数显深度尺

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=110244]GBT21388-2008游标、数显、带表深度卡尺[/url]

今天，在“2008水业高级技术论坛”上，大家热论当今先进的污水处理技术。无论是MBBR还是活性砂过滤技术的介绍，都结合实际生产的案例为我们带来了精神盛宴，此外，来自浦华控股有限公司的黄鹏飞对纤维转盘滤池的介绍也同样精彩。纤维转盘滤池目前主要有包括地表水净化、中水回用以及污水处理厂一级A标准的改造在内的三个使用方向。通过黄鹏飞的介绍，我们了解到，纤维转盘滤池的运行状态包括：过滤、反冲洗和排泥三个状态。其中，过滤在整个过程中持续进行；而反冲洗则根据液位变化，由PLC自动控制，瞬时只有池内单盘1%的面积被反冲洗；对于排泥过程也同样是由ＰＬＣ控制，进行自动排泥。通过从过滤介质、过滤面的方向、系统组成、反洗过程、功能、工作方式等方面与砂滤的对比，我们得出，纤维转盘滤池在污水深度处理上具有出水水质好，水质和水量稳定，过滤连续；耐冲击负荷强，适应性强；设备简单紧凑，附属设备少，整个过滤系统的投资低，设备闲置律低，总装机功率低(驱动电机0.55-0.75KW，反冲洗泵2.2KW)等优点。会上，黄鹏飞还根据在国内各地污水处理厂的实例向大家形象地介绍了纤维转盘滤池在实际中的应用。我们看到了纤维转盘滤池在污水深度处理领域发挥的重要作用。污水深度处理在当今的水处理领域有着相当明朗的发展前景，我们相信会有更多像纤维转盘滤池一样的污水深度处理技术为我国的污水深度处理事业做出贡献。

各位高人，请问利用扫描电子显微镜做EPMA分析时，放大倍数和检测深度有什么关系。当放大倍数为10X时，检测深度为10mm，10000X时，检测深度为1微米，那么放大倍数为250X时，检测深度是不是250微米？

JJF 1477-2014 《轮胎花纹深度尺校准规范》电子版

加速电压不同，电子束打在样品表面的深度也就会不同。请问有谁知道加速电压再15、20、30 的时候电子束打在样品表面的深度各有多少？

数显卡尺，是一种测量长度、内外径、深度的量具。数显卡尺具有读数直观、使用方便、功能多样的特点。数显卡尺主要由尺体、传感器、控制运算部分和数字显示部分组成。按照传感器的不同形式划分，目前数显卡尺分为磁栅式数显卡尺和容栅式数显卡尺两大类。 数显卡尺不耐用，用不了几天就“坏”了，这里说的“坏”是因为操作者手上的汗水、油污及切削液等液体沾到卡尺表面上，影响了容栅传感器信号的正常传递。其实尺本身没坏，只是暂时失去了功效！如果发生了这一显示混乱现象，可用无水酒精，取2-3小团棉花，用一小团棉花沾湿无水酒精，轻轻拧干，来回擦拭卡尺的刻度膜后丢掉，再取一小团棉花沾湿无水酒精，轻轻拧一小滴（注意不要滴太多，否则液体会进入电子组件造成其他问题！）在卡尺的刻度膜上，来回拉动卡尺（目的是把与刻度膜紧密接触的显示组件线路板所粘的屏蔽物体也去掉），然后轻轻拧干刚才的棉花后，反复擦拭卡尺的刻度膜即可。通过这个方法基本可以解决数显卡尺数乱的问题。

请问哪位大神有关于SEM、EDS的分析深度相关描述的文章或者书籍推荐？我想了解二次电子、背散射电子、X射线的分析深度，谢谢啦！

在XRD衍射仪中X光管产生的X射线检测样品的深度一般是多少，与测样光束的宽度有没有直接关系？与待测样品的材质有没有关系？与衍射光路的接收器（探测器）有没有关系？X射线对测样的深度能否根据需求进行调节？待测样品的高度对X射线检测有何影响，待测样品越高检测的2Theta的起始角越大？

请教哪位大侠电子探规检测钢印深度的作业指导书？能否共享参考参考呢？

电子数显量具的三个主要品种——电子数显卡尺、电子数显千分尺和电子数显指示表，由于其精度高、功能多、使用方便，日益受到用户欢迎，特别是近几年产品质量稳定，价格降低，电子数显量具新品种不断问世，市场需求急剧增长。 以数显卡尺为主要代表的电子数显量具，在我国已生产和使用十多年了。目前有十余家工厂生产，2000年全国总产销量近40万件，其中桂林广陆数字测控股份有限公司（原广陆量具厂）占二分之一，在数显量具的质量、销量及品种方面，尤其是数显专用量具生产方面，广陆公司处于国内领先水平。 下面以电子数显卡尺和电子数显指示表为例，就电子数显量具的应用、检定和修理，予以简要说明。 一．电子数显卡尺的选购 目前在市场比较受欢迎的是带电子开关的三按键数显卡尺，三个按键分别是测量制式转换键、开关键和清零键。该电子数显卡尺在任意位置开关电源，测量原点（零点）不变。广陆公司的三按键数显卡尺，其显示窗口不是普通的有机玻璃，而是特殊石英玻璃，抗划伤能力强，用普通民用小刀划不伤。由于采用了模块式结构，维修十分方便。还可根据用户的不同要求，设计有各种选择功能或特殊使用性能的电子数显卡尺。 电路设计方面考虑的特殊功能有： 带记忆保持功能。在不方便读数情况下，按此键可将瞬间测量值记住； 可设置公差带。即可设置被测工件的上、下极限偏差值，可提示测量结果是否合格，如不合格，还指出是超上极限偏差值或超下极限偏差值； 可跟踪最大值。当测内腔尺寸如孔的直径时，用此功能就比较方便； 可跟踪最小值。当测外部尺寸如轴的直径时，用此功能则比较方便； 可预置数值。通常用游标卡尺圆弧内量爪测孔的直径，需将测量结果再加上圆弧内量爪的合并宽度尺寸，如果因疏忽忘记加上该尺寸，可能就造成废品。如果利用预置数值功能将圆弧内量爪的合并宽度尺寸预先设置，便可直接读出孔的直径数值，安全又方便； 从机械设计方面考虑的有： 镶硬质合金电子数显卡尺,该卡尺大大提高了量面的抗磨损性能； 齿厚电子数显卡尺,用于测量齿轮轮齿在固定弦上的厚度，量面亦镶有硬质合金； 螺纹电子数显卡尺,用于测量螺纹中径； 内沟槽数显卡尺,主要用于测物体内腔沟槽直径； 内槽宽数显卡尺,主要用于测量孔内沟槽宽度和沟槽的轴向位置，也可用带钩头的数显深度卡尺完成同样任务； 外沟槽数显卡尺,主要用于测量物体外部凹陷部位的尺寸或用于测不规则形状板状物体的厚度； 板厚数显卡尺,主要用于测量橡胶、海绵等较软物体的厚度，有时带有限制测力的结构； 伸缩爪数显卡尺,由于有一个测量爪可以伸缩，常用于测不等高局部表面在水平方向的距离； 中心距数显卡尺,主要用于测两孔的中心（轴线）距离，有锥形测头和圆柱测头两种。锥测头用于测孔口比较平整的两孔中心距离，圆柱测头的采取步进式读数测量方式，即：先测两孔内侧壁间的最小距离，固定右滑框，松开并移动左滑框使与右滑框接触，固定左滑框，再松开并移动右滑框，测两孔壁间的最大距离，此刻的读数为两次数值的叠加，由于该尺设计成具有的二分之一显示功能，即可直接显示两孔轴线间距离，详细情况请看使用说明书； 万向节数显卡尺,主要用于测万向节内沟槽尺寸及相互位置； 塑料数显卡尺,材质为碳纤维增强塑料或其它工程塑料的数显卡尺。此外还有用铝合金材料制造的数显卡尺等，主要用于要求防止被侧物体划伤及要求特别轻便的场合； 电子数字圆规,该类数显卡尺结束了长期以来生产现场使用盲规划圆的历史。上述种种专用电子数显卡尺，给不同场合的应用带来了许多方便。详细情况请向生产企业索取有关资料。 专用量具的选购或订货，应向厂家提供被测工件相关部位草图，标明被测尺寸及相关尺寸，以利于合理选择现有产品或设计制造比较特殊的专用电子数显量具。例如：选购内沟槽电子数显卡尺时，应标明孔内被测沟槽的直径或沟槽的单边深度、宽度，沟槽距孔口端面的距离及入口处孔口直径，以便于您的选购或厂家准确设计。

电子数显量具的三个主要品种：电子数显卡尺、电子数显千分尺和电子数显指示表，由于其精度高、功能多、使用方便，日益受到用户欢迎，特别是近几年产品质量稳定，价格降低，电子数显量具新品种不断问世，市场需求急剧增长。 下面以电子数显卡尺和电子数显指示表为例，就电子数显量具的应用、检定和修理，予以简要说明。 一．电子数显卡尺的选购 目前在市场比较受欢迎的是带电子开关的三按键数显卡尺，三个按键分别是测量制式转换键、开关键和清零键。该电子数显卡尺在任意位置开关电源，测量原点（零点）不变。广陆公司的三按键数显卡尺，其显示窗口不是普通的有机玻璃，而是特殊石英玻璃，抗划伤能力强，用普通民用小刀划不伤。由于采用了模块式结构，维修十分方便。还可根据用户的不同要求，设计有各种选择功能或特殊使用性能的电子数显卡尺。 电路设计方面考虑的特殊功能有： 带记忆保持功能。在不方便读数情况下，按此键可将瞬间测量值记住； 可设置公差带。即可设置被测工件的上、下极限偏差值，可提示测量结果是否合格，如不合格，还指出是超上极限偏差值或超下极限偏差值； 可跟踪最大值。当测内腔尺寸如孔的直径时，用此功能就比较方便； 可跟踪最小值。当测外部尺寸如轴的直径时，用此功能则比较方便； 可预置数值。通常用游标卡尺圆弧内量爪测孔的直径，需将测量结果再加上圆弧内量爪的合并宽度尺寸，如果因疏忽忘记加上该尺寸，可能就造成废品。如果利用预置数值功能将圆弧内量爪的合并宽度尺寸预先设置，便可直接读出孔的直径数值，安全又方便； 从机械设计方面考虑的有： 镶硬质合金电子数显卡尺,该卡尺大大提高了量面的抗磨损性能； 齿厚电子数显卡尺,用于测量齿轮轮齿在固定弦上的厚度，量面亦镶有硬质合金； 螺纹电子数显卡尺,用于测量螺纹中径； 内沟槽数显卡尺,主要用于测物体内腔沟槽直径； 内槽宽数显卡尺,主要用于测量孔内沟槽宽度和沟槽的轴向位置，也可用带钩头的数显深度卡尺完成同样任务； 外沟槽数显卡尺,主要用于测量物体外部凹陷部位的尺寸或用于测不规则形状板状物体的厚度； 板厚数显卡尺,主要用于测量橡胶、海绵等较软物体的厚度，有时带有限制测力的结构； 伸缩爪数显卡尺,由于有一个测量爪可以伸缩，常用于测不等高局部表面在水平方向的距离； 中心距数显卡尺,主要用于测两孔的中心（轴线）距离，有锥形测头和圆柱测头两种。锥测头用于测孔口比较平整的两孔中心距离，圆柱测头的采取步进式读数测量方式，即：先测两孔内侧壁间的最小距离，固定右滑框，松开并移动左滑框使与右滑框接触，固定左滑框，再松开并移动右滑框，测两孔壁间的最大距离，此刻的读数为两次数值的叠加，由于该尺设计成具有的二分之一显示功能，即可直接显示两孔轴线间距离，详细情况请看使用说明书； 万向节数显卡尺,主要用于测万向节内沟槽尺寸及相互位置； 塑料数显卡尺,材质为碳纤维增强塑料或其它工程塑料的数显卡尺。此外还有用铝合金材料制造的数显卡尺等，主要用于要求防止被侧物体划伤及要求特别轻便的场合； 电子数字圆规,该类数显卡尺结束了长期以来生产现场使用盲规划圆的历史。上述种种专用电子数显卡尺，给不同场合的应用带来了许多方便。详细情况请向生产企业索取有关资料。 专用量具的选购或订货，应向厂家提供被测工件相关部位草图，标明被测尺寸及相关尺寸，以利于合理选择现有产品或设计制造比较特殊的专用电子数显量具。例如：选购内沟槽电子数显卡尺时，应标明孔内被测沟槽的直径或沟槽的单边深度、宽度，沟槽距孔口端面的距离及入口处孔口直径，以便于您的选购或厂家准确设计。

各位大神，我想了解一下SEM-EDS分析深度介绍的文章或者书籍，关于二次电子、背散射电子、X射线的分析深度的，请推荐一下资料，最好是英文的，非常感谢！

据说这类软件很多？我们用扫描电镜测量颗粒分布，需要知道电子束作用于样品上的深度，据说有些免费的软件可以模拟，谁有这方面的信息？

可促进深度睡眠的蛋白质6月22日,日本研究人员宣布，他们发现了一种可促进深度睡眠的新型蛋白质。这一研究成果已经刊登在美国《睡眠》杂志网络版上。日本自然科学研究机构生理学研究所科研人员22日发表公告说，他们发现的这种新型蛋白质名为“神经肽B”。迄今为止，安眠药都是通过抑制整个脑神经的活动来促进睡眠，而“神经肽B”只对能促进睡眠的神经发挥作用，因此有望用其开发出只需少量服用就能提高睡眠质量的安眠药。公告说，研究人员2002年就发现人脑存在“神经肽B”，但是一直没有弄清其具体功能。今年，研究人员在一次实验中向老鼠头部注射“神经肽B”，发现夜行性的老鼠在进入深夜后依然保持睡眠状态。而且，他们利用仪器观察睡眠中老鼠的脑电波和肌肉状态时发现，老鼠的大脑和身体都处于休息状态，属于深度睡眠。他们因此认定“神经肽B”具有促进深度睡眠的作用。

工作功率为10KW的X射线衍射仪的扫描深度是多少？

数显内径千分尺里的一个小光栅断了，需要更换配件，各位大神谁有这样的配件可以修的联系我。谢谢!

关于SEM的二次电子、背散射电子、EDX的X射线等的穿透深度，我看到有一些好心人有回复帖子介绍相关信息，我想求助一下，是否有参考文献进行介绍的？如果有，非常希望能分享告知一下，感谢！

请教高人：我做了几个X射线小角度掠入射测基体的物相，但是不知道X射线打入基体的深度是多少。请问有公式或者方法来计算吗？

请问各位老师，xrd中x射线的入射方向与其入射深度有什么关系吗？比如平行光，掠入射方式。自己制备的薄膜厚度较薄，用max 2500普通方式测量可能由于衍射强度不够而导致出来的是大包峰（可能是石英基底的峰）但是用smartlab可以测出特征峰，是不是入射方式不同的缘故呢？

对XPS了解的很少，看了文献中XPS的深度分析，可以给出深度和元素含量的关系，前几天我送样测了一个聚合物的，只给出了溅射时间和元素含量，分析测试的老师说，不知道溅射的深度，我一点也不懂，请高手给予赐教。

EDS分析时的取样深度一般是多少呢？Acc.V ：20V，束斑直径：20nm[em09]

水资源短缺是当今世界所面临的重要环境问题之一。我们通常所说的水资源是指陆地上可供生产、生活直接利用的江河、湖沼以及部分储存于地下的淡水资源，亦即“可利用的水资源”。这部分水量只占地球总水量的极少部分。所以对污水进行深度处理，从而达到更多的水资源回用的目的。日本是污水处理领域的佼佼者之一，面对有限的水源，日本在污水的深度处理上都做了哪些方面的努力呢？今天，在中国水网和清华大学环境科学与工程系共同主办的“2008水业高级技术论坛”上，来自日本国大和市政府北部净化中心的高丽勋技术士为我们揭开了日本污水深度处理领域的神秘面纱，并通过实际的案例为我们形象地描述了日本在污水处理厂升级改造方面的情况。污水的深度处理是为了得到比二次处理后的水质更清洁的水质。高丽勋介绍说，到2005年末，日本实施深度处理的处理厂数为286家，由深度处理的处理水约为220万m3/日，约为总污水处理量的16%。在日本，污水处理厂所采用的深度处理方式主要为快速过滤法和絮凝剂沉淀法。其中，采用快速过滤法的污水处理厂共有147家，约占总厂家数的29%；此外，有127家污水厂采用絮凝剂沉淀法，约占总厂家数的25%。高丽勋说到，在日本，琵琶湖等地早已开始进行深度处理。不过，最近出现了COD（难溶解性有机物）和T―N浓度略有增加的倾向，这就使得满足环境标准变得困难起来。因此，这些地区正在规划引入高于深度处理水平的超深度处理。超深度处理的主要处理对象是COD、T－N、T－P。超深度处理的水质目标值为COD Mn 为3mg/L、T-N为3mg/L 、T-P为0.02mg/L。所以，在去除COD时需要在生物处理上追加物理化学处理。作为物理化学处理、基本是臭氧处理和生物活性炭过滤的组合方式。去除T－N、则采用単级循环法会受到氮去除效率上的限制，因此选用分步进水式多级硝化脱氮法和甲醇添加脱氮法。关于T－P的去除方法、除了在生物反应槽的末端添加絮凝剂的同时凝集法以外、还有在砂滤前添加絮凝剂，进一步组合凝集过滤法的方法等。之后，参会者又通过分步进水式多级硝化脱氮法改造、载体投放型厌氧绝氧好氧法（A2O法）改造和絮凝剂添加载体投放硝化促进型循环变法（pegasus）改造三个采用包埋固定载体和絮凝剂舔加等方法对现有污水处理厂进行升级改造的实例对日本污水厂的升级改造情况有了一定的了解和认识。（中国水网）

X射线荧光扫描是物体的表面还是有一定深度，有多深？在哪本书上有这方面的详细介绍？请告之，谢谢！

急需，GB/T 22462-2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜　元素深度分布的定量测定　辉光放电原子发射光谱法。有的请帮上传一下。

在一篇文献中看到有一段话——“在常规等离子分析条件下，采样深度代表的是工作线圈到采样锥的距离，一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化，同时保证减少其他离子（氧化物及二价离子）的形成和影响”。 请问各位，其中的“一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化”这句话是否正确？ 个人觉得元素在等离子火焰中离子化程度跟本身的电离能和工作线圈上加的功率有关，和采样深度貌似没有什么关系吧？

JJG (铁道) 166-1997 铁路机车车辆数显轴径尺检定规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50814]JJG (铁道) 166-1997 铁路机车车辆数显轴径尺检定规程[/url]

对某一样品，325和514的激光测量深度是多少，是怎么计算的，比如这两种波长的激光，对ZnO，Mg0.2Zn0.8O，GaN，Al0.2Ga0.8N这四种材料的测量深度分别是多少？求大贤指教，非常感谢。

在黑臭水体的采样，由于水体深度很浅，用深水仪很容易将底泥搅动起来，静止30分钟让采样人员来等确实很难，想请教有什么好的解决办法或者特殊的采样器？---PS: 已转到水质版。下次发帖记得到对应的技术版面，新手版面的浏览量小 ，可能耽误您的问题。

深度学习是一种先进的机器学习方法，具有很好的学习复杂关系的能力，可以直接从大规模原始数据集构建预测模型。随着人工智能的快速发展，以卷积神经网络（CNN）为代表的深度学习在皮肤癌的分类，变异发现和基因分型，人类血细胞计数等方面取得了巨大的成功。对于振动光谱数据，Acquarelli等人使用CNN来识别重要的光谱区域。Chen等应用CNN建立近红外（NIR）光谱定量分析模型。Lu等人开发了基于CNN的模型来识别混合物拉曼光谱的成分。