现在客户要求内校报告也须提供测量不确定度评估,以前我没有做过,现在想从常见的长度类仪器开始做,不知道那位有卡尺和厚薄规(厚度仪)不确定度评估实例,能否发一份给我?非常感谢![em54] email:pwindy.98@163.comor pengxz@nienyi.com.tw
各位大侠,请教下单晶硅TEM试片厚度如何用EELS计算?Si 的mean free path 是多少?
我用阳极氧化法腐蚀硅,我想达到每次腐蚀一nm的厚度,用Bulk Electrolysis with coulometry 方法能否分析出我腐蚀硅的厚度,如何分析?
[table][tr][td][url=http://www.cqvip.com/QK/98010A/2002001/5922380.html][size=3][color=#c60a00]胶质层最大厚度[/color]与粘结指数的相关关系及其应用 吴红萍[/size][/url][/td][/tr][/table][url=http://emuch.net/journal/article.php?id=CJFDTotal-KYKB200805034][size=3][color=#c60a00]胶质层最大厚度[/color]与粘结指数的线性回归方程及其应用--《[color=#000000]矿业快报》2008年05期 [/color][/size][/url][size=3][b]胶质层最大厚度与粘结指数的线性回归方程及其应用[/b][/size]有哪位大侠能提供者3篇文献啊帮帮忙~
Sub(硅衬底)+EPI,期间注入NBL.现要测量EPI的厚度.层次之间很难看出明显的界限.请问,用什么机台可以测量得出EPI的厚度呢?[em06]
请问各位大侠:硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外,现在比较主流的测试仪器是什么啊??谢谢了!
求助大神,我们这一台菲希尔的XDV-µ 镀层厚度测量仪,买了不到一年就开始经常打不开高压,代理商总是说脏灰尘要清洁。刚出保一个月又打不了高压,工作人员清洁和转动了下快门马达??然后能上高压了。但光谱不正常,像条形图。供应商说探测器被搞坏了;他们说吹口气都会坏;[color=#cc0000]硅漂移探测器[/color]这么脆?
"试件在测试状态下平均密度:****,试件有效平均厚度:****"请问在这句话中的:测试状态下平均密度,有效平均厚度。怎么理解?该怎么计算?多谢。
[align=center][size=21px]测量单板厚度的器具改进[/size][/align][size=18px]游标卡尺测量单板厚度会带来一定的正向误差,因此测量结果总是比相对真值要大。根据这一结果对单板测量工具的改进进行了调查。[/size][size=18px]调查结果如下[/size]1、 [size=18px]现有游标卡尺无法满足单板精确测量的原因。[/size][size=18px] 满足测量准确的一个重要原则是要满足阿贝原则。其定义:“如果要使测量仪器得出正确的测量结果,则必须将仪器的标尺安装在被测件测量中心线的延长线上。”凡违反阿贝原则所产生的误差叫阿贝误差。 符合阿贝原则所产生的误差是二次误差,当表尺与被称为测件测量中心线的夹角很小时,此误差可忽略不计。不符合阿贝原则所产生的误差是一次误差,标准尺与被测件的距离越大,误差越大,它是一种不可忽视的误差。公司现用的游标卡尺测量单板厚度为面对面的接触测量,要想满足测量的精确度必须为面对点的测量。因此从设计上来看游标卡尺是违反了阿贝原则的。为减少所产生的测量误差,一方面要提高导轨的加工精度,另一方面在测量时尽量缩短标准尺与被测件的距离。在实际操作游标卡尺测量单板厚度时无法保证每个操作人员进行精确测量。因此使用现有游标卡尺进行单板厚度测量存在一定正向误差。[/size]2、 [size=18px]对现有游标卡尺进行改造。[/size][size=18px] 要消除游标卡尺测量单板所带来的误差可以对卡尺进行适当的改造以达到满足阿贝原则的目的。游标卡尺两个接触面,可以将其中一个接触面改造为半球型,从而满足点与面接触这个条件。但我公司现有的条件要进行游标卡尺的改造具有一定难度。要对卡尺改造只能联系特定厂家进行改造。此种方法费时费力因此不建议采纳。[/size]3、 [size=18px]采购满足单板测量需要的专用工具。[/size][size=18px]在市面上有许多专业用于测量我公司产品单板厚度的量具。其中一种数显千分厚度仪结构简单、精度可靠能满足我公司产品测量需要,具体结构见图(1)。[/size][size=18px]图(1)[/size][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/06/202006250900588362_2466_4034730_3.png[/img][size=18px]数显千分厚度仪[/size][size=18px]该厚度仪接触面为点对点,可以精确测量单板厚度。且该仪器结构简单操作方便也便于携带。价格方面该器具单价普遍低于1000元要低于我们目前所使用的游标卡尺价格。通过与计量专家黄老师的沟通他认为该种器具从测量范围、精度、重复性和使用方便程度上都可以满足我们的测试需求。[/size]4、 [size=18px]建议[/size][size=18px]由于现有游标卡尺功能繁多易损坏且采购价格昂贵无法满足单板厚度测量精度要求。因此建议使用千分测厚仪来替代进行单板厚度测量。千分测厚仪结构简单不易损坏且满足测量单板厚度的专业要求。建议先采购一件进行试用,效果符合我公司生产要求可以进行推广。替换该种器具不仅可以节约器具的采购成本还能更加准确的监控单板厚度质量。[/size]
[font=&]请教各位老师,电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行?投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后,跟第一次测哪个点的顺序有关吗?GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分?8.2.4条款里面,护套的厚度测试要求就是“在任何情况下,应有一次测量在护套最薄处进行”,8.1.4条款里面,绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下,第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢!PS:在其它板块发了没有老师回复,所以在这里也求助一下,如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点,谢谢![/font]
大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!
在钢板表面涂一层涂漆,根据工艺不同,涂漆厚度不同,如何知道刮棒的型号与涂漆厚度是什么对应关系,既如何根据涂漆厚度选择合适的刮棒?涂漆的厚度单位是g/㎡。
求助:在金属表面测镀层厚度,镀的是同一种物质比如镍;镀两层,这两层镍的物理属性不同,晶粒大小不一样,请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢!
[color=#333333]液膜厚度影响柱子的保留特性和柱容量.厚度增加,保留也增加。[/color][color=#333333]0.02[/color][color=#333333]μm :薄液膜厚度的毛细管柱比厚液膜的毛细管柱洗脱组分快,所需柱温度低,且高温下柱流失较小,适用高沸点的化合物的分析。[/color][color=#333333]0.25[/color][color=#333333]~0.5μm :常用的液膜厚度。[/color][color=#333333]厚液膜:对分析低沸点的化合物较为有利。[/color]
[align=center][font=宋体][size=16.0000pt]关于测量车间单板厚度的器具改进调查[/size][/font][/align][font=宋体][size=14.0000pt]10[font=宋体]月[/font][font=Calibri]19[/font][font=宋体]日广电计量专家对我司计量相关人员进行了计量方面的知识培训。在培训中黄老师提出使用现有的游标卡尺测量单板厚度会带来一定的正向误差,因此测量结果总是比相对真值要大。根据这一结果对单板测量工具的改进进行了调查。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]调查结果如下:[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]一、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]现有游标卡尺无法满足单板精确测量的原因。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt] [font=宋体]满足测量准确的一个重要原则是要满足阿贝原则。其定义:[/font]“如果要使测量仪器得出正确的测量结果,则必须将仪器的标尺安装在被测件测量中心线的延长线上。”凡违反阿贝原则所产生的误差叫阿贝误差。 符合阿贝原则所产生的误差是二次误差,当表尺与被称为测件测量中心线的夹角很小时,此误差可忽略不计。不符合阿贝原则所产生的误差是一次误差,标准尺与被测件的距离越大,误差越大,它是一种不可忽视的误差。公司现用的游标卡尺测量单板厚度为面对面的接触测量,要想满足测量的精确度必须为面对点的测量。因此从设计上来看游标卡尺是违反了阿贝原则的。为减少所产生的测量误差,一方面要提高导轨的加工精度,另一方面在测量时尽量缩短标准尺与被测件的距离。在实际操作游标卡尺测量单板厚度时无法保证每个操作人员进行精确测量。因此使用现有游标卡尺进行单板厚度测量存在一定正向误差。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]二、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]对现有游标卡尺进行改造。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt] [font=宋体]要消除游标卡尺测量单板所带来的误差可以对卡尺进行适当的改造以达到满足阿贝原则的目的。游标卡尺两个接触面,可以将其中一个接触面改造为半球型,从而满足点与面接触这个条件。但我公司现有的条件要进行游标卡尺的改造具有一定难度。要对卡尺改造只能联系特定厂家进行改造。此种方法费时费力因此不建议采纳。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]三、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]采购满足单板测量需要的专用工具。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]在市面上有许多专业用于测量我公司单板厚度的量具。其中一种数显千分厚度仪结构简单、精度可靠能满足我公司产品测量需要,具体结构见图([/font]1[font=宋体])。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]图([/font]1[font=宋体])[/font][/size][/font][img=,379,318]file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml6548\wps1.jpg[/img][font=宋体][size=14.0000pt]数显千分厚度仪[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]该厚度仪接触面为点对点,可以精确测量单板厚度。且该仪器结构简单操作方便也便于携带。价格方面该器具单价普遍低于[/font]1000[font=宋体]元要低于我们目前所使用的游标卡尺价格。通过与广电计量专家黄老师的沟通他认为该种器具从测量范围、精度、重复性和使用方便程度上都可以满足我们的测试需求。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]四、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]建议[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]由于现有游标卡尺功能繁多易损坏且采购价格昂贵无法满足单板厚度测量精度要求。因此建议使用千分测厚仪来替代进行单板厚度测量。千分测厚仪结构简单不易损坏且满足测量单板厚度的专业要求。建议先采购一件进行试用,效果符合我公司生产要求可以进行推广。替换该种器具不仅可以节约器具的采购成本还能更加准确的监控单板厚度质量。[/size][/font]
我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控,可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度(固化后的)和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶,此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间,测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试,请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢!
我想大约估算一下厚度用的电镜是JEM 2010F,现在有一个纳米带,HRTEM至少有清晰的晶格像,那么这个厚度能不能知道大约不会超过多少
请问在电镜中,或是用其他什么办法可以测量金属透射样品观察区域的厚度吗?如果不是区域的,有什么好的办法测量平均厚度(可观察区域的)的吗?万分感谢
各位:PTFE一体罐的厚度大概是多少呀?容积呢?比容150ml的耐压呢?我未用过这个,希望用过的大虾能给一点信息
EDX的扫描对样品厚度有要求,大家有知道要求厚度是多少吗?各种型号或厂家的产品要求厚度都不一样吗?
我们想买测量金属混合镀层的厚度,到底应该选择 [color=#333333]赛默飞(fisher)的还是菲希尔(fischer )的,[/color][color=#333333]感觉差一个字母,都是测量这块的厂家,[/color][color=#333333]哪个更专业?[/color][color=#333333]Fe基材,测量锌镍混合镀层厚度;[/color][color=#333333]Cu基材,测量锌或银镀层厚度;[/color][color=#333333]等等。[/color][color=#333333][/color]
洛氏硬度试样,厚1.35mm,硬度范围33~35HRC,根据这个已知硬度值,如何确定试样的最小厚度?
求助:请问哪位大侠知道国内有哪家第三方检测公司可以X射线测钌镀层的厚度?
我不是很清楚哪个版块有技术可以解决这个问题,估计电镜也许可以,所以先发在这个版块,要是有其他版块有此项技术请告知一下,我再转发。谢谢!我们需要测量的金膜是溅射在玻璃基片上的。玻璃基片约0.5mm厚,大小约1cm*1cm。基片上有一层很薄很薄的铬,完全可以忽略,金膜溅射在铬上的,厚度约50nm左右,我们想比较准确测量一下其厚度,误差 1-3nm以内吧。误差5-10nm左右呢???示意图如下[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/03/200903231024_140067_1613111_3.jpg[/img]
请问,有哪位知道,对海绵,塑料,地毯,PU革的厚度测试,有何不同标准,或要求,比如说,压力,测试的压头面积等,非常感谢!
请教论坛内的各位高人,在电镀中在相同的时间内是否被镀基体越小,厚度越厚呢?请各位高人给以赐教。
以前用过一张Gatan凹坑仪配的单晶硅厚度和颜色的示意图,做截面样品的时候很有用。现在找不到了,跟Gatan联系也没有回音。于是自己根据记忆画了一张,跟原图误差应该不大,需要的同学可以拿去试用一下。图上标注的绝对厚度其实不重要,有些偏差也没关系。这张图最有用的是通过几次实验之后找到最适合自己样品的颜色,控制好离子减薄时间,提高制样成功率和效率。需要注意,颜色跟能带宽度关系很大。这张图只适用于纯净或普通掺杂的单晶硅基底,能带间隙1.1eV左右。对于TiN也能用,颜色略有变化。Ge和GaN的能带间隙分别是0.66eV和3.5eV,这张图完全失效。另外,光源也很重要。在冷光源照明的显微镜下看不到这么明显的颜色变化,需要用白炽灯或者卤素灯作光源才行。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908212003_167138_1608108_3.jpg[/img][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=167139]printer version[/url]
怎么检测油漆厚度
基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗
用XRF怎么测厚度啊?