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宽座角尺

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宽座角尺相关的耗材

  • 样品座盒 16791 SEM 样品座盒,用于Hitachi SEM
    PELCO SEM 样品座盒,用于Hitachi SEM
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  • 整卷纯铝丝编织带 定做45mm宽50硅碳棒铝带 40宽铝连接带
    加厚45宽铝编织带 郑州硅碳棒厂家供应,生产应用中有些情况常规铝编织带不能满足使用需求,需要加宽加厚高负荷铝编织带,郑州毅信窑炉有限公司供应加宽加厚铝编织带,40宽,45宽,欢迎来电咨询。 铝编织带由铝丝经编织机编织成椭圆状管网,通过设备拉伸压扁制作,柔软度好,易散热,耐弯曲,导电率强,我司可根据需求进行一定程度的加工。高温元件硅碳棒、硅钼棒常用铝编织带大量现货供应,支持订做,外观规矩,尺寸标准。订做铝编织车灯散热带,电阻丝连接杆导电带,高温元件硅碳棒硅钼棒铝带,铝编织导电带,几十条,百条,几千条,上万条,欢迎来电详谈。
  • 安捷伦 5183-4649 10英尺宽的交叉缠绕电缆
    化学工作站部件号 :5183-4649Crossover Ethertwist Cable, 10ft10英尺宽的交叉缠绕电缆
  • 样品座盒 16718 15/25mm Hitachi样品座、塑料柱及盒
    15/25mm Hitachi样品座、塑料柱及盒
  • 样品座盒 16712 15/25mm Hitachi样品座、金属螺扭及盒
    15/25mm Hitachi样品座、金属螺扭及盒
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  • 样品座盒 16712 15/25mm Hitachi样品座、金属螺扭及盒
    15/25mm Hitachi样品座、金属螺扭及盒
  • Pelcotec SEM线宽标样CDMS - XY 特征尺寸放大标样
    Pelcotec&trade CDMS-XY 标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线,可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY 标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成,具有卓越的线缘质量,可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选,分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T 和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ,每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样,总共有四种:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T :特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位684-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C :每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位689-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ,2mm - 1µ m,已认证,没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T :特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位685-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C :每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位690-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ,2mm - 100nm,已认证,没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T 和 -1C 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T 和 0.1C 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线,间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NISTT 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证C版本C版本不含样品台&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • 测角仪样品座(Goniometer Bases)
    测角仪样品座Goniometer Bases 这个与市场上其它的测角仪样品座明显不同,由轻质材料制造,主要与MicroRT塑料毛细管配套使用,进行常温和低温下的蛋白晶体数据采集。座的参数如下:材质416 magnetic stainless steel (B1, B2), copper (B2, B3) and brass (B4)底部尺寸B1 – B3: inside: 9.70 mm outside: 11.95 mm B4:3 mm塑料管覆盖区域尺寸diameter: 1.93 mm, length: 5 mm (4mm for B4)中孔尺寸0.81 mm测角仪珠子上部高度B1, B3: 0.043" (1.1mm) B2: 0.358" (9.1mm)配套MicroMount柱形针座的高度B1: 21 mm for 19mm pins B2: 21mm for 11 mm pins B3: 21mm for 19mm pins 19.7mm for SPINE length pins 样品座考虑与MicroRT塑料毛细管、标准低温工具、低温晶体存储管、测角仪磁性样品台、系列自动化检测平台等等相匹配,主要推出以下几款:B1:根据有无围边分为B1和B1AB2:有围边B3:有3个版本同时出售:有围边B3、无围边B3A,无围边款B3S、B4:仅有一个版本,无围边,中央孔径小,更好匹配MicroMount™ 和MicroRT.产品订购:货号产品名称规格60143-20-B1Goniometer Bases, Type B120个60143-20-B1AGoniometer Bases, Type B1A20个60143-20-B2Goniometer Bases, Type B220个60143-20-B3AGoniometer Bases, Type B3A20个60143-20-B3SGoniometer Bases, Type,B3S20个60145-20Goniometer Bases, Type B420个60145-100Goniometer Bases, Type B4100个相关产品:磁性低温样品管Magnetic CryoVials 磁性低温样品管,主要用来保存在测角仪样品座上的样品,按照样品座的大小设计,具有精细的尺寸和可靠的低温稳定性。磁性使得蛋白晶体样品座可牢固置于其上,管子与样品座goniometer bases大小匹配,低温样品管不仅可以确保样品转移时保持低温,同时也保护样品免受损失或者损伤。货号产品名称规格CV-1-50磁性低温样品管Magnetic CryoVials50个CV-1-100磁性低温样品管Magnetic CryoVials100个价格仅供参考,详情请致电010-52571502
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样CDMS - XY ISO特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线,可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成,具有卓越的线缘质量,可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选,分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样,总共有四种:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位693-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位697-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO,2mm - 1µ m,已认证,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位694-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位698-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO,2mm - 100nm,已认证,没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表: Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1-ISOPelcotec&trade CDMS-XY-0.1-ISO基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线,间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不含样品座&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • 中镜科仪 坐标镀碳支持膜 (铜.镍.金坐标镀碳支持膜)
    坐标普通碳支持膜的载网是带标记的,方便您找到需要观察的样品。F1坐标载网和F2坐标载网是不同规格标记(F1坐标网见图1,F2坐标网见图2)。图1 F1坐标图2 F2坐标 碳膜为两层支持膜结构,可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲,从下到上依次为载网,方华膜和碳膜,如下图它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性,弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应,增强了膜整体的稳定性,适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。普通碳支持膜是针对常规检测20-50nm尺度样品的理想产品,是初次使用或筛查样品的最基本选择。如下图是纳米材料和生物样品在中低倍下的TEM照片,图像清晰,背底影响较小。支持膜的厚度,由对样品提供的承载强度和自身产生的背底干扰共同决定。如果膜厚度大,对样品的承载能力强,但会导致背底噪音增强;如果膜厚度小,图像质量高,但容易引起支持膜破裂。膜总厚度:10-20 nm产品编号产品名称规格/数量间距肋宽孔径BZ10021F1b100目F1坐标碳支持膜50枚/盒25040210BZ10021F1a100目F1坐标碳支持膜100枚/盒25040210
  • sub D 25针 / 5插座的适配器 6.2125.120
    sub D 25针 / 5插座的适配器订货号: 6.2125.120将?远程线分布到5 x 25针的插座上。用于pH计,Titrino,KF库仑水分测定仪,样品转换器,离子色谱系统,等等。技术参数:长度(mm)108宽度(mm)57
  • 单晶硅标样 615-L 单晶硅标样,含样品座L
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为10%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-M 单晶硅标样,含样品座M
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为11%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-L 单晶硅标样,含样品座L
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为10%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-O 单晶硅标样,含样品座O
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为12%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-O 单晶硅标样,含样品座O
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为12%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-P 单晶硅标样,含样品座P
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为13%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-P 单晶硅标样,含样品座P
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为13%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-M 单晶硅标样,含样品座M
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为11%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 座架(自由型)
    座架(自由型) 自在型スタンド STAND编号型号底座部尺寸(mm)轴尺寸(mm)RMB(含税)6-423-01AN型330× 270&phi 16× 700¥ 2400.001-315-02备用手柄十字夹(D型角)-¥ 990.00特点 · 转动手柄,可简单调节高度(1圈约7mm)。 · 由于是齿轮结构,可进行微调整。规格 · 齿轮上下范围:400mm  · 可安装轴径:最大至&phi 16mm · 座架轴材质:不锈钢(SUS304)  · 底座内尺寸:260× 190mm · 耐负荷:4.5㎏  · 重量:6.5㎏
  • 北京定碘烧瓶碘瓶碘量瓶、碘价烧瓶、宽口具
    1204 ( 1123了定碘烧瓶、 宽口具磨砂玻塞, I0DINE NUMBER FLASKS.with wide, Flaring neck and ground- in glass stopper。别名:碘价烧瓶,一、概况及用途: 该产品生产T艺,用玻璃料与1203」寒三角烧瓶相同。用途:主要用于脂肪油、油脂、石腊等碘价测定。 二、造型 是一个小口成喇叭形状、并具有磨砂玻璃口、塞的锥形烧瓶。上口威喇叭形,是由于在实验时宽口可放入水或碘化钾溶液进行封闭:具塞是防止瓶内物质挥发外溢,使实验更为准确决 三、使用方法: 操作时首先要洗净、烘干(方法见1001低型烧杯),精确称取试样,置于碘价烧瓶中.把溶剂及碘液感化钾溶液)仔细的加入瓶内,盖紧瓶窘摇匀,然后在宽口及玻塞处,滴入数滴碘化钾溶液。在20- -30C的温度情况下放置30分钟(放在暗处),要不断的摇动,使试品的被测物质(不饱和物)与碘充分结合,起加成作用。试验结束时,打开话寨,把瓶口部分的璵化钾溶液流入瓶内摇匀(均无损失),再用新配制的10%碘化钾溶液10ml和蒸馏水50ml,把瓶塞和瓶颈上的液体冲入瓶内摇匀。用0.1 N硫代硫酸钠溶液迅速滴定并充分播动使混合液由深色变为黄色,加入1 %的淀粉指示剂1 ml.继续滴定至终点时,用力振荡,直到溶液至兰色消失为止。 同时作一个空白试验,以供消耗硫代硫酸钠之毫升数,减去空自试样所消耗的毫升数,再秤出试品取确的克数,这个克數就是试品的碘价值。 四、规格及质量要求: -规格及参考尺寸 mm容量m150 100250 500 1000 |瓶体外径D L .53 62 82100 128瓶体高65 30 」110 15 瓶全高日90土5110土5 I 150土10195* 1025010瓶口外径d 32 45瓶口高h 15 瓶体厚S1-1.7 1.2-21.5-2.3 GG-瓶口编号一I 16/16 I 19/17 24/29 24/29, 二其它质量规定与1203具塞三角烧杯相同。
  • 瑞士万通 sub D 25针 / 5插座的适配器 | 6.2125.120
    sub D 25针 / 5插座的适配器Adapter sub D 25-pin/5 sockets订货号: 6.2125.120将?远程线分布到5 x 25针的插座上。用于pH计,Titrino,KF库仑水分测定仪,样品转换器,离子色谱系统,等等。技术参数宽度(mm)57长度(mm)108
  • 万向关节座
    PHUP万向关节座PHUP系列万向关节座说明:PHUP 系列万向关节座采用万向关节机构,可实现空间任意位置的定位功能,设计巧妙,锁紧后稳定、可靠。自带安装孔或安装板,可固定接杆、杆架或尺寸合适的手动位移产品,使用方便。PHUP系列万向关节座选型表:
  • DB9插头/Mini-DIN8插座适配器 6.2134.010
    DB9插头/Mini-DIN8插座适配器 订货号: 6.2134.010DB9插头与mini-DIN 8插座,用于带mini-DIN 8插头的700.0020 Dosino多思 与726,796 Titroprocessor之间的连接等等。技术参数:长度(mm)35宽度(mm)23
  • 单晶硅标样 615-B 单晶硅标样,含样品座B
    单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为3%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-A 单晶硅标样,含样品座A
    单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为2%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-F 单晶硅标样,含样品座F
    单晶硅标样,用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样,随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为7%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
  • 单晶硅标样 615-E 单晶硅标样,含样品座E
    单晶硅标样, 用于扫描电镜与光镜放大倍数和图像变形检查。5mm x 5mm,方格间距10μm,线宽1.9μm,通过电子束印刷技术形成。每隔500μm有一稍宽的标记线,用于光学显微镜检测。方格由蚀刻形成,深200nm。可根据扫描电镜型号选择不同样品座。单晶硅标样, 随标样提供校准证书,但需支付额外费用。保证的准确度为6%。标样由英国NPL实验室(National Physical Laboratory)用激光干涉测量法测定。
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