四圆衍射仪

1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上，如下图所示，采用常规的硒化锌材料透镜，将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图：选型表：型号波长（nm）输入孔径 1/e2（mm）工作距离（mm）直径（mm）材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束，具有很锐利的边缘，可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数： 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离（mm）输入光束直径（mm）波长（nm）整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表：型号波长（nm）直径（mm）输出孔径1/e2（mm）工作距离（mm）像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜，是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构，从而达到整个入射光的焦点归一，提高激光效率。示意图： 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表（部分）:型号波长（&mu m）有效焦距（英寸）直径（英寸） SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5

用于晶体取向测量的 SDCOM 小型衍射仪用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO₃ | bbo | GaN 和其他一百多种材料。SDCOM的特点超快速测量：样品旋转一次（即10秒内）即可捕获所有所需的晶体取向参数多种样品尺寸：可测量直径从1mm到200mm的样品可对任何单晶材料进行全自动分析和取向测定典型标准偏差 (Si 100)：倾角幅度＜0.01° ，倾角方向＜0.03°正常运行时间：＞99%Theta 扫描功能：用于复杂的研究和材料表征转移技术：实现一束切割光束中*多可处理6个定向好的晶体可与SECS/GEM等MES集成

产品介绍： 1.产品概述： STADIVARI是STOE公司推出的一款具有划时代意义的新型单晶衍射仪，配备微聚焦点光源（可选双靶或液态金属靶）、三维聚焦镜、Pilatus探测器、OPEN Eulerian Cradles四圆测角仪，完美兼容高压DACs、高低温附件等，是目前市面上配置高、性能先进的单晶衍射仪；广泛应用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。 仪器主要用于测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况，可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。2.产品特点： 新一代Genix 3D微聚焦点光源； 三维全反射多层膜聚焦镜； OPEN Eulerian Cradles 四圆测角仪； 大样品空间，支持原位实验； 高性能 Pilatus 混合像素探测器，零噪音，单光子计数能力； 完美支持高压DACs、高低温样品台等附件。

TD-5000型单晶X射线衍射仪产品介绍国内独家—填补国内空白仪器功能： TD-5000 X射线单晶衍射仪主要用于测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。X射线单晶衍射仪是以丹东通达科技有限公司为牵头单位，承担的国家科技部-【国家重大科学仪器设备开发专项】立项的高新技术产品，填补国内没有单晶衍射仪研制和生产的空白。仪器特点：整机采用可编程序控制器PLC控制技术； 操作方便，一键式采集系统；模块化设计，配件即插即用，无需校准；触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；高功率X射线发生器，性能稳定可靠；电子铅门联锁装置，双重防护。仪器精度：2θ角重复精度：0.0001°；最小步进角度：0.0001°； 温度控制范围：100K—300K控制精度：±0.3K测角仪：采用四圆同心技术来保证无论发生怎么样的转动均可使测角仪中心保持不变,实现获得最精准的数据的目的,得到更高的完整率，四圆同心是常规单晶扫描的必要条件。PILATUS混合像素探测器：采用PILATUS混合像素探测器能够实现最好的数据质量的同时保证低功耗和低冷却的特点,该探测器将单光子计数和混合像素这两项关键技术相结合，应用于同步辐射和常规实验室光源等各个领域，有效排除读出噪声和暗电流的干扰，混合像素技术可以直接探测X射线，更易分辨信号，并且PILATUS探测器可以高效提供优质数据。 高速二维面探测器特点（可选配）： 敏感区域 [mm2]：83.8 × 70.0像素尺寸 [µ m2]：172 × 172像素间距： 0.03%最大帧速率[Hz]：20读出时间[ms]:7能量范围[keV]:3.5 - 18低温设备：通过低温设备采集的数据结果更加理想，在低温设备的作用下可提供更多的优势条件可以使不理想的晶体获得理想的结果，也可使理想的晶体获得更理想的结果。温度控制范围:100K~300K； 控制精度:±0.3K 液氮消耗量:1.1~2升/小时；完美的控制软件及测试结果：可选附件：多层膜聚焦透镜：X射线管功率：30W或50W；发散度：0.5~1 mrad；X射线管靶材：Mo /Cu 靶；焦斑：0.5~2 mm销售业绩：

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

我们的技术 多种X射线衍射系统 PSD型实时探测器同步采集2θ角度范围超过120°2θ模式分辨率高达0.05°2θ模式120°最小采集时长仅需1秒配置多轴测角仪的实时测量低至10μm的微衍射束单色化光学元件多种样品架变温及气氛腔室附件适用于常规应用到高级数据处理的软件服务于您的所有应用水泥、金属、矿产行业的过程质量控制纳米材料，微电子，冶金及先进材料的研究制药及化妆品的研究及质量控制地质及采矿教育机构我们的产品Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 100 独立台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 1000 台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3000 研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3500 高分辨率粉末XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5000 多功能研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5500 二圆高分辨XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 6000 四圆织构/应力XRD

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

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OLYMPUS 便携式X射线衍射仪型号:TERRAII赢洲科技（上海）有限公司：仪景通（原奥林巴斯）中国区授权一级代理商，仪景通（原奥林巴斯）中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室Terra II便携式XRD分析仪世界上首一款由电池供电的商用便携式XRD分析仪的换代产品：TERRA II分析仪，配备有防风防雨、坚固耐用的外壳，使用电池供电，可长达6个小时持续工作，因此可在野外环境对矿物进行检测分析，为用户快速提供矿物主要成分和次要成分的信息。TERRA II分析仪提供一些性能强大的功能，是一款可以替代传统XRD仪器、重量很轻、便于携带，且几乎无需维护的分析仪。配备有一个独特的小样品托架，只需15 mg样品就可以完成分析无需外接电源、压缩气体、水冷装置、二次冷水机组，或外置变压器，即可进行操作，因此可以保持较低的拥有成本通过无线连通性能，可以将分析仪与您的设备连接起来分析仪所使用的SwiftMin软件简洁直观，具有以下特性：单屏控制面板显示多种数据、预先设置校准程序、轻松导出数据，以及自动数据传输，从而简化了用户的工作流程. 速度和灵敏度的提高有助于用户迅速做出决策TERRA II分析仪将性能强大、简洁直观的软件与经过改进的X射线探测器结合在一起使用，不仅提高了灵敏度，加快了分析进程，而且可以获得更可靠的结果。更新后的X射线探测器硬件，运行速度更快，分析密度更高，进而可以获得更低的检出限（LOD）。SwiftMin自动矿物相辨别（ID）和定量软件可以直接在XRD分析仪上实时提供数据，因此用户可以迅速及时、充满信心地做出决策.仅需执行几个简单的步骤，就可运行一次检测：1.制备样品。首先，将样品研磨成粉末状。样品制备非常容易，就是使用工具敲碎被测材料。用于制备样品的工具配件随分析仪附送，这些工具可使样品的采集和制备工作易如反掌。2.筛滤样品。使样品通过筛子或者使用便携式研磨器，获得更细的粉末状样品。仪景通（原奥林巴斯）XRD分析仪只需将样品研磨成150微米的粉末即可。3. 振动样品。使用小铲将样品放入到振动样品托架上。这个独特的样品托架可以确保样品不受择优定向效应的影响。4.开始检测。按下分析仪上的开始采集按钮，开始检测。在分析样品的过程中，可以将XRD分析仪连接到笔记本电脑、平板电脑、智能手机或其他具有无线连通性能的设备，实时观察X射线衍射图案。还可以对设置进行调整，以在一段预先设定的时间后自动传输数据，或者在按下停止按钮时传输数据。5.查看结果。现在就可以使用衍射图案制作报告了。在制作报告之前，还可以对结果进行编辑。轻松完成样品的制备工作传统的XRD仪器要求将大批量的样品研磨成粉末，再碾压成小球状，以确保晶粒具有足够的随机定向性。相比之下，TERRA II分析仪可以使用小型振动样品托架使样品舱中的所有颗粒进行对流，从而可确保数据几乎不受定向效应的影响。因此，仪器只需要15毫克的样品就可以获得优质的检测结果，而且操作人员使用随仪器附送的样品工具包可以轻松地制备样品。常见应用仪景通（原奥林巴斯）XRD分析仪可广泛应用于：矿物勘探采矿及矿物加工工艺油井勘探录井石化检修维护水泥制造地质研究安保系统（爆炸物）催化剂质量控制药物

聚合物材料在当今社会的各个方面都有着广泛的应用，从包装材料到航空航天工程，不同性能的聚合物材料用途不同。结晶度（Degree of Crystallinity，DOC）是影响聚合物材料性能的主要指标，结晶度的变化会影响聚合物材料的各项性能，如力学性能、热性能、密度和光学性质等。因此对控制聚合物材料的结晶度是材料工程中的关键因素。通常，测量结晶度的方法包括密度法，量热法，NMR、IR以及XRD法等，其中X射线衍射法是公认的、具有明确仪器及应用较为广泛的方法,能够更加全面直观地分析聚合物结构信息。利用X射线衍射技术测定聚合物的结晶度的常用测定计算方法有作图法、回归线法、罗兰德(Ruland)法、X射线衍射曲线分峰拟合法。FRINGE SH1827塑料结晶度专用分析仪主要通过X射线衍射技术和全谱拟合法，对聚合物材料样品进行结晶度计算分析。具有操作简单、分辨率出色、重复性好等优点。使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。内置水循环冷却系统FRINGE内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。自主CrystalX软件通过使用CrystalX，在获得衍射数据后，可以直接测定并计算出结晶度（简称D值），大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得仪器可安装于车载实验室平台。适用标准适用于《SH/T1827-2019 塑料结晶度的测定 X射线衍射法》标准，用于聚乙烯（PE）和聚丙烯（PP）结晶度测定，以及颗粒或粉末状聚乙烯和聚丙烯（α晶型、β+α晶型）压塑或注塑试样结晶度的测定。应用场景通用塑料聚乙烯PE、聚丙烯PP工程塑料尼龙PA、聚对苯二甲酸乙酯PET 、聚对苯二甲酸丁二酯PBT、聚甲醛POM等 特殊/结构工程塑料聚苯硫醚PPS、液晶LCP、聚二醚酮PEEK、氟碳树脂PTFE、聚氧苯甲酯POB等合物材料中无机矿物填料分析 技术参数测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得仪器可安装于车载实验室平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 1000W散热方式内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD

产品名称：Si无衍射基板（打圆孔） 常规尺寸：dia24.6x1.0mm打孔dia10x0.2mm 单抛或双抛dia32x1.0mm打孔dia10x0.2mm 单抛或双抛注：可按照客户要求加工尺寸。标准包装：1000级超净室100级超净袋真空包装

OLYMPUS 便携式X射线衍射仪型号:TERRAII赢洲科技（上海）有限公司：仪景通（奥林巴斯）中国区授权一级代理商，仪景通（奥林巴斯）中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室Terra II便携式XRD分析仪世界上首一款由电池供电的商用便携式XRD分析仪的换代产品：TERRA II分析仪，配备有防风防雨、坚固耐用的外壳，使用电池供电，可长达6个小时持续工作，因此可在野外环境对矿物进行检测分析，为用户快速提供矿物主要成分和次要成分的信息。TERRA II分析仪提供一些性能强大的功能，是一款可以替代传统XRD仪器、重量很轻、便于携带，且几乎无需维护的分析仪。配备有一个独特的小样品托架，只需15 mg样品就可以完成分析无需外接电源、压缩气体、水冷装置、二次冷水机组，或外置变压器，即可进行操作，因此可以保持较低的拥有成本通过无线连通性能，可以将分析仪与您的设备连接起来分析仪所使用的SwiftMin软件简洁直观，具有以下特性：单屏控制面板显示多种数据、预先设置校准程序、轻松导出数据，以及自动数据传输，从而简化了用户的工作流程.速度和灵敏度的提高有助于用户迅速做出决策TERRA II分析仪将性能强大、简洁直观的软件与经过改进的X射线探测器结合在一起使用，不仅提高了灵敏度，加快了分析进程，而且可以获得更可靠的结果。更新后的X射线探测器硬件，运行速度更快，分析密度更高，进而可以获得更低的检出限（LOD）。SwiftMin自动矿物相辨别（ID）和定量软件可以直接在XRD分析仪上实时提供数据，因此用户可以迅速及时、充满信心地做出决策.仅需执行几个简单的步骤，就可运行一次检测：1.制备样品。首先，将样品研磨成粉末状。样品制备非常容易，就是使用工具敲碎被测材料。用于制备样品的工具配件随分析仪附送，这些工具可使样品的采集和制备工作易如反掌。2.筛滤样品。使样品通过筛子或者使用便携式研磨器，获得更细的粉末状样品。仪景通（奥林巴斯）XRD分析仪只需将样品研磨成150微米的粉末即可。3. 振动样品。使用小铲将样品放入到振动样品托架上。这个独特的样品托架可以确保样品不受择优定向效应的影响。4.开始检测。按下分析仪上的开始采集按钮，开始检测。在分析样品的过程中，可以将XRD分析仪连接到笔记本电脑、平板电脑、智能手机或其他具有无线连通性能的设备，实时观察X射线衍射图案。还可以对设置进行调整，以在一段预先设定的时间后自动传输数据，或者在按下停止按钮时传输数据。5.查看结果。现在就可以使用衍射图案制作报告了。在制作报告之前，还可以对结果进行编辑。轻松完成样品的制备工作传统的XRD仪器要求将大批量的样品研磨成粉末，再碾压成小球状，以确保晶粒具有足够的随机定向性。相比之下，TERRA II分析仪可以使用小型振动样品托架使样品舱中的所有颗粒进行对流，从而可确保数据几乎不受定向效应的影响。因此，仪器只需要15毫克的样品就可以获得优质的检测结果，而且操作人员使用随仪器附送的样品工具包可以轻松地制备样品。常见应用仪景通（奥林巴斯）XRD分析仪可广泛应用于：矿物勘探采矿及矿物加工工艺油井勘探录井石化检修维护水泥制造地质研究安保系统（爆炸物）催化剂质量控制药物

晶圆级衍射光波导光学检测系统皮米级周期计量 / 快速无损 / 形貌量测 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 是一款专为晶圆级光波导样品提供的专业光学检测系统，采用先进的角分辨光谱技术，配合强大的 AI 算法以及可溯源的标准物质，能够快速、准确获取一维、二维光栅的衍射效率及其形貌参数，为用户在衍射光栅的设计与加工过程中提供快速、无损的监控手段，不断提高产品生产良率。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 典型应用领域： 光栅衍射效率测量 衍射效率是评价光栅性能的核心指标，需要系统具有同时测量角度和波长的能力。 光栅周期计量 周期作为衍射光波导的基本参数，影响着光在波导内部正确的传输与衍射，可溯源的方法是周期计量中的关键所在，需要具有复现和量值传递作用的标准物质作参考。 光栅形貌量测 高性能衍射光波导具有较为复杂的光栅形貌，对形貌无损快速的检测是晶圆批量制程中的核心诉求，需要系统具备多维度光学信号抓取能力并支持人工智能算法高效分析。 光栅取向测量 光波导中不同区域光栅的取向差异对成像至关重要，需要系统支持旋转角精确调节。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 角分辨光谱技术 得益于 -70°~70° 的广角量程与优于 0.02° 的角度精度，可准确捕捉 多级次 衍射强度随波长和角度的精确分布； 2 晶圆级测量 采用高兼容性样品台，有效覆盖 4~12 寸 晶圆的全面检测需求。同时，结合智能化软件，支持晶圆版图输入，实现了对衍射光波导晶圆的批量 mapping 检测； 3 人工智能算法 引入在线优化、深度学习和库搜索等前沿算法，将物理模型与多维光谱信息紧密融合，可实现 海量模型 的构建与优化，实时获取衍射光波导光栅的精确形貌参数； 4 高精度电动位移台 选用高精度 四轴电动 位移台，可实现 X, Y, Z 轴 微米级 空间定位精度，平面取向 θ 角 弧秒级 角度定位精度，支持衍射光波导全方位自动检测。Metrondie-SRG 光学量测示意图

DX-2800高分辨衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。　　高分辨X射线衍射仪为精准研究材料结构而设计,能对样品衍射角度进行最精确测量，为得到准确的、可信赖的相分析及结构解析结果奠定坚实的基础。　　高分辨X射线衍射仪配置高稳定性X射线源、高性能半导体阵列计数器，可以在相对短的时间内获取最准确的的衍射谱图。　　样品衍射角度由绝对增量式224位线光栅直接获取，能避免测角仪其它部件对衍射角度的影响，确保仪器在使用寿命内始终获得准确的峰位置。　　国际标准样品（Si、Al2O3）全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。　　X射线衍射谱图提供有关样品不同晶相的晶体结构等重要信息。这些信息包括点阵常数、点阵类型、原子替位、晶粒大小和非均匀应力，晶体结构能够逐步通过样品衍射谱图解析。

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

DX-2900型二维X射线衍射水平型二维X射线衍射仪二维X射线衍射仪能够快速实现对有机及无机材料结构取向、织构、结晶状态等研究。应用于膜、纤维、丝状材料、块体材料表面结构测试。仪器由毛细管微焦点光源、两轴薄膜样品台、二维阵列探测器，测试软件组成。还可以配置薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台和原位气氛处理台等，满足各种测试目的需要。 碘化铅薄膜 聚合物样品二维衍射图甲胺铅碘钙钛矿薄膜 聚丁烯样条透射XRD N2200聚合物薄膜垂直型二维X射线衍射仪多个样品可以水平放置，满足液体、熔融等特殊状态样品的测试需求；配置加热样品台：可测试需加热样品，解决加热样品测试的问题；配置150mm×150mm XY位置台：可提供更大的移动范围。垂直型二维X射线衍射仪 150mm×150mm XY位置台 加热样品台 三氧化二铝二维衍射图 聚乙烯二维衍射图 聚丁二烯二维衍射图技术参数1. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA）；2. 多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s；3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm；4. 二维阵列探测器：512×512像素，每个像素大小75微米；5. 可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等；6. 薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M。

DX-27mini台式衍射仪　　为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。主要技术指标：运行功率600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA)、稳定度:0.005%X射线管金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、焦点尺寸：1×10mm,风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min)测角仪样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm测量方式连续、步进、Omg角度测量范围θs/θd联动时-3”-150”最小步宽0.0001”角度重现0.0005”角度定位速度1500”/min能谱分辨率小于25%计数器封闭正比或高速一维半导体计数器线性计数率≥5×105CPS(正比）、≥9×107CPS(―维半导体）计算机戴尔商用笔记本仪器控制软件Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制測角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻蜂、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。数据处理软件物相定性、定置分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标祥定量分析等功能、全谱图拟合（WPF)、XRD衍射谱图模拟。散射线防护铅+铅玻瑱防护，光阐窗口与防护装置连锿，散射线计置不大于1μSv/h仪器综合稳定度≤1%样品一次装软数据配置换样器，每次最多装载6个样品仪器外形尺寸600×410×670(w×d×h)mm

产品名称： Si无衍射基板技术参数：常规类型：P型掺B产品尺寸：dia24.6x1.0mm dia32x2.0mm 30x30x2.5mm抛光：单抛；双抛表面粗糙度：15?标准包装： 1000级超净室100级超净袋真空包装

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

QC3 高分辨率X射线衍射仪简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的zui新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势• 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。• 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。• 降低了设备及附件的购置和维护成本。• 更低的运行成本。• XRGProtect™ 可以有效延长X射线光管的使用寿命。• 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。• 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。• 操作简便，无需专业人才操作。• 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化• 工业界ling先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。• 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。• 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

特点Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方位。大而宽敞的设计可以容纳长达450毫米和30公斤的重量和样品架。所有的测量都是自动化的，可以通过用户友好的软件界面进行访问。利用Omega扫描，可以在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量。可以非常精确地确定倾斜角度，使用Theta扫描到0.001°。对于所有其他的晶体方向，精度取决于垂直于表面的角差。该系统是模块化的，并配备了许多不同的扩展用于特殊目的，如形状或平面的确定，绘图和不同的样品架。样品的倾斜度是通过光学测量来检测的，可以用来校正最终的方向。单晶衍射仪 Omega扫描图（SiC） 涡轮叶片，一个方向组件的映射图 (Si, Ge)晶圆，定向图 晶格参数映射图 全自动单晶完全晶格取向测量使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量自动摇摆曲线测量衍射仪的角分辨率：0.1弧秒。样本大小可达450毫米适合于生产质量控制和研究用户友好和成本效益样品处理方便，操作方便先进的,用户友好的软件低能耗，低运营成本模块化设计和灵活性各种升级选项定制用户的需求Omega/Theta X射线衍射仪的应用具有多种几何形状和大小的样品 单晶的工业合成从大而重的晶体开始，到小块如晶圆或坯。实验生长产生微小的圆柱体。根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这种结构创造了一个高度各向异性的环境，光通过晶体，并导致他们的特殊性质。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，作为频率倍增器和光学参量振荡器的有源元件。对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。这些材料的大单位晶胞是Omega扫描方法的一个挑战。我们能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的Omega扫描参数的最重要的方向。对Omega/Theta的设计进行了一些特殊的修改，以涵盖几种不同材料的NLO能力。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。在晶圆片的注入和光刻过程中，平面或凹槽作为定位标记。经过加工后，晶圆片携带数百个芯片，需要通过切割将其分离。晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平台或缺口的位置是必要的。为了确定平面或缺口的位置，必须测量平面内的部件。该仪器通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。这简化了将标记应用到特定平面方向的任务，例如必须定义平面方向时。对于高吞吐量应用程序，可提供自动测量解决方案。摇摆曲线:晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。在晶格匹配的薄膜中，摇摆曲线也可以用来研究层厚、超晶格周期、应变和成分剖面、晶格失配、三元结构和弛豫。晶圆片表面必须达到非常高的清洁和均匀性标准。制造商正努力使晶体的位错和缺陷尽可能少。特别是在碳化硅方面，消除错位为这种材料提供了新的应用领域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。图像显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆。晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

德国弗莱贝格仪器Quatrz XRD——石英晶体X射线衍射仪主要应用于对石英棒、硅片和坯料进行生产质量控制。而根据样品对象的不同，Quatrz XRD可以分为Quatrz Bar XRD、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD，即全自动石英棒定向仪、全自动石英晶圆盘分析仪和全自动石英晶片分选仪三种型号。全自动石英棒定向仪▼ 样品：石英棒特点：完全自动化的吸收和校准石英棒自动上胶转接器板校准精度：±0.5°(AT & TF)全自动石英晶圆片分析仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至80 x 80毫米(人工处理样本)20 x 20毫米至80 x 80毫米(自动样本处理)特点：空间质量检查的映射图选项模块化设计，支持未来的自动化升级用于输入/输出的标准样品盒：盒式或叠式可用排序函数产量：在标准分选精度下，可高达350片/小时全自动石英晶片分选仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至12 x 12毫米(手工处理样本)1.5 x 1.5毫米至3.0 x 6.0毫米(自动化选项一)4.0 x 4.0 mm至9.0 x 9.0 mm(自动化选项二)特点：质量分组：±7.5 arcsec吞吐量：在标准分拣精度下，每小时可处理高达1000个晶片

苏州锂影科技有限公司 薄膜X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司衍射仪高端个性化定制服01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪是在浩元DX2700BH衍射仪粉末版仪器的基础上专门针对薄膜样品研发的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米或微米级膜以及通过吹塑、压片等方法直接得到的微米或毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（ω和χ方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。02 技术参数 Technical Parameter 该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或ω轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。 03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统 产 品 概 述Bruker’的 JV-QCVelox 是长期运行的 JV-QC 仪器中z新、z先进的 HRXRD。它是化合物半导体行业高分辨率 X 射线衍射的专用质量控制工具。 它适用于表征所有常见的半导体衬底，包括Si、GaAs、InP、GaN 等。测量可以部分或完全自动化运行，用户可自定义的脚本处理日常工作。 VeloMAX&trade 光学器件：通过 10 倍以上的强度改进实现高生产率 JV-QC-Velox 系统的入射光束包括许多标准功能以获得高强度。 晶体选择根据材料进行了优化：在不损失分辨率的情况下，提高了通量并提高了可重复性。在不降低分辨率的情况下，可以实现比以前更快的测量和更高的精度。 这是在 MQW 分析中保持准确的成分值的关键。多层反射镜作为所有 JV-QC-Velox 系统的标准配置对于高镶嵌样品，使用 25 英寸的调节晶体发散角来增强系统（标配）对于传统的 III-V 系统，可以提供更高分辨率的调节晶体 (10”) 来代替 25” 晶体（需要在采购订单上注明）系统的校准可以轻松安全地进行，机柜中没有开梁。检测器级包括许多标准功能，可以增强系统的能力EDRc（增强动态范围）检测器的动态范围 2x107自动衰减器，通过控制软件进行控制。这将系统动态范围增加到超过3x108三轴晶体是获得所需晶体的关键GaN测量的分辨率。电动探测器狭缝允许对系统进行控制分辨率，无需手动更换模块所有探测器级组件都是自动对齐的通过电脑 HRXRD 技术 材料：单晶衬底（例如 Si、GaAs、InP、GaN）和外延层，包括多层结构参数：层厚度、成分和松弛、应变、区域均匀性、失配、掺杂剂水平、错切、层倾斜。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成自动样品校准、测量、分析和报告由 JV-RADS 软件执行的分析。化合物半导体衬底可实现对称、非对称和斜对称反射 VeloSWAP: 高级样品板运动学样品板：可以快速更换样品板——每个板都可以在几秒钟内移除/更换。 由于运动加载，安装后无需对齐板。 可以提供多个板并互换使用。31 x 2” 运动学样品板，用于大批量测量，以增加板重新加载之间的时间并提高生产力和工具效率。外部条码阅读器可以安装到工具或独立站。JV-QCVelox 配备机器人，可从晶圆盒进行全自动测量2” 至 200 毫米磁带自动检测晶圆盒尺寸任意数量插槽的任意配方组合提高更大晶圆尺寸的生产力无需人工处理晶圆，提高晶圆清洁度 bruker 布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD产品规格布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在完全计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需专家设置工具以供使用。&bull 样品的自动校准、测量和分析&bull 测量的自动化程度由用户定义&bull 使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描&bull 全300mm 晶圆水平贴装和映射&bull 由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量&bull 根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置&bull 行业领先的设备控制和分析软件&bull 使用高分辨率测角仪进行准确和精确的测量&bull 高强度光源和光学元件可实现快速测量&bull 可用的技术和参数范围广泛&bull 由拥有 30 多年经验和庞大的全球安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的专家打造 自动源和检测器阶段&bull 光源光学器件的开发考虑到了易用性和佳性能。 所有系统均标配平行光束多层反射镜，可提供适用于 XRR 和 XRD 测量的高强度光束。&bull 为了启用HRXRD，可以安装一系列晶体光学器件，以涵盖从8” (Ge 004) 到 40” (Ge 111) 的分辨率。 可根据要求提供定制晶体。&bull 它们会自动切换进出光束路径，以便能够在同一自动测量批次中覆盖适用于不同基板类型和不同技术的光束配置。 与其他系统不同，无需手动从系统中移除镜子或晶体，以确保它们不会损坏或错位。 高分辨衍射仪 & X 射线反射率高分辨率 XRD 是第一原理测量，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切&bull 直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成&bull 在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析&bull 可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描&bull JV-RADS分析软件X 射线反射率 (XRR) 是第一原理测量，可以确定薄膜的厚度、密度和粗糙度&bull 第一原理，无损测量&bull XRR 对材料质量不敏感，因此层可以是非晶、多晶或外延层&bull 金属、氮化物、氧化物、有机物、聚合物……&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 厚度范围从 1nm 到 1μm，取决于吸收 分析软件JV-DX 系统上使用的分析软件套件以 30 年的 X 射线表征和薄膜计量经验为基础。 基于在 Bede Scientific 的分析软件套件中，JV-DX 分析包包括行业领先的高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射率 (XRR) 和 XRD 软件模拟软件。 bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD规格售后服务保修期：

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

苏州锂影科技有限公司 类德拜照相快速X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 技术背景 Technical Background 德拜照相是一种古老的X射线衍射测试方法，它使用弯曲底片一次性测试粉末样品大角度范围内的多个德拜环。由于需要洗相等繁琐操作以及测试精度偏低而被衍射仪法所取代。近来我们使用一维阵列探测器进行近距离照相，得到了类似德拜照相的结果。而且，由于不用扫描，该方法的测试速度可以达到秒级。根据距离不同，该方法能够探测的角度范围可以从8°增加到50°，相应的单个子探测器角度分辨率可以从0.01°减少到0.08°。实际上大多数粉末样品只需要进行定性或半定量测试，它们的主要衍射仪峰基本都出现在10°-60°甚至更小的角度范围内，而且衍射峰之间的角度差大多大于1°，因此这种类德拜照相技术完成能够满足这些定性或半定量测试的需求。02 产品说明 Product Instructions 类德拜照相快速X射线衍射仪在丹东浩元仪器有限公司的DX2700衍射仪基础上装配了Dectris Mythen1D一维阵列探测器，并且其距离可调，即能够实现秒级的近距离类德拜照相，也能够采用远距离的高分辨率扫描模式进行测试。因此即适用于高通量样品筛选以及企业生产中的质量控制，也适用于样品的晶系结晶结构分析。该仪器配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。并且能够支持锂影科技开发的5位反射模式样品架或15位透射模式样品架，实现多个样品的自动连续测试。03 技术参数 Technical Parameter 1. X射线发生器：3kW；2.θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°； θd轴范围-5o~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°；3. Mythen1D一维阵列探测器4. 标配单个粉末样品架，可选配5位反射模式样品架或15位透射模式样品04 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：