光学计

TE 71 光学粘度计 设备介绍:TE 71 光学粘度计是基于帝国理工大学教授Cameron设计的试验机开发出来的。弹流接触下的油膜厚度取决于入口区油的有效粘度。根据这个理论基础，弹流润滑下油的有效粘度可以通过简单的光学弹流技术测定。TE 71可给出弹流接触下油膜厚度分布的彩色图片，并可用于测量高剪切率和不同压力下聚合物增厚油的粘度损失。TE 71由精抛钢球和下表面镀膜的旋转玻璃圆盘组成，钢球从下往上顶住玻璃盘。试验时，将油样涂抹在玻璃盘上即可。通过玻璃盘上面的光学显微镜可以观察到球和盘的接触区，且卤素灯发出的平行光透过玻璃后可将接触区照亮。玻璃盘上的镀铬膜反射25%的入射光，其余的光则穿过油膜并被钢球表面反射。透射光的光程长度被油膜改变后，产生一系列彩色干涉条纹。根据光学原理，观测到的颜色与接触区的膜厚存在着一定的数学关系。最小膜厚分辨率受制于光波波长 和第一级干涉条纹，大约0.12µ m。该测试方法间简易行，可给出显示表面膜轮廓的彩色照片，也可给出圆形弹流接触的实际尺寸。TE 71为紧凑型袖珍设计，可安装于任何实验室的台架上。TE 71光学粘度计包括马达速度控制器和安装在一个独立盒子的转速表。通过光学波拉罗伊德照相机，可获得干涉条纹的彩色图像。光学粘度计: 根据点接触下的经典Hamrock 和 Dowson膜厚公式，要得到连续的油膜厚度，需知道给定滑动速率比例情况下两种油的有效粘度比。 如Sanborn 和 Winer所说，该公式成立的条件是两种油的粘压系数相同。光学粘度计的操作流程如下：1.运行仪器，用已知粘度的基础油作为润滑剂，注意接触区已选定的干涉条纹随速度变化而发生改变；2. 测试含有添加剂的润滑油，改变滚动速度，得到与基础油相应的干涉条纹；3.根据与基础油的速度比和基础油的粘度计算含添加剂油的有效粘度。技术参数: 圆盘转速范围:10 -150 rpm滚动半径60 mm球的直径25.4 mm盘的直径150 mm最大有效剪切率2 x 106s-1最大赫兹接触应力530 MNm-2最小膜厚分辨率0.19 µ m镀膜盘120 Å 厚铬膜, 25% 反射率显微镜放大倍数x 20光源50 W带光导纤维的白光马达直流 190 W

光学高温计-Mikro系列 -- 型号PV11 用于微小和极小物体（0.1毫米）高温段非接触性温度测量，测温范围700-3500℃，光学高温计-PV11应用在工业化研究和生产，大学和研究机构对灯丝、小型金属、陶瓷试件进行温度测量或用于吸收光谱测量仪等。 测量原理 强度比较-光学高温计-PV11的测量原理是：通过目镜可直接观察的被测物体和一个装在仪器中的经过精确校准的参照叉丝进行直观的强度比较为基础。 比较叉丝可以被反射到目镜可观察的范围内，与被测物体的像交叉。通过对比较叉丝辐射强度的手工调整，使之与被测物体的辐射强度相符。确认他们的亮度相符后，即可在集成数字显示器中读取温度数值。 特性 可看清被测物体的大视场轮廓清晰的被测物体影像高精度在不同的测量距离时可轻松调整优点* 发射率对测量影响非常小* 可测小至0.1mm的物体* 特别大的距离系数(ф1mm的被测物体可在5m远处测量) 光学高温计-Mikro系列应用举例 实验室仪器设备—原子吸收分光计：对石墨样品池的准确温度测量真空炉—金属试件：对小金属试件的准确温度测量核物理研究—金属和陶瓷试件：铀片剂烧结的温度测量白炽灯装置不同金属合金灯丝温度边界的确定大学和研究所许多作物理、化学和材料科学研究的单位把该仪器当作参考（校验）高温计

Optical Coating System/光学涂覆系统NANO-MASTER(那诺-马斯特)NOC-4000光学涂覆系统提供最先进的技术，系统的设计也可以支持其中任一个腔体的单独使用，同时具备各自的自动上/下载片功能。在一个腔体中实现原子级清洗和光学样片抛光，然后把样片传送到第二级腔体中对同一样片进行表面涂覆，整个过程不间断真空。产品应用：光学涂层溅射IBAD离子束辅助沉积离子束刻蚀清洗离子束辅助反应刻蚀红外涂层表面处理产品特点：RF射频偏压样品台膜厚监测仪极限真空5x10-7Torr高精度及高重复性高品质膜层原子级的洁净表面原子级清洗和抛光通过LabView软件实现PC计算机全自动控制自动上下载片两个腔体之间自动传送菜单驱动，4级密码访问保护完整的安全联锁占地面积46”D x 44”W选配项：向下/向上溅射共溅射DC，RF以及脉冲电源离子束辅助沉积电子束源等离子源

主要特点：仪器特点：该仪器可以测几何光学方面各种镜头，镜片，（包括胶合、单片）光学组件的焦距、节点等。其结构简单，操作方便，适合大学教学实验及科研实验。成套性：导轨、二维调整架、干板架、白屏、像屏、读数显微镜架、白光源、透镜、平面反射镜、测微目镜、节点架、分划板

单标距测量光学引伸计纵向10-150mm标距范围，基于200mm FOV非接触式的数字化设计，支持自动化的标距标记分辨率为0.5μm（1.9685039e-5英寸），满足ISO 9513 0.2级和ASTM E83 B1级根据材料不同，有多种标记选择：点、环、线、斑，包括材料边缘跟踪和表面跟踪可提供模拟和或串行数字格式的输出数据外形美观尺寸小 20cm*7cm*25cm

多标距测量光学引伸计纵向标距范围10-150mm，基于200mm FOV横向标距范围1.5-120mm，基于140mm FOV*● 非接触式的数字化设计，支持自动化的标距标记。● 分辨率为0.5 µ m (1.9685039e-5 inch), 满足 ISO 9513 0.5级，ASTM E83 B1级。● 根据材料不同，有多种标记选择：点、环、线、斑，包括材料边缘跟踪和表面跟踪。● 可提供模拟和或串行数字格式的输出数据。

中图仪器SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪利用光学干涉原理，具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像； 11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。 结果组成1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。主要应用领域1、用于太阳能电池测量；2、用于半导体晶圆测量；3、用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量；4、用于机械部件的计量；5、用于塑料，金属和其他复合型材料工件的测量。应用领域案例部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

产品特点：■红星杨科技研发制造的精密光学平台，组合精密橡胶阻尼隔震垫,和水平调节轴承，具有较好隔振效果。■适合于现代光学、物理力学、激光电子、光通讯试验及仪器搭载等领域应用。■台板采用钢制芯夹板结构，具有重量轻、高刚度、高阻尼等优点，上面板为icr17优质高导磁不锈钢，经精密研磨处理，表面平面度高。回旋打磨工艺清除毛边，达到无反射、亚光效果，面板具有M6螺孔，易于固定光学元件架。■高分子复合橡胶垫提供对高频振动的隔振能力。■隔振支撑为优质钢管焊接而成，整体坚固可靠。■独特的水平调节机构，可以实现轻松水平调节的目的，稳定性能高。HGZT系列精密光学平台技术指标：■平面度：≤0.05mm/m2■表面粗糙度:≤0.8μm■固有频率；x方向：3.5Hz～6Hz y方向：3.5Hz～6Hz■振幅： 4μm■荷载能力： 150kg/m2■重复定位精度：±0.05mm产品型号规格尺寸(mm)台面厚度(mm)台面重量（kg）支撑腿数量HGZT-06-06600×600×8008054 4HGZT-075-075750×750×80080854HGZT-09-06900×600×800100814HGZT-10-071000×700×8001001054HGZT-10-081000×800×8001001204HGZT-12-081200×800×800150144 4HGZT-15-091500×900×8002002024HGZT-15-101500×1000×8002002104HGZT-16-091600×900×8002002164HGZT-18-121800×1200×8002003244HGZT-20-102000×1000×800200300 4HGZT-20-122000×1200×8002503604HGZT-24-122400×1200×8002504324HGZT-30-103000×1000×8002504804HGZT-30-123000×1200×8003005764HGZT-30-153000×1500×800300720 6HGZT-35-123500×1200×8003006726HGZT-35-153500×1500×8003008406HGZT-40-154000×1500×8003509606HGZT-42-154200×1500×80035010088HGZT-48-154800×1500×8004001152 8HGZT-50-155400×1500×800450120012HGZT-60-15 6000×1500×800450144012各种尺寸，异形平台均可定制阻尼隔震光学平台，实验光学平台，紧密隔震光学平台，尽在武汉红星杨科技

ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪采用 3、5 和 10mm 的反射镜孔径具有单轴和双轴配置高性能扫描仪，适用于成像和投影应用为注重成本或空间的应用提供 ScannerMAX Compact 506 扫描仪ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪经过精心设计，可针对生物医学、激光材料处理和激光成像应用实现最高的峰值与 RMS 扫描性能。与传统的电流计相比，Saturn 系列电流计采用更强大、更坚硬的转子，以防止在高扫描速度下出现交叉轴扫描（摆动），其低线圈电阻产生的热量更少，因此性能更高，而不会导致过热或转子损伤。这些电流计可提供具有 Y 轴安装座的单轴（1D 电流计）配置，也可提供具有 X-Y 轴安装座的双轴（2D 电流计）配置。ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪非常适用于需求严苛的成像和投影应用，例如共聚焦显微镜、激光娱乐显示屏、光学相干层析成像 (OCT)、光栅成像以及激光标刻应用。电流计采用 3mm、5mm 和 10mm 的反射镜孔径，具有保护性银膜，涵盖可见光或红外线范围内的小型到大型光束应用；若您的应用需要 Saturn 电流计扫描仪采用定制的反射镜孔径或镀膜，请联系我们。ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪由 Mach-DSP 伺服驱动器驱动。该数字伺服驱动器具有紧凑的封装尺寸，可同时控制 X 轴和 Y 轴扫描仪。Mach-DSP 可以由模拟信号和数字信号控制，可以通过免费的 GUI 软件包进行访问和调节，包括内置的测试模式发生器、示波器和动态信号分析仪。Mach-DSP 伺服驱动器需要使用 ±24 的电源。 每个单轴电流计系统随附以下物品：1 部 Saturn 系列电流计1 个 Y 轴安装座1 个 Mach-DSP 伺服驱动板1 根 1 公尺长的缆线（用于将电流计连接到伺服驱动器）1 个缆线套件（包括电源线和模拟输入缆线）每个双轴电流计系统随附以下物品：2 部 Saturn 系列电流计1 个 X-Y 轴安装座1 个 Mach-DSP 伺服驱动板2 根 1 公尺长的缆线（用于将电流计连接到伺服驱动器）1 个缆线套件（包括电源线和模拟输入缆线）#16-039电流计光学扫描仪 其它通用分析

中瑞祥投影立式光学计 仪 型号：H17991 光学计的主要用途是利用量块与零件相的方法，来测量物体外形的微差尺寸，是计量室、检定站或制量具、具与密零件之车间常用之量具。 它可以检定五等度量块或级度柱形量规，对于圆柱形、形、线形等物体的直径或板形物体的厚度均能测量，并可从仪器上取下光学计管，适当的装在机床上，利用量块作为控制密加尺寸之用。 二、规格 （）光学计管的参数和尺寸 目镜放大倍数 12倍 光学杠杆的放大倍数 80倍 总放大倍数 ≈1000倍 分划板分度值 0.001毫米 分划板在目镜视场中观察每分度感觉示值 ≈1毫米 分划板分度范围 ±0.1毫米 测杆自由升降距离 ≈0.4毫米 测量压力 200克±20克 光学计管配合尺寸 28d毫米 另位调节器调节范围 ±0.01毫米 （二）测量范围 测量长度： 不装投影器时 180毫米 装投影器时 120毫米 立柱边缘至平台中心距离 115毫米 （三）误差 仪器的不正确度 ±0.00025毫米 示值稳定性 0.0001毫米 测量的不正确度 ±（0.5+L/100）毫米 （四）作台的主要尺寸 圆形槽面作台直径（调节式） 88毫米 圆形平面作台直径（调节式） 88毫米 方形槽面作台长×宽（固定式） 142×130毫米 面小作台半径（固定式） R20毫米 平面小作台直径（固定式） 8毫米 圆形平面作台直径（固定式） 88毫米 （五）反光镜直径 50毫米

通用积分球 通用积分球的结构设计十分灵活，用户可以选择积分球的尺寸、开口方向和反射材料，通过变换积分球的附件，如光源、配件、开口缩减器等实现不同的应用。 用户可以据此创建不同的均匀光源或光谱测量系统，或者改变现有系统的应用方式。不同的系统校准方法可以为用户的特殊应用需求定制特定的系统。 蓝菲光学的通用积分球具有完美的开口结构设计、支持快速安装和更换附件等特点，可以满足用户的不同应用需求，蓝菲光学专用的校准实验室为定制系统提供了有利保障。更改附件后，只需要通过软件一键操作便可对系统进行再校准。 通用积分球内部漫反射涂料有多种选择：Spectraflect, Spectralon 或Infragold，这些拥有近乎完美的朗伯特性的涂料性能稳定，持久耐用，可以保证积分球在使用周期中始终保持完美的光学效果。 所有蓝菲光学的产品都在ISO9001标准指导环境下生产，测试结果可以溯源至NIST。当您向我们确定好需求后，蓝菲光学工程师与业务人员将和您一起确定具体的应用配置。校准范围LED光源固态照明大面积LED背光显示屏通用照明汽车照明建筑照明 订购信息和规格配置建议 可以根据需要选择元件搭建特定的应用系统，许多应用需要应用一个或多个附件，如积分球、发光器、电源、检测器、辐射计、光度计、开口缩孔器、法兰边缩孔器、孔盖、漫射片组件、安装支杆、支杆支架及底座。 其他可选的附件包括：开口适配器、光阱、反射透射率固定件、滤光片、标准灯。

■高端应用镜片--Layertec产品德国Layertec公司于1990年成立于德国Jena，是专业生产各种高品质光学镜片的厂家。 主要产品有：常规激光光学元件、飞秒激光光学元件及特殊应用光学元件。产品的工作波长覆盖深紫外VUV（157nm）到近红外NIR（～4um）。从1990年开始，Layertec就和很多大学和研究机构的激光部门合作，目前员工超过125人。强大的研发队伍使我们不但能够提供各种标准产品，还能满足客户的各种定制要求。 常规激光光学元件常规激光光学元件按照其工作波长划分，主要包含以下几类：1、F2激光应用2、ArF激光应用3、KrF，XeCl和XeF激光应用4、红宝石激光和其它宝石激光应用5、纳秒钛蓝宝石激光应用6、半导体激光应用7、掺Yb激光应用8、掺Nd激光应用9、掺Nd和掺Yb激光二次谐波应用10、掺Nd和掺Yb激光三次谐波应用11、掺Nd和掺Yb激光高次谐波应用12、掺Nd激光多波长应用13、掺Ho和掺Tm激光应用14、掺Er激光以及3um波段应用欢迎点击标题下方下载更详细资料

晶圆级衍射光波导光学检测系统皮米级周期计量 / 快速无损 / 形貌量测 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 是一款专为晶圆级光波导样品提供的专业光学检测系统，采用先进的角分辨光谱技术，配合强大的 AI 算法以及可溯源的标准物质，能够快速、准确获取一维、二维光栅的衍射效率及其形貌参数，为用户在衍射光栅的设计与加工过程中提供快速、无损的监控手段，不断提高产品生产良率。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 典型应用领域： 光栅衍射效率测量 衍射效率是评价光栅性能的核心指标，需要系统具有同时测量角度和波长的能力。 光栅周期计量 周期作为衍射光波导的基本参数，影响着光在波导内部正确的传输与衍射，可溯源的方法是周期计量中的关键所在，需要具有复现和量值传递作用的标准物质作参考。 光栅形貌量测 高性能衍射光波导具有较为复杂的光栅形貌，对形貌无损快速的检测是晶圆批量制程中的核心诉求，需要系统具备多维度光学信号抓取能力并支持人工智能算法高效分析。 光栅取向测量 光波导中不同区域光栅的取向差异对成像至关重要，需要系统支持旋转角精确调节。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 角分辨光谱技术 得益于 -70°~70° 的广角量程与优于 0.02° 的角度精度，可准确捕捉 多级次 衍射强度随波长和角度的精确分布； 2 晶圆级测量 采用高兼容性样品台，有效覆盖 4~12 寸 晶圆的全面检测需求。同时，结合智能化软件，支持晶圆版图输入，实现了对衍射光波导晶圆的批量 mapping 检测； 3 人工智能算法 引入在线优化、深度学习和库搜索等前沿算法，将物理模型与多维光谱信息紧密融合，可实现 海量模型 的构建与优化，实时获取衍射光波导光栅的精确形貌参数； 4 高精度电动位移台 选用高精度 四轴电动 位移台，可实现 X, Y, Z 轴 微米级 空间定位精度，平面取向 θ 角 弧秒级 角度定位精度，支持衍射光波导全方位自动检测。Metrondie-SRG 光学量测示意图

产品优势◆ 光学金相显微镜和原子力显微镜一体化设计，功能强大◆ 同时具备光学显微镜和原子力显微镜成像功能，两者可同时工作，互不影响◆ 同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能◆ 激光检测头和样品扫描台集成一体，结构非常稳定，抗干扰性强◆ 精密探针定位装置，激光光斑对准调节非常简便◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针，使针尖垂直于样品扫描◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品◆ 超高倍光学定位系统，实现探针和样品扫描区域精确定位◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%技术参数应用案例

产品特点:1. 实心结构，由铝合金加工制作而成，具有重量轻，移动方便的特点；2. 台面阵列标准的M6螺纹孔，孔距为25*25mm，便于固定各种调整架；3. 进行氧化处理，表面发黑，美观耐用；4. 济南辰谱接受各种规格光学平板的定制。 技术指标：材料：铝合金 6061厚度：13mm平面度：0.05mm/600mmx600m孔距：25mm25mm孔径：M6重量：约3Kg/ 300mmx300mm

青岛容广电子技术有限公司产品销售直接负责人：安超手机：欢迎随时致电咨询，谢谢 RGR-4光学法车载道路积尘测试系统主要技术参数1、 用途用于连续测量道路积尘负荷。2、 工作原理采用光学法测量车轮扬起来的颗粒物的浓度，乘以换算系数，得到实时的道路积尘负荷。3、 主要配置车体改装、车载测量系统控制器、GPS定位装置、无线通讯装置、车信息通讯装置、光散射法颗粒物浓度测试仪、光学法抽气气路等4、 主要功能和指标4.1 光学法测量装置4.1.1光散射法颗粒物测试仪测量量程30mg/m3，分辨率0.1mg/m34.1.2光学法抽气气路抽气量20L/min4.3 车载测量系统控制器 可以设定单次测量的运行距离、能够实时显示采样头的工作视频；可以设定采样的负压值、可以启动采样装置的升、降；能够实时显示扬尘的浓度和道路积尘负荷。4.4运行过程的特殊路况处理系统具备升降采样装置的功能，保证在路面不平或者有障碍物时，进行避让。如果吸尘头被大颗粒石子堵住后，系统会停止抽气泵并将继续前进颠簸后自动升起采样头使大颗粒石子脱落后继续进行采样工作5、 上位机数据处理系统的功能5.1自动记录行车里程，计算采样面积5.2自动称量并记录初重和终重，计算净重及浓度值5.3实时记录采样压强5.4具备采样压强过低或者过高报*功能5.5具有GPS定位功能，记录采样区间开始及结束时的经纬度5.6以上数据均可形成Excel报表导出进行数据处理5.7可通过手机端进行采样操作及数据查询 青岛容广电子技术有限公司提供本仪器的技术支持和完善的售后服务！

产品描述Zeta-300光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-300继承了Zeta-20的功能，并增加了隔离选项以及处理更大样品的灵活性。 该系统采用获得专 利的ZDot&trade 技术和Multi-Mode (多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。Zeta-300的配置灵活并易于使用，并集合了六种不同的光学量测技术。ZDot&trade 测量模式可同时收集高分辨率3D扫描和True Color无限远焦距图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量、Nomarski干涉对比显微镜和剪切干涉测量。ZDot或集成宽带反射计都可以对薄膜厚度进行测量。Zeta-300也是一种高端显微镜，可用于样品复检或自动缺陷检测。 Zeta-300通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度的测量以及缺陷检测功能，适用于研发及生产环境。主要功能采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件的简单易用的光学轮廓仪，具有广泛的应用可用于样品复检或缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像ZXI：白光干涉测量技术，适用于z向分辨率高的广域测量ZIC：干涉对比度，适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据ZSI：剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像ZFT：使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，并对样品上的缺陷进行量化生产能力：通过测序和图案识别实现全自动测量主要应用台阶高度：纳米到毫米级别的3D台阶高度纹理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波纹度外形：3D翘曲和形状应力：2D薄膜应力薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷缺陷复检：采用KLARF文件作为导航以测量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置工业应用LED：发光二极管和PSS（图案化蓝宝石基板）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片级封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB和柔性PCBMEMS（微机电系统）医疗设备和微流体设备数据存储大学，研究实验室和研究所还有更多：请与我们联系以满足您的要求应用台阶高度Zeta-300可以提供纳米级到毫米级的3D非接触式台阶高度测量。ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件提供了一系列测量台阶高度的方法。主要的测量技术是ZDot，可以快速测量从几十纳米到几毫米的台阶高度。ZXI干涉测量技术可以在大范围面积上对台阶高度进行纳米级到毫米级的测量。ZSI剪切干涉测量技术可用于测量小于80nm的台阶高度。薄膜厚度Zeta-300可以利用ZDot或ZFT测量技术对透明薄膜进行厚度测量。ZDot适用于测量大于10μm的透明薄膜，例如在折射率较高的基板上涂覆的光阻或微流体器件层。ZFT则采用集成宽带反射仪适用于测量30nm至100μm的薄膜。 这既适用于单层薄膜也适用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜属性或者采用模型针对色谱进行匹配。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-300可以对3D纹理进行测量，并对样品的粗糙度和波纹度进行量化。ZDot可测量从几十纳米到非常粗糙表面的粗糙度。ZSI和干涉测量技术可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件过滤功能将测量值分离为粗糙度和波纹度部分，并计算诸如均方根（RMS）粗糙度之类的参数。 Nomarski干涉对比度显微镜可以通过发现斜率的微小变化对非常精细的表面细节进行可视化。外形：翘曲和形状Zeta-300可以测量表面的2D和3D的形状或翘曲。这包括对晶圆翘曲的测量，例如半导体或化合物半导体器件生产中的多层沉积期间由于层与层的不匹配是导致这种翘曲的原因。Zeta-300还可以量化包括透镜在内的结构高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-300能够测量在生产过程中，包含多个工艺层的半导体或化合物半导体等器件期间所产生的应力。 使用应力卡盘将样品支撑在中性位置并精确测量样品翘曲。然后通过应用Stoney方程，利用诸如薄膜沉积工艺的形状变化来计算应力。 Zeta-300采用用户定义的间隔，并沿着样品直径采集样品表面的高度，然后将数据汇总并绘制样品形状轮廓，并以此测量2D应力。自动缺陷检查Zeta-300的自动光学检测（AOI）功能可以快速检测样品、区分不同的缺陷类型，并绘制样品的缺陷密度分布。Zeta-300结合了3D测量功能，可以提供2D检测系统无法获得的缺陷信息，从而可以更快找到缺陷根源。缺陷复检Zeta-300的缺陷复查功能采用检测设备的KLARF文件，并将平台移动到缺陷位置。用户可以使用高质量的显微镜对缺陷进行检测或者对其高度、厚度或纹理等形貌进行测量。 这提供了2D缺陷检测系统无法获得的额外的缺陷细节。Zeta-20还可以对缺陷做划线标记，从而更容易在如SEM复检设备等视野有限的设备中找到这些缺陷。LED图案化蓝宝石基板（PSS）Zeta-300光学轮廓仪可以对图案化蓝宝石基板进行量测和检测。该系统结合了ZDot功能、样品透射照明和自定义算法，可快速量化PSS凸块的高度、宽度和间距。Zeta-300还可在图案化前后用于测量光刻胶，让蓝宝石在蚀刻之前能够进行样品返工。PSS基板的自动缺陷检测可以快速识别关键缺陷，例如PSS凸块缺失、凸块桥接、撕裂和污染。半导体和复合半导体封装Zeta-300支持晶圆级芯片级封装（WLCSP）和扇出晶圆级封装（FOWLP）的量测要求。关键的应用技术是该系统能够在干光刻胶薄膜完好无损的情况下对镀铜的高度做出测量。这是透过透明的光刻胶对种子层进行测量，通过测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜柱和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括再分布线（RDL），凸块下金属化（UBM）高度和纹理、光刻胶开口关键尺寸（CD）、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属触点的共面性以确定凸块高度是否满足最 终的器件封装连接要求。印刷电路板（PCB）和柔性PCBZeta-300的动态范围很大，这使得该系统无需改变配置就可以对表面粗糙度和台阶高度进行从纳米级到毫米级的测量。 它可以测量像铜之类的高反射率薄膜以及PCB上常见的透明薄膜。 Zeta-300支持针对盲孔（的高度和宽度）、线迹和热棒，以及表面粗糙度等关键尺寸的测量。激光烧蚀Zeta-300可以测量在激光表面处理后对半导体、LED、微流体器件、PCB等引起的形貌变化。激光已在半导体、LED和生物医学设备等行业中被用于精密尺度微加工和表面处理。对于半导体工业，测量晶圆ID标记的高度和宽度至关重要，这确保其在多个不同的工艺步骤中可以被成功读取。微流体Zeta-300能够测量由硅、玻璃和高分子等材料制成的微流体装置。该系统可以对通道、井和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理进行量化。Zeta-300还可以在透明顶盖板密封后对最 终设备进行测量 – 对折射率的变化进行补偿并且对使用盖板引起的的应力变化进行量化。生物技术Zeta-300非常适用于生物技术应用，可以针对各种样品表面的纳米级到毫米级特征为其提供非接触式测量。Zeta-300可以用于测量生物技术设备中的深井深度之类的高纵横比台阶。此外，利用其高数值孔径物镜和分辨反射率极低样品的能力，该系统还可以测量药物输送的微针阵列结构。产品优势Zeta-300支持3D量测和成像的功能，并提供整合隔离工作台和灵活的配置，可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本，适用于研发及生产环境。

产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-388继承了Zeta-300的功能，并增加了晶圆盒至晶圆盒机械臂，可实现全自动测量。该系统采用获得专 利的ZDot&trade 技术和Multi-Mode (多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。Zeta-388的配置灵活并易于使用，并集合了六种不同的光学量测技术。ZDot&trade 测量模式可同时收集高分辨率3D扫描和True Color无限远焦距图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量、Nomarski干涉对比显微镜和剪切干涉测量。ZDot或集成宽带反射计都可以对薄膜厚度进行测量。Zeta-388也是一款高端显微镜，可用于样品检查或自动缺陷检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度的测量以及缺陷检测功能，以及晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送，适用于研发及生产环境。主要功能采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件的简单易用的光学轮廓仪，具有广泛的应用可用于样品复检或缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像ZXI：白光干涉测量技术，适用于z向分辨率高的广域测量ZIC：干涉对比度，适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据ZSI：剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像ZFT：使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，并对样品上的缺陷进行量化生产能力：通过测序和图案识别实现全自动测量晶圆传送机械臂: 自动加载直径为50mm至200mm的不透明（如硅）和透明（如蓝宝石）样品主要应用台阶高度：纳米到毫米级别的3D台阶高度纹理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波纹度外形：3D翘曲和形状应力：2D薄膜应力薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷缺陷复检：采用KLARF文件作为导航以测量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置工业应用LED：发光二极管和PSS（图案化蓝宝石基板）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片级封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB和柔性PCBMEMS（微机电系统）医疗设备和微流体设备还有更多：请与我们联系以满足您的要求应用台阶高度Zeta-388可以提供纳米级到毫米级的3D非接触式台阶高度测量。ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件提供了一系列测量台阶高度的方法。主要的测量技术是ZDot，可以快速测量从几十纳米到几毫米的台阶高度。ZXI干涉测量技术可以在大范围面积上对台阶高度进行纳米级到毫米级的测量。ZSI剪切干涉测量技术可用于测量小于80nm的台阶高度。薄膜厚度Zeta-388可以利用ZDot或ZFT测量技术对透明薄膜进行厚度测量。ZDot适用于测量大于10μm的透明薄膜，例如在折射率较高的基板上涂覆的光阻或微流体器件层。ZFT则采用集成宽带反射仪适用于测量30nm至100μm的薄膜。 这既适用于单层薄膜也适用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜属性或者采用模型针对色谱进行匹配。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-388可以对3D纹理进行测量，并对样品的粗糙度和波纹度进行量化。ZDot可测量从几十纳米到非常粗糙表面的粗糙度。ZSI和干涉测量技术可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件过滤功能将测量值分离为粗糙度和波纹度部分，并计算诸如均方根（RMS）粗糙度之类的参数。Nomarski干涉对比度显微镜可以通过发现斜率的微小变化对非常精细的表面细节进行可视化。外形：翘曲和形状Zeta-388可以测量表面的2D和3D的形状或翘曲。这包括对晶圆翘曲的测量，例如半导体或化合物半导体器件生产中的多层沉积期间由于层与层的不匹配是导致这种翘曲的原因。Zeta-388还可以量化包括透镜在内的结构高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-388能够测量在生产过程中，包含多个工艺层的半导体或化合物半导体等器件期间所产生的应力。 使用应力卡盘将样品支撑在中性位置并精确测量样品翘曲。然后通过应用Stoney方程，利用诸如薄膜沉积工艺的形状变化来计算应力。 Zeta-388采用用户定义的间隔，并沿着样品直径采集样品表面的高度，然后将数据汇总并绘制样品形状轮廓，并以此测量2D应力。自动缺陷检查Zeta-388的自动光学检测（AOI）功能可以快速检测样品、区分不同的缺陷类型，并绘制样品的缺陷密度分布。Zeta-388结合了3D测量功能，可以提供2D检测系统无法获得的缺陷信息，从而可以更快找到缺陷根源。缺陷复检Zeta-388的缺陷复查功能采用检测设备的KLARF文件，并将平台移动到缺陷位置。 用户可以使用高质量的显微镜对缺陷进行检测或者对其高度、厚度或纹理等形貌进行测量。 这提供了2D缺陷检测系统无法获得的额外的缺陷细节。 Zeta-388还可以对缺陷做划线标记，从而更容易在如SEM复检设备等视野有限的设备中找到这些缺陷。LED图案化蓝宝石基板（PSS)Zeta-388光学轮廓仪可以对图案化蓝宝石基板进行量测和检测。该系统结合了ZDot功能、样品透射照明和自定义算法，可快速量化PSS凸块的高度、宽度和间距。Zeta-388还可在图案化前后用于测量光刻胶，让蓝宝石在蚀刻之前能够进行样品返工。PSS基板的自动缺陷检测可以快速识别关键缺陷，例如PSS凸块缺失、凸块桥接、撕裂和污染。Zeta-388还配有一个自动晶圆机械传送系统，以减少人为干预和手动样品传送所引起的污染。半导体和复合半导体封装Zeta-388支持晶圆级芯片级封装（WLCSP）和扇出晶圆级封装（FOWLP）的量测要求。关键的应用技术是该系统能够在干光刻胶薄膜完好无损的情况下对镀铜的高度做出测量。这是透过透明的光刻胶对种子层进行测量，通过测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜柱和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括再分布线（RDL），凸块下金属化（UBM）高度和纹理、光刻胶开口关键尺寸（CD）、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。 还可以测量金属触点的共面性以确定凸块高度是否满足最 终的器件封装连接要求。激光烧蚀Zeta-388可以测量在激光表面处理后对半导体、LED、微流体器件、PCB等引起的形貌变化。激光已在半导体、LED和生物医学设备等行业中被用于精密尺度微加工和表面处理。对于半导体工业，测量晶圆ID标记的高度和宽度至关重要，这确保其在多个不同的工艺步骤中可以被成功读取。微流体Zeta-388能够测量由硅、玻璃和高分子等材料制成的微流体装置。该系统可以对通道、井和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理进行量化。Zeta-388还可以在透明顶盖板密封后对最 终设备进行测量 – 对折射率的变化进行补偿并且对使用盖板引起的的应力变化进行量化。生物技术Zeta-388非常适用于生物技术应用，可以针对各种样品表面的纳米级到毫米级特征为其提供非接触式测量。Zeta-388可以用于测量生物技术设备中的深井深度之类的高纵横比台阶。此外，利用其高数值孔径物镜和分辨反射率极低样品的能力，该系统还可以测量药物输送的微针阵列结构。产品优势Zeta-388支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实现全自动测量。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、低拥有成本，以及SECS / GEM通信，适用于研发及生产环境。

特点采用降压LED光源，光学和电器部分发热量极低，热影响小。以光学杠杆原理与CCD数码图像技术相结合，分辨率高、测量示值准确、稳定。液晶数字显示屏安置在距离测量区最近的部位，能同时观察测量部位和测量示值，设计人性化。示值范围大，在被测件与标准件尺寸差异较大的情况下，也能获得准确的测量结果。测量示值采用液晶屏数字显示，读数方便、舒适。液晶屏数字下方具有模拟光标，测头运动状态明确、直观。仪器配有5种触测端不同形状的测帽和5种不同用途的工作台，可以测量平面形、圆柱形、球形、薄板、针状、螺纹等不同形状的零件。配有多种规格的量块移动框，可避免手传给量块热量的影响。技术参数测量范围（mm）：0~180分辨力: 　0.1μm示值范围: ±0.1mm测量力: 2.0N±0.2N示值误差： ±(0.1+0.001A)μm（其中A为示值，单位μm）仪器质量：21kg仪器外形尺寸（mm）：长340×宽160×高450

轶诺 BIOS布氏压痕光学扫描仪布氏压痕光学扫描仪是一个手持设备，可连接到电脑、平板或任何运行Windows10操作系统的设备上。扫描仪自带的软件可轻松安装，且可在十分之一秒内测量布氏压痕大小。不同的材料有不同的光洁度，测量布氏压痕时，必须快速调光。然而，自动调光系统速度太慢，我们经常得不到正确的结果。我们的布氏压痕测量系统用滚轮提供了一个超快调光的方法。BIOS 布氏压痕光学扫描仪亮点显微镜: 布氏压痕光学扫描仪相机: 500万像素镜头: 远心镜头 0.6x视场: 最大 9,50 x 7,12 mm尺寸: 160 mm x 45 mm重量: 527gr供电: USB-2数据输出: CSV, MS Solutions Excel, Word, etc.连接: USB-2电源系统: 高性能嵌入式控制器,i7, MS Windows10操作系统屏幕: 横向电容式触摸屏显示分辨率: 0.1 HBW硬度转换: HRC软件: 综合数据库，仅用1个镜头测量1 mm-10 mm直径的压痕，1μm/step测量分辨率， 精密数字变焦1X-8X，快速测量反应时间，可编辑存储后的数据 高端进口硬度计-轶诺硬度计轶诺INNOVATEST 手动或自动硬度测试仪器（通常被称为硬度计），适用于广泛的试样测试及应用。富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的解决方案。INNOVATEST硬度计涵盖维氏、洛氏、布氏、努氏、布洛维硬度计（万能硬度计）等测试方法，产品均符合ISO和ASTM标准。在ISO 17025标准实验室中，您可放心使用检定和认证后的INNOVATEST硬度计。INNOVATEST多功能硬度计涵盖超广的试验力范围和测试方法，为用户提供了拥有一台硬度计便实现全标尺测试的便捷、友好的用户体验。IMPRESSIONS™ 硬度测试与工作流程控制软件提供了近乎无穷尽的功能。先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI（人工智能）技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。INNOVATEST硬度测试专家以及遍布全球的经销商欢迎您的垂询，如您有特殊的定制需求，我们的工程师将高效地提供适合您的解决方案。位于荷兰的总部是我们卓越的研发与生产中心，而位于德国、波兰、美国、日本和中国的销售与服务分公司与我们遍布全球的经销商一起，旨在为全球客户提供卓越的服务和质保体系。无论您需要的是全自动硬度计，硬度测试仪器或者是应用于车间的简单硬度测试解决方案，在Innovatest，您正与全球的硬度测试专家对话。欢迎咨询:INNOVATEST轶诺中国总部 | 轶诺仪器（上海）有限公司

快速断开光学杆夹具PSAT系列产品特点：材质：6061T4 铝合金；可360°自由旋转方向，能与激光管架、平移台、旋转台、角位台配合使用，作小行程调整； 产品介绍：OMTOOLS快速断开光学杆夹具结合了独立的夹持和齿轮齿条定位结构，可实现更精确的垂直调整。此方法将夹具的旋转角度限制为±0.5°。PSAT76C杆夹与重载 1.5 英寸光学支撑杆PSAR365C接杆、PSAR500C接杆兼容。PSAT76C杆夹结合了一种新颖的锁定销结构，允许以各种角度附着部件。销钉结构还允许快速轻松地拆卸和重新连接部件，夹具拥有一系列的M6通孔和M4螺纹孔，76x76mm大台面可灵活地连接定向各种附件。 选型表：型号材质表面处理夹持直径PSAT76C6061T4 铝合金黑色阳极氧化?38 mm

产品详情SAKI 在线型 3D 自动外观检查机BF-3Di 系列智能光学自动外观检查设备采用了 SAKI 自主开发的数字光学式高度测量技术，经企业苛刻制造检验，并经实际生产验证的、市场为成熟的、可靠的在线 3D AOI。全新SAKI 3D AOI不仅仅在外观上做了很大的变化，在性能上更有了提升，1200像素，分辨率7um,半导体级别的应用，检测速度每秒5700mm2，结合SAKI SPI在线应用得以实现印刷机、SPI、贴片机、AOI三点照合自动反馈修正功能。 123技术SAKI BF-3Di 通过自动编程，让操作和运用更轻松BF-3Di 采用自动编程功能，缩短了65%的检查数据编制时间。通过参考 Gerber 数据和 CAD 数据，可实现高精度自动分配的元件库。还可通过获取焊盘形状信息，自动执行符合 IPC 标准的检查。BF-3Di 利用其装置内标配的离线调试功能， 搭配过去积累下的缺陷图像，可根据统计信息， 自动完成阈值设置。通过这些举措，可实现稳定的检查质量，无需考虑操作员的技能高低。任意位置的3D切图检视在生产检查界面，可以随时对需要检视的元件进行图像 3D 显示切片。3D 切片凸显直观的、真实的呈现元件任意位置和角度的 3D 图像。图集SAKI 3D AOI 支持电路板整板高精度检查通过采用双轴马达， 实现了高速拍摄性能。通过高刚度门架， 高精度线性标尺控制， 电路板面自动检测功能， 确保了 XYZ 轴精度。使用四向侧视摄像头执行自动检查， 可检查 QFN， J 型引脚， 带外盖的连接器等过去无法从正上方检查的焊点和引脚部分， 确保不会出现检查死角。技术规格

桌面气浮光学平台HGZJ系列产品介绍：桌面气浮光学平台HGZJ系列是一款手动或（自动）充气式桌面型气浮平台，集紧凑、超薄、精巧的设计，外观简洁、安置携带方便。采用薄膜式高性能空气弹簧隔振原理，可有效消除振动干扰，固有频率可达2.5Hz，最高隔振效率达90%以上。高刚性的搭载面，使搭载的仪器更加稳固，配置三个调高阀，可以自动调整水平。主要用于硬度仪、测长仪、圆度仪、切片机、小型探针台等激光试验系统、激光显微镜、共聚焦显微镜、微操作系统和碎片夹钳等。 选型表：产品型号HGZJ0506HGZJ0806台面材料优质不锈钢板平台平面度≤0.05mm/m2平台表面处理台面哑光处理固有频率x方向：2.5Hz～2.7Hz y方向：2.5Hz～2.7Hz减震效率x方向＜5Hz时：86%～92% y方向＜5Hz时：84%～90%x方向＜10Hz时：90%～96% y方向＜10Hz时：88%～93%）隔振方式双腔式隔振空气弹簧负载180kg整体尺寸530x630x60mm830x630x60mm建议放置尺寸小于500x600mm小于800x600mm

871系列高精度激光波长计 光学测量仪特点：用于连续或脉冲激光测量，波长测量精度高达±0.2 ppm。内置标准稳频HeNe激光器实现自动实时校准，无需人工干预。工作波长375 nm-1700 nm，输入能量可以低至 20 nJ。预准直光纤输入接口，无需手动优化参考信号。 内置PID控制器实现精密激光器稳定控制。软件基于Windows系统，可采用USB或者Ethernet实现与PC的通讯。便捷的平板电脑、智能手机应用程序实现在实验室内随时随地可以实现波长数据的汇报。采用用户或者Labview程序可以实现自动波长数据报告，无需专用PC。 871 激光波长计既可以用于测量连续激光器，也可以用于测量脉冲激光器，还可以用于测量光学参量振荡器，通过结合费佐标准具与自动校准技术，实现重要实验结果所需要的稳定准确度，更重要的是，测量速率可达1 kHz，确保可以对大多数激光器的每一个单脉冲进行表征。而且1 ms的时间分辨率可以实现对可调谐激光器的详尽分析。

产品特点：1.仪器架是光学平台常用的配套产品，可以用来放置很多仪器设备，能够节省空间，同时也不会影响光学平台的抗震性，还可以提供电源等实验条件；2.仪器的骨架是用方型钢管焊接而成的，表面是黑色的，静电喷涂，耐腐耐磨，可以负载200KG3. 配备有漏电保护器以及多个德力西电源插座，同时还配有钢板，搁物的空间高30厘米4. 底部带有底轮以及底脚，可以移动也可以固定5. 济南辰谱接受任意规格的定制产品

光学积木（支架、C型环、对准组件、连接器）光学积木是包括了带通滤波器和分色镜等元件的紧凑型单元。它们被设计用于光电倍增管（PMT）和高灵敏度相机进行的微弱光测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！部分产品：产品图像产品型号产品名称 A10035分束器组件 A10035-90分束器组件 A10036快门组件 A10037滤波器适配组件 A10038连接组件 A10039C型适配器组件 A10455-02工具箱 A10657-01微阱样品板 A10760光束对准组件 A10858平台组件产品图像产品型号产品名称 A11058层阶搁板 A11213C型通用滤波器组件 A11214C型通用分色镜组件 A9865C型环 A10030-01适配器组件 A10031扩束器组件 A10032ND滤波器组件 A10033滤波器组件 A10033-90通用滤波器组件 A10034分色镜组件

德国业纳 Opticline CS测量系统Opticline CS系统专门用于轴类零件的光学测量。我们的CS测量系统是用于质量控制的理想选择，并且会使车削轴类件的光学测量更加高效便捷。 业纳的 Opticline CS 标准机系列，是专为满足车削轴类工件的测量要求而设计的。这款机器可以直接用在生产现场，或精密测量室。甚至是在极端恶劣的工业生产环境中（如震动，油污等），它依然可以正常运行。Opticline CS系统所自带的SPC统计功能，可以实现生产进程的高度实时监控，并允许必要时的快速介入。这样可以持续保证生产车削工件的高质量稳定性。 这套测量系统的操作方便，因此测量结果不受操作人员因素影响，并具备分析功能的定制性和拓展性。产品优势 用于生产现场的坚固设计 便捷，快速，柔性的测量 可用户自定义的测量结果 设备自身监控的机械设计 自动化的测量 操作和编程简单便捷 测量数据可靠行业应用 车削的轴类件 其它轴类工件

产品特点：1.济南辰谱可以根据用户的需求进行定制，比如L型、T型、V型、E型、U型等拼接隔振光学平台；2.拼接光学平台一般采用无缝拼接、插销式拼接等方式3.拼接平台的台面采用钢制芯夹板结构，具有重量轻、高阻尼、高刚度等优点4.其中高分子复合橡胶垫提供对高频振动的隔振能力，阻尼隔振或气浮隔振可按照需求进行选择技术指标：1.平面度： 0.05mm/m22.表面粗糙度： 0.8μm3.固有频率：1.2Hz～1.8Hz4.振幅： 5μm5.接受客户任意规格定制生产

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

光学频率梳-飞秒光学频率梳-掺 Er 光纤光学频率梳飞秒光学频率梳，使光学频率测量领域发生了前所未有的改变。近年来，作为新一代飞秒光梳技术的掺 Er 光纤光学频率梳，成为飞秒光梳技术发展的主流方向，已逐步突破时间频率领域，成为许多高端研究领域的基础性科学仪器。我国诸多科学和应用研究对飞秒光学频率梳的需求严重依赖进口。 掺 Er光纤光学频率梳主要由光学系统和电学系统两大部分组成，其中光学系统由掺 Er光纤飞秒激光器、掺 Er 光纤飞秒放大器、光谱展宽、f-2f 干涉仪组成，电学系统由重复频率锁定系统和载波包络偏移频率锁定系统组成，从而实现掺 Er 光纤光学频率梳的精密锁定。中国计量科学研究院研制高稳定性掺 Er 光纤光学频率梳主要解决了红外波段倍频程光谱展宽技术、高信噪比 f0 信号获取技术、可见光波段获取技术、单点倍频技术、长时间连续锁定等关键性技术难点。掺 Er光纤光学频率梳具有 40dB 的高信噪比 f0 信号，并进一步实现了月以上的长时间连续锁定，同时完成可见光波段的扩谱，使掺 Er 光纤光学频率梳的光谱范围覆盖到多个典型稳频激光以及原子、离子光钟的钟激光波长，为我国国家波长基准建设以及光钟的研究提供了技术保障。 随着光纤光梳技术的发展和不断成熟，掺 Er 光纤光学频率梳的可靠性进一步增强，在时间频率计量、光学频率计量、超稳微波源、绝对长度计量、高精密光谱学、温室气体监测、健康诊断、环境监测等领域的作用和地位将进一步增强。 掺 Er 光纤光学频率梳参数：中心波长（nm）：1530 光谱宽度（nm）：＞50脉冲宽度（fs）：100 输出功率（mW）：150 或扩展更高功率重复频率（MHz）：200 重复频率调节范围（MHz）：1（位移台）重复频率调节范围（kHz）：1.5（压电陶瓷）内部波长扩展范围（nm）：1100~2200 外部波长扩展范围（nm）：500~1064 或其他波段梳齿线宽（Hz）：3（锁定至 Hz 量级线宽光频）f0 信噪比（dB）：40 连续锁定时间（天）：30与外激光拍频信噪比（dB）：35准确度：E-14 量级@120 s 或与参考源相同（以先达到的为准）稳定度：5E-13@1 s 或与参考源相同（以先达到的为准） 1）工作中的掺 Er 光纤光学频率梳2）掺 Er 光纤光学频率梳输出光谱3）掺 Er 光纤光学频率梳向可见光波段扩展4）掺 Er 光纤光学频率梳的载波包络偏移频率 f0信号5）掺 Er 光纤光学频率梳重复频率 fr和载波包络偏移频率 f0的连续锁定 光学频率梳-飞秒光学频率梳-掺 Er 光纤光学频率梳