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寒暑表

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寒暑表相关的资讯

  • 科学家辐照缺陷影响热离子发电器件石墨烯电极功函数研究获进展
    近期,中科院合肥研究院核能安全所在辐照缺陷影响热离子发电器件石墨烯电极功函数研究方面取得新进展,研究成果发表在国际材料薄膜领域期刊 Applied Surface Science 上。   石墨烯作为微型堆热离子发电器件电极涂层材料具有巨大的应用潜力,能够显著提升电极表面的电子发射能力。热离子发电器件在服役过程中,电极材料将面临高能粒子的辐照作用,早期的理论计算和实验研究表明,在石墨烯内部辐照诱导的缺陷类型主要是Stone-Wales缺陷、掺杂缺陷和碳空位等。缺陷的产生将会影响电极间隙内碱金属和碱土金属在石墨烯表面的吸附性质,进而改变石墨烯涂层的电子发射性能(功函数)。   针对上述问题,科研人员通过第一性原理计算方法在原子尺度上研究了缺陷石墨烯表面碱金属和碱土金属的吸附和迁移行为。研究结果表明:(1)石墨烯表面缺陷位点作为陷阱对金属原子具有捕获作用,Stone-Wales缺陷和碳空位缺陷附近的金属原子扩散受到了严重的阻碍,在掺杂B或O的石墨烯表面,金属原子迁移势垒也有不同程度的升高;(2)Stone-Wales缺陷、碳空位缺陷及掺杂石墨烯的表面功函数均显著增加,电子发射能力明显降低,这主要归因于电偶极子形成概率的降低以及金属内聚能的增加。本研究工作为石墨烯涂层材料在反应堆热离子发电器件中的应用提供了理论指导。   上述研究工作理论计算部分在合肥先进计算中心完成。图1 热离子能量转换示意图图2 碱金属和碱土金属在原始和含氧缺陷石墨烯表面的迁移行为
  • RIGOL DG4000系列函数/任意波形发生器获“美国R&D100大奖”
    2012年6月21日,美国R&D Magazine宣布,来自北京普源精电科技有限公司(RIGOL)的DG4000系列函数/任意波形发生器获得2012年R&D 100年度产品大奖。R&D 100年度产品大奖,用于表彰年度科技创新产品的一项大奖。是由专家和杂志编辑共同组成的评选专家委员会评出,其评审标准重点在于科技创新产品和与市场需求紧密结合的产品。   R&D 杂志创刊于1959年,是一份工业研究领域的权威杂志。为全世界的科学家、工程师和研发队伍服务。R&D 100年度产品大奖,是用于表彰年度科技创新产品的一项大奖。评审机构均由独立专家、专业顾问、大学教授和工业界的研发人员组成。他们在评审领域中,具有出色的专业技术和经验。评选标准为科技创新产品和与市场需求紧密结合的产品。并且,评审人员与入围产品没有利益关系,做到了公平、公正。 R&D 100 大奖自设立50年以来,已成为全球的高科技领域极为推崇的大奖,被誉为科技界的“创新奥斯卡奖”。   DG4000 系列函数/任意波形发生器,是RIGOL继DS6000系列数字示波器在2011年获得R&D100 大奖后,再次摘得此项大奖,这是中国公司首次两次获奖。如果说DS6000系列获奖,使得RIGOL的产品能够第一次与安捷伦、卡尔蔡司、戴尔、戴安、日立、英特尔、洛斯阿洛莫斯国家实验室、麻省理工大学、三菱、吉时利、美国航空航天局、橡树岭国家实验室、赛默飞世尔、3M等国际公司和著名实验室的创新产品同台交流,RIGOL公司的科技创新能力得到国际的认可,标志着一个中国创造的高技术产品跨入世界主流产品行列 这次DG4000系列再次获奖,则充分体现了RIGOL公司正在创新之路上从突破走向成熟,内部良性的创新机制正在形成 同时这更是对RIGOL公司“不断创新”理念的有力诠释。 全部获奖名单(点击这里) RIGOL DG4000系列函数/任意波形发生器拥有如下的优越性能指标: 1. 标配等性能双通道2. 500MSa/s采样率,14bits垂直分辨率3. 2ppm高频率稳定度,-115dBc/Hz的低相位噪声信号输出4. 高达150种内建波形5. 丰富的模拟和数字调制功能(AM、FM、PM、ASK、FSK、PSK、BPSK、QPSK、3FSK、4FSK、OSK、PWM)6. 标配分辨率达7 digits/s,带宽达200MHz的高精度频率计7. 高达16次的谐波信号发生器功能8. 7英寸高清屏(800x480 pixels) RIGOL化学分析仪器 L-3000高效液相色谱系统,2011年荣获BCEIA金奖 Ultra-6000系列紫外可见分光光度计   RIGOL简介   RIGOL是业界领先从事测量仪器研发、生产和销售的高新技术企业 是中国电子仪器行业协会、中国仪器仪表协会会员。公司拥有国际水准的先进技术,拥有数量众多的专利和计算机操作系统软件著作权,自主知识产权填补了国家空白。   RIGOL坚持自主创新,现已研发并生产了七大系列、数十种产品,具体包括数字示波器、函数/任意波形发生器、数字万用表、虚拟仪器、可编程直流电源、高效液相色谱仪、紫外可见分光光度计和多种数字化测试仪器。产品广泛适用于生产制造、工业控制、广播电视、药物分析、食品安全、环保、化工、农林畜牧和科研教学等诸多领域。公司总部设在北京,苏州设有研发生产基地,上海,深圳,西安,Cleveland(美国)、Munich(德国)设有分公司 在国际市场上,产品已销往全球60多个国家和地区,并在全球50个国家注册了 RIGOL商标。   RIGOL科技园区占地约120亩,是国内技术领先的生产、研发基地,其中技术人员占40%。RIGOL拥有世界领先的SMT产线、精密的CNC数控机床加工中心和注塑车间、先进的影像分析系统及多种生产线设备,建立了一流的生产工艺及严格的质量保证体系,已通过ISO9001质量管理体系认证和ISO14001环保管理体系认证。   RIGOL现有员工400余人。在研发、销售和管理人员中大学本科学历占98%,其中硕士、博士占研发人员的70%。RIGOL将秉承持续为客户创造价值的理念,不断创新,成为测试测量仪器领域的世界级供应商和客户首要选择的商业伙伴。   这里汇聚了诸多博士、硕士和本行业的优秀人才,组成一支具有极强创新意识和能力的精英队伍。其宗旨是开展原创性技术创新和集成性技术创新,确保公司现有产业持续稳定发展和保持长期市场竞争优势。
  • 湖北工业大学程正旺团队:具有匹配带隙和功函数的p–n结促进高效可见光催化析氢
    近日,湖北工业大学理学院(芯片产业学院)程正旺等提出了一种基于匹配带隙和功函数的p-n异质结,不仅促进了可见光吸收,还极大地提高了光生载流子的分离与迁移效率,实现了高效、稳定的PEC可见光析氢。今天小编为大家分享该研究成果,希望对您的科学研究或工业生产带来一些灵感和启发。应用方向:清洁能源,光电催化,分解水制氢,异质结正文:光电催化分解水制氢(H2)为解决能源消耗与环境污染问题提供了重要的解决方案,在实现我国“双碳”战略目标方面具有重要意义。然而,受限于单一催化剂有限的光吸收能力和光生电子-空穴对的复合,导致可见光条件下的光电催化效率并不理想。因此,如何设计和合成高效、稳定的分解水光电催化剂成为领域内的核心课题。针对上述科学问题,湖北工业大学理学院(芯片产业学院)程正旺等提出了一种基于匹配带隙和功函数的p-n异质结,不仅促进了可见光吸收,还极大地提高了光生载流子的分离与迁移效率,实现了高效、稳定的PEC可见光析氢。该工作以“Construction of nanorod-shaped TiO2/Cu3N p–n heterojunction for efficient visible-light hydrogen evolution”为题发表在国际期刊Journal of Materials Chemistry C上。程正旺等采用磁控溅射法,将p型Cu3N薄膜沉积到一维 n型TiO2纳米阵列上,形成了TiO2/Cu3N p-n异质结。得益于合适的能隙和内建电场的协同作用,形成的TiO2/Cu3N p-n异质结不仅将带隙从TiO2的3.09 eV减小到TiO2/Cu3N的2.01 eV,光响应范围也从从紫外区扩展到可见光区域。此外,光生电子-空穴对的分离和转移效率明显改善,平均载流子寿命延长了3倍。进一步地,在 420 nm可见光照射和-0.97 V vs. RHE(可逆氢电极)条件下,光电流密度从TiO2的-0.33 mA/cm2提高到TiO2/Cu3N的-4.66 mA/cm2,提高了约14.12倍。此外,构建的TiO2/Cu3N异质结表现出稳定的PEC析氢性能,相应的可见光分解水产氢速率达到6.98 µ mol/cm2/h。以上结果表明:构建具有合适带隙和功函数的p-n异质结是提高TiO2光电催化性能的一种有效途径,并且有望应用于其他光电催化剂。本项研究为设计和制备高效、低成本、无毒的PEC分解水电极和其他光电子化学应用提供了一条有效的途径。图1. 样品制备流程示意图。图2. TiO2/Cu3N样品的X射线衍射图谱(XRD)。图3. TiO2 (a),Cu3N (b)和TiO2/Cu3N的莫特-肖特基曲线(MS);TiO2/Cu3N界面的TEM图像;理论计算的平面平均电势,(e) TiO2(101),(f) Cu3N(110)。图4. 直接带隙TiO2、TiO2/Cu3N ((αhν)2~hν)和间接带隙Cu3N ((αhν)1/2~hν)的紫外-可见漫反射光谱(DRS) (a)和相应的Tauc图(b)。图5. (a) 稳态光致荧光(PL)光谱,(b) 时间分辨PL (TRPL)光谱。图6. (a) TiO2、Cu3N及TiO2/Cu3N的表面光电压谱(SPV);(b) 在-0.97 V vs. RHE和 420 nm光照射条件下,TiO2、Cu3N及TiO2/Cu3N的光电流密度-电压曲线;(c) 电化学阻抗Nyquist图。图7. (a) TiO2/Cu3N在 420 nm可见光照射下PEC产氢H2的循环稳定性。(b)本研究中TiO2/Cu3N的平均产氢速率与报道的TiO2基异质结结果的比较。图8. 420 nm可见光照射下,TiO2/Cu3N p-n异质结的光生载流子迁移与光电催化分解水析氢机理图。关于此文章的更多细节请查看原文链接:https://doi.org/10.1039/D4TC00916A配置推荐本文中TiO2及TiO2/Cu3N发光测试使用卓立汉光公司的OmniFluo990稳态瞬态荧光光谱仪完成。OmniFluo990为模块化搭建结构,通过搭配不同的光源、检测器和各类附件,为紫外/可见/近红外发光测试提供综合解决方案,也为光电催化分解水制氢催化剂的研发提供有利工具。免责声明 北京卓立汉光仪器有限公司公众号所发布内容(含图片)来源于原作者提供或原文授权转载。文章版权、数据及所述观点归原作者原出处所有,北京卓立汉光仪器有限公司发布及转载目的在于传递更多信息及用于网络分享。 如果您认为本文存在侵权之处,请与我们联系,会第一时间及时处理。我们力求数据严谨准确, 如有任何疑问,敬请读者不吝赐教。我们也热忱欢迎您投稿并发。
  • 许人良:气体吸附测量孔径分布中的密度函数理论
    在气体吸附实验中,一定重量的粉体材料在样品管中通过真空或惰性气体净化加热和脱气以去除吸附的外来分子后,在超低温下被抽至真空,然后引入设定剂量的吸附气体,达到平衡后测量系统中的压力,然后根据气体方程计算出所吸附的量。这个加气过程反复进行直至达到实验所预定最高压力,每一个压力以及单位样品重量所吸附的气体量为一数据点,最后以相对压力(试验压力P与饱和蒸汽压Po之比)对吸附量作图得到吸附等温线。然后从到达最高压力后抽出一定量的气体,达到平衡后测量压力,直到一定的真空度,以同样方法做图,得到脱附等温线。实验的相对压力范围P/Po可从10-8或更高的真空度至1,根据吸附分子的面积σ,使用不同的吸附模型,例如Langmuir或BET公式,即可算出材料的比表面积。然而,从气体吸附得出材料的孔径分布就不那么简单了。当代颗粒表征技术可分为群体法与非群体法。在非群体法中,与某个物理特性有关的测量信号来自于与此物理特性有关的单个“个体”。例如用库尔特计数仪测量颗粒体积时,信号来自于通过小孔的单一颗粒;用显微镜测量膜上的孔径时,测量的数据来自于视场中众多的单个孔。由于这些物理特性源自于单个个体,最后的统计数据具有最高的分辨率,从测量信号(数据)得出物理特性值的过程不存在模型拟合;知道校正常数后,一般有一一对应关系。而在群体法中,测量信号往往来自于众多源。例如用激光粒度法测量颗粒粒度,某一角度测到的散射光来自于光束中所有颗粒在该角度的散射;用气体吸附法表征粉体表面与孔径时,所测到的吸附等温线与样品中所有颗粒的各类孔有关。群体法由此一般需要通过设立模型来得到所测的物理特性值及其分布。群体法表征技术得到的结果除了与数据的质量(所含噪声、精确度等)外,还与模型的正确性、与实际样品的吻合性以及从此模型得到结果的过程有关。几十年前,当计算能力很弱时,或采用某一已知的双参数分布函数(往往其中一个参数与分布的平均值有关,另一个参数与分布的宽度有关),或通过理论分析,建立一个多参数方程,然后调整参数拟合实验数据来得到结果(粒径分布或孔径分布),而不管(或无法验证)此分布是否符合实际。在粒度测量中,常用的有对数正态分布函数、Rosin-Rammler-Sperling-Bennet(RRSB)分布函数、Schulz-Zimm(SZ)分布函数等;在孔径分布中,常用的有Barrett-Joyner-Halenda(BJH)方法,Dubinin-Radushkevich(DR)方法、Dubinin-Astakhov(DA)方法、Horwath-Kawazoe(HK)方法等。随着计算能力的提高,函数拟合过程在群体法粒径测量中已基本被淘汰,而是被基于某一模型的矩阵反演所代替。在激光粒度法中,这个进步能实现的主要原因是球体模型(一百多年前就提出的Mie光散射理论或更为简单的,应用于大颗粒的Fraunhofer圆盘衍射理论)相当成熟,也能代表很多实际样品,除了长宽比很大的非球状颗粒以外。在孔径分析中,尽管函数拟合还是很多商用气体吸附仪器采用的分析方法,但矩阵反演法随着计算机能力的提高,以及基于密度函数理论(DFT)的孔径模型的不断建立与反演过程的不断完善而越来越普及,结果也越来越多地被使用者所接受。在孔径测量方面的DFT一般理论源自于1985年一篇有关刚性球与壁作用的论文[ⅰ]。基于气体吸附数据使用DFT求解孔径分布的实际应用开始于1989年的一篇论文[ⅱ],此论文摘要声称:“开发了一种新的分析方法,用于通过氮吸附测量测定多孔碳的孔径分布。该方法基于氮在多孔碳中吸附的分子模型,首次允许使用单一分析方法在微孔和介孔尺寸范围内确定孔径的分布。除碳外,该方法也适用于二氧化硅和氧化铝等一系列吸附剂。” 该方法从吸附质与气体的物理作用力出发,根据线性Fredholm第一类积分方程从实验等温线数据直接进行矩阵反演的方法算出孔径分布。所建立的密度函数理论针对狭窄孔中的流体结构,以流体-流体之间和流体-固体之间相互作用的分子间势能为基础,对特定孔径与形态的空隙计算气态或液态流体密度在一定压力下作为离孔壁距离的函数,对不同孔径的孔进行类似计算,得出一系列特定压力特定孔径下单位孔容的吸附量。基于这个模型,可以计算某个孔径分布在不同压力下的理论吸附等温线,然后通过矩阵反演过程,以非负最小二乘法拟合实际测量得到的等温线,从而计算出孔径分布的离散数据点。上述文章所用的模型是较简单的均匀、定域的、两端开口的无限长狭缝。自此,随着计算机能力的不断提高,30多年来这些模型的不断复杂化使得模型与实际孔的状况更加接近:从定域到非定域,从一维到二维,从均匀孔壁到非均匀孔壁;孔的形状从狭缝、有限圆盘、圆柱状、窗状,到两种形状共存;从较窄的孔径范围到涵盖微孔与介孔范围,从通孔到盲孔;吸附气体从氮气、氩气、氢气、氧气、二氧化碳,到其他气体;吸附壁从炭黑、纳米碳管、分子筛,到二氧化硅及其他材料[ⅲ];总的模型种类已达四、五十种。矩阵反演的算法也越来越多、越来越完善,同时采用了很多在光散射实验数据矩阵反演中应用的技巧,如正则化、平滑位移等。当前,于谷歌学者搜索“DFT adsorption”,论文数量则高达56万篇,其中包含各类专著与综述文章 [ⅳ] 。相信随着计算技术的不断发展与计算速度的不断提高,DFT在处理气体吸附数据中的应用一定会如光散射实验数据处理一样取代函数拟合法,成为计算粉体材料孔径分布的标准方法。而商用仪器的先进性,也必然会从传统的硬件指标如真空度、测量站、测量时间与参数,过渡到重点衡量经过其他方法核实验证的DFT模型的种类以及矩阵反演算法的稳定性与正确性。参考文献【i】Tarazona, P., Free-energy Density Functional for Hard Spheres, Phys Rev A, 1985, 31, 2672 –2679.【ⅱ】Seaton, N.A., Walton, J.P.R.B., Quirke, N., A New Analysis Method for the Determination of the Pore Size Distribution of Porous Carbons from Nitrogen Adsorption Measurements, Carbon, 1989, 27(6), 853-861.【iii】Jagiello, J., Kenvin, J., NLDFT adsorption models for zeolite porosity analysis with particular focus on ultra-microporous zeolites using O2 and H2, J Colloid Interf Sci, 2022, 625, 178-186.【iv】 Shi, K., Santiso, E.E., Gubbins, K.E., Current Advances in Characterization of Nano-porous Materials: Pore Size Distribution and Surface Area, In Porous Materials: Theory and Its Application for Environmental Remediation, Eds. Moreno-Piraján, J.C., Giraldo-Gutierrez, L., Gómez-Granados, F., Springer International Publishing, 2021, pp 315– 340.作者简介许人良,国际标委会颗粒表征专家。1980年代前往美国就学,受教于20世纪物理化学大师彼得德拜的关门弟子、光散射巨擘朱鹏年和国际荧光物理化学权威魏尼克的门下,获博士及MBA学位。曾在多家跨国企业内任研发与管理等职位,包括美国贝克曼库尔特仪器公司颗粒部全球技术总监,英国马尔文仪器公司亚太区技术总监,美国麦克仪器公司中国区总经理,资深首席科学家。也曾任中国数所大学的兼职教授。 国际标准化组织资深专家与召集人,执笔与主持过多个颗粒表征国际标准 美国标准测试材料学会与化学学会的获奖者 中国颗粒学会高级理事,颗粒测试专业委员会常务理事 中国3个全国专业标准化技术委员会的委员 与中国颗粒学会共同主持设立了《麦克仪器-中国颗粒学报最佳论文奖》浸淫颗粒表征近半个世纪,除去70多篇专业学术论文、SCI援引近5000、数个美国专利之外,著有400页业内经典英文专著《Particle Characterization: Light Scattering Methods》,以及近期由化学工业出版社出版的《颗粒表征的光学技术及其应用》。扫码购买《颗粒表征的光学技术及其应用》
  • 赤峰市元宝山区第一中学685.65万元采购天平,高压灭菌器,搅拌器,生物显微镜,表面张力仪,过氧化氢...
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 赤峰市元宝山区第一中学信息化及实验室设备购置招标公告 内蒙古自治区-赤峰市-元宝山区 状态:公告 更新时间: 2024-05-30 招标文件: 附件1 赤峰市元宝山区第一中学信息化及实验室设备购置招标公告 【发布时间:2024/5/30 】 项目概况 信息化及实验室设备购置招标项目的潜在投标人应在内蒙古自治区政府采购网获取招标文件,并于 2024年06月20日 09时00分 (北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:CFZCYB-G-H-240010 项目名称:信息化及实验室设备购置 采购方式:公开招标 预算金额:6,856,500.00元 采购需求: 合同包1(信息化设备购置): 合同包预算金额:2,584,535.00元 品目号 品目名称 采购标的 数量(单位) 技术规格、参数及要求 品目预算(元) 最高限价(元) 1-1 触摸式终端设备 智慧黑板 29(台) 详见采购文件 916,400.00 - 1-2 其他视频设备 视频展台 29(台) 详见采购文件 34,800.00 - 1-3 触摸式终端设备 电子班牌 52(台) 详见采购文件 145,600.00 - 1-4应用软件 班牌软件 52(套) 详见采购文件 104,000.00 - 1-5 网络存储设备 视频存储器 1(台) 详见采购文件 100,000.00 - 1-6 中型计算机 ▲一体终端设备 48(台) 详见采购文件 264,000.00 - 1-7 中型计算机 分体终端设备 10(台) 详见采购文件 75,500.00 - 1-8 中型计算机 便携式编程终端设备 10(台) 详见采购文件 79,900.00 - 1-9 应用软件 英语听说系统 2(套) 详见采购文件 330,000.00 - 1-10 信息化设备零部件 听说考试专用耳机 102(个) 详见采购文件 50,490.00 -1-11 应用软件 机房教学软件 102(点) 详见采购文件 15,300.00 - 1-12 教学、实验用桌 教师演示台 1(张) 详见采购文件 6,950.00 - 1-13 教学、实验用桌 学生实验桌 8(张) 详见采购文件 55,600.00 - 1-14 教学、实验椅凳 实验凳 48(张) 详见采购文件 6,240.00 - 1-15 其他信息化设备 科学套装个人学习版套装 10(套) 详见采购文件 3,850.00 - 1-16 其他信息化设备 科学套装 20(套) 详见采购文件 156,000.00 - 1-17 其他信息化设备 科学套装主题拓展包 20(套) 详见采购文件 65,000.00 - 1-18 其他信息化设备 央馆-科创专项赛挑战套装(含赛纸) 1(套) 详见采购文件 8,500.00 - 1-19 其他信息化设备 挑战赛项场地套装 1(套) 详见采购文件 4,500.00 - 1-20 其他信息化设备 智能探测机器人-场地套装 1(套) 详见采购文件 4,500.00 - 1-21 其他信息化设备 工程套装 10(套) 详见采购文件 34,500.00 - 1-22 其他信息化设备 智能小车主题包 10(套) 详见采购文件 26,000.00 - 1-23 其他生产辅助用电器 智能系统控制柜 1(台) 详见采购文件 12,500.00 - 1-24 其他电源设备 顶部多模块电源供应装置 9(个) 详见采购文件 5,265.00 - 1-25 其他电源设备 模块储藏装置 9(个) 详见采购文件 6,120.00 - 1-26 其他电源设备 低压电源模块 18(个) 详见采购文件 10,530.00 - 1-27 其他电源设备 高压电源模块 18(个) 详见采购文件 2,970.00 - 1-28 其他照明设备 智能照明 9(组) 详见采购文件 2,520.00 - 1-29 其他生产辅助用电器 智能升降机构 9(个) 详见采购文件 40,500.00 - 1-30 其他塑料制品、半成品及辅料 辅材辅料及安装调试 1(项) 详见采购文件 16,500.00 - 本合同包不接受联合体投标 合同履行期限:合同签订后45个日历日内交货并安装调试完毕 合同包2(实验室设备购置): 合同包预算金额:4,271,965.00元 品目号 品目名称 采购标的 数量(单位) 技术规格、参数及要求 品目预算(元) 最高限价(元) 2-1 教学、实验用桌 教师演示台 9(张) 详见采购文件 62,550.00 - 2-2 教学、实验用桌 ▲学生实验桌 216(张) 详见采购文件 399,600.00 - 2-3 教学、实验椅凳 实验凳 432(条) 详见采购文件 56,160.00 -2-4 其他生产辅助用电器 (物理)全智能系统控制箱 4(台) 详见采购文件 27,200.00 - 2-5 其他生产辅助用电器 (物理)智能控制屏 4(套) 详见采购文件 18,600.00 - 2-6 其他生产辅助用电器 app吊装控制系统 12(项) 详见采购文件 26,400.00 - 2-7 其他生产辅助用电器 温湿度探测系统 12(项) 详见采购文件 15,000.00 - 2-8 其他试验仪器及装置 吊装主体框架 84(套) 详见采购文件 714,000.00 - 2-9 其他试验仪器及装置 顶装固定支架护罩 84(只) 详见采购文件 138,600.00 - 2-10 其他生产辅助用电器 (物理)智能摇臂升降系统 52(个) 详见采购文件 122,200.00 -2-11 其他无线电通信设备 电源供应模块 156(组) 详见采购文件 190,320.00 - 2-12 其他生产辅助用电器 急停装置 156(组) 详见采购文件 28,860.00 - 2-13 其他有线传输线路 实验室布线 12(项) 详见采购文件 36,000.00 - 2-14 其他照明设备 智能照明 156(套) 详见采购文件 43,680.00 - 2-15 其他塑料制品、半成品及辅料 系统安装辅件 12(项) 详见采购文件 60,000.00 - 2-16 教学、实验用桌 准备台 6(张) 详见采购文件 29,700.00 - 2-17 文件柜 仪器柜 33(个) 详见采购文件 70,950.00 - 2-18 教学、实验椅凳 教师转椅 9(把) 详见采购文件 4,410.00 - 2-19 槽 水槽柜 100(个) 详见采购文件 145,000.00 - 2-20 其他试验仪器及装置 三联水嘴 99(个) 详见采购文件 36,135.00 - 2-21 其他生产辅助用电器 (化学)全智能系统控制箱 4(台) 详见采购文件 27,200.00 - 2-22 其他生产辅助用电器 (化学)智能控制屏 4(套) 详见采购文件 18,600.00 - 2-23 其他生产辅助用电器 (化学、生物)智能摇臂升降系统 104(个) 详见采购文件 244,400.00 - 2-24 其他试验仪器及装置 (化学)自动给排水系统 52(套)详见采购文件 101,400.00 - 2-25 其他试验仪器及装置 (化学)给排水接口 52(套) 详见采购文件 50,960.00 - 2-26 其他有线传输线路 风机电缆线 4(套) 详见采购文件 2,000.00 - 2-27 其他塑料制品、半成品及辅料 万向伸缩吸风罩 100(个) 详见采购文件 37,000.00 - 2-28 排烟系统 室内外通风系统 4(项) 详见采购文件 22,000.00 - 2-29 离心式风机 风机 4(套) 详见采购文件 23,200.00 - 2-30 其他音频设备 消音器 4(套) 详见采购文件 2,200.00 - 2-31 其他有线传输线路 风机软连接4(套) 详见采购文件 1,200.00 - 2-32 其他有线传输线路 风机控制线 4(项) 详见采购文件 4,000.00 - 2-33 文件柜 毒害品储存柜 2(个) 详见采购文件 11,700.00 - 2-34 文件柜 易燃品储存柜 2(个) 详见采购文件 11,700.00 - 2-35 冲洗机 洗眼器 2(套) 详见采购文件 990.00 - 2-36 其他生产辅助用电器 (生物)智能控制屏 4(套) 详见采购文件 18,600.00 - 2-37 其他试验仪器及装置 (生物)自动给排水系统 52(套) 详见采购文件 50,960.00 - 2-38 其他试验仪器及装置(生物)给排水接口 52(套) 详见采购文件 67,600.00 - 2-39 其他生产辅助用电器 (生物)全智能系统控制箱 4(台) 详见采购文件 27,200.00 - 2-40 输送管道 给排水布管 8(项) 详见采购文件 21,200.00 - 2-41 文件柜 药品柜 2(个) 详见采购文件 4,900.00 - 2-42 文件柜 标本柜 2(个) 详见采购文件 4,900.00 - 2-43 其他试验仪器及装置 计算器 30(个) 详见采购文件 1,050.00 - 2-44 其他试验仪器及装置 钢制黑板 4(块) 详见采购文件 392.00 - 2-45 其他试验仪器及装置 打孔器 6(套) 详见采购文件 84.00 - 2-46 其他试验仪器及装置 直联泵 3(台) 详见采购文件 2,340.00 - 2-47 其他试验仪器及装置 两用气筒 2(个) 详见采购文件 76.00 - 2-48 其他试验仪器及装置 抽气筒 2(个) 详见采购文件 90.00 - 2-49 其他试验仪器及装置 打气筒 2(个) 详见采购文件 92.00 - 2-50 其他试验仪器及装置 抽气盘 2(套) 详见采购文件 270.00 - 2-51 其他试验仪器及装置 充磁器 2(台) 详见采购文件 380.00 - 2-52 其他试验仪器及装置 望远镜 2(个) 详见采购文件 190.00 - 2-53 其他试验仪器及装置 酒精喷灯 8(个) 详见采购文件 1,008.00 - 2-54 其他试验仪器及装置 透明盛液筒 2(个) 详见采购文件 88.00 - 2-55 其他试验仪器及装置 透明水槽 3(个) 详见采购文件 195.00 - 2-56 其他试验仪器及装置 方座支架 30(套) 详见采购文件 2,550.00 - 2-57 其他试验仪器及装置 三脚架 30(个) 详见采购文件 300.00 - 2-58 其他电源设备 高中学生电源 30(台) 详见采购文件 10,170.00 - 2-59其他电源设备 高中教学电源 3(台) 详见采购文件 2,400.00 - 2-60 其他试验仪器及装置 蓄电池 6(台) 详见采购文件 570.00 - 2-61 其他试验仪器及装置 调压变压器 1(台) 详见采购文件 432.00 - 2-62 其他试验仪器及装置 电池盒 30(个) 详见采购文件 480.00 - 2-63 其他电源设备 直流高压电源 3(台) 详见采购文件 2,850.00 - 2-64 其他试验仪器及装置 电子起电机 5(台) 详见采购文件 2,325.00 - 2-65 其他试验仪器及装置 教学用铅酸蓄电池充电器 2(台) 详见采购文件 1,910.00 - 2-66 其他试验仪器及装置 木直尺 60(只) 详见采购文件 1,080.00 - 2-67 其他试验仪器及装置 钢直尺 60(只) 详见采购文件 480.00 - 2-68 其他试验仪器及装置 钢直尺 60(只) 详见采购文件 900.00 - 2-69 其他试验仪器及装置 钢卷尺 20(盒) 详见采购文件 360.00 - 2-70 其他试验仪器及装置 游标卡尺 60(把) 详见采购文件 5,160.00 - 2-71 其他试验仪器及装置 物理天平 1(台) 详见采购文件 598.00 - 2-72 其他试验仪器及装置 学生天平 30(台) 详见采购文件 7,680.00 -2-73 其他试验仪器及装置 托盘天平 1(台) 详见采购文件 85.00 - 2-74 其他试验仪器及装置 托盘天平 27(台) 详见采购文件 3,375.00 - 2-75 其他试验仪器及装置 指针式体重计 1(台) 详见采购文件 539.00 - 2-76 其他试验仪器及装置 金属钩码 28(套) 详见采购文件 1,064.00 - 2-77 其他试验仪器及装置 机械停表 30(块) 详见采购文件 18,480.00 - 2-78 其他试验仪器及装置 电子停表 30(块) 详见采购文件 750.00 - 2-79 其他试验仪器及装置 电火花计时器 30(个) 详见采购文件 4,170.00 - 2-80 其他试验仪器及装置 电火花计时器 30(个) 详见采购文件 4,260.00 - 2-81 其他试验仪器及装置 电磁打点计时器 30(个) 详见采购文件 2,610.00 - 2-82 其他试验仪器及装置 数字计时器 3(台) 详见采购文件 1,017.00 - 2-83 其他试验仪器及装置 频闪光源 3(台) 详见采购文件 795.00 - 2-84 其他试验仪器及装置 红外人体表面温度快速筛检仪 3(个) 详见采购文件 741.00 - 2-85 其他试验仪器及装置 寒暑表 3(只) 详见采购文件 42.00 - 2-86 其他试验仪器及装置 条形盒测力计 60(个) 详见采购文件 480.00 -2-87 其他试验仪器及装置 条形盒测力计 60(个) 详见采购文件 480.00 - 2-88 其他试验仪器及装置 圆盘测力计 6(个) 详见采购文件 2,034.00 - 2-89 其他试验仪器及装置 拉压测力计 6(个) 详见采购文件 354.00 - 2-90 其他试验仪器及装置 双向测力计 6(个) 详见采购文件 354.00 - 2-91 其他试验仪器及装置 演示数字测力计 3(个) 详见采购文件 648.00 - 2-92 其他试验仪器及装置 学生数字测力计 30(个) 详见采购文件 6,480.00 - 2-93 其他试验仪器及装置 高中数字演示电表 6(只) 详见采购文件 5,988.00- 2-94 其他试验仪器及装置 绝缘电阻表 1(只) 详见采购文件 339.00 - 2-95 其他试验仪器及装置 多用电表 30(只) 详见采购文件 2,340.00 - 2-96 其他试验仪器及装置 多用电表 3(只) 详见采购文件 1,095.00 - 2-97 其他试验仪器及装置 交流电流表 30(只) 详见采购文件 2,280.00 - 2-98 其他试验仪器及装置 演示电流电压表 6(台) 详见采购文件 4,440.00 - 2-99 其他试验仪器及装置 演示微电流电阻表 3(台) 详见采购文件 2,220.00 - 2-100 其他试验仪器及装置 多功能电压传感器 1(只) 详见采购文件1,500.00 - 2-101 其他试验仪器及装置 多功能电流传感器 1(只) 详见采购文件 1,550.00 - 2-102 其他试验仪器及装置 多功能微电流传感器 1(只) 详见采购文件 1,650.00 - 2-103 其他试验仪器及装置 教学示波器 3(台) 详见采购文件 8,955.00 - 2-104 其他试验仪器及装置 学生示波器 30(台) 详见采购文件 73,650.00 - 2-105 其他试验仪器及装置 电阻箱 30(个) 详见采购文件 3,240.00 - 2-106 其他试验仪器及装置 电阻箱 3(个) 详见采购文件 693.00 - 2-107 其他试验仪器及装置 携式直流单双臂电桥 3(台) 详见采购文件 10,164.00 - 2-108 其他试验仪器及装置 微电流放大器 3(台) 详见采购文件 130.00 - 2-109 其他试验仪器及装置 虚拟电子测试仪器系统 3(套) 详见采购文件 2,670.00 - 2-110 其他试验仪器及装置 湿度计 3(个) 详见采购文件 108.00 - 2-111 其他试验仪器及装置 空盒气压表 3(台) 详见采购文件 1,050.00 - 2-112 其他试验仪器及装置 多功能压强传感器 1(只) 详见采购文件 1,650.00 - 2-113 其他试验仪器及装置 露点测定器 3(个) 详见采购文件 135.00 - 2-114 其他试验仪器及装置量角器(圆等分器) 30(个) 详见采购文件 660.00 - 2-115 其他试验仪器及装置 惯性演示器 3(套) 详见采购文件 102.00 - 2-116 其他试验仪器及装置 摩擦计 30(套) 详见采购文件 660.00 - 2-117 其他试验仪器及装置 螺旋弹簧组 3(组) 详见采购文件 66.00 - 2-118 其他试验仪器及装置 螺旋弹簧组 30(只) 详见采购文件 570.00 - 2-119 其他试验仪器及装置 帕斯卡球 3(个) 详见采购文件 279.00 - 2-120 其他试验仪器及装置 摩擦力演示器 3(台) 详见采购文件 1,800.00 - 2-121其他试验仪器及装置 力的合成分解演示器 3(套) 详见采购文件 417.00 - 2-122 其他试验仪器及装置 支杆定滑轮和桌边夹组 13(套) 详见采购文件 1,287.00 - 2-123 其他试验仪器及装置 高中静力学演示教具 3(套) 详见采购文件 2,958.00 - 2-124 其他试验仪器及装置 高中力学演示板 3(套) 详见采购文件 2,958.00 - 2-125 其他试验仪器及装置 离心轨道 3(套) 详见采购文件 285.00 - 2-126 其他试验仪器及装置 手摇离心转台 3(台) 详见采购文件 786.00 - 2-127 其他试验仪器及装置 电动离心转台 3(台) 详见采购文件 1,800.00 -2-128 其他试验仪器及装置 毛钱管(牛顿管) 3(套) 详见采购文件 555.00 - 2-129 其他试验仪器及装置 伽利略理想斜面演示器 3(套) 详见采购文件 1,194.00 - 2-130 其他试验仪器及装置 运动合成分解演示器 3(套) 详见采购文件 1,494.00 - 2-131 其他试验仪器及装置 演示轨道小车 3(套) 详见采购文件 1,062.00 - 2-132 其他试验仪器及装置 轨道小车 30(套) 详见采购文件 5,280.00 - 2-133 其他试验仪器及装置 轨道小车 30(套) 详见采购文件 7,410.00 - 2-134 其他试验仪器及装置 演示斜面小车 3(套) 详见采购文件 555.00 -2-135 其他试验仪器及装置 斜面小车 30(套) 详见采购文件 2,850.00 - 2-136 其他试验仪器及装置 气垫导轨 30(台) 详见采购文件 20,340.00 - 2-137 其他试验仪器及装置 小型气源 30(台) 详见采购文件 12,000.00 - 2-138 其他试验仪器及装置 自由落体实验仪 30(套) 详见采购文件 14,400.00 - 2-139 其他试验仪器及装置 牛顿第二定律演示仪 3(套) 详见采购文件 1,017.00 - 2-140 其他试验仪器及装置 牛顿第二定律实验仪 30(套) 详见采购文件 10,170.00 - 2-141 其他试验仪器及装置 反冲运动演示器 3(套) 详见采购文件 369.00- 2-142 其他试验仪器及装置 超重失重演示器 3(个) 详见采购文件 1,155.00 - 2-143 其他试验仪器及装置 超重失重演示器 3(套) 详见采购文件 1,185.00 - 2-144 其他试验仪器及装置 动能势能演示器 3(台) 详见采购文件 1,662.00 - 2-145 其他试验仪器及装置 平抛竖落仪 3(个) 详见采购文件 186.00 - 2-146 其他试验仪器及装置 平抛运动实验器 30(套) 详见采购文件 4,170.00 - 2-147 其他试验仪器及装置 平抛和碰撞实验器 30(套) 详见采购文件 4,260.00 - 2-148 其他试验仪器及装置 碰撞实验器 30(台) 详见采购文件 1,680.00 - 2-149 其他试验仪器及装置 冲击摆实验器 3(台) 详见采购文件 1,200.00 - 2-150 其他试验仪器及装置 运动频闪观测仪 3(套) 详见采购文件 2,400.00 - 2-151 其他试验仪器及装置 二维空间—时间描迹仪 30(套) 详见采购文件 17,700.00 - 2-152 其他试验仪器及装置 向心力演示器 3(台) 详见采购文件 1,950.00 - 2-153 其他试验仪器及装置 向心力实验器 30(台) 详见采购文件 3,720.00 - 2-154 其他试验仪器及装置 凹凸桥演示器 3(套) 详见采购文件 1,050.00 - 2-155 其他试验仪器及装置 演示力矩盘
  • 晶圆表面缺陷检测方法综述【下】
    上接:晶圆表面缺陷检测方法综述【上】4. 基于机器学习的晶圆表面缺陷检测机器学习主要是将一个具体的问题抽象成一个数学模型,通过数学方法求解模型,求解该问题,然后评估该模型对该问题的影响。根据训练数据的特点,分为监督学习、无监督学习和半监督学习。本文主要讨论这三种机器学习方法在晶圆表面缺陷检测中的应用。机器学习模型比较如表2所示。表 2.机器学习算法的比较。分类算法创新局限监督学习KNN系列对异常数据不敏感,准确率高。复杂度高,计算强度高。决策树-Radon应用Radon以形成新的缺陷特征。过拟合非常熟练。SVMSVM 可对多变量、多模态和不可分割的数据点进行高效分类。它对多个样本不友好,内核函数难以定位。无监督学习多层感知器聚类算法采用多层感知器增强特征提取能力。取决于激活函数的选择。DBSCAN可以根据缺陷模式特征有选择地去除异常值。样本密度不均匀或样本过大,收敛时间长,聚类效果差。SOM高维数据可以映射到低维空间,保持高维空间的结构。目标函数不容易确定。半监督学习用于增强标记的半监督框架将监督集成学习与无监督SOM相结合,构建了半监督模型。培训既费时又费时。半监督增量建模框架通过主动学习和标记样本来增强模型性能,从而提高模型性能。性能取决于标记的数据量。4.1. 监督学习监督学习是一种学习模型,它基于该模型对所需的新数据样本进行预测。监督学习是目前晶圆表面缺陷检测中广泛使用的机器学习算法,在目标检测领域具有较高的鲁棒性。Yuan,T等提出了一种基于k-最近邻(KNN)的噪声去除技术,该技术利用k-最近邻算法将全局缺陷和局部缺陷分离,提供晶圆信息中所有聚合的局部缺陷信息,通过相似聚类技术将缺陷分类为簇,并利用聚类缺陷的参数化模型识别缺陷簇的空间模式。Piao M等提出了一种基于决策树的晶圆缺陷模式识别方法。利用Radon变换提取缺陷模式特征,采用相关性分析法测度特征之间的相关性,将缺陷特征划分为特征子集,每个特征子集根据C4.5机制构建决策树。对决策树置信度求和,并选择总体置信度最高的类别。决策树在特定类别的晶圆缺陷检测中表现出更好的性能,但投影的最大值、最小值、平均值和标准差不足以代表晶圆缺陷的所有空间信息,因此边缘缺陷检测性能较差。支持向量机(SVM)在监督学习中也是缺陷检测的成熟应用。当样本不平衡时,k-最近邻算法分类效果较差,计算量大。决策树也有类似的问题,容易出现过度拟合。支持向量机在小样本和高维特征的分类中仍然具有良好的性能,并且支持向量机的计算复杂度不依赖于输入空间的维度,并且多类支持向量机对过拟合问题具有鲁棒性,因此常被用作分类器。R. Baly等使用支持向量机(SVM)分类器将1150张晶圆图像分为高良率和低良率两类,然后通过对比实验证明,相对于决策树,k-最近邻(KNN)、偏最小二乘回归(PLS回归)和广义回归神经网络(GRNN),非线性支持向量机模型优于上述四种晶圆分类方法。多类支持向量机在晶圆缺陷模式分类中具有更好的分类精度。L. Xie等提出了一种基于支持向量机算法的晶圆缺陷图案检测方案。采用线性核、高斯核和多项式核进行选择性测试,通过交叉验证选择测试误差最小的核进行下一步的支持向量机训练。支持向量机方法可以处理图像平移或旋转引起的误报问题。与神经网络相比,支持向量机不需要大量的训练样本,因此不需要花费大量时间训练数据样本进行分类。为复合或多样化数据集提供更强大的性能。4.2. 无监督学习在监督学习中,研究人员需要提前将缺陷样本类型分类为训练的先验知识。在实际工业生产中,存在大量未知缺陷,缺陷特征模糊不清,研究者难以通过经验进行判断和分类。在工艺开发的早期阶段,样品注释也受到限制。针对这些问题,无监督学习开辟了新的解决方案,不需要大量的人力来标记数据样本,并根据样本之间的特征关系进行聚类。当添加新的缺陷模式时,无监督学习也具有优势。近年来,无监督学习已成为工业缺陷检测的重要研究方向之一。晶圆图案上的缺陷图案分类不均匀,特征不规则,无监督聚类算法对这种情况具有很强的鲁棒性,广泛用于检测复杂的晶圆缺陷图案。由于簇状缺陷(如划痕、污渍或局部失效模式)导致难以检测,黄振提出了一种解决该问题的新方法。提出了一种利用自监督多层感知器检测缺陷并标记所有缺陷芯片的自动晶圆缺陷聚类算法(k-means聚类)。Jin C H等提出了一种基于密度的噪声应用空间聚类(DBSCAN)的晶圆图案检测与分类框架,该框架根据缺陷图案特征选择性地去除异常值,然后提取的缺陷特征可以同时完成异常点和缺陷图案的检测。Yuan, T等提出了一种多步晶圆分析方法,该方法基于相似聚类技术提供不同精度的聚类结果,根据局部缺陷模式的空间位置识别出种混合型缺陷模式。利用位置信息来区分缺陷簇有一定的局限性,当多个簇彼此靠近或重叠时,分类效果会受到影响。Di Palma,F等采用无监督自组织映射(SOM)和自适应共振理论(ART1)作为晶圆分类器,对1种不同类别的晶圆进行了模拟数据集测试。SOM 和 ART1 都依靠神经元之间的竞争来逐步优化网络以进行无监督分类。由于ART是通过“AND”逻辑推送到参考向量的,因此在处理大量数据集时,计算次数增加,无法获得缺陷类别的实际数量。调整网络标识阈值不会带来任何改进。SOM算法可以将高维输入数据映射到低维空间,同时保持输入数据在高维空间中的拓扑结构。首先,确定神经元的类别和数量,并通过几次对比实验确定其他参数。确定参数后,经过几个学习周期后,数据达到渐近值,并且在模拟数据集和真实数据集上都表现良好。4.3. 半监督学习半监督学习是一种结合了监督学习和无监督学习的机器学习方法。半监督学习可以使用少量的标记数据和大量的未标记数据来解决问题。基于集成的半监督学习过程如图 8 所示。避免了完全标记样品的成本消耗和错误标记。半监督学习已成为近年来的研究热点。图8.基于集成的半监督学习监督学习通常能获得良好的识别结果,但依赖于样本标记的准确性。晶圆数据样本可能存在以下问题。首先是晶圆样品数据需要专业人员手动标记。手动打标过程是主观的,一些混合缺陷模式可能会被错误标记。二是某些缺陷模式的样本不足。第三,一些缺陷模式一开始就没有被标记出来。因此,无监督学习方法无法发挥其性能。针对这一问题,Katherine Shu-Min Li等人提出了一种基于集成的半监督框架,以实现缺陷模式的自动分类。首先,在标记数据上训练监督集成学习模型,然后通过该模型训练未标记的数据。最后,利用无监督学习算法对无法正确分类的样本进行处理,以达到增强的标记效果,提高晶圆缺陷图案分类的准确性。Yuting Kong和Dong Ni提出了一种用于晶圆图分析的半监督增量建模框架。利用梯形网络改进的半监督增量模型和SVAE模型对晶圆图进行分类,然后通过主动学习和伪标注提高模型性能。实验表明,它比CNN模型具有更好的性能。5. 基于深度学习的晶圆表面缺陷检测近年来,随着深度学习算法的发展、GPU算力的提高以及卷积神经网络的出现,计算机视觉领域得到了定性的发展,在表面缺陷检测领域也得到了广泛的应用。在深度学习之前,相关人员需要具备广泛的特征映射和特征描述知识,才能手动绘制特征。深度学习使多层神经网络能够通过抽象层自动提取和学习目标特征,并从图像中检测目标对象。Cheng KCC等分别使用机器学习算法和深度学习算法进行晶圆缺陷检测。他们使用逻辑回归、支持向量机(SVM)、自适应提升决策树(ADBT)和深度神经网络来检测晶圆缺陷。实验证明,深度神经网络的平均准确率优于上述机器学习算法,基于深度学习的晶圆检测算法具有更好的性能。根据不同的应用场景和任务需求,将深度学习模型分为分类网络、检测网络和分割网络。本节讨论创新并比较每个深度学习网络模型的性能。5.1. 分类网络分类网络是较老的深度学习算法之一。分类网络通过卷积、池化等一系列操作,提取输入图像中目标物体的特征信息,然后通过全连接层,根据预设的标签类别进行分类。网络模型如图 9 所示。近年来,出现了许多针对特定问题的分类网络。在晶圆缺陷检测领域,聚焦缺陷特征,增强特征提取能力,推动了晶圆检测的发展。图 9.分类网络模型结构图在晶圆制造过程中,几种不同类型的缺陷耦合在晶圆中,称为混合缺陷。这些类型的缺陷复杂多变且随机性强,已成为半导体公司面临的主要挑战。针对这一问题,Wang J等提出了一种用于晶圆缺陷分类的混合DPR(MDPR)可变形卷积网络(DC-Net)。他们设计了可变形卷积的多标签输出和一热编码机制层,将采样区域聚焦在缺陷特征区域,有效提取缺陷特征,对混合缺陷进行分类,输出单个缺陷,提高混合缺陷的分类精度。Kyeong和Kim为混合缺陷模式的晶圆图像中的每种缺陷设计了单独的分类模型,并通过组合分类器网络检测了晶圆的缺陷模式。作者使用MPL、SVM和CNN组合分类器测试了六种不同模式的晶圆映射数据库,只有作者提出的算法被正确分类。Takeshi Nakazawa和Deepak V. Kulkarni使用CNN对晶圆缺陷图案进行分类。他们使用合成生成的晶圆图像训练和验证了他们的CNN模型。此外,提出了一种利用模拟生成数据的方法,以解决制造中真实缺陷类别数据不平衡的问题,并达到合理的分类精度。这有效解决了晶圆数据采集困难、可用样品少的问题。分类网络模型对比如表3所示。表3. 分类网络模型比较算法创新Acc直流网络采样区域集中在缺陷特征区域,该区域对混合缺陷具有非常强的鲁棒性。93.2%基于CNN的组合分类器针对每个缺陷单独设计分类器,对新缺陷模式适应性强。97.4%基于CNN的分类检索方法可以生成模拟数据集来解释数据不平衡。98.2%5.2. 目标检测网络目标检测网络不仅可以对目标物体进行分类,还可以识别其位置。目标检测网络主要分为两种类型。第一种类型是两级网络,如图10所示。基于区域提案网络生成候选框,然后对候选框进行分类和回归。第二类是一级网络,如图11所示,即端到端目标检测,直接生成目标对象的分类和回归信息,而不生成候选框。相对而言,两级网络检测精度更高,单级网络检测速度更快。检测网络模型的比较如表4所示。图 10.两级检测网络模型结构示意图图 11.一级检测网络模型结构示意图表4. 检测网络模型比较算法创新AccApPCACAE基于二维主成分分析的级联辊类型自动编码。97.27%\YOLOv3-GANGAN增强了缺陷模式的多样性,提高了YOLOv3的通用性。\88.72%YOLOv4更新了骨干网络,增强了 CutMix 和 Mosaic 数据。94.0%75.8%Yu J等提出了一种基于二维主成分分析的卷积自编码器的深度神经网络PCACAE,并设计了一种新的卷积核来提取晶圆缺陷特征。产品自动编码器级联,进一步提高特征提取的性能。针对晶圆数据采集困难、公开数据集少等问题,Ssu-Han Chen等首次采用生成对抗网络和目标检测算法YOLOv3相结合的方法,对小样本中的晶圆缺陷进行检测。GAN增强了缺陷的多样性,提高了YOLOv3的泛化能力。Prashant P. SHINDE等提出使用先进的YOLOv4来检测和定位晶圆缺陷。与YOLOv3相比,骨干提取网络从Darknet-19改进为Darknet-53,并利用mish激活函数使网络鲁棒性。粘性增强,检测能力大大提高,复杂晶圆缺陷模式的检测定位性能更加高效。5.3. 分段网络分割网络对输入图像中的感兴趣区域进行像素级分割。大部分的分割网络都是基于编码器和解码器的结构,如图12所示是分割网络模型结构示意图。通过编码器和解码器,提高了对目标物体特征的提取能力,加强了后续分类网络对图像的分析和理解。在晶圆表面缺陷检测中具有良好的应用前景。图 12.分割网络模型结构示意图。Takeshi Nakazawa等提出了一种深度卷积编码器-解码器神经网络结构,用于晶圆缺陷图案的异常检测和分割。作者设计了基于FCN、U-Net和SegNet的三种编码器-解码器晶圆缺陷模式分割网络,对晶圆局部缺陷模型进行分割。晶圆中的全局随机缺陷通常会导致提取的特征出现噪声。分割后,忽略了全局缺陷对局部缺陷的影响,而有关缺陷聚类的更多信息有助于进一步分析其原因。针对晶圆缺陷像素类别不平衡和样本不足的问题,Han Hui等设计了一种基于U-net网络的改进分割系统。在原有UNet网络的基础上,加入RPN网络,获取缺陷区域建议,然后输入到单元网络进行分割。所设计的两级网络对晶圆缺陷具有准确的分割效果。Subhrajit Nag等人提出了一种新的网络结构 WaferSegClassNet,采用解码器-编码器架构。编码器通过一系列卷积块提取更好的多尺度局部细节,并使用解码器进行分类和生成。分割掩模是第一个可以同时进行分类和分割的晶圆缺陷检测模型,对混合晶圆缺陷具有良好的分割和分类效果。分段网络模型比较如表5所示。表 5.分割网络模型比较算法创新AccFCN将全连接层替换为卷积层以输出 2D 热图。97.8%SegNe结合编码器-解码器和像素级分类层。99.0%U-net将每个编码器层中的特征图复制并裁剪到相应的解码器层。98.9%WaferSegClassNet使用共享编码器同时进行分类和分割。98.2%第6章 结论与展望随着电子信息技术的不断发展和光刻技术的不断完善,晶圆表面缺陷检测在半导体行业中占有重要地位,越来越受到该领域学者的关注。本文对晶圆表面缺陷检测相关的图像信号处理、机器学习和深度学习等方面的研究进行了分析和总结。早期主要采用图像信号处理方法,其中小波变换方法和空间滤波方法应用较多。机器学习在晶圆缺陷检测方面非常强大。k-最近邻(KNN)、决策树(Decision Tree)、支持向量机(SVM)等算法在该领域得到广泛应用,并取得了良好的效果。深度学习以其强大的特征提取能力为晶圆检测领域注入了活力。最新的集成电路制造技术已经发展到4 nm,预测表明它将继续朝着更小的规模发展。然而,随着这些趋势的出现,晶圆上表面缺陷的复杂性也将增加,对模型的可靠性和鲁棒性提出了更严格的挑战。因此,对这些缺陷的分析和处理对于确保集成电路的高质量制造变得越来越重要。虽然在晶圆表面缺陷分析领域取得了一些成果,但仍存在许多问题和挑战。1、晶圆缺陷的公开数据集很少。由于晶圆生产和贴标成本高昂,高质量的公开数据集很少,为数不多的数据集不足以支撑训练。可以考虑创建一个合成晶圆缺陷数据库,并在现有数据集上进行数据增强,为神经网络提供更准确、更全面的数据样本。由于梯度特征中缺陷类型的多功能性,可以使用迁移学习来解决此类问题,主要是为了解决迁移学习中的负迁移和模型不适用性等问题。目前尚不存在灵活高效的迁移模型。利用迁移学习解决晶圆表面缺陷检测中几个样品的问题,是未来研究的难题。2、在晶圆制造过程中,不断产生新的缺陷,缺陷样本的数量和类型不断积累。使用增量学习可以提高网络模型对新缺陷的识别准确率和保持旧缺陷分类的能力。也可作为扩展样本法的研究方向。3、随着技术进步的飞速发展,芯片特征尺寸越来越小、越来越复杂,导致晶圆中存在多种缺陷类型,缺陷相互折叠,导致缺陷特征不均匀、不明显。增加检测难度。多步骤、多方法混合模型已成为检测混合缺陷的主流方法。如何优化深度网络模型的性能,保持较高的检测效率,是一个亟待进一步解决的问题。4、在晶圆制造过程中,不同用途的晶圆图案会产生不同的缺陷。目前,在单个数据集上训练的网络模型不足以识别所有晶圆中用于不同目的的缺陷。如何设计一个通用的网络模型来检测所有缺陷,从而避免为所有晶圆缺陷数据集单独设计训练模型造成的资源浪费,是未来值得思考的方向。5、缺陷检测模型大多为离线模型,无法满足工业生产的实时性要求。为了解决这个问题,需要建立一个自主学习模型系统,使模型能够快速学习和适应新的生产环境,从而实现更高效、更准确的缺陷检测。原文链接:Electronics | Free Full-Text | Review of Wafer Surface Defect Detection Methods (mdpi.com)
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    作为材料重要的特性之一,功函数常使用符号φ来表示,即在真空环境中,电子从材料表面逸出所需的最小能量。若材料表面与电子间的结合能定为零,那么功函数即为费米(束缚)能级与「自由」真空间的能量差。对各种光子器件、光伏、腐蚀、催化、电池存储等领域来说功函数是关键参数,功函数越高,材料越稳定。测量材料的功函数的方法有很多,其中最著名的是开尔文探针技术。将开尔文探针的概念与原子力显微镜(AFM)相结合,即为如今常见的KPFM。KPFM是为数不多能在纳米级空间分辨率下表征样品功函数的技术。流程简单Asylum Research新推出的Ergo KPFM模块让实验变的极其简单。甚至不用额外的培训,只要遵照软件中的工作流程,逐步设置,即可使用KPFM表征材料表面电势。调整参数如下:无需手动调整参数无需手动调谐探针自动设置KPFM参数Ergo Autopilot&trade 优化扫描参数测量KPFM也能「随机应变」Ergo KPFM包含了三种扫描模式:Heterodyne,Sideband与Amplitude Modulated KPFM根据需求轻松切换三种模式比传统的2 pass KPFM速度提高两倍。Heterodyne/Sideband KPFM为较平的样品提供更高分辨、更准确的测量结果Amplitude Modulated KPFM适用于起伏较高的样品KPFM工作原理KPFM并不直接测量功函数,而是测量样品与探针(功函数已知)间的功函数差异,也就是接触电势差(CPD)。如下图示例,有两种金属:样品Al(功函数4.2eV)以及镀金探针(功函数5.2eV),在两者不导通时,它们各自有其费米能级。若是两者导通,电子会从高费米能级往低费米能级流动,直到样品与探针的费米能级变为相同。这个由于费米能级改变导致的功函数变化,即为CPD。此外,探针与样品之间还会因为电子的流动产生电场以及静电力。此时施加一个额外的直流偏压,抵消电场,让电子恢复原始状态,那么这时的偏压即与CPD等值了。KPFM可以透过测量长程的静电力,或是力场的变化梯度来获得CPD;而又根据实现测量的手段不同,可以分成Amplitude Modulated,Heterodyne以及Sideband KPFM。注:Ergo软件所适用的AFM机型需要和AFM工程师进一步确认。
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    作者:荆淮侨 来源:中国科学报受SCIE期刊《极端制造》极端制造编辑部邀请,华中科技大学教授刘世元团队近日在该刊上发表了《10nm及以下技术节点晶圆缺陷光学检测》的综述文章,对过去十年中与光学晶圆缺陷检测技术有关的新兴研究内容进行了全面回顾。随着智能终端、无线通信与网络基础设施、智能驾驶、云计算、智慧医疗等产业的蓬勃发展,先进集成电路的关键尺寸进一步微缩至亚10nm尺度,图形化晶圆上制造缺陷的识别、定位和分类变得越来越具有挑战性。传统明场检测方法虽然是当前晶圆缺陷检测的主流技术,但该方法受制于光学成像分辨率极限和弱散射信号捕获能力极限而变得难以为继,因此亟需探索具有更高成像分辨率和更强缺陷散射信号捕获性能的缺陷检测新方法。据了解,晶圆缺陷光学检测方法的最新进展包含了缺陷可检测性评估、光学缺陷检测方法、后处理算法等三个方面。其中,缺陷可检测性评估,包含了材料对缺陷可检测性的影响、晶圆缺陷拓扑形貌对缺陷可检测性的影响两个方面。在多样化的光学缺陷检测方法上,目前,晶圆缺陷光学检测系统可根据实际使用的光学检测量进行分类。在后处理算法方面,根据原始检测图像来识别和定位各类缺陷,关键在于确保后处理图像中含缺陷区域的信号强度应明显大于预定义的阈值。在该综述研究中,也总结了代表性晶圆缺陷检测新方法。具体可划分为明/暗场成像、暗场成像与椭偏协同检测、离焦扫描成像、外延衍射相位显微成像、X射线叠层衍射成像、太赫兹波成像缺陷检测、轨道角动量光学显微成像。研究人员认为,基于深度学习的缺陷检测方法的实施流程非常简单。首先,捕获足够的电子束检测图像或晶圆光学检测图像。其次,训练特定的神经网络模型,从而实现从检测图像中提取有用特征信息的功能。最后,用小样本集测试训练后的神经网络模型,并根据表征神经网络置信水平的预定义成本函数决定是否应该重复训练。据介绍,尽管图形化晶圆缺陷光学检测一直是一个长期伴随IC制造发展的工程问题,但通过与纳米光子学、结构光照明、计算成像、定量相位成像和深度学习等新兴技术的融合,其再次焕发活力。该团队介绍,这一研究领域的前景主要包含以下方面:首先,为了提高缺陷检测灵敏度,需要从检测系统硬件与软件方面协同创新。同时,为了拓展缺陷检测适应性,需要更严谨地研究缺陷与探测光束散射机理。此外,为了改善缺陷检测效率,需要更高效地求解缺陷散射成像问题。除了IC制造之外,上述光学检测方法对光子传感、生物感知、混沌光子等领域都有广阔的应用前景。相关研究人员表示,通过对上述研究工作进行评述,从而阐明晶圆缺陷检测技术的可能发展趋势,将为该领域的新进入者和寻求在跨学科研究中使用该技术的研究者提供有益参考。华中科大机械学院研究员朱金龙、博士后刘佳敏为该文共同第一作者,华中科大教授刘世元以及朱金龙为共同通讯作者。相关论文信息:https://doi.org/10.1088/2631-7990/ac64d7
  • SAXSpoint 5.0 | 微乳液凝胶的结构表征
    简介微乳液基纤维素凝胶是自然界中最丰富的可再生生物聚合物,已被用作生物相容性成分的载体,为生物相容性封装提供了巨大的潜能;它们广泛用于各种应用,如食品,药物输送和催化。基于诸如纤维素或淀粉之类的多糖生物聚合物的凝胶引起了人们的极大关注,因为它们源自可再生资源,可以高效生产并且可生物降解。SAXSpoint 5.0 本文,研究了基于HPMC 和由双-(2-乙基己基)磺基琥珀酸钠盐(AOT)异辛烷微乳液形成的MBG体系。脂肪酶被用作模型封装分子。使用Anton Paar SAXSpoint 5.0 实验室的SAXS/WAXS系统进行的SAXS测量,对所研究的微乳液和最终获得的MBG体系提供有价值的发现:AOT 微乳液的结构和尺寸微乳液的AOT浓度实验分析采用不同含量的水和微乳液制备不同的MBG样品。 对冻干样品进行SEM 确定样品的形貌:向HPMC凝胶中加入微乳液会形成多孔MBG网络结构;随着表面活性剂的增加,会得到更光滑、更均匀的网络结构,具有小而均匀分布的孔 (图1)。图 1: 冻干HPMC基MBGs的SEM图:(a) 不含有机溶剂的MBG体系,(b) 含0.1 M AOT微乳液的MBG体系,(c) 含0.2 M AOT 微乳液的MBG 体系微乳液和选定的MBG样品的SAXS测试在SAXSpoint仪器上进行,微乳液装到1mm直径的石英毛细管中测量,MBG样品转到多位粘性样品支架中测量。采集的2D散射图样进行q-转换,积分得到1D曲线,校正背景(空样品架)并转成绝对强度。图 2: 绝对强度标尺的散射数据HPMC基MBGs (▬) 和 微乳液 (▬) 0.05 M AOT (A) 和0.2 M AOT (B)。注意: 将系数 0.2 应用于微乳液 (▬) 来显示胶束信号在凝胶中的预期贡献。 由于凝胶样品含有20 % 的微乳液,普通微乳液的强度按照比例缩放为散射强度的20 % (见图2中的红色曲线)。微乳液显示出纳米级液滴的清晰散射特征,可以通过间接傅里叶变换方法进行详细分析2。含有0.05 M AOT的微乳液形成直径约11 nm的球形胶束,而含有0.2 M AOT的微乳液显示的平均直径约为5 nm。对应的对距离分布函数p(r) 如下图3所示:图 3: 微乳液的 p(r) 函数, 0.05 M AOT (▬) 和 0.2 M AOT (...). 注意: 为了更好的对比,对p(r) 函数进行了归一化。微乳液与相应凝胶样品SAXS曲线的对比清晰地表明,特征微乳液信号没有贡献。低散射角下的衰减归因于凝胶网络的大结构,并且超出了SAXS分辨率极限。为了更进一步了解凝胶特性,应用凝胶拟合模型Gel Fit Model (SasView3) 对SAXS数据进行更详细的评估 。SAXS数据符合以下给出的相关长度模型 Correlation Length Model:其中第一项描述了簇的Porod散射,第二项描述了从聚合物链散射的洛伦兹Lorentzian函数。两个乘法因子A和C,常数背景B以及两个指数n和m用作拟合参数。最后一个参数ξ是聚合物链的相关长度,而 Porod 和 Lorentz指数分别用于分析分形结构和聚合物/溶剂相互作用。从MBG的相关长度模型获得的结构参数如下表所示。由0.05 M和0.2 M AOT微乳液形成的凝胶网络的相关长度ξ 远高于水-HPMC-异辛烷体系的。此外,微乳液中表面活性剂浓度的增加—结果,在最终的微乳液基凝胶中—导致HPMC的缠结长度增加,从而创造了更高刚度的环境。从这个意义上来说,酶或活性成分可以通过凝胶网络内的固定来有效地稳定。结论在这项研究中,可以证明使用HPMC网络与微乳液相结合代表了一种成功的固定/封装基质,例如活性成分或酶。通过结合不同的结构表征技术,如电镜和小角X-射线散射,可以成功地表征该体系。特别是,在实验室系统上进行SAXS测量揭示了有关所研究微乳液的结构细节和基于微乳液的有机凝胶网络的整体特性的信息。安东帕中国总部销售热线:+86 4008202259售后热线:+86 4008203230官网:www.anton-paar.cn在线商城:shop.anton-paar.cn
  • 英国剑桥大学刘子维:全息术助力表面形貌的干涉测量
    全息术是一种能够对光波前进行记录和重建的技术,自从 1948 年匈牙利-英国物理学家 Dennis Gabor 发明全息术以来,该技术不仅得到了显微学家,工程师,物理学家甚至艺术家等各领域的广泛关注,还使他获得了 1971 年的诺贝尔物理学奖。干涉术作为光学中另一个主要研究领域,是利用光波的叠加干涉来提取信息,其原理与全息术都是用整体的强度信息来记录光波的振幅和相位,虽然记录的方法有很大不同,但随着 20 世纪 90 年代,高采样密度的电子相机的出现,可用来记录数字全息图,则进一步增强了二者的联系。近日,针对全息术对表面形貌的干涉测量的发展的推动作用,来自美国 Zygo Corporation 的 Peter J. de Groot、 Leslie L. Deck,中国科学院上海光机所的 苏榕 以及德国斯图加特大学的 Wolfgang Osten 联合在 Light: Advanced Manufacturing 上发表了综述文章,题为“Contributions of holography to the advancement of interferometric measurements of surface topography”。本文回顾了包括相移干涉测量,载波条纹干涉,相干降噪,数字全息的斐索干涉仪,计算机生成全息图,震动、变形和粗糙表面形貌和使用三维传输方程的光学建模七个方面,从数据采集到三维成像的基本理论,说明了全息术和干涉测量的协同发展,这两个领域呈现出共同增强和改进的趋势。图1 全息术的两步过程图2 干涉术的两步过程相移干涉测量术 因为记录的光场的复振幅被锁定在强度图样中的共同基本原理,全息术和干涉测量术捕获波前信息也是一个常见的困难,用于表面形貌测量的现代干涉仪中,常用相移干涉测量术(PSI)来解决这个问题,PSI 的思路是通过记录除了它们之间的相移之外几乎相同的多个干涉图,以获取足够的信息来提取被测物体光的相位和强度。Dennis Gabor 早在 1950 年代搭建的全息干涉显微镜使用偏振光学隔离所需的波前,引入除相移外两个完全相同的全息图。如图3所示,Gabor 的正交显微镜使用了一个特殊的棱镜,在反射光和透射光之间引入了 π/2 的相移。因此,可以说,用于表面测量的 PSI 首先出现在全息术中,然后独立出现在干涉测量术中。PSI 现在被广泛用于光学测试和干涉显微镜,虽然许多因素促成了其发展,但其基本思想可以追溯到使用多个相移全息图进行波前合成的最早工作。图3 Gabor正交显微镜简化示意图载波条纹干涉测量术 通过使用角度足够大的参考波来分离 Gabor 全息图中的重叠图像,从而使全息图形成的重建真实图像和共轭图像在远场中变得可分离,是全息术的重大突破之一, 到 1970 年代,人们意识到传播波阵面的远场分离等价物可以在没有全息重建的情况下模拟干涉测量。这一概念在 1982 年武田 (Takeda) 的开创性工作中广受欢迎,他描述了用于结构光和表面形貌的干涉测量的载波条纹方法。载波条纹干涉测量术的基本原理源自通信理论和 Lohmann 对全息重建过程的傅里叶分析。到 2000 年代,计算机和相机技术已经足够先进,可以使用高横向分辨率的二维数字傅里叶变换进行实时数据处理,赋予了载波条纹干涉技术的新的生命。图4 从干涉图到最后的表面形貌地图的过程此外,在菲索干涉仪中,参考波和物体表面的相对倾斜会导致相机处出现密集的干涉条纹。如果仪器在离轴操作时,具有可控制或可补偿的像差,所以只需要对激光菲索系统的光机械硬件进行少量更改,就可以实现这种全息数据采集。因此,载波条纹干涉仪通常是提供机械相移的系统的选择。相干降噪 虽然可见光波段激光器的发明给全息术带来重要进展,然而,在全息术和干涉测量术中不使用激光的主要原因是,散斑效应和来自尘埃颗粒和额外的反射而产生的相干噪声。通过仔细清理光学表面只能很小部分的噪声,而围绕系统的光轴连续地旋转整个光源单元就可以解决这个问题。如果曝光时间很长,这种运动会增强所需的静态图样,同时平均化掉大部分相干噪声。常用的实现平均化的方式包括围绕光轴旋转光学元件、沿着照明光移动漫射器、用旋转元件改变照明光的入射方向,或在傅里叶平面中移动不同的掩模成像系统。激光在 1960 年代开始出现在不等路径光学装置中,最初为全息术开发以减少相干噪声的平均方法,被证明也可有效改善干涉测量的结果。图5中,是 Close 在 1972 年提出的一种基于脉冲红宝石激光器的便携式全息显微镜。显微镜记录了四个全息图,每个全息图都有一个独立的散斑图案,对应于棱镜的旋转位置,由全息图形成的四个图像不相干叠加以减少相干噪声和散斑粒度。图5 使用旋转楔形棱镜的相干降噪系统数字全息菲索干涉仪 Gabor 的背景和研究兴趣使他将全息术视为一种具有大景深的新型显微成像技术,使显微镜学家可以任意地检查图像的不同平面。记录后重新聚焦图像的能力仍然是全息术的决定性特征之一,使我们无需仔细地将物体成像到胶片或探测器上。它还可以记录测量体积,能够清晰地成像三维数据的横截面。而数字全息术使这种能力变得更具吸引力,其重新聚焦完全在计算机内实现。虽然数字重聚焦在数字全息显微镜中很常见,但它通常不被认为是表面形貌干涉测量的特征或能力。尽管如此,从前面对该方法的数学描述来看,在采集后以相同的方式重新聚焦常规干涉测量数据是完全可行的。随着数据密度的增加,人们对校正聚焦误差以保持干涉测量中的高横向分辨率感兴趣。图6 激光菲索干涉仪的聚焦机理与全息系统不同,传统干涉仪的布置方式是在数据采集之前将物体表面精确地聚焦到相机上。图 6 说明了一种简化的聚焦机制。聚焦通常是手动过程,涉及图像清晰度的主观确定。由于光学表面通常在设计上没有特征,因此常见的过程包括将直尺放置在尽可能靠近调整表面的位置并调整焦距,直到直尺看起来最锋利。繁琐的设置和人为错误的结合使得我们可以合理地断言,今天很少有干涉仪能够充分发挥其潜力,仅仅是因为聚焦错误。数字重新聚焦提供了使用软件解决此问题的机会。计算机产生全息图 早在 1960 年代后期,学者们就已经对波带片与计算机生成全息图 (CGH) 之间的类比有了很好的理解,这是因为在开发新的基于激光的不等径干涉仪来测试光学元件的表面形状的应用时,需要对具有非球面形状的透镜和反射镜进行精确测试。图7 计算的菲涅尔波带片图样和牛顿环(等效于单独的虚拟点光源产生的Gabor全息图)然而,干涉仪作为最好的空检测器,在比较形状几乎相同的物体和参考波前时能提供最高的精度和准确度,虽然有许多巧妙的方法可以使用反射和折射光学器件对特定种类的非球面进行空测试,但 CGH 可通过简单地改变不透明和透明区域的分布来显着增加解空间。CGH 空校正器的最吸引人的特点是波前构造的准确性在很大程度上取决于衍射区的平面内位置,而不是表面高度。因此,无需费力地将非球面参考表面抛光至纳米精度,而是可以在更宽松的尺度上从精密参考波来合成反射波前。图8 使用激光菲索干涉仪和计算机产生的全息图测试非球形表面的光学装置振动、变形和粗糙表面形貌 全息干涉测量术是全息术对干涉测量术最明显的贡献,从技术名称中就可以看出。这项发现的广泛应用引起了计量学家高度关注,包括用于通过全息术定量分析三维漫射物体的应力、应变、变形和整体轮廓的方法。全息干涉测量术的发现对干涉测量术的能力和可解释性产生了深远的影响,为了辨别这些联系,首先考虑在同一全息图的两次全息曝光中,倾斜一个平面物体。两个物体方向的强度图样的不相干叠加,调制了全息图中条纹的对比度,而当这个双曝光全息图用参考波重新照射,以合成来自物体的原始波前时,结果也是条纹图样。因此,我们看到传播波前的全息再现,可用于解调双曝光全息图中存在的非相干叠加的干涉图案,将对比度的变化转换为表示两次曝光之间差异的干涉条纹。由于全息图中这些叠加的图案相互不相干,它们可以在不同的时间、全息系统的组成部分的不同位置、甚至不同的波长等条件下生成,因此,该技术的应用范围十分广泛。图9 模拟平面的双曝光全息使用三维传输方程的光学建模 使用物体表面的二维复表示,对本质上是三维问题的传统建模,是假设所有表面点可以同时沿传播方向处于相同焦点位置。因此,这种二维近似的限制是表面高度变化相对于成像系统的景深必须很小。全息术影响了三维衍射理论的发展,进一步影响了干涉显微镜的评估和性能提升。光学仪器的许多特性可以使用传统的阿贝理论和傅里叶光学建模来理解,包括成像系统的空间带宽滤波特性。干涉仪的傅立叶光学模型的第一步,是将表面形貌的表示简化为限制在垂直于光轴的平面内的相位分布。但对于使用干涉测量术的表面形貌测量,这并不是一个具有挑战性的限制,因为普通的菲索干涉仪的景深大约为几毫米,表面高度测量范围可能为几十微米。因此,在高倍显微镜中采用三维方法的速度更快,特别是对于共聚焦显微镜,在高数值孔径下,表面形貌特征不能都在相对于景深的相同的焦点。然而,二维傅里叶光学的近似对于干涉显微镜来说是不够精确的,因为在高放大倍率下,仅几微米的高度变化,就会影响干涉条纹的清晰度和对比度。基于 Kirchhoff 近似推导出了 CSI 的三维图像形成和有效传递函数,其中均匀介质的表面可表示为连续的单层散射点。这种方法已被证明具有重要的实用价值,不仅可以用于理解测量误差的起源,是斜率、曲率和焦点的函数,还可以用于校正像差。本文总结 基于激光的全息术的出现带来了一系列快速的创新,这些创新从全息术发展到干涉测量术。虽然文中提到的七个方面无法完全概括全息术的贡献,但一个明显的趋势是全息术对用于表面形貌测量的干涉测量技术的影响正在不断增加, 这最终可能会导致全息术与通常不被认为是全息术的技术相融合,而应用光学计量的这种演变必将带来全新的解决方案。论文信息 de Groot et al. Light: Advanced Manufacturing (2022)3:7https://doi.org/10.37188/lam.2022.007本文撰稿: 刘子维(英国剑桥大学,博士后)
  • 超快多维成像:同时测量坐标数破千
    近日,来自韩国科学技术院的Jungwon Kim团队,通过利用频率梳的电光采样,展示了一种能够同时测量超过1000个空间坐标的飞时变化的相机。这一研究成果能够对三维设备中的复杂结构和动力学过程进行精确而快速的成像,具有极高的研究与应用价值。该文章发表在国际顶尖学术期刊《Light: Science & Applications》,题为“Massively parallel electro-optic sampling of space-encoded optical pulses for ultrafast multidimensional imaging”,Yongjin Na为论文的第一作者。光学成像和测量技术在现代科学技术中至关重要,其应用范围及其广泛,诸如振动模式测量,体内生物医学成像和自动驾驶技术等技术的发展,都离不开光学成像和测量技术的进步。尤其是快速准确地实现对微米和纳米级设备的表面轮廓的成像,对研究这类设备的静态和动态属性起着关键性作用。在静态属性方面,在越来越大的晶圆面积上进行更高动态范围和更高数据量的尺寸测量对半导体工业愈发重要。到目前为止,已经使用了使用干涉测量法和共聚焦显微镜来实现对表面的测量,但是,这些方法在测量范围(通常小于几微米)和速度(通常需要数百秒来完成成像)方面都仍然具有相当的局限性。而在动态特性方面,准确表征微和纳米机械设备中的振动和动态行为对于理解基础物理学和推进其应用至关重要。尤其是新近被发现的各种非线性、瞬态和复杂的机械动力学,例如微米和纳米机械谐振器中的非谐振动、脉冲光机械等等,都需要具有更精细的轴向和横向分辨率、更高速度和更高动态范围的实时表面变形成像。在这一问题上,相干干涉仪和白光干涉仪因其纳米级的轴向分辨率和可靠性而被广泛使用。但是,这些技术也存在亚微米的模糊范围和低动态成像的速率等局限性。因此,无论是静态还是动态的微观表面成像,都存在着成像质量和速率上的缺陷,如果能解决这个问题,无疑能让光学测量技术以及微机械技术向前迈进可观的一步。在本研究中,研究人员搭建了一种基于电光采样的新型线扫描飞行时间 (TOF) 成像技术,能够捕捉具有高动态范围的微型设备的静态和动态特性(图一)。该方法能够实现高像素率(高达 260 兆像素/秒)、高轴向分辨率(低至 330 pm)(图二,图三)和高动态范围(高达126dB)(图四),并且能够同时检测数毫米视场(FOV)上超过1000 个空间坐标的TOF变化范围。这种前所未有的性能优势不仅可以在不需要太多先验知识的情况下对复杂结构进行快速和精确的成像,还可以实时观察微型设备和机械谐振器中快速和非重复的机械运动,对微测量领域的发展具有极其重要的意义。图一:基于电光采样的线扫描TOF相机的工作原理。将锁模Er-光纤振荡器作为光学频率梳的源。使用MUTC光电二极管生成的超低抖动光电流脉冲,来生成时间尺。在目标成像过程中,光脉冲被扩展,并进行谱色散以实现空间-波长编码。从目标物体反射后,TOF编码的子脉冲被收集并在 EOS-TD中进行TOF到强度的转换。最后使用线扫描相机分析EOS-TD输出光谱,以同时重建超过1000个空间点的TOF信息。图二:线扫描TOF方法的轴向和横向分辨率的分析。(a) 对TOF精度的测量,重叠艾伦偏差(overlapping Allan deviation)关于采集时间的函数。图中展示了 4 V、8 V和16 V(不饱和和饱和相机条件)的三个MUTC 光电二极管偏置电压。插图:相对于光脉冲和光电流脉冲上升沿之间的相对时间的归一化 EOS-TD 输出,展示了4 V、8 V 和 16 V(不饱和)和 16 V(饱和)偏置电压的可测量范围分别为 3 毫米、1.6 毫米、1.2 毫米和 0.4 毫米。(b) 在10 ms采集时间(16 V 偏压,不饱和相机)每个像素位置的TOF 精度测量。(c)以30毫米焦距聚焦时测得的光束轮廓。(d)分辨率目标的显微成像。右上图中显示了第6组和第7组的放大图像(左侧图中的红色框)。如单线扫描轨迹所示,第6组中元素 6 的三个条具有约23%的对比度,从而产生约 114 lp/mm(4.38μm)的横向分辨率。图三:3D表面轮廓成像结果。(a) 相同材料(碳化铬)的两个量块的表面轮廓成像。如从点 A到 A' 的横截面图所示,可以清楚地测量到300 μm的台阶高度。灰色区域表示量块的边缘,由于来自两个表面的反射,TOF 在此处具有模糊性。台阶高度(点 I和II之间)确定为 300.029 μm,重复误差(在100 μs 采集时间下 100 次连续测量的标准偏差值)为 31 nm,与校准干涉仪结果的误差为 +31 nm。(b) 不同材料组装成像结果;附在陶瓷光学平面上的两个钢量块。测得的500μm 阶高 (II- I) 具有93 nm 的重复误差(100 μs 采集时间)和校准干涉仪结果的-22 nm 误差。(c) 复杂周期结构的表面轮廓成像(涂有100 纳米厚的银的硅样品)。一对f = 60 mm 镜头用于得到更好的空间分辨率。区域 I 中TOF点的直方图展示了10.039 μm平均高度差,与共聚焦显微镜结果相比有-14 nm 误差。插图:样品的显微图像 (2.5X)。图四:动态成像结果。(a) 两个附有PZT的镜子之间的相互作用。f = 75 mm镜头用于约10 mm的水平FOV。两个PZT的驱动持续时间约为100毫秒,延迟约为25毫秒。下方的图依次显示了调制开始、相互作用瞬态、稳态和调制结束时重建的TOF迹线。(b) 对MEMS 桥弯曲模态形状的实时观察。14 束光束尺寸约为 8 μm,FOV约为880 μm的光束沿桥的长边入射。测量了前五个弯曲模式(从4.0 kHz 到80.9 kHz)的共振运动。14 个局部位置的TOF用红点表示,点之间的TOF曲线是用样条法插值的。插图中展示扫描电子显微镜的成像结果。
  • 高分子表征技术专题——小角X射线散射技术在高分子表征中的应用
    2021年,《高分子学报》邀请了国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。更多专题内容详见:高分子表征技术专题高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。 我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读. 期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来.高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献. 借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意!小角X射线散射技术在高分子表征中的应用Typical Applications of Small-angle X-ray Scattering Technique in Polymer Characterization作者:吕冬,卢影,门永锋作者机构:中国科学院长春应用化学研究所 高分子物理与化学国家重点实验室,长春,130022作者简介:门永锋,男,1973年生. 1995年获东南大学理学学士,1998年获中国科学院长春应用化学研究所理学硕士,2001年德国弗赖堡大学物理系获自然科学博士. 2002~2005年,德国BASF公司高分子研究中心,博士后、Physicist. 2005年加入中国科学院长春应用化学研究所开展工作. 2005年入选中国科学院百人计划,2014年入选科技部中青年科技创新领军人才,2016年入选第二批万人计划科技创新领军人才,2015年获国家基金委杰出青年基金、英国皇家学会牛顿高级学者基金. 目前担任高分子物理与化学国家重点实验室主任、中国晶体学会小角散射专业委员会主任、IUPAC商用聚合物结构与性能分会主席. 主要从事高分子结构与性能方面研究工作.摘要小角X射线散射(SAXS)技术是表征高分子材料微观结构的一种重要手段. 当X射线穿过材料时,在材料不均一的电子云密度分布作用下,发生散射并形成特定的散射图案,使得我们可以根据特定的模型来反推材料的微观结构,并计算相关结构参数. SAXS特有的对微观结构的统计平均及无损探测使其成为了一种不可或缺的高分子材料微观结构分析手段. 本文首先简述了SAXS技术的基本理论,在此基础上根据测试中的实际问题给出了测试时可采取的实验技巧. 最后,结合典型实例,概述了高分子材料中可用SAXS技术表征的微观结构及其相应的理论模型. 希望本文能作为入门文献,帮助初学者更好地理解SAXS技术的原理,并结合实际需求迅速了解SAXS技术的适用范围及相关实验技巧,高效地完成相关实验.AbstractSmall-angle X-ray scattering (SAXS) technique is one of the most significant methods for determining the micro-structures of polymeric materials due to its statisticalaverage and nondestructive detecting feature. Usually, a monochromatic parallel beam of X-rays is used for scattering experiments. When passing through a sample, the oscillating electromagnetic field (mostly the electric part) of X-rays interact with electrons, making the electrons secondary sources of X-rays of the same frequency. Those secondary X-rays interfere with each other to form a specific pattern deviating from the primary beam path depending on the actual locations of the electrons in the sample. Mathematically, such interferences can be obtained by a summation of all secondary X-ray waves. As the number of the electrons within the sample is very large, an integration is used to represent the summation mentioned above. Because of the wave nature of the X-rays, the amplitude of the scattered X-rays determined by the above integration is just a Fourier transformation of the electron density distribution within the scattering volume. Due to the limitation in detection technique, the complex value of amplitude of scattered X-rays with real and imaginary parts cannot be recorded. It is the intensity rather than the amplitude that is recorded during experiments resulting in a loss of the phase information. Therefore, obtaining exact structural information (electron density distribution) becomes not easy and must be based on specific model fittings. Besides structures, SAXS intensity distribution can be used to investigate sample’s gross properties such as fraction of phases or local properties such as fractal dimensions of interfaces between phases. This work began with an introduction of the fundamental theories of the SAXS technique, followed by practical suggestions on performing the experiments and brief summaries of models developed for different structures. The authors wish this review could help the beginners to comprehend the elements of the SAXS technique and serve as an instruction manual for valid data acquisition.关键词高分子表征  小角X射线散射(SAXS)  片晶  微观结构KeywordsPolymer characterization  Small-angle X-ray scattering (SAXS)  Lamellae  Micro-structure 11小角X射线散射原理简述X射线是波长介于紫外与γ射线之间的电磁波,其波长范围涵盖了10-8~10-12 m,相应的频率范围为10 16~1022 Hz. 人们通常利用单一波长(单色)的X射线进行散射与衍射实验,例如:实验室中通常使用波长为0.154 nm的CuK α线特征辐射作为入射光源开展实验,而在同步辐射光源则可以根据需要选择合适的波长. X射线散射通常是指一束近乎平行的单色X射线穿过样品后产生的偏离入射光方向散射光强的现象. 当X射线通过物质时,其电磁波中的高频电场迫使物质中的电子发生同频震荡,产生次级波,这些次级波在空间中传播叠加. 不同位置的电子发出的次级波到达空间特定位置时具有不同的相位,因此,最终在不同位置的散射光的振幅取决于样品中电子的空间分布[1~3]. 由于物质中电子的数量极其巨大,上述各个位置振幅的叠加过程可以简化为积分,也就是:其中ρ(r)是样品内部电子密度分布函数,r是样品内电子的坐标,V是X射线照射的体积,q是散射矢量,定义为:其中S0和S分别为入射光及散射光方向的单位矢量.q的大小为:其中2θ是入射光与散射光之间的夹角,也就是散射角. 可见,X射线散射实验获得的散射光振幅在q空间的分布只与样品内部电子密度分布函数相关,利用不同波长X射线进行测试获得的散射光振幅分布具有不同的角度依赖性,但换算成q空间分布则是唯一的. 观察公式(1)可以发现A(q)其实就是ρ(r)的傅里叶变换. 如果我们可以直接测量A(q),便可以直接进行反傅里叶变换获得期待的ρ(r),也就是样品内部的微观结构.然而,如前所述,X射线的频率非常高,目前的电子学技术不能有效测量A(q),在测量过程中会丢掉相位信息,只能测得强度信息,也就是:公式(1)所展示的代表实空间结构的ρ(r)与A(q)代表q空间散射光振幅分布函数显然具有倒易性,即,实空间中尺度越大的结构将在q空间中小q区呈现强的散射光. 可见,根据公式(3)及通常使用的X射线的波长(在0.1 nm量级),几纳米至几百纳米的微观结构将在较小的q(2θ)处产生散射信号. 因此,探测纳米至微米尺度微观结构的X射线散射技术被称为小角X射线散射(SAXS). 尽管通过散射强度I(q)不能直接得到体系的电子云密度分布函数ρ(r),但是ρ(r)的自相关函数Γρ(ρ)恰巧是散射强度的反傅里叶变换. 因此,代表体系微观结构的ρ(r)、散射光振幅A(q)、可测量的散射光强度I(q)及ρ(r)的自相关函数Γρ(ρ)之间就具有了图1所示的关系. 这一物理量间相互转化的关系是SAXS技术的基础[4,5]. 值得注意的是,由Γρ(ρ)不能直接反推样品体系的电子云密度分布情况. 在实际数据分析中,我们还需结合体系的电子云密度分布特性进行讨论. 因此,对于体系电子云密度分布的描述十分重要,目前主流的数据分析发展趋势主要是集中于如何选取简化的模型,推导出具有特征形状的自相关函数Γρ(ρ)[6],来间接描述体系的电子云密度分布. 模型确定后,就可以根据散射强度分布来计算一些特定的结构参数. 篇幅所限,这里只给出了极简版的SAXS原理以及获得结构信息的大致思路,想要深入地了解SAXS技术的原理的读者可以参考文末所列出的经典教科书[1~4,7~11].Fig. 1Relationships amongρ(r),A(q),Γρ(r) andI(q)[5].SAXS技术的测试结果不直观,倒空间的散射信号还原成实空间中材料的微观结构的过程中,涉及到大量的数学运算及相应理论模型的拟合,稍有不慎极有可能得出错误的结果. 因此,在利用SAXS分析材料微观结构时,常常需要扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、示差扫描量热仪(DSC)等实验来辅助验证分析结果. SAXS技术的优点则在于适用于多种材料体系,对测试样品不需要进行前期预处理,测试过程中也不改变样品的结构性质,属于无损测试. SAXS测试结果为体系的统计平均值,更能代表材料的整体信息. 此外,多数SAXS仪器与其他仪器兼容性好,可以实现SAXS技术与各种小型设备,例如拉伸仪、剪切仪、热台、注塑机、模拉仪器等多种仪器的联用[12],从而在线观测材料在各种条件下的微观结构演变及服役行为. 因此,虽然SAXS技术对于初学者来说门槛略高,但由于其多方面的优势,在高分子材料结构表征领域中仍扮演着不可替代的角色.2实验技巧从上述X射线散射的基本原理可知SAXS实验方面相对简单,只需利用成熟的商用仪器或同步辐射线站将待测样品置于X射线光路之中特定的位置即可. SAXS也可以通过以很小的角度掠过表面来测试薄膜样品,此时的SAXS实验被称为掠入射SAXS (GISAXS),其基本原理与SAXS相近,本文受篇幅限制不对GISAXS进行讨论. 除了简单的静态样品SAXS测试,还可以利用SAXS测试样品在不同外场下的微观结构演化过程,例如高分子加工成型条件下的相变与结晶、服役环境中的形变与破坏等. 为实现最优化的SAXS实验,在开始实施之前确实需要做一些必要的准备. 以下是一些常见的需要注意的事项.2.1谱仪参数选择任何SAXS设备都只具备有限的可测量q范围,这就决定了可观测的微观结构尺寸必然是有限的,因此,一个初步的判断,甚至是初步的实空间实验通常是需要的. 很多SAXS设备具有多段可调q范围,初步的实验有助于选择合适的仪器参数实现相关尺度微观结构的统计平均测试.目前主流的实验室SAXS设备及同步辐射SAXS实验站都可提供X射线波长、光斑尺寸、样品到探测器距离等参数的选择. 配备2种金属靶(例如铜及钼)的实验室SAXS设备逐渐成为一个很好的选择,其提供的铜或钼的特征辐射具有不同的波长,也就是具备不同的穿透能力,在具有环境腔窗口的情况下可根据不同的窗口材料选择合适的光源. 光斑尺寸的选择原则是在宏观的谱仪尺度上可被看成是点光源,但在微观结构尺度上又能实现足够大的覆盖以实现统计平均. 简而言之,如光斑尺寸过大则会对SAXS数据造成明显的模糊效应,也就是探测器同一个像素点采集到了样品不同位置散射的本应是不同q处的信号. 尽管可以利用光斑形状的数据对最终获得的SAXS数据进行去模糊处理,通常我们还是应该避免这一步骤,原因是去模糊过程不可避免地带来计算的简化及误差,进而影响实验数据的精度. 同样的道理,如果光斑尺寸过小则会造成统计平均不足的问题,特别是在先进的同步辐射实验站,当光斑尺寸接近待测微观结构尺寸时就会丧失应有的统计性及小q区数据的可靠性. 这一点可从公式(1)来理解,其中的积分体积V是X射线照射的样品体积,因此,光斑的尺寸的倒数就决定了可探测的最小q值.取决于通常的二维面探测器像素点尺寸,我们在实验之前可估算能实现的q空间分辨率,也就是2个相邻像素代表的q之差Δq. 常见的误区是只关注能实现的最小q而忽视Δq. 这种情况在探测目标微观结构尺寸较大时尤为突出. 根据SAXS谱仪的结构,可通过改变样品到探测器之间的距离实现Δq的合理选择,该距离越大则对应的从样品位置出发的2个相邻像素点对应的角度也就越小,从而实现更小的Δq.2.2样品尺寸选择样品的宏观尺寸对获得优质的SAXS数据也很重要,通常选用足够大的样品以使入射X射线全部照射在样品上而不触及样品边缘,这样做的目的是尽量避免边缘光滑表面可能带来的对掠过的X射线的反射,这种反射将会污染实际的SAXS数据. 这种情况在测试直径小于光斑尺寸的纤维样品时比较突出,通常的做法是利用与纤维密度相仿的液体浸润一束纤维以消除纤维与空气的界面影响.X射线与物质相互作用除了散射以外还包括被吸收,因此,在确定样品沿X射线传播方向的最佳厚度时就需要考虑吸收和散射的平衡. 基本的思想非常简单,散射强度依赖于X射线照射到的总电子数,也就是和厚度成正比,吸收则相反,厚度越大则吸收越严重,因此,对特定的样品在特定的X射线波长下一定存在一个最佳的厚度进行SAXS实验. 根据计算,通常实验室SAXS设备利用的CuKα线下聚乙烯样品的最佳厚度为2 mm左右. 因吸收系数是X射线波长的函数,具体到特定条件下最优样品厚度的寻找需借助工具书或进行实测[7].2.3数据处理从上述讨论可知,与显微学手段(如电子显微镜、原子力显微镜等)相比,SAXS实验实现起来相对简单,但SAXS数据是在q空间呈现的,远没有显微学实验获得的结果直观,并且实验测得的原始数据还需校正才能使用.首先,任何SAXS谱仪都不可避免会有背底散射,也就是在没有加载样品时也会有一定程度的散射信号可被探测器记录,这些背底散射来自光路中可能的窗口、气体分子及探测器的电子学噪音. 因此,正确扣除这部分背底散射非常重要. 目前主流的SAXS设备和同步辐射SAXS实验站都配备了标准的流程进行背底散射的扣除. 这里需要注意的是正确计算加载样品之后的背底散射,考虑到样品对入射X射线的吸收,在加载样品后通过样品后光路中的X射线总量减少,因此,在没加载样品条件下测得的背底散射数据实际上是被高估了,需要进行样品吸收校正. 背底散射扣除后的SAXS数据已经可以用于体系微观结构参数的计算,但其散射强度还只具有任意单位,需要进行进一步的数据处理才能获得绝对散射强度[10,13]. 绝对散射强度包含了体系微观结构的所有信息. 通常可以利用已知绝对散射强度的样品(例如纯水)作为标准进行比对,获得所测样品的绝对散射强度分布. 上述介绍的强度校正基本可以满足一般需求,但在精确的计算中还涉及到更多信号校正,这里不再一一展开说明. Pauw在综述中关于信号校正的种类,校正对信号影响大小,及应用各类校正的先后顺序进行了详细的阐述[14].按照正确步骤得到散射曲线后就可以进行数据分析. SAXS数据中散射强度与散射矢量之间一般具有幂率关系,也就是I(q)~q−ν ( ν是正自然数),因此,SAXS曲线通常用双对数坐标表示以方便获得幂律关系,这就要求我们不能对散射强度进行加减操作,以免改变应有的幂律关系. 有时为图示清晰,可对SAXS数据进行乘除常数的操作,获得曲线在双对数坐标下的上下平移,达到合适的视觉效果而不影响通过幂指数规律进行数据分析.在高分子领域,利用SAXS对结晶高分子体系片晶-非晶区叠层结构长周期的研究极为广泛和成功,其中常见对散射强度(I(q)versusq)数据做洛伦兹校正,既将I(q)乘以q2之后对q做图,然后利用I(q)q2versusq曲线探讨体系结构参数[7,9]. 这里的洛伦兹校正是考虑到片层体系的特殊几何结构而进行的对测得的散射强度的必要修正,具有其他几何形状的微观结构产生的散射强度不能直接套用该校正. 首先,我们考虑一个在空间中固定的片层结构,其宽度和长度远大于厚度,这就意味着该片层产生的散射强度将集中在片层法向方向,在q空间形成一个细棒状分布,所以,理论上该片层在法向方向以外都不产生散射信号. 然而,实际体系中由于片层结构会沿不同方向平均化,这主要是因为在液体分散体系中的片层会高速运动(旋转、平动),使得测量时间尺度范围内本应是细棒状的强度分布平均分不到整个三维q空间,那么对于任意q而言,强度就被稀释了以q为半径的球壳面积倍,也就是4πq2倍. 所以,测得的散射强度需要按q2校正. 在结晶高分子体系,尽管片晶不能旋转,但是众多片晶在空间中沿不同方向分布,其实际效果和上述分散体系类似,因此也需对测得的I(q)进行q2校正. 根据上述讨论,其他形状的散射体,例如球状散射体因其理论上的散射强度在不同q处就应该是均匀分布的,不存在稀释的问题,所以是不能盲目进行洛伦兹校正的.常用的SAXS数据处理软件有Fit2d[15],GNOM[16],SASfit[17],SasView[18],Scatter[19],ATSAS[20],McSAS[21],BioXTAS RAW[22]等,可实现二维SAXS散射图到各类一维散射曲线的转换,并且部分软件兼具简单的数据拟合功能. 各个软件有其特定的侧重点,需要根据自己的实际需求来选择. 此外,也可使用Matlab、Python等程序语言,自行编辑所应用的公式及选择相应拟合模型,对自己的体系进行个性化处理. 但值得注意的是,曲线拟合完美并不一定代表结果的真实可靠,在得出正式结论前一定要三思.3小角X射线应用实例在这一节中,首先介绍不依赖于具体微观结构模型的散射不变量Q的相关应用以及如何利用散射峰位置确定微观粒子的排列模式,之后再按照微观结构分类,分别给出对应结构的拟合公式及实际应用. 由于篇幅所限,本文选取了有限的应用实例而非面面俱到,对特定结构测定有兴趣的读者可参考文末所列的基本SAXS经典教科书[1~4,7~11].3.1散射不变量Q散射不变量Q,以两相结构体系为例,取决于样品体系内部各散射体间电子云密度差及各散射体的体积分数[4,7]:其中,ρ1和ρ2分别为两相的cle/doi/10.11777/j.issn1000-3304DOI:10.11777/j.issn1000-3304.2020.20249
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1-2 防火墙 防火墙 1(台) 详见采购文件 28,000.00 - 1-3 交换设备 核心交换机 1(台) 详见采购文件 52,500.00 - 1-4交换设备 接入交换机 25(台) 详见采购文件 56,250.00 - 1-5 机柜 机柜 1(台) 详见采购文件 2,850.00 - 1-6 信息化设备零部件 千兆光模块 50(个) 详见采购文件 42,500.00 - 1-7 其他机房辅助设备 辅材 1(项) 详见采购文件 7,500.00 - 1-8 其他机房辅助设备 安装费 1(项) 详见采购文件 25,000.00 - 1-9 教学仪器 机器人基础套件 9(套) 详见采购文件 28,350.00 - 1-10 其他计算机软件 机器人基础套件课程资源 1(套) 详见采购文件 1,500.00 - 1-11其他信息化设备 气象站演示教学套件 1(套) 详见采购文件 5,500.00 - 1-12 其他计算机软件 气象站演示教学套件课程资源 1(套) 详见采购文件 1,600.00 - 1-13 其他信息化设备 创意电子电路套装 18(套) 详见采购文件 51,300.00 - 1-14 其他信息化设备 创意机械套装 9(套) 详见采购文件 27,000.00 - 1-15 其他信息化设备 语音识别编程套装 9(套) 详见采购文件 23,850.00 - 1-16 其他信息化设备 机器人创意套装 9(套) 详见采购文件 37,800.00 - 1-17 其他计算机软件 机器人创意套装课程资源 1(套) 详见采购文件 1,500.00 - 1-18 其他计算机 电子计算机 9(台) 详见采购文件 36,000.00 - 1-19 其他计算机软件 图形化编程软件平台 9(套) 详见采购文件 13,500.00 - 1-20 其他办公设备 教师桌椅 1(套) 详见采购文件 2,470.00 - 1-21 其他办公设备 学生六方桌 9(套) 详见采购文件 18,000.00 - 1-22 其他办公设备 学生椅 54(张) 详见采购文件 7,830.00 - 1-23 其他构筑物 教室文创布置 1(项) 详见采购文件 8,500.00 - 1-24 其他机房辅助设备 安装调试 1(项) 详见采购文件 10,000.00 - 1-25 其他广播、电视、电影设备 4K录播一体机 1(台) 详见采购文件 25,000.00 - 1-26 其他广播、电视、电影设备 嵌入式录播系统 1(套) 详见采购文件 35,500.00 - 1-27 其他广播、电视、电影设备 高清云台摄像机 3(台) 详见采购文件 16,500.00 - 1-28 其他广播、电视、电影设备 高清云台摄像机 2(台) 详见采购文件 9,000.00 - 1-29 话筒设备 指向性话筒 6(支) 详见采购文件 6,000.00 - 1-30 音视频矩阵 数字音频矩阵 1(台) 详见采购文件 13,000.00 - 1-31 音频功率放大器设备(功放设备) 功放 1(台) 详见采购文件 2,000.00 - 1-32 音箱 音箱 2(台) 详见采购文件 2,000.00 - 1-33 其他信息化设备 智能分析主机 1(台) 详见采购文件 14,000.00 - 1-34 其他信息化设备 图像跟踪系统 1(套) 详见采购文件 26,000.00 - 1-35 其他信息化设备 跟踪半球 2(台) 详见采购文件 2,000.00 - 1-36 触摸式终端设备 桌面式触摸面板 1(个) 详见采购文件 2,000.00 - 1-37 其他电源设备 时序电源控制器 1(台) 详见采购文件 2,000.00 - 1-38 其他信息化设备 资源管理平台 1(套) 详见采购文件 20,000.00- 1-39 其他信息化设备 服务器 1(台) 详见采购文件 25,000.00 - 1-40 其他信息化设备 互动抬头屏 1(台) 详见采购文件 2,500.00 - 1-41 话筒设备 无线话筒 1(套) 详见采购文件 1,850.00 - 1-42 其他办公设备 多媒体讲桌 1(台) 详见采购文件 2,200.00 - 1-43 其他构筑物 课室装饰 1(项) 详见采购文件 48,500.00 - 1-44 其他信息化设备 互动抬头屏 2(台) 详见采购文件 5,000.00 - 1-45 其他计算机 观摩室管理电脑 1(台) 详见采购文件 5,000.00 - 1-46 其他办公设备 观摩室电脑桌椅 1(套) 详见采购文件 2,500.00 - 1-47 其他构筑物 观摩室隔断 1(项) 详见采购文件 20,000.00 - 1-48 其他制冷空调设备 立式空调 1(台) 详见采购文件 8,500.00 - 1-49 其他制冷空调设备 壁挂空调 1(台) 详见采购文件 3,000.00 - 1-50 音箱 监听音箱 1(台) 详见采购文件 343.50 - 1-51 交换设备 交换机 1(台) 详见采购文件 1,200.00 - 1-52 机柜 机柜 1(台) 详见采购文件 2,000.00- 1-53 其他机房辅助设备 辅材 1(项) 详见采购文件 2,500.00 - 1-54 其他机房辅助设备 安装费 1(项) 详见采购文件 12,500.00 - 1-55 其他广播、电视、电影设备 录播一体机 1(台) 详见采购文件 16,500.00 - 1-56 其他计算机软件 录播系统 1(套) 详见采购文件 25,000.00 - 1-57 通用摄像机 无线云台摄像机 3(台) 详见采购文件 12,000.00 - 1-58 广播、电视、电影设备零部件 摄像机三脚架 3(台) 详见采购文件 1,500.00 - 1-59 话筒设备 无线全向话筒 1(套) 详见采购文件2,500.00 - 1-60 广播、电视、电影设备零部件 便携录播航空箱 1(套) 详见采购文件 2,500.00 - 1-61 集中控制装置 教师中控条案 1(台) 详见采购文件 8,000.00 - 1-62 其他办公设备 书法临摹桌 23(张) 详见采购文件 65,550.00 - 1-63 其他办公设备 书画教学展示台 1(套) 详见采购文件 14,500.00 - 1-64 其他计算机软件 书法教学直播系统 1(套) 详见采购文件 12,000.00 - 1-65 其他计算机软件 书法字帖排版系统 1(套) 详见采购文件 8,000.00 - 1-66 其他计算机软件 书法集创系统 1(套)详见采购文件 8,000.00 - 1-67 其他计算机软件 三笔字板书示范书写软件 1(套) 详见采购文件 6,000.00 - 1-68 其他计算机软件 书法教学视频资源平台 1(套) 详见采购文件 18,500.00 - 1-69 其他计算机软件 书法教学查询系统 1(套) 详见采购文件 6,500.00 - 1-70 其他计算机软件 场景式网络课堂教学系统 1(套) 详见采购文件 10,000.00 - 1-71 其他计算机软件 书法课程讲义系统 1(套) 详见采购文件 10,000.00 - 1-72 其他计算机软件 碑帖深度学习软件 1(套) 详见采购文件 6,000.00 - 1-73 其他计算机软件 中控系统1(台) 详见采购文件 15,500.00 - 1-74 其他计算机 平板电脑 1(台) 详见采购文件 4,500.00 - 1-75 其他机房辅助设备 辅材 1(项) 详见采购文件 1,500.00 - 1-76 其他机房辅助设备 安装调试费 1(项) 详见采购文件 15,000.00 - 1-77 视频处理器 会议显示屏 13.89(平米) 详见采购文件 95,146.50 - 1-78 其他构筑物 墙面处理 17.79(平米) 详见采购文件 8,895.00 - 1-79 其他构筑物 地台 26.4(平米) 详见采购文件 9,240.00 - 1-80 音箱音箱 4(只) 详见采购文件 6,000.00 - 1-81 音频功率放大器设备(功放设备) 功放 2(台) 详见采购文件 3,700.00 - 1-82 广播、电视、电影设备零部件 壁挂音箱支架 4(只) 详见采购文件 480.00 - 1-83 其他音频节目制作和播控设备 数字音频处理器 1(台) 详见采购文件 1,650.00 - 1-84 其他音频节目制作和播控设备 音视频处理软件 1(套) 详见采购文件 2,000.00 - 1-85 话筒设备 无线话筒 1(套) 详见采购文件 1,500.00 - 1-86 调音台 调音台 1(台) 详见采购文件 1,850.00 - 1-87其他音频节目制作和播控设备 自动反馈抑制器 1(台) 详见采购文件 2,500.00 - 1-88 其他音频节目制作和播控设备 电源时序器 1(台) 详见采购文件 1,250.00 - 1-89 机柜 会议机柜 1(台) 详见采购文件 2,500.00 - 1-90 其他机房辅助设备 辅材 1(项) 详见采购文件 500.00 - 1-91 其他机房辅助设备 安装调试费 1(项) 详见采购文件 2,000.00 - 1-92 教学仪器 三棱镜 60(个) 详见采购文件 2,700.00 - 1-93 教学仪器 水钟模型 15(个) 详见采购文件 1,530.00 - 1-94教学仪器 大摆钟 6(个) 详见采购文件 450.00 - 1-95 教学仪器 塑料水槽 15(个) 详见采购文件 420.00 - 1-96 教学仪器 酒精灯 60(个) 详见采购文件 1,320.00 - 1-97 教学仪器 三脚架 3(个) 详见采购文件 195.00 - 1-98 教学仪器 试管夹 15(个) 详见采购文件 105.00 - 1-99 教学仪器 烧杯 30(个) 详见采购文件 330.00 - 1-100 教学仪器 砂纸 60(张) 详见采购文件 300.00 - 1-101 教学仪器 蜡烛 60(根) 详见采购文件 480.00 - 1-102 教学仪器 卷尺 15(盒) 详见采购文件 300.00 - 1-103 教学仪器 软尺 15(卷) 详见采购文件 255.00 - 1-104 教学仪器 塑料碗 60(个) 详见采购文件 420.00 - 1-105 教学仪器 回形针 15(盒) 详见采购文件 105.00 - 1-106 教学仪器 小棒 90(根) 详见采购文件 180.00 - 1-107 教学仪器 仪器车 3( 辆) 详见采购文件 4,500.00 - 1-108 教学仪器 生物显微镜 3( 台) 详见采购文件 3,600.00 - 1-109 教学仪器 生物显微演示装置 3(台) 详见采购文件 855.00 - 1-110 教学仪器 学生显微镜 9( 台) 详见采购文件 4,050.00 - 1-111 教学仪器 放大镜 9( 个) 详见采购文件 135.00 - 1-112 教学仪器 天文望远镜 3( 套) 详见采购文件 2,040.00 - 1-113 教学仪器 酒精喷灯 3( 个) 详见采购文件 825.00 - 1-114 教学仪器 电加热器 3( 台) 详见采购文件 675.00 - 1-115 教学仪器 保温箱 3( 台) 详见采购文件 1,635.00 - 1-116 教学仪器 听诊器 6( 个) 详见采购文件 900.00 - 1-117 教学仪器 手持移动灯 12(只) 详见采购文件 2,580.00 - 1-118 教学仪器 方座支架 12(套) 详见采购文件 2,460.00 - 1-119 教学仪器 温度计 12( 支) 详见采购文件 216.00 - 1-120 教学仪器 体温计 12( 支) 详见采购文件 540.00 - 1-121 教学仪器 寒暑表 3(张) 详见采购文件 66.00 - 1-122 教学仪器 最高温度表 3(张) 详见采购文件 204.00 - 1-123 教学仪器 最低温度表 3(张) 详见采购文件 135.00 - 1-124 教学仪器 条形盒测力计 12( 个) 详见采购文件 180.00 - 1-125 教学仪器 条形盒测力计 12( 个) 详见采购文件 180.00 - 1-126 教学仪器 条形盒测力计 18( 个) 详见采购文件 270.00 - 1-127 教学仪器 多用电表 3( 个) 详见采购文件 825.00 - 1-128 教学仪器 湿度计 3( 个) 详见采购文件 204.00 - 1-129 教学仪器 指南针12( 个) 详见采购文件 672.00 - 1-130 教学仪器 雨量器 3( 套) 详见采购文件 240.00 - 1-131 教学仪器 风杯式风速表 3( 套) 详见采购文件 675.00 - 1-132 教学仪器 斜面 12( 个) 详见采购文件 600.00 - 1-133 教学仪器 压簧 12( 套) 详见采购文件 108.00 - 1-134 教学仪器 拉簧 12( 套) 详见采购文件 108.00 - 1-135 教学仪器 沉浮块 12( 套) 详见采购文件 420.00 - 1-136 教学仪器 杠杆尺及支架12( 个) 详见采购文件 480.00 - 1-137 教学仪器 滑轮组及支架 12( 套) 详见采购文件 360.00 - 1-138 教学仪器 轮轴及支架 12( 套) 详见采购文件 420.00 - 1-139 教学仪器 齿轮组及支架 12( 套) 详见采购文件 336.00 - 1-140 教学仪器 弹簧片 12( 套) 详见采购文件 72.00 - 1-141 教学仪器 小车 18( 个) 详见采购文件 288.00 - 1-142 教学仪器 三球仪 3( 台) 详见采购文件 810.00 - 1-143 教学仪器 太阳高度测量器 12( 个) 详见采购文件 324.00 - 1-144 教学仪器 风的形成实验材料 12( 套) 详见采购文件 480.00 - 1-145 教学仪器 组装风车材料 12( 套) 详见采购文件 108.00 - 1-146 教学仪器 组装水轮材料 12( 套) 详见采购文件 180.00 - 1-147 教学仪器 太阳能的应用材料 12( 套) 详见采购文件 540.00 - 1-148 教学仪器 音叉 12( 只) 详见采购文件 900.00 - 1-149 教学仪器 小鼓 12( 个) 详见采购文件 360.00 - 1-150 教学仪器 组装土电话材料12( 套) 详见采购文件 108.00 - 1-151 教学仪器 热传导实验材料 12( 套) 详见采购文件 300.00 - 1-152 教学仪器 物体热涨冷缩实验材料 12( 套) 详见采购文件 360.00 - 1-153 教学仪器 灯座及灯泡 18( 个) 详见采购文件 198.00 - 1-154 教学仪器 开关 18( 个) 详见采购文件 198.00 - 1-155 教学仪器 物体导电性实验材料 12( 套) 详见采购文件 408.00 - 1-156 教学仪器 条形磁铁 3( 套) 详见采购文件 135.00 - 1-157 教学仪器 条形磁铁12( 套) 详见采购文件 48.00 - 1-158 教学仪器 蹄形磁铁 3( 套) 详见采购文件 300.00 - 1-159 教学仪器 蹄形磁铁 12( 套) 详见采购文件 72.00 - 1-160 教学仪器 磁针 12( 套) 详见采购文件 264.00 - 1-161 教学仪器 环形磁铁 12( 套) 详见采购文件 72.00 - 1-162 教学仪器 电磁铁组装材料 12( 套) 详见采购文件 120.00 - 1-163 教学仪器 电磁铁 3( 套) 详见采购文件 165.00 - 1-164 教学仪器 手摇发电机12( 个) 详见采购文件 660.00 - 1-165 教学仪器 激光笔 12( 个) 详见采购文件 132.00 - 1-166 教学仪器 小孔成像装置 12( 套) 详见采购文件 216.00 - 1-167 教学仪器 平面镜及支架 12( 套) 详见采购文件 156.00 - 1-168 教学仪器 曲面镜及支架 12( 套) 详见采购文件 156.00 - 1-169 教学仪器 透镜、棱镜及支架 12( 套) 详见采购文件 408.00 - 1-170 教学仪器 成像屏及支架 12( 套) 详见采购文件 180.00 - 1-171 教学仪器 昆虫观察盒12( 个) 详见采购文件 264.00 - 1-172 教学仪器 动物饲养笼 3( 个) 详见采购文件 543.00 - 1-173 教学仪器 塑料注射器 2( 个) 详见采购文件 22.00 - 1-174 教学仪器 单摆 1( 套) 详见采购文件 15.00 - 1-175 其他模型 照相机模型 9( 套) 详见采购文件 504.00 - 1-176 其他模型 儿童骨骼模型 3( 台) 详见采购文件 750.00 - 1-177 其他模型 儿童牙列模型 3( 台) 详见采购文件 405.00 - 1-178 其他模型 少年人体半身模型3( 台) 详见采购文件 2,040.00 - 1-179 其他模型 眼构造模型 3( 台) 详见采购文件 885.00 - 1-180 其他模型 啄木鸟仿真模型 3( 件) 详见采购文件 270.00 - 1-181 其他模型 猫头鹰仿真模型 3( 件) 详见采购文件 315.00 - 1-182 其他模型 平面政区地球仪 3( 个) 详见采购文件 855.00 - 1-183 其他模型 平面地形地球仪 3( 个) 详见采购文件 870.00 - 1-184 其他模型 地动仪模型 3( 台) 详见采购文件 3,750.00 - 1-185 其他模型 地球构造模型3( 件) 详见采购文件 1,620.00 - 1-186 其他模型 司南模型 3( 台) 详见采购文件 330.00 - 1-187 其他模型 月相变化演示器 3( 件) 详见采购文件 1,200.00 - 1-188 其他标本 蟾蜍浸制标本 9( 瓶) 详见采购文件 585.00 - 1-189 其他标本 河蚌浸制标本 9( 瓶) 详见采购文件 585.00 - 1-190 其他标本 爬行类动物浸制标本 9( 瓶) 详见采购文件 585.00 - 1-191 其他标本 蛙发育顺序标本 9( 瓶) 详见采购文件 855.00 - 1-192 其他标本 昆虫标本 9( 套) 详见采购文件 675.00 - 1-193 其他标本 桑蚕生活史标本 9( 套) 详见采购文件 612.00 - 1-194 其他标本 兔外形标本 9( 件) 详见采购文件 810.00 - 1-195 其他标本 植物种子传播方式标本 9( 盒) 详见采购文件 495.00 - 1-196 其他标本 天然材料标本 6( 套) 详见采购文件 240.00 - 1-197 其他标本 人造材料标本 6( 套) 详见采购文件 240.00 - 1-198 其他标本 纺织品标本 6( 套) 详见采购文件 240.00 - 1-199 其他标本 各种纸样标本 6( 套) 详见采购文件 240.00 - 1-200 其他标本 矿物标本 9( 套) 详见采购文件 405.00 - 1-201 其他标本 岩石标本 9( 套) 详见采购文件 405.00 - 1-202 其他标本 金属矿物标本 9( 套) 详见采购文件 360.00 - 1-203 其他标本 土壤标本 9( 套) 详见采购文件 405.00 - 1-204 其他标本 矿物提炼物标本 9( 套) 详见采购文件 405.00 - 1-205 其他标本 植物根尖纵切 12( 片) 详见采购文件 48.00 - 1-206 其他标本 木本双子叶FDFE '
  • 2013年颗粒测试与表征技术培训班成功举办
    仪器信息网讯 在IPB 2014召开期间,&ldquo 2013年颗粒测试与表征技术培训班&rdquo 在上海国际展览中心举办,吸引了100多位颗粒测试与表征技术工作者参加培训。 2013年颗粒测试与表征技术培训班现场   本期培训班由中国颗粒学会主办,并得到了丹东百特仪器有限公司、广州博勒飞粘度计质构仪技术服务有限公司与纽伦堡会展服务(上海)有限公司的大力支持。 北京粉体技术协会理事长胡荣泽教授致辞 丹东百特仪器有限公司总经理董青云   董青云携丹东百特软件部经理范继来及上海办事处主任侯东瑞分别介绍了激光粒度分析方法新版国际标准ISO 13320-2009、激光粒度分析原理与方法以及百特最新的粒度分析技术。   新标准ISO 13320:2009 (E)将原标准ISO 13320-1:1999、13320-:1999合二为一,并增加了一些新内容与心新术语,附录E对获得更高测量精度给出了建议。而等同于采用ISO 13320:2009 (E)的中国国标预计明年正式发布。   董青云表示:&ldquo 激光粒度分析是目前应用最广泛的一种方法,具有宽、快、简、广等特点,但它又不是万能的方法,会受到环境、样品、仪器、人等的影响。要获得准确的粒度分析结果,就要研究样品、研究仪器、研究标准,找到更适合自己的方法。&rdquo 广州博勒飞粘度计质构仪技术服务有限公司总经理丁晓炯   丁晓炯主要向与会者介绍了粉体流动性的评价方法、PFT粉体流动测试仪在粉体流动性测量、数据解析中的实际应用,并在现场亲自操作PFT粉体流动测试仪进行测样演示。   粉体的流动性研究是目前很多材料行业的难点,而现有常见的一些方法不能满足实际需求。美国Brookefield公司根据ASTM D6128推出的PFT粉体流动测试仪,拥有流动函数测试、时间固结流动函数测试、壁面摩擦测试、松装密度测试等功能,特别适合测量5mm粒径以下的粉体,能够为工业处理设备中的粉体流动行为提供了快捷而容易的分析结果。
  • 《沙画》:盛瀚精神
    仪器信息网讯 2013年7月19日,由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办,青岛盛瀚色谱技术有限公司承办的中国离子色谱30周年纪念活动在青岛举行。来自全国各地的科研院所、学校、企事业单位的近200位代表出席了本次活动。   当天晚上,盛瀚举行了中国离子色谱30周年纪念活动答谢晚宴。该晚宴分三个篇章:感恩、创新、展望。其中《沙画》这个节目由青岛盛瀚色谱技术有限公司董事长朱新勇亲自配音,讲述了盛瀚发展历程,展现了盛瀚精神,表达了盛瀚人的勇气和信心! 表演者 画面   详情请见视频   附:《盛瀚精神》   在中国,在青岛,一个有故事,有内涵的企业,叫盛瀚!   2002年盛瀚诞生,并具有一定的基础,这是因为,我们站在巨人的肩膀上。30年前,刘开禄老师、赵云麒老师、袁斯鸣老师、蒋仁依老师,苏程远老师通力合作,勤奋拼搏,在经费短缺,垫付自己工资的情况下,研发出中国第一台离子色谱仪,其成果在崂山电子实验研究所转化生产,他们为中国人争得了光荣,同时也为盛瀚的发展打下了基础。   历经11年,盛瀚从一株小芽不断成长壮大,历经八年的寒暑,八年的历程,在面临竞争剧烈,困难重重,几次倒闭的恶劣条件下都坚持了下来。因为我们深知:每一次的波折均是我们学习的过程,都为我们积累了厚度。   11年来,我们始终秉承着质量、技术、服务、品牌的原则。坚持技术创新,实现技术的不断突破,目前已获得2项发明专利,35项实用新型专利。产品也不断更新换代,目前已有CIC系列离子色谱仪CIC-100型、CIC-200型、CIC-260型、CIC-300型.。   在国家、政府、专家、学会、朋友的大力支持下,盛瀚已取得了一点成绩。   (1)2009年,获英国渣打银行颁发的年度&ldquo 中国最具成长性新锐企业优秀奖&rdquo   (2)2011年,CIC-300型离子色谱仪获&ldquo 2011年国家重点新产品&rdquo 立项   (3)2012年,荣获青岛市守合同重信用企业   (4)2013年,荣获青岛市技术发明三等奖   我们坚持五行价值理论   土:股东搭建平台   金:奖励员工,提升价值   水:水如轮转,为客户创造价值   木:木可护荫,得到各界的支持与资助   火:火气兴旺,与合作伙伴坚持共赢关系   盛瀚坚持&ldquo 厚&rdquo &ldquo 道&rdquo 的核心观念,先做人,后做事,不断沉淀、积累,造就了盛瀚人&ldquo 正直、诚实、善良、积极向上&rdquo 的秉性,说、做一致。   作为炎黄子孙,龙的传人,我们不仅传承了技术,更传承了老一辈科学家艰苦奋斗,为国人争光的优秀品质。   目前我们赶上国家大力支持和发展科学仪器行业的大好机遇,在国产仪器占20%的形势下,我们深感肩上责任之重大。我们立志把离子色谱产品做好,把分析仪器做好,让国人用的放心,用的满意,为中国人长志气。   盛瀚人已经做好充足的准备,将跨出国门,走向世界!
  • 资深院士吴式枢逝世 曾创建吉大物理系
    新文化报讯(记者 窦仲 实习记者 邢程) 2009年2月27日9时48分,著名的科学家、教育家,中国科学院资深院士,吉林大学教授、物理学科创始人之一吴式枢先生因病医治无效,在长春与世长辞,享年86岁。昨晚,吉林大学发布了这一消息,继去年唐敖庆逝世之后,吉林省的两院院士减少至28人。   吴式枢简历:   吴式枢院士祖籍江西省宜黄县,1923年5月27日生于北京。1944年于上海同济大学机械工程系毕业后留校任教。1947年留学美国,就读于伊利诺伊大学研究生院,1951年获哲学博士学位。当时他的父母在台湾,弟弟在美国 但他不顾导师挽留和亲人的劝阻,响应周恩来总理对海外科学家的号召,毅然回国,参加新中国的建设事业。由于学术成就突出,年仅28岁的吴式枢博士被教育部批准为大连工学院教授,是当时国内最年轻有为的教授之一。1952年起投入创建东北人民大学(现吉林大学)物理系的事业之中,1958年又亲手创建了理论物理专业。1955年至1957年任系副主任,1957年至1984年任系主任,1984年后任名誉系主任。半个多世纪以来他呕心沥血,为吉林大学物理学科的建设和发展做出了杰出贡献。   吴式枢教授多年来对原子核理论,特别是核多体理论进行了系统的研究,硕果累累。他最早将壳模型理论用于处理μ介子和光核效应,取得了被学术界同行称为“吴模型”的研究成果。   二十世纪60年代他应用格林函数方法导出了高阶无规位相近似(HRPA)久期方程,并进行了费曼(Feynman)图解分析 还提出了“推广的组态混合法”,并给出了求解实际问题的途径 这项研究成果1966年在北京国际科学讨论会上得到了国内外同行的好评。70年代提出格林函数的非线性积分方程理论,指出并论证了非线性积分方程在格林函数理论中的应用及其物理含义。1981年在北京核物理讲习班上,可以应用吴式枢教授提出的非线性积分方程理论解决“关于π凝聚问题”的一个尚未解决的难题,他当即被邀请去联邦德国讲学与工作,并作为著名外国学者在联邦德国报刊上做了专门介绍,同时他还提出了核内介子自由度的理论。   大庆油田在测井中遇到了水淹油储层无法判断的难题,1971年吴式枢教授组织并带领一个课题组开展研究,提出了通过测量高频电磁波相位差确定地层介电常数的解决方案,为大庆油田研制相位介电测井仪提供了物理依据和设计基础。二十世纪70年代中期,他亲自参加并组织了轻核中子反应核数据评价的理论计算工作,为我国核数据库的建立和发展做出了重要贡献 他参与了《1978~1985年全国基础科学发展规划》的制订工作,该规划为我国基础科学研究的后续发展奠定了基础。近些年来吴式枢教授开展了核内介子自由度与量子强子动力学重整化方面的研究工作,建立了一套切实可行的理论和计算方法。   作为组织委员会主席之一, 他先后3次在长春组织了有美国、加拿大、英国、德国和日本等国学者前来参加的关于“核多体问题”的国际学术会议,促进了国际间的学术交流, 推动了核多体理论的研究。   主要学术专著有:《非线性积分方程与格林函数方法》、《原子核单粒位阱理论》、《相对论哈吹-福克(Hartree-Fock)近似和自洽效应》、《等效相互作用理论及顶角算符的封闭表示式》、《多重散射理论与格林函数方法》、《Meson degree of freedom inNuclei and the renormalization theory》等。   吴式枢教授爱国敬业,淡泊包容,学识渊博,为人谦逊,功成不居,垂范后世 他讲课思路清晰、鞭辟入里,富有启发性 建系初期他承担的教学任务之繁重名列全校之首 他治学严谨,诲人不倦,辛勤耕耘,春风化雨 志励秋霜,玉洁冰清,是一位才识与品行双馨的杰出教育家、科学家,为国家培养了一大批优秀的科学技术人才,门墙桃李,众多弟子成为国内外知名学者,国家栋梁之材 他的学生已有5人被评选为中国科学院院士。吉林大学物理学科的刻苦钻研、严谨治学的优良学风正是在吴式枢等老一辈物理学家的培育下形成的。   先后获得全国科学大会奖、国家自然科学三等奖、吉林省科技进步一等奖、何梁何利科学与技术进步奖等多项奖励,科技部与教育部联合授予“全国高等学校先进工作者”,国家教委和国家科委联合授予“全国先进科技工作者” 国家教委授予“老骥伏枥,志在千里,桃李无言,下自成蹊”的牌匾,以表彰他的人格魅力和对教育事业的卓著贡献。   1980年当选为中国科学院学部委员(院士)。是国务院学位委员会第一届、第二届学科评议组成员,第五至第九届全国人民代表大会代表。曾任中国核物理学会副理事长、吉林省科学技术协会副主席、吉林省物理学会理事长、名誉理事长、吉林大学自然科学学术委员会主任委员等职。被中国物理学会选为中国资深的杰出物理学家之一 。   吴式枢先生是中国人民的忠实儿子,是中国共产党的挚友。58年前,吴式枢博士怀着高度的爱国热情回到满目疮痍的新中国,为中国的高等教育事业和科学事业奋斗了一生,鞠躬尽瘁。   著名科学家,德高望重的教育家,中国科学院资深院士,杰出的物理学家,吉林大学教授、物理学科创始人之一吴式枢先生因病医治无效, 2009年2月27日9时48分在长春与世长辞,享年86岁。
  • 孰优孰劣?纳米粉体粒度检测方法大PK
    p style=" text-indent: 2em " 编者按:纳米粉体堪称纳米科学技术的奠基石,是介于原子、分子等微观物质与宏观物体之间的一种固体颗粒,又称超微粒子。作为一种亚稳态中间物质,纳米粉体的粒度指标对其性能影响巨大,表面效应、小尺寸效应、量子效应、宏观量子隧道效应等无不受粒度的影响。从粒度划分的角度,纳米粉体一般在1-100nm之间。测量其粒径的方法也多种多样,透射电镜观察法、X射线衍射法、BET比表面测试法,动态光散射法等都很是常见。那么哪种方法才是测量纳米粉体粒度的最优选择呢?国家特种矿物材料材料工工程技术研究中心的秦海青老师等专家对此进行了探讨。 /p p style=" text-indent: 2em " strong 专家观点: /strong /p p style=" text-indent: 2em " 在观测纳米粉体粒度的几种方法中,透射电镜透射电镜观察法的缺点主要是由于观察用的粉末极少 ,使得测量结果缺乏统计性,不能全面的表征样品的粒度及分布;而沉降法由于目前技术上的原因而无法准确测量到纳米尺度。因此这里仅通过纳米硅粉的粒度表征,对X射线衍射法、BET比表面测试法,动态光散射法三种方法进行探讨。 /p p style=" text-indent: 2em " 动态光散射法是一种激光粒度仪法,是利用光子相关谱法以及PCS的基本原理,由激光器发出的激光经透镜聚焦后照射到颗粒样品上,在某一固定的散射角下,颗粒的散射光经透镜聚焦后进入光探测器(一般用光电倍增管)。光探测器输出的光子信号经放大和甄别后成为等幅的串行脉冲,再经随后的数字相关器做相关运算,求出光强的自相关函数。根据自相关函数中所包含的颗粒粒度信息,微机即可算出粒度分布。用这种方法测得的粒度值比较接近实际值。 /p p style=" text-indent: 2em " BET法是通过测定单位质量粉体的表面积并根据相应公式计算出纳米粉体颗粒的平均粒径,用这种方法测量的粒度值与激光粒度仪法所测得的粒度相比略小,这是由于BET法是根据吸附的气体量来表征比表面积的,测量结果与颗粒的的表面状态有关,颗粒的表面缺陷越多吸附的气体越多,从而测量值要小于实际值,由于纳米颗粒表面都不太完整,所以测量值都偏小一些。 /p p style=" text-indent: 2em " X射线衍射法测量纳米硅粉颗粒尺寸主要是根据谢乐公式。用 X 射线衍射法测量的晶粒尺寸得到的结果是粉体样品中颗粒尺寸最小且不可分的粒子,其平均尺寸的大小即为晶粒度 (以化学键结合的最小粒子),当颗粒为单晶时,测量结果就是颗粒粒度,当颗粒为多晶时,测量结果是组成颗粒的单个晶粒的平均粒度,此时,测量值小于实际值。 /p p style=" text-indent: 2em " 综上所述,BET法与X射线衍射法测试的粒径比激光粒度仪法测试的粒径要偏小。不过每种测试方法都有优缺点,针对不同类型的纳米粉体的种类,要选择与之适合的测试方法,使测试结果更加接近粉体的实际粒度值。 /p
  • 高分子表征技术专题——示差扫描量热法进展及其在高分子表征中的应用
    2021年,《高分子学报》邀请了国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。 我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读。期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来。高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献. 借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意! 原文链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304.2020.20234《高分子学报》高分子表征技术专题链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304示差扫描量热法进展及其在高分子表征中的应用陈咏萱 , 周东山 , 胡文兵 南京大学化学化工学院 配位化学国家重点实验室机构 南京 210023作者简介: 胡文兵,男,1966年生. 南京大学化学化工学院高分子系教授、博士生导师. 1989年本科毕业于复旦大学材料科学系,1995年博士毕业于复旦大学高分子科学系. 分别于1998~1999年赴德国弗莱堡大学物理系、2000~2001年美国田纳西大学化学系、2001~2003年荷兰物质科学研究院(FOM)原子与分子物理研究所从事博士后研究. 2004年至今,在南京大学任教. 2008年获杰出青年科学基金资助,2020年入选美国物理学会会士(APS Fellow). 主要研究方向为采用蒙特卡洛分子模拟和Flash DSC研究高分子结晶机理及材料热导率表征 通讯作者: 胡文兵, E-mail: wbhu@nju.edu.cn摘要: 示差扫描量热法(DSC)是表征材料热性能和热反应的一种高效研究工具,具有操作简便、应用广泛、测量值物理意义明确等优点. 近年来DSC技术的发展大大拓展了高分子材料表征的测试范围,促进了对高分子物理转变的热力学和动力学的深入研究. 温度调制示差扫描量热法(TMDSC)是DSC在20世纪90年代的标志性进展,它在传统DSC的线性升温速率的基础之上引入了调制速率,从而可将总热流信号分解为可逆信号和不可逆信号两部分,并能测量准等温过程的可逆热容. 闪速示差扫描量热法(FSC)是DSC技术近年来的创新性发展,它采用体积微小的氮化硅薄膜芯片传感器替代传统DSC的坩埚作为试样容器和控温系统,实现了超快速的升降温扫描速率以及微米尺度上的样品测试,使得对于高分子在扫描过程中的结构重组机制的分析以及对实际的生产加工条件的直接模拟成为可能. 本文从热分析基础出发,依次对传统DSC、TMDSC和FSC进行了介绍,内容覆盖其发展历史、方法原理、操作技巧及其在高分子表征中的应用举例,最后对DSC未来的发展和应用进行了展望. 本文希望通过综述DSC原理、实验技巧和应用进展,帮助读者加深对DSC这一常用表征技术的理解,进一步拓展DSC表征高分子材料的应用.关键词: 高分子表征 / 示差扫描量热法 / 温度调制示差扫描量热法 / 闪速示差扫描量热法 目录1. 热分析基础1.1 温度和热1.2 热分析(thermal analysis)2. 示差扫描量热法2.1 基本原理2.2 实验技巧2.2.1 仪器校准2.2.2 样品制备2.2.3 温度程序2.2.4 保护气氛2.3 应用举例2.3.1 比热容2.3.2 热转变温度2.3.3 转变焓2.3.4 DSC与其他技术连用3. 温度调制示差扫描量热法3.1 基本原理3.2 实验技巧3.2.1 样品质量3.2.2 温度程序3.3 应用举例3.3.1 可逆热容和不可逆热容3.3.2 等温可逆热容3.3.3 玻璃化转变4. 闪速示差扫描量热法4.1 基本原理4.2 实验技巧4.2.1 样品制备4.2.2 样品质量4.2.3 临界条件4.3 应用举例4.3.1 等温总结晶动力学4.3.2 不可逆熔融转变4.3.3 与其他表征技术连用4.3.4 玻璃化转变4.3.5 热导率5. 总结与展望参考文献1. 热分析基础1.1 温度和热温度是表征物体冷热程度的物理量,它仅由系统内部的热运动状态决定,是系统中物质分子热运动强度的量度. 热力学第零定律表明,所有互为热平衡的系统都存在一个共同的数值相同的态函数,这个态函数被称为温度,是一个强度量. 热力学第零定律阐明了温度计的工作原理:在测量温度时,首先选择一个作为标准的测温物体,也就是温度计,然后让它分别与各个物体接触并达到热平衡,得到的标准物体的温度就是各待测物体的温度. 值得注意的是,温度计的热容必须比待测物体的热容要低得多,以保证接触过程中不会改变物体的温度. 然而,温度测量获得的是一个相对量,为了定量测定温度,人们还需要建立一个温标.最初的温标是经验温标,它依据测温质的某一种物理属性随温度的变化关系来表征温度的大小. 例如,酒精和水银温度计是根据液体加热时的体积膨胀设计的,铂和RuO2温度传感器是依据金属导体的电阻随温度的变化关系设计的. 通常,这种变化关系是显著而单调的,假定其为简单的线性关系,那么测温属性x和温度θ的关系为:其中,常数a和b是由标准点和分度法确定的,根据不同的标准点和分度法可以确定不同的温标. 1714年,Fahrenheit将水的冰点设为32 °F,沸点为212 °F,建立了华氏温度. 1742年,Celsius将水的冰点设为0 °C,沸点为100 °C,建立了摄氏温度. 到1779年为止,全世界并存有19种经验温标. 然而,这些温标缺乏统一的标准,除了标准点外,采用不同的测温质测得的温度并不完全一致. 此外,测温属性往往无法在整个温度范围内保持完全线性的变化关系. 例如,水银在−39 °C发生固化,在357 °C发生气化,因此水银温度计的测温范围在其凝固点和沸点之间. 1848年,Kelvin依据卡诺定律提出了开氏温度作为物理学温标,它不依赖于任何测温物质的具体测温属性,故又称为绝对温标. 相应的温度也被称为热力学温度,以T表示,单位为开尔文,记为K.1967年,第13届国际标度会议确立热力学温度为基本温标,并将水的三相点的热力学温度设为273.15 K. 摄氏温度与热力学温度之间的关系为即,摄氏温度的0 °C对应热力学温度的273.15 K.热量是物质状态发生转变的一种反映,它与人类的日常生活息息相关,很早以前人们就开始了对热的探索. 早在公元前5世纪,Empedocles[1]就提出这个世界是由气、水、土和火(热)四大元素所组成的. 一直到18世纪中叶以前,热质说(theory of caloric)盛行. 18世纪后期,人们开始通过实验证明热是粒子内部的运动. 19世纪后半期,Joule和Boltzmann等建立了统计热力学的基本原理,从而彻底推翻了传统的热质说.由热力学第一定律可知,热是能量的一种形式,记为Q,它可以和其他形式的能量互相转化,且总能量保持不变,即:物体吸收或放出热量的能力由热容C (JK−1)来表征,表示物体温度升高1 K所吸收的热量(单位J),而单位质量(克,g)物体升高1 K所吸收的热量为比热容cm (JK−1g−1),将能量表示为体积和温度的函数,则根据体积不变的条件可以得到同样可以将能量表示为压强、温度的函数, 在压强不变的条件下,可得到其中,H为定义的一个态函数,称为焓(enthalpy). 它与内能的关系为由此得到等容热容和等压热容的关系为1.2 热分析(thermal analysis)广义上来说,所有控制温度的测量过程都可以称为热分析. 1999年,国际热分析和量热协会(International Confederation for Thermal Analysis and Calorimetry, ICTAC)和美国材料与试验协会(American Society for Testing and Materials, ASTM)[2~4]对热分析的定义为:在程序温度下,测量物质的物理性质与温度或时间关系的一类技术. (A group of techniques in which a physical property of a substance is measured as a function of temperature or time while the substance is subjected to a controlled-temperature program.)常见的热分析所测量的物理性质包括质量、温差、热量、应力和应变等. 按照测量性质的不同,最基本的热分析包括以下几种:差热分析法(differential thermal analysis, DTA)、示差扫描量热法(differential scanning calorimetry, DSC)、热机械法(thermomechanical analysis, TMA)、热重分析法(thermogravimetric analysis, TGA)等等.示差扫描量热法(DSC)的定义是:在程序控温和稳态保护气氛下,测量进出样品和参比物之间的热流差随温度或时间变化的一种技术. 它是目前应用最为广泛的一种热分析技术. 随着科学技术的进步,DSC也得到了不断的发展,特别是近年来取得了显著的进展. 其中一个主要的进展是在20世纪90年代出现的温度调制DSC (temperature-modulated DSC, TMDSC). TMDSC在传统DSC线性扫描速率的基础上加入了调制升降温速率,可测得非线性调制热流信号,对该热流信号进行解调制,可以将总热流信号区分为可逆信号和不可逆信号两部分. TMDSC还可以通过对等温过程施加微量调制升降温速率进行准等温实验,追踪实验过程中的不可逆过程随时间的演化,并最终获得平衡状态下的可逆热容. DSC技术的另一个重要进展是近年来发展起来的闪速示差扫描量热法(fast-scan chip-calorimetry, FSC). FSC其商业化版本为Flash DSC,是基于芯片量热技术和微制造技术而发明的超快速示差扫描量热技术,它可达到106 Ks−1的扫描速率,具有较高的灵敏度,进一步将DSC的表征时间和温度窗口拓展到了发生较快速热转变的区间,增强了其表征和研究各种热转变动力学的能力.2. 示差扫描量热法2.1 基本原理示差扫描量热法起源于19世纪中期. 1887年,Le Chatelier[5,6]采用热电偶首次记录了陶土的温度随时间变化的升温曲线. 1899年Roberts-Austen[7]使用参比热电偶,首次测量了样品与参比物之间的温差,发展了差热分析法(DTA). 然而这种方法只能用于定性测量样品和参比物之间的温差ΔT.1955年,Boersma[8] 改进了DTA设备并建立了一个定量DTA测量单元,该仪器的热阻与试样无关. 对仪器的热容进行校正,可使得扫描过程中样品的热流与温差呈稳定的线性关系,从而可以定量测量热流. 这一发现最终导致了热流型DSC的诞生. 热流型DSC保留了差热分析法引入的参比物,并监测试样和参比物之间的热流差变化,得到了比只测定试样的绝对热流变化更为精确的测试结果,这也是示差扫描量热法中“示差”的含义及来源. 1964年,Watson等[9,10]提出了功率补偿型DSC的概念,这一概念有利于提高DSC的升降温速率. 此后,DSC技术不断发展并成为热分析领域的常规分析手段. 目前,市场化的DSC设备根据加热方法和测量原理主要分为热流型示差扫描量热仪(heat flux DSC)和功率补偿型示差扫描量热仪(power compensation DSC)两类[11].热流型DSC的测试装置如图1所示.图 1Figure 1. Illustration of heat-flux DSC (Mettler-Toledo heat-flux DSC) with the heating rate controlled through the furnace temperature. There are two sets of thermocouples measuring the heat flow between the furnace and the pan for sample and reference and two central terminals bringing the average T signal from all the thermocouples out to the computer.热流型DSC从外部加热整个炉体,并给样品和参比物提供同样的加热功率. 由热欧姆定律可知,由炉体流到试样坩埚的热流[Math Processing Error]ϕs 以及由炉体流入参比坩埚的热流[Math Processing Error]ϕr分别为[12]其中,[Math Processing Error]Ts、[Math Processing Error]Tr和[Math Processing Error]Tc分别为试样温度、参比温度和炉体温度,[Math Processing Error]Rth为热阻.DSC检测信号[Math Processing Error]ϕ为2个热流之差,由于参比坩埚和试样坩埚相同,仪器两边具有对称性,可将上式简化为即,热流型DSC的检测信号[Math Processing Error]ϕ与试样和参比物之间的温差[Math Processing Error]ΔT=Ts−Tr成正比.热流型DSC对整个炉体进行加热,测试氛围均匀且稳定,因此能保持较为稳定的基线. 另一方面,炉体的热容较大,不利于快速升降温,因此热流型DSC的升降温速率较慢.功率补偿型DSC的测试装置如图2所示.图 2Figure 2. Illustration of power-compensation DSC as invented by Perkin Elmer with the reference and the sample separately heated by two platinum resistance thermometers in two calorimeters mounted in a constant temperature block.功率补偿型DSC采用2个独立的加热器分别对样品盘和参比盘进行控温和功率补偿,当样品发生吸热或者放热效应而导致样品与参比物之间的温差不为零时,电热丝将及时对参比盘或样品盘输入电功率以进行热量补偿,使两者的温度始终处于动态零位平衡状态,同时记录样品和参比物的2只补偿电热丝的功率之差随时间的变化关系,功率补偿型DSC的热源更贴近样品,温度响应灵敏,因此升降温速率更快. 为了准确测量样品的热效应,功率补偿型DSC的2个炉体必须具有很高的对称性,然而仪器内部的环境往往会随着时间而发生改变,因此功率补偿型DSC的基线容易发生漂移,不如热流型DSC稳定.2.2 实验技巧2.2.1 仪器校准首先采用标准物质在待测温度范围内对仪器进行校准,以保证测量值与参考值相吻合. 校准的内容主要包括DSC曲线上的温度值以及热流速率值. 因此标准物质应具有较好的稳定性,其测量性能必须具有可靠的文献参考值. 常用于校准的标准物质有铟、锡、尿素、苯甲酸等等,这些标准物质可用于不同温度范围内的校准. 图3是采用铟进行熔点以及熔融焓校准得到的测量结果,将标准物质的熔点以及熔融焓的测量值与文献参考值进行比较,若测量值不在误差限之内,则需要对仪器的参数进行调整,使测量值与参考值相符合[13].图 3Figure 3. Illustration of the calibration of temperature and heat-flow rate with the standard material Indium for DSC measurement. The curve is characterized by its baseline and the endothermic process with some characteristic temperatures including the beginning of melting, Tb, the extrapolated onset of melting, Tm, the peak temperature, Tp, and the end of melting where the baseline is finally recovered, Te. Generally, Tm is the most reproducible point as an accurate measure of the equilibrium temperature which are used for the temperature calibration. The peak area below the baseline can be compared with the expected fusion heat of standard materials for the calibration of the heat flow rate.2.2.2 样品制备DSC实验采用坩埚作为试样容器,包括铝坩锅、高压坩埚以及具有特殊用途但使用较少的铂金、黄金、铜、蓝宝石或者玻璃坩埚等等. 其中最常用的是铝坩埚,包括40 μL标准铝坩埚和20 μL轻质铝坩埚. 带盖的40 μL标准铝坩埚应用范围较广,能进行固体和液体样品的测试. 20 μL的轻质铝坩埚的热容较小,有利于提高测试信号的分辨率和灵敏度,可用于质量较小的薄膜或者粉末样品的测试,一般不用于液体样品的测试. 称量样品之前首先需要选取2个质量十分相近的坩埚,以保证DSC仪器具有较好的对称性. 此外,取放坩埚时采用镊子夹取坩埚,并将坩埚放置在称量纸上,以免污染坩埚及坩埚内的样品.然后选择样品质量. 一般来说,样品质量越少越好,较少的样品量可以减小样品内部的温度梯度,提高信号的分辨率,此外还能保证与坩埚底部的良好接触,有利于提高基线的稳定性和温度测量的准确度. 然而样品质量过少会导致信号的灵敏度较低. 因此,在称量样品时需要综合考虑两者的影响. 通常,样品的体积不超过坩埚体积的2/3,有机样品的质量为5~10 mg,无机样品的质量为10~50 mg[12]. 称量时采用差减法,先用分析天平称量空坩埚的质量,然后放入样品,称量样品和坩埚的质量之和,两者相减则得到样品的质量. 称量时每个质量都需要测量3遍,保证质量称量的准确度在±0.2%.装样过程需要注意3个方有关高分子标准热容数据可从ATHAS (Advanced THermal AnalysiS)[16]等数据库中查找.2.3.2 热转变温度高分子材料的物理热转变温度主要包括玻璃化温度和熔点. 玻璃化温度[Math Processing Error]Tg是非晶态聚合物在玻璃态和高弹态之间转变的温度. 研究玻璃化转变温度可以得到有关样品的热历史、稳定性、化学反应程度等重要信息,对于实验研究、质量检测等具有重要意义. 玻璃化转变温度通常取DSC曲线发生玻璃化转变台阶上下范围的中点. 图5是ASTM方法[17]测量聚合物玻璃化转变温度的热流曲线图,在台阶的拐点[Math Processing Error]Ti处做一条切线,由这条切线与基线的交点可得到外推起始温度[Math Processing Error]Tb1和外推终止温度[Math Processing Error]Te1,这两点的中点即为玻璃化转变温度[Math Processing Error]Tg.图 5
  • 材料中缺陷/氧空位的常用表征方法
    一、X射线光电子能谱(XPS)缺陷会导致材料结构中配位数低的原子,为氧物种化学吸附提供配位的不饱和位点。X射线光电子能谱(XPS)是最广泛使用的表面分析方法之一,可以提供材料表面的化学状态和有价值的定量信息。应用于大多数的固体材料。它可以从表面获得约10 nm深度的信息。材料中的缺陷会改变键合能量,这可以从移位的峰或新出现的峰中观察到。因此,XPS可以作为一种有效的方法来检测材料中的氧空位与缺陷位点。经查阅文献可知,通过低频超声波制备含有氧空位的BiOI,并发现富含缺陷的BiOI(R-BiOI)纳米片表现出优异的光催化性能。富有缺陷的BiOI的O 1s XPS光谱证实了氧空位的存在,如图5所示。529.5 eV的峰可以说是晶格氧,而531.5 eV的峰则是由氧空位的化学吸附产生的。这也表明,氧空位被吸附的氧物种所稳定,这是富缺陷氧化物的一个典型特征。这种现象也可以在其他缺陷金属氧化物(O 1s XPS)中看到,如W18O49、CeO2-X、TiO2-X和缺陷的ZnO。图1. 高分辨率的O 1s XPS光谱二、拉曼光谱分析拉曼光谱是研究分子结构的一种分析工具,可以得到分子振动和旋转的信息。不同的化学键有不同的振动模式,决定了它们之间能量水平的变化。分子振动水平的变化引起了拉曼位移。因此,拉曼位移与晶格振动模式有一定的相关性,它可以被用来研究材料的结构特征。材料中的缺陷,特别是金属氧化物会影响振动模式,导致拉曼位移或出现新的峰值。研究表明,拉曼光谱揭示了在掺杂了Eu的 CeO2纳米片的结构中存在氧空位。与CeO2纳米片相比,掺杂了Eu的CeO2纳米片在600 cm -1处出现了一个峰值,这表明由于Ce 3p和Eu 3p的存在,产生了氧空位。此外,也有研究表明通过掺入IO3,设计了有缺陷的氧碘化铋。通过拉曼光谱显示在98cm -1处出现了一个新的峰值,它与Bi振动模式有关,这表明由于氧空位的存在,Bi的价态发生了变化。图2. CeO2和有缺陷的CeO2纳米片的拉曼光谱。三、扫描透射电子显微镜(STEM)STEM已被用于表征纳米材料的结构,它直接对原子结构进行成像。通过STEM可以观察到晶体结构中的原子序数和每个原子的排列方式,使其在科学研究领域的广泛应用上发挥了重要作用,如表面科学、材料科学、生命科学。然而,这种技术只能观察材料表面的局部区域。对于研究材料的整体缺陷来说,它是非常有限的,并且本身对样品要求较高。2000年,研究人员通过扫描隧道显微镜发现,表面氧空位可以作为反应位点,在这里可以吸收一氧化碳并转化为二氧化碳。后来,Samuel S. Mao等人用STEM研究了RuO2的原子尺度结构,发现了材料表面的缺陷(图7)。图3. 被CO覆盖的RuO2(110)表面的STM图像四、密度函数理论(DFT)计算密度函数理论(DFT)是研究材料电子结构的计算方法。它是通过量子力学模型来研究原子、分子和电子密度。因此,DFT是用于物理学、计算化学和材料的通用方法。Zhao等人利用DFT计算揭示了Vo-MnO2的结构模型,与非缺陷MnO2相比,Vo-MnO2的总态密度和部分态密度都接近费米水平,表明材料中存在氧空位。计算结果与实验结果一致,说明DFT可以用来辅助识别氧空位的存在。尽管DFT计算可以提出材料的电子结构,但它只能作为一种辅助手段。并且,结合实验和计算结果可以提供更有效的数据和证据。但是,使用DFT来描述以下情况仍有困难:分子间的相互作用、过渡状态、激发态等。过渡状态,电荷转移的激发,以及具有铁磁性的材料。五、其他方法由于OV的特殊性质,许多其他方法也可以用来进一步确定OV的存在,如热重分析(TG)。这种方法提供了关于物理现象的信息,包括吸收和分解。氧空位可以被氧气重新填充,特别是在高温下,这表明样品的质量会发生变化。这种细微的质量变化可以在TG曲线中显示出来。例如,大块的Bi2MoO6样品表现出急剧的重量损失,而超薄的Bi2MoO6纳米片在氧气环境下随着温度的升高而缓慢地失去重量。这是由于超薄Bi2MoO6纳米片中的氧空位与氧气反应,缓解了其下降的程度。此外,温度程序还原(TPR)也被用来描述固体材料的表面特性。与无缺陷的材料相比,有缺陷的材料明显增强了对表面晶格氧物种的吸附。参考文献:[1] Ye K , Li K , Lu Y , et al. An overview of advanced methods for the characterization of oxygen vacancies in materials[J]. TrAC Trends in Analytical Chemistry, 2019, 116.
  • 2014全国表面分析科学与技术应用学术会议举行
    表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科,目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同,而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展,对于表面分析技术的需求日益增多。由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展,表面分析技术也有了长足进步。目前,全球已经开发了数十种常用的表面分析技术,如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。   为了深入了解表面分析技术最新动态、最新仪器性能特点,促进同行之间的技术交流,2014年8月29~30日,2014 全国表面分析科学与技术应用学术会议在成都.四川大学举行。60余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。因为本次会议是由高校分析测试中心研究会主办,所以会议内容不只有新方法新技术研究,还有关于如何用好仪器、如何解决工作中困难方面的交流。   实验数据&ldquo 去伪存真&rdquo   此次会议交流的内容更多的围绕着XPS展开。XPS是重要的表面分析技术手段,在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用,它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析,微区分析以及深度剖析(1-2nm)等。   对于复杂的材料体系或单一体系中复杂的化学状态,XPS的谱图一般多为数个化学状态的合成峰,且有可能因为轨道杂化的不同而造成峰型的变化。实验者要从众多的复杂的XPS谱图数据中得到有价值的实验结果,需要掌握数据处理基本原则和相关技巧。清华大学朱永法教授认为数据处理是&ldquo 去伪存真&rdquo 的过程。   北京大学谢景林教授分享了其在重叠谱图拟合方面的经验技巧 赛默飞葛青亲对谢景林教授的报告进行了展开,具体介绍了非线性最小二乘拟合方法的基本思想,并且分享和探讨了如何使用实际采集谱图、参考谱图,配合非线性最小二乘拟合方法对XPS数据进行处理 岛津龚沿东从XPS谱图的本底扣除、线型选择以及其他特殊处理方法介绍了XPS数据处理的一般原则。   北京师范大学吴正龙教授介绍了通过能量去卷积的数据处理方法提高了XPS谱图质量。目前常规的XPS最佳分辨水平(FWHM)约为0.5eV(Ag3d5/2),仍不能满足多数元素价态分析的需求。而XPS分析中对谱峰展宽的贡献主要来源于仪器能量响应、X射线的线宽、样品等。而通过对表观谱进行能量去卷积处理,可以消除仪器和样品对展宽的贡献,进而提高XPS谱峰的分辨率。   应用研究热点   在国外,XPS等表面分析技术已经在生产企业中得到了广泛的应用,如进行半导体失效分析等。而在国内,表面分析技术还局限于科研单位,主要是利用XPS、AES等表面分析技术进行材料表面或界面发生的物理化学反应机理研究。研究热点主要集中在催化材料、碳纳米管石墨烯等新型材料、聚合物太阳能电池等新型器件等。   清华大学朱永法教授介绍了AES化学位移的产生、特点、影响因素等情况,以及AES化学位移在石墨、金刚石的表面吸附、固体表面的离子注入、薄膜制备、界面扩散等研究这个的应用。   铀在国民经济和国防事业中均有重要,但是金属铀的化学活性高,在环境中极易氧化腐蚀,导致其部件性能的劣化或失效,并且这种腐蚀还会带来环境的核污染。中国工程物理研究院刘柯钊研究员使用XPS等分析技术作为表征手段,研究了金属铀腐蚀行为与防腐蚀表面改性技术。   聚合物太阳能电池最有希望成为下一代太阳能电池之一。中山大学陈建教授以紫外光电子能谱(UPS)和XPS、AFS等技术,研究了醇/水溶性共轭聚合物阴极修饰层对不同电极材料功函数的影响,通过降低阴极功函数达到了提高器件能量转换效率的目的。   清华大学姚文清教授的研究对象是航空用电子元器件,这些器件长期在宇宙环境中工作不可避免的受到影响,可能引起器件的密封破坏等而最终失效。姚文清教授通过在超高真空系统中对器件进行紫外辐照、温度变化、电场变化等试验,在此环境下对航空用电子元器件进行原位模拟腐蚀,并采用AES等表面分析技术对器件腐蚀进行微观评价,建立器件腐蚀和失效的早期判断新方法。   南京大学高飞教授通过外置原位电池的应用,利用实验室现有常规XPS获得催化剂材料在真空条件下的准原位 (Ex-situ)信息。结合相关表征手段,准原位XPS成为了探究催化剂在反应条件下反应过程的有利工具。 与会人员合影   2012年,清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织召开了第一届全国表面分析科学与技术应用学术会议,此后该会议每年举行一次。今年是该会议第三次举办,会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办,国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、四川大学分析测试中心共同承办。2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议将由宁波新材料所承办。
  • 2011广州多孔材料表征分析技术研讨会圆满举行
    2011年5月25日,由美国康塔仪器公司主办,华南理工大学承办“2011多孔材料表征分析技术研讨会”在广州华南理工大学五山校区顺利召开,近八十位业内人士参加了此次大会。   本次大会围绕“吸附理论”、“气体吸附法测量比表面与孔径大小” 、“如何正确应用BET理论计算比表面”、“非定域密度函数理论在孔径分析中的应用”、“化学吸附仪器在催化剂活性表征中的应用”、“压汞法在孔径分析中的应用”等议题展开培训和讨论,旨在为积极应对材料发展的各种挑战献计献策,尤其是新能源材料。   与会者对报告反响热烈,认为研讨会涉及内容正是他们迫切需要的,解决了他们在科研中长期困惑的问题,为今后把握正确分析方法指明了方向。研讨会延长至晚上6时余才得以结束。
  • 新时代· 新青年· 新国潮,且听盛瀚和你说...
    新时代新青年新国潮庚子鼠年,一场疫情席卷大地,全球一片愁云惨淡。世界多国经济萎靡,中国在抗击疫情工作取得丰硕成果的同时,国内经济竟逆势增长2.3%,成为世界上唯一实现正增长的主要经济体,这是一个来之不易的里程碑。对我们来说也是难得的机会——乘势进一步巩固了在行业中的地位,为抗衡“脱钩论”贡献了自己的力量。回想这一年,火神山、雷神山以及各地方舱医院的建立,无一不体现出抗疫工作者在面对困难挑战时的奋斗和进取,“中国速度”是对他们最好的称赞,成为像他们一样的“进取者”更是每一个盛瀚人的目标和方向。在“成为全球两大ic品牌”这项共同的事业中,我们始终倾注梦想、肩负使命、贡献智慧、挥洒汗水! 情怀盛瀚成立已近20年,学习企业文化是每一个盛瀚人的必修课,在我们看来,中华民族的文化自信、奔赴同一个目标、有劲儿往一处使是成功根本,也正是情怀与梦想的力量激励着盛瀚,在经过整整六个“入不敷出”的寒暑之后,终于迎来了离子色谱时代的曙光,伴随着第44个出口国的出现,“中国仪器,走向世界,服务全球”的使命布局愈发清晰。责任“敬天爱人”这一中国文化与哲学的核心内涵,在盛瀚也得到了充分体现。疫情期间的物资捐献;云南腾冲希望小学的建立;盛瀚色谱班、盛瀚书库的设立;每年11月的公益行… ..在企业更好发展的同时,我们也愿为“给中国下一代提供更好的机会与选择”而奋斗终身。坚韧与科技2020年,嫦娥探月归来、天问也奔赴火星,中国的科研技术已经到达了世界尖端行列。但毋庸置疑,在色谱技术领域,国内与国外相比还有不小的提升空间,在“脱钩论”的影响下再细微的进步都显得弥足珍贵。即便如此,盛瀚还是携新品cic-d180亮相11月的慕尼黑上海分析生化展;12月cic-d150拿回了“中国制造之美”金奖;cic-d180入围中国优秀工业设计… … 对于技术的进步,哪怕只有0.1%的提升,我们亦是坚持不懈,不断向前。
  • 高分子表征技术专题——荧光关联光谱在高分子单链研究中的应用
    2021年,《高分子学报》邀请到国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。 我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读. 期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来.高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献. 借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意! 原文链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304.2020.20238《高分子学报》高分子表征技术专题链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304荧光关联光谱在高分子单链研究中的应用周超 1,2 ,杨京法 1,2 ,赵江 1,2 1.中国科学院化学研究所机构 北京 1001902.中国科学院大学机构 北京 100049作者简介: 赵江,男,1967年生. 分别于1989年、1992年在吉林大学物理系获得学士、硕士学位,1995年于中国科学院物理研究所获得博士学位,之后分别于北京大学化学与分子工程学院、日本产业综合研究所、美国伊利诺伊大学从事博士后研究,2004年起于中国科学院化学研究所任研究员,入选中国科学院“百人计划”,2009年获得国家杰出青年科学基金资助,2013年当选美国物理学会Fellow. 以单分子荧光显微与光谱方法开展关于高分子物理基础性研究,研究方向包括:多电荷大分子、聚合物表界面、高分子动力学、相变与玻璃化转变等 通讯作者: 赵江, E-mail: jzhao@iccas.ac.cn摘要: 荧光关联光谱(fluorescence correlation spectroscopy,FCS)是一项用于研究体系动力学性质的统计光谱技术,随着它被引入材料与化学研究领域,近年来取得了大量全新的研究成果. 该技术在高分子科学研究中也逐渐发挥出越来越大的作用,特别是在聚合物结构和动力学方面,这表明它在高分子领域的巨大潜力. 本文将从FCS的基本原理、实验技巧以及在一些具有挑战性体系中的应用等方面展开,着重介绍它在高分子溶液,如聚电解质溶液、高分子混致不溶现象,以及不同的表界面体系中取得的新成果,展示FCS区别于其他传统技术的特点和优势.关键词: 荧光关联光谱 / 高分子 / 聚电解质 / 表界面 / 混致不溶 目录1. 荧光关联光谱的基本原理2. 荧光关联光谱的实验技巧2.1 实验样品的标记和纯化2.2 激发体积的校准3. 荧光关联光谱在高分子单链研究中的应用3.1 FCS在聚电解质体系中的应用3.2 FCS在高分子混致不溶现象中的应用3.3 FCS在表界面体系中的应用3.4 FCS在有外场作用的体系中的应用4. 荧光关联光谱技术的发展和应用5. 结论参考文献高分子物理研究的目标之一是探究聚合物在不同尺度上的结构与动力学,及其对于高分子体系性质的决定性. 其中,聚合物构象是最为基础的研究内容. 高分子构象是指由于主链上单键内旋转而产生的分子链在空间的不同形态. 对于中性聚合物体系,由于分子链的结构自相似性,利用标度理论可以成功描述其在良溶剂、θ溶剂以及不良溶剂中分子链的尺寸. 散射技术是研究高分子链构象最成功的方法,如:光散射、X射线散射以及中子散射. 就动态光散射而言,它通过检测高分子溶液散射光强随时间涨落而得到其关联函数,从而获得单分子链的扩散速率信息,并获得分子链的流体力学半径信息[1,2]. 结合静态散射实验所获得的回转半径,可以确定聚合物在溶液中的形态[3,4]. 虽然光散射方法在具有短程相互作用的中性聚合物体系表征中非常成功,但是该项技术在一些条件或情形下却遇到了很大的困难,如:多电荷体系、多组分复合体系、表界面体系等. 在多电荷体系中,多重长程静电相互作用使得动态光散射信号中出现令人费解的“快慢模式”[5~7]. 用光散射法来考察高分子的混致不溶现象时,混合溶液中强烈的组分涨落导致强烈的光散射背景信号,严重影响了光散射对信息的提取[8]. 因此,采用新的技术和研究方法开展高分子表征无疑是重要的.荧光关联光谱(fluorescence correlation spectroscopy,FCS)是表征高分子的有效新方法之一. 它与动态光散射同属于光子相关光谱技术,通过分析光信号的涨落而得到分子链动力学信息. 然而,FCS具有很高的探测灵敏度,通过获取荧光涨落信号而得到单个分子的动力学信息. 荧光关联光谱技术是由Madge、Elson和Webb[9~11]在20世纪70年代发展起来的,20世纪90年代,随着Rigler等[12]将共聚焦技术引入,FCS得到快速发展. 采用共聚焦显微技术,FCS的激发-探测空间体积缩小至~10−15 L,激发-探测空间内的分子数目大大地降低,实验的信噪比也随之提高. 与此同时,具有很高灵敏度的单光子检测器的采用使得FCS实现了单分子水平的测量. 随着计算机技术的进步,数据采集卡能够实时地进行数据的采集和相关性计算,使得FCS技术得到了重要的突破,在科学研究中的应用也越来越广泛.近年来,FCS在高分子物理研究中逐渐表现出重要作用,相比于传统的散射技术,它有着独特的优势. 第一,FCS具有极高的灵敏度,可以在极稀薄条件下(~10−9 molL−1)进行测量,同时具有达到光学衍射极限空间分辨率(~200 nm)与出色的时间分辨率(10−6 s). 第二,FCS的信噪比与聚合物的分子量无关. 在实验中,聚合物链通过化学键合的方式实现一比一的荧光标记,因此,分子量不同的样品对于信号的贡献相同. 但是,对于光散射技术而言,散射光强与聚合物分子量具有依赖性,因而信噪比也随之改变,分子量偏小样品的实验难度较大. 第三,对样品的荧光标记同样带来了可选择性与识别性,实现了同一体系中不同组分的区分式研究. 例如,通过对不同组分使用不同的荧光分子进行标记,采用多色FCS对各组分间的运动及其关联进行分析;也可选择性地对多组分体系中的特定组分进行标记,实现复杂体系中特定组分的研究.伴随着FCS技术的发展以及与其他研究手段的联用,其应用越来越广泛,从最初的生物领域[13~15]到胶体[16,17]、聚合物[18,19],从溶液[20~23]到熔体[24~26]、凝胶[27~29]、表界面体系[30~32]等,都取得了许多原创性的成果. 值得指出的是,FCS在测量平动和转动扩散系数、反应速率常数、平衡结合常数、细胞内粒子浓度等方面有着突出的优势[33~35].1. 荧光关联光谱的基本原理当一个体系处于热力学平衡态时,分子的热运动会导致体系浓度、密度等发生局部涨落. 通过相关分析方法,计算这些局部涨落的关联函数,就可以从信号中提取出体系的热力学信息. 动态光散射技术正是运用了此方法,通过测量溶液的散射光强随时间涨落而获得其关联函数,从而获得样品的动力学信息. 荧光关联光谱测量共聚焦空间内样品荧光强度随时间的涨落,通过计算其关联函数而得到对涨落有贡献的热力学性质信息.在激发空间内在任一时刻荧光强度F(t),激发空间内荧光信号在t时刻的强度涨落δF(t)为:其中,⟨F(t)⟩=1/T∫0TF(t)dt,为从0到T 时间内的平均荧光强度.上述涨落的归一化自关联函数为G(τ):自关联函数包含了导致共聚焦空间内荧光信号强度涨落的所有信息,如:平动及转动扩散导致的荧光信号涨落、探针的光物理和化学变化(如:三重态)等导致的涨落等. 对于单光子激发体系,激发空间内的光强分布满足三维高斯分布,对在溶液中进行三维扩散的荧光分子而言,其浓度的涨落满足扩散方程,因而其关联函数的表达式为:其中,Veff=π1.5w02z0为激发空间的体积,特征时间τD=w02/4D为荧光分子通过激发空间所需的平均时间. G(0)=1/Veff⟨c⟩=1/N为激发空间内荧光分子平均数目的倒数,当样品的浓度越低时,G(0)值越大.从G(τ)的表达式可知,FCS的自关联函数有4个变量w0、z0、⟨c⟩、D,其中w0、z0属于仪器的参数,即共聚焦空间的横向半径与纵向半高度,而⟨c⟩、D分别是荧光分子的平均浓度和扩散系数. 因此,在准确标定仪器参数w0w0、z0z0的条件下,通过数值拟合将得到未知样品的浓度和扩散系数. 扩散分子的流体力学半径可以根据Stokes-Einstein方程得到:其中,kB为玻尔兹曼常数,T为温度,η为介质黏度.FCS仪器结构如图1所示,激光器的输出光经过准直扩束后由二向色镜反射进入物镜,并经物镜聚焦在样品中激发荧光. 产生的荧光由同一物镜收集,再次通过二向色镜以及滤镜将杂散的激光以及背景光过滤压制,最终由透镜聚焦并由针孔进行空间滤波进入到检测收集系统.图 1Figure 1. Schematic illustration of instrument structure of fluorescence correlation spectroscopy.由于单光子检测器可能出现接收一个光子产生多个电子的情况,为了消除这个过程带来的误差,可以将荧光信号分成等强度的两部分,然后对2个通道内的信号作交叉关联:2. 荧光关联光谱的实验技巧由于一般的聚合物不发光,因此FCS实验所采用的样品需要进行荧光标记. 另外,在实验操作方面,最需要注意对于激发体积的严格校准,以确保实验测量的准确性.2.1 实验样品的标记和纯化样品标记方法主要有以下2种:第一,在样品需要标记的位点预留反应的基团,如:氨基、羧基、叠氮基团等,再根据不同的基团及FCS实验的要求选择合适的活性荧光分子进行化学键合. 为了获得较高的标记效率,在标记过程中加入的荧光分子的量远大于聚合物,所以反应结束后有大量游离的自由荧光分子存在,需要通过体积排除色谱和超滤等方法进行分离提纯,直至滤液中不再检测到荧光信号.第二,在样品合成过程中加入适当比例的共聚合荧光单体进行共聚,例如,通过RAFT聚合制备聚异丙基丙烯酰胺(PNIPAM)时,可以加入适当比例的荧光单体来合成具有一定分子量范围、分子量分布较窄和荧光标记的样品[36]. 反应完成后同样也需要超滤、透析等方式进行分离提纯.2.2 激发体积的校准FCS实验之前,需要对仪器进行校正得到仪器激发体积的参数. 采用已知浓度和扩散系数的荧光分子样品来进行校正,例如Rhodamine 6G (Rh6G)分子,它在纯水中的扩散系数为414 μm2s−1 (25 °C),实验中一般将其配置成5×10−9 molL−1 (5 nmolL−1)的水溶液进行FCS测量,然后通过对测得的关联函数进行拟合即可得到激发空间的尺寸.另外,温度对于扩散系数的影响很大,不同温度下进行实验时,同样需要对扩散系数进行校正,校正的公式如下:如图2所示,以波长为488 nm的激光作为激发光,对FCS测量得到的Rhodamine 6G的自相关曲线进行拟合得到激发空间的尺寸为w0=0.224 μm,z0=1.608 μm.图 2Figure 2. A typical autocorrelation function curve and the fitting result of free Rhodamine 6G molecules in water.需要说明的是,FCS的测量会受到样品体系折射率不匹配的影响. 如图3所示,当样品溶液与物镜的折射率不匹配时,会导致表观的激发体积出现显著变化:第一,表观的w0值随折射率不匹配的增加而减小,这是折射率不匹配产生的像差导致;第二,随着物镜焦点位置从界面处愈加深入到样品溶液中时,折射率不匹配导致的表观w0值的变化愈明显[36].图 3Figure 3. (a) Representative normalized autocorrelation function curves of fluorescent nanoparticles diffusing in aqueous solution of glycerol at a small focal depth (25 μm) (b) Values of the apparent lateral radius of the excitation-detection volume of FCS as a function of the refractive index of the solution. The distance of the focal point in the sample medium away from the coverslip surface is displayed. (Reprinted with permission from Ref.[36] Copyright (2012) American Chemical Society).依据FCS的原理,w20=4DτDw02=4DτD,因此,即使微小w0变化也将显著影响探针分子拟合得到的扩散系数值. 因此,选择合适的溶液体系和物镜使得折射率尽可能匹配,对于FCS的测试准确性至关重要. 在折射率不匹配问题无法避免时,如图3(b)中,可以使用一个较低的焦点位置(25 μm)能有效地避免激发体积的畸变[36].此外,如图4所示,以厚度为0.16 mm的盖玻片为例,当实验使用物镜的校正环与样品池底部的盖玻片厚度不匹配时,激发体积的尺寸也会出现较大的偏差,所以在实验前还需注意物镜校正环与盖玻片厚度是否匹配[37].图 4Figure 4. Values of the apparent lateral radius of the excitation-detection volume of FCS as a function of the value of correcting collar (Reprinted with permission from Ref.[37] Copyright (2018) University of Chinese Academy of Sciences).因此,在FCS实验中,应该尽量选择合适的物镜类型以匹配样品的折射率,并调整镜头校正环数值与盖玻片厚度一致,如果折射率不匹配的情况不能避免,那就选择较低的、固定的焦点深度值以保证实验结果可靠可信.除了上述两点之外,在实验过程中还需要注意激光光强的选择,过强的入射光容易导致荧光探针发生光漂白而带来实验误差,因此应该降低进入物镜的激光光强进行实验.3. 荧光关联光谱在高分子单链研究中的应用FCS以其独特的优势在一些传统研究手段难以涉足的高分子体系中展现出独特的优势,例如:考察水溶液中聚电解质的单链动力学[38~44]、混致不溶现象中高分子链构象的变化[36]、表界面体系中高分子的扩散动力学[30~32,45~48]等等.3.1 FCS在聚电解质体系中的应用聚电解质是主链或者侧链上带有可离子化基团的聚合物,在极性溶剂中,聚电解质主链由于解离而带电,同时存在大量带有相反电荷的抗衡离子[49,50]. 正是聚电解质链间、链段间以及链与抗衡离子间多重长程静电相互作用,在赋予聚电解质丰富性质的同时,也给聚电解质的研究带来了很大的困难[51~53]. 例如,当采用动态光散射技术研究带电聚合物体系时,在低离子强度的聚电解质溶液中,存在“快与慢”的2种松弛模式. 为了探究聚电解质中的这种多级松弛模式的起源,研究人员进行了大量的实验并提出了多种可能的解释,但至今仍未有一个确切的回答[5,6,54~56].如果采用传统散射技术来研究低离子强度条件下带电聚合物体系的扩散运动,实验中遇到不少困难,而FCS实验中样品极稀浓度和极高选择性的优势就体现出来,依靠FCS技术,研究人员可以在极稀薄条件下进行实验研究,在聚电解质溶液体系获得全新的信息.Wang等[38]利用FCS在实验上第一次观察到了在无扰溶液中疏水聚电解质的一级构象转变. 如图5(a)所示,弱聚电解质聚(2-乙烯基吡啶) (P2VP)分子的构象随带电分数的变化而呈现出一级转变特征,即:随pH的升高由伸展的线团构象至坍缩的链球. 除了通过pH值改变聚电解质的带电分数,聚电解质的构象转变也可以由改变外加盐的浓度导致,即:抗衡离子吸附与静电屏蔽作用. 如图5(b)所示,P2VP的单分子链流体力学半径随着静电屏蔽长度的增加而连续增加.图 5Figure 5. (a) Diffusion coefficient of P2VP as a function of pH value of the solution. Inset: The hydrodynamic radius of P2VP as a function of pH value (b) The hydrodynamic radius of P2VP as a function of Debye length of the system (Reprinted with permission from Ref.[38] Copyright (2007) American Institute of Physics).Xu等[39]利用FCS技术在单分子水平上研究了强聚电解质的构象. 实验发现,在无外加盐的情况下,强聚电解质聚苯乙烯磺酸钠(NaPSS)和季胺化聚(4-乙烯基吡啶)(QP4VP)的流体力学半径和聚合度之间分别存在着0.7和0.9的标度关系,说明在低离子强度时,聚电解质链的构象比中性聚合物在良溶剂中溶胀的无规线团构象更加伸展. 如图6所示,采用棒状构象的分子模型得到了理想的拟合结果(其中QP4VP在高分子量部分出现偏离是高分子量聚电解质吸附更多的抗衡离子所导致的). 拟合结果显示分子链的直径分别为2.2和2.3 nm,这比理论假设的裸露水合聚电解链的直径0.8 nm要大很多,这也说明了聚电解质链的周围有抗衡离子云的存在.图 6Figure 6. Values of hydrodynamic radius of NaPSS and QP4VP plotted as a function of degree of polymerization. The solid lines denote the numerical fitting based on the theoretical model of diffusion of a rod-like molecule, and the dashed line denotes the fitting results using the diameter of a hydrated chain, i.e., d=0.8 nm. (Reprinted with permission from Ref.[39] Copyright (2016) American Institute of Physics).Xu等[40]进一步研究了在不同外加盐浓度情况下聚电解质链的构象. 如图7所示,聚电解质分子链构象具有分子量依赖性:在低盐浓度时,短链分子的聚电解质采取棒状构象,而长链分子采取无规线团构象;随着外加盐浓度的增加,所有的NaPSS和QP4VP均采取无规线团构象.图 7Figure 7. Diffusion coefficient of NaPSS (a) and QP4VP (b) as a function of degree of polymerization under salt concentrations of 10−4, 0.1, and 1.0 molL−1, respectively The solid lines represent the results of fitting using the relation of Rh∼N−v. (Reprinted with permission from Ref.[40] Copyright (2018) American Institute of Physics).Ren等[41]通过FCS技术研究了i-motif DNA的解折叠过程. 如图8所示,在不同盐浓度的条件下,随着pH值的升高,i-motif DNA均发生了从有序的四联体结构到无规线团的构象转变,并且这一转变对盐浓度有着依赖性:盐浓度越高,解折叠的起始pH值就越低. 这种盐浓度依赖性的主要原因是外加盐的引入导致更多的抗衡离子吸附在DNA链上而降低了链的电荷密度,降低了链周围的局部质子浓度,而后者是控制折叠形成的关键因素.图 8Figure 8. The values of hydrodynamic radius of a single i-motif DNA strand as a function of pH value in the solution Three conditions were chosen: solution without any salt addition (salt-free), and 50 mmolL−1 and 100 mmolL−1 NaCl solutions (physiological environment) The start and end points of the conformation transition are denoted by the arrows. (Reprinted with permission from Ref.[41] Copyright (2018) The Royal Society of Chemistry).如果将光子计数直方图(PCH)技术与FCS相结合,可以对聚电解质主链的电势、有效带电量、抗衡离子分布等方面进行深入研究. 例如,Luo等[42]将pH敏感的荧光探针标记于NaPSS链的不同位点,采用PCH技术测量分子链局部的pH值,发现聚电解质链附近的局部氢离子浓度比本体溶液中高2~3个数量级,而末端效应使得分子链中间的静电势高于末端的静电势. 同时,他们还发现氢离子浓度在径向呈现出e指数衰减的趋势,这证明了聚电解质链周围存在抗衡离子云的说法[43].Jia等[44]研究了抗衡离子分布与聚合物浓度的依赖关系,通过FCS测量NaPSS溶液中作为抗衡离子探针的带负电荧光分子的扩散系数,确定自由探针和吸附于主链的探针2个组分,发现与主链结合的抗衡离子组分随着聚合物浓度的增加而增加. Xu等[40]采用PCH测量NaPSS单分子链电位,发现其随着聚合度的增大而单调上升,且在聚合度大的区间达到饱和. 这说明主链的静电势与分子量不是线性关系,其有效带电分数以及有效电荷密度随着分子量的增加而减小. 上述实验结果说明聚电解质抗衡离子与主链的相互作用是吸附与脱附的动态平衡,而不是经典的Manning抗衡离子凝聚[57~60].3.2 FCS在高分子混致不溶现象中的应用高分子的混致不溶现象(cononsolvency)是一类回归型过程:2种高分子的良溶剂按一定比例混合后反而成为了不良溶剂[61,62]. 一个典型的例子是:常温下聚异丙基丙烯酰胺(PNIPAM)在水与一定比例的甲醇、乙醇、异丙醇、丙酮、四氢呋喃、DMSO等良溶剂的混合液中不再溶解,溶液的相分离温度显著改变,溶液黏度下降,PNIPAM凝胶溶胀率下降. 研究人员对这一现象的起源进行了大量的实验探究,至今未能达成共识[8,63~66].了解高分子链的构象对于理解混致不溶现象至关重要. 前人采用光散射方法研究了水和甲醇混合溶剂中PNIPAM链从线团到塌缩球再到线团的构象转变[64]. 需要特别说明的是,为了在极稀溶液中获得足够高的散射强度与信噪比,研究中采用了分子量高达107 gmol−1的样品. 当采用FCS技术研究该过程时,由于其超高的灵敏度以及与样品分子量无关的信噪比,可在混合溶剂环境下高分子单链的研究中提供独特的信息[67]. Wang等[36]利用FCS研究了PNIPAM在水-乙醇混合溶剂中的混致不溶过程. 如图9所示,PNIPAM具有非对称的回归型构象变化特征:随着乙醇浓度的增大,在一个很窄的乙醇浓度范围内PNIPAM链剧烈塌缩,然后在很宽的乙醇浓度范围内逐渐地再度伸展,说明这一构象转变不是先前文献中所认为的一级构象转变过程. 这表明乙醇分子比水分子更强烈地与PNIPAM链发生作用,这是由乙醇较强的疏水水合效应所致,暗示了Tanaka提出的模型中水合/失水的协同能力强于醇分子吸附/脱附的协同能力[65,66].图 9Figure 9. Normalized autocorrelation function curves of diffusing single chains of PNIPAM with five degrees of polymerizations in pure ethanol (a) and at xEtOHxEtOH of 0.25 (b) The solid line with each data set denotes the results of the numerical fitting using three-dimensional diffusion model Rh6G in (a) denotes the results of free fluorescent Rhodamine 6G, and its drastic difference from those of polymers indicates the successful labeling and sample purification (c) The values of hydrodynamic radius of PNIPAM single chains as a function of xEtOHxEtOH (Reprinted with permission from Ref.[36] Copyright (2012) American Chemical Society).如图10所示,不同乙醇浓度下得到PNIPAM单链的尺寸的标度率(Rh∼NυRh∼Nυ)表明,标度指数νν随着xEtOHxEtOH变化:随着乙醇的浓度的增加,ν从~0.57到0.5再到~1/3变化,说明在上述3个区域,PNIPAM高分子链分别采取了溶胀、无规线团、坍缩链球的构象,即:由纯水中的溶胀线团经无规线团构象而急剧转变为塌缩链球构象,进而又再度逐渐伸展,经过无规线团构象变化至溶胀线团构象. 从标度指数的变化也可以发现回归型链构象变化的高度非对称性,进一步印证了Tanaka提出的协同吸附-优先吸附模型[65,66].图 10Figure 10. Typical double-logarithmic plot of hydrodynamic radius of single PNIPAM chains as a function of degree of polymerization under different solvent compositions: (a)xEtOH=xEtOH=1.0, (b)xEtOH=xEtOH=0.28, (c)xEtOH=xEtOH=0.25 Solid lines are the least-squares linear fitting (d) The vv values as a function of xEtOHxEtOH The three dotted lines denote the theoretical values of the static scaling index for a random coil (0.588), an undisturbed coil (0.5), and a compact globule (1/3). (Reprinted with permission from Ref.[36] Copyright (2012) American Chemical Society).3.3 FCS在表界面体系中的应用受限高分子链,尤其是处于界面的高分子链结构及动力学性质,直接关系到表界面的机械性能、摩擦性能、流变性能等,这些性质与高分子材料在表界面上的应用息息相关,如涂料、润滑剂、胶黏剂等[68~71]. 但是对于高分子链在表界面处的动力学研究存在着不少技术难题,主要原因是表界面动力学带来的浓度涨落被局限于二维或准二维空间,探测难度极大,使得传统的散射方法难以应用. 近年来,得益于单分子技术的迅猛发展,空间和时间分辨能力分别有了显著的优化,极大提高了人们直接“观察”分子或粒子行为的能力,这为我们从分子水平认识聚合物在界面上的动力学性质打下了基础.荧光关联光谱因其极高的灵敏度与显微测量能力被成功地应用于表界面体系的研究中. 对于处于二维自由扩散的分子而言,其自关联函数为:其中,w0是二维FCS观察区域(即激发空间在界面等二维平面投影)的半径,⟨ρ⟩=⟨N⟩/A,即单位面积内荧光探针的平均数量,A是激发空间在界面等二维平面上投影的面积.Sukhishvili等[30]利用FCS研究了荧光染料标记的不同分子量的聚乙二醇(PEO)在固-液界面上的扩散. 从分子链界面扩散运动行为出发,分析出在极稀浓度的条件下聚合物分子在固-液界面上呈现出了紧密吸附的pancake构象,发现了界面扩散系数与分子量的-3/2的独特标度率. Zhao等[31,32]则利用FCS研究了PEO在固-液界面上扩散速率与界面吸附浓度的非线性关联性,即:随着聚合物浓度的增加,其扩散系数先增加并在某一浓度值达到极值,进而骤然大幅下降. 这是由于极低浓度分子链紧密吸附的pancake构象会随着吸附浓度的增加变成loop-tail-train构象,即:吸附使得分子链构象变得相对松散,其扩散速率由与基底接触的train部分占主导. 随着吸附浓度的增加,较为自由的loop-tail部分则增加了其运动能力,因此扩散系数增加;更高浓度时扩散系数出现骤降是因为体系中出现了jamming效应,即分子链间的作用增强,阻碍了分子链的扩散运动.Ye等[45]利用FCS研究了不同拓扑结构的聚合物链在石英-二氯甲烷界面上的扩散,如图11所示,线形聚苯乙烯(PS)扩散的标度率为D∼M−1.5,重现了reptation模型;而环形PS的标度率则为D∼M−1,展现为Rouse模型. 两者的差异是由于环形分子没有末端,无法像线形分子一样完成蛇行运动,而是由一系列链段受到热激发进行跳跃,跨过局部能垒的运动组成.图 11Figure 11. Double-logarithmic plots of center-of-mass diffusion coefficient against molecular weight for surface diffusion of cyclic (c-PS) and linear (l-PS) polystyrene chains on fused silica-DCM interface The solid lines with slopes of 1 and 3/2 are drawn as guides to the eye The dashed lines through the points representing the best fit of the data give power law slopes of 1.46 for linear chains and 1.00 for cyclic chains. (Reprinted with permission from Ref.[45] Copyright (2016) The Royal Society of Chemistry)Yang等[46]利用FCS研究了不同盐溶液作为液相时,NaPSS在疏水单层分子膜界面上的扩散行为. 如图12所示,吸附在疏水表面的聚电解质分子链的扩散受到液相中不同阴离子的影响,主要原因在于不同的阴离子效应改变了界面疏水相互作用强度,从而改变了界面与分子链之间摩擦力,造成扩散系数的显著改变.图 12Figure 12. Typical data of the lateral diffusion coefficient of a NaPSS single chain at the interface of a hydrophobic surface and an aqueous solution as a function of the salt concentration in the aqueous solution (Reprinted with permission from Ref.[46] Copyright (2011) American Chemical Society)Yang等[47]利用FCS技术研究了聚苯乙烯与聚异戊二烯(PI)的嵌段共聚物在二甲基甲酰胺(DMF)与PI聚合物构成的液体界面上的扩散运动. 如图13所示,在本体聚合物分子量跨越了2个数量级的变化,界面上PS-b-PI的扩散系数仅有轻微的下降. 这表明,在PI/DMF的体系中,存在很低黏度的界面层,该界面层的黏度与构成界面的本体聚合物的分子量不存在明显依赖性.图 13Figure 13. Interfacial diffusion coefficient of single PS-b-PI chain as a function of the molecular weight of bulk PI The dashed line is for the guide of eye Inset: illustration of the sample geometry (Reprinted with permission from Ref.[47] Copyright (2008) American Chemical Society).Li等[48]利用FCS探究了PEO分子在烷烃-水界面上的扩散行为. 研究发现,PEO在该界面上聚合物的横向扩散为正常扩散,与二维布朗运动模型相吻合. 如图14所示,液-液界面上的PEO的界面扩散系数与其聚合度之间存在D∼N−0.5的标度关系,这一新的标度关系表明其界面扩散运动遵循着新的运动机理.图 14Figure 14. The logarithm of interfacial diffusion coefficient of PEO as a function of the logarithm of molecular weight (Reprinted with permission from Ref.[48] Copyright (2020) The Royal Society of Chemistry).从单分子层面上研究界面扩散,有助于发现分子最真实和原始的扩散行为规律,这在传统的系综平均实验中往往会被忽略或者被多种因素耦合而产生的运动行为掩盖,这是上述FCS实验结果最大的优势之处. 此外,值得注意的是,在研究固-液界面上聚合物扩散机理时,不同研究团队利用FCS和单粒子追踪(single particle tracking, SPT)技术,得到了不同的结果及界面扩散机理,也因此导致了FCS和SPT 2种技术在界面分子动力学研究上存在多年的学术争论[30,31,72,73]. 我们基于这个问题也展开了实验对比,发现FCS和SPT都能够提供准确且可靠的实验结果,在条件满足时两者能够得到相互吻合相互匹配的实验结果,相关数据结果将在未来进行发表.3.4 FCS在有外场作用的体系中的应用对于聚合物而言,在其合成、分离、加工等过程中有可能会经历电场、流动场、剪切场等作用,尤其在生命体中更是常见. 因此,对于外场作用下的聚合物性质的研究也是极为重要的.当我们将荧光关联光谱应用于外场作用下的体系中时,除了分子热运动导致平动扩散引起的荧光信号涨落,还不得不考虑外场导致荧光分子定向运动通过激发体积带来的信号涨落. 带有定向运动的FCS,如果其运动的方向垂直于激光光束的方向,经过修正的模型拟合关联函数可以获得扩散系数与定向运动速率:其中,vf=w0/τf即为定向运动速率.Dong等[74]将FCS和毛细管电泳结合起来测定了量子点在极稀溶液中的表面电势. 利用FCS的自关联函数拟合得到荧光粒子的定向运动速度和扩散系数,在电泳实验中定向运动的特征时间τf和自扩散系特征时间τD之间满足:其中,Q为带电量,E为外加电场强度. 通过测定不同电场强度下定向运动和扩散的特征时间,通过线性拟合得到荧光粒子的表面电势. Wang等[75]利用FCS研究了P2VP在交变电场下的单链构象转变. 结果表明电场强度对于分子链构象的影响存在滞后转变. 这种滞后现象可以归因于单个疏水性聚电解质链的不对称双稳态能态,由于抗衡离子的解离、迁移和凝聚,其coil和globule构象之间的势垒可以通过交变电场诱导的偶极子降低到kBT以下.4. 荧光关联光谱技术的发展和应用随着FCS技术的发展,出现了双色荧光关联光谱(DC-FCCS)[76,77]、双焦点荧光关联光谱[78,79]、FCS与荧光共振能量转移(FRET)联用[80,81]、可连续改变共焦体积荧光关联光谱[82]等新技术. 这些新技术相较于传统的FCS,可以获取样品更多的热力学信息. 图15是DC-FCCS的简单示意图,采用2种波长的激光分别激发2种对应的荧光分子,然后选择性光学器件对不同波长的荧光进行分离,最后由2个APD检测器分别检测2种荧光信号,再对信号进行关联性分析. DC-FCCS的基本原理就不在此赘述,除了对2种荧光分子的荧光强度涨落进行各自的自关联分析之外,我们还可以对这2种荧光信号做交叉关联分析得到两者相互运动乃至相互作用的信息. 需要说明的是,选择的这2种荧光分子在光谱上必须分离得很好,否则会出现很大的串扰影响实验结果.图 15Figure 15. Schematic illustration of dual color fluorescence cross-correlation spectroscopyChen等[83]利用DC-FCCS和光散射相结合的方法深入研究了聚电解质溶液中单链运动之间的关联性,发现了聚电解质分子链间的运动耦合. 将DC-FCCS实验得到自关联函数的自由扩散部分转化为均方位移数据(MSD),发现其在长短2个时间尺度上分别存在具有不同扩散系数的正常扩散运动,表明链间的静电排斥相互作用带来的“笼子效应”导致了单个分子链的自扩散运动中同样存在一快一慢2种时间尺度上的扩散模式:短时间尺度上为“笼子”内的快扩散行为,长时间尺度上为跨越不同“笼子”的慢扩散行为(如图16所示). 这2种松弛模式均存在强烈的离子强度依赖性,随着外加盐浓度的增加,削弱了链间的排斥作用而弱化了“笼子效应”,导致了长短时间尺度上的动力学非均匀性减弱,甚至消失. 实验结果还表明,聚合物浓度的增加限制了聚电解质链的运动,从而削弱了链间运动的关联性(如图16(b)所示). 将其与光散射中“慢模式”对应的扩散系数对比发现,“慢模式”对应的扩散系数数值处于分子链自扩散长短时间尺度的扩散系数之间,这说明光散射观察到的“快慢模式”与长程静电相互作用引起“笼子效应”有着密切的联系,同时也说明聚电解质的多级松弛过程比我们预想的更加复杂.图 16Figure 16. (a) Values of the diffusion coefficient of the short-time diffusion (Dshort-timeDshort-time) and the long-time diffusion (Dlong-timeDlong-time) of NaPSS with three different molecular weights under different salt concentrations (b) Diffusion coefficient of single NaPSS chain with three different molecular weights at short- and long-time lag as a function of concentration Diffusion coefficients measured by DLS (the slow mode, DDLS,slowDDLS,slow) are displayed for comparison. (Reprinted with permission from Ref.[83] Copyright (2019) American Chemical Society).5. 结论荧光关联光谱技术作为一种高灵敏度的显微统计光谱方法,能够有效地在多种复杂条件下开展高分子动力学的研究,包括:极稀薄溶液、表界面等等. 这项技术出色的空间分辨能力以及由于荧光标记带来的分子识别性,赋予了更加丰富的应用能力与前景. 随着这项技术的不断发展和应用范围的进一步拓展,相信未来它会和传统的散射技术一样被越来越多的人了解和使用,在多个领域都能取得丰富且具创造性的成果.致 谢 感谢研究生及合作者的辛勤劳动与贡献.参考文献[1]Wu C, Zhou S. Phys Rev Lett, 1996, 77(14): 3053−3055 doi: 10.1103/PhysRevLett.77.3053[2]Gao J, Wu C. Macromolecules, 1997, 30(22): 6873−6876 doi: 10.1021/ma9703517[3]Liu X B, Luo S K, Ye J, Wu C. 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  • 国际认可丨盛瀚色谱仪器再助东京工业大学论文发表
    2022年4月9日,东京工业大学在Analytica Chimica Acta(分析化学学报)发表了一篇名为《Aqueous-nonaqueous solvent-switching ion chromatography of halide impurities in ionic liquids》(卤化物的水非水溶剂切换离子色谱法)的学术论文。盛瀚的CIC-D120型离子色谱仪为其提供了技术支持,并获得了高度认可。东工大曾在2021年就与盛瀚进行过合作,在英国皇家化学学会发表了学术论文。此次再度携手,不仅印证了盛瀚仪器的准确性与稳定性,更彰显了中国智造在国际色谱领域中的影响力。在历次实验中,东工大所使用的盛瀚CIC-D120型实验室台式离子色谱仪是一款电路技术升级的高稳定性离子色谱仪,配置双极电导检测器,极大提高了仪器的检测性能和稳定性,给客户极致的使用体验。该仪器搭载盛瀚自主研发的Shinelab工作站,不仅可实现对各仪器功能部件的智能控制,还具有强大的数据处理功能;另外还可以兼容安培检测器、紫外检测器、紫外一柱后衍生等外接设备,结合盛瀚领先的色谱柱技术,可实现对阴、阳离子及氰根、碘离子、糖、小分子有机酸等的分析,普遍适用于环境、疾控、食品、化工、电子、矿冶等领域。盛瀚自2002年成立以来,一直肩负“致力于中国仪器高端化,走向世界,服务全球”的使命,已经形成了全产业链100%自主国产、“科技+艺术+文化”的产品气质及五星级售后服务体系的四大核心优势,目前已成功出口至包含美、德、日、法在内的62个国家和地区,并获得了众多国内外用户的信任与认可。在未来的日子里,盛瀚将一如既往地秉承“客户第一”的企业核心价值观,继续专注打造以离子色谱为核心的科学仪器生态,实现国产高端科学仪器自立自强,强力赋能中华民族“科技强国梦”!东京工业大学简介:被誉为“日本麻省理工”的东京工业大学,创立于1881年,是专攻工程技术与自然科学的日本顶尖、世界一流的理工科大学。2022年QS世界大学排名中位列第56名 ,日本第3名。其在工程技术类排名世界第14名,日本第2名;自然科学类排名世界第24名,日本第3名。分析化学学报简介:《ANALYTICA CHIMICA ACTA》是1947年Elsevier出版的期刊,刊期为Weekly,刊载方向为化学-分析化学。在Environmental Chemistry类期刊(115种)中排第16名,在Analytical Chemistry类期刊(119种)中排第11名。
  • 高分子表征技术专题——流变技术在高分子表征中的应用:如何正确地进行剪切流变测试
    2021年,《高分子学报》邀请了国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。 我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读. 期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来.高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献. 借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意! 原文链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304.2020.20230《高分子学报》高分子表征技术专题链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304流变技术在高分子表征中的应用:如何正确地进行剪切流变测试刘双 1,2 ,曹晓 1,2 ,张嘉琪 1,2 ,韩迎春 1,2 ,赵欣悦 1,2 ,陈全 1,2 1.中国科学院机构长春应用化学研究所 高分子物理与化学国家重点实验室 长春 1300222.中国科学技术大学应用化学与工程学院 合肥 230026作者简介: 陈全,男,1981年生. 中国科学院长春应用化学研究所研究员. 本科和硕士毕业于上海交通大学,2011年在日本京都大学取得工学博士学位,之后赴美国宾州州立大学继续博士后深造. 于2015年回国成立独立课题组,同年当选中国流变学学会专业委员会委员;于2016年获美国TA公司授予的Distinguished Young Rheologist Award (2~3人/年),同年入选2016年中组部QR计划青年项目;于2017年获基金委优青项目资助;于2019年入选中国化学会高分子学科委员会委员,同年获得日本流变学会奖励赏(1~2人/年),目前担任《Nihon Reoroji Gakkaishi》(日本流变学会志)和《高分子学报》编委 通讯作者: 陈全, E-mail: qchen@ciac.ac.cn摘要: 流变学是高分子加工和应用的重要基础,流变学表征对于深入理解高分子流动行为非常重要,获取的流变参数可用于指导高分子加工. 本文首先总结了剪切流变测试中的基本假设:(1)设置的应变施加在样品上,(2)应力来源于样品自身的响应和(3)施加的流场为纯粹的剪切流场;之后具体阐述了这些假设失效的情形和所导致的常见的实验错误;最后,通过结合一些实验实例具体说明如何培养良好的测试习惯和获得可靠的测试结果.关键词: 流变学 / 剪切流场 / 剪切流变测试 目录1. 流场分类2. 剪切旋转流变仪概述2.1 测试原理2.2 测试模式3. 旋转流变仪测试中的常见问题3.1 测试过程的基本假设和常见问题概述3.1.1 输入(输出)应变为施加在样品上的应变3.1.2 流场为简单的剪切流场3.1.3 输入(输出)应力为样品的黏弹响应3.2 测试中常见问题I:仪器和夹具柔量3.3 测试中常见问题II:仪器和夹具惯量的影响3.4 测试中常见问题III:样品自身惯量的影响3.5 测试中常见问题IV:二次流的影响3.5.1 同轴圆筒夹具二次流边界条件3.5.2 锥板和平板夹具二次流边界条件3.6 测试中常见问题V:样品表面张力3.6.1 样品的各向对称性3.6.2 样品本身表面张力大小3.6.3 大分子聚集3.7 测试中常见问题VI: 测试习惯3.7.1 样品的制备:干燥和挥发问题3.7.2 确定样品的热稳定性3.7.3 样品体系是否达到平衡态3.7.4 夹具热膨胀对测试的影响3.7.5 夹具不平行和不同轴对测试的影响4. 结论与展望参考文献流变学是研究材料形变和流动(连续形变)的科学,其重要性已在学术界和工业界得到了广泛的认可. 流变仪是研究材料流变性能的仪器,利用流变仪进行流变测试已成为食品、化妆品、涂料、高分子材料等行业的重要表征和研究手段[1~8].本文从流变测试的角度,详细介绍了流场的分类和旋转流变仪测试的基本原理和测试技巧,重点阐述了剪切流变学测试中的基本假设和这些假设在特定的条件下失效的情况. 最后,通过结合具体的实验测试实例,详细地阐述了如何避免流变测试中的错误和不良测试习惯. 笔者希望本文能够对流变学测试人员有一定的帮助和启发,找到获得更可靠和准确的实验测试结果的有效途径.1. 流场分类高分子加工过程中的流场往往非常复杂,例如:在共混与挤出的工艺里,占主导的流场是剪切流场;在吹塑和纺丝等工艺里,占主导的流场是拉伸流场. 更多加工过程中,用到的流场是剪切与拉伸等流场的复合流场[9~12].在流变学测试中,为了得到更明确的测试结果,往往选择比较单一和纯粹的流场,如剪切或者单轴拉伸流场(此后简称“拉伸流场”). 流变仪的设计往往需要实现特定的流场,并表征材料在该特定流场下的响应. 虽然剪切流场和拉伸流场在高分子加工中同等重要,高分子流变学的测试研究却呈现了一边倒的局面:目前大量常用的商用流变仪,如应力和应变控制型的旋转流变仪、转矩流变仪、毛细管流变仪的设计基础都是针对剪切流场的(利用这些仪器仅可进行比较粗略的拉伸流变测试,例如在旋转流变仪的基础上添加如Sentmanat Extensional Rheometer在内的附件测量拉伸黏度[13]或者利用毛细管流变仪的入口效应来估算拉伸黏度.),而针对拉伸流场的拉伸流变仪则比较稀缺.剪切和拉伸流场自身的区别是造成以上局面的主要原因. 图1中分别展示了剪切和拉伸2种形变[14]. 施加剪切形变时(图1上),力位于样品顶部,力的方向与上表面平行,该应力会造成样品的剪切形变,而连续的剪切形变则称为剪切流动. 剪切流动的特点是,底部速度为0(不考虑滑移),顶部速度最大,速度梯度的方向与速度的方向垂直. 而施加拉伸形变时(图1下),力位于样品右侧,力的方向与右侧面垂直,该应力会造成样品拉伸形变. 同样,连续的拉伸形变称为拉伸流动. 拉伸流动的特点是,样品左侧固定,速度为0,右侧拉伸速度最大,因此速度梯度的方向与速度方向平行. 施加剪切流场时,剪切速率等于上表面的绝对速率除以两板间的距离. 在旋转流变仪中,使用匀速转动的锥板或者同轴圆筒即可实现单一的剪切流场. 然而,拉伸速率的大小等于右侧表面绝对速率除以样品的长度. 在拉伸过程中,样品越拉越长,因此右侧面的速度需要越来越大,方可实现稳定的拉伸流场. 假设t时刻样品的长度为L,则此时的拉伸速率等于[15]:图 1Figure 1. Illustration of two representative modes of deformation: the simple shear for which the direction of velocity gradient is perpendicular to that of velocity, and the uniaxial elongation for which the direction of velocity gradient is parallel to that of velocity. (Reprinted with permission from Ref.[14] Copyright (2012) Elsevier)将式(1)进行积分可以得到L(t)=L0exp(ε˙t),表明样品的长度正比于时间的幂律函数. 为了实现稳定的拉伸流场,实验中右侧面速度随时间呈指数增长,因此拉伸流场相较剪切流场更难以实现,这就是造成拉伸流变仪器较为稀缺的主要原因.有人要问,为什么需要测试2种典型流场,我们能从剪切实验的结果来推导其拉伸的行为吗?对于线性流变的行为,答案是肯定的. 即当体系位于平衡态附近,施加微弱的扰动时,拉伸黏度ηE,0与剪切黏度η0存在着简单的正比关系ηE,0=3η0=3∫0tG(t′)dt′,其中G(t)为线性剪切模量相对于时间的函数[16,17]. 该正比关系由Trouton在牛顿流体中发现,被称作Trouton比[18]. 然而,对于流场较强的非线性的流变测试,无法从剪切流变行为直接推导拉伸流变行为,或反之,从拉伸流变行为推导剪切流变行为,主要原因是,剪切与拉伸测试不同流场下的应力张量的不同分量:如在图1中可见,剪切测试中主要测量上板作用力Fs,其除以上板面积可得到剪切条件下应力张量σ的xy分量,而拉伸测试中主要测量右侧力FE,其除以右侧面面积主要得到拉伸条件下应力张量的xx分量.2. 剪切旋转流变仪概述本文重点介绍剪切流变测试中的仪器原理和测试技巧(笔者计划在后续文章介绍拉伸测试的原理和技巧). 目前商业的用于剪切测试的流变仪为旋转流变仪和毛细管流变仪. 本小节主要围绕旋转流变仪展开介绍. 旋转流变仪主要分为应力控制型和应变控制型2种. 应力控制型旋转流变仪一般使用组合式马达传感器(combined motor transducer,CMT),即驱动马达和应力传感器集成在一端,也被简称为“单头”设计;应变控制型的流变仪一般使用分离的马达和传感器(separate motor transducer,SMT),即驱动马达和应力传感器分别集成在上下两端,简称为“双头”设计,这2种设计的主要区别在于:“单头”设计更为简单,仪器容易保养和维护,但是夹具和仪器的惯量、马达内部的摩擦力容易对应力的测试结果造成影响,需要对仪器定期进行校正;“双头”的设计更为复杂,仪器操作步骤较多,需要更专业的仪器培训和仪器维护来防止操作不当带来的仪器损害,但是由于其马达和应力传感器分离的优势,可以更准确地进行应变和应变速率控制模式的测量,“双头”的流变仪的测试范围更宽,可以在更高的频率和更低的扭矩下得到准确的测试结果.下面我们将从旋转流变仪的测试原理(2.1节)和测试模式(2.2节)两个方面分别对于剪切流变测试进行简单的概述,这部分内容对于“单头”或者“双头”流变仪同样适用. 之后,我们会结合具体例子详细地介绍流变仪测试中需要注意的问题,部分内容会涉及“单头”和“双头”流变仪的区别. 对于流变测试比较熟悉的读者可以跳过2.1和2.2小节,直接阅读第3节.2.1 测试原理对于旋转流变仪,无论是应力控制还是应变控制模式,应变γ和应变速率γ˙均分别通过电机马达旋转的角位移θθ和角速率Ω转换得到,而应力均通过扭矩T (T=R×F,其中F为力,R为力臂)转化得到,上式中Kγ和Kσ分别为应变因子和应力因子,由测试夹具的类型、大小、间距等夹具的几何因子决定,而流变学测得的所有流变学参量,如剪切模量,黏度等都是应力应变的函数. 因此, 可以从原始测量的角位移θθ、角速率ΩΩ、扭矩T和应变因子Kγ、应力因子Kσ计算得到:剪切流变测试中通常用到的夹具为平行板、锥板和同轴圆筒3种,其基本结构、流场特征,应变和应力因子(Kγ和Kσ)总结在图2中.图 2Figure 2. Geometry and parameters Kγ and Kσ of parallel-plate, cone-and-plate and Couette fixtures平行板、锥板和同轴圆筒三者基本结构的特点也决定了其使用场合不同,具体总结如下:(1)平行板夹具具有剪切流场分布不均一的特点,施加应变时,其圆心处剪切应变为0,最外侧剪切应变最大,应变沿半径方向线性增加;平行板夹具的优点是制样和上样都很方便,但由于其内部流场不均一的特点,平行板夹具一般只用于线性流变测试. 但是,对于一些特殊的实验需求,选择平板进行剪切实验具有一定的优越性. 例如,可以利用平板间剪切速率随半径线性增加的特性,研究不同剪切速率下的流动诱导结晶行为[19,20]. (2)锥板夹具相对于平行板夹具具有内部剪切流场均一的特性,但其制样和上样相对于平行板要复杂,特别是难以流动的样品上样比较困难,因此一般仅在非线性流变测试时选择. 此外,需要注意的是, 为了避免测试时锥板和其对面板直接接触,通常在锥面顶点处截去一小段锥尖,使用锥板测试时,设定的夹具间距即被截去的锥尖高度. (3)同轴圆筒夹具相对于平行板和锥板通常需要使用更多的样品,但是由于其具有较平行板和锥板更大的夹具/样品接触面积和测试力臂(介于样品内径R1和外径R2之间),使用其测试可得到更高的扭矩,因此,其可用于测试更低黏度的样品.2.2 测试模式仪器测试的基本原理通常是对样品施加一个扰动或者刺激并记录其响应. 在旋转流变仪的测试中,通常对样品施加应变并记录应力响应,或反之,施加应力并记录应变的响应. 根据施加应变或应力随着时间的变化情况,流变测试通常可以分为稳态、瞬态、动态3种测试模式(如图3),总结如下:图 3Figure 3. The different responses of Newtonian fluid, Hookean solid, and viscoelastic materials to the imposed steady flow (stress growth, transient or steady mode that depends on the focus), step strain (stress relaxation, transient mode), step stress (creep and recovery, transient mode) and small amplitude oscillatory shear (SAOS, dynamic mode).(1)稳态测试模式通常测试样品在外加流场达到稳定状态下的响应. 通常,达到稳定的状态需要一定的时间,如果测试关注的是体系达到稳态过程,其测试模式一般称作瞬态模式,而如果测试关注的是体系达到稳态之后的过程,则测试模式为稳态模式. 通常仪器的软件内置了一些检验样品是否达到稳态的标准,如剪切速率扫描测试的过程中,仪器会记录应力的变化,当其测试应力在一定的时间内稳定后,仪器才会记录此时的应力. 剪切条件下,牛顿流体通常可以瞬间达到稳态流动,黏弹体通常需要一定的时间达到稳态流动,而胡克固体通常应力随应变增加,在结构不破坏的前提下无法达到稳态流动. (2)瞬态测试模式通常指从一个状态瞬间变化到另一个状态的过程,如施加阶跃应变(应变控制模式)、阶跃应力(应力控制模式)或者阶跃剪切速率等. 其中最典型的测试就是,施加一个固定应变,记录应力随时间变化的应力松弛(stress relaxation)测试,施加或撤销一个固定的应力,记录应变随时间变化的蠕变和回复(creep and recovery)测试,或者施加一个阶跃剪切速率,记录瞬态黏度随时间变化的应力增长测试(stress growth). 这些测试的共性是关注样品在一个特定刺激下的转变过程. 以阶跃应变为例,迅速施加应变后,牛顿流体的应力可迅速松弛,胡克固体的应力达到一个恒定值无法松弛,而黏弹体的应力需要经过一定的时间松弛,这个时间通常反映黏弹体系在应变下结构重整的特征时间. (3)动态测试模式是施加一个交变的应变或者应力,如正弦变化的交变应变或者应力,并记录响应. 以施加正弦应变的测试为例,由于测试的频率和应变大小均可调整,因此,测试有很大的参数空间. 通常,小应变下,体系结构仅稍微偏离无扰状态,应力响应的信号也是正弦波,该测试通常被称作小振幅振荡剪切(small amplitude oscillatory shear,简称SAOS). 对于胡克固体,应力的相位与应变相位相同;而对于牛顿流体,则应力的相位与应变速率(应变对时间的导数)的相位相同,与应变相位差π/2;对于黏弹体,应力的相位与应变的相位在0~π/2之间. 当应变较大时,体系的结构严重偏离无扰状态且随时间改变,此时的应力响应通常不是正弦波,该测试通常被称作大振幅振荡剪切(large amplitude oscillatory shear,简称LAOS). 需要指出的是,一些仪器软件会用正弦波来拟合非正弦的应力结果得到包括模量在内的测量结果,此时对于结果的解读需要非常小心. 因此,一般的测试过程中建议打开仪器的应力记录来观察测量应力波的波形,并据此判定测试的线性/非线性.3. 旋转流变仪测试中的常见问题3.1 测试过程的基本假设和常见问题概述上文提到,旋转流变仪的原始测量的角位移θ和扭矩T可转化为应变和应力. 然而,测量的应变和应力是否就是施加在样品上的真实的应变和应力呢?这显然是流变测试中最关键的问题. 需要指出的是,旋转流变仪的测试结果是建立在3个基本假设上面的:(1) 应变作用在样品上;(2) 应力为样品自身的响应;(3) 流场为简单剪切流场. 这些假设都是会在一定的测试条件下失效,从而导致测试结果不可靠. 接下来我们将详细地介绍这些假设条件分别在什么测试情况下失效.,则样品上的实际角位移θeff小于施加的角位移θ(=θslip+θeff). 对于平行板样品,由于应变参数K
  • 食药监总局:5月1日起保健食品名称不得含表述产品功能相关文字
    p   国家食药监总局网站26日发布了《国家食品药品监督管理总局关于保健食品命名有关事项的公告(2016年第43号)》,公告内容如下: /p p   为加强 a style=" color: rgb(255, 0, 0) text-decoration: underline " title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/application/industry-S03.html" target=" _blank" span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 保健食品 /strong /span /a 命名管理,现就《关于进一步规范保健食品命名有关事项的公告》(国家食品药品监督管理总局公告2015年第168号)实施中的有关事项公告如下: /p p   一、各地要严格执行《关于进一步规范保健食品命名有关事项的公告》(国家食品药品监督管理总局公告2015年第168号)。自2016年5月1日起,保健食品名称中不得含有表述产品功能的相关文字,包括不得含有已经批准的如增强免疫力、辅助降血脂等特定保健功能的文字,不得含有误导消费者内容的文字。 /p p   二、对已批准的名称中含有与保健功能近似、谐音和暗示功效等内容的命名,另行规定。 /p p   三、产品名称经批准变更后,生产企业可以在新产品名称后标注原产品名称,原产品名称字体不得大于新产品名称所用字体的1/2,字号不得大于5号字。生产产品销售至保质期结束,保质期标识不得超过原产品规定的保质期。2017年1月1日起,生产企业不得标注原产品名称。 /p p   四、各级食品药品监督管理部门应严格按照公告有关规定加强市场销售保健食品的监管。 /p p   特此公告。 /p p   食品药品监管总局 /p p   2016年2月26日 /p
  • 中国为钙钛矿电池研究大国,论文发表数超越美日韩
    中国大陆正在成为钙钛矿太阳能电池的研究大国。统计显示,中国大陆发表的这类国际学术论文篇数已超越美国、日本和韩国,与美国的差距持续扩大。【中国论文篇数位居第1】根据东京数据分析供应商Fronteo的统计,自2019年以来,中国大陆发表了超过5500篇有关钙钛矿电池的国际学术论文,位居第一。美国以约3400篇排第二,韩国有1460篇,日本约820篇。在发表篇数最多的前几国家中,中国大陆占总篇数约30%。Fronteo是在分析2010年至2022年3月间发表的逾3.8万篇钙钛矿电池论文后得出此结论。【钙钛矿电池优势】与主流的硅太阳能电池相比,钙钛矿太阳能电池更薄更轻,也更柔韧,更易安装在建筑外墙和电动车车顶。自2009年日本团队开发出钙钛矿电池以来,已成为日本以外约80%的太阳能电池研究主题。许多研究聚焦提高寿命、扩大用途以及其他商业化方向。【日本积极布局】当前市场主流的太阳能电池板大多在中国大陆制造。日本政府寻求国内制造钙钛矿电池,减少对中国电池的依赖。日本塑料制造商住友化学计划在2030年前开始批量生产钙钛矿太阳能电池,以赶上中国竞争对手。
  • 快讯!MOTUS波浪传感器成功整合到大型浮标平台
    背景在恶劣环境中的设施将大大增加对气象海洋学参数信息的需求。处于这些环境中的操作员们希望能减少安装的传感器平台数量以提升效率。欧洲大型传感器平台的一家主要制造商选择与我们合作,结合利用 Aanderaa MOTUS 波浪传感器与 Aanderaa 多普勒流速剖面仪,以监控海浪和洋流。通过联合激光雷达与其他传感器,我们致力于为最终用户提供完整的解决方案以实现高质量的气象海洋学监控。MOTUS 波浪传感器MOTUS 波向传感器的产品经理 Stig B. Øen 为我们介绍了更多有关 MOTUS 传感器的最新动态:针对来自 MOTUS 传感器用户和 MOTUS 浮标用户的反馈,我们始终用心倾听并积极响应,为此我们专门对传感器进行了升级:添加了一些基于竖向时间序列位移的波浪参数,并新增了 NMEA AIS 模式。MOTUS 传感器中的新增参数包括:平均波周期 T1/3;有效波高 H1/10;平均波周期 T1/10波;高 H1/1;平均波周期 T1/1;参考东向和北向水平时间序列,可配置为 2Hz 或 4Hz 采样。有关 MOTUS 波浪传感器的参数,请查阅数据表。MOTUS 适用于不同尺寸的浮标为了测量海浪特征,在理想情况下,传感器平台应完美地跟随水面运动。如果未应用补偿,则 MOTUS 传感器会根据安装位置的竖向平台位移计算波高。波向则基于水平浮标位移的方向。为了在众多不同类型的浮标中脱颖而出,MOTUS 传感器提供以下补偿功能。偏心补偿:在不同形状的大型浮标的旋转原点处安装传感器通常难度较大。通过向传感器提供其安装位置相对于旋转原点的信息并激活传感器偏心补偿功能,可以补偿误差。浮标响应/传递函数:如果浮标无法满足在所有频率下均理想地跟随水面,则可以通过激活和修改浮标传递函数来补偿限制。Anderaa 开发了一款简单工具,以帮助您了解不同尺寸形状浮标的期望阻尼因子。磁性:如果传感器受到电磁干扰,则可以将外部罗盘直接连接到 MOTUS 传感器。MOTUS 适用于海上风力/海上设施结合使用 Aanderaa 提供的海浪和洋流传感器与其他传感器(例如环境传感器和激光雷达),可为您提供完整的预研究平台和全面投产的海上风电场。MOTUS 传感器可在其内部完成对波浪参数的所有处理,通过实时/近实时输出基于频率和时间的参数,提供风浪和涌浪的全波频谱。对于海上风电场的运营来说,监控该区域的海浪将有助于确定是否将船只或技术人员派往现场、缩短停运时间,以及对健康、安全和环境保持高度关注。
  • 高性能比表面仪亮相2013春季高教展
    2013年4月25日,全国春季高教仪器设备展示会在江西南昌国际展览中心拉开帷幕。北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪(型号:JW-BK132F)亮相展会,引来众多老师围观。 精微高博展台D194 精微高博此次带来的比表面仪产品,主要是面向高等院校的高效研究型的物性分析仪,特别适合于新材料及新产品的研发,测试精度高,重复精度≦± 1%,微孔最可及孔径重复偏差≦0.01nm;仪器全自动智能化,具有近十种物理模型及完善的分析软件,操作简单,有利于学生更好的了解与掌握比表面积及孔径分布的相关知识及其应用,引发学生学习兴趣。对部分老师的咨询,精微高博员工都热情的给予了详细解答,并介绍了仪器技术的先进性及简单的操作流程,得到了参观者的一致认可和高度赞许。 精微高博高度重视产品技术的先进性与质量的稳定性,把不断提高产品质量、保持技术先进性作为不懈追求的目标。在与国际接轨的静态仪器方面,精微高博技术团队在钟家湘教授的带领下,深入进行基础理论研究、测试关键部件的优化设计、自由空间的准确测定、测试系统温度的全程监测与修正,使仪器的测试精度始终在国内遥遥领先;集国内最高水平的研究成果,独家开发出非定域密度函数(NLDFT)孔径分析软件,赶上了国际先进水平,填补了国内空白。 高性能比表面及孔径分析仪 型号:JW-BK132F
  • 国际认可丨助力东京工业大学论文发表,盛瀚再登国际舞台
    2021年7月20日,东京工业大学在英国皇家化学学会发表了一篇名为《Structures of ions accommodated in salty ice Ih crystals》的学术论文。盛瀚的CIC-D120型离子色谱仪、SH-CC-6 及 SH-AP-2 离子色谱柱为其中“样本中K+与Cl-离子浓度测定”提供了技术支持,并获得认可。  《Structures of ions accommodated in salty ice Ih crystals》- 选节1  《Structures of ions accommodated in salty ice Ih crystals》- 选节2  盛瀚自2002年成立以来,一直肩负“致力于中国仪器高端化,走向世界,服务全球”的使命,已经形成了正向经营、全产业链100%国产化、“科技+艺术+文化”的产品气质及五星级售后服务体系的四大核心优势,目前已成功出口至包含美、德、日、法在内的48个国家和地区,今后也定当继续努力,竭力让更多人认识、了解、认可中国离子色谱。  【本文来源】  英国皇家化学学会 (Royal Society of Chemistry)  【原文链接】  https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2021/CP/D1CP01624E  东京工业大学简介:  东京工业大学(Tokyo Institute of Technology)是日本理工科大学之最,是专攻工程技术与自然科学的日本顶尖、世界一流的理工科大学 ,是日本超级国际化大学计划的A类顶尖校之一。  2022年QS世界大学排名中位列第56名 ,日本第3名。其在工程技术类排名世界第14名,日本第2名 自然科学类排名世界第24名,日本第3名。  英国皇家化学学会简介:  英国皇家化学学会 (Royal Society of Chemistry)成立于1980年,由四个著名的英国学术机构——化学学会(1841年)、分析化学学会(1847年)、皇家化学协会(1877年)和法拉第学会合并组成。学会两大职能:职业认证机构以及科学与学术社群。
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