寿命测试机

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

QJPLA-5按键寿命测试机应用于开关类的按键寿命次数试验，任意控制和设定；1、规格型号：QJPLA-5 八工位2、测试速度：1-360次/分 （速度任意可调）3、测试压力 ：50g、100g、200g、300g砝码4、上下测试行程：10mm5、测试台尺寸：80*80mm6、测试行程：50mm（可调）7、导电测试功能：按键不导电时自动停机8、冲击运动方式： 上下压缩机构采直线轴承运动，定位精准9、计数器次数： 可设8位数--99999999次自动停机10、测试杆固定装置可调范围：0-150mm11、电压:220V 50HZ按键寿命测试机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

此设备满足标准EN1527版本测试要求。设备用于各种滑轨平移门，拆叠门五金测试，采直线气缸驱动机构，机械手与门扇连接对移门进行往复运动，从而检验移门滑轮及悬挂件的耐久性能；实现行程3米，可根据实际样品的开合运动行程，通过设置左右限位开关的距离来改变试验行程 试验速度可通过调速器由用户自行设定；寿命次数可通过控制器外置面板设定，到达预设次数自动停机；采用触屏控制测试机运行，以及故障监控报警停机。

QJLCSW-86手机微跌落寿命测试机适用于手机、屏幕、电话机听筒、对讲机、MP3、CD、电子词典等小型电子消费类产品作重复跌落测试；手机微跌落寿命测试机技术参数：1、单独跌落手机：2台（80*140）2、 允许试件重量：2kg(max)3、跌落高度：10-200ｍｍ4、测试速度范围：6～20次/min5、PLC控制器及触摸屏：1套6、机器尺寸：W550*H750*D650mm7、机器重量：约40kg8、气源：≥0.5Mpa9、电源：AC 220V 或指定备注：制作部分电气与主体为一体式手机微跌落寿命测试机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

设备针对机械锁体、电子锁体、紧急逃生锁寿命测试而设计，设备测试功能全面，覆盖锁体类型广。可以针对不同等级设置开关门负载，并选择相应的测试程序，设备自动执行相应产品的寿命测试。设备采用全新优化设计，使用更方便。

仪器用途用于测定润滑脂在高温、高载荷、高转速的情况使用寿命。润滑脂在一定的温度、载荷、转速的情况下，通过SKF ROF+ 轴承寿命测试仪测试，经过长时间运转，直至轴承润滑脂失效。试验时间越长，则表明润滑脂质量越好。通过此测试，可确定特殊润滑脂的最大加载、最大转速及温度。总体描述SKF ROF+ 油脂轴承寿命测试机是用于测定润滑油脂在高温、高载荷、高转速情况下的轴承使用寿命。满足ASTM D3336、SH/T0428、SKF内部专用标准等试验方法，润滑脂在一定的温度、载荷、转速的情况下，通过SKF RoF+ 轴承寿命测试仪测试，经过长时间运转，直至轴承润滑脂失效。试验时间越长，则表明润滑脂质量越好。通过此测试，可确定特殊润滑脂的最大加载、最大转速及温度。该试验机主要由两部分组成：机械测试单元及加装控制和评估的电脑。机械单元包括五个铸铁防尘罩。每个罩内有两个装于轴上的测试轴承、1套气动径向加载系统、1套气动轴向加载系统、2套加热模块、1台电机、1个温度传感器。所有主轴都由电机驱动，径向及轴向加载系统可以在试验中提供2个方向上的负载，加热模块可以提供测试所需温度，温度传感器可以监控测试中温度，整个机械结构即可实验测试目的--检测油脂在不同的温度、速度及轴向负载下的性能。油脂的性能由油脂失效前的有效运行时间来衡量，有效运行时间越长，油脂在特定运行条件下的润滑效率越高。同时，装有最新ROF+的电脑还将对测试的全程进行控制及评估。这样，就可以获得特定油脂的极限运行速度、温度及负载等重要技术参数。加载控制系统采用气动加载系统，分别配置低载荷和高载荷加载单元，有两种加载方式：一是径向加载系统，其负荷范围：22.3～900N；二是轴向加载系统，其负荷范围：66.7～1100N。用户可根据实验要求选择来控制负荷。 速度控制系统采用皮带轮驱动马达系统，其速度控制范围：5000 ～25000 rpm。用户可根据需要设置不同转速。温度控制系统采用温度控制仪，能显示和数据采集，自行设定温度，其温度范围可控制在环境温度～250℃之间，其显示精度：±0.1℃。时间控制系统采用时间计时器进行计时。计算机数据采集处理系统采用电脑采集处理数据，自动记录测试过程的各项参数，如转速、 温度、负荷、压力和运转时间等。扭矩测量系统使用扭矩系统测量和记录测试扭矩，测试摩擦力矩，显示和数据采集。

显示器底座旋转寿命试验机通常可以用于支架的左右扭转测试。这种测试旨在评估显示器支架或底座在左右扭转运动下的性能和稳定性，以确保其符合相关标准和要求。具体来说，支架左右扭转测试机可能具备以下功能和特点：左右扭转设计：测试机能够模拟显示器支架在左右方向上的扭转运动，以评估其结构强度和稳定性。通过施加扭转力并进行持续测试，可以检测支架在扭转情况下的性能表现。施加负载：测试机可以控制施加在支架上的扭转力，模拟实际使用中的扭转情况。这有助于评估支架在扭转过程中的变形、稳定性和连接件的可靠性。自动化控制：测试机通常配备先进的控制系统，实现自动化操作和数据采集。这有助于确保测试的准确性和可重复性，并能够记录和分析支架的性能数据。通过支架左右扭转测试机，制造商和设计师可以对显示器支架的扭转性能进行全面评估，从而优化产品设计、材料选择和生产工艺，确保其符合相关标准和要求。在国内，支架左右扭转测试通常基于国际标准或国家标准进行，例如：ISO 9999：办公设备-显示器支架的安全性和要求。GB/T 30512-2014：显示器支架的安全性和要求。这些标准提供了对支架左右扭转测试的指导，制造商和设计师可以根据实际需求选择适用的标准进行测试。此外，还可以根据国家或地区的相关法规和行业标准进行测试，以确保产品符合当地的要求和规定。

设备结合 EN 179 逃生锁，EN 1125 推杆锁测试要求，配置 2 个测试门， 测试门 A 用于 EN 179 逃生锁寿命测试，门锁样品通过锁块安装于测试门上，根据产品等级配置不同的测试门重，设置锁舌负载以及关门力。可以依照加载锁舌负载，通过操作执手开启锁舌，并推把手开门，再在规定的关门力作用下关门。当样品出现开启力，关门力过大等故障时，设备自动停止运行。采用步进电机驱动把手操作 。 测试门 A、B 结合双开门，用于测试 EN 1125 推杆锁,可以根据产品等级配置不同的测试门重，设置锁舌负载以及关门力。可以加载锁舌负载情况下，通过操作推杆开启逃生锁，再在规定的关门力作用下关门。兼容单门逃生推杆寿命测试及双门（活动扇+非活动扇）组合逃生推杆寿命测试。 满足标准EN 179, EN 1125标准测试要求。

耳机扩张寿命试验机（普通和触摸屏可选择）产品用途:本机适用于头戴耳机的扩张（张合）寿命测试。扩张测试方法：耳机经左右夹具固定后，同时向左右方向拉伸到一定距离后再同时返回到开始位置。其测试行程可设置，经过N次测试后，取下耳机检测头戴性能。产品特点：采用TFT7寸真彩液晶触摸屏和可编程控制器做动作控制，可设定扩张行程、测试速度、测试次数、动作停顿时间； 采用马达驱动，高速低噪音，运行平稳，性能稳定可靠耐久；一工位二工位3工位可选择，可以同步测试3组头戴耳机的扩张，扩张行程可调。技术参数测试速度：10-60次/min驱动：马达测试行程：100-300mm可设定测试次数：1-999999次可设定机台尺寸：W900*D900*H600mm重量：125kg电源：AC 220V 50Hz 3A耳机扩张寿命试验机 头戴耳机扩张测试机

锁体寿命测试仪概述：锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求，直接在操作屏幕上面输入旋转角度寿命次数等参数，达到设定次数后机器自动停机。通过旋转锁体方条带动锁体机械部件运动。一、试验工位：2个锁体测试工位；二、专业生产控制方式：触摸屏加PLC程序控制；三、 测试zui大角度：0度到720度之内任意设定；四、 测试次数：0-999999内设定；五、 测试速度：0-60分每秒可调；六、 旋转空间：电机旋转中心到平台高度保证100mm以上 七、 台面材质：纯铝氧化处理八、 固定治具：可调式固定治具（根据客户产品订做） 九、工作电源：AC220V、50HZ 十、设备能测试寿命至10万次 Delta德尔塔仪器作为智能门锁专业检测设备供应商，所生产的智能门锁设备已经成功应用到多家专业测试机构和知名生产厂家，第三方检测机构例如：贵州省产品质量监督检验院、浙江省家具与五金研究所、广州质量监督检测研究院、广东产品质量监督检验研究院、杭州市质量技术监督检测院，知名企业例如：广东名门锁业、三环锁业、广东樱雪电器、力维智能锁业、深圳凯迪仕等生产厂家品质研发部，深受客户好评。 Delta德尔塔仪器专注于智能门锁符合标准的电气性能、防盗安全性能、耐久性检验、气候环境适应性、机械环境适应性、电磁兼容性、电气安全性、密钥量等等的检测设备的定制和研发。产品有：智能门锁耐用度试验机|智能门锁寿命耐久性试验机|智能门锁疲劳寿命试验机|锁芯耐用度试验机|智能门锁把手耐久试验机|智能门锁综合性能试验机|智能门锁老化试验机|智能门锁静压拉力试验机等仪器设备。

OLED寿命老化测试系统简介该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。1、 系统主要测试参数绘制OLED寿命老化曲线2、 系统特点&bull 可根据实际需要定制多通道测量（96通道、128通道）&bull 可提供恒温恒湿测试环境，模拟真实使用情况恒温恒湿箱参数：箱体尺寸具体尺寸待定温度范围-40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择）升温速率2℃～4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）降温速率0.7℃～1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载）解析精度（显示）温度：±0.01℃解析湿度（显示）±0.1%R.H温度波动度±0.5℃温度均匀度±2.0℃湿度范围20%～98%R.H [25℃-85℃内]湿度波动度±2.0%R.H.湿度偏差±3% [湿度75%RH 时]总功率/电压5KW/380V控制功能触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作3、测试原理

本拉手寿命台测试机用铝型材框架，玻璃或复合板安装测试拉手，可以安装测试长度3米以内的拉手。 电机驱动横梁分别转动到30°，60°，90°，90°，120°，150°位置，然后三个直线气缸依次施加标准所规定的力到拉手上。根据不同长度拉手测试要求，通过滑槽调节三个直线气缸固定位置，可施加作用力于拉手任意的位置。 PLC 控制电机驱动横梁和气缸依次施加拉力，并检测横梁摆动位置。采用接近开关检测拉手，失效时停机并亮红色指示灯。 经滑轮通过砝码间接加载拉力，确保施加的力量准确，稳定，轻松可调，不易受气压波动影响，寿命测试过程导致施加作用力过载或不足，由增减砝码来实现不同测试等级拉力要求，使用安装调试简单易行。

简介：按键寿命试验机适用于手机、电脑、电子词典、蓝牙耳机、车载播放器、遥控器按键、车辆防盗器、传真机按键、MP5、MP4、MP3、按键开关、轻触开关、薄膜按键、橡胶按键、硅胶按键等各类按键进行寿命试验。本机是将产品分别置于对应工位的试验位置上，按键测试杆在一定的试验荷重、速度、行程、次数下模拟人对产品的使用寿命测试。 主要参数：1、试验工位：4个（同时工作）2、荷重砝码：50、100、200、300、500G各四个（可选配）3、试验次数计数器：0~99999999次（可预置，LCD显示）4、试验导通次数计数器：0~99999999次（四工位导通单独计数，测试品损坏自动停止计数）5、试验速度：5~60次/分（旋钮可调，LCD显示）6、测试行程：0~60MM(手动可调)7、试验夹具常规夹持范围：60X80MM(手动可调)8、测试杆固定装置可调范围：0~180MM9、外形尺寸（LxWxH）：550X400X550MM10、机台重量：25KG11、工作电源：AC220V、50Hz 产品特点：1、箱体采用静电喷漆处理，工作台面等采用铝喷砂处理，美观大方，整机设计合理结构紧固、运行稳定、安全、准确；2、根据各类按键产品测试制造，试验夹具、行程可调、应用广泛；3、四组工位同时工作，大大提高测试效率；4、试验速度、次数，人性化设计，操作方便快捷；每个工位有对应的导通计数器，按键失灵，对应计数器会自动停止计数，可设置测试品损坏自动停机，方便及时得知产品相关测试信息

此设备满足标准EN 1303，ANSI/BHMA A156.5及 AS 4145.2版本测试要求采用两套伺服电机，可以精确控制钥匙旋转角度、扭矩以及钥匙插拔速度及力度。采用PLC控制，触摸显示屏设定测试程序，可选择多种预定测试方案，适用于欧规锁芯，美规锁芯等不同标准锁芯测试要求。锁芯安装座3轴可调，方便样品安装调试。采用可变转动中心轴设计，避免钥匙与锁芯转动中心不对中导致锁芯卡死，过度磨损等异常测试发生。

六工位电子锁配置设备优势： 此设备严格按照ANSI/BHMA A156.2, ANSI/BHMA A156.13, ANSI/BHMA A156.25及ANSI/BHMA A156.39标准设计制造，适用于认证机构实验室,也可以用于工厂生产前产品设计验证以及生产中产品抽检测试。该设备采用PLC控制，触摸显示屏设定测试程序，旋转气缸操作执手（握把），满足标准ANSI/BHMA A156.2, ANSI/BHMA A156.13, ANSI/BHMA A156.25及ANSI/BHMA A156.39版本测试要求。

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

前叉－弯曲疲劳测试机 技术参数（1）机台高频率：0-5Hz（2）传感器容量：圆盘式传感器5000N*1支（3）荷重元分辨率：1/10000（4）电缸:电动缸伺服控制（5）位移行程：150mm(±75mm)（6）试验次数：0-999999任意设定（7）控制方法：力全闭环控制（8）控制方式：计算机自动控制，具有位移、力量、时间等控制方式（10）显示方式：计算机控制及显示器（11）数据采集：高速采集卡（12）力采集频率：大于200kHz（13）力量波形：正弦波（14）自动停机：力量达不到设定自动停机、试件损坏自动停机（15）报表打印格式：自行保存测试结果制做报表（16）车架疲劳夹具1组 （17）重量：（约）160Kg（18）电源：AC220V,15A （19）机台尺寸：机器（长*宽*高）：950*450*2000(mm) 控制柜：600*500*1600(mm)前叉动态疲劳试验机自行车前叉疲劳检测机 前叉弯曲寿命测试机 前叉强度测试设备

自行车试验机 自行车车架综合疲劳测试机 电动自行车车架动态疲劳测试机 双电动缸自行车车架寿命测试机 一、设备简介：本机针对自行车车架做耐疲劳测试。可测试自行车车架踩踏疲劳测试EN 15194电动自行车、ISO4210-6.4.3本项测试规范所有样式的车架。二、依据标准：EN 15194电动自行车、ISO4210、EN14781路跑车、EN14766登山车、EN14764城市车。CNS、JIS、DIN、NF、ISO、CPSC、CSA、AS、BS九国测试标准所设计。三、设备主要技术参数：（1）机台高频率：0-5Hz（2）传感器容量：圆盘式传感器5000N*2支（3）荷重元分辨率：1/10000（4）电缸:电动缸伺服控制（5）位移行程：150mm(±75mm)（6）试验次数：0-999999任意设定（7）控制方法：力全闭环控制（8）控制方式：计算机自动控制，具有位移、力量、时间等控制方式（9）显示方式：计算机控制及显示器（10）数据采集：高速采集卡（11）力采集频率：大于200kHz（12）力量波形：正弦波（13）自动停机：力量达不到设定自动停机、试件损坏自动停机（14）报表打印格式：自行保存测试结果制做报表（15）车架踩踏疲劳测试夹具（治具）：1组、异向 口（可选）（16）前叉-弯曲动态：1组 口（可选）（17）车把疲劳夹具（18）鞍座疲劳夹具（19）重量：（约）400Kg（20）电源：AC220V,15A （21）机台尺寸：机器：1700*1300*2500mm 控制柜：600*600*1600mm（长*宽*高） 四、计算机联机功能说明：1. 讯号转换控制器：（1）荷重感应器（2）讯号转换收集器2. 基本功能执行鞍管试验程序，可得下列资料：（1）力对时间的实时曲线（2）频率对时间的实时曲线（3）拉压力的大值（4）断裂实时值（5）曲线图比较（6）标准偏差（7）平均值（8）两曲柄替换之件为175mm长（L），并且前后调整两替换曲柄成倾斜水平45°角（公差±2°）替换曲柄之垂直位置75mm(Rc)处，自车架中线距离50mm处装上连接到后轮轴基座心轴，后轮轴心并与垂直线成直角。五、设备示意图和设备实拍备注：测试次数100000次，运转一次包括2个测试力之作用与移除，测试频率0-5Hz疲劳试验。 自行车试验机 自行车车架综合疲劳测试机 电动自行车车架动态疲劳测试机 双电动缸自行车车架寿命测试机可测试单车车架疲劳，自行车把手疲劳，电动自行车座垫杆疲劳，自行车车架座管疲劳，前叉弯曲动态疲劳，自行车把手头管疲劳寿命试验，左曲柄交互车架五通强度测试，水平轴曲柄轴疲劳寿命测试。 相关产品：自行车试验机 , 电动自行车动态疲劳测试机 , 双电动缸自行车寿命测试机 , 单车疲试验机

多通道发光器件寿命测试仪1 设备主机，包括： （1） 主控电脑 （2） 主机机箱 （3） 数据采集模块 （4） 测试控制模块（可拓展至 128 通道） （5） 测试机柜 （6） 配置 UPS，满足续航供电 （7） 搭配显示器、鼠标键盘等配件 2 高精密程控电源 （1） 电流范围： 10uA-10mA；电压范围： 0-20V（2） 可同时支持 8多个通道的发光器件的独立测试，每个通道可独立控制电流的输出，满足发光器件恒流下的寿命测试。 3 测试模块，包括： （1） 根据用户发光器件尺寸设计夹具，配置多套测试夹具， 可以放置于手套箱内测试； （2） 采用硅光电二极管实现对发光器件亮度的监测，亮度监测范围可选； （3） 支持底发光、倒装/正装器件测试。

设备概述：锁体旋钮开关寿命测试仪适用于智能门锁的防盗保险销寿命模拟测试。锁体旋钮开关寿命测试仪技术参数：１试验工位：2工位 同时运行 2次数0-999999次可设定3试验速度5-60次/分可调4开启测试角度0-999995停留时间1～999sec(可 设) 6控制方式：触摸屏PLC 7体积W550×D450×H500mm8重量30kg9电源AC220V,50Hz 3A设备特点：1.采用液晶触摸屏+PLC作扭曲程序控制，中文界面，操作简便； 2.采用步进马达驱动，定位精确，扭矩输出平稳，低噪声；3.平台设计有前后左右上下移动调节平台，能方便快捷进行装夹定位，提高测试效率。 Delta德尔塔仪器作为智能门锁专业检测设备供应商，所生产的智能门锁设备已经成功应用到多家专业测试机构和知名生产厂家，第三方检测机构例如：贵州省产品质量监督检验院、浙江省家具与五金研究所、广州质量监督检测研究院、广东产品质量监督检验研究院、杭州市质量技术监督检测院，知名企业例如：广东名门锁业、三环锁业、广东樱雪电器、力维智能锁业、深圳凯迪仕等生产厂家品质研发部，深受客户好评。 Delta德尔塔仪器专注于智能门锁符合标准的电气性能、防盗安全性能、耐久性检验、气候环境适应性、机械环境适应性、电磁兼容性、电气安全性、密钥量等等的检测设备的定制和研发。产品有：智能门锁耐用度试验机|智能门锁寿命耐久性试验机|智能门锁疲劳寿命试验机|锁芯耐用度试验机|智能门锁把手耐久试验机|智能门锁综合性能试验机|智能门锁老化试验机|智能门锁静压拉力试验机等仪器设备。

仪器简介：少子寿命测试仪性能参数： 测量原理 QSSPC（准稳态光电导）少子寿命测量范围 100 ns-10 ms测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq.注入范围：1013-1016cm-3感测器范围 直径40-mm测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸）硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m外界环境温度 20° C&ndash 25° C功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz主要特点:　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm　　全自动操作及数据处理　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭　　可以选择测试样品上任意位置　　能提供专利的表面化学钝化处理方法　　对各道工序的样品均可进行质量监控：　　硅棒、切片的出厂、进厂检查　　扩散后的硅片　　表面镀膜后的硅片以及成品电池少子寿命测试仪Best available calibrated measurement of carrier recombination lifetime. Widely used for both monocrystalline and multicrystalline wafers.Product OverviewWCT testers showcase our unique measurement and analysis techniques, including the highly regarded Quasi-Steady-State Photoconductance (QSSPC) lifetime measurement method developed by Sinton Instruments in 1994.The QSSPC technique is ideal for monitoring multicrystalline wafers, dopant diffusions, and low-lifetime samples. This method complements the use of the transient photoconductance technique that is also standard on this instrument.The QSSPC lifetime measurement also yields the implied open-circuit voltage (versus illumination) curve, which is comparable to an I-V curve at each stage of a solar cell process.WCT System CapabilitiesPrimary application:Step-by-step monitoring and optimization of a fabrication process.Other applications:　Sinton Instruments' analysis yields a calibrated carrier injection level for each wafer, so you can interpret lifetime data in a physically precise way. Specific parameters of interest are displayed and logged for each measurement.&bull Monitoring initial material quality&bull Detecting heavy metals contamination during wafer processing&bull Evaluating surface passivation and emitter dopant diffusion&bull Evaluating process-induced shunting using the implied I-V measurementFurther Information技术参数：FAQ:&bull What is the recombination lifetime?&bull How does the solar cell efficiency depend on the lifetime?&bull What determines the lifetime in silicon?&bull How is lifetime measured by the Sinton Instruments tools?&bull How is the data analyzed?&bull Can you measure surface recombination velocity?&bull Does the system measure emitter saturation current density?&bull Can wafers be measured with no surface passivation (&ldquo out of the box&rdquo )?&bull Can any of these instruments do lifetime maps?&bull How do these measurements compare to microwave PCD?&bull What lifetimes can be measured?&bull What is the smallest sample size?&bull How do you measure bulk lifetime on blocks or ingots?&bull At what carrier density should I report the result?&bull Can the lifetime tester be used to detect Fe contamination?&bull How is the instrument calibrated?&bull When should wafers be tested inline?&bull Does the lifetime tester measure the trapping?　Module and Cell Flash Testers frequently asked questions主要特点：常见问题：WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。WCT-120/100准稳态光电导法测少子寿命的原理？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）

项目概述：● 电子智能门锁模拟门寿命试验机是试验机其中一类用来试验或验证电子智能门锁产品在特定的环境模拟下能否适于使用、有效完成其功能的时间、有效使用次数、及检测出其老化疲劳值的试验机（也就是检测出验证电子智能门锁产品的极限“保质期”）；● 电子智能门锁模拟门寿命测试机”具有高科技性、专业性、独特性.● 实现品质部完善电子智能门锁使用寿命型式测试检测；● 实现研发部完善电子智能门锁新产品设计阶段验证使用寿命测试；1、整机外形尺寸：长（1100mm - 1400mm），宽（1100mm - 1400mm），高（2100mm - 2500mm）；2、模拟门的门框尺寸：长（2000mm - 2400mm），宽（1000mm - 1300mm），注：2100mm * 1100mm（欧洲标准） 3、模拟门重：100KG 4、支持可调（配砝码）模拟门的可调门重（100KG - 200KG）；5、模拟门重时，模拟门垂直变形值≤5mm；6、工作环境温湿度：温度在-10℃～40℃之间，湿度≤85%RH；7、设备整机工作电压：220VAC；8、设备整机额定功耗：≤800W；9、供气输入标准气压：0.25-0.6MPa；10、测试工位：单工位；11、模拟门开门方向：右内开；12、方便实现门锁的顺、逆时针旋转开启；13、测试步骤支持编程步数：≥15步；14、支持指纹（半导体、光学）开锁验证；15、支持密码开锁验证；16、支持刷卡（标准卡、异形卡）开锁验证；17、支持机械钥匙开锁验证；18、支持2组不同开锁密码验证输入；19、支持两组验证方式（指纹、密码、刷卡）组合验证开锁；20、支持密码键盘位数：≤12位；21、支持输入密码位数：≥8位，≤32位；22、支持前面板滑盖推拉动作；23、测试工作频率（指纹、密码、刷卡、机械钥匙）：5 - 15次/分钟；24、每个测试工位通过电机控驱动XY轴方向两条进口丝杆行走；25、按压密码，按压指纹，靠近卡片通过气缸输出对应动作；26、支持寿命测试值：25万次 - 50万次；27、执手开门扭力、扭矩（KN）：0-44NM；28、钥匙开门扭力、扭矩（KN）：0-2NM；29、斜舌侧向力（关门）：每工位可各自带10N、25N、50N及120N载荷(欧州标准)；30、开启门的距离为到200±5mm，采用气缸作用力在把手上的推开门的开门方式；31、支持更换不同测试夹具，zhichiceshi不同型号的产品；32、系统采用电阻屏输入，屏幕尺寸≥7英寸，分辨率不小于1024*600；33、支持屏显当前测试数；34、支持上提把手动作；35、采用烤漆的整机表面处理；36、采用电镀的夹具表面处理；1、酒店锁测试流程：①、旋钮旋转打出打出方舌；②、靠卡；③、下压把手；④、模拟门移动开门，松开把手并移动模拟门关门； 2、指纹锁测试流程：①、上提外把手打出方舌；②、门内保险钮打出保险舌；③、拉滑盖上电；④、按压指纹；⑤、下压把手；⑥、移动模拟门开门；⑦、把手复位,移动模拟门关门；3、密码锁测试流程：①、上提外把手打出方舌；②、门内保险钮打出保险舌；③、拉滑盖上电；④、按压密码；⑤、下压把手；⑥、移动模拟门开门；⑦、把手复位，移动模拟门关门； 4、指纹锁（卡）+密码测试流程(组合方式可以置换)：①、上提外把手打出方舌；②、门内保险钮打出保险舌；③、拉滑盖上电或按指纹窗按键或同时多个按键上电；④、按压,移动模拟门关门指纹；⑤、按密码；⑥、下压把手；⑦、移动模拟门开门；⑧、把手复位；5、钥匙、遥控、手机等其它开锁功能，均可通用在以上的几种模式中进行测试。

EzTime-PL 同步可调制半导体激光器-------上转换荧光寿命测试仪◆ 替代OPO，提供大功率，宽波长范围激发波长选择；◆ 波长选择范围：405nm-2200nm；◆ 可实现连续输出和脉冲输出模式；◆ 输出脉宽独立可调；◆ 闪烁频率独立可调；◆ 幅值功率独立可调；☆ 上转换荧光光谱激发；☆ 上转换荧光寿命激发；☆ 微弱样品微秒寿命激发；☆ 防伪及刑侦光源；☆ 荧光标记筛选；☆ 单态氧发光光谱及寿命； ☆ 脉宽—-颜色受控样品表征；应用一：上转换荧光光谱及寿命，980nm 激光器激发；应用二：单态氧发光光谱动态及寿命，405nm 激光器激发；可以匹配已有市场的大部分型号荧光谱仪： 配合 HORIBA 荧光寿命测试系统，EDI FLS系列荧光寿命测试系统； TCPSC 系统中的 MCS 测试模式或磷光测试模式，获得荧光衰减曲线、时间分辨发射谱TRES和延迟荧光光谱；控制器部分1. 荧光寿命测试范围： 1us -10s ；2. 受控输出信号闪烁频率（0.01 -1kHz），可以实现的完全受控同步；3. 主动信号输出：0.1Hz-100kHz；带同步输出端口；4. 独立输出信号脉宽调整 ：25ns -500ms 无级可调；5. 电信号 拖尾小于1ns（外接 50 Ω电阻） ；激光器部分6. 半导体 激光器，额定功率2W，功率可调输出，1 -5W 可选7. 激光器 连续输出稳定性，＜ 2%，依赖于不同激发波长；8. 激光器 可选开放式平行光输出或线端口；可选波长：375-2200nm（请咨询 销售工程师更新列表）

hast老化试验箱 加速寿命测试箱供应技术参数1.1 设定温度: +100 ℃ ～ +147 ℃( 蒸气温度 )1.2 湿度范围: 60~100 % 蒸气湿度1.3湿度控制稳定度：±3%RH1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)1.4 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr1.5 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 约 45 分1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃1.7 温度显示精度：0.1℃1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg1.9 湿度分布均度：±3%RHhast老化试验箱 加速寿命测试箱供应特点：1．具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。2．试验过程自动运转至完成结束，使用简便。3．温度控制：LED数字型温度控制器可作准确试验温度之设定、控制及显示。4．箱定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。5．准确的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。6．运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。7．一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。8．内经抛光处理经久耐用美观不沾污。hast老化试验箱 加速寿命测试箱-保护装置误操作安全装置：hast老化测试箱厂家锅门若未关紧则机器无法启动；超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压；超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；手动安全保护排压伐

介子寿命测试仪实验装置 &ldquo 赶超&rdquo 的宇宙射线测量&mu 介子的寿命证明相对论时间膨胀测量本地&mu 子通量测量海平面高度&mu 子荷比来源方便，真正的随机数创建模拟&ldquo 介子&rdquo ，并测量他们的一生光电倍增信号处理研究&mu 介子是一种自然的基本粒子。它的发现在1937年由卡尔· 安德森标志着一个激进出发在物理学家的理解物质的积木。虽然这是第一次分配理论的核力量，这是不正确的地方，它现在被理解为粒子轻子家族中的重要成员。我司制成的第一个商业教学仪器的学生，以确定其物理特性。 &mu 介子是产生丰富地在地球大气层的宇宙射线和大气中的空气分子之间的相互作用，和其在海平面的磁通足以为学生的调查。我们的设备，使用常见的核物理和粒子物理实验技术可以测量&mu 介子的寿命。的停止率&mu 子，作为深度的函数，在大气中，可以用作特殊相对论的时间膨胀效应的示范。由于个别放射性粒子的衰减时间是随机分布的，它们是真正的随机数的一个方便的来源。这些可以被用来证明常见的概率分布。 仪器可实现功能：1/测量&mu 子寿命 2/测量本地&mu 子通量3/测量海平面介子电荷比 4/证明相对论时间膨胀5/方便真正的随机数源 6/无障碍学生分析的原始数据 Introduction"Catching" Cosmic RaysMeasure Muon LifetimeDemonstrate Relativistic Time DilationMeasure Local Muon FluxMeasure Sea Level Muon Charge RatioConvenient Source of Genuinely Random NumbersCreate Simulated "Muons" and Measure their LifetimeStudy Processing of Photomultiplier SignalThe muon is one of Nature&rsquo s fundamental particles. Its discovery in 1937 by Carl Anderson marked a radical departure in physicists' understanding of the building blocks of matter. Although it was first assigned a place in theory of nuclear forces which was incorrect, it is now understood to be an important member of the lepton family of particles. TeachSpin, in collaboration with Thomas Coan and Jingbo Ye of Southern Methodist University, has made the first commercial teaching instrument for students to determine some of its physical characteristics.The muon is produced copiously in Earth&rsquo s atmosphere by interactions between cosmic rays and atmospheric air molecules, and its flux at sea level is sufficient for student investigations. The muon&rsquo s lifetime can be measured with our apparatus using experimental techniques common to nuclear and particle physics. The stopping rate of muons, as a function of depth in the atmosphere, can be used as a demonstration of the time dilation effect of special relativity. Since the decay times of individual radioactive particles are randomly distributed, they are a convenient source of genuinely random numbers. These can be used to demonstrate common probability distributions.With this new TeachSpin Apparatus You Can:&bull Measure Muon Lifetime&bull Measure Local Muon flux&bull Measure Sea-level Muon Charge Ratio&bull Demonstrate Relativistic Time Dilation&bull Convenient Source of Genuinely Random Numbers&bull Raw Data Accessible for Student Analysi

QJPLA-5测试按键寿命次数试验机应用于开关类的按键寿命次数试验，任意控制和设定；1、规格型号：QJPLA-5 八工位2、测试速度：1-360次/分 （速度任意可调）3、测试压力：50g、100g、200g、300g砝码4、上下测试行程：10mm5、测试台尺寸：80*80mm6、测试行程：50mm（可调）7、导电测试功能：按键破坏不导电时自动停机8、冲击运动方式： 上下压缩机构采直线轴承运动，定位9、计数器次数： 可设8位数--99999999次自动停机10、测试杆固定装置可调范围：0-150mm11、电压:220V 50HZ测试按键寿命次数试验机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

供应直流继电器寿命测试实验装置产品特点 ：■继电器寿命测试：大到1000A、1200Vdc直流电流下，连续地对继电器进行开、关切换电寿命试验，验证继电器能工作多少次；■手动维修单元MSD、高压连接器和高压分配单元BDU/PDU带载试验验证；■电源长期连续工作输出，输出电压0-1200VDC连续可调、输出电流0-1000A连续可调；■通过事先设置实际通电的时间和断电的时间，设置单次保护的通电时间和断电时间，达到故障保护的目的。例如：试验的方案是电压500V、电流400A，运行时通电1S，断电20S，那么在开始运行前就设置该值。同时希望在试验时如果通电的时间超过了0.3S，则设备马上启动保护，电源停止运行；另外，如果当断电时间超过20.3S，则设备马上启动保护，电源停止运行；■具有恒压、恒流、恒功率模式输出，可自动交叉变换，维持控制与保护兼顾特性；运行时电压和电流不能超过设置值，当实际运行电压和电流达到设置值时电源良好运行。当电压或电流的运行电压达到高值时相对应的电流或电压值不能达到设定值，那么电流或电压值可以低于设定值运行，同时电源报警提示； ■测试系统内置可编程直流辅助电源装置（电压0-120VDC连续可调，电流0-20A 连续可调，通、断频率可调，具有计数功能，2组），用于被测件输入端，使被测试继电器等被测件与电源输出系统实现不同的测试方案：电源由计算机控制，试验电压、试验电流、通电时间、断电时间、动作次数、通电保护延时时间、断电保护延时时间等参数都通过计算机设置并控制。还可以设置被试品的台数，被试品的编号，每台产品测试的时间间隔（间隔时间小于等于通电时间和断电时间之和时无法设置，提示更改）。设置范围：试验电压0~1000V，试验电流0~600A，通电时间0~8h（时间选择ms、S、min、h）、断电时间0~1h（时间选择ms、S、min、h）、动作次数1~10万次、通电保护延时时间0~100S、断电保护延时时间0~100S、台数1~50，每台的时间间隔0~8h（时间选择ms、S、min、h），■对负载回路进行工作情况监控,监控时间点可以设置,记录通断次数及各失效对应的次数。如吸合信号发出100ms(时间可设定）检测继电器如果没有闭合判断吸合失效,释放信号发出100ms(时间可设定）后检测继电器没有断开判断粘接失效；■测试系统每次接入的被试品为1-20台(根据客户要求订制），程序控制被试品的线圈一台动作结束后下一台接着动作，1-20台结束后开始下一轮测试。原先的通电超时断电超时等保护功能仍然需要，最多为20台，相邻两台被试品测试间隔时间≥0.5S（间隔时间可设定或者手动确定），可以选择一台或者几台轮流工作；故障品有报?警提示功能，需人工确定是否继续试验，如未选择是否继续则该被测品一直处于停止试验；■动作次序：设置的产品每个动作循环内部逐台动作，所有产品动作结束后又开始下一个动作循环。每一个大循环产品计数一次。线圈控制电源的断开和闭合无上升或下降延时，瞬时完成；动作次序如下表（以8台试品为例）■当relay失效时, 负载回路带自动停止开关功能切断电源；■具有机械计数（可以复零）功能；■预留检验接口：校验接口接至操控台上，可以用检测及校验输出电压，也可以用示波器监测电压；■电源具有停机报警功能；■设备自身带过热和过载等保护，保护设备自身安全。系统配置：序号设备名称明细备注1测试系统柜1、IPATS 3000系统自动测试软件详细方案请联系销售人员2、19寸标准系统柜、工业电脑、显示器3、系统控制单元4、残余电流测试仪、绝缘阻抗测试仪5、RS 232 / GPIB扩展卡及其他配件2功率分析仪四通道以上3数字示波器带高压探头4防孤岛测试负载IP- RLC系列防孤岛测试负载5电网模拟器ALC 5000系列回馈式电网模拟器6太阳能电池模拟器SIS 1000 系列太阳能电池阵列模拟器

双工位锁具全套寿命试验机 锁具锁芯开锁闭合寿命试验机专业生产测试锁具的插拔旋转测试 锁具疲劳实验机 锁具旋转测试仪锁具寿命测试机专为检测模拟锁具的锁芯开锁提手手柄使用寿命而设计，，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求，直接在操作屏幕上面输入旋转角度等参数，达到设定次数后机器自动停机。一. 钥匙插拔扭转寿命测试机 钥匙插拔扭转寿命检测仪 钥匙扭转仪工位：二个工位； 四、 锁具疲劳检测设备、专业生产控制方式：触摸屏加PLC程序控制；五、 双工位锁具全套寿命试验机 锁具锁芯开锁闭合寿命试验机专业生产角度：0度到90度之内任意设定；六、 测试次数：0-999999内设定；七、 测试速度：0-60分每秒可调；八、 驱动电机：步进电机；九、 旋转空间：电机旋转中心到平台高度保证100mm以上十、 台面材质：纯铝氧化处理十一、 固定治具：可调式固定治具十二、 导轨：精密进口导轨十三、 工作电源：AC220V、50HZ钥匙插拔扭转寿命测试机 钥匙插拔扭转寿命检测仪 钥匙扭转仪本公司所有产品全为铝制品，所有铝都经氧化外表美观轻巧，经久耐用永不生锈。本公司所有产品全为铝制品，所有铝都经氧化外表美观轻巧，经久耐用永不生锈。来对了，找到真正的和有实力的生产厂家帮您省钱！我们销售的每台仪器设备都是经过严格的检查及出货，产品质量能够得到限度的保障，不会出现以次充好或者销售有瑕疵的产品，购买我们的机器追求的就是超高的性价比，您购买的不光是产品本身，还有针对产品提供的专业服务和质量保障。选择“达标仪器”品牌是您***对的选择！

1总体要求： 1.1满足标准：智能电子锁寿命耐久性测试装置完全满足GA 374-2001 电子防盗锁，GA 701-2007 指纹防盗锁通用技术条件，GB 21556-2008 锁具安全通用技术条件，JG/T 394-2012，IEC 62692 数字门锁系统标准，UL294门禁系统，、UL1037，BHMA A156.25，BHMA A156.13，BHMA A156.36等相关标准试验要求。1.2智能电子锁寿命耐久性测试装置用于对电子防盗锁等产品进行 APP 临时密匙开门、指纹开门、钥匙开门、蓝牙开门、密码开门，磁卡开门等模拟用途行为测试。2.配置要求：智能电子锁寿命耐久性测试装置采用当前先进的 DELTA六轴机器人作为驱动模拟，还原实际开锁场景，机械手臂整个结构为空间关节型，具有多个自由度，能对被测电子 锁实现精确定位。机械手臂采用硬铝合金材料制成，为空心管件结构，这样既可保证 手臂有较高的刚度，也可降低手臂的重量，减小电机的负载。控制系统由 PLC 设定与 控制伺服电机的动作时序，并兼有计时、计数功能，由机械手臂的感应开关来检测各个工作点的状态，并判断试样电子锁具的好坏，从而作出相应的处理。 3.技术要求3.1测试工位：可根据客户要求测试一把或多把电子锁。 3.2系统测试驱动：工作方式采用六轴机器人操作，灵动自由，触手可及，可配合传感器、深度学习，进行电子锁三维动作的检测作业。六轴机器人最da负载：≤6Kg；最da工作半径（臂长）：700 mm；重复定位精度：±0.02 mms；节拍周期：25/305/25，安装方式：正装，壁装，倒装；运动范围：J1~J6：±170°，±110°，±136°,±185°，±120°，±360°s ；各轴最da速度J1~J6：±384°，±240°，±336°,±441°，±450°，±720s；手腕容许最da惯性力矩0.3 kg?m，0.3 kg?m，0.1 kg?s ；手臂末端I/O输入：6，输出： 900 mm，基座面板I/O输入：6，输出：5s(可扩展) ，额定电压220 V a.c. 50/60 Hz额定功率1.5 kW 。3.2测试指纹膜：用于代替手指解锁指纹，硅胶材质，标配不少于3套不同指纹膜（模拟用户指纹），指纹膜寿命周期约为3000次（耗材）。3.7电子智能锁安装夹具：钢制烤漆，固定底盘上下左右可调节，能实现门锁的顺、逆时针旋转开启，安装试样时位置调整方便。 3.8测试次数：0～99999999次可预设。3.9测试频率：0～20次/min。3.10控制及操作：PLC智能程序+TFT液晶触摸屏操作（配工控机控制）。3.11设备电源：AC220V 50/60 Hz。4.设备技术特点： 4.1利用伺服电机作为传动动力源；4.2采用 DELTA 六轴机器人多维度运转，可真实的模拟人的手臂、手指动作；4.3利用高弹性硅胶指纹膜代替手指解锁指纹，指纹范围广泛，更具真实模拟效应；4.4将各种类别的防盗电子锁、智能电子锁、指纹锁等产品均可在一套系统上分别进行实验； 4.5系统可 24h 全天候对试样进行测试，无需人工值守，极大的提高检测效率；4.6具有断电保护功能，上电后不需人工干预可继续试验；4.7可对开关实验进行次数记录和时间记录；4.8具有实验次数预置和实验时间预置功能；4.9具有实验完成和出错报警功能；4.10一次性投入，后期维护费用低，终身免费软件升级，降低了实验的检测成本；4.11 设备主要部件，如驱动电机、触摸屏、PLC、变频器、力值传感器、数据采集卡等关键部件均应采用国际知名品牌，以提高设备的档次及可靠性， 满足有关试 验等的要求；4.12设备电压、电流，温度，力值、频率等各项技术参数精度要求符合 CTL-251B 的要求；4.13. 售后服务：设备具有完善的售后服务，整机质保一年；能提供快捷优质的技术服务及备用零件、易耗品的供应；提供电话咨询及远程技术指导服务， 免费进行软件的升级服务。