测量镜

飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起，孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统，创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具，用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量，实现样品孔径可视化分析，并生成数据统计报告。应用该系统，可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作，提高工作效率- 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化

测量放大镜， 7x ，标准米制比例尺，手电筒型。

测量放大镜，10x ，标准米制比例尺，手电筒型。

测量标尺：测量范围：0-10mm 测量精度：0.1mm 角度：0-90° 精度：1° 产品编号 型号 放大倍率 刻度直径 尺寸 刻度精度 ZB-IP754 Peak 2037 30X --- &Phi 30mm × 19mm 0.05mm ZB-IP753 Peak 2016 15X --- &Phi 35mm × 36mm 0.1mm ZB-IP752 Peak 1983 10X 35mm &Phi 46mm × 44mm 0.1mm ZB-IP751 Peak 1975 7X 26mm &Phi 36mm × 44mm 0.1mm

测量放大镜，10x ，标准米制比例尺，手电筒型。

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隐形眼镜测量的唯一方法。

JHYC静态应变测量与采集设备应用范围1.适用于测点相对集中，被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量，也可用于长期监控测量。JHYC静态应变测量与采集设备功能特点1.全数字电路，精度高，稳定性好，具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路，每通道独立AD、独立MCU，所有通道同步采样，仪器检定指标达到0.1级，显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术，系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量，功能强大，性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器，实现你所需要的物理量的测测量，操作简单方便。3.具有多种补偿方式，能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。尤其是公共补偿方式，可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿，避免了繁琐的桥路补偿，节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计，闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方，省掉一切不必要的端口，简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示，一目了然。5.设置简单，操作方便快捷，海量存贮适合各种应变花和传感器，仪器桥路和配置采用菜单式设计，只需选择测量类型，软件控制仪器完成自动配置和清零，全量程自动平衡，不损失测量范围，无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便，主机与计算机usb接口连接，即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量，数据存储量取决于计算机硬盘大小。 6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中，如出现意外断电，仪器可自动保存断电前的所有测量数据，并自动形成测量文件，防止意外丢失测量数据。JHYC静态应变测量与采集设备软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作，所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置，程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数，完成信号的实时采集、处理、分析等功能，具有多种显示方式。2.应变实时显示，被测物理量直接显示多通道应变值实时显示，实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度，完成被测物理量单位量纲的归一化，并直接显示被测物理量。3.数据实时保存，自动生成报表，功能多样软件可对历史数据回放浏览，具有多样的浏览工具、截图工具，浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告，在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型，简单方便可根据每通道接入的传感器类型，各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能，可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能，对历史数据进行滤波，微分和积分计算，数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商，种类多样，型号齐全，欢迎广大客户咨询！

测量放大镜， 15x，米制比例尺

测量放大镜， 15x，标准米制比例尺，内含照明装置。

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测量放大镜， 15x，米制比例尺

COL准直镜系列版本：Version 1.0 1. 产品简介COL-UV-10是配套光纤用于准直和聚焦的光谱采样附件（简易透射测量，量子荧光）；适用于200-2500nm光谱范围。COL-UV-10采用焦距为10mm，直径6.3mm的石英透镜。光束经过透镜后(通过芯径为600um, N.A=0.22的光纤)，发散角度小于2°(取决于光纤的芯径)。螺纹3/8-24UNF； COL90-UV-10是光谱测量应用常规配件，主要用于配合光纤实现光束准直和聚焦，焦距10mm，通光口径5mm；光谱范围200-2500nm。COL90-UV-10内部放置45°分束镜片，可将分束光转置90°输出 2. 产品外观准直镜COL-UV-10直角准直镜COL90-UV-10 3. 规格参数型号COL-UV-10COL90-UV-10透镜直径6.3mm6.3mm有效通光口径6mm5mm透镜焦距10 mm透镜材料紫外级熔石英波长范围200-2500nm发散角度＜2°（@600μm, N.A=0.22光纤为例）光纤接头SMA 905, UNS 1/4"(标准配置)，接头位置可调反射镜反射率无90% (200-1100nm)外壳材料发黑氧化铝螺纹UNF 3/8"-24无工作温度范围-30℃ to 100℃ (-HT 版本 200℃) 5. 产品特点? 优化的设计可确保光纤在每个接触器件上获得相同的位置；? 良好的黑色涂层可以有效的减少杂散光；? 优化的光学设计，最高输出窗口直径达到6mm；? SMA接口? 良好的石英透镜。 6. 有效通光谱图

传感器通过专利技术安装在植物上，保持稳定测量，对测点压力小。适于直径为3-30厘米的植物。 优点：适用于直径为3-30厘米测量直径变化对植物无损伤 对测点压力极小可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量可按植物的大小订购 技术参数： 参数描述适用于树杆直径3~30厘米传感器测量范围11 毫米复调测量范围3~30厘米 准确度±2微米（12位数采）分辨率0.001微米线性系数1%传感器的温度系数0.1微米/度工作条件温度范围 -30 – 40 °C, 湿度范围 0-100％ 产地：德国

测量放大镜，放大倍数30x，0.05mm刻度，带有照明灯。

DD-S是专门用于农作物，小乔木，灌木和树枝的直径生长测量。适合直径小于5厘米的植物。独特的安装技术保正非常稳定的测量结果。 优点：适用于小树和农作物植物不承担DD-S的自重测量直径变化对植物无损伤 对测点压力极小可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量可按植物的大小订购 技术参数 名称小型直径生长测量仪 DD-S适用于树杆直径5厘米传感器测量范围11 毫米复调测量范围0-5厘米 （可扩大）准确度± 2微米（12位数采）分辨率0.001微米线性系数1%传感器的温度系数0.1微米/度工作条件温度范围 -30 – 40 °C, 湿度范围 0-100％ 产地：德国

测量放大镜，放大倍数30x，0.05mm刻度，带有照明灯。

产品特点： u 以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。u 除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。 产品规格： 样品对应尺寸20mm×20mm～大型尺寸玻璃基板（2000mm×2000mm以上）液晶层间隙测量范围0.1μm～数十μm液晶层间隙测量再现性±0.005μm检测器分光光谱仪测量波长范围400～800nm光学系统偏光光学系统消光率10-5方解石偏光（Gran-tomson prism）自动旋转（角度 精度0.1o）自动装卸装置测量口径Φ2，5，10（mm）光轴倾斜角度-10～45o（选配功能）重量约60kg光学配件： 相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料

北京核地FD216环境氡、土壤氡测量仪， 说明书，操作指南，售后服务，特点销售热线：15300030867，欢迎您的来电咨询！1.体积小、重量轻，便于携带。2.灵敏度高、功耗低，交、直流两用，直流电源可支持仪器工作30h。3.USB数据传输接口，蓝牙打印。北京核地FD216环境氡、土壤氡测量仪，说明书，操作指南，售后服务，特点，技术性能 1.灵敏度：≥0.68cpm/[Bq?m-3]2.本底计数率：≤0.3cpm3.测量范围环境空气氡：（3～100000）Bq/m3土壤氡：（300～300000）Bq/m3氡析出率：（0.001～10.000）Bq/[m2?s]水中氡：（0.003～100）Bq/L4.测量重复性误差：≤5%（氡室浓度2000Bq/m3，环境湿度65%，温度25℃）。5.长期稳定性（8h）误差:≤10%6.电源：锂离子充电电池/交流电，电池供电可连续工作30h。 7.工作环境温度：-10℃～+40℃湿度：相对湿度≤90%（+40℃）8.探测器：硫化锌ZnS(Ag)和光电倍增管组合系统9.数据存储：可存储2000个数据10.操作模式：单点检测或连续监测11.显示器：LCD液晶显示12.取气方式：主动泵吸式13.测量时间空气氡：31min土壤氡：11min氡析出率：30min水中氡：31min14.打印数据：日期、时间、点号和检测结果15.尺寸：（330×210×170）mm16.重量：5㎏（主机）北京核地FD216环境氡、土壤氡测量仪， 说明书，操作指南，售后服务，特点，认证中国计量科学研究院检定并出具检定证书

DC2是C1改进版本。钢丝绳的拉力改为径向设置。这样钢丝绳对树的压力和树径无关，不同树径的测量结果可直接比较。传感器通过一个由热膨胀系数最低的合金制成的钢丝绳固定在树上。用小塑料环减少钢丝绳对树的压力，并减少摩擦阻力，大大提高灵敏度。 优点适合于所有直径大于 5厘米的树钢丝绳对树的压力和树径无关，不同树径的测量结果可直接比较钢丝绳的拉力根据树径自动调整，反应敏感 对植物无损伤 可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量易于安装 技术参数 名称DC2周长生长测量仪2 型适用于树杆直径 5厘米传感器测量范围15 毫米复调测量范围无限准确度± 2微米（12位数采）分辨率0.001微米线性系数2%传感器的温度系数0.1微米/度钢丝绳热膨胀系数1,4 ×10-6/K工作条件温度范围 -30~40 °C, 湿度范围 0~100％ 产地：德国

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硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

三坐标测量仪配件侧头 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

JHYC应变应力测量系统应用范围1.适用于测点相对集中，被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量，也可用于长期监控测量。JHYC应变应力测量系统功能特点1.全数字电路，精度高，稳定性好，具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路，每通道独立AD、独立MCU，所有通道同步采样，仪器检定指标达到0.1级，显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术，系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量，功能强大，性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器，实现你所需要的物理量的测测量，操作简单方便。3.具有多种补偿方式，能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。尤其是公共补偿方式，可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿，避免了繁琐的桥路补偿，节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计，闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方，省掉一切不必要的端口，简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示，一目了然。5.设置简单，操作方便快捷，海量存贮适合各种应变花和传感器，仪器桥路和配置采用菜单式设计，只需选择测量类型，软件控制仪器完成自动配置和清零，全量程自动平衡，不损失测量范围，无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便，主机与计算机usb接口连接，即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量，数据存储量取决于计算机硬盘大小。 6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中，如出现意外断电，仪器可自动保存断电前的所有测量数据，并自动形成测量文件，防止意外丢失测量数据。JHYC应变应力测量系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作，所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置，程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数，完成信号的实时采集、处理、分析等功能，具有多种显示方式。2.应变实时显示，被测物理量直接显示多通道应变值实时显示，实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度，完成被测物理量单位量纲的归一化，并直接显示被测物理量。3.数据实时保存，自动生成报表，功能多样软件可对历史数据回放浏览，具有多样的浏览工具、截图工具，浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告，在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型，简单方便可根据每通道接入的传感器类型，各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能，可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能，对历史数据进行滤波，微分和积分计算，数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商，种类多样，型号齐全，欢迎广大客户咨询！

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪： 1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用； 2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点： × 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径； * 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池； × 同时测量多个晶圆或太阳能电池； × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力； * 对晶圆表面进行图像分析； * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆； * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数： × 翘曲度测量范围：1-20微米； * 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间； * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）； * 光源：根据用户的应用而配备不同光源； * 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

型　　号： double pore 品　　牌： 瑞士Hamilton 价　　格： 基本货期： 实验室用于食品测量的电极double pore主要技术指标： 测量范围 2...11 2..14 实验室用于食品测量的电极double pore详细技术指标： 型号 238050 238285 238400 测量范围 2...11 2..14 2...14 温度范围 -20...80℃ -10...80℃ 0...50℃ 电极材质 玻璃 玻璃 玻璃 温补 无无 无 隔膜 陶瓷 3*陶瓷 2*开孔 参考电极 EVEREF EVEREF Ag/AgCI 参考电极溶液 Protelyte Protelyte Polymer 电极头 S7 S7 S7 电极长 120mm 120mm 25mm 电极直径 12mm 12mm 6m 敏感膜外型 Conical 圆柱 Spear tip

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

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