光学测厚仪

Bristol非接触式光学测厚仪　　Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有很高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种非常有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。　　产品特点：　　可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形　　用于准确定位测量位置的可见光束　　同时测量多达31层　　测量光程： 12mm/ 40mm/80mm　　测量精度： ±0.1 μm/±1μm　　使用内置的固有长度标准进行连续校准　　测量置信水平≥99.7%　　可追溯至NIST标准　　测量频率高达20赫兹　　使用USB或以太网进行PC通讯　　提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据　　使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC　　软件测量界面：　　应用领域：　　光学元件和透镜组件　　可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔　　隐形眼镜和人工晶状体　　测量中心厚度、矢高和群折射率　　医用导管窥镜　　可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚　　LCD, LED, OLED 和AMOLED显示屏　　可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层　　半导体　　硅/砷化镓晶片　　玻璃抛光　　测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。　　Optional:　　Lensthick 非接触式光学测厚仪　　产品特点：　　LensThick集成了Bristol非接触式光学测厚仪，系统集成化程度较高，增加了电动升降台和倾斜平移一体调节台，将测厚仪主机和高性能工控机集成在定制机柜里，并配备了高清显示器，此外还开发了全中文人机交互软件，软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时调整。软件支持自动峰值模式，使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。软件还可根据用户材料色散方程系数，自动计算出材料的群折射率并保存。针对同其它设备和产线集成，软件还可通过TCP/IP形式将实时测量结果发送给其它设备。　　LensThick ATW/ATS 系列全自动光学测厚仪　　设备特点：　　LensThick ATW配备晶圆测试模组，LensThick ATS配备单镜片测试模组；　　配备非接触式光学测厚仪，测量精度高，速度快，且不会对样品造成损伤；　　采用大理石组合结构，稳定性高　　XY平台采用直线电机及高精度光栅尺，重复定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；　　采用CCD图像识别定位，运用高精度算法，准确可靠；　　测量时通过CCD图像校正，保证测量中心位置准确；　　主要配置/设备关键部件：　　非接触式光学测厚仪　　XYR平台参数：　　平面度：±0.005mm　　直线度：±0.005mm　　重复定位精度：±0.001mm　　绝对位置精度：±0.001mm　　视觉校正相机：　　2000万像素　　低噪声，高精度

LensThick 非接触式光学测厚仪 测量原理： LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来测量厚度，以宽谱光源作为相干光源，其相干长度短，只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值，因此具有很好的空间定位特性，测厚仪内置光学干涉仪，通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的厚度。 典型应用:光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔隐形眼镜和人工晶状体：测量中间厚度、矢高和群折射率医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层半导体：硅/砷化镓晶片抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。 主要优势：非接触式测量，不会造成元件表面损坏或变形。用于定位测量位置的可见光束。可同时测量31层厚度。精度±0.1微米。测量重复性达±0.02微米。基于内部固有长度标准，实时显示测量数据。测量结果可追溯至NIST标准。测量物理厚度可达16微米（折射率1.5时）。集成装置，操作简便。 设备介绍: LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。 测量过程： （1）将光学测量头对准被测产品。 （2）激光通过光学测量头照射到材料表面。 （3）光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。 （4）测量数据通过USB传输到电脑。 （5）LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。 测量软件： 光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。 自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速的。 规格参数LensThick 系列型号12-1 UP12-140-1 UP40-1厚度测量方法非接触式光学干涉法光学厚度(折射率为1的空气间隔)12 mm40 mm物理厚度(折射率为1.5的材料)8 mm26 mm**小物理厚度(折射率为1.5的材料)16 μm35 μm20 μm35 μm精度 1,2±0.1 μm±1 μm±0.1 μm±1 μm重复性 3,4±0.02 μm±0.05 μm±0.02 μm±0.05 μm可溯源NIST认证标准单位mm、μm、mils测量频率20 Hz7 Hz仪器接口USB2.0及以上接口电脑配置 Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标环境 5热机时间无温度15℃ 到 30℃ （存储 -10℃ 到 +70℃）压力500 — 900 mm Hg湿度在+40℃时 ≤90** R.H. （无冷凝）主机尺寸和重量尺寸600mm×590mm×370mm（长×宽×高）重量42㎏支架尺寸和重量尺寸350mm×350mm×590mm（长×宽×高）重量15㎏功率90-264 VAC，47-63 Hz，80 VA质保期1年⑴ 定义为测量不确定度或很大厚度误差，置信度≥99.7**。⑵ 整个运行环境条件的不确定性。⑶ 60分钟测量周期的标准偏差。 ⑷ 取决于被测材料在1.3μm波长下的反射率。该规格书是在4**反射条件下给出的. 当反射条件较低时，重复性**坏会降低到约±0.15μm。⑸ 特性性能，但不是一定的。

LensThick ATW/ATS 系列全自动光学测厚仪 设备原理设备基于低相干干涉原理，采用非接触式光学测量，并配备高精度移动平台和视觉校正系统，自动测量产品的厚度及空气间隔。 主要功能非接触式测量透镜厚度非接触式测量微小镜头空气间隔自动上料—自动定位—自动测量—自动下料UPH，单穴测量时间不大于4秒测量精度高达±0.1 μm 设备特点LensThick ATW配备晶圆测试模组，LensThick ATS配备单镜片测试模组；配备非接触式光学测厚仪，测量精度高，速度快，且不会对样品造成损伤；采用大理石组合结构，稳定性高XY平台采用直线电机及高精度光栅尺，重复定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；采用CCD图像识别定位，运用高精度算法，准确可靠；测量时通过CCD图像校正，保证测量位置准确； 主要配置/设备关键部件非接触式光学测厚仪测量光程： 12mm/ 40mm/80mm 测量精度： ±0.1 μm/±1μm 测量重复性： ±0.02 μm/±0.05 μm 工作波长： 1310 nm 测量速度： 20 Hz/ 7Hz/ 4HzXYR平台参数：平面度：±0.005mm直线度：±0.005mm重复定位精度：±0.001mm位置精度：±0.001mm视觉校正相机：2000万像素低噪声，高精度 工作环境及设备尺寸参数工作电压：220V±10**工作环境：室温-10℃—45℃，湿度≤95**；环境相对湿度：在+40℃时 ≤90** R.H. （无冷凝）外型尺寸：800×1200×1960设备总重量：约500kg尺寸330mm×430mm×685mm（长×宽×高）重量20㎏其他功率90-264 VAC，47-63 Hz，80 VA仪器接口USB2.0及以上接口可支持8通道测量电脑配置 Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标质保期1年⑴ 定义为测量不确定度或很大厚度误差，置信度≥99.7**。⑵ 整个运行环境条件的不确定性。⑶ 60分钟测量周期的标准偏差。⑷ 取决于被测材料在1.3μm波长下的反射率。该规格书是在4**反射条件下给出的。 当反射条件较低时，重复性**坏会降低到约±0.15μm。⑸ 折射率为1时。⑹ 折射率为1.5的材料。⑺ 特性性能，但不是一定的。

DJH显微测厚仪 Crater Film Thickness System 是一种全功能的干膜厚度测量仪，同时可以读取底漆、中漆、面漆的膜厚，用于卷钢，涂料行业，属ASTM D 5796指定用测厚仪。 我司专业于卷涂行业，在国内有众多客户，20年来通过我司销售目前国内正在使用此设备的钢厂及涂料厂有上海宝钢、马鞍山钢铁、武汉钢铁、首都钢铁、攀枝花钢铁、唐山钢铁、鞍山钢铁、本钢、BlueScope，Akzo、Nobel、Becker、Valspar、上海华谊涂料等等。 主要特点： ASTM D 5796指定用测厚仪 N.C.C.A卷涂行业推荐用测厚仪 一种全功能的干膜厚度测量仪 适用范围广，可用于实验室或生产现场的质量控制 试验结果重复性高 环保，不会产生污染环境的溶剂或其它污染物 低成本维护 测量速度快，测量结果精确 同时可以读取底漆、彩色涂层和外部清层的厚度 通过使用不同的碳化钻头可以测量厚度较大的干膜厚度（0-2 mil、0-8mil） 光学视频系统还可用于不同的目的 (如测量底层表面的缺陷和涂膜缺陷等) 主要参数： 硬件技术参数:试样能力：50微米钻孔单元的钻孔精度：+/- 0.17 微米净重：65lbs毛重：80lbs箱包装尺寸：610mm x 610 x 610mm电源：220V/50Hz

仪器介绍：广州标际所生产的高端测厚仪，测厚仪，薄膜测厚仪适用于包装薄膜，片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；支持手动、自动双重测量模式；可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调；液晶显示，可微机打印测试结果；测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持（可选）。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围：0~5mm分 辨 率：0.1&mu m进样间距：0~1000mm测量点数：0~10点

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碳纤维作为一种高比轻度，高比模量的增强纤维在先进的复合材料中得到了广泛的应用。碳纤维复合材料作为一种超高温耐烧蚀的先进复合材料之一，被广泛运用在航空航天，军工等领域上，为了防止碳纤维复合材料在高温工作环境中被氧化，通常需要对碳纤维材料表面进行涂覆，可以在不损失其机械性能的前提下，改变其物理性能。碳纤维表面的涂层可以是金属涂覆层，无机非金属陶瓷涂层以及有机高分子涂层。碳纤维复合材料表面涂层厚度不达标，将会影响其性能，导致构件失效甚至会酿成安全事故，因此精确测量表面涂层厚度非常重要。为了更好测厚碳纤维表面涂层厚度，瑞士涂魔师研发了一种高精度的无损非接触式复合材料涂层测厚仪。涂魔师复合材料涂层测厚仪 VS传统碳纤维涂层测厚仪与电磁感应测厚设备相比，涂魔师复合材料涂层测厚仪能精准测量碳纤维复合材料上的涂层厚度。与其他基于光热法、激光和超声波原理的设备相比，它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等测量优势。涂魔师复合材料涂层测厚仪目前，涂魔师复合材料涂层测厚仪主要有4种型号：Flex手持式，Inline在线式，Atline实验型、3D整体膜厚成像。常用的是Flex 手持式和Lnline在线式。Flex手持式复合材料涂层测厚仪技术参数如下：烘干前湿漆测量范围：1-400 微米固化前的粉末涂料测量范围：1-400 微米固化后粉末涂料/烘干后干漆 测量范围：1-1000 微米测量时间：0.3 秒允许测量距离：2 – 15 厘米允许倾斜角度：±45°能否测量运动工件：允许相对标准偏差： 1%（取决于涂层/基材类型）访问测试数据方式：通过ERP和浏览器实时访问数据IP防护等级：IP20Inline在线式复合材料涂层测厚仪技术参数如下：固化前的粉末涂料测量范围：1-2000 微米测量时间：0.5秒允许测量距离：10 – 120 厘米（取决于涂层/基材材料 ）允许倾斜角度：±45°(取决于涂层/基材材料）相对标准偏差： 2% （测量距离为5厘米，测量铝底材上60微米的未固化粉末涂料（包括白色的所有颜色） ）被测物体移动速度：120米/分钟适合涂层颜色：所有颜色（包括白色等浅色）测量数据导出方式：自动导出涂魔师复合材料涂层测厚仪优势?测湿膜直接显示干膜厚度在生产前期非接触式测量未固化的涂层直接得出涂层的干膜厚度，如粉末涂料、油漆等，及时调整工艺偏差，有效降低次品率和返工率?非接触无损测厚技术涂魔师采用先进的热光学专利技术，不同型号最长能达到100厘米距离内轻松进行非接触式涂层厚度测量?无需严格控制测量条件允许测量各种颜色的涂料（不受浅色限制）；适用于外形复杂的工件（如曲面、内壁、边角、立体等隐蔽区域）?适合生产车间现场使用便携灵活的手持式设计，能够连续实时测量生产线上的移动工件，对于摇摆晃动的工件都能精确测量膜厚?数据自动记录及生产全过程100%测量数据安全自动储存于云端，实现生产工艺的统计及不间断追溯，高效监控膜厚真实情况?测量时间短，一键即可完成膜厚测试涂魔师Flex测量精度高且操作简单，测试时间仅需0.5秒翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询

药用玻璃瓶测厚仪在医药行业中，玻璃瓶作为常用的包装容器，其质量与安全性倍受关注。而药用玻璃瓶测厚仪，则是确保瓶壁厚度均匀性、一致性的关键检测工具。壁厚测厚仪的基本原理是利用物理或光学原理进行非破坏性检测，以获取待测物体准确的厚度数据。采用高精度测量传感器和先进的软件技术，能够在短时间内获取大量准确的厚度数据。药用玻璃瓶测厚仪具有以下优点：1.精度高：采用高精度测量传感器和先进的软件算法，能够准确测量瓶壁厚度。2.操作简便：测厚仪操作简单，工作人员容易掌握，大大提高了检测效率。3.使用安全：非破坏性检测不会对玻璃瓶造成损伤，降低了检测成本和风险。4.高效自动化：测厚仪能够自动、快速地获取瓶壁厚度数据，降低了人工检测的误差和劳动强度。总之，药用玻璃瓶测厚仪在医药行业中具有广泛的应用前景和发挥重要作用。它的高精度、操作简便、安全自动化等特点使其成为医药行业的得力助手。从生产质量控制、药品审核到稳定性研究等多个方面，测厚仪都展示了其在医药行业中的专业性和必要性。因此，药用玻璃瓶测厚仪的发展和完善对于提高医药行业的整体水平具有重要意义。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准药用玻璃瓶测厚仪此为广告

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工业型涂层测厚仪是一种在工业生产过程中利用光热法测量自动测量涂层厚度的测量仪器。它具有非破坏性和非接触型的特点。它结合了 OPTISENSE 公司多年来在制造可靠耐用测量涂层厚度监测组件的丰富经验，和可以灵活使用的无与伦比的小的传感器探头。基于光热法测量的标准是符合欧洲标准 DIN EN 15042 -2 ，适用于测量干、湿膜及粉末的涂层，例如多种基质（如：金属，橡胶或陶瓷）上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。工业型涂层测厚仪的最突出的优点是轻便的传感器探头，其重量仅为 100g。通过使用便准化的夹具或机器人,它可以容易地集成在生产线上。在生产的早期阶段-直接涂布后，使用它会识别任何的工艺偏差，从而有助于防止返工和不必要的材料拒收。工业型涂层测厚仪可以在走走停停的过程中完成对静止的待测样品测量。清晰的 OpiSenen 用户软件允许在自动操作期间实时观测涂层的厚度，并将测量值实时传输到现有的过程控制中。此外 OpiSenen 用户软件允许手动使用测量设备，例如检测新的材料样品。作为可选项，工业型涂层测厚仪也可以通过 QDAS控制端口进行控制。这允许数据库进行基于特征的测量数据记录，来实现质量保证的最高要求。与旧的光电测量设备不同，工业型涂层测厚仪使用了 OptiSense 公司的激光技术（LARES -technology）。这使它成为一种眼睛安全的光学测量装置，可以在没有技术保护措施的情况下运行。根据客户的具体要求，我们提供配备不同光学元件的测量设备，来实现不同的测量面积和测量距离。例如：研究粗糙的表面-理想的是很大的测量面积；对于小型结构，比较小的测量面积更适合。配置清单带有通讯连接电缆的测量探头数据处理终端网线软件（光盘）操作说明书数字IO模块激光参考标准可选附件用户定制的特殊工作曲线QDAS控制端口测量探头支架进一步产品在涂层测厚仪系列产品中，我们还提供了便捷的涂层测厚仪-自动型作为经济实惠的入门级产品，或者用于移动用途，可以快速进行质量控制。工业型涂层测厚仪探头型号规格： 型号测量面积测量距离1.6-250.25 x 0.25 ㎡16mm1.6-500.5 x 0.5 ㎡16mm3.5-500.5 x 0.5 ㎡35mm3.5-1001 x 1 ㎡35mm3.5-2002 x 2 ㎡35mm 测量探头 铝制测量探头的设计方便用于夹具或机械手进行固定和组装。测量探头和数据终端间用 2 米的通讯电缆连接。 描述值/范围涂层厚度范围0 - 300μm(金属基体)*0 - 60μm(非金属基体)*重复率Max. 1 Hz *测量时间8-512ms *激光等级1M激光功率max. 0.5W激光模式脉冲模式分辨率约3%的实际测量 **准确度约5%的实际测量 **距离公差±1 mm角度公差±15°尺寸L = 102 mm, ? = 30 mm重量approx. 100 g (*)取决于涂层厚度/参数集(* *)取决于涂层/基体 数据处理终端数据处理终端包括 IP65 铝制外壳，其内放置了涉及控制测量探头、数据分析和储存等相关组件。通过网络或 CAN 总线于连接的计算机进行数据通讯。通过可视化软件可以在计算机端完全控制测量过程和存储测量数据。 描述电压/功率230V AC, 50 Hz, max. 40 W接口Ethernet 10 Mbit/s (RJ45) &SubMin-D9 CAN-Bus,24V Digital-I/O尺寸30 x 272 x 110mm3重量约 approx. 5 kg

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！