][color=#0070c0]报告嘉宾[/color][/size][/b][/align][align=center][b][size=20px][color=#0070c0][img=钱建强.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/f0487d29-8d33-4f7a-84ad-db28f667da10.jpg[/img][/color][/size][/b][/align]钱建强,北京航空航天大学物理学院教授,博士生导师。中国仪器仪表学会显微仪器分会理事,中国宇航学会空间遥感专业委员会委员,全国高等学校光学教学研究会理事,主要从事纳米测量方法与显微仪器技术研究。上世纪90年代初师从姚骏恩院士,研制成功国内首批激光检测原子力显微镜。近年来承担并完成国家科技支撑计划重大课题子课题、国家863、国家自然科学基金、北京市自然科学基金等项目20余项。先后研制成功基于自激励和自感知的石英音叉探针频率调制原子力显微镜,原子力显微镜液相环境频率调制成像系统,原子力显微镜高次谐波/多频激励成像系统。率先开展了基于压缩感知的原子力显微镜成像方法研究,基于小波变换的原子力显微镜高次谐波信号分析。在Nanotechnology、 Ultramicroscopy、Review of Scientific Instruments等国内外学术期刊发表论文100余篇,获授权国家发明专利15项,主编并出版工信部“十二五”规划教材1部。[align=center][img=程志海.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/35d44acd-fed9-473e-8d98-b4770b2a88ab.jpg[/img][/align]程志海,中国人民大学物理学系教授,博士生导师,基金委优青。2002年毕业于大连理工大学物理与光电工程学院应用物理系。2002-2007年,在中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室硕博连读,获凝聚态物理博士学位。2004年7月至2005年1月,在德国柏林自由大学物理系及实验物理研究所做访问学者,2007年8月-2011年7月,在美国加州大学Riverside分校化学系及纳米科学与工程中心从事博士后研究。2011年8月-2017年月,国家纳米科学中心(中科院纳米标准与检测重点实验室),任副研究员/研究员。曾获中国科学院“引进杰出技术人才计划”(技术百人计划)和首届“卓越青年科学家”,卢嘉锡青年人才奖获得者,青年创新促进会会员并获首届“学科交叉与创新奖”等。目前,主要工作集中在先进原子力探针显微分析技术及其在低维与表面物理、纳米科技等领域的应用基础研究。[align=center][/align][align=center][img=陈琪.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/85bbfade-09dc-4860-b38f-c7e65962834e.jpg[/img][/align]陈琪,2014年获中国科学技术大学物理学博士学位,导师王兵教授。博士在读期间在中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所陈立桅研究员课题组作联合培养。2014年-2017年先后在中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所陈立桅研究员课题组和美国华盛顿大学Alex K.-Y. Jen教授课题组作博士后研究。2017年6月起任中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所副研究员。主要从事光电转换器件界面的扫描探针研究。[align=center][img=马瑞松.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/7fd3196d-5f26-403c-b7b2-77587a99af5f.jpg[/img][/align]马瑞松,2017年获得中国科学院物理研究所博士学位,导师高鸿钧院士。博士期间的主要工作是对一台商用四探针扫描隧道显微镜系统进行升级改造,并利用改造后的系统研究石墨烯的电学输运性质。2017.12至2019.12于中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室开展博士后研究工作,研究方向为基于四探针STM的二维材料电学输运性质研究。2019年12月起任中国科学院物理研究所副研究员,主要从事扫描探针系统的研发工作。[align=center][img=毛寒青.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/454c84fb-0748-4bd0-a699-987e16e29a44.jpg[/img][/align]毛寒青,本科毕业于兰州大学,博士毕业于清华大学(薛其坤研究组),之后在德国雷根斯堡大学(Giessibl研究组)做博后。目前就职于中国科学院物理研究所。一直致力于SPM相关的技术研发。设计搭建了国内首台可以实现原子分辨的低温非接触原子力显微镜,及首台扫描头可以在低温强磁场环境下旋转的SPM。还设计了多款不同应用场景的SPM,如应用于近场光学显微的低温AFM等等。对SPM相关的电子学系统,比如微弱信号放大,压电电机驱动器等也有较丰富的开发经验。[align=center][img=惠飞.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/37c37636-f82e-4d18-8b67-f4f82dafa60b.jpg[/img][/align]惠飞,现以色列理工学院博士后研究员,2018年获得巴塞罗那大学和苏州大学双博士学位。在攻读博士期间,她曾先后到世界顶级名校美国麻省理工学院和英国剑桥大学进行为期12个月和6个月的访学。在科研方面,截止目前,共参与发表SCI期刊学术论文45篇。其中,一作论文13篇,包括顶级期刊Nature Electronics, Advanced Functional Materials, ACS Applied Materials & Interfaces, 2D Materials, Nanoscale等,谷歌学术论文总引用次数为1353次。参与德国Wiley出版的专著篇章一部,获国家授权发明专利两项,申请国际专利两项。担任Sensors, Electronics, Nanotechnology等期刊专刊的编委会成员、多个IEEE会议(2021 IEEE-EDTM,2021 IEEE-IPFA, 2020 IEEE-IRPS, 2020 IEEE-IIRW)的技术/宣传委员会成员、以及国际期刊审稿人。曾获得英国皇家化学会学者奖学金、2019 Park AFM博后奖学金、国家奖学金等。她的主要研究领域是基于二维材料的电子器件及其在纳米级的电学行为表征。[align=center][img=温焕飞.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/3187d4e6-6b0f-4726-8a33-e2245eedf6b1.jpg[/img][/align]温焕飞,2019年3月入职中北大学 仪器与电子学院,2014年4月至2017年3月于大阪大学应用物理学与精密科学专业攻读工学博士学位,同年4月至2019年3月在同一研究室从事博士后研究。目前,主要工作集中在先进扫描探针显微成像分析技术及其在表面/界面物理化学特性、半导体芯片的多物理信息表征等测试领域的应用研究。参与英文书籍1部,口头报告14次,其中国际报告7次,邀请报告4次,Poster报告16次,国际会议主持人1次。主持国家自然科学青年基金、山西省自然科学基金和山西省高等学校科技创新项目各一项。[align=center][img=李鹏.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/03e51787-4ef3-4797-9aa3-cd0ee91bee5d.jpg[/img][/align]李鹏,2020年6月入职北京工业大学材料与制造学部。2009年毕业于四川大学自动化系。2009-2015年,在中国科学院沈阳自动化研究所硕博连读,获机械电子工程博士学位。博士期间主要工作为扫描离子电导显微镜(SICM)系统的研制,并提出了一种SICM新型工作模式-同相电压调制模式。2015年7月-2020年6月,国家纳米科学中心(中科院纳米标准与检测重点实验室),任助理研究员,主要工作为多探针原子力显微镜系统研制及应用研究、亚十纳米探针刻蚀技术及器件工艺摸索等。[align=center][img=刘金荣.PNG]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/e47a4612-08d9-4a2a-93a1-8beae10b588d.jpg[/img][/align]刘金荣,日立/精工原子力显微镜资深工程师,从事原子力显微镜应用和技术支持超过20年。[align=center][b][size=20px][color=#0070c0]报名方式[/color][/size][/b][/align]本次网络研讨会免费参会,并设有答疑交流环节,诚挚欢迎各地高校、科研院所、企业等相关从业人员报名参与。[b][size=20px][color=#0070c0][/color][/size][/b]1、点击[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/AFM2020/][b]此处链接[/b][/url]后报名。2、扫描下方二维码进行报名:[b][size=20px][color=#0070c0][img=,223,223]https://img1.17img.cn/17img/images/202009/pic/525c9811-275a-42ea-a91c-816e3747bccb.jpg[/img][/color][/size][/b]

  • 稳态强磁场实验装置测试系统产出新成果

    近期,中国科学技术大学朱弘教授小组利用稳态强磁场实验装置电子自旋共振等测试系统,研究了压缩应变(La,Ba)MnO3薄膜中的磁晶各向异性,其研究结果近期发表于《应用物理学杂志》(Journal of Applied Physics)。 中国科学院强磁场科学中心的科学实验测试系统包括输运实验测试系统、磁性实验测试系统、磁光实验测试系统、极低温实验测试系统、高压实验测试系统和组合显微系统。朱弘小组此次实验就是利用磁性实验测试系统中的“电子顺磁共振谱仪”,进行了一系列研究。其实验结果表明,在Sr或Ca掺杂的锰氧化物铁磁薄膜中容易磁化轴沿拉伸应变方向。该工作利用转角铁磁共振技术,发现在Ba掺杂的薄膜中情况正相反,易磁化方向对应面内的压缩应变方向。实验得到面外共振位置高达12千奥斯特(kOe),表明除了形状各向异性外,磁晶各向异性非常可观,且是易面的。这种磁晶各向异性“异常”的表现反映了锰氧化物与Bethe-Slater曲线的物理内容相一致。(La,Ba)MnO3和Co、Ni相同,易磁化轴沿压缩方向;而另两种掺杂的锰氧化物(LaCa),(LaSr)和a-Fe一样表现相反。 强磁场科学中心成立于2008年4月30日,是国家发改委支持的“十一五”国家重大科学工程。中心的长远预设目标包括强磁场的产生、强磁场下的物性研究以及依托强磁场实验装置进行科学技术发明,其实验设施包括磁体装置和科学实验测试系统。2010年,部分磁体装置及测试系统建成,已开始先期投入试运行并陆续向用户开放,基本实现“边建设边运行”。 稳态强磁场实验装置项目建设总目标是建立40T级稳态混合磁体实验装置和系列不同用途的高功率水冷磁体、超导磁体实验装置,使我国的强磁场水平跻身于世界先进行列。目前四台超导磁体中的SM3与配套核磁共振谱仪完成联调,并已开展了多项结构生物学和药物学方面的研究,SM2已调试成功,正与组合显微测试系统SMA联调。磁体装置方面,强磁场中心现已成功研制出国内首台铌三锡管内电缆导体的超导磁体以及我国首台井式真空充气保护大型铌锡线圈热处理炉系统。http://www.cas.cn/ky/kyjz/201208/W020120820347280715931.jpg

  • 【分享】原子力显微镜

    【分享】原子力显微镜

    原子力显微镜  原子力显微镜  atomic force microscope  一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。它主要由带针尖的微悬臂  、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求,可测量固体表面、吸附体系等。   原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分.  优点与缺点  相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。  和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。[~116643~][~116644~][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624039_1602049_3.jpg[/img]

  • “量子反常霍尔效应”离诺贝尔物理奖有多近?

    我国科学家首次发现“量子反常霍尔效应”这一科研成果离诺贝尔物理奖有多近2013年04月11日 来源: 中国科技网 作者: 林莉君 李大庆 http://www.stdaily.com/stdaily/pic/attachement/jpg/site2/20130410/051365597244421_change_wtt3427_b.jpg量子反常霍尔效应的示意图,拓扑非平庸的能带结构产生具有手征性的边缘态,从而导致量子反常霍尔效应 http://www.stdaily.com/stdaily/pic/attachement/jpg/site2/20130410/051365597244437_change_wtt3428_b.jpg理论计算得到的磁性拓扑绝缘体多层膜的能带结构和相应的霍尔电导 “这个研究成果是从中国实验室里,第一次发表出来了诺贝尔物理奖级别的论文,这不仅是清华大学、中科院的喜事,也是整个国家发展中喜事。”4月10日,诺贝尔物理奖得主、清华大学高等研究院名誉院长杨振宁教授高度评价了我国科学家的重大发现——量子反常霍尔效应。 由清华大学薛其坤院士领衔、清华大学物理系和中科院物理研究所组成的实验团队从实验上首次观测到量子反常霍尔效应。美国《科学》杂志于3月14日在线发表这一研究成果。由于此前和量子霍尔效应有关的科研成果已经3获诺贝尔奖,学术界很多人士对这项“可能是量子霍尔效应家族最后一个重要成员”的研究给予了极高的关注和期望。那么什么是量子反常霍尔效应?对它的研究为什么引起世界各国科学家的兴趣?它的发现有什么重大意义? 重要性 突破摩尔定律瓶颈 加速推动信息技术革命进程 在认识量子反常霍尔效应之前,让我们先来了解一下量子霍尔效应。量子霍尔效应,于1980年被德国科学家发现,是整个凝聚态物理领域中重要、最基本的量子效应之一。它的应用前景非常广泛。 薛其坤院士举了个简单的例子:我们使用计算机的时候,会遇到计算机发热、能量损耗、速度变慢等问题。这是因为常态下芯片中的电子运动没有特定的轨道、相互碰撞从而发生能量损耗。而量子霍尔效应则可以对电子的运动制定一个规则,让它们在各自的跑道上“一往无前”地前进。“这就好比一辆高级跑车,常态下是在拥挤的农贸市场上前进,而在量子霍尔效应下,则可以在‘各行其道、互不干扰’的高速路上前进。”薛其坤打了个形象的比喻。 然而,量子霍尔效应的产生需要非常强的磁场,“相当于外加10个计算机大的磁铁,这不但体积庞大,而且价格昂贵,不适合个人电脑和便携式计算机。”薛其坤说,而量子反常霍尔效应的美妙之处是不需要任何外加磁场,在零磁场中就可以实现量子霍尔态,更容易应用到人们日常所需的电子器件中。 自1988年开始,就不断有理论物理学家提出各种方案,然而在实验上没有取得任何进展。2006年, 美国斯坦福大学张首晟教授领导的理论组成功地预言了二维拓扑绝缘体中的量子自旋霍尔效应,并于2008年指出了在磁性掺杂的拓扑绝缘体中实现量子反常霍尔效应的新方向。2010年,我国理论物理学家方忠、戴希等与张首晟教授合作,提出磁性掺杂的三维拓扑绝缘体有可能是实现量子化反常霍尔效应的最佳体系。这个方案引起了国际学术界的广泛关注。德国、美国、日本等有多个世界一流的研究组沿着这个思路在实验上寻找量子反常霍尔效应,但一直没有取得突破。 薛其坤团队经过近4年的研究,生长测量了1000多个样品。最终,他们利用分子束外延方法,生长出了高质量的Cr掺杂(Bi,Sb)2Te3拓扑绝缘体磁性薄膜,并在极低温输运测量装置上成功观测到了量子反常霍尔效应。 “量子反常霍尔效应可在未来解决摩尔定律瓶颈问题,它发现或将带来下一次信息技术革命,我国科学家为国家争夺了这场信息革命中的战略制高点。”拓扑绝缘体领域的开创者之一、清华大学“千人计划”张首晟教授说。 创新性 让实验材料同时具备“速度、高度和灵巧度” 从美国物理学家霍尔丹于1988年提出可能存在不需要外磁场的量子霍尔效应,到我国科学家为这一预言画上完美句号,中间经过了20多年。课题组成员、中科院物理所副研究员何珂告诉记者:“量子反常霍尔效应实现非常困难,需要精准的材料设计、制备与调控。尽管多年来各国科学家提出几种不同的实现途径,但所需的材料和结构非常难以制备,因此在实验上进展缓慢。” “这就如同要求一个运动员同时具有刘翔的速度、姚明的高度和郭晶晶的灵巧度。在实际的材料中实现以上任何一点都具有相当大的难度,而要同时满足这三点对实验物理学家来讲是一个巨大的挑战。”课题组成员、清华大学王亚愚教授这样描述实验对材料要求的苛刻程度。 实验中,材料必须具有铁磁性从而存在反常霍尔效应;材料的能带结构必须具有拓扑特性从而具有导电的一维边缘态,即一维导电通道;材料的体内必须为绝缘态从而对导电没有任何贡献,只有一维边缘态参与导电。 2010年,课题组完成了对1纳米到6纳米(头发丝粗细的万分之一)厚度薄膜的生长和输运测量,得到了系统的结果,从而使得准二维超薄膜的生长测量成为可能。 2011年,课题组实现了对拓扑绝缘体能带结构的精密调控,使得其体材料成为真正的绝缘体,去除了其对输运性质的影响。 2012年初,课题组在准二维、体绝缘的拓扑绝缘体中实现了自发长程铁磁性,并利用外加栅极电压对其电子结构进行原位精密调控。 2012年10月,课题组终于发现在一定的外加栅极电压范围内,此材料在零磁场中的反常霍尔电阻达到了量子霍尔效应的特征值h/e2—25800欧姆——世界难题得以攻克。 课题组克服薄膜生长、磁性掺杂、门电压控制、低温输运测量等多道难关,一步一步实现了对拓扑绝缘体的电子结构、长程铁磁序以及能带拓扑结构的精密调控,最终为这一物理现象的实现画上了完美的句号。 “下一步我们主要的努力方向是全面测量材料在极低温下的电子结构和输运性质,寻找更好的材料体系,在更高的温度下实现这一效应。那时,也许我们能对其应用前景作更好的判断。”王亚愚告诉记者。 外界评说 这是凝聚态物理界一项里程碑式的工作 “实验成果出来以后,量子霍尔效应的发现者给我发了一封邮件。他写道:我深信拓扑绝缘体和量子反常霍尔效应是科学王冠上的明星。”张首晟向记者展示了这封邮件。 《科学》杂志的一位审稿人说:“这项工作毫无疑问地证实了与普通量子霍尔效应不同来源的单通道边缘态的存在。我认为这是凝聚态物理学一项非常重要的成就。”另一位审稿人说:“这篇文章结束了多年来对无朗道能级的量子霍尔效应的探寻。这是一篇里程碑式的文章。” 延伸阅读 霍尔效应与反常霍尔效应 霍尔效应是美国物理学家霍尔于1879年发现的一个物理效应。在一个通有电流的导体中,如果施加一个垂直于电流方向的磁场,由于洛伦兹力的作用,电子的运动轨迹将产生偏转,从而在垂直于电流和磁场方向的导体两端产生电压,这个电磁输运现象就是著名的霍尔效应。产生的横向电压被称为霍尔电压,霍尔电压与施加的电流之比则被称为霍尔电阻。由于洛伦兹力的大小与磁场成正比,所以霍尔电阻也与磁场成线性变化关系。 1880年,霍尔在研究磁性金属的霍尔效应时发现,即使不加外磁场也可以观测到霍尔效应,这种零磁场中的霍尔效应就是反常霍尔效应。反常霍尔效应与普通的霍尔效应在本质上完全不同,因为这里不存在外磁场对电子的洛伦兹力而产生的运动轨道偏转。反常霍尔电导是由于材料本身的自发磁化而产生的,因此是一类新的重要物理效应。 量子霍尔效应的相关研究已3次获得诺贝尔奖 量子霍尔效应在凝聚态物理的研究中占据着极其重要的地位。它就像一个富矿,一代又一代科学家为之着迷和献身,他们的成就也多次获得诺贝尔物理奖。 1985年,诺贝尔物理奖颁给了德国科学家冯·克利青,他于1980年发现了整数量子霍尔效应。 1998年,诺贝尔物理奖颁给了美国科学家:美籍华人物理学家崔琦以及施特默、劳弗林。前两人于1982年发现了分数量子霍尔效应,而后者则对这一效应进一步给出了理论解释。 2010年,诺贝尔物理奖颁给了英国科学家安德烈·海姆和康斯坦丁·诺沃肖洛夫。他们俩在2005年发现了石墨烯中的半整数量子霍尔效应。 此外,量子化自旋霍尔效应于2007年被发现,2010年获得欧洲物理奖,2012年获得美国物理学会巴克利奖。(记者 林莉君 李大庆) 《科技日报》(2013-04-11

  • 求购扫描探针-原子力显微镜

    领导要求调查一下扫描探针(原子力)显微镜,打算购买一个,我看了一下,国内外的很多家单位都有产品,这下不知道怎么搞了,也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求,能观测三维形貌,测量厚度,其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件,预留其他功能窗口,大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com,宋。谢谢

  • 原子力显微镜测试

    点击链接查看更多:[url]https://www.woyaoce.cn/service/info-37076.html[/url]Bruker Dension lcon系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品,凝聚了多项行业领先的技术,是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。Dimension lcon的出现为科学和工业界在纳米尺度的研究带来了革命性的巅峰之作。Dimension lcon可以实现所有主要的扫描探针成像技术,其测试样品尺寸可达:直径210mm,厚度15mm。温度补偿位置传感器使Z-轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平,并呈现出前所未有的高分辨率。对于大样品、90微米扫描范围的系统来说,这种噪音水平超越了所有的开环扫描高分辨率的原子力显微镜。全新的XVZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。探针和样品台的开放式设计使lcon可胜任各种标准和非标准的实验。Dimension lcon的硬件和软件最大程度的利用了先进的布鲁壳AFM的模式和技术,如高次谐波共振模式等。并且独有的不失真高温成像技术采用对针尖和样品同时加热的方法,最大程度减少针尖和样品之间的温差,避免造成成像失真。Dimension lcon可广泛应用于材料科学,物理,化学,微电子,生命科学等领域和学科。[align=center][size=20px]应用范围[/size][/align]形貌分析:通过原子力显微镜我们可获得纳米材料、高分子材料、生物样品、金属材料、陶瓷材料、薄膜材料表面形貌信息。高度及粗糙度分析:通过原子力显微镜可以获得各种材料表面的起伏度信息、粗糙度信息、高度信息。性能分析:通过原子力显微镜可对材料的力学性能、电学性能、磁学性能、摩擦力、阻抗性能进行表征。[align=center][size=20px]检测案例[/size][/align][align=center]零维纳米材料:量子点检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144216_0978.jpg[/img][/align][align=center]二维纳米材料:石墨烯检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144315_4015.jpg[/img][/align][align=center]薄膜材料检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144356_1183.jpg[/img][/align][align=center][size=20px][/size][/align][size=20px]送样要求[/size]粉末样品:样品量≥10mg.液体样品:样品量≥1ml。块体样品:样品尺寸≤1cm*1cm(能支持的最大样品尺寸20cm,样品较大时请提前联系)。[align=center][size=20px]测试说明:[/size][/align]1.样品粗糙度或者粒径尽量不要超过 1um,含有较多有机杂质的需要提纯处理,否则影响测试。2.测试原子力前最好先用扫描电镜或透射电镜进行筛选,并提供相关的参考图片。3.C-AFM PFM KPFM测试要求样品必须导电。4.导电性能测试(C-AFM):可同时得到样品形貌和电流分布图,也可进行选区I-V曲线测试。5.表面电势测试(AFM-SKPFM): 可对样品表面电荷进行半定性表征,能直接测量探针和样品之间的电势差。6.压电力测试(AFM-PFM):可得到材料的静态电畴结构、电畴反转行为、慢弛豫过程、微区电滞回线等信息。7.磁学性能测试(AFM-MFM):可得到样品微区磁畴的分布。8.力学性能测试(AFM-QNM):可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量,得到微区的杨氏模量分布,适用于较软样品高级纳米力学成像模式,可对有机物,高分子以及金属材料进行扫描,同时得到形貌和模量分布。

  • 我国刷新脉冲磁场最高强度纪录 闯入90特斯拉大关

    科技日报讯 近日,依托华中科技大学建设的国家脉冲强磁场科学中心(筹)自行研制的脉冲磁体,成功实现了90.6特斯拉的峰值磁场,再次刷新我国脉冲磁场最高强度纪录,使我国成为继美、德后,第三个闯入90特斯拉大关的国家。 中国工程院院士、华中科技大学教授潘垣介绍,磁现象是物质的基本现象之一。当物质处在磁场中,其内部结构可能发生改变,产生新成果。强磁场与极低温、超高压一样,被列为现代科学实验最重要的极端条件之一。它可分为稳态强磁场和脉冲强磁场两大类,其对应的发生装置又分为稳态强磁场装置和脉冲强磁场装置。有资料显示,自1913年以来,世界上有19项与强磁场有关的成果获得诺贝尔奖;仅近30年来,就有8项与此有关的成果获得诺贝尔奖,如量子霍尔效应、分数量子霍尔效应、磁共振成像等。 据国家脉冲强磁场科学中心(筹)主任李亮介绍,产生90.6特斯拉磁场强度的磁体、电源、控制系统等全套装置均为中心自主开发研制。脉冲磁体是产生高强磁场最重要的部件,电流和磁场相互作用在瞬间所产生的强大电动力和急剧温升,是限制磁场强度提高的两大主要因素。与美国、德国90特斯拉级脉冲磁体都采用昂贵的高强高导材料相比,我国磁体制造成本还不到他们同类磁体的1/10。 据称,为实现90特斯拉以上的磁场强度,美国洛斯—阿拉莫斯强磁场实验室用了20年,德国德累斯顿强磁场实验室用了10年,而我国仅用5年就实现了这一水平。(记者刘志伟 通讯员程远) 《科技日报》(2013-08-14 一版)

  • 强磁场有无危害?

    请问核磁的强磁场对人体有无危害?如果有,主要是哪几个方面?平时需要注意哪些方面?

  • 【原创】原子力显微镜的原理

    【原创】原子力显微镜的原理

    一、原理 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig与史丹佛大学的Quate 于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜(SPM)进行观测。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191623_119371_1601358_3.jpg[/img] 图1、原子与原子之间的交互作用力因为彼此之间的距离的不同而不同,其之间的能量表示也会不同。 原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧道效应,而是利用原子之间的范德华力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表面特性。假设两个原子中,一个是在悬臂(cantilever)的探针尖端,另一个是在样本的表面,它们之间的作用力会随距离的改变而变化,其作用力与距离的关系如“图1” 所示,当原子与原子很接近时,彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用,所以整个合力表现为斥力的作用,反之若两原子分开有一定距离时,其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用,故整个合力表现为引力的作用。若以能量的角度来看,这种原子与原子之间的距离与彼此之间能量的大小也可从Lennard –Jones 的公式中到另一种印证。 img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img] 为原子的直径 为原子之间的距离 从公式中知道,当r降低到某一程度时其能量为+E,也代表了在空间中两个原子是相当接近且能量为正值,若假设r增加到某一程度时,其能量就会为-E 同时也说明了空间中两个原子之距离相当远的且能量为负值。不管从空间上去看两个原子之间的距离与其所导致的吸引力和斥力或是从当中能量的关系来看,原子力式显微镜就是利用原子之间那奇妙的关系来把原子样子给呈现出来,让微观的世界不再神秘。 在原子力显微镜的系统中,是利用微小探针与待测物之间交互作用力,来呈现待测物的表面之物理特性。所以在原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操作模式: (1)利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜(contact AFM ),探针与试片的距离约数个?。 (2)利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜(non-contact AFM ),探针与试片的距离约数十个? 到数百个?。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811191628_119373_1601358_3.gif[/img]

  • 【分享】基本原则的原子力显微镜

    基本原则的原子力显微镜 在原子力显微镜基本上是一个微型悬臂式(一小束停泊在一端,而另一项目进入太空像跳水板) ,以纤巧,指出探针(同一个极为精细陶瓷或半导体尖端这是衡量规模的纳米)底下的一端,就像笔就测谎,甚至是地震。 不同的笔在纸上打印或其他媒介,一个原子力显微镜有几项改进,使原子级测量的吸引力或令人厌恶的部队之间的“笔”尖和样品的表面。 作为小费是吸引或排斥的样品的表面,是悬臂偏转。 的严重性挠度测量激光反映在斜角月底的调查。 绘图激光挠度对冰山上的立场样品表面创造了“地图”的丘陵和山谷的表面。 这提供了一个高分辨率图像的样品的表面。 在原子力显微镜有两种扫描模式。 在接触模式下,原子力显微镜的探针接触样品的表面。 作为文书拖累冰山的表面,检测设备的措施悬臂的垂直挠度和说明了当地的样品高度-实际上,衡量'排斥'势力之间的尖端和样品。 在非接触模式下,原子力显微镜的探针没有触及表面的样本,它的措施有吸引力的部队之间的冰山,表面画地形图的表面。 利弊原子力显微镜 一个原子力显微镜具有优势了扫描电子显微镜( SEM ) 。 其中之一是,一个原子力显微镜可以功能的空气或液体的环境不同,电子显微镜,要求所有探头进行在真空中进行。 鉴于此,研究人员已经开始测试原子力显微镜的适宜用于研究活生物体在纳米尺度(例如,扫描和研究生物大分子如DNA等) 。 另一方面,一个原子力显微镜可以绘制三维图像 的扫描电镜只能提供二维图像或投影的抽样调查。 另一方面,一个主要的缺点是原子力显微镜是该地区它可以扫描和图像分辨率,它可以产生。 电子显微镜可以扫描面积测量毫米 一个原子力显微镜的扫描涵盖微米(纳米,事实上) 。 从这个角度看,可以很容易地看到,电子显微镜可以扫描的区域面积更广,速度超过了原子力显微镜。 原子力显微镜是相当新的,仍然有一些错误,但它是目前使用广泛的研究在电子,化学和生物领域包括深奥的学科磨损和粘附,清洗和腐蚀,以及作为东道主的其他应用软件。

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】8个国家前沿专家齐聚线上——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——直播时间:12月10日会议形式:线上免费参会,英文会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士部分报告:【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注!马上报名:[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • 8个国家前沿专家齐聚线上——扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛

    [font=&]【扫描探针/原子力显微镜技术前沿线上论坛】[/font][font=&]8个国家前沿专家齐聚线上[/font][font=&]——第二届SPM纳米科学中国论坛 (NSSC 2020)——[/font][font=&]直播时间:12月10日[/font][font=&]会议形式:线上免费参会,英文[/font][font=&]会议主席:Mario Lanza教授,惠飞博士[/font][font=&]部分报告:[/font][font=&]【1】特邀嘉宾视频专访:导电原子力显微镜发明人专访---Sean Joseph O’Shea(A*STAR, Singapore)[/font][font=&]【2】使用扫描探针显微镜表征纳米电子材料和器件的最新趋势---Günther Benstetter(Deggendorf Institute of Technology, Germany)[/font][font=&]【3】电子原子力显微镜纳米电子学研究---Umberto Celano(IMEC, Belgium)[/font][font=&]【4】具有自优化和精确扫描控制的非接触式原子力显微镜及定量纳米测量---Sangjoon Cho(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【5】电子器件的纳米尺度热成像---Miguel Munoz Rojo(University of Twente, Netherlands)[/font][font=&]【6】 导电原子力显微镜及纳米电子学二维材料和异质结构研究——Filippo Giannazzo(National Research Council of Italy, Italy)[/font][font=&]【7】用于栅极介电可靠性分析的导电原子力显微镜---Alok Ranjan(Singapore University of Technology and Design, Singapore)[/font][font=&]【8】氟化钙:一种优秀的二维电子学高介电介质---Chao Wen(Soochow University, China)[/font][font=&]【9】Park原子力显微镜现场演示:使用KPFM进行表面电势映射的比较研究---Charles Kim(Park Systems, Korea)[/font][font=&]【10】圆桌论坛---Moderator: Mario Lanza Panelist: Umberto Celano, Filippo Giannazzo, Miguel Munoz Rojo, Sang-joon Cho[/font][font=&]更多关于SPM技术及应用前沿,欢迎线上参会关注![/font][font=&]马上报名:[/font][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs][color=#3333ff]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/NSSC2020/?hmsr=NSSC2020&hmpl=bbs[/color][/url]

  • [分享]扫描电子显微镜入门1

    1. 光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约 1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论,电子的波长仅与加速电压有关: λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?) 在 10 KV 的加速电压之下,电子的波长仅为0.12?,远低于可见光的4000 - 7000?, 所以电子显微镜分辨率自然比光学显微镜优越许多,但是扫描式电子显微镜的电子束直径大多在50-100?之间,电子与原子核的弹性散射 (Elastic Scattering) 与非弹 性散射 (Inelastic Scattering) 的反应体积又会比原有的电子束直径增大,因此一般穿透式电子显微镜的分辨率比扫描式电子显微镜高。 3. 扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depth of field),约为光学显微 镜的300倍,使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。 4. 扫描式电子显微镜,其系统设计由上而下,由电子枪 发射电子 束,经过一组磁透镜聚焦 (聚焦后,用遮蔽孔径 选择电子束的尺寸后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子或背向散射电子成像。 5. 电子枪的必要特性是亮度要高、电子能量散布 要小,目前常用的种类计有三种,钨(W)灯丝、六硼化镧(LaB6)灯丝、场发射 (Field Emission),不同的灯丝在电子源大小、电流量、电流稳定度及电子源寿命等均有差异。 6. 热游离方式电子枪有钨(W)灯丝及六硼化镧(LaB6)灯丝两种,它是利用高温使电子具有足够的能量去克服电子枪材料的功函数(work function)能障而逃离。对发射电流密度有重大影响的变量是温度和功函数,但因操作电子枪时均希望能以最低的温度来操作,以减少材料的挥发,所以在操作温度不提高的状况下,就需采用低功函数的材料来提高发射电流密度。 7. 价钱最便宜使用最普遍的是钨灯丝,以热游离 (Thermionization) 式来发射电子,电子能量散布为 2 eV,钨的功函数约为4.5eV,钨灯丝系一直径约100μm,弯曲成V形的细线,操作温度约2700K,电流密度为1.75A/cm2,在使用中灯丝的直径随着钨丝的蒸发变小,使用寿命约为40~80小时。 8. 六硼化镧(LaB6)灯丝的功函数为2.4eV,较钨丝为低,因此同样的电流密度,使用LaB6只要在1500K即可达到,而且亮度更高,因此使用寿命便比钨丝高出许多,电子能量散布为 1 eV,比钨丝要好。但因LaB6在加热时活性很强,所以必须在较好的真空环境下操作,因此仪器的购置费用较高。 9. 场发射式电子枪则比钨灯丝和六硼化镧灯丝的亮度又分别高出 10 - 100 倍,同 时电子能量散布仅为 0.2 - 0.3 eV,所以目前市售的高分辨率扫描式电子显微镜都采用场发射式电子枪,其分辨率可高达 1nm 以下。 10. 场发射电子枪可细分成三种:冷场发射式,热场发射式,及萧基发射式 11. 当在真空中的金属表面受到108V/cm大小的电子加速电场时,会有可观数量的电 子发射出来,此过程叫做场发射,其原理是高电场使电子的电位障碍产生Schottky效应,亦即使能障宽度变窄,高度变低,因此电子可直接"穿隧"通过此狭窄能障并离开 阴极。场发射电子系从很尖锐的阴极尖端所发射出来,因此可得极细而又具高电流密 度的电子束,其亮度可达热游离电子枪的数百倍,或甚至千倍。 12. 场发射电子枪所选用的阴极材料必需是高强度材料,以能承受高电场所加诸在阴 极尖端的高机械应力,钨即因高强度而成为较佳的阴极材料。场发射枪通常以上下一组阳极来产生吸取电子、聚焦、及加速电子等功能。利用阳极的特殊外形所产生的静电场,能对电子产生聚焦效果,所以不再需要韦氏罩或栅极。第一(上)阳极主要是改变场发射的拔出电压,以控制针尖场发射的电流强度,而第二 (下)阳极主要是决定加速电压,以将电子加速至所需要的能量。 13. 要从极细的钨针尖场发射电子,金属表面必需完全干净,无任何外来材料的原子 或分子在其表面,即使只有一个外来原子落在表面亦会降低电子的场发射,所以场发 射电子枪必需保持超高真空度,来防止钨阴极表面累积原子。由于超高真空设备价格 极为高昂,所以一般除非需要高分辨率SEM,否则较少采用场发射电子枪。 14. 冷场发射式最大的优点为电子束直径最小,亮度最高,因此影像分辨率最优。能 量散布最小,故能改善在低电压操作的效果。为避免针尖被外来气体吸附,而降低场发射电流,并使发射电流不稳定,冷场发射式电子枪必需在10-10 torr的真空度下操作,虽然如此,还是需要定时短暂加热针尖至2500K(此过程叫做flashing),以去除 所吸附的气体原子。它的另一缺点是发射的总电流最小。 15. 热场发式电子枪是在1800K温度下操作,避免了大部份的气体分子吸附在针尖表面,所以免除了针尖flashing的需要。热式能维持较佳的发射电流稳定度,并能在较 差的真空度下(10-9 torr)操作。虽然亮度与冷式相类似,但其电子能量散布却比冷 式大3~5倍,影像分辨率较差,通常较不常使用。 16. 萧基发射式的操作温度为1800K,它系在钨(100)单晶上镀ZrO覆盖层,ZrO将功函 数从纯钨的4.5eV降至2.8eV,而外加高电场更使电位障壁变窄变低,使得电子很容易以热能的方式跳过能障(并非穿隧效应),逃出针尖表面,所需真空度约10-8~10-9torr 。其发射电流稳定度佳,而且发射的总电流也大。而其电子能量散布很小,仅稍逊于冷场发射式电子枪。其电子源直径比冷式大,所以影像分辨率也比冷场发射式稍差一点。 17. 场发射放大倍率由25倍到650000倍,在使用加速电压15kV时,分辨率可达到1nm,加速电压1kV时,分辨率可达到2.2nm。一般钨丝型的扫描式电子显微镜仪器上的放大倍率可到200000倍,实际操作时,大部份均在20000倍时影像便不清楚了,但如果样品的表面形貌及导电度合适,最大倍率650000倍是可以达成的。 18. 由于对真空的要求较高,有些仪器在电子枪及磁透镜部份配备了3组离子泵(ion pump),在样品室中,配置了2组扩散泵(diffusion pump),在机体外,以1组机械泵负责粗抽,所以有6组大小不同的真空泵来达成超高真空的要求,另外在样品另有以液态氮冷却的冷阱(cold trap),协助保持样品室的真空度。 19. 平时操作,若要将样品室真空亦保持在10-8pa(10-10torr),则抽真空的时间将变长而降低仪器的便利性,更增加仪器购置成本,因此一些仪器设计了阶段式真空( step vacuum),亦即使电子枪、磁透镜及样品室的真空度依序降低,并分成三个部份来读取真空计读数,如此可将样品保持在真空度10-5pa的环境下即可操作。平时待机或更换样品时,为防止电子枪污染,皆使用真空阀(gun valve)将电子枪及磁透镜部份与样品室隔离,实际观察时再打开使电子束通过而打击到样品。 20. 场发射式电子枪的电子产生率与真空度有密切的关系,其使用寿命也随真空度变差而急剧缩短,因此在样品制备上必须非常注意水气,或固定用的碳胶或银胶是否烤干,以免在观察的过程中,真空陡然变差而影响灯丝寿命,甚至系统当机。

  • 扫描电子显微镜,这个资料我给100分

    [b][color=#000000]扫描电子显微镜价格[/color][/b][color=#000000]扫描电子显微镜的价格?这个是很多科研人关心的问题之一,我们想知道电子显微镜多少钱(大概一个范围);其实,我们知道显微镜的价格是不便宜的,基本的一个范围就是30-100万,特别是高端的扫描电子显微镜价格200-300万也是什么不可能的事。下面小冉就给大家说说扫描显微镜的工作原理和价格以及其用途,给大家做一个了解和参考![/color][color=#000000][/color][color=#000000][/color][align=center][color=#000000][img=扫描电子显微镜原理及功能用途,400,412]http://www.gdkjfw.com/images/image/99161528266162.jpg[/img][/color][/align][color=#000000][/color][color=#000000][color=#000000]  [/color][b][color=#000000]扫描电子显微镜多少钱?[/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000][b][color=#000000][/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000]  FEI Inspect S50扫描电子显微镜参考成交价格:200万元[/color][color=#000000]  FEI Inspect F50场发射扫描电子显微镜参考成交价格:300万元[/color][color=#000000]  FEI Quanta 650 FEG环境扫描电镜参考成交价格:43万元[/color][color=#000000]  FEI Quanta 250环境扫描电子显微镜参考成交价格:200万元[/color][color=#000000]  FEI Magellan 400L XHR场发射扫描电子显微镜参考成交价格:200万元[/color][color=#000000]  注:价格来源于网络,仅供参考[/color][color=#000000][/color][color=#000000][color=#000000]  [/color][b][color=#000000]扫描电子显微镜结构图[/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000][b][color=#000000][/color][color=#000000][/color][/b][/color][align=center][color=#000000][b][color=#000000][img=扫描电子显微镜原理及功能用途,350,456]http://www.gdkjfw.com/images/image/28441528266163.jpg[/img][/color][/b][/color][/align][align=center][color=#000000]扫描电子显微镜结构图[/color][/align][color=#000000][/color][color=#000000][color=#000000]  [/color][b][color=#000000]扫描电子显微镜工作原理[/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000][b][color=#000000][/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000]  扫描电子显微镜可粗略分为镜体和电源电路系统两部分。镜体部分由电子光学系统(包括电子枪、扫描线圈等)、试样室、检测器以及真空抽气系统组成[/color][color=#000000][/color][align=center][color=#000000][img=扫描电子显微镜原理及功能用途,454,389]http://www.gdkjfw.com/images/image/24361528266163.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#000000]扫描电子显微镜原理图[/color][/align][color=#000000]  从图可以看出,由三极电子枪所发射出来的电子束(一般为50μm),[/color][color=#000000]  在加速电压的作用下(2~30kV),经过三个电磁透镜(或两个电磁透镜),汇聚成一个细小到5nm的电子探针,在末级透镜上部扫描线圈的作用下,使电子探针在试样表面做光栅状扫描(光栅线条数目取决于行扫描和帧扫描速度)。由于高能电子与物质的相互作用,结果在试样上产生各种信息如二次电子、背反射电子、俄歇电子、X射线、阴极发光、吸收电子和透射电子等。因为从试样中所得到各种信息的强度和分布各自同试样表面形貌、成分、晶体取向、以及表面状态的一些物理性质(如电性质、磁性质等)等因素有关,因此,通过接收和处理这些信息,就可以获得表征试样形貌的扫描电子像,或进行晶体学分析或成分分析。[/color][color=#000000]  为了获得扫描电子像,通常是用探测器把来自试样表面的信息接收,再经过[/color][color=#000000]  信号处理系统和放大系统变成信号电压,最后输送到显像管的栅极,用来调制显像管的亮度。因为在显像管中的电子束和镜筒中的电子束是同步扫描的,其亮度是由试样所发回的信息的强度来调制,因而可以得到一个反映试样表面状况的扫描电子像,其放大系数定义为显像管中电子束在荧光屏上扫描振幅和镜筒电子束在试样上扫描振幅的比值,即[/color][color=#000000]  M=L/l=L/2Dγ[/color][color=#000000]  式中M-放大系数;[/color][color=#000000]  L-显像管的荧光屏尺寸;[/color][color=#000000]  l-电子束在试样上扫描距离,它等于2Dγ,其中D是扫描电子显微镜的工[/color][color=#000000]  作距离;[/color][color=#000000]  2γ-镜筒中电子束的扫描角。[/color][color=#000000][/color][align=center][color=#000000][img=扫描电子显微镜原理及功能用途,400,363]http://www.gdkjfw.com/images/image/56411528266163.jpg[/img][/color][/align][color=#000000][/color][color=#000000][color=#000000]  [/color][b][color=#000000]扫描电子显微镜用途[/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000][b][color=#000000][/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000]  最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电子显微镜观察的特色,例如:生物学,植物学,地质学,冶金学等等。观察可以是一个样品的表面,也可以是一个切开的面,或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面,晶体的生长或腐蚀的缺陷。它一方面可更直接地检查纸,纺织品,自然的或制备过的木头的细微结构,生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如:花粉颗粒,硅藻和昆虫。另一方面,它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。[/color][color=#000000]  在扫描电子显微镜应用中,很多集中在半导体器件和集成电路方面,它可以很详细地检查器件工作时局部表面电压变化的实际情况,这是因为这种变化会带来象的反差的变化。焊接开裂和腐蚀表面的细节或相互关系可以很容易地观察到。利用束感生电流,可以观测半导体P—N结内部缺陷。[/color][color=#000000]  电子束与样品作用区内,还发射与样品物质其他性质有关信号。例如:与样品化学成分分布相关的,背散射电子,特征X射线,俄歇电子,阴极荧光,样品吸收电流等;与样品晶体结构相关的,背散射电子衍射现象的探测;与半导体材料电学性能相关的,二次电子信号、电子束感生电流信号;在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电子显微镜样品分析室,用于探测和定性定量分析样品物质的相关信息。[/color][color=#000000]  扫描电子显微镜对于固体材料的研究应用非常广泛,没有任何一种仪器能够和其相提并论。对于固体材料的全面特征的描述,扫描电子显微镜是至关重要的。[/color][color=#000000][/color][align=center][color=#000000][img=扫描电子显微镜原理及功能用途,446,310]http://www.gdkjfw.com/images/image/52861528266163.jpg[/img][/color][/align][color=#000000][/color][color=#000000][color=#000000] [/color][b][color=#000000] 扫描电子显微镜功能[/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000][b][color=#000000][/color][color=#000000][/color][/b][/color][color=#000000]  1、扫描电子显微镜追求固体物质高分辨的形貌,形态图像(二次电子探测器SEI)-形貌分析(表面几何形态,形状,尺寸)[/color][color=#000000]  2、显示化学成分的空间变化,基于化学成分的相鉴定---化学成分像分布,微区化学成分分析[/color][color=#000000]  1)用x射线能谱仪或波谱(EDSorWDS)采集特征x射线信号,生成与样品形貌相对应的,元素面分布图或者进行定点化学成分定性定量分析,相鉴定。[/color][color=#000000]  2)利用背散射电子BSE)基于平均原子序数(一般和相对密度相关)反差,生成化学成分相的分布图像;[/color][color=#000000]  3)利用阴极荧光,基于某些痕量元素(如过渡金属元素,稀土元素等)受电子束激发的光强反差,生成的痕量元素分布图像。[/color][color=#000000]  4)利用样品电流,基于平均原子序数反差,生成的化学成分相的分布图像,该图像与背散射电子图像亮暗相反。[/color][color=#000000]  5)利用俄歇电子,对样品物质表面1nm表层进行化学元素分布的定性定理分析,[/color][color=#000000]  3、在半导体器件(IC)研究中的特殊应用:[/color][color=#000000]  1)利用电子束感生电流EBIC进行成像,可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究[/color][color=#000000]  2)利用样品电流成像,结果可显示电路中金属层的开、短路,因此电阻衬度像经常用来检查金属布线层、多晶连线层、金属到硅的测试图形和薄膜电阻的导电形式。[/color][color=#000000]  3)利用二次电子电位反差像,反映了样品表面的电位,从它上面可以看出样品表面各处电位的高低及分布情况,特别是对于器件的隐开路或隐短路部位的确定尤为方便。[/color][color=#000000]  4、利用背散射电子衍射信号对样品物质进行晶体结构(原子在晶体中的排列方式),晶体取向分布分析,基于晶体结构的相鉴定。[/color][color=#000000]  扫描电子显微镜对科学研究与企业生产都有巨大的作用,在新型陶瓷材料显微分析中也有广泛的应用。上文就是小编整理的扫描电子显微镜的工作原理和应用介绍,在这方面有兴趣的朋友可以做进一步的深入研究。[/color]

  • 【分享】原子力显微镜技术资料(SPM/AFM)

    原子力显微镜技术资料主要特点 - 完全机动化的AFM,提供自动的laser-to-tip alignment以及快速启动。 - 低噪音光学记录系统。 - 真正意义上的非接触式扫描。- 高速大范围100x100x15um 扫描器 - 先进的闭环控制 - 数字模块化控制器 Measuring modes ●Contact AFM ●Semicontact AFM ●True Non-contact AFM ●LFM 原子力显微镜技术原子力显微镜技术原子力显微镜技术●Conductive AFM: ●Advanced MFM, Kelvin Probe, ●Capacitance and EFM ●Advanced nanolithography and nanomanipulation capabilities ●STM ●Tuning fork AFM ●3D scanning imaging.技术参数 ◆ Scanning range: 100um x 100um x 15um (+/-10%) ◆Scanning type: by sample ◆XY non-linearity: 0.03% ◆Z non-linearity: 0.1% ◆Noise: 0.1nm RMS in XY dimension in 200Hz bandwidth with capacitance sensors on 0.02nm RMS in XY dimension in 100Hz bandwidth with capacitancel sensors off l 0.04nm RMS Z capacitance sensor in 1000Hz bandwidth ◆Digital closed loop control: for X,Y,Z axes ◆XY resonance frequency: 7 kHz (unloaded) ◆Z resonance frequency: 15 kHz (unloaded) ◆Active elimination of XY phase lag, overshooting andl ringing results in fast scanning without any dynamic image distortion ◆Digital filtering of Z control signal at scanner resonant frequencies results in extremely short settling time ◆ Motorized sample positioning: range - 5x5mm, positioning resolution - 1um. [~117635~][~117636~]

  • 扫描电子显微镜原理

    课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章:扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理1.3扫描电镜结构1.4扫描电镜的分辨率1.5扫描电镜图像的形成第二章:高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离2.4 使用强磁物镜的方式第三章:扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:计算机图像演示第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2.吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨率第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨率3.谱仪分辨率4.伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定 量 分 析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制