薄膜检测非接触无损检测热膨胀系数分析仪

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薄膜检测非接触无损检测热膨胀系数分析仪相关的厂商

  • 深圳衡冠检测技术有限公司是中国领先的材料分析和材料测试解决方案的服务商,公司集研发、生产、销售和服务四位一体,专业提供一流的材料理化分析仪器和全面的材料物理力学测试解决方案.产品包括:导热系数仪、热膨胀仪、多元素化学成份快速分析仪、陶瓷专用检测设备、玻璃/耐火材料/炭素(石墨)试验设备、实验室研磨机、制样设备、实验电炉/工业烧结及烘烤设备等二百多种产品,其中多种产品填补了国内空白。 产品包括:一、日用/建筑/卫生/工程陶瓷检测仪器: 数显式陶瓷砖抗折仪(试验机),多元素快速分析仪,日用陶瓷热稳定性测定仪;陶瓷砖抗热震性测定仪;陶瓷砖釉面抗龟裂试验仪(蒸压釜);数显式陶瓷吸水率仪;陶瓷砖釉面耐磨性仪;陶瓷砖抗冻性测定仪;陶瓷无釉砖耐磨性能测定仪;陶瓷砖冲击试验仪;色差仪, 白度仪,陶瓷砖磨擦系数测定仪;陶瓷平整度、直角度、边直度综合测定仪;陶瓷砖厚度测量仪;致密度仪;数显式可塑性仪;电动坯料抗折仪;瓷胎透光度仪,多孔陶瓷显气率、容重试验仪;全套工程、多孔陶瓷试验仪器等。二、热分析仪器 系列热膨胀仪,系列导热系数测定仪,差热分析仪,蓄热系数仪等。三、玻璃、炭素、耐火材料试验仪器,高温铸造仪器,无机非金属材料理化实验仪器: 硅酸盐化学成份快速分析仪,;材料高温抗折仪;材料高温强度试验仪;影像式烧结点试验仪;材料荷重软化温度测定仪等;阻温特性仪,动态(静态)弹性摸量仪,玻璃析晶电炉, 玻璃软化点测定仪, 水份快速测定仪,高温型壳变形仪,全套炭素材料试验仪器。四、实验室、工业用电炉: 快速升温电阻炉;箱式梯度炉;坩锅炉(熔块炉);恒温干燥箱, 箱式炉,工业烧结炉等。五、实验室制样、研磨设备: 快速研磨机、卧式真空炼泥机;手动、电动制样机, 行星研磨机,破碎机等。
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  • 杭州荣探无损检测设备有限公司,坐落在盛有天堂美誉的杭州崇贤工业园区,是一家集设计、研发、生产、销售为一体的专业厂家。主要产品有RT系列超小型便携式工业X射线探伤机,产品广泛应用于焊缝无损检测、铸造无损检测、非金属无损检测、电子器件等领域。
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  • 大庆市汇通无损检测技术服务有限公司成立于1995年2月6日(其前身是1992年成立的大庆市萨尔图区汇通无损检测技术服务部)是东北地区无损检测领域里集开发、生产、销售、工程、维修为一体的综合性省级高新技术公司。公司生产技术部生产HT系列地下管道探测检漏仪、地下电缆探测检漏仪、电火花检漏仪、管线定位仪、燃气管道探测检漏仪,系列X射线探伤机、超声波探伤仪、工业电子内窥镜等仪器,2001年与大学合作开发了EMTP便携式油管/抽油杆井口检测仪、EMTP数字化油管/抽油杆/室内自动检测线、MTR管、杆罗纹自动探伤检测设备、EMTC智能钢丝绳探伤仪、声发射检测系统等,以及与哈尔滨理工大学合作研制了管线定位仪,目前公司是大庆油田有限责任公司、大庆石油管理局、吉林油田、辽河油田、中原油田、中国石油管道局入网企业。 已在全国各油田、石化、热力、电力、物业、市政等单位使用,用户反馈效果良好,公司所生产的产品1998年被黑龙江省机械工业厅评为省科技进步二等奖。 公司已取得防腐保温与管道检测技术的专业承包三级资质,主要承揽各种金属管线、容器的腐蚀调查、腐蚀控制和阴极保护等工程。利用三G技术(GIS:地理信息系统、GPS:卫星定位系统、GSM:移动通讯系统)建立数字管线平台,对地下管网进行准确的定位。 公司除以上业务外还经销和代理国内外几十家无损探伤、检测设备和无损检测消耗材料和维修无损检测设备等。 公司现是大庆市委、市政府、市科委重点保护企业,连年被市、区评为先进企业和企业三十强,黑龙江省级高新技术企业,企业通过ISO9001:2000版国际质量体系认证、ISO14001:2004环境管理体系认证、GB/T28001:2001职业健康安全管理体系认证,中国石油工程建设协会防腐保温技术专业委员会团体会员等.
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薄膜检测非接触无损检测热膨胀系数分析仪相关的仪器

  • 物体由于温度改变而有胀缩现象。其变化能力以等压下,单位温度变化所导致的体积变化,即热膨胀系数表示。C0007线性热膨胀系数仪用于检测固体无机材料、金属材料的高温膨胀性能,特别是刚玉、耐火材料、精铸用型壳及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨等无机材料。 应用:多种材料 功能:上下限标记、易于阅读的千分表、台式操作 标准:ASTM D696 选配件:数显表 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or110 VAC @ 60 HZ (可根据客户要求定制) 外形尺寸:H: 750mm W: 125mm D: 125mm重量: 5kg
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  • 热膨胀仪主要分为光干涉法膨胀仪和机械热膨胀仪,光干涉法为光学非接触、绝对测量、测量准确度高。但造价昂贵、仪器结构及操作都很复杂。机械式法热膨胀仪的优点是,使用容易、结构简单适用各种形状的样品等。缺点是,机械式式热膨胀仪受样品架、检测杆等夹杂物的影响,因此无法避免这些夹杂物对校准用标准样品的绝对精度和误差的影响。Super LIX-R非接触法激光热膨胀系统概述Super LIX-R非接触法激光热膨胀仪系统是采用线性偏转氦氖激光器的双光路型迈克尔逊干涉仪的高灵敏度非接触式热膨胀仪。这种高精度膨胀仪是基于激光波长对与样品两端接触的反射面之间的位移进行绝对热膨胀测量。该测定方法符合JIS(JIS R3251-1995)的低膨胀玻璃的热膨胀系数测定方法,适合于用于热膨胀系数低至5ppb/℃(即 5 x 10-9/K)级别零膨胀材料的测量,通过对实际样品测试结果分析:在30℃时三次测得的 热膨胀系数分别为:5 x 10-9/K,4 x 10-9/K,4 x 10-9/K,在10℃,20℃,30℃,40℃,50℃的重复性均优于5 x 10-9/K。(详见P36-41)特点:1)通过在系统内部加入抗振机构,可以防止振动干扰的影响,可以在稳定使用的环境下进行一般分析电子天平(分辨率0.01mg)的测量。(专利申请2016-058190、058191、058192)2)根据激光波长(632.8nm)测量样品的位移。光学元件的优化消除了杂散光,提高了边缘信号的信噪比。特殊位移校准无需测量或操作。3)图像传感器检测干涉条纹,对图像进行处理,计算膨胀率。4) 通过用绝缘结构的低温恒温器控制样品和样品周围区域的温度,可以将温度控制在每分钟 0.01°C。5) 自动样品设置夹具可实现稳定的样品设置,无需操作员经过特殊培训。夹具的样品设置是手动的。Super LIX-R 参数:温度测量范围:0~50℃ (采用高精度恒温循环系统)热膨胀检测系统:迈克尔逊型激光干涉仪光路:双光路样品尺寸:Φ5mm 或Φ5±0.5mm x 长度12-20mm 标准样品尺寸:φ5mm x 长度20mm 两端应进行 SR(球形)处理,以免顶端变得不均匀。 表面平均粗糙度:平均粗糙度优于0.8a测量精度:CTE值 5x10-9/K 或更低(基于标准尺寸的低膨胀材料)重复性:CTE值 5x10-9/K 或更低(基于标准尺寸的低膨胀材料)分辨率:<0.2nm显示:图形强度激光器:激光类型:He-Ne 气体激光器(连续振荡) 功率:5mW (IEC 60825-1 class 3B) 光源波长:632.8nm热电偶:PT-100 铂热电偶 JIS C 1604-1997测试气氛:低压He(100Pa)升降温速率:0.01℃/min ~ 1.5℃/min 高精度测试推荐使用0.1℃/min温度显示分辨率:0.001℃测温精度:精度符合 JIS-Class A (±0.15°C at 0 °C)
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  • 一、概述:本仪器用于检测刚玉、玻璃、耐火材料、造型材料、陶瓷、釉料、石墨、碳素等无机材料、金属制品的热膨胀性能,为科研、教学提供必备的测试手段。可完成线性膨胀系数、体膨胀系数、软化温度、烧结的动力学研究并描绘出相关变化曲线。可根据需求选择无荷或有荷检测。 二,执行标准 仪器参考标准:GB/T3810.8-2016对陶瓷砖线性热膨胀的测定,GB/T16535-2008精细陶瓷线性热膨胀系数试验方法:顶杆法,GB/T16920-2015对玻璃平均线热膨胀系数的测定,GB/T3074.4-2016对石墨电极热膨胀系数的测定,GB/T 7320-2018《耐火制品热膨胀试验方法》。 三,技术参数1、最高炉温:0-1200℃。2、升温速度:0-20度/分可调,微电脑程序控温。3、自动计算补偿系数并自动补偿,也可人工修正。4、连计算机自动记录、存储、打印数椐,打印温度-膨胀系数曲线。所有试验操作均计算机界面完成,操作方便易学并提供全套软件。5、膨胀值测量范围:±2mm。6、测量膨胀值分辨率:0.1um,自动校正量程。7、试样范围:样品直径0-50mm,高5mm-70mm。8、加热炉体上下滑动方便试样装卸.8、可充氮气。9、电源电压:220V±10﹪,2KW。 四,配置清单主机一台;试验软件一套;电脑一台;合格证1份;保修卡1分;电源线1根;说明书1份;操作视频1份
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薄膜检测非接触无损检测热膨胀系数分析仪相关的资讯

  • 具有负泊松比与负膨胀系数的新型双负超材料
    负泊松比材料在受到压缩载荷时横向收缩,负热膨胀系数材料在受热时发生收缩现象。而负泊松比和负热膨胀系数相结合的新型超材料为材料的特殊需求提供了进一步的可能性。香港城市大学深圳研究院介绍了一种具有负泊松比与负热膨胀系数的双负超材料(Extreme Mechanics Letters, 2019)。这种新型超材料基于传统的星型内凹结构。为了提高该结构的负泊松比,研究者分别在结构和排列方式上进行了创新。这种结构和排列上的创新使得超材料在受到外界力/位移载荷时呈现出内凹变形机制,从而表现出负泊松比。图1(a), (b)新构型超材料的结构以及(c), (d)两种不同的排列方式。为了得到负热膨胀系数,在一个结构中引入了两种热膨胀系数不同的材料(图1a)。蓝色的杆的热膨胀系数较小,而红色的杆热膨胀系数较大。研究者用大量的数值模拟对新构型超材料的负热膨胀系数进行了验证。在加热时红色的杆因为需要伸长的更多而使得垂直方向蓝色的杆发生弯曲,从而减小了整个结构所占有的空间,表现出负的热膨胀系数(图2)。图2新构型超材料受热变形图。为了验证该超材料的负泊松比行为,研究者们采用摩方P130 打印机对材料进行了制备。并用试验和数值仿真相结合的方法对其负泊松比行为进行了验证,两者吻合的较好。由于材料打印的尺寸在微米级别,这也为材料在声学、光学等方面的应用提供了可能性。图3新构型超材料电镜观测图以及受力变形图。该研究工作发表于Extreme Mechanics Letters,香港城市大学深圳研究院陆洋老师为通讯作者。摩方nanoArch® P130打印的轻质高强结构材料,最小杆径8 μm。深圳摩方材料科技有限公司持续助力香港城市大学深圳研究院在超材料领域的研究及应用,其自主研发的nanoArch® P130 3D打印机精度高达2微米。除上述研究工作中的超材料应用外,另一重要的应用是轻质高强力学超材料,具有超轻质量和超高强度。其优异的力学性能得益于其中的微晶格结构,如上图所示,这些微晶格结构非常复杂,使用传统的二维制造技术无法加工制作,而摩方的微尺度3D打印技术则可以快速高效加工出这种复杂三维微结构,且具有极高的打印分辨率(图中微点阵结构,最小杆径8 μm)。BMF nanoArch® P130打印系统
  • 小小薄膜检测有大学问 自主创新是仪器之魂 ——“创新100”走访武汉嘉仪通科技有限公司
    p    strong 仪器信息网讯 /strong 传统薄膜材料的热特性,尤其是维纳米级薄膜材料的热物性检测,很难进行无损检测,通常采用破坏性检测或者用块体性能代替。武汉嘉仪通科技有限公司经过数年的产品研发,并通过与华中科技大学缪向水教授团队密切合作,研发出了全球首台纳米级薄膜材料热分析仪器,能够实现薄膜材料相变温度和热膨胀系数的无损检测,在薄膜材料热物性检测方面取得了国际性的突破。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 266px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201911/uepic/995632ed-3e9d-4980-99e7-219950ba7b59.jpg" title=" 光功率热分析仪(OPA).png" alt=" 光功率热分析仪(OPA).png" width=" 400" height=" 266" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " 光功率热分析仪(OPA) /p p   近日,由仪器信息网发起的“创新100”项目来到武汉嘉仪通科技有限公司(简称:武汉嘉仪通),走进了这家仅有不到七年发展历史却致力于成为薄膜材料物性测试领跑者的公司。 /p p    strong 放弃深圳百万年薪 回乡创立国产仪器公司 /strong /p p   武汉嘉仪通科技有限公司的联合创始人王愿兵,在大学毕业后进入了深圳一家仪器公司做销售,凭借善于钻研的态度和勤奋,短短几年间在公司内部晋升为中国区市场营销总监,负责油液产品中国区域的市场和销售工作。 /p p   然而,处于上升期的王愿兵对于大多数人向往的“有车有房,年薪百万”的生活并不满足。在王愿兵的眼中,由于常年与国外产品代理商接触,深切感受到国产仪器尚未得到足够的重视,国产仪器的产品相比国外,在行业竞争力方面仍存在着较大的差距,但这也意味着国家产业战略重心也将聚焦到仪器上,产业发展拥有着巨大的前景。 /p p   2012年初,带着产业报国的情怀,王愿兵毅然放弃了百万年薪,回到家乡武汉创办了武汉嘉仪通科技有限公司。创业之初,公司一边从事特种设备的代理贸易,一边积累和提升公司自主研发的实力。在一次科技研讨会上,王愿兵了解到华中科技大学教授缪向水团队在薄膜材料检测设备方面有突破性的成果,经过几轮接触双方达成了合作意向,实施成果转化,经过4年的研发探索,终于在2015年公司首台自主研发的纳米级薄膜材料光功率热分析仪成功问世。 /p p   “相比于传统的薄膜材料破坏性的热分析手段,我们的产品避免了材料在微米、纳米尺度的尺寸效应,并通过薄膜材料无损检测手段,得到的结果更加接近材料的真实性能。”王愿兵说。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 286px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201911/uepic/9e850238-8663-470b-a94d-04a92b4ef83b.jpg" title=" 武汉嘉仪通创始人王愿兵.jpg" alt=" 武汉嘉仪通创始人王愿兵.jpg" width=" 400" height=" 286" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " 武汉嘉仪通创始人王愿兵 /p p    strong 专注薄膜材料热、电学物理性能检测仪器 打造世界级仪器公司 /strong /p p   武汉嘉仪通的产品线主要围绕着薄膜材料高低温实验室、热特性、电特性等物理性能检测展开研发,主要产品包括相变温度分析仪、热膨胀系数分析仪、薄膜热导率测试系统、薄膜热电参数测试系统、霍尔效应测试系统、薄膜变温电阻测试仪等,以及提供高低温环境的产品,包括快速红外退火炉、液氮低温恒温器等。 /p p   凭借着自主研发的国产仪器产品,武汉嘉仪通短短七年间逐渐发展成为集研发、市场和技术服务于一体的国家高新技术企业、湖北省委“百人计划”、武汉市政府“城市合伙人”人才企业荣誉等,并努力筹建湖北省科技厅工程技术研究中心、省发改委工程实验室、武汉市科技局企业研究中心等实验平台,同时致力于在全球设立办事处和联合实验室平台。截止目前,武汉嘉仪通累计服务的全球客户超过300家。覆盖材料大专院校、科研院所、工业企业和第三方检测机构等四大领域。客户覆盖中国各个区域(包括港澳台)以及海外欧洲、北美、新加坡、巴基斯坦。未来,武汉嘉仪通将在南美(巴西)、大洋洲(澳大利亚)、非洲(南非)等地建办事处及联合实验室。2018年,公司的自主研发产品收入超过了1000万 2019年公司对产品进行了全线升级,进一步缩小了和国外仪器的差距,预期自主研发产品收入超2500万。 /p p   “公司做的有价值比做得久重要,做的长久比做强重要,做强比做大重要,我们立志将公司打造成世界级的仪器公司。”对于公司的发展愿景,王愿兵十分坚毅。 /p p   为了解决部分专家学者科研资金有限的痛点,武汉嘉仪通还成立了薄膜技术服务子公司——武汉光谷薄膜技术有限公司,帮助国内及海归青年专家学者进行科研过程中的薄膜样品测试及技术服务,2018年收到了大批的测试需求。2019年公司将进一步加大宣传力度,让更多的薄膜行业科研人员了解公司的测试服务。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 301px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201911/uepic/53364a9a-c67a-4d31-b5b8-2ee80df4ef93.jpg" title=" 武汉嘉仪通现场陈列的产品.png" alt=" 武汉嘉仪通现场陈列的产品.png" width=" 400" height=" 301" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " 武汉嘉仪通现场陈列的产品 /p p    strong 道阻且长 未来将专注于开发用户定制化的解决方案 /strong /p p   打造世界级仪器公司之路并不简单,三维材料热分析仪器领域本身就是一个红海市场,武汉嘉仪通凭借着独到的市场判断,进入了二维薄膜材料测试的细分领域,并且凭借着自主研发的仪器产品填补了市场的空白,并且逐渐占据了部分薄膜材料物性分析仪器的市场份额。 /p p   虽然有着个性化的产品,嘉仪通公司却不满于此,因为通过与用户的接触和交流,深切地了解到用户更加期待个性化的行业解决方案。由于薄膜材料的应用涵盖了大量的研究与生产领域,无论在科研工作还是企业生产过程中,用户都提出了大量个性化的应用需求。嘉仪通公司希望能在未来推出更多的应用解决方案,帮助各行各业的用户解决他们在薄膜材料测试方面产生的问题,满足用户在科研和生产研发中的实际需求。未来,公司将在芯片、显示、第三代半导体、锂电池等多个前沿领域新材料的失效分析投入更大的精力来做更加深入的研发,为用户提供更加完善的测试和解决方案。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 267px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201911/uepic/e0611af3-d77a-49b9-b104-cd2fddf151d1.jpg" title=" “创新100”调研组与武汉嘉仪通人员合影.jpg" alt=" “创新100”调研组与武汉嘉仪通人员合影.jpg" width=" 400" height=" 267" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " strong “创新100”调研组与武汉嘉仪通人员合影 /strong /p p   (从左至右:中科院科技战略咨询研究院学部咨询研究支撑中心王鑫、中科院科技战略咨询研究院学部咨询研究支撑中心王芳、中科院科技战略咨询研究院学部咨询研究支撑中心执行主任赵兰香、武汉嘉仪通科技有限公司总经理王愿兵、仪器信息网市场拓展部经理陈丽英、武汉嘉仪通科技有限公司市场总监张维) /p p    strong 武汉嘉仪通发展大事记 /strong /p p   2009年,武汉嘉仪通科技公司成立。 /p p   2012年,王愿兵作为CEO入主嘉仪通公司、并投入自主研发。 /p p   2015年,世界首台纳米级薄膜材料热分析仪研制成功。完成首轮融资,获批国家级高新技术企业 /p p   2017年, 自主研发产品全面销售、同时剥离代理贸易业务。自主产品年复合增长率达到50%。 /p p   2019年,产品全线升级,知识产权数量突破100件,未来3-5年加大应用开发的经费投入,预期营业收入达2500万。 /p p br/ /p p    strong 附:国产仪器腾飞行动“创新100”介绍: /strong /p p   为秉承“国产科学仪器腾飞行动”宗旨,在中国仪器仪表行业协会的指导下,仪器信息网于2018年启动“国产科学仪器腾飞行动”之“创新100”项目,筛选一批具备自主创新能力的中小仪器厂商,通过公益性的报道、走访、调研,在企业发展的关键时期“帮一把”,助力国产仪器中小厂商腾飞发展。 /p p   一、“创新100”入选标准 /p p   (1) 企业主营业务为科学仪器 /p p   (2) 企业主营产品具有自主知识产权,具备创新性 /p p   (3) 企业总部设在中国 /p p   (4) 企业科学仪器产品的年产值在3000万元以下 /p p   (5) 企业需是中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会、仪器信息网会员之一。 /p p   二、“创新100”申报流程 /p p   国产仪器腾飞行动“创新100”筛选流程包含以下环节:企业在线申报——企业创新能力审核——公益报道服务——线下资源对接——最具成长潜力企业评选。 /p p br/ /p
  • 德国Neaspec推出全新功能模块,助力热膨胀及拉曼研究领域
    德国Neaspec公司推出的neaSNOM超高分辨散射式近场光学显微系统和nano-FTIR纳米傅里叶变换红外光谱仪以其稳定的性能,高的空间分辨率和的客户体验,自面市以来,在等离子激元、物质鉴别、二维材料、生物成像等领域均获得了广泛好评和青睐。目前国内已有清华大学、南开大学、中科院物理所等数所高校和机构用户使用Neaspec产品进行更深层次的科学研究,并给出高的评价。“NeaSNOM显微镜系统大地促进了我们的贵金属纳米结构表面等离激元研究”,中山大学陈焕君教授如是说。 Neaspec公司也秉承一贯的立创新和开拓进取精神,努力为客户提供优质的服务和便捷的实验工具。近期,Neaspec公司推出了全新的Photo Thermal Expansion(PTE+)和Tip Enhanced Raman Spectroscopy(TERS)功能模块,期待可以更好地服务广大科研工作者。 Photo Thermal Expansion(PTE+)功能模块基于被检测物质在激光照明下的热膨胀,通过机械变化的检测还原物质的吸收光谱。对于热膨胀系数较大物质,尤其是高分子材料,PTE模块可以提供良好的吸收谱线,对物质鉴别、材料分析工作是很好的补充。 Tip Enhanced Raman Spectroscopy(TERS)功能模块将大拓展现有产品应用领域。物质的拉曼光谱不同于吸收或者反射光谱,反映的是非弹性散射光性质,可以得到分子振动、转动方面的信息。但是由于其信号弱,一般难以直接应用于实际分析。针增强拉曼光谱利用了AFM探针纳米的曲率半径,对物质的拉曼信号可以起到良好的增强作用。Neaspec公司基于该技术,与s-SNOM技术结合,推出了该项全新模块,以期在分子检测方面为科研工作者提供更大的便利。相关产品链接neaSNOM超高分辨散射式近场光学显微镜http://www.instrument.com.cn/netshow/C170040.htmnano-FTIR纳米傅里叶红外光谱仪http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C194218.htm

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  • 国内大尺寸构件超低热膨胀系数测试技术综述

    国内大尺寸构件超低热膨胀系数测试技术综述

    摘要:航天器用各种大尺寸构件都普遍要求超低膨胀系数以保证构件尺寸的稳定性,传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量,需要精确测量整个构件的超低热膨胀系数。本文对国内在大尺寸构件热膨胀系数整体测量方面的研究工作进行了综述,以了解国内目前的发展状况,给今后开展此方面工作提供参考和借鉴。1. 前言 在太空运行的各种航天器,由于没有大气层的保护,其环境温度变化很大,受阳面温度可高达上百摄氏度,而被阳面温度却在零下几十摄氏度。因此,航天器在空间环境中,由于材料的热膨胀,会引起航天器结构的尺寸变化。但是从航天器的某些部件和仪器的技术要求考虑,希望航天器的某些结构的稳定性要好,这一点对通讯卫星天线结构及敏感元件、太空望远镜的镜筒支架等的使用和安装尤为重要。尤其是卫星和望远镜桁架结构更要求其在一定的环境温度变化范围内不因热应力产生变形或者变形极小,即所谓零膨胀。传统热膨胀系数测试只针对长度100mm以下的小试样,已无法满足大尺寸构件的超低热膨胀系数测量。为适应航天器制造的要求,特别是对于以m为长度单位的E-08/K量级材料热膨胀系数需要更加准确的测试。因此,研究航天器用复合材料工程构件的超低膨胀测试方法和相应的测试设备,具有重要的科学意义和实用价值。 本文将介绍国内在工程构件级热膨胀系数测试方法和测试设备方面所开展的工作。2. 光纤位移传感器测试方法(1) 针对卫星用低膨胀纤维增强复合材料杆件,上海复合材料科技有限公司与国防科技大学合作开展相应的热膨胀系数测试系统研究,具体的测试要求为: (1)测试件是碳纤维复合材料杆件,杆件形状为圆杆或矩形杆。长度尺寸1m,圆杆直径φ10~80mm,壁厚为2mm左右。矩形杆的截面不超过100mm×100mm,壁厚2mm左右。 (2)能测量在温度范围-70~+100℃的轴向伸缩量,并测量相应温度,从而得出工程试件的热膨胀曲线。测量误差不大于±3%。 (3)试验箱能按要求的程序升温,升温程序可调,并能实时控制。对设定点的温度控制精度优于±1℃,测量精度优于0.5℃。试件周边温度的均匀性优于±2℃。 上海复合材料科技有限公司研制的这套热膨胀测试系统主要由温度控制系统、机械系统、数据采集系统、计算机控制与分析系统四大部分构成。 (1)温度控制系统:采用高低温试验箱,满足温度范围和温度控制要求。 (2)机械系统:包括测试系统的基座、测试基准、试件支架。 (3)数据采集系统:包括光纤位移传感器。 (4)计算机控制与分析系统:主要用于控制整个测试过程,实现测试数据的自动采集、分析、存储与测试结果的显示。 位移采集采用MTI2000光纤位移传感器,其特点是非接触式,最大量程2mm,分辨率为0.25um。MTI2000光纤位移传感器包含一组发射光光纤和一组接收光光纤,如图 2 1所示,发射光光纤和接受光光纤以三种不同方式排列(不规则、半圆心及同心圆形状),卤钨灯提供光源,光传输到光纤中,光纤探头发出的光照射在被测物上,被测物反射回来的光进入接受光光纤并传入到MTI-2000中。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614789_3384_3.png图 2-1 光纤分布示意图 如图 2-2所示,当光纤与被测物接触时,没有光能传输给接收光光纤,输出信号为“零”。随着探头与被测物之间距离的增加,接收光纤接收的光也增加,并且增加的光和距离之间非常敏感,与信号输出也呈很好的线性。随着距离的继续增加,接收光光纤接收到的光达到峰值,如果探头和被测物之间的距离继续增加,接收到的光将会持续减少,结果是具有第二个很灵敏且具有大量程和标准距离的测量范围。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614790_3384_3.png图 2-2 MTI2000光纤位移传感器输出信号与位移的变化关系 整个测量系统的测量基准利用低膨胀系数材料殷钢制作,测量基准包括殷钢连杆、传感器微调台和殷钢传感器夹具。测量基准至于试验箱外,因醋不受试验箱内温度变化影响,而且整个测量基准能够控制在0.5um/m℃以下。 被测件通过试件支架安装在试验箱内,试件支架包括殷钢V形架、低导率材料升降杆和剪式升降台,被测件水平置于V形架内,由V形架自动定心,从而保证被测件轴心与两个传感器侧头平行。被测件支架通过剪式升降台固定在大理石基础件上,不与试验箱体接触。 剪式升降台能够调整被测件在试验箱内高度,从而保证能够测量不同直径的被测件的热膨胀系数。在温度快速变化的情况下保证箱体和支架对称变形,同时减小支架的质量,以减小其热容,防止测量时受到支架变形影响而产生的缓慢漂移。 文献中并未报道此测试系统的结构,但根据分析可以大概此测试系统为双端面测试结构,即将两路光纤位移传感器对准被测件的两个端面,同时测量两个端面的位移,最终得到整个测试件的热膨胀长度变化。整个测试系统的结构如图2-3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610221657_614791_3384_3.png图 2-3 低膨胀纤维增强复合材料杆件热膨胀系数测试系统结构示意图 从文献报道分析这套大尺寸构件热膨胀系数测试系统技术指标和测试结果,可以得出以下初步的结论: (1)位移传感器分辨率为0.25um,那么测量准确度基本也就在1um左右,这个测量准确度基本与千分表相同,所能测试的热膨胀系数最小也就在1E-06/K左右,还无法测试-7量级甚至-8量级的零膨胀系数材料。而目前的2m长构件热膨胀系数可以达到5E-08/K水平,由此可见采用这种测试方法无法满足目前零膨胀构件的测试需求。 (2)采用光纤式位移传感器所进行的位移测量,是一种相对测试方法,实际测量精度还需要采用更高级别仪器进行计量标定才能保证热膨胀系数测量准确性。 (3)采用已知热膨胀系数的铝材Ly12CZ(淬火状态)制成的测试件进行测量精度考核,测试件直径为φ20mm,常温下长度1m,壁厚为2.5的管型材。在-50?20℃测试温度范围内,测定的平均热膨胀系数为19.9E-6/K,20~100℃测试温度范围内,测定的平均热膨胀系数为21.4E-6/K。文中得出的结论是对于这种E-06/K量级的热膨胀系数测试偏差在7%以内。由此试验证明这套大尺寸只能测试E-06/K量级的热膨胀系数。 (4)文中报道了对直径?20mm、壁厚2mm、长度为1m的碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试结果,测试温度范围为10~30℃。测试结果显示热膨胀长度变化量为-17.47um,线膨胀系数为-0.87E-06/K。文中仅报道了两次重复性测量,两次重复行测量重复精度为1.3%。由此可见这种碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数很大,距离所需要的零膨胀系数差距很大。 (5)从文中报道可以看出,整个测试是以殷钢基座为基准,理论上这个测量基准能够控制在0.5um/m℃以下。但考虑到伸入试验箱内光纤长度的变化,以及并未采用同侧差分测量抵消光纤长度的技术手段,很大可能会出现碳纤维复合材料圆杆实际热膨胀系数很小,但此套装置并不能准确测试,测试结果反而是此装置的系统误差,即碳纤维复合材料圆杆很小的热膨胀以及完全淹没在测试系统误差内。 (6)尽管文中报道的碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试结果在-0.87E-06/K左右,这表现出碳纤维复合材料圆杆生产工艺还未能实现整体圆杆的零膨胀,更表现出测试方法自身精度完全无法达到零膨胀测试需要,但这是目前国内对大尺寸管件低膨胀测试的首次尝试,尽管不成功但意义非常重大。从对1m长的圆杆测试结果可以看出,在10?30℃温度范围内,圆杆收缩了17.47um。那么如果采用取样方式进行热膨胀测试,取样尺寸如果为100mm,那么100mm小试样的受热收缩也仅仅为1.7um左右。对于这种不到2um的热膨胀,采用目前常规的热膨胀仪器都无法进行测量。文中所报道的1m长碳纤维复合材料圆杆热膨胀系数测试恰恰证明了低膨胀构件整体热膨胀系数测试的必要性,这点在超低热膨胀系数构件中显得更为突出。[color=#ff000

薄膜检测非接触无损检测热膨胀系数分析仪相关的耗材

  • 热膨胀芯(TEC)光纤跳线
    热膨胀芯(TEC)光纤跳线特性热膨胀芯增大了模场直径(MFD),便于耦合不仅更容易进行自由空间耦合,还能保持单模光纤的光学性能工作波长范围:980 - 1250 nm或1420 - 1620 nm光纤的TEC端镀有增透膜,以减少耦合损耗库存的光纤跳线:2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/PC接头2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/APC接头具有带槽法兰的?2.5 mm插芯到可以剪切的裸纤如需定制配置,请联系技术支持Thorlabs的热膨胀芯(TEC)光纤跳线进行自由空间耦合时,对位置的偏移没有单模光纤那样敏感。利用我们的Vytran® 光纤熔接技术,通过将传统单模光纤的一端加热,使超过2.5 mm长的纤芯膨胀,就可制成这种光纤。在自由空间耦合应用中,光纤经过这样处理的一端可以接受模场直径较大的光束,同时还能保持光纤的单模和光学性能(有关测试信息,请看耦合性能标签)。TEC光纤经常应用于构建基于光纤的光隔离器、可调谐波长的滤光片和可变光学衰减器。我们库存有带TEC端的多种光纤跳线可选。我们提供两种波长范围:980 nm - 1250 nm 和1460 nm - 1620 nm。光纤的TEC端镀有增透膜,在指定波长范围内平均反射率小于0.5%,可以减少进行自由空间耦合时的损耗。光纤的这一端具有热缩包装标签,上面列出了关键的规格。接头选项有2.0 mm窄键FC/PC或FC/APC接头、?2.5 mm插芯且可以剪切熔接的裸光纤。?2.5 mm插芯且可以剪切的光纤跳线具有?900 μm的护套,而FC/PC与FC/APC光纤跳线具有?3 mm的护套(请看右上表,了解可选的组合)。我们也提供定制光纤跳线。更多信息,请联系技术支持。 自由空间耦合到P1-1550TEC-2光纤跳线光纤跳线镀有增透膜的一端适合自由空间应用(比如,耦合),如果与其他接头端接触,会造成损伤。此外,由于镀有增透膜,TEC光纤跳线不适合高功率应用。清洁镀增透膜的接头端且不损坏镀膜的方法有好几种。将压缩空气轻轻喷在接头端是比较理想的做法。其他方法包括使用浸有异丙醇或甲醇的无绒光学擦拭纸或FCC-7020光纤接头清洁器轻轻擦拭。但是请不要使用干的擦拭纸,因为可能会损坏增透膜涂层。Item #PrefixTECEnd(AR Coated)UncoatedEndP1FC/PC (Black Boot)FC/PCP5FC/PC (Black Boot)FC/APCP6?2.5 mm Ferrule with Slotted FlangeScissor CutCoated Patch Cables Selection GuideSingle Mode AR-Coated Patch CablesTEC Single Mode AR-Coated Patch CablesPolarization-Maintaining AR-Coated Patch CablesMultimode AR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesStock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesThermally-Expanded-Core (TEC) Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch Cables耦合性能由于TEC光纤一端的纤芯直径膨胀,进行自由空间耦合时,它们对位置的偏移没有标准的单模光纤那样敏感。为了进行比较,我们改变x轴和z轴上的偏移,并测量自由空间光束耦合到TEC光纤跳线和标准光纤跳线时的耦合损耗(如右图所示)。使用C151TMD-C非球面透镜,将光耦合到标准光纤和TEC光纤。在980 nm 和1064 nm下,测试使用1060XP光纤的跳线和P1-1060TEC-2光纤跳线,同时,在1550 nm下,测试使用1550BHP光纤的跳线和P1-1550TEC-2光纤跳线。通过MBT616D 3轴位移台,让光纤跳线相对于入射光移动。 下面的曲线图展示了所测光纤跳线的光纤耦合性能。一般而言,对于相同的x轴或z轴偏移,TEC光纤跳线比标准跳线的耦合损耗低。而在x轴或z轴偏移为0 μm 时,标准跳线与TEC跳线的性能相似。总而言之,这些测试结果表明,TEC光纤对光纤位置的偏移远远没有标准光纤那样敏感,同时还能在zui佳光纤位置保持相同的耦合损耗。请注意,这些测量为典型值,由于制造公差的存在,不同批次跳线的性能可能有所差异。测量耦合性能装置的示意图。上图显示了用于测量耦合性能的测试装置。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。11550BHP标准光纤和P1-1550TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。 损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制,包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如,接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值,但是,光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南,估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导,用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件;如果有元件并未指定zui大功率,用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该,以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括,但不限于,光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论,请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时,光会入射到这个界面。如果光的强度很高,就会降低功率的适用性,并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言,高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化,进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件,紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同,与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小,耦合单模(SM)光纤时尤其如此,因此,对于给定的功率密度,入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值:一种理论损伤阈值,一种"实际安全水平"。一般而言,理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下,可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的,但用户必须遵守恰当的适用性说明,并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的,它是光通过光纤的横截面积,包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时,入射光束的直径必须匹配光纤的MFD,才能达到良好的耦合效率。例如,SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm,而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算:SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2 = Pi x (1.5μm)2 = 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber: Area = Pi x (MFD/2)2 = Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平,将功率密度乘以有效面积。请注意,该计算假设的是光束具有均匀的强度分布,但其实,单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状,使得光束中心的密度比边缘处更高,因此,这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源,通过估算的功率密度,就可以确定对应的功率水平:SM400 Fiber: 7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71 mW (理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18 mW (实际安全水平)SMF-28 UltraFiber: 8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW (理论损伤阈值)8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210 mW (实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果,Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大,降低了光纤端面的功率密度,因此,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。 Estimated Optical Power Densities on Air / Glass InterfaceaTypeTheoretical Damage ThresholdbPractical Safe LevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2a. 所有值针对无终端(裸露)的石英光纤,适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。b. 这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前,必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性,因其与系统有着紧密的关系。c. 这是在大多数工作条件下,入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时,没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层,再进入插芯中,而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强,就可以熔化环氧树脂,使其气化,并在接头表面留下残渣。这样,光纤端面就出现了局部吸收点,造成耦合效率降低,散射增加,进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长,出于以下几个原因。一般而言,短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小,且产生更多的散射光,则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险,可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如,光纤跳线),而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如,右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下,两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线),而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤,有效模场由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的有效模场。因此,其光纤端面上的功率密度更低,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变,这样,多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意,曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是,光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过,这样的应用一般需要专业用户,并在使用之前以较低的功率进行测试,尽量降低损伤风险。但即使如此,如果在较高的功率水平下使用,则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外,光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件,因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射,光在某个区域就会射出光纤,这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高,会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤,允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导,从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角,射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出,从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤,它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象,一般发生在紫外或短波长可见光,尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加,衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知,但可以采取一些列措施来缓解。例如,研究发现,羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化,其它掺杂物比如氟,也能减少光暗化。即使采取了上述措施,所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生,因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品,用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤,损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源,以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前,一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的,没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外,如果是裸纤,使用前应该剪切,用户应该检查光纤末端,确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统,用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好,然后在高功率下使用。熔接质量差,会增加光在熔接界面的散射,从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时,用户应该使用低功率;这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头,有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言,光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作,但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面),光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性,然后再提高输入或输出功率,遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议,有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中,在取得zui佳耦合前,光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时,会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中,可以增大适用的功率,因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备,并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射,或在熔接界面局部形成高热区域,从而损伤光纤。连接光纤或组件之后,应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率,同时周期性地验证所有组件对准良好,耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时,大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出,从而在局部形成产生高热量,进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤,以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如,大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用,因为前者可以提供更佳的光束质量,更大的MFD,且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用,因为这些应用与高空间功率密度相关。MFD定义模场直径的定义模场直径(MFD)是对在单模光纤中传播的光的光束尺寸的一种量度。它与波长、纤芯半径以及纤芯和包层的折射率具有函数关系。虽然光纤中的大部分光被限制在纤芯内传播,但仍有极小部分的光在包层中传播。对于高斯功率分布,MFD是指光功率从峰值水平降到1/e2时的直径。MFD的测量通过在远场使用变孔径法来完成MFD的测量。在光纤输出的远场处放置一个通光孔径,然后测量强度。在光路中放置连续变小的通光孔径,测量每个通光孔径下的强度水平;然后以功率和孔径半角(或数值孔径)的正弦为坐标作图得到数据。使用彼得曼第二定义确定MFD,该数学模型没有假设功率分布的特定形状。使用汉克尔变换可以从远场测量值确定近场处的MFD大小TEC光纤跳线,980 nm - 1250 nmItem #Fiber TypeOperating WavelengthMode Field DiameteraAR CoatingbMax AttenuationcNAdCladding/Coating DiameterConnectorsJacketTECStandardTECStandardP1-1060TEC-21060XP980 - 1250 nm12.4 ± 1.0 μm6.2 ± 0.5 μm850 - 1250 nm≤2.1 dB/km @980 nm≤1.5 dB/km @ 1060 nm0.070.14125 ± 0.5 μm /245 ± 10 μmFC/PC (TEC) to FC/PC?3 mmFT030-YP5-1060TEC-2TEC光纤跳线,1460 - 1620 nm,镀增透膜,FC/PC(TEC)到FC/APC,2 mP6-1550TEC-2TEC光纤跳线,1460 - 1620 nm,镀增透膜,?2.5 mm插芯(TEC)到裸纤,2 m
  • 29053486赛默飞进样器和非质谱检测器刃环
    刃环选择范围广,适用于多种多样的仪器和应用Thermo Scientific 刃环共有三种材质、多种尺寸,适用于不同的仪器和毛细管柱内径。材质的选择取决于用途;具体请见下表。材料类型 适用于GC/MS 温度上限(°C) 可否再用石墨 否 450 是石墨/Vespel 是 350 否不锈钢 (SilTite) 是 500 否100% 石墨刃环Thermo Scientific 100%石墨刃环采用可渗透氧气的软材质制成, 适用于除GC/MS 接口连接之外的大部分接口。这些刃环简便易用,可与色谱柱形成柔软的夹紧接口,确保稳定密封。15% 石墨/85% Vespel 刃环15% 石墨/85% Vespel刃环具有非常稳健的机械性能,它使用寿命长,而且适用于GC/MS。这些刃环可与色谱柱牢固夹紧,但由于与色谱柱形成***性密封,所以不能重复使用。它们可以耐受的温度上限是350°C,但在初始温度循环完成后,需要重新紧固。SilTite™ 金属刃环SilTite金属刃环和螺母采用同一材料制成,因而具有相同的热膨胀系数。SilTite刃环可在毛细管色谱柱周围形成牢固的***性气密性密封,可有效防止泄漏。刃环的底座是平的,可与MS 接口形成完全密封。刃环的耐受温度远远超过进样器、MS接口或GC柱温箱。与其他刃环不同的是,SilTite 刃环在安装后无需重新紧固。用于Thermo Scientific仪器的刃环用于材料类型刃环尺寸 (色谱柱 ID) (mm) 部件号数量Thermo Scientific TRACE 1300/1310SSL 进样器和非质谱检测器100 % 石墨0.1-0.32 290GA139 10 个/包0.45-0.53 290GA140 10 个/包15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 290VA191 10 个/包0.32 290VA192 10 个/包0.53 290VA193 10 个/包用于进样器和非质谱检测器的毛细管柱螺母不锈钢290BT242 5 个/包Thermo Scientific TRACE Ultra SSL进样器和非质谱检测器100 % 石墨0.1-0.25 29053488 10 个/包0.32 29053487 10 个/包0.53 29053486 10 个/包15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 29033461 10 个/包0.32 29033460 10 个/包0.53 29033471 10 个/包填充柱 1/8" OD 290VT168 10 个/包填充柱 1/4" OD 290VT165 10 个/包15% 石墨/85% Vespel(3.4mm长)0.1-0.25 290VT186 10 个/包*0.32 290VT187 10 个/包*0.53 290VT188 10 个/包*用于石墨/ Vespel 刃环的黄铜螺母290BT239 2 个/包用于所有Thermo Scientific PTV 进样器100 % 石墨0.1-0.25 29053488 10 个/包0.32 29053487 10 个/包0.53 29053486 10 个/包Thermo Scientific MS 检测器15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 29033496 10 个/包0.32 29033497 10 个/包用于Thermo ScientificGC/MS 接口的SilTite工具包SilTite 金属0.1-0.25 290MT229 1 个/包**0.32 290MT230 1 个/包**0.53 290MT231 1 个/包**用于Thermo ScientificGC/MS 接口的SilTite工具包的替换件SilTite 金属0.1-0.25 290MT221 10 个/包0.32 290MT222 10 个/包0.53 290MT223 10 个/包替代的 SilTite 螺母290MT211 5 个/包用于TRACE 1300 GC SSL 进样器的SilTite工具包SilTite 金属0.1-0.25 290MA215 1 个/包**0.32 290MA216 1 个/包**0.53 290MA217 1 个/包**用于MS 接口的SilTite螺母290MA205 5 个/包用于 SSL 进样器的 SilTite 螺母290MA207 5 个/包* Vespel 刃环必须和部件号为 290BT239的铜质螺母一起使用** SilTite 工具包包含 2 SilTite 螺母和 10 刃环
  • 29053488赛默飞进样器和非质谱检测器刃环
    刃环选择范围广,适用于多种多样的仪器和应用Thermo Scientific 刃环共有三种材质、多种尺寸,适用于不同的仪器和毛细管柱内径。材质的选择取决于用途;具体请见下表。材料类型 适用于GC/MS 温度上限(°C) 可否再用石墨 否 450 是石墨/Vespel 是 350 否不锈钢 (SilTite) 是 500 否100% 石墨刃环Thermo Scientific 100%石墨刃环采用可渗透氧气的软材质制成, 适用于除GC/MS 接口连接之外的大部分接口。这些刃环简便易用,可与色谱柱形成柔软的夹紧接口,确保稳定密封。15% 石墨/85% Vespel 刃环15% 石墨/85% Vespel刃环具有非常稳健的机械性能,它使用寿命长,而且适用于GC/MS。这些刃环可与色谱柱牢固夹紧,但由于与色谱柱形成***性密封,所以不能重复使用。它们可以耐受的温度上限是350°C,但在初始温度循环完成后,需要重新紧固。SilTite™ 金属刃环SilTite金属刃环和螺母采用同一材料制成,因而具有相同的热膨胀系数。SilTite刃环可在毛细管色谱柱周围形成牢固的***性气密性密封,可有效防止泄漏。刃环的底座是平的,可与MS 接口形成完全密封。刃环的耐受温度远远超过进样器、MS接口或GC柱温箱。与其他刃环不同的是,SilTite 刃环在安装后无需重新紧固。用于Thermo Scientific仪器的刃环用于材料类型刃环尺寸 (色谱柱 ID) (mm) 部件号数量Thermo Scientific TRACE 1300/1310SSL 进样器和非质谱检测器100 % 石墨0.1-0.32 290GA139 10 个/包0.45-0.53 290GA140 10 个/包15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 290VA191 10 个/包0.32 290VA192 10 个/包0.53 290VA193 10 个/包用于进样器和非质谱检测器的毛细管柱螺母不锈钢290BT242 5 个/包Thermo Scientific TRACE Ultra SSL进样器和非质谱检测器100 % 石墨0.1-0.25 29053488 10 个/包0.32 29053487 10 个/包0.53 29053486 10 个/包15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 29033461 10 个/包0.32 29033460 10 个/包0.53 29033471 10 个/包填充柱 1/8" OD 290VT168 10 个/包填充柱 1/4" OD 290VT165 10 个/包15% 石墨/85% Vespel(3.4mm长)0.1-0.25 290VT186 10 个/包*0.32 290VT187 10 个/包*0.53 290VT188 10 个/包*用于石墨/ Vespel 刃环的黄铜螺母290BT239 2 个/包用于所有Thermo Scientific PTV 进样器100 % 石墨0.1-0.25 29053488 10 个/包0.32 29053487 10 个/包0.53 29053486 10 个/包Thermo Scientific MS 检测器15% 石墨/85% Vespel 0.1-0.25 29033496 10 个/包0.32 29033497 10 个/包用于Thermo ScientificGC/MS 接口的SilTite工具包SilTite 金属0.1-0.25 290MT229 1 个/包**0.32 290MT230 1 个/包**0.53 290MT231 1 个/包**用于Thermo ScientificGC/MS 接口的SilTite工具包的替换件SilTite 金属0.1-0.25 290MT221 10 个/包0.32 290MT222 10 个/包0.53 290MT223 10 个/包替代的 SilTite 螺母290MT211 5 个/包用于TRACE 1300 GC SSL 进样器的SilTite工具包SilTite 金属0.1-0.25 290MA215 1 个/包**0.32 290MA216 1 个/包**0.53 290MA217 1 个/包**用于MS 接口的SilTite螺母290MA205 5 个/包用于 SSL 进样器的 SilTite 螺母290MA207 5 个/包* Vespel 刃环必须和部件号为 290BT239的铜质螺母一起使用** SilTite 工具包包含 2 SilTite 螺母和 10 刃环
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