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  • 【资料】X射线衍射与电子显微分析

    X射线衍射与电子显微分析[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48585]X射线衍射与电子显微分析[/url]

  • 求助：章晓中老师《电子显微分析》

    请问哪位网友手里有 清华章晓中老师的《电子显微分析》一书的电子版？麻烦发我一下哈。 本来应该买正版书的，但由于在国外，买不到书。抱歉了，章老师！ wujsyy@126.com

  • 【资料】剑桥大学电子显微分析讲义

    剑桥大学关于电子显微分析的讲义，希望对大家有帮助[em17] 下载资料的兄弟支持和回复一下，谢谢了[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=58560]Microanalysis in the electron microscope[/url]

  • [好书]X射线衍射与电子显微分析

    本书是介绍X射线衍射与电子显微分析这两种重要的材料物理测试方法的基础教材,全书依上述内容分为两篇。第一篇包括X射线衍射的基本理论、方法及应用；第二篇包括透射电子显微镜、扫描电镜和电子探针的工作原理、构造和分析方法。全书共12章，附录中列出了常用的数据表，供计算分析时查阅。本书对基本原理的阐述力求深入浅出，方法介绍亦较为详尽，对从事该工作的科技人员很有参考价值！为此上传[color=blue]PDF格式的电子档供大家下载学习，也可丰富本版块的资源！[/color]全书已经上传完毕，有需要的科技人员可到资料中心下载！[url=http://www.instrument.com.cn/show/search.asp?sel=admin_name&keywords=lfsming]进入资料下载页面[/url]你的支持就是我的动力!

  • 【资料】黄孝瑛电子显微分析图书4本，欢迎下载。

    我收集到黄孝瑛的四本书，还有一本《透射电子显微学》上海科学技术出版社出版，1987年，没有，我扫描上去后，在传给大家。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=46470]黄孝瑛电子显微分析图书[/url]

  • 【资料】黄孝瑛电子显微分析图书共享给大家看看

    这是我找到的她的书,看了觉得很多东西很有用,共享给大家看看!互相交流交流![em01] [em38][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=52698]黄孝瑛电子显微分析图书[/url]这里面是3本书哈 ！！我看到好多人又在问要那书。。。。其实这里面都有 自己来下撒 ！

  • 【原创大赛】（综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    【原创大赛】（综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    ======================================================================= （综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用 Applications of Electron Microscopy for Polymers~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~摘要透射电子显微镜（TEM）已经逐渐成为材料研究领域最重要的成像和表征手段之一。这篇综述主要介绍了近年来出现的几种电子显微分析技术，并结合高分子聚合物材料的特点列举了这些技术在实际研究中的应用。这些技术包括：高分辨透镜（HRTEM）成像，扫描透镜（STEM）成像，能量过滤透镜（EFTEM）成像以及电子能量损失谱（EELS）分析。综合运用这些成像和分析工具，可以更全面了解高分子材料在各个微观尺度下的性质。AbstractThe transmission Electron Microscope (TEM) has been used extensively as one of the most versatile and powerful tools for materials characterization. This review highlights important development of several microscopy and analysis techniques in the field of polymers. These techniques include High Resolution TEM (HRTEM), Scanning TEM (STEM), Energy Filtered TEM (EFTEM), and Electron Energy-loss Spectroscopy (EELS). By combining multiple microscopy techniques, we are able to gain a better understanding of polymers properties in various scales.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252216_567945_1982636_3.png~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~1. 前言 从Ernst Ruska在1931年发明了第一台透射电子显微镜（TEM）开始，电子显微分析已逐渐成为材料科学领域特别是材料微观表征的重要方法之一。经过80多年的发展，现代透射电镜在传统的TEM模式之外又相继衍生出了高分辨（HRTEM）和扫描透射（STEM）两种不同的电子成像模式。结合附加的X射线能谱仪（EDS）和电子损失能谱仪（EELS）等，TEM又可以拓展为功能强大的结合了成像和化学分析能力的分析级电子显微镜(AEM)。近20年来TEM和相应的成像分析技术都得到了长足的进步，在分辨率已经突破亚埃级（0.5埃=0.05纳米）的基础上又陆续发展出冷冻电镜 (Cryo-TEM) ，三维成像 (Tomography) ，低电压电镜（LVEM），能量过滤电镜 (EFTEM) 等新兴技术。伴随着这些新技术的发展，TEM的应用领域也不仅仅局限于传统的硬材料(金属，半导体，陶瓷等）而是一直延伸到各种软材料（高分子，生物和复合材料）（参见5）。这篇综述简要介绍了各种显微分析技术的特点和原理，针对高分子样品的制备手段并介绍了各种分析手段在实际研究中的应用。2. 样品制备 在电子显微分析中，样品制备往往是决定图像质量，保证分析准确的最重要一步。不同于常规硬材料，高分子材料普遍存在着硬度较低，物理化学性质不稳定的特点。这些特点决定了它们需要使用不同于常规硬材料的减薄方法来制样才能满足不同的表征要求。制样的第一原则就是在保证不破坏材料原有性质的情况下得到尽可能薄的样品。由于高分子材料大多由碳氢氧等轻元素组成，传统的制样过程一般会采用类似于生物样品的重金属染色方法。利用电子散射能力较强的金属制剂对样品进行染色。金属原子可以与样品里特定的分子键合来提高图像的衬度。然而使用这种方法需要人为的加入样品以外的成分，这样做往往会破环样品原始的特性。特别当需要对样品进行原子级别的分析时，来自金属染色剂的大量的背景信号会影响最终化学元素分析的准确性。现在，即使在不使用染色剂的情况下，利用多种新型成像技术（包括STEM，LVEM，EFTEM 和Cryo-TEM）我们也可以有效地提升图像衬度并减少样品在电子束辐射下的损伤。这就要求我们找到合适的制备方法来得到保持材料原有特性的超薄样品。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252223_567948_1982636_3.png图一. 制备固体或溶液形态的高分子样品的不同步骤 （参见6）。针对两种常见的高分子材料形态（固态和溶液态）有两种不同的处理样品方法（参见6），见图一：1）块状或薄膜状的材料可以首先用树脂包埋，预切后在冷冻超薄切片机中调节合适的温度切片。使用的冷却温度可以根据高分子材料的Tg温度来调节，一般设置在起始温度在-80度左右。得到的切片可以直接用铜网收集，厚度大致在20-80nm； 2）高分子的溶液（也可以为水溶液）可以用Solution Casting方法。在覆盖碳膜的铜网上滴上5-20微升的样品溶液。然后使用Cryo-plunger自动吸出多余的溶液后浸入液体乙烷中快速冷冻。第一种方法保证了固体高分子材料的原有特征不被破坏，同时保证了样品合适的厚度。第二种方法特别适用于观察高分子物质在液态中的特征，整个冷冻过程保证了材料在溶液中的形态。利用集成的湿度控制装置可以直接对亲水性高分子材料进行制备。3. 分析电镜技术简介及其在高分子材料中的应用 3.1 电子成像和分析原理在透射电镜中，平行电子束在透过样品时会与样品内部发生一系列相互作用。透过样品的散射电子和产生的其他信号在收集后可以被用来进行成像和不同类型的显微分析。图二中简单概括了电子束和样品之间的相互作用。根据是否有能量损失，散射电子又分为弹性散射电子(elastically scattered electrons)和非弹性散射电子(inelastically scattered electrons)。部分入射电子束在与原子核作用后发生弹性散射，并最终被CCD捕捉形成传统的明场（Bright Field简称BF）TEM图像。与此同时，入射电子可以与原子核外电子云作用。在损失一部分能量后，经过非弹性散射的电子束可以用来形成电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy简称EELS)。而另一部分被激发的外层电子会填入内层电子的空位，这之间的能量差所产生的特征X射线可以通过X射线能谱仪(Energy-dispersive X-ray spectroscopy 简称EDS)来探测。结合图像和能谱，还可以实现能谱成像(Spectrum Imaging 简称SI)和能量过滤成像（Energy Filtered TEM 简称EFTEM)（参见7）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252225_567949_1982636_3.png图二. 电子束与样品间相互作用以及产生的多种电子和能量信号(参见7)。3.2 高分辨成像（HRTEM）及其应用 除常规的TEM成像，高分辨成像(HRTEM)可以用来直接观察高分子材料内部的原子排列特别适用于对高分子晶体结构的研究。尽管HRTEM在硬材料方面的研究应用已经很普遍，但局限于样品制备和电子辐射损伤的影响，对于高分子结构的高分辨成像和解析还不多。图三是聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨HRTEM图像，右侧相对应的是PTFE高分子链的重复单元结构示意图。通过高分辨成像，可以清晰地辨别出分子链上紧密排布的原子和相对应的157螺旋结构。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252237_567950_1982636_3.png图三. 聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨图像和分子链重复单元结构（参见3）。3.3 扫描透射电镜 (STEM) 成像及其应用 如图四所示，STEM模式下聚焦的电子束在材料表面扫描，透过的电子信号根据散射角度的不同被不同位置的探测器收集后分别形成STEM-BF明场，STEM-ADF暗场以及STEM-HAADF高角度环形暗场图像。因为图像的明暗程度直接和所观察区域内的原子序数有关，高角度环形暗场（High-angle Annular Dar

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  • 【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    材料显微分析工作不仅限于通过显微镜等设备对材料的微观形貌进行拍摄，还包括了对所拍摄到的微观图像进行分析。对这些数据的分析工作要求我们一定要考虑到：对样品自身背景、取样方法、制样工艺、拍摄条件以及接收信号种类对测试结果的影响。对电镜原理及分析技术的理解不仅可以让我们得到漂亮美观的显微图像数据，可以帮助我们挖掘到很多关于材料本身的信息。我们知道扫描电镜对样品的微观信息进行分析，有各种个样的成分信息。比如背散射电子、二次电子、背散射电子衍射花样、阴极荧光、特征X射线、韧致辐射X射线等等。[align=center][img=,690,329]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_01_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图1、 不同二次电子的特征及产生机理示意图[/align]拿二次电子衬度形貌的分析来举例如图1所示，二次电子在扫描电子显微镜中主要分三大类：第一类是一次二次电子SE1，主要是由入射电子与样品极表面（几纳米的深度）相互作用而产生的，它的产率受入射电子束方向与样品表面夹角的影响，因此体现的是样品的形貌衬度；第二类是二次二次电子SE2，主要是由入射电子束在材料机体内发生弹射后又从电子束进入材料的入射点周围及附近弹出时，与材料表面相互作用而引起的，它的产率受材料主体成分及材料晶体取向的影响，因此体现的是材料成分信息及材料晶体取向信息（一般情况下SE1信号在材料的观测中为主要衬度，只有在SE1衬度极弱的条件下，SE2信号的衬度才可以被我们观察到）；第三类是三次二次电子SE3，主要是由电镜样品舱内或物镜极靴或样品台与弹射出样品的背散射电子作用而产生的，它一般是作为噪音来被二次电子探测器接收到的，这类信号越多，电镜拍摄到的图像衬度越差。[align=left][b]SE2二次电子的应用[/b][/align]我们都知道一般SE1二次电子用来观测图像的形貌衬度，而把SE2或SE3当做噪音来看待，但是随着制样工艺及电镜表征技术的发展，SE2二次电子信号也可以被我们用来分析材料的微观结构信息，如下图粉末颗粒截面：[align=center][img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_02_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 电极材料截面形貌观测[/align][align=center][/align][align=left]我们可以观测，当通过氩离子束抛光把样品表面抛的绝对平的时候，SE1的形貌衬度在图中样品的平面部位的衬度就很弱，因此反应晶体取向衬度的SE2信号就被我们观察到了，图像中颗粒截面的这种亮暗不同是由不同 取向的晶粒造成的，通过它我们可以很直观的看到样品的晶粒度（亮暗区域的大小）、晶体取向差（亮暗灰度绝对值）。对我们研究新材料的性能及合成工艺有很大的帮助。[/align][align=center][/align]

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    [b]职位名称：[/b]初级电子工程师[b]职位描述/要求：[/b]职位描述：1. 根据测试要求，负责开发部门新品或改进品的电路焊接及测试工作。进行测试数据的汇总和总结；2. 与生产进行交流，汇总现有产品的问题点，并与电子工程师一同进行分析，制定解决方案；3. 根据电子性能要求，与电子工程师一起拟定测试方案，并负责搭建生产过程测试设备，拟定测试要求寄方法文件；4. 参与部分产品开发电子项目。任职资格：1. 机电一体化、自动化、电气工程专业，大专及以上学历；2. 有相关电子测试工作经验一年以上；3. 会使用Altium Designer 制图软件；4. 会根据原理图分析问题故障点；5. 会使用电烙铁，万用表，示波器等常用测试设备；6. 具有良好的沟通习惯和团队协作精神，有出差需求。[b]公司介绍：[/b] 上海通微分析技术有限公司(简称，通微公司)于2002年成立于张江高科技园区，注册资金1715万，是美国通微技术股份有限公司（Unimicro Technologies, Inc.）的子公司。通微公司集分析仪器研发、制造、销售与服务为一体，潜心经营加压毛细管电色谱系统，高效液相色谱、制备型液相色谱、液相色谱柱及色谱配件和耗材。通微公司也是世界首台加压毛细管电色谱、定量毛细管电泳仪和中国第一...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/63591]查看全部[/url]

  • 【求助】谁有GB/T 21638-2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则

    [table=95%][tr][td=2,1][table=96%][tr][td]标准简介[/td][/tr][/table][table=96%][tr][td]本标准规定了钢铁材料缺陷电子束显微分析的术语、分析方法和程序、分析报告内容等。本标准适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。[/td][/tr][/table][/td][/tr][tr][td=2,1][/td][/tr][tr][td=2,1][table=96%][tr][td=2,1][table=99%][tr][td=2,1][/td][/tr][tr][td][b]英文名称：[/b][/td][td] Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35895.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]中标分类：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/sort/chsortdetail/N.html][color=#014ccc]仪器、仪表[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/chsortdetail/N.html#N50/59][color=#014ccc]物质成分分析仪器与环境监测仪器[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/Chtype/N53_1.html][color=#014ccc]N53电化学、热化学、光学式分析仪器[/color][/url] [/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35799.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]ICS分类：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/sort/icsdetail/71.html][color=#014ccc]化工技术[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/icsdetail/71.html#71.040][color=#014ccc]分析化学[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/ics/71.040.99_1.html][color=#014ccc]71.040.99有关化学分析方[/color][/url] [/td][/tr][tr][td][b]发布部门：[/b][/td][td] 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]发布日期：[/b][/td][td] 2008-04-11[/td][/tr][tr][td][b]实施日期：[/b][/td][td] 2008-10-01 [/td][/tr][tr][td][b]首发日期：[/b][/td][td] 2008-04-11[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]提出单位：[/b][/td][td] 全国微束分析标准化技术委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35885.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]归口单位：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/unit/296.html][color=#014ccc]全国微束分析标准化技术委员会[/color][/url][/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]主管部门：[/b][/td][td] 国家标准化管理委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]起草单位：[/b][/td][td] 上海宝钢股份公司技术中心、武汉钢铁集团公司技术中心、北京钢铁研究总院、上海材料研究所[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]起草人：[/b][/td][td] 陈家光、李平和、朱衍勇、王滨、田青超[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]计划单号：[/b][/td][td] 20068681-T-491[/td][/tr][tr][td][b]页数：[/b][/td][td] 8页[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]出版社：[/b][/td][td] 中国标准出版社[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]书号：[/b][/td][td] 1550661-32034[/td][/tr][tr][td][b]出版日期：[/b][/td][td] 2008-06-01[/td][/tr][/table][/td][/tr][/table][/td][/tr][/table]不知道那为朋友有，给大家分享下嘛！谢谢！

  • 【谱图】微分干涉金相显微镜的简要介绍

    DMM-5000微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统，同时配备明暗场通用的长工作距离平场平场消色差物镜，多光路的系统设计，可同时支持双目镜筒观察和数码摄像装置观察。DMM-5000倒置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织，能在明场、暗场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影，配备专用软件，更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-5000高级正置金相显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗场物镜，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 DMM-5000C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。

  • 【分享】透射电子显微分析基础及软件（JEMS,CrystalMaker,SingleCrystal）应用培训班

    透射电子显微分析基础及软件（JEMS,CrystalMaker,SingleCrystal）应用培训班为了方便同学们对透射电镜实验结果的分析，我室购买了目前透射电子显微学分析领域使用较为广泛的JEMS和CrystalMaker,SingleCrystal两套软件，主要功能为电子衍射谱图的分析与模拟计算以及高分辨像的模拟与计算。本次培训理论与实际相结合，特聘专家与学者系统讲解相关基础理论知识，培训指导软件的使用及应用。培训时间：2009年3月底培训总学时：20学时有意参加者请电话联系，联系电话： 62332516 北京科技大学材料学院电镜室 2009.3.9

  • 上海通微分析技术有限公司诚聘博士后,坐标,你准备好了吗？

    [b]职位名称：[/b]博士后[b]职位描述/要求：[/b]上海通微分析技术有限公司博士后工作站因课题组因工作需要，拟招聘博士后3-5名。流动站为上海交通大学。应聘要求：1. 博士学位2. 英语流利 热爱科研3. 招收方向为化学、药学、药分、生物、光学、机械、电子、计算机等相关专业。[b]公司介绍：[/b] 上海通微分析技术有限公司(简称，通微公司)于2002年成立于张江高科技园区，注册资金1715万，是美国通微技术股份有限公司（Unimicro Technologies, Inc.）的子公司。通微公司集分析仪器研发、制造、销售与服务为一体，潜心经营加压毛细管电色谱系统，高效液相色谱、制备型液相色谱、液相色谱柱及色谱配件和耗材。通微公司也是世界首台加压毛细管电色谱、定量毛细管电泳仪和中国第一...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/70083]查看全部[/url]

  • 关于tg微分的问题？

    请教：在tg曲线不是函数的情况下，如何得到微分曲线？（就是我的数据中同一温度下对应着好几个数值）问同学，说是先把tg曲线拟合成函数曲线再做微分曲线，另一个就是在同一个温度下只选取一个数值而成为函数曲线再做微分曲线。不知哪种方法可行，或者有其他的方法？

  • 【求助】怎么用excel做一阶微分 二阶微分曲线呢?

    做NaOH滴定醋酸实验，得到了数据。。可以做出PH~V曲线。。但是怎么用excel做一阶微分 二阶微分曲线呢? 因为要求滴定终点的。高手指导啊。。。excel应该是能做出来的。。实验老师叫我们上网查方法。。无能没查到啊。。。坐等高手帮忙。。。。

  • 【分享】微分干涉显微镜在金相研究方面的应用

    微分干涉显微镜对表面光洁度的测定：　　电解抛光，化学抛光时，表面质量可用微分干涉金相显微镜加以鉴定。根据干涉条纹的形状可知表面光洁度的好坏，如条纹弯曲不大说明抛光或表面较平整。　　微分干涉显微镜对金属塑性变形的研究：　　用微分干涉显微镜可以精确地测定滑移带高度及多晶体试样内各处的变形程度等。　　微分干涉显微镜对金相试样因共格相变发生浮凸的研究：　　在金属里面的马氏体，贝氏体及魏氏体组织，用微分干涉金相显微镜能有效地鉴定表面浮的形状。用它进行观察可以使表面的肉眼无法观察到的浮凸体明显地程现出来。　　微分干涉显微镜对LCD行业的检察应用：　　在目前市场上供不应求的LCD行业来说，这是最适合不过的了，LCD属于一种精密型的产品，生产过程中许多部件都要用到显微镜。微分干涉金相显微镜主要用于在导电粒子方面的观察，这种粒子小到四五微米，肉眼根本玩法看见。用该类显微镜则方便许多。

  • GPC的微分线

    请问各位GPC的微分线是怎样计算出来的，有什么意义，多谢

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