台式测厚仪

仪器信息网台式测厚仪专题为您提供2024年最新台式测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括台式测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的台式测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合台式测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有台式测厚仪相关的最新资讯、资料,以及台式测厚仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

台式测厚仪相关的厂商

  • 深圳市厚物科技有限公司立足中国深圳,持续专注于PXIe PXI CPCI VPX模块化仪器测控系统平台的研发与生产,提供便携式、车载式、台式、手持式、机架式五大系列MCS测控系统平台,包括外场便携式测试设备、加固机架式测试设备、手持式仪器、车载式设备等,多款创新型设备已列装到国防科技、航空航天、兵器电子、船舶舰载等装备保障领域,是专业的测控系统平台服务商。厚物科技是国际PXISA正式成员,持续开发严格满足行业需求的、安全可靠的、易于管理的测量测试测控设备及仪器,在国防科技、航空航天、兵器电子、船舶舰载、智能航电、核电工程、轨道交通、智慧互联等行业积累了十几年产品开发经验,对仪器设备、总线标准、产品设计及开发有深入研究,具有专业的PXIe PXI CPCI VPX模块化仪器技术研发团队,来自国内外测控仪器行业头部企业,团队带头人有海外留学及在国外头部技术公司工作的背景。厚物科技量身定制,快速响应,坚持用先进的技术为行业用户提供一揽子解决方案,持续为各行业用户提供专业完善的一站式交钥匙ODM定制服务,交付严格符合用户要求的全生命周期的产品及技术解决方案。厚物科技既服务于重要基础行业,也服务于国防科技领域。自强不息、厚德载物,是厚物科技的企业文化;作为中国的民族企业,厚物科技将牢记使命,为科技的进步和民族的复兴贡献所有力量。
    留言咨询
  • 成都奥太科技有限公司是重庆里博仪器有限公司四川分公司;是日立高新光谱仪四川地区总代理;是荷兰轶诺硬度计全国优先分销商;是英国高美X射线探伤仪全国优先分销商。日立高新(Oxford Instruments)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。日立高新系列光谱仪所提供的全套产品系列包括手持式和台式 X 射线荧光光谱仪、激光诱导光谱仪、火花直读光谱仪。荷兰INNOVATEST轶诺硬度计研发,制造和销售高端硬度计,为您提供既满足测试需求,又契合企业预算的硬度测试解决方案。高美是创立于1976年的高科技英国公司。近40年来,高美一直走在射线机设计及制造的最前沿。是世界领先及产量最大的工业X射线设备的制造商之一。总公司重庆里博仪器产品涵盖包括表面粗糙度仪、数字式超声波探伤仪、里氏硬度仪、数显高精度台(凸鼻子)洛氏硬度试验机、数显内径测量仪、布氏硬度压痕测量系统、覆层测厚仪、超声波测厚仪、红外测温仪、现场金相显微镜、电火花检测仪等在内的十一大系列几十个品种。
    留言咨询
  • 深圳市安达仪器仪表有限公司主要经营各大品牌仪器仪表,适用于各大工厂和教育部门等使用,如PCB线路板厂,五金电镀厂,塑胶厂,五金首饰厂,半导体厂,玻璃厂等。我们拥有专业的服务团队,销售,安装,培训,售后服务,修理一条龙服务,使你买得放心,用得安心,无后顾之忧。一、测厚仪德国宏德X射线测厚仪,主要有型号:Compact eco , Compact 5 , Maxxi 4 , Maxxi 5,maxxi 5 pin等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪,主要有型号:XRF-2000PCB,XRF-2000H,XRF-2000F等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。俄罗斯孔铜测厚仪ITM-52(配备EP-30/EP-25/EP-20探头,探头连接线,校正器,标准片)手提式,经济实惠又方便美国进口KOCOUR品牌电解/库仑测厚仪(电位差测试仪)(model6000)及电解测试液和标准片美国进口START品牌铜箔测厚仪(SM6000)日本进口KETT品牌涂层测厚仪(LZ-990,;LE/LH/LZ-370等等型号涂层测厚仪)美国进口UPA品牌β射线涂镀层测厚仪(MP-700(已停产,服务仍在继续);MP-900(带霍尔效应功能)CMS(手持式);磁感应/电涡流涂层测厚仪(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔铜测厚仪/面铜测厚仪(CD-8);及各种涂镀层测厚仪标准片 二、水处理设备日本共立(KYORITSU)水质测试包/快速测试仪/污水测试包,各种元素齐全,如Cu离子,Fe离子,COD,PO4,NO3,NH4,Zn等。方便快捷,简单易学.一学即会。单项目水质计(DIGITAL PACK TEST )型号:DPM-简易水质测定组-铅 型号:SPK-Pb美国禾威(WALCHEM)水处理控制器:镀镍自动添加药水控制器(型号 WNI310 WNI410 WNI420) 镀铜/蚀铜自动添加药水控制器(型号 WCU310 WCU410 WCU420) PH/ORP传讯器 / 监控器备有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420 电导率自动添加药水控制器WEC310,WEC410 锅炉水处理控制器。备有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 Web Master ONE在线分析过程控制器 WEL探头电极等相关耗材配件 三、金相设备正置显微镜,倒置显微镜,配DELL/联想电脑系统,图像处理软件,进口CCD摄像头。美国EXTEC研磨抛光机(单盘,双盘),切割机美国EXTEC消耗品:抛光绒布,胶膜,砂纸,抛光膏,凝胶套件,切割液,切割碟等。 四、其它美国OMEGA SMD500,SMD600离子污染测试仪,(离子交换柱,校正液,LCD显示屏)。辐射表-美国进口Seintl(S.E.)品牌辐射测量表(MC1K,monitor4,inspector等)美国进口CalMetics品牌测厚仪标准片/校正片,标准片检定(含证书有效期一年).工业放大镜(台式,夹台式,落地式,折叠式,方形/圆形镜片)美国DICKSON温湿度记录仪/记录纸/记录笔美国进口Kwik-chek品牌孔径规(10A,20AM,30AM,40AM)美国KOCOUR品牌离心机,离心管,用于测定硫酸根离子美国ECI品牌电镀添加剂分析仪(QL-5E和QL-10E) 我们的服务宗旨是:客户至上,服务与质量并在,一起共创双赢.安达欢迎您来电咨询!
    留言咨询

台式测厚仪相关的仪器

  • 概要:FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着突破性的分析仪,其可以有效地 "设置 "自己,使得在过程中可以分析更多的零件。自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块,如Find My Part&trade (查找我的样品),意味着操作者只需装载样品,确认零件,FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置--即使是在大型基材上--选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误,使得你可以在更短的时间内完成更多的分析,使高效率的检查在繁忙的生产环境中更加现实。产品亮点FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。 自动聚焦减少样品装载时间 Find My Part&trade 自动进行智能识别以设置完整的测量程序 屏幕大部分区域用来显示样品视图,提供了不俗的可视度 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据 由于采用了新的用户界面,非专业人员也能直观、方便地使用。 功能强大,可同时测量四层镀层也可分析基质 经久耐用,在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准 帮助您满足ENIG(IPC-4552B)、ENEPIG(IPC-4556)、浸没锡(IPC-4554)和浸没银(IPC-4553A)的规格要求
    留言咨询
  • 台式数显测厚仪 400-860-5168转2059
    仪器简介:数显台式测厚仪是一款高精度的数显测厚工具,适用于橡胶和类似于橡胶的弹性体材料测厚。精巧耐用,操作简单。技术参数:最大测量:25mm测头直径:3.7mm or 5.5mm符合标准拉伸试样:BS 903 Pt. A38, ISO 4648压缩试样:BS 903 Pt. A6, ISO 815主要特点:恒定测头压力数显结果精度0.01mm可选不同的测头和配重可选RS232接口
    留言咨询
  • 台式薄膜测厚仪 400-860-5168转3947
    台式薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言,厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料,例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片(铝箔、铜箔、锡箔等)、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此,以节约成本、提高工业化生产效率为目的,材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果 打印大,小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果,随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm (其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min(可调) 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张) 接触面积 50mm² (薄膜),200mm² (纸张) 注:薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ~ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ~ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动,无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672(塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法)、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547(瓦楞纸板的厚度测量准则)、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置:主机、标准量块、微型打印机 选用配置:软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器台式薄膜测厚仪此为广告
    留言咨询

台式测厚仪相关的资讯

  • 新品发布!浪声新品ScopeX PILOT镀层测厚仪重磅上市
    浪声重磅发布了新一代桌面式镀层测厚仪—ScopeX PILOT,ScopeX PILOT采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微焦技术,旨在为您提供最优化的镀层分析解决方案。 新品ScopeX PILOT镀层测厚仪的特点包括: l可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。l多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。l下照式设计从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。l无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。l变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。l高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台,高精度可达25μm,使微区测量更便捷。 浪声一直秉承创新精神和匠心精神,拥有十几年的镀层分析专业知识沉淀,开发了多种镀层应用,其中包括一系列产品:微焦斑、台式和手持式XRF仪器,还提供多样的光斑尺寸、探测器、样品台配置,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。浪声一直坚持以客户为导向,不断的创新,持续提升核心竞争力,不遗余力助力国产科学仪器自主创新。 更多关于ScopeX PILOT镀层测厚仪,请联系我们!
  • 机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试
    在塑料薄膜的生产与质量控制中,准确测量薄膜的厚度是至关重要的环节。机械接触式塑料薄膜测厚仪以其高精度、高可靠性和自动化程度,成为了行业内的首选工具。本文将深入探讨机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试,从原理、操作到应用进行全面解析。一、机械接触式测厚仪的基本原理机械接触式塑料薄膜测厚仪主要由测量传感器和测量电路组成,其工作原理基于机械接触式测量技术。测量过程中,传感器与薄膜表面直接接触,通过感受薄膜厚度的变化并转化为电信号输出,再由测量电路进行处理和分析,最终得出精确的薄膜厚度值。这种测量方式具有高精度和稳定性,能够有效避免因非接触式测量可能带来的误差。二、多点测试的必要性在塑料薄膜的生产过程中,由于原料、工艺、环境等多种因素的影响,薄膜的厚度可能会存在不均匀性。为了确保薄膜的质量,需要对不同位置进行多点测试,以获取全面的厚度数据。多点测试不仅有助于提高测量的准确性,还能及时发现生产过程中的问题,为工艺调整提供数据支持。三、实现多点测试的具体步骤1. 设备准备与检查首先,确保机械接触式塑料薄膜测厚仪电量充足或已正确连接电源,检查外观是否完好,显示屏是否清晰可见。同时,根据被测材料的类型和特性,选择合适的测量探头。对于塑料薄膜,通常选用接触面积为50mm² 的探头,以确保测量的准确性。2. 样品准备与摆放被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质,确保表面干燥且无残留物。将截取好的薄膜样品平整地铺放在测量台面上,保持试样整洁、干净、平整无褶皱。为了进行多点测试,可以通过人为挪动试样,选择不同位置进行测试。3. 设定测试参数机械接触式塑料薄膜测厚仪通常具有自动化程度高的特点,用户可以根据需要设定进样步距、测量点数和进样速度等参数。在多点测试中,可以根据样品的尺寸和测试要求,合理设定这些参数,以确保测试的全面性和准确性。4. 进行多点测试启动测厚仪后,测量头会在机械装置的驱动下,按照预设的进样步距和速度,自动或手动地移动到薄膜样品的不同位置进行测试。每次测量时,传感器都会与薄膜表面紧密接触,瞬间捕捉并记录下该点的厚度数据。同时,测厚仪内部的测量电路会实时处理这些电信号,转换成直观的厚度值显示在屏幕上。5. 数据记录与分析完成多点测试后,测厚仪通常会提供数据记录功能,用户可以将所有测试点的厚度数据保存下来,以便后续的数据分析。通过对比不同位置的厚度值,可以评估薄膜的均匀性,并识别出潜在的厚度偏差区域。此外,一些高级测厚仪还具备数据分析软件,能够自动生成厚度分布图、统计报告等,帮助用户更直观地了解薄膜的质量状况。6. 结果反馈与工艺调整基于多点测试的结果,生产人员可以及时发现薄膜生产过程中的问题,如原料配比不当、挤出机温度控制不准确等。针对这些问题,可以迅速调整生产工艺参数,如改变挤出速度、调整模具间隙等,以改善薄膜的厚度均匀性。同时,这些测试数据也为后续的产品质量控制和工艺优化提供了宝贵的参考依据。综上所述,机械接触式塑料薄膜测厚仪通过其高精度、高可靠性和自动化程度,实现了对塑料薄膜的多点测试。这一技术的应用,不仅提高了薄膜厚度测量的准确性和效率,还促进了生产工艺的改进和产品质量的提升。在未来的发展中,随着技术的不断进步和创新,机械接触式塑料薄膜测厚仪将在更多领域发挥重要作用,为塑料薄膜行业的发展贡献更多力量。
  • AIM Systems CoatPro涂层测厚仪培训会议通过网络平台成功举办
    为了提升东方德菲工程师对AIM Systems新品CoatPro全自动涂层测厚仪的整体技术水平,2020年6月19日下午,德国AIM Systems公司通过腾讯会议对东方德菲的工程师们进行了为期半天的培训会议。此次会议由德国AIM System公司CEO Stefan B?ttger先生主持,培训内容主要涉及CoatPro涂层测厚仪的工作原理、主要技术特色、主要应用领域以及设备的校正和样品的准备等等。培训过程中,Stefan B?ttger先生精心准备的培训内容,细心专业的培训讲解,使得东方德菲的工程师们对CoatPro涂层测厚仪有了更进一步的了解。工程师们带着对产品的极大兴趣与热情,与培训人员热烈讨论产品的性能、优势、应用范围,希望在有限的时间内了解到更多关于CoatPro涂层测厚仪的产品信息,以便可以更好地推进未来的工作。通过这次培训,相信所有的参会人员一定收获满满,在以后的销售和技术工作中,可以更好地为客户提供更专业的销售和技术服务。

台式测厚仪相关的方案

台式测厚仪相关的资料

台式测厚仪相关的试剂

台式测厚仪相关的论坛

  • 想买一台测厚仪

    我们实验室想购买一台进口的测厚仪,主要测薄膜的厚度,精度0.1微米,测厚仪种类太多了,请各位帮忙推荐一下,谢谢!

  • 想买一台测厚仪器,怎么选择呢

    想买一台测厚仪器,主要用于一些塑料薄膜类的测量,要求0-30UM的准确度能够达到0.2UM,如果可以测0-200UM的准确度达1UM,不知道如何选择

  • 求购 测厚仪

    我需要一台超声波测厚仪。大家觉得什么品牌,什么型号的好啊?

台式测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制