测厚计

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

厚立体袋用封口机 厚物ガゼット用ポリシーラー SEALER 编号 型号 封口尺寸（宽× 长mm） 主体尺寸（mm） 价格 6-9467-01 FT-130 10× 120 230× 340× 250 ¥ 5,700.00 6-9467-02 FT-230 10× 220 320× 360× 250 ¥ 7,200.00 6-9467-11 FT-130用维修套件 ¥ 580.00 6-9467-12 FT-230用维修套件 ¥ 810.00 特点 · 轻轻转动手柄操作，便可产生约100㎏的封口压力的强力型封口机。 · 通过上下加热的方式产生高热进行封口，可用于较厚的立体袋等材料。 规格 · 封口能力：0.5mm（聚乙烯2张以上的合计厚度） · 电源：FT-130／AC100V　50/60㎐ 　1050W、FT-230／AC100V　50/60㎐ 　1230W · 电源线长：3.0m（2P型）　 · 重量：FT-130／6.7㎏、FT-230／9.7㎏ · 维修套件内容：电热丝、特氟隆® 玻璃胶带、Sarcon硅胶片、硅橡胶

加厚磨口试剂玻璃瓶 带盖棕色广口瓶由上海书培实验设备有限公司提供，磨口试剂瓶材质采用优质玻璃，适用于各大高校、试验单位。产品规格齐全，欢迎新老客户来电咨询选购。加厚磨口试剂玻璃瓶 带盖棕色广口瓶产品介绍：磨口试剂玻璃瓶用于固体试剂，细口用于液体试剂，棕色用于避光试剂，磨砂口用于密封防止试剂变潮和浓度变化。加厚磨口试剂玻璃瓶 带盖棕色广口瓶产品规格：产品名称容量(ml)高（cm）瓶底外直径（cm）瓶口外直径（cm）价格（元）磨口试剂瓶透明306.53.5 2.86磨口试剂瓶透明607.54.23.59磨口试剂瓶透明12510.55.54.213磨口试剂瓶透明25012.56.5515磨口试剂瓶透明5001685.517磨口试剂瓶棕色306.53.52.88磨口试剂瓶棕色607.54.23.510 磨口试剂瓶棕色12510.55.54.214磨口试剂瓶棕色25012.56.5516磨口试剂瓶棕色5001685.518产品使用注意事项：一：根据盛装试剂的理化性质选用所需试剂瓶的一般原则是：盛装固体试剂一一选用广口瓶，盛装液体试剂——选用细口瓶，盛装见光易分解或变质的试剂一一选用棕色瓶，盛装低沸点易挥发的试剂一一选用有磨砂玻璃试剂瓶，盛装碱性试剂一选用带橡胶塞试剂瓶等等。若试剂具有上述多项理化指标时，则可根据以上原则综合考虑，选用适宜的试剂瓶。二：有塞磨口试剂瓶不使用时，要在瓶塞与瓶口磨砂面间夹上纸条，防止时间久了粘连。磨口试剂瓶不能用于加热。也不能注入骤冷骤热的试剂，更不能在瓶内配置溶液。和久存浓碱、浓盐溶液。三：有些特殊试剂，不能用玻璃试剂瓶而选用塑料瓶盛装。容器类玻璃仪器，除上述几种外，还根据取存液体时的不同要求另有二口瓶、三口瓶、四口瓶、下口瓶（又称龙头瓶）等各种类型供选用。

产品信息：柱后反应 T 形接头*T 形柱末端接头(TCEF)在标准的流路垂直部位有一个第三通路。* 允许柱后衍生化，或者可用作柱前衍生化流路的柱入口接头。*标准材料：316 型不锈钢。订购信息：柱后反应 T 形接头柱外径锥形外径入口/出口外径孔径侧路外径孔径货号1/16"1.0 mm1/32"0.25 mm1/32"0.25 mmTCEF1.5.5C1/32"0.90 mm1/32"0.25 mmTCEF1.5.5T1/16"0.25 mm1/16"0.25 mmTCEF1111/8"1.0 mm1/16"0.50 mm1/16"0.50 mmTCEF2111/16"1.65 mm1/16"0.40 mmTCEF211T1/4"4.6 mm1/16"0.25 mm1/16"0.25 mmTCEF411C1/16"0.75 mm1/16"0.75 mmTCEF4111/16"1.65 mm1/16"0.75 mmTCEF411T1/8"0.75 mm1/16"0.75 mmTCEF4213/8"6.0 mm1/16"0.75 mm1/16"0.75 mmTCEF6111/16"1.65 mm1/16"0.75 mmTCEF611T1/2"9.0 mm1/16"0.75 mm1/16"0.75 mmTCEF8111/16"1.65 mm1/16"0.75 mmTCEF811T

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

上海新诺 防开裂加宽模具 冷压加厚模具 粉末制样模具 压片机配件模具概述： 防开裂加厚加宽圆柱形模具，，适用于使用压力较大的用户。常用模具压片尺寸：Ф3-Ф20mm；其它特殊模具尺寸、规格、形状、材质等可根据客户需求定做。本公司商品信息均来自于厂商提供资料、网页、宣传册等，质量可靠，保证正品！但由于新广告法规定不得出现绝对化和功能性描述用词，以及写有没写号或已过期等情况，我司已在逐步排查和修改完善。也欢迎用户协助反馈，我司将赠送精美小礼品一份。并在此郑重表态：我司所有页面存在的极限词或违禁词全部失效，不接受不妥协以任何形式的“打假名义”进行网络欺诈，请为真正的消费者让路，也请各位职业“打假高手”高抬贵手。

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点 1、采用精密花岗岩工作平台，精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度：0.001mm 产品规格尺寸：200mm×150mm×320mm

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

改进型SimulScan双级检测器改进型双级检测器与前一代产品相比具有更好的稳定性和更长的使用寿命。2005年4月以后生产的ELAN仪器配有可兼容这种检测器的适当电子器件，不需要进行改装。2005年4 月之前生产的E L A N 仪器需要对检测器电子器件（W1013195）进行一次性升级。在一台未配备升级后电子器件的仪器内使用这种检测器将会提高噪音水平并缩短使用寿命。订货信息：所适用的ICP-MS型号部件编号ELAN 9000/6x00/DRCs*N8125050

收集极后盖G1535-80520FPD 光电倍增管(PMT) 和固定架组件说明部件号收集极后盖G1535-80520加热器/传感器组件G1535-60610传输管线支架19256-00320固定架/支架G1535-00010硫滤光片，7890 和较新型号的6890* 1000-1437硫滤光片，蓝色，早期型号6890* 19256-80000磷滤光片19256-80010滤光片垫片，仅与火焰光度检测器硫滤光片配合使用（部件号1000-1437） 19256-20910PMT 腔体组件19256-60510双FPD 排放管，前G1535-00030

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

配件编号：A027955产品名称：1 Silencer R1/8 (Without VUV)适用于美国热电公司（Thermo Fisher Scientific）ARL3460，4460 直读光谱仪配件

检测器部件号 :G1535-80520Chimney back cover检测器主体后盖

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪 ，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10. 环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11. 防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12. 绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13. 表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω 14. 静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15. 数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16. 防爆对讲机√防爆对讲17. 标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18. 钢卷尺√√分辨率：0.01m19. 游标卡尺√√量程：0-150mm20. 防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

激光甲烷探测器是德国进口的高精度甲烷浓度探测仪器，它采用全球领先的调谐二极管激光吸收光谱技术（TDLAS），能够在60米远的距离高精度探测甲 烷浓度,瓦斯浓度和甲醇浓度，探测灵敏度高达1ppm,探测速度高达0.1秒。激光甲烷探测器特点可探测60米外的甲烷瓦斯甲醇浓度，超级安全，非常适合危险区域作业超级紧凑，超轻设计，装入口袋即可携带操作方便，手持式操作，如同使用大哥大超级易用，一键即可获得结果是最快最安全的高精度瓦斯浓度探测器激光甲烷探测器参数尺寸：70x179x42毫米重量：600克探测气体：甲烷,瓦斯，CH4技术原理：可调谐二极管激光吸收光谱技术TDLAS探测距离：高达60米测量范围：1-50000ppm.m测量精度：+/-10%@100ppm.m测量速度： 约0.1秒报警声响：72-76dB电池：可充电NIMH电池充电时间：4小时电池续航：充满后工作6小时工作环境温度：-17到50摄氏度工作环境湿度：30-90%RH

7000 三重四极杆后部分析器室7000 三重四极杆后部分析器室项目说明单位部件号1高真空润滑脂25 g6040-02892电子倍增器角管—G7000-80103低噪声电子倍增器角管—G3170-80103

重要提示：本产品网页标价为随机发布参数，产品具体准确价格请联系客服空心阴极灯使用说明1：灯电流的选用。用户应根据自己使用的仪器，及分析灵敏度要求选择，我们仅提供灯允许使用的最大工作电流值，用户选择使用的电流值，一般应在灯最大工作电流的1/3至1/4左右，以便延长灯的使用寿命。 2：灯使用前，应将灯的输出窗擦净，以免影响发射强度。灯点亮后，避免目光直视，以防紫外光伤目。3：低熔点易挥发元素灯，避免大电流长时间使用，用毕须待阴极灯冷却后方可移动。4：发现灯的辉光颜色变淡时，可用25—30mA反向灯电流处理，待辉光颜色恢复正常后，即可使用。5：管基为标准大八脚，1（5）脚为阴脚，3（7）脚为阳脚。6：一般元素灯的寿命为5安时以上，易挥发，低熔点元素灯寿命3安时以上。空心阴极灯的维护（1）打开灯电源开关后，应慢慢将电流调至规定值，聚然将灯电流升至规定值会使阴极表面发生喷射，影响灯的使用寿命，严重时还会使阴极遭道到破坏。 (2)空心阴极灯如长期搁置不用，将会因漏气、气体吸附等原因而不能正常使用，甚至不能点燃。所以，每隔3—4个月，应将不常用的灯通电点燃2—3小时，以保持灯的性能并延长其使用寿命。 (3)空心阴极灯使用一段时间以后会衰者，致使发光不稳，强度减弱，噪声增大和灵敏度下降。在这种情况下可用激活器加以激活。或者把空心阴极灯的阴极和阳极反接后在规定的最大工作电流通电半小时。多数空心阴极灯在经过激活处理后其使用性能在一定程度上得到恢复，延长灯的使用寿命。 (4)使用低熔点元累(如As、Se等)的空心阴极灯时，应避免有较大的振动，用毕不能立即更换其他灯，需要冷却后再换。

厚壁锡囊 Heavy-walled Tin capsules, pressed货号参照货号 规格 包装CN01244压制的锡囊5x9mm250个/盒CN01245压制的锡襄5x9mm100个/盒CN01253压制的锡囊6x11mm100个/盒CN01261-1压制的锡囊10x10mm55个/盒501-059光滑壁锡襄 5x13mm100个/瓶502-040光滑壁锡襄6x16mm100个/瓶502-167光滑壁锡襄8x20mm100个/瓶囊托 Capsules holder tray货号: CN13010规格: &varphi 7x7mm产品简介：厚壁锡襄: 用于无机物或金属ONH分析装粉状样品襄托:适用于5x9mm、6x11mm的襄装样称量的模板

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

【概述】硝基呋喃类药物因有非常好的抗菌作用和药动力学的特性， 曾被广泛应用，作为禽类、水产和猪促生长的添加剂。但在长时 间的实验研究过程中发现，硝基呋喃类药物和代谢物均可以使实 验动物发生癌变和基因突变，正因为如此才导致此类药物禁止在 治疗和饲料中使用。呋喃唑酮在 1995 年被禁用。 由于硝基呋喃类药物在体内很快就能被代谢，而在组织中结 合的代谢产物则能存留较长的一段时间，所以在分析此类药物的 残留时经常要分析其代谢后的产物，管理部门就以检测代谢产物 为手段达到检测硝基呋喃类残留的目的。呋喃唑酮代谢产物 AOZ； 呋喃它酮代谢产物 AMOZ；呋喃妥因代谢产物 AHD；硝基糠腙 （呋喃西林）代谢产物 SEM。【检测原理】 试剂盒采用竞争法进行检测，温育结束后，加磁场沉淀，去 掉上清液，用清洗液清洗沉淀复合物，并吸干废液，除去未与磁 性微粒结合的物质，再将反应杯送入测量室中。仪器自动泵入两 种激发液，使复合物产生化学发光信号，通过光电倍增器测量发 光强度。仪器自动通过工作曲线计算得出检测结果。 【适用范围】 可定性、定量检测组织样品中呋喃唑酮代谢物的残留量。【适用范围】 可定性、定量检测组织样品中呋喃唑酮代谢物的残留量。【试剂盒性能参数】 检测限： 组织——0.1 ?g/kg【检测方法】 1.试剂盒为即用型，不能分开使用。 2.使用本试剂盒前请仔细阅读试剂说明书以及全自动化学发光 免疫分析仪的使用说明书，按照相关要求进行测定操作。试剂使 用时，测定仪会自动搅拌磁性微粒，使其处于悬浮状态，如果想 快速进行检测，上机前请手动摇匀磁性微粒。试剂的相关信息可 以自动读取，一次读取相关信息即存入测定仪器，不需反复读取。 3.定标：通过测定高、低值校准品，将预先定义的主曲线上的每 个定标点调整（重新定标）为一个新的、仪器特异的测量水平， 即工作曲线。 4.定标频率：每天进行一次定标，更换不同批号试剂或者激发液 需要重新定标。 【注意事项】 1.使用前请详细阅读说明书，并将试剂水平摇匀。 2.请按照储存方法保存试剂，避免冷冻，冷冻后的试剂质量会发 生变化，请勿使用。 3.避免试剂接触皮肤、眼睛和粘膜，一旦接触，应立即用清水冲 洗接触部位。4.不同试剂盒中各组分不能互换。 【储存条件及有效期】 1.试剂盒于 2~8℃避光未拆封状态下竖直保存，禁止冷冻。 2.有效期为 12 个月，在 2~8℃环境下保存时，稳定性可持续至所 标示的日期；开瓶后低温避光（2~8℃）可保存 1 个月。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

便携式臭氧比色计/（0.00～2.50mg/L）臭氧浓度检测仪/臭氧检测仪由上海书培实验设备有限公司为您提供，水质监测试剂盒和便携式仪器，产品型号齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购。 产品介绍： 臭氧检测仪是专门用于测定水样中的臭氧浓度，其浓度变化范围为0～2.50mg/L，液晶显示屏以mg/L来直接显示臭氧浓度。产品优点：体积小，便于携带，降低对使用人员的要求，并能提供可靠的检测结果。 产品技术参数：测定范围：0.00～2.50mg/L光源：硅光二极管波长：510nm精度：±0.05mg/L(测量值＜1.00 mg/L )±0.10mg/L(测量值＞1.00 mg/L)方法：采用国标DPD方法，臭氧与DPD试剂反应，使样品溶液呈红色。使用环境：温度0～40℃，相对湿度0~90%（无冷凝）电池寿命：1×9V，40小时以上。关机：用完比色计后，按“开/关"关机。尺寸：170×70×30mm重量：200g（含电池） 每套包括：主机一台，比色皿2个，配套试剂100次配套试剂可以单独购买，包装规格为100次/包本产品广泛应用于食品饮料加工、医疗卫生、环保等行业

污染水质应急检测箱深圳市方源仪器有限公司提供污染水质应急检测箱，可快速分析各种污染水质，即适用与野外考察也适用于实验室研究污染水质。 目前，我国已经进入水污染事故的高发期，累计发生的多起突发性水污染事故，其严重性已经得到重视，而应急监测作为突发性水污染事故处理的重要组成部分，对突发性水污染事故处理中的事前预防、事中检测和事后恢复各个过程都能发挥突出作用，本文简单介绍了应急水质监测。 无PF-12光度计的VISOCOLOR快速检测箱VISOCOLOR*ECO 水质应急检测箱检测箱，用于检测铵、碳酸盐硬度、总硬度、硝酸盐、亚硝酸盐、PH和磷酸盐7种参数。编号80161不含试剂的VISOCOLOR*ECO检测箱，最多可组合7种VISOCOLOR*ECO测试试剂。编号80080VISOCOLOR检测箱，用于测定碱度、铵、总硬度、亚硝酸盐、PH值、磷酸盐、溶解氧和温度编号80041不含试剂的VISOCOLOR*ECO检测箱，最多可组合9种VISOCOLOR*ECO测试试剂和VISOCOLOR*titr测试试剂。编号80230VISOCOLOR*土壤分析检测箱，用于测定营养物质，例如磷、钾和氮。编号80080 产品图片： 3水质快速检测箱中测试盒比色测试原理：比色法：目测法不含危险物品，不会产生环境污染价格便宜，使用方便，测量结果精确包装小巧，便于携带（自带图示操作说明）用量说明清楚地标于试剂瓶上 4，检测箱试剂特点：1.操作简单－非常简单的操作步骤，无需其他辅助耗材2.准确可靠－经典比色法分析，多级别测试要求，用比色卡进行可视的读数3.方便快捷－检测样品只需0－1分钟，户外检测携带方便4.稳定可靠－采用干燥密封盒包装，保质期长达一年半 测试盒：标有5ml刻度的样品试管装有液体试剂或粉末状试剂的彩色编码管用于精确量取固体试剂的测量勺至少5种颜色的比色卡 深圳市方源仪器有限公司

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

Lens Housing | 119650-0420 Lens Housing Ion Trap DSQ适用仪器型号 Focus DSQTrace DSQFocus DSQ IITrace DSQ II订货信息：部件号品名描述数量119650-0420Lens HousingLens Housing Ion Trap DSQEA