电声分析仪

DT-300 电声法Zeta电位分析仪许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-300 电声法Zeta电位分析仪1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，电导率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品特点 DT-310电声法Zeta电位分析仪 Zeta电位仪：许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-310电声法Zeta电位分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的Dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。DT-310电声法Zeta电位分析仪 特点1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品概述 2014 年，美国分散技术公司（DTI ）推出了新一代美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330，既可在原浓液环境下测量固体颗粒的zeta电位，也可测量块状或粉状固体孔隙率和孔表面电位，仪器执行国家GB/T32671.1标准。 产品特点 只要固体样品能被某种液体浸润即可进行分析，美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330能够用于几乎所有类型的多相系统，测量颗粒和多孔材料的zeta电位： ■ 固体颗粒的分散体 ■ 乳液 ■ 粒度达毫米级的多孔颗粒分散体 ■ 固体颗粒的沉积物 ■ 多孔颗粒的沉积物 ■ 块体，如地质岩心，瓷砖等多孔材料 ■ 膜 功能特点 ■ 采用电声学 CVI 测量技术测量原浓胶体体系的 Zeta 电位 ■ 通过高频电导率探头测量孔隙率（专利方法） ■ 采用电声电振法测量多孔材料块体的孔表面电位 ■ 通过电导率测定，可计算出双电层厚度、表面电荷密度和杜坎数 ■ 可适用于任何容器内液体的测定，无需特殊样品池 ■ 对于高达 50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量 ■ 可以直接用 Zeta 电位探头测量浆糊、凝胶、水泥等高粘度材料体系的 zeta 电位 技术参数 美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330的技术参数Zeta电位测试范围无限制，低表面电荷可低至0.1mV,高精度（±0.1mV） 样品浓度0.1～50％（体积百分数）样品体积1-100ml（检测 Zeta 电位） pH 范围0.5～13.5 电导率范围0.0001～10 S/m 温度范围 50℃ 粘度20，000 厘泊 产品应用 美国分散技术公司（DTI）开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。

超声电声法Zeta电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据超声电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

ZetaProbe是一款易上手，操作简单，测量准确的Zeta 电位分析仪。对于高达60% v/v浓度的样品。也无需稀释或样品前处理即可直接测量，甚至对于浆糊、凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可用ZetaProbe直接进行测量。传统的测量方法要求进行稀释样品或进行其它处理，这一过程即费时又容易产生误差。ZetaProbe全自动Zeta 电位分析仪专利的多频电声技术（Multiple Frequency Electro-Acoustic）则可完全避免这些麻烦，可直接在样品原始状态下直接测量Zeta电位，允许样品浓度高达60% 体积浓度。ZetaProbe 仪器结构设计紧凑，具有内置自动滴定装置，多功能传感器及高度人性化操作软件，使Zeta 电位的测量变得如此的简单快速。全自动滴定装置可自动并快速的提供酸判断等电点（IEP）以及定量浓度滴定提供分散剂或絮凝剂的选择配方。另外ZetaProbe Zeta 电位分析仪可对粒度和双电层失真进行自动修正，这是其它仪器无法做到的。而且该仪器的操作软件易于使用，功能强大，非常适用于进行科研和工厂的质量控制。测量参数- Zeta电位- 动态迁移率- 电导率- pH 值- 温度- 等电点（IEP)CD公司提供了宽广的服务范围帮助您充分利用这种功能强大的新型测量设备，ZetaProbe和AcoustoSizer IIx 能够适用于工厂的优化控制，QA/QC，科研或学术机构的使用。主要应用领域 陶瓷 食用胶体 生物胶体 均化控制 油漆和油墨 乳胶 纸张涂层 催化剂和沸 煤浆 胶合剂 制药 研磨 颜料 矿物质加工 过滤/ 脱水 抛光复合物等 天然乳汁 黏土 湿磨/ 研磨 磷光体 矿物 表面涂层控制应用案例● 优化分散剂用量：在氧化铝悬浮液中加入高分子电解质DarvanC，发现Zeta 电位的数值与高分子电解质DarvanC 加入量以及pH 有关● 准确的等电点（IEP）测量：相同的等电点IEP 为6.9，而不是7.8，而且两个浓度不同的样品在不同PH 下的Zeta 电位值几乎相同。用ZetaProbe 滴定二氧化钛在0.1M 氯化钾溶液中的悬浮液样品，采用自动背景校正

7907型PULSE电声提供高品质的音频设备测试工具和分析软件，其中7797型PULSE基本电声SSR稳态响应分析仪采用步进正弦激励被测物，可按所要求的精度测量频响曲线和灵敏度。此外它还可增加其它功能选件，包括：BZ-5548型 谐波失真BZ-5549型 互调失真BZ-5550型 差频失真BZ-5551型 指向性和极性图BZ-5600型 顺序发生器BZ-5601型 电声数据管理BZ-5604型 Thiele Small参数计算BZ-5741型 TSR时间选择响应分析仪，可在非消声室的环境中测出正确的频响BZ-5742型 TSR-谐波失真产品货源Bruel & Kjaer的所有产品均为丹麦原产产品报价本商铺不提供网上报价，如需产品报价，请直接联系Bruel & Kjaer中国

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

相当于DT-100/DT-300和DT-310/DT-600/DT-700等组合• 提供所有单台仪器测量粒度分布、Zeta电位和流变性质(选件) 的可能• 在一个样品池中可以同时测量粒度分布和Zeta电位• 可以选择附加各种探头式测量传感器，包括温度、pH值、电导率、和流变性质测量，以及非水系统选项和软件控制的自动滴定系统• 所有探头均可同时操作• 统一的数据管理产品特性：• 能分析多种分散物的混合体• 可精确地判定等电点• 可适用于高导电（highly conducting）体系• 可排除杂质及对样品污染的干扰• 可精确测量无水体系• 样品的最高浓度可达50％（体积比）,被测样品无 需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量• 具有自动电位滴定功能粒径范围从5nm至1000μm可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP）、及弹性流变性质Zeta电位测量范围无限制,低表面电荷可低至0.1mV,高精度（±0.1mV）允许样品浓度0.1～50％（体积百分数）pH范围0.5～13.5电导率范围0.0001～10S/m温度范围50℃最大粘度20,000厘泊频率范围1 ～100 MHz最小样品量2ml电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl在零表面电荷的条件下也可测量粒径

美国DT专注于非均相体系表征的科学仪器业务。其开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。• 采用电声法测量技术• 超声探头（Zeta probe）直接测量原始样品的Zeta电位• 用于悬浮液和乳液表征；可以是水相，极性和非极性分散相• 通过Access数据库进行数据管理• 可选自动滴定系统（DT-310）Zeta电位测量范围无限制；低表面电荷可低至0.1mV不用稀释，测量原浓样品0.1-50%（体积百分百）最小样品量2ml可测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Lenghth,德拜长度）

美国DT专注于非均相体系表征的科学仪器业务。其开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。• 包含DT-300的功能，能够用于几乎所有类型的多相异构系统,包括颗粒、沉积物和多孔材料• 包括高频电导率探头，可以通过专利方法测量孔隙率• 通过电声电震法可以测量多孔材料的表面Zeta电位• 在用胶体振动电流(CVI) 方式测定原浓体系的Zeta电位时，输入电导率值可计算双电层厚度及粒子表面电荷密度• 用于悬浮液和乳液表征；可以是水相，极性和非极性溶剂Zeta电位测量范围无限制；低表面电荷可低至0.1mV不用稀释，测量原浓样品0.1-50%（体积百分百）最小样品量2ml可测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Lenghth,德拜长度）

美国MAS多功能超声电声法粒度仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声电声法粒度仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声电声法粒度仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

ZetaAcoustic ZA500 电位分析仪 美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪特点：样品无需稀释，测试快速、简易，需样极少且无需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪介绍:ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

邓志艳 微信同号主要应用：背投，LCD,OLED,FED,CRT,PDP色度检查/调整白平衡检查/调整Y值检查/调整对比度检查调整主要特征：短距离和快速、高精度测量使其大量应用与产线生产和Y调整在CA-210的光学系统上改进了滤色片技术，更适合LED背光的测量探头受光角为 ±2.5符合IEC标准要求由于LCD有视角特征，IEC61747-6(定义了LCD测量方法)规定测量LCD设备的受光角必须在5° 以内。探头使用光纤转导光线，降低光线在专递过程中的损失测量实列：CA-310在测量LED背光的LCD显示器时，精度更高，速度更快测量LCD亮度、色度和闪烁度链接SDK软件可以对显示屏的白平衡和加码调整CA-310可用于生产线快速测量手机屏CA-310多探头测屏幕亮度均匀性用扩展板CA-B15最多可连5个探头CA-310测量3D电视和眼镜回收1.本公司长期现金高价：收购/回收/销售/租凭/维修,进口仪器仪表,二手仪器、工厂倒闭、整批处理或单出，个人闲置仪器.2.长期销售网络分析仪、频谱分析仪、综合测试仪、数据采集仪，手机测试仪，基站测试仪，蓝牙测试仪，音频分析仪，WAFI测试仪，校准器，示波器，万用表，LCR电桥测试仪、信号发生器，天馈线测试仪，数字通讯测试仪、无线连接测试仪、光波测试仪，色彩色差分析仪，热像仪，误码仪，噪声系统分析仪，高低频信号源、耐压测试仪，阻抗分析仪，调制度仪、电声测试仪、视频音频分析仪、逻辑分析仪、手机程控电源、直流电源、电子负载、频率计、GPIB卡,PCI-GPIB卡、GPIB-USB-B、示波器探头，夹具，功率计，屏蔽箱，熔接机，光类仪器，仪器仪表配件等二手进口仪器。3.资金雄厚，价格实在。回收工厂闲置/倒闭电子仪器，个人处理仪器。

ZetaAPS电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS电位分析仪

美国MAS Zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

意大利CLIO电声测试仪：可测试扬声器，音箱，受话器，麦克风，功放等电声产品。测试项目包括频响，阻抗，失真，TS参数，能量瀑布图，生产线QC品管功能，上下限设定功能。系统硬件包括：功放，信号盒，麦克风，测试软件。

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

APx525B 音频分析仪APx52xB 系列双通道音频分析仪的研发工程师和生产技术人员要快速和容易的音频测试，但他们可能不需要AP的APx555B 良好性能和要求的 APx585B 多通道能力。APx525两平衡两平衡模拟输入和输出加216k数字输入和输出通过AES/EBU，TOSLINK和SPDIF。APx526的APx525四通道版本，开发了4通道头单位典型的汽车音响行业。此外，I/O可能扩大与可选的数字序列（APx525和APx526），HDMI +弧（APx525）、PDM（APx525和APx526）和蓝牙（APx525和APx526）模块。此外，可选的高级主时钟（AMC）模块处理输入和输出的时钟信号同步与外部设备的APx52x系列（或反之亦然），和AMC也使抖动产生和分析（与先进的数字，数字串行或PDM模块连接）。主要特点传输功能APx500 软件版本 5.0 增加了测量电子音频和电声器件传输功能的能力。传输功能测量使用任何宽带信号为设备提供复杂的频率响应功能,包括幅度和相位(或实相和虚分量)。此功能是 APx 软件序列模式的强大补充,允许任何 APx 分析仪用作多通道动态信号分析仪或所谓的双通道 FFT 分析仪。借助传输功能和任何宽带信号(包括语音、音乐或噪声),APx 用户现在可以评估其设备或系统的复杂频率响应、一致性和脉冲响应。AP 的转移功能提供多个收购的无间隙和重叠分析。它还包括基于突破性的基于信号的触发,无需在开环测试应用中使用先导音,因此非常适合测试"智能"音频设备。开环 Chirp通过版本 v4.6, APx500 软件现在支持使用对数扫描正声或鸣叫测试信号进行开环测量。此信号在短时间内提供多个高分辨率结果,现在 APx 用户可以在测试方案中使用 chirp,在测试方案中,信号可能会作为被测设备 (DUT) 上的文件或连接到 DUT 的服务器上的文件进行终止。这种新功能对于开发智能设备(例如智能扬声器、智能手机)的用户特别有用。抖动分析在数字音频系统的抖动会在输出信号中的抖动特性的形成导致声音失真。抖动容限测试可以揭示抖动引起的失真，但由于电路和器件设计困难且耗时，常常被忽略。音频分析仪提供精密APX jitter抖动分析功能简化抖动测试。无代码自动化和完整APIapx500测量软件是音频测量界面。包含用户提示、限制和调用外部应用程序的复杂过程可以直接在GUI中创建，这样可以节省时间和金钱，同时确保随着时间的推移更新，因为不需要开发。通用软件平台从实用的角度来看，所有的APX音频分析仪使用相同的软件，使测试结果更容易分享。测试的所有设置都保存在一个单独的项目文件中，使得在世界任何地方的研发和生产设施之间都可以轻松地复制测试设置。项目文件是所有APX仪器兼容，每个项目都是独立的，所以没有任何担心依赖或断开的链接。用户甚至可以在项目文件中嵌入波形文件和图像。对于客户，合同制造商或管理，APX自动生成丰富的图形报告，具有突出的通过/失败的限制和选择导出为PDF、HTML、Excel、CSV、RTF或MATLAB文件。数字协议分析如电视、Blu ray演奏现代消费设备和接收机通常使用数字接口，如S/PDIF，TOSLINK，HDMI传输音频信号。除了数字音频数据之外，这些接口还带有关于音频信号、元数据的辅助信息。APX元数据监视器解码并显示元数据值作为他们接到被测设备。如需要更高性能，可加上BW52 选件，提升模拟带宽从直流到1MHz，并进行100万点的24 比特 FFT 数据采集，而 AG52 选件，能把模拟信号发生器的 THD+N 表现，提升到-110dB。APx526 是拥有四个模拟通道的型号，以供有需要的用户选择。APx 测量软件的巨大性标配的APx500测试软件，能针对各种测试相关项目进行快速测试，只需简单的点击所需的测试项目、加入滤波器、在测 试结果图像内设置上下限，就能简单完成测试，APx 发生器能产生非常稳定的单音、 双音、多音、扫频、线性调频和播放 WAV 档案的任意波形。自动化与报告任何APx 系列的分析仪都有内置的程序编辑（Sequencer）和项目（Project）功能，把分析仪设置为自动化测试平台，有效提升一些重复性测试项目或生产应用的效率。特征多功能，强大的音频测试凭借其重新设计的软件平台，功能强大的APX音频分析仪系列提供了的灵活性和可用性。这一新界面为用户提供了两个易于使用的模式。选择实时可视模式 (Bench Mode) 可同时实时检测多种参数，序列模式 (Sequential Mode) 可进行快速生产测试和自动化测试APx585B 通道模块化音频分析APx585B 将 AudioPrecision 一贯承诺的的快速的性能与获奖用户界面结合在一起, APx 的友好的用户创新包括： 各种接口选件，一键式测试功能，免写代码自动化功能， 精致的报告生成引擎和一个工程文件里可有多个信号路径。APx585B 是一台真正的多通道音频分析仪，它的八个的模拟输出和输入通道可以同时测试多通道的音频设备。 一台多通道分析仪不但可以令测试更快速，而且可以避免靠开关来扩展通道的两通道分析仪可能会漏掉的综合性能指标，比如在满功率或相位和串音测试时通道间的输出暂降。 如具备HDMI接口选件，这则是测试家庭影院接收机之类的消费音响设备的理想工具。主要特点多通道模拟配置APx582B:8 输入 /2 输出APx585B: 8 输入 /8 输出APx586B:16 输入 /8 输出AES/SPDIF 数字接口典型 THD N – 107dB用户界面功能强大，直观，并且是一键测试自动化功能强大，报告输出良好支持各种数字接口功能APx586B为16通道时实模拟输入通道增加了一个一秒输入模块， 这个功能适合于高速，高通道数测试比如汽车音响和专业调音台等。APx582B具有八通道模拟输入，和二通道高性能模拟输出，包括DIM/TIM失真测试信号和各种可选输出阻抗：20，50，75，100，and600 Ω 。Dolby 杜比测试良好选择通过与杜比工程师合作，AP开发了APx测试解决方案，支持杜比MS11软件开发工具包和杜比数字+用户软件开发工具包。所有杜比的厂商都可通过获取APx测试程序包。根据测试中的具体设备DUT，每个SDK软件开发工具包的合规性测试都可包含逾1000个个体测量值。如果手动操作，测试时间很可能超过一周。APx解决方案将测试时间缩减至数小时。更重要的是，因为APx生成了包含所有恰当限制条件的测试序列，所以不需要花时间重建测试方法学或破译试验要求APx555B高性能-模块化双通道音频分析仪APX555B 是具有三十年经验的测试设备，APx555是一款双通道音频分析仪，无需妥协。研发工程师和生产技术人员需要的性能，广泛的数字I / O选项和快速，直观的软件，APx555是音频分析仪的新标准。注:APx B 系列分析仪是音频精度的原始或传统 apx 平台的后续平台。APx B 系列 音频分析仪于2018年12月18日推出, 也是传统 APx 分析仪的正式报废公告, 可立即将传统分析仪放置在 "有限供应" 中。传统 apx 分析仪的订单将被接受到2019年6月。良好的性能典型的残留THD + N为-120 dB和超过1 MHz带宽，APx555超过了所有其他音频分析仪的模拟性能，包括与2700系列分析仪相比提高了5 dB的改进。添加到120万点的FFT和完整的24位分辨率，I / O中功能性APx555具有两个平衡和两个不平衡模拟输入和输出，以及通过AES / EBU，TOSLINK和SPDIF的216k数字输入和输出。此外，可以使用可选的数字串行，HDMI与ARC，PDM和蓝牙模块扩展I / O。新的高级主时钟（AMC）模块处理输入和输出时钟信号，以将APx555与外部设备（或反之亦然）同步，AMC还可以产生抖动和分析。AMC是APx555的标准配置，是APx52x系列和APx58x系列音频分析仪的选择。特征转换功能APx500 软件版本5.0 增加了测量电子音频和电声设备传递函数的能力。传输函数测量为设备提供了复杂的频率响应功能, 包括使用任何宽带信号的幅度和相位 (或真实和虚拟组件)。此功能是对 apx 软件序列模式的强大补充, 允许任何 AP 分析仪用作多通道动态信号分析仪或所谓的双通道分析仪Open-Loop Chirp版本 v4.6, APx500 软件现在可以使用对数扫描正弦 (即抖动) 测试信号进行开环测量。此信号在很短的时间内提供多个高分辨率的结果, 现在 APx 用户可以在测试方案中使用这些嗡嗡声, 在这些场景中, 信号可能来自或终止, 作为被测试设备 (dut) 或连接到 dut 的服务器上的文件。这种新功能对那些开发智能设备 (例如, 智能设备) 特别有帮助。抖动分析数字音频系统中的抖动可能会导致输出信号中抖动边带形式的可听到失真。抖动容差测试可以揭示抖动引起的失真, 但由于困难且耗时, 在电路和元件的设计中经常被忽略。音频精度 ap 分析仪提供抖动生成和抖动分析功能, 以简化抖动测试。无代码自动化和完整的APIAPx500 测量软件是可用的音频测量接口。可以直接在 gui 中创建包含用户提示、限制和外部应用程序调用的复杂过程, 从而节省时间和金钱, 同时确保随着时间的推移实现更新, 因为不需要进行开发。使用全面的 apx api 创建自定义接口和应用程序到应用程序的自动化。为 visual basic. net、C#, MATLAB, LabVIEW, and Python 提供了大量的文档和示例。项目和自动化可以与世界上任何地方的其他 apx 单元共享。通用软件平台从实际角度来看, apx 音频分析仪使用通用软件平台, 使测试和结果更易于共享。测试的所有设置都保存在一个项目文件中, 因此可以轻松地在世界任何地方的 rd 和生产设施之间复制测试设置。项目文件与 b 系列和传统 apx 仪器兼容, 每个项目都是独立的, 因此永远不会担心依赖关系或断开的链接。用户甚至可以在项目文件中嵌入波形文件和图像。为了与客户、合同制造商或管理层共享测量结果, apx 会自动生成丰富的图形报告, 并显示传递/失败限制和选项导出为 pdf、html、excel、csv、rtf 或 matlab 文件。为功率放大器设计器进行测量自动测量连续输出和峰值输出, dim 测量, 通过调节频率扫描查看功率频谱图, 并进行 cea-2006 和 cea-490a 规定的其他测量标准。除了传统的平衡共模抑制测量外, apx555 还可根据 iec60268 部分14.15.1 实现 cmrr 测量。数字协议分析现代消费类设备如电视，蓝光播放器和接收机通常使用数字接口（如S / PDIF，Toslink，HDMI）来传输音频信号。除了数字音频数据，这些接口还携带有关音频信号，元数据的辅助信息。APx元数据监视器对从被测设备接收的元数据值进行解码和显示。

AWA6258型多功能振动分析仪是一种采用数字信号处理技术的多通道手持式分析仪，可以同时进行三轴向振动测量。它具有多种评价振动用的频率计权。可以进行全身振动测量、手传振动测量、环境振动测量，还可以对振动进行1/3 OCT频谱分析。 执行标准GB/T 23716—2009 人体对振动的响应 测量仪器 （ISO 8041：2005 , IDT）GB/T 3241—2010 电声学 倍频程和分数倍频程滤波器 （IEC 61260：1995, MOD）适用标准GB/T 10071—1988 城市区域环境振动测量方法；GB/T 13441.1—2007 机械振动与冲击 人体暴露于全身振动的评价 第1部分：一般 要求 （ISO 2631-1:1997 , IDT）；GB/T 13441.2—2008 机械振动与冲击 人体暴露于全身振动的评价 第2部分：建筑 物内的振动（1 Hz～80 Hz） （ISO 2631-2:2003, IDT）；GB/T 14790.1—2009 机械振动 人体暴露于手传振动的测量与评价 第1部分：一般 要求 （ISO 5349-1:2001, IDT）；GB/T 14790.2—2014机械振动 人体暴露于手传振动的测量与评价 第1部分：工作 场所测量实用指南 （ISO 5349-1:2001, IDT）；GB/T 50355-2005 住宅建筑室内振动限值及其测量方法标准；GB/T 50452-2008 古建筑防工业振动技术规范；JGJ/T 170-2009 城市轨道交通引起建筑物振动与二次辐射噪声限值及其测量方法标准；其他相关标准等；频率计权及其量程（以10-6m/s2为参考）VLx-y（全身水平） 70 ～ 175VLz（全身垂向） 80 ～ 185Wb（z轴,座椅表面） 81 ～ 185Wc（x轴,座椅-靠背） 78 ～ 183Wd（x,y轴,座椅表面） 73 ～ 184We（rx,ry,rz轴,座椅表面） 70 ～ 168Wj（垂直,卧姿(头部)） 88 ～ 185Wk（z轴,座椅表面） 80 ～ 185Wm（建筑物） 70 ～ 180Wh（手臂） 70 ～ 185频率范围全身振动测量VLx-y/VLz ：1.25 Hz～63 Hz(±1 dB)1 Hz～80 Hz(±2 dB)Wb/Wc/Wd/We/Wj/Wk：0.63 Hz～63 Hz(±1 dB)0.315 Hz～125 Hz(±2 dB)0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)Wm：1.25Hz～63Hz(±1dB)0.63Hz～125Hz(±2 dB)0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)手传振动测量Wh ：10 Hz～800 Hz(±1 dB)5 Hz～1600 Hz(±2 dB) VBLe ：12.5 Hz～630 Hz(±1 dB)8 Hz～1000 Hz(±2 dB)低频1/3 OCT分析0.315 Hz～250 Hz(±1 dB)振动1/3 OCT分析20 Hz～2000 Hz(±5%)2.5 Hz～2000 Hz(±12%)爆破振动在线测量4 Hz～180 Hz(±1 dB)时间平均常数1s、8s时间平均方式指数平均、线性平均主要测量指标全身振动测量：Max、Min、Leq,T、5个Ln(n可以从1到99之间设定)、SD、Peak、VDV、VLxyz、VLcdd、VLddk手传振动测量：Max、Min、Leq,T、Leq,4h、Leq,8h低频1/3 OCT分析：Max、Min、Leq,T、5个Ln(n可以从1到99之间设定)、30个中心频率点、AP、SD、5个合成频率计权（wz、wx、wm、wk、wu）振动1/3 OCT分析：Max、Min、Leq,T、30个中心频率点、acc、vel、disp爆破振动在线测量：三个方向的速度峰值、峰值频率采样频率750 Hz或12 kHz统计采样间隔0.1s存储容量内置32M bit Flash RAM，最多1024组数据或81920s记录结果输出接口直流、交流、RS232、USB、蓝牙工作电源6节LR 6 碱性电池或可充电电池，可连续使用12小时以上；也可使用4 V～6 V外接直流电源工作环境工作温度：-10 ℃～ 50 ℃存贮温度：-20 ℃～70 ℃相对湿度：25 %RH～90 %RH可选功能模块介绍1.全身振动测量模块1)执行标准：GB/T23716—2009人体对振动的响应测量仪器（ISO8041：2005,IDT）2)适用标准：GB/T13441—2007机械振动与冲击人体暴露于全身振动的评价3)频率计权及其量程（以10-6m/s2为参考）：频率计权量程（dB）评价说明VLx-y70～175全身水平VLz80～185全身垂向Wb81～185z轴,座椅表面Wc78～183x轴,座椅-靠背Wd73～184x,y轴,座椅表面We70～168rx,ry,rz轴,座椅表面Wj88～185垂直,卧姿(头部)Wk80～185z轴,座椅表面Wm70～180建筑物4) 频率范围及测量精度:分析仪功能频率范围及测量精度全身振动测量VLx-y/VLz：1.25Hz～63Hz(±1dB)、1Hz～80Hz(±2dB)Wb/Wc/Wd/We/Wj/Wk：0.63Hz～63Hz(±1dB)、0.315Hz～125Hz(±2dB)、0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)Wm：1.25Hz～63Hz(±1dB)、0.63Hz～125Hz(±2dB)、0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)5）时间平均方式：指数平均1s,指数平均8s，线性平均1s6）主要测量指标：Max、Min、Leq,T、5个Ln(n可以从1到99之间设定)、SD、Peak、VDV、VLxyz、VLcdd、VLddk7) 传感器参数：传感器型号灵敏度质量尺寸（mm）AWA844102mv/ms-2250gφ205×108）采样频率：750Hz9）统计采样间隔：0.1s2.手传振动测量模块1) 执行标准：GB/T23716—2009人体对振动的响应测量仪器（ISO8041：2005,IDT）2) 适用标准：GB/T14790—2009机械振动人体暴露于手传振动的测量与评价3) 频率计权及其量程（以10-6m/s2为参考）：频率计权量程（dB）评价说明Wh70～185手臂4）频率范围及测量精度:分析仪功能频率范围及测量精度手传振动测量Wh：10Hz～800Hz(±1dB)、5Hz～1600Hz(±2dB)VBLe：12.5Hz～630Hz(±1dB)、8Hz～1000Hz(±2dB)5）时间平均方式：指数平均1s,指数平均8s，线性平均1s，线性平均8s6）主要测量指标：Max、Min、Leq,T、Leq,4h、Leq,8h7)传感器参数：传感器型号灵敏度质量尺寸（mm）AWA84152A2mV/ms-224g20×20×208）采样频率：12kHz3.低频1/3OCT分析模块1) 执行标准： GB/T23716—2009人体对振动的响应测量仪器（ISO8041：2005,IDT）； GB/T3241—2010电声学倍频程和分数倍频程滤波器（IEC61260：1995,MOD）；2) 适用标准： GB/T10071—1988城市区域环境振动测量方法 GB/T13441—2007机械振动与冲击人体暴露于全身振动的评价 GB/T50355-2005住宅建筑室内振动限值及其测量方法标准JGJ/T170-2009城市轨道交通引起建筑物振动与二次辐射噪声限值及其测量方法标准3) 频率计权及其量程（以10-6m/s2为参考）：频率计权量程（dB）评价说明VLx-y70～175全身水平VLz80～185全身垂向Wd73～184x,y轴,座椅表面Wk80～185z轴,座椅表面Wm70～180建筑物4) 频率范围及测量精度:分析仪功能频率范围及测量精度低频1/3OCT分析VLx-y/VLz：1.25Hz～63Hz(±1dB)、1Hz～80Hz(±2dB)Wd/Wk：0.63Hz～63Hz(±1dB)、0.315Hz～125Hz(±2dB)、0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)Wm：1.25Hz～63Hz(±1dB)、0.63Hz～125Hz(±2dB)、0.315Hz～250Hz(+2dB～-∞)低频1/3OCT分析：0.315Hz～250Hz(±1dB)5）时间平均方式：指数平均1s,指数平均8s6）主要测量指标：Max、Min、Leq,T、5个Ln(n可以从1到99之间设定)、30个中心频率点、AP、SD、5个合成频率计权（wz、wx、wm、wk、wu）7)传感器参数：传感器型号灵敏度质量尺寸（mm）备注AWA844102mv/ms-2250gφ205×10选配AWA8430340mv/ms-2800g60×60×60选配AWA1440040mv/ms-2800g60×60×60选配，单轴向8）采样频率：750Hz9）统计采样间隔：0.1s10)测量模式：三轴向模式、四通道模式4.振动1/3OCT分析模块1) 执行标准：GB/T3241—2010电声学倍频程和分数倍频程滤波器（IEC61260：1995,MOD）；2) 适用标准：3）频率范围及测量精度:20Hz～2000Hz(±5%)、2.5Hz～2000Hz(±12%)4）时间平均方式：指数平均1s,指数平均8s5）主要测量指标：Max、Min、Leq,T、30个中心频率点、acc、vel、disp6）传感器参数：传感器型号灵敏度质量尺寸（mm）AWA84152A2mv/ms-224g20×20×207）采样频率：12kHzAWA6258 型多功能振动分析仪 AWA6258 型多功能振动分析仪

美国MAS ZetaAPS电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国分散科技公司（DTI）专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料，纳米分散体系、陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。产品功能：平均粒径Zeta电位电导率德拜长度（Debye length）双电层厚度Surface charge：双电层的面电荷密度Du杜坎数（Dukhin number）MWf，即Maxwell-Wagner弛豫频率 满足标准：完全符合ISO 13099-102012 产品特点：l 可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP）l Zeta电位测量范围：无限制, 低表面电荷可低至0.1mV, 高精度（±0.1mV）l 零表面电荷的条件下也可测量粒径l 理论样品浓度：0.1～50％（体积百分数）l 样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）（可选小样品池）l pH 范围：0.5～13.5l 电导率范围：0.0001～10 S/m（选件）l 温度范围： 50℃l **粘度：20，000厘泊l 电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl （选件）独特功能：对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。 产品优势：l 能分析多种分散物的混合物l 无需依赖双电层模式，精确判定等电点l 可是用于高导电体系l 可排除杂质度样品污染的干扰l 可精确测量无水体系l **浓度达50%，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可直接测量l 具有自动电位滴定功能声原理：什么是ECAH模型？是由声波计算粒度分布的基本理论模型。由于超声波具有穿透能力强、能实现非接触测量的特点，非常适合实时在线测量，且其具有较宽的频带范围，确保可能对纳米到毫米级范围的颗粒进行测量。超声衰减法利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度。Epstein 等研究了含球形颗粒的介质中的声波动模型，Allegra等对其进行了发展，现统称为Epstein?Carharts?Allegra?Hawley(ECAH)模型，它只适用于稀释系统，用来描述粘滞及热量衰减机制。这个理论被整合入DT-100 /1202用于对刚性的、小于4μm 的粗分子的悬浮液中模拟惯性粘滞效应，即由Dukhin and Goetz 发展起来先进颗粒-介质耦合（PMK）模型。操作软件：DT-300/330的电声法原理可以轻松获得原始浓溶胶体系的zeta电位、电导率，并可计算出胶体颗粒的微观电学参数，是胶体科学研究的得力手段。 操作软件功能:- 需在Windows XP下操作- 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取- 使用者可自由选取声波速度及衰减图- 任何两个参数的散射图- 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query- 原始数据输出：l 声谱：声衰减强度对频率作图, 1-100 MHz, 精度达0.01 dB/cm/MHz.l 声速： 1-100 MHz 之间的单一频率，精度0.1 m/secl 电声信号：Magnitude phase, 3 MHz l 电导率（选件）：水相或非水相， MHz 范围, 精度优于 1%.l pH值和温度（选件）- 计算数据输出－体积浓度未知（选件）：l 纵向粘度, 1-100 MHz l 粘性纵向模数 G”, 1-100 MHz l 牛顿液体的体积粘度 Bulk viscosity for Newtonian liquidsl 弹性纵向模数 G’l 液体压缩率l MHz范围的牛顿液体实验l 等电点l 表面活性剂剂量优化l 从电导率计算体积浓度l 从声速计算体积浓度 - 计算数据输出－体积浓度已知（选件）：n 已知密度的固体颗粒粒度分布n 已知热膨胀系数的软颗粒粒度分布Pn 在结构分散体系中的颗粒键合虎克参数 Hook parameter for particle bonds in structured dispersionn 微粘度 Micro-viscosityn 分散体系和多孔固体的Zeta电位 Zeta potential in dispersions and porous bodiesn 表面电导率 Surface conductivityn 德拜长度Debye lengthn 溶剂中的离子颗粒大小Ions size in solvents

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询