光学形貌仪

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维形貌仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面形貌仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积 分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析 磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维轮廓仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面轮廓仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

涡旋相位板是一种光学厚度与旋转方位角成正比的纯相位衍射光学元件，入射平面波通过涡旋相位板的出射光束具有涡旋相位波前。涡旋相位板作为一种新型的衍射光学元件，已在光信息处理，光学微操作，生物医学，形貌测量，天文观测等诸多领域得到实际应用。目前，对涡旋相位板的研究已经发展为现代光学的一个重要领域。

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

高效金刚石金相抛光剂采用优质的金刚石微粉，以独特的介质与助剂，融物理与化学作用于一体研制而成；粒度分布均匀，颗粒形貌呈球形八面体，故研磨效果好、不易产生划痕；硬度极高，刃口尖锐锋利，对硬软材料都有良好的研磨作用，只产生研磨作用而无滚压，不产生扰乱层； 主要用于机械研磨、抛光硬质合金、合金钢、高碳钢等高硬材料制件以及金相和岩相试样的精研等。使用方法01. 使用前抛光织物需用清水湿透，避免磨擦热。 02. 启动抛光盘后将抛光剂轻摇后倒置喷出。 03. 喷撒抛光剂时，应以抛光盘中心为圆心，沿半径方向喷出3--5s即可。 04. 新织物喷撒时间相应延长，以使织物的磨削能力更完美。粒度：W0.25、W0.5、W1、W1.5、W2.5、W3.5、W5、W7、W10、W14、W20、 W28、W40包装：每罐250克、350毫升。附注：W为微米μm，国际通用标准。

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

纯棉，无纺布，绒毛少，吸收好每包100片单片的标准尺寸: 4英寸 x 8英寸(100 mm x 200 mm)Handi-Pads是高级无纺布棉垫。每个棉垫的尺寸为4英寸 x 8英寸，包装前被对折成4英寸 x 4英寸，这样，即使在非超净的环境中打开包装，也可以得到清洁、无污染的垫面。Handi-Pads不含杂质和附着物，非常适合与光学元件清洗溶剂配合使用。较大的棉垫允许用户单次连续擦拭待清洁元件的整个表面，包括带曲率的表面，例如透镜。这种垫子也可以用来包装光学元件，然后将包好的光学元件放置在存储容器中。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪： 1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用； 2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点： × 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径； * 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池； × 同时测量多个晶圆或太阳能电池； × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力； * 对晶圆表面进行图像分析； * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆； * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数： × 翘曲度测量范围：1-20微米； * 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间； * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）； * 光源：根据用户的应用而配备不同光源； * 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

双轴电动位移光学安装架可以安装直径1英寸的光学元件，配备的是光电耦合限位开关，非常适合电动远程控制镜片,是尖端的光学安装架,光学调整架。双轴电动位移光学安装架8MTOM2-1由5TOM2-1 XY光学平移安装架和 8CMA20-8/15 紧密型电动促动器组成。还提供真空模型版本。 双轴电动位移光学安装架规格分辨率 全步进 1.25μM 1 / 8步 0.156μM光学元件直径 25,4mm通孔 23mmXY平移距离范围 ±2mm丝杠螺距 0.25mm安装的促动器 2 x 8CMA20-8/15电缆 长度2m,包括在包装内电机连接器 HDB15(M)（接线图）重量 0,8 kg控制器 推荐 8SMC4-USB 8SMC3-RS232 8SMMC2光耦端限位开关 2/促动器极性转换开关 推动“开放 ”

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

碳支持膜Formvar/Carbon film光学显微镜的样品是放置在载玻片上进行观察，而在透射电镜中，由于电子不能穿透玻璃，只能采用网状材料做载物，通常称载网，最常用的是200－400目的铜网。在进行样品观察时，载网上还应该覆盖一层无结构、均匀的薄膜，这层薄膜通常称之支持膜。支持膜一般应该对电子透明；在电子束冲击下，应有一定的机械强度、保持结构稳定、具备良好的导热性；在电镜下无可见结构、不与承载的样品发生化学反应、不影响对样品的观察。支持膜的厚度一般很薄，十几个纳米左右。生物学上用到的碳支持膜一般不是指纯碳膜，它是由铜网（或者其他材质网）首先被覆一层方华膜，再在方华膜上喷镀一层碳膜制得。对于超薄切片，这种支持膜具有最佳的样品支撑性。这种产品也是我们最常用的电镜消耗品，它适合一般样品的形貌观察。除了我们通常使用的圆孔和方孔载网支持膜外，特殊应用时会选择一些特型载网制作的支持膜。如光圈载网，狭缝载网，双联载网碳支持膜等。光圈载网支持膜和狭缝载网支持膜（Support Film on Aperture / Slot Grids）通常用来蘸取连续超薄切片。由于其网格稀疏所以对组织结构极少遮挡。但因其网孔较大，支持膜制作成功率往往不高，通常采用增加支持膜厚度来增强支持膜的强度。但支持膜过厚，会影响样品的清晰度。 产品选购(并没有列出全部产品，目数、网眼、膜厚薄或者特殊载网需求者请来电)：

元素分析仪配件 LECO 力可 175-574光学开关Optical Switch Assembly

YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 北京宏昌信科技有限公司销售部 唐海红 13120400643 15321361385 010-59481385 仪器简介： 最新推出的YSI ProODO 采用不消耗氧气的荧光寿命检测技术，可以提供更稳定、重复性更高、更敏感的溶解氧检测数据，可有效减少传感器的漂移。 广泛应用于水环境常规测量和应急测量、污水处理的溶解氧测量、高校和科研机构的教学和研究、水族馆、水产养殖业的水质测量、生态环境调查以及其它领域内的溶解氧测量。 技术参数： YSI ProODO 系统规格（主机、电缆和传感器） 参 数 测量范围 分辨率 准确度 溶解氧 %空气饱和度 0至500% 0.1% 0至200%：读数之± 1% 或 1%空气饱和度，以较大者为准； 200至500%：读数之± 15% 溶解氧 毫克/升 0至50毫克/升 0.01 或 0.1毫克/升 (视量程自动切换) 0至20毫克/升：读数之± 1% 或 0.1毫克/升，以较大者为准； 20至50毫克/升：读数之± 15% 温 度 -5至70℃ 0.01℃ ± 0.2℃ 气 压 50至110千帕 0.01千帕 ± 0.2千帕（0至50℃） YSI ProODO 主机规格 存储温度 -20至70℃ 尺 寸 21.6厘米（长）× 8.3厘米（宽）× 2.3厘米（厚） 重 量 475克（含电池） 探头尺寸 19厘米（长），2.4厘米（直径） 电 源 2节2号碱性电池，在手动模式下约可使用80小时 电 缆 备有1、4、10、20、30、40、50、60和100米标准电缆可供选择 接 口 带锁扣的MS军方规格防水接口 保 修 期 主机三年；电缆两年；探头两年；传感器盖一年 盐度输入范围 0-70ppt（手动输入值自动补偿） 数据内存 可存储2000组数据（含传感器数据、日期、时间、站点和用户自定义的信息） 搅拌依赖性 无 反应时间 T90@25s，T95@45s 校 准 溶解氧：一点或带0％的两点校准；气压：一点校准 通过认证 RoHS、CE、WEEE、C-Tick、VCCI、IP67和1米跌落测试 通讯连接 USB2.0，包括通讯底座和USB线 数据管理 Data Manager中文软件，可自定义100个文件夹和站点名 用户密码 为保证数据安全，用户可自设密码 GLP功能 保存校准记录，符合ISO9000认证实验室的需求 主要特点： · 测量范围（0-500％）较其它品牌光学溶解氧传感器更宽广 · 智能数字传感器技术能将校准数据存储在传感器中，探头即使安装在任一没有校准过的ProODO主机上，也可正常运行 · 适配300毫升BOD瓶 · 用户可在野外自行更换传感器 · IP67防水等级，电池仓与仪器电路仓各自独立分隔并密封，即使电池仓进水也不影响或损坏仪器电路 · 外敷橡胶的防滑浇注外壳，抓握更容易，使用寿命更长 · 存储2000组数据（含传感器数据、日期、时间、站点和用户自定义信息） · 借助标配的USB线连接ProPlus主机和计算机，不仅能为主机供电，亦可运用易于操作的Data Manager软件设置主机、管理分析数据以及查看图形数据与表格数据 · 两种测量模式：自动/手动采样模式/连续实时测量模式 · 夜光键盘和背景光显示屏便于在昏暗环境下操作 · 用户可自选电缆长度，最长可达100米；电缆整理套件帮助整理4米或更长的电缆 · MS军方接头，快速插拔，防水，连接可靠稳固 · 接头的电缆部分可耐受30万次弯折，经久耐用 · 内置气压计 · 超长保修期：主机三年，电缆两年，探头两年 光学溶解氧传感器所具有的优势： · 不受流速限制，无流速或搅拌依赖性 · 无需预热时间 · 低漂移和长期稳定，不必经常校准 · 不受硫化氢或其它气体的影响 · 更低的维护量：无需清洁电极、更换溶液，只需一年更换一次敏感元件 YSI 6820V2 / 6920V2型 多参数水质监测仪 YSI 6600V2型 多参数水质监测仪 YSI 600OMS V2 光学监测仪 ，YSI 600OMS V2 光学监测仪 外形小巧、轻便耐固、耗电低，一个光学端口，可随时安装、更换YSI出品的光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT和蓝绿藻中的任一传感器，以满足各种应用需求。这是一款使用灵活、操作方便的光学监测仪，既是理想的便携测量仪，又可用于长期野外监测。 YSI 600XLV2/600XLMV2 多参数水质监测仪 YSI 6820/6920型 多参数水质监测仪 YSI 6820EDS/6920EDS型 常规五参数水质 YSI 600XLV2/600XLMV2 多参数水质监测仪，600XLM V2 是6600V2-4的精简型，同样可精确测量电导率、温度、酸碱度/氧化还原电位、水位，但在同一时间只能监测光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT与蓝绿藻中的一个参数。配有电池室与非散失性内存。为长期现场监测与剖面分析提供了一个低成本方案。 YSI 6920DW/600DW型 饮用水多参数安全监测仪 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 YSI 58型 实验室溶解氧测量仪 YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 YSI ProPlus型 手持式野外/实验室两用测量仪，多种参数选择：溶解氧、BOD、pH、ORP、电导率、氨氮、硝氮、氯化物和温度 YSI 9600型 硝酸盐监测仪 YSI 6500 是水质监控的一种经济有效的选择，有效替代多台单参数设备，可减少安装和操作所需的人力物力 连续监测溶解氧、电导率、温度和酸碱度 YSI 6500与YSI 6系列多参数仪主机连接，可以提供不间断的数据。 YSI 650MDS型 多参数显示和记录系统 用来记录实时数据、校准6系列仪器、设置仪器以及上传数据到计算机等，专为野外使用而设计。YSI 650MDS配有防撞击外壳，符合IP67防水标准，即使掉入水中也能自动浮起。 YSI 600QS可同时测量溶解氧（%空气饱和度和毫克/升浓度）、温度、电导率、酸碱度、氧化还原电位（可选）、深度（可选） YSI 600LS型 高精度水位仪 可精确测量水位、流量、温度和电导率，可与YSI 650MDS、便携式电脑或数据采集平台配合使用。 YSI 600xlm/600xl多参数水质监测仪，各参数为：溶解氧（%空气饱和度与毫克/升浓度）、温度、电导率、比电导度*、盐度*、酸碱度、氧化还原电位、深度或水位、总溶解固体*和电阻率* YSI 600TBD型 浊度监测仪 是在YSI 600OMS光学监测系统平台上，以YSI 6136型 浊度传感器 为核心的浊度监测系统，用于河流、湖泊、池塘、河口及饮用水源水中悬浮固体状况的研究、调查和监测。该监测仪亦可同时测量温度、电导和深度或透气式水位。 YSI 600CHL型 叶绿素监测仪 是在YSI 600OMS光学监测系统平台上，以YSI 6025型 叶绿素传 感器为核心的叶绿素监测系统，用于河流、湖泊、池塘、海洋调查、养殖业、饮用水源、藻类和浮游植物状况的研究、调查和监 测。该监测仪还可同时测量温度、电导和深度或透气式深度。 YSI 6820EDS/6920EDS型 常规五参数水质监测仪 是一个特别设计直接投放在水体中用于长期在线监测的五参数仪。该常规五参数仪既可单独使用，亦可作为水质在线自动监测标准站的五参数仪部分集成到系统中。 YSI 6920DW/600DW型 饮用水多参数安全监测仪 应用于城市自来水供应管网系统中，连续采集水质数据以确认饮用水安全送达社区。 YSI 6820/6920型 多参数水质监测仪 是一个适用于多点采样、长期现场监测与剖面分析的经济型数据记录系统。用户可以自定数据采集的时间间隔期，存储读数可达150,000个。 YSI 6600主导型 多参数水质监测仪，巡测和剖面分析应用的最佳选择 YSI 6600是一款适用于多点采样测量、长期现场监测与剖面分析的多参数仪器，可同时监测多达17个参数。具有90天电池寿命与9组探头结构，其中包括两个供浊度、叶绿素或罗丹明探头同时安装的光学口。操作水深达200米 YSI Level Scout 水位跟踪者 ，透气 或 非透气式 不锈钢 或 钛合金材料 2MB或4MB内存 YSI Level Scout 水位跟踪者 拥有高精度的水位传感器技术，并融合了高精度的压力传感器技术与电源稳定微机电路系统 YSI 556MPS型 多参数水质检测仪，多探头系统成功地结合了便携式仪器与多参数系统的特点，其性能如下： 可同时测量温度、电导、盐度、溶解氧、酸碱度和氧化还原电位以及总溶解固体；所有数据同时显示在屏幕上 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，3米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 YSI 85D型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪（不带探头） YSI 55型 溶解氧、温度测量仪 ，手提式操作，亦可肩挂或腰悬 ，不锈钢探头，能抵御更严峻的野外条件；另外，金属的重量让探头更易于沉入水中 ，备有3.7米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 另有低电量显示 YSI 手提式酸度测量仪（60型、63型）是特别为野外测量而设计的专业酸度测量仪器，它克服了一般酸度计电极在野外应用的缺点。 使用特殊电缆屏蔽设计，突破传统酸度计电缆长度的限制，测量水深范围达30米 电极接头全封闭防水，整个探头可插入水中测量 探头加固保护，可抵抗轻度的碰撞 可更换式电极，经济、便于现场维护 ；检测酸度，盐度，电导，温度 YSI 550A 便携式溶氧仪，采用全水密（IP67防水等级）、防撞击仪器外壳，并启用创新性可于野外更换的溶解氧电极模块。使用YSI久经考验的极谱法技术和YSI全球高精密温度典范的热敏电阻法技术，可同时测量溶解氧和温度。新一代PE盖膜提供更快的反应时间和更低的搅拌依赖性。 YSI DO200便携式溶氧，温度测量仪， YSI公司最新推出一系列轻巧、便携式水质测量仪器，以高性价比提供准确的数据。仪器的人机界面友好，操作简单方便（可单手操作）。YSI DO200 可同时测量溶解氧（空气饱和度与毫克/升浓度）与温度。 YSI 58实验室溶解氧测量仪， 系统规格 溶解氧 (%空气饱和度) 测量范围分 辨 率 准 确 度 0至200%空气饱和度 0.1%空气饱和度 ± 0.3%空气饱和度 YSI ProODO 光学溶解氧测量仪 YSI ProPlus型 手持式野外/实验室两用测量仪，多种参数选择：溶解氧、BOD、pH、ORP、电导率、氨氮、硝氮、氯化物和温度 YSI 9600型 硝酸盐监测仪 YSI 6500 连续监测溶解氧、电导率、温度和酸碱度 YSI 6500与YSI 6系列多参数仪主机连接，可以提供不间断的数据。YSI 6500 是水质监控的一种经济有效的选择，有效替代多台单参数设备，可减少安装和操作所需的人力物力。 YSI 650MDS型 多参数显示和记录系统 用来记录实时数据、校准6系列仪器、设置仪器以及上传数据到计算机等，专为野外使用而设计。YSI 650MDS配有防撞击外壳，符合IP67防水标准，即使掉入水中也能自动浮起。

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

唐海红 13120400643 美国YSI 600OMS V2光学监测仪 美国YSI 600OMS V2光学监测仪 产品介绍YSI 600OMS V2 光学监测仪 外形小巧、轻便耐固、耗电低，一个光学端口，可随时安装、更换YSI出品的光学溶解氧、浊度、叶绿素、罗丹明WT和蓝绿藻中的任一传感器，以满足各种应用需求。 这是一款使用灵活、操作方便的光学监测仪，既是理想的便携测量仪，又可用于长期野外监测。 YSI 600OMS V2传感器规格 参数 测量范围 分辨率 准确度 光学溶解氧1 (%空气饱和度) 0-500% 0.1% 0-200%：读数之± 1%或1%空气饱和度，以较大者为准； 200-500%：读数之± 15% 光学溶解氧1 (毫克/升) 0-50毫克/升 0.01毫克/升 0-20毫克/升：读数之± 1%或0.1毫克/升，以较大者为准；20-50毫克/升：读数之± 15% 温度 -5至50℃ 0.01℃ ± 0.15℃ 深度(浅水) 0-9米 0.001米 ± 0.018米 深度(中水) 0-61米 0.001米 ± 0.12米 深度(深水) 0-200米 0.001米 ± 0.3米 透气式水位 0-9米 0.001米 ± 0.003米 浊度1 0-1,000NTU 0.1NTU 读数之± 2%或0.3NTU,以较大者为准3 罗丹明WT1 0-200微克/升 0.1微克/升 读数之± 5% 或1微克/升，以较大者为准 参数 测量范围 检出限 分辨率 线性 叶绿素1 0-400微克/升 叶绿素a 0.1微克/升 叶绿素a 4 0.1微克/升 叶绿素a；0.1RFU R2＞0.99997 蓝绿藻－藻蓝蛋白1 0-280,000细胞/毫升；0-100RFU 220细胞/毫升5 1细胞/毫升；0.1RFU R2＞0.99998 蓝绿藻－藻红蛋白1 0-200,000细胞/毫升；0-100RFU 450细胞/毫升6 1细胞/毫升；0.1RFU R2＞0.99999 1.所有光学探头的最大测量深度为61米 2.可同时提供比电导度（修正至25℃的电导率）、电阻率和总溶解固体的数据输出，这些参数是根据水和污水测试行业标准(Standard Methods for the Examination of Water and Wastewater)的方程式由电导率计算出来 3.使用AMCO-AEPA聚合物标准 4.通过萃取确定的海洋藻和叶绿素a的值 5.铜绿微囊藻培养的估计值 6.含有蓝绿藻的藻红蛋白培养的估计值 7.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-500微克/升) 8.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-400微克/升) 9.与罗丹明WT的连续稀释相关(0-8微克/升)。

英国Lovibond自动比色计/色度仪专用配件，各种尺寸规格的光学玻璃比色皿。

单光纤用转移光学部件这是适用于λ（Lambda）分光光度计的光纤转移架。使用本品时需要2x2或2x10米的单光纤和/或光电极。根据请求可提供其他光电极。订货信息：所适用的λ（Lambda）分光光度计的型号部件编号1X/2X/3X/4X/BioB0509546650/850/950/1050L6020290800/900B2205302

奥淇科化致力为科研单位打造一站式采购平台。 在库品规三十余万种，含盖玻璃、试剂、仪器、耗材配件等。 店铺未上架产品请联系客服。

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总览全自动平衡光学互相关器TCBOC可以高精度的检测两个中心波长相同/不同的光脉冲序列之间的相对时延。由于采用了平衡的光学检测方案，TCBOC具有极高的时序灵敏度、阿秒定时分辨率、幅值不变性和对环境波动的鲁棒性。它产生与相对时延成比例的基带电压信号，然后可以在锁相环配置中使用该信号来同步具有不同波长的两个光源(例如将Ti:Sapphire振荡器锁定到时间稳定光纤链路的输出)。标准波长为800nm、1030nm或1550nm。 技术参数产品应用两个相同或不同波长的光脉冲序列的重复率精确同步超快激光的重复频率与稳定光纤链路输出的精确同步由激光放大器链或类似设置中的放大器引入的抖动补偿测量两个同步激光器或来自同一光源的两个光束路径之间的抖动和漂移测量光程长度波动(例如由温度引起的变化)特点优势超过10 mV/fs的灵敏度低于0.5 fs的基底噪声低至10 fs RMS的定时抖动和时序漂移 采样同步设置 双色平衡光学互相关器（TCBOC）同步两个不同波长的超快激光器的脉冲序列。TCBOC有两个版本可供选择:测量设备（MD）:独立式双色平衡光学互相关器（TCBOC）同步装置（SD）:独立式双色平衡光学互相关器（TCBOC），配备反馈和控制电子设备。请联系我们的专家团队，提出您的定制需求。规格参数参数值单位备注 检测器灵敏度 10mV / fs检测器输出(未放大)检测器分辨率 0.5fs10 kHz带宽内的集成检波器基底噪声 时间抖动1 15fs在35 μHz - 1 MHz带宽内，根据主/参考激光器的噪声特性和从激光器腔内执行器的性能尺寸(H xW x L)300 x 270 x 66mm重量5kg不同规格重量不同要求光输入波长2000nm可定制光输入功率10 - 50 mW取决于波长范围和其他激光参数光学输入类型保偏（PM）光纤FC或SC连接器(自由空间输入可选)脉冲重复频率 10GHz可定制SD版本的控制单元(同步设备) 大小机架安装，19英寸宽，4个单元高度综合反馈包括优化的PID参数控制系统界面包括EPICS, TANGO自动锁定包括1当在最高0.5 K温度和3 %相对湿度偏差的环境中运行时。请注意，激光器之间的时间抖动必须低于锁定带宽以上的目标精度。 测量数据

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱） 石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析 （单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率10nm）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率1nm）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S 百分含量 同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 （氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值

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光学斩波器,进口光学斩光器,optical chopper由中国领先而专业的进口激光器件和仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！精通光学,服务科学,为中科院上海光机所,安徽光机所,西安光机所,中国工程物理研究院,哈尔滨工业大学等单位进口光学斩波器.这款光学斩波器,进口光学斩光器,optical chopper用于机械调制光束。光学斩波器,进口光学斩光器,使用高精密的电机带动开缝机械圆盘稳定高速旋转，该圆盘式的光束通过或被调制。精密控制器通过电缆连接斩光器头部进而控制旋转。该 光学斩波器使用能够BLDC马达，以较大范围的调制/旋转速度和超低抖动完成斩波而不需要额外的激光快门。斩光器的调制或斩光速度可通过控制器调节。该光 学斩波器,斩光器,optical chopper产生超低噪音，而斩光器头部尺寸较小，适合多种应用。该光学斩波器具有同步输出，可与锁相放大器一起使用。光学斩波器特色调制速度：0.1-3000Hz速度控制：数字化控制（嵌入型控制面板）稳定性：+/-0.1%孔径：18mm接口：USB或RS232同步输出：BNC，5V,TTLDiameter of the disc (outermost) – 120 mm Thickness of the head with a disc – 27 mm Width of the slot (for disks with 2,4,8 slots) – 15 mmWidth of the slot (for disk with 16 slots) – 9.8 mm Range of frequencies:Disk with 2 slots: 0 Hz-150 Hz Disk with 4 slots: 0 Hz-300 HzDisk with 8 slots: 0 Hz-600 Hz Disk with 16 slots: 0 Hz-1000 Hz

光学平台防尘罩1CB专业为光学平台配备的防尘空间，它高效空气过滤器和欧洲高级无味塑料帘组成完整钢框架,使得光学平台成为层流工作站，快速为任何实验室或车间提供局部干净的操作环境。 光学平台防尘罩特点 风机声音超低 50dBA 无味塑料窗帘 高效空气过滤器 垂直层流工作站工作原理 对于激光实验,激光制造,光学器件制造,激光器修复或研究等应用而言需要一种比较洁净的操作空间，避免光学器件吸入灰尘颗粒。但在大多数实验室中，数以百万计的粒子将可能落在光学器件表面，或者被激光束的能量捕获到光学器件表面。一旦光学器件表面上有微粒，激光束会聚集能力烧毁光学镀膜，造成激光腔内能量的衰减。而且，被烧毁的颗粒将吸收更多的能量使光学表面局部发热。局部发热将引 起热透镜效应和光学镀膜的进一步损伤。光学平台防尘罩1CB直接安装到光学平台可以有效清除灰尘颗粒，保护光学器件免受这一问题影响。。 光学平台防尘罩订购 示范模型1cb- 08-20-TS结合了已验证蜂窝光学台面1HT08-20-20 (800 x 2000 x200mm) ，坚固的1TS05-12-06-AR光学台支承和新型配置了窗帘的1CT-08-20 空气过滤器。订购隔振系统1VIS (1CB-08-20-VIS) 代替静态刚性支承1TS，可以提高性能和稳定性。光学台面的具体信息可以访问隔振系统和镜头光学台支承装置页面。 如果您已经有了光学台装置，也想要购买过滤器装置，Standa公司可以根据您的要求定制过滤器尺寸。根据您的应用程序大小配置相应的HEPA高效过滤器数量。请注意，该过滤器支撑钢框架有横梁，就在光学台面下方，订购时，请确保光学台面下方有可用的垂直空间。 层流台面工作站功能如下： 光学平台防尘罩1CB防尘过滤系统 采用铰接式框架1cb-mm安装的监控器 6 个欧式插座1cb-es 日光灯（冷白）1cb-wl 在光学台1cb-pcs下面的计算机 特殊单元可以单独订购。 OEM版本提供了进一步的定制-你也可以定义完全或部分覆盖（任何大小）的屏蔽空间。 过滤器规格： 低声音，低瓦，低姿态，低运行成本。 三速开关功能低，中，高设置；标准的所有2英尺×4英尺（600毫米×1210毫米）和2英尺×3.5英尺（600毫米×1057毫米）单位。 固态速度控制标准的2英尺×2英尺（600毫米×600毫米）和2英尺×3英尺（600毫米×905毫米）单位。 前向离心式风机。 高效微粒空气（HEPA）UL 900过滤器：99.99%微米高效@ 0.3。 极其安静的 50分贝 卡在预过滤器可以方便更换和维护。 轧机成品铝外观。 IEST推荐RPC标准测试。 UL认证（120V，240V，277v）与标准UL 900滤波器。

特殊应用光学元件德国Layertec公司始建于1990年，是专业生产各种高质量光学镜片的厂家。这些镜片的工作波段覆盖VUV（157nm）到NIR（4μm）。其主要产品有： ● 常规激光光学元件 ● 飞秒激光光学元件 ● 特殊应用光学元件 从1990年开始，Layertec就和很多大学和研究机构激光部门合作。目前员工超过125人，强大的研发队伍使我们不但能够提供各种标准产品，还能满足客户的各种定制要求。 特殊应用光学元件（飞秒激光光学元件）按照其工作特行来划分，主要包含以下几类： 光参量振荡器（OPO）激光光学元件宽带和扫描镜滤波片薄膜偏振片低损耗光学元件镀膜晶体 一、光参量振荡器（OPO）激光光学元件 二、宽带和扫描镜 三、滤波片 三、薄膜偏振片 五、低损耗光学元件六、镀膜晶体