放电棒

美国AED美敦力*菲康LIFEPAK CR PLUS产地：美国所属医疗类别：三类 6821国际知名一线品牌，通过SFDA、FDA认证美国AED美敦力*菲康LIFEPAK CR PLUS产品特点：1、方便简洁快速使用(大箭头指向开机，简明图示，红色手柄，预连接电极片，颜色区分电极片)2、全自动模式（无需按除颤键）3、ADAPTIV适应性双向波，Z高可逐渐递增至360J4、8年的主机及主机电池质保5、双电池保护系统6、状态提示图标随时可见7、备用电极片1. 国际知名一线品牌，通过SFDA、FDA认证2. 充电时间： 使用已经充满电的仪器：充至200焦耳小于9秒，充至360焦耳小于15秒3. 全自动除颤仪：自动分析心律、自动识别阻抗、自动选择能量充电、自动除颤点击（无需按键）4. 除颤波形： 双向截断指数波，电压以及电流持续时间可根据病人阻抗进行补偿。5. ê首次放电不高于200J，第二次之后逐次递增的输出能量，可以输出360J6. 具有专用的儿童电极片7. 开机时间小： 从慢点的仪器可进行20次放电或140分钟开机时间8. 双电池保护系统。充电48小时后能进行6次电击或42分钟的操作，充电14天后可进行20次电击或140分钟的操作。9. ê除颤电极片提前预置在机器中，开机后无需连接电极片至机器10. 两片电极片表面有不同颜色区分的黏贴示意图11. 具备中文语音提示系统12. 电池电极片至少可待机2年13. ê每台机器除了既有电极片以外提供一副备用电极片14. 无线传输功能，将病人数据下载至电脑15. 至少可储存2个患者的数据16. ê主机质保8年17.防水设计，至少符合IPX4标准环境参数 :所有定义的性能参数皆假定一起在操作前存放在操作温度环境中(至少2小时)工作温度：0到50摄氏度存放温度：-40到70摄氏度，带充电棒和电极片，长暴露时间不超过一周。大气压力：760到429毫米汞柱，海拔0-15,000英尺相对湿度：5—95%(非凝结)防水性能：IEC60529/EN60529 IPX4“防溅水”试验，电极片连接着，震动：符合MIL-STD-810E，方法514.4，直升机-6类标准，场面车辆-8类标准充电棒安装着撞击：符合MIL-STD-810E，方法514.4，程序118.物理特性：高度： 10.7厘米宽度： 20.3厘米深度： 24.1厘米，不包含把手重量： 2.0千克 美国AED美敦力*菲康LIFEPAK CR PLUS创新点：仪器比之前的型号相比可以实现全自动无需手动按除颤按钮美国美敦力*菲康LIFEPAK CR PLUS全自动除颤仪 AED

高压局部放电局部放电是电力设备绝缘在足够强的电场作用下局部范围内发生的放电，每一次局部放电对绝缘介质都会产生一些影响，使绝缘强度下降，造成高压电力设备绝缘损坏，甚至会造成人安全隐患。目前，预防性维护人员已经开始使用声学成像技术定位局部放电，甚至能在设备过热之前就发现设备特有的声音特征。与FLIR红外热像仪配合使用，像FLIR Si124之类的声学成像仪是必不可少的设备，可以有效地发现局部放电，避免出现设备故障、代价高昂的损坏和意外停机等问题。局部放电的过程与危害根据IEC 60270的正式描述，局部放电指“只是局部地桥接导线间绝缘体的局部放电现象，可能发生在导线附近，也可能发生在其他地方。通常，局部放电是局部电应力在绝缘体或绝缘体表面集中的结果，一般表现为持续时间远远小于1毫秒的脉冲。电流总是趁人不注意时试图逃逸、跳离导线、徒劳地尝试桥接附近的电极。在寻找逃逸路线时，它首先会从老化的绝缘体上的裂缝开始。如果是架空电线，则是从因多年积污的电线表面开始。也许是在高压电缆的纸绕组上戳一个小孔，也可能隐藏在老化的液体电介质中形成的气泡附近。在电压正弦波的每个波峰和波谷，它都会持续不断地尝试（局部放电）。电流就这样日复一日地试图穿越到相邻的导线上，肉眼却无法看到这类局部放电。受持续性高压应力影响，附近的绝缘材料会在某个时刻失效，丧失对电流的约束。最终，电流会分流进入另一导线。这种情况发生时，导线会完全失效。这会对线路上连接的电气设备、开关设备、机械或设施造成了极大的破坏，代价高昂。局部放电有可能损坏工厂设备或灼伤敏感的电子设备。严重时，局部放电可能导致社区停电数小时，闲置设备，浪费宝贵的生产力。声学成像仪是预防性维护的必要工具局部放电检测是状态监测(CBM)或预防性维护(PdM)计划切实发挥作用的必要条件。越早发现，局部放电对绝缘体的损坏就越少，设备故障和后续停机风险也就越低。追踪局部放电问题有着简单的经济动机：发现问题，安排停机，然后在局部放电现场修复和更换绝缘体及电气接头，其成本和破坏性要低得多。为了准确定位局部放电，电气承包商、检查人员和专业维护人员可以使用多种诊断技术。绝缘测试仪提供了绝缘体的有效性或电阻的数值读数。FLIR红外热像仪可以定位并识别电气设备产生的阻热，通过逐像素的温度读数在可视图像中精确定位问题所在。还可以将热成像技术与声学成像技术结合起来，确定局部放电的严重程度。温度升高和声学特征可以表明绝缘设备的完整性遭到破坏。FLIR Si124满足声像仪的所有需求作为整个诊断生态系统的一部分，FLIR在红外热像诊断方案以外，还推出了声学成像解决方案。FLIR Si124工业声学成像仪是一款基于声学原理的解决方案，它可以定位和分析工业故障、老化以及缺陷如局部放电等。研究发现，在元件发热到能被红外热像仪检测到之前，局部放电会导致声音异常。这就为我们额外提供了一层提示，帮助我们提前检测到潜在的故障。虽然我们经常能在电线附近听到嗡嗡声，但人耳通常是听不到局部放电的，因此局部放电人耳很难定位，尤其是在过于嘈杂的工作场所。借助手持式声学成像仪（FLIR Si124），用户可以扫描一整个区域，在被检组件的声像图上看到局部放电产生超声波的位置，即使人耳听不到、背景噪声很大也没关系。虽然在声学成像方面，电工有许多工具可选，但从便携性到精度，需要考虑多种因素。首先，虽然大多数声学成像工具都很轻便，但要选择便于换场作业的款式。选择一台简单易用、单手可握、携带方便，符合人体工学设计且便于瞄准的手持式成像仪。很显然，FLIR Si124工业声波成像仪很好地满足了以上所有要求！麦克风更多，检测速度快10倍科技领域有一条通用法则：越多越好。从这个意义上讲，声学成像仪中增加麦克风的数量对形成细节丰富的声学图像至关重要。同样在科技领域，对于麦克风本身而言，（体积）大不一定好，因此使用MEMS（微机电系统）类型的麦克风。这类麦克风的性能达到了良好的平衡，能在不同环境下稳定地工作，功耗低，支持小体积电池，续航时间长。另外，体积小意味着更容易把它们紧凑地布置在手持工具上。更多的麦克风，都有哪些优势呢？灵敏度：FLIR Si124声学成像仪搭载了由124个MEMS麦克风精心布成的阵列，这些麦克风相互配合，使灵敏度达到高水平。麦克风越多越可以降低“空间混叠”的可能，也就是降低图像上声源错位的可能。检测范围与访问：增加麦克风的另一个优势是可以扩大检测范围。声音在空气中的传播距离每增加一倍就会衰减6分贝（距离声源15米处听到的声音比30米处听到的声音强6分贝），中型局部放电的分贝值约为40分贝。为了检测范围更广，声学成像仪制造商通过增加麦克风的数量来扩大检测范围。FLIR Si124声学成像仪将麦克风增加三倍，从而使检测范围扩大一倍。出于安全考虑，许多电气设备周围都有栅栏，或者离地较高，很难接近访问。这种访问限制也可能与时间有关，比如需要客户联系人在场时才能进入。鉴于这些访问限制，远距离也能精确定位局部放电的工具就显得至关重要。处理能力：FLIR Si124会产生124个音频数据流，这些数据流经过处理后可转换为视觉图像。这款声像仪搭载了自动音频频率筛选功能，既不牺牲性能，也简化了操作过程。数据和图形处理能力的进步使得将如此大量的声学数据，瞬间整合成屏幕上易于理解的图像成为可能。如果用户选用搭载较少麦克风或老款处理器的成像仪，结果只能得到较低品质图像、较低的分辨率、以及较慢的刷新率。就生产效率而言，像FLIR Si124这样先进的声学成像仪在发现问题的速度方面比其它可用工具快10倍。配备124个麦克风的FLIR声学成像仪不仅检测速度快人一步麦克风频率还会影响检查效果想知道关于声学成像仪的更多理论知识持续关注我们

声学成像仪在高压局部放电中的应用原理小菲在上周的文章中提到一部分没看到的小伙伴戳这里：小菲课堂｜声学成像技术在局部放电监测中的应用（一）下面继续为大家详细解说声学成像仪：智能除噪，结果准确电气承包商选择检测局部放电的工具本身，也可能会导致人们对局部放电的识别效果产生误解。比如，局部放电以40 kHz的频率恒定地发出超声波，许多声学成像设备就只有这个频率的范围，尽管这些设备在某些情况下可能有用，但在大多数情况下，选择这些设备可能大大削弱检测的灵敏度。例如，在远距离工作时（如户外变电站），使用更宽的频率范围（10 kHz-30 kHz）可以产生更好的结果。目前，声学成像已迅速发展成对维护供电基础设施正常运行不可或缺的技术。越来越多的状态监测管理人员开始把FLIR Si124之类的声像仪加入工具箱。此类设备可以快速、轻松地发现问题，降低维修成本，减少意外停机，很快就能带来投资回报。 当高压设备内有悬浮导体时（比如用垫片隔开），就有可能产生悬浮放电，悬浮放电被认为是最常见的局部放电类型。导线（如输电线）周围作为绝缘材料的空气在高湿度或污染环境下会丧失部分绝缘能力，进而发生空气放电。这会导致电流进入空气中，进一步降低近处的空气质量和导线的性能。分析声学图像可能需要一定的培训和学习，尤其是在理解不同类型的局部放电时。了解问题及其严重性有助于制定更好的报告、维修建议和更明智的后续行动。FLIR Si124声学成像仪采用人工智能算法分析局部放电，可助电气承包商一臂之力。用户可以将声学图像上传到FLIR Acoustic Camera Viewer云服务，后者会自动将这些图像与数千张局部放电图像进行比较。先进的人工智能服务有助于减少误差，加快报告制作，成为客户检查业务的关键优势。简单易用的特性也有助于使更多工人加入声学成像检测队伍，共同开展状态监测或预防性维护工作。声学成像仪重点检测区域对于局部放电易发生的区域，主要包括：★ 导线和母线★ 发电机★ 输配电设备★ 变电站★ 定子、电机和线圈★ 开关设备★ 变压器声学成像可以检测到超声波的能力，已成为公用事业组织用于确定是否存在局部放电的有效方法。它使专业人士能够执行更多例行预防性维护，有助于提供对即将发生的会导致关键系统停机的电气故障的关键初步预警。所以，电气供应商们要与时俱进，选择更有效、更快捷的工具检测电气设备的局部放电哦~想要了解更多详情。

清华大学两台放电等离子烧结设备验收完毕由日本富士电波工机株式会社为清华大学制造的2台放电等离子烧结设备SPS-211Lx近日在清华大学材料学院顺利安装完毕。创元公司代理的日本富士电波工机株式会社的放电等离子烧结设备以其优异的品质获得了用户的青睐。富士电波工机株式会社是最早开发出SPS制造技术的住友石炭公司的继承人，拥有世界上最先进的SPS技术。世界范围内拥有多达350多名的用户，其生产的放电等离子烧结设备已经广泛应用于各种新材料的研发和生产。清华大学继2000年首次购置SPS-1050T以来取得了一系列令人瞩目的成果。时隔15年后清华大学材料学院李敬锋副院长和林元华副院长再次同时购置2台SPS设备说明了以其为代表的国内知名高校以及科研机构对于富士电波工机株式会社SPS产品的充分认可。

研究镀层特性，有哪些常用的分析技术?　　如今，大多数材料不是多层结构，如薄膜光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等就是表面经过特殊处理或是为改善材料性能或耐腐蚀能力采用了先进镀层。为了很好地研究和评价这些功能性镀层特性，有多种表面分析工具应运而生，如我们熟知的X射线光电子能谱XPS、二次离子质谱SIMS、扫描电镜SEM、透射电镜TEM、椭圆偏振光谱、俄歇能谱AES等。　　为什么辉光放电光谱技术受青睐?　　辉光放电光谱仪作为一种新型的表面分析技术，虽然近年来才崭露头角，但已受到了越来越多的关注。与上述表面分析技术相比，辉光放电光谱仪在深度剖析材料的表面和深度时具有不可替代的独特优势，它的分析速度快、操作简单、无需超高真空部件，并且维护成本低。　　辉光放电光谱仪最初起源于钢铁行业，主要被用于镀锌钢板及钢铁表面钝化膜等的测定，但随着辉光放电光谱技术的逐步完善，仪器的性能也得以提升，可分析的材料越来越广泛。　　其性能的提升表现在两方面：一方面随着深度分辨率的不断提升，辉光放电光谱技术已可以逐渐满足薄膜的测试需求。现在，辉光放电光谱仪的深度分辨率可达亚纳米级别，可测试的镀层厚度从几纳米到150微米，某些特殊材料可以达到200微米。　　另一方面是辉光源的性能改善，以前辉光放电光谱仪主要用于钢铁行业的测试，测试的镀层样品几乎都是导体，DC直流的辉光源即可满足该类测试，但随着功能性镀层的不断发展，越来越多的非导体、半导体镀层出现，这使得射频辉光源的独特优势不断凸显。射频辉光源既可以测试导体也可以测试非导体样品，无需更换任何部件和测试方法，使用方便。如果需要测试热敏材料或是为抑制元素热扩散则需选用脉冲射频辉光源。脉冲模式下，功率不是持续性的作用到样品上，可以很好地抑制不期望的元素扩散或是造成热敏样品的损坏，确保测试结果的真实准确。　　辉光放电光谱的工作原理　　辉光放电腔室内充满低压氩气，当施加在放电两极的电压达到一定值，超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电，放电气体离解为正电荷离子和自由电子。在电场的作用下，正电荷离子加速轰击到(阴极)样品表面，产生阴极溅射。在放电区域内，溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光。辉光放电源的结构示意图，样品作为辉光放电源的阴极　　整个过程是动态的，氩气离子持续轰击样品表面并溅射出样品粒子，样品粒子持续进入等离子体进行激化发光，不断有新的层在被溅射，从而获得镀层元素含量随时间的变化曲线。　　辉光放电等离子体有双重作用，一是剥蚀样品表面颗粒 二是激发剥蚀下来的样品颗粒。在空间和时间上分离剥蚀和激发对于辉光放电操作非常重要。剥蚀发生在样品表面，激发发生在等离子体中，这样的设计可以很好地抑制基体效应。　　氩气是辉光放电最常用的气体，价格也相对便宜。氩气可以激发除氟元素外所有的元素，如需测试氟元素或是氩元素时需采用氖气作为激发气体。有时也会使用混合气体，如Ar+He非常适合于分析玻璃，Ar+H2可提高硅元素的检出，Ar+O2会应用到某些特殊的领域。　　光谱仪的主要功能是通过收集和分光检测来自等离子体的光以实现连续不断监控样品成分的变化。光谱仪的探测器必须能够快速响应，实时高动态的观测所有元素随深度的变化。辉光放电光谱仪中多色仪是仪器的重要组成部分，是实现高动态同步深度剖析的保障。而光栅是光谱仪的核心，光栅的好坏决定了光谱仪的性能，如光谱分辨率、灵敏度、光谱仪工作范围、杂散光抑制等。辉光放电是一种较弱的信号，光通量的大小对仪器的整体性能有至关重要的影响。　　如何进行定量分析?　　和其他光谱仪一样，通过辉光放电光谱仪做定量分析也需要建立标准曲线。不同的是，辉光放电光谱仪的标准曲线不仅是建立信号强度和元素浓度之间的关系，还会建立时间和镀层深度间的关系。　　下图是涂镀在铁合金上的TiN/Ti2N复合镀层材料的元素深度剖析，直接测试所得的信号强度(V)vs时间(s)的数据经过标准曲线计算后可获得浓度vs深度的信息，可清晰的读取各深度元素的浓度。　　想建立标准曲线就会涉及到标准样品，传统钢铁领域已经有非常成熟的方法及大量的标准样品可供选择。然而一些先进材料和新物质，很难找到标准样品做常规定量分析。HORIBA研发的辉光放电光谱仪针对这类样品开发了一种定量分析方法，称为Layer Mode，该方法可以使用一个与分析样品相类似的参比样品建立简单的标准曲线，实现对待测样品的半定量分析。　　辉光放电光谱的主要应用　　除了传统应用领域钢铁行业，辉光放电光谱仪现在主要应用于半导体、太阳能光伏、锂电池、硬盘等的镀层分析。下面就这些新型应用阐述一下辉光放电光谱仪的独特优势。　　1. 半导体-LED芯片　　如上图所示，LED芯片通常是生长在蓝宝石基底上的多镀层结构，其量子阱活性镀层非常薄(仅有几纳米)，而且还包埋在GaN层下。这种结构也增加了分析的难度。典型的表面技术如SIMS和XPS可以非常好表征这个活性镀层，但是在分析过程中要想剥蚀掉上表面的GaN层到达活性镀层需要耗费几个小时，分析速度慢，时效性差。　　辉光放电光谱仪的整个分析过程仅需几十秒即可获得LED芯片镀层中各元素随深度的分布曲线，可快速反馈工艺生产过程中遇到的问题。　　2、太阳能光伏电池　　太阳能电池中各成分的梯度以及界面对于光电转换效率来说至关重要，辉光放电光谱仪可以快速表征这些成分随深度的分布，并通过这些信息优化产品结构，提高效率。分析速度快、操作简单、非常适用于实验室或工厂大量分析样品。　　3、锂电池　　锂离子电池的正极材料是氧化钴锂，负极是碳。　　锂离子电池的工作原理就是指其充放电原理。当对电池进行充电时，电池的正极上有锂离子生成，生成的锂离子经过电解液运动到负极。而作为负极的碳呈层状结构，它有很多微孔，到达负极的锂离子就嵌入到碳层的微孔中，嵌入的锂离子越多，充电容量越高。　　同理，当对电池进行放电时(即我们使用电池的过程)，嵌在负极碳层中的锂离子脱出，又运动回到正极。回到正极的锂离子越多，放电容量越高。我们通常所说的电池容量指的就是放电容量。　　辉光放电光谱仪可以通过测试正负电极上各种元素随深度的分布来判定其质量及使用寿命等。　　辉光放电光谱仪除独立表征样品外，还可以和其他分析手段相结合多方位全面的进行表征。如辉光放电光谱仪可以与XPS、SEM、TEM、拉曼和椭偏等技术共同分析。　　总体来说，辉光放电光谱仪是一种非常方便快速的镀层分析手段。它的出现极大地解决了工艺生产中质量监控、条件优化等问题，此外还开拓了新的表征方向。　　关于HORIBA 脉冲射频辉光放电光谱仪　　HORIBA研发的脉冲射频辉光放电光谱仪是一款用于镀层材料研究、过程加工和控制的理想分析工具。脉冲射频辉光放电光谱仪可对薄/厚膜、导体或非导体提供超快速元素深度剖析，并且对所有的元素都有高的灵敏度。　　脉冲射频辉光放电光谱仪结合了脉冲射频供电的辉光放电源和高灵敏度的发射光谱仪。前者具有很高的深度分辨率，可对样品分析区域进行一层层剥蚀 后者可实时监测所有感兴趣元素。　　(本文由HORIBA 科学仪器事业部提供)

仪器信息网讯 2014年10月20-21日，由中国工程院、中国合格评定国家认可委员会、中国标准化协会、中国金属学会、国际钢铁工业分析委员会、中国钢研科技集团有限公司主办的&ldquo CCATM&rsquo 2014国际冶金及材料分析测试学术报告会&rdquo 之&ldquo 辉光光谱/表面分析/火花源原子发射光谱&rdquo 分会在北京国际会议中心举行。会议现场　　辉光放电光谱(GD-OES)由于具有固体样品直接分析、可分析非导体样品、分析速度快、气体消耗量低、分析成本低等优点，近年来，在元素分析中的应用逐渐增多。目前应用的商业化辉光放电光谱仪厂商主要有美国的Leco公司、德国的Spectro公司、法国的Horiba Jobin Yvon公司。报告人：首钢技术研究院徐永林报告题目：辉光放电光谱法在镀锡板检测上的应用　　徐永林利用辉光放电光谱仪对镀锡板样品进行逐层剥离，根据样品由表至里的辉光放电积分图谱，分别设定公式积分计算镀锡板镀层厚度及重量、钝化层厚度及重量、基板成分、镀层中有害元素等。通过与传统方法的分析结果比对，说明采用辉光放电光谱法分析这些检测项目具有较佳的准确度及精密度，提高了检测效率，同时达到了镀锡板多个检测项目的同时测定。报告人：首钢技术研究院梁潇报告题目：直流辉光放电光谱法同时测定铸铁中12种元素　　梁潇研究了利用辉光放电光谱法同时测定铸铁中的多种元素含量。通过分析激发电压、激发电流、光电倍增管、预燃时间和积分时间等因素对各元素光谱强度和稳定性的影响，以铁为内标建立了同时测定铸铁中碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬、钼、铜、钒、硼等元素含量的分析方法。对不同铸铁样品进行准确度和精密度试验，均得到了很好的结果。　　火花源原子发射光谱分析法是一项成熟的分析技术，具有操作简便、分析速度快和准确度高的优点。在生产实践中分析金属试样表现出的快速、准确和高精度是其他分析方法无法取代的，因而广泛的应用于钢铁和有色冶金行业炉前快速分析，也是分析各种常见固体金属材料的一种普及的标准分析方法。　　在会议中，多位报告人介绍了火花源原子发射光谱的最新应用研究。江苏沙钢集团的陈熙介绍了火花源原子发射光谱快速测定钢中低含量硅 钢研纳克检测技术有限公司宋宏峰介绍了火花源原子发射光谱法分析高锰铬钢 上海宝钢工业技术服务有限公司张叶介绍了火花源发射光谱分析焊丝钢线材试样 宝山钢铁股份有限公司研究院赵涛介绍了火花源原子发射光谱法测定铁基非晶合金中的硅和硼。

近几年中国锂电池的出货量持续增长，对电池的各种研究也在不断深入。锂离子电池充电后，其中的活性物质会发生体积膨胀，原位表征技术成为分析工作中的重要手段。这种变化有时并不显著，利用原位CT可以捕获微小变化的差异，让分析工作更加简单，品质管理更科学可靠。 小型锂电池外观电池整体的断面图像图中可见，间隙部分的增大。 放、充电后电池各层电极将放、充电后电池各层电极的图像进行对比，可见电极厚度上有微小膨胀，最终导致整体厚度的增加。 岛津微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus——一款支持锂电池充放电试验的微焦点CTinspeXioSMX-225CTFPDHRPlus（可搭载充放电系统） • 人性化操作的理念贯穿整个设计。即使CT试验的步骤简化到三步，依然能拍摄出高质量的数据。• 维护保养简便易行，让设备的使用无后顾之忧。 本文内容非商业广告，仅供专业人士参考。

pspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　1968年，W.R.Grimm(格里姆)推出了辉光放电光源，很快发展为辉光放电光谱(GD-OES)和表面分析技术，用于材料及镀层金属的逐层分析 1978年，出现了第一台商品化仪器 20世纪90年代，GD-OES在表面分析领域上得到迅速发展....../span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　与其它表面分析技术相比，辉光放电光谱仪在深度剖析材料的表面和深度时具有不可替代的独特优势，它的分析速度快、操作简单、无需超高真空部件，并且维护成本低。鉴于此，辉光放电光谱仪受到了越来越多专业人士的关注，其应用领域也不仅仅限于最初的钢铁行业，可分析的材料越来越广泛。/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　那么，辉光放电光谱仪目前的技术水平和市场情况怎么样?用户的实际反馈情况如何?为了深入了解辉光放电光谱仪的技术及市场概况，日前仪器信息网编辑特别采访了HORIBA辉光放电光谱仪应用支持工程师武艳红及汕头大学王江勇教授。/span/pp　　span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong辉光放电光谱仪中国市场需求量逐年提升/strong/span/ppspan style="color: rgb(255, 0, 0) "strongbr//strong/span/pp style="text-align: center "img title="1.jpg" style="width: 177px height: 246px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/750dd2b6-0440-4ffc-8f38-83060d85a331.jpg" width="177" vspace="0" hspace="0" height="246" border="0"//pp style="text-align: center "strongHORIBA辉光放电光谱仪应用支持工程师武艳红/strong/ppstrong　　仪器信息网：从行业发展角度分析，辉光放电光谱仪目前的技术水平如何?有哪些新的技术亟待推出或者有哪些技术瓶颈亟待突破?/strong/pp　　strong武艳红：/strong目前，辉光放电光谱仪已经是一类成熟的表面分析设备，被广泛应用到各个领域的定性和定量分析中。辉光放电光谱技术是有损分析技术，在分析后会在表面留有一个溅射坑，但溅射坑使得分析更加深入，检出限更好，当然样品不可回收也是它的主要缺点。不过，如果对内部结构感兴趣的话也可以利用这个溅射坑为其他表面分析设备服务，比如样品剥蚀完后还可以用扫描电镜观测袒露出来的内部表面结构，或是与XPS联合使用获得镀层结构、元素、分子等方面的信息。此外，辉光放电光谱仪目前在定量方面仍受限于国际标准样品的种类及数量，无法为新型镀层材料做定量曲线，尤其是新型材料还处于定性分析阶段，或实验室自行制备参比样品进行定量。/pp　　strong仪器信息网：您认为辉光放电光谱仪未来的市场需求情况怎么样?/strong/pp　　strong王江勇：/strong目前辉光放电光谱仪主要应用于工业界，比如，钢铁及半导体等行业，相信今后随着相关理论工作进一步地跟进与完善，辉光放电光谱仪不仅会拓宽其在工业领域的应用范围，而且也将逐渐被学术界所接受，更多地应用于表面、薄膜、涂层科学研究，所以，可以肯定辉光放电光谱仪未来市场的需求会越来越大。/pp style="text-align: center "img title="2.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/9b4addd0-8eee-4b0b-afed-fbb63472c775.jpg"//pp style="text-align: center "strong汕头大学 王江勇教授/strong/pp　　strong仪器信息网：为什么会选择购置辉光放电光谱仪?主要是基于哪方面的科研需求?/strong/pp　　strong王江勇：/strong实验室选择购置辉光放电光谱仪主要有以下原因：深度分辨率较高，溅射速度快 较其它深度剖析设备价格低 完善现有的深度剖析定量分析理论模型 薄膜相变及功能多层膜成分的表征需求等。/pp　　strong仪器信息网：贵实验室采购的辉光放电光谱仪的配置情况如何?目前的使用情况如何?取得了哪些研究成果?/strong/pp　　strong王江勇：/strong我们实验室于2016年购置的HORIBA GD-Profiler 2辉光放电光谱仪, 配有47个谱线通道，并配有一个可进行扫描的单色通道，可以说是目前配置最为完备的辉光放电光谱仪，原则上可以测量所有元素的辉光激发光谱。另外，该谱仪还配备了去年开发出来的新附件-微分干涉测厚仪(DIP)，可进行溅射坑深度的实时测量。/pp　　该仪器目前使用良好，几乎每天都有使用。在成果方面，从理论上定量分析了溅射坑形貌对深度分辨率的影响 实验上，对各种基底材料(包括有机材料)最佳的深度剖析条件进行了探索，以确保高分辨率深度剖析的测量。总体来说，目前已对纳米级的金属-金属、氧化物、功能多层膜等进行了高分辨率的深度剖析测量。/pp　　strong仪器信息网：为什么会选择HORIBA的辉光放电光谱仪?/strong/pp　　strong王江勇：/strong选择HORIBA的辉光放电光谱仪是基于多方面的考虑：产品技术比较成熟，性价比高，售后团队强大等。/pp　　从仪器技术的角度，HORIBA的辉光放电光谱仪的射频光源可以适用于导体、半导体及非导体材料，应用面广，符合实验室多类型材料分析的需求 全自动脉冲分析模式对于玻璃衬底样品、热敏感样品或脆性样品的分析至关重要，可以有效抑制元素在分析过程中的元素层间扩散或样品受热下非期望性变化 深度分辨率高，样品剥蚀坑底部更加平整，有效支撑理论计算和模型建立 此外，HORIBA的辉光放电光谱仪还有多项专利技术为仪器性能改善、实际分析带来益处。/pp　　span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong多项专利技术 HORIBA辉光放电光谱仪优势明显/strong/span/pp style="text-align: center "img title="3.jpg" style="width: 300px height: 357px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/142d7c83-5317-4315-aeb8-ffdf91597c79.jpg" width="300" vspace="0" hspace="0" height="357" border="0"//pp　　strong仪器信息网：HORIBA在辉光放电光谱仪方面的研发历史?目前主推的仪器类型?/strong/ppstrong　　武艳红：/strong1984年HORIBA拥有了辉光放电光谱仪产线，从此踏上了辉光放电光谱仪不断改进、创新研发之路。。在过去的三十年间，HORIBA应用了17项专利技术以提高其性能，如高动态检测器、全自动脉冲式射频源、polyscan技术、超快速溅射、微分干涉测厚系统(DIP)等。现在辉光放电光谱仪可以分析含量ppm级以上元素随镀层深度的变化，深度分辨率小于1nm，可测深度200um。目前主推的仪器型号为GD-Profiler 2，最新技术有DIP深度测试附件等。/pp　　strong仪器信息网：HORIBA的辉光放电光谱仪器相比同类产品有哪些优势?/strong/ppstrong　　武艳红：/strong相对于其它表面分析技术如SIMS、XPS、俄歇、能谱仪等，辉光放电光谱仪分析速度快、操作简单且无需超高真空(UHV)，良好的深度分辨率还可为扫描电镜剥蚀制备样品。/pp　　在同类竞争产品中，HORIBA的辉光放电光谱仪在光谱分辨率相同的情况下，能减小设备的焦长，可提高仪器的稳定性和光通量 采用两个真空泵维持辉光灯的气氛的稳定性，使其深度分辨率低于1nm HDD高动态检测器的线性动态范围可达10^9，当样品浓度从无到100%变化时不会饱和溢出，且无需手动设置电压 HORIBA作为全球光栅领导者，可根据设备特性改良光栅使其光谱分辨率和光谱响应达到当前最佳水平。/pp　　strong仪器信息网：HORIBA辉光放电光谱仪在中国的用户情况?/strong/ppstrong　　武艳红：/strongHORIBA辉光放电光谱仪目前主要应用于渗氮渗碳、镀锌钢板、LED芯片、太阳能光伏、金属镀层、半导体器件、彩涂板、微弧氧化陶瓷、表面处理等领域。中国对辉光放电光谱仪的接触历史比较短，客户主要集中于钢铁行业、高校研究所和半导体公司。代表客户如鞍钢、武钢、汕头大学、复旦大学、清华大学、原子能研究所、LED公司等。/pp　　strong仪器信息网：针对辉光放电光谱仪，HORIBA在市场方面的推广重点在哪里?/strong/ppstrong　　武艳红：/strong从近年来用户的关注可以看出，目前主要的问题还是如何快速的让更多科研院所、半导体公司了解该技术。HORIBA每年都会投入大量的市场费用，用于技术交流会、会议赞助、网络讲堂、线下光谱学堂等，以便越来越多的人能够熟知辉光放电技术，并通过这个技术将自己的研究推向更高。/pp　　strongspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "后记：/span/strongspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "今年8月份，由汕头大学等单位协办的“a title="" href="http://www.instrument.com.cn/news/20170821/227131.shtml" target="_blank"2017年全国表面分析科学与技术应用学术会议/a”于8月10日-13日在在汕头大学召开。本届学术会议旨在推动我国表面分析科学及其应用技术的发展，促进国内外表面分析研究领域的专家学者交流，探讨表面分析技术与其它学科的共同发展，进一步拓展表面分析技术的应用领域。参加本届会议的代表约130多人，创历届之最，云集了国内外学术界的专业人士，除了来自国内的代表外，还有来自美国、德国、法国、日本、匈牙利、西班牙、新加坡及南非等的国外代表。/span/ppspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "　　大会开幕式由汕头大学王江涌教授主持，会议组织安排的六个大会报告既是各位专家对自己研究成果的精彩总结、也是对国内外近年来表面分析科学及其应用技术的高度概括，对广大年轻人的表面分析科学及其应用技术学习、成长和进一步凝练方向具有重要的指导意义，大会报告更是令大家开拓了新的视野。/span/p

由日本富士电波工机株式会社为清华大学制造的2台放电等离子烧结设备SPS-211Lx近日从日本东京顺利出港。创元公司代理的日本富士电波工机株式会社的放电等离子烧结设备以其优异的品质获得了用户的青睐。富士电波工机株式会社是最早开发出SPS制造技术的住友石炭公司的继承人，拥有世界上最先进的SPS技术。世界范围内拥有多达350多名的用户，其生产的放电等离子烧结设备已经广泛应用于各种新材料的研发和生产。清华大学继2000年首次购置SPS-1050T以来取得了一系列令人瞩目的成果。时隔15年后再次同时购置2台SPS设备说明了以其为代表的国内知名高校以及科研机构对于富士电波工机株式会社SPS产品的充分认可。

日本SUGA公司自SPS-放电等离子烧结技术诞生以来，一直伴随着SPS技术在全世界的发展，1997年开始代工生产SPS设备，经过多年的技术积累，现推出Sx、Rx系列SPS放电等离子烧结炉。 SPS-放电等离子烧结炉是当今世界上先进的快速热压炉之一，由于工件直接由热流脉冲加热，所以烧结工艺周期可以缩短至几分钟，因此具备烧结速度快，样品致密度高等优点，是烧结纳米相材料，梯度功能材料，介孔纳米热电材料，稀土永磁材料，合金非平衡态材料及生物材料最有力的工具。SPS-225Sx 主机压力系统立式单轴伺服电机最大压力20 kN最小压力0.5kN最高烧结温度2500℃加压行程50 mm开放高度200mm烧结电极特殊的密封水冷结构真空腔水冷腔脉冲电源电源AC 200V, 3相，50/60Hz输出电流2500A脉冲控制On 1～999 ms, Off 1～99 ms创新点：1.采用Tie-Bar框架，保证压力装置更稳固；2.匹配中国电源要求，无需用户再配置变压器；3.优于同行业的真空技术，可3min内从常压抽到5Pa；4.多种安全措施，保证设备安全运行；如：烧结腔室门未关闭，烧结电源无法启动；

全新FLIR Si2-PD和Si2-Pro声学成像仪配备了智能局部放电检测分析功能其可帮助用户检测、辨识和分析电气系统中象征着存在问题和故障隐患的局部放电提前定位故障点，避免出现重大事故那么它是如何做到精准又快速的呢？局部放电被听见的必要性顾名思义，局部放电（PD）指绝缘体局部故障，其可能在任何类型（固体、空气、气体、真空或液体）的绝缘体上发生。如果电荷经常穿过绝缘体，很可能导致绝缘体被彻底击穿，从而造成灾难性的故障，因此及时发现局部放电非常重要，它能有效规避重大事故的发生。局部放电分为多种不同类型，其特征因类型而异。在实际应用中，可分为四类：负电晕放电、正负电晕放电、浮动放电以及表面或内部放电。不同放电类型的局部放电相位分布（PRPD）图谱略有差异，想要详细解读的菲粉们可以点击下方图片，获取“FLIR Si2系列声学成像仪局部放电检测深度分析白皮书”，它能让您对局部放电有更深层次的理解！声学成像仪智能分类局部放电的类型不同类型的局部放电主要表现为50或60Hz周期的不同时段中的脉冲或脉冲簇。对局部放电进行电气测量，能够测出这些脉冲期间转移的电荷，并显示其与电压相位的相对关系。这就是所谓的局部放电相位分布（PRPD）图谱。局部放电相位分布（PRPD）图谱PRPD图谱具备数种特征，可用于推断存疑局部放电的类型。例如，PRPD图谱通常拥有两个明显的脉冲簇，一个靠近正电压峰值，另一个则靠近负电压峰值，这些脉冲簇的大小和形状可能不同。这两个脉冲簇在大小和形状上可能对称，也可能高度不对称。在某些情况下，可能只存在一个脉冲簇而非两个。因此，可以根据不同的PRPD图谱来判断局部放电的类型。下载白皮书，详细介绍典型的PRPD图谱FLIR声学成像仪将自动检测具有较强50或60Hz周期性的信号，并构建类似的PRPD图谱。但要注意，即使声学成像仪界面显示了PRPD图谱，也不代表声源一定是局部放电。例如，某些类型的低压电子设备也可能产生类似的周期性图谱，因此还要进一步分析。选择FLIR Si2声学成像仪的优势FLIR Si2系列声学成像仪内置124枚麦克风，接收频率范围在2kHz至130kHz，涵盖了局部放电的声波范围，在远距离或嘈杂环境中也能直观地显示超声波信息，生成精确的声像。声像实时叠加在可见光数码图像上，使用户可以准确地查明异常声音来源。对于局部放电检测，Si2声学成像仪内置局部放电严重程度评估和纠正措施建议功能，通过对局部放电进行分类，能让用户迅速做出决策，减少故障的影响。这样的检测，比传统方法要将近快10倍哦~Si2具备人工智能技术辅助分析和故障严重程度评估功能，可现场提供决策支持FLIR Si2系列声学成像仪其配备的插件还能让用户将声像导入FLIR Thermal Studio软件中，进行离线编辑、分析和创建高级报告。专业的报告和分析软件，让局部放电检测后的结果处理变得更加简单明了！利用超声波对局部放电进行检测不仅设备轻便，适应性好，性价比高还能保障操作人员的安全，精准定位故障点FLIR Si2系列声学成像仪作为其中的佼佼者可作为电力检测人员的“完美”工具。

仪器简介： 流过式介质通路放电源（SICRIT）为最新型原位电离源技术，是继实时直接分析源（DART）、解析电喷雾源（DESI）、液滴萃取表面分析源（LESA）等发源于“诺奖”级质谱技术如电喷雾（ESI）及大气压化学电离（APCI）之后，新一代变革性的常压离子发生技术。SICRIT（Soft Ionization by Chemical Reaction in Transfer）仅利用电极放电瞬间激发和离子化质谱入口端流路上的气态化学物质，来实时识别流入物质的化学成分和形态，无需（像传统液质依赖的ESI那样依赖溶剂）使用溶剂及任何辅助性气体，直接实现快速、广谱、灵敏、高通量的准确定量、定性、溯源、筛查、或聚类分析。该技术由苏黎世联邦理工学院（ETH） Renato Zenobi 教授课题组最先发明，继由德国 Plasmion 公司的 Jan Wolf 博士和 Thomas Wolf 博士二次创新并商业化。SICRIT 具备无歧视和快速广谱软电离有机成分（极性、弱极性、非极性）尤其是中性（如烷烃）或几无极性的难电离化合物（如多环芳烃 PAHs）的特长，结合使用 ① 串联四极杆（QQQ）质谱，依靠 QQQ 的 MRM/SRM 多反应监测功能，实现高灵敏度（达 ppt 即 pg/mL 到 ppb 即 ng/mL 级别）的靶标定量如化学毒物分析、农兽药检测，或示踪分析如新生儿筛查、化学品迁移；或 ② 高分辨质谱（HRMS），如轨道阱质谱 Orbitrap、Q-Exactive、飞行时间质谱 QTOF 等，以高分辨率（达几万至几十万分辨）和高质量准确度（1-2ppm）的特性，结合当今质谱已经具备的快速扫描（每秒达10-20张全谱）和极速正、负切换功能；或 ③ 移动便携或小型车载多级质谱，如曾用于航天的 MT50 小型便携质谱仪（不到35公斤），实现高灵敏度的化学品、食品药品、农副水产品、材料固废、或复杂基质体系如生物体液或组织内上百种痕量、超痕量的有毒有害、营养和功能成分的快速筛选、快速鉴定和高通量定量定性分析，大大提高实验室效率、分析检测能力及设备与人员的投资回报率。技术原理： 质谱为当今分析检测界的顶级化学分析鉴定技术，大小分子的定性定量常可“一锤定音”。质谱仪大体分四大类：① 气质（GCMS）的离子发生方式多依赖电子轰击源（EI），用于挥发性的中性或极弱极性小分子（800Da 以下）的 GC 分离后分析，技术成熟但需时很长；EI 离子化很硬（70eV），完整的分子离子很难保留，多靠子离子碎片库检索但因缺少完整分子离子信号，常出现假阳性和假阴性；② 液质（LCMS）的质谱仪真空腔内的离子分离检测部分发展很快，但传统 LCMS 的离子发生多依赖 ESI 或偶尔利用 APCI，涵盖极性和中弱极性分子，但对极弱至非极性分子代谢物难以覆盖造成漏检，曾经出现过的 APPI 光喷雾技术应用面狭窄操作繁琐，很难普及。ESI 需要 LC 分离因而需时也长，近来 DART、DESI、LESA 等技术对 LCMS 的性能提升巨大，实现了原位快速分析和成像应用，无论是 ESI，APCI，还是 DART、DESI、LESA 等，都是利用外力（气、液、电）和正压力方式促成化合物解离并离子化；即使 DART 已经剔除了溶剂的使用，和实现了无损检测，但离子发生依然需要高纯氦气或氮气等载气辅助，气体的供应及车载运输是许多应用场景的瓶颈因素。液质 LCMS 是有机生物领域使用最为广泛的质谱技术，占每年质谱新装机总量的一半左右。③ 等离子体质谱（ICP-MS）用于部分无机物检测；④ 基质辅助激光解析电离质谱（MALDI-MS）多用于微生物鉴定和搜库识别，库的局限性和基质的非匹配性信号丢失是其中的限制性因素之一。MALDI 后端的质谱传统上为 TOF 类飞行时间质谱，分辨率和定量有些瓶颈，是为限制性因素之二。当今的 APMALDI 常压基质辅助激光解析电离可灵活串接 Orbi 类高分辨质谱、QTOF 类飞行时间质谱、或 QQQ 类高灵敏度三级四极杆类定量质谱，实现了常压高通量分子量测定和结构鉴定，及常压原位质谱成像。质谱仪包括四大部分：离子发生器、离子分离器（真空腔内）、离子检测器（真空腔内）、数据处理器。离子发生器如电喷雾（ESI）等当红技术解决了有机和生物分子自常压状态解离生成离子信号的世纪难题，每年仅中国即进口三千多套带有 ESI 离子源的质谱设备。ESI 的瓶颈是必须在溶液状态下操作，样品需首先必须溶解成液态。但 ESI 本身有离子竞争和抑制或选择性歧视的内在缺陷，即使结合 LC 液相分离（又需要长时间完成）也难以消除离子抑制和极性歧视。原位质谱（Ambient Ionization MS）更进一步！连接 AI 原位源的质谱整机的灵敏度和特异性保持了 LCMS 质谱仪部分的优势，但速度和效率比 LCMS 液质或 GCMS 气质提高近 30-1000 倍（平均每样品3~10秒），硬件成本降低近一半，耗材及使用成本降至 1/4 以下，还不算因用时大大缩减而节约的人力物力投资和机会成本。传统的离子化方法中，分析物在被传输到质谱之前发生电离。因此，不可避免在离子传输到质谱的期间发生离子排斥和中性粒子损失现象。而 SICRIT 是在常温常压下，流过式物质经放电发生介质通路放电和光电离，产生分子离子，继而以质谱或串联质谱的自真空负压吸入，实现瞬时检测。该技术不需要引入其他气体、溶剂、试剂来影响离子的形成过程，真正实现直观、直接、快速、在线分析。在毒化、食药、组学、临床、风味等有机分子的分析检测领域，SICIRT 是原位源家族的最新优选技术，即可直接在线分析气态或风味物质分子，不再特别需要对样品进行冗繁的前处理或耗时昂贵的色谱分离，也可以和顶空分析（包括静态顶空、顶空固相微萃取）实现高灵敏度检测，更可以和气相（GC）及微纳流液相（microLC、nanoLC）等实现在线软电离广谱无歧视（有别于 ESI 的歧视性离子化）检测分析。通过结合前端自动化高通量样品注入方式，SICRIT 结合后端串联质谱（MS/MS）、高分辨质谱（HRMS）或移动便携（Portable MS）或小型车载多级质谱，能充分实现几秒内的快速、高通量、在线样品分析，大大提高大批量样品的瞬时定量和定性检测能力。SICRIT 典型客户包括瑞士苏黎世联邦理工学院（ETH），瑞士联邦民防局（FOCP），德国曼海姆大学仪器分析研究所，瑞典巴斯夫股份公司（BASF SE）等，旨在毒物/滥用药、物证和化学武器分析、气味鉴定、环境污染监测、食品药品质量控制、临床诊断等方面的研究，同时也运用在未知样品的非靶标筛选以及代谢组学样品的分析。设备主要用途： SICRIT 结合后端串联质谱（MS/MS）、高分辨质谱（HRMS）、移动便携（Portable MS）质谱、小型（miniMS）质谱、或车载（Field-Deployable MS）质谱，能充分实现几秒内的实时快速、灵敏高通量、无损在线样品分析，大大提高大批量样品的瞬时定量和定性检测能力。SICRIT 与串联质谱如 QQQ 和 QTRAP 质谱仪（MS/MS）、QTOF 和 QE 等高分辨质谱仪（HRMS）、MT50 和离子阱等小型质谱仪联机，利用广谱无损无歧视的原位采样和原位软电离、极简或不必的样品预处理需求和省却冗长的色谱分离等待、高灵敏度的 MRM/SRM/SIM 多反应离子检测、中性丢失扫描、前端离子扫描、子离子扫描、高分辨率识别、高质量准度鉴定等功能，实现凝固态、气态、液态或气味样品如毒物、食药、农品、材料、保化、环境、临床等复杂基质样品中成百上千种痕量、超痕量的化学毒剂、药物、生物标志物、等有毒有害物质、代谢物、营养或功能性成分的快速筛选、快速鉴定和高通量快筛和高敏定量分析，大大提升测样服务报告速度、数据质量、和学术水平。SICRIT-MS 的优势还包括非歧视性地同时电离中弱极性、非极性的痕量及超痕量的靶向或非靶向标志物分子，大大提升分子检测覆盖率、特异性、和识别灵敏度。利用快速产生的海量大数据辅以统计学分析，识别化学毒物、风味物种、协诊关键疾病变化（包括健康与病症识别）、监控食药掺伪、和药物分布与毒物迁徙，获取材料、食药、及动植物组织中的化学及生物分子空间分布（成像）信息。创新点介绍：和液质 LC-ESI-MS 及 GC-EI-MS 联用相比，SICRIT-MS 具备诸多优势，使质谱分析 “更软、更直接、更快速、更经济”。例如：（1）直接分析：SICRIT 基本不需要样品制备，样品分析时间很短（1秒内），满足了现代社会对高通量样品快速分析的需求；（2）操作简便、节省人力：SICRIT 不需要调节源的参数，不需要专门时间和知识去优化操作，直接获得分析结果；（3）绿色、低碳：分析过程几乎不需要化学溶剂，甚至不需要任何载气，耗能少，减小钢瓶等配件使用，更方便车载便携，且减少了外来污染源；（4）可在常温常压下分析液态、及气态样品，或来自任何形状样品（比如药片、叶子、咖啡豆、食品、农产品、水产品、玩具、包材）的气味或风味。（5）能同时离子化中性、中极性、和弱极性的活性化合物、药物、毒物、和残留有机物。对中性化合物如烷烃、芳香烃等难电离组分同样灵敏有效，且不需像 ESI 或 MALDI 那样必须先行溶解样品；（6）不产生加合盐离子，离子信号仅包括所有能离子化的待测组分的单电荷离子，简化定量分析和谱图解析；（7）保持分子离子完整性，无碎片，简化谱库制定、定量和谱图解析；（8）样品分析非常简便，只需将样品手动或自动置放于装配在质谱仪离子采样口前端延伸线上 SICRIT 的入口即可瞬时在线产生信号。不需要调节任何参数，操作异常方便，实现全自动和现场分析；（9）和众多主流质谱厂商（如 SCIEX、Agilent、ThermoFisher、Bruker、Shimadzu 等）各种类型的质谱仪如飞行时间、离子阱、三级四极杆及各类混联质谱联用。仪器或技术设备名称：“流过式介质通路放电源 – 串联或高分辨质谱系统（SICIRT-MS/MS或SICRIT-HRMS）”或 “流过式介质通路放电源”，作为已装机的质谱仪的升级配件品牌与型号：SICRIT 生产商为 Plasmion（德国）；中国独家总代理为华质泰科生物技术（北京）有限公司。型号： a) SICRIT SC-20X 基础配置，含源、控制器及耗材配件；b) SICRIT GC/SPME Module 加在线 SPME 模块配置c) SICRIT GC, GC/SPME Module 加在线 SPME 及 GC 恒温桥模块配置安装尺寸或功率：SICRIT 安装尺寸约 250 x 180 x 80mm，自重 2.4 kg公斤。功率没有特殊要求。不需要额外气瓶、不需要流动相、不需要液相色谱仪和色谱柱等耗材。创新点：和液质 LC-ESI-MS 及 GC-EI-MS 联用相比，SICRIT-MS 使质谱分析 “更软、更直接、更快速、更经济”。（1）绿色、低碳：分析过程几乎不需要化学溶剂，甚至不需要任何载气，耗能少，减小钢瓶等配件使用，更方便车载便携，且减少了外来污染源；（2）可在常温常压下分析液态、及气态样品，或来自任何形状样品的气味或风味。（3）能同时离子化中性、中极性、和弱极性的活性化合物，对中性化合物如烷烃、芳香烃等难电离组分同样灵敏有效，且不需像 ESI 或 MALDI 那样必须先行溶解样品；（4）不产生加合盐离子，简化定量分析和谱图解析；（5）样品分析非常简便，只需将样品置放于装配在质谱仪离子采样口前端延伸线上 SICRIT 的入口即可瞬时在线产生信号。不需调节任何参数，操作异常方便，实现全自动和现场分析；（6）和众多主流质谱厂商各种类型的质谱仪及各类混联质谱联用。SICRIT 流过式介质通路放电源

关于征求CSTM标准《火花放电原子发射光谱仪性能评价方法》（征求意见稿）意见的通知各位专家、委员及相关单位：由中国材料与试验团体标准委员会科学试验领域委员会科学试验评价技术委员会（CSTM/FC 98/TC04）归口承担的CSTM LX 9804 00962-2022《火花放电原子发射光谱仪性能评价方法》团体标准已完成征求意见稿，按照《中关村材料试验技术联盟团体标准管理办法》的有关规定，现公开广泛征求意见。请于公告在CSTM官方网站/全国团体标准信息平台发布之日起30个自然日前将《中国材料与试验团体标准征求意见表》以电子邮件形式反馈至项目牵头单位或者CSTM/FC 98/TC04秘书处。1.火花放电原子发射光谱仪性能评价方法（征求意见稿）.pdf2.火花放电原子发射光谱仪性能评价方法编制说明.pdf3.中国材料与试验团体标准征求意见表.docx

在春光明媚的三月底，国内第一台新型辉光放电质谱仪（Thermo Scientific Element GD）在短短十天内顺利地完成了安装，调试和初步的培训，交付用户使用。 在金川镍钴研究设计院的领导的大力支持下，我们拟定在六月五号到六号两天借用研究设计院的设施和仪器，向广大关心辉光放电质谱仪的现状和发展的老师演示Thermo Scientific的新型辉光放电质谱仪（Element GD）。届时Element GD的设计者Dr. Rottman 和应用专家Dr. Hinrichs都会到场为大家介绍Element GD的研发，现状和应用，并演示仪器的操作。 金川镍钴研究设计院位于兰州市榆中和平开发区，离兰州市中心车程30分钟左右。欢迎各位老师踊跃参加。（会议交通费，食宿自理） 有意参加的老师请联系：赛默飞世尔科技（上海）有限公司尹松电话：021-68654588（分机2183）传真：021-64281793手机：13816109156Email: song.yin@thermofisher.com 期待着在兰州与各位老师再会。祝好！ 赛默飞世尔科技（上海）有限公司

pimg title="W020150714386651658960.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201508/uepic/7a52471d-7484-417f-9937-1a291320d621.jpg"//pp北京众星联恒科技有限公司于6月底完成了Autoconcept GD90-RF辉光放电质谱仪在中科院上海硅酸盐研究所的安装调试验收工作，目前该设备已正式投入使用并提供对外测试服务。（a title="上硅所辉光放电质谱对外测试" href="http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html" target="_blank"点击查看详情/aa title="上硅所辉光放电质谱对外测试" href="http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html" target="_blank"http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html/a）/ppbr//p

项目概况一、项目基本情况项目编号：SDLR-SDU-2022-009（SDJDHF20220253-Z099）项目名称：山东大学辉光放电质谱仪采购项目预算金额：700.0000000 万元（人民币）采购需求：标包货物名称数量简要技术要求1辉光放电质谱仪 1台详见公告附件 合同履行期限：详见招标文件要求本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求：1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定；2.落实政府采购政策需满足的资格要求：本项目不属于专门面向中小企业、监狱企业、残疾人福利性单位采购的项目；3.本项目的特定资格要求：无三、获取招标文件时间：2022年10月12日 至 2022年10月18日，每天上午9:00至11:30，下午13:30至17:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：济南市历下区经十路12111号中润世纪锋1号楼21层方式：因疫情防控期间人员聚集易产生交叉感染，报名方式采用发送邮件报名，将营业执照副本、法定授权委托书或法定代表人证明、标书费汇款底单，将以上材料扫描为一个PDF文件，发至山东龙融招投标代理有限公司邮箱：sdlongrong@126.com，邮件名称命名为：投标人名称-项目名称，在邮件正文中注明所报公司全称、所报项目名称、项目编号、授权人姓名及联系方式，并电话通知招标代理查收（提交标书费须标明项目编号及公司名称，我公司开户银行：中国民生银行股份有限公司济南明湖支行，开户名：山东龙融招投标代理有限公司第一分公司，银行账号：157102632） 本项目实行资格后审，获取招标文件成功不代表资格后审通过。售价：￥300.0 元，本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间：2022年11月02日 09点00分（北京时间）开标时间：2022年11月02日 09点00分（北京时间）地点：济南市历城区二环东路3966号东环国际广场A座20层会议室五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜1、本项目允许原装进口产品参加投标；2、 在“信用中国”（www.creditchina.gov.cn）、中国政府采购网（www.ccgp.gov.cn）等网站中被列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的投标人，不得参加本次政府采购活动；3、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同投标人，不得参加同一合同项下的政府采购活动；4、上传的技术指标附件仅作为参考，最终以招标文件中的技术指标为准。七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：山东大学　　　　　地址：0531-88369797　　　　　　　　联系方式：王老师　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：山东龙融招投标代理有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：0531-58562236 17753351990　　　　　　　　　　　　联系方式：宫小寒 单长芹　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：宫小寒 单长芹电　话：　　0531-58562236 17753351990

项目编号：YNGH[2022]-291项目名称：昆明理工大学真空冶金国家工程实验室双聚焦辉光放电质谱仪设备购置（双一流23）预算金额（万元）：850最高限价（万元）：850采购需求：拟采购双聚焦辉光放电质谱仪1套合同履行期限：合同签订之日起180日历天（供应商在此期限内自报最短交货期）本项目（否）接受联合体投标。

p　　strongspan style="font-family: times new roman "仪器信息网讯/span/strongspan style="font-family: times new roman " 2016年1月26日，宁波大学和华仪宁创智能科技有限公司(以下简称华仪宁创) “DBDI-100型介质阻挡放电离子源”成果技术鉴定会在宁波召开。该鉴定会由中国分析测试协会主持，专家组成员为中国科学院大连化学物理研究所张玉奎院士、中国分析测试协会副理事长张渝英、中国质谱学会理事长李金英、北京大学教授刘虎威、浙江大学教授潘远江、湖南师范大学教授陈波、中国分析测试协会研究员汪正范等分析仪器行业著名专家。张玉奎院士在会上被推选为鉴定委员会主任。清华大学教授张新荣作为合作单位代表参加了此次鉴定。宁波市科技局副局长蒋如国、宁波市经济与信息化委员会处长徐伟洋、宁波鄞州区科技局局长叶龙、宁波大学副校长徐铁峰等相关主管部门及学校领导出席了鉴定会。/span/pp style="text-align: center "span style="font-family: times new roman "img title="IMG_9214_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/9c6b6231-d69d-4f71-8a84-0d8f645a2d67.jpg"//span/pp style="text-align: center "span style="font-family: times new roman "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "strong鉴定会现场/strong/span/span/pp style="text-align: center "span style="font-family: times new roman "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "strongimg title="IMG_9333_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/91f5471e-26b0-4b01-b22e-38359e50e391.jpg"//strong/span/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "中国科学院大连化学物理研究所 张玉奎院士/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9222_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/a1617f90-eada-4030-9f02-0325f4dc4f97.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px " 中国分析测试协会副理事长 张渝英/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9335_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/b6ef028e-1a69-4a21-9583-7969ae685da6.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px " 中国质谱学会理事长 李金英/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9354_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/ecdf4276-5e17-4cf5-b212-ec4554d84d2a.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px " 北京大学教授 刘虎威/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9351_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/edcae475-4926-44b5-8286-739709113ee3.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px " 浙江大学教授 潘远江/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9357_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/f8486e2d-5791-43f0-afd6-cdb5c9d37ae3.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px " 湖南师范大学教授 陈波/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9340_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/9c108008-7efc-4613-97c0-dcf6ec439e52.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "　　 中国分析测试协会研究员 汪正范/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9361_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/6750a5c1-fc3a-43c0-992a-c2407a5e4910.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "合作单位代表、DBDI发明人 清华大学教授张新荣/span/strong/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　在鉴定会上，华仪宁创总经理闻路红向鉴定专家及领导介绍了成果的研发背景和技术特点。介质阻挡放电离子源(DBDI-100)是一种非表面接触型的常压敞开式离子源，能够实现气体、液体和固体样品的离子化，并与质谱联用实现原位分析。此离子源系统主要包括离子源和进样系统、系统控制箱、移动控制系统和控制软件，在药物研发和质量控制、材料和天然产物分析、食品质量和药残检测、司法鉴定和物证检验、化学分析和技术研究、临床检验和方法研究等领域具有很好的应用前景。/span/pp style="text-align: center "span style="font-family: times new roman "img title="IMG_9231_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/4df945a1-18c2-487e-9965-96bb3fdcc573.jpg"//span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "华仪宁创总经理闻路红/span/strong/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　DBDI由清华大学教授张新荣于2007年首次提出，并已得到到国际同行的广泛认可。为了实时、快速的解决各种应用问题，质谱技术在向原位和小型化方面发展。在目前30余种现场离子源技术中，成熟的商品化离子源只有DESI(解吸电喷雾离子化)和DART(实时直接分析)。我国亟需自主知识产权的商品化现场离子源研发生产技术。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　在这种情况下，华仪宁创基于介质阻挡放电离子化方法进行了二次创新，最终的DBDI技术具有以下关键创新点：1、单电极放电技术令离子束源外喷射长度 4.5cm，提高了现场原位分析的适用性 2、真空辅助离子化技术降低了背景噪声，从而提高了信噪比和检测灵敏度 3、高温、高压安规保障技术消除了信号串扰和安全隐患，保证系统稳定和安全。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　DBDI离子化涉及潘宁电离、电子电离、化学电离和光子电离等众多电离机理。应用对比分析结果显示：与ESI相比，DBDI能离子化极性范围更大的化合物并提供更多的离子峰信息 对于一些难挥发、弱极性的化合物，DBDI的离子化能力是DART的10倍左右，信噪比与DART相当或略低。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　除了科学技术效益和经济效益以外，该成果也将带来巨大的社会效益，如：提升国产离子源设备水准和国际竞争力 丰富国产离子源类型，促进质谱应用普及 利于国家和地方科学仪器产业结构升级，形成新经济增长点 替代进口，节约外汇 拉动内需，促进就业。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　在听取成果汇报和审阅查新报告、检验报告、用户报告等资料之后，专家组观看了成果样机。/span/pp style="text-align: center "span style="font-family: times new roman "img title="IMG_9298_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/f4183954-e59c-48da-8e09-aebfb9ff824a.jpg"//span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "DBDI-100样机/span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "img title="IMG_9292_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/d7b21355-1633-4686-94ab-a3a38db7b302.jpg"//span/strong/span/pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "鉴定组成员参观实验室并观看样机/span/strong/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　华仪宁创总经理闻路红与宁波大学高级工程师赵鹏代表团队回答了鉴定组专家的质疑和提问。在答辩过后，专家组成员经认真讨论，一致达成以下鉴定意见：/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　1、 DBDI-100型介质阻挡放电离子源采用了具有自主知识产权的介质阻挡放电离子化技术、单电极放电技术和真空辅助技术。其与质谱联用的检测限为10~100ppb 质量范围为5~3000amu 离子源内气体加热控制温度范围为25~600℃ 温度稳定性≤± 0.05℃ 离子化区域最大温度 400℃ 等离子体源外喷射长度 4.5cm 载气速度范围为0.2~5.0L/min，支持多路气体同时混合。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　2、 DBDI型介质阻挡放电离子源具有免试剂、结构简单、操作方便、离子化效率高等特点，能够在几秒钟内实现气体、液体和固体样品离子化，可与各类质谱仪联用进行原位、实时、快速分析，获得的质谱图背景噪声小，检测灵敏度高，便于质谱解析和定量分析，在敞开式大气压质谱离子源中，处于国际先进水平，具有良好的应用前景和市场前景，该成果是国际首创。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　3、该成果已授权发明专利2项、实用新型专利7项，已受理发明专利7项。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　4、提供的鉴定材料齐全，符合鉴定要求。/span/pp style="text-align: center "img title="h_副本.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201601/insimg/099aeff8-a00b-4142-b670-fd14714903b8.jpg"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "鉴定会参会人员合/span/strong/spanspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-size: 14px "strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) font-family: times new roman font-size: 14px "影/span/strong/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　据该团队介绍，国家对分析仪器研发和成果转化支持力度不断提升，宁波市、区政府部门积极响应“大众创业，万众创新”，鼓励中小科技创新企业。宁波市及宁波鄞州区相关主管单位为华仪宁创这样的创新团队提供了优厚、便利的创业条件。同时，宁波大学从人员及场所等方面为该团队建设提供了很多宝贵的资源。/span/ppspan style="font-family: times new roman "　　华仪宁创即宁波大学科学仪器创新团队是一支年轻的创新团队，目前拥有多个学科专业背景的高端人才，骨干人员具有多年企业背景和丰富的工程化产业化经验。团队定位主要从事科研成果从实验室到市场的成果转化，解决科学研究与市场产业化最后“一公里”的问题。目前，该团队正在积极与科研院所等研发机构合作，共同促进科研成果转化与应用。/span/pp style="text-align: right "span style="font-family: times new roman "编辑：郭浩楠/spanbr//p

南方科技大学再次购置SPS-211L放电等离子烧结设备创元公司代理的日本富士电波公司的SPS-211Lx放电等离子烧结设备于2014年底在南方科技大学顺利验收完毕，经过这段时间的使用，基于对sps-211LX的良好认同，南方科技大学在购置一台SPS-211Lx之后，决定再购买一台以增加科研能力。这款设备可以广泛用于各种新材料研究。尤其是纳米烧结和梯度烧结。该设备以其精良的制造工艺，优异的烧结性能和经济适用的特点，非常适合各大学、大专院校材料实验及研究开发，一经推出就深受广大用户喜爱。请参见本网站有关SPS的详细技术资料。

p style="text-align: justify "　　近日，中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室与四川大学开展联合研究，发现在大气常压环境中磁场有效约束离子传播特性，并基于此研发出一种大气常压高效痕量检测磁约束微型质谱离子源。相关研究工作以通讯的形式发表在国际期刊Chemical Communications上。/pp style="text-align: justify "　　直流辉光放电微型等离子体源，凭借其放电的稳定性和等离子体的非平衡特性，在化学分析和环境监测等领域有着独特的技术优势和广阔的应用前景。具有高灵敏度、高选择性和快速响应等特点的质谱法，已成为分析化学领域的核心技术之一，在痕量物种定性和定量检测中发挥着巨大作用。长期以来人们一直致力于提高质谱仪的分析性能。常压离子源，作为质谱仪的核心部件，主要作用是将样品解吸和电离，产生气态样品离子。能否有效将样品离子化和把离子化的待测物传输到检测入口，在很大程度上决定了整个质谱仪分析的灵敏度。/pp style="text-align: justify "　　在大气环境中，一般通过气流将离子化的待测物输运到质谱仪检测入口。该种传输方式使得很大一部分离子逃逸到环境大气中损失掉，导致传输效率低下。为提高离子传输效率，该研究团队基于常压磁约束离子传播特性，提出一种大气环境中纵向磁场约束离子传输的新方法，研发出一种用于痕量物种检测与分析的大气常压磁约束微型直流辉光放电质谱离子源。该方法关键在于：1)在弱电场中，气流和洛伦兹力共同作用离子，使之做螺旋运动，降低逃逸概率 2)利用离子与环境氮气和氧气等分子的集体碰撞效应，进一步减少约束半径，使得更多的离子传输到检测入口，增加离子传输效率。通过质谱分析，该方法成功地将样品质谱信号强度提高到原来的10倍，检测限可降低到原有的1/10，使得部分有机物待测样品的检测限达到几十PPt的水平。该项工作为化学分析和环境监测等领域提供了更为可靠的检测手段，为低温等离子体的应用拓展了新的研究方向。该工作受到科技部、国家自然科学基金委和中科院“西部青年学者”项目的资助。/pp style="text-align: justify "　　近几年来，瞬态光学与光子技术国家重点实验室在等离子体基础研究领域实现了一次又一次原理上的创新和技术上的突破，取得了一系列原创科研成果。研究团队曾首次将“透镜扩束”概念引入低温等离子体领域，提出“电场透镜模型”，构建大气压均匀弥散放电新的基础理论，该项工作以封面和亮点文章发表于国际应用物理类学术期刊JAP (2017)。此外，在低温等离子体领域已连续8篇论文发表于国际学术期刊APL。上述成果为西安光机所等离子体学科的发展奠定了坚实的基础。/pp style="text-align: center "img title="大气常压质谱离子源.webp.jpg" alt="大气常压质谱离子源.webp.jpg" src="https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/7631dd7f-9436-45d8-b144-ba3c9e5173cc.jpg"//pp style="text-align: center "　　大气常压磁场约束离子运动轨迹及样品阿司匹林溶液质谱检测/pp style="text-align: justify "　文章链接：a href="https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2018/cc/c8cc05360j#!divAbstract" target="_blank"https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2018/cc/c8cc05360j#!divAbstract/a/pp style="text-align: justify " /p

X射线工业CT技术已经成为许多工业领域中不可或缺的无损检测工具。然而，由于它涉及到X射线的使用，人们往往对其辐射安全性存在疑虑。本文旨在科普X射线工业CT的放射安全知识，帮助大家了解其安全性，消除不必要的担忧。 X射线和工业CT X射线在工业CT中扮演着至关重要的角色。首先，X射线是一种波长极短的电离辐射，具有穿透质的能力，这使得它能够穿透被检测物体，获取其内部的结构信息。其次，X射线与物质相互作用时，会发生吸收、散射等现象，这些现象与物质的密度、厚度等特性有关。通过检测透射的X射线强度，可以获取物体内部不同位置的材料分布信息。 工业CT，即工业计算机断层成像技术，正是利用X射线的穿透性来实现对物体内部结构的三维成像。它通过从不同角度对物体进行X射线投影，获取多个截面图像，然后利用计算机技术将这些截面图像重建为三维立体图像。这种技术能够清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况，被誉为当今最佳的无损检测和无损评估技术之一。 图片来源网络 X射线的辐射来源 X射线之所以会有辐射，是因为它是一种电磁波，具有波粒二象性。在X射线产生的过程中，高速运动的电子与靶物质相碰撞并被靶物质原子内层电子所阻止，导致电子突然减速并释放出能量。这些能量以X射线的形式辐射出去，形成了我们所说的X射线辐射。 X射线的辐射特性与其波长和能量有关。由于X射线的波长很短，能量很大，因此它具有很高的穿透能力和电离作用。这使得X射线能够穿透物质，并在穿透过程中与物质发生相互作用，导致物质原子内层电子的跃迁和电离。 X射线对人体具有多层次影响，涉及生物学、医学和物理学等领域。它可直接穿透细胞，损伤DNA，增加患癌和遗传疾病风险；同时，与体内水分子相互作用产生自由基，导致细胞损伤和氧化应激反应。长期接触低剂量X射线，其辐射效应具有累积性，可能逐渐损害细胞并增加疾病风险。因此，对X射线的防护与合理使用至关重要。 X射线放射的防护措施 为避免在使用X射线设备时受到放射伤害，在过往的研究和使用过程中，人们总结出一些常用的防护措施： 1.距离防护：距离是减少辐射暴露的有效方法。在使用X射线设备做检测时，确保与设备保持一定的安全距离，可以显著减少辐射剂量。 2.屏蔽防护：使用屏蔽材料来阻挡X射线辐射是常见的防护措施。常见的屏蔽材料包括铅、铅玻璃、铅橡胶等。在X射线设备周围设置屏蔽墙、屏蔽门等，可以有效减少辐射泄漏。 3.时间防护：尽量缩短暴露在X射线辐射下的时间。在使用X射线设备时，尽量减少不必要的曝光时间，避免重复照射。 4.设施防护：X射线设备的固有防护设施也是重要的防护措施。确保设备的辐射安全性能符合相关标准和规范，如X线管壳、遮光筒和光圈、滤过板、荧屏后铅玻璃、铅屏、铅橡皮围裙、铅手套以及墙壁等。 5.个人防护：对于从事与X射线相关的工作人员，应穿戴适当的防护用品，如铅围裙、铅围脖、铅帽、铅眼镜、铅手套等，以减少辐射对身体的直接接触。 6.安全管理：建立健全的辐射安全管理制度和操作规程，确保X射线设备的安全使用。定期进行辐射安全检测和维护，及时发现和处理潜在的安全隐患。 工业CT的辐射安全措施 1.屏蔽防护：工业CT设备的墙体和所有入口处的防护门应具有足够的屏蔽防护，以确保在射线束处于开启状态时，防护墙和防护门外30cm处的空气比释动能率不超过安全标准。此外，设备内部也应设置屏蔽装置，如铅钢结构的保护形式，以有效屏蔽射线。 2.监控装置：工业CT检测室内应设置监视装置，以便在控制室的操作台观察检测室内人员的活动和CT设备的运行情况。这样，如果发生任何异常情况，操作人员可以迅速作出反应，采取措施减少辐射暴露。 3.警示装置：为了直观地提示工业CT的工作状态，应在设备、检测室的所有入口处、源塔及其必要的地方设置电离辐射警示标志和工作状态指示灯。同时，检测室内及其入口处应设置声光警示装置，以便在开机前发出持续警告，提醒人员注意辐射风险。 4.通风设施：工业CT检测室应配备机械通风设施，确保每小时换气次数达到4-5次，以便及时排除有害气体，如臭氧和氮氧化物等。这有助于减少工作人员吸入有害气体的风险。 5.电气安全设施：对于以加速器为放射源的工业CT设备，应采取一系列电气安全设施，如主动接地联锁、高压屏蔽网、高压放电棒、高压过载保护、独立设备接地和警告说明等，以防止高压对工作人员造成危害。 6.分区管理：检测室内应划分为控制区和监督区。在射线束处于开启状态时，任何人不得进入控制区。控制室以及与检测室入口相连的过道、走廊等区域应划为监督区，无关人员不得擅自进入。这有助于限制人员接触辐射的风险。 国标中对工业CT设备的安全防护要求 在国家标准《工业X射线探伤放射防护要求》（GBZ117—2015）中，对X射线工业CT设备的放射防护做出了明确规定。例如： 4.1.3X射线探伤室墙和入口门的辐射屏蔽应同时满足：a)人员在关注点的周剂量参考控制水平，对职业工作人员不大于100μSv/周，对公众不大于5μSv/周；b)关注点最高周围剂量当量率参考控制水平不大于2.5μSv/h。4.1.4探伤室顶的辐射屏蔽应满足：a)探伤室上方已建、拟建建筑物或探伤室旁邻近建筑物在自辐射源点到探伤室顶内表面边缘所张立体角区域内时，探伤室顶的辐射屏蔽要求同4.1.3；b)对不需要人员到达的探伤室顶，探伤室顶外表面30cm处的剂量率参考控制水平通常可取为100μSv/h。 4.1.5探伤室应设置门-机联锁装置，并保证在门(包括人员门和货物门)关闭后X射线装置才能进行探伤作业。门打开时应立即停止X射线照射，关上门不能自动开始X射线照射。门-机联锁装置的设置应方便探伤室内部的人员在紧急情况下离开探伤室。 此外，《X射线计算机断层摄影装置放射卫生防护标准》 (GBZ 130-2020)、《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》 (GB 18871-2002)等相关标准也对使用相关设备的放射防护作出了明确要求和指导。这些国标内容都是为了确保X射线设备在使用过程中的安全性和保护人员免受不必要的辐射照射。在使用X射线设备时，应遵循这些标准的要求，并采取必要的防护措施，以最大程度地减少辐射对人体的影响。同时，对于违反这些标准的行为，也应依法进行处罚和纠正。 尽管X射线工业CT设备在使用时会产生一定的辐射，但只有当辐射剂量达到一定程度时，才可能对人体造成危害。而且，X射线工业CT设备的辐射剂量通常较低，远低于可能对人体造成危害的剂量水平。因此，只要我们遵循正确的操作方法和安全规定，就可以有效地降低辐射风险。当然，为了最大程度地保护人体免受辐射的危害，我们仍然需要加强对辐射安全知识的了解和学习，提高自己的安全意识和防护能力。

SPS-211 Lx放电等离子烧结炉在中国石油大学顺利验收　日本富士电波的SPS烧结设备已经广为人知，强大的烧结能力，精良的制造工艺，脉冲电源性能稳定烧结再现性好等方面得到广大用户一致好评，近日SPS-211 Lx放电等离子烧结炉在中国石油大学顺利验收。350多家遍布世界的用户也充分表明了富士电波公司在这个领域遥遥领先的地位。如您需要开展纳米材料和梯度功能材料快速烧结研究或生产的话，日本富士电波的SPS烧结设备将是您的最佳选择。注：该公司主要SPS产品如下,供您参考： 1.SPS-211Lx,20KN,1000A 研究型2.SPS-331Lx, 30KN,3000A 研究型3.SPS-630Kx,60KN,3000A 研究型4.SPS-515s,50KN,1000-1500A研究型5.SPS-625,100KN,3000-10000A 研究型6.SPS-725,100-250KN，5000A 研究型7.SPS-825,100-250KN，8000A 研究型8.SPS-925，100-250KN，5000-15000A半研究半生产型 9.SPS-3.20MK-Ⅳ，200KN，8000A半研究半生产型10.SPS-5.40MK-Ⅳ,500KN,8000A半研究半生产型11.SPS-5.40MK-VI,500KN,1500A半研究半生产型12.SPS-7.40MK-V,1MN,10000A半研究半生产型13.SPS-8.40MK-VII,1.5MN,20000A半研究半生产型14.SPS-9.40MK-VII,3MN,20000A半研究半生产型15.SPS-9.40MK-VIII,3MN,30000A 半研究半生产型16.SPS-10.40MK-VIII,5MN,30000A 半研究半生产型 17.Sinter Expert SPS 30300T 批量生产型

2022年8月11日，中国材料与试验团体标准委员会（CSTM 标准委员会）批准发布中国材料与试验团体标准《材料实验数据 火花放电原子发射光谱数据要求》。无锡创想分析仪器有限公司与多家单位共同起草了此份文件。无锡创想分析仪器有限公司受邀与多家联合起草此份标准文件。单位有钢铁研究总院有限公司、国家市场监督管理总局认证认可技术研究中心、北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司、北京科技大学、上海交通大学、杭州谱育科技发展有限公司、哈尔滨威尔焊接有限责任公司、日立分析仪器（上海）有限公司、意大利 GNR 公司、岛津企业管理（中国）有限公司、赛默飞世尔科技（中国）有限公司、钢研纳克检测技术股份有限公司、中关村材料试验技术联盟。火花放电原子发射光谱在冶金、地质、机械、化工、农业、环保、食品、医药等领域应用广泛，特别是在钢铁及有色金属的冶炼中控制冶炼工艺具有极其重要的地位。火花放电原子发射光谱可直接输出数值型结果，简单便捷。目前火花放电原子发射光谱行业内已累积大量实验数据，但关于火花放电原子发射光谱数据存储无统一模板，存储形式多样，现有数据难以汇总。本文件按《材料数据标准体系》的结构框架总体要求，以T/CSTM 00796《材料实验数据 通用要求》为准则，制定的火花放电原子发射光谱材料实验数据标准。规范了火花放电原子发射光谱数值类实验数据存储的一般要求以及其他实验参数数据信息，包括样品信息、仪器参数、工作参数、分析结果、解析数据。文件的实施，有助于实现火花放电原子发射光谱数值类实验数据的规范化管理和质量保证，将数据库技术与大数据技术研究密切融合，推进材料高质量地发展。

日本富士电波公司等离子放电烧结装置SPS-211H在厦门大学顺利中标。 我司全权代理的日本富士电波公司SPS-211H装置在厦门大学顺利中标并于近日签订商务合同。该装置是日本富士电波公司推出的世界最新型可扩展为双电源放电等离子烧结炉。放电等离子烧结炉SPS-211H以其精巧的设计，精良的制造工艺，优异的烧结性能和经济适用的特点正在引领SPS行业向新的方向进军。等离子放电装置SPS-211H可以根据客户需要将来追加高频电源等扩展为双电源放电等离子烧结炉SPS-211HF。后者具有比较前者更快的加热速率，在双电源复合磁热效应的作用下，加热速率可达1000度/分，可以使纳米材料的合成在更短的时间和更低温度进行得以完成。同时一台烧结设备可以当做3种烧结设备使用也进一步提高研究效率。

黑龙江科技大学订购的最新双电源型放电等离子烧结炉SPS-211H近日顺利出东京港黑龙江科技大学订购的日本富士电波工机株式会社制造的世界最新型高双电源放电等离子烧结炉SPS-211H近日顺利从日本东京港发出，预计下周到达天津新港。我司全权代理的日本富士电波公司SPS-211H装置是日本富士电波公司推出的世界最新型可扩展为双电源放电等离子烧结炉。SPS-211H以其精巧的设计，精良的制造工艺，优异的烧结性能和经济适用的特点正在引领SPS行业向新的方向进军。等离子放电装置SPS-211H可以根据客户需要将来追加高频电源等扩展为双电源放电等离子烧结炉SPS-211HF。后者具有比较前者更快的加热速率，在双电源复合磁热效应的作用下，加热速率可达1000度/分，可以使纳米材料的合成在更短的时间和更低温度进行得以完成。同时一台烧结设备可以当作3种烧结设备使用也进一步提高研究效率。近年来上海硅酸盐研究所，北京科技大学，厦门大学等陆续导入该装置。希望大家来电咨询！

2014年6月，经过努力，北京众星联恒科技有限公司在中国科学院上海硅酸盐研究所辉光放电质谱仪采购项目招标中一举中标。过硬的产品品质，合理的价格，完善的服务体系是我们胜出的理由。 感谢大家对我公司的大力支持，这次中标将又是我公司一个新的起点，我们将会在此起点上，付出更多的努力，提供更好的产品，服务更多的客户！

作者：RenataLewandowska,MiyokoOkada,TomokoNumata翻译：文军锂离子电池成就的奇迹谈起新能源汽车，就不得不说美国的“特斯拉汽车公司”，目前其打造的纯电动车采用为先进的锂离子能量存储，理论上48万公里行驶后电池衰减比例仅有5%。而其所配备的能量再生制动系统则可在车子减速时为锂离子电池组充电，使得车子在行走途中就可获得能量的补给。特斯拉MODEL 3可以说锂电池技术的发展不仅将特斯拉的新能源汽车变成了现实，创造了奇迹，更成就了特斯拉汽车公司CEO埃隆马斯克成为继乔布斯外第二个全球科技狂人。2017年5月9日，《时代》杂志发布了2017年“科技领域有影响的20人”榜单，埃隆马斯克上榜。随着对动力需求的不断增长和日趋复杂化，如何提高锂离子电池的性能始终是锂电池领域各厂家致力于突破的一个非常重要的课题。令人欣喜的是，激光拉曼光谱技术被越来越多的研究人员用于该领域的探索和突破。这种非接触的快速分析技术，能够直接分析材料中的结构变化，而不对材料产生影响。拉曼光谱技术已经被用作锂电池在充放电循环过程中的实时的原位分析，从而实现标准分析，包括材料结构和电子属性、耐久性，以及自动质量控制测试等。此外，新的研究还表明：拉曼光谱可以用于研究这些电池生命周期的各个阶段，诸如复杂体系中的新材料的表征、故障分析等。因篇幅有限，今天，本文重点为您揭示显微拉曼光谱在锂电池充放电过程中对正材料和负材料是如何进行分析的。 ▎如何分析?锂离子电池充放电过程中，锂离子经由电解液在两电之间穿梭，会带来两个电材料的结构变化。理想状态之下，这些变化都是可逆的。但是在实际情况中，充放电过程会给电池的正负电造成某些不可逆转的变化。那么它们的变化是怎样的？让我们通过拉曼光谱的“正分析”与“负分析”一窥究竟吧。01正分析锂离子电池常用的正材料是层状的锂钴氧（LiCoO2，LCO）材料。在充放电过程中，锂离子在层状的氧化钴八面体结构中重复地进行着插入—脱出过程。研究表明，电池过放电会导致氧化钴层的不可逆转的分解，成为氧化钴(CoO)和氧化锂(Li2O)；而电池过充电则会导致LiCoO2转变成二氧化钴（CoO2）。所有这些变化都可以利用拉曼光谱进行观察。如下图1所示，拉曼光谱特征峰（橙色）属于锂钴氧正，而拉曼光谱谱线（红色）显示出了属于二氧化钴（CoO2）的特征峰。图1.正材料中有无CoO2的光谱区别.下图2是经历了一次充放电循环过程后，正材料的拉曼成像结果，拉曼成像清楚显示出了二氧化钴（CoO2）的存在，佐证了电池发生过充。图2. 经历了一次充放电循环过程后的锂钴氧正材料的拉曼成像蓝色对应非晶态碳，橙色对应锂钴氧，红色点对应不同浓度二氧化钴除了上述佐证正材料过充现象的存在，研究人员还利用拉曼光谱去寻找和研究新的正材料，比如不同种类的锂-过渡金属混合氧化物，如Li(Ni, Mn, Co)O2，LiMn2O4，这是目前研究的热点材料。这些材料各自具有不同的拉曼光谱特征峰，如下图3所示，拉曼光谱可为新型电材料研究提供技术支持。图3. LiCoO2、Li(Ni, Mn, Co)O2，LiMn2O4，Li2TiO3的拉曼光谱图02负分析锂离子电池常用的负材料是石墨，经过反复充放电循环以后，石墨电会发生退化。在石墨的拉曼光谱中，D峰和G峰的相对强度ID/IG比值与石墨电结构的损坏有着密切的关系。随着石墨电结构的退化，D峰的强度不断增加。在下图4中我们可以看出相对强度的变化。图5的拉曼成像中，可以清楚地看到石墨电结构的变化。图4. 具有不同相对比值ID/IG的石墨正材料的拉曼光谱图5. 石墨负经历一个充放电循环之后的拉曼成像：蓝色区域对应于缺陷较少的石墨，深蓝色区域对应于缺陷较多的石墨，橙色区域对应于树脂粘结剂。 ▎总结和展望由于拉曼光谱能够应对锂离子电池各类研发的需求，并满足在线自动质量控制的要求，因而借助拉曼光谱的探索，锂离子电池必将能够发挥出更大的“能量”。如果您对本文案例感兴趣，欢迎您点击识别下方二维码索取详细文章。 在下一篇文章中，我们将为您介绍拉曼光谱在锂电池充放电过程中对电解液如何进行分析，带您了解该项技术的其他应用，欢迎您的关注。手机识别二维码 阅读原文后，小编欢迎您留言说说看，您身边的锂电池应用都有哪些？特斯拉你已经开起来了吗？ ▎延伸阅读R. Baddour-Hadjean and J.-P. Pereira-Ramos, Chem. Rev., 110 (2010)1278–1319.V. A. Sethuraman, L. J. Hardwick, V. Srinivasan, R. Kostecki, Journal of Power Sources, 195 (2010) 3655–3660.R. Kostecki, J. Lei, F. McLarnon, J. Shim, K. Striebel, J. Electrochem.Soc., 153 (2006) A669-A672.R. Kostecki, X. Zhang, P.N. Ross Jr., F. Kong, S. Sloop, J.B. Kerr, K.Striebel, E. Cairns, F. McLarnon, F., report LBNL-48359, DOI:10.2172/861953.Paul Scherrer Institute, http://www.psi.ch/lec/electrochemical-energy-storage.Berkley Energy Storage & Conversion for Transportation and Re-newablesProgram, http://bestar.lbl.gov/HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术，HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如：光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。

摘要：本文首先简单回顾了辉光放电光谱仪（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry，GDOES）的发展历程及特性，然后通过实例介绍了GDOES在微米涂层以及纳米超薄膜层深度剖析中的应用，并简介了深度谱定量分析的混合-粗糙度-信息深度（MRI）模型，最后对GDOES深度剖析的发展方向作了展望。1 GDOES发展历程及特性辉光放电发射光谱仪应用于表面分析及深度剖析已经有近100年的历史。辉光放电装置以及相关的光谱仪最早出现在20世纪30年代，但直到六十年代才成为化学分析的研究重点。1967年Grimm引入了“空心阳极-平面阴极”的辉光放电源[1]，使得GDOES的商业化成为可能。随后射频（RF）电源的引入，GDOES的应用范围从导电材料拓展到了非导电材料，而毫秒或微秒级的脉冲辉光放电(Pulsed Glow Discharges，PGDs)模式的推出，不仅能有效地减弱轰击样品时的热效应，同时由于PGDs可以使用更高激发功率，使得激发或电离过程增强，大大提高了GDOES测量的灵敏程度，极大推动了GDOES技术的进步以及应用领域的拓展。GDOES被广泛应用于膜层结构的深度剖析，以获取元素成分随深度变化的关系。相较于其它传统的深度剖析技术，如俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）和二次离子质谱（SIMS）或二次中性质谱（SNMS），GDOES具有如下的独特性[2]：（1）分析样品材料的种类广，可对导体/非导体/无机/有机…膜层材料进行深度剖析，并可探测所有的元素(包括氢)；（2）分析样品的厚度范围宽，既可对微米量级的涂层/镀层，也可对纳米量级薄膜进行深度剖析；（3）溅射速率高，可达到每分钟几微米；（4）基体效应小，由于溅射过程发生在样品表面，而激发过程在腔室的等离子体中，样品基体对被测物质的信号几乎不产生影响；（5）低能级激发，产生的谱线属原子或离子的线状光谱，因此谱线间的干扰较小；（6）低功率溅射，属层层剥离，深度分辨率高，可达亚纳米级；（7）因为采用限制式光源，样品激发时的等离子体小，所以自吸收效应小，校准曲线的线性范围较宽；（8）无高真空需求，保养与维护都非常方便。基于上述优势，GDOES被广泛应用于表征微米量级的材料表面涂层/镀层、有机膜层的涂布层、锂电池电极多层结构和用于其封装的铝塑膜层、以及纳米量级的功能多层膜中元素的成分分布[3-6]，下面举几个具体的应用实例。2 GDOES深度剖析应用实例2.1 涂层的深度剖析用于材料表面保护的涂层或镀层、食品与药品包装的柔性有机基材的涂布膜层、锂电池的多层膜电极，以及用于锂电池包装的铝塑膜等等的膜层厚度一般都是微米量级，有的膜层厚度甚至达到百微米。传统的深度剖析技术，如AES，XPS和SIMS显然无法对这些厚膜层进行深度剖析，而GDOES深度剖析技术非常适合这类微米量级厚膜的深度剖析。图1给出了利用Horiba-Profiler 2（一款脉冲—射频辉光放电发射光谱仪—Pulsed-RF GDOES，以下深度谱的实例均是用此设备测量），在Ar气压700Pa和功率55w条件下，测量的表面镀镍的铁箔GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面各元素的深度谱，测量时间与深度的转换是通过设备自带的激光干涉仪（DIP）对溅射坑进行原位测量获得。从全谱来看，GDOES测量信号强度稳定，未出现溅射诱导粗糙度或坑道效应（信号强度随溅射深度减小的现象，见下），这主要是因为铁箔具有较大的晶粒尺寸。同时还可以看到GDOES可连续测量到~120μm，溅射速率达到4.2μm/min（70nm/s）。从插图来看， Ni的镀层约为1μm，在表面有~100nm的氧化层，Ni/Fe界面分辨清晰。图1 表面镀镍铁箔的GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面的各元素的深度谱图2给出了在氩-氧（4 vol%）混合气气压750Pa、功率20w、脉冲频率3000Hz、占空比0.1875条件下，测量的用于锂电池包装铝塑膜（总厚度约为120μm）的GODES深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]。可以看出有机聚酰胺层主要包含碳、氮和氢等元素。在其之下碳、氮和氢元素信号的强度先降后升，表明在聚酰胺膜层下存在与其不同的有机涂层—粘胶剂，所含主要元素仍为碳、氮和氢。同时还可以看出在粘胶剂层下面的无机物（如Al，Cr和P）膜层，其中Cr和P源于为提高Al箔防腐性所做的钝化处理。很明显，图2测量的GDOES深度谱明确展现了锂电池包装铝塑膜的层结构。实验中在氩气中引入4 vol%氧气有助于快速溅射有机物的膜层结构，同时降低碳、氮信号的相对强度，提高了无机物如铬信号的相对强度，非常适合于无机-有机多层复合材料的结构分析，而在脉冲模式下，选用合适的频率和占空比，能够有效地散发溅射产生的热量，从而避免了低熔点有机物的碳化。图2一款锂电池包装铝塑膜的GDOES溅射深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]2.2 纳米膜层及表层的深度剖析纳米膜层，特别是纳米多层膜已被广泛应用于光电功能薄膜与半导体元器件等高科技领域。虽然传统的深度剖析技术AES，XPS和SIMS也常常应用于纳米膜层的表征，但对于纳米多层膜，传统的深度剖析技术很难对多层膜整体给予全面的深度剖析表征，而GDOES不仅可以给予纳米多层膜整体全面的深度剖析表征，而且选择合适的射频参数还可以获得如AES和SIMS深度剖析的表层元素深度谱。图3给出了在氩气气压750Pa、功率20w、脉冲频率1000Hz、占空比0.0625条件下，测量的一款柔性透明隔热膜（基材为PET）的GODES深度谱，如图3a所示，其中最具特色的就是清晰地表征了该款隔热膜最核心的三层Ag与AZO（Al+ZnO）共溅射的膜层结构，如图3b Ag膜层的GDOES深度谱所示。根据获得的溅射速率及Ag的深度谱拟合（见后），前两层Ag的厚度分别约为5.5nm与4.8nm[8]。很明显，第二层Ag信号较第一层有较大的展宽，相应的强度值也随之下降，这是源于GDOES对金属膜溅射过程中产生的溅射诱导粗糙度所致。图3（a）一款柔性透明隔热膜GDOES深度谱；（b）其中Ag膜层GDOES深度谱[8]图4给出了在氩气气压650Pa、功率20w、脉冲频率10000Hz、占空比0.5的同一条件下，测量的SiO2(300nm)/Si(111)标准样品和自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GODES深度谱[9]。如果取测量深度谱的半高宽为膜层的厚度，由此得到标准样品SiO2层的溅射速率为6.6nm/s（=300nm/45.5s），也就可以得到自然氧化的SiO2膜层厚度约为1nm（=6.6nm/s*0.15s）。所以，GDOES完全可以实现对一个纳米超薄层的深度剖析测量，这大大拓展了GDOES的应用领域，即从传统的钢铁镀层或块体材料的成分分析拓展到了对纳米薄膜深度剖析的表征。图4 （a）SiO2(300nm)/Si(111)标准样品与（b）自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GDOES深度谱[9]3 深度谱的定量分析3.1 深度分辨率对测量深度谱的优与劣进行评判时，深度分辨率Δz是一个非常重要的指标。传统Δz(16%-84%)的定义为[10]：对一个理想（原子尺度）的A/B界面进行溅射深度剖析时，当所测定的归一化强度从16%上升到84%或从84%下降到16%所对应的深度，如图5所示。Δz代表了测量得到的元素成分分布和原始的成分分布间的偏差程度，Δz越小表示测量结果越接近真实的元素成分分布，测量深度谱的质量就越高。但是随着科技的发展，应用的薄膜越来越薄，探测元素100%（或0%）的平台无法实现，就无法通过Δz(16%-84%)的定义确定深度分辨率，而只能通过对测量深度谱的定量分析获得（见下）。图5深度分辨率Δz的定义[10]3.2 深度谱定量分析—MRI模型溅射深度剖析的目的是获取薄膜样品元素的成分分布，但溅射会改变样品中元素的原始成分分布，产生溅射深度剖析中的失真。溅射深度剖析的定量分析就是要考虑溅射过程中，可能导致样品元素原始成分分布失真的各种因素，提出相应的深度分辨率函数，并通过它对测量的深度谱数据进行定量分析，最终获取被测样品元素在薄膜材料中的真实分布。对于任一溅射深度剖析实验，可能导致样品原始成分分布失真的三个主要因素源于：①粒子轰击产生的原子混合（atomic Mixing）；②样品表面和界面的粗糙度（Roughness）；③探测器所探测信号的信息深度（Information depth）。据此Hofmann提出了深度剖析定量分析著名的MRI深度分辨率函数[11]： 其中引入的三个MRI参数：原子混合长度w、粗糙度和信息深度λ具有明确的物理意义，其值可以通过实验测量得到，也可以通过理论计算得到。确定了分辨率函数，测量深度谱信号的归一化强度I/Io可表示为如下的卷积[12]： 其中z'是积分参量，X(z’)为原始的元素成分分布，g(z-z’)为深度分辨率函数，包含了深度剖析过程中所有引起原始成分分布失真的因素。MRI模型提出后，已被广泛应用于AES，XPS，SIMS和GDOES深度谱数据的定量分析。如果假设各失真因素对深度分辨率影响是相互独立的，相应的深度分辨率就可表示为[13]：其中r为择优溅射参数，是元素A与B溅射速率之比（）。3.3 MRI模型应用实例图6给出了在氩气气压550Pa、功率17w、脉冲频率5000Hz、占空比0.25条件下，测量的60 Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]，结果清晰地显示了Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) 膜层结构，特别是分辨了仅0.3nm的B4C膜层， B和C元素的信号其峰谷和峰顶位置完全一致，可以认为B和C元素的溅射速率相同。为了更好地展现拟合测量的实验数据，选择溅射时间在15~35s范围内测量的深度剖析数据进行定量分析[15]。图6 60×Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]利用SRIM 软件[16]估算出原子混合长度w为0.6 nm，AFM测量了Mo/B4C/Si多层膜溅射至第30周期时溅射坑底部的粗糙度为0.7nm[14]，对于GDOES深度剖析，由于被测量信号源于样品最外层表面，信息深度λ取为0.01nm。利用（1）与（2）式，调节各元素的溅射速率，并在各层名义厚度值附近微调膜层的厚度，Mo、Si、B（C）元素同时被拟合的最佳结果分别如图7（a）、（b）和（c）中实线所示，对应Mo、Si、B(C)元素的溅射速率分别为8.53、8.95和4.3nm/s，拟合的误差分别为5.5%、6.7%和12.5%。很明显，Mo与Si元素的溅射速率相差不大，但是B4C溅射速率的两倍，这一明显的择优溅射效应是能分辨0.3nm-B4C膜层的原因。根据拟合得到的MRI参数值，由（3）式计算出深度分辨率为1.75 nm，拟合可以获得Mo/B4C/Si多层薄膜中各个层的准确厚度，与HR-TEM测定的单层厚度基本一致[15]。图7 测量的GDOES深度谱数据(空心圆)与MRI最佳拟合结果(实线)：(a) Mo层，(b) Si层，(c) B层；相应的MRI拟合参数列在图中[15]。4 总结与展望从以上深度谱测量实例可以清楚地看到，GDOES深度剖析的应用非常广泛，可测量从小于1nm的超薄薄膜到上百微米的厚膜；从元素H到Lv周期表中的所有元素；从表层到体层；从无机到有机；从导体到非导体等各种材料涂层与薄膜中元素成分随深度的分布，深度分辨率可以达到~1nm。通过对测量深度谱的定量分析，不仅可以获得膜层结构中原始的元素成分分布，而且还可以获得元素的溅射速率、膜层间的界面粗糙度等信息。虽然GDOES深度剖析技术日趋完善，但也存在着一些问题，比如在GDOES深度剖析中常见的溅射坑底部凸凹不平的“溅射坑道效应”（溅射诱导的粗糙度），特别是对多晶金属薄膜的深度剖析尤为明显，这一效应会大大降低GDOES深度谱的深度分辨率。消除溅射坑道效应影响一个有效的方法就是引入溅射过程样品旋转技术，使得各个方向的溅射均等。此外，缩小溅射（分析）面积也是提高溅射深度分辨率的一种方法，但需要考虑提高探测信号的强度，以免降低信号的灵敏度。另外，GDOES深度剖析的应用软件有进一步提升的空间，比如测量深度谱定量分析算法的植入，将信号强度转换为浓度以及溅射时间转换为溅射深度算法的进一步完善。作者简介汕头大学物理系教授 王江涌王江涌，博士，汕头大学物理系教授。现任广东省分析测试协会表面分析专业委员会副主任委员、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会表面工程分会常务委员；《功能材料》、《材料科学研究与应用》与《表面技术》编委、评委。研究兴趣主要是薄膜材料中的扩散、偏析、相变及深度剖析定量分析。发表英文专著2部，专利十余件，论文150余篇，其中SCI论文110余篇。代表性成果在《Physical Review Letters》，《Nature Communications》，《Advanced Materials》，《Applied Physics Letters》等国际重要期刊上发表。主持国家自然基金、科技部政府间国际合作、广东省科技计划及横向合作项目十余项。获2021年广东省科技进步一等奖、2021年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、2021年粤港澳高价值大湾区专利培育布局大赛优胜奖、2020年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、总决赛一等奖。昆山书豪仪器科技有限公司总经理 徐荣网徐荣网，昆山书豪仪器科技有限公司总经理，昆山市第十六届政协委员；曾就职于美国艾默生电气任职Labview设计工程师、江苏天瑞仪器股份公司任职光谱产品经理。2012年3月，作为公司创始人于创立昆山书豪仪器科技有限公司，2019年购买工业用地，出资建造12300平方米集办公、研发、生产于一体的书豪产业化大楼，现已投入使用。曾获2020年朱良漪分析仪器创新奖青年创新入围奖；2019年昆山市实用产业化人才；2019年江苏省科技技术进步奖获提名；2017年《原子发射光谱仪》“中国苏州”大学生创新创业大赛二等奖；2014年度昆山市科学技术进步奖三等奖；2017年度昆山市科学技术进步奖三等奖；多次获得昆山市级人才津贴及各类奖励项目等。主持研发产品申请的已授权专利47项专利，其中发明专利 4 项，实用新型专利 25项，外观专利7项，计算机软件著作权 11项。论文2篇《空心阴极光谱光电法用于测定高温合金痕量杂质元素》，《Application of Adaptive Iteratively Reweighted Penalized Least Squares Baseline Correction in Oil Spectrometer 》第一编著人；主持编著的企业标准4篇；承担项目包括3项省级项目、1项苏州市级项目、4项昆山市级项目；其中：旋转盘电极油料光谱仪获江苏省工业与信息产业转型升级专项资金--重大攻关项目（现已成功验收，获政府补助660万元）、江苏省首台（套）重大装备认定、江苏省工业与信息产业转型升级专项资金项目、苏州市姑苏天使计划项目等；主持研发并总体设计的《HCD100空心阴极直读光谱仪》、《AES998火花直读光谱仪》、《FS500全谱直读光谱仪》《旋转盘电极油料光谱仪OIL8000、OIL8000H、PO100》均研发成功通过江苏省新产品新技术鉴定，实现了产业化。参考文献：[1] GRIMM, W. 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根据标准制修订计划，相关标准化技术组织已完成《锂离子电池和电池组充放电测试设备规范》等45项行业标准和《锂离子电池组安全设计指南》等73项国家标准的制修订工作。在以上标准批准发布之前，为进一步听取社会各界意见，现予以公示，截止日期2022年5月26日。以上标准报批稿请登录中国电子工业标准化技术协会网站（www.cesa.cn）“标准报批公示”栏目阅览，并反馈意见。公示时间：2022年4月27日－2022年5月26日附件：1.45项电子行业标准名称及主要内容2.73项推荐性国家标准名称及主要内容工业和信息化部科技司2022年4月27日

p日本富士电波工机株式会社制造的双电源SPS-211Lx放电等离子烧结炉近期在重庆大学中标，这是一台全新技术的放电等离子烧结设备，具有无可比拟的加热速率，在双电源致热效应的作用下，加热速率可达15度/秒，可以使纳米材料的烧结在更短的时间内完成。我公司所代理的SPS放电等离子烧结设备近几年来被众多大学及研究机构所采购，说明SPS烧结设备在材料创新领域越来越受到科研人员的欢迎。SPS设备可以广泛应用于各种新材料的制备和研究，尤其是在纳米烧结和功能梯度材料烧结方面。双电源SPS-211Lx以其小巧的设计，精良的制造工艺，优异的烧结性能和经济适用的特点尤其广受青睐。br/ 富士电波工机株式会社还提供更多型号的SPS烧结设备，敬请垂询。br/br//pp /ppbr//p