数显深度表

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=110244]GBT21388-2008游标、数显、带表深度卡尺[/url]

加速电压不同，电子束打在样品表面的深度也就会不同。请问有谁知道加速电压再15、20、30 的时候电子束打在样品表面的深度各有多少？

X射线荧光扫描是物体的表面还是有一定深度，有多深？在哪本书上有这方面的详细介绍？请告之，谢谢！

各位高人，请问利用扫描电子显微镜做EPMA分析时，放大倍数和检测深度有什么关系。当放大倍数为10X时，检测深度为10mm，10000X时，检测深度为1微米，那么放大倍数为250X时，检测深度是不是250微米？

大家好，土壤表层采样深度，什么时候是0-20cm；什么时候为0-50cm？

可促进深度睡眠的蛋白质6月22日,日本研究人员宣布，他们发现了一种可促进深度睡眠的新型蛋白质。这一研究成果已经刊登在美国《睡眠》杂志网络版上。日本自然科学研究机构生理学研究所科研人员22日发表公告说，他们发现的这种新型蛋白质名为“神经肽B”。迄今为止，安眠药都是通过抑制整个脑神经的活动来促进睡眠，而“神经肽B”只对能促进睡眠的神经发挥作用，因此有望用其开发出只需少量服用就能提高睡眠质量的安眠药。公告说，研究人员2002年就发现人脑存在“神经肽B”，但是一直没有弄清其具体功能。今年，研究人员在一次实验中向老鼠头部注射“神经肽B”，发现夜行性的老鼠在进入深夜后依然保持睡眠状态。而且，他们利用仪器观察睡眠中老鼠的脑电波和肌肉状态时发现，老鼠的大脑和身体都处于休息状态，属于深度睡眠。他们因此认定“神经肽B”具有促进深度睡眠的作用。

请问哪位大神有关于SEM、EDS的分析深度相关描述的文章或者书籍推荐？我想了解二次电子、背散射电子、X射线的分析深度，谢谢啦！

在XRD衍射仪中X光管产生的X射线检测样品的深度一般是多少，与测样光束的宽度有没有直接关系？与待测样品的材质有没有关系？与衍射光路的接收器（探测器）有没有关系？X射线对测样的深度能否根据需求进行调节？待测样品的高度对X射线检测有何影响，待测样品越高检测的2Theta的起始角越大？

各位老师： 刚接触TEM关于制样想问一下，现要观察金属表面以下不同深度的位错和孪晶（金属表面经过机械磨损的），如果用砂纸打磨的话会不会引入新的位错变形，想请教该如何制样？非常感谢！

请教哪位大侠电子探规检测钢印深度的作业指导书？能否共享参考参考呢？

在一篇文献中看到有一段话——“在常规等离子分析条件下，采样深度代表的是工作线圈到采样锥的距离，一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化，同时保证减少其他离子（氧化物及二价离子）的形成和影响”。 请问各位，其中的“一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化”这句话是否正确？ 个人觉得元素在等离子火焰中离子化程度跟本身的电离能和工作线圈上加的功率有关，和采样深度貌似没有什么关系吧？

哪儿有光学轮廓仪，可以表征三维形貌及纵向深度？谢谢了。。。

深度学习是一种先进的机器学习方法，具有很好的学习复杂关系的能力，可以直接从大规模原始数据集构建预测模型。随着人工智能的快速发展，以卷积神经网络（CNN）为代表的深度学习在皮肤癌的分类，变异发现和基因分型，人类血细胞计数等方面取得了巨大的成功。对于振动光谱数据，Acquarelli等人使用CNN来识别重要的光谱区域。Chen等应用CNN建立近红外（NIR）光谱定量分析模型。Lu等人开发了基于CNN的模型来识别混合物拉曼光谱的成分。

蛋白质的翻译后修饰常常会影响蛋白质的结构和功能，反映在生物制药工业上，会对药品的安全性和有效性产生重大影响。翻译后修饰常常表现为电荷变异体，因此电荷异构体的分析成为了质量控制的一个关键项。目前常见的电荷异构体分析方法为IEF／cIEF或iCIEF，可以鉴别生物药，对生物药的纯度进行分析，测定电荷异构体的等电点以及各种异构体的分布。但是，等电聚焦或者毛细管等电聚焦存在很多短板，最明显的就是无法大规模制备异构体。美国基因泰克公司的科学家曾经用一种叫做自由流电泳的工具，高分辨率高通量大规模对单抗的电荷异构体进行分离制备，并结合各种分析手段，对每一个异构体进行了深度表征。现分享论文如下，欢迎大家讨论！

在 ICP 中 高频感应电流基于磁力线的作用而使电流在导体中分布是不均匀的,绝大部分电流流经导体的外圈,其趋肤深度就是电流值下降至其表面最大电流值的1/e(36.8%)时距表面层的距离. 其趋肤深度S=1/根号PIfμδf-----高频电源的频率(Hz) μ------磁导率(H/cm) 对气体μ=1δ----气体电导率(S/cm)由以上公式可以看出频率增高则趋附层变薄即环形电流中心孔径增大 ,因此较高的电源频率有利形成等离子体中心通道

热电偶是最常用的测温器件之一，它直接测量温度，并把温度信号转换成热电动势信号，通过电气仪表转换成被测介质的温度。因为热电偶温度传感器具有测量范围宽、精度高以及响应时间快等优点，所以得到广泛的使用。本篇文章主要探讨插入深度对热电偶温度传感器的影响。 热电偶测温点的选择是最重要的。测温点的位置，对于生产工艺过程而言，一定要具有典型性、代表性，否则将失去测量与控制的意义。热电偶插入被测场所时，沿着传感器的长度方向将产生热流。当环境温度低时就会有热损失。致使热电偶温度传感器与被测对象的温度不一致而产生测温误差。总之，由热传导而引起的误差，与插入深度有关。而插入深度又与保护管材质有关。金属保护管因其导热性能好，其插入深度应该深一些，陶瓷材料绝热性能好，可插入浅一些。对于工程测温，其插入深度还与测量对象是静止或流动等状态有关，如流动的液体或高速气流温度的测量，将不受上述限制，插入深度可以浅一些，具体数值应由实验确定。

各位大神，我想了解一下SEM-EDS分析深度介绍的文章或者书籍，关于二次电子、背散射电子、X射线的分析深度的，请推荐一下资料，最好是英文的，非常感谢！

据说这类软件很多？我们用扫描电镜测量颗粒分布，需要知道电子束作用于样品上的深度，据说有些免费的软件可以模拟，谁有这方面的信息？

请问高手：如何用SEM测量出样品中小孔的深度？大约是30微米左右。 是把样品倾斜在样品座上，假定倾斜角为120度，用实际看到孔的最深处与样品表面之间的距离乘以60度角的余弦吗？

工作功率为10KW的X射线衍射仪的扫描深度是多少？

[b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[font=sans-serif][/font][font=Arial][font=Archivo, &][size=16px][b]侯晶1,2王洪祥1王储1王景贺1朱本温1[/b][/size][/font][/font][font=sans-serif][/font][/b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][b][b][/b][/b][/font][font=&]【题名】：[b][b][b][font=&][size=30px][b][b]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[/b][/b][/size][/font][/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】：[/font][font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][color=#545454][b]【链接】：[url=https://kns-cnki-net-443.webvpn.xnai.edu.cn/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CJFD&dbname=CJFDLAST2018&filename=HEBX201807004&uniplatform=NZKPT&v=Ea5aJALKB3g_fiNv2APpnkEseIaTI7Z48qNsA5LkYAhwQ1rbRTyJg9Yc4DQ2Eht2]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法 - 中国知网 (xnai.edu.cn)[/url][/b][/color][/font]

关于SEM的二次电子、背散射电子、EDX的X射线等的穿透深度，我看到有一些好心人有回复帖子介绍相关信息，我想求助一下，是否有参考文献进行介绍的？如果有，非常希望能分享告知一下，感谢！

刚学EDS时间不长，关于EDS测试深度，现在有些不理解。（EDS是否有这样一个概念？我现在不敢确定，因为根据得出的结果，来分析，似乎这样才能解释得通）EDS是测材料表层下面几um的元素分布，还是精确测量材料表层的元素分布？假定一个材料表面有一很薄的相，现在想要测这个相的元素组成，那么是不是说EDS出来的结果有可能是测的这个薄相下面基体的元素分布，而不是想要测的这个表面的这个薄相？这就导致出来的结果是不可信的？ 是错误的？EDS Mapping得到的结果是（1）测量表面的元素分布的信息;(2)距表面一定um距离的那一层下表层的元素分布信息;(3)距表面一定um距离的那一层下表层直至样品表面，这一um厚度内的元素分布信息？究竟哪个是对的？不十分理解是不是通过mapping得到的信息是样品表层一直到表层以下一定um那一层，这一薄薄的整个体的信息，就上面的描述， 假定表面的薄相被打透的话，是不是这一表面薄相与打到的下面的基体的元素结果的叠加？如果是这样的话，为什么我得到的结果，好像差不都是下面基体的元素信息？是表面那层薄相很薄，得到的信息少吗？还是它里面的某元素占整个体的元素比较小？还是因为它原子序数小？，还是因为其它的？由于是刚学不久，所以问题或许可能很幼稚？希望能得到大牛们的解答，多谢。

据法新社报道，在工业和成员国的压力下，欧盟委员会在上周三的一次新闻发布会上表示，将对30%的深度减排目标实施降温处理。　　“目前条件成熟吗？现在实施深度减排目标有意义吗？答案将是否定的。”欧盟气候行动委员会的康妮赫泽高（Connie Hedegaard）在发布一篇期待已久的气候报告时说道。　　而就在上周二，德国、法国和其他国家就已经对该报告的观点表示反对，他们认为欧盟应该考虑单方面提高之前承诺的20%减排目标到30%的深度减排目标，而这一深度减排目标目前已达成了共识。　　而欧盟态度的改变是该报告最后的少数更改中最明显的。　　“该报告的目的不是决定现在是否提高至30%的减排目标，这主要是因为目前还没有明确确定相关的条件。”而最终报告中的这句话却没有出现在法新社之前看到的报告文本中。　　在赫泽高的新闻发布会上，她表示，提高减排目标是“欧盟领导人在正确的时间和条件下做出的政治决策。但是，现在还不是时候。”　　已经复苏的欧洲钢铁工业对赫泽高的言论表示欢迎，欧洲钢铁工业协会称赞说：“这样我们又回到了现实。”目前，欧洲正在努力从经济危机中得以快速复苏。　　德国经济部长海那布吕德勒（Rainer Bruederle）和法国工业部长克里斯汀艾斯特鲁斯（Christian Estrosi）在上周二已经做出明确表示。　　“我们已经就委员会的提案提出了我们的顾虑。” 艾斯特鲁斯说。　　“如果其他主要经济体做出相同的承诺，欧盟将会采取30%的减排目标。” 艾斯特鲁斯补充道。　　欧盟曾公布了有条件实施30%减排目标的相关内容，但是却无利于其他主要工业化国家，这点在去年年底的哥本哈根大会上十分明显。目前，欧盟仅同意了到2020年减少1990年20%的减排目标。　　欧盟气候行动委员会希望欧盟各国政府首脑在6月17日的峰会上考虑他们的提议，而且在他们的报告中强调了“早点行动比晚点行动的优势所在”。　　提高减排目标将“提升欧洲的长远竞争力，这样才能在全球快速发展的低碳技术市场中保有强大的地位”，委员会说。　　委员会在其报告中估计，提高减排目标的总成本大约为810亿欧元（约1000亿美元），比之前的20%减排目标的总成本超出110亿欧元。　　环境组织绿色和平称，欧盟预测的数据表示深度减排不仅仅会比原来预想的成本要低，而且还会对环境和经济带来好处。“我认为目前重要的是，我们确实有事实在手，而且不应受到业界散布恐慌的影响。”绿色和平的新闻发言人对法新社说。　　英国是欧盟的重要国家，而且英国赞成实施深度减排目标。　　“全球气候变化是全世界共同面对的最大挑战。因此，我们将推动欧盟通过提高深度减排目标来展示全球领导能力。”英国国务气候变化大臣克里斯胡恩（Chris Huhne）说。　　赫泽高警告说，欧盟正在逐渐丢失新型绿色技术发展的优势，而美国和中国却在快速发展。（

细节，按照中文的字面理解有“细枝末节”之意，也就似乎是“微不足道”的也说不定。然英语中没有用“small thing”而是用“detail”来表述这个词，不会使人产生那种感觉。真想不到，人高马大的洋人比我们更重视这些所谓的“细节”，而我们似乎更粗枝大叶。是这样吗？也许是我自己呼吸乱想罢了。 前段时间测样品中的铅，做标曲时连做几次都不能做好，请看图：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310011404_468907_2076515_3.bmp 第一次标曲http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310011404_468908_2076515_3.bmp 第二次标曲http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310011404_468909_2076515_3.bmp 第三次标曲 问题出在了哪里呢？在进样过程中，我观察到进样针吐液时不能够干净利落地把样液挤到石墨管内的小平台上，而是象小孩子吹泡泡一样，虽然从进样针头向外冒泡泡，但感觉有部分样液滞留在针头周围。进样完毕后，针头回抽时似乎就把滞留的那部分样液带回去了。我觉得进样针吐液不完全是本次问题的主因，为此需要针对性地采取措施。 根据观察，此时进样针插入石墨管的深度在中间位置。想起在随机附带的资料里，对于进样针的深度就有7/10的描述。于是我就将进样针向下调了一格，使其接近底部，但不触底。调好后再观察进样过程，可以看到样液从针头挤出来，进入下面平台上的样液中。这样，当进样完毕后，针头上不再有样液残留，回抽时也不会带回去了。 其实在这之前两年多的时间里，进样针并不一定是在石墨管中的某个具体位置。因为做起活来没有异常，我也就没太留意资料中的那个说法。现在标曲做不好了，才注意起这个问题。究其根源，可能是现在的进样系统不像当初那样，可以干净利落地进样了，于是才出现了这个问题。如果你的进样针可以“噗”地一下，或者“噗噗”两下把样液挤入石墨管中，就不必多此一举去调节进样针。因此，有鉴于本人的经历，并不一定适于大家所有人的状况。本文讲述的是当发生了一种异常状况，通过努力最终解决掉问题的一个过程。 调节进样针深度之后，又做了两次标曲。线性好了很多，感觉很爽。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310011410_468910_2076515_3.bmp 调节进样针后做的第一次标曲http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310011411_468911_2076515_3.bmp 调节进样针后做的第二次标曲 值得注意的是，在调节进样针前后，同样浓度标液的吸光值发生了变化。这一点从第二次和第三次标曲的数据中比较明显，尤其是【12.5】、【25.0】、【37.5】这三个浓度的值。【50.0】这个浓度的值与前面的三个不同，调节前后变化不大。关于这一点在进样时也可以看出来，进样针吐液完全，不吹泡泡。 调节前总共做了标曲3次，调节后做了2次。下面的表格中，调节后的标曲数据只有一次。另外一次的数据没有列上来的原因，是因为换了石墨管，数据不好进行比较了，否则也是要列上来的。调节的标曲数据普遍要比调节前的大些，这是可以理解的，其中的意义不能说不重要。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310021221_468944_2076515_3.bmp 想不到进样针向下一小步，影响检测一大步，谁还能再小觑它？

请教高人：我做了几个X射线小角度掠入射测基体的物相，但是不知道X射线打入基体的深度是多少。请问有公式或者方法来计算吗？

请问各位老师，xrd中x射线的入射方向与其入射深度有什么关系吗？比如平行光，掠入射方式。自己制备的薄膜厚度较薄，用max 2500普通方式测量可能由于衍射强度不够而导致出来的是大包峰（可能是石英基底的峰）但是用smartlab可以测出特征峰，是不是入射方式不同的缘故呢？

对XPS了解的很少，看了文献中XPS的深度分析，可以给出深度和元素含量的关系，前几天我送样测了一个聚合物的，只给出了溅射时间和元素含量，分析测试的老师说，不知道溅射的深度，我一点也不懂，请高手给予赐教。