冠层温量仪

植物冠层分析系统 植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。植物冠层分析系统 植物冠层测量仪功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔较小1分钟，自动测量次数较大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。植物冠层分析系统 植物冠层测量仪技术参数测量范围：0-2700μmol ㎡/秒 分辨率：1μmol ㎡/秒响应时间：10μs自动采集间隔：1-99分钟自动采集次数：1-99次冠层分析仪数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75 cm 探杆长度：50 cm传感器数量：25个（标配）电源：2节5号电池植物冠层分析系统 植物冠层测量仪工作环境：0°C-60°C；100%相对湿度

一．用途 植物冠层测量仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。 二．测试原理与方法 植物冠层测量仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。 三.结构组成 植物冠层测量仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。 四.技术指标 1.可测量指标： 叶面积指数 叶片平均倾角 聚集指数1 聚集指数2 树冠开阔度 天空散射光透过率 不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率透光率） 不同太阳高度角下冠层的消光系数 叶面积密度的方位分布（不透光率） 光合有效辐射（PAR） 2.镜头角度：180° 3.分辨率：2592×1944 4.测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域 5.PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm 6.测量范围0～3000μmol/㎡&bull S 7.分析软件：植物冠层分析系统 8.重量：500g 9.工作及存储环境：-10℃~55℃≤85%相对湿度 10.传输接口：USB 五、功能特点 1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架； 2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图； 3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。 4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。 5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差 6.数据浏览：可浏览历史数据 7.内置中英文双语显示，一键切换 8.配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证

功能与特点：植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米&bull 秒上的微摩尔（μmols㎡/秒）。植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。植物冠层测量仪自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。技术参数：1.测量范围：0-2700μmol ㎡/秒2.分辨率：1μmol ㎡/秒3.响应时间：10μs4.自动采集间隔：1-99分钟5.自动采集次数：1-99次6.数据存储容量：2GB（标配SD卡）7.仪器总长度：75 cm8.探杆长度：50 cm9.传感器数量：25个（标配）10.电源：2节5号电池

植物冠层测量仪功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。仪器介绍LD-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。

仪器介绍YP-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。

GBT9647-5波纹管内径测量仪一、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 简介：波纹管内径测量仪用于预应力混凝土桥梁用波纹管环刚度试验内径测量。满足交通部《JT/T529-2016 预应力混凝土桥梁用塑料波纹管》和《GB/T9647-2015热塑性塑料管材环刚度的测定》的要求。二、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 主要技术指标：测量波纹管规格：Φ22mm～Φ350mm，Φ22mm～Φ750mm，Φ22mm～Φ1050mm，Φ22mm～Φ1200mm，Φ22mm～Φ1450mm，Φ22mm～Φ1700mm，Φ22mm～Φ1950mm，Φ22mm～Φ2250mm，Φ22mm～Φ2550mm。1、测量波纹管规格：Φ22mm～Φ750mm2、测量分辨率：0.1mm3、测量精度：±1%4、LED数字显示5、电源：220V×50Hz6、重量：5kg三、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 安装校对：1、仪器平放于工作台。2、接上220V电源。3、移动其中一测量标尺使其接近另一标尺，按一下数显表向右键归零初始值是22，然后用标准量具检测其准确度。4、校对完毕。

植物冠层分析仪仪器介绍　　YT-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔(μmol㎡/秒)。　　植物冠层测量仪功能特点　　植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便!在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。　　植物冠层分析仪技术参数　　测量范围：0-2700μmol ㎡/秒　　分辨率：1μmol ㎡/秒　　响应时间：10μs　　自动采集间隔：1-99分钟　　自动采集次数：1-99次　　数据存储容量：2GB(标配SD卡)　　仪器总长度：75 cm　　探杆长度：50 cm　　传感器数量：25个(标配)　　电源：2节5号电池　　工作环境：0°C-60°C 100%相对湿度

一、植物冠层分析仪价格仪器介绍 HED-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。 二、植物冠层分析仪价格植物冠层测量仪功能特点 植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。 三、植物冠层测量仪技术参数 测量范围：0-2700μmol㎡/秒 分辨率：1μmol㎡/秒 响应时间：10μs 自动采集间隔：1-99分钟 自动采集次数：1-99次 数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75cm 探杆长度：50cm 传感器数量：25个（标配） 电源：2节5号电池 工作环境：0°C-60°C；100)%相对湿度

TY-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔(μmol㎡/秒)。　　植物冠层测量仪功能特点　　植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便!在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。　　植物冠层测量仪技术参数　　测量范围：0-2700μmol ㎡/秒　　分辨率：1μmol ㎡/秒　　响应时间：10μs　　自动采集间隔：1-99分钟　　自动采集次数：1-99次　　数据存储容量：2GB(标配SD卡)　　仪器总长度：75 cm　　探杆长度：50 cm　　传感器数量：25个(标配)　　电源：2节5号电池　　工作环境：0°C-60°C 100%相对湿度

一、植物冠层分析仪仪器介绍 ：HED-G10植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。 二、植物冠层分析仪功能特点 ： 植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。 三、植物冠层测量仪技术参数： 测量范围：0-2700μmol㎡/秒 分辨率：1μmol㎡/秒 响应时间：10μs 自动采集间隔：1-99分钟 自动采集次数：1-99次 数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75cm 探杆长度：50cm 传感器数量：25个（标配） 电源：2节5号电池 工作环境：0°C-60°C；99.99%相对湿度

一、仪器介绍 HED-G10植物冠层分析仪价格可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。 二、植物冠层测量仪功能特点 植物冠层分析仪价格为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。 三、植物冠层测量仪技术参数 测量范围：0-2700μmol㎡/秒 分辨率：1μmol㎡/秒 响应时间：10μs 自动采集间隔：1-99分钟 自动采集次数：1-99次 数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75cm 探杆长度：50cm 传感器数量：25个（标配） 电源：2节5号电池 工作环境：0°C-60°C；99.99%相对湿度

植物冠层分析仪器可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。植物冠层分析仪器功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔较小1分钟，自动测量次数较大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。植物冠层分析仪技术参数测量范围：0-2700μmol ㎡/秒 分辨率：1μmol ㎡/秒响应时间：10μs自动采集间隔：1-99分钟自动采集次数：1-99次冠层分析仪数据存储容量：2GB（标配SD卡） 仪器总长度：75 cm 探杆长度：50 cm传感器数量：25个（标配）电源：2节5号电池植物冠层分析仪工作环境：0°C-60°C；100%相对湿度冠层分析仪是一种专门用于测量和分析植物冠层特性的仪器。它可以用来评估植物冠层对光的吸收和利用情况，这对于理解植物的生长状态、健康状况以及它们如何响应环境变化非常重要。以下是冠层分析仪的一些主要功能和用途：一、植物冠层分析仪主要功能1、光穿透测量：通过测量冠层下方不同高度处的光强度，分析冠层对太阳辐射的吸收和透射情况。2、叶面积指数（LAI）估计：叶面积指数是指单位地表面积上的单面叶面积总和，是衡量植被覆盖度的关键指标之一。3、冠层结构分析：可以评估叶片的空间分布情况，如叶子的角度分布等。4、冠层间隙分析：通过分析冠层中空隙的比例，了解冠层的遮蔽程度。二、植物冠层图像分析仪用途1、测量植物冠层中的光穿透情况，这包括直射光和散射光透过冠层的情况，对于研究光合作用效率至关重要。2、计算叶面积指数（LAI），即叶片总面积与土地面积的比例，这是评估植物冠层密度的一个重要参数。3、确定叶片的平均倾斜角度，这有助于了解植物冠层的结构及其对光照的捕获效率。4、分析冠层截留水分的能力，这对于理解土壤水分动态和作物蒸腾作用非常重要。5、研究冠层生产力以及其对土壤水分蒸发损失的影响。6、用于农业生产中的作物管理，帮助农民了解作物的生长状态，并据此做出科学的种植决策。7、收集的数据可用于农业科研，比如作物生长趋势与光合作用速率之间的关系研究。三、植物冠层分析仪应用领域1、农业：优化农作物管理措施，如灌溉、施肥、修剪等，提高作物产量和品质。2、生态学：研究自然生态系统中植物群落的结构和功能，评估生物多样性和生态系统服务。3、气候研究：冠层特性与气候变化之间存在密切联系，因此冠层分析仪也用于研究碳循环、水循环等。冠层分析仪通常采用先进的光学传感器来测量冠层上下方的光强度，并使用软件算法来计算上述参数。这些仪器设计便携，适合在野外环境中使用，并且可以手动或自动模式操作，允许用户设定特定的时间间隔进行连续测量。

仪器用途：冠层分析系统主要用于植物冠层分析，叶面积指数测量，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。功能特点：1、防水等级高：全铝合金，防水等级IP65。2、采用可见/近红外光反射光谱技术和多通道光谱信息扫描技术，可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、植物养分信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。3、软件分析功能多：可分析植被指数RVI、NDVI、作物叶层含氮量、氮积累量、叶面积指数、叶干重等。主机功能：1、设备可通过2G/4G网络方式与服务器通讯，实时发送至服务器，上网页查看数据，无论身在何处只要能上网，均可查看下载数据；2、含手机APP，支持安卓及苹果系统，无论身在何处只要能上网，均可查看实时数据；3．低功耗设计，增加系统监控和保护措施，避免系统死机；4．中文液晶显示，可显示当前日期时间，各传感器测量数据，存储容量，已存储数据条数，等信息；5、主机数据存储容量大：设备内部Flash可存储近3万条数据，标配4G内存卡可不限量存储，亦可与Flash中数据同时存储；6、内置锂电池供电：7.4V2.8Ah锂电池，具有充电保护、电压过低提示功能。外接电源为8.4V（1000mA以上）直流电源；7、采集设置：在无人看守的情况下使用，可设置定时采集，也可手动采集；8、语音设置：可根据需要设置语音播报功能开/关/超限开；9、语音报警功能：主机语音设置为超限开后，即可语音播报超限信息；10、主机可通过集线器接入不同类型的传感器，互不影响精度；11、自带GPS定位功能，数据采集时可自动显示采集点地理坐标；12、可扩展传感器类型及数量，最多32个种（扩展线为IP67，一体结构）。管理云平台功能：1、自带仪器云管理平台包含C/S架构，可将所有便携式设备及在线设备数据进行汇总分析，数据备份不丢失，查看操作方式包括网页端及手机端（安卓系统）； 2、显示每种参数过程曲线趋势，最大值、最小值、平均值显示查看，放大、缩小功能；3、数据可上传至管理云平台。平台内数据可下载，分析，打印；4、平台支持设备数据存储，提供足够容量可不限量保存；5、平台为设备数据提供曲线与表格等报表形式，且数据可导出与导入；6、软件可在线升级。 技术参数：工作环境：0℃～60℃，相对湿度0～100%RH（没有水汽凝结）贮藏环境：-30℃~70℃，湿度≤95%RH电源：8.4VDC光源：LED中心波长：730nm、810nm光谱带宽：8 nm FWHM视场角：30°采集面积：0.23～0.38㎡通道数量：2个采集器材质：全铝合金，防水等级IP65

清易白管水分仪又名非接触式土壤水分测量仪、土壤墒情测量仪,是一款以介电常数原理为基础的传感器。能够针对不同土层的土壤水分含量进行动态观测,而且是进行快速、准确、全面地观测,让人们实现对土壤的高度感知。清易白管水分仪采用分层设点的观测结构,地面配置一个温度观测点,地下土壤每隔10cm配置一个土壤温湿测点,观测相对应范围内的土壤温湿度。如下图所示:二、产品特色●预先埋入一根塑料管,将主传感器安置于管内,能够从预留管中轻松地取出、更换主传感器,维修方便,循环使用率高。●可在塑料管中上下移动,实现对各个土层土壤水分含量的动态观测。●发射近1G赫兹的高频探测波,可以穿透塑料管,有效感知土壤环境。●不会受土壤中盐离子的影响,化肥、农药、灌溉等农业活动不会影响测量结果,数据 ●传感器的电极没有直接与土壤接触,避免电力对土壤及土壤中的植物的干扰。三、技术参数◆土壤湿度 测量范围:0~100  测量精度:3%◆土壤温度 测量范围:-30℃~70℃测量精度:0.1℃◆记录间隔:30分~24小时(可调)◆测点间距:10cm◆输出方式:4g通讯◆存储容量:1M◆数据查看:Web网页系统平台远程查看◆供电方式: 太阳能电池板+锂电池组合供电◆防护外壳:PVC◆防护等级:IP68◆工作环境:-20℃~85℃◆结构外观:集成管式(柱式)◆尺  寸:外径6cm  高78.2cm管子长度可定制另有多点土壤温湿度记录仪,三温三湿记录仪,六温记录仪,六湿记录仪等土壤墒情记录仪可供选择

堆焊层厚度测量仪 堆焊层是指用以保护构件表面不遭腐蚀或其他损伤的金属包层。化工设备中用得*广泛的是用焊接方法(如带极堆焊)将耐腐蚀的奥氏体不锈钢堆焊在设备的内表面。例如尿素合成塔内壁堆焊层采用超低碳含钼奥氏体不锈钢，可大大减缓尿素对设备的腐蚀。 高温高压的各种加氢反应器内壁以铬镍奥氏体不锈钢堆焊，可以有效防止氢对钢材表面的高温氢腐蚀。应注意的是要有适当的开停车操作规程，以防堆焊层与基体钢材剥离。 在奥氏体不锈钢堆焊层凝固过程中 ,没有奥氏体向铁素体的相变 ,在室温下仍保留着锈态奥氏体晶粒。此奥氏体晶粒粗大 ,超声波衰减严重。堆焊层金属在冷却时 ,母材方向散热条件好 ,且奥氏体晶粒生长取向基本垂直于母材表面 ,这就给超声波测厚带来了很大的困难。 采用超声波测量堆焊层厚度主要有界面波测厚法和厚度测量法 2 种。界面波测厚法是利用界面反射回波在堆焊层中的传播时间来确定堆焊层厚度的方法。厚度测量法是利用被测基材加堆焊层的整体厚度 ,折算出堆焊层的厚度。界面波测厚法需要相同堆焊层材料的对比试块 ,且只适用于从堆焊层一侧进行测量 ,检测单位及使用单位很难做到。运用测厚仪计算加氢反应器不锈钢堆焊层厚度的方法具有简单易行、检测结果误差小的显著特点 ,不仅适用于制造中的产品检验 ,也适用于在用设备的全面检验 (可从设备外壁进行测量计算) 。 我司代理的堆焊层厚度测量仪是结合电磁法来测量堆焊层的厚度。多用于测量镍基堆焊层和不锈钢堆焊层的厚度。我们的优势如下：1. 使用电磁法测量，无需耦合剂，简便易操作，无盲区；2. 可测量的堆焊层厚度可达15mm；3. 堆焊层的材质不限于碳钢和不锈钢，可以是任何铁磁性和非铁磁性材质；4. 设备体积小，重量轻，超级便携。

非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series，这款非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜和金属方块电阻精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻，方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量替代四探针传统测量非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象：镀膜建筑玻璃，如LowE显示器，触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组，感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁场。电涡流技术不依赖于表面特征或形貌。此外，非接触式单点方阻测试仪不需要如已知的2或4点探针测试(2PP, 4PP)或霍尔效应或范德波测量一样进行任何形式的充分的样品接触或备样。非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外，测量不会对被测薄膜产生物理影响。涡流仪器不存在机械磨损，使用寿命长。它的独立性与接触质量和它的高速允许实现高重复性和准确性，有利于在研发和测试实验室的各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由具有各种数据记录和导出功能的SURAGUS软件驱动，也可以由SURAGUS软件开发套件驱动的客户软件驱动。非接触式单点方阻测试仪软件和设备控制：非常用户友好的软件直观的触摸显示导航实时测量板材电阻和层厚软件辅助手动映射选项各种数据保存和导出选项非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪产品规格表Measurement technologyNon-contact eddy current sensorsubstratesFoils, glass, wafer, etc.Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement range of metal films (e.g. copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance (cf. our calculator))Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mmWeight10 kgFurther available featuresSheet resistance measurement / metal thickness monitor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 20001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.3% 0.5% 0.3%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistanc非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map 2530SREddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器，每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触，该设备可以在飞行运动中进行测量。此外，非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性，因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外，综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。产品规格：Measurement technologyNon-contact eddy current sensorSubstratesWafer, glass, foils etc.Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes10,000 measurement points in 3 minutesScanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)Device dimensions (w/h/d)31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mmWeight90 kgFurther available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.5% 1% 0.5%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance便携式方块电阻测试仪EddyCus TF便携式1010SR专用于工业环境中的接触片电阻测量。它使各种行业的手工质量保证成为可能。Measurement technologyEddy current sensorMeasurement modeRealtime at constant distance / contactSubstratesGlass, foils etc.Substrate sizesFlat samples 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch)Curved editions are available for several applications (windshields etc.)Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)PowerLithium ion battery up to 20 hSheet resistance range (five setups available)Type very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sqType low: 0.04 – 0.1 Ohm/sqType standard: 0.3 – 30 Ohm/sqType high: 0.3 – 50 Ohm/sqType very high: 0.3 – 100 Ohm/sqThickness measurement of thin films (e.g. copper)Additional feature, available range is 5 nm – 500 µ m (in accordance with sheet resistance)Emissivity rangeAdditional feature, available range is 0.003 – 0.5Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass)0.001 – 50 Ohm/sq: 3%50 – 100 Ohm/sq: 5%DISPlay2.8 inch colored touch screenDevice dimensions (w/h/d)3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mmWeight340 gInterfacesBluetooth (optional) + data center更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

镀铝层厚度测量仪金属镀层测厚仪是一种用于精确测量金属镀层厚度的仪器，它对于镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料的质量控制具有重要意义。该仪器采用电阻法作为检测原理，通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。 金属镀层测厚仪主要由测量探头、测量电路和数据处理系统三部分组成。测量探头通过与被测样品表面接触来获取电阻值，其内部结构通常包括一对电极和测量线路，用于测量样品的电阻值。测量电路则将探头测得的电阻值转化为可读的数据，并将其传输到数据处理系统进行处理。 在测量镀铝膜、真空镀膜和镀铝纸等材料时，金属镀层测厚仪能够对其表面和底层的电阻值进行精确测量。由于不同金属材料的电阻率不同，因此可以通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。具体来说，金属镀层测厚仪会根据样品的电阻值变化来计算出金属镀层的厚度，并将结果以数字或图表的形式显示出来。 金属镀层测厚仪具有高精度、高分辨率和高灵敏度的优点，能够准确地测量出金属镀层的厚度，从而为生产厂家提供可靠的质量保证。同时，该仪器还具有操作简单、使用方便的特点，能够满足工业生产中对快速、简便测量的需求。 金属镀层测厚仪的优点还包括其非破坏性测量方式，即不会对被测样品造成损害。这使得生产厂家可以在生产过程中进行在线测量，及时发现并解决问题，大大提高了生产效率和产品质量。此外，金属镀层测厚仪还可以通过计算机接口实现数据共享和远程控制，提高了测量的自动化程度和便捷性。 金属镀层测厚仪是一种高精度、高分辨率、高灵敏度的仪器，采用电阻法检测原理，能够准确地测量出镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料金属镀层的厚度。它具有操作简单、使用方便和非破坏性测量等优点，适用于工业生产中的在线测量，能够提高生产效率和产品质量。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 镀铝层厚度测量仪此为广告

中图仪器NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台（1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。 3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数； 3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器 1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；

YT-210涂层测厚仪概述无接口磁性探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-210涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb210测头类型F1 （不可拔插）工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头工作原理● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法，可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、磁性法(F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。磁性法基本工作原理测量步骤A）将测头置于开放空间，按一下开机键开机,检查电池电压。说明1：当电池符号满格显示，表示电池电压正常；电池电量小于2格时，请立即更换电池，以保证测量的准确性。 2：长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下，开机显示界面如下图所示： “铁基体"——F型测头，测试对象为铁性基体 “A"——上次关机前的最后一次测量模式 “数值"——上次关机前的最后一次测量值B）选择适当的校准方法进行标准仪器。C）测量方法：握住滑套将测头与测试面垂直地接触，随着一声蜂鸣声，屏幕显示测量值，提起侧头可进行下次测量。D)关机：按开关机键，或者大约5分钟后仪器自动关机。 注：如果开机仪器自动测试，请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触，可能会显示一个误差较大的测值，可以按清除键清除该值； 2.测量三次或多次后，仪器可自动对测量数据进行统计即：平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。产品展示

数字式动物体温计主要用户测量大鼠、小鼠、兔子的体温，选择合适的探头，也可以测量肛温、组织温度、皮肤温度；有多种型号的温度探头可供选择，敬请来电咨询。型号：H-100 (推荐）动物体温计的主要特点：Ø 精度：0.1°C的显示精度，完美的稳定性；Ø 测量范围：-100°C-200°C；Ø 多种探头可选：针状、软光纤、平面、带圆头等适合各种脏器、软组织的探头；Ø 应用：脑温测量、肝温测量、组织液温度测量、各脏器腔内温度测量、肛温测量等；Ø 输出：模拟输出功能。多种温度探头可供选择：将传感器检测头插入试验动物肛门，可以使用润滑油辅助；传感器的插入深度以不少于全长的3/4为宜。如果待测老鼠数量多，可以根据需要，选择多通道温度测量仪：主要特点：Ø 精度：0.1°C的显示精度，完美的稳定性；可在电脑上进行编程；Ø 同时可以测量1-7只动物；Ø 精确度为±0.1°C；Ø 稳定性为±0.1°C；Ø 分辨率为0.01°C&puncsp ；Ø 每秒测量16个数值；动物体温维持仪（动物手术保温毯）（对手术过程中的动物和术后恢复的动物进行保温，同时进行动物体温测量，对加热功率进行反馈式控制，方便实用，敬请来电咨询）动物手术保温毯具有测温、控温和电加热功能，用于维持试验动物正常体温。本仪器测、控精度高，响应迅速快，工作稳定可靠，无电磁干扰。动物手术保温毯的技术性能：1、 测温范围：0.0℃～99.9℃ 2、 控温范围：0℃～80℃3、 测、控温精度：0℃～80℃　范围内误差≤±0.2℃4、 加热电源额定输出功率：40W5、 设定按键：触摸按键6、 数字显示：数码管7、 工作电源：50Hz AC220V±10%8、 仪器尺寸：250×195×100mm9、 加热毯尺寸：500×300mm 动物手术保温毯的使用方法：1、 仪器连接；A、 将加热毯的连接线接入仪器后面板上的“加温”插口上；B、 将传感器接入仪器后面板上的“传感器”插口上；C、 连接电源线；根据需求，也可以选择动物体温遥测系统 和 植入式体温胶囊：动物体温遥测系统Ø 无线遥测，测量动物的心率、体温、活动量Ø 植入式E-Mitter转发器没有电池Ø 长期监测-植入装置后允许连续、遥测实验动物一生Ø 准确、可靠，报告清醒无束缚动物的生理和行为数据植入式体温胶囊Ø 体积小巧，食用方便，对机体无损害Ø 实时连续无创监测Ø 传输参数：传输距离1-3m，传输频率433HzØ 使用寿命：20天Ø 规格参数：17.7*8.9mm，重1.7g请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

冠层分析仪_来因科技冠层分析仪介绍植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。冠层分析仪_来因科技冠层分析仪测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。冠层分析仪_来因科技冠层分析仪结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。冠层分析仪_来因科技冠层分析仪功能特点鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数；冠层分析仪_来因科技冠层分析仪可测量指标：叶面积指数叶片平均倾角天空散射光透过率不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率不同太阳高度角下冠层的消光系数叶面积密度的方位分布仪器主要技术参数镜头角度：150°分辨率：768×494测量范围：天顶角由0°～75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm冠层分析仪_来因科技冠层分析仪测量范围0～2000μmol/㎡?S实时显示GPS卫星定位经纬度，明确当前检测位置检测结果可直接传至专属云农业数据中心，配备专属云农业数据中心账户分析软件：植物冠层分析系统探头尺寸：直径6cm，高10cm总 重 量：500克(不含笔记本电脑)传输接口：USB工作温度：0～55℃

叶面积指数仪器功能特点植物冠层测量仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便！在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。仪器介绍LD-G10叶面积指数仪器可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。

仪器介绍植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件、高容量的可充电电池组组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。功能特点鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数；

NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度；能够测量样品的粗糙度和波纹度，获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能 1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）应用行业NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。部分技术指标型号NS200样品观察500万像素彩色摄像机 正视视野：2.2×1.7mm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm630×610×500重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

磁性/电涡流式覆层厚度测量仪标准厚度片简介：JJG818-2005涂层测厚仪标准试片在基材、表面加工或外形上建立一个涂层厚度标准，校准膜片或"夹片"是最方便的的方法。 这是调整涂层测厚仪的校准、确保做到大精确度的理想方法。一、产品简介 在基材、表面加工或外形上建立一个涂层厚度标准，磁性/电涡流式覆层厚度测量仪标准厚度片或"夹片"是方便的的方法。 这是调整涂层测厚仪的校准、确保做到大精确度的理想方法。 二、特性: 1、每张膜片都有公英制数值 2、厚度从12.5μm 到 25mm (0.5 到 980mils) 3、精确膜片的精确度是 ±1%. 低于 50μm (2.0mils) 的膜片精确度是±0.5μm (0.02mil).

BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪标签剥离测试仪基于力学测试原理，通过模拟实际使用中的剥离过程，精确测量材料在剥离时的力值，从而评估其粘合强度和稳定性。适用于180度、90度、T型等多种剥离测试方法，广泛应用于包装、印刷、医药、电子等行业。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪主要参数与特点技术参数：测试范围：通常覆盖从0到几千牛顿（N），具体取决于型号，适合不同强度的材料测试。精度等级：力值测量精度高，如±0.1%FS，确保数据的准确性。速度控制：可调的剥离速度，如100-500mm/min，适应不同测试要求。位移测量：高精度位移传感器，记录剥离过程中的位移变化。显示与控制：配备彩色触摸屏或电脑软件，直观操作界面，实时显示测试数据。自动计算：能够自动计算剥离强度、最大力值、平均力值等关键指标。兼容性：支持多种测试标准，如ISO、ASTM等，满足国际测试要求。安全设计：紧急停止按钮，过载保护机制，确保操作安全。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪功能特点：多功能性：除了剥离测试，部分型号还能进行拉伸、压缩、弯曲等多类型力学性能测试。数据处理：内置或外接软件，提供数据分析、报告生成功能，便于质量控制和研究分析。样品适应性：适用于不同宽度和材质的标签，通过更换夹具适应不同测试需求。智能化：部分高端型号支持远程控制、数据云存储，便于数据管理和远程监控。自定义测试程序：允许用户根据特定产品需求设置测试程序，提高测试的针对性和效率。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪应用场景标签和不干胶生产：确保产品粘合强度符合标准。包装行业：测试包装材料的剥离性能，优化包装设计。医药领域：评估药瓶标签的稳定性，确保标签不会在使用过程中脱落。电子产品：测试电子组件上的标签和贴纸的附着力，防止在运输和使用中出现问题。

仪器介绍　　植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。　　测试原理与方法　　植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。　　结构组成　　植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头(由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成)、内置25个PAR传感器的测量杆(摇臂)、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件、高容量的可充电电池组组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。　　功能特点　　鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架 　　鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图 　　图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。　　可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数 　　可测量指标　　叶面积指数　　叶片平均倾角　　天空散射光透过率　　不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率　　不同太阳高度角下冠层的消光系数　　叶面积密度的方位分布　　仪器主要技术参数　　镜头角度：150°　　分辨率：768×494pix　　测量范围：天顶角由0°～75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域　　PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm　　测量范围0～2000μmol/㎡&bull S　　分析软件：植物冠层分析系统　　电 　 源：8.4v可充电锂电池组　　探头尺寸：直径6cm，高10cm　　总 重 量：500克(不含笔记本电脑)　　传输接口：USB　　工作温度：0～55℃

HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪 快速、准确地分析纳米级镀层FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 μm 的特征上的纳米级镀层，先进的检测器技术可为您提供高精度，同时保持较短的测量时间。其他功能，例如大样品台、宽样品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗，可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用，与您的 QA / QC 流程无缝集成，在问题危机发生前提醒您。HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品亮点FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计，针对细小的特征进行了优化。用于从安全距离查看分析的大观察窗测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测用于快速样品设置的自动特征定位为您的应用优化的分析仪配置选择在小于 50 μm 的特征上测量纳米级镀层将传统仪器的分析通量提高一倍可容纳各种形状的大型样品专为长期生产使用的耐用设计HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品对比FT160FT160LFT160S元素范围Al – UAl – UAl – U探测器硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)硅漂移探测器 (SDD)X射线管阳极W 或 MoW 或 MoW 或 Mo光圈多毛细管聚焦多毛细管聚焦多毛细管聚焦孔径大小30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）30 μm @ 90% 强度（Mo tube）35 μm @ 90% 强度（W tube）XY轴样品台行程400 x 300 mm300 x 300 mm300 x 260 mm样品尺寸上限400 x 300 x 100 mm600 x 600 x 20 mm300 x 245 x 80 mm样品聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦聚焦激光和自动聚焦测试点识别???软件XRF ControllerXRF ControllerXRF Controller

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

冠测仪器动态比表面及孔径测量仪BETA202A3一、适用范围及功能1）适用产品多：包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。2）功能强大，包含目前所有的数据处理方法：单点和多点比表面积。粒度估算和真密度测试、孔隙率及孔隙度分析。吸、脱附等温线分析。中孔和大孔的孔体积，孔面积对孔径的分布，总孔体积等二、软件功能:1)可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。2)优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长，真空泵寿命。3)自动恢复大气压功能，方便样品拆卸，并保证不会出现样品飞溅。4)自动高真空检测系统，确保测试均在高真空环境下进行，确保测试结果的准确性。5)自动应急处理系统，能够保证突然停电、石英管破碎等突发偶然情况下仪器自动恢复正常。6)强大的数据库，存储有多达几十种测试模式，客户也可以根据自身需要建立更符合自身产品的测试模式，对产品进行更精确的测试。7)断电后，测试系统恢复功能。比表面积及孔径分析时，真空脱气过程相当漫长，在进行测试时，突然停电，中断测试是一件非常痛苦而无奈的事情。不仅损失掉数据、还会耽误科研进程，这项功能在此时显得特别重要。8)可以进行PDF电子版打印及Excel数据导出，以及各种理论数据选择打印。还可以进行不同时间、相同样品、相同测试模式数据和分布曲线对照查看和打印功能。9)可以进行中英界面操作测试和中英文界面打印测试报告。三、技术要求：1、真空系统：中科院真空处理专家专门为该系列设计的真空系统，全不锈钢管路和国际知名真空电磁阀配套，真空度更高（可达10-8Torr）,保持高真空度时间更长。基本配置真空泵10-2pa(10-4 Torr).P/P0可达10-7.2、智能选择多容量空间技术；3、全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术；4、真空系统内壁采用镀银技术。5、真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。6、检测系统：进口电容式绝压薄膜压力变送器，精度达到0.1%，（0-10 Torr---相当于0-1.33KP ，0-1000 Torr ------相当于0-133.3kp）高达24位AD采集电路确保数据的准确性。可以进行上千个点的测试。7、优质控制阀使抽气和进气非常稳定，不会出现样品飞溅现象。特殊的气路处理，避免了样品管从脱气站到分析站转移过程中的二次污染。加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的先进技术。8、样品预处理更方便、快捷。样品测试和处理在相同位置，达到理想的脱气处理效果。同时避免样品拆来拆去，暴露在空气中，影响吸附能力。我们在样品室上方，利用一个三通阀，巧妙的把测试管路和加热脱气管路一分为二，使脱气时产生的杂质不会污染测试管路和真空计，这是我们核心的技术。9、独立的P0管，确保P0值的准确无误。P/P0可达0.999510、BETA202A配置了大容量液氮杜瓦瓶，可保70小时无人介入操作。HYA还配置了液氮等温套，以确保整个分析过程中等温套以下的温度恒定。可加自动液氮补充系统，进行任意所需时长的样品测试。11、真正的无人值守，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制。12、分析范围广：比表面积0.0005m2/g（Kr测量）至无上限。孔径分析0.35nm-500nm。孔体积小检测: 0.0001 cc/g。(氮气吸附，可加配备高真空系统).测试精度可达重复性误差〈±1%。13、BETA202A装有3路传感器，一路对P0适时测试，确保P0的准确性，另2路对2个样品同时进行分析，可以同时测试2个样品的比表面积和孔径分布。 (注：可按需加装分子泵)。14、只需要氮气进行测试，不需要氦气（氦气又贵且不好买），为客户节省资金。15、比表面积1个25分钟，孔径常规1个3.5小时16、可以进行N2,Ar，Kr，NH3，CO2，H2，CO，O2，甲烷，丁烷和其他非腐蚀性气体吸附分析。17、可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。