本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。
玫瑰油蒸馏废水中的原生酵母及其对酚类物质的生物转化能力Indigenous Yeasts from Rose Oil Distillation Wastewater and Their Capacity for Biotransformation of Phenolics使用格哈特公司振荡器Laboshake在180 rpm条件下振荡30分钟using a Laboshake shaker (C. Gerhardt GmbH & Co. KG,K?nigswinter, Germany) at 180 rpm for 30 min
Mechanistic Insights into the Pre-Lithiation of Silicon/ Graphite Negative Electrodes in “Dry State” and After Electrolyte Addition Using Passivated Lithium Metal Powder. Adv. Energy Mater. 2021, 11, 2100925 (2021 影响因子: 29.698)对“干态”硅/石墨负极预锂化和使用钝化锂金属粉末添加电解质后的机理洞察