探针粮食仪

仪器信息网探针粮食仪专题为您提供2024年最新探针粮食仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括探针粮食仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的探针粮食仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合探针粮食仪相关的耗材配件、试剂标物,还有探针粮食仪相关的最新资讯、资料,以及探针粮食仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

探针粮食仪相关的厂商

  • 公司简介:    深圳市森东宝科技有限公司(Cindbest)是香港森东宝国际有限公司在大陆的全资子公司,自主研发CINDBEST品牌探针台、激光修复仪、集代理半导体测试仪表的综合型厂家。    激光修复仪类型 32寸半自动、32寸手动、70寸半自动、70寸手动激光修复仪    CINDBEST探针台类型   普通晶圆测试探针台、太阳能电池测试探针台、积分球探针台、高压探针台、磁场探针台、高低温探针台、气敏分析探针台、低温真空探针台    探针台配件   长工作距离体式显微镜、金相显微镜、三丰、motic显微镜、微光显微镜、样品加热变温台、防震桌、屏蔽箱、三轴调节探针座、RF四维探针座、高频探针夹具、管状同轴夹具、管状三轴夹具、弹簧同轴夹具、弹簧三轴夹具、钨探针(硬探针、软探针)、GGB高频探针等各类探针台配件 欢迎各位前来咨询,我们将竭诚为您服务!公司官方网址:www.cindbest.com
    留言咨询
  • 深圳市矽电半导体设备有限公司(简称“深圳矽电”),成立于2003年,是一家由海外博士和国内专业团队联合创办的高科技公司。公司于2006年被授予自主创新型留学生企业、2008年被授予国家高新技术企业,是深圳市LED产业联合会、半导体行业协会会员单位。 历经九年的沉积,深圳矽电已经成长为国内规模最大的探针台(点测机)生产企业,是中国大陆最早研制,批量生产全自动探针台、LED点测机,专业从事研发、生产各种半导体设备的中国国家高新技术企业。主要产品有:8吋全自动探针台,4~8吋多款探针台、双面探针台、LED探针台、LED全自动抽测探针台、焊卡台、全自动芯粒镜检机(AOI)等芯片测试相关设备及配件,在国内同行业处于领先地位。公司拥有专业的、完整的产业结构及配套能力。可为客户提供从研发、生产、测试技术解决方案的一条龙专业服务。 深圳矽电不仅能提供标准的产品,深圳矽电而且可为客户量身定做订制机型,例如温控环境测试、高压环境测试、磁场环境测试和辐射环境测试等需求。 深圳矽电的产品覆盖企业,科研院所,高校等,得到了客户的认可和信赖。
    留言咨询
  • 400-860-5168转6081
    南京谱量光电科技有限公司是一家专业从事集光电仪器、精密机械、计算机软硬件于一体的技术创新型企业。主营激光器、探针台、积分球、光电测试系统、光学机械、物理成像设备、光学设计镀膜及多种光电类测试服务。产品主要服务于物理光学、电子、材料、化学、生命科学等相关科学领域。谱量光电总部坐落于江苏南京,在济南设有生产中心,公司拥有成熟的研发及运营团队,我们坚持从研发设计、制造选型、装配调试等环节做好产品全方位质量保证。公司自成立运营以来,已成为国内科研用户的优选品牌,产品得到了众多高校、科研院所等高水平实验室的应用。我们一直以客户需求为导向,秉持“专业、品质、服务”的经营理念,为客户提供值得信赖的产品和服务体验。我们相信谱量光电的产品和技术将得到客户越来越广泛的应用和赞誉,我们愿意与广大客户和合作伙伴携手,共同在“科教兴国、科技强国”时代创造价值,实现共赢! 为我国的光电子产业发展做出自己积极的贡献。企业文化:企业愿景:产研融合,创新发展,赋能国内产学研革新!核心价值观:诚信、专注、创新、共赢技术理念:不断超越,追求完美服务理念:专业、贴心、及时、周到
    留言咨询

探针粮食仪相关的仪器

  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原
    留言咨询
  • 产品简介 Instec的真空型台式探针台系列是可从外部移动探针进行点针的桌上型探针台,涵盖多型号、多温度范围。同时允许温控、探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个可抽真空的密封腔,亦可内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。功能特点 桌上型温控探针台,占地面积小可编程控温,涵盖-190℃~1000℃(具体由型号而定)适用 10 mm ~ 300 mm 晶圆和器件可抽真空的腔体,亦可充入保护气体使用独立的四个探针,可从设备外部移动探针进行点针可从温控器或电脑软件控制,可提供软件SDK*可做定制或改动,详询上海恒商温控参数 温度范围涵盖 -190℃~1000℃(具体由型号而定)加热块材质铝合金 或 银 或 陶瓷传感器/温控方式100Ω铂RTD / PID控制(含LVDC降噪电源)最小加热/制冷速度±0.01℃/min温度分辨率0.01℃ RTD传感器0.1℃ 热电偶传感器温度稳定性±0.05℃(25℃),±0.1℃(25℃)软件功能可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线电学参数 探针默认为铼钨材质的弯针探针 *可选其他种类探针探针座可从外部XYZ移动的探针臂粗调模式+微调模式,微调行程20mm点针从外部移动点针,每个探针座都可点到样品区上任意位置探针接口默认为BNC接头,可选三同轴接口样品台面电位默认为电接地,可选电悬空(作背电极),可选三同轴接口光学参数 适用光路反射光路窗片可拆卸与更替的窗片最小物镜工作距离25 mm *截面图中WD上盖窗片观察窗片范围φ50mm,大视角±40° *截面图中θ1负温下窗片除霜吹气除霜管路结构参数 适用样品10 mm ~ 50 mm 直径 (标准)*可定至300mm的样品台面样品腔高6 mm探针座可从外部XYZ移动的探针臂粗调模式+微调模式,微调行程20mm气氛控制气密腔,可充入保护气体 *另有真空腔型号外壳冷却可通循环水,以维持外壳温度在常温附近台体尺寸/重量1060 mm x 600 mm x 213.2 mm / 20kg选型表 TP102SV-PS温度范围 -40℃ ~ 180℃,真空腔HCP422V-PS温度范围 -190℃ ~ 600℃(负温需配液氮制冷系统),真空腔HP1000V-PS温度范围 35℃ ~ 1000℃,真空腔定制型号按客户需求定制,适用300mm晶圆样品
    留言咨询
  • 1:四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号:HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。 术  标 : 测量范围 电阻率:10-5~105 &Omega .cm(可扩展); 方块电阻:10-4~106 &Omega /□(可扩展); 电导率:10-5~105 s/cm; 电阻:10-5~105 &Omega ; 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台); 200mmX200mm(配S-2B型测试台); 400mmX500mm(配S-2C型测试台);恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档,各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;     分辨力:10&mu V; 输入阻抗:1000M&Omega ; 度:± 0.1% ; 显示:四位半红色发光管数字显示;性、量程自动显示;四探针探头基本标 间距:1± 0.01mm; 针间缘电阻:&ge 1000M&Omega ; 机械游移率:&le 0.3%; 探针:碳化钨或速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力);四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片:0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口,速并行采集数据,连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒(在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时)。连接电脑使用时带自动测量 能,自动选择适合样品测试电流量程;标准使用环境 温度:23± 2℃; 相对湿度:&le 65%; 无频干扰; 无强光直射;配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2:多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器(100ml) 型号:HAD/CZY-100产品介绍:主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势:1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端,沿切割印掰断,用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端(防止漏气),插入所要检测标注的气体通道口上(稍用力插紧)。注意方向性,箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管,按以上方法均插好之后,接通电源,即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器,使其符合标(见附表)。6、检测结束,拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下,并垂直于地面放在与目光基本不平的位置,观察管上颜色变化所刻度,既为被检测气体的浓度。 (1)双重优点:测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化,是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。(2)适应性好:检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种,从零点到几个PPM(10-6)到百分之几十,适用范围很大,为分析作提供了很大方便。(3)操作简便:为专业检验人员提供了很大的方便,操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。(4)使用安:使用时手动操作,无需要电源、热源,在有易燃易气体存在的场所能安使用。(5)分析速度快:由于操作方便,使得每次分析所需时间大为缩短,般仅需十几分钟即可得知结果,其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。(6)测量度:在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件,采用不同标准气标定,克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示:以上产品资料与图片顺序相对应。
    留言咨询

探针粮食仪相关的资讯

  • “荧光探针”点亮细胞世界
    p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 走进山东师范大学化学化工与材料科学学院实验室,在激光显微镜下,“荧光探针”使细胞呈现出色彩斑斓的效果,形态各异的图案仿佛将人带入鲜花与极光交融的海洋。然而,你能想象这不起眼的“荧光探针”通过成像监测,便能实现尽早地发现和预防重大疾病吗? /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 山东师范大学化学化工与材料科学学院唐波、董育斌、李平、王鹏、李娜等领衔的科研团队,经过近二十年的刻苦攻关,有效地解决了细胞成像这一难题,极大地推动了该领域的国际研究步伐,他们完成的“细胞稳态调控活性分子的荧光成像研究”项目于近日获得2018年度国家自然科学二等奖,成为首个以第一完成单位获得国家自然科学奖的山东省省属高校。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 早在2000年前后,当时国内的生命科学和光学成像等研究领域刚刚兴起,团队领头人唐波教授便敏锐地意识到分析化学和生命科学的紧密结合,必将推动一个新型交叉研究领域的兴起。从此,一个以化学、生物学、医学等多学科为支撑,以揭示重大疾病的发现和治疗为使命的团队应运而生。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 2013年初,以山东师范大学为项目牵头单位、唐波为首席科学家的国家重大科学研究计划(973)项目“重大疾病相关的若干重要难检活性小分子细胞内纳米传感研究”正式启动。“一定要把目光瞄准国际科研领域的最前沿,只有站位高、视野宽、反应快,才能把握住科研领域的时代脉搏,产出高质量的研究成果。”唐波不仅自己以此为标杆,还将这一理念植入了全体科研团队的“基因”之中。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 自然科学奖评审的核心指标就是原创性,而这正是“细胞稳态调控活性分子的荧光成像研究”项目的“撒手锏”。该项目在国际上率先构建成多种新型发光材料,解决了材料量子产率低与波长不可调的关键问题,为研制具有高灵敏度与光谱空间可分辨探针的筛选、设计、构建奠定了重要的理论基础。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " “在原有的检测方法中,荧光信号灵敏度差、转换效率较低,会直接影响成像质量,从而会导致医生对病人的病情错判。我们的成果创新性地运用特异性识别活性分子的机理与能量转移、电子转移等光信号转换机制,成功实现了对糖蛋白、葡萄糖、microRNA等活性分子的高选择性识别,检测速度和准确性都得到了极大提高。”长江学者董育斌教授说。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " “在疾病发生之前,我们可以通过细胞内特定指标的变化来作出预警,从而尽早地预防和治疗。而这种指标变化,需要找到特殊的化合物即‘探针’,注入活体细胞后,用高能荧光显微镜来检测‘探针’光学信号的改变来确定。”为团队作出重要贡献的徐克花教授介绍说,他们的工作就是寻找化合物、研发新材料“探针”,实现高准确度和超高灵敏检测的突破。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " “这与现阶段医学临床上采用的肿瘤检测方式不同。传统的血液检测,可能因样本离开人体而导致准确性下降,假阳性比例很高,比如前列腺癌的假阳性比例最高达60%。而使用CT检查,当发现病灶时,病情一般已进入中晚期。”青年长江学者李娜教授说,“因此,使用荧光成像方法,通过新材料‘探针’在活细胞里面检测活性物质,且是在体外保真环境进行,无创伤,无伤害。” /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 目前,团队师生所在的化学学科近十年来稳居ESI全球前1%,团队成员均有稳定的国家级课题作为依托,堪称精兵强将。“我们研究团队,不仅有化学专家,还引进了生物、医学、物理等方面的人才。大家学术背景非常多元,团队在开拓新的研究领域和方向时也非常方便。”泰山学者青年专家高雯说。 /p
  • 一文解读扫描探针显微镜拓展模式(一)
    01MFM(Magnetic Force Microscopy,磁力显微镜)磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy,MFM)是一种专门用于成像样品表面的磁性分布的扫描探针显微镜,通过探针和样品之间的磁力相互作用来获得信息。MFM应用MFM主要用于研究材料的磁性特征,广泛应用于物理学、材料科学、电子学等领域。常见的应用包括:磁记录介质:研究硬盘、磁带等磁记录设备的磁性结构和缺陷;磁性材料:分析磁性薄膜、纳米颗粒、磁性多层膜等材料的磁畴结构;生物磁性:研究生物组织中天然存在的磁性物质,如磁性细菌。应用实例在自旋存储研究中,以斯格明子的研究为例,传统的磁存储单元受限于材料性质,显著影响自旋存储的高密度需求。斯格明子是一种具有拓扑性质的准粒子,其最小尺寸仅为3nm,远小于磁性隧道结,是理想的信息载体,有望突破信息存储密度的瓶颈。下图为通过MFM表征获取的斯格明子图像。[1]标准斯格明子M-H曲线 斯格明子图像在磁盘研究中,通过MFM可以获取磁盘表面的高分辨率磁性图像,详细了解其磁畴结构和分布情况。MFM具有高空间分辨率和灵敏度,为磁盘材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过MFM测试获取的磁盘表面磁畴结构图像。电脑软盘磁畴图像02PFM(Piezoresponse Force Microscopy,压电力显微镜)压电力显微镜(Piezoresponse Force Microscopy,PFM)是一种用于研究材料压电性质的扫描探针显微镜,利用探针与样品表面之间的逆压电效应来成像和测量材料的压电响应。材料由于逆压电效应产生形变示意图 [2]PFM应用PFM广泛应用于材料科学和电子学领域,尤其是在研究和开发新型压电材料和器件方面。具体应用包括:铁电材料:研究铁电材料的畴结构、开关行为和退极化现象。压电器件:分析压电传感器、致动器和存储器件的性能。生物材料:研究生物组织中的压电效应,例如骨骼和牙齿。应用实例具有显著的压电效应,即在外加机械应力作用下产生电荷。这使其在超声波发生器、压电传感器和致动器中具有重要应用。在研究PbTiO3样品时,通过PFM,可以获取PbTiO3表面的高分辨率压电响应图像,详细了解其畴结构和分布情况,为PbTiO3材料的研究和优化提供了重要的数据支持。下图展示了通过PFM测试获取的PbTiO3样品表面压电力图像。PbTiO3垂直幅度图PbTiO3垂直相位图03EFM(Electrical Force Microscopy,静电力显微镜)静电力显微镜是一种用于测量成像样品表面的电静力特性的扫描探针显微镜。EFM通过探针与样品表面之间的静电力相互作用,获取表面电荷分布和电势信息。静电力显微镜(抬起模式)[3]EFM应用EFM广泛应用于材料科学、电子学和纳米技术等领域,常见的应用包括:电荷分布:测量和成像材料表面的电荷分布。表面电势:研究材料表面的电势分布和电特性。半导体器件:分析半导体器件中的电特性和缺陷。纳米电子学:研究纳米级电子器件的电性能。应用实例Au-Ti条带状电极片静电力04KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy,开尔文探针力显微镜)KPFM是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。KPFM 获取 Bi-Fe薄膜样品表面电势 [4]KPFM应用KPFM在材料科学、电子学和纳米技术等领域具有广泛的应用,常见的应用包括:表面电势分布:测量和成像材料表面的局部电势分布。功函数测量:研究材料的功函数变化,特别是对于不同材料的界面和缺陷。半导体器件:分析半导体器件中的电势分布和电学特性。有机电子学:研究有机半导体和有机电子器件的表面电势。应用实例Au-Ti条带状电极片表面电势05SCM(Scanning Capacitance Microscopy,扫描电容显微镜)扫描电容显微镜(Canning Capacitance Microscopy,SCM)是一种用于测量和成像样品表面的电容变化的扫描探针显微镜。SCM能够通过探针与样品表面之间的电容变化,提供高分辨率的局部电学特性图像。这种显微镜适用于研究半导体材料和器件的电学特性,如掺杂浓度分布、电荷分布和界面特性等。SCM在半导体工艺和材料研究、故障分析以及器件优化中发挥着重要作用。通过SCM,研究人员能够获得纳米尺度的电学特性信息,从而推动半导体技术的发展和创新。SCM原理示意图 [5]SCM应用SCM主要应用于半导体材料和器件的研究,广泛应用于电子学和材料科学领域。具体应用包括:掺杂分布:测量和成像半导体材料中的掺杂浓度分布。电荷分布:研究半导体器件中的电荷分布和电场。材料特性:分析不同材料的电容特性和介电常数。06致真精密仪器自主研发的原子力显微镜科研级原子力显微镜AtomEdge产品介绍利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03 nm(开环),可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、磁性、电极化等性质,还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的使用。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 多功能配置● 稳定性强● 可拓展性良好典型案例晶圆级原子力显微镜Wafer Mapper-M产品介绍利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征。样品台兼容12寸晶圆,电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300mm区域实现1μm的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。可用于产线,对晶圆粗糙度进行精密测试。设备亮点● 多种工作模式● 适配环境:空气、液相● 可旋转式扫描头● 多功能配置● 稳定性强、可拓展性良好典型案例参考文献:[1]Li S, Du A, Wang Y, et al. Experimental demonstration of skyrmionic magnetic tunnel junction at room temperature[J]. Science Bulletin, 2022, 67(7): 691-699.[2]Kalinin SV, Gruverman A, eds. Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. Springer 2007.[3] https://www.afmworkshop.com/products/modes/electric-force-microscopy[4] https://www.ornl.gov/content/electrostatic-and-kelvin-probe-force-microscopy[5] Abdollahi A, Domingo N, Arias I, et al. Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials[J]. Nature communications, 2019, 10(1): 1266.本文由致真精密仪器原创,转载请标明出处致真精密仪器拥有强大的自主研发和创新能力,产品稳定精良,多次助力中国科研工作者取得高水平科研成果。我们希望与更多优秀科研工作者合作,持续提供更加专业的技术服务和完善的行业解决方案!欢迎联系我们!致真精密仪器一直以来致力于实现高端科技仪器和集成电路测试设备的自主可控和国产替代。通过工程化和产业化攻关,已经研发了一系列磁学与自旋电子学领域的前沿科研设备,包括“原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,如有需要,我们的产品专家可以提供免费的项目申报辅助、产品调研与报价、采购论证工作。另外,我们可以为各位老师提供免费测试服务,有“磁畴测试”、“SOT磁畴翻转”、“斯格明子观测”、“转角/变场二次谐波”、“ST-FMR测量”、“磁控溅射镀膜”等相关需求的老师,可以随时与我们联系。
  • “100家实验室”专题:访北京离子探针中心
    为广泛征求用户的意见和需求,了解中国科学仪器的市场情况和应用情况,仪器信息网自2008年6月1日开始,对不同行业有代表性的“100家实验室”进行走访参观。近日,仪器信息网工作人员参观访问了本次活动的第五十四站:北京离子探针中心,该中心学术秘书王晨女士热情地接待了仪器信息网到访人员。   北京离子探针中心(以下简称“中心”)成立于2001年12月18日,是由科技部、国土资源部和中科院共同出资1800万元,以共建共享方式建立的国家大型科学仪器中心,现依托于中国地质科学院地质研究所。该中心成立九年以来,坚定不移地走大型仪器共建共享的道路,仪器运行效率和科研成果产出率都进入了国际先进行列。   中心副主任张玉海高级工程师(左三)、杨之青工程师(右二)、王晨女士(左二)与仪器信息网工作人员合影   王晨女士首先为我们介绍了中心的主要仪器及其在实验室相关测试、研究业务中发挥的重要作用。“中心的核心仪器是高分辨二次离子探针质谱((Sensitive High Resolution Ion Microprobe II ,SHRIMPⅡ)。相应的配套仪器包括扫描电镜及阴极发光探头、水冷系统、超净台、显微照相、空气压缩机以及用于制样的镀金仪、抛光机等。”   北京离子探针中心的主要仪器情况   拥有国内唯一两台高分辨二次离子探针质谱,测试业务专门面向地质学相关领域开放   “中心于2001年5月引进的SHRIMPⅡ是世界上第九台、国内第一台SHRIMPⅡ,它是专门针对同位素地质年代学、宇宙年代学、地球化学和宇宙地球化学等地质学相关研究中的重同位素分析而设计,特别是锆石微区定年。该仪器是磁质谱,配备单接收器,当时购买价格为1800万元。”   “多年来,SHRIMPⅡ运行情况一直良好,坚持每天24小时,每周7天不间断运行,年分析机时(指仪器进行样品或标准样品分析的时间)保持在7200小时左右,达到科技部有关大型仪器运行效率规定的优秀标准(1600小时/年)四倍之多,成为世界上运行效率最高的一台SHRIMP。”   “鉴于SHRIMPⅡ的超高使用效率以及仪器维护保养方面的考虑,财政部2005年出资3000万元为北京离子探针中心添置了第二台二次离子探针质谱——SHRIMPⅡe-MC,该仪器相比于SHRIMPⅡ,离子源添加了铯源,在分析重同位素的同时又能分析轻同位素,且配备了多个接收器。鉴于北京离子探针中心的新基地还未建好,所以该仪器暂且还停放在澳大利亚,预计2011年会移至新基地。”   高分辨二次离子探针质谱(SHRIMPⅡ)   样品前处理:精“挑”细“选”、细致“打磨”   “矿物样品在进入SHRIMPⅡ分析之前,要经过一系列的前处理,大约需要一周的时间。首先是选矿,将采来的岩石标本粉碎成粉末,经过筛选、磁选、手工挑选等步骤后,挑选出其中的锆石颗粒,一般一个样品会挑选出几十颗至上千颗锆石颗粒。”   “其次是样品制靶,将选出的锆石颗粒,固定在双面胶上,将标样与样品排列在指定位置,随后用模具注入环氧树脂,抽真空,烘干,使树脂固化后对其进行打磨、抛光,使靶表面光滑。”   样品靶   (图注:靶上面的“线”即是锆石颗粒阵列。)   “第三是用显微镜给靶照相,该步骤的目的有二:一是给锆石样品定位,二是通过显微镜的透、反射光对样品的照射,分析锆石颗粒的内部结构以及检查其表面是否有裂隙、瑕疵,为SHRIMPⅡ分析时选点提供依据。”   “最后是阴极发光照相,将显微镜照相后的靶进行超声波清洗,在靶的检测光面上镀上金膜,随后放在扫描电子显微镜下做阴极发光照相,以确定锆石颗粒内部同位素的分布情况。经过这些步骤后,靶才可以放入SHRIMPⅡ内进行分析了。”   日立S-3000N扫描电子显微镜   (图注:该仪器配备GATAN公司Chroma阴极发光探头,可提供彩色及黑白阴极发光照片。)   S-3000N拍摄的锆石照片   奉行“开放、共享、高效”的运行原则,仪器使用率与开放程度堪称典范   “中心自成立之日起就奉行‘开放、共享、高效’的运行原则,面向国内外地学界全方位开放共享。2005年12月,中心项目组研发出了离子探针远程共享控制系统(SROS,SHRIMP Remote Operation System),该系统实现了在Internet公共网络环境下,实时远程控制SHRIMPⅡ,观测样品图像实时变化,在线获取试验数据、远程协同信息交流等远程实验功能,达到了亲临北京离子探针中心进行实验的效果,更好地实现了SHRIMPⅡ的开放、共享。”   “开放、共享的运行机制给中心带来了巨大的工作量和众多的访问者。中心成立九年以来,共有来自国土资源部、中科院、大专院校以及港台地区的30多个相关单位的数百名科研工作者使用中心的SHRIMPⅡ对自己的样品进行了分析研究。另外,一批来自美国、英国、法国、意大利、德国、澳大利亚、韩国、巴西、古巴、蒙古国、波兰和土耳其等国的学者也来中心完成锆石定年工作和短期访问,其中不乏国际一流的地质学家。正是因为如此,北京离子探针中心的仪器利用率和开放程度均居国际同类实验室的前列。”   打造“测试、技术、研究”三位一体的实验室,从事质谱仪器研发   在谈到中心的总体发展情况时,王晨女士转述了中心主任刘敦一研究员的看法:“北京离子探针中心如果仅作为一个测试平台,其功能是有限的,要发挥它的巨大作用,我们就应当坚持测试、技术、研究这三方面并行发展的策略。通过测试业务,我们了解到科学家们对SHRIMPⅡ的性能有哪些方面要求,进而中心的技术人员对仪器进行改进,然后仪器使用者再使用,并给予反馈。如此反复,我们仪器相关技术水平越来越高,而这方面水平的提高也促进了中心的研究工作。所以测试、技术、研究这三方面是相互促进的,三者的融合让我们有可能实现各种革新与突破。”   “中心现在主要从事的研究有:从事地质年代学和宇宙年代学研究 进行必要的矿物微区稀土地球化学研究 解决重大地球科学研究课题中的时序问题,特别是太阳系和地球的形成及早期历史研究 主要造山带的构造演化研究 地质年代表研究 大型和特殊矿床成矿时代研究 发展定年新技术新方法等。”   “除此之外,中心还从事科学仪器研发。中心主任刘敦一研究员认为:科学仪器自主研发能力的重要性再明显不过。一个国家如果没有独立自主的科学仪器研发能力,其科学技术的发展不可能领先,其工业、农业创新体系不可能形成,独立自主的国防体系不可能建立,因而科学仪器自主研发能力是关系到国家安全和民族发展的大事。目前北京离子探针中心承担了《二次离子质谱仪器核心技术及关键部件的研究与开发》项目,正从事二次离子质谱(SIMS)及飞行时间(TOF)串联质谱的若干关键技术和关键部件的研究。”   王晨女士(中)向仪器信息网工作人员介绍SHRIMPⅡ   附录:北京离子探针中心   http://www.bjshrimp.cn/

探针粮食仪相关的方案

  • 贵金属合金的电子探针测试方法
    贵金属除了在国际金融活动、首饰和奢侈品中广为人知,在科研领域及工业应用也具有非常重要的价值,是一种重要的基础材料。贵金属合金的电子探针微区表征和测试中,由于其特征X射线之间可能存在的相互重叠和干扰,常常给测试带来一定的困难。本文选择了两类金系合金和一种铂系合金试样进行了电子探针测试,对测试方法进行了总结和说明,排除干扰因素后可获得较为理想的测试结果,为贵金属行业中相关的测试提供经验参考。岛津电子探针通过配置52.5°高取出角,以及统一4英寸罗兰圆的全聚焦分光晶体兼顾了高灵敏度和高分辨率,保证了获得理想的分析结果。
  • 贝士德仪器:基于探针气体吸附等温线的矿物岩石表征技术Ⅳ
    基于探针气体吸附等温线的矿物岩石表征技术Ⅳ 比表面积的测定和应用摘要:矿物的比表面积是决定矿物表面反应能力和吸附容量的重要参数,但因其测定方法多样、分析结果受多种因素影响,致使分析结果有时会偏离实际值。为全面认识和更好地利用比表面积数据,本文在对比表征矿物材料比表面积的几种常用技术的基础上,重点介绍了基于探针气体吸附等温线的比表面积测定方法。以方解石粉体、石英粉体、蒙脱石等常见矿物材料和铁锰结壳为例,根据各类材料的比表面积测定数据,研究了探针气体种类、脱气温度和吸附平衡时间等测试条件的影响。并从表面能量非均质性和孔隙结构的角度,提出了在应用测定结果时需要注意的问题。关键词:比表面积;矿物材料;表征;探针气体吸附等温线中图分类号:TB303 文献标识码:A 文章编号:1007—2802(2008)01—0028—07
  • 国产固相微萃取探针在海洋污 染研究中的应用前景
    固相微萃取技术是进行海洋污染研究较为有效并常用的技术。本文分析了国产固相微萃取探针的使用稳定性、批次重现性,并对比了与国外固相微萃取探针的萃取效率。进一步应用国产固相微萃取探针分析了海水中苯系物质的含量。表明国产固相微萃取探针在产品品质及实际应用方面均具有良好的表现,在海水污染研究中具有广阔的应用前景。

探针粮食仪相关的资料

探针粮食仪相关的试剂

探针粮食仪相关的论坛

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 世界一流实验室-离子探针

    由科技部、国土资源部和中科院合资共建的国家大型科学仪器中心——北京离子探针中心,自2001年成立以来,经过几年的努力,已跻身世界著名地质年代学实验室行列。 为肯定该中心主任刘敦一的科学贡献,《美国科学杂志》(AmericanJournalofSciences)不久前出版专辑,祝贺刘敦一七十华诞。9月11日,国土资源部召开北京离子探针中心发展战略研讨会。国土资源部副部长汪民在会上讲话,科技部副部长刘燕华发来贺电,对该中心取得的成就给予高度肯定。北京离子探针中心成立7年来,奉行“开放、共享、高效”的方针,承担科技部、国土资源部、国家自然科学基金等20多个项目。 其进口的高分辨率二次离子探针质谱仪(SHRIMPⅡ)每天4小时、每周7天不间断运行,成为世界上运行效率最高的质谱仪,国内外科学家利用该仪器,获得了丰富的年代学数据和高水平的研究成果。特别是在国际上首创了通过互联网远程控制来进行高分辨率锆石铀—铅年龄测定工作的方法,得到国际地学专家的广泛赞誉。

探针粮食仪相关的耗材

  • 粮食谷物真菌毒素定量检测仪
    粮食谷物真菌毒素定量检测仪深圳市芬析仪器制造有限公司生产的CSY-YG701真菌毒素快速检测仪可快速准确测定出玉米、大米大麦、小麦、花生、粮油等食品乳制品、谷物麸皮、小麦次粉、米糠、菜籽粕、棉粕、花生粕、豆粕及饲料和饲料原料中的真菌毒素含量(呕吐毒素、黄***素、玉米赤霉烯酮等),广泛应用于粮油监测中心、粮油饲料生产加工、食品加工贸易、面粉厂、粮食局、畜禽养殖户自查、工商质监部门用于市场快速筛查等 粮食谷物真菌毒素定量检测仪一体化拉杆箱包装由台式电子天平、可调移液器、移液枪头、计时器、离心机、粉粹机、涡旋振荡器、取样勺、采样瓶、离心管、镊子、留样密封袋、标签纸、合格证/保修卡、说明书、定量检测卡等组成,所需设备、试剂、耗材一站式提供,开箱即检。 产品优势:1.仪器使用寿命长:采用高性能LED光源,金属丝杆设计,非连续工作模式,使用寿命可达10年;2.液晶触摸屏7英寸中文显示,人性化操作界面,读数准确、直观; 3.本仪器具备数据储存功能,接口方式采用USB、RS232等设计,方便数据的存储和相关处理;4.自动保存检测结果,数据存储量大,内置微型打印机,可实时打印检测结果;5.支持网络通信(wifi、网络端口),可以进行数据传输功能(选配定制功能);6.内置六通道试剂温度生化培养装置,解决不同区域温度对数据的影响;7.封闭式检测仓门设计,避免灰尘进入仪器内部,延长仪器使用寿命;8.配置齐全:所需设备、试剂、耗材一站式提供,开箱即检;9.内置标准曲线,通过ID卡导入标准曲线,无需检测时再做标准曲线,既节省了成本,也避免了操作人员与霉菌毒素的接触,保护操作人员的安全;10.整机支持按客户要求定制(ODM加工及OEM项目合作) 技术参数:1、屏幕:7寸触摸屏2、操作系统:嵌入式操作系统3、重复性:CV<3%4、稳定性:CV<3%5、台间差:CV<3%6、检测通道:单通道定量检测结果 7、前处理:≤15分钟(根据项目而定)8、检测时间:<10s可对样本进行定性、半定量检测9、检测结果报告:可准确报告出检测项目、被测物质的浓度、检测单位、被检查单位、检验员、检测时间、检测限等信息可在触摸屏上显示,可通过仪器内置打印机输出10、连接方式:USB接口,串口,网口11、数据传输:USB 以及网口(升级wifi)12、检测器:光电源 , 波长:365nm/610nm13、一体化拉杆箱包装(详见配置清单)
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • afm探针/原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/ DNISP-HS
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制