光谱反射仪

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

光谱反射仪（SR）系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。SR 系列特征：简单易操作 最佳系统性能基于先进的光学设计 基于阵列的探测器系统保证快速测量 测量薄膜厚度和折射率可达5层 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱 可用于实时或在线厚度，折射率的监测 系统具有全面的光学常数数据库 先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。 可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的直接测量图案或功能结构 适用于多种不同厚度的基材 各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口光谱反射仪型号：SR100SR300SR500

1. 产品概要SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。2. 主要功能与优势半自动桌面质量控制SENTECH RM 1000 QC是一款光学反射仪，用于对图案化基板上的薄膜和散装材料进行质量控制。它是小规模和大规模生产中随机抽样、工具鉴定和统计过程控制 （SPC） 的理想选择。通过手动晶圆处理对图案化晶圆进行质量控制SENTECH RM 1000 QC 易于手动装载。然后，对于图案化的 200 mm 晶圆，模式识别、映射测量、分析以及报告结果和统计信息都自动化。集成到实验室和晶圆厂环境中SENTECH RM 1000 QC 可选择通过 SECS/GEM 集成到制造执行系统中。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 QC 光谱反射仪提供法向入射的反射率光谱，SENTECH SpectraRay/4 软件分析的参数包括薄膜厚度、吸收、成分、能隙、颜色和光谱带宽。模式识别用于测量结构化样本。该工具的操作流程其简单，只需放置晶圆，启动自动化过程，工具就会返回准确的模式识别、测量和映射，以及精确、可重复的统计结果。SpectraRay/4 是用于 SENTECH RM 1000 QC 的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

1. 产品概述RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。2. 主要功能与优势突破折光率测量的限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围RM1000 410 纳米 – 1000 纳米RM2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

显微反射光谱仪，YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点，实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计，用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜，采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上，搭配专业的分析和数据采集软件，可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计，配置灵活，根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置：常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷：通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件，提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容，请关注下方！

1. 产品概述FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。2. 主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。3. 灵活性和模块化 SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。

1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪，采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构，操作简单，反馈迅速，能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性，尺寸控制在类似手机大小，不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用，HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口，通过接口可直接进行外部光信号采样，或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角，这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头，连接光纤即可进行便捷的反射率测量，且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱，得到光信号信号反馈；? 仪器小巧，续航持久，可应用于各种场景；? 附件丰富，可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：1. 测量范围与精度： - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能： - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理： - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持： - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。 - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势： - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域： - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。

仪器简介：微型化NIR/MIR光谱分析仪 微反射镜光谱仪装置，类似于传统的扫描光谱仪，跟衍射光栅相结合的扫描微反射镜是必要的组成元件。通过周期性地散射复色光，分解光谱为单个探测器所探测。光可以直接或通过光纤耦合来测量，样品固定方便。探测器根据应用可以进行热制冷。低噪声的前置放大器允许大动态范围的高精度测量。经USB或RS-485接口，可以跟PC相连接，采集数据可进一步分析处理。技术参数：指标： 参数 NIR MIR 波长范围 0.6-1.7um 0.9-2.1um 2.5-5um 5-10um 光谱精度 9nm 12nm 30nm 50nm 信噪比 7000:1 1000:1 500:1 500:1 波长准确度 0.5nm 2nm 基本测量时间 4ms 4ms 外观尺寸 107× 66× 80mm 107× 110× 80mm 电源 9-18V/18-36V主要特点：特点： 快速高效地测量 紧凑、便携 抗振、重量轻

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

全光谱反射滤光片 型号：AREF 光谱范围：200nm-1100nm

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

1 产品简介ARS2000角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪，主要满足客户通过对光子晶体、超导材料等纳米光学材料的反射率、透射率、吸收实现晶体的能带、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光学元器件客户采用ARS实现光学元器件特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。配套的手动式透反射测量支架实现入射角度为0°~120°，接收角度为8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及辐射光谱测量。内部集成的ARM嵌入式系统以及Uspectral Plus软件，实现客户在线测量。同时该系统配置Windows软件，满足客户光谱分析的需求。 2 规格参数产品型号ARS2000主机尺寸230×200×110 mm支架尺寸300×200×230 mm整机重量3.2kg光谱波段350nm～1050nm光纤配置600μm UV-VIS嵌入式主板Linux系统QT界面显示屏幕7寸显示屏钨灯光源5W光纤输出接口SMA905积分时间8ms-5s入射角度0-120°接收角度8-180°角度分辨率0.1°载物台高度0-5cm光斑直径0.56cm控制软件嵌入式供电接口AC 220V#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 专 业： 满足辐射、透射、反射、散射等精检测需求 ? 方 便： 易维护，体积小巧、性能稳定，存放方便，易于使用 ? 强 大： 配套功能强大的专业软件包? 存 储： 可通过USB接口实现数据及时存储4 产品应用? 光源测试? 镀膜材料? 光子晶体? 液晶显示? 传感器器件制备? 角度材料相关分析? 纳米光学材料5 操作软件

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。测量反射率的时候，必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射。我们观察到物体的颜色大多数是基于漫反射，而那些非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射和漫反射同时存在。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的，另外需要判断我们是否要接收全部还是部分的反射光。在食品应用中，大多数反射测量都是基于漫反射来测定的。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取反射率值，数据可重复导入读取、使用无需暗室操作应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1010，石英光纤。光纤数量：2积分球SIM-3003-02501，1英寸反射用测光积分球积分球支架BIM-6316-25，积分球支架标准板SIM-6326-30，镜面反射标准板 或 SIM-6304-20，漫反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

集总透过率、可见光透射比、总吸光度、L 、A、 B、sRGB等参数光谱透反射率测试仪集光谱、透过率、反射率、饱和度、L、A、B等参数采用5英寸大屏，各测量参数及曲线实时显示，使用方便快捷，可直接测试 材料和镜片的透过率测试。

FTPadv Expert 综合薄膜测量软件 光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中，使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。 测量n, k,和膜厚该软件包是为R(λ)和T(λ)测量的高级分析而设计的。 叠层膜分析可以测量单个薄膜和层叠膜的每一层的薄膜厚度和折射率。 大量色散模型集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数将计算得到的光谱调整到实测光谱。 用于光谱数据的高级分析的SENTECH FTPadv Expert软件包基于反射和透射测量确定薄膜厚度、折射率指数和消光系数。它扩展了薄膜厚度探针FTPadv的标准软件包，用于更复杂的应用，包括未知或非恒定光学性质的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收衬底上测量单个透明或半透明膜的膜厚、折射率指数和消光系数。该软件允许对复杂层叠进行分析，可以确定各叠层的参数。 FTPadv Expert 薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中的用户友好和基于配方操作的概念。具有突出拟合参数的光学模型、测量和计算的反射光谱，并且结果同时显示在操作屏幕上。 该软件包包括基于表格化材料文件以及参数化分散模型的大型和可扩展的材料库。 FTPadv Expert软件可选配用于膜厚探针FTPadv和反射仪RM 1000和RM 2000软件包的一部分。

PSR 即Laboratory Portable SpectroReflectometer，独特的采用积分球设计对大部分的材料表面进行半球光谱反射率快速测定，光谱范围250 to 2800 nm 。主要根据ASTM E903 规范，对太阳吸收进行测定 .可同时提供用于真空环境测试版本 LPSR 300V.LPSR 300 采用Windows XP 操作系统傻瓜式图形操作界面。自动操作模式可以选择波长起止范围，步进间距。结果显示为不同波长的反射率值，并自动计算太阳吸收。手动模式可选择光源、探测器、狭缝宽度及增益。LPSR 300 是一个独立的测试系统，无需其它硬件。系统提供外接显示器和键盘接口。内置硬盘可存储几千次样品扫描测试结果，非常适合野外和实验室环境使用。 LPSR300 同时系统集成了光学数据库，可以和测试的结果进行比对。 LPSR是根据NASA需求设计研制，用于俄罗斯MIR空间站太空行走Wavelength250 to 2800 nmMonochromatic TypePrism, with selectable wavelength and slit widthRepeatability-250 to 2500 nm- ± 1%-2500 to 2800 nm- ± 2 %Sample sizes0.5 inches in diameter or largerMeasurement typeSpectral Total Hemispherical ReflectanceSpectral resolution with automatic slit control-250 to 2500 nm - better than 5% of wavelength-2500 to 2800 nm - better than 8% of wavelengthFull scan measurement timeLess than 2 minutesPower required115 VAC/60 HzDimensions-Measurement Head: 10 x 12 x 8 inches-PC/Power Box: 9 x 16 x 20 inches-Instrument Head Carrying Case: 10 x 11.5 x 16 inchesWeight-Measurement Head: 15 Pounds-PC/Power Box: 35 PoundsWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably. (Alternative option to SOC, 410, 400T, directional reflectometer

1 产品简介传统测量样品反射率的反射光纤探头光斑直径最小仅能达到1-2mm左右，光斑直径限制了样品的大小以及光谱空间分辨率，而若要获得样品更微小的尺度的光谱信息，通常的做法是与显微系统连用。微区反射光谱测量系统即是将光谱分析技术与显微光路结合，可在微米级尺度上采集样品的光谱信息，广泛应用于物理、化学、生物等行业材料光谱性能研究。 图1：微区反射光谱测量系统本系统采用光纤共焦照明方式，与传统的科勒式照明相比，共焦照明方式可获得更小的采样直径，即具有更高的空间光谱分辨率。如图所示，光源经由光纤接入显微系统，通过显微物镜将光斑大小压缩至微米级别并汇聚在样品平面，样品产生的反射光经由显微系统汇聚在接收光纤端面处，发射光纤端面、接收光纤端面、成像相机平面以及样品平面四面属于共轭关系，从而使得可以实现高精度原位光谱测量。图2：微区反射测量系统原理示意图 此外，系统中所用到的微区反射率转接模块中预留一光谱通道，此通道可支持在反射率光谱基础上拓展添加透射率测量、拉曼光谱测量或荧光光谱测量功能，实现多光谱综合测量。 2 规格参数 光谱模块光谱范围200-2500nm光斑大小取决于显微镜物镜倍数及光纤芯径积分时间1ms-65s光源寿命氘灯：5000hrs钨灯：10000hrs显微模块物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜10X 20X 50X转换器内定位5孔转换器CCD成像可成像载物台双层机械式载物台，尺寸：210mm×140mm；移动范围：63mm×50mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调调焦结构粗微调同轴，配有限位装置和锁紧装置，粗动行程每圈：30mm，微调手轮格值2μm整机参数尺寸拉曼模块：160×140×42mm显微模块：550×280×380mm工作温度0-45℃工作湿度5%-80%3 产品特点l 模块设计：通过在显微镜中加装拓展模块实现光谱测量，同时可在客户现有显微镜基础上定制相应检测模块。l 共焦设计：光源光路与光谱仪接收光路共轴，独特的共焦设计使得测量“所见即所得”，并且系统的杂散光可以得到有效抑制。l 宽光谱检测范围：搭配如海光电的光纤光谱仪，可实现200~2500nm宽光谱测量。l 灵活选配与升级：该系统除可实现反射测量外，同时可根据客户需求在此基础上添加特定测量模块从而实现反射+透射+拉曼+荧光多光谱测量。l 高精度测量：自动移动平台最小步进1μm，可实现微小区域光谱扫描测量。4 测试实例图

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

双轴MEMS微型反射镜 这种无万向节的两轴（Tip/Tilt）MEMS扫描反射镜（微型反射镜）是一种光束控制（2D光学扫描）技术，应用在很多工业领域。该反射镜基于ARI-MEMS制造技术，光束扫描速度超快且功耗超低，它在两轴方向上反射激光角度可达32度。相比于大尺寸的振镜光学扫描仪，MEMS反射镜所需的驱动功率要小几个数量级。驱动器即使在全速连续工作时的功率也只有几个微瓦。MEMS反射镜完全由单晶硅制造，可得到优越的可重复性和可靠性。光学平面反射镜镀有要求反射率的薄膜。较大尺寸的反射镜是粘贴在驱动器上的。库存反射镜的直径范围从0.8mm到4.2mm，对于特殊应用可做到9.0mm。主要优势倾斜角是模拟量，这是与数字微型反射镜的主要差异，数字型不能用于任意方向上的光束控制。换言之，如果倾斜角要求是6.15o，只需要施加相应的电压就可以了，而且可以维持该角度任意长时间，几乎零功率消耗。点对点扫描，一个电压值对应一个角度值。模块化设计 动态模式扫描典型应用 投影展示3D扫描和雷达成像3D追踪和位置测量激光打标和雕刻远程通信自由空间通信生物成像规格参数 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：网址： /邮箱：

ATR衰减全反射中红外光谱仪傅里叶变换衰减全反射红外光谱(ATR)在难以制备的样品,无损检测及表面信息的获取等方面具有独特的优势测试范围：光谱分析范围：2.5-5um and 5.5-11.0um电池：内置1300mAh充电电池，通讯方式：USB通讯ATR测试区域：ZnSe材质，尺寸17*27mm, 防护：不锈钢外壳检测器：128PIXEL热释电阵列分光系统：LVF线性可变滤光片系统测试时间：30秒（200次扫描）AD转换：16bit可以携带到现场进行快速光谱分析。重量: 710g

反射用测光积分球 XME-2203 描述反射用积分球相比辐射用积分球而言，在底部多了一个斜8°的进光口，用于连接光源，使来自标准光源的光能够径直照射到积分球顶部的样品口，标准光在接触到样品表面后将反射回积分球内部，并通过其它测量口对反射光进行测量与分析。反射用积分球配合光谱仪、光纤、光源以及各种光学测量设备一起可以组合成一套系统，用以测量不同样品的表面反射率，其中包括平面不规则样品和曲面不规则样品。。特点具有紧凑型设计，两个或三个SMA905光纤接口，垂直光路8°设计。输出端口为90°垂直积分球输出。应用照明光学、纤维光学、激光技术、照相化学、材料分析和医学技术等领域。测量不透光材料的反射特性：反射比、漫反射比、光谱分布特性。技术参数材料反射率PTFE、BaSO4两种涂料的反射率选配件反射用积分球专用支架【YME-2069】可以根据积分球的尺寸来定制。 更多精彩内容，请关注下方！

本系统可以测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、镀膜等）、和各种材料（溶液、玻璃等）等吸收、透射和反射光谱。系统型号系统特点7-TRASpec I扫描型7-TRASpec MMini 摄谱型技术指标光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）光电源电流漂移： 0.04%/h波长准确度：± 0.2nm光谱分辨率：0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调系统特点用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器或CCD模块化设计，结构灵活，方便升级

光学实验用反射镜是在高精度抛光的玻璃基板上，用真空镀膜装置镀上金属或电介质膜制成的。根据镀膜的不同可以得到具有各种反射率特征的光学特性。根据光学特性选择符合技术指标要求的反射镜。 产品分类l 金属膜（TFA、TFG/TFGS、TFAG） 特点：经济实惠。可以在宽波长谱区内使用。可以在所有入射角度下使用。膜有吸收，反射率稍微降低。容易受损（无保护膜，金膜反射镜） 应用：简单的光学系统、使用低输出激光的光学系统、白光照明系统或成像系统红外光学系统（金膜反射镜）l 宽带多层电介质膜（TFMS、TFM2） 特点：反射率高可以在宽波长谱区使用；膜没有光的吸收；膜较硬不易受损。 应用：精密光学系统（微弱光或低损失的光学系统）、1W以内的激光光学系统、使用多波长激光的光学系统l 激光用多层电介质膜（TFM、TFMHP） 特点：反射率非常高，损失很少；膜没有光的吸收，激光损伤阈值很高；不易受损；波长范围窄，入射角为45°时使用。 应用：使用激光的光学系统、强激光光学系统（TFMHP）

激光雷达（LiDAR）长距离灵敏度标准测试目标板 均匀光谱响应和耐久性 光谱成像和激光雷达传感系统需要灰度参考漫反射目标板来表征其性能。用来测试成像传感器系统的漫反射目标板很重要。灰色的卡片、织物和纸张会让你处于劣势。Permaflect灰度漫反射目标板是很好的解决方案。Permaflect漫反射涂层可在各种照明环境下保持其外观，并具有均匀的光谱响应。并且具有耐热和物理耐久性，紫外光稳定性，热稳定性，无光泽，无偏振和无荧光。针对首次开发传感器系统原型设计，无论是验证数百个激光雷达单元的性能，还是校准机载光谱成像系统，Permaflect漫反射板都是您的理想选择。Labsphere 的 Permaflect 近朗伯特性白色和灰色反射率漫反射目标板共有三种可选，六个反射率级别（5%、10%、50%、80%、94%），专为应用于恶劣环境和磨损环境下的典型反射率涂层。 Permaflect 漫反射板几乎可以制成任何形状和尺寸，也可以根据您的特定要求进行图案化设计。 应用激光雷达测试漫反射目标板TOF成像仪校准灵敏度和范围传感器和光源补偿地面实况 Rigid 漫反射目标板 原型设计到验证设备性能 利用蓝菲光学（Labsphere）实用且可扩展的Rigid Permaflect漫反射板 LiDAR 漫反射目标板 可验证的性能范围 Lidar漫反射目标板是可精确测试激光雷达波长下的距离灵敏度，并加快激光雷达系统的生产。 Commercial 漫反射目标板 室外机载校准，最重要的绝对光谱反射率。 Commercial漫反射目标板是一款全面的便携式UV-VIS-NIR参考反射率工具，可提高航空成像系统的地面真实性和基线校准的成功率。 定制漫反射目标板满足严苛的ADAS测试要求，可定制漫反射目标板尺寸，以及三维目标板形状，再到图案漫反射目标板。 LIDAR 测试漫反射板套件大面积的暗、灰、白目标板是激光雷达系统动态范围内精确评估短程和远程灵敏度的理想目标。蓝菲光学的标准LiDAR测试目标板套件包括三种反射水平：10％，50％和80％，坚固的便携箱，可容纳3块Permaflect目标板以及光谱反射和均匀性测试报告，方便存储和运输。三个灰度等级（10%, 50% and 80%）用于激光雷达系统的动态范围和距离灵敏度测试覆盖905nm~940nm以及1550nm红外激光波长的反射率等级。由于传感器的工作距离（从100m到200m+），目标板的尺寸需要大于A8或信纸尺寸（0.5 m, 1 m 和 1.5 m平方）朗伯漫反射性能良好并不随入射角改变量产的一致性和现场使用的稳定性目标板安装无需框架便携性规格参数Rigid 漫反射目标板0.5 m x 0.5 m Rigid 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量2.0kg是否可安装否校准选项 1从 350 到 2400 nm 的单点光谱反射率校准选项 2 350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射1.0 m x 1.0 m Rigid 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量8.0kg是否可安装否校准选项 1从 350 到 2400 nm 的单点光谱反射率校准选项 2350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射LiDAR漫反射目标板0.5 m x 0.5 m Lidar 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量2.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项850、905 和 1550 nm 处的九点均匀性映射和平均反射率1.0 m x 1.0 m Lidar 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量8.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项850、905 和 1550 nm 处的九点均匀性映射和平均反射率1.5 m x 1.5 m Lidar 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量18.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项850、905 和 1550 nm 处的九点均匀性映射和平均反射率1.2 m x 2.4 m Lidar 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量23.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项850、905 和 1550 nm 处的九点均匀性映射和平均反射率Commercial漫反射目标板0.5 m x 0.5 m Commercial 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量2.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项从 350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射1.0 m x 1.0 m Commercial 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量8.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项从 350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射1.5 m x 1.5 m Commercial 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量18.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项从 350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射1.2 m x 2.4 m Commercial 漫反射目标板反射率5%、10%、50%、80%、94%目标板重量23.0kg安装可选M10 x 1.5机械平面度+/- 0.005 "(0.127毫米)每径向英寸(0.305米)(无涂层面板)校准选项从 350 到 2400 nm 的平均光谱反射率和 905 nm 九点反射率映射

反射式空间光调制器产品介绍：反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术，反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度，高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术，在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列，而且可以周边驱动电路集成一体，甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制，而且可以实现纯相位调节。产品特点： 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性（每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验）高光学效率（一般都能达到60%以上）开口率高（一般都能达到90%以上）高对比度（一般都能达到2000:1以上）高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表： 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS（可选配件）连接组件：/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器：DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书，控制软件的数据光盘 型号参数一：型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位，256阶8位，256阶8位，256阶8位，256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度＞2000:1＞1000:1＞1000:1＞1000:1填充因子＞87%＞93%＞89%＞89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二：型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子＞87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI

蓝菲光学LFHH-1000手持光谱反射率测试仪基于安卓平台集成了可见到近红外CCD光谱仪，获取反射光谱并计算反射率。便携式的设计便于应用于多种场景，特别是户外使用。测试数据可以保存或上传，便于离线分析。反射率测试应用广泛，可以用来分析物体表面颜色，物质构成甚至土壤或植被状态等。采用光谱仪测试反射率可以迅速准确的一次性获取一段光谱上的反射率。蓝菲光学拥有逾40年的光谱分析系统设计与应用经验。LFHH-1000是蓝菲光学将传统的光谱仪与安卓移动设备相结合的产品，旨在为用户带来便捷的测试体验。LFHH-1000完全基于安卓系统开发，外形如普通手机，使用简易明了，无需培训即可上手。除了测试光谱外，还内置了反射率计算功能，可以将待测物光谱与蓝菲标准白板光谱进行比较，直接获取并显示反射率。LFHH-1000除了标配25°接受角的收光元件外还可以外接SMA905光纤，方便用户完成特殊的测试需求。蓝菲光学Spectralon标准白板是业界普遍使用的参考板，提供不同的尺寸和反射率选择，并且可以选择NIST可溯源的反射率数据。为精确测量反射率提供可靠保障。系统特点便携式设计，使用与手机类似可视化操作，现场得到光谱反射率25°角收光，提高进光量SMA905接口，可扩展其他探测形式GPS定位，测试地理位置直接获取数据拷贝功能长达6小时不需充电软件暗电流扣除功能规格参数型 号:LFHH-1000料 号:LAA-00101-100探测器:Hamamatsu S11639光谱范围（nm）:350-1050像素:2048*1光谱分辨率(nm):约1.5信噪比：300:1波长准确性:0.2nmA/D采样:16bit收光角度:25°暗电流修正:软件积分时间（ms）: 10-65标准板大小（cm）:30*30标准板反射率：99%，其他反射率可选供电:内置锂电池仪器尺寸(L*W*H/cm):17.5*9*3.5仪器重量（kg）:1