得乐厚薄表

多功能全自动饺子皮机的组成及介绍：1、控制、动力、传送设备包括减速机（动力设备），传动链，齿轮，变频器（调节出片效率）。这一套设备是简单的机械传动，有减速机通过链条带动齿轮，使整个机械运行起来。原理简单，操作方便，维修简易。2、传送带：传送带使用的是符合国家食品安全规定的橡塑带，安全可靠，对食品没有污染。3、刷粉盒：刷粉盒分为两个，上刷粉是作用有两个，第一给饺子皮下部上粉，第二给输送带表面上粉，下刷盒是为了给饺子皮上面撒粉，防止饺子皮黏在一起。4、功率大小：200系列和400系列的饺子皮机都是0.75千瓦，每小时不到一度电，节能环保，省工高效。5、制作材料机身全不锈钢材质制作，内包是304不锈钢4个厚的板材，外包是1.5厚的板材，304不锈钢可以保证不生锈，不掉铁渣，保证食品的卫生 全自动饺子皮机具有高效节能、安全卫生、无边角废料、大小厚薄可变等优点，使所生产饺子在外观、口感、重量达到空间统一，从而彻底改变了目 前生产效率低、员工浪费、二次污染、中部裂口等现状。

CH-10橡塑测厚仪一.特点及用途： 本仪器适用于测量塑料制品硫化橡胶制品及电线电缆等产品的厚度，符合GB/T527.GB/T5723 HG2041.《橡胶测厚计技术条件》等要求，可配置电子数显千分表和指针百分表。二.技术参数：1、测量范围0--10mm 2、施加压力：22+5kpa3. 测量分度值；0.01mm4。测头直径；6 mm 三、结构简介百分表测量杆的升降为手掀式，百分表的上端装有压锤，下端配有测头。压下掀于百分表测量杆上升，松下掀手测量杆下降。四、使用方法试样测量之前，首先要调整好百分表测量杆测头与工作台的位置，在测头接触到工作台的情况下，将百分表的刻度线调整到零位，测杆上下移动数次后，看其百分表零位有无移动，(操作时要轻压轻放，以免损坏仪表)然后按下掀手，放入试样，此时百分表上的读数就为该试样的厚度数值。测量试样的均匀度，只要看其试样在不同点上的百分表指针数，即可得到该试样的厚薄（分布均匀厚度数值）。 本仪器不能卧式测量，测试完毕将仪器清理干净，平台可以涂擦少许机油，防止台面生锈

厂家正式授权代理商：岱美有限公司联系电话：，（贾先生）联系地址：北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址：ThetaMetrisis是一家私有公司，成立于2008年12月，位于希腊雅典，是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱（WLRS），它可以在几埃到几毫米的超宽范围内，准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪一、产品简介： FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介： FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介： FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介： FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件，比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合，最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数

卷材涂层是将涂装采莲连续施涂于金属卷材上的涂装工艺，该卷材在涂膜干燥后可以再卷起来。对卷材涂层的厚度控制至关重要，涂层厚薄不均会引起色差，如果涂层太厚，升温太快，固化温度太高，烘烤固化前涂层不均匀，则会形成涂层流挂等，因此需要对卷材喷涂工艺进行控制优化，精准控制涂层厚度。涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测仪可以精准测量卷材涂层厚度，其工作原理是光热法ATO，基于光热法和数字信号处理技术DSP，实现在线湿膜漆膜厚度检测，通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线，表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能，最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。 卷材涂层测厚解决方案-涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测仪优势分析? 非接触测量? 在线和实时性，连续测量生产线上的移动工件，能精确测量摇摆晃动的工件；? 测量未固化的卷材涂层湿膜厚度，即时得出卷材涂层厚度干膜厚度? 减少物料的消耗，降低成本，节约资源，保护环境? 在生产线前端进行涂层厚度检测和及时调整偏差，可有效降低次品率和返工率 使用涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测卷材涂层厚度客户案例 翁开尔涂魔师中国总代理，欢迎致电咨询更多关于涂魔师在线测厚仪产品信息、技术应用和客户案例。

DRK508 矿泉水瓶啤酒瓶电子壁厚测量仪，设备是按国家标准的规定,为瓶罐行业如:啤酒、饮料瓶和医药行业中针剂、口服液、抗菌素、输液瓶类及各类塑料瓶完成底壁厚检测用。贯彻GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90标准及国家食品药品监管理局药包材YBB标准。适用于碳酸饮料瓶、果汁类瓶子、医药药品塑料瓶、矿泉水瓶等大小不同容器瓶壁厚的测试。DRK508 矿泉水瓶啤酒瓶电子壁厚测量仪，产品参数：测量范围：0-25mm分辨率：0.001mm 示值误差小于0.1样品直径：10-120mm（其他尺寸可定制）样品高度：10-320mm（其他尺可定制）外形尺寸：400×270×680mm仪器重量：约10kgDRK508 饮料瓶啤酒瓶电子壁厚测量仪，产品特点：双测头，液晶显示，自动记录，专用软件分析，屏幕实时显示测量曲线，打印输出。USB接口可连接计算机，存储测试数据。可实时显示测量点厚度值，液晶显示，连续测量，即时显示最大值，最小值，厚薄比。仪器配备微型打印机，打印每次测量结果及最大值、最小值、厚薄比。仪器可存储不少于100组数据，测量点按记录间隔可设定。仪器仪表自带专业测试软件，液晶屏可实时显示曲线，测量值。双测头，长寿命位移测头，较大的测量行程。可选择配不同测杆能测各型瓶的底，壁厚度。注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。

产品特性： &bull 薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数&bull 全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效&bull 测量精度高，分辨率可达0.1μm&bull 测量速度快，结果响应时间为0.015s&bull 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈&bull 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量&bull 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能软件特性：Filder 1.0特别为薄膜行业开发设计可实时显示记录测量值，并计算最大值，最小值，平均值，偏差值等一系列参数软件自动绘制厚度曲线和偏差图测量结果可导出至Excel表格软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息永久保存，便于测量数据的追踪和溯源

产品介绍：DRK508B医药药品塑料瓶电子壁厚测量仪，是按*标准的规定,为瓶罐行业如:啤酒、饮料瓶和医药行业中针剂、口服液、抗菌素、输液瓶类及各类塑料瓶完成底壁厚检测用。贯彻GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90标准及*食品药品监管理局药包材YBB标准。产品应用：DRK508B医药药品塑料瓶电子壁厚测量仪可适用于碳酸饮料瓶、果汁类瓶子、医药药品塑料瓶、矿泉水瓶等大小不同容器瓶盖测试。产品特点：? 双测头，液晶显示，自动记录，专用软件分析，屏幕实时显示测量曲线，打印输出。? USB接口可连接计算机，存储测试数据。 ? 可实时显示测量点厚度值，液晶显示，连续测量，即时显示*大值，*小值，厚薄比。? 仪器配备微型打印机，打印每次测量结果及*大值、*小值、厚薄比。? 仪器可存储不少于100组数据，测量点按记录间隔可设定。? 仪器仪表自带*测试软件，液晶屏可实时显示曲线，测量值。? 双测头，长寿命位移测头，较大的测量行程。? 可选择配不同测杆能测各型瓶的底，壁厚度。 产品参数：? 测量范围：0-25mm? 分辨率：0.001mm 示值误差小于0.1 ? 样品直径：10-120mm（其他尺寸可定制）? 样品高度：10-320mm（其他尺可定制）? 外形尺寸：400×270×680mm? 仪器重量：约10kg技术标准：GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90。产品配置：配置：主机、微型打印机、底厚测量头和壁厚测量头。

市场对通信电子、航空航天、计算机、汽车和其他行业对电子产品的日益依赖，正推动电子行业的快速增长，在电子行业不断推陈出新以满足更高期望的同时，对产品的质量控制也越来越严格。镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺，其厚度是产品质量的最重要保证因素，因此，对镀层厚度的质量控制/保证至关重要，X射线荧光（XRF）因为其非破坏性、测量快速、易于使用，已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。INSIGHT旨在为镀层分析应用提供精准高效的分析方法。晓INSIGHT易于操作，配置灵活，可轻松超薄镀层的挑战，提供快速、准确和可重复的结果，帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业有效提高生产力，确保符合规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。使用优势多准直器组件可选配多准直器组合自动切换，使得INSIGHT的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。上照式设计仪器采用上照式设计，可轻松实现对超大型、不规则、微小件、甚至液体形态样品的快、准、稳高效测量。高强度X射线管晓INSIGHT可选配高强度毛细管光学系统，可为仪器带来更高的计数率、 更小的点位测量，更薄的镀层测量，有助于将仪器的分析效率翻倍。可编程自动位移样品台选配自动平台，轻松实现自动测量，可以更快的准备和测量样品，从而提高分析量。一键式测量配备直观而智能的分析软件，操作简单，任何人无需培训都可以测试样品，仅仅需要点击“开始测试”，数十秒即可获得检测结果啦。提高生产力INSIGHT自动化功能帮助您可以更快地测量样品，从而提高您的分析量。超大测量室仪器壳体的开槽设计（C型槽）使得测量空间宽大，样品放置便捷，可以测量如印刷线路板类大而平整的物品，也可以放置形状复杂的大样品。高灵敏度的检测器对于复杂的镀层结构，SDD系列检测器更易分析具有类似XRF特征的元素，具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比），并且可以更精确地测量较薄镀层。自动对焦无论样品厚薄或大小如何，都可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至80毫米的距离测量样品，非常适合测量具有凹陷区域的零件，或者适用于测量不同高度的多个样品。应用场景印刷电路板Au/Ni/Cu/ PCB；Sn/Cu/PCB；Au/NiP/Cu/PCB；Ag/Cu/PCB；Sn/Cu/PCB；SnPd/Cu/PCB；Au/Pd/NiP/Cu/PCB连接器镀层电子和电气工业中，电接触用保护和耐磨镀层的应用正在不断增多。接触件作为电连接器的核心零部件，通过表处理能提高接触件的耐蚀、耐磨功能，也能在很大程度上优化接触件的传输功能。电连接器接触件基材一般为铜合金，常用的镀层有：镀锡、镀金、镀银、镀镍、镀钯等。晶圆制造（半导体）晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片。在生产过程中，需要对晶圆进行电镀工序，即在晶圆上电镀一层导电金属，后续还将对导电金属层进行加工以制成导电线路。晶圆作为芯片的基本材料，其对于电镀镀层的要求严格，故而工艺的要求也较高。晶圆电镀时必须保证镀层的均匀性和厚度，方能保证晶圆的质量。引线框架引线框架是连接半导体集成块内部芯片的接触点和外部导线的薄板金属框架，是半导体封装的一种主要结构材料。为了保证封装工艺中的装片／键合性能，需要对引线框架进行特殊的表面处理，常见的引线框架镀层元素有金、银、钯、镍等。规格参数特点自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法元素范围Na(钠)—Fm(镄) 分析层数5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素X射线管微聚焦X射线管、毛细管X射线管（可选配）探测器高灵敏度大面积SDD探测器、SDD 50mm2超大面积探测器（可选配）准直器多准可选,多准可组合相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台移动范围：100 x 150 mm可编程XY平台(可选配)Z轴移动范围150 mm样品仓尺寸564×540×150mm（L×W×H）外形尺寸664×761×757mm（L×W×H）重量120KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

产品参数：显示屏：TFT彩色显示 操作温度：10°C to 40°C测量范围：0～2mm 0～4mm 可设置 供电电源：115V 至 230V, 50–60Hz分辨率：0.1μm 气源压力：0.2-1.0MP之间极限误差：0.3% 防护等级：IP54测量速度：全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸：显示器 170 × 130 × 150 mm 手动模式无限制 工作台 250 × 300 × 250 mm提升方式：气动真空提升 净 重：显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型：平面测帽，大圆弧测帽 可更换标准配置：主机* 1SET 显示器*1PC 电源线*1PC 数据传输线*15ET 操作说明书*3PCS 产品合格证*1PC执行标准：该设备满足多项国际和国家标准ASTM D374、ISO 4593、JIS K6250、BS 3983、 GB/T 6672产品特性： &bull 薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数&bull 全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效&bull 测量精度高，分辨率可达0.1μm&bull 测量速度快，结果响应时间为0.015s&bull 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈&bull 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量&bull 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能软件特性：Filder 1.0特别为薄膜行业开发设计可实时显示记录测量值，并计算最大值，最小值，平均值，偏差值等一系列参数软件自动绘制厚度曲线和偏差图测量结果可导出至Excel表格软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息永久保存，便于测量数据的追踪和溯源

精密激光调阻机 厚膜电路激光修调设备激光调阻在汽车电子行业典型应用：　　1、油位传感器一般是几个点位的阻值调整　　2、要求一段电阻区间每刀长度尽量一致　　3、节气门位置传感器要求电阻之间的比例关系一致　　4、角度线性修调——汽车空调，音量等带旋扭的电路基板 　　与传统的人工调阻相比，激光调阻具有以下优势：　　1、采用进口激光器与平面电机，整机性能稳定。　　2、调阻精度对比同行其他激光调阻设备高出4-10倍。　　3、具有强大的软件编程功能，多种功能集于一机，可满足各种应用领域调阻需求，可轻松实现客户的特殊定制，实现高效自动化运行。　　　　激光调阻机具有修调阻功能，多被用于厚膜、薄膜电路，由于厚薄膜电路的制造工艺局限，其电阻阻值误差较大，为了更好适用电路需要，就需要应用到激光调阻机进行修调，其精密调节包括：　　无源修调(电阻力本身调整)：将原始厚膜或薄膜电阻阻值修调至目标阻值。　　有源修调(电路功能调整)----将电路模块修调至需要的输出信号。测量修调对象除了电阻外，还可是电压、电流、频率、反转等信号。 LT5110激光调阻机设备特点　　高性价比机型，适用厚膜电路调阻，电子模块功能修调　　半导体端面泵浦光纤藕合固体激光器　　步进或伺服电机、丝杠XY平台分步重复　　消色差成像技术　　强大软件编程功能，满足各种不同应用　　大理石台面，机台稳定性好 LT5110激光调阻机应用行业　　适用于厚膜电阻的激光调阻，电子电路的功能修调、输出信号的修调。广泛应用于厚膜电路、汽车电子、传感器等领域。设备功能强，性价比高。LT5110激光调阻机技术参数表 三工精密激光调阻机设备亮点介绍　　调阻效率高：调阻速度相对国内其它激光调阻产品高出4-10倍，产能大大提升，单位成本下降。　　调阻精度高：独特的测控技术，测量控制系统精度的一致性好，提升产品附加值 成品率高，单位成本下降。　　软件可编程：可轻松实现客户的不同需求以及高自动化运行，也可作为专门的测试平台，适应性广。　　使用成本低：采用了先进的激光器，无耗材，使用成本低，长期使用节约大量的费用。　　多功能：可实现陶瓷基片的激光划线、打标，减少设备的再投入。　　专业大理石基座，可有效减小工作台启动、停止和加速过程中产生的震动，同时保持机台温度的稳定性，可靠性高。　　可定制：在电路功能修调方面由于应用行业多样化，相对要求也多样化，对设备的整体要求要高些，有时标准型激光调阻机不能直接满足使用要求，但武汉三工精密的激光调阻机产品属于自主开发，特别是核心的测控系统，能为各种不同的客户提供定制化服务，满足不同客户的需求。温馨提示：本产品不支持网上订购，产品均以实际配置计价为准，网上标价均为统一虚价，给您造成的不便还请谅解！具体价格请沟通后计算配置而定，谢谢！

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。 性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！ 用户评论暂无评论发评论问商家白光干涉测厚FR-pOrtable的工作原理介绍白光干涉测厚FR-p

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

CHY-G玻璃瓶壁厚测量仪-广州标际关键词：电子瓶壁厚测量仪，壁厚测量仪，塑料瓶壁厚测量仪，广州标际 产品用途：CHY-G瓶壁测厚仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。 专业技术：l 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计最大值、最小值、平均值。l 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。l 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。l 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。l 系统自带微型打印。l 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 主要应用：基础应用壁厚底厚测试 适用于玻璃安瓿瓶、玻璃管制药瓶、玻璃模制药瓶、玻璃管制注射剂瓶、玻璃模制注射剂瓶、口服液体瓶测试。壁厚底厚测试适用于玻璃输液瓶、啤酒瓶、白酒瓶、红酒瓶、矿泉水塑料瓶、碳酸饮料塑料测试。 CHY-G玻璃瓶壁厚测量仪-广州标际测试原理：CHY-G电子瓶壁测厚仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子，与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。 测试标准：该仪器符合多项国家标准：YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》YBB00332003-2015 《钠钙玻璃管制注射剂瓶》YBB00032004-2015 《钠钙玻璃管制口服液体瓶》GB 12415-90《药用玻璃容器内应力检验方法》 技术指标： 型号项目CHY-G 电子瓶壁厚测量仪仪器量程0-12.7mm/0.5分度值0.001mm/0.00005″样品直径5mm-300mm （其他尺寸可定制）样品高度5mm-330mm(其他尺寸可定制)外形尺寸400（L）X360（W）X700（H）mm通信接口USB接口环境温度15-50℃环境湿度10-90%，无结露电源电压220V/50Hz/60W 产品配置：标准配置主机 壁厚测量头 底厚测量头 广州标际包装设备有限公司专业从事包装检测仪器及其软件的研发、生产、销售、服务，主要产品有透湿仪、透气仪、透氧仪、颗粒物过滤机、细菌过滤效率机、封管机、气调保鲜箱、拉力机、热封仪、密封仪等包装检测仪器。已经40多个国家地区超过10000家企事业单位提供了具有竞争力的实验室建设方案。服务遍布国家质检药检机构、科研院校、包装、印刷、食品、医药、日化、化工、新能源、新材料等领域。 广州标际部分荣誉资质：公司被授予“广东省软件企业”；广州标际检测中心，通过CNAS国家实验室认证；公司是亚太地区专家研制出透湿、透气、透氧标准物质单位，为阻隔性能检测提供判定标准和标定依据；公司拥有100余项，与科研院校合作，专注于包装检测技术创新；公司通过ISO9001:2008认证，产品通过3C、3Q、CE、FCC等认证。 注意： 广州标际始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，本公司保留修改权与解释权。

WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。 2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。 （3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。 2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。重点参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等

薄膜蒸发器可脱臭过滤系统AYAN-B250日用化学领域 一、产品说明 　　 分离技术是化工生产三大技术之一，分离过程的优劣对产品质量、效率、消耗、效益影响极大。GXZ旋转薄膜蒸发器，是按物料的挥发度不同进行分离的设备。该设备的传热系数高、蒸发温度低、物料停留时间短，热效率高、蒸发强度大。在石化、精细化工、农药、食品、医药、生物化工等行业中广泛应用于蒸发、浓缩、脱溶、提纯、汽提、脱气、脱臭等过程。 薄膜蒸发器是通过旋转刮膜器强制成膜，并高速流动，热传递效率高，停留时间短（约5~15秒），可在真空条件下进行降膜蒸发的一种新型蒸发器。它传热系数大、蒸发强度高、过流时间短、操作弹性大，尤其适宜热敏性物料、高粘度物料及易结晶含颗粒物料的蒸发浓缩、脱气脱溶、蒸馏提纯。它由一个或多个带夹套加热的圆筒体及筒内旋转的刮膜器组成。刮膜器将进料连续地在加热面刮成厚薄均匀的液膜并向下移动；在此过程中，低沸点的组份被蒸发，而残留物从蒸发器底部排出。 二、性能特点 1.真空压降小： 　　物料汽化气体从加热面送到外置的冷凝器，存在的压差。在一般的蒸发器中，这种压力降（Δp）通常是比较高的，有时甚至高得难于接受。而刮板式薄膜蒸发器有较大的气体穿越空间，蒸发器内压力能看成与冷凝器中的压力几乎相等，因此，压力降很小,真空度可≤1Pa。 2.操作温度低： 　　由于上述特性，这使得蒸发过程可以保持在较高真空度条件下进行。由于真空度的提高，与之相应的物料沸点迅速降低，因此，操作可以在较低温度下进行，降低了产品的热分解。 3.受热时间短： 　　由于刮板式薄膜蒸发器的独特结构，刮膜器具有泵送作用，使得物料在蒸发器内的停留时间很短；另，在加热的蒸发器上由于薄膜的高速湍流使得产品不会滞留在蒸发器表面。因此，适用于热敏性物料的蒸发。 4.蒸发强度高： 　　物料沸点的降低，增大了同热介质的温度差；刮膜器的功能，减小了呈现湍流状态的液膜厚度，降低了热阻。同时，在这过程中抑制物料在加热面结壁、结垢，并伴有良好的热交换，因此，提高了刮板式薄膜蒸发器的总传热系数。 5.操作弹性大： 　　正是由于刮板式薄膜蒸发器独有的性能，使其适宜于处理热敏性和要求平稳蒸发的、高粘度的及随浓度提高粘度急剧增加的物料，其蒸发过程也能平稳蒸发。 它还能成功地应用于含固颗粒、结晶、聚合、结垢等情况物料的蒸发和蒸馏。三、保养须知： 1、用前仔细检查仪器，玻璃瓶是否有破损，各接口是否吻合，注意轻拿轻放。 2、用软布(可用餐巾纸替代)擦拭各接口，然后涂抹少许真空脂。真空脂用后要盖好，防止灰砂进入。 3、各接口不可拧得太紧，要定期松动活络，避免长期紧锁导致连接器咬死。 4、先开电源开关，然后让机器由慢到快运转，停机时要使机器处于停止状态，再关开关。 5、各处的聚四氟开关不能过力拧紧，容易损坏玻璃。 6、每次使用完毕用软布擦净留在机器表面的各种油迹，污渍，溶剂剩留，保持清洁。 7、停机后拧松各聚四氟开关，长期静止在工作状态会使聚四氟活塞变形。 8、定期对密封圈进行清洁，方法是:取下密封圈，检查轴上是否积有污垢，用软布擦干净，然后涂少许真空脂，重新装上即可，保持轴与密封圈滑润。 9、电气部分切不可进水，严禁受潮。 10、采购原厂正宗配件，随意使用其他配件对机器会造成致命的损害。 11、对机器做任何修理或检查时，要先切断电源，水源。

涂魔师巧妙利用光学获取大量平均值进行数据自动补偿，即使基材表面、涂层表面存在粗糙度、凹凸性、波纹度等因素变化，都不会影响其测量精度。传统干膜测厚仪局限性传统干膜测厚仪通常只能准确测出平面或光滑基材表面上的涂层厚度，一旦基材表面或涂层表面存在粗糙度、波纹度或凹凸性，就会严重影响干膜测厚仪的重复性和测量精度。另外，基材材质、涂层成分或表面弯曲率等因素也会导致干膜测厚仪的测量结果出现明显偏差。粗糙底材的最佳涂层测厚方案---涂魔师ATO非接触无损测厚仪涂魔师ATO非接触测厚技术巧妙利用光学获取大量平均值进行数据自动补偿。即使基材或涂层表面存在粗糙度、波纹度、凹凸不平等因素变化，都不会影响其测量精度。涂魔师打破了以往传统干膜测厚仪受基材粗糙度、测量边缘或弯曲面等难测部位导致磁感线变形等限制，能快速适应且可靠精准测出涂层厚度。1.粗糙底材也能精准测厚涂魔师基于ATO非接触无损专利测厚领先技术，即使基材表面、涂层表面存在粗糙度、凹凸性、波纹度等因素变化，都不会影响其测量精度。该设备通过脉冲方式加热待测涂层，内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。由于热量始终垂直穿透涂层，操作人员使用涂魔师测厚时无须严格控制测试角度和距离也能精准测厚，大大提高操作便捷性。案例分享【应用】气缸发动机曲轴箱原有生产工艺为传统灰铸铁镶件，新工艺为热熔喷涂铁基涂层；新工艺需要对热喷涂涂层进行快速精准的涂层厚度测量；但为了产生足够的涂层附着力，新工艺对曲轴箱的圆柱形表面进行了粗化处理。因此需要在粗糙的基材表面上进行热喷涂层厚度测量。【遇到难题】对于粗糙的基材表面涂层厚度测量，传统干膜测量仪不仅精度低且重复性差，故不适合精准监控产品质量；而显微镜测试耗时非常长，只能随机抽检，并且需要对工件进行破坏式测试。故上述两种测厚方法都不适用监控该工艺涂层厚度；【最佳测厚方案】涂魔师精准无损测厚系统。采用ATO领先技术能快速可靠测量粗糙化基材表面上的涂层厚度。【测量过程】1、产品：曲轴箱1和曲轴箱2；2、测试设备：涂魔师无损测厚系统；3、测试区域：从气缸底部到顶部非接触测量铁基热喷涂涂层厚度，测量区域为a和b；4、测量图片如下图1：图1：实际测量图片从下图2测量结果可见，涂魔师能：1、轻松无损测出缸内指定位置（a和b）的涂层厚度；智能精准识别不同产品不同测试区域的涂层厚度；2、除了能高效协助生产厂家监控热喷涂涂层厚度外，也能协助厂家确定精镗孔的同心度，从而进行精准校正和快速调整不对称性。 图2：测量点1-15为曲轴箱#1，测量点16-30为曲轴箱#2【实验结果表明】即使是测试高粗糙度底材上涂层厚度，涂魔师也能实现1%~2％的高测量精度优势。在连续生产中，涂魔师能高效协助生产厂家不间断监控工件膜厚真实情况，降低返工率。【客户评价】Oerlikon Metco（欧瑞康美科）公司的SumeBore表面涂层技术负责人Peter Ernst博士表示：“涂魔师能直接在工艺中以非破坏性方式对热喷涂涂层进行快速精确测厚，高效检测和及时调整影响涂层厚度的工艺偏差”。2.打破传统膜厚仪的局限性与干膜测厚仪相比，涂魔师ATO在线非接触无损测厚仪可以：1、快速精准测量湿漆、未固化的粉末涂料等未干涂层实时得出干膜厚度，也能直接测量干膜厚度；2、不仅能精准检测金属基材上涂层厚度，还适用于检测碳纤维、玻璃、橡胶、木材等非金属基材材质；涂层类型则适用于粉末涂料、油漆、胶粘剂、达克罗涂层、润滑涂层等。3、无需更换测量探头，一机通用，一键化操作 与其他光热法、激光和超声波原理测厚设备相比，涂魔师ATO：1、具有非接触测量、安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便、无需严格控制测试距离和角度等测量优势；2、十分适用于智慧监控涂装工艺中的涂层厚度，提高工艺的稳定性和高效性。3、在生产线上不间断连续测厚，数据实时存档与反馈，有助于提高工件涂装质量；除了能精准测试粗糙底材上涂层厚度涂魔师其余突出优势 1、非接触和无损测厚方式；2、不限底材及涂层材质；不仅能精准检测金属基材上涂层厚度，还适用于检测碳纤维、玻璃、橡胶、木材等非金属基材材质；涂层类型则适用于粉末涂料、油漆、胶粘剂、达克罗涂层、润滑涂层等。无需更换测量探头，一机通用，操作简单；3、测试操作简单，测试时间只需0.5秒；4、无须严格控制测量条件；无须严格要求测量工件形状、涂层颜色、测量角度和距离，涂魔师对于细小区域、基材边缘、弯曲面等部位也能精准测厚；5、十分适合生产线或实验室环境下使用；提供便携手持式和在线式多款机型，满足不间断测厚，数据实时存档与反馈，有利于提高产品喷涂质量；6、采用氙灯安全光源；涂魔师采用氙灯安全光源，对工件和操作人员不存在任何安全危害；7、干膜、湿膜都能精确测量膜厚；资料申请或咨询翁开尔公司作为涂魔师中国区总代理商，拥有近80多年的行业服务经验，我们能够在非接触测厚应用及产品选型上给您提供建议，如果您希望获得进一步的技术咨询或产品资料，欢迎与我们联系。

一、JC-SZ0105多参数水质检测仪产品概述： JC-SZ0105多参数水质分析仪可测浊度、余氯、总氯、二氧化氯、PH浓度，本仪器采用化学比色法，操作方便，使用简单，以便控制水的浊度、余氯、总氯、二氧化氯、PH达到规定的水质标准。适用于疾控中心及纯水站、游泳池等行业。二、JC-SZ0105多参数水质检测仪产品原理： 本仪表应用光电检测原理和化学比色测量原理，在一台仪器上实现了多参数水质指标的检测，实现了一机多用，极大降低了用户购置成本，体积小，携带方便操作简单。 三、JC-SZ0105多参数水质检测仪技术参数：指标浊度 余氯、化合氯总氯二氧化氯笔式PH测量范围0-100NTU0-2.5mg/L0-10mg/L0-3.0mg/L0-14pH分辨率0.01NTU0.01mg/L0.1pH重复性≤2%示值误差±5%FS电源AC 220V电源适配器 9V高性能锂电池 纽扣电池 四、JC-SZ0105多参数水质检测仪产品特点： 1.便携式微电脑，轻触式键盘，全中文菜单，采用背光高亮度LCD显示数值，操作和标定过程全中文提示，使用方便。 2.可自动调零和5点自动校正，量程有自动和手动切换，并且有数据非线性处理及数据平滑功能。 3.本仪器采用特制高强度长寿命光源，独特的恒光源半导体发光器使其光源恒稳定，而且光源寿命长达20年，开机时无需预热，可直接使用。 4.本仪器具有选择水质参数测量功能，通过光源的自动切换，适用于水中各个指标的快速定量测定。 5.主机内置大功率锂电池和电源适配器，既可用于实验室也可用于野外现场定量测量，充电4小时可连续使用4小时，即充即用。 6.采用矩形光学玻璃比色皿，表面平整光洁，克服了圆管比色皿管壁厚薄不均匀造成每次测量的误差，重复性好，测定时更准确。 7.年月日时间显示，设有数据存储（可存999个）查询功能，可满足GLP需求。 8. 符合标准GB/T5750-2006生活饮用水卫生标准。

概述　　穿透超声波测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。穿透超声波测厚仪主要功能● 采用“杂波飞渡技术”，一方面可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；● 增加双晶5M、7M探头，实现0.15-300mm的大量程高精度测量。● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量回波-回波模式满足薄工件测量精度高）● 可穿越表面涂层进行测量；● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；● 可以进行报警设置和差值模式设置；● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位● 可存储5种不同材料的声速● 可选配4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）适用材料 适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。技术参数项目UC750探头类型单晶、双晶测量范围0.15mm～300mm(钢)测量频率自动识别显示分辨率0.001mm（0.15-100mm）0.01mm（100-300mm）声速范围1000-9999m/s显示128*64 LCD显示，LED背光示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-20mm)，±0.1mm(20-300mm)自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示操作时间碱性电池最长可使用200小时（不使用背光）数据存储500个数值存储功能默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。外形尺寸153mm*67mm*26 mm整机重量220g标准配置主机1台、15M单晶探头1支、5M双晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套可选配置4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）数据传输线材料

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

产品参数：显示屏：指针/数字 操作温度：10°C to 40°C测量范围：0～200μm 0～2mm 可设置 供电电源：115V 至 230V, 50–60Hz分辨率：0.01μm 气源压力：0.2-1.0MP之间极限误差：0.3% 防护等级：IP54测量速度：全自动模式 0-20 次/min 可调 外形尺寸：显示器 170 × 130×150 mm 手动模式无限制 工作台 ：250 × 300 × 250 mm 提升方式：气动真空提升 净重：显示器 2.1kg 工作台4.5kg 测帽类型：平面测帽，大圆弧测帽 可更换标准配置：主机* 1SET 显示器*1PC 电源线*1PC 数据传输线*15ET 操作说明书*3PCS 产品合格证*1PC执行标准：该设备满足多项国际和国家标准ASTM D374、ISO 4593、JIS K6250、BS 3983、 GB/T 6672产品特性： &bull 薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数&bull 全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效&bull 测量精度高，分辨率可达0.01μm&bull 测量速度快，结果响应时间为0.015s&bull 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈&bull 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量&bull 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能

中图仪器NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点。NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。测量过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。典型应用NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。仪器结构单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术 （1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。 WD4000可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

仪器介绍 TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等） 技术参数型号TF200-VISTF200-EXRTF200-DUVTF200-XNIR波长范围380-1050nm380-1700nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um50nm-300um1nm-30um10um-3mm准确度12nm2nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm0.2nm3nm入射角90℃90℃90℃90℃样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm2mm是否能在线是是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

LB-SS-1Z悬浮物测试仪一、产品介绍：LB-SS-1Z悬浮物测试仪用于测量悬浮于水（或透明液体）中不溶性颗粒物质所产生的光的散射或衰减程度，并能定量表征这些悬浮颗粒物质含量的仪器。本仪器可广泛用于水厂、食品、化工、冶金、环保及制药行业等部门，是常用的实验室仪器。二、技术参数测量范围0-100-1000PPM 下限：10ppm最小示值0.01重复性≤2%精度±5%FS电源AC 220V 50Hz选配件：大功率电池 专用铝合金箱子 （配置后成为便携式悬浮物仪） 三、悬浮物仪特点：1.微电脑，轻触式键盘，采用LCD背光液晶显示浊度, 操作简单,具有较高的性价比。2.采用矩形光学玻璃比色皿，表面平整光洁，克服了圆管比色皿管壁厚薄不均匀造成每次测量的误差，重复性好。 3.可自动调零和5点自动校正，量程有自动和手动切换，数据非线性处理及数据平滑功能，仪器能长时间稳定工作。4.仪器内存储有全量程范围内的标定曲线 ，具有断电保护，标定数据不会丢失， 符合国标《重量法》。 青岛路博公司提供本仪器全面的技术支持和完善的售后服务！

F50 薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家24小时电话，E-mail和在线支持所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效存储，重现与绘制测试结果

中图仪器NS系列国产探针式膜层厚度表面粗糙度台阶仪可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。样品适应面广，对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。台阶仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列国产探针式膜层厚度表面粗糙度台阶仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。NS系列国产探针式膜层厚度表面粗糙度台阶仪广泛应用于大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

特别说明：公司所有仪器均为原厂原装产品，请放心购买。我们公司为相关品牌的正式代理商，除了提供产品以外，还负责相关产品的操作培训、安装调试、技术咨询、问题排查和故障维修等服务。不管是不是从我们公司购买的产品，只要是此品牌的产品，只要您想了解产品相关的信息，行业标准的符合程度，产品的使用操作，售后服务的提供等等任何问题均可以随时来垂询。谢谢！ 美国DeFelsko狄夫斯高 200系列超声波涂层测厚仪 一、产品描述美国DeFelsko狄夫斯高 200系列产品测厚仪是一款无损测量非金属（如木材，混泥土，沥青，塑料）上的涂层。可在同一测量点上连续显示读数，保证测量的准确性和重复性。 二、产品特点1、使用灵活① 通用型主机，可连接所有PosiTector 6000,200，SPG，DPM和UTG探头，可以轻易从测厚仪转化为表面粗糙度仪，露点仪或超声波测厚仪。 ② 零点调整：按仪器提示操作即可，调零方式简单便捷。③ 多种显示语言可选，包括中文④ 高对比度背光显示可用于光亮或灰暗环境⑤ 倒转显示，可以倒看2、操作简单① 直接测量——大多数情况下无需校准② 单手操作菜单③ 闪动显示——可用于嘈杂环境④ 重置功能可迅速恢复出厂设置3、结实耐用① 耐溶剂，酸，油，防水，防尘——可全天候使用② 耐磨损探头③ 防震橡胶保护套皮带夹4、测量精确① 每台仪器都提供校准（正）书，可追溯至NIST标准② 内置温度补偿确保测量精确③ 高分辨率模式提高显示分辨率可满足高精度应用④ 符合美国和国际标准包括ISO，ASTM等等5、功能强大① 连续显示/更新平均值、标准方差、最小/最大厚度及读数数量② 屏幕捕捉功能——屏幕图像可以截屏存储，用于保存记录和浏览③ 测量值超过上下限设置时通过警示音和指示灯报警④ 快速模式——提高测量速度用于快速测量⑤ USB接口可以快速方便的连接电脑，持续供电，提供数据线⑥ 软件可通过网络进行实时更新⑦ 可连接到PosiTector.net 三、主机特点1、标准型主机（简称1型主机或S型主机）：① 测量整个涂层厚度② 单色显示器，半穿透半反射技术，阳光下可读③ 存储250个读数，可浏览或下载2、高级型主机（简称3型主机或A型主机）：①测量整个涂层的厚度或多达3层独立分层厚度，提供图形可以进行详细分析② 高对比度可逆的彩色液晶显示屏③ 可储存高达100,000个读数值, 可最多分1000组和子组。④ 屏幕在线帮助，实时曲线显示，图片辅助等⑤ 可通过USB，无线网络，以及蓝牙于打印机或电脑连接⑥ 扫描模式——无需提起探头，可连续测量⑦ 可储存多种校准设置以满足各种不同的基材⑧ SSPC-PA2 功能,可判断涂层在一定面积是否满足用户设定的最大最小值⑨ PSPC 90/10功能可判断涂层是否具备IMO保护涂料性能⑩ 图形模式，带屏捕捉功能 3、SmartLink通过SmartLink装载探头，不需要另加主机直接在APP实现数据读取，存储标记等新功能。 四、型号选择和仪器参数 PosiTector200型号B/标准型B/高级型C/标准型C/高级型D/标准型D/高级型测量总厚度√√√√√√测量分层厚度√√√图形显示√√√典型应用木材塑料上油漆混凝土、玻璃钢上涂层厚、软涂层，如聚脲，沥青量程13—1000微米50—3800微米50—7600微米精度±（2微米＋3％读数）±（20微米＋3％读数）单层最小厚度13微米50微米500微米对应标准板STDA3STDP6STOP1

安研玻璃薄膜蒸发器AYAN-B250产品介绍： 薄膜蒸发器（Thin film evaporator）是一种物料液体沿加热管壁呈膜状流动而进行传热和蒸发，优点是传热效率高，蒸发速度快，蒸发器的类型，特点是物料停留时间短，因此特别适合热敏性物质的蒸发，是一种特殊的液--液分离技术，在高真空状态下，使蒸气分子的平均自由程大于蒸发表面与冷凝表面之间的距离，从而可利用料液中各组分蒸发速率的差异，对液体混合物进行分离。产品特征：1.远低于物料沸点的温度下操作,而且物料停留时间短 利于高沸点、热敏及易氧化物料的分离2.有效地脱除液体中的物质如有机溶剂、臭味等,对于采用溶剂萃取后液体的脱溶是非常有效的方法3.可有选择蒸挥发出产物,去除其它杂质,通过多级分离可同时分离2种以上的物质4.蒸馏真空度高，真空度可达5mmHg以下，其内部可以获得很高的真空度，通常分子蒸馏在很低的压强下进行操作，因此物料不易氧化受损5.蒸馏液膜薄,传热效率高，膜厚度小于0.5mm6.分离程度更高，分子蒸馏能分离常规不易分开的物质7.没有沸腾鼓泡现象，分子蒸馏是液层表面上的自由蒸发，在低压力下进行，液体中无溶解的空气，因此在蒸馏过程中不能使整个液体沸腾，没有鼓泡现象8.物理分离法，无毒、无害、无污染、无残留，可得到纯净安全的产物9.刮板系统由PTFE材料和SS316L不锈钢材料制成，具有极高抗腐蚀的功效；10.进料罐可选实现预加热功能，温度可达300度，温度可调节11.各个接口采用的是硅胶垫片进行密封，气密性好，如客户需要耐腐蚀可以更换成四氟材质。薄膜蒸发器选型应考虑的因素薄膜蒸发器是一种蒸发器的类型，特点是物料液体沿加热管壁呈膜状流动而进行传热和蒸发，优点是传热效率高，蒸发速度快，物料停留时间短，因此特别适合热敏性物质的蒸发。在薄膜蒸发器的选型中，必须综合考虑各种因素：1、生产能力和操作参数：包括处理量、进出浓度、温度、年操作小时数等；2、产品特性：包括热敏性、粘度和流动性（在操作温度下）、发泡沫性、固体含量、结晶和聚 合倾向等；3、操作介质：如水蒸汽（压力）、冷却水（温度）、清洗液（溶剂）等；4、制造的材料选择和表面抛光要求；5、现场条件：如空间、气候（室外）、能量和产品的衔接、工作平台等。刮膜式薄膜蒸发器是通过旋转刮膜器强制成膜，并高速流动，热传递效率高，停留时间短（约10~50秒），可在真空条件下进行降膜蒸发的一种新型蒸发器。物料从加热区的上方径向进入蒸发器；经布料器分布到蒸发器加热壁面，然后，旋转的刮膜器将物料连续均匀地加热面上刮成厚薄均匀的液膜，并以螺旋状向下推进。在此过程中，旋转的刮膜器确保连续和均匀的液膜产生高速湍流，并阻止液膜在加热面结焦、结垢，从而提高传总系数。轻组份被蒸发形成蒸汽流上升，经汽液分离器到达和蒸发器直接相连的外置冷凝器；重组份从蒸发器底部的锥体排出。用于处理热敏性物料的方法：1、原料经泵输送到高位槽中，后流经流量计进入精馏塔中部，阀门开合程度由流量控制；2、精馏塔中汽相组分由塔顶进入冷凝器中，在冷凝水的作用下液化；在回流比控制器的控制下，部分冷凝液流回精馏塔顶，部分入轻组分储液罐中；3、精馏塔中液相组分由塔底进入刮膜式薄膜蒸发器中，在刮板的作用下呈液膜状分布在蒸发器的内表面，在导热油加热下，物料呈液膜状不断蒸发，挥发组分汽相再次回到精馏塔体中，与从塔顶流下来的液相进行传质和传热，蒸发器中未挥发部分则在重力的作用下，流出，经输送泵进入重组分储液罐中；4、轻、重组分可以分别从相应的储液罐底部取样检测分析；5、冷凝器经过缓冲罐接入真空泵，为整个系统提供真空环境。

贵州薄膜蒸发器AYAN-B250配外置冷凝装置薄膜过滤系统厂家批发分离技术是化工生产三大技术之一，分离过程的优劣对产品质量、效率、消耗、效益影响极大。GXZ旋转薄膜蒸发器，是按物料的挥发度不同进行分离的设备。该设备的传热系数高、蒸发温度低、物料停留时间短，热效率高、蒸发强度大。在石化、精细化工、农药、食品、医药、生物化工等行业中广泛应用于蒸发、浓缩、脱溶、提纯、汽提、脱气、脱臭等过程。 薄膜蒸发器是通过旋转刮膜器强制成膜，并高速流动，热传递效率高，停留时间短（约5~15秒），可在真空条件下进行降膜蒸发的一种新型蒸发器。它传热系数大、蒸发强度高、过流时间短、操作弹性大，尤其适宜热敏性物料、高粘度物料及易结晶含颗粒物料的蒸发浓缩、脱气脱溶、蒸馏提纯。它由一个或多个带夹套加热的圆筒体及筒内旋转的刮膜器组成。刮膜器将进料连续地在加热面刮成厚薄均匀的液膜并向下移动；在此过程中，低沸点的组份被蒸发，而残留物从蒸发器底部排出。性能特点1.真空压降小：　　物料汽化气体从加热面送到外置的冷凝器，存在的压差。在一般的蒸发器中，这种压力降（Δp）通常是比较高的，有时甚至高得难于接受。而刮板式薄膜蒸发器有较大的气体穿越空间，蒸发器内压力能看成与冷凝器中的压力几乎相等，因此，压力降很小,真空度可≤1Pa。2.操作温度低：　　由于上述特性，这使得蒸发过程可以保持在较高真空度条件下进行。由于真空度的提高，与之相应的物料沸点迅速降低，因此，操作可以在较低温度下进行，降低了产品的热分解。3.受热时间短：　　由于刮板式薄膜蒸发器的独特结构，刮膜器具有泵送作用，使得物料在蒸发器内的停留时间很短；另，在加热的蒸发器上由于薄膜的高速湍流使得产品不会滞留在蒸发器表面。因此，适用于热敏性物料的蒸发。4.蒸发强度高：　　物料沸点的降低，增大了同热介质的温度差；刮膜器的功能，减小了呈现湍流状态的液膜厚度，降低了热阻。同时，在这过程中抑制物料在加热面结壁、结垢，并伴有良好的热交换，因此，提高了刮板式薄膜蒸发器的总传热系数。5.操作弹性大：　　正是由于刮板式薄膜蒸发器独有的性能，使其适宜于处理热敏性和要求平稳蒸发的、高粘度的及随浓度提高粘度急剧增加的物料，其蒸发过程也能平稳蒸发。它还能成功地应用于含固颗粒、结晶、聚合、结垢等情况物料的蒸发和蒸馏。

海思科技 吴先生 探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围