漏电钳形表

在电工师傅的日常工作中，钳形表算是一款“出场率”非常高的电气测试工具了。其是检测运行中交流电路电流最常用的一种仪表，因为在测量时不用断开被测量电路，所以使用起来很方便。那么，你知道如何挑选最适合自己的钳形表吗？钳形表的优势和用途大多数钳形表都具有数字万用表（DMM）的一线电气诊断测试功能，也可以连接到电路，使用测试引线测量电压、电流、频率、电容、温度和电阻（以及连续的测试电路中以查看电路中是否有故障或缺失等）。它还多一套专用的各种尺寸的弹簧式钳口，可以夹在电线或母线周围，以进行非侵入式电流测量。钳形表通常测量常见的交流和直流电流。测量交流电的钳形表主要用于公共用电，测量直流电的钳形表主要用于测量工业的交直流转换电动机，还有测量电池直流供电源，以及测量电动汽车系统使用的直流电源和测量太阳能阵列直流电池。虽然万用表可以使用测试引线获得高达10A的接触式安培读数，但钳形表可以在高达3000A的范围内提供更安全、无损的电流读数。有一些钳形表是单一用途的纯电流表，用其他功能换取更小的钳口、更高分辨率的读数、更高的灵敏度和整体紧凑的袖珍型设计。其他的钳形表还会有一个“柔性夹”柔性环代替钳口。长而柔韧的环可以手动缠绕在机柜中拥挤的电缆周围，而使用刚性钳口可能很难接近。柔性钳形表可轻松缠绕电线或母线还有一些高质量的钳形表，可为更具挑战性的工作提供更好的精度，“真等效有效值”（均方根）钳位可以在电流波形为正弦波或非正弦波的情况下测得更为精确的等效直流有效值。当导线捆绑在一起时，导线间的由于电流的感应耦合会导致杂散（或“重影”）电压，导致读数不准确，使用“LoZ”模式可以消除误差。工业现场如果使用变频器驱动的设备（VFDs），可以使用低通滤波模式“Lo-Pass”来改善测量精度。部分型号的钳形表还使用内置的指向式非接触式红外测温仪测量温度（点温枪）。也有些使用双热电偶输入来计算温差（“Δ-T”），这对于暖通空调/制冷工程的工作是必不可少的。双热电偶探头输入提供对Δ-T的一键访问带蓝牙® 或METERLiNK的高级钳形表甚至可以通过远程查看应用程序，将读数流式传输到移动设备，以实现更安全的远程监控。钳形表的应用场景首先，检查钳形表的过电压类别标称（简称“CAT”），看看它可以在哪里使用。CAT II 仪表可用于插入式设备和电器，而CAT III 仪表可用于建筑物内的固定布线。最稳固的类别，CAT IV，用于公用事业公司的服务面板和低压户外布线。为了安全起见，应始终考虑潜在的工作需求，并选择最佳CAT标称评级。钳形表可以测量电路布线和设备上的电流负载，包括电机、泵、照明、传感器和开关等。从DIY工具箱到工业维护工具车，它们随处可见。内置工作灯照亮黑暗的作业现场在日常生活，钳形表的应用非常普遍，比如一般人会用它来检测汽车电气、家用电器、照明和房屋周围的电线；电气承包商将它用于新的安装和维修；暖通空调和制冷技术人员使用它来测试系统中的电气组件；在工业厂房中，预测性维护技术人员使用它特殊的钳口来确保设备继续工作。你还能想到哪些应用场景呢？欢迎来补充~如何挑选合适的钳形表？如何选择功能最符合您工作需求的钳形表？首先要明确您的第一需求，不同钳形表可满足的不一样的工作需求。比如真有效值600 A光伏钳形表——FLIR CM65，其能快速连接MC4测试引线，使测量太阳能电板组和逆变器上的直流电压更安全、更准确、更容易执行；FLIR CM57-2柔性钳形表，是一款专门针对复杂的电流测量而设计，是成束导线测量和满足双绕要求导线的理想选择。菲力尔还有多款高品质钳形表，你最需要哪一款呢？FLIR CM65FLIR CM57-2菲力尔的各款钳形表功能强大，能搞定绝大部分测量非接触式测量安全可靠除了一些基本功能不同型号的产品还有不一样的侧重点

高压漏电起痕试验机的测试原理是什么？实验原理：漏电起痕试验是在固体绝缘材料表面上，在规定尺寸（2mm×5mm） 的铂电极之间，-施加某一电压并定时（30s）定高度（35mm）滴下规定液滴体积的导电液体（0.1%NH 4CL），用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能，测定其相比电痕化指数（CT1） 和耐电痕化指数（PT1） 。主要配件 序号型号产地1箱体(可选不锈钢箱体)宝钢A3钢板,喷塑2变压器浙江二变3调压器正泰4继电器及底座正泰5漏电保护器正泰6按钮正泰7计时器欧姆龙8短路电流智能表上海9温控器日本欧姆龙10导线上海启帆11计数器欧姆龙12无线控制器上海埃微自主研发13电磁阀亚德克在操作过程中要注意的事项：1、在操作过程中，人员应该注意个人防护，避免漏电受伤或被溶液沾染到口、眼部位造成伤害2、输入电源AC220±2%。3、排气管应通出窗外。4、在对样品进行时,请勿打开仓门,待试验完之后或当实验失效产生火烟时，先打开风扇排除烟雾后，再打开仓门进行作业。5、实验前须确认设备是否在计量有效期内，如超期则不能进行实验6、电源应用有地线的三极插座，保证接地可靠。主要技术指标：1） 空气环境：0~40°C；2） 相对湿度：≤80%；3） 无明显振动及腐蚀性气体的场所；4） 工作电压：AC220V±2% 50HZ±1%，1KVA；5） 试验电压：100~600V连续可调数显，电压表显示值误差：1.5%，显示值为:r.m.s；6） 延时电路：试验回路在（0.5±10%）A（r.m.s）或更大电流时延时（2±10%）S后动作；电极：a: 5㎜×2㎜矩形铂金电极和黄铜电极各一对；b: 电极尺寸要求：（5±0.1）㎜×（2±0.1）㎜×（≥12）㎜,其中一端凿尖角度为（30±2）°（即试验端呈30°±2°斜角）,凿尖平面宽度为0.01㎜~0.1㎜；c: 电极间所成角度为60°±5°,间距为（4±0.1㎜）；d: 对样品压力为:1.00N±0.05N；7） 滴液系统：a: （30±5）秒（开启滴液时间28S+开启滴液持续时间2S）自动计数、数显（可预置），50滴时间：（24.5±2）min b: 滴液针嘴到样品表面高度:35㎜±5㎜（附一个量规作测量参考） c: 滴液重量:20滴:0.380g~0.489g 50滴:0.997g~1.147g 8） 短路电流：两电极短路时的电流可调至（1±0.1）A,数显±1%,电流表显示值为有效值（r.m.s） 9） 仪器外形尺寸（宽*高*深）1100*1150*550㎜（0.5立方）；700*385*1000㎜（0.1立方）；10） 箱体由1.2厚的304不锈钢板制成，可订制0.75立方；11） 样品支撑平板：厚度≥4㎜的玻璃；12） 针嘴外径：A溶液：0.9㎜~1.2㎜B溶液: 0.9㎜~3.45㎜13） 滴液大小根据滴液系统而定；14） 风速：0.2M/S。产品特点：1、 本仪器支持5路试样同时进行试验，每路都有独立的控制系统进行控制2、 本仪器核心控制系统由西门子PLC控制，通过光电隔离方式进行采集电压和电流，有效解决抗干扰问题使数据采集保持稳定3、 本仪器显示部分是9寸触摸屏，操作方便，数据显示直观，能够实时显示每个试样的泄露电流4、 可以自由设定泄露电流数值，当实验中的电流超过设定电流值时，能够提示报警，并切断高压电源，并不影响其它试样继续做试验5、 滴液流量大小可根据实际需求自由设定6、 通过手动旋钮顺时针调到指定试验电压。7、 可以手动自由设定试验时间8、 本仪器具有排风和照明功能漏电起痕试验仪是IEC60112 ： 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》是按GB4207、IEC60112等标准要求设计制造的专用检测仪器，适用于对电工电子产品、家用电器的固体绝缘材料及其产品模拟在潮湿条件下相比漏电起痕指数和耐漏电起痕指数的测定，具有简便、准确、可靠、实用等特点。满足标准：GB/T6553-2003 及 IEC60587：1984《评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐电痕化和蚀损的试验方法》GB_T3048.7-2007电线电缆电性能试验方法_第07部分：耐电痕试验漏电起痕试验仪是IEC60112 ： 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》

8月13日，杭州市萧山区宁围镇好立方连锁超市前，发生了空调漏电致人死亡的惨剧，遇难者为一位10岁男童。事发后，经空调品牌销售方同意，作为空调的使用方，8月20日，好立方超市委托第三方浙江省质量技术监督检测研究院对空调漏电情况进行了检测，9月3日，该检测报告正式出炉。 　　通过有关渠道获悉的检测报告显示，就技术分析形成了四个结论，其中就此次事件中的志高空调，该检测报告认为，志高空调外机电阻为零，外机机壳电压达到100V，并能点亮220V-40W的白炽灯，泄漏电流在70mA以上，大大超过人体30mA摆脱电流。并通过活鸡试验证明，志高空调外机外壳带电电压能在短时间内将活鸡电击致死。 　　《21世纪经济报道》援引目击者称，当天的现场检测结果显示，志高空调在活鸡通电试验中，活鸡只经过短短8秒钟，就过电死亡，其中另一人士则称，“现场检测显示，志高的空调最高漏电有147V”。 　　检测报告因此认为，现场不符合GB4706-1国家标准中的相关电气安全性能要求，同时该产品存在严重电气安全缺陷。该检测报告还认为，志高空调开机运行时，其外壳超过100V以上的电压，是造成本次事故的直接原因 同时，志高空调外机电源插头内接地线悬空，不符合GB4706-1国家标准的相关要求，失去接地线保护功能。 　　该检测报告最后下鉴定结论称，志高空调外机机壳带电，泄露电流超标，存在严重的电气安全隐患，直接导致事故发生。 　　对于此检测报告，志高发言人接受港媒查询时，表示公司对事件检测报告有异议，将另聘机构检测，暂亦不会停售产品。 　　志高公司秘书梁汉文表示，公司对检测报告有异议，故亦未有签署。他指出，最初相关机构指事件与志高无关，但后来又将矛头指向志高，是前后矛盾，并且认为其采用的活鸡测试方法并不标准，故公司将另外委托一间或多间国家权威机构作检测。他又强调，公司产品一直全数依照国家标准制造，公司对产品有信心，并指是次只是个别事件，暂时亦无其它个案，故不会考虑停售，但如有客户要求公司作出检测，公司亦乐意提供协助。

恒温油浴使用时必须先将油加入锅内，再接通电源。数字温度控制表显示实际测量温度，调节旋钮开关，同时观察读数至所需设定温度值。当设定温度值超过油的温度时，加热指示灯亮，表明加热器已开始工作。当油的温度达到您所需的温度时，恒温指示灯亮，加热指示灯熄灭。应注意锅内的油不能使用电热管露出油面，以免烧坏电热管，造成漏电现象。　　其实，不一定非要用水和油，只要有固定沸点的物质都可以用，只是水和油比较常见。锅都是相同的，只是添加的传热介质不同。如果温度不要求高于100摄氏度，就加入水；如果要求高于100摄氏度，就要用一些高沸点的介质，如导热油。

记者日前从中国航天科工集团公司二院获悉，该院207所自主研发的紫外成像漏电检测仪近日正式面世并投入市场。该产品可为高压设备的运行评估和维修决策提供可靠依据。　　紫外成像漏电检测技术是近年新兴的一种远距离检测高压线路、输电设备状态的新技术，它主要通过检测电力高压设备电场发射的紫外线，发现引起电场异常的设备缺陷，观察放电情况并判断危害。　　207所研制的这款紫外漏电检测仪，将紫外和可见光技术结合形成融合图像，可快速发现、精确定位漏电位置。该产品还创造性地搭载无人机平台，适合对远距离、大范围的高压输电线进行空中巡检，在电力系统、高铁等领域有广泛应用前景。

鼎阳科技、创远仪器、优利德3家上市仪器企业均为电子测试测量仪器领域内重量级企业，但业务侧重点各有不同。仪器信息网根据已发布2021年财报，对3家企业从主营业务/产品、电子测试测量仪器业务营收占比及毛利率、国内外营收占比等方面进行整理分析，以期更加深入洞悉电子测试测量仪器领域的市场情况。三家电子测试测量仪器领域上市企业主营业务企业名称仪器相关主营业务鼎阳科技数字示波器、波形和信号发生器、频谱和矢量网络分析仪创远仪器信号分析与频谱分析系列、信号模拟与信号发生系列、无线电监测与北斗导航测试系列、矢量网络分析系列、无线网络测试与信道模拟系列优利德电子电工测试仪表、测试仪器、温度及环境测试仪表、电力及高压测试仪表、测绘测量仪表3家企业主营业务中电子测试测量仪器均占据核心地位。据财报披露，鼎阳科技公司公司及其子公司主要行业属于仪器仪表制造业，主要经营活动包括从事数字示波器、信号发生器、频谱分析仪、矢量网络分析仪、电源、万用表、电子负载等通用电子测试测量仪器及相关解决方案的设计、研发，制造和销售，经营进出口业务，其中数字示波器、信号发生器、频谱分析仪和矢量网络分析仪是其四大主力产品。创远仪器重点专注于无线通信网络运营测试、无线电监测和北斗导航测试、无线通信智能制造测试等三个方向，主营产品包括信号分析与频谱分析系列、信号模拟与信号发生系列、无线电监测与北斗导航测试系列、矢量网络分析系列和无线网络测试与信道模拟系列。优利德主营业务为测试测量仪器仪表的研发、生产和销售，通过自主品牌业务和 ODM 相结合的方式，向境内外客户提供测试测量仪器仪表产品，主营业务包括电子电工测试仪表、测试仪器、温度及环境测试仪表、电力及高压测试仪表、测绘测量仪表。其中，电子电工测试仪表产品包括数字万用表、数字钳形表、电压及连续性测试仪、测电笔网络寻线仪等；测试仪器产品包括实验系统综合测试平台、示波器、信号发生器、频谱分析仪、电源负载和电子元器件测试仪等；温度及环境测试仪表产品包括红外热成像仪、红外测温仪及环境测试仪表等；电力及高压测试仪表产品包括绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪、电气综合测试仪、电能质量分析仪、钳形谐波功率计、漏电保护开关测试仪等；测绘测量仪表产品包括激光测距仪、激光水平仪及其它测绘测量产品等。图1 三家企业电子测试测量业务营收财报显示，鼎阳科技的业务以通用电子测试测量仪器为主，产品分为四大主力产品和其它产品。2021年，鼎阳科技实现主营业务收入29,659.06万元，同比增长36.15%，主要是各档次产品销量增长，以及高端产品销售占比大幅提升带来的销售结构优化引起。优利德司主营业务包括电子电工测试仪表、测试仪器、温度及环境测试仪表、电力及高压测试仪表、测绘测量仪表。2021年，实现营业收入 84,214.71 万元，同比下降 4.9%。其中测试仪器业务收入93,545,544元，同比增长31.24%。其总营收下跌主要是由于其温度及环境测试仪表营收下跌所致。创远仪器实现营业收入 42,142.3万元，较上年同期增长38.40%。其中，主营业务信号分析与频谱分析系列、信号模拟与信号发生系列、无线电监测与北斗导航测试系列、矢量网络分析系列和无线网络测试与信道模拟系列实现营业收入42,010.11万元。值得注意的是，创远仪器营业外收入 5,814,464.71 元，较上年同期增长 239.48%，主要原因是公司北交所上市补贴增加所致。图2 三家企业电子测试测量业务毛利率对比毛利率的对比分析可以反映出产品获利能力的相对强弱程度，3家企业按毛利率高低排序为鼎阳科技、创远仪器、优利德，分别为56.86%、42.61%、26.56%。鼎阳科技发生主营业务成本12,793.78 万元，同比增长 37.18%；毛利率较上年同期减少 0.32个百分点，略低于上年同期，主要是产品高端化带来的毛利率提升效果不足以抵消原材料价格上涨的影响所致。优利德的测试仪器业务成本6,870.25万元，同比增长31.78%；毛利率较上年同期减少0.30个百分点，略低于上年同期，毛利率降低的主要原因是：1、美元贬值导致出口产品的毛利率下降；2、电子元器件价格的增长，导致采购成本增长。创远仪器五大仪器业务，信号分析与频谱分析系列、信号模拟与信号发生系列、无线电监测与北斗导航测试系列、矢量网络分析系列、无线网络测试与信道模拟系列的毛利率分别为47.66%、46.04%、44.43%、42.82%、45.43%。整体来看，创远仪器毛利率相比于上年同期略有下降。图3 三家企业营收国内外占比鼎阳科技、优利德、创远仪器国外营收分别为2.16亿、4.60亿、0.09亿。从国内外营收占比来看，很明显，鼎阳科技的主要市场在国外，国外市场营收占比72.84%，主要以美元和欧元结算。鼎阳科技在海外的营收主要来自其海外的子公司，其美国全资子公司Siglent Technologies NA, Inc.实现营业收入 5,515.14 万元，净利润 1,342.98 万元；德国全资子公司Siglent Technologies Germany GmbH实现营业收入 6,717.11 万元，净利润-133.89 万元。此外，因人民币汇率波动2021年鼎阳科技汇兑损失为 498.24 万元。优利德国内外营收各占一半，其境外销售业务以美元结算为主，子公司香港优利德的记账本位币为港币。优利德国内销售以“UNI-T”品牌产品为主，外销业务以 ODM和“UNI-T”自有品牌销售相结合的方式开展。优利德的境外销售的毛利率较去年减少4.46 个百分点，主要原因为美元贬值。创远仪器的主要经营位于中国境内，其境外经营实体为创远仪器印度私人有限公司，主要经营地为印度，国外市场营收仅占2%。值得注意的是，另一家实力强大的电子测试测量仪器企业——电科思仪已于2021年12月24日在青岛证监局进行辅导备案登。电科思仪成立时间较久，人员和技术实力雄厚，是国产电子测量仪器的主力军。2022年5月8日，电科思仪面向全球发布思仪“天衡星”系列高端电子测量仪器，涵盖了信号发生器、信号分析仪和矢量网络分析仪，备受业界瞩目，而这也为电子测试测量仪器市场带来了新的变数。

浅谈仪器仪表雷电防护的必要性 静电放电（ESD）和电快速瞬变脉冲群（EFT）X寸仪器仪表系统会产生不同程度的危害。静电放电在5 ~20tMHz的频率范围内产生强烈的射频辐射。 此辐射能量的峰值经常出现在35~45MHz之间发生自激振荡。许多信息传输电缆的谐振频率也通常在这个频率范围内，结果电缆中便串入了大量的静电放电辐射能量。电快速瞬变脉冲群也产生相当强的辐射发射，从而耦合到电缆和机壳线路。当电缆暴露在4 ~8kV静电放电环境中时，信息传输电缆终端负载上可以测量到的感应电压可达到600V这个电压远远超出了典型数字仪器仪表的门限电压值0~4V典型的感应脉冲持续时间大约为400ns仪器仪表在使用中经常会遇到意外的电压瞬变和浪涌，从而导致电子设备的损坏，损坏的原因是仪器仪表中的半导体器件（包括二极管、晶体管、可控硅和集成电路等）皮烧毁或击穿。据统计仪器仪表的故障有75%是由于瞬变和浪涌造成的。电压的瞬变和浪涌无处不在，电网、雷击、爆破，就连人在地毯上行走都会产生上万伏的静电感应电压，这些，都是仪器仪表的隐形致命杀手。因此，为了提高仪器仪表的可靠性和人体自身的安全性，必须对电压瞬变和浪涌采取防护措施。 防雷端口根据仪器仪表应用的工程实践，仪器仪表受雷击可大致分为直击雷、感应雷和传导雷。但不论以哪一种形式到达设备都可归纳为从以下4个部位侵入的雷电浪涌，在此把这些部位称为防雷端口，并以仪器仪表举例说明。 外壳端口比如说，我们可以把任何一个大的或小的仪器仪表或系统视为一个整体的外壳，如传感器、传输线、信号中断、现场仪表、DCS系统等，它们都有可能完全暴露在环境中受到直接雷击，造成设备损坏。 标准规定，当设备外壳受到4kV的雷电静电放电时，都会影响仪器仪表或系统的正常运行。例如放置于室外的传感器端子箱有可能受到雷电接触放电；位于机房内的DCS机柜有可能受到大楼立柱泄流时的空气放电。 信号线端口含天馈线、数据线、控制线等。 在控制系统中，为了实现信号或信息的传递总要有与外界连接的部位，如过程控制系统的信号交接端的总配线架、数据传输网的终端、微波设备到天线的馈线口等等，那么这些从外界接收信号或发射信号出去的接口都有可能受到雷电浪涌冲击。因为从楼外信号端口进来的浪涌往往通过长电缆，所以采用10/7（0Fs波形，标准规定线到线间浪涌电压为05kV，线到地间浪涌电压为1kV.而楼内仪器仪表之间传递信号的端口受到浪涌冲击相当于电源线上的浪涌冲击，采用1.2/50（8/20）Ms组合波，线到线、线到地浪涌电压限值不变。一旦超过限值，信号端口和端口后的设备有可能遭受损坏。 电源端口电源端口是分布最广泛也最容易感应或传导雷电浪的部位，从配电箱到电源插座这些电源端口可以处在任何位置。标准规定在L 2/50（8/20）Ms波形下线与线之间浪涌电压限值为Q 5kV线到地浪涌电压限制为1kV但这里的浪涌电压是指明工作电压为220V交流进入的，如果工作电压较低则不能以此为标准，电源线上受较小的浪涌冲击不一定立即损坏设备，但至少寿命有影响。 接地端口尽管在标准中没有专门提到接地端口的指标，实际上信息技术设备地端口是非常重要的。在雷电发生时接地端口有可能受到地电位反击、地电位升格地满□高影响，或者由于接地不良、接地不当使地阻过大达不到电位要求使设备损坏。接地端口不仅对接地电阻接地线极（长度、直径、材料）、接地方式、地网的设置等有要求，而且还与设备的电特性、工作频段、工作环境等有直接的关系。同时从接地端还有可能反击到直流电源端口损坏直流工作电压的设备。综上所述，信息技术设备的防雷可以考虑从四个关键的端口入手，如所示。 仪器仪表防雷的四个关键的端口，仪器仪表的端口保护外壳端口仪器仪表的外壳端口保护不仅仅是建筑物外壳，也应当包括某个设备的外壳或者某套系统的外壳，比如说机柜、计算机室等。按照EC 1312-1雷电电磁脉冲的防护第一部分（一般原则）的适用范围为：建筑物内或建筑物顶部仪器仪表系统有效的雷电防护系统的设计、安装、检查、维护。其保护方法主要有三种：接地、屏蔽及等电位连接。 接地EC1024-1已经阐述了建筑物防雷接地的方法，主要通过建筑物地下网状接地系统达到要求。仪器仪表系统防雷时还要求对相邻两建筑物之间通过的电力线，通信电缆均必须与建筑物接地系统连接起来（不能形成回路）以利用多条并行路径减少电缆中的电流。 仪器仪表系统的接地更应当注意系统的安全性和防止其它系统干扰。一般来说工作状态下仪器仪表系统接地不能直接和防雷地线相连，否则将有杂散电流进入仪器仪表系统引起信号干扰。正确的连接方式应当在地下将两个不同地网，通过放电器低压避雷器连接，使其在雷击状态下自动连通。 屏蔽从理论上考虑，屏蔽对仪器仪表外壳防雷是非常有效的。但从经济合理角度来看，还是应当从设备元器件抗扰度及对屏蔽效能的要求来选择不同的屏蔽方法。线路屏蔽，即在仪器仪表系统中采用屏蔽电缆已被广泛应用。但对于设备或系统的屏蔽需要视具体情况而定。EC提出了采用建筑物钢筋连到金属框架的措施举例。 表系统的主要电磁干扰源是由一次闪击时的几个雷击的瞬时电流造成的瞬态磁场。如果包含仪器仪表系统的建筑物或房间，用大空间屏蔽，通常在这样的措施下瞬时电场被减少到一个足够低的值。 等电位接连等电位连接的目的是减小仪器仪表之间和仪器仪表与金属部件之间的电位差。在防雷区的界面处的等电位连接要考虑建筑物内的仪器仪表系统，在那些对雷电电磁脉冲效应要求最小的地方，等电位连接带最好采用金属板，并多次与建筑物的钢筋连接或连接在其它屏蔽物的构件上。对于仪器仪表系统的外露导电物应建立等位连接网，原则上一个电位连接网不需要直接连在大地，但实际上所有等电位连接网都有通大地的连接。 信号线端口信号线端口保护现在已经有许多类型的较为成熟的保护器件，比如仪器仪表信号网络不同接口保护器、天馈线保护器、终端设备的保安单元等。在保护器选择时除了保护器本身的性能外，应该注意保护设备的传输速率、插入衰耗限值、驻波比、工作电压、工作电流等相关指标，如果在同一系统（或网络）使用多级保护还应该考虑相互配合问题。值得提出的是，当前由于商业因素，在同一网络中有过多使用保护器的倾向，其反而带来降低速率、增大衰耗、传输失真、信息丢失等问题。因此对某一网络的信号端口保护应在网络信号进出的交界面处安装合适的保护器即可。 在信号端口窜入的瞬态电流最容易损坏信号交换或转换单元及过程控制计算机，如主板、并行口、信号接口卡等。事实上瞬态电流或浪涌可能通过不同途径被引入到信号传输网络中，EEE 802-3以太网标准中列出了四种可能对网络造成威胁的情况。（1）局域网络元件和供电回路或受电影响的电路发生直接接触。（2）局域网电缆和元件上的静电效果。（3）高能量瞬态电流同局域网络系统耦合曲网络电缆附近的电缆引入）（4）彼此相连的网络元件的地线电压间有细小差别（例如两幢不同建筑的安全地线电压就有可能略有不同）。 以数据通信线为例，在R-232的串、并行口的标准中，用于泄放高能浪涌和故障电流的地线同数据信号的返回路径共享一条线路，而小至几十伏的瞬态电压都有可能通过这些串、并行口而毁坏计算机及打印机等设备，信号传输线也能直接将户外电源线上的瞬态浪涌传导进来，而信号接口能够传导由闪电和静电泄漏引起的浪涌电压。 用户应当对数据线保护器慎重选择有些保护器虽然起到了“分流”作用，但常常是将硅雪崩二极管（SAD）接在被保护线路和保护器外壳之间，测试表明SAD的钳位性能很好，但它电涌分流能力有限。同时压敏电阻（MOV池不能在数据线保护器上使用。先进的过程控制系统的信号接口防雷保护装置无论是R-232串等通信接口还是计算机同轴网络适配器接口）目前均采用瞬态过电压半导体放电管，其冲击残压参数指标很重要。有条件能够采取多级保护设计电路效果更佳。 天馈线保护器基本采用波导分流原理，其中发射功率400W，额定测试放电电流（8/20s）5kA传输频率25GH插入损耗08响应时间100ns 23电源端口原则上采用多级SPD做电源保护，但信息系统的电源保护由于其敏感性必须采用较低的残压值的保护器件，且此残压应当低于需要保护设备的耐压能力。同时还必须考虑到电磁干扰对仪器仪表系统的影响，因此带过滤波的分流设计应当更加理想。 所以对于仪器仪表系统电源保护特别注意的两点是：前两级采用通流容量大的保护器，在仪器仪表终端处则采用残压较低的保护器。最后一级的保护器中最好有滤波电路。对仪器仪表系统电源端口安装SPD时应注意以下问题。 多级SPD应当考虑能量配合、时间配合、距离配合。如果配合不当的话，效果将适得其反。 （2）连接防雷保护器的引线应当尽量粗和短。 （3）全保护时尽可能将所有连接线捆扎在一起。内容来自看仪器网

谈及气候变化，二氧化碳通常是焦点，但未来几十年，削减甲烷排放可能对控制全球变暖产生更大的影响。据《自然》报道，在一颗即将从美国加利福尼亚州发射的卫星的帮助下，政府部门和企业终于有了一个工具，能帮助它们精确定位地球上的甲烷热点并堵住泄漏。MethaneSAT概念图。图片来源：BAE Systems这颗名为MethaneSAT的卫星耗资约8800万美元，旨在为观测全球油气田、农业设施和垃圾填埋场排放的甲烷提供全新视角。卫星运营方将与美国谷歌公司合作，利用一个大气模型处理来自卫星的数据。该模型可以追踪空气中的甲烷及其地面来源。谷歌还计划使用人工智能算法绘制全球油气田基础设施地图，并确定污染来源。美国环境保护基金会领导了MethaneSAT的开发。“这将是我们第一次获得温室气体的此类信息。”该组织首席科学家Steven Hamburg表示，MethaneSAT将通过“彻底的透明度”实现政府和企业的问责制。MethaneSAT起源于大约10年前帮助揭示美国油气田污染程度的航空器运动。环境保护基金会随后与学术界和工业界合作，进行一系列研究，记录了美国各地的甲烷排放量，最终表明石油和天然气部门的甲烷排放量比官方估计高60%。在这项工作的基础上，它们组织了一个团队设计这颗卫星。2018年，环境保护基金会及美国哈佛大学的主要科学合作伙伴通过“大胆计划”获得了启动资金，用于开发甲烷卫星。MethaneSAT与众不同之处在于高分辨率测量。如果成功，环境保护基金会将成为第一个开发出这种科学口径卫星的环保组织。“我们正在适应一个无人区。”哈佛大学大气科学家、MethaneSAT技术团队负责人Steve Wofsy说。MethaneSAT每天从大约30块面积为200平方公里的土地上向地球传输图像。这足以完成其监测全球油气田、农业设施的核心任务。对于运营方来说，最大的问题是卫星数据是否真的会推动相关部门采取行动，有所作为。环境保护基金会大气科学家Ilissa Ocko表示：“如果我们能够消除甲烷排放，那么在未来几十年里，基本上可以将全球变暖幅度减半。其中，石油和天然气行业可以在几乎没有额外成本的情况下，减少大部分甲烷排放。”

近日，北京大学未来技术学院分子医学研究所研员陈雷课题组发现了钠漏通道NALCN-FAM155A-UNC79-UNC80复合物的冷冻电镜结构及UNC79-UNC80调节NALCN-FAM155A的机制。这一研究于5月12日发表在《自然-通讯》上。　　神经细胞的静息膜电位（Resting Membrane Potential, RMP）影响着神经细胞的可兴奋性，对于维持神经细胞正常的生理功能至关重要。钠漏通道NALCN（Sodium Leak Channel, Nonselective）介导了神经细胞的钠漏电流，能使静息膜电位更加去极化，从而提高神经细胞的可兴奋性。　　NALCN在哺乳动物中高度保守，与电压门控钙离子通道（CaV）和电压门控钠离子通道（NaV）同源性较高。且参与了诸多与神经系统相关的重要的生物学过程，包括呼吸节律的调节、痛觉感知、生物钟的调节和快速动眼睡眠等。　　“在人群中，NALCN的单点突变会引起多种严重的神经发育遗传疾病，包括精神运动发育迟缓和具有特征面相的小儿肌张力低下症及四肢和面部先天性挛缩、肌张力低下和发育迟缓症等。尽管NALCN通道有着如此重要的功能，但其工作机制仍不清楚。”陈雷告诉《中国科学报》。　　在2020年，陈雷研究组曾解析NALCN-FAM155A亚复合体的高分辨率结构，阐明了NALCN的钠离子选择性、胞外钙离子阻塞和电压调节特性的结构基础，发现了在NALCN通道中独有的位于II-III linker上的CIH螺旋可以结合在其胞内结构域上。但是UNC79和UNC80的结构以及它们是如何激活NALCN的并不清楚。　　先前的研究表明，UNC79和UNC80容易与NALCN-FAM155A亚复合体发生解离。在本项研究中，作者们在NALCN的C末端融合了GFP，UNC80的N末端融合了与GFP高亲和力结合的纳米抗体以稳定UNC79/80与NALCN间的相互作用。　　经过同源蛋白筛选等步骤，研究人员确定以大鼠NALCN和小鼠FAM155A, UNC79和UNC80亚基组成的复合体为研究对象，并在克服了样品制备、数据处理等困难后，通过单颗粒冷冻电镜技术获得了整体分辨率为3.2埃的四元复合物的电子密度，并搭建了原子模型。　　结构显示，UNC79和UNC80均由富含螺旋的结构组成，这些螺旋进一步的组装成HEAT重复或ARM重复等超螺旋结构。UNC79的N端与UNC80的C端、UNC79与UNC80的中间铰链区以及UNC79的C端与UNC80的N端均存在着紧密的相互作用，形成钳子状的复合体，整体形状类似于无穷号“∞”。 进一步的研究发现，NALCN主要通过胞内loop区与UNC79-UNC80发生相互作用的：NALCN胞质侧的I-II linker中的一段β-发卡结构（UNIM-A）与UNC79发生相互作用，II-III linker中的一段loop-螺旋结构（UNIM-B）以及一段L型螺旋结构（UNIM-C）与UNC80发生相互作用。作者们将NALCN与UNC79/80发生相互作用的基序命名为UNC Interacting Motif (UNIM)。　　陈雷介绍，该项研究还发现，UNC79, UNC80和FAM155A三个附属亚基对于NALCN能够正确的转运到细胞膜上是必不可少的。“这有可能是因为这些互作使UNC79/80遮挡了NALCN胞质侧loop上的内质网滞留信号，从而促进NALCN上膜。另外，这些互作也释放了CIH对NALCN的自抑制，使其激活。这为深入理解NALCN复合体的工作机制奠定了基础。”他说。

电气行业里哪些工具可以有效快速地的解决问题？电气承包商们非常了解其中的“门道儿”。在日常巡检和维修故障的过程中，配备了合适的工具，就可能意味着在几分钟内找到问题所在，避免耗费数小时或甚至压根找不到问题所在的尴尬。无论是扫描断路器面板还是诊断电路，搭配合适的工具，都能够彻查问题，充分确保客户家中或楼宇中的安全性，让电器良好地运行。那么，电气承包商执行任务时最中意的是哪几款工具呢？想要了解更多产品详情，猛戳产品名称01红外热像仪红外热像仪能快速检测出电气系统中的热点，推断热点处可能存在的问题，大幅加快电气检测工作。FLIR C5红外热像仪是面向电工们推出的一款方便实用的便携式工具，它内置一个160×120像素、搭载MSX® （多波段动态成像）技术的热像仪，以及一个500万像素的可见光相机，并且配有LED照明灯，有助于轻松识别潜在问题。还有一款比较好用的工具：FLIR TG165-X，它采用传统点温枪式外形设计，但具备完整的红外成像功能，搭载MSX图像增强技术，且配备靶心激光器，有助于确保用户能够瞄向正确的部位进行测量。FLIR C5红外热像仪详细解析红外热图像还能提供故障存在和已得到妥善修复的视觉证据。FLIR C5可以将图像直接上传至FLIR Ignite™ 云端进行储存，用户可在这里整理和备份文件。而FLIR TG165-X的内部存储容量达50,000张图片。02数字万用表数字万用表是电路、组件和设备测试、诊断和故障排查不可或缺的工具。Extech EX530是一款拥有11种功能的耐用型工业级真有效值数字万用表，非常适合用于户外、船上和任何恶劣的工业环境中。它能测量交流/直流电压和电流、电阻、电容、电子和电气频率、温度、4至20mA及占空比。03试电笔电气专业人士需要一个可靠的试电笔，用于执行现场故障排除与电气设备的验证。FLIR VP52-2是一款坚固耐用，符合CAT IV等级要求的非接触式试电笔，配备光、振动和蜂鸣反馈报警器和强大的LED照明灯。在开始作业前使用FLIR VP52-2放心地检查交流电路是否带电，检测裸露导电部件是否存在电压或透过绝缘层检测电压，识别配电板、开关和插座内的带电电线，或追踪带电电线和确认电路位置。04钳形表无论您是商务楼、工业设施还是住宅楼的电工，FLIR数字钳形表皆有助于您提高安全性和效率。FLIR CM94是在高要求的公共事业和工业场所中进行大电流测量的必备工具。它拥有2000A交流/直流量程，适用于测量超大导体的超大钳口，通过抗跌落测试，符合CAT IV-1000 V安全等级要求。FLIR CM275功能介绍为实现超强的检测能力，FLIR钳形表特别采用强大的红外成像引导测量技术（IGM），提供一种在安全距离内识别热点和过载电路的快速、可靠的方式。FLIR CM275数字钳形表将红外成像与电气测量功能相结合，是强大的检测、故障排除和诊断工具。借助数字钳形表的丰富功能和温度读数确认发现结果，并将图像或数据无线上传至FLIR Tools™ 应用程序。05查线器电缆探测器和查线器使您能够快速定位和追踪墙壁、天花板、地板和地下的带电或不带电电线和电缆。Extech CLT600是一款可靠且简单易用的工具，适用于检测楼宇中的电力线缆、通信线缆和电线。它采用人体工程学设计和非接触式电压测量技术，带有工作灯，专业人士可以利用它安全高效地定位隐蔽的电线和电缆。FLIR公司现提供多套解决方案，助您提高作业的效率、准确性及安全性。借助于合适的检测工具，电气承包商们可以轻松做到在工作场所保证安全、实现服务增值、免除客户的后顾之忧。目前这几款电气有效工具菲力尔京东/天猫官方旗舰店均有售

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 扫描电镜测试过程中，样品的荷电现象被公认为是最大且棘手的问题。对于样品荷电现象的成因，目前的解释大都语焉不详，存在许多的疑问。其中最经典的解释似乎是基于如下这张电子产额与加速电压的关系图所展开。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/7b4e9c9a-cc0b-4387-9dbc-319ec0829c11.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 零电位：无荷电；负电位：异常亮；正电位：异常暗 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 但这个解释存在以下几个步进式的问题： /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " A）无论是样品的表面形貌像，还是表面的荷电表象都基于溢出样品表面的电子信号。样品中产生再多的二次电子和背散射电子，没有溢出样品表面，没有被探头接收到，对形成表面形貌像是毫无影响的，更遑论荷电表象。故样品荷电现象，对应的应该是电子信息溢出量出现的异常。这张图对产额是啥？交代不清，故是否适合做为参照？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " B）二次电子和背散射电子产额多是否就一定溢出的多？二次电子和背散射电子产额的多少和样品中形成怎样的荷电场是否能画上等号？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 一个电中性的样品。当注入样品的电荷总量与溢出样品的电荷总量存在差异，才可能在样品中形成电场。如果溢出样品表面的电荷总量低于注入样品的电荷总量，且多余的电荷聚集在样品中，就会在样品的局部或全体部位形成负电场。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 样品中二次电子和背散射电子产额多不代表其溢出量大。溢出样品表面的二次电子和背散射电子占其产额的总量往往都很低。产生所谓正电场必须是溢出样品的电子比注入样品的电子还要多，使样品局部或全部有大量的正电荷聚集。这种情况在扫描电镜的测试过程中几乎是不可能发生的。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " C）样品如果真的存在正电位，将会出现怎样结果？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 经典观点认为，当样品电子的产额大于入射电子总量，且这些电子都溢出样品表面，才在样品中形成正电位。如果这种情况确实发生了，那形貌像应该如何变化呢？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 首先图像将由于有大量二次电子和背散射电子的溢出而变得异常明亮；随后出现正电场使得这些电子溢出急遽减少，图像变暗；随着电子束将大量电子注入样品，这些正电荷将被中和，正电位减弱，样品的电子信息又将逐渐显现，图像也渐渐变亮，直至下一次信息爆发。故样品中出现正电位现象，图像将产生亮暗相间的闪烁，而不是稳定的异常变暗。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 现实中这种图像亮暗相间的闪烁几乎看不到，也就是正电位应该不存在。那么是否图像异常暗的现象也不存在？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 实际情况是样品的荷电现象，存在三种表现形式 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/83c7e731-b1a0-4ca5-b85c-8177b17e0cfa.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 样品中只可能存在负电位，那么以上三种现象的形成机理是什么？形成样品荷电的真正原因是什么？ /span /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, SimSun " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px " 一、荷电现象的形成 /span /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 扫描电镜所面对的样品相对于信号激发源“高能电子束”来说，可看成无穷厚。因此在电子束轰击样品时，电子束中的高能电子因无法穿透样品而驻留在样品中。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 高能电子束轰击样品时，会在样品中形成散射电子并激发出样品的二次电子等信息。其中一小部分的二次电子及背散射电子（与入射电子方向相反的散射电子）将溢出样品表面，被探头接收，形成样品表面形貌像的信号源。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 当注入样品的电子数与从样品表面溢出的电子数不相等时，就有可能在样品中形成静电场。从而影响电场部位的二次电子和背散射电子的正常溢出，样品表面形貌像将出现异常亮、异常暗及磨平这三种现象。这就是样品的荷电现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 对样品荷电现象的探讨，将牵扯到一个电子迁移的问题，因此将引入一个漏电能力的概念。“漏电能力”是指样品的漏电子能力，即样品上自由电子的迁移能力。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 物体的体积、密度以及结构都会影响样品中自由电子的迁移能力。体积越小、密度越大、晶体结构越紧密，自由电子在这些物体上的迁移能力即漏电能力就强。体积较大且密度低、晶态较差的物体以及颗粒物的松散堆积体。自由电子的迁移能力一般较差，漏电能力也较差，容易形成电荷堆积。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 1.1 荷电现象的形成过程 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 高能电子束轰击样品时，大量的电子被注入样品，由于扫描电镜所应对的样品足够厚，故在样品中会驻留大量电子。虽然有不少二次电子和背散射电子溢出样品表面，但和驻留电子的数量相比，将形成一个不对等的关系。其结果是大量多余的自由电子存在于样品中。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 如果样品的漏电能力很强，且接地良好。这些多余的自由电子就会通过样品迁移掉，样品中不存在电荷堆积的现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 如果样品的漏电能力较弱，那么自由电子就会在样品的全部或局部形成堆积，并在堆积处形成强弱不等的静电场（负电场），影响该部位二次电子甚至背散射电子的正常溢出。样品表面形貌像的局部或全部将叠加出现异常亮、异常暗、磨平这三种异常现象，对表面形貌像造成程度不等的干扰，形成所谓的样品“荷电现象”。该静电场也称“荷电场”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 如果样品中各部位的漏电能力强、弱不均匀，自由电子将会从漏电能力强的部位集中迁移到漏电能力弱的部位，并在漏电能力较弱部位堆积形成荷电场。此时样品的荷电现象就只在表面形貌像的某些部位出现。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/f8e09c03-be02-4633-a468-2ef64aede90f.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 1.1 样品的漏电能力和导电性 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 传统理论将样品是否会产生荷电现象归因于样品的导电性。认为只有导电性好的样品不容易产生荷电现象。而样品导电性的判断又以材料名称来决定，金属材料归类于导电性好，非金属材料归类于导电性差。以此观点来解释样品荷电现象常常会产生许多疑惑。充分的实例表明，大量所谓导电性差的非金属样品并不存在荷电现象，如：许多晶体材料、纳米粉体虽然是非金属材质，都不必然会形成所谓的荷电现象。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/1eb2676b-6d05-43df-a1d4-4f314f487d0f.jpg" title=" 4.png" alt=" 4.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 许多被公认为导电性好的金属材料，若密度较小、形态松散或形成堆积体也会产生极强的荷电现象。如下图实例所示： /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/ee1ad80d-a703-435a-883d-78acc0f1eaba.jpg" title=" AA.png" alt=" AA.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 为什么会出现以上这种与传统观念完全不一致的现象？以样品导电性来解释荷电现象存在怎样的问题？ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 荷电现象是静电现象，是由大量自由电子在样品的全部或局部区域形成堆积，产生荷电场，所引发的信息异常溢出。自由电子只要失去通道就会形成堆积，与材料本身导不导电的关系并不那么紧密。也就是说样品导电，仅仅是一个有利于减少荷电影响的因素，但并不充分也不能说是必要。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 形成电子通道的因素众多，除前面所说与物质性质有关的因素如：体积、密度、结构等等，还包括外界因素如：加速电压、样品的堆积程度等。以样品是否导电来做为形成荷电场的唯一成因，那是以偏概全、以孔窥天。存在这种理念对正确应对样品荷电的影响，充分获取样品信息极为不利。 /span /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px font-family: 宋体, SimSun " strong 二、拆解样品荷电现象的三种形态 /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 前面介绍了样品的荷电现象表现为三种形态：异常亮、异常暗、表面磨平。并分析了扫描电镜荷电现象的成因是：样品中存在大量自由电子堆积形成的荷电场，造成表面电子信息溢出异常，而这个荷电场只可能是负电场。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 那是什么原因酿成了荷电现象出现这三种表现形式呢？& nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 背散射电子能量较高，溢出量仅在荷电场极强时才受影响。故以易受荷电影响的二次电子信息为例来加以探讨。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 样品中自由电子的聚集点就是形成荷电场的位置。荷电场的强度及深度与加速电压和束流的大小、样品结构和体积以及颗粒物的堆积状态等因素有关联。测试时虽很难直接给出荷电场强度及位置的具体数值，但它存在一定的变化趋势。同等条件下，增大加速电压将使荷电场在样品中所处的位置下沉，达一定量，会引起荷电现象的形态发生改变。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 以荷电场在样品中的位置分布对二次电子溢出量的影响为线索，就比较容易去拆解荷电现象的三种形态： /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " （A）异常亮：如果入射电子在二次电子溢出区（浅表层）产生较多的二次电子，同时形成的荷电场位于浅表层下方。荷电场会将位于其上方原本无法溢出的二次电子推出样品表面，使得溢出样品表面的二次电子异常增多，图像异常变亮。荷电场足够强大会将周边的二次电子信息都大量推出，图像的形态也就受到影响。现实中，荷电现象出现“异常亮”的几率相对较高，较高的加速电压出现该现象的几率也较大。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " & nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/737aaa0a-926b-4f28-9975-19c055e45e95.jpg" title=" 5.png" alt=" 5.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " （B）异常暗：较低的加速电压在一定条件下，会使得荷电场形成于样品二次电子溢出区域的上部。此时荷电场将抑制二次电子的正常溢出，出现异常暗的现象。加速电压越低在样品中累积的自由电子越靠近浅表层上部，荷电场的形成位置将越高，也越容易形成异常暗的现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 极低的加速电压（100V），在样品表面产生的二次电子少，形成荷电场的位置靠近最表层，易形成强烈的异常暗现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 在凹坑上边缘有电荷累积，也易酿成异常暗这种荷电现象。因形成条件较为苛刻，故产生该现象的几率相对较低。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/f760bb93-896d-4854-a6d9-638a23a465d6.jpg" title=" 6.png" alt=" 6.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp br/ /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 随着加速电压的提升，表面二次电子产额增加，最关键的是荷电场位置下沉，有些异常暗的现象也会转移成异常亮。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/7d4f23ef-e0a1-45d2-adec-38f881638503.jpg" title=" 7.png" alt=" 7.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " （C）表面磨平：当样品中形成的荷电场位置较高，与二次电子的溢出区混杂。荷电场会对溢出样品表面的二次电子产生部分的遏制作用，表面细节由于溢出信息的不足而被抑制，出现磨平现象。松软的样品容易出现该现象。出现这一现象时，往往会在样品颗粒的边缘或较大斜面处，由于极表层的二次电子增多，而伴随出现异常亮的现象。& nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 样品出现细节磨平这种荷电现象的几率较异常暗高。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/aba027e0-4f45-48b2-ab47-e4359f611a15.jpg" title=" 8.png" alt=" 8.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 当荷电现象出现后，提升加速电压，荷电场位置将下沉，荷电现象的形态会发生变化。趋势：异常暗& gt 磨平& gt 异常亮& gt 正常。这个变化趋势会有跳跃式的变动，但不会逆转。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/59912e7c-5595-4a6a-b844-c7f0ee6140a7.jpg" title=" 9.png" alt=" 9.png" / /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px font-family: 宋体, SimSun " strong 三、小 & nbsp 结 /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 当自由电子累积在样品中的某一个部位就会形成静电场，从而影响电场及周边电子信息的正常溢出，使得样品表面形貌像上形成异常亮、异常暗或细节磨平的现象，这个异常现象称为：样品的荷电现象。该静电场也称为“荷电场”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 二次电子能量较弱，极容易受到荷电场的影响。在探头接收到的样品电子信息中，其含量的占比越多，表面形貌像中出现荷电现象的几率也就越大。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 高能电子束入射样品，形成的电子信息中，只有很少的一部分溢出样品表面，溢出量和入射电子量相差甚远。注入和溢出样品电子数量的不平衡就容易形成荷电场。荷电场是由样品中自由电子的堆积所形成，因此它只可能是负电场。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 自由电子在样品中存在一定迁移能力，迁移能力随样品性质以及样品堆积状态的不同而不同。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 表面连续、结构紧密的晶体材料或体积较小（纳米级别）的样品，电子在这类样品中的迁移能力都很强。电子迁移能力强，样品的漏电能力就好，也就不容易产生荷电现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 表面断续、结构松散、体积较大的非晶态样品，电子在这类样品中迁移能力差，容易积累在某个部位形成荷电场，影响样品表面电子信息的正常溢出，产生所谓的荷电现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 样品中如果各部位的漏电能力强、弱不均，则漏电能力强的部位不会有电荷堆积。自由电子只会堆积在漏电能力弱的部位，形成所谓的局部荷电现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 异常亮、异常暗和磨平是样品荷电现象的三种表现形式。样品表面的二次电子溢出区和荷电场之间的相对位置是造成这三种荷电表像的关键因素。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 荷电场在样品中的位置与样品的性质以及加速电压等因素有关。同等情况下，改变加速电压，荷电场的位置也会跟着发生变化，样品荷电的表现形式也会跟着改变。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 荷电场如果位于样品表面二次电子溢出区下方，则荷电场将把超量的二次电子推出样品表面，形成异常亮的现象。较高加速电压下，观察表面略紧实的样品容易出现该现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 荷电场存在于溢出区的上部且溢出样品表面的二次电子产额少，则荷电场会抑制样品信息的溢出形成异常暗的现象。当用较低的加速电压来观察低密度样品时，或者样品表面有凹坑，在一定条件下就会出现这一现象。采用极低的加速电压（如100V）观察凹坑部位时，最容易出现该现象。由于该现象的形成条件较为苛刻，因此形成的几率也较低。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 荷电场所处位置较高，位于二次电子溢出区内。那么荷电场会对样品二次电子的溢出量产生一定抑制，使得样品的表面形貌细节受到一定程度的掩盖，出现磨平现象。较低加速电压，在观察松散的样品时，容易出现这种现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 同等条件下，随着加速电压的提升，荷电场在样品中的位置逐渐下沉，荷电形态也将发生改变。荷电形态的变化趋势是： /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/59e152fb-6c63-420b-a71b-cc449ac98d1c.jpg" title=" 10.png" alt=" 10.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 经常会看到这种变化趋势有跳跃的情况，但逆向变化则基本看不到。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 关于加速电压和束流的改变会对样品的荷电现象产生那些影响？这些影响都会带来怎样的结果？我们又该如何正确应对样品的荷电影响？都将在下一篇中通过充分的事例来与大家进行详细探讨。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " strong 参考书籍： /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 华南理工出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 & nbsp & nbsp & nbsp 2009年1月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 中科大出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 《自然辩证法》 & nbsp 恩格斯 & nbsp 于光远等译 1984年10月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 人民出版社 & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 《显微传》 & nbsp 章效峰 2015年10月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " & nbsp 清华大学出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " 北京天美高新科学仪器有限公司 & nbsp 高敞 2013年6月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " strong 作者简介： /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 80px height: 124px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202009/uepic/f18ee0a2-3ea9-48dc-86e2-dd06d5c3e6a9.jpg" title=" 林中清.jpg" alt=" 林中清.jpg" width=" 80" height=" 124" border=" 0" vspace=" 0" / span style=" font-family: 宋体, SimSun " 林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 延伸阅读： /strong br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200817/556801.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜不适合测磁性材料吗？——安徽大学林中清33载经验谈（11） /span /strong /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun " /span /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200714/553843.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜工作距离与探头的选择（上）——安徽大学林中清32载经验谈（10） /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜工作距离与探头的选择（上）——安徽大学林中清32载经验谈（9） /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200515/538555.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 如何正确选择扫描电镜加速电压和束流 ——安徽大学林中清32载经验谈（8） /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200414/536016.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜操作实战技能宝典——安徽大学林中清32载经验谈（7）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200318/534104.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈（6）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200218/522167.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2）& nbsp /span /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 /span /strong /a /p

树雄心创伟业为江山添色，立壮志写春秋与日月增光！2018，注定又是不平凡的一年。安杰科技从创建到现在，历经十七年磨砺，我们怀揣振兴国产分析仪器的愿望而披荆斩棘，如今站在新的历史起点，昂然起航！　　承蒙各位领导及同仁们多年来对我公司的关心和大力支持，于2018年3月7日上午11:58，在保集e智谷13号安杰科技楼前举行了剪彩仪式暨乔迁庆典活动，安杰科技总经理曾祥丽女士主持了剪彩仪式并发言。　　上海安杰环保科技股份有限公司新办公楼的搬迁工作得到了上海市宝山区顾村镇政府和所在园区的高度关注和支持。新办公楼的搬迁是一种信心、实力的标志，是安杰科技发展的一个里程碑，是前进路上的一个新起点，我们深信，在各级领导和社会各界朋友的大力支持下，通过全体员工的努力拼搏，公司将会取得更加辉煌的成绩！

2014年内蒙的春天来得格外的早。应呼市常全胜项目经理的请求，我于3月16日从北京出发前往呼市，开始了天美公司一年一度的质量千里行的巡回活动。　　3月17日，首先回访内蒙古农业大学水建学院；该院不但有一台Z-5300型的原吸，同时还有的一台老式的U-2001型紫外可见分光光度计；该仪器购于15年前，至今使用一切正常，不能不说是一个奇迹。只是近期因为仪器内藏的锂电池耗电殆尽，致使仪器不能初始化了。为用户免费更换了电池后，仪器回复了正常。仪器负责人杜丹老师很是感动，他对我说：“非常感谢天美公司对我学院的及时回访，尤其是对您这样大的年纪还来我院亲自检修仪器，我们感到非常不安！”我笑着再次解释了公司千里行的宗旨，同时婉拒了他们的宴请。 安工为水建院紫外分光仪更换锂电池。 电池更换后为仪器做验收指标同时再次培训用户使用仪器。 　　3月18日，回访本次活动的重点单位——武警黄金二支队；因为该系统从最初的180-80型原吸到中期的Z-5000型原吸直至后期的Z-2000型原吸，先后经历了三次改血换代，代代都是日立的原吸，故不能不说是我们的VIP用户群。尤其是内蒙二支队，曾经先后购买了二台Z-2000型原吸，所以重点回访该用户是顺理成章的事情。　　经过详细的检查发现，去年新购入的一台Z-2000原吸基本正常，只是石墨炉检测结果的重现性有些不理想，经过清洗进样针问题解决了。　　关键是另一台七年前购入的Z-2000原吸，由于使用频率过高，加之使用者更迭频繁，平时的维护不是很好，石墨炉的测试结果无论是重现性还是灵敏度均有很大的下降。经过对整个石墨炉系统的清洗，重现性不良的故障得以解决了，测试结果的精密度RSD值达到了小于2%的标准。对于灵敏度下降的故障，由于届时没有带气体流量计和电流钳形表，未能进一步检测石墨炉的载气流量以及加热电流正常否。但是在3月25日第二次回访时，由于事先带足了检测器具，最终将灵敏度低下的故障排除了！军人没有过多的寒暄用语，临走时他们只是紧紧地握着我的手，只说了一句话：“今后买仪器，还是首选天美的产品！”听到这句话，一切疲劳都云消雾散了。 图为黄金二支队检修Z-2000型原吸 　　3月18日下午，离开黄金支队又赶到内蒙医科大学对该校新安装的U-3900紫外可见分光光度计进行了使用的培训。　　尽管放置仪器的空间很狭窄，人们只能站立地听讲，但是仪器负责人杨丽敏老师还是尽可能的将在校的学生全部召集起来听我讲解仪器的原理和应用的培训，她对学生说：“大家要认真听啊！这是一个多么难得的机会啊！”结果，在场的师生听得非常认真，室内鸦雀无声，只有偶尔的提问声会暂时打破这种安静的气氛。在内蒙医科大学培训师生紫外分光光度计的使用 　　由于内蒙的天气非常干燥，加之我一下午也没喝水之故，3个小时的培训结束后，嗓子已经嘶哑了。但是看到听课的师生们脸上露出的满意的笑容，心里感到十分的欣慰。 更多质量千里行内容请关注活动专题页面：http://c.instrument.com.cn/custom/SH100322/公司介绍： 　　天美(中国)科学仪器有限公司(“天美(中国)”)是天美(控股)有限公司(“天美(控股)”)的全资子公司，从事表面科学、分析仪器、生命科学设备及实验室仪器的设计、开发和制造及分销 为科研、教育、检测及生产提供完整可靠的解决方案。天美(中国)在北京、上海、等全国15个城市均设立办事处，为各地的客户提供便捷优质的服务。 　　天美(控股)是一家从事设计、研发、生产和分销的科学仪器综合解决方案的供应商。继2004年於新加坡SGX主板上市后，2011年12月21日天美(控股)又在香港联交所主板上市(香港股票代码1298)，成为中国分析仪器行业第一家在国际主要市场主板上市的公司。近年来天美(控股)积极拓展国际市场，先后在新加坡、印度、澳门、印尼、泰国、越南、美国、英国、法国、德国、瑞士等多个国家设立分支机构。公司亦先后收购了法国Froilabo公司、瑞士Precisa公司、美国IXRF公司和英国Edinburgh等多家海外知名生产企业，加强了公司产品的多样化。 更多详情欢迎访问天美(中国)官方网站：http://www.techcomp.cn

2025年版《中国药典》4019公示稿解析 | 药典玻璃制品抗热震性试验机热冲击，或称热震性，是衡量玻璃容器在短时间内承受急剧温度变化能力的重要指标。这一特性在酿酒、饮料及制药等需经历高温灭菌工艺的行业中扮演着至关重要的角色。它直接关系到玻璃容器在使用过程中的安全稳定性，是确保产品质量与消费者安全不可或缺的一环。为了科学且精准评估药用玻璃容器的热冲击耐受能力，国家药典委员会发布了“4019玻璃容器热冲击及热冲击强度测定法”，该标准预计将在2025年版中国药典的药品包装材料部分中得到正式体现。这一举措旨在通过标准化流程，为行业提供科学、有效的测试指导。测试原理与操作细节在这一条件背景下，三泉中石研发的玻璃制品抗热震性试验机RCY-05符合新老标准试验要求。测试原理：该测试通过预设高温槽与低温槽之间的温差，模拟实际使用中的极端温度变化。将待测玻璃瓶在高温槽中充分加热后，迅速转移至低温槽中，随后观察并记录其在经历冷热交替后的破损情况。仪器特点：三泉中石生产的玻璃制品抗热震性试验机，专为各类玻璃瓶设计，包括但不限于啤酒瓶、酒瓶、饮料瓶、医疗输液瓶及抗生素瓶等。该仪器具备自动调节浸水深度功能，可灵活设置冷热水温度及停留时间，满足不同测试标准需求。同时，内置的漏电保护装置确保了测试过程的安全无忧。标准修订的意义与亮点修订此标准的目的在于提升对玻璃容器热冲击性能的评估精度与效率。不合格的耐热冲击性能可能引发高温处理过程中的破裂，进而污染或损坏内容物，特别是药品，其后果不堪设想。因此，建立一套科学、高效的测定方法显得尤为重要。本次修订基于2015版YBB药包材标准，并参考了GB/T 4547-2007及ISO国际标准，对测试时间进行了优化，如热水槽浸泡时间缩短至至少5分钟，冷水槽浸没时间固定为30秒，显著提升了测试效率。同时，仪器允许用户根据具体标准自由设置温度与停留时间，增强了测试的灵活性与适用性。测试方法与注意事项对于温差小于100℃的玻璃容器，推荐使用冷热水槽法进行测试。测试过程中，需确保冷水槽容量充足，至少为待测样品总体积的五倍，并配备水循环器、温度控制组件及恒温控制器，以维持水温在指定范围内。特别注意的是，尽管自来水初始温度可能符合要求，但测试过程中水温易上升，自然降温将极大延长测试周期，因此建议配备低温控制装置以确保测试准确性。 结果判定标准测试完成后，根据规定的温差条件下，若破裂样品数量低于限定值，则判定为热冲击性能合格。热冲击强度的评估则以导致50%样品破裂的温差为基准，若该温差满足标准要求，则视为合格。作为药品包装玻璃容器检测领域的专业供应商，济南三泉中石实验仪器紧跟国家标准动态，积极参与相关标准的制定工作，依托丰富的技术积累与行业经验，为标准的完善提供坚实的数据与理论支持，助力国家药品包装标准体系的持续优化与提升。

测量仪器是工业生产质量控制体系中不可或缺的工具，其型号、规格可谓五花八门，从几百元的数字万用表，到几千元的电能质量分析仪，再到几万元的高端示波器… … 彼此之间不仅价格跨度极大，适用场景也截然不同。如何根据测量场景需求精准选型测试仪器，一直是困扰工业企业的难题。　　近日，全球知名测量仪器品牌福禄克与京东工业品达成战略合作，双方在数智化选型方面深入探索。福禄克京东工业品自营旗舰店上线后，福禄克将旗下热像仪、电能质量、功率分析、示波表、过程校验、接地绝缘、万用表、钳型表等900多款产品的数据信息与京东工业品“墨卡托”标准库已完成无缝对接，通过打造“系统找货”的自动筛选服务，大大提高企业的选型效率。 在工业生产中，各类测量仪器的规格、型号可多达数万种。以电气测量为例，电网工人测量高压电所用的钳形表量程可达1000A，能够在不切断导线的情况下测量高压电线中通过的电流；而反观实验室中常用的示波器，虽然量程只有1A，但精度却可以达到10-6 A。而即便是钳形表和示波器本身，也有极其众多的规格。　　在实际使用过程中，具体选择哪种型号、哪种规格的测量仪器，需要综合考虑量程、精度、测量方式等多种因素，选型工作就显得尤为关键。而在传统采购模式中，测量仪器的选型完全依靠人力，采购人员需要对着厚厚的产品手册查询各项参数，再就使用场景进行横向对比筛选，不仅效率低，而且严重依赖采购人员的专业经验。　　福禄克与京东工业品打造的数智化选型系统，则能够很好地解决这一问题。“墨卡托”工业品标准商品库是结合京东大数据和人工智能技术，以及各品类头部品牌商的专家经验，通过对海量工业品数据进行数据清洗和知识抽取，构建出的工业品知识图谱。通过将福禄克的产品数据信息与京东工业品“墨卡托”标准库已完成无缝对接，企业只需在京东工业品选定品类后，根据系统所提示的参数维度选择相应需求范围，即可获得精准的型号推荐。在前期试点项目中，“墨卡托”工业品标准商品库成功将工业品供需匹配度提升了86%。 福禄克亚太区总经理、副总裁胡祖忻表示，非常高兴与京东工业品合作，这很好地补充了我们的数字化服务能力。未来，在“墨卡托”标准选型服务基础上，福禄克的技术工程师和销售代表等各层资源也将与京东工业品无缝对接，提供产品选型、技术咨询及售后服务的全方位支持。我们也希望通过此次合作，与京东工业品共建仪器仪表领域的行业标准，有力助益产业链各环节无缝连接。

仪器信息网讯 作为“国产仪器腾飞行动”主要活动之一，由中国仪器仪表行业协会指导、仪器信息网主办的第二届“国产好仪器”评选活动于日前落下帷幕。本着“用户说好才是真的好”的原则，通过大规模的用户意见征集和形式多样的调研、考察，共59台仪器最终入选“国产好仪器”。　　宁波新芝生物科技股份有限公司(以下简称：新芝生物)的Scientz-10N冷冻干燥机典型用户——上海海洋大学林东明老师向仪器信息网编辑反馈了该仪器的使用体验和心得。　　林东明的工作之一是研究鱼类肌肉组织、性腺组织等，而这项研究的样品干燥实验便用得到冷冻干燥机。据林东明介绍，自去年开始，其实验室原有的冷冻干燥机就已处于超负荷运行状态，而相关科研工作恰恰需要深入开展，急需要新购置一台冷冻干燥机。在此情况下，林东明开始了采购冷冻离心机的前期调研。　　经过调研，林东明发现，国产同类型冷冻干燥机已经达到了一定的实验标准、并且采购程序相较于进口仪器简单，售后也比较方便。之后，通过查询网络信息，了解到宁波新芝生物科技股份有限公司是国内一家上市公司，专门从事生物科学仪器、试剂的研发与生产，而且，该公司的冷冻干燥机系列采用国际品牌丹佛斯压缩机制冷，制冷迅速，冷阱温度低。“这些性能指标刚好达到了我们科研实验的要求，他们在上海地区常驻售后服务中心，所以决定购买新芝生物的Scientz-10N冷冻干燥机。”林东明如是说。工作人员使用Scientz-10N冷冻干燥机开展科研工作　　谈及使用体验，林东明讲到：“这台冷冻干燥机采用了7寸真彩触摸液晶屏控制系统，功能键设计合理，只需轻触摸便可以实现制冷、真空泵、气压显示等功能，操作简单方便。同时，该操作系统具有自动保存冻干数据功能，通过实时曲线和历史曲线的形式查看，让用户体验整个冻干过程。”Scientz-10N冷冻干燥机　　访谈伊始，林东明就表示“售后服务”是其选择新芝生物冷冻干燥机的原因之一。自仪器进入实验室后，新芝生物经常电话或上门向其咨询使用情况，及时了解其使用仪器过程中的操作体验以及碰到的问题，并给予操作指导说明。这其中有一件事情让林东明印象深刻。在一次实验过程中，仪器出现不明原因喷油现象，厂家售后及时地将问题解决，并详细讲解使用操作。总体上，林东明对新芝生物的售后服务模式和质量非常满意。　　作为国产仪器用户，林东明期待国产仪器发展更好。其建议新芝生物加强仪器核心技术研究，增强产品性能研发的自主性、可靠性和稳定性，希望今后继续保持目前的售后服务模式和质量，为国产仪器发展贡献更大的正能量。　　关于Scientz-10N冷冻干燥机　　经过运输振动测试、高空坠落测试，运行温度、湿度测试，漏电阻抗测试及老化测试等性能测试，连续96小时，工作状态良好!十年内盘管无泄漏。适用于散装物料或小料的冻干，同时可外挂冻干瓶、茄型瓶、广口瓶。　　国产科学仪器腾飞行动介绍　　“国产科学仪器腾飞行动”由中国仪器仪表行业协会为指导，仪器信息网主办，我要测网协办，中国仪器仪表学会、北京科学仪器装备协作服务中心、全国实验室仪器及设备标准化技术委员会单位支持。腾飞行动旨在扭转用户对国产科学仪器的偏见，筛选和扶持一批优秀的科学仪器产品和企业，解决用户对国产科学仪器选购难的问题 组织优秀的国产科学仪器产品进行大规模的国内外用户推广及海外拓展，在用户中，树立优秀的科学仪器企业品牌形象 与政府采购单位及高端实验室等开展多方合作，促进国产科学仪器与用户单位深入合作，向政府建言献策等，从而帮助国产厂商找到和解决问题所在，提升市场占有率。　　第二届国产好仪器项目介绍　　第二届国产好仪器项目作为腾飞行动的核心子项目，坚持“自愿”、“免费”的方式，征集企业参与国产好仪器筛选全流程 并增添“用户推荐”的新渠道，最广泛地征集潜在优秀的国产样品前处理设备代表。国产好仪器坚持以“用户说好才是真的好”为宗旨，收集大量用户对每一台仪器长时间使用后的真实体验，用户从5个维度“需求满足度、质量满意度、推荐意愿度、仪器性价比、售后服务满意度”对其所使用的仪器进行综合评价，从而筛选出优秀的国产样品前处理设备代表。　　撰稿人：杨改霞

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为促进电子显微学研究、电镜应用技术交流，打破时空壁垒，仪器信息网邀请电子显微学领域研究、技术、应用专家，以约稿分享形式，与大家共享电子显微学相关研究、技术、应用进展及经验等。同时，每期约稿将在仪器信息网社区电子显微镜版块发布对应互动贴，便于约稿专家、网友线上沟通互动。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 专家约稿招募： /strong 若您有电子显微学相关研究、技术、应用、经验等愿意以约稿形式共享，欢迎邮件投稿或沟通（邮箱：yanglz@instrument.com.cn）。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 本期将分享林中清老师为大家整理的33载扫描电镜经验谈之荷电的应对技巧，以飨读者。 span style=" color: rgb(127, 127, 127) " （本文经授权发布,分享内容为作者个人观点，仅供读者学习参考，不代表本网观点） /span /p p style=" text-align: center margin-top: 15px margin-bottom: 15px " span style=" font-size: 18px color: rgb(0, 0, 0) " strong 荷电的应对技巧——安徽大学林中清33载经验谈（13） /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 【作者按】 /strong 任何事件的发生都存在着内、外两方面因素。就样品的荷电现象来说，内在因素在上一篇《扫描电镜样品荷电现象成因新解》中有详细的介绍，而加速电压和束流的影响则是最重要和最直接的外部因素。改变加速电压和束流会对样品的荷电现象产生怎样的影响？我们又该如何应对样品荷电的影响？这种种问题都将在本文给出明确的解答。& nbsp /p section style=" box-sizing: border-box text-align: justify " section style=" text-align: center justify-content: center position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" color: rgb(86, 86, 86) letter-spacing: 1px padding: 0px line-height: 1.8 box-sizing: border-box " p style=" margin-bottom: 0px padding: 0px box-sizing: border-box margin-top: 10px " span style=" color: rgb(151, 72, 6) font-size: 18px " strong 一、& nbsp 加速电压和束流对样品荷电的影响 /strong /span /p /section /section section style=" text-align: center margin: 0px 0% 10px font-size: 0px position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: inline-block width: 100% height: 3px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(254, 222, 69) box-sizing: border-box " section style=" margin: 0px 0% transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -webkit-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -moz-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -o-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" 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/section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-align: justify text-indent: 2em " 充分的事例说明，加速电压和束流的改变会对样品荷电的形态及强弱产生重大影响。提升加速电压，将会增加进入样品的电子总量，也能使荷电场在样品中的位置下沉，这些变化是使样品荷电形态出现改变的源泉。提升束流强度会增加击入样品电子数，加重荷电现象。下面将就此做详细的探讨。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-size: 18px " strong 1.1加速电压的改变对样品荷电的影响 /strong /span strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 改变加速电压会使得由电子枪发射出来的电子束能量和亮度（发射亮度）产生同步改变。带来的结果是：电子束的发射亮度和电子能量产生同步的增加或减弱。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 电子束的发射亮度定义为： img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 74px height: 43px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/8724f64f-0bc7-41c6-b3bc-e60bee9c5ed0.jpg" title=" 捕获.PNG" alt=" 捕获.PNG" width=" 74" height=" 43" / /strong ，因此提升发射亮度的结果：电子束束流密度的增加和立体角的减小。增加束流密度意味着，相同面积内电子束注入样品的电子数增加，立体角的减小会使得进入样品的电子更为集中。故提升加速电压将增加注入样品单位面积的电子数，在一定程度上会加强荷电场强度，不利于降低荷电场对测试结果的影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 改变任何因素对最终结果的影响都遵循着辩证法的规律，存在正、负两个方面结果的竞争。结局如何？取决于各自量变的积累是否使其成为结局的主导，所谓：量变到质变。 /strong strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压的增加从电荷量的改变这个方面来说，不利于样品荷电场的减弱。但是加速电压的增加也会带来以下有利于减少荷电场影响的变化：1.& nbsp 电子能量的提升，大量电子深入样品内部形成堆积，造成样品中荷电场位置的下移，当该位置深入到一定值时会失去对表面电子溢出的影响。& nbsp 2. 入射电子能量的提升引发背散射电子能量提升，当探头获取的信息主体是背散射电子时，将有利于削弱荷电场对结果的影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下面将依据实例来探究改变加速电压对荷电现象的影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong A) 加速电压越高，荷电越强 /strong /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/1eea1347-275c-4c03-8646-074eae49ef0c.jpg" title=" 捕获.PNG" alt=" 捕获.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上三张照片展现的是一种特种布料的截面。照片从下到上可见，布纤维层上涂敷了漆料，漆料上做了多层膜。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 测试条件：分别用1KV、2KV、6KV加速电压对其进行观察。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品特性：截面观察，无论是布纤维、油漆层还是薄膜层相对电子束来说都是无穷厚，电子束能量再高也无法击穿。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 漏电能力：1.& nbsp 处于中间的油漆层是 strong 密度较大的非晶态固体 /strong ，漏电能力极差且 strong 荷电场的位置 /strong 在样品中较难移动；2.& nbsp 布纤维密度较大，漏电能力较强，形成的荷电场强度较小；3. 薄膜层是紧密的晶体结构，漏电能力最强，不易形成荷电场。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 结果：提升加速电压，随着注入样品的电子增多，三个部位分别表现为：1.油漆层 1KV注入的电子少，无荷电现象；2KV荷电现象的强度和区域都明显增加，6KV整个油漆区域都存在严重的荷电现象；2.& nbsp 布纤维 1KV无荷电现象，2KV出现轻微的荷电，6KV荷电现象加重；3.& nbsp 薄膜层始终无荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong B）加速电压升高荷电现象减轻 /strong strong /strong /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/306aa525-67a8-4be0-a866-3b5590b121c5.jpg" title=" 2.PNG" alt=" 2.PNG" / /p p style=" text-align: center " strong 枝晶MOF /strong strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品介绍：枝晶MOF，松散的晶体材料（见最后一张）。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 测试条件（AV）：100V、200V、300V、400V、600V、700V /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品特性：样品松软、凹陷，漏电能力较差而电场容易沉降。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 结果：加速电压100V，电子累积于凹陷的上表层。荷电场位置极高，抑制凹陷处二次电子溢出，图像呈异常暗。二次电子产额的不足，造成荷电场对结果影响极大，图像变形严重。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 200V、300V、400V，随着加速电压的提升，荷电场从样品表面下沉，电子信息开始溢出样品。只是此时表面信息还是受荷电场影响，出现磨平或异常亮的现象，但随荷电场的下沉而逐步减弱。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 这是一个晶体材料，加速电压的增加很容易在晶体结构上形成电荷通路，使得样品漏电能力增强而进一步加速荷电场的下降。因此我们可以看到随着加速电压从200V增加到400V荷电现象快速的减弱。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压增加到600V以后，形成的荷电场更深，至此对样品电子信息的溢出也无法形成影响。荷电现象消失。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 提升加速电压有利于荷电场的下沉减少样品的荷电现象，但缺点是，过高的加速电压会使得样品表面信息出现缺失。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/5b33187f-2953-4615-8e37-654fad2e2829.jpg" title=" 3.PNG" alt=" 3.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上实例充分展示，加速电压对样品荷电的影响并不单调，同样遵循辩证法的规律。样品漏电能力是形成荷电场的内因，是根基。改变加速电压会对荷电场在样品中所处的位置及强度产生影响，是形成荷电场最重要的外部因素。实际操作中，选取不同加速电压，依据结果的变化趋势来修正测试参数，是最有效抑制样品荷电场影响的方法之一。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong C）增加加速电压对荷电场强度和位置的影响 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以下测试结果组合，将向我们充分展示：随着加速电压增加所带来的荷电场强度增加和荷电场位置下移，这两个增加和减弱样品荷电现象的因素，它们之间各自量变的竞争，将会给测试结果在荷电现象的呈现上，带来怎样的质变。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/8f694a6a-9018-4704-b2db-30bdb0a881dc.jpg" title=" 4.PNG" alt=" 4.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品名称：真菌和锑纳米颗粒 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 测试条件（AV）：1KV、2KV、3KV、5KV、10KV、20KV /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 测试结果：1KV，注入样品的电子数较少，荷电场强度弱，对溢出样品表面的电子信息影响不大，测试结果无荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2KV、3KV，注入样品的电子数增多，荷电场强度逐渐加强，而荷电场的位置却处于能充分影响样品电子信息溢出的区间，因此随着加速电压的增加荷电现象加重。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5KV，10KV、20KV虽然注入样品的电子数进一步增加，但荷电场在样品中的位置同步加深，逐渐失去对溢出样品表面电子信息的影响。荷电现象减弱直至在10KV后再次消失。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong D）减速模式与样品的荷电现象 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 主流观点认为：在样品台上附加一个减速场将有效的减弱样品荷电的影响。至于具体原因交代的并不清晰。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 实际测试过程中发现，减速场并不存在消除荷电的效果，但会对荷电现象的表现形式产生影响，结果也较为复杂。有可能消除也可能加重荷电现象，或从异常暗转变为异常亮。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/e1cefc7e-789c-4dde-bfb9-f5500d96f208.jpg" title=" 5.PNG" alt=" 5.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上都是介孔KIT-6。该样品具有一定的晶体特性，因此拥有一定的漏电能力。而晶体结构和块体形态的差异，使得不同块体以及块体的不同部位，漏电能力都存在些微差异。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品下方添加一个负电场（减速场），这个电场也会对样品各部位产生影响。样品各部位的特性及漏电能力不同，受减速场的影响也不同，出现的荷电现象更不相同。虽无法精确定量减速场对最终结果的影响，但因其出现在下方，故该影响以信息增加为主，荷电形态的变化也以由暗到亮为主。 /p p style=" text-align: center " span style=" font-size: 18px " strong 1.2 改变束流对样品荷电的影响 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 降低束流将会减少电子束注入样品的电子数，故束流降低荷电现象必然是减弱。但降低束流会使得电子束激发的样品信息总量下降，溢出样品表面的电子总量也会下降，探头获取样品的表面信息不足，使得样品表面形貌像的质量较差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 易形成荷电的样品，绝大部分都是由轻元素所组成的非晶态结构，表面信息都不充足。因此降低束流达成减少荷电影响的手段，除非万不得已，很少被使用。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/73c23666-7a1b-453f-a5f3-dfffba92be0e.jpg" title=" 6.PNG" alt=" 6.PNG" / & nbsp /p section style=" box-sizing: border-box text-align: justify " section style=" text-align: center justify-content: center position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" color: rgb(86, 86, 86) letter-spacing: 1px padding: 0px line-height: 1.8 box-sizing: border-box " p style=" margin-bottom: 0px padding: 0px box-sizing: border-box margin-top: 10px " strong span style=" color: rgb(151, 72, 6) font-size: 18px " 二、& nbsp 样品荷电的应对 /span /strong /p /section /section section style=" text-align: center margin: 0px 0% 10px font-size: 0px position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: inline-block width: 100% height: 3px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(254, 222, 69) box-sizing: border-box " section style=" margin: 0px 0% transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -webkit-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -moz-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -o-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: inline-block vertical-align: top transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -webkit-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -moz-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -o-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) border-style: none border-width: 0px border-radius: 0px border-color: rgb(62, 62, 62) padding: 0px background-color: rgba(255, 255, 255, 0) width: 100% height: auto box-sizing: border-box " section style=" margin: 0px 0% position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: inline-block vertical-align: top transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -webkit-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -moz-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) -o-transform: matrix(1, 0, -0.2, 1, 0, 0) border-style: none border-width: 0px border-radius: 0px border-color: rgb(62, 62, 62) padding: 0px background-color: rgba(254, 255, 255, 0) width: 100% height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap justify-content: center position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto box-shadow: rgb(0, 0, 0) 0px 0px 0px flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(255, 255, 255) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 不同形态和特性的样品，其荷电现象的成因及形成荷电场的强度和位置都不相同。选用不同能量的电子信息（SE/BSE）形成表面形貌像时受荷电场的影响程度也不同。依据这种种不同来选择合适的测试条件，将有效的克服样品荷电影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 应对样品荷电影响的思路递进路线图： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.& nbsp 在保证样品信息不受影响的情况下，尽量选择漏电能力强的部位来测试并增加探头接收背散射电子信息的含量。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.& nbsp 如果采用以上方法无效，应尽量选择形成荷电场强度小的测试条件。比如：合适的加速电压、束流及快速拍照等。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.& nbsp 再无效，可给样品覆盖漏电能力强的物质（蒸金）来降低荷电场的影响。该方法容易形成细节假象，要把握住量。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上应对样品荷电现象的思路递进只是一个建议。实际操作可不按这个路径，即可单独运用，也可以组合起来使用。因时而变、因势而取，只要适合就是最好的。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 最高目标：充分克服样品荷电的影响，充分获取真实的样品信息，充分获得样品的高质量表面形貌像。 /p p style=" text-align: center " span style=" font-size: 18px " strong 2.1受荷电影响小的样品结构及电子信息 /strong /span strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.1.1受荷电影响小的样品结构 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 小颗粒以及连续、紧密的晶体结构漏电能力都很强，在该结构中无法形成荷电场或形成的荷电场强度不大，无需进行特殊处理即可直接观察。该类样品分以下五种情况。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong A)& nbsp & nbsp 纳米颗粒，直径小于几百纳米的样品 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 酒精分散滴在硅片上烘干。直径几百纳米的小颗粒表面能很强、吸附力大，不用考虑固定问题。颗粒越小吸附力越好。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 采用硅片的原因：1.& nbsp 硅片是半导体，虽导电性不好，但其本身是结构紧密的晶体，电子迁移效果好，漏电能力强，不会形成荷电现象；2.& nbsp 硅片本身电子信息极弱，抛光好的硅片表面平整，不会形成背底信息；3.& nbsp 硬度大，有利于样品在其表面充分的站立，获取的样品表面形貌像立体感强。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/48c68779-a0ec-4532-a96d-99daf8bdbf63.jpg" title=" 7.PNG" alt=" 7.PNG" / /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/f774d24c-ada8-4f23-8b2a-1f025e1cf718.jpg" title=" 9.PNG" alt=" 9.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong B）连续、紧密的晶体结构 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 紧密、连续的晶体结构漏电能力较强，自由电子在样品上的迁移也十分容易。这类样品只要做到充分的接地，样品中形成的电荷累积就很少，不存在荷电现象或荷电极其轻微。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/7bc8fc68-2862-476d-b2db-fc94808f7a6a.jpg" title=" 10.PNG" alt=" 10.PNG" / /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/ceec775c-414c-401f-af53-d2361e58d006.jpg" title=" 11.PNG" alt=" 11.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong C）漏电能力差异大的样品 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 一个样品，如果不同部位的漏电能力有很大差异，样品的荷电只会在漏电能力差的部位聚集出现。测试时只需要避开漏电能力较差的部位，结果就不会受到荷电影响。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/8d950643-1090-4f87-8139-4f30594caab4.jpg" title=" 12.PNG" alt=" 12.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 同一个样品，不同部位漏电能力的差异来自两方面原因：1.材料特性上的些微差异，上面已有充分展示；2. 颗粒堆积体的堆积形态，凹陷部位容易积累电子，降低样品整体的漏电能力，该处极易形成荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 易形成荷电现象的部位，在测试时需要加以规避。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/fe5a942c-0912-44a2-84f7-4974245817d5.jpg" title=" 13.PNG" alt=" 13.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong D）低倍有荷电现象不代表高倍率也会有荷电现象 /strong strong /strong /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/56a3afdc-fd4e-4898-b8c3-f51b7944099a.jpg" title=" 14.PNG" alt=" 14.PNG" / /strong /p p style=" text-indent: 0em " strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong E）高倍率有荷电不代表低倍率也会出现荷电现象 /strong /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " strong /strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/1e1dfda1-fd2a-41fa-abf3-6a9c3761ce8a.jpg" title=" 15.PNG" alt=" 15.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.1.2 选择受荷电影响小的电子信息（BSE） /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong A）背散射电子能量比较大 /strong ，其溢出量不容易受到样品荷电场的影响。遇到样品有荷电现象时，选择背散射电子常常可以解决90%的荷电影响。样品仓探头接收的样品信息是以背散射电子为主，是应对样品荷电现象的最有效手段。提升背散射电子能量，也是进一步减少荷电影响的有力方式。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/95c96f8e-7433-444d-9dd7-c09e566d3408.jpg" title=" 16.PNG" alt=" 16.PNG" / /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/d94b56cd-bccf-480f-a623-d8b973744eb1.jpg" title=" 17.PNG" alt=" 17.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 改变工作距离，降低上、下探头接收到的样品电子信息中总的二次电子含量，能起到减少样品荷电影响的效果。 strong /strong /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/031ef60e-af40-4d9c-84df-4550dd5efc96.jpg" title=" 18.PNG" alt=" 18.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 用样品仓探头观察200纳米以上的细节，清晰度和辨析度（细节分辨能力）都好；观察200纳米到20纳米细节，清晰度随细节变小而逐渐变差但辨析度具有优势；观察10纳米以下细节，清晰度和辨析度都很差。故除非观察10纳米以下的细节，对其它信息合理采用样品仓探头往往更有利。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/af2b57e0-acd1-4670-824a-48c58f3646d0.jpg" title=" 19.PNG" alt=" 19.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong B）选择不同角度的二次电子也会对图像荷电现象形成影响 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面二次电子溢出的分布并不均匀。与样品表面夹角大的高角度二次电子，溢出方向与荷电场法线方向基本重合，故比低角度二次电子更容易受荷电场的影响。探头接收的样品电子信息中高角度信息越多，荷电对结果的影响就越大。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/c3ca2fb8-96bb-4393-9a5c-574de4b98c9d.jpg" title=" 20.PNG" alt=" 20.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上事例充分说明，利用样品本身的漏电能力以及选用受荷电影响小的电子信息（背散射电子，低角度电子信息）都对减少样品荷电对结果的影响有明显效果。如果采用以上方式无法消除荷电场对测试结果的影响，那又该如何处理？ /p p style=" text-align: center " span style=" font-size: 18px " strong 2.2选择形成荷电场强度小的测试条件 /strong /span strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 除了加速电压与束流对样品荷电场的形成有直接影响外，电子束的扫描速度也会影响样品中荷电场的形成。用快速的扫描方式成像，对降低样品的荷电影响同样效果显著，只是成像质量较差。这就是CSS和TV成像模式。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.2.1采用电子束快速扫描方式获取图像 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 快速移动的电子束会减少每次扫描时电子在样品中的注入量，并有助于电子在样品中迁移，这都会使样品中的荷电场强度大大减弱。以快速的电子束扫描模式来获取样品表面形貌像，有利于减少样品荷电对测试结果的影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 快速扫描获取样品表面形貌像的方式有：CSS和TV模式。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " CSS模式是以快速、多次线扫，然后取几次线扫的平均值做为图像每条线的衬度信息。整幅图像就是由这些以线扫方式所获取的样品表面形貌衬度信息所组成。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " TV模式是以更快速的面扫描方式获取样品表面形貌像，将十几或几十幅图片叠加在一起形成最终的表面形貌像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以电子束的快速扫描方式获取样品信息，在降低荷电的影响时，也大大削弱了样品信息的溢出量，使图像质量较差。电子束移动速度越快图像质量越差。TV模式图像质量最差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图像漂移是快速扫描成像模式所面对的最大问题。图像漂移越严重，清晰度就越差，严重的漂移会引起图像变形。虽然有些厂家设计了图像漂移校正软件，但都有限度，与慢扫描模式所获取的图像质量还是有一定差距。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 改变测试条件解决样品荷电影响，常常会给扫描电镜的图像带来正、反二方面的结果。用辨证的观念，坚持适度性原则，是选择最佳测试条件的更本保障。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/93c65b6d-7ef6-4019-bb09-087b799012ae.jpg" title=" 21.PNG" alt=" 21.PNG" / /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/639d9ab7-f211-419a-88a5-ace79ff57379.jpg" title=" 22.PNG" alt=" 22.PNG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.2.2样品表面蒸镀漏电能力强的物质（蒸金） /strong strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 给样品表面“蒸金”，让漏电能力强的金膜与电子束接触，既可增加样品表面的漏电能力，减少荷电场对结果的影响，还能提升样品电子信息的溢出量，改善表面形貌像的质量。但该方法带来的严重后果是对表面形貌细节的掩盖和改变。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 既要保证获取优质的表面形貌像又要对表面形貌像没有结构性的改变，把握好蒸金的量就极为关键。 strong 多次、多角度的微量蒸金 /strong ，是用蒸金的方式获取最佳结果的最有效方法。采用这种方法，可以避免蒸金的死角也容易掌控蒸金的量。如同炒菜时的调味，味不足可以弥补，味太过只能倒掉。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/173a8c15-f847-4f79-bfce-cf8d17a6ca8e.jpg" title=" 23.PNG" alt=" 23.PNG" / & nbsp /p section style=" box-sizing: border-box text-align: justify " section style=" text-align: center justify-content: center position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" color: rgb(86, 86, 86) letter-spacing: 1px padding: 0px line-height: 1.8 box-sizing: border-box " p style=" margin-bottom: 0px padding: 0px box-sizing: border-box margin-top: 10px " span style=" font-size: 18px " strong span style=" color: rgb(151, 72, 6) " 三、 结束语 /span /strong /span /p /section /section section style=" text-align: center margin: 0px 0% 10px font-size: 0px position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: inline-block width: 100% height: 3px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(254, 222, 69) box-sizing: border-box " section style=" margin: 0px 0% transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -webkit-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -moz-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) -o-transform: translate3d(-10px, 0px, 0px) position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" 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section style=" display: flex flex-flow: row nowrap justify-content: center position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto box-shadow: rgb(0, 0, 0) 0px 0px 0px flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(255, 255, 255) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section section style=" display: inline-block vertical-align: top width: auto flex: 0 0 0% align-self: flex-start height: auto box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section style=" display: flex flex-flow: row nowrap position: static box-sizing: border-box " section style=" display: inline-block width: auto vertical-align: top flex: 0 0 0% height: auto align-self: flex-start padding: 0px 2px 0px 1px box-sizing: border-box " section style=" position: static box-sizing: border-box " powered-by=" xiumi.us" section class=" group-empty" style=" display: inline-block width: 3px height: 55px vertical-align: top overflow: hidden background-color: rgb(86, 86, 86) box-sizing: border-box " svg viewbox=" 0 0 1 1" style=" float:left line-height:0 width:0 vertical-align:top " /svg /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section /section p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品的荷电现象源于电子束轰击样品时，注入样品的电子数和溢出样品表面的电子数之间出现差异。由于溢出样品表面的各种电子总数，只占电子束激发的样品电子信息中，极少的一部分，因此注入的电子数一定会远多于溢出样品表面的电子数。多余出来的电子就在样品中形成自由电子。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如果样品形态是： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1. 颗粒较小（几百纳米以下）或连续、紧密的晶态结构。这类样品本身的漏电能力很强，自由电子在样品中迁移十分容易。当样品接地良好，则多余的电子就会从样品中漏除。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2. 样品颗粒很大且是断续、松散的非晶态结构或小颗粒的松散堆积体。这类样品的漏电能力较差，自由电子会在样品中形成堆积。这些堆积的电子将在堆积处形成静电场，从而影响样品中各种电子信息的正常溢出，在样品的表面形貌像上叠加异常暗、异常亮或者磨平这三种形态的荷电现象。静电场由样品的荷电所形成，因此也称为“荷电场”。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子能量较弱，由其为主形成的图像最容易受荷电场影响而酿成荷电现象。背散射电子能量较大，溢出量不易受荷电场影响，由其为主形成的图像很少出现荷电现象，且加速电压越大，图像出现荷电现象的几率越低。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 荷电现象只影响图像的形态而对样品形态不产生影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品的荷电现象有三种形态：异常亮、异常暗、磨平 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 异常亮：当样品表面有大量二次电子产生，而荷电场产生在样品信息溢出区的下部。此时荷电场会将位于其上方的二次电子大量推出，荷电场及周边的信息正常溢出得到异常的增加，出现异常亮。该现象往往出现在使用较高加速电压观察堆积体和密度较大但漏电能力较差的样品中。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 异常暗：当荷电场位于样品信息溢出区的上部。此时样品的信息溢出受到荷电场的抑制，从而形成异常暗的现象。这类现象常常出现在采用低加速电压观察较松散样品的凹陷部位。增加加速电压会使得荷电场的位置下降，这种荷电形态容易转变成磨平或异常亮直至消失。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 磨平：样品浅表层有足够的信息产生，而荷电场位置较高，和信号溢出区混杂，荷电场会使得溢出样品的电子异常减少而影响细节分辨。这类现象较易出现在较低加速电压观察松散的样品。增加加速电压，荷电现象也会变为异常亮或消失。& nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 应对样品荷电影响的方式有很多。各种应对方式所适合的样品类型及所获取的样品信息也各不相同。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 充分分散样品，使得样品各点充分接地将极为关键。它能消除很多因样品堆积而产生的附加荷电场。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 应对样品荷电应遵循尽量提升样品本身的漏电能力，减少样品上自由电子堆积的原则。充分分散和固定好样品，准确找到样品上漏电能力强的部位进行观察，是十分有效的手段。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 接收受荷电影响小的电子信息（背散射电子、低角度电子信息等）。在保证图像分辨力的基础上，选择形成荷电场小的加速电压和束流，采用快速扫描（CSS\TV模式）获取表面形貌像，这些都是削弱样品荷电影响的有效方式。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如果以上方式都不奏效，在样品表面形成漏电层（蒸金& nbsp ）将成为很关键的方法。蒸金应当遵循多次、多角度、微量蒸镀的原则，保证金膜均匀、适量。最佳的效果是即消除荷电影响，又提升图像质量，还对原有的图像细节影响小。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 实际操作过程中往往会发现，应对样品荷电，采用单一的方法并不能给我们带来完美的结果。表现为荷电不能被完全消除，图像质量受到影响。将几种消除荷电的方式复合使用常常能带来更好的效果，是应对样品荷电最有效的手段。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 荷电现象是进行扫描电镜测试时，经常遇到并让测试者十分头痛的问题。正确认识荷电形成的原因，才能找到可行的应对方式。希望本文能给大家提供一定的参考。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 参考书籍： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》 张大同2009年2月1日& nbsp span style=" text-indent: 2em " 华南理工出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等& nbsp 2009年1月& nbsp span style=" text-indent: 2em " 中科大出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月& nbsp span style=" text-indent: 2em " 人民出版社& nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《显微传》 章效峰 2015年10月& nbsp 清华大学出版社 /p p style=" margin-top: 0em margin-bottom: 1em padding: 0px color: rgb(68, 68, 68) text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 0, 0) " strong style=" margin: 0px padding: 0px " 作者简介 /strong /span strong style=" margin: 0px padding: 0px " ： /strong /p p style=" margin-top: 0em margin-bottom: 1em padding: 0px color: rgb(68, 68, 68) text-align: justify text-indent: 2em " span style=" margin: 0px padding: 0px text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 82px height: 128px float: left " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202010/uepic/97fabfc9-e32f-4731-9623-40143ec93450.jpg" title=" 林.jpg" alt=" 林.jpg" width=" 82" height=" 128" / /span span style=" text-indent: 2em " 林中清，1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。& nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 延伸阅读： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/zt/LZQ" target=" _self" style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " strong style=" color: rgb(0, 176, 240) " 【系列专题：安徽大学林中清33载扫描电镜经验谈】 /strong strong style=" color: rgb(0, 176, 240) " /strong /a /p p style=" text-indent: 2em " strong 林中清系列约稿互动贴链接 /strong （点击留言，与林老师留言互动）： /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://bbs.instrument.com.cn/topic/7656289_1" target=" _blank" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " https://bbs.instrument.com.cn/topic/7656289_1 /span /strong strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " /span /strong /a /p

《挥发性有机物泄漏检测红外成像仪（OGI）技术要求及监测规范》于2023年11月18日在江西吉安正式发布。作为团体标准副主编单位，艾睿光电全程参与并大力支持该团标的编制工作，推动红外热成像在气体检测行业的应用和发展。作为红外热成像领军者，艾睿光电推出了一系列气体检测红外热成像机芯及整机产品，包括GT系列、CG系列、G系列等，能够检测甲烷、一氧化碳、二氧化碳、六氟化硫等多种VOC气体。积极部署三大技术密码极力解决行业难题一、 AI预警，快速定位泄漏点连续多帧气体目标的动态学习，实现AI识别预警，快速定位泄漏区域。二、 气体着色，让危险无处可藏将红外热成像视频流中泄漏气体的运动痕迹分割提取并彩色标注的增强显示方法，极大地提高人眼识别能力，让气体泄漏清晰可见。三、超长寿命，让客户无后顾之忧GT系列在线气体检测红外热成像采用线性制冷技术，寿命高达20000小时以上，非制冷产品更是无寿命限制，极大地降低维护成本。作为红外热成像领军者，艾睿光电凭借芯片能力、技术优势、产业集群优势，破解能源化工用户气体检测痛点。未来，艾睿光电将继续坚持红外热成像气体检测技术的研发和创新，为行业提供更多产品和解决方案。

记者近日从中国科大了解到，该校微电子学院龙世兵教授课题组基于低成本非晶氧化镓材料，通过缺陷和掺杂工程实现了极端环境下依然表现超高灵敏度的日盲探测器。该方法为高性能、耐极端环境日盲紫外探测器的研制及应用提供了一种可行的参考。相关成果日前在线发表在《先进材料》杂志上。 氧化镓作为新兴的超宽禁带半导体材料，具有热稳定性好、禁带宽度大、紫外吸收系数大、材料易加工等优点，是日盲紫外探测较为理想的候选材料。然而，基于非晶氧化镓材料开发高环境耐受性的高性能日盲紫外探测器还需解决其材料稳定性差、缺陷密度高、漏电流大、持续光电导效应明显等问题。 课题组通过一系列研究，成功设计出高性能且耐极端环境的氧化镓日盲紫外光电探测器。与常规非晶富镓氧化镓器件相比，工程化处理的器件暗电流降低107倍、探测率提升102倍、响应速度提升。同时，得益于子带隙吸收的抑制，探测抑制比提升了105倍，显示出器件优异的光谱选择性。在高温、高压、高辐射等极端条件下，器件依然保持较高的探测性能，实现了高温下的清晰日盲成像验证。

3月13日，国务院印发《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》，明确到2027年，工业、农业、教育、医疗等领域设备投资规模较2023年增长25%以上。《方案》明确了5方面20项重点任务，其中在实施设备更新行动方面，提到要提升教育文旅医疗设备水平，明确指出将“推动符合条件的高校、职业院校（含技工院校）更新置换先进教学及科研技术设备，提升教学科研水平；严格落实学科教学装备配置标准，保质保量配置并及时更新教学仪器设备……”以下为仪器信息网整理的高等职业学校光伏发电技术与应用专业仪器设备装备规范，以飨读者。表1 基础实验仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所教学实训 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范电 工 电 子 实 验 室1.理解基 本电路原 理；2.会识读 电气图纸； 3.会根据 测量信号 分析电路 工作特性； 4.掌握常 用电子元 器件识别 的基本检测方法；5.掌握常 用电子仪 器仪表的 使用方法。1电 工 电 子 实 验 台1.能验证电路基本定理定律；2.具有基本电参数的测量功能；3.可完成 R、L、C 等电路元件的特性分析及 电路实验；4.具备单相、三相交流电路的实验功能；5.具有模拟电子电路、 具有数字电子电路的 实验功能；6.具有漏电保护功能。台10202万用表1.直流电压： （0～25）V；20000Ω/V （0～500）V；5000Ω/V； ±2.5%；2.交流电压：（0～500）V；5000Ω/V；±5.0%； 3.电阻： 量程，0～4kΩ~40kΩ~400kΩ~ 4MΩ~40MΩ 25Ω 中心； ±2.5%；4.音频电平： -10dB～+22dB。台10203信号发 生器1.频率范围： 0.1Hz～1MHz；2.输出波形： 正弦波、方波、三角波、脉冲 波；3.输出信号类型： 单频、调频、调幅等； 4.外测频灵敏度：100mV；5.外测频范围： 1Hz～10MHz；6.输出电压： ≥20Vp-p(1MΩ) ，≥10Vp-p(50Ω)；7.数字显示； TTL/CMOS 输出；台10204双踪示 波器1.频宽： 20MHz；2.偏转因数： 5 mV/div～20 V/div； 3.上升时间： ≤17 ns；4.垂直工作方式： CH1、CH2、ALT、CHOP、 ADD ；5.扫描时间因数： 0.2μs/div～0.5s/div； 6.触发方式： 自动、常态、TV-H、TV-V；7.触发源： 内(CH1,CH2,交替)、外、电源； 8.触发灵敏度：内触发不小于 1div，外触 发不小于 0.5Vp-p。台10205交流毫 伏表1.测量范围： 0.2mV～600V；2.频率范围： 10Hz～600kHz；3.电压测试不确定度： ±1%；4.输入阻抗： 1MΩ。台1020表2 基础实训仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所教学实训 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范电气控制与PLC控制实训室1. 了解单 相、三相 交流电机 的基本电 气控制原 理 与 方 法 。 2. 掌 握 电气系 统 一般故 障的产生 原因与故 障排除方 法；3. 熟 悉 PLC 基 本 指令编程 方法，掌 握 用 PLC 控制简单 对象的方 法 和 技 能。1电气控 制 与 PLC 控 制实验 装置1.具有可靠的漏电保护功能；2.配有常用低压电器，可在该装置上完成 低压电器控制实验实训项目；3.采用可编程逻辑控制器进行控制实训项 目；4.输入电源：三相四线制，380V±38V， 50Hz；单相 ，220V±22V，10A，50Hz；直 流电源，24V/2A；5．I/O 点＞20；6.可进行 PLC 硬件接线与软件编程功能， 能对 PLC 进行安装与维护操作；7．有可用 PLC 控制的控制对象，实现其动 作执行；8．有可供开放式连接的按钮及 I/O 量和模 拟量输入传感器。套1020电力电子实训室1.理解常 见电力电 子器件工 作原理； 2.理解常 见整流电 路工作原 理；3.理解逆 变电路工作原理。1电力电 子实训 装置1.具有可靠的漏电保护功能；2.可进行单相、三相不可控整流电路连接 与测试实验；3.可进行单相、三相可控整流电路连接与 测试实验；4.可进行单相桥式有源逆变电路实验； 5.可进行单相交流调压电路实验；6.可进行三相交流调压电路实验；7.可进行六种直流斩波电路(Buck、Cuk、 Boost、Sepic、Buck-Boost、Zeta)的电路 实验；8.可进行单相交直交变频电路实验；9.可进行正弦波(SPWM)逆变电路实验； 10.可进行全桥 DC/DC 变换电路实验。台1020表3 专业实验仪器设备装备要求实 训教 学 场 所实训教学目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准代码备注合格示范光 伏 原 理 及 应 用 实 验 室1. 了解光照 条件和其它环 境因素对太阳 能电池发电量 的影响；2.了解光伏产 业链不同环节 的生产工艺流 程；3.了解光伏发 电的应用；3.理解控制器、蓄电池、 逆变器的工作 原理，掌握其 使用方法；4.能进行光伏 发电系统的安 装与调试；5.能进行太阳 能电池的电性 能测试。1光伏电 池特性 测试仪1.能测试不同光强度下完整的 I-V 曲线、P-V 曲线、开路电压和短路 电流；2.能测试太阳能电池负载特性及转 换效率等。台20402太阳光 测试仪1.具有检测太阳光强度的功能；2.具有检测太阳光有效辐射 的功 能；3.具有检测分析太阳光光谱 的功 能。套10203环境检 测仪能够检测风速、温度、露点、湿度、 气压、海拔高度等环境参数套124光伏产 品展示 柜（室）1.展示硅砂、工业硅、太阳能级硅、 硅块、硅棒、硅片等原材料；2.展示各型电池片；3.展示单晶硅、多晶硅和非晶硅等 光伏组件以及其它类型光伏电池；4.展示典型光伏产品，如： 太阳能手电筒、太阳能充电器等；5.光伏产业工艺流程展示图。套115光伏发 电实验 装置1.系统包括：光伏组件、控制器、 逆变器、蓄电池、光源和负载；2.系统各部件之间相对独立，可根 据实验要求连接；3.能进行光伏发 电原理 的相关实 验，包括 I-V 特性曲线实验、直流 负载实验、充放电实验、逆变和交 流负载实验。套1020光伏系统安全 应符合GB/T 20047.1-2006表3 专业实验仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所实训教学 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范光 伏 材 料 检 测 实 验 室1.能进行硅 片的外观特性检测；2.能利用冷 热探针法测 量半导体类型；3.能利用四 探针电阻率 测量法对半 导体材料电 阻率及薄层 电阻进行检测；4.能进行单 晶硅、非晶 硅的非平衡 少数载流子寿命的测量；5.会对硅片 制绒时的绒 面，丝网印 刷时的栅线 宽度等进行 检测；1游标卡尺测量范围： 0mm～200mm；测量精度：机械游标卡尺 0.02mm；数显游标卡尺 0.01mm。把4040示范数显游标卡尺不少于20把2翘 曲 度 测 量仪翘曲度测量范围:1μm～20μm； 重复精度：0.5%；测量参数：曲率半径、晶圆弯曲高 度、翘曲度。台23P-N 型测试 仪测量范围：电阻率： 0.01Ω ²cm～200Ω ²cm功耗：≤30W。台5104四 探 针 电 阻 率 测 试 仪数字电压表量程：0 mV～199.999mV；灵敏度： 1μV；输入阻抗： 1000MΩ 可测电阻范围： 1μΩ~1MΩ 可测硅片尺寸：Φ15 mm~Φ200mm。台5105半 导 体 少 子 寿 命 测 量仪寿命测试范围： ≥2μs；光脉冲发生装置：重复频率≥25 次/s；脉宽≥60μs；光脉冲关断时间≤5μs；红外光源波长：1.06μm～1.09μm；低输出阻抗，输出功率≥1W； 配用示波器：频带宽度不低于 10MHz。台11表3 专业实验仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所实训教学目 标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范光 伏 材 料 检 测 实 验 室6.会根据单 晶硅和多晶 硅太阳能电 池的电性能 参数进行分 选。6电子天平量程： ≥100g；精度： ≤0.01g；称盘尺寸： ≥150mm³200mm。台127金 相 显 微 镜物镜倍数： 5X、10X、20X、50X、 100X；目镜倍数： 10X；观察功能： 明场、高级暗场、圆偏 光；可配图像分析系统(摄像头、图像 分析软件)。台5108太 阳 能 电 池分选机光谱范围：应符合 GB/T 6495.9－2006（等级 A）要求；辐照强度调节范围：70 mW/cm2～120mW/cm2；辐照不均匀度≤3%；辐照不稳定度≤3%；测试结果一致性≥99%；电性能测试误差≤2%；有效测试面积≥125mm³125mm； 有效测试范围：0.1W～5W；测试参数：短路电流、开路电压、 最大功率、最大电流、填充因子、 转换效率、测试温度。台129椭偏仪光源：氙灯；波长范围：250 nm～830nm； 波长分辨率：1.0 nm；入射角范围：20º~90º 入射角精度：0.001º 椭偏参数精度：D ±0.02º、 Y ±0.01º 光学常数精度优于 0.5% 膜厚准确度： ±0.1nm。台12表4 专业实训仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所实训教学 目标仪 器 设 备序号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准代码备注合 格示 范光 伏 组 件 加 工 实 训 室1.了解光 伏组件的组成；2.了解光 伏组件的 生产工艺流程；3.掌握电 池片切割、 测试、焊 接、串接、 敷设、组件 层压、修 边、装框、 接线盒安 装等操作方法；4.掌握光 伏组件光电性能的 检测方法； 5. 掌 握 异 常情况下 的处理方 法。1激光划 片机激光波长： 1.064μm；激光重复频率： 200Hz～50kHz；激光功率： ≥20W；划片线宽：≤300μm；最大划片速度：≥100mm/s；划片精度：≤10μm工作电源： 380V（220V）/50Hz使用电源功率：≥2.5kVA。台122台11表4 专业实训仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所执行标准 代码备 注合 格示 范光 伏 组 件 加 工 实 训 室同上

2010年3月6日至7日，国网电科院电气设备检测中心顺利通过中国合格评定国家认可委员会(英文缩写为：CNAS)组织的实验室认可监督评审。评审组专家对电气设备检测中心8个质检站和2个实验室进行了现场评审，从文件、记录、测量溯源性、设施环境等方面进行了重点检查。通过现场评审，评审组专家对中心的实验室质量管理工作给予充分肯定和高度评价，认为电气设备检测中心实验室管理体系和技术能力满足CNAS认可要求，维持CNAS认可范围。 　　电气设备质量检测中心负责对电力生产所用的主要电工产品进行质量检测，协助国家电网公司有关部门对运行设备进行事故分析，同时负责低压成套开关设备、漏电断路器等的3C认证检测工作，于2000年获得CNAS认可。历次CNAS监督评审都表明，电气设备检测中心实验室质量管理体系完善，质量管理体系和实验室认可准则实施有效，检测、校准服务质量不断提高。2009年，电气设备检测中心确定建设成为专业齐全、国际知名、国内领先的权威实验室的目标，对组织机构、人员职责进行了调整，并及时同步对质量手册和程序文件进行了修订，组织专家对实验室质量体系管理相关人员进行了为期一周的新一轮专题培训，随后进行了多次自查工作，对实验室比对，能力验证，不确定度评定，标准查新，设备租赁等方面进行重点审查，并按照计划于2009年9月进行了管理体系的内部审核，12月实施了管理评审。 　　中国合格评定国家认可委员会是由国家认证认可监督管理委员会批准设立并授权的国家认可机构，统一负责对认证机构、实验室和检查机构等相关机构的认可工作。

据美国物理学家组织网12月21日(北京时间)报道，德国科学家研制出一种新式的通用晶体管，其既可当p型晶体管又可当n型晶体管使用，最新晶体管有望让电子设备更紧凑 科学家们也可用其设计出新式电路。相关研究发表在最新一期的《纳米快报》杂志上。 　　目前，大部分电子设备都包含两类不同的场效应晶体管：使用电子作为载荷子的n型和使用空穴作为载荷子的p型。这两种晶体管一般不会相互转化。而德累斯顿工业大学和德奇梦达公司携手研制的新式晶体管可通过电信号对其编程，让其自我重新装配，游走于n型晶体管和p型晶体管之间。 　　新晶体管由单条金属—半导体—金属结构组成的纳米线嵌于一个二氧化硅外壳中构成。从纳米线一端流出的电子或空穴通过两个门到达纳米线的另一端。这两个门采用不同方式控制电子或空穴的流动：一个门通过选择使用电子或空穴来控制晶体管的类型 另一个门则通过调谐纳米线的导电性来控制电子或空穴。 　　传统晶体管通过在制造过程中掺杂不同元素来确定其是p型还是n型，而新式晶体管不需要在制造过程中掺杂任何元素，通过在一个门上施加外部电压即可重新配置晶体管的类型。施加的电压会使门附近的肖特基结阻止电子或空穴流过设备，如果电子被阻止，空穴能流动，那么，晶体管就是p型，反之则是n型。 　　研究人员解释道，使这种再配置能起作用的关键是调谐分别通过肖特基结(每个门一个)的电子流动情况，模拟显示，纳米线的几何形状在这方面起关键作用。 　　尽管该研究还处于初期阶段，但新式晶体管展示出了极佳的电学特性。比如，与传统纳米线场效应晶体管相比，其开/闭比更高，且漏电更少。该研究的领导者沃尔特韦伯表示：“除采用人造纳米线外，采用目前先进的硅半导体制造技术也可以制造出这种晶体管，还可以用到自对准技术，大大提高工作频率和速度。” 　　接下来，科学家们计划通过改变材料的组成来改进新式晶体管的性能，并制造出由其运行的电路。他们表示，最大的挑战是，在将其与其他晶体管结合在一起时，如何将额外的门信号整合进来。

存储器作为所有电子信息系统的核心与基石，其在现代信息技术中的重要作用不仅是大国竞争的焦点，更是制约国家安全的关键和核心技术。但是，我国存储器市场基本被美日韩企业所垄断，虽然市场规模约占全球的35%，但自给率不足5%。特别是随着人工智能、物联网和大数据等新信息技术的快速发展与普及，全球数据量呈现爆发式的增长，而市场主流存储器产品因存在物理极限、存储鸿沟和功耗高的问题，无法满足未来海量数据处理的要求。因此，发展新型非易失性存储器正成为世界强国竞争的制高点。铁电存储器是一种采用铁电材料的双稳态极化来存储信息的新型非易失性存储器，因具有极优异的抗辐照性能和长久的数据保存能力，近30年来备受国内外高度关注。然而，锆钛酸铅等传统铁电材料作为存储介质的最小薄膜厚度约为70 nm，不能突破物理极限，翻转速度约为100 ns，不能解决存储鸿沟，且面临组成元素污染集成电路工艺线的巨大难题。2011年意外发现具有铁电性的氧化铪，有望引领存储器同时突破物理极限、存储鸿沟和集成电路工艺兼容性问题。唤醒效应、疲劳失效、性能不均一是阻碍氧化铪基铁电存储器走向应用的瓶颈问题，根本原因在于对氧化铪的5d电子结构、畴结构、铁电相等反常铁电性科学本质认识不足。针对以上需求及挑战，西安电子科技大学先进材料与纳米科技学院周益春教授团队开展5d电子材料铁电性物理本质与存储器设计新理论研究，以构建电子、声子以及跨尺度畴变模型，揭示5d电子材料铁电性的物理本质及其介观响应规律，建立畴与场效应协同的复杂系统器件设计新理论，从而实现铁电相、薄膜、存储器的全链条研制。(1) 提出了场效应与畴结构耦合的器件设计理论，建立了源漏电流（存储窗口）与栅电压、极化、应变、应变梯度之间的关联，实现了铁电存储器的电路设计与仿真，首次研制出64 kbit 氧化铪基铁电存储器。图1. 64 kbit铁电存储器及其功能演示照片(2) 基于与主流集成电路工艺线兼容的原子层沉积工艺，提出硅衬底上制备氧化铪基铁电薄膜的化-力-电多场调控原理和晶态high-k层降低铁电相形成能的策略，实现了杂相（化）、界面（力）、畴（电、力）的协同调控，在国际上首次实现了氧化铪基铁电存储器的后栅极制备工艺和后端集成工艺，并通过了标准工艺线的验证。图2 (a)8英寸氧化铪基铁电薄膜照片 (b) 后栅极工艺制备的铁电存储单元照片(3) 基于贝利相位和能带理论，揭示出氧化铪的铁电相是极不稳定的亚稳相，并阐明掺杂离子-氧空位复合缺陷、应变和电场的协同作用能有效稳定亚稳相；构建了氧化铪基铁电薄膜带电畴壁-内建电场相场模型，从理论上预测了氧化铪尾对尾90°电畴结构的存在及其对氧化铪基铁电薄膜“唤醒”效应与疲劳失效的影响规律，并通过像差校正扫描透射电子显微镜(Cs-STEM)证实90°电畴结构是导致氧化铪基铁电薄膜出现“唤醒”效应的重要原因。图3 氧化铪薄膜在(a)唤醒前和(b)唤醒后的晶相、电畴结构

冬去春来又到了装修的旺季说到装修，就不得不说一下各种测量仪器今天小菲先来说下FLIR测试测量相关产品的特色技术FLIR红外成像引导测量技术（IGM™ ）什么是IGM？IGM红外成像引导测量技术采用FLIR Lepton热成像传感器，能够精确定位有待进一步测量观察的可疑位置。 全面解读FLIR IGM技术在生活中的应用配备IGM技术产品的优势作为热成像技术供应商，FLIR提供的配备IGM红外成像引导测量技术的工具具备热成像功能，可以让您快速精确定位潜在问题。借助于IGM红外成像引导测量技术，您可以防患未然，更迅捷、更智慧地进行作业，并投入到接下来的工作当中。准确定位假使您需要精确定位墙后、地板下或者天花板上的问题，需要怎么做？借助FLIR IGM红外成像引导测量技术，可以帮助您省时高效地完成作业，避免臆测的不确定性。不仅如此，它还能让您远离潜在的危险情况，知道如何有序地开展作业！案例分析：案例︱使用FLIR红外热像仪与数字钳形表，通过电工测试节省时间时间就是金钱，而使用FLIR的IGM红外成像引导测量技术能够帮助您快速完成工作区域的扫描工作，找出问题并采取相关措施。识别泄漏的管道或气流不通的寄存器问题将变得非常简单。案例分析：当工控机遇上红外成像数字万用表，想说"怠工"都不行安全高效借助配备IGM红外成像引导测量技术的FLIR工具，让工作更安全、更高效。而不需要臆测电气问题的位置，IGM能够明确指出具有潜在问题的电线或保险丝的精确位置，让您更快找到问题，高效处理问题，提升公信力。案例分析：汛期已至，FLIR MR176/277帮您解决洪水灾后重建难题！FLIR带有IGM专利技术的系列产品包含红外成像万用表、红外成像钳形表、红外成像测温仪目前菲力尔京东、天猫线上店铺均有售不知道选哪款的小伙伴可以搜索选购哦~想要了解更多红外热成像知识可以点击报名ITC红外培训系统学习成为专业红外热像师没你想的那么难！

青岛四方思锐智能技术有限公司（以下简称“思锐智能”)与全球领先的GaN IDM厂商英诺赛科科技有限公司（以下简称“英诺赛科”)签订了一项新的ALD设备采购协议。根据该协议，思锐智能将为英诺赛科供应用于氮化镓半导体晶圆制造前道工艺的Transform系列量产型ALD沉积镀膜设备，支持其8英寸硅基氮化镓晶圆产线的扩充。GaN、SiC等第三代半导体功率器件是实现电力更高转换效率的关键。研究机构Yole Développement 预测，到2027年GaN功率器件的市场规模有望达到20亿美元。与此同时，随着消费电子、数据中心、移动出行、工业互联网、新能源等领域对氮化镓半导体产品不断增长的需求，推动了新兴半导体材料氮化镓的性能升级，并迈入快速发展时期。作为一种通用型技术，ALD镀膜工艺对于氮化镓功率器件的性能提升有着显著的增益，例如ALD薄膜可用于高质量的栅极介电叠层，有助于提升器件击穿电压、漏电抑制和阻水疏氧效果。Transform系列量产型ALD沉积镀膜设备，是思锐智能拥有近40年ALD技术积累的集大成者，支持配置多个ALD工艺模块，兼容热法及等离子体功能，可为应对不断增长的产能和新的应用而进行升级，目前已进入欧洲、北美、日本和中国大陆及台湾地区知名厂商，并实现重复订单。英诺赛科是全球领先的GaN IDM厂商，致力于第三代半导体硅基氮化镓 (GaN-on-Si) 研发与制造，拥有全球最大的8英寸硅基氮化镓晶圆生产能力，产品设计及性能处于国际先进水平，其高、低压全功率氮化镓芯片的累计出货量已经超过2.5亿颗，广泛应用于消费电子、服务器电源、汽车电子及新能源等前沿领域。思锐智能非常期待与英诺赛科携手，共同促进氮化镓产业、中国“双碳”目标以及可持续发展。思锐智能也在加速更多领域的产品研发与市场验证，积极布局其他前道装备业务，为客户提供更多价值，致力成为全球半导体产业发展的中坚力量。

药品稳定性试验箱的安全性如何保障？药品稳定性试验箱是一种用来测试药品稳定性的仪器，虽然模拟的环境并不像高低温箱那么恶劣，但是也有可能发生触电、火灾等安全事故。为了避免这些事故造成的损失，在操作药品稳定性试验箱之前，最好对设备的操作方法有所了解。1、在试验之前我们需要确保没有覆盖物遮挡在设备上，因为设备发热会引起烟雾或是火灾等情况。2、不能将易燃易爆或是带有腐蚀性的样品放进工作室内进行检测，不然无法保证设备以及操作人员的安全。3、不能将设备放置在易燃易爆或是带有麻醉气体的环境中进行使用，不然可能会在试验的过程中发生意外。4、如果打算长时间不继续使用药品稳定性试验箱的话，最好将设备的电源切断，然后做好清洁保养工作。5、在关闭设备之后至少要间隔5分钟以上才能重新开启试验设备，否则会对设备的压缩机造成非常严重的影响。6、在每次试验之前都需要检查设备的电源线以及其他部分，以避免在试验的过程中出现漏电的情况，从而导致操作人员因触电受伤或是死亡。如果想要药品稳定性试验箱的维护保养起到作用，那么不断的坚持下去是非常重要的，当然如果有遇到不清楚的地方最好尽快联系试验箱厂家进行咨询，以避免因为错误的处理方法而引起更加严重的问题。 该仪器配备进口带刹万向脚轮，外形精巧，承重性好，双轮设计转动顺畅，移动安全便捷。◆ 门与箱体之间采用耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭，保证测试数据的精度和稳定性。◆ 以高质量抗菌不锈钢材质和经圆边处理而制成的光滑表面.易于清洁和保持完美的清洁度。◆ 独特的风道结构，进口风扇马达搭配耐高低温的多翼式结构循环搅拌风叶，以达到空气的强制对流垂直扩散循环效果。◆ 大容量外部水箱对整个水路进行自动补水，省却频繁人工手动加水的繁琐作业。同时水位控制采用机械式浮球水阀感应水位,杜绝了电子式误操作。◆ 采用模糊PID智能控制方式，具有可编程的程序运行模式，温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益。◆ 配备外部RS485通讯接口及USB输出存储端口，方便用户连接外部PC机对试验数据进行监控显示和数据导出存储。加强了人机对话功能,有效确保了试验的直观性。◆ 具备超大可视观察窗，能在外门不被开启的情况下，全方位、立体式观察设备内部各个区域的实验情况。◆ 标配有漏电保护、独立的可调温度安全装置、水路缺水及防溢流保护、压缩机过压保护、冷却风机过热保护、开门报警、停电报警、传感器报警等功能确保用户使用的绝对安全性。◆ 配置进口品牌压缩机和德国EBM散热风机,选用瑞士ROTRONIC原装进口湿度传感器,霍尼韦尔PT1000三芯高精度温度传感器。◆ 控制系统具有自动除霜和手动除霜两项除霜功能供用户选择(做长期试验时建议选择自动除霜功能),可有效避免设备运行中因蒸发器结霜严重而造成设备箱体内温湿度产生漂移等现象。◆ 可拆卸温.湿度传感器防护罩能有效避免意外碰触而导致温.湿度传感器故障的可能。

低温脆性试验机的技术参数和使用方法型号：BWD-C 仪器标准： 本仪器是根据 GB1682 国家标准设计的，各项技术指标符合 HG 2-162-1965 塑料低温冲击压缩试验方法和 GB5470-2008 塑料 冲击脆化温度试验方法等国家标准的要求。 技术参数: 1.控温范围：室温 -70℃（室温≤25℃） 2.恒温精度：±0.3℃ 3.降温速度：0℃～﹣30℃ 约 2.5℃/min ﹣30℃～﹣40℃ 约 2.5℃/min ﹣40℃～﹣70℃ 约 2.0℃/min 4.大外形尺寸：900×500×800mm（长×宽×高） 5.工作室有效工作空间：280×170×120mm（长×宽×高） 6.可装试样数量：1 7.数字计时器数字计时器：0 秒 -99 分钟，分辨率 1 秒8.冷却介质：乙醇或其他不冻液 9.搅拌电机：8W 10.工作电源：220V--240V，50Hz，1.5kW 11.工作温度:≤25℃ 结构原理 A、本设备由制冷压缩机主机体、加热装置、电子控制箱、冷却槽、 冷却介质循环系统、自动报警装置等部分组成。启动制冷开关后，压 缩机开始工作，制冷系统进入正式工作状态。制冷压缩机连续不断的 工作，当接近设定温度时，冷却槽中的加热装置开始按比例提供热量， 用以平衡制冷系统产生的多余冷量，以达到恒温的目的。搅拌可使冷 却槽内的冷却介质不断循环，使温度均匀一致。 B、试样夹持器 试样一边夹持 4 个试样（橡胶类），另一边夹持 15 个试样（塑料类）。 C、冲击装置 冲击装置由冲和自锁机构组成。 D、冲击器 冲击头半径为 1.6±0.1mm； 冲击时，冲击头和试样夹持器之间间隙为 6.4±0.3mm； 冲击头的中心线与试样夹持器之间的距离为 8±0.3mm。 特点及用途: 低温脆性试验机是测定材料在规定条件下试样受冲击出现破坏时的 高温度，即为脆性温度，可以对塑料及其他弹性材料在低温条件下 的使用性能作比较性鉴定。可以测定不同橡胶材料或不同配方的硫化橡胶的脆性温度和低温性能的优劣。因此无论在科学研究材料及其制 品的质量检验，生产过程的控制等方面均是不可缺少的。 适用行业： 可以用来考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在低温环 境条件下贮存和使用的适应性，适用于学校，工厂，研位，等 单位。 使用方法 1 接通电源，温控仪和计时器显示灯亮。 2 向冷井中注入冷冻介质（一般为工业乙醇），其注入量应保证夹持 器的下端到液面的距离为 75±10mm。 3 将试样垂直夹在夹持器上。夹的不宜过紧或过松，以防止试样变形 或脱落。 4 按下夹持器，开始冷冻试样，同时启动时序控制开关（或按动秒表） 计时。试样冷冻时间规定为 3.0±0.5min。试样冷冻期间，冷冻介质 温度波动不得超过±1℃。 5 提起升降夹持器，使冲击器在半秒钟内冲击试样。 6 取下试样，将试样按冲击方向弯曲成 180°，仔细观察有无破坏。 7 试样经冲击后（每个试样只准冲击一次），如出现破坏时，应提高 冷冻介质的温度，否则降低其温度，继续进行试验。 温度，如这两 个结果相差不大于 1℃时，即试验结束。低温脆性试验机注意事项 1 在试验过程中不能切断冷却循环，否则会产生不制冷的效果。 2 气缸压力在出厂前已调节好，不能任意变动 北广精仪公司简介 北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司， “精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。 北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。 与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际先进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。 经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。 北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求 北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！本公司是一家专门研发、制造、销售试验机设备的专业厂商。公司拥有先进的加工设备、严格的管理体系以及雄厚的技术实力和良好的售后服务。公司专注于金属、非金属等材料的机械性能测试设备的研发制造。主要完成螺纹钢、金属板材、电力金具、紧固件、铸造材料、锚杆、托盘、医疗用接骨板、接骨螺钉、弹条、钢管、铜板、弹簧、减震器、扣件、安全网、玻璃钢、塑料、橡胶、医用手套等材料和产品的拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离等性能试验。满足GB、ASTM、ISO、DIN等国家和行业的标准测试要求。正在运行的400多个标准，配置合适的夹具，几乎可完成所有的力学性能测试。本公司秉承“诚信*，服务至上”的宗旨，力争为客户提供较成熟的产品和最完善的服务，使用户得到很大的满足。 售后服务 售后内容： 我公司派工程师负责安装调试及培训。 产品自客户验收之日起，免费保修 2 年，终身维修。 1、设备安装调试： 免费为用户提供所购仪器的安装调试服务。在进行安装调试前用户方应 提供相应的准备工作，并予以提前通知，具体安装调试日期双方可以协商而 定。设备安装调试由多年行业工程师免费进行。保证用户可以正确使用、 软件操作和一般维护以及应及故障的处理。 2、培 训： 我公司工程师免费为用户提供操作人员培训，直到操作人员能独立操作 为止。 3、设备验收标准： 用户方按订货技术要求进行验收。并符合国家标准要求。设备验收在用 户方进行并由我公司安装调试技术人员和用户共同在维修报告上签字以确 认仪器的调试工作完成。 4、设备维修服务： 我公司产品自用户现场调试验收合格后 2 年内免费保修，终身维护。在 2 年免费保修期内产品发生非人为质量问题，我公司为客户提供免费维修。 如产品在免费保修期外出现故障，维修服务只适当收取材料成本费。 5、技术支持： 对于所需仪器的用户，根据用户的要求提供专业的技术方案。除了常规 的仪器服务外，我公司技术部还可为用户提供各种非常规设备的技术支持。 6、售后响应： 在接到用户维修邀请后，2 小时内做出反应，并给予解决。如未解决， 我公司指派工程师及时到达用户现场，解决问题至设备正常使用为止。其他相关产品BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机 HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪 BWN系类电子拉力试验机

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 作为“ a href=" http://www.instrument.com.cn/activity/goodcn/gchyq/Experpoint?id=782" target=" _self" title=" " 国产仪器腾飞行动 /a ”主要活动之一，由中国仪器仪表行业协会指导、仪器信息网主办的第二届“国产好仪器”评选活动于日前落下帷幕。本着“用户说好才是真的好”的原则，通过大规模的用户意见征集和形式多样的调研、考察，共59台仪器最终入选“国产好仪器”。 br/ /p p 　　近日，上海沛欧分析仪器有限公司(以下简称：上海沛欧)SKD-08S2消化炉典型用户——梯希爱(上海)化成工业发展有限公司彭琴接受了仪器信息网的采访，详谈了SKD-08S2消化炉使用经验和心得，分析了国产科学仪器在化工行业中发挥的重要作用，表达了对国产科学仪器的期待。 /p p 　　SKD-08S2消化炉是一款8孔红外石英程序升温消化炉。该款消化炉采用了珠光乳白石英管配用电热材料，仪器工作后，乳白管能够吸收电阻丝发出97%的红外光波与可见光波，使石英管壁温度升高产生硅氧键分子振动，辐射出远红外光波，即使97%可见光和近红外光能量转化为远红外辐射能量。SKD-08S2消化炉使电能高效转化为远红外光能，相对于石墨或铝锭消化炉，可实现节能40%左右，并且有效减小了样品之间的温差。 /p p 　　在日常工作中，彭琴使用SKD-08S2消化炉主要用于分析有机样品的氮含量，比如L-苯丙氨酰胺盐酸盐、苯偶酰二肟等。“这是一款数显温控型消化炉。炉孔温度连续可调，升温速度快，消化管受热面积大、温差小，样品的平行率高，节约了反复检测的时间。”彭琴说到。在购买的时候，彭琴也考察了进口品牌的消化炉，反复比较之下得出此款消化炉的性能与进口仪器不相上下，因此采购了该款仪器。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201612/insimg/e2304d7f-0ce1-4bfb-9d5b-235cd8f6ce70.jpg" title=" 彭琴.jpg" / /p p style=" text-align: center " 工作中的彭琴 /p p 　　彭琴使用SKD-08S2消化炉有较长的时间，对仪器的整体性能有较深的了解和感触。“SKD-08S2消化炉具有过流保护和漏电保护功能，仪器配备的红外石英管耐强酸强碱、升温速度快并且热惯性小，温控精确，操作过程中可根据样品属性设定不同的升温程序，避免了样品挂壁问题，同时提高了消化效率。”彭琴总结到。 /p p 　　“上海沛欧的售后服务还是值得肯定的。仪器安装培训过程中，工程师对仪器操作反复多次讲解，直到我们能够熟练操作仪器为止。”彭琴讲到售后服务时表示。仪器在日常使用中，难免遇到一些小问题，彭琴表示，上海沛欧的工程师基本都是上门服务，并且提出一些注意事项。售后服务也是彭琴选择SKD-08S2消化炉的原因之一：“仪器质量固然重要，但售后服务却体现企业是否真正愿意为用户解决问题。” /p p 　　在日常沟通中，彭琴认为对方能够虚心听取用户的意见，并且不断在改进中创新，许多时候仪器的设计理念源于用户。就消化炉而言，其希望此类仪器的程序升温的设置在数量和功能上能够更加强大。 /p p 　　2016年12月23日，在第二届“国产好仪器”调研成果研讨会上，彭琴作为典型用户分享了国产科学仪器的使用心得。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201612/insimg/d35a96f6-aa80-4a84-b4fb-029d5b08af12.jpg" title=" 彭琴1.jpg" / /p p style=" text-align: center " 彭琴分享国产科学仪器使用心得 /p p 　　作为国产科学仪器的用户，彭琴也表达了对国产科学仪器发展的看法。其认为，长期以来，国内科研和检测所用仪器设备严重依赖进口，在很大程度上影响了国内科学仪器的发展，并且导致国内科研事业在一定程度上受制于国外，而且，对国内仪器生产企业的生存构成了威胁。总体上，相对与进口仪器，国产科学仪器的优势在于价格，劣势在于质量，若国产科学仪器厂商着重提升产品质量，并且将售后服务做好，相信有更多的用户选择国产仪器。“国产科学仪器的推广和使用具有重要仪器。”彭琴感慨到。 /p p br/ /p p 　　 a href=" http://www.instrument.com.cn/activity/goodcn/gchyq/Experpoint?id=782" target=" _self" title=" " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " strong 国产科学仪器腾飞行动介绍 /strong /span /a /p p 　　“国产科学仪器腾飞行动”由中国仪器仪表行业协会为指导，仪器信息网主办，我要测网协办，中国仪器仪表学会、北京科学仪器装备协作服务中心、全国实验室仪器及设备标准化技术委员会单位支持。腾飞行动旨在扭转用户对国产科学仪器的偏见，筛选和扶持一批优秀的科学仪器产品和企业，解决用户对国产科学仪器选购难的问题 组织优秀的国产科学仪器产品进行大规模的国内外用户推广及海外拓展，在用户中，树立优秀的科学仪器企业品牌形象 与政府采购单位及高端实验室等开展多方合作，促进国产科学仪器与用户单位深入合作，向政府建言献策等，从而帮助国产厂商找到和解决问题所在，提升市场占有率。 /p p 　　 a href=" http://www.instrument.com.cn/activity/goodcn/gchyq/Experpoint?id=782" target=" _self" title=" " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 第二届国产好仪器项目介绍 /span /strong /a /p p 　　第二届国产好仪器项目作为腾飞行动的核心子项目，坚持“自愿”、“免费”的方式，征集企业参与国产好仪器筛选全流程 并增添“用户推荐”的新渠道，最广泛地征集潜在优秀的国产样品前处理设备代表。国产好仪器坚持以“用户说好才是真的好”为宗旨，收集大量用户对每一台仪器长时间使用后的真实体验，用户从5个维度“需求满足度、质量满意度、推荐意愿度、仪器性价比、售后服务满意度”对其所使用的仪器进行综合评价，从而筛选出优秀的国产样品前处理设备代表。 /p p br/ /p

食品安全标准也是两会代表委员关注的重要问题。昨日，央视《每周质量报告》称，目前，某些行业产品没有质量标准，造成监管难的局面 同时，在一些标准中应用的落后检测方法，也使造假者钻了空子。对此，代表委员们建议，新的食品产品、新的工艺，包括制假企业新的造假水平，应及时跟踪，制定和完善相关标准。 　　化妆品用珍珠粉无标准 　　去年9月，浙江一些厂家用贝壳粉冒充珍珠粉销售，被曝光后，当地政府组织执法部门对珍珠粉市场进行了清理整顿，并建立了珍珠产业技术创新服务平台，希望以此来鉴别珍珠粉真伪。在实践中研究人员发现：虽然药用珍珠粉可以通过《中国药典》来衡量质量好坏，但化妆品用珍珠粉却没有国家质量标准，而这一层次的珍珠粉的市场需求却是最大的。如果没有国标作为认定依据，即使能将珍珠粉和贝壳粉区分开来，其结果也不具备法律效力，不能作为执法的依据。 　　蜂胶标准存“漏洞” 　　一些行业虽然已有质量标准，但由于造假技术的不断更新，原来的标准已经不能作为判定产品合不合格的依据。曾遭曝光的“蜂胶造假”事件就是典型的例子。在被曝光企业提供的原料蜂胶的检测报告上显示：提纯蜂胶的总黄酮含量完全符合国家标准。而事实上，造假者是在树胶里添加了芦丁、槲皮素等黄酮类物质，人为提高了总黄酮含量。 　　蜂胶国家标准规定，只要总黄酮含量达标蜂胶就判定为合格。而据浙江大学动物科学学院教授胡福良介绍，蜂胶质量控制的指标主要看类黄酮和多酚类，这两大类化合物在树胶和蜂胶中同样都存在，这就让造假者钻了空子。全国人大代表王填为此呼吁，像蜂胶这类新兴的保健品行业，由于原料新、工艺新，其标准的修订尤其要及时。王填还举例说，橄榄调和油标称有很多橄榄，“但里面是加了1滴橄榄油，还是1%的橄榄油，还是5%的橄榄油，没有标准。我认为至少里面的添加物不少于20%，否则商品名称上就不能用这个添加物的名称来误导消费者。” 　　代表委员建议抓紧补漏 　　针对这类由于标准缺失带来的行业问题，政协委员高天乐曾提交过《我国现有食品安全标准亟待规范和提升》提案。他指出，生产企业应及时跟踪行业发展和变化，及早跟监管部门交流，制定完善适合人类食用安全的产品标准，从企业的标准上升为行业标准、国家标准，然后国家有关部门通过从严去执行标准来规范行业的发展。 　　7项新添加剂标准即将公布 　　据了解，《食品安全法》中涉及食品安全标准有关规定的条文共有33条。相关专家指出：要尽早建立食品安全系统以减少食品危害，仅靠企业自觉的行为和行业竞争不可能实现，只能依靠法律的强制手段和标准来引导实现。卫生部负责人介绍，2010年我国共制定发布新的95项食品添加剂标准，即将公布7项新的食品添加剂标准和58项新指定的食品添加剂标准。出台数量众多的食品标准将使老百姓能吃得更安全、更放心。

住不起、病不起、死不起，人们热衷于用这些短语形容房价、医疗价格、殡葬价格，并通过多种渠道表达愤怒，但愤怒使人们忽略了培养高价的温床。唐河县人民医院院长党立涉嫌受贿被抓后，在当地，人们对党立的落马原因颇多猜测，病不起的议论也再度升温。 　　这个首度曝光的受贿案，凿开了药械招标陪标的冰山一角。党立在当地曾为名医，在学术上颇有造诣，不少人在为之惋惜的同时指出：不堵住药品、医疗设备招标漏洞，再优秀的医疗高管也会因此“湿鞋”，治疗“病不起”更是空谈。 唐河县人民医院院长党立(左二) 　　案发　两种口碑“包围”医院院长 　　“可惜呀，他走上了行政管理的路子，又不慎行” 　　“一个名医就这样毁了?!” 　　“要不是办案机关查办，谁能想象他会出这种事呢?” 　　“如果他继续搞他的骨科业务，也许会有更多的专利造福病人，毕竟今年他才45岁，年富力强。可惜呀，他走上了行政管理的路子，又不慎行……” 　　2月14日、15日，在南阳市所辖唐河县，记者找到的几位该县卫生系统的人士，对落马的唐河县人民医院院长党立，不约而同流露出惋惜之情。 　　唐河县人民医院一位职工仍习惯称他“党院长”。“党院长在我印象中没架子，比较容易接近。2007年初，他从骨科主任提拔为副院长，不到两年又提拔为院长。医院是个业务单位，如果他没有很强的业务能力、组织才能，不可能得到如此重用……”“他是南阳市学科带头人。”另一位医院职工称，“他有国家专利局颁发的专利证书。在患者中，口碑也不错。” 　　与卫生系统人士对党立的惋惜不同，唐河县几位县城居民分别告诉记者，县医院院长是个不小的官了，党立被抓后，传得很快，“当时就有不少人说，县医院看病贵得要命，抓得好，希望检察院深挖细查”。 　　采购堵漏网友提出“幽默”建议 　　多家医院之间互给对方进药，互相遏制 　　去年5月，党立被抓前后，市反贪局进驻唐河县医院》即成为热帖：唐河县医院近6年的两任药械科人员被市反贪局审查已24小时，南阳治理药品回扣拉开了序幕。而跟帖，高达“483楼”。 　　对党立一案，有人称：为什么只带走党立一人?应该从药物入库开始查起，把那些侵吞老百姓心血的败类查出来，一起带走。有人称：党院长没有啥事情，上任以后，还比较清廉，已经回家了，休息几天就要上班了。 　　帖子显示，在党立案件水落石出之前，已有网友关注到药械采购的体制问题。有人称：这个问题不解决，谁当院长也不行，走不出受贿怪圈。网友甚至以黑色幽默的方式提出建议：领导已决定，以后中医院为县医院进药，县医院为公疗医院进药，公疗医院为中医院进药，进行相互遏制。 　　而检察机关的调查表明，之前，群众和网友关于党立在药械采购中翻船的猜测，确实准确。 　　隐情　药械采购院长有决定权 　　8起受贿集中发生在其任副院长、院长后的短短两三年内。党立受贿一案，易地由卧龙区检察院提起公诉，由卧龙区法院审理。 　　记者通过一位办案人员了解到，党立被检察机关指控的8起受贿中，全部与医疗设备器械和药品的采购有关，有的是经销商为了让医院购买或者继续购买其药械设备，有的是为了感谢党立在采购中给予的关照，有的是为了能及时结清货款。所涉药械，有麻醉机、彩色B超、全自动尿有形分析仪等。 　　一位办案人员告诉记者，单从党立的涉案金额看，仅有10.1万元，每笔多则三四万，少则几千元，但8起受贿集中发生在党立任副院长、院长后的短短两三年内，确实值得警醒。更值得警醒的是，这期间百姓对医疗腐败鞭挞之声不绝，党立不会不知道，可党立为何仍然会“湿鞋”呢?除了放松了自我约束，药械采购体制暴露出的问题，到了非改不可的地步。不堵住药品、医疗设备招标漏洞，再优秀的医疗高管也会因此“湿鞋” 治疗“病不起”，更是空谈。 　　记者从一份法律文书中发现，党立最近一次收钱是在去年2月，郑州一家电子仪器有限公司的齐姓老板，为了能让医院继续购买其设备，给党立送去了1万元。2009年1月，这位老板为答谢医院买了他的B超，曾经送上3万元。 　　党立承认：“如果我不是院长，在采购医疗设备上给他帮不上忙，他肯定不会给我送钱。” 　　给党立送钱的齐老板称：“党立是医院的一把手，在采购医疗器械时，他有选择权和决定权，招标公司招标医疗器械时也要尊重医院的意见。” 　　三家投标一家“精确”中标 　　院长提出采购意向，有似“萝卜招标”，刷掉了另两家公司。 　　2008年10月，上述齐老板找到党立，请求党立在购买彩色B超时给予关照。“他答应帮忙。具体怎么帮忙的，我也不太清楚，反正招标时我们公司中标了。”齐称。 　　医院负责大型设备招标采购的一位人士证实，此次招标前，在院领导班子会议上，党立提出，因为唐河县医院面向常规服务，使用中低档次的B超就可以了，班子会就通过了这个决议。然后，B超科室的相关人员就根据这个决议，制定了中低档次B超采购参数。 　　“参加招标的公司事前我不知道，招标的当天我才知道有3家公司参加招投标。这些公司是谁联系的我不知道。招标时间是党立定的。” 　　齐老板的公司以两台B超145万元中标。上述医院人士称：“另两家公司提供的B超都是中高档的。在招投标时只有中标公司提供的产品符合标准，所以就中标了。这次招标是医院内部组织的招标，党立以领导小组组长和评标小组组长的身份参加。医院是院长负责制，他又是组长，在招标过程中起领导和决定作用，经过评标专家评议后，由他拍板决定采购了两台彩超。” 　　据悉，对招投标中所起的领导和决定作用，党立在侦查阶段也做了类似供述。多名证人多次提到了药械采购中院长的决定权。另两家公司是谁找来的?怎么就如此巧合地提供了不符合医院要求的中高档B超?记者欲面访党立寻找答案，但因监管严格、手续复杂，面访未果。 　　招投标中上演“陪标”好戏 　　随后，院长拍板又不经过招标购买了第二台麻醉机。据了解，2009年4月份，因为暴发手足口病，唐河县医院麻醉机不够用，麻醉科申请购买新机。医院有关人士指称，党立派人考察回来后，直接定下要买××品牌的麻醉机。根据这个品牌展开招投标，参加招投标的有上海两家公司和南阳两家公司。 　　上海两家公司报的都不是××品牌，南阳的两家公司报的都是××品牌。“有陪标现象，所以南阳市一家公司中标了。中标价16.8万元，经党立同意，最后以16万元签订购销合同。”医院一位人士作证道。另一位医院相关人士亦称，此次招标，党立仍身担两个小组组长职务，在招标中起组织、决定作用。从另几家公司投标文件看，“他们属于陪标，所以最终南阳市的那家公司中标了”。 　　相关人士透露，2009年5月医院又购买了一台麻醉机。这台麻醉机没有经过招标，党立指示有关人员和中标的南阳市那家公司联系，随标购买了第二台麻醉机。“不经过招标购买麻醉机，院长有决定权。” 　　之后，中标公司的老板到党立办公室送上一个装有1万元的信封表示感谢。 　　法庭经审理，最终认定党立的受贿数额为9.9万元。鉴于党立在办案机关仅掌握部分犯罪事实情况下，如实主动交代了其他未被掌握的受贿事实，以及庭审中表示愿意退赃，庭审后主动全额退出赃款，悔罪态度诚恳，去年12月底，党立被从轻判刑7年半。据办案法官透露，党立服判没有上诉。 　　“秘密”　经销商互相捧场“陪标” 　　业内人士称，经销商之间既有竞争，也有“合作”。然而，陪标究竟是怎么回事呢? 　　记者在网上搜索到省内多家医疗器械设备经销企业的电话，几经电询，对方均不愿谈及。后记者通过熟人联系到两位经销商，他们告诉记者，对业内来说，陪标是“不是秘密的秘密”。 　　“经销商之间既有竞争，也有合作。比如，这次我预先弄成一个‘项目’，投标前，会和另几家产品冲突不大的经销商商量好怎么陪标，怎么样只让‘意中人’符合招标要求。下次，我再帮他的忙。当然，有时招标方也会这样安排。” 　　昨日，记者致电卫生部，一工作人员礼貌地答复道，关于医疗器械采购规定，早在2007年，卫生部就下发了《关于进一步加强医疗器械集中采购管理的通知》，其目的之一，就是杜绝暗箱操作，纠正医疗器械购销中的不正之风。医疗器械尤其是大型设备采购的招标已形成制度。 　　那么，在此情况下，党立们又何以得手的呢?“当然源于院长负责制下，他们手中握着的拍板权。”一位经销商言道。