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探针射线仪

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探针射线仪相关的论坛

  • 【求助】求电子探针定量分析的一些标准!!

    1、标准编号:GB/T 15074-2008 标准名称:电子探针定量分析方法通则简介: 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号:GB/T 15244-2002 标准名称:玻璃的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。3、标准编号:GB/T 15245-2002标准名称:稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号:GB/T 15246-2002标准名称:硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号:GB/T 15616-2008标准名称:金属及合金的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析,分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号:GB/T 15617-2002 标准名称:硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号:GB/T 17360-2008 标准名称:钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号:GB/T 17362-2008标准名称:黄金制品的电子探针定量测定方法简介: 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种K金制品含金量的测定,也适用于表面含金层厚度大于3μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号:GB/T 17365-1998标准名称:金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号:JJF 1029-1991标准名称:电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号:SY/T 6027-1994 标准名称:含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号:GB/T 16594-2008标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法,适用于测量0.5~10μm的长度,也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号:GB/T 17359-1998标准名称:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介: 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的X射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜X射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号:GB/T 17722-1999标准名称:金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号:JB/T 7503-1994标准名称:金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介: 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

  • 关于电镜的发射电流,探针电流以及光阑大小之间的关系

    各位大侠,我用的是日立3400的,有几个问题探讨下啊,众知,3400热发射,电子枪的发射电流(运动的电子)经过静电场,磁场聚焦减小束斑尺寸,并通过改变光阑大小过滤远轴电子以降低球差,但这个过程带来的结果可能是电子束流降低,但问题来了:我在使用过程中发现,当加速电压和偏压不变时,即发射电流不变,此时改变光阑大小,束流却没有变化,按道理束流应该会改变,不知者内部机制是什么?希望高手们来讨论和解答啊,拜谢。。另外,现在电镜比较关注低压模式的分析效果,但我在使用过程中发现,使用低压模式时(3KV以下),发射电流探针电流,按照原理发射电流经电磁透镜层层聚焦以及光阑的过滤,发射电流应该始终大于探针电流,为什么出现这一相反现象呢,望高人解答啊、。

  • 场发射电子探针可以多点对焦吗?

    场发射电子探针是否能像扫描电镜一样对焦多个点,这样就可以拍拉伸断口了。感觉高处和地处不能跟扫描电镜一样同时对焦。请问探针能做到吗?

  • 深圳先进院碳纳米X射线成像技术取得进展

    中国科学院深圳先进技术研究院承担的国家科技支撑计划“基于碳纳米X射线发射源的CT系统研发”课题团队利用自主研发的碳纳米管薄膜成功地获取首张X射线二维成像图。1月17日,科技部组织的专家组在先进院听取了团队工作汇报并现场考察了该成像装置,对该技术表示了充分肯定,这是我国在碳纳米管X射线源成像研究方面取得的突破性进展和成果。 碳纳米管X射线源是最近几年发展起来的被认为是具有革命性的新型X射线源。具有一百年历史的传统X射线源基于热电子发射阴极,而碳纳米管X射线源创新性的用碳纳米管场发射阴极取代热阴极,从而使该X射线源具有可控发射、高时间分辨、低功耗且易于集成等诸多优势。这些优势将给X射线CT带来结构上的突破。其中,最具潜力的方向之一即基于碳纳米管X射线源阵列的静态扫描CT。该CT以电子式的扫描取代传统的机械转动来获取不同角度的图像,可消除机械转动带来的成像伪影,缩短扫描时间,从而减少病人的辐射剂量,有望提高CT扫描的图像精度。 先进院医工所劳特伯医学成像中心研究团队,经近2年的技术攻关,制备出性能优异的碳纳米管薄膜并研制了基于新光源的X射线成像系统。自主研发的碳纳米管薄膜发射电流密度已达到国际先进水平,研制的X射线源成像系统获得了首张X射线二维成像图。团队目前正在进一步提高阴极稳定性、优化射线源结构,以期开展CT的三维成像。 据悉,作为该课题承担单位的深圳先进院在注重自主研发的同时,也重视与国际前沿单位的密切合作。项目团队所在研究影像中心及国家地方联合高端影像工程实验室在CT系统研制方面具有重要的经验和基础,曾成功研发了高分辨显微CT和低剂量口腔CT,显微CT已经成功应用到中国科学院动物研究所,口腔CT已经进入产业化阶段。正在研发的碳纳米管X射线CT作为一项前瞻性的科学研究,为开发新一代的CT系统储备技术,形成自主知识产权。http://www.cas.cn/ky/kyjz/201301/W020130122537020414424.png左:成像装置图              右:成像图

  • 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线荧光分析(电子档书籍)

    上传一份Down的,资料,与各位亲友们共享:资料的目录如下:有需要的友们,可去下载阅读。第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度第八章 定量分析的数学方法第九章 X射线光谱分析的应用和试样制备第十章 电子探针微区分析第十一章 附录

  • 【分享】了解荧光探针

    在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子,包括有机试剂或金属螯合物。   最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体,亦可用于微环境,如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大,荧光量子产率高;荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移;用于免疫分析时,与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。  也可用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针:钙黄绿素(Calcein),Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针:Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

  • [好书]X射线衍射与电子显微分析

    本书是介绍X射线衍射与电子显微分析这两种重要的材料物理测试方法的基础教材,全书依上述内容分为两篇。第一篇包括X射线衍射的基本理论、方法及应用;第二篇包括透射电子显微镜、扫描电镜和电子探针的工作原理、构造和分析方法。全书共12章,附录中列出了常用的数据表,供计算分析时查阅。本书对基本原理的阐述力求深入浅出,方法介绍亦较为详尽,对从事该工作的科技人员很有参考价值!为此上传[color=blue]PDF格式的电子档供大家下载学习,也可丰富本版块的资源![/color]全书已经上传完毕,有需要的科技人员可到资料中心下载![url=http://www.instrument.com.cn/show/search.asp?sel=admin_name&keywords=lfsming]进入资料下载页面[/url]你的支持就是我的动力!

  • 【原创大赛】【第十一届原创大赛】电子探针X射线显微分析仪(JCXA-733)故障维修几例

    【原创大赛】【第十一届原创大赛】电子探针X射线显微分析仪(JCXA-733)故障维修几例

    [align=center][b][color=#cc0000]电子探针X射线显微分析仪(JCXA-733)故障维修几例[/color][/b][/align][align=center][color=#cc0000][b] [/b][/color][/align][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【前言】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 电子探针X射线显微分析仪(Electron ProbeMicroanalysis,缩写EPMA)(简称电子探针)是一种显微分析和成分分析组合微区分析的电子仪器,它主要用于分析样品微小区域的结构组织和元素分布状态,非常适用于样品微小区域的化学分析和材料研究。电子探针镜筒结构与扫描电镜基本相同,它的检测器(分析晶体或分光晶体)部分使用的是X射线谱仪,用来检测X射线的特征波长(波谱仪,WavelengthDispersive Spectrometer,缩写WDS )或能量(能溥仪,Energy DispersiveSpectrometer,缩写EDS),由此对材料样品的成分进行微区分析。电子探针结构原理框图参见图1.[/color][/b][align=center][b][color=#cc0000][img=,554,410]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312104490648_2578_1841897_3.jpg!w554x410.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][color=#cc0000][b]图1 电子探针结构原理框图[/b][/color][/align][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 我国在80年代初购置了一定数量的日本电子公司生产的JCXA-733电子探针,该仪器二次电子图像分辨率高达7nm,放大倍数十万倍,元素分析范围B5~U92,大部分元素的分析灵敏度可达10[sup]-5[/sup],并配有计算机自动控制系统和相应的自动分析软件。因为我们属于科研单位,所以有幸购置安装了一台JCXA-733电子探针,由于此电子探针属于日本电子公司生产的大型电子仪器,结构庞大,电路复杂,在我国有些地方水土不服,尤其是南方潮湿的环境下工作容易发生故障。该仪器在我单位使用过程中前前后后也产生了不少问题,本人在多年的维护保养工作中,遇到过多种不同类型的故障。以下是我单位JCXA-733电子探针出现一些典型故障及维修处理实际例子的经验小结,供大家分享。由于案例大多是根据好多年前的维修笔记整理而成的,那时基本都没有拍照留影,实物图片无法提供,敬请各位谅解![/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b]一、【故障现象】:[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 波谱仪(简称谱仪)X-RAY ,第二道CH2线扫描指示仪表(RM,计数率计指示仪表)无峰值指示。[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 【检查与处理】:[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][b][color=#cc0000] 该谱仪有5个通道CH1-CH5,首先确认CH1,CH3-CH5的指示均正常,说明电源系统是正常的。将CH2与CH1分析晶体探测器接口互换,结果CH2有峰值指示,判断CH2分析晶体与探测器正常,故障在后级电路。根据检测原理分析,整个检测通道由前置放大器(121J),主放(490J),计数率计(441J)及指示仪表(RM)等多个单元组成,故障就应该在这几个单元中。由于谱仪各通道单元是独立的,而且是可以互换的,所以故障相对来说可采用互换法检查比较方便。谱仪工作原理参见图2.。[/color][/b][align=center][b][color=#cc0000][img=,509,377]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312105398621_5548_1841897_3.jpg!w509x377.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][b][color=#cc0000]图2 谱仪工作原理图[/color][/b][/align][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 前面已判断分析晶体和探测器正常无需检查了,所以首先从CH2的前级开始,先将CH2前放(121J)与CH1前放互换,故障不变,再将主放(490J)与CH2的主放互换,结果CH2(RM)峰值指示恢复正常,说明CH2主放(490J)有故障。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 检查主放(490J)电路,打开内部测量电源电压,结果发现无-24V,沿电路查找发现-24V电源滤波电阻(100Ω,0.5W)烧焦,焊下测量已断开,因为是电源电路故障,所以暂不轻易更换电阻,继续查找结果发现-24V滤波电解电容220μF,35V有漏液现象,焊下测量结果已严重漏电几乎被击穿,再检查其它元件及电路未发现异常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 更换新电解电容(220μF,35V)和电阻(100Ω,1W),检测电源电压-24V恢复正常,复原主放(490J),CH2有峰值指示了,谱仪恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:由于主放(490J)是个密封金属盒,内部散热不是很好,电解电容在发热环境下受高温影响,导致电解液膨胀使电解电容破裂溢出,造成严重漏电被击穿。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]二、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 波谱仪X-RAY ,CH1—CH5面扫描(PHA)图像正常,线扫描图像无峰出现。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 根据原理分析通道CH1—CH5面扫描(PHA)图像正常,判断分析晶体及探测器正常,也说明扫描电路前放(121J),主放(490J),计数率计(441J)均正常,线扫描图像由计数率计441J输出至图像通道选择器(通道选择开关),检查图像选择器CHA—CHE记录输出端子,发现已经松动不稳,重新固定输出端子,线扫描图像显示已有峰值信号,仪器恢复正常工作。为更可靠的工作,同时将通道选择开关用电子清洗剂一起清洗,以保证选择开关触点接触良好。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:仪器长期使用受环境影响有些接线端已发生松动,接触不良,造成电子信号异常,仪器无法正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]三、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 开机抽真空,机械泵(RP)不能正常工作,RP故障指示灯点亮。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 机械泵在开机时,机械泵(RP)旋转几秒钟后,随后进入故障失控状态,自动停止旋转。打开机械泵箱,检查机械泵工作传感器位置正常,用手压传动皮带发现很松,已经有打滑现象,由于该机械泵传动皮带无原装配件,国产皮带又无合适尺寸的可替代。经过分析决定采用升高机械泵的方法来解决此问题。寻找到不同厚度的垫圈,准备根据具体情况来选择合适厚度的垫圈,将机械泵底座四个固定螺钉取下,分别垫上一个垫圈,使机械泵整体抬高,确定最合适厚度的垫圈,适度将传动皮带拉紧一些,重新固定螺钉,此时皮带松紧正合适,开机机械泵旋转正常,故障排除,仪器恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 【小结】:该仪器的真空泵为间歇式启动停止工作方式,仪器连续工作时间很长,机械泵的工作频率也很高,长期运行导致传动皮带磨损发软松弛,最后出现打滑现象。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]四、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 试样台卡死无法打开,样品室真空指示灯未亮,按手动放气钮无效,样品室内部呈真空状态,无法进行取样。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 按动试样台放气按钮,试样台真空指示灯灯不亮,无放气反应。关闭主机重新开机,再次试按放气钮仍然无效。由于主控台操作无效,于是决定采用应急放气方式,根据真空系统各密封室控制阀门工作流程分析,样品室由阀LV2控制,找到按钮开关LV2即可进行手动排气,在仪器尾部试将LV2按钮开关打到ON,排气成功。样品室可正常打开,将样品室内样品更换后,从新将LV2按钮开关打回OFF,再抽真空,真空度到位后试样台真空指示灯点亮,故障排除。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:经仔细检查其原因是在装样品时样品架未推到位,此时就开始抽真空,结果导致真空指示灯未亮,同时放气按钮无效。[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b]五、【故障现象】:[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 电子探针无灯丝电流,调节灯丝电流控制旋钮,电流表指针移动很小无峰值出现。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 泄掉镜筒真空,打开镜筒上端盖,检查灯丝及灯丝安装座,灯丝良好未烧断,仔细观察发现灯丝簧片有烧黑现象,感觉是接触不良,有点像打火造成的,用酒精清洗效果不佳,用研磨膏打磨后再用酒精清洗,簧片恢复如初。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 灯丝完好确无灯丝电流,说明电路存在故障。检查灯丝电流推动电路,用万用表分别测量灯丝推动电路板上各元器件。结果发现有一只三极管烧坏,其它无异常发现,在备件库里找到同型号三极管更换后。重新安装灯丝,打开仪器抽真空,真空度到位后,调节灯丝电流控制旋钮,电流指示出现峰值,故障排除电路恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:此故障是由于安装灯丝时灯丝黄片位置未完全对位,固定螺丝上紧未压实黄片,导致灯丝黄片接触不良,灯丝电路启动中电流较大出现打火造成三极管损坏。因此安装灯丝时一定要注意,连接灯丝的簧片应对准位置并拧紧螺丝。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]六、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 谱仪测量系统低压CH1—CH5均无电源指示,即低压指示灯未点亮。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 由于谱仪CH1—CH5电源(+12V、-12V、+24V、-24V)是公用的,CH1—CH5均无电源指示,说明谱仪低压总电源存在故障,检查总电源220VAC输入发现保险丝(4A)已烧断,该电源由电源变压器降压后分多路输出,整流稳压后输出各路低压直流电源,供给谱仪CH1—CH5各单元使用。分别检测各低压整流桥及相关电路元器件,结果发现有一只整流桥击穿,顺电路查找为+24V整流桥(3A,50V)击穿,再检查+24V滤波电解电容(2200μF,35V)严重漏电击穿,在备件库里找到保险丝(4A)、整流桥(3A,50V)和电解电容(2200μF,35V)更换后电源恢复正常,谱仪测量系统CH1—CH5低压电源(+12V、-12V、+24V、-24V)指示灯均被点亮。仪器恢复正常工作[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:分析原因谱仪CH1—CH5电源在机柜里散热不是很理想,电源箱是密封的,在打开电源箱时发现散热风扇网栅有脏堵现象,造成机内温度较高,使电解电容受热导致损坏,最后击穿损坏整流桥和保险丝。为此特地重新清洗了散热风扇网栅,这样恢复并加强了机柜电源箱内部的散热力度。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]七、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 样品室调节试样台上下限时,无上限报警,下限报警正常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 查样品室工作正常,泄真空后取样、装样也正常,但试样台上下限到位后无上限报警,调整试样台上下限手柄,试样台运动平稳顺畅,无阻尼卡滞现象,观察看上限报警微动开关限位顶杆位置,未发现异常,感觉很奇怪,再次观察下限报警微动开关限位顶杆位置,与上限报警微动开关限位顶杆位置仔细对比,结果发现微动开关限位顶杆有微弱偏斜现象,原来问题出在这里。由于开关限位顶杆有微弱偏斜使微动开关杠杆压片未对准限位端位置,重新调整上限限位报警微动开关位置并固定紧,并使杠杆压片对准限位端位置,关闭样品室重新抽真空,调节试样台上限位报警恢复正常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】:经过与操作者沟通最后了解到,可能是在装取样品时,由于异性样品未注意碰到了上限位报警微动开关,微动开关产生了轻微的偏移。由于此仪器是精密仪器,各个部位位置都要求很精准,即使是微小的偏离也会造成故障。因此必须要注意在装取样品操作时一定小心,绝对拒绝鲁莽的动作出现,否则就会发生一些看似轻微,但很难察觉的意想不到的故障。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]八、【故障现象】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 在进行电子探针图像观察时,显示屏无图像,调节亮度、辅助亮度、对比度各种旋钮和各种工作模式按键开关均无图像[/color][color=#cc0000]显示[/color][color=#cc0000]。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】:[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 根据电路分析,显示屏工作由CRTHV UNIT 单元电子电路完成,CRT HVUNIT单元为显示管(注:显示管与电视机显像管不同,主要区别在高分辨率与余辉指标上)提供各种工作电压,其工作原理类似于黑白电视机显像管的电路原理,有灯丝、阴极、控制栅极(-10 V~+40V)、第二栅极(加速极,+400V)、聚焦极(≤1.5kV)及阳极(高压,10KV)等,显示管原理如图3所示。[/b][/color][align=center][b][color=#cc0000][img=,550,379]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312111102102_8641_1841897_3.jpg!w550x379.jpg[/img][/color][/b][/align][b][color=#cc0000][/color][/b][align=center][b][color=#cc0000]图3 显示管原理图[/color][/b][/align][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 打开显示屏主机柜后盖,仔细观察显示管灯丝是亮的,说明灯丝电路正常,再仔细观察高压盒,发现高压盒加速极接线端子严重发黑并伴有打火现象,该加速极电压正常为+400V,用万用表测量只有几十伏且不稳定,由此说明该电压过低导致显示屏无亮度,也就造成无图像显示。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 关闭总电源,将高压盒外围清理干净,仔细观察加速极接线端子很脏,严重发黑,但未见烧坏痕迹,于是先用酒精清洗接线端子和绝缘瓷柱,再用金相砂纸打磨接线端子绝缘瓷柱周边发黑部位,最后用酒精彻底清洗干净,晾干后,再用电吹风吹干所有部位,用704硅绝缘胶涂抹接线端子瓷柱,及周边有可能会发生打火的部位,48小时固化后装回加速极接线端。检查接线及其它无误后,开机显示屏有图像显示了,调节亮度、辅助亮度及对比度旋钮图像随之变化正常,无电子图像故障排除,显示屏电子图像功能恢复正常使用。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】: 由于我们地处南方,梅雨季节环境潮湿,使很多电子元件容易受潮,尤其是在仪器停机一段时间后,再开机机内容易发生打火,电晕,爬电等现象,造成仪器无法正常工作。因此平时应尽量多打开仪器让其工作,这样机内的热量可以烘走潮气,有空调的可用抽湿功能进行除湿,另外有条件可安装抽湿机,以保证仪器在潮湿的环境下也能正常工作,同时也减小了仪器发生故障的概率。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【结语】:[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] JCXA-733型电子探针是日本电子公司八十年代的早期产品,在当时属于顶极的电子仪器产品,现在看来此仪器已经比较老旧了,但仍具有较优良的技术指标和性能。无论如何,不可否认的是,在那个年代JCXA-733型电子探针还是为我国的科学研究、学术教学和产品研发做出了一定的贡献。虽然在仪器使用过程中多多少少出现了一些这样那样的问题,个人认为就日本的电子技术产品设计和研发的态度,以及对仪器生产、组装、调试的严谨性而言,此仪器仍不失为优秀的电子仪器,这也是值得我国电子仪器研发单位和生产厂家所应该学习的。大家都应该记住,科学无国界,技术共发展。[/color][/b]

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 荧光探针的光谱分析

    [color=#444444]设计了一个荧光探针,在用275nm激发的时候,发射峰有在380和395有一个强的双发射峰,但在520nm处也有一个小发射峰。再用380nm激发的时候,520nm出的发射峰就变得特别强,380和395处的就弱了。请问这是为什么,我的发射峰应该是哪个[/color]

  • 贵金属X射线荧光检测的标样怎么做期间核查?

    最近学着做期间核查,头大,看了很多资料,发现贵金属X射线荧光检测的标样的量值核查好像没有提到过,像这样的贵金属标样,肯定不能破坏做化学分析,更高精确度的X探针身边也没有,如果用现有的能量色散型X射线光谱去得到标样的量值,感觉有些奇怪,量值的误差一部分来自于标样,一部分来自于仪器随机误差,工作曲线导致的误差,那么如何判断标样的准确度是否满足要求呢?又或者说贵金属在合适的储存条件下不会发生变化,所以不需要对量值进行核查,只需要对保存条件、有效期、外观等进行核查即可。各位老师帮忙解答一下!

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 近红外荧光探针介绍

    [url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html][b]近红外荧光探针[/b][/url]采用fluoptics公司近红外荧光探针标记,AngioStamp™ 和sentidye™ .AngioStamp是一个近红外™ 肽,可以标记肿瘤和血管。sentidye™ 是脂质分子,用于淋巴结和血管成像。[b]近红外荧光探针应用[/b]肿瘤• 血管生成• 血管网• 淋巴结和淋巴管[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioStamp™ AngioStamp是[/b]以αvβ3整合素为靶点的近红外荧光探针,可用于标记肿瘤或研究血管生成。AngioStamp™ 是肽绑定到近红外荧光分子。AngioStamp™ 是两波长(700 nm和800 nm)之间的靶向探针。AngioStamp™ 兼容Fluobeam以及活体成像系统等,还可以用于显微镜。只供实验室使用。这些产品仅用于动物研究,不用于人类。[b][b]近红外荧光探针[/b]sentidye™ 近红外荧光探针[/b]sentidye™ 是近红外荧光脂质分子,可以用来标记淋巴系统或血管网。皮下注射时,sentidye™ 是由淋巴系统和标签最近的淋巴结。静脉注射后,sentidye™ 作为血池剂显示血流,血管灌注模式。[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioLone™ [/b]angiolone™ 是angiostamp™ 分子没有近红外荧光。angiolone™ 是靶向肽,建议将您选择的荧光基团进行接枝。AngioStamp™ ,AngioLone™ 目标βαV 3整合素和可用于标记蛋白过度表达的肿瘤或血管生成。[img=近红外荧光探针]http://www.f-lab.cn/Upload/fluorescent-probes.JPG[/img]近红外荧光探针:[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html[/url]

  • 探针磨损与损坏问题

    有没有哪位大神,总结过关于探针磨损的注意事项以及损坏掉的探针的特征之类的问题,求分享一下。最近试验总是出现测出的图像很奇怪的现象,拉长,斜向拉长,或者图形轮廓不明显,以及波形不匹配等等问题,求教哪些是参数引起的,那些可能是探针已经损坏了。

  • FAM探针 方面的问题

    为什么FAM探针的荧光强度不是随探针的线性浓度的增加而呈现线性增加,而是在一定范围内成线性增加,到一定浓度后荧光强度下降

  • 能不能开一个电子探针的版面呢

    现在电子探针的用户不少,我们也在调研,发现论坛里找不到这方面的资料,其实电子探针也可以作为扫描电镜版块的一个分支吧,开个子版块也好啊方便大家交流

  • 【分享】荧光探针标记样品的过程及注意事项

    [b]对细胞进行荧光标记后,有时会出现影响定量实验的三种情况。[/b]一是所有细胞都能标记上荧光,但样品荧光强度过高,甚至饱和。克服方法是降低标记细胞时胞外荧光探针的浓度;或改变标记样品的条件,例如减少标记探针与样品的反应时间。二是出现“环岛效应”或“边缘效应”,表现为即连成片的细胞最外环的边缘的细胞荧光强度明显高于被包围在中间的细胞的荧光强度。克服办法是①在不影响实验的情况下,尽量减低细胞种植密度;②由于染料浓度过高时,更容易产生边缘效应;③适当延长标记时间,以使染料在细胞间达到充分的平衡时间;④染色后,上机前要进行充分洗涤附着探针(不需要洗涤的探针除外

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试,探针是电测试的接触媒介,是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素: 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的,也就是说若是探针的质量是存在问题的,那么不仅会造成测试结果存在问题,还会造成其他的问题出现,因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作,要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况,不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同,我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍,希望可以帮到大家,本文出自:http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪(TR-518FE、TR-518FR、TR518FV)、ICT测试治具,功能(FCT)测试治具、DIP/SMT过炉治具(载具)、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具,提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • 欢迎电子探针回家:)

    看刚刚从扫描探针显微镜版转过来的六个帖子,觉得很惭愧,原来使用电子探针的朋友都不得不在其他版面讨论。我还发现了一个在其他仪器讨论的帖子。现在电子探针终于有了安家之所,大家有相关问题请多多交流啊,我对此不熟悉,还想学得几手去show off一下呢,呵呵。欢迎回家[em23] [em23] [em24] [em38] [em44]

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