光电塑定仪

单光素与双光素仪的优缺点?谢谢!

急求电位滴定仪、水分滴定仪、熔点仪、旋光仪验证方案？

光电真读光谱仪分析化学元素的含量偏差是否有国际

我想了解一下光电滴仪,不知道哪个公司的好一些?

ARL 3460 -光谱仪测量钢铁其它元素稳定，但是碳元素不稳定，什么原因？这与使用的高纯氩气的纯度有关吗，但是检测结果表明含氧、水、氮都符合高纯氩的标准，是不是高纯氩中的含碳量或固体颗粒能影响？谢谢！！

前天我发了一个关于氙灯曝晒效率与自然曝晒之间的近似等效关系，引起了我们论坛几位专家的关注和重视，今天特开一个帖子，介绍一些关于塑料材料耐光老化测试方面的资料，希望大家能够喜欢。塑料制品的耐老化性能是指其在加工、存放和应用过程中，因受环境中的光、热、氧、水、机械应力及微生物等条件的作用，再加上塑料的自身因素，所引起其本身的化学结构变化和破坏，而逐渐失去其原有的优良性能，称其为老化。塑料的老化象征，如外表颜色改变，失去原有的表面光泽、出现龟裂，其力学性能和电性能下降等。塑料老化的检测试验方法较多，可分为两种类型：一种是自然老化，如自然气候中老化、埋地老化和海水浸泡老化等；另一种是人工老化，如人工热空气老化、人工气候暴露老化、盐雾老化和电化老化等。塑料制品的老化试验方法可采用自然老化检测试验和人工老化检测试验方法。具体试验方法如下。（1） 自然老化检测试验 塑料制品的自然老化试验，是把检测试样置于室外，暴露在气候变化的自然环境中，在其作用下所进行的老化试验。自然老化试验是按标准GB/T3681-2000规定进行。把按规定裁取的试样放置在可倾斜成一定角度的架上，朝向正南（要求试样可在试架上自由收缩、翘曲和扩张）。然后确定出试验分段时间（月、年），再分别检测试样在各段试验时间后的性能变化与试样试验前的性能比较。用此比较数据来评价此试样制品的耐候性能。（2）人工老化检测试验 人工老化塑料制品的试验，是采用模拟日光的人工光源，如用水银灯、碳弧灯、氙弧灯等，这些光源都会产生比自然日光强得多的光照。这些光在应用中还可配合模拟降雨和露水等。用这些人为的条件综合作用来对塑料制品引起加速老化。塑料制品的人工老化是按标准GB/T 7141-92规定，把按标准规定采取的试样置于热老化试验箱内，分出阶段试验时间，使试验在规定的条件下（如温度、气、风等），加速试样的老化进程。然后，分不同的时间段检测试样的性能变化，与试验前试样性能比较（包括外观、质量、力学性能和电阻率等性能指标），来评价试样的热老化性能。

他山之石——Rie说： 谢谢刘工的解释，我想最核心问题就是一点，旋光度的准确度，如果真的是因为光源的波长误差会导致不同被测物的旋光度不一致，那必须统一光源，即统一旋光仪所用光源的光谱分布。以现有的LED技术来说做不到光谱分布与钠灯一致，甚至同一批的LED光源其光谱分布都有偏差。对于统一光源光谱分布的做法在光学计量领域已经是约定俗称的，这是获得相同测量结果的必然做法。我个人并不赞同随意使用其他光源代替现有钠灯的做法，虽然LED成本低，使用寿命长，在没有相应的标准出台前还是使用钠灯更可靠。 主波长其实理解起来很简单，LED的光谱是连续的，会有几个光谱输出峰，一般一到两个，其最大光谱能量输出峰的位置就是主波长，之前也说了LED的光谱峰是圆头峰，那么主波长自然也会有几个nm的误差 另外不管使用何种带通滤光片，其切出来的光谱波长都有范围的，不存在切出某个固定波长点的滤光片

我前不久請購了一台光電式的數位轉速計,但該儀器的附屬品反光紙卻很快就沒了,故我想請教各位,此反光紙何處有,可有其它替代品,盼大家指點迷津,不勝感激!/:$

光电转换器件是光电光谱仪接收系统的核心部分，主要是利用光电效应将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。光电转换器件主要有两大类：一类是光电发射器件，例如光电管与光电倍增管，当辐射作用于器件中的光敏材料上，使发射的电子进入真空或气体中，并产生电流，这种效应称光电效应；另一类是半导体光电器件，包括固体成像器件，当辐射能作用于器件中光敏材料时，所产生的电子通常不脱离光敏材料，而是依靠吸收光子后所产生的电子—空穴对在半导体材料中自由运动的光电导（即吸收光子后半导体的电阻减小，而电导增加）产生电流的，这种效应称内光电效应。光电转换元件种类很多，但在光电光谱仪中的光电转换元件要求在紫外至可见光谱区域（160-800nm）很宽的波长范围内有很高的灵敏度和信噪比，很宽的线性响应范围，以及快的响应时间。目前可应用于光电光谱仪的光电转换元件有以下两类：即光电倍增管及固体成像器件。[b]光电倍增管[/b] 外光电效应所释放的电子打在物体上能释放出更多的电子的现象称为二次电子倍增。光电倍增管就是根据二次电子倍增现象制造的。它由一个光阴极、多个打拿极和一个阳极所组成(见下图)，每一个电极保持比前一个电极高得多的电压（如100V）。当入射光照射到光阴极而释放出电子时，电子在高真空中被电场加速，打到第一打拿极上。一个入射电子的能量给予打拿极中的多个电子，从而每一个入射电子平均使打拿极表面发射几个电子。二次发射的电子又被加速打到第二打拿极上，电子数目再度被二次发射过程倍增，如此逐级进一步倍增，直到电子聚集到管子阳极为止。通常光电倍增管约有十二个打拿极，电子放大系数（或称增益）可达10[sup]8[/sup]，特别适合于对微弱光强的测量，普遍为光电直读光谱仪所采用。光电倍增管的窗口可分为侧窗式和端窗式两种[b]1.光电倍增管的基本特性[/b]1.1 灵敏度和工作光谱区 光电倍增管的灵敏度和工作光谱区主要取决于光电倍增管阴极和打拿极的光电发射材料。当入射到阴极表面的光子能量足以使电子脱离该表面时才发生电子的光电发射，即1/2mv[sup]2[/sup]=hn-ф,( hn为光子能量，ф为电子的表面功函数，1/2mv[sup]2[/sup]为电子动能)。当hnф时，不会有表面光电发射，而当hn=ф时，才有可能发生光电发射，这时所对应的光的波长λ=C/n称为这种材料表面的阈波长。随着入射光子波长的减小，产生光电子发射的效率将增大，但光电倍增管窗材料对光的吸收也随之增大。显然，光电倍增管的短波响应的极限主要取决于窗材料，而长波响应的极限主要取决于阴极和打拿极材料的性能。一般用于可见-红外光谱区的光电倍增管用玻璃窗，而用于紫外光谱区的用石英窗。光阴极一般选用表面功函数低的碱金属材料，如红外谱区选用银-氧-铯阴极，可见光谱区用锑-铯阴极或铋-银-氧-铯阴极，而紫外谱区则采用多碱光电阴极或锑-碲阴极。光电倍增管的灵敏度S是指在1lm的光通量照射下所输出的光电流强度，即S=i/F，单位为µ A/lm。显然，灵敏度随入射光的波长而变化，这种灵敏度称为光谱灵敏度，而描述光谱灵敏度随波长而变化的曲线称为光谱响应曲线(见右图)，由此可确定光电倍增管的工作光谱区和最灵敏波长。例如我们常用的R427光电倍增管，其曲线偏码为250S，光谱响应范围为160-320nm，峰值波长200nm，光阴极材料Cs-Te，窗口材料为熔炼石英，典型电流放大率3.3×10[sup]6[/sup]。1.2 暗电流与线性响应范围光电倍增管在全暗条件下工作时，阳极所收集到的电流称为暗电流。对某种波长的入射光，光电倍增管输出的光电流为： i= KI[sub]i[/sub]+i[sub]0 [/sub]，式中，I[sub]i[/sub]对应于产生光电流i的入射光强度，k为比例系数，i[sub]0[/sub]为暗电流。由此可见，在一定的范围内，光电流与入射光强度呈线性关系，即为光电倍增管的线性响应范围。当入射光强度过大时，输出的光电流随光强的增大而趋向于饱和（见上图）。线性响应范围的大小与光阴极的材料有关。暗电流的来源主要是由于极间的欧姆漏阻、阴极或其他部件的热电子发射以及残余气体的离子发射、场致发射和玻璃闪烁等引起。当光电倍增管在很低电压下工作时，玻璃芯柱和管座绝缘不良引起的欧姆漏阻是暗电流的主要成分，暗电流随工作电压的升高成正比增加；当工作电压较高时，暗电流主要来源于热电子发射，由于光电阴极和倍增极材料的电子溢出功很低，甚至在室温也可能有热电子发射，这种热电子发射随电压升高暗电流成指数倍增；当工作电压较高时，光电倍增管内的残余气体可被光电离，产生带正电荷的分子离子，当与阴极或打拿极碰撞时可产生二次电子，引起很大的输出噪声脉冲，另外高压时在强电场作用下也可产生场致发射电子引起噪声，另外当电子偏离正常轨迹打到玻壳上会出现闪烁现象引起暗电流脉冲，这一些暗电流均随工作电压升高而急剧增加，使光电倍增管工作不稳定，因此为了减少暗电流，对光电倍增管的最高工作电压均加以限制。

直读光谱仪是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成，利用光谱仪可测量物体表面反射的光线，。阳光中的七色光是肉眼能分的部分(可见光)，但若通过光谱仪将阳光分解，按波长排列，可见光只占光谱中很小的范围，其余都是肉眼无法分辨的光谱，如红外线、微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影，或电脑化自动显示数值仪器显示和分析，从而测知物品中含有何种元素。 光谱仪标准化样品必须在制做元素工作曲线的同时，把标准化样品激发，以保证曲线没有偏移和给定值是正确的。显然，标准化样品的数量希望尽可能少些。因为标准化样品价格很贵，对每个样品操作又需要额外时间。在一点标准化中，只需要高的或低含量的标准就够了，如果样品能复盖的含量范围较宽，又要在低含量时有较高的精度才需要二点标准化。这时要有二种标样：一为高标，一为低标。或者每个标样中可包含一些高浓度元素和另一些低浓度元素，只要它们能包括所有元素就行。高浓度和低浓度值不一定正好在校准范围的最高端或最低端。但是它们应该接近这个范围的最高端和最低端；它们之间应有足够的差值。 造成直读光谱仪曲线漂移的因素很多，透镜受到污染形成涂层而引起、激发过程中电极长尖现象，使曲线显示背景增大，氩气流量，压力、纯度的变化等原因也能造成曲线的漂移，特别应该指出的是C、P、S元素的光谱线位于远紫外区，它的变化特别敏感；如果我们发现了这种变化，立即进行直读光谱仪标准化是非常必要的。

我用的ARL4460直读光谱仪分析氮元素老是不稳定，请高手指教应注意哪些？

使用ARL4460直读光谱仪分析P Al Pb元素的分析结果不稳定什么原因？请教高手，谢谢~！！！

目前使用四台8860光谱，其中一台每次更换完氩气后N元素分析不稳定，其他三台无异常。那台异常光谱，换气候N元素不稳定，尝试更新高低标，发现N强度与上一次更新差异大，更新完可以临时使用，但是过段时间发现N元素再次异常， 重新高低标更新，发现强度再次变回换气前强度。原因不明。大家有遇到过类似问题吗，有什么好办法解决吗

斯派克光谱仪M8最近测试出现铁元素很不稳定，测试值有时突然很高，有时还出现大于号，不知道是什么问题？

一、引言 　　X线诊断的医疗照射是全人类所受人工电离辐射照射的最大来源。X光机作为X射线诊断的主要仪器自然就备受世人关注，包括X光机的质量与性能如何，辐射的剂量多少等等。检定规程主要从射线的空气比释动能率、辐射输出的质、重复性、线性、分辨力、辐射野与光野一致性、X射线管的焦点等技术指标来控制X光机的质量与性能。本文主要讨论采用星卡法测量X光机焦点的技术问题。 二、焦点检测的意义 　　焦点检测中的几个术语，如实际焦点：靶面上阻拦截止加速粒子束的区域；有效焦点：实际焦点在基准平面上垂直投影。规程上用星卡测得的焦点并非制造商所标称的有效焦点的尺寸是成像性能的“等效”焦点，因为它是焦点的大小、球管阳极的倾角、焦点上X射线量的分布和焦点平面度等因素的总和。 　　医用X光机焦点检定的意义。 　　(1)保证成像质量。X光机成像质量的一个关键性的参数是清晰度，如果清晰度极差，就起不到诊断的作用，X光机中影响清晰度的因素很多，但其中等效焦点大小是影响清晰度的一个重要参数。 　　(2）精确测量焦点大小的变化，并配合其它量的测量，能检验高压电路中的元件的功能，尤其是X线管真空度是否降低。 　　既然医用X光机的焦点影响成像性能即清晰度，那么球管的焦点单独从诊断效果来看是越小越好、这是因为焦点越大，则投影时所产生的半影也越大，而影像的边缘就愈模糊。这对疾病的诊断极为不利。若从X线管的功率来看，焦点越大，散热性能越好，功率越大，X光机的用途就越广，所以球管的焦点应在一定功率的情况下越小越好。 三、焦点的检测 　　(1)暗盒的使用 　　在用星卡法测量X光机焦点时，一般不用带增感屏的暗盒，规程测量条件也是在没有增感屏的情况下进行检测的；调整暗盒与球管焦点间的距离，一般在(1.00~1.50)米左右拍出来的效果较佳。 　　(2)星卡的摆放 　　将星卡置于射线野的中心，调整星卡使其平面与X射线束的中心轴垂直，中心点与射线束的中心轴重合；在光野与照射野一致性检定合格条件下，可以根据光野调整星卡，即调整星卡使其中心点在暗盒上投影与准直器十字交叉点在暗盒上的投影重合。 　　焦斑放大倍率的确定，X光机的焦点是一个点面，如果用测量焦点与星卡和焦点与底片间距离来确定放大倍率，由于不是成简单三角形关系而是成梯形关系，不能确定放大倍率，若球管焦点越大则其对放大倍率的估计偏差也越大；可以通过测量星卡在底片上投影的直径与星卡本身直径的比例，更直观、更准确地确定放大倍率。

我单位使用的斯派克公司m7型光电直读光谱仪已经用了近十年，这几年来碳元素不太稳定，最近隔几个小时工作时测定含量时会突然高十几二十个，如0.23％的会检测结果为0.38％。但过一会又恢复正常。请问是什么原因？有办法解决吗？这种现象是仪器内部故障的前兆吗？

[url=http://www.huaketiancheng.com/][b][font=宋体]ICP光谱仪[/font][/b][/url][font=宋体]的光电转换器件是光电光谱仪接收系统的核心部分，也是[b]光谱仪检测分析[/b]的准要部件。主要是利用光电效应将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。光电转换器件主要有两大类：一类是光电发射器件，例如光电管与光电倍增管，当辐射作用于器件中的光敏材料上，使发射的电子进入真空或气体中，并产生电流，这种效应称光电效应；另一类是半导体光电器件，包括固体成像器件，当辐射能作用于器件中光敏材料时，所产生的电子通常不脱离光敏材料，而是依靠吸收光子后所产生的电子[/font][font=&]-[/font][font=宋体]空穴对在半导体材料中自由运动的光电导（即吸收光子后半导体的电阻减小，而电导增加）产生电流的，这种效应称内光电效应。[/font][font=宋体]光电转换元件种类很多，但在光电光谱仪中的光电转换元件要求在紫外至可见光谱区域（[/font][font=&]160-800nm[/font][font=宋体]）很宽的波长范围内有很高的灵敏度和信噪比，很宽的线性响应范围，以及快的响应时间。[/font][font=宋体]目前可应用于光电光谱仪的光电转换元件有以下两类：即光电倍增管及固体成像器件。[b][font=宋体] 光电倍增管[/font][/b][font=&] [/font][font=宋体]外光电效应所释放的电子打在物体上能释放出更多的电子的现象称为二次电子倍增。光电倍增管就是根据二次电子倍增现象制造的。它由一个光阴极、多个打拿极和一个阳极所组成，见图，每一个电极保持比前一个电极高得多的电压（如[/font][font=&]100V[/font][font=宋体]）。当入射光照射到光阴极而释放出电子时，电子在高真空中被电场加速，打到第一打拿极上。一个入射电子的能量给予打拿极中的多个电子，从而每一个入射电子平均使打拿极表面发射几个电子。二次发射的电子又被加速打到第二打拿极上，电子数目再度被二次发射过程倍增，如此逐级进一步倍增，直到电子聚集到管子阳极为止。通常光电倍增管约有十二个打拿极，电子放大系数（或称增益）可达[/font][font=&]10[sup]8[/sup][/font][font=宋体]，特别适合于对微弱光强的测量，普遍为光电直读光谱仪所采用。[/font][font=&][size=14px] [/size][/font][font=宋体][size=14px]光电倍增管的窗口可分为侧窗式和端窗式两种[/size][/font][b][font=宋体] [/font][/b][font=宋体] 光电倍增管的基本特性[/font][font=&]1)[size=9px] [/size][/font][font=宋体]灵敏度和工作光谱区[/font][font=&] [/font][font=宋体]光电倍增管的灵敏度和工作光谱区主要取决于光电倍增管阴极和打拿极的光电发射材料。当入射到阴极表面的光子能量足以使电子脱离该表面时才发生电子的光电发射，即[/font][font=&]1/2mv[sup]2[/sup]=h[/font][font=Symbol]n[/font][font=&]-[/font][font=宋体]ф,([/font][font=&] h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]为光子能量，ф为电子的表面功函数，[/font][font=&]1/2mv[sup]2[/sup][/font][font=宋体]为电子动能[/font][font=&])[/font][font=宋体]。当[/font][font=&]h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体][/font][font=宋体]ф时，不会有[/font][font=宋体]表面光电发射，而当[/font][font=&]h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]=[/font][font=宋体]ф时，才有可能发生光电发射，这时所对应的光的波长λ=C/[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]称为这种材料表面的阈波长。随着入射光子波长的减小，产生光电子发射的效率将增大，但光电倍增管窗材料对光的吸收也随之增大。显然，光电倍增管的短波响应的极限主要取决于窗材料，而长波响应的极限主要取决于阴极和打拿极材料的性能。一般用于可见-红外光谱区的光电倍增管用玻璃窗，而用于紫外光谱区的用石英窗。光阴极一般选用表面功函数低的碱金属材料，如红外谱区选用银-氧-铯阴极，可见光谱区用锑-铯阴极或铋-银-氧-铯阴极，而紫外谱区则采用多碱光电阴极或梯-碲阴极。[/font][font=宋体]光电倍增管的灵敏度S是指在1lm的光通量照射下所输出的光电流强度，即S=i/F，单位为[/font][font=宋体]μ[/font][font=宋体]A/lm[/font][font=宋体]。显然，灵敏度随入射光的波长而变化，这种灵敏度称为光谱灵敏度，而描述光谱灵敏度随波长而变化的曲线称为光谱响应曲线(见[/font][font=宋体]右[/font][font=宋体]图)，由此可确定光电倍增管的工作光谱区和最灵敏波长。例如我们常用的R427光电倍增管，其曲线偏码为250S，光谱响应范围为160-320nm，峰值波长200nm，光阴极材料Cs-Te，窗口材料为熔炼石英，典型电流放大率3.3×10[sup]6[/sup]。[/font][font=宋体]2)[font=&] [/font][/font][font=宋体]暗电流与线性响应范围[/font][size=14px][font=宋体]光电倍增管在全暗条件下工作时，阳极所收集到的电流称为暗电流。对某种波长的入射光，光电倍增管输出的光电流为： i= KI[sub]i[/sub]+i[sub]0 [/sub]，式中，I[sub]i[/sub]对应于产生光电流i的入射光强度，k为比例系数，i[sub]0[/sub]为暗电流。由此可见，在一定的范围内，光电流与入射光强度呈线性关系，即为光电倍增管的线性响应范围。当入射光强度过大时，输出的光电流随光强的增大而趋向于饱和（见右图）。线性响应范围的大小与光阴极的材料有关。[/font][/size][font=宋体]暗电流的来源主要是由于极间的欧姆漏阻、阴极或其他部件的热电子发射以及残余气体的离子发射、场致发射和玻璃闪烁等引起。[/font][font=宋体]当光电倍增管在很低电压下工作时，玻璃芯柱和管座绝缘不良引起的欧姆漏阻是暗电流的主要成分，暗电流随工作电压的升高成正比增加；当工作电压较高时，暗电流主要来源于热电子发射，由于光电阴极和倍增极材料的电子溢出功很低，甚至在室温也可能有热电子发射，这种热电子发射随电压升高暗电流成指数倍增；当工作电压较高时，光电倍增管内的残余气体可被光电离，产生带正电荷的分子离子，当与阴极或[/font][font=宋体]打拿极碰撞时可产生二次电子，引起很大的输出噪声脉冲，[/font][font=宋体]另外高压时在强电场作用下也可产生场致发射电子引起[/font][font=宋体]噪声，[/font][font=宋体]另外当电子偏离正常轨迹打到玻壳上会出现闪烁现象引起暗电流脉冲，这一些暗电流均随工作电压升高而急剧增加，使光电倍增管工作不稳定，因此为了减少暗电流，对光电倍增管的最高工作电压均加以限制。[/font][font=宋体]3)[font=&] [/font][/font][font=宋体]噪声和信噪比[/font][size=14px][font=宋体]在入射光强度不变的情况下，暗电流和信号电流两者的统计起伏叫做噪声。这是由光子和电子的量子性质而带来的统计起伏以及负载电阻在光电流经过时其电子的热骚动引起的。输出光电流强度与噪声电流强度之比值，称为信噪比。显然，降低噪声，提高信噪比，将能检测到更微弱的入射光强度，从而大大有利于降低相应元素的检出限。[/font][/size][font=宋体]4)[font=&] [/font][/font][font=宋体]工作电压和工作温度[/font][font=宋体]光电倍增管的工作电压对光电流的强度有很大的影响，尤其是光阴极与第一打拿极间的电压差对增益（放大倍数）、噪声的影响更大。因此，要求电压的波动不得超过0.05%，应采用高性能的稳压电源供电，但工作电压不许超过最大值（一般为-900v-1000v），否则会引起自发放电而损坏管子，工作环境要求恒温和低温，以减小噪声。[/font][font=宋体]5)[font=&] [/font][/font][font=宋体]疲劳和老化[/font][font=宋体]在入射光强度过大或照射时间过长时，光电倍增管会出现光电流衰减、灵敏度骤降的疲劳现象，这是由于过大的光电流使电极升温而使光电发射材料蒸发过多所引起。在停歇一段时间后还可全部或部分得到恢复。光电倍增管由于疲劳效应而灵敏度逐步下降，称为老化，最后不能工作而损坏。过强的入射光会加速光电倍增管的老化损坏，因此，不能在工作状态下（光电倍增管加上高压时）打开光电直读光谱仪的外罩，在日光照射下，光电倍增管很快便损坏。[/font][font=宋体] 光电测量原理[/font][font=宋体]光电检测的原理一般是通过光电接受元件将待测谱线的光强转换为光电流，而光电流由积分电容累积，其电压与入射光的光强成正比，测量积分电容器上的电压，便获得相应的谱线强度的信息。不同的仪器其检测装置具有不同的类型，但其测量原理是一样的。其光电检测系统主要有以下四个部分组成：[/font][font=&]1.[/font][font=宋体]光电转换装置，[/font][font=&]2.[/font][font=宋体]积分放大电路及其开关逻辑检测，[/font][font=&]3.A/D[/font][font=宋体]转换电路，[/font][font=&]4.[/font][font=宋体]计算机系统。[/font][/font]

电致化学发光作为一种分析技术,不仅可用于化学分析,而且正在被越来越多地用于生物检测和传感技术中。电致化学发光生物分析是最近发展起来的一种新型的分析方法,是化学发光、电化学、生物分析、微电子技术以及传感技术相结合的最新产物,主要用于临床、农业、环境监测等领域。电致化学发光(ECL) 是某些具有电致化学发光活性的物质处在一定的电位时,与溶液中氧化还原物质作用生成的不稳定激发态迁移回基态时所导致的化学发光。ECL 生物传感器技术主要应用在免疫标记技术、生物化学固定化技术与微细加工技术等方面。　 电化学发光免疫 免疫分析研究的物质基础是抗体和抗原,对抗原和抗体进行特殊标记是免疫技术的关键。 电致化学发光免疫分析技术( ECL IA) 是利用化学发光剂作为标记物标记抗体或抗原而形成稳定的复合物。当这种复合物与被检测物中对应的抗原或抗体结合后,在加电电极的作用下激发出特异的光,根据发光的强度可检测出被测物的浓度等参数值。ECL 免疫分析可分为直接法、双夹心法和竞争法等3 种方法,其中直接法主要用于检测抗体,双夹心法主要用于测定大分子抗原,竞争法主要用于测定小分子抗原。电致化学发光技术正被越来越多地应用在生物分析领域中,用于蛋白质、激素、肿瘤、病毒、毒物等成分析检测,服务于临床、卫生、食品、环保和军事等领域。 电化学发光与生物化学固定化技术 在20 世纪90 年代中期, 有研究者将磁珠 应用到电致化学发光免疫检测中,其原理是使用物理吸附、包埋和共价结合等生化固定方法通过聚合物将抗体(抗原) 固定在纳米级的磁珠上,注射到装有电极的反应池中,电磁场将磁珠吸附在反应池的底部 然后将待测物质溶液注射到反应池中,待测物质溶液中的目标抗原(抗体) 与固定在磁珠表面的抗体(抗原) 结合,其它的非目标物质则被从反应池中冲洗掉 再将发光剂标记的抗体(抗原) 注射到反应池中,最终形成偶联磁珠抗体(抗原)2待测目标抗原(抗体)-发光剂标记的抗体(抗原) 夹心复合体。形成的复合体在加电电极的作用下会产生特异性发光,通过检测发光强度,可测出待测目标物质的含量。磁珠固定方法有效解决了免疫检测过程中非特异物质有效分离的问题,大大提高了检测灵敏度,在免疫检测中得到越来越广泛地使用。磁珠ECL 技术不仅可用于免疫检测中,还可用于酶及底物、DNA 等对象的分析和检测。　 电化学发光与微细加工技术 由于生物芯片特别是基因芯片技术的发展,越来越多的人看到了ECL 技术应用到生物芯片上的诱人前景。ECL 反应池、电极被制作得越来越小,分析所需的样品量也随之越来越少,而检测精度却越来越高。半导体光刻技术、厚膜薄膜技术、丝网印刷技术等应用于其它高科技领域的技术被引用到制作电致化学发光分析系统中,为该系统拓展了一个全新的发展空间,使系统的集成度和微型化等性能得到大幅度的提高。 Fiaccabrino等设计了磁珠流动注射式ECL 检测装置,在5 mm ×6 mm 的硅基片上制作了微型的ECL 探针,包括电极、反应池和电传感器。电极为金或铂金的插指电极,用光刻的方法刻蚀在硅基片上,1 mm 长即包含125 对电极,每个电极宽3. 2μm ,电极间距0. 8μm 反应池用覆盖在硅片上环氧树脂刻蚀而成,光电二极管紧贴反应池,接收ECL 反应产生的光,以检测被测物质的含量,反应池可容纳的溶液量为2. 25μL 。该装置被用于检测可待因,线性范围为0. 1～2 mmol/ L 用于检测葡萄糖,其线性范围为50～500 mol/ L 。 随着毛细管电泳(CE) 芯片技术的发展,ECL 与CE 芯片的联合应用的报道越来越多。电致化学发光检测技术应用到生物检测和分析中,为生物检测提供了一种全新的手段。由于这种方法具有精度高、应用范围广和易于集成等优点,使它将成为生物技术领域的一种主要检测方式。

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影响激光粒度分析仪测试效果的几点关键因素 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 李文涛 影响激光粒度分析仪器测试效果的因素有很多，本文讨论以下几点三点关键因素：光路对中，仪器校准，样品分散。 一 光路对中对中是指激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，激光粒度仪在测试前首先要保证激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，并且在测试过程中不偏移，才能得到正确的结果。目前粒度仪采用的都是两维对中系统，一般采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力，步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接，导致三个器件的中心不在一条直线上，且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大，导致对中系统不稳定，不能快速而准确地完成对中，现有对中系统都没有限位系统，如果光路本身出现问题，对中系统就会出现误判断，一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。针对现有技术的不足，微纳公司提供一种设计合理、结构简单紧凑、使用方便的三维自动对中系统。为了提高对中系统的精准度，减小空转长度，采用带丝杠的步进电机作为动力部件。为了提高对中系统的稳定性，采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件。为提高对中速度和防止出现误操作，采用光电传感器与限位片结合的方式来限位。新型的三维自动对中系统与现有技术相比，具有如下优越的特点：1、实现了三维自动对中。2、设计合理、结构简单紧凑。方便实用，可用于各型号激光粒度分析仪。3、采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。4、采用光电传感器与限位片结合的方式来限位，能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。二 仪器校准此处要谈到了仪器校准不单单是对仪器采用国家标准物质进行仪器准确度的校正，仪器校准应包括以下几方面的内容：1、仪器光学基准只有在保证仪器光学系统工作正常的情况下，仪器的校准才有意义。光学窗口是激光粒度分析仪器重要的组成部分，因此测试前应保证光学窗口内外表面光洁，无划痕，清洁，无缺损。光学基准谱平滑依次过渡，无明显突起或凹陷。2、外界条件对仪器的影响外界条件主要包括环境的湿度，温度和电源电压的波动对仪器测试结果的影响。3、仪器测量重复性将仪器预热到规定时间，采用一种国家标准物质进行多次测试，一般测试样品6－10次，记录每次D50,计算测量平均值，标准偏差和相对标准偏差。4、仪器测量相对误差与仪器重复性测量不同的是，仪器相对误差的测试要采用至少三种样品以上的国家标准物质进行测试，每种样品独立测量3次并分别求其平均值，获得多个粒度测量的平均值，分别计算仪器测量平均值与粒度表标准物质标准值间的相对误差。5、仪器分辨力仪器分辨力的判断是采用测试两种样品混合测试的方法，两种粒度标准物质的移取量要根据其质量浓度而定，确保混合后的样品中标准物质的质量浓度比为1：2，将样品混合均匀后加入仪器进行测量。应能够从仪器测量粒度分布曲线图中能够观察出2个独立不相连的峰形，则认为双峰已分开。三 样品分散1、粉体溶液浓度对测定结果的影响蒸馏水作分散介质，不加表面活性剂，配制不同浓度的金刚砂试样溶液3份，超声搅拌1 min，然后进行粒度测定。粉体试样浓度较小时，所测得的粒径较小、粒度分布范围也较窄(由其粒度分布曲线可看出)；当粉体试样浓度较大时，因复散射及颗粒容易团聚，所测得的粒径偏大、粒度分布范围较宽(由其粒度分布曲线可看出)，测试结果误差较大。但以上结果并不能说明粉体试样浓度越小越好，因为浓度小到一定程度时，样品中的颗粒已经大大减少，太少的颗粒数会产生较大的取样及测量随机误差，这时的样品已无代表性，所以测量时也应该控制浓度的下限范围，在一般测试情况下，样品遮光度一般仪器10％－15％为宜。2、分散时间对测定结果的影响以蒸馏水作分散介质，不加表面活性剂，配制一定浓度的试样溶液3份，分别用超声波分散器分散不同时间，然后进行粒度测定，结果表明在一定的时间段内分散时间越长，测试效果小，但是也应考虑样品破碎的情况。3、分散介质对测定结果的影响进行粉体的粒度测试时，选择的分散介质不仅应该对粉体有浸润作用，同时又要成本低、无毒、无腐蚀性。通常使用的分散介质有水、水+甘油、乙醇、乙醇+水、乙醇+甘油、环乙醇等，粉末较粗时可选用水或水加甘油作分散介质，粉末较细时可选用乙醇或乙醇加水作分散介质。乙醇的浸润作用比水强，因而更容易使颗粒得到充分分散。4、分散剂种类及浓度对测定结果的影响选择合适的分散剂是当今研究的热点，而分散剂中使用最多的是表面活性剂。表面活性剂的类型主要有：阴离子表面活性剂、阳离子表面活性剂、两性表面活性剂、非离子表面活性剂、特殊类型表面活性剂等。粉体在水中通常是带电的，加入具有同种电荷的表面活性剂，由于电荷之间的相互排斥而阻碍了表面吸附，从而可达到分散粉体的目的。不同的表面活性剂对不同种类的粉体分散效果不同，在测定时要比较几种表面活性剂的分散效果，最后确定一种最理想的表面活性剂。分散剂的浓度对测定结果也有一定影响，使用时应加以控制。以聚丙烯酰胺为例，比较不同分散剂浓度下的玻璃粉体分散效果。试验过程中发现，分散剂浓度过高时，溶液内发生了絮凝现象(这也是导致粒度测定结果升高的原因之一)。5、粉体试样溶液温度对测定结果的影响以蒸馏水作分散介质，不用表面活性剂，配制相同浓度的矿渣粉体试样溶液6份，用超声波分散器分散5 min，分别在不同温度下测试，随着温度的升高，颗粒粒度有变小的趋势。这是因为温度高有利于颗粒分散，温度低则颗粒易团聚，增大了测量误差。但试验温度不宜过高，因35℃以上粒度减小的趋势已不明显，且粒度仪也不适宜在高温下运行。由此可见，粉体试样溶液的温度宜保持在20～35℃范围内。从以上所述可以看出，要应用激光粒度分析仪准确地测试出一种样品的粒度结果，要对很对因素进行研究。

我们的ＡＲＬ３４６０光谱仪最近不稳定，刚刚做过标准化激发不了５个点就时而持续走高，时而持续走低。一般持续的走高、走低不会超过６个激发点，根本不能使用。请大家支个招！

原子吸收光谱仪在测定样品时，火焰是很重要的一部分，火焰是否稳定，对于分析结果的精密度有很大的影响，火焰不稳定导致实验测试结果RSD大，那么火焰不稳定的因素有哪些了？我们来讨论一下吧！1、空气流量与乙炔流量比例不合适；2、实验室环境影响（比如实验室有风或者抽风对火焰有影响）我感觉有以上两点，欢迎大家讨论，补充！

影响激光粒度分析仪测试效果的几点关键因素 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 李文涛 影响激光粒度分析仪器测试效果的因素有很多，本文讨论以下几点三点关键因素：光路对中，仪器校准，样品分散。 一 光路对中对中是指激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，激光粒度仪在测试前首先要保证激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心，并且在测试过程中不偏移，才能得到正确的结果。目前粒度仪采用的都是两维对中系统，一般采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力，步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接，导致三个器件的中心不在一条直线上，且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大，导致对中系统不稳定，不能快速而准确地完成对中，现有对中系统都没有限位系统，如果光路本身出现问题，对中系统就会出现误判断，一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。针对现有技术的不足，微纳公司提供一种设计合理、结构简单紧凑、使用方便的三维自动对中系统。为了提高对中系统的精准度，减小空转长度，采用带丝杠的步进电机作为动力部件。为了提高对中系统的稳定性，采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件。为提高对中速度和防止出现误操作，采用光电传感器与限位片结合的方式来限位。新型的三维自动对中系统与现有技术相比，具有如下优越的特点：1、实现了三维自动对中。2、设计合理、结构简单紧凑。方便实用，可用于各型号激光粒度分析仪。3、采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。4、采用光电传感器与限位片结合的方式来限位，能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。二 仪器校准此处要谈到了仪器校准不单单是对仪器采用国家标准物质进行仪器准确度的校正，仪器校准应包括以下几方面的内容：1、仪器光学基准只有在保证仪器光学系统工作正常的情况下，仪器的校准才有意义。光学窗口是激光粒度分析仪器重要的组成部分，因此测试前应保证光学窗口内外表面光洁，无划痕，清洁，无缺损。光学基准谱平滑依次过渡，无明显突起或凹陷。2、外界条件对仪器的影响外界条件主要包括环境的湿度，温度和电源电压的波动对仪器测试结果的影响。3、仪器测量重复性将仪器预热到规定时间，采用一种国家标准物质进行多次测试，一般测试样品6－10次，记录每次D50,计算测量平均值，标准偏差和相对标准偏差。4、仪器测量相对误差与仪器重复性测量不同的是，仪器相对误差的测试要采用至少三种样品以上的国家标准物质进行测试，每种样品独立测量3次并分别求其平均值，获得多个粒度测量的平均值，分别计算仪器测量平均值与粒度表标准物质标准值间的相对误差。5、仪器分辨力仪器分辨力的判断是采用测试两种样品混合测试的方法，两种粒度标准物质的移取量要根据其质量浓度而定，确保混合后的样品中标准物质的质量浓度比为1：2，将样品混合均匀后加入仪器进行测量。应能够从仪器测量粒度分布曲线图中能够观察出2个独立不相连的峰形，则认为双峰已分开。三 样品分散1、粉体溶液浓度对测定结果的影响蒸馏水作分散介质，不加表面活性剂，配制不同浓度的金刚砂试样溶液3份，超声搅拌1 min，然后进行粒度测定。粉体试样浓度较小时，所测得的粒径较小、粒度分布范围也较窄(由其粒度分布曲线可看出)；当粉体试样浓度较大时，因复散射及颗粒容易团聚，所测得的粒径偏大、粒度分布范围较宽(由其粒度分布曲线可看出)，测试结果误差较大。但以上结果并不能说明粉体试样浓度越小越好，因为浓度小到一定程度时，样品中的颗粒已经大大减少，太少的颗粒数会产生较大的取样及测量随机误差，这时的样品已无代表性，所以测量时也应该控制浓度的下限范围，在一般测试情况下，样品遮光度一般仪器10％－15％为宜。2、分散时间对测定结果的影响以蒸馏水作分散介质，不加表面活性剂，配制一定浓度的试样溶液3份，分别用超声波分散器分散不同时间，然后进行粒度测定，结果表明在一定的时间段内分散时间越长，测试效果小，但是也应考虑样品破碎的情况。3、分散介质对测定结果的影响进行粉体的粒度测试时，选择的分散介质不仅应该对粉体有浸润作用，同时又要成本低、无毒、无腐蚀性。通常使用的分散介质有水、水+甘油、乙醇、乙醇+水、乙醇+甘油、环乙醇等，粉末较粗时可选用水或水加甘油作分散介质，粉末较细时可选用乙醇或乙醇加水作分散介质。乙醇的浸润作用比水强，因而更容易使颗粒得到充分分散。4、分散剂种类及浓度对测定结果的影响选择合适的分散剂是当今研究的热点，而分散剂中使用最多的是表面活性剂。表面活性剂的类型主要有：阴离子表面活性剂、阳离子表面活性剂、两性表面活性剂、非离子表面活性剂、特殊类型表面活性剂等。粉体在水中通常是带电的，加入具有同种电荷的表面活性剂，由于电荷之间的相互排斥而阻碍了表面吸附，从而可达到分散粉体的目的。不同的表面活性剂对不同种类的粉体分散效果不同，在测定时要比较几种表面活性剂的分散效果，最后确定一种最理想的表面活性剂。分散剂的浓度对测定结果也有一定影响，使用时应加以控制。以聚丙烯酰胺为例，比较不同分散剂浓度下的玻璃粉体分散效果。试验过程中发现，分散剂浓度过高时，溶液内发生了絮凝现象(这也是导致粒度测定结果升高的原因之一)。5、粉体试样溶液温度对测定结果的影响以蒸馏水作分散介质，不用表面活性剂，配制相同浓度的矿渣粉体试样溶液6份，用超声波分散器分散5 min，分别在不同温度下测试，随着温度的升高，颗粒粒度有变小的趋势。这是因为温度高有利于颗粒分散，温度低则颗粒易团聚，增大了测量误差。但试验温度不宜过高，因35℃以上粒度减小的趋势已不明显，且粒度仪也不适宜在高温下运行。由此可见，粉体试样溶液的温度宜保持在20～35℃范围内。 从以上所述可以看出，要应用激光粒度分析仪准确地测试出一种样品的粒度结果，要对很对因素进行研究。

光栅摄谱仪和光电直读光谱仪的优缺点比较：　　光栅摄谱仪的优点是： 　　(1)适用的波长范围广; 　　(2)具有较大的线色散率和分辨率，且色散率仅决定于光栅刻线条数而与光栅材料无关; 　　(3)线色散率与分辨率大小基本上与波长无关。其不足之处是光栅会产生罗兰鬼线以及多级衍射线间的重叠而出现谱线干扰。 　　光电直读光谱仪的优点是： 　　(1)分析速度快; 　　(2)准确度高，相对误差约为1%; 　　(3)适用于较宽的波长范围; 　　(4)光电倍增管对信号放大能力强，对强弱不同谱线可用不同的放大倍率，相差可达10000倍，因此它可用同一分析条件对样品中多种含量范围差别很大的元素同时进行分析; 　　(5)线性范围宽，可做高含量分析。 　　缺点为：出射狭缝固定，能分析的元素也固定，也不能利用不同波长的谱线进行分析;价格昂贵。