光谱椭偏仪

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光谱椭偏仪相关的厂商

  • 北京量拓科技有限公司(ELLITOP SCIENTIFIC CO., LTD.)(以下简称“量拓科技”)是专业的高端椭偏仪器研发制造企业。量拓科技成立于2008年4月,是中国唯一的专业椭偏仪器企业,专业致力于椭偏测量的方法研究、技术开发、产品制造和仪器销售,并提供纳米薄膜层构和物性参数的椭偏测试服务和椭偏测量整体解决方案的专业咨询服务。经过持续的创新发展,目前已成为国际高端激光椭偏仪的主要厂商。量拓科技以发展国际领先的椭偏测量技术,提供纳米薄膜检测整体解决方案为企业使命,将通过持之以恒的不懈努力,在国际椭偏测量领域树立源自中国的高端专业椭偏品牌ELLiTOP形象,藉此提升中国在国际椭偏测量领域的实力和地位,实现中国高科技企业贡献世界的梦想。量拓科技作为专业的高端椭偏仪器制造商,荣获国家“高新技术企业”、“ISO9001国际质量体系认证”、“中关村高新技术企业”、“海淀区创新企业”等资质,并获得“第五届北京发明创新大赛”金奖,以及入围“2011年度光伏行业十大创新设备供应商”等殊荣。量拓科技坚持国际水准的自主创新战略,已获得多项国家专利和软件著作权,在核心的椭偏测量技术和仪器制造方面形成了自主知识产权保护体系。承担了“北京市科技型中小企业促进专项(创新基金)”项目,并与中国科学院电工研究所、理化研究所、苏州纳米所、深圳先进技术研究院、国家天文台、北京理工大学、南开大学等多家科研单位形成了密切的科技合作关系,并且积极参加相关的国际和国内学术研讨会和展览会,开放的全方位科技交流为企业持续发展提供了坚实的基础。 量拓科技“以量拓产品和服务协助客户创造价值,走向成功”为衡量自身价值的基本出发点,依托深厚的椭偏测量研发基础和专业的椭偏测量技术服务队伍,为客户持续不断地提供国际一流的椭偏测量产品和服务。
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  • 400-860-5168转4689
    武汉颐光科技有限公司(Wuhan Eoptics Technology Co,Ltd)是国内专业从事高端椭偏仪以及光学纳米测量设备研发、制造与销售的高新技术企业。公司由多位具有二十多年偏振光学测量经验的专家联合创办,与华中科技大学紧密合作,现有员工80%以上拥有硕士或博士学位,是椭偏光学仪器领域最具优势的技术团队。
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  • 北京东方中科集成科技股份有限公司(以下简称"东方集成"或"公司")是在中关村科技园区注册的高新技术企业,于2000年由中国科学院有关单位发起设立,目前已经成为中国电子测试测量领域领先的综合服务商。  “东方集成”总部设在北京,在上海、南京、苏州、深圳、武汉、西安、成都等地设有分支机构,拥有一支超过200人的专业团队。通过与业务伙伴的紧密合作,凭借覆盖全国的营销服务网络,致力于为客户提供专业、方便、快捷的本地化服务。  "东方集成"年销售额在数亿元人民币,为客户提供产品增值销售、应用解决方案、科技租赁、计量校准、维修维护和科技资产外包管理等综合服务。  东方集成AIBU系统集成事业部客户,立足于科研院所、半导体行业, 通过与SENTECH、光焱科技等厂商合作,为客户提供等离子体刻蚀(RIE, ICP-RIE)、等离子化学气相沉积(PECVD, ICP-PECVD)和中红外光谱椭偏仪(SENDIRA)、激光椭偏仪(SE400adv-PV)等,并为客户提供系统集成服务。
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光谱椭偏仪相关的仪器

  • 光谱椭偏仪 400-860-5168转1374
    产品简介:光谱椭偏仪SE-Glass 是一款针对玻璃盖板行业定制的专用型光谱椭偏仪,针对玻璃盖板光学镀膜行业通过集成微光斑+可视化调平系统仪消除透明基底背反测量定制开发,快速实现玻璃盖板上多层薄膜物性表征分析。光谱椭偏仪SE-Glass 广泛应用于玻璃基底山减反膜、调光膜、导电膜等薄膜的膜厚,光学常数测量,完美适用于玻璃盖板、光学薄膜等镀膜检测应用。 产品型号SE-Glass光谱椭偏仪主要特点1、针对手机玻璃盖板光学镀膜工艺定制开发专用光谱椭偏仪2、行业领先的旋转补偿器测量技术和光学建模技术3、微光斑集成设计消除玻璃/膜片基底背反影响4、可视化样品台调平模块解决3D玻璃测量定位问题5、业内独创膜片镀膜处理算法直接测量PET膜片镀膜技术参数1、自动化程度:支持自动化方案定制2、应用定位:玻璃专用型3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S等光谱4、分析光谱:380-1000nm,支持按需定制化5、单次测量时间:0.5-5s6、重复性测量精度:0.01nm
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  • 光谱椭偏仪 400-860-5168转1374
    产品简介:SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,采用行业前沿创新技术,配置全自动Mapping测量模块,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。SE-Mapping光谱椭偏仪广泛应用OLED,LED,光伏,集成电路等工业应用中,实现大尺寸全基片膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。 产品型号SE-Mapping光谱椭偏仪主要特点1、全基片椭偏绘制化测量解决方案2、支持产品设计以及功能模块定制化,一键绘制测量3、配置Mapping模块,全基片自定义多点定位测量能力4、丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力5、采用氘灯和卤素灯复合光源,光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)6、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集7、具备全基片自定义多点自动定位测量能力,提供全面膜厚检测分析报告8、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料技术参数1、自动化程度:固定角+ mapping2、应用定位:检測型3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R等光谱4、分析光谱:380-1000nm(可扩至193-2500nm)5、单次测量时间:0.5-5s6、重复性测量精度:0.01nm7、光斑大小:大光斑2-3mm,微光斑200um8、入射角调节方式:固定角9、入射角范围:65°10、找焦方式:手动找焦11、Mapping1程:300x300mm12、支持样件尺寸:最大至300mm可选配件3真空泵4透射吸附组件
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  • 光谱椭偏仪 400-860-5168转1374
    产品简介:SE-L光谱椭偏仪是一款全自动高精度光谱椭偏仪,集众多科技专利技术,采用行业前沿创新技术,配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析。SE-L光谱椭偏仪广泛应用于半导体薄膜结构:介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜,激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件、平板显示、光伏太阳能、功能性涂料、生物和化学工程、块状材料分析等领域。 产品型号SE-L光谱椭偏仪主要特点1、高精度自动测量光学椭偏测量解决方案2、全自动变角、调焦等控制平台,一键快速测量3、软件交互式界面配合辅助向导式设计,易上手、操作便捷4、丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力5、采用氘灯和卤素灯复合光源,光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)6、高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集7、全自动椭偏测量技术,基于行业领先电机控制技术,全自动调整测量角度,高精度控制样件台,实现样件快速自动对准找焦8、颐光专利技术确保在宽光谱范围内,提供优质稳定的各波段光谱9、数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料技术参数1、自动化程度:自动变角2、应用定位:自动型3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R/T等光谱4、分析光谱:380-1000nm(可扩至193-2500nm)5、单次测量时间:0.5-5s6、重复性测量精度:0.01nm7、光斑大小:大光斑2-3mm,微光斑200um8、入射角调节方式:自动变角9、入射角范围:45-90°10、找焦方式:自动找焦11、Mapping行程:支持100x100mm(可选配)12、支持样件尺寸:最大至200mm可选配置波段选择V:380-1000nmUV:245-1000nmXN:210-1650nmDN+:193-2500nm角度选择自动:45-90°其他选择Mapping选择:100×100mm(供参考,按需定制)温控台:室温一600℃(供参考,按需定制)可选配件1温控台2Mapping扩展模块3真空泵4透射吸附组件
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光谱椭偏仪相关的资讯

  • “宽光谱广义椭偏仪设备开发”重大专项通过验收
    2016年5月5日,科技部在武汉组织召开了首批国家重大科学仪器设备开发专项项目“宽光谱广义椭偏仪设备开发”(项目编号:2011YQ160002)综合验收会议。该项目由武汉光迅科技股份有限公司牵头,华中科技大学为仪器开发技术支持单位,武汉新芯集成电路制造有限公司、武汉珈玮光伏照明有限公司、武汉光电国家实验室(筹)为应用开发单位,武汉颐光科技有限公司为产业化单位。  天津大学叶声华院士、华东师范大学曾和平教授、中科院上海光机所周常河研究员、北京光学仪器厂骆东淼教授级高工等11名专家组成了本次会议验收技术专家组,叶声华院士任专家组组长。验收会由科技部国家科技评估中心毛建军副主任主持,湖北省科技厅条件处魏敏杰处长等出席会议。  项目负责人刘世元教授代表项目组对项目执行完成情况进行了详细汇报。截止项目验收时,研制完成宽带消色差补偿器、高精度双旋转补偿器同步控制等核心部件与关键技术,开发出具有自主知识产权的宽光谱广义椭偏仪设备4台 获授权国际发明专利3件,授权国内发明专利29件,软件著作权8件,商标权1件。获日内瓦国际发明奖金奖1项,发表SCI学术论文50篇 形成设计图纸、工程工艺、软件代码等完整技术文档各1套,质量和可靠性保障方案1套 建成中试生产线1条,销售仪器产品2台。  汇报结束后,专家组现场审阅了相关资料,随后前往产业化单位武汉颐光科技有限公司考察了宽光谱广义椭偏仪设备产品,对产品指标和性能进行了现场测试与考核,并就项目完成情况及产业化进展提出现场质询。经认真讨论,验收专家组认为,该项目实施情况良好,完成了预期目标并达到全部考核指标,一致同意通过验收。  椭偏仪是一种测量偏振光状态改变的重要科学仪器,本项目研制的广义椭偏仪(也称穆勒矩阵椭偏仪)代表了椭偏仪最高水平,可以测得一个44阶的穆勒矩阵共16个参数,因而可以获得更为丰富的测量信息。椭偏仪广泛应用于材料光学常数、纳米薄膜厚度及表面特性表征等基础科学研究与纳米制造相关产业,应用范围涵盖集成电路、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学薄膜等众多领域。
  • 120万!清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目
    项目编号:清设招第2022344号项目名称:清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目预算金额:120.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标01高精度光谱椭偏仪1套是设备用途介绍:拟采购的椭偏仪设备将应用于测量各类薄膜的膜厚及光学参数(n,k),对特殊结构的材料具有光学性能分析能力。简要技术指标:Psi和Delta精确度测量:直射测量空气(Psi = 45° Delta = 0°),满足:Ψ≤45°±0.02°,Δ≤0°±0.02°(1.5-5eV);光谱范围覆盖190– 2000nm;入射角:自动量角器,角度可从40°到90°变化,最小步进为0.02°。合同履行期限:合同签订后7个月内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 量拓科技激光椭偏仪在西安交通大学顺利交货验收
    热烈庆祝量拓科技激光椭偏仪在西安交通大学顺利交货验收。 量拓科技是中国唯一的专业椭偏仪器企业,专业致力于椭偏测量的方法研究、技术开发、产品制造和仪器销售,并提供纳米薄膜层构和物性参数的椭偏测试服务和椭偏测量整体解决方案的专业咨询服务。经过持续的创新发展,目前已成为国际高端激光椭偏仪和光谱椭偏仪的主要厂商。 量拓科技以发展国际领先的椭偏测量技术,提供纳米薄膜检测整体解决方案为企业使命,将通过持之以恒的不懈努力,在国际椭偏测量领域树立源自中国的高端专业椭偏品牌ELLiTOP形象,藉此提升中国在国际椭偏测量领域的实力和地位,实现中国高科技企业贡献世界的梦想。

光谱椭偏仪相关的方案

光谱椭偏仪相关的资料

光谱椭偏仪相关的论坛

  • 椭偏仪测试

    各位好,请问哪里有椭偏仪可以提供测试?最好是在广州的

  • 【原创】椭偏仪结构原理与发展

    椭偏仪结构原理与发展[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63165]椭偏仪结构原理与发展[/url]

光谱椭偏仪相关的耗材

  • SpecEI 椭偏仪
    SpecEl 椭偏仪SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。集成的精确测量系统SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,并且折射率测量可达0.005%。SpecEl可通过电话问价。SpecEl软件及Recipe配置文件通过SpecEI软件,你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析,所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后,你可以选择不同的recipe来执行你的实验。配置说明
  • 椭圆芯保偏光纤
    椭圆芯保偏光纤产品介绍: 加拿大IVG公司生产的椭圆具有高的消光比,并且对弯曲,扭曲以及应力不敏感。不同于传统的高双折射保偏光纤,椭圆芯的保偏光纤的双折射波导具有非常低的温度依赖性。椭圆芯的保偏光纤可以与普通熊猫光纤,单模光纤,或者领结型光纤熔接。熔接损耗是非对称的:圆心到椭圆芯的损耗为0.5dB, 但是椭圆芯到圆芯的损耗为2.5dB。PMD in spun fiber 在光电感应或者远程通讯中,一般来说低双光折射旋转光纤可以显著的降低偏振模式的色散。而LB1300的偏振模式色散(Polarization mode dispersion)仅为传统通讯光纤的十分之一。描述PME1300单位工作波长1300-1600nm截至波长1280nm拍长9mmSpinPeriod-mm衰减8 dB/km模场直径8×13um包层直径125um衣层直径250um包层连接性0.5um包层偏离度5um衣层材料亚克力拉力测试100kpsi弯曲半径30mm更多信息,请联系我们。
  • 斯派超油料光谱仪电极修整刀片
    斯派超油料光谱仪削电极器专用刀片
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